JP2024016336A - 放射線検出器及び核医学診断装置 - Google Patents

Abstract

【課題】放射線検出器における温度変化の影響を適切に補償すること。【解決手段】実施形態に係る放射線検出器は、センサ部と、Ａ／Ｄ変換部と、取得部と、出力制御部とを備える。前記センサ部は、放射線の入射に基づいてパルス信号を出力する。前記Ａ／Ｄ変換部は、前記パルス信号をＡ／Ｄ変換することでデジタルデータを生成する。前記取得部は、前記Ａ／Ｄ変換部の温度情報を取得する。前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて補償されたデジタルデータを出力させる。【選択図】図１

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、放射線検出器及び核医学診断装置に関する。

従来、陽電子放出コンピュータ断層撮影（Ｐｏｓｉｔｒｏｎ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＰＥＴ）装置などの核医学診断装置や、光子計数型のコンピュータ断層撮影（Ｐｈｏｔｏｎ Ｃｏｕｎｔｉｎｇ Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＰＣＣＴ）装置などの放射線診断装置の放射線検出器として、シリコン光電子増倍管（Ｓｉｌｉｃｏｎ Ｐｈｏｔｏ Ｍｕｌｔｉｐｌｉｅｒ：ＳｉＰＭ）ベースの放射線検出器が知られている。

放射線検出器におけるアナログ信号処理は、温度に影響を受けることが知られている。このため、放熱や冷却の不均一性、周囲環境の変化などの影響により放射線検出器に温度変化が生じると、エネルギー情報や時間情報の出力値が変化してしまうという問題があった。

米国特許出願公開第２０１７／０３２２３２４号明細書

本明細書等に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、放射線検出器における温度変化の影響を適切に補償することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

実施形態に係る放射線検出器は、センサ部と、Ａ／Ｄ変換部と、取得部と、出力制御部とを備える。前記センサ部は、放射線の入射に基づいてパルス信号を出力する。前記Ａ／Ｄ変換部は、前記パルス信号をＡ／Ｄ変換することでデジタルデータを生成する。前記取得部は、前記Ａ／Ｄ変換部の温度情報を取得する。前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて補償されたデジタルデータを出力させる。

図１は、実施形態に係る陽電子放出コンピュータ断層撮影（Ｐｏｓｉｔｒｏｎ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＰＥＴ）装置の構成の一例を示す図である。 図２は、実施形態に係る検出器ユニットの構成の一例を示す図である。 図３は、実施形態に係る温度補償について説明するための図である。 図４は、実施形態に係る温度補償について説明するための図である。 図５は、実施形態に係る温度補償について説明するための図である。 図６は、実施形態に係る出力制御処理の流れの一例を示すフローチャートである。

以下、図面を参照しながら各実施形態に係る放射線検出器及び核医学診断装置を説明する。なお、以下の説明において、既出の図に関して前述したものと同一又は略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表されている場合もある。また、例えば図面の視認性を確保する観点から、各図面の説明において主要又は代表的な構成要素だけに参照符号を付し、同一又は略同一の機能を有する構成要素であっても参照符号を付していない場合もある。

（第１の実施形態）
図１は、実施形態に係る陽電子放出コンピュータ断層撮影（Ｐｏｓｉｔｒｏｎ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＰＥＴ）装置１００の構成の一例を示す図である。例えば、ＰＥＴ装置１００は、図１に示すように、架台装置１０及びコンソール装置２０を有する。

架台装置１０は、被検体Ｐに投与されたトレーサーから放出された陽電子が電子と対消滅することによって放出される対消滅ガンマ線を検出し、検出した対消滅ガンマ線をカウントすることによって計数情報を収集する。ここで、架台装置１０は、当該架台装置１０を水平方向に貫通するように形成された円筒状の開口部を有する。架台装置１０は、当該開口部に配置された被検体Ｐから放出される対消滅ガンマ線を検出する。なお、以下の説明では、架台装置１０の円筒状の開口部の軸に沿った方向をＺ軸方向と定義する。また、Ｚ軸方向に直交する水平方向をＸ軸方向と定義する。また、Ｚ軸方向及びＸ軸方向に互いに直交する鉛直方向をＹ方向と定義する。

具体的には、架台装置１０は、天板１１、寝台１２、寝台駆動機構１３及びＰＥＴ検出器１４を有する。

天板１１は、被検体Ｐが載置されるベッドである。例えば、天板１１は、矩形の平板状に形成されており、長手方向がＺ軸方向と平行になるように配置されている。

寝台１２は、天板１１をＸ軸方向、Ｙ軸方向及びＺ軸方向へ移動可能に支持する。

寝台駆動機構１３は、寝台１２の内部又は外部に設けられており、寝台１２によって支持された天板１１を移動させる。例えば、寝台駆動機構１３は、被検体Ｐの撮像が行われる際に、被検体Ｐが載置された天板１１を架台装置１０の開口部へ移動させる。例えば、寝台駆動機構１３は、寝台１２の位置を固定した状態で、寝台１２上で天板１１を移動させる。または、例えば、寝台駆動機構１３は、移動ベースを含み、当該移動ベース上で寝台１２とともに天板１１を移動させてもよい。

ＰＥＴ検出器１４は、被検体Ｐから放出される対消滅ガンマ線を検出する。そして、ＰＥＴ検出器１４は、検出した対消滅ガンマ線の検出位置、エネルギー値及び検出時間を含む計数情報を生成し、生成した計数情報をコンソール装置２０に送信する。

具体的には、ＰＥＴ検出器１４は、架台装置１０に形成された開口部を囲むようにＺ軸を中心としたリング状に配列された複数の検出器ユニット１４ａを含んでおり、各検出器ユニット１４ａが、対消滅ガンマ線を検出して計数情報を生成する。

検出器ユニット１４ａは、例えば、フォトンカウンティング方式、アンガー型の検出器であり、シンチレータ、光検出素子及びライトガイドを有する。

シンチレータは、被検体Ｐ内の陽電子から放出されて入射した対消滅ガンマ線をシンチレーション光に変換して出力する。例えば、シンチレータは、ＬａＢｒ３、ＬＹＳＯ、ＬＳＯ、ＬＧＳＯ、ＢＧＯ、ＧＡＧＧ、ＬｕＡＧ等のエネルギー計測に適するシンチレータ結晶によって形成される。また、例えば、シンチレータは、２次元に配列される。

光検出素子は、シンチレータから出力されたシンチレーション光を検出してアナログ信号に変換する。光検出素子は、例えば、ＳｉＰＭ（Ｓｉｌｉｃｏｎ Ｐｈｏｔｏｍｕｌｔｉｐｌｉｅｒ）により構成されるが、ＰＭＴ（Ｐｈｏｔｏｍｕｌｔｉｐｌｉｅｒ）等の他の光電子増倍管によって構成されてもよい。

ライトガイドは、光透過性に優れたプラスチック素材等によって形成され、シンチレータから出力されたシンチレーション光を光検出素子に伝達する。

なお、検出器ユニット１４ａは、シンチレータと光検出素子とが一対一に光学接合され、ライトガイドを有しない非アンガー型の検出器であってもよい。または、例えば、検出器ユニット１４ａは、シンチレータを用いた間接変換型の検出器ではなく、ＣＺＴ、ＣｄＴｅ、Ｇｅ、Ｓｉ等の半導体を用いた直接変換型の検出器であってもよい。

そして、検出器ユニット１４ａは、光検出素子から出力されるアナログ信号に基づいて、対消滅ガンマ線の検出位置、エネルギー値及び検出時間を含む計数情報を生成する。

例えば、検出器ユニット１４ａは、シンチレーション光を同じタイミングでアナログ信号に変換した複数の光検出素子を特定する。そして、検出器ユニット１４ａは、対消滅ガンマ線が入射したシンチレータの位置を、対消滅ガンマ線の検出位置として特定する。例えば、検出器ユニット１４ａは、光検出素子の位置及びアナログ信号の強度に基づいて重心演算を行うことで、対消滅ガンマ線が入射したシンチレータの位置を特定する。または、例えば、検出器ユニット１４ａは、シンチレータと光検出素子の各々の素子サイズが対応している場合は、出力が得られた光検出素子に対応するシンチレータの位置を、対消滅ガンマ線が入射したシンチレータの位置として特定してもよい。

また、例えば、検出器ユニット１４ａは、光検出素子から出力されたアナログ信号の強度を積分計算することで、対消滅ガンマ線のエネルギー値を特定する。または、例えば、検出器ユニット１４ａは、光検出素子から出力されたアナログ信号の強度が予め設定された閾値を超えている時間（ＴｏＴ：Ｔｉｍｅ Ｏｖｅｒ Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ）を測定し、測定した時間を用いて非線形補正を行うことで、対消滅ガンマ線のエネルギー値を特定してもよい。

また、例えば、検出器ユニット１４ａは、光検出素子によってシンチレーション光が検出された時間を対消滅ガンマ線の検出時間として特定する。ここで、検出時間は、絶対時刻であってもよいし、撮影開始時点からの経過時間であってもよい。

コンソール装置２０は、操作者からＰＥＴ装置１００に対する各種操作を受け付け、受け付けた操作に基づいて、ＰＥＴ装置１００の動作を制御する。具体的には、コンソール装置２０は、入力インターフェース２１、ディスプレイ２２、メモリ２３及び処理回路２４を有する。ここで、コンソール装置２０が備える各部は、バスを介して接続されている。なお、ここでは、架台装置１０及びコンソール装置２０が別体である場合を例示するが、コンソール装置２０又はコンソール装置２０の構成要素の一部が架台装置１０に含まれていてもよい。

入力インターフェース２１は、操作者から各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号へ変換して処理回路２４に出力する。例えば、入力インターフェース２１は、撮像条件や関心領域（Ｒｅｇｉｏｎ Ｏｆ Ｉｎｔｅｒｅｓｔ：ＲＯＩ）の設定などを行うための操作入力を操作者から受け付ける。

入力インターフェース２１としては、例えば、マウス、キーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、光学センサを用いた非接触入力回路、音声入力回路、タッチパッド及びタッチパネルディスプレイなどが適宜、使用可能となっている。

なお、本実施形態において、入力インターフェース２１は、これらの物理的な操作部品を備えるものに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路２４へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース２１の例に含まれる。また、入力インターフェース２１は、架台装置１０に設けられてもよい。また、入力インターフェース２１は、コンソール装置２０の本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。ここで、入力インターフェース２１は、入力部の一例である。

ディスプレイ２２は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ２２は、処理回路２４によって生成された医用画像（ＰＥＴ画像）や、操作者からの各種操作を受け付けるためのＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）などを出力する。ディスプレイ２２としては、種々の任意のディスプレイが、適宜、使用可能となっている。例えばディスプレイ２２として、液晶ディスプレイ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ：ＬＣＤ）、Ｃａｔｈｏｄｅ Ｒａｙ Ｔｕｂｅ（ＣＲＴ）ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ Ｄｉｓｐｌａｙ：ＯＥＬＤ）又はプラズマディスプレイが使用可能である。

なお、ディスプレイ２２は、制御室の如何なる場所に設けられてもよい。また、ディスプレイ２２は、架台装置１０に設けられてもよい。また、ディスプレイ２２は、デスクトップ型でもよいし、コンソール装置２０の本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。また、ディスプレイ２２として、１又は２以上のプロジェクタが用いられてもよい。ここで、ディスプレイ２２は、表示部の一例である。

メモリ２３は、ＰＥＴ装置１００において用いられる各種のデータやプログラムを記憶する。メモリ４１は、例えば、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、フラッシュメモリなどの半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスクなどにより実現される。なお、メモリ２３の保存領域は、ＰＥＴ装置１００内にあってもよいし、ネットワークで接続された外部記憶装置内にあってもよい。ここで、メモリ２３は、記憶部の一例である。

処理回路２４は、ＰＥＴ装置１００全体の動作を制御する。処理回路２４は、ハードウェア資源として、プロセッサと、ＲＯＭやＲＡＭなどのメモリとを有する。処理回路２４は、メモリにロードされたプログラムを実行するプロセッサにより、制御機能２４ａ、同時計数情報生成機能２４ｂ及び画像再構成機能２４ｃなどの各種機能を実行する。ここで、処理回路４４は、処理部の一例である。

制御機能２４ａにおいて処理回路２４は、架台装置１０及びコンソール装置２０の各部を制御することで、ＰＥＴ装置１００の全体制御を行う。例えば、処理回路２４は、寝台駆動機構１３を制御して、天板１１を移動させる。また、例えば、処理回路２４は、ＰＥＴ検出器１４を制御して、被検体Ｐから放出された対消滅ガンマ線の計数情報を収集し、収集した計数情報をメモリ２３に格納する。

同時計数情報生成機能２４ｂにおいて処理回路２４は、計数情報収集回路１５によって収集された計数情報を用いて同時計数情報を生成する。具体的には、処理回路２４は、メモリ２３に記憶された計数情報を参照し、各計数情報の検出時間に基づいて、対消滅ガンマ線を略同時に計数した計数情報の組を特定する。そして、処理回路２４は、特定した計数情報の組を対応付けた同時計数情報を生成し、生成した同時計数情報をメモリ２３に格納する。また、処理回路２４は、複数の検出器ユニット１４ａによって取得された複数の時間情報に基づいて、基準となる検出器ユニット１４ａと他の検出器ユニット１４ａとの間の時間情報のずれを補正する。

画像再構成機能２４ｃにおいて処理回路２４は、同時計数情報生成機能２４ｂによって生成された同時計数情報に基づいて、ＰＥＴ画像を再構成する。具体的には、処理回路２４は、メモリ２３に記憶された同時計数情報を読み出し、読み出した同時計数情報を投影データとして用いて逆投影処理を行うことで、ＰＥＴ画像を再構成する。また、処理回路２４は、再構成したＰＥＴ画像をメモリ２３に格納する。

なお、各機能２４ａ～２４ｃは、単一の処理回路で実現される場合に限らない。複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路２４を構成し、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各機能２４ａ～２４ｃを実現するものとしても構わない。ここで、各機能２４ａ～２４ｃは、単一又は複数の処理回路に適宜に分散又は統合されて実現されてもよい。

なお、コンソール装置２０は、単一のコンソールにて複数の機能を実行するものとして説明したが、複数の機能を別々のコンソールが実行することにしても構わない。例えば、同時計数情報生成機能２４ｂ及び画像再構成機能２４ｃなどの処理回路２４の機能を分散して有しても構わない。

なお、処理回路２４の一部又は全部は、コンソール装置２０に含まれる場合に限らず、複数の医用画像診断装置において取得されたデータに対する処理を一括して行う統合サーバに含まれてもよい。

なお、同時計数情報の生成処理及びＰＥＴ画像の再構成処理のうちの少なくとも１の処理は、コンソール装置２０又は外部のワークステーションのどちらで実施することにしても構わない。また、コンソール装置２０とワークステーションの両方で同時に処理することにしても構わない。ワークステーションとしては、例えば各処理に対応する機能を実現するプロセッサと、ＲＯＭやＲＡＭなどのメモリとをハードウェア資源として有するコンピュータなどが適宜利用可能である。

以上、本実施形態に係るＰＥＴ装置１００の構成例について説明した。このような構成のもと、ＰＥＴ装置１００は、上述したように、複数の検出器ユニット１４ａによって検出された対消滅ガンマ線の計数情報の中から対消滅ガンマ線を略同時に計数した計数情報の組を特定し、特定した計数情報の組を対応づけた同時計数情報に基づいて、ＰＥＴ画像を生成する。

このようなＰＥＴ装置１００においては、ＰＥＴ検出器１４におけるアナログ信号処理が温度の影響を受ける。ＰＥＴ検出器１４における温度変化は、検出のタイミングとエネルギー分解能を低下させる可能性がある。このため、安定した温度環境にＰＥＴ検出器１４を置くことが重要である。

ＳｉＰＭなどの光検出素子（光電変換素子）及びＡ／Ｄ変換素子は、温度の影響を特に受けやすいことが知られている。より詳細には、ＰＥＴ検出器１４における温度の影響は、光電変換素子が受ける影響が支配的である。このことから、光電変換素子の温度変化に応じて印加電圧を変動させ、安定したエネルギー情報を得られるように補償することが一般的であった。具体的には、光電変換素子の温度の実測結果に基づいて適切な電圧制御ができるようパラメータを調整していた。

しかしながら、ＰＥＴ検出器１４の内部で急激な温度変化が発生した場合など、Ａ／Ｄ変換素子の温度だけが変化してしまうおそれがあった。この場合、Ａ／Ｄ変換素子の温度が変化すると、Ａ／Ｄ変換素子の分解能に応じてエネルギー情報や時間情報の出力値が急激に変化してしまうという問題があった。

このことから、実施形態に係るＰＥＴ検出器１４は、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度に基づく温度補償が施されたデジタルデータを出力するように構成される。ここで、ＰＥＴ検出器１４は、放射線検出器の一例である。

なお、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度に加えて、光電変換素子の温度にさらに基づく温度補償が行われる場合もあり得る。

以下、本実施形態に係るＰＥＴ検出器１４の構成例について、より詳細に説明する。図２は、本実施形態に係る検出器ユニット１４ａの構成例を示す図である。

ＰＥＴ検出器１４において、各検出器ユニット１４ａは、アナログ部１４１、ＤＡＳ（Ｄａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）及び温度センサ１４７を有する。例えばＤＡＳは、オシレータ１４２、ＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）１４３、分配器１４４、Ａ／Ｄ変換器１４５及びＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）１４６を有する。

なお、ＰＥＴ検出器１４において、イベントデータは、少なくとも１の検出器ユニット１４ａを含むブロックごとに収集されるとする。本実施形態では、１の検出器ユニット１４ａごとにイベントデータが収集される場合を例示する。

アナログ部１４１は、放射線の入射に基づいてパルス信号を出力する。具体的には、アナログ部１４１は、ガンマ線の検出結果に基づいたアナログ信号を検出する。具体的には、アナログ部１４１は、前述したシンチレータ及び光検出素子（光電変換素子）を含み、被検体Ｐ内の陽電子から放出されて入射した対消滅ガンマ線をシンチレーション光に変換し、当該シンチレーション光をアナログのパルス信号に変換して出力する。以下、当該パルス信号を検出信号と記載する。ここで、アナログ部１４１は、センサ部の一例である。

オシレータ１４２は、クロック信号を発生する。例えば、オシレータ１４２は、水晶振動子等の固有振動子を用いた回路によって実現される。

ＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ Ｌｏｃｋｅｄ Ｌｏｏｐ）１４３は、オシレータ１４２によって発生するクロック信号を予め決められた周波数のクロック信号に変換して出力する。

分配器１４４は、ＰＬＬ１４３から出力されるクロック信号をＡ／Ｄ変換器１４５及びＡＳＩＣ１４６に分配する。

Ａ／Ｄ変換器１４５は、アナログ部１４１からの検出信号をＡ／Ｄ変換することでデジタルデータを生成する。Ａ／Ｄ変換器１４５は、デジタルデータ（イベントデータ）をイベントごとに生成する。具体的には、Ａ／Ｄ変換器１４５は、アナログデータである検出信号の入力を受け付けると、当該検出信号をデジタルデータに変換する。このデジタルデータには、消滅放射線の検出位置（例えば検出器ユニット１４ａや光電変換素子、シンチレータの識別情報など）と、エネルギー値（例えば検出信号の強度など）と、検出時間（例えば絶対時刻、撮影開始からの経過時間など）とが含まれる。なお、Ａ／Ｄ変換器１４５は、オシレータ１４２によって発生するクロック信号に基づいて、アナログ部１４１によって検出されたアナログの検出信号の強度が所定の閾値を超えた時間を計測してデジタル信号に変換することで、時間情報を生成する。ここで、Ａ／Ｄ変換器１４５は、Ａ／Ｄ変換部の一例である。

ＡＳＩＣ１４６は、温度取得機能１４６ａ、時間情報生成機能１４６ｂ、計数情報生成機能１４６ｃ及び出力制御機能１４６ｄなどの各種機能を実行可能に構成される。

温度取得機能１４６ａにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度センサ１４７からの温度情報を取得する。ここで、温度取得機能１４６ａを実現するＡＳＩＣ１４６は、取得部の一例である。

ここで、例えば、温度情報は、温度センサ１４７により計測されたＡ／Ｄ変換器１４５又はその近傍の温度の値を示す情報である。また、例えば、温度情報は、温度センサ１４７により計測されたＡ／Ｄ変換器１４５又はその近傍の温度の区分を示す情報であってもよい。温度の区分は、例えば後述の閾値に対応して設けることができる。

時間情報生成機能１４６ｂにおいてＡＳＩＣ１４６は、同期信号発生部によって発生する同期信号に基づいて、Ａ／Ｄ変換器１４５によって生成された時間情報（デジタルデータ）を取得する。ＡＳＩＣ１４６は、取得した時間情報をコンソール装置２０に送信する。

ここで、例えば、同期信号発生部は、アナログ部１４１に含まれるシンチレータであってもよい。このとき、同期信号は、当該シンチレータの自己崩壊によって生じるガンマ線である。例えば、ＡＳＩＣ１４６は、シンチレータの自己崩壊によるガンマ線が発生したことを契機として、時間情報を取得する。また、例えば、同期信号発生部は、架台装置１０の開口部に配置されたガンマ線源であってもよい。このとき、同期信号は、当該ガンマ線から放出されたガンマ線であってもよい。また、例えば、同期信号発生部は、コンソール装置２０の制御機能２４ａであってもよい。このとき、同期信号は、制御機能２４ａから送信されるコマンドであってもよい。

計数情報生成機能１４６ｃにおいてＡＳＩＣ１４６は、アナログ部１４１から出力されるアナログの検出信号と、Ａ／Ｄ変換器１４５によって生成された時間情報とに基づいて、対消滅ガンマ線の検出位置、エネルギー値及び検出時間を含む計数情報（デジタルデータ）を生成する。ＡＳＩＣ１４６は、生成した計数情報をコンソール装置２０に送信する。

出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度センサ１４７から取得した温度情報に基づいて補償されたデジタルデータを出力させる出力制御を行う。温度情報に基づく出力制御の詳細については、後述する。ここで、出力制御機能１４６ｄを実現するＡＳＩＣ１４６は、出力制御部の一例である。

なお、ここでは、ＡＳＩＣ１４６を用いた例を説明したが、これに限らない。例えば、ＡＳＩＣ１４６の代わりに、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）等のプロセッサによって実現された他の処理回路が用いられてもよい。

温度センサ１４７は、少なくともＡ／Ｄ変換器１４５の温度を計測可能なセンサを含む。温度センサ１４７は、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度として、Ａ／Ｄ変換器１４５が搭載された基板の温度を計測可能なセンサであってもよい。温度センサ１４７は、ＳｉＰＭ（光電変換素子）の温度を計測可能なセンサをさらに含んでいてもよい。温度センサ１４７としては、例えばサーミスタが用いられるが、熱電対や放射温度計など他の温度計測可能なセンサが利用されても構わない。

ここで、温度補償について、図面を参照してより詳細に説明する。図３～図５は、それぞれ実施形態に係る温度補償について説明するための図である。

出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報に基づいて、アナログ部１４１からのパルス信号に関する閾値を設定する出力制御を行う。本実施形態では、アナログ部１４１からのパルス信号に関する閾値は、パルス信号のエネルギー測定に関する閾値である。

図３は、標準温度環境でのＡ／Ｄ変換器１４５からの検出信号のアナログ波形Ｗを例示する。温度情報が標準温度環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、アナログ部１４１からの検出信号に関する閾値Ｔｈ０を設定する出力制御を行う。ここで、閾値Ｔｈ０は、Ａ／Ｄ変換器１４５のベース電圧ＶＢ０に応じて予め定められる。以下、閾値Ｔｈ０を用いたアナログ波形Ｗの検出信号のＡ／Ｄ変換により、エネルギー情報Ｅ０が得られるとして、説明を続ける。

図４は、Ａ／Ｄ変換器１４５のみ温度上昇したときのＡ／Ｄ変換器１４５からの検出信号のアナログ波形Ｗを例示する。このとき、Ａ／Ｄ変換器１４５のベース電圧は、温度上昇に伴い、電圧ＶＢ０より高い電圧ＶＢ１である。このため、Ａ／Ｄ変換器１４５からの検出信号のアナログ波形Ｗは、Ａ／Ｄ変換器１４５のベース電圧の上昇に伴い、図４に示すように、高い値（図３及び図４における上方）へ遷移する。したがって、標準温度環境に対応した閾値Ｔｈ０を用いたＡ／Ｄ変換では、エネルギー情報Ｅ０より高いエネルギー情報Ｅ１１が生成される。

このように、Ａ／Ｄ変換器１４５に生じた温度変化に起因してエネルギー情報の出力値が変化してしまうため、本実施形態に係る温度情報に基づく出力制御においては、温度情報に応じてＡ／Ｄ変換を行うためにアナログの検出信号に対して設ける閾値を変更する。

具体的には、温度情報が標準温度環境より高温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、アナログ部１４１からの検出信号に関する閾値Ｔｈ１を設定する出力制御を行う。換言すれば、ＡＳＩＣ１４６は、温度情報が標準温度環境より高温の環境を示す情報であるとき、Ａ／Ｄ変換を行うためにアナログの検出信号に対して設ける閾値を、標準温度環境に対応する閾値Ｔｈ０から高温環境に対応する閾値Ｔｈ１に変更する。ここで、閾値Ｔｈ１は、Ａ／Ｄ変換器１４５のベース電圧ＶＢ１又はその範囲に応じて予め定められた値であり、閾値Ｔｈ０より高い。

高温環境に対応した閾値Ｔｈ１を用いたＡ／Ｄ変換によれば、エネルギー情報Ｅ１１より低いエネルギー情報Ｅ１２が生成される。このため、Ａ／Ｄ変換器１４５に生じた温度上昇に起因するエネルギー情報の出力値の上昇を抑制することができる。

図５は、Ａ／Ｄ変換器１４５のみ温度低下したときのアナログ波形Ｗを例示する。このとき、Ａ／Ｄ変換器１４５のベース電圧は、温度低下に伴い、電圧ＶＢ０より低い電圧ＶＢ２である。このため、Ａ／Ｄ変換器１４５からの検出信号のアナログ波形Ｗは、Ａ／Ｄ変換器１４５のベース電圧の低下に伴い、図５に示すように、低い値（図３及び図５における下方）へ遷移する。したがって、標準温度環境に対応した閾値Ｔｈ０を用いたＡ／Ｄ変換では、エネルギー情報Ｅ０より低いエネルギー情報Ｅ２１が生成される。

そこで、本実施形態に係る温度情報に基づく出力制御においては、温度情報が標準温度環境より低温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、アナログ部１４１からの検出信号に関する閾値Ｔｈ２を設定する出力制御を行う。換言すれば、ＡＳＩＣ１４６は、温度情報が標準温度環境より低温の環境を示す情報であるとき、Ａ／Ｄ変換を行うためにアナログの検出信号に対して設ける閾値を、標準温度環境に対応する閾値Ｔｈ０から低温環境に対応する閾値Ｔｈ２に変更する。ここで、閾値Ｔｈ２は、Ａ／Ｄ変換器１４５のベース電圧ＶＢ２又はその範囲に応じて予め定められた値であり、閾値Ｔｈ０より低い。

低温環境に対応した閾値Ｔｈ２を用いたＡ／Ｄ変換によれば、エネルギー情報Ｅ２１より高いエネルギー情報Ｅ２２が生成される。このため、Ａ／Ｄ変換器１４５に生じた温度低下に起因するエネルギー情報の出力値の低下を抑制することができる。

ここで、実施形態に係る温度情報に基づく出力制御の流れについて、図面を参照してより詳細に説明する。

図６は、実施形態に係る出力制御処理の流れの一例を示すフローチャートである。

まず、温度取得機能１４６ａにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度センサ１４７からＡ／Ｄ変換器１４５の温度情報を取得する（Ｓ１０１）。

そして、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、図３～図５を参照して上述したように、温度情報に基づいて、アナログ部１４１からのパルス信号に関する閾値を設定する（Ｓ１０２）。

なお、Ｓ１０１及びＳ１０２の処理は、必ずしも毎回行われなくてもよい。また、温度情報に変化がない場合には、同じ閾値が設定されることになるため、閾値の設定について省略されてもよい。

時間情報生成機能１４６ｂにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報に基づいて閾値が設定された状態のＡ／Ｄ変換器１４５によって生成された時間情報を取得する。また、計数情報生成機能１４６ｃにおいてＡＳＩＣ１４６は、当該時間情報に基づいて計数情報を生成する（Ｓ１０３）。

その後、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、生成した時間情報及び計数情報、すなわちＡ／Ｄ変換器１４５の温度情報に基づいて温度補償されたデジタルデータをコンソール装置２０へ出力する（Ｓ１０４）。

このように、本実施形態に係る温度補償は、Ａ／Ｄ変換を行うためにアナログの検出信号に対して設ける閾値を温度に応じて変化させることにより実現される。具体的には、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報に基づいて、アナログ部１４１からのパルス信号に関する閾値を設定する。つまり、ＡＳＩＣ１４６は、温度変化に伴うＡ／Ｄ変換器１４５からの出力値の変化を抑制し、温度情報に基づいて補償されたデジタルデータがＰＥＴ検出器１４から出力されるように出力制御を行う。

これにより、外気による急激な温度の変化や高計数率の処理に伴いＡ／Ｄ変換器１４５での大幅な温度上昇又は温度低下があっても、エネルギー情報の変動を最小化することが可能となる。

（第２の実施形態）
第１の実施形態では、温度情報に基づいて、アナログ部１４１からのパルス信号のエネルギー測定に関する閾値を設定する場合を例に説明したが、これに限らない。出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報に基づいて、アナログ部１４１からのパルス信号のタイミングに関する閾値を設定してもよい。

ここで、パルス信号のタイミングに関する閾値とは、Ａ／Ｄ変換器１４５が時間情報を生成する際に用いる、アナログ部１４１からの検出信号の強度についての閾値である。

この構成であっても、ＡＳＩＣ１４６は、温度変化に伴うＡ／Ｄ変換器１４５からの出力値の変化を抑制することができる。

なお、本実施形態に係る技術は、第１の実施形態に係る技術と適宜組み合わせることができる。具体的には、ＡＳＩＣ１４６は、温度情報に基づいて、アナログ部１４１からのパルス信号のエネルギー測定に関する閾値と、当該パルス信号からの時間情報の生成に関する閾値とのそれぞれを設定するように構成されていてもよい。

（第３の実施形態）
上述の各実施形態では、アナログ部１４１からのパルス信号に関する閾値を設定することにより温度補償されたデジタルデータを出力させる出力制御を例示したが、これに限らない。出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報に基づいて、アナログ部１４１の動作を制御することにより温度補償されたデジタルデータを出力させてもよい。

出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報に基づいて、アナログ部１４１のＳｉＰＭ（光電変換素子）に印加する電圧を決定する。例えば、温度情報と印加電圧との関係を示すテーブルや関係式が予め定められているとする。

なお、当該テーブルや関係式は、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度情報と、ＳｉＰＭの温度情報と、印加電圧との対応を示すものであっても構わない。この場合、温度センサ１４７は、ＳｉＰＭの温度を計測可能なセンサをさらに含む。

一例として、温度情報が標準温度環境より高温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報が標準温度環境を示す情報であるときよりも低い電圧をＳｉＰＭに印加する出力制御を行う。つまり、ＡＳＩＣ１４６は、温度情報が標準温度環境より高温の環境を示す情報であるとき、ＳｉＰＭに印加する電圧を低下させることにより、アナログ部１４１からの検出信号のアナログ波形Ｗを（例えば図３及び図４における下方）へ遷移させる。

一例として、温度情報が標準温度環境より低温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報が標準温度環境を示す情報であるときよりも高い電圧をＳｉＰＭに印加する出力制御を行う。つまり、ＡＳＩＣ１４６は、温度情報が標準温度環境より低温の環境を示す情報であるとき、ＳｉＰＭに印加する電圧を上昇させることにより、アナログ部１４１からの検出信号のアナログ波形Ｗを（例えば図３及び図５における上方）へ遷移させる。

この構成であっても、ＡＳＩＣ１４６は、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度変化に伴うＰＥＴ検出器１４からの出力値の変化を抑制することができる。

なお、本実施形態に係る技術は、上述の各実施形態に係る技術と適宜組み合わせることができる。例えば、ＡＳＩＣ１４６は、温度情報に基づいて、アナログ部１４１からのパルス信号に関する閾値を設定するとともに、ＳｉＰＭの印加電圧を決定するように構成されていてもよい。

（第４の実施形態）
本実施形態に係る出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、時間情報生成機能１４６ｂによって生成された時間情報（デジタルデータ）を、温度情報に基づいて補正する。そしてＡＳＩＣ１４６は、温度補償が施された時間情報をコンソール装置２０へ出力する。

この構成であっても、ＡＳＩＣ１４６は、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度変化に伴うＰＥＴ検出器１４からのデジタルデータの変化を抑制することができる。なお、本実施形態に係る技術は、上述の各実施形態に係る技術と適宜組み合わせることができる。

（第５の実施形態）
本実施形態に係る出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、計数情報生成機能１４６ｃによって生成された計数情報（デジタルデータ）を、温度情報に基づいて補正する。そしてＡＳＩＣ１４６は、温度補償が施された時間情報をコンソール装置２０へ出力する。

この構成であっても、ＡＳＩＣ１４６は、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度変化に伴うＰＥＴ検出器１４からのデジタルデータの変化を抑制することができる。なお、本実施形態に係る技術は、上述の各実施形態に係る技術と適宜組み合わせることができる。

（第６の実施形態）
本実施形態に係る出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、生成したデジタルデータとともに、温度情報又は温度補償を指示するコマンドをコンソール装置２０へ出力する。温度補償を指示するコマンドは、温度情報に基づいて生成される。

また、本実施形態に係るコンソール装置２０は、ＰＥＴ検出器１４からの温度情報又は温度補償を指示するコマンドに基づいて、ＰＥＴ検出器１４からのデジタルデータを補正する。具体的には、制御機能２４ａにおいて処理回路２４は、ＰＥＴ検出器１４を制御して、時間情報及び係数情報（デジタルデータ）を収集し、収集したデジタルデータに温度補償を施し、温度補償後のデジタルデータをメモリ２３に格納する。ここで、制御機能２４ａを実現する処理回路２４は、制御部の一例である。

この構成であっても、ＰＥＴ装置１００において、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度変化に伴うＰＥＴ検出器１４からのデジタルデータの変化の影響を抑制することができる。なお、本実施形態に係る技術は、上述の各実施形態に係る技術と適宜組み合わせることができる。

（第７の実施形態）
本実施形態に係る出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報に基づいて、Ａ／Ｄ変換器１４５に搭載される温調器を制御する。

温調器は、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度を調整可能に構成されたヒータ、クーラ又はその組合せである。クーラとしては、例えばファンが利用可能である。

一例として、温度情報が標準温度環境より高温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、クーラをオンにする。

一例として、温度情報が標準温度環境より高温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報が標準温度環境を示す情報であるときよりも高い回転数でファンを回転させる。

一例として、温度情報が標準温度環境より高温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、ヒータをオフにする。

一例として、温度情報が標準温度環境より低温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、クーラをオフにする。

一例として、温度情報が標準温度環境より高温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、温度情報が標準温度環境を示す情報であるときよりも低い回転数でファンを回転させる。

一例として、温度情報が標準温度環境より高温の環境を示す情報であるとき、出力制御機能１４６ｄにおいてＡＳＩＣ１４６は、ヒータをオンにする。

これらの構成であっても、ＡＳＩＣ１４６は、Ａ／Ｄ変換器１４５の温度変化に伴うＰＥＴ検出器１４からの出力値の変化を抑制することができる。なお、本実施形態に係る技術は、上述の各実施形態に係る技術と適宜組み合わせることができる。

なお、実施形態に係る温度補償方法は、プロセッサと、メモリとをハードウェア資源として有するコンピュータなどのＰＥＴ装置１００とは独立した装置により実現されていてもよい。この場合、コンピュータに搭載されたプロセッサは、ＲＯＭなどから読み出してＲＡＭにロードしたプログラムを実行することにより、実施形態に係る温度補償方法を実現することができる。

なお、各実施形態に係る温度補償方法は、光子計数型のＸ線コンピュータ断層撮影（Ｐｈｏｔｏｎ Ｃｏｕｎｔｉｎｇ Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＰＣＣＴ）装置において実現されても構わない。この場合、ＰＣＣＴ装置に搭載されたプロセッサは、ＲＯＭなどから読み出してＲＡＭにロードしたプログラムを実行することにより、各実施形態に係る温度補償方法を実現することができる。

例えばＸ線ＣＴ装置には、第３世代ＣＴ、第４世代ＣＴ等様々なタイプがあるが、いずれのタイプでも各実施形態へ適用可能である。ここで、第３世代ＣＴは、Ｘ線管と検出器とが一体として被検体の周囲を回転するＲｏｔａｔｅ／Ｒｏｔａｔｅ－Ｔｙｐｅである。第４世代ＣＴは、リング状にアレイされた多数のＸ線検出素子が固定され、Ｘ線管のみが被検体の周囲を回転するＳｔａｔｉｏｎａｒｙ／Ｒｏｔａｔｅ－Ｔｙｐｅである。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ、ＧＰＵ、ＡＳＩＣ、プログラマブル論理デバイス（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＰＬＤ）等の回路を意味する。ＰＬＤは、ＳＰＬＤ、ＣＰＬＤ、ＦＰＧＡを含む。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。プログラムが保存された記憶回路は、コンピュータ読取可能な非一時的記録媒体である。なお、記憶回路にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。また、プログラムを実行するのではなく、論理回路の組合せにより当該プログラムに対応する機能を実現してもよい。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１又は図２における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、放射線検出器における温度変化の影響を適切に補償することができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

以上の実施形態に関し、発明の一側面および選択的な特徴として以下の付記を開示する。

（付記１）
放射線の入射に基づいてパルス信号を出力するセンサ部と、
前記パルス信号をＡ／Ｄ変換することでデジタルデータを生成するＡ／Ｄ変換部と、
前記Ａ／Ｄ変換部の温度情報を取得する取得部と、
前記温度情報に基づいて補償されたデジタルデータを出力させる出力制御部と
を備える放射線検出器。

（付記２）
放射線の入射に基づいてパルス信号を出力するセンサ部と、
前記パルス信号をＡ／Ｄ変換することでデジタルデータを生成するＡ／Ｄ変換部と、
前記Ａ／Ｄ変換部の温度情報を取得する取得部と、
前記デジタルデータを出力する出力制御部と
を有する放射線検出器と、
前記温度情報に基づいて前記放射線検出器からの前記デジタルデータの温度補償を行う制御部と
を備える核医学診断装置。

（付記３）
前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて、前記パルス信号に関する閾値を設定してもよい。

（付記４）
前記閾値は、前記パルス信号のエネルギー測定に関する閾値であってもよい。

（付記５）
前記閾値は、前記パルス信号のタイミングに関する閾値であってもよい。

（付記６）
前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて、前記デジタルデータを補正してもよい。

（付記７）
前記デジタルデータは、時間情報及び計数情報の少なくとも一方であってもよい。

（付記８）
前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて、前記センサ部への印加電圧を決定してもよい。

（付記９）
前記取得部は、前記センサ部の温度情報をさらに取得してもよい。
前記出力制御部は、前記センサ部の前記温度情報にさらに基づいて、前記センサ部への印加電圧を決定してもよい。

（付記１０）
前記放射線検出器は、前記Ａ／Ｄ変換部の温度を制御する温調器をさらに備えてもよい。
前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて、前記温調器の動作を制御してもよい。

１００ ＰＥＴ装置
１０ 架台装置
１１ 天板
１２ 寝台
１３ 寝台駆動機構
１４ ＰＥＴ検出器
１４ａ 検出器ユニット
１４１ アナログ部（センサ部）
１４２ オシレータ
１４３ ＰＬＬ
１４４ 分配器
１４５ Ａ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ変換部）
１４６ ＡＳＩＣ
１４６ａ 温度取得機能（取得部）
１４６ｂ 時間情報生成機能
１４６ｃ 計数情報生成機能
１４６ｄ 出力制御機能（出力制御部）
１４７ 温度センサ
２０ コンソール装置
２１ 入力インターフェース
２２ ディスプレイ
２３ メモリ
２４ 処理回路
２４ａ 制御機能（制御部）
２４ｂ 同時計数情報生成機能
２４ｃ 画像再構成機能

Claims (10)

1. 放射線の入射に基づいてパルス信号を出力するセンサ部と、
   前記パルス信号をＡ／Ｄ変換することでデジタルデータを生成するＡ／Ｄ変換部と、
   前記Ａ／Ｄ変換部の温度情報を取得する取得部と、
   前記温度情報に基づいて補償されたデジタルデータを出力させる出力制御部と
   を備える放射線検出器。
2. 前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて、前記パルス信号に関する閾値を設定する、請求項１に記載の放射線検出器。
3. 前記閾値は、前記パルス信号のエネルギー測定に関する閾値である、請求項２に記載の放射線検出器。
4. 前記閾値は、前記パルス信号のタイミングに関する閾値である、請求項２に記載の放射線検出器。
5. 前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて、前記デジタルデータを補正する、請求項１に記載の放射線検出器。
6. 前記デジタルデータは、時間情報及び計数情報の少なくとも一方である、請求項５に記載の放射線検出器。
7. 前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて、前記センサ部への印加電圧を決定する、請求項１に記載の放射線検出器。
8. 前記取得部は、前記センサ部の温度情報をさらに取得し、
   前記出力制御部は、前記センサ部の前記温度情報にさらに基づいて、前記センサ部への印加電圧を決定する、
   請求項７に記載の放射線検出器。
9. 前記Ａ／Ｄ変換部の温度を制御する温調器をさらに備え、
   前記出力制御部は、前記温度情報に基づいて、前記温調器の動作を制御する、
   請求項１に記載の放射線検出器。
10. 放射線の入射に基づいてパルス信号を出力するセンサ部と、
    前記パルス信号をＡ／Ｄ変換することでデジタルデータを生成するＡ／Ｄ変換部と、
    前記Ａ／Ｄ変換部の温度情報を取得する取得部と、
    前記デジタルデータを出力する出力制御部と
    を有する放射線検出器と、
    前記温度情報に基づいて前記放射線検出器からの前記デジタルデータの温度補償を行う制御部と
    を備える核医学診断装置。

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