JP2024017038A - sensor - Google Patents

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Norikazu Ota
貴志 尾崎
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sensor capable of improving robustness at wire breaking.
SOLUTION: A sensor includes N sensor circuits and an interface circuit. The output of a Kth sensor circuit has a serial connection input to a K+1th sensor circuit. The output of the Kth interface circuit has a serial connection input to a K-1th interface circuit. Each of the N sensor circuits completes a detection operation by inverting an output signal after the detection time proportional to a detection amount has elapsed since an input signal is inverted. Each of the N interface circuits inverts the output signal in response to the inversion of the output signal of the corresponding sensor circuit. In response to the completion of the detection operation of the Kth sensor circuit, the detection operation of the K+1th sensor circuit is started. Signals indicating N detection times detected by first to Nth sensor circuits are continuously output from a first interface circuit.
SELECTED DRAWING: Figure 1
COPYRIGHT: (C)2024,JPO&INPIT

Description

本明細書で開示される技術は、断線時のロバスト性を高めることが可能なセンサに関する。 The technology disclosed in this specification relates to a sensor that can improve robustness in the event of wire breakage.

特許文献1には、2次元アレイ状に配置された複数のセンサを有するセンサアレイと、X-Yデコーダと、を備えるセンサシステムが示されている。X-Yデコーダによってセンサアレイをスキャンすることで、複数のセンサを読み出すことができる。 Patent Document 1 discloses a sensor system including a sensor array having a plurality of sensors arranged in a two-dimensional array, and an XY decoder. Multiple sensors can be read out by scanning the sensor array with an XY decoder.

特開2004-258018号公報Japanese Patent Application Publication No. 2004-258018

複数のセンサの検出信号を、1本の信号線を用いてシリアル出力する場合がある。この場合、信号線の何れかの部位に断線故障が発生すると、全てのセンサの検出信号を出力することができなくなるおそれがある。 Detection signals from a plurality of sensors may be serially output using one signal line. In this case, if a disconnection failure occurs in any part of the signal line, there is a possibility that the detection signals of all the sensors cannot be output.

本明細書で開示されるセンサの一態様は、N個(Nは2以上の自然数)のセンサ回路と、N個のセンサ回路の各々に対応して備えられているN個のインターフェース回路と、を備えるセンサである。N個のセンサ回路は、K番目(Kは1以上N-1以下の自然数)のセンサ回路のセンサ出力論理信号が、K+1番目のセンサ回路のセンサ入力論理信号として入力されるシリアル接続を有している。N個のインターフェース回路は、K番目のインターフェース回路のインターフェース出力論理信号が、K-1番目のインターフェース回路のインターフェース入力論理信号として入力されるシリアル接続を有している。N個のセンサ回路の各々は、センサ入力論理信号が反転することに応じて検出動作を開始し、センサ入力論理信号が反転してからセンサ回路の検知量に比例した検知時間の経過後にセンサ出力論理信号を反転させることで検出動作を終了する回路である。N個のインターフェース回路の各々は、対応するセンサ回路のセンサ出力論理信号が反転することに応じて、インターフェース出力論理信号を反転させる回路である。K番目のセンサ回路のセンサ出力論理信号が反転してK番目のセンサ回路の検知動作が終了することに応じて、K+1番目のセンサ回路の検出動作が開始される。1番目のインターフェース回路からは、1番目のセンサ回路からN番目のセンサ回路で検知されたN個の検知時間を示す信号を連続して出力するインターフェース出力論理信号が出力される。 One aspect of the sensor disclosed in this specification includes N sensor circuits (N is a natural number of 2 or more), N interface circuits provided corresponding to each of the N sensor circuits, It is a sensor equipped with. The N sensor circuits have a serial connection in which the sensor output logic signal of the Kth (K is a natural number from 1 to N-1) sensor circuit is input as the sensor input logic signal of the K+1th sensor circuit. ing. The N interface circuits have a serial connection through which the interface output logic signal of the Kth interface circuit is input as the interface input logic signal of the K-1th interface circuit. Each of the N sensor circuits starts a detection operation in response to the inversion of the sensor input logic signal, and outputs the sensor after a detection time proportional to the detection amount of the sensor circuit has elapsed since the sensor input logic signal was inverted. This circuit completes the detection operation by inverting the logic signal. Each of the N interface circuits is a circuit that inverts the interface output logic signal in response to inversion of the sensor output logic signal of the corresponding sensor circuit. When the sensor output logic signal of the Kth sensor circuit is inverted and the sensing operation of the Kth sensor circuit ends, the sensing operation of the K+1th sensor circuit is started. The first interface circuit outputs an interface output logic signal that continuously outputs a signal indicating N detection times detected by the first to Nth sensor circuits.

当該センサでは、センサ回路の検出動作を、K番目、K+1番目、というように後段側へ伝搬させることができる。また、検知時間を示すインターフェース出力論理信号を出力する動作を、K番目、K-1番目、というように前段側に伝搬させることができる。そして、全てのセンサ回路の検知時間を示すインターフェース出力論理信号を、1番目のインターフェース回路からシリアル出力することができる。すなわち、検出動作の進行方向と検出信号の伝搬方向とを、互いに逆向きにすることができる。これにより、N個のセンサ回路のシリアル接続経路上で断線が発生した場合や、N個のインターフェース回路のシリアル接続経路上で断線が発生した場合においても、断線部分よりも前段側のセンサ回路の出力をシリアル出力することができる。断線故障によって全てのセンサ回路の検出信号が出力できなくなることがないため、断線時のロバスト性を高めることが可能となる。 In this sensor, the detection operation of the sensor circuit can be propagated to subsequent stages, such as the K-th, K+1-th, and so on. Further, the operation of outputting the interface output logic signal indicating the detection time can be propagated to the previous stage side, such as the Kth, K-1th, and so on. Then, the interface output logic signal indicating the detection time of all the sensor circuits can be serially output from the first interface circuit. That is, the advancing direction of the detection operation and the propagation direction of the detection signal can be made opposite to each other. As a result, even if a disconnection occurs on the serial connection path of N sensor circuits or a disconnection occurs on the serial connection path of N interface circuits, the sensor circuit on the previous stage than the disconnection part will Output can be serially output. Since all sensor circuits will not be unable to output detection signals due to a disconnection failure, it is possible to improve robustness in the event of a disconnection.

K番目のインターフェース回路には、K番目のセンサ回路から出力されるセンサ出力論理信号と、K+1番目のインターフェース回路から出力されるインターフェース出力論理信号と、が入力されていてもよい。K番目のインターフェース回路から出力されるインターフェース出力論理信号は、K-1番目のインターフェース回路に入力されていてもよい。K番目のセンサ回路のセンサ出力論理信号が反転してK番目のセンサ回路の検知動作が終了することに応じて、K番目のセンサ回路で検出された検知時間を示すインターフェース出力論理信号が、K番目のインターフェース回路からK-1番目のインターフェース回路へ出力されてもよい。 The sensor output logic signal output from the K-th sensor circuit and the interface output logic signal output from the K+1-th interface circuit may be input to the K-th interface circuit. The interface output logic signal output from the Kth interface circuit may be input to the K-1th interface circuit. In response to the sensor output logic signal of the Kth sensor circuit being inverted and the detection operation of the Kth sensor circuit being completed, the interface output logic signal indicating the detection time detected by the Kth sensor circuit becomes K. The signal may be output from the th interface circuit to the K-1th interface circuit.

N個のインターフェース回路の各々に対応して備えられているN個の第1抵抗部をさらに備えていてもよい。N個のインターフェース回路の各々は、論理回路を備えていてもよい。K番目の論理回路の入力端子には、K番目のセンサ回路の出力端子と、K+1番目の論理回路の出力端子と、が接続されていてもよい。K番目の論理回路の入力端子とK+1番目の論理回路の出力端子との接続経路は、K番目の第1抵抗部を介して第1の所定電圧部位に接続されていてもよい。 It may further include N first resistor sections provided corresponding to each of the N interface circuits. Each of the N interface circuits may include a logic circuit. The output terminal of the K-th sensor circuit and the output terminal of the K+1-th logic circuit may be connected to the input terminal of the K-th logic circuit. The connection path between the input terminal of the K-th logic circuit and the output terminal of the K+1-th logic circuit may be connected to the first predetermined voltage portion via the K-th first resistance section.

N個のセンサ回路の各々に対応して備えられているN個の第2抵抗部をさらに備えていてもよい。K番目のセンサ回路の出力端子とK+1番目のセンサ回路の入力端子との接続経路は、K番目の第2抵抗部を介して第2の所定電圧部位に接続されていてもよい。 It may further include N second resistor sections provided corresponding to each of the N sensor circuits. A connection path between the output terminal of the Kth sensor circuit and the input terminal of the K+1th sensor circuit may be connected to the second predetermined voltage portion via the Kth second resistance section.

N個のセンサ回路の各々は、可変容量を備えていてもよい。検知量は、可変容量の静電容量であってもよい。検知時間は、可変容量の静電容量に比例した時間であってもよい。 Each of the N sensor circuits may include a variable capacitance. The detected amount may be a variable capacitance. The detection time may be a time proportional to the capacitance of the variable capacitor.

N個のセンサ回路の各々は、ダイオード素子を備えていてもよい。検知量は、ダイオード素子の逆方向リーク電流値であってもよい。検知時間は、逆方向リーク電流値に逆比例した時間であってもよい。 Each of the N sensor circuits may include a diode element. The detected amount may be a reverse leakage current value of a diode element. The detection time may be a time inversely proportional to the reverse leakage current value.

N個のセンサ回路の各々は、可変抵抗を備えていてもよい。検知量は、可変抵抗の抵抗値であってもよい。検知時間は、可変抵抗の抵抗値に比例した時間であってもよい。 Each of the N sensor circuits may include a variable resistance. The detected amount may be a resistance value of a variable resistor. The detection time may be a time proportional to the resistance value of the variable resistor.

実施例1のセンサ1の概略を示すブロック図である。1 is a block diagram schematically showing a sensor 1 of Example 1. FIG. センサ回路SC(K)の回路構成図である。FIG. 3 is a circuit configuration diagram of a sensor circuit SC(K). センサ回路SC(K)の動作を説明する波形図である。FIG. 3 is a waveform diagram illustrating the operation of the sensor circuit SC(K). センサ1の正常時の動作を説明する波形図である。FIG. 2 is a waveform diagram illustrating the normal operation of the sensor 1. FIG. センサ1の断線時の動作を説明する波形図である。FIG. 3 is a waveform diagram illustrating the operation when the sensor 1 is disconnected. 比較例のセンサ100の概略を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram schematically showing a sensor 100 of a comparative example. 実施例2に係るセンサ1aの概略を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram schematically showing a sensor 1a according to a second embodiment.

(センサ1の構成)
図1に、実施例1に係るセンサ1を示す。センサ1は、各種の物理量をデジタル値に変換するA/D変換回路の一例である。センサ1は、入出力回路IO、および、N個(Nは2以上の自然数)のセンサユニットSU(1)~SU(N)を備えている。
(Configuration of sensor 1)
FIG. 1 shows a sensor 1 according to a first embodiment. The sensor 1 is an example of an A/D conversion circuit that converts various physical quantities into digital values. The sensor 1 includes an input/output circuit IO and N sensor units SU(1) to SU(N) (N is a natural number of 2 or more).

入出力回路IOは、入力バッファIB、出力バッファOB、NOR回路NR(0)を備えている。入出力回路IOに入力される開始信号STは、入力バッファIBを介してセンサ回路SC(1)に入力される。NOR回路NR(0)には、開始信号STおよび出力信号DO(1)が入力される。NOR回路NR(0)から出力されるシリアル出力信号Soutは、出力バッファOBを介して外部へ出力される。そして入出力回路IOは、開始信号STの反転時または出力信号DO(1)の反転時に、シリアル出力信号Soutを反転する。開始信号STは、センサ1のオン/オフ制御を行う信号である。開始信号STがローレベルの期間は、センサ1では検出動作が行われる。開始信号STがハイレベルの期間は、センサ1は停止する。 The input/output circuit IO includes an input buffer IB, an output buffer OB, and a NOR circuit NR(0). The start signal ST input to the input/output circuit IO is input to the sensor circuit SC(1) via the input buffer IB. A start signal ST and an output signal DO(1) are input to the NOR circuit NR(0). The serial output signal Sout output from the NOR circuit NR(0) is output to the outside via the output buffer OB. The input/output circuit IO inverts the serial output signal Sout when the start signal ST or the output signal DO(1) is inverted. The start signal ST is a signal that performs on/off control of the sensor 1. During the period when the start signal ST is at a low level, the sensor 1 performs a detection operation. The sensor 1 stops while the start signal ST is at a high level.

入出力回路IOおよびセンサユニットSU(1)~SU(N)には、正電源線PLおよび負電源線NLが配置されている。正電源線PLは電源電圧部位VDDに接続されており、電源電圧(例:3.3V)を供給する。正電源線PLは基準電圧部位GNDに接続されており、基準電圧(例:0V)を供給する。 A positive power line PL and a negative power line NL are arranged in the input/output circuit IO and the sensor units SU(1) to SU(N). The positive power supply line PL is connected to the power supply voltage section VDD and supplies a power supply voltage (eg, 3.3V). The positive power supply line PL is connected to the reference voltage site GND and supplies a reference voltage (eg, 0V).

N個のセンサユニットSU(1)~SU(N)の各々は、センサ回路SC(1)~SC(N)、NOR回路NR(1)~NR(N)、抵抗素子RD(1)~RD(N)、抵抗素子RU(1)~RU(N)を備えている。NOR回路NR(1)~NR(N)は、センサ回路SC(1)~SC(N)の各々に対応して備えられている。センサ回路SC(1)~SC(N)によって、センサアレイ20が構成されている。初段のセンサ回路SC(1)には、開始信号STが入力される。センサ回路SC(1)から出力される出力信号OS(1)は、2段目のセンサ回路SC(2)に入力される。以下同様に、センサアレイ20は、前段のセンサ回路の出力信号が次段のセンサ回路の入力信号として入力される。すなわち、K番目(Kは1以上N-1以下の自然数)のセンサ回路SC(K)の出力信号OS(K)が、K+1番目のセンサ回路SC(K+1)のセンサ入力論理信号として入力される、シリアル接続を有している。 Each of the N sensor units SU(1) to SU(N) includes a sensor circuit SC(1) to SC(N), a NOR circuit NR(1) to NR(N), and a resistance element RD(1) to RD. (N), and resistance elements RU(1) to RU(N). NOR circuits NR(1) to NR(N) are provided corresponding to sensor circuits SC(1) to SC(N), respectively. A sensor array 20 is configured by sensor circuits SC(1) to SC(N). A start signal ST is input to the first stage sensor circuit SC(1). The output signal OS(1) output from the sensor circuit SC(1) is input to the second stage sensor circuit SC(2). Similarly, in the sensor array 20, the output signal of the previous stage sensor circuit is inputted as the input signal of the next stage sensor circuit. That is, the output signal OS(K) of the Kth sensor circuit SC(K) (K is a natural number from 1 to N-1) is input as the sensor input logic signal of the K+1st sensor circuit SC(K+1). , has a serial connection.

出力回路30は、NOR回路NR(0)~NR(N)を備えている。NOR回路NR(0)には、開始信号STが入力されるとともに、出力信号DO(1)が入力される。NOR回路NR(1)には、出力信号OS(1)および出力信号DO(2)が入力される。NOR回路NR(1)からは、出力信号DO(1)が出力される。出力信号DO(1)は、下式で示される論理信号である。

Figure 2024017038000002
The output circuit 30 includes NOR circuits NR(0) to NR(N). The start signal ST is input to the NOR circuit NR(0), and the output signal DO(1) is input to the NOR circuit NR(0). The output signal OS(1) and the output signal DO(2) are input to the NOR circuit NR(1). An output signal DO(1) is output from the NOR circuit NR(1). The output signal DO(1) is a logic signal expressed by the following formula.
Figure 2024017038000002

以下同様にして、K番目のNOR回路NR(K)には、K番目のセンサ回路SC(K)から出力される出力信号OS(K)と、K+1番目のNOR回路NR(K+1)から出力される出力信号DO(K+1)と、が入力される。K番目のNOR回路NR(K)から出力される出力信号DO(K)は、K-1番目のNOR回路NR(K-1)に入力される。すなわち、K番目のNOR回路NR(K)の出力信号DO(K)が、K-1番目のNOR回路NR(K-1)の入力論理信号として入力される、シリアル接続を有している。出力信号DO(K)は、下式で示される論理信号である。

Figure 2024017038000003
Similarly, the K-th NOR circuit NR(K) receives the output signal OS(K) output from the K-th sensor circuit SC(K) and the output signal OS(K) output from the K+1-th NOR circuit NR(K+1). An output signal DO(K+1) is input. The output signal DO(K) output from the K-th NOR circuit NR(K) is input to the K-1th NOR circuit NR(K-1). That is, it has a serial connection in which the output signal DO(K) of the K-th NOR circuit NR(K) is input as an input logic signal to the K-1th NOR circuit NR(K-1). The output signal DO(K) is a logic signal expressed by the following formula.
Figure 2024017038000003

上式から分かるように、NOR回路NR(K)は、センサ回路SC(K)から入力される出力信号OS(K)の反転時、または、次段のNOR回路NR(K+1)から入力される出力信号OS(K+1)の反転時に、出力信号OS(K)を反転する。換言すると、NOR回路NR(K)は、ハイレベルの出力信号OS(K)が入力される期間中はディスエーブルとなり、出力がローレベルで固定される。一方、ローレベルの出力信号OS(K)が入力される期間中はイネーブルとなる。そして、後段から入力される出力信号OS(K+1)を反転して出力信号OS(K)を生成し、生成した出力信号OS(K)を前段へ出力する、NOT回路として動作する。 As can be seen from the above equation, the NOR circuit NR (K) receives the signal when the output signal OS (K) input from the sensor circuit SC (K) is inverted, or when the output signal OS (K) is input from the next stage NOR circuit NR (K+1). When the output signal OS(K+1) is inverted, the output signal OS(K) is inverted. In other words, the NOR circuit NR(K) is disabled during the period when the high level output signal OS(K) is input, and the output is fixed at the low level. On the other hand, it is enabled during the period when the low level output signal OS(K) is input. Then, it operates as a NOT circuit that inverts the output signal OS(K+1) inputted from the subsequent stage to generate an output signal OS(K), and outputs the generated output signal OS(K) to the previous stage.

最終段であるN番目のNOR回路NR(N)には、N番目のセンサ回路SC(N)から出力される出力信号OS(N)が入力される。NOR回路NR(N)から出力される出力信号DO(N)は、N-1番目のNOR回路NR(N-1)に入力される。出力信号DO(N)は、下式で示される論理信号である。

Figure 2024017038000004
The output signal OS(N) output from the N-th sensor circuit SC(N) is input to the N-th NOR circuit NR(N), which is the final stage. The output signal DO(N) output from the NOR circuit NR(N) is input to the N-1th NOR circuit NR(N-1). The output signal DO(N) is a logic signal expressed by the following formula.
Figure 2024017038000004

初段である入出力回路IOのNOR回路NR(0)からは、シリアル出力信号Soutが出力される。シリアル出力信号Soutは、下式で示される論理信号である。

Figure 2024017038000005
A serial output signal Sout is output from the NOR circuit NR(0) of the input/output circuit IO, which is the first stage. The serial output signal Sout is a logic signal expressed by the following formula.
Figure 2024017038000005

NOR回路NR(2)の出力端子とNOR回路NR(1)の入力端子との接続経路CP(1)は、抵抗素子RD(1)を介して負電源線NLに接続されている。以下同様にして、NOR回路NR(K+1)の出力端子とNOR回路NR(K)の入力端子との接続経路CP(K)は、抵抗素子RD(K)を介して負電源線NLに接続されている。またNOR回路NR(N)の入力端子は、抵抗素子RD(N)を介して負電源線NLに接続されている。抵抗素子RD(1)~RD(N)は、プルダウン抵抗として機能する。接続経路CP(1)~CP(N)が断線したときに、抵抗素子RD(1)~RD(N)の各々によって、NOR回路NR(1)~NR(N)の入力電圧をローレベルに固定することができる。これにより、断線部分のNOR回路NRの入力がフローティング状態となり誤動作してしまうことを防止できる。よって、断線部分のセンサユニットSUを確実に無効化することが可能となる。またローレベルに固定することにより、接続経路CP(K)に断線故障が発生したときに、センサ回路SC(K)から出力される出力信号OS(K)の反転を、NOR回路NR(K)から出力される出力信号DO(K)に伝搬させることができる。 A connection path CP(1) between the output terminal of the NOR circuit NR(2) and the input terminal of the NOR circuit NR(1) is connected to the negative power supply line NL via the resistance element RD(1). Similarly, the connection path CP(K) between the output terminal of the NOR circuit NR(K+1) and the input terminal of the NOR circuit NR(K) is connected to the negative power supply line NL via the resistance element RD(K). ing. Further, the input terminal of the NOR circuit NR(N) is connected to the negative power supply line NL via the resistance element RD(N). Resistance elements RD(1) to RD(N) function as pull-down resistors. When the connection paths CP(1) to CP(N) are disconnected, the input voltages of the NOR circuits NR(1) to NR(N) are set to low level by each of the resistance elements RD(1) to RD(N). Can be fixed. Thereby, it is possible to prevent the input of the NOR circuit NR in the disconnected portion from being in a floating state and malfunctioning. Therefore, it becomes possible to reliably invalidate the sensor unit SU in the disconnected portion. Furthermore, by fixing it to a low level, when a disconnection fault occurs in the connection path CP (K), the inversion of the output signal OS (K) output from the sensor circuit SC (K) is controlled by the NOR circuit NR (K). It can be propagated to the output signal DO(K) output from.

センサ回路SC(1)の出力端子とセンサ回路SC(2)の入力端子との接続経路SP(1)は、抵抗素子RU(1)を介して正電源線PLに接続されている。以下同様にして、センサ回路SC(K)の出力端子とセンサ回路SC(K+1)の入力端子との接続経路SP(K)は、抵抗素子RU(K)を介してPLに接続されている。またセンサ回路SC(N)の出力端子は、抵抗素子RU(N)を介して正電源線PLに接続されている。抵抗素子RU(1)~RU(N)は、プルアップ抵抗として機能する。抵抗素子RU(1)~RU(N)の各々によって、接続経路SP(1)~SP(N)が断線したときに、センサ回路SC(1)~SC(N)の出力電圧をハイレベルに固定することができる。よって、誤動作を防止することが可能となる。 A connection path SP(1) between the output terminal of the sensor circuit SC(1) and the input terminal of the sensor circuit SC(2) is connected to the positive power supply line PL via a resistance element RU(1). Similarly, the connection path SP(K) between the output terminal of the sensor circuit SC(K) and the input terminal of the sensor circuit SC(K+1) is connected to PL via the resistive element RU(K). Further, the output terminal of the sensor circuit SC(N) is connected to the positive power supply line PL via the resistance element RU(N). Resistance elements RU(1) to RU(N) function as pull-up resistors. Each of the resistive elements RU(1) to RU(N) sets the output voltage of the sensor circuit SC(1) to SC(N) to a high level when the connection path SP(1) to SP(N) is disconnected. Can be fixed. Therefore, it is possible to prevent malfunctions.

(センサ回路SC(K)の構成および動作)
図2を用いて、K番目のセンサ回路SC(K)の回路構成を説明する。ここでKは、1以上N-1以下の自然数である。センサ回路SC(K)はpMOSトランジスタTP、nMOSトランジスタTN、抵抗素子RN、可変容量素子CN(K)、シュミットトリガインバータSI、を備える。抵抗素子RNは、固定の抵抗値R0を備える。可変容量素子CN(K)は、検知対象の静電容量値CV(K)を備える。
(Configuration and operation of sensor circuit SC(K))
The circuit configuration of the K-th sensor circuit SC(K) will be described using FIG. 2. Here, K is a natural number greater than or equal to 1 and less than or equal to N-1. The sensor circuit SC(K) includes a pMOS transistor TP, an nMOS transistor TN, a resistance element RN, a variable capacitance element CN(K), and a Schmitt trigger inverter SI. Resistance element RN has a fixed resistance value R0. The variable capacitance element CN (K) has a capacitance value CV (K) to be detected.

pMOSトランジスタTPおよびnMOSトランジスタTNのゲート端子には、前段のセンサ回路SC(K-1)から出力された出力信号OS(K-1)が入力される。pMOSトランジスタTPのソース端子およびバックゲート端子は、電源電圧部位VDDに接続されている。nMOSトランジスタTNのソース端子およびバックゲート端子は、基準電圧部位GNDに接続されている。抵抗素子RNの一端は、pMOSトランジスタTPのドレイン端子に接続されている。抵抗素子RNの他端は、接続ノードNNで、nMOSトランジスタTNのドレイン端子に接続されている。接続ノードNNは、可変容量素子CN(K)の一端およびシュミットトリガインバータSIの入力端子に接続されている。可変容量素子CN(K)の他端は、基準電圧部位GNDに接続されている。シュミットトリガインバータSIの入力端子には、電圧信号AN(K)が入力される。シュミットトリガインバータSIの正の電源端子は電源電圧部位VDDに接続され、負の電源端子は基準電圧部位GNDに接続されている。 The output signal OS (K-1) output from the previous stage sensor circuit SC (K-1) is input to the gate terminals of the pMOS transistor TP and the nMOS transistor TN. The source terminal and back gate terminal of the pMOS transistor TP are connected to the power supply voltage site VDD. The source terminal and back gate terminal of the nMOS transistor TN are connected to the reference voltage site GND. One end of the resistance element RN is connected to the drain terminal of the pMOS transistor TP. The other end of the resistance element RN is connected to the drain terminal of the nMOS transistor TN at a connection node NN. Connection node NN is connected to one end of variable capacitance element CN (K) and an input terminal of Schmitt trigger inverter SI. The other end of variable capacitance element CN (K) is connected to reference voltage site GND. A voltage signal AN(K) is input to the input terminal of the Schmitt trigger inverter SI. The positive power supply terminal of the Schmitt trigger inverter SI is connected to the power supply voltage site VDD, and the negative power supply terminal is connected to the reference voltage site GND.

図3の波形図を用いて、センサ回路SC(K)の動作を説明する。時刻t(K-1)よりも前の時刻では、センサ回路SC(K)に入力される出力信号OS(K-1)はハイレベルであり、pMOSトランジスタTPはオフ状態、nMOSトランジスタTNはオン状態である。このとき電圧信号AN(K)は0[V]であり、シュミットトリガインバータSIから出力される出力信号OS(K)はハイレベルになっている。 The operation of the sensor circuit SC(K) will be explained using the waveform diagram of FIG. 3. At a time before time t(K-1), the output signal OS(K-1) input to the sensor circuit SC(K) is at a high level, the pMOS transistor TP is in the off state, and the nMOS transistor TN is in the on state. state. At this time, the voltage signal AN(K) is 0 [V], and the output signal OS(K) output from the Schmitt trigger inverter SI is at a high level.

時刻t(K-1)で出力信号OS(K-1)がハイレベルからローレベルに切り替わると、pMOSトランジスタTPはオン、nMOSトランジスタTNはオフとなり、可変容量素子CN(K)の充電が開始されるため、電圧信号AN(K)が上昇を開始する。このときpMOSトランジスタTPのオン抵抗が、抵抗素子RNの抵抗値R0よりも十分小さく無視できると考えると、電圧信号AN(K)は「VDD/(R0×CV(K))」の傾きで上昇する(領域A1参照)。 When the output signal OS (K-1) switches from high level to low level at time t (K-1), the pMOS transistor TP turns on, the nMOS transistor TN turns off, and charging of the variable capacitance element CN (K) starts. Therefore, the voltage signal AN(K) starts to rise. At this time, assuming that the on-resistance of the pMOS transistor TP is sufficiently smaller than the resistance value R0 of the resistance element RN and can be ignored, the voltage signal AN(K) increases with the slope of "VDD/(R0×CV(K))". (see area A1).

時刻t(K)で電圧信号AN(K)がシュミットトリガインバータSIの立上り論理しきい値電圧VT1に達すると、出力信号OS(K)はハイレベルからローレベルに反転する(矢印Y1参照)。時刻t(K-1)からt(K)までの検知時間DT(K)は、「R0×CV(K)」に比例した時間になる。よって検知時間DT(K)が、検知対象である静電容量値CV(K)に対応する出力となる。その後、電圧信号AN(K)は、電源電圧VDDに到達するまで上昇する。 When the voltage signal AN(K) reaches the rising logic threshold voltage VT1 of the Schmitt trigger inverter SI at time t(K), the output signal OS(K) is inverted from high level to low level (see arrow Y1). The detection time DT(K) from time t(K-1) to t(K) is a time proportional to "R0×CV(K)". Therefore, the detection time DT (K) becomes an output corresponding to the capacitance value CV (K) that is the detection target. Thereafter, the voltage signal AN(K) increases until it reaches the power supply voltage VDD.

すなわちセンサ回路SC(K)は、入力論理信号である出力信号OS(K-1)が反転することに応じて検出動作を開始する回路である。そして入力論理信号が反転してから、検知量である静電容量値CV(K)に比例した検知時間DT(K)の経過後に、出力論理信号である出力信号OS(K)を反転させることで検出動作を終了する回路である。 That is, the sensor circuit SC(K) is a circuit that starts a detection operation in response to the inversion of the output signal OS(K-1), which is an input logic signal. Then, after the input logic signal is inverted and a detection time DT (K) proportional to the capacitance value CV (K), which is the detection amount, has elapsed, the output signal OS (K), which is the output logic signal, is inverted. This circuit ends the detection operation at .

時刻t(K)以降において、出力信号OS(K-1)がローレベルを保持している間は、電圧信号AN(K)は電源電圧VDDを維持し、出力信号OS(K)はローレベルを維持する。そして時刻tresにおいて、出力信号OS(K-1)がローレベルからハイレベルに切り替わると、pMOSトランジスタTPはオフ、nMOSトランジスタTNはオンとなる。nMOSトランジスタTNのオン抵抗は十分小さいため、可変容量素子CN(K)に蓄積された電荷は瞬時に放電され、電圧信号AN(K)は0[V]に変化する(矢印Y2参照)。これを受けて、シュミットトリガインバータSIから出力される出力信号OS(K)は、ローレベルからハイレベルに反転する(矢印Y3参照)。 After time t(K), while the output signal OS(K-1) maintains the low level, the voltage signal AN(K) maintains the power supply voltage VDD, and the output signal OS(K) remains at the low level. maintain. Then, at time tres, when the output signal OS (K-1) switches from low level to high level, the pMOS transistor TP is turned off and the nMOS transistor TN is turned on. Since the on-resistance of the nMOS transistor TN is sufficiently small, the charge accumulated in the variable capacitance element CN (K) is instantly discharged, and the voltage signal AN (K) changes to 0 [V] (see arrow Y2). In response to this, the output signal OS(K) output from the Schmitt trigger inverter SI is inverted from low level to high level (see arrow Y3).

(センサ1の正常時の動作)
図4の波形図を用いて、センサ1の正常時の動作を説明する。図4では、センサユニットSUの接続段数が偶数である場合(すなわちNが偶数である場合)について説明する。図4の時刻t(0)よりも前の時刻では、開始信号STはハイレベルであり、センサ1はオフ状態である。センサ1のオフ状態では、初段のセンサ回路SC(1)の出力信号OS(1)はハイレベルである。図1に示すように、各センサ回路の入力は前段のセンサ回路の出力であるため、すべてのセンサ回路の出力信号OS(1)~OS(N)もハイレベルである。また図1の出力回路30から分かるように、すべてのNOR回路NRの出力信号DO(1)~DO(N)はローレベルである。またシリアル出力信号Soutはローレベルである。
(Normal operation of sensor 1)
The normal operation of the sensor 1 will be explained using the waveform diagram of FIG. 4. In FIG. 4, a case where the number of connected sensor units SU is an even number (that is, a case where N is an even number) will be described. At a time before time t(0) in FIG. 4, the start signal ST is at a high level and the sensor 1 is in an off state. When the sensor 1 is in the off state, the output signal OS(1) of the first stage sensor circuit SC(1) is at a high level. As shown in FIG. 1, since the input of each sensor circuit is the output of the preceding sensor circuit, the output signals OS(1) to OS(N) of all sensor circuits are also at high level. Further, as can be seen from the output circuit 30 in FIG. 1, the output signals DO(1) to DO(N) of all the NOR circuits NR are at a low level. Further, the serial output signal Sout is at a low level.

時刻t(0)で開始信号STがハイレベルからローレベルに切り替えられると、センサ1での検出動作が開始される。開始信号STのローレベルへの遷移に応じて、初段のセンサ回路SC(1)内の可変容量素子CN(1)の充電が開始される。同時に、NOR回路NR(0)から出力されるシリアル出力信号Soutは、ローレベルからハイレベルに反転する(矢印Y10)。 When the start signal ST is switched from high level to low level at time t(0), the detection operation in sensor 1 is started. In response to the transition of the start signal ST to low level, charging of the variable capacitance element CN(1) in the first stage sensor circuit SC(1) is started. At the same time, the serial output signal Sout output from the NOR circuit NR(0) is inverted from low level to high level (arrow Y10).

時刻t(1)で初段のセンサ回路SC(1)の出力信号OS(1)がハイレベルからローレベルに切り替わると、NOR回路NR(1)から出力される出力信号DO(1)がハイレベルに切り替わる(矢印Y11)ため、シリアル出力信号Soutはハイレベルからローレベルに反転する(矢印Y12)。シリアル出力信号Soutの両エッジ間の検知時間DT(1)は、初段のセンサ回路SC(1)の検知対象の静電容量値CV(1)に比例する時間となっている。また時刻t(1)で出力信号OS(1)がローレベルに切り替わることに応じて、2段目のセンサ回路SC(2)内の可変容量素子CN(2)の充電が開始される。 When the output signal OS(1) of the first stage sensor circuit SC(1) switches from high level to low level at time t(1), the output signal DO(1) output from the NOR circuit NR(1) becomes high level. (arrow Y11), the serial output signal Sout is inverted from high level to low level (arrow Y12). The detection time DT(1) between both edges of the serial output signal Sout is a time proportional to the capacitance value CV(1) of the detection target of the first stage sensor circuit SC(1). Further, in response to the output signal OS(1) switching to low level at time t(1), charging of the variable capacitance element CN(2) in the second stage sensor circuit SC(2) is started.

同様にして、時刻t(2)で2段目のセンサ回路SC(2)の出力信号OS(2)がハイレベルからローレベルに切り替わると、NOR回路NR(2)から出力される出力信号DO(2)がハイレベルに切り替わる(矢印Y13)。よって、NOR回路NR(1)から出力される出力信号DO(1)がローレベルに切り替わる(矢印Y14)ため、シリアル出力信号Soutはローレベルからハイレベルに反転する(矢印Y15)。シリアル出力信号Soutの両エッジ間の検知時間DT(2)は、2段目のセンサ回路SC(2)の検知対象の静電容量値CV(2)に比例する時間となっている。また時刻t(2)において、3段目のセンサ回路SC(3)内の可変容量素子CN(3)の充電が開始される。 Similarly, when the output signal OS(2) of the second stage sensor circuit SC(2) switches from high level to low level at time t(2), the output signal DO output from the NOR circuit NR(2) (2) switches to high level (arrow Y13). Therefore, since the output signal DO(1) output from the NOR circuit NR(1) switches to low level (arrow Y14), the serial output signal Sout is inverted from low level to high level (arrow Y15). The detection time DT(2) between both edges of the serial output signal Sout is a time proportional to the capacitance value CV(2) of the detection target of the second stage sensor circuit SC(2). Further, at time t(2), charging of the variable capacitance element CN(3) in the third stage sensor circuit SC(3) is started.

以下同様にして、前段のセンサ回路SC(K)の出力信号OS(K)がハイレベルからローレベルに切り替わると、シリアル出力信号SoutにK+1回目の反転が発生し、同時に次段のセンサ回路SC(K+1)内の可変容量素子CN(K+1)の充電が開始される。このように、シリアル接続された順に検出動作が前段から後段側へ受け渡される。
また、センサ回路SC(K)の出力信号OS(K)が反転してセンサ回路SC(K)の検知動作が終了することに応じて、センサ回路SC(K)で検出された検知時間を示す出力信号DO(K)が、NOR回路NR(K)からNOR回路NR(K-1)へ出力される。このように、シリアル接続された順に検出時間が後段から前段側へ受け渡される。
Similarly, when the output signal OS (K) of the previous stage sensor circuit SC (K) switches from high level to low level, the K+1st inversion occurs in the serial output signal Sout, and at the same time, the next stage sensor circuit SC Charging of variable capacitance element CN (K+1) in (K+1) is started. In this way, the detection operation is passed from the previous stage to the subsequent stage in the order in which they are serially connected.
It also indicates the detection time detected by the sensor circuit SC(K) in response to the inversion of the output signal OS(K) of the sensor circuit SC(K) and the completion of the detection operation of the sensor circuit SC(K). Output signal DO(K) is output from NOR circuit NR(K) to NOR circuit NR(K-1). In this way, the detection time is passed from the latter stage to the former stage in the order in which they are serially connected.

そして、時刻t(N)で最終段であるN段目のセンサ回路SC(N)の出力信号OS(N)がハイレベルからローレベルに切り替わると、NOR回路NR(N)から出力される出力信号DO(N)がハイレベルに切り替わる(矢印Y16)。このエッジ反転がNOR回路NR(N-1)からNOR回路NR(0)まで伝搬するため、シリアル出力信号Soutがハイレベルへ反転する(矢印Y17)。これにより、N個のセンサ回路SC(1)~SC(N)の一通りの検出動作が終了する。そしてシリアル出力信号Soutは、N個のセンサ回路SC(1)~SC(N)で検知されたN個の検知時間DT(1)~DT(N)を示す信号を、連続して出力する信号となる。 Then, at time t(N), when the output signal OS(N) of the Nth sensor circuit SC(N), which is the final stage, switches from high level to low level, the output is output from the NOR circuit NR(N). The signal DO(N) switches to high level (arrow Y16). Since this edge inversion propagates from NOR circuit NR(N-1) to NOR circuit NR(0), serial output signal Sout is inverted to high level (arrow Y17). This completes one detection operation of the N sensor circuits SC(1) to SC(N). The serial output signal Sout is a signal that continuously outputs signals indicating N detection times DT(1) to DT(N) detected by N sensor circuits SC(1) to SC(N). becomes.

その後、任意の時刻tresにおいて、開始信号STがローレベルからハイレベルに切り替えられると、出力信号OS(1)~OS(N)の全てが初期状態のハイレベルにリセットされる(領域A2)。また、出力信号DO(1)~DO(N)の全て、および、シリアル出力信号Soutが、初期状態のローレベルにリセットされる(領域A3)。すなわち、開始信号STのハイレベルへの遷移により、センサ1がオフ状態にされる。 Thereafter, at an arbitrary time tres, when the start signal ST is switched from low level to high level, all of the output signals OS(1) to OS(N) are reset to the initial high level (area A2). Furthermore, all of the output signals DO(1) to DO(N) and the serial output signal Sout are reset to the initial state low level (area A3). That is, the sensor 1 is turned off by the transition of the start signal ST to a high level.

以上より、本実施例のセンサ1では、K番目のセンサ回路の検知動作が終了することに応じて、K+1番目のセンサ回路の検出動作を開始させることができる。よって、シリアル接続されたセンサ回路SC(1)~SC(N)の並び順で、自律的に検出動作を進行させることができる。X-Yデコーダなどのスキャン回路を備えることなく、N個のセンサ回路からN個のセンサ信号を読み出すことができるため、センサ1の回路規模を小型化することが可能となる。 As described above, in the sensor 1 of this embodiment, the detection operation of the K+1th sensor circuit can be started in response to the completion of the detection operation of the Kth sensor circuit. Therefore, the detection operation can proceed autonomously in the order in which the serially connected sensor circuits SC(1) to SC(N) are arranged. Since N sensor signals can be read from N sensor circuits without providing a scan circuit such as an XY decoder, the circuit scale of the sensor 1 can be reduced.

(センサ1の断線時の動作)
図5の波形図を用いて、センサ1の断線時の動作を説明する。本実施例では、図1の断線領域BAに示すように、NOR回路NR(2)の出力端子とNOR回路NR(1)の入力端子との接続経路CP(1)が断線している場合を説明する。接続経路CP(1)が断線した場合には、抵抗素子RD(1)によって、NOR回路NR(1)に入力される接続経路CP(1)の信号CP(1)はローレベルに固定される。
(Operation when sensor 1 is disconnected)
The operation when the sensor 1 is disconnected will be described using the waveform diagram in FIG. 5. In this embodiment, as shown in disconnection area BA in FIG. explain. When the connection path CP(1) is disconnected, the signal CP(1) of the connection path CP(1) input to the NOR circuit NR(1) is fixed at a low level by the resistance element RD(1). .

時刻t(1)までの動作は、図4の正常時の動作と同様であるため、説明を省略する。時刻t(1)で初段のセンサ回路SC(1)の出力信号OS(1)がハイレベルからローレベルに切り替わると、NOR回路NR(1)から出力される出力信号DO(1)がハイレベルに切り替わる(矢印Y21)ため、シリアル出力信号Soutはハイレベルからローレベルに反転する(矢印Y22)。これにより、シリアル出力信号Soutによって、検知時間DT(1)が出力される。 The operation up to time t(1) is the same as the normal operation shown in FIG. 4, so the explanation will be omitted. When the output signal OS(1) of the first stage sensor circuit SC(1) switches from high level to low level at time t(1), the output signal DO(1) output from the NOR circuit NR(1) becomes high level. (arrow Y21), the serial output signal Sout is inverted from high level to low level (arrow Y22). As a result, the detection time DT(1) is outputted by the serial output signal Sout.

時刻t(2)においてセンサ回路SC(2)の出力信号OS(2)がハイレベルからローレベルに切り替わり、その結果、出力信号DO(2)も反転される。しかし、NOR回路NR(1)に入力される信号CP(1)は、接続経路CP(1)の断線により、抵抗素子RD(1)によってローレベルに固定されているため、反転しない(矢印Y23)。よってNOR回路NR(1)から出力される出力信号DO(1)も反転しない(矢印Y24)ため、シリアル出力信号Soutも反転しない(矢印Y25)。 At time t(2), the output signal OS(2) of the sensor circuit SC(2) switches from high level to low level, and as a result, the output signal DO(2) is also inverted. However, the signal CP(1) input to the NOR circuit NR(1) is not inverted (arrow Y23 ). Therefore, since the output signal DO(1) output from the NOR circuit NR(1) is not inverted (arrow Y24), the serial output signal Sout is also not inverted (arrow Y25).

以上説明したように、NOR回路NR(K)の接続経路CP(K)が断線した場合には、NOR回路NR(K)よりも後段側のNOR回路NR(K+1)~NR(N)からの出力信号DO(K+1)~DO(N)の伝搬が、NOR回路NR(K)によって阻止される。これにより、断線が発生したNOR回路NR(K)よりも前段側の検知時間DT(1)~DT(K)のみが、シリアル出力信号Soutによって出力される。 As explained above, when the connection path CP(K) of the NOR circuit NR(K) is disconnected, the Propagation of output signals DO(K+1) to DO(N) is blocked by NOR circuit NR(K). As a result, only the detection times DT(1) to DT(K) on the previous stage than the NOR circuit NR(K) in which the disconnection has occurred are outputted as the serial output signal Sout.

(課題)
図6の比較例のセンサ100を用いて、課題を説明する。比較例のセンサ100は、本実施例のセンサ1(図1)に比して、出力回路130の構成が異なっている。具体的には、NOR回路NR(1)~NR(N)に代えて、NAND回路ND(1)~ND(N)を備えている。そして比較例の出力回路130では、シリアル出力信号Soutは、最終段のセンサユニットSU(N)から出力される。またセンサ100では、抵抗素子RUおよびRD、正電源線PLおよび負電源線NLの記載は省略している。センサ100のその他の動作内容は、センサ1と共通しているため、説明を省略する。
(assignment)
The problem will be explained using the sensor 100 of the comparative example shown in FIG. The sensor 100 of the comparative example has a different configuration of the output circuit 130 from the sensor 1 of the present example (FIG. 1). Specifically, instead of NOR circuits NR(1) to NR(N), NAND circuits ND(1) to ND(N) are provided. In the output circuit 130 of the comparative example, the serial output signal Sout is output from the final stage sensor unit SU(N). Furthermore, in the sensor 100, descriptions of the resistance elements RU and RD, the positive power line PL, and the negative power line NL are omitted. The other operational details of the sensor 100 are the same as those of the sensor 1, so a description thereof will be omitted.

比較例のセンサ100では、センサアレイ20の出力信号OSの伝搬方向、および、出力回路130の出力信号DOの伝搬方向が、共に前段から後段側へ向かう同一方向である。よって、最終段のセンサユニットSU(N)から、シリアル出力信号Soutが出力される。そのため、接続経路CP(1)~CP(N-1)の何れかに断線故障が発生すると、断線部よりも後段側にある出力回路130は必然的に動作不能となるため、全ての検知時間DT(1)~DT(N)が得られなくなってしまう。 In the sensor 100 of the comparative example, the propagation direction of the output signal OS of the sensor array 20 and the propagation direction of the output signal DO of the output circuit 130 are both the same direction from the front stage to the rear stage side. Therefore, the serial output signal Sout is output from the final stage sensor unit SU(N). Therefore, if a disconnection fault occurs in any of the connection paths CP(1) to CP(N-1), the output circuit 130 on the downstream side of the disconnection will inevitably become inoperable, so the entire detection time will be DT(1) to DT(N) will no longer be obtained.

(効果)
本実施例のセンサ1では、センサ回路の検出動作を開始させる出力信号OSを、K番目、K+1番目、というように前段から後段側へ伝搬させることができる。また、検知時間を示す出力信号DOを、K番目、K-1番目、というように後段から前段側に伝搬させることができる。よって、開始信号STの入力、および、シリアル出力信号Soutの出力の両方を、1番目のNOR回路NR(1)側に集約することができる。これにより、接続経路CP(1)~CP(N-1)の何れかに断線故障が発生し、断線部よりも後段側にある出力回路30が動作不能になった場合においても、断線部よりも前段側にある出力回路30を用いて、断線部よりも前段側のセンサ回路SCで検知された全ての検知時間DTを出力することができる。すなわち、接続経路CP(K)に断線故障が発生した場合には、断線部分よりも前段側のセンサ回路SC(1)~SC(K-1)で検知された検知時間DT(1)~DT(K)を、シリアル出力信号Soutとして出力することができる。断線時のロバスト性を高めることが可能となる。
(effect)
In the sensor 1 of this embodiment, the output signal OS that starts the detection operation of the sensor circuit can be propagated from the previous stage to the subsequent stage, such as the Kth, K+1th, and so on. Furthermore, the output signal DO indicating the detection time can be propagated from the later stage to the earlier stage, such as the Kth, K-1st, and so on. Therefore, both the input of the start signal ST and the output of the serial output signal Sout can be combined on the first NOR circuit NR(1) side. As a result, even if a disconnection fault occurs in any of the connection paths CP(1) to CP(N-1) and the output circuit 30 on the downstream side of the disconnection becomes inoperable, the It is possible to output all the detection times DT detected by the sensor circuit SC on the previous stage than the disconnection part by using the output circuit 30 on the previous stage side. In other words, when a disconnection fault occurs in the connection path CP(K), the detection time DT(1) to DT detected by the sensor circuits SC(1) to SC(K-1) on the previous stage than the disconnection part (K) can be output as a serial output signal Sout. It becomes possible to improve robustness in the event of wire breakage.

本明細書の技術では、同一構造を有するセンサユニットSU(1)~SU(N)をシリアル接続することで、センサ1を構成することができる。従って、最終段のセンサユニットSU(N)に追加のセンサユニットSUを追加したり、途中段のセンサユニットSU(K)で分離したりすることができる。センサユニットSUの連結段数を自在に変更できるため、センサ1の設計自由度を高めることが可能となる。 In the technology of this specification, the sensor 1 can be configured by serially connecting sensor units SU(1) to SU(N) having the same structure. Therefore, an additional sensor unit SU can be added to the final stage sensor unit SU (N), or it can be separated by an intermediate stage sensor unit SU (K). Since the number of connected stages of the sensor units SU can be changed freely, the degree of freedom in designing the sensor 1 can be increased.

図7に、実施例2に係るセンサ1aを示す。実施例1の出力回路30(図1)は、NOR回路NR(0)~NR(N)を備える回路構成例であった。一方、実施例2の出力回路30a(図7)は、NAND回路NDa(0)~NDa(N)を備える回路構成例である。なお、実施例1と同一内容の部位には同一符号を付すことで、説明を省略する。また実施例2に特有の部位には、符号の末尾に「a」を付すことで、区別している。 FIG. 7 shows a sensor 1a according to a second embodiment. The output circuit 30 (FIG. 1) of Example 1 was an example of a circuit configuration including NOR circuits NR(0) to NR(N). On the other hand, the output circuit 30a (FIG. 7) of the second embodiment is an example of a circuit configuration including NAND circuits NDa(0) to NDa(N). Note that the same reference numerals are given to the parts having the same contents as those in the first embodiment, and the explanation thereof will be omitted. Further, parts unique to the second embodiment are distinguished by adding "a" to the end of the reference numerals.

出力回路30aは、NAND回路NDa(1)~NDa(N)、インバータINVa(0)~INVa(N)を備える。NAND回路NDa(K)には、インバータINVa(0)を介して開始信号STが入力されるとともに、出力信号DO(1)が入力される。K番目のNAND回路NDa(K)には、K番目のセンサ回路SC(K)から出力される出力信号OS(K)がインバータINVa(K)を介して入力されるとともに、K+1番目のNOR回路NR(K+1)から出力される出力信号DO(K+1)が入力される。K番目のNAND回路NDa(K)から出力される出力信号DO(K)は、K-1番目のNAND回路NDa(K-1)に入力される。出力信号DO(K)は、下式で示される論理信号である。

Figure 2024017038000006
The output circuit 30a includes NAND circuits NDa(1) to NDa(N) and inverters INVa(0) to INVa(N). The start signal ST is inputted to the NAND circuit NDa(K) via the inverter INVa(0), and the output signal DO(1) is also inputted thereto. The output signal OS (K) output from the K-th sensor circuit SC (K) is input to the K-th NAND circuit NDa (K) via the inverter INVa (K), and the K-th NAND circuit NDa (K) is also input to the K-th NAND circuit NDa (K). An output signal DO(K+1) output from NR(K+1) is input. The output signal DO(K) output from the K-th NAND circuit NDa(K) is input to the K-1th NAND circuit NDa(K-1). The output signal DO(K) is a logic signal expressed by the following formula.
Figure 2024017038000006

初段である入出力回路IOのNAND回路NDa(0)からは、シリアル出力信号Soutが出力される。シリアル出力信号Soutは、下式で示される論理信号である。

Figure 2024017038000007
A serial output signal Sout is output from the NAND circuit NDa(0) of the input/output circuit IO, which is the first stage. The serial output signal Sout is a logic signal expressed by the following formula.
Figure 2024017038000007

NAND回路NDa(K+1)の出力端子とNAND回路NDa(K)の入力端子との接続経路CP(K)は、抵抗素子RUa(K)を介して正電源線PLに接続されている。抵抗素子RUa(1)~RUa(N)は、プルアップ抵抗として機能する。接続経路CP(1)~CP(N)が断線したときに、抵抗素子RUa(1)~RUa(N)の各々によって、NAND回路NDa(1)~NDa(N)の入力電圧をハイレベルに固定することができる。よって、誤動作を防止することが可能となる。 A connection path CP(K) between the output terminal of the NAND circuit NDa(K+1) and the input terminal of the NAND circuit NDa(K) is connected to the positive power supply line PL via the resistance element RUa(K). Resistance elements RUa(1) to RUa(N) function as pull-up resistors. When the connection paths CP(1) to CP(N) are disconnected, the input voltages of the NAND circuits NDa(1) to NDa(N) are set to high level by each of the resistance elements RUa(1) to RUa(N). Can be fixed. Therefore, it is possible to prevent malfunctions.

実施例2の出力回路30aの動作内容は、実施例1の出力回路30と同様であるため、説明を省略する。実施例2のセンサ1aによっても、実施例1のセンサ1と同様の作用効果を得ることができる。 The operation of the output circuit 30a of the second embodiment is the same as that of the output circuit 30 of the first embodiment, and therefore a description thereof will be omitted. The sensor 1a of the second embodiment can also provide the same effects as the sensor 1 of the first embodiment.

以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。 Although specific examples of the present invention have been described in detail above, these are merely illustrative and do not limit the scope of the claims. The techniques described in the claims include various modifications and changes to the specific examples illustrated above. Further, the technical elements described in this specification or the drawings exhibit technical usefulness singly or in various combinations, and are not limited to the combinations described in the claims as filed. Furthermore, the techniques illustrated in this specification or the drawings can achieve multiple objectives simultaneously, and achieving one of the objectives has technical utility in itself.

(変形例)
図5の動作例では、センサユニットSUの接続段数が偶数(Nが偶数)の場合を説明した。この場合、時刻t(N)において、シリアル出力信号Soutがローレベルへ反転する。一方、センサユニットSUの接続段数が奇数(Nが奇数)の場合には、時刻t(N)において、シリアル出力信号Soutはハイレベルへ反転する。すなわち、接続段数が偶数と奇数とで異なる点は、シリアル出力信号Soutの最終エッジの反転の向きだけである。
(Modified example)
In the operation example shown in FIG. 5, the case where the number of connected sensor units SU is an even number (N is an even number) has been described. In this case, the serial output signal Sout is inverted to low level at time t(N). On the other hand, when the number of connected sensor units SU is an odd number (N is an odd number), the serial output signal Sout is inverted to a high level at time t(N). That is, the only difference between an even number and an odd number of connection stages is the direction of inversion of the final edge of the serial output signal Sout.

図5の動作例では、NOR回路NR(K)の接続経路CP(K)に断線が発生した場合を説明した。同様にして、センサ回路SC(K)の接続経路SP(K)に断線が発生した場合においても、抵抗素子RU(K)によって、出力信号OS(K)をハイレベルに固定することができる。これにより、断線が発生したセンサ回路SC(K)よりも前段側の検知時間DTのみを、シリアル出力信号Soutによって出力することができる。 In the operation example shown in FIG. 5, a case has been described in which a disconnection occurs in the connection path CP(K) of the NOR circuit NR(K). Similarly, even if a disconnection occurs in the connection path SP(K) of the sensor circuit SC(K), the output signal OS(K) can be fixed at a high level by the resistive element RU(K). Thereby, only the detection time DT on the previous stage side of the sensor circuit SC(K) in which the disconnection has occurred can be outputted as the serial output signal Sout.

図2のセンサ回路SC(K)では、検知対象の物理量として、可変容量素子CNの静電容量を用いる場合を説明したが、この形態に限られず、様々な物理量を検知対象とすることが可能である。例えば、フォトダイオードPDの検知電流や、可変抵抗素子の抵抗値を検知対象としてもよい。 In the sensor circuit SC(K) of FIG. 2, a case has been described in which the capacitance of the variable capacitance element CN is used as the physical quantity to be detected, but it is not limited to this form, and various physical quantities can be used as the detection target. It is. For example, the detection target may be the detection current of the photodiode PD or the resistance value of the variable resistance element.

NOR回路NR、NAND回路NDは、インターフェース回路の一例である。出力信号OSは、センサ出力論理信号の一例である。出力信号DOは、インターフェース出力論理信号の一例である。シリアル出力信号Soutは、1番目の前記インターフェース回路から出力されるインターフェース出力論理信号の一例である。抵抗素子RDは、第1抵抗部の一例である。基準電圧部位GNDは、第1の所定電圧部位の一例である。抵抗素子RUは、第2抵抗部の一例である。電源電圧部位VDDは、第2の所定電圧部位の一例である。 The NOR circuit NR and NAND circuit ND are examples of an interface circuit. The output signal OS is an example of a sensor output logic signal. Output signal DO is an example of an interface output logic signal. The serial output signal Sout is an example of an interface output logic signal output from the first interface circuit. Resistance element RD is an example of a first resistance section. The reference voltage portion GND is an example of a first predetermined voltage portion. Resistance element RU is an example of a second resistance section. The power supply voltage portion VDD is an example of a second predetermined voltage portion.

以下に、本技術の態様を列挙する。
[態様1]
N個(Nは2以上の自然数)のセンサ回路と、N個の前記センサ回路の各々に対応して備えられているN個のインターフェース回路と、を備えるセンサであって、
N個の前記センサ回路は、K番目(Kは1以上N-1以下の自然数)の前記センサ回路のセンサ出力論理信号が、K+1番目の前記センサ回路のセンサ入力論理信号として入力されるシリアル接続を有しており、
N個の前記インターフェース回路は、K番目の前記インターフェース回路のインターフェース出力論理信号が、K-1番目の前記インターフェース回路のインターフェース入力論理信号として入力されるシリアル接続を有しており、
N個の前記センサ回路の各々は、前記センサ入力論理信号が反転することに応じて検出動作を開始し、前記センサ入力論理信号が反転してから前記センサ回路の検知量に比例した検知時間の経過後に前記センサ出力論理信号を反転させることで検出動作を終了する回路であり、
N個の前記インターフェース回路の各々は、対応する前記センサ回路の前記センサ出力論理信号が反転することに応じて、前記インターフェース出力論理信号を反転させる回路であり、
K番目の前記センサ回路の前記センサ出力論理信号が反転してK番目の前記センサ回路の検知動作が終了することに応じて、K+1番目の前記センサ回路の検出動作が開始され、
1番目の前記インターフェース回路からは、1番目の前記センサ回路からN番目の前記センサ回路で検知されたN個の前記検知時間を示す信号を連続して出力する前記インターフェース出力論理信号が出力される、センサ。
[態様2]
K番目の前記インターフェース回路には、K番目のセンサ回路から出力される前記センサ出力論理信号と、K+1番目の前記インターフェース回路から出力される前記インターフェース出力論理信号と、が入力されており、
K番目の前記インターフェース回路から出力される前記インターフェース出力論理信号は、K-1番目の前記インターフェース回路に入力されており、
K番目の前記センサ回路の前記センサ出力論理信号が反転してK番目の前記センサ回路の検知動作が終了することに応じて、K番目の前記センサ回路で検出された検知時間を示す前記インターフェース出力論理信号が、K番目の前記インターフェース回路からK-1番目の前記インターフェース回路へ出力される、態様1に記載のセンサ。
[態様3]
N個の前記インターフェース回路の各々に対応して備えられているN個の第1抵抗部をさらに備え、
N個の前記インターフェース回路の各々は、論理回路を備えており、
K番目の前記論理回路の入力端子には、K番目の前記センサ回路の出力端子と、K+1番目の前記論理回路の出力端子と、が接続されており、
K番目の前記論理回路の入力端子とK+1番目の前記論理回路の出力端子との接続経路は、K番目の前記第1抵抗部を介して第1の所定電圧部位に接続されている、態様1または2に記載のセンサ。
[態様4]
N個の前記センサ回路の各々に対応して備えられているN個の第2抵抗部をさらに備え、
K番目の前記センサ回路の出力端子とK+1番目の前記センサ回路の入力端子との接続経路は、K番目の前記第2抵抗部を介して第2の所定電圧部位に接続されている、態様1~3の何れか1つに記載のセンサ。
[態様5]
N個の前記センサ回路の各々は、可変容量を備えており、
前記検知量は、前記可変容量の静電容量であり、
前記検知時間は、前記可変容量の静電容量に比例した時間である、態様1~4の何れか1つに記載のセンサ。
[態様6]
N個の前記センサ回路の各々は、ダイオード素子を備えており、
前記検知量は、前記ダイオード素子の逆方向リーク電流値であり、
前記検知時間は、前記逆方向リーク電流値に逆比例した時間である、態様1~4の何れか1つに記載のセンサ。
[態様7]
N個の前記センサ回路の各々は、可変抵抗を備えており、
前記検知量は、前記可変抵抗の抵抗値であり、
前記検知時間は、前記可変抵抗の抵抗値に比例した時間である、態様1~4の何れか1つに記載のセンサ。
Aspects of the present technology are listed below.
[Aspect 1]
A sensor comprising N sensor circuits (N is a natural number of 2 or more) and N interface circuits provided corresponding to each of the N sensor circuits,
The N sensor circuits are serially connected such that the sensor output logic signal of the Kth sensor circuit (K is a natural number from 1 to N-1) is input as the sensor input logic signal of the K+1st sensor circuit. It has
The N interface circuits have a serial connection through which an interface output logic signal of the K-th interface circuit is input as an interface input logic signal of the K-1-th interface circuit,
Each of the N sensor circuits starts a detection operation in response to the inversion of the sensor input logic signal, and has a detection time proportional to the detection amount of the sensor circuit after the sensor input logic signal is inverted. A circuit that terminates the detection operation by inverting the sensor output logic signal after the elapsed time,
Each of the N interface circuits is a circuit that inverts the interface output logic signal in response to inversion of the sensor output logic signal of the corresponding sensor circuit,
In response to the sensor output logic signal of the Kth sensor circuit being inverted and the sensing operation of the Kth sensor circuit being completed, the sensing operation of the K+1st sensor circuit is started;
The first interface circuit outputs the interface output logic signal that continuously outputs a signal indicating the N detection times detected by the first to Nth sensor circuits. , sensor.
[Aspect 2]
The sensor output logic signal output from the K-th sensor circuit and the interface output logic signal output from the K+1-th interface circuit are input to the K-th interface circuit,
The interface output logic signal output from the K-th interface circuit is input to the K-1-th interface circuit,
the interface output indicating the sensing time detected by the Kth sensor circuit in response to the sensor output logic signal of the Kth sensor circuit being inverted and the sensing operation of the Kth sensor circuit being completed; The sensor according to aspect 1, wherein a logic signal is output from the Kth said interface circuit to the K-1th said interface circuit.
[Aspect 3]
further comprising N first resistor sections provided corresponding to each of the N interface circuits,
Each of the N interface circuits includes a logic circuit,
An output terminal of the Kth sensor circuit and an output terminal of the K+1st logic circuit are connected to the input terminal of the Kth logic circuit,
Aspect 1, wherein a connection path between the input terminal of the K-th logic circuit and the output terminal of the K+1-th logic circuit is connected to a first predetermined voltage portion via the K-th first resistance section. Or the sensor described in 2.
[Aspect 4]
further comprising N second resistance sections provided corresponding to each of the N sensor circuits,
Aspect 1, wherein a connection path between the output terminal of the Kth sensor circuit and the input terminal of the K+1st sensor circuit is connected to a second predetermined voltage portion via the Kth second resistor section. The sensor described in any one of ~3.
[Aspect 5]
Each of the N sensor circuits has a variable capacitance,
The detected amount is the capacitance of the variable capacitor,
The sensor according to any one of aspects 1 to 4, wherein the detection time is a time proportional to the capacitance of the variable capacitor.
[Aspect 6]
Each of the N sensor circuits includes a diode element,
The detected amount is a reverse leakage current value of the diode element,
The sensor according to any one of aspects 1 to 4, wherein the detection time is a time inversely proportional to the reverse leakage current value.
[Aspect 7]
Each of the N sensor circuits includes a variable resistance,
The detected amount is a resistance value of the variable resistor,
The sensor according to any one of aspects 1 to 4, wherein the detection time is a time proportional to a resistance value of the variable resistor.

1:センサ SC(1)~(N):センサ回路 NR(1)~(N):NOR回路 OS(1)~(N):出力信号 DO(1)~(N):出力信号 DT(1)~(N):検知時間 Sout:シリアル出力信号
1: Sensor SC(1) to (N): Sensor circuit NR(1) to (N): NOR circuit OS(1) to (N): Output signal DO(1) to (N): Output signal DT(1 ) to (N): Detection time Sout: Serial output signal

Claims (7)

N個(Nは2以上の自然数)のセンサ回路と、N個の前記センサ回路の各々に対応して備えられているN個のインターフェース回路と、を備えるセンサであって、
N個の前記センサ回路は、K番目(Kは1以上N-1以下の自然数)の前記センサ回路のセンサ出力論理信号が、K+1番目の前記センサ回路のセンサ入力論理信号として入力されるシリアル接続を有しており、
N個の前記インターフェース回路は、K番目の前記インターフェース回路のインターフェース出力論理信号が、K-1番目の前記インターフェース回路のインターフェース入力論理信号として入力されるシリアル接続を有しており、
N個の前記センサ回路の各々は、前記センサ入力論理信号が反転することに応じて検出動作を開始し、前記センサ入力論理信号が反転してから前記センサ回路の検知量に比例した検知時間の経過後に前記センサ出力論理信号を反転させることで検出動作を終了する回路であり、
N個の前記インターフェース回路の各々は、対応する前記センサ回路の前記センサ出力論理信号が反転することに応じて、前記インターフェース出力論理信号を反転させる回路であり、
K番目の前記センサ回路の前記センサ出力論理信号が反転してK番目の前記センサ回路の検知動作が終了することに応じて、K+1番目の前記センサ回路の検出動作が開始され、
1番目の前記インターフェース回路からは、1番目の前記センサ回路からN番目の前記センサ回路で検知されたN個の前記検知時間を示す信号を連続して出力する前記インターフェース出力論理信号が出力される、センサ。
A sensor comprising N sensor circuits (N is a natural number of 2 or more) and N interface circuits provided corresponding to each of the N sensor circuits,
The N sensor circuits are serially connected such that the sensor output logic signal of the Kth sensor circuit (K is a natural number from 1 to N-1) is input as the sensor input logic signal of the K+1st sensor circuit. It has
The N interface circuits have a serial connection through which an interface output logic signal of the K-th interface circuit is input as an interface input logic signal of the K-1-th interface circuit,
Each of the N sensor circuits starts a detection operation in response to the inversion of the sensor input logic signal, and has a detection time proportional to the detection amount of the sensor circuit after the sensor input logic signal is inverted. A circuit that terminates the detection operation by inverting the sensor output logic signal after the elapsed time,
Each of the N interface circuits is a circuit that inverts the interface output logic signal in response to inversion of the sensor output logic signal of the corresponding sensor circuit,
In response to the sensor output logic signal of the Kth sensor circuit being inverted and the sensing operation of the Kth sensor circuit being completed, the sensing operation of the K+1st sensor circuit is started;
The first interface circuit outputs the interface output logic signal that continuously outputs a signal indicating the N detection times detected by the first to Nth sensor circuits. , sensor.
K番目の前記インターフェース回路には、K番目のセンサ回路から出力される前記センサ出力論理信号と、K+1番目の前記インターフェース回路から出力される前記インターフェース出力論理信号と、が入力されており、
K番目の前記インターフェース回路から出力される前記インターフェース出力論理信号は、K-1番目の前記インターフェース回路に入力されており、
K番目の前記センサ回路の前記センサ出力論理信号が反転してK番目の前記センサ回路の検知動作が終了することに応じて、K番目の前記センサ回路で検出された検知時間を示す前記インターフェース出力論理信号が、K番目の前記インターフェース回路からK-1番目の前記インターフェース回路へ出力される、請求項1に記載のセンサ。
The sensor output logic signal output from the K-th sensor circuit and the interface output logic signal output from the K+1-th interface circuit are input to the K-th interface circuit,
The interface output logic signal output from the K-th interface circuit is input to the K-1-th interface circuit,
the interface output indicating the sensing time detected by the Kth sensor circuit in response to the sensor output logic signal of the Kth sensor circuit being inverted and the sensing operation of the Kth sensor circuit being completed; The sensor of claim 1, wherein a logic signal is output from the Kth interface circuit to the K-1th interface circuit.
N個の前記インターフェース回路の各々に対応して備えられているN個の第1抵抗部をさらに備え、
N個の前記インターフェース回路の各々は、論理回路を備えており、
K番目の前記論理回路の入力端子には、K番目の前記センサ回路の出力端子と、K+1番目の前記論理回路の出力端子と、が接続されており、
K番目の前記論理回路の入力端子とK+1番目の前記論理回路の出力端子との接続経路は、K番目の前記第1抵抗部を介して第1の所定電圧部位に接続されている、請求項1または2に記載のセンサ。
further comprising N first resistor sections provided corresponding to each of the N interface circuits,
Each of the N interface circuits includes a logic circuit,
An output terminal of the Kth sensor circuit and an output terminal of the K+1st logic circuit are connected to the input terminal of the Kth logic circuit,
A connection path between an input terminal of the K-th logic circuit and an output terminal of the K+1-th logic circuit is connected to a first predetermined voltage portion via the K-th first resistance section. 2. The sensor according to 1 or 2.
N個の前記センサ回路の各々に対応して備えられているN個の第2抵抗部をさらに備え、
K番目の前記センサ回路の出力端子とK+1番目の前記センサ回路の入力端子との接続経路は、K番目の前記第2抵抗部を介して第2の所定電圧部位に接続されている、請求項1に記載のセンサ。
further comprising N second resistance sections provided corresponding to each of the N sensor circuits,
A connection path between the output terminal of the K-th sensor circuit and the input terminal of the K+1-th sensor circuit is connected to a second predetermined voltage portion via the K-th second resistor section. 1. The sensor according to 1.
N個の前記センサ回路の各々は、可変容量を備えており、
前記検知量は、前記可変容量の静電容量であり、
前記検知時間は、前記可変容量の静電容量に比例した時間である、請求項1に記載のセンサ。
Each of the N sensor circuits has a variable capacitance,
The detected amount is the capacitance of the variable capacitor,
The sensor according to claim 1, wherein the detection time is a time proportional to the capacitance of the variable capacitor.
N個の前記センサ回路の各々は、ダイオード素子を備えており、
前記検知量は、前記ダイオード素子の逆方向リーク電流値であり、
前記検知時間は、前記逆方向リーク電流値に逆比例した時間である、請求項1に記載のセンサ。
Each of the N sensor circuits includes a diode element,
The detected amount is a reverse leakage current value of the diode element,
The sensor according to claim 1, wherein the detection time is a time inversely proportional to the reverse leakage current value.
N個の前記センサ回路の各々は、可変抵抗を備えており、
前記検知量は、前記可変抵抗の抵抗値であり、
前記検知時間は、前記可変抵抗の抵抗値に比例した時間である、請求項1に記載のセンサ。
Each of the N sensor circuits includes a variable resistance,
The detected amount is a resistance value of the variable resistor,
The sensor according to claim 1, wherein the detection time is a time proportional to a resistance value of the variable resistor.
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