JP2024009651A - 光電変換装置、撮像システム、および機器 - Google Patents

光電変換装置、撮像システム、および機器 Download PDF

Info

Publication number
JP2024009651A
JP2024009651A JP2022111338A JP2022111338A JP2024009651A JP 2024009651 A JP2024009651 A JP 2024009651A JP 2022111338 A JP2022111338 A JP 2022111338A JP 2022111338 A JP2022111338 A JP 2022111338A JP 2024009651 A JP2024009651 A JP 2024009651A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoelectric conversion
conversion device
signal
storage capacitor
section
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2022111338A
Other languages
English (en)
Inventor
周平 林
Shuhei Hayashi
一 池田
Hajime Ikeda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2022111338A priority Critical patent/JP2024009651A/ja
Priority to US18/348,448 priority patent/US20240015415A1/en
Publication of JP2024009651A publication Critical patent/JP2024009651A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
    • H04N25/771Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising storage means other than floating diffusion
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/40Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
    • H04N25/42Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by switching between different modes of operation using different resolutions or aspect ratios, e.g. switching between interlaced and non-interlaced mode
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/40Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
    • H04N25/44Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by partially reading an SSIS array
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/59Control of the dynamic range by controlling the amount of charge storable in the pixel, e.g. modification of the charge conversion ratio of the floating node capacitance
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/63Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
    • H04N25/778Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising amplifiers shared between a plurality of pixels, i.e. at least one part of the amplifier must be on the sensor array itself

Abstract

【課題】物理的にセンサを遮る構成を用いることなくフィックスパターンノイズを低減することが可能な光電変換装置を提供する【解決手段】本開示の光電変換装置は、光電変換部と、光電変換部の信号電荷を保持するFDと、FDに接続された増幅トランジスタと、光電変換部からFDへの信号電荷の転送を制御する転送トランジスタと、光電変換部と接続された蓄積容量部と、FDと固定電位とを接続するリセットトランジスタと、FDと蓄積容量部とを接続する蓄積容量接続トランジスタとを有し、第1のモードにおいて、光電変換部からFDに転送された信号電荷と、蓄積容量部の信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、第2のモードにおいて、光電変換部で発生した電荷を固定電位に排出した後、蓄積容量部とFDとを接続して、蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する。【選択図】図4

Description

本発明は、光電変換装置、撮像システム、および機器に関する。
近年、デジタルスチルカメラ、デジタルビデオカメラ等の撮像システムには、光電変換装置として、消費電力が小さく、高速な読み出しが可能なCMOSイメージセンサが用いられている。また、監視や車載システムの用途として、小型で高精細かつハイダイナミックレンジ(HDR)性能を持つセンサが求められている。
特許文献1に記載された光電変換装置では、フォトダイオードの容量を超える信号電荷を蓄積する蓄積容量部を画素内に持ち、同じ撮像タイミングにおいてもHDRの画像生成を行う。
特開2006-217410号公報
しかしながら、蓄積容量部を使った読み出しにおいては、暗電流およびリーク電流に起因する暗時固定パターンノイズは、SNR(Signal to Noise Ratio)を低下させること
がある。蓄積期間中は、蓄積容量部においてもフォトダイオードと同様にフローティング状態で電荷を蓄積させる。また、フォトダイオードにおいては、半導体表面から離れた埋め込みフォトダイオードのように暗電流を抑制する構造を設けることが可能である。一方、蓄積容量部は、半導体表面に近い箇所での蓄積や、半導体基板外の蓄積容量部が使われることが多い。半導体表面や、基板外と半導体基板を接続する半導体表面における、コンタクトに起因するリーク電流が発生し、リーク電流の画素毎のバラつきがフィックスパターンノイズとなる。特許文献1に記載された光電変換装置においては、このリーク電流およびフィックスパターンノイズを除去することは想定されていない。
本件開示の技術は、上記に鑑みて、物理的にセンサを遮る構成を用いることなくフィックスパターンノイズを低減することが可能な光電変換装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本開示に係る光電変換装置は、
光電変換装置であって、
第1の光電変換部と、
前記第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するフローティングディフュージョンと、
前記フローティングディフュージョンに接続された増幅トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送を制御する第1の転送トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送経路と異なる経路を介して前記第1の光電変換部と接続された第1の蓄積容量部と、
前記フローティングディフュージョンと固定電位とを接続するリセットトランジスタと、
前記フローティングディフュージョンと前記第1の蓄積容量部とを接続する第1の蓄積
容量接続トランジスタと、
を有し、
前記光電変換装置は、第1のモードにおいて、前記第1の光電変換部の容量を超える信号電荷が前記第1の蓄積容量部に保持され、前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第1の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、
前記光電変換装置は、第2のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記第1の転送トランジスタおよび前記リセットトランジスタによって、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出した後、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第1の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する
ことを特徴とする光電変換装置を含む。
また、上記目的を達成するために、本開示に係る光電変換装置は、
光電変換装置であって、
第1の光電変換部と、
前記第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するフローティングディフュージョンと、
前記フローティングディフュージョンに接続された増幅トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送を制御する第1の転送トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送経路を介して前記第1の光電変換部と接続された第1の蓄積容量部と、
前記フローティングディフュージョンと固定電位とを接続するリセットトランジスタと、
前記フローティングディフュージョンと前記第1の蓄積容量部とを接続する第1の蓄積容量接続トランジスタと、
を有し、
前記光電変換装置は、第1のモードにおいて、前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第1の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、
前記光電変換装置は、第2のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記第1の転送トランジスタおよび前記リセットトランジスタによって、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出した後、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第1の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する
ことを特徴とする光電変換装置を含む。
また、上記目的を達成するために、本開示に係る光電変換装置は、
光電変換装置であって、
第1の光電変換部と、
前記第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するフローティングディフュージョンと、
前記フローティングディフュージョンに接続された増幅トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送を制御する第1の転送トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送経路を介して前記第1の光電変換部と接続された第1の蓄積容量部と、
前記第1の光電変換部と固定電位とを接続するオーバーフロードレイントランジスタと、
前記フローティングディフュージョンと前記第1の蓄積容量部とを接続する第1の蓄積容量接続トランジスタと、
を有し、
前記光電変換装置は、第1のモードにおいて、前記第1の光電変換部の容量を超える信号電荷が前記第1の蓄積容量部に保持され、前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第1の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、
前記光電変換装置は、第2のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記オーバーフロードレイントランジスタによって、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出した後、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第1の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する
ことを特徴とする光電変換装置を含む。
また、上記目的を達成するために、本開示に係る撮像システムは、
上記のいずれかの光電変換装置と、
前記光電変換装置から出力される信号を取得する信号出力取得部と、
を有することを特徴とする撮像システムを含む。
また、上記目的を達成するために、本開示に係る機器は、
上記のいずれかの光電変換装置を備える機器であって、
前記光電変換装置に対応した光学装置、
前記光電変換装置を制御する制御装置、
前記光電変換装置から出力された信号を処理する処理装置、
前記光電変換装置で得られた情報を表示する表示装置、
前記光電変換装置で得られた情報を記憶する記憶装置、および、
前記光電変換装置で得られた情報に基づいて動作する機械装置、の少なくともいずれかをさらに備える
ことを特徴とする機器を含む。
本開示によれば、フォトダイオードからあふれた電子を蓄積する蓄積容量部を画素内に有する光電変換装置において、メカニカルシャッタなど物理的にセンサを遮る構成を用いることなく、蓄積容量部に蓄積された信号電荷を用いて画像を補正することができる。これにより、当該光電変換装置において、フィックスパターンノイズを除去してSNR性能を改善させることができる。
第1実施形態に係る光電変換装置の概略構成図 第1実施形態に係る光電変換装置のブロック図 第1実施形態に係る撮像システムのブロック図 図4Aは、第1実施形態に係る光電変換装置の画素の等価回路図、図4Bは画素の平面レイアウトを示す図 第1実施形態に係る光電変換装置の画素のポテンシャル概図 第1実施形態に係る光電変換装置の画素のタイミングチャート 第1実施形態に係る光電変換装置の画素のタイミングチャート 第1実施形態に係る光電変換装置のSNRプロット 第1実施形態に係る光電変換装置のタイミングチャート 第1実施形態に係る光電変換装置のタイミングチャート 第1実施形態に係る光電変換装置のタイミングチャート 第1実施形態に係る光電変換装置のタイミングチャート 第1実施形態に係る光電変換装置のタイミングチャート 第1実施形態に係る光電変換装置のタイミングチャート 第2実施形態に係る光電変換装置の画素の等価回路図 第2実施形態に係る光電変換装置の画素のポテンシャル概図 第3実施形態に係る光電変換装置の画素の等価回路図 第3実施形態に係る光電変換装置の画素のポテンシャル概図 第4実施形態に係る光電変換装置の画素の等価回路図 第4実施形態に係る光電変換装置の平面図 第4実施形態に係る光電変換装置の断面図 第5実施形態に係る光電変換装置の画素の等価回路図 第5実施形態に係る光電変換装置の画素の等価回路図 第6実施形態に係る機器の概略構成図
以下、本開示の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本開示は以下の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。また、以下で説明する図面において、同じ機能を有するものは同一の符号を付し、その説明を省略または簡潔にすることもある。
また、以下の説明においては、信号電荷が電子(光電子)である場合を例として説明する。したがって、信号電荷と同じ導電型のキャリアを多数キャリアとする第1導電型の半導体領域とはN型半導体領域であり、第2導電型の半導体領域とはP型半導体領域である。なお、信号電荷がホールである場合でも本開示の実施形態を適用することができる。この場合は、信号電荷と同じ導電型のキャリアを多数キャリアとする第1導電型の半導体領域はP型半導体領域であり、第2導電型の半導体領域とはN型半導体領域である。
<第1実施形態>
以下に、本開示の第1実施形態について説明する。図1は、第1実施形態に係る光電変換装置500を示している。光電変換装置500は、一例として半導体デバイスIC(Integrated Circuit)であり、例えば、イメージセンサや、測光センサ、測距センサとして用いることができる。以下では、一例として、光電変換装置500がCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサである場合について説明する。
光電変換装置500は、基板109と基板112との全部または一部が、積層して接合された積層型の光電変換装置である。基板109および基板112は、積層後にウエハをダイシングしてチップ化したチップの状態であってもよいし、ウエハの状態であってもよい。光電変換装置500は、積層型の裏面照射型の光電変換装置である。
基板109は、画素107に含まれる画素回路を含む半導体素子層110(第1半導体素子層)と、配線構造111(第1配線構造)と、を有する。本明細書において、「半導体素子層」とは、半導体層のみではなく、半導体層と半導体層に形成されたトランジスタのゲートとを含む。また、配線構造の配線層は「半導体素子層」に含まれない。基板112は、配線構造114(第2配線構造)と、電気回路を含む半導体素子層113(第2半導体素子層)と、を有する。後述するように、基板109の配線構造111と基板112の配線構造114とは、各配線構造に含まれる配線層を接合することで構成された金属接合部により接合されている。ここで、金属接合部とは、配線層を構成する金属と配線層を構成する金属とが直接接合された構造を有する。
詳細は後述するが、画素107を構成する素子は、半導体素子層110に配置される。
なお、画素107の一部の構成が半導体素子層110に設けられ、他の一部の構成が半導体素子層113に設けられていてもよい。この場合、画素107のうちの半導体素子層110に配置される画素回路の構成としては、フォトダイオードなどの光電変換部が挙げられる。光電変換部を含む画素回路は、基板の平面視において、半導体素子層110に2次元アレイ状に配置される。また、半導体素子層110は、複数の画素回路が2次元アレイ状に配置された画素領域を有する。なお、図1では、半導体素子層110には、複数の画素回路を構成する複数の光電変換部が行方向および列方向の2次元アレイ状に配置されている。
配線構造111は、M(Mは1以上の整数)層の配線層と層間絶縁材料を含む。また、配線構造114は、N(Nは1以上の整数)層の配線層と層間絶縁材料を含む。
半導体素子層113は、半導体素子層110に配置された光電変換部で得られた信号を処理する電気回路を含む。説明の便宜上、図1において、基板112の上面に図示された構成は、半導体素子層113に設けられた構成である。電気回路とは、例えば、図1に示す、垂直走査回路102、水平走査回路104、信号処理回路115等を構成するトランジスタのいずれか1つである。信号処理回路115とは、例えば、増幅トランジスタ、選択トランジスタ、リセットトランジスタなどの画素107の構成の一部、増幅回路、選択回路、論理演算回路、AD変換回路、メモリ、圧縮処理や合成処理等を行う回路の少なくともいずれか1つである。
画素107は、画像を構成するために繰り返して配置される回路の最小単位を指しうる。そして、画素107に含まれ、半導体素子層110に配された画素回路は、少なくとも、光電変換部を含んでいればよい。画素回路には、光電変換部以外の構成を含んでいてもよい。例えば、画素回路はさらに、転送トランジスタ、フローティングディフュージョン(FD)、リセットトランジスタ、増幅トランジスタ、蓄積容量接続トランジスタ、選択トランジスタの少なくともいずれか1つを含んでいてもよい。典型的には、画素107は、選択トランジスタおよび当該選択トランジスタを介して信号線に接続された一群の素子によって構成される。すなわち、選択トランジスタが画素回路の外縁でありうる。あるいは、光電変換部と転送トランジスタの組が画素107を構成することもある。他にも、1つあるいは複数の光電変換部と、1つの増幅回路あるいは1つのAD変換回路との組が画素107を構成してもよい。
図2は、本実施形態に係る光電変換装置500の概略構成を示すブロック図である。光電変換装置500は、画素部101、垂直走査回路102、増幅回路103、水平走査回路104、出力回路105および制御回路106を備える。基板の平面視において、画素部101は、複数の行および複数の列を含む2次元状に配置された複数の画素107を備える画素アレイである。垂直走査回路102は、画素107に含まれる複数のトランジスタに制御信号を供給し、これらのトランジスタのオン(導通状態)またはオフ(非導通状態)を制御する。
画素107の各列には信号線108が設けられており、画素107からの信号が列ごとに信号線108に読み出される。増幅回路103は、信号線108に出力された画素信号を増幅し、画素107のリセット時の信号および光電変換時の信号に基づく相関二重サンプリング処理等の処理を行う。水平走査回路104は、増幅回路103の増幅器に接続されたスイッチに制御信号を供給し、該スイッチをオンまたはオフに制御する。
制御回路106は、垂直走査回路102、増幅回路103および水平走査回路104を制御する。出力回路105は、バッファアンプ、差動増幅器等を含み、増幅回路103からの画素信号を光電変換装置の外部の信号処理部に出力する。なお、さらに光電変換装置
500にAD変換部を設けることにより、光電変換装置500がデジタルの画素信号が出力するように構成されていてもよい。制御回路106、増幅回路103、制御回路106、および出力回路105は、図1の信号処理回路115に含まれている。
図3は、本実施形態に係る撮像システム600のブロック図である。撮像システム600は、光電変換装置500と補正データ保持部200と信号補正処理部300を有する。光電変換装置500は、撮像データと、フィックスパターンノイズの補正に用いる補正データとを出力する。補正データは、補正データ保持部200に送られ、補正データ保持部200に保持される。なお、補正データ保持部200は、保持していた補正データと、光電変換装置500から新たに出力された補正データとを用いて、画素毎に平均化や時間的な平滑化の処理を行い、処理後の補正データを保持してもよい。信号補正処理部300は、光電変換装置500から出力される撮像データと、補正データ保持部200から取得した補正データとを用いて、フィックスパターンノイズの除去処理を行う信号出力取得部である。
図4Aは、本実施形態に係る光電変換装置500の画素107の等価回路を示し、図4Bは、画素107の平面レイアウトを示す。画素107は、光電変換部6、転送トランジスタ7、蓄積容量部8、および蓄積容量接続トランジスタ9を含む。さらに、画素107は、FD1、リセットトランジスタ4、増幅トランジスタ2および選択トランジスタ3を含む。転送トランジスタ7、蓄積容量接続トランジスタ9、リセットトランジスタ4、増幅トランジスタ2および選択トランジスタ3は、MOSトランジスタで構成され得る。これらの各トランジスタを制御する制御信号は、図1に示す垂直走査回路102から、制御線を介して各トランジスタのゲートに入力される。本実施形態では、光電変換部6が第1の光電変換部であり、FD1が第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するFDである。また、転送トランジスタ7が第1の転送トランジスタであり、蓄積容量部8が第1の蓄積容量部であり、蓄積容量接続トランジスタ9が第1の蓄積容量接続トランジスタである。
光電変換部6は、入射光を光電変換するとともに、光電変換により生成された信号電荷(電子)を蓄積する。光電変換部6としては、例えば、フォトダイオード(PD)を用いる。通常撮像モードでは、光電変換部6に蓄積された光電子が光電変換部6で蓄積可能な飽和電子数に近づくと、光電変換部6で蓄積できなくなった電子が蓄積容量部8へとオーバーフローする。この結果、オーバーフローした電子および該電子に対応する信号の少なくとも一方が蓄積容量部8に保持される。図4Bの半導体基板中においては、光電変換部6で蓄積できなくなった電子は蓄積容量部8に含まれる半導体領域8’へとオーバーフローされる。半導体領域8’と光電変換部6を構成する半導体は型が同一であり、半導体領域8’と光電変換部6とは半導体基板内もしくは基板外の容量素子に電気的に接続される。容量素子としては、MIM(Metal-Insulator-Metal)容量(金属-絶縁膜-金属容量
)および/またはMOS容量(金属-絶縁膜-半導体容量)を用いることができる。MIM容量を用いることにより、半導体基板における設計レイアウトの自由度を確保しながら容量を大きくすることが可能となる。
転送トランジスタ7は、ゲートに入力される制御信号により制御され、オンとなることにより光電変換部6の電子をFD1に転送する。FD1は増幅トランジスタ2のゲートに接続されている。
増幅トランジスタ2の一方のノード(例えば、ドレイン)は電源電圧線VDDに接続され、増幅トランジスタ2の他方のノード(例えば、ソース)は選択トランジスタ3のドレインに接続されている。選択トランジスタ3のソースは信号線108に接続されている。信号線には不図示の定電流源が接続されている。選択トランジスタ3は、ゲートに入力さ
れる制御信号により制御され、オンとなることにより増幅トランジスタ2のソースと信号線を接続状態にしてソースフォロワとして機能させる。このとき、FD1の電圧に基づく出力信号Voutは、各列の信号線108を介して図2に示す増幅回路103に出力される。
蓄積容量接続トランジスタ9は、ゲートに入力される制御信号により制御され、オンとなることにより蓄積容量部8をFD1に接続する。これにより、蓄積容量部8に蓄積された電子を、FD1に接続された増幅トランジスタ2を通して電気信号に変換することが可能となる。図4Bにおいては、半導体領域8’は、蓄積容量接続トランジスタ9のソースに相当する。
リセットトランジスタ4は、ゲートに入力される制御信号により制御され、オンとなることによりフローティングディフュージョン部1の電圧をリセットする。このとき、同時に蓄積容量接続トランジスタ9をオンすることでFD1と接続された蓄積容量部8の電子もFD1を経由してリセットできる。
光電変換部6から電子が溢れない程度の低照度の光が照射されたときは、信号読出時のFD容量が小さい、蓄積容量接続トランジスタ9をオフした状態で読み出した信号を利用する。オーバーフローするような高照度の光照射があったときは、信号読み出し時のFD容量が大きい、蓄積容量接続トランジスタ9をオンした状態で読み出した信号を利用する。
図5A~図5Dは、図4Bの線A-A’におけるポテンシャル概図である。本実施形態に係る光電変換装置の第1のモードである通常撮像モードと第2のモードである補正画像取得モードでの、画素におけるトランジスタの駆動と露光(電荷蓄積)状態を示している。図5A~図5Dにおいて、図4と同じ機能を有する部分には同様の符号が付されており、その機能の説明は省略する。図では、FDが左端と、蓄積容量接続トランジスタ9(CG)とリセットトランジスタ4(RES)の間の2カ所にあるが、どちらも同一のFDを指している。
図5Aおよび図5Bに通常撮像モードの露光(電荷蓄積)中のポテンシャル概図を示す。通常撮像モードにおいては転送トランジスタ7(TX)、蓄積容量接続トランジスタ9(CG)はオフされ、光電変換部6(PD)と蓄積容量部8(OFcap)に電子を蓄積することができる。このとき、蓄積容量部8においては蓄積容量部8(OFcap)で生成された暗電荷(暗電子)も蓄積される。光電変換部6(PD)などにおいても同様に暗電荷は生成、蓄積されるが、本実施形の補正の対象外のため、不図示としている。リセットトランジスタ4(RES)はオフ状態を実線で図示しているが、破線のようにオン状態でもよい。
図5Aは、光電変換部6(PD)で光電変換された光電子が、光電変換部6(PD)で蓄積可能な量以下となる低輝度の光入射の状態を示す。このとき、光電子(Photoelectron)は蓄積容量部8(OFcap)にオーバーフローしない。図5Bは、光電変換部6(
PD)で光電変換された光電子が、光電変換部6(PD)で蓄積可能な量以上となる高輝度の光入射の状態を示す。このとき、光電変換部6(PD)で蓄積可能な量以上となった光電子は、光電変換部6(PD)と周囲との間のポテンシャルが最も低くなるように作られた蓄積容量部8(OFcap)へとオーバーフローする。オーバーフローした光電子は蓄積容量部8(OFcap)で生成された暗電荷(dark electron)と併せて蓄積される
図5Cは、補正画像取得モードの露光(電荷蓄積)中のポテンシャル概図を示す。光電
変換部6(PD)で発生した電子を蓄積容量部8(OFcap)にオーバーフローさせないために、光電変換部6(PD)と固定電位(VDD)間のトランジスタの駆動により排出経路を形成させる。ここでは転送トランジスタ7(TX)とリセットトランジスタ4(RES)をオン動作させている。光電変換部6(PD)で発生した光電子は固定電位(VDD)に排出され光電変換部6(PD)において電子の蓄積は行われない。このため、光電変換部6(PD)から蓄積容量部8(OFcap)への電子のオーバーフローは起こらない。またこのとき蓄積容量接続トランジスタ9(CG)はオフされ、蓄積容量部8(OFcap)に電子の蓄積が可能である。光電変換部6(PD)からの電子のオーバーフローはないため、高輝度な光照射においても蓄積容量部8(OFcap)の電子の蓄積は、蓄積容量部8(OFcap)で生成された暗電荷のみの蓄積が可能になる。
補正画像取得モードの露光中のゲート電圧は、図5Cに限らず、例えば図5Dのように制御されてもよい。すなわち、転送トランジスタ7(TX)のゲート電圧は、チャネル部のポテンシャルが蓄積容量部8(OFcap)と光電変換部6(PD)間のバリアポテンシャルよりも低く設定されてよい。さらに、転送トランジスタ7(TX)のゲート電圧は、光電変換部6(PD)から蓄積容量部8(OFcap)にも光電子がオーバーフローしないような電圧に設定されてよい。光電変換部6(PD)から蓄積容量部8(OFcap)に光電子がオーバーフローしないような電圧として、オフ時のゲート電圧よりも少なくとも0.6V以上高い電圧を転送トランジスタ7に印加することが必要と考えられる。ただし、この数値はセンサ仕様やセンサのポテンシャル構造によって異なる。また、リセットトランジスタ4(RES)のゲート電圧は、チャネル部のポテンシャルが蓄積容量部8(OFcap)と光電変換部6(PD)間の障壁ポテンシャルよりも低く設定されてよい。さらに、リセットトランジスタ4(RES)のゲート電圧は、光電変換部6(PD)から蓄積容量部8(OFcap)にも光電子がオーバーフローしないような電圧に設定されてよい。このとき、光電変換部6(PD)やFD1に電子が蓄積されている。したがって、光電変換装置において、読み出し前に一度転送トランジスタ7(TX)とリセットトランジスタ4(RES)をオン状態にして光電変換部6(PD)やFD1に蓄積された電子を固定電位(VDD)に排出する動作を行ってもよい。
図6は、本実施形態に係る光電変換装置の駆動タイミング図である。通常撮像モード(Normal mode)と補正画像取得モード(Calibration mode)が1度ずつ交互に繰り返し行われる場合を示す。図6の各トランジスタについて、ハイレベルの状態がトランジスタをオンしている状態であり、ローレベルの状態がトランジスタをオフしている状態である。
図6を参照しながら、通常撮像モード(Normal mode)について説明する。光電変換部6と蓄積容量部8をリセットし、所定の時間後、信号を読み出す。各光電変換部の信号を読み出す前に、FD1をリセットする。その後、光電変換部に蓄積された電子の信号読み出し(HG:HighGain)を行い、光電変換部と容量部の電子両方を合わせた電子量の信号読み出し(LG:LowGain)を行う。
光電変換装置500は、時刻T1で、転送トランジスタ7(TX)と蓄積容量接続トランジスタ9(CG)、リセットトランジスタ4(RES)をオンし、光電変換部6と蓄積容量部8をリセットする。その後、転送トランジスタ7(TX)と蓄積容量接続トランジスタ9(CG)をオフし、光電変換部6と蓄積容量部8でそれぞれ電子の蓄積を開始する。所定の時間後、リセットトランジスタ4(RES)をオフし時刻T2でリセットレベルNHGを読み出す(HG N-read)。このとき、蓄積容量接続トランジスタ9(CG)はオフされているため、FD1以外の容量を付加せずに信号を増幅トランジスタ2から読み出すことができる。その後、時刻T3において、転送トランジスタ7(TX)をオンして光電変換部6からFD1に電子を転送し、シグナルレベルSHGを読み出す(HG
S-read)。この電圧の差分SHG-NHGがHGモードの信号出力SIGHGとなる。
次に、時刻T5において、蓄積容量接続トランジスタ9(CG)をオンし、FD1に蓄積容量部8(OFcap)を接続する。これによりFD1に転送された光電変換部6の電子と、蓄積容量部(OFcap)で保持されていた電子を合わせてシグナルレベルSLGを読み出す(LG S-read)。時刻T5において、転送トランジスタ7(TX)をオンしている。光電変換部6の飽和電子数がFD1の飽和電子数よりも多い場合に、光電変換部6に残る信号電子を再度FD1に転送するためである。FD1が十分大きく、時刻T3の転送駆動で光電変換部6の信号電子を完全転送できるような関係であれば、時刻T5における転送トランジスタ7(TX)のオン動作は不要となる。時刻T7において、リセットトランジスタ4(RES)をオンし、FD1と、蓄積容量部8(OFcap)などのFD1に付加された領域との電子をVDDに排出し、リセットレベルNLGを読み出す(LG N-read)。シグナルレベルSLGとシグナルレベルNLGとの差分SLG-NLGがLGモードでの信号出力SIGLGとなる。この信号の電子の蓄積時間ΔTnormalは、時刻T1後の蓄積容量接続トランジスタ9(CG)がオフされ蓄積が開始されたタイミングからシグナルレベルSLGを読み出す(LG S-read)タイミングまでの時間と考えることができる。
これらの読み出されたHGモードの信号出力SIGHG-NHGに例えば信号を読み出す際の容量CHGを掛ける処理を行うことができる。同様に、LGモードの信号出力SIGLG-NLGに、例えば信号を読み出す際の容量CLGを掛ける処理を行うことができる。これにより、処理した値SIGHG×CHG、SIGLG×CLGを連続的な信号量として比較することができる。増幅回路103におけるゲインを読み出しモード毎に変える場合は、それも考慮する。
次に、図6を参照しながら、補正画像取得モード(Calibration mode)について説明する。時刻T9でリセットトランジスタ4(RES)と転送トランジスタ7(TX)と蓄積容量接続トランジスタ9(CG)をオンし、蓄積容量部8の電子をリセットする。その後、蓄積容量接続トランジスタ9(CG)をオフし、蓄積容量部8での蓄積を開始する。所定時間後、リセットトランジスタ4(RES)と転送トランジスタ7(TX)をオフし、時刻T11でリセットレベルS’LGを読み出す(LG’ S-read)。時刻T12において、リセットトランジスタ4(RES)をオンし、FD1と、蓄積容量部8などのFD1に付加された領域との電子をVDDに排出し、リセットレベルN’LGを読み出す(LG’ N-read)。シグナルレベルS’LGとシグナルレベルN’LGとの差分S’LG-N’LGがLGモードでの信号出力SIGLG’となる。この電子の蓄積時間ΔTcalibは、時刻T9後の蓄積容量接続トランジスタがオフされ蓄積が開始されたタイミングからシグナルレベルS’LGを読み出す(LG’ S-read)タイミングまでの時間と考えることができる。ΔTnormal、ΔTcalibは同じでもよいし、異なっていてもよい。時刻T9と時刻T10のリセットトランジスタ(RES)、転送トランジスタ(TX)のハイレベルで図示しているが、図5Dで示したように、これに限らない。リセットトランジスタ(RES)、転送トランジスタ(TX)の一方もしくは両方が、光電変換部6(PD)の電子が蓄積容量部8にオーバーフローしないような、ハイレベルとローレベルの中間の電圧であってもよい。
ここで、上記で取得した信号を使った蓄積容量部を利用した読み出しモード(LGモード)における補正処理方法について述べる。最も単純なものとして通常読み出しモードで取得した信号(第1の信号)と補正画像取得モードで取得した信号(第2の信号)の差分SIGLG-SIGLG’と処理してもよい。また、各モードの蓄積時間がΔTnormal、ΔTcalibが異なる場合、時間分を補正するためにSIGLG-SIGLG’
×ΔTnormal/ΔTcalibとしてもよい。
図7に示すように、図6中のLG N-read、LG’ N-readの各読み出し動作の一方もしくは両方を省略し信号読み出しの時間を短縮してもよい。これによりフレームレートを向上させることができる。
例えばLG’ N-readの読み出し動作を省略し、LG N-read時のリセットレベルNLGでLG’ N-read時のリセットレベルN’LGを代替してもよい。LG読み出し動作においては、リセットノイズを除去可能な相関二重サンプリングを使用しないため、リセットレベルNLGを一度取得することで代替が可能である。
また、LG N-read、LG’ N-readの各読み出し動作の両方を省略してもよい。この場合、LGモードの補正処理において、直接SLG-S’LGとすることで補正処理が可能となる。
図8に本実施形態に係るSNRプロット図を示す。横軸に光電変換装置に照射される光の輝度(Luminance)、縦軸にHGモードとLGモードのSNRを示している。先にも述べたように、輝度が弱い領域ではHGモード、輝度が強い領域ではLGモードの信号が使用される。両モードが重畳している輝度領域においては、SNRが高いHGモードの信号が使用される。
図8に示すように、LGモードにおいては、容量蓄積部に起因する、暗時フィックスパターンノイズにより、ノイズの悪化、ひいてはSNRの低下が生じる場合がある。特にHGモードとLGモードの接続点におけるSNR(SNRmin)の低下が顕著である。画像処理、画像認識用途に光電変換装置を使用する場合、SNRminを高める仕様の要求がある。本実施形態に係る光電変換装置では、メカシャッタなどの物理的な遮蔽物を設けることなく、LGモードの暗時フィックスパターン(補正用画像)を取得することができる。したがって、本実施形態に係る光電変換装置によれば、図8のように暗時フィックスパターンノイズを除去し、SNRを向上させることができる。
図6や図7では、画素部101における行毎の駆動を示したが、図9、図10、図11、図12では、光電変換装置全体の駆動の時間関係の一例を図示し、順次読み出される様子を表している。読み出しは一例であり、また下記例の組み合わせであってもよい。
図9は、通常撮像モード(Normal mode)の読み出しから補正画像取得モード(Calibration mode)の読み出しまでの時間と、補正画像取得モードの読み出しから通常撮像モードの読み出しまでの時間が揃っている場合の例である。図中、時間(t)は左から右へ進む。また、各モードの露光(Calibration mode-EXPOSURE、Normal mode-EXPOSURE)と出力される画像(OUTPUT DATA、IMAGE DATA、CALIBRATION(DARK) DATA)とを示す。また、図9には、各行(row#)における電子の読み出しのタイミング(Normal mode-READ、Calibration mode-READ)も示す。図9に示すように、光電変換装置から出力される画像(OUTPUT DATA)は、それぞれのモードで全行を対象に信号が順次出力される。
次に、図10は、1つの撮像フレーム中の一部の行のみが補正画像取得モードで駆動され、その他の行は通常撮像モードで駆動される例を示す。補正画像取得モードで駆動される行は、複数行にわたっていてもよい。これにより図9の例よりも、光電変換装置の信号出力を用いた画像生成におけるフレームレートを向上させることができる。また、次のフレームにおいては補正画像取得モードで駆動する行は順次変更され、これを繰り返すこと
で全ての行の補正画像データが取得できる。また、補正画像取得モードで取得したデータは該当する行のメモリに保持される(図中MEMORY data for calibrationのrow #0等)。撮像画像においては補正画像取得モードで取得した行のデータは前フレーム、もしくは前後のフレームの該当行のデータを用いて補間する処理(図中interpolate image data)等を実施してもよい。
図11は、1フレーム中の一部の行のみが補正画像取得モードと通常撮像モードの両方で駆動され、その他の行は通常撮像モードのみで駆動される例を示す。これにより図10の例のように一部の行で撮像画像が欠損することを回避できる。補正画像取得モードと通常撮像モードの両方で駆動する行は複数行にわたっていてもよい。また次のフレームにおいては補正画像取得モードで駆動する行は順次変更され、これを繰り返すことで全ての行の補正画像データが取得できる。また補正画像取得モードで取得したデータは該当する行のメモリに保持される。撮像画像においては補正画像取得モードも取得した行のデータは通常撮像モードの蓄積時間が短くなっている(ΔT→ΔT’)。露光時間の短縮した分(図中shorter expopsure time)、出力は下がっているため、時間分を割り戻す(ΔT/ΔT’倍)処理等を行って信号出力を増幅してもよい。例えば、自動車の前方監視用途に光電変換装置を用いる際、100Hz程度のLEDフリッカ除去が求められる場合がある。この場合、光電変換装置は、補正画像取得モードと通常撮像モードの両方で駆動して信号出力を取得する行においても、通常撮像モードの露光時間が10ms程度以上確保されるように制御してもよい。
図12は、通常撮像モードの読み出しから補正画像取得モードの読み出しまでの時間と、補正画像取得モードの読み出しから通常撮像モードの読み出しまでの時間が揃っていない例である。なお、通常撮像モードの読み出しから補正画像取得モードの読み出しまでの時間より、補正画像取得モードの読み出しから通常撮像モードの読み出しまでの時間も大きくてもよいし、小さくてもよい。図12に示すように、光電変換装置から出力される画像(OUTPUT DATA)は、通常撮像モードのある行を対応とする信号と補正画像取得モードのある行を対象とする信号とが交互に出力される。
図12では補正画像取得モードのデータは、全行を対象に出力される。ただし、図13に例示するように、データの取得対象を一部の行に限定してもよい。図中、DATA acquiredで示す行がデータの取得対象となり、DATA not acquiredで示す他の行はデータの取得対象から除外される。なお、複数の行がデータの取得対象となってもよい。また、図に示すように、データの取得対象とならない行の電子の転送期間を短縮してもよい。これにより、光電変換装置の信号出力を用いた画像生成におけるフレームレートを向上させることができる。この場合、光電変換装置は、フレームごとに補正画像取得モードのデータを取得する行を変更し、対応する行の補正用データメモリのデータを順次更新していく。
また、図13では、補正画像取得モードのデータを取得しそのまま画像出力をする。ただし、図14のように、信号がラインメモリ(図中「LINE MEMORY」)に一時的に保持され、1フレームの最後にまとめて出力するように光電変換装置が構成されていてもよい。これにより、通常撮像モードの画像のデータの連続性が保たれ、データ処理をより簡便にすることができる。この場合、光電変換装置は、フレームごとに補正画像取得モードのデータを取得する行を変更し、対応する行の補正用データメモリのデータを順次更新していく。
また、本実施形態に係る光電変換装置は、上記のように撮像モードのある一定周期の駆動がされる装置に限られない。例えば、光電変換装置は、通常撮像モードで繰り返し駆動し、定期的に例えば30フレームに一度もしくは撮像システムの外部からの信号をトリガ
信号として、通常撮像モード(第1のモード)から補正画像取得モード(第2のモード)に切り替えてもよい。この場合、光電変換装置は、外部信号を受信しない場合は、上記の通常撮像モードの処理を繰り返し実行し、外部信号が入ると、補正画像取得モードに切り替えて、1フレームもしくはショットノイズ除去のために複数フレームの信号を出力する。また、出力された信号は、図2の補正データ保持部に保持される。そして、信号出力の取得が完了した後、光電変換装置は通常撮像モードに切り替える。このような光電変換装置は、例えば、自動車などの周囲監視システムにおいて、自動車が走行する前、装置起動時に補正データを取得したり、自動車が信号待ちなどで停止した場合に補正データを更新したりする場合に採用できる。
<第2実施形態>
次に、本開示に係る第2実施形態について説明する。なお、以下の説明において、第1実施形態の構成および処理と同様の構成および処理については、同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図15は、第2実施形態に係る光電変換装置500の画素の等価回路である。本実施形態は、光電変換装置500において光電変換部6が飽和した後、電子が蓄積容量部へとオーバーフローしていく経路が転送トランジスタおよび蓄積容量接続トランジスタを通る経路である点が第1実施形態とは異なる。すなわち、本実施形態では、第1の蓄積容量部が、第1の光電変換部からフローティングディフュージョンへの信号電荷の転送経路を介して第1の光電変換部と接続されている。
図16A~図16Dは、本実施形態に係る光電変換装置500の通常撮像モードおよび補正画像取得モードでの画素におけるトランジスタの駆動と露光(電荷蓄積)時の状態を示すポテンシャル概図である。
図16A~図16Dは、本実施形態に係る光電変換装置の通常撮像モードおよび補正画像取得モードの画素におけるトランジスタの駆動と露光(電荷蓄積)状態を示したポテンシャル概図である。図16A~図16Dにおいて、図15と同じ機能を有する部分には同様の符号を付し、機能の説明は省略する。また、図では、FDが転送トランジスタ7(TX)とリセットトランジスタ4(RES)の間と、蓄積容量接続トランジスタ9(CG)の左側の2カ所にあるが、どちらも同一のFD1を指している。
図16Aと図16Bは、通常撮像モードの露光中のポテンシャル概図を示す。通常撮像モードにおいては転送トランジスタ7(TX)、蓄積容量接続トランジスタ9(CG)、リセットトランジスタ4(RES)はオフされ、光電変換部6(PD)とFD1と蓄積容量部8(OFcap)に電子を蓄積することができる。このとき、蓄積容量部8(OFcap)においては蓄積容量部8(OFcap)で生成された暗電荷も蓄積される。
図16Aは、光電変換部6(PD)で光電変換された光電子が、光電変換部6(PD)で蓄積可能な量以下となる低輝度の光入射の状態を示す。このとき、光電子は蓄積容量部8(OFcap)にオーバーフローしない。図16Bは、光電変換部6(PD)で光電変換された光電子が、光電変換部6(PD)で蓄積可能な量以上となる高輝度の光入射の状態を示す。転送トランジスタのチャネル部のポテンシャルは、光電変換部6(PD)の周囲のポテンシャルよりも十分低くなるような電圧で転送トランジスタ7(TX)はオフされ、リセットトランジスタ4(RES)はオフされている。これにより光電変換部6(PD)が飽和すると電子は転送トランジスタ7(TX)下を経由してFD1へとオーバーフロー(OF1)し、FD1で蓄積される。リセットトランジスタ4(RES)のチャネル部のポテンシャルは蓄積容量接続トランジスタ9(CG)のチャネル部のポテンシャルよりも十分低くなるような電圧で各トランジスタはオフされる。これにより、光電変換部か
らFD部へとオーバーフローしてきた電荷によりFD1が飽和すると、VDD側ではなく蓄積容量部8(OFcap)へと電荷はオーバーフロー(OF2)し、蓄積容量部8(OFcap)で蓄積される。
図16Cに、補正画像取得モードの露光(電荷蓄積)中のポテンシャル概図を示す。光電変換部6(PD)で発生した電荷を蓄積容量部8(OFcap)にオーバーフローさせないために、光電変換部6(PD)と固定電位(VDD)間のトランジスタの駆動により排出経路を形成させる。ここでは転送トランジスタ7(TX)とリセットトランジスタ4(RES)をオン動作させている。光電変換部6(PD)で発生した光電子は固定電位(VDD)に排出され光電変換部6(PD)において電荷の蓄積は行われない。このため、光電変換部6(PD)から蓄積容量部8(OFcap)への電荷のオーバーフローは起こらない。またこのとき蓄積容量接続トランジスタ9(CG)はオフされ、蓄積容量部8(OFcap)では電荷の蓄積が可能である。光電変換部6(PD)からの電荷のオーバーフローはないため、高輝度な光照射においても蓄積容量部8(OFcap)の電荷蓄積は、蓄積容量部8(OFcap)で生成された暗電荷のみとなる。
補正画像取得モードの露光中のゲート電圧は、図16Cに限らず、例えば図16Dのように制御されてもよい。すなわち、転送トランジスタ7(TX)のゲート電圧は、オーバーフローする電荷がFD1へのみと制限できればよいため、通常撮像モードでの電圧と同じ電圧、もしくはそれ以上の電圧に設定されてよい。さらに、リセットトランジスタ4(RES)のゲート電圧は、チャネル部のポテンシャルが蓄積容量接続トランジスタ9(CG)のチャネル部のポテンシャルよりも十分低い電圧に設定されてよい。その上、リセットトランジスタ4(RES)のゲート電圧は、FD1から蓄積容量部8(OFcap)にも光電子がオーバーフローしない電圧に設定されてよい。FD1から蓄積容量部8(OFcap)に光電子がオーバーフローしないような電圧として、オフ時のゲート電圧よりも0.3V以上高い電圧をリセットトランジスタ4に印加することが必要と考えられる。ただし、この数値はセンサ仕様やセンサのポテンシャル構造によって異なる。このとき、光電変換部6(PD)やFD1に電荷が蓄積されている。したがって、光電変換装置500において、読み出し前に一度転送トランジスタ7(TX)とリセットトランジスタ4(RES)をオン状態にして光電変換部6(PD)やFD1に蓄積された電子を固定電位(VDD)に排出する動作を行ってもよい。
<第3実施形態>
次に、本開示に係る第3実施形態について説明する。なお、以下の説明において、第1、2実施形態の構成および処理と同様の構成および処理については、同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図17は、第3実施形態に係る光電変換装置500の画素の等価回路である。本実施形態は、光電変換装置500において、光電変換部6と固定電位の接続を制御するオーバーフロードレイントランジスタ14がある点が第1、2実施形態とは異なる。
オーバーフロードレイントランジスタ14が、転送トランジスタとともにオフされていると、光電変換部6で光電変換した電子が光電変換部6で蓄積される。またオーバーフロードレイントランジスタ14はオンされると光電変換部6から固定電位への電子の排出経路となり、光電変換部をリセットすることができる。第2実施形態の補正画像取得モードでは、FD部も固定電位に接続され、FD部のコンタクト部で発生するリーク電流成分を補正できない。一方、本実施形態に係る光電変換装置500においては、FD部はリセットされずFD部のリーク電流も蓄積されるため、FD部のコンタクト部で発生するリーク電流成分を補正することができる。
図18A~図18Dは、本実施形態に係る光電変換装置500の通常撮像モードおよび補正画像取得モードの画素におけるトランジスタの駆動と露光(電荷蓄積)状態を示したポテンシャル概図である。図18A~図18Dにおいて、図17と同じ機能を有する部分には同様の符号を付し、機能の説明は省略する。また、図では、FDが転送トランジスタ7(TX)とリセットトランジスタ4(RES)の間と、蓄積容量接続トランジスタ9(CG)の左側の2カ所にあるが、どちらも同一のFD1を指している。
図18Aと図18Bは、通常撮像モードの露光中のポテンシャル概図を示す。通常撮像モードにおいては転送トランジスタ7(TX)、蓄積容量接続トランジスタ9(CG)、リセットトランジスタ4(RES)はオフされ、光電変換部6(PD)とFD1と蓄積容量部8に電子を蓄積することができる。このとき、FD1と蓄積容量部8においてはFD1と蓄積容量部8で生成された暗電荷もそれぞれ蓄積される。光電変換部6(PD)においても同様に暗電荷は生成、蓄積されるが、本実施形の補正の対象外のため、不図示としている。
図18Aは、光電変換部6(PD)で光電変換された光電子が、光電変換部6(PD)で蓄積可能な量以下となる低輝度の光入射の状態を示す。このとき、光電子は蓄積容量部8にオーバーフローしない。図18Bは、光電変換部6(PD)で光電変換された光電子が、光電変換部6(PD)で蓄積可能な量以上となる高輝度の光入射の状態を示す。転送トランジスタ7(TX)のチャネル部のポテンシャルは、光電変換部6(PD)の周囲のポテンシャルよりも十分低くなるような電圧である。また、転送トランジスタ7(TX)はオフされ、オーバーフロードレイントランジスタ14(OFG)とリセットトランジスタ4(RES)もオフされている。これにより光電変換部6(PD)が飽和すると電子は転送トランジスタ下を経由してFD1へとオーバーフロー(OF1)し、FD1で蓄積される。リセットトランジスタのチャネル部のポテンシャルは蓄積容量接続トランジスタのチャネル部のポテンシャルよりも十分低くなるような電圧で各トランジスタはオフされる。これにより、光電変換部6(PD)からFD1へとオーバーフローしてきた電荷によりFD1が飽和すると、VDD側ではなく蓄積容量部8へと電荷はオーバーフロー(OF2)し、蓄積容量部8で蓄積される。
図18Cに、補正画像取得モードの露光(電荷蓄積)中のポテンシャル概図を示す。光電変換部6(PD)で発生した電荷を蓄積容量部8(OFcap)にオーバーフローさせないために、光電変換部6(PD)と固定電位(VDD)間のトランジスタの駆動により排出経路を形成させる。ここではオーバーフロードレイントランジスタ14(OFG)をオン動作させている。光電変換部6(PD)で発生した光電子は固定電位(VDD)に排出され光電変換部6(PD)において電荷の蓄積は行われない。このため、光電変換部6(PD)からFD1や蓄積容量部8(OFcap)への電荷のオーバーフローは起こらない。またこのとき蓄積容量接続トランジスタ9(CG)はオフされ、FD1と蓄積容量部8(OFcap)に電荷の蓄積が可能である。光電変換部6(PD)からの電荷のオーバーフローはないため、高輝度な光照射においてもFD部と蓄積容量部8(OFcap)の電荷蓄積は、蓄積容量部8(OFcap)で生成された暗電荷のみとなる。
補正画像取得モードの露光中のゲート電圧は、図18Cに限らず、例えば図18Dのように制御されてもよい。すなわち、オーバーフロードレイントランジスタ14(OFG)のゲート電圧は、チャネル部のポテンシャルが転送トランジスタ7(TX)のチャネル部のポテンシャルよりも十分低い電圧に設定されてよい。さらに、光電変換部6(PD)からFD1にも光電子がオーバーフローしないような電圧に設定されてよい。光電変換部6(PD)からFD1に光電子がオーバーフローしないような電圧として、オフ時のゲート電圧よりも少なくとも0.6V以上高い電圧を転送トランジスタに印加することが必要と考えられる。ただし、この数値はセンサ仕様やセンサのポテンシャル構造によって異なる
。このとき、光電変換部6(PD)に電荷が蓄積されている。したがって、光電変換装置500において、読み出し前に一度オーバーフロードレイントランジスタ14(OFG)をオン状態にして光電変換部6(PD)に蓄積された電荷全てを固定電位(VDD)に排出する動作を行ってもよい。また、補正画像取得モードの露光中の転送トランジスタのオフ電圧を通常撮像モードの露光中の電圧より高めて、FD1への光電子のオーバーフローしにくくしてもよい。その場合は、補正画像取得モードの露光中のオーバーフロードレイントランジスタ14(OFG)のゲート電圧として、オフ時のゲート電圧よりも少なくとも0.3V以上高い電圧をオーバーフロードレイントランジスタ14に印加することが必要と考えられる。
<第4実施形態>
次に、本開示に係る第4実施形態について説明する。なお、以下の説明において、第1~3実施形態の構成および処理と同様の構成および処理については、同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図19は、第4実施形態に係る光電変換装置の画素の等価回路である。本実施形態は、光電変換装置500の画素107において、複数の組の光電変換部6、15と転送トランジスタ7、16が設けられている点、容量部8と光電変換部15間に1つのトランジスタが設けられている点が第1~3実施形態とは異なる。
図20は、本実施形態に係る光電変換装置500の画素の概略平面図であり、図21は図20の線B-B’による概略断面図である。図20に示すように、画素部101において複数の光電変換部6が格子状に配置される。また、光電変換部15は、光電変換部6に隣接して配置され、光電変換部6と同様に格子状に配置される。また、光電変換部15の面積は、光電変換部15の面積とは異なる。このように、光電変換部15を、光電変換部6用に、入射感度の異なるサブ画素として用いることにより、ダイナミックレンジを拡大することができる。なお、図20、21の例では、光電変換部6および光電変換部15にまたがるようにマイクロレンズを配置することを想定しているが、図22に示すように、光電変換部ごとにマイクロレンズを配置する構成としてもよい。
第1~3実施形態の光電変換装置500では、蓄積容量部8は、光電変換部6が飽和した場合に光電変換部6からオーバーフローする電子を蓄積するが、本実施形態では、光電変換部15が飽和した場合に光電変換部6からオーバーフローする電子を蓄積する。補正画像取得モードでは、光電変換部15においてオーバーフローを想定した読み出し信号の補正画像取得が可能となる。一方、補正画像取得モードでも、光電変換部6を用いた信号の取得は通常撮像モードと同様に実施可能である。
<第5実施形態>
次に、第5実施形態について説明する。なお、以下の説明において、第1~4実施形態の構成および処理と同様の構成および処理については、同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図22は、第5実施形態に係る光電変換装置の画素の等価回路である。本実施形態に係る光電変換装置500の画素107において、複数の光電変換部6、10、複数の転送トランジスタ7、11、複数の蓄積容量部8、12、複数の蓄積容量接続トランジスタ9、13がある点が第1~4実施形態とは異なる。本実施形態では、光電変換部10が第2の光電変換部であり、転送トランジスタ11が第2の転送トランジスタであり、蓄積容量部12が第2の蓄積容量部であり、蓄積容量接続トランジスタ13が第2の蓄積容量接続トランジスタである。
図22に示すように、画素107は、2つの光電変換部6、10が1つのFD1によって共有されるように構成されているが、共有される光電変換部の数は2以上であってもよい。各光電変換部には、それぞれに対応する転送ゲート、蓄積容量部、蓄積容量接続トランジスタが設けられている。例えば、光電変換部10には、転送トランジスタ11、蓄積容量部12、蓄積容量接続トランジスタ13が設けられている。本実施形態では、各光電変換部から各蓄積容量部へと電子がオーバーフローする経路(OF-path)はそれぞれ分かれている。このため、各光電変換部から転送される電子が、他の光電変換部から転送される電子と混合することがないため、各光電変換部に蓄積された電子を基にした信号は、高いダイナミックレンジの信号として取得することができる。
図22では、蓄積容量接続トランジスタ9、13は容量付加トランジスタ5を介してFD1に接続されている。このようにすることで、FD1に直接接続されるトランジスタの数を減らし、FD1の容量を低減して読み出しノイズを抑えることができる。ただし、FD1の容量が大きくてもよい場合は、容量付加トランジスタ5を削除して、蓄積容量接続トランジスタ9、13をFD1に直接接続する構成としてもよい。
容量付加トランジスタ5は、蓄積容量接続トランジスタ9または蓄積容量接続トランジスタ13の一方とともにオンすることで、蓄積容量部8または蓄積容量部12をFD1に接続する。これにより、蓄積容量部8または蓄積容量部12の電子を、増幅トランジスタ2を介して電気信号として読み出すことができる。なお、本実施形態の光電変換装置500が通常撮像モードで出力する信号が第3の信号であり、補正画像取得モードで出力する信号が第4の信号である。
図22に示す回路の画素107を備える光電変換装置500の補正画像取得モードにおいて、例えば蓄積容量部12の補正データを取得する場合について説明する。光電変換装置500は、補正画像取得モードの露光時、光電変換部10で発生した電子を蓄積容量部12にオーバーフローさせないために、光電変換部10と固定電位(VDD)間を接続する経路上のトランジスタをオンして電子の排出経路を形成する。ここで、光電変換部10と固定電位(VDD)間を接続する経路上のトランジスタは、転送トランジスタ11とリセットトランジスタ4が該当し、これらのトランジスタをオン動作させる。これにより、光電変換部10で発生した電子は固定電位(VDD)に排出され、光電変換部10において電子は蓄積されない。この結果、光電変換部10から蓄積容量部12への電子のオーバーフローは発生しない。また、蓄積容量接続トランジスタ13はオフされるため、蓄積容量部12において電子の蓄積が可能となる。光電変換部10からの電子のオーバーフローはないため、高輝度な光照射においても蓄積容量部12は、蓄積容量部12で生成された暗電荷(暗電子)のみの蓄積が可能になる。また、このとき、容量付加トランジスタ5もオン動作させてもよい。
図23は、本実施形態の変形例に係る光電変換装置500の画素107の等価回路である。リセットトランジスタ4は固定電位(VDD)とFD1を接続しているが、図23に示すように、リセットトランジスタ4を、容量付加トランジスタ5を介してFD1と接続してもよい。
図23に示す回路の画素107を備える光電変換装置500の補正画像取得モードにおいて、例えば蓄積容量部12の補正データを取得する場合について説明する。光電変換装置500は、補正画像取得モードの露光時、光電変換部10で発生した電子を蓄積容量部12にオーバーフローさせないために、光電変換部10と固定電位(VDD)間を接続する経路上のトランジスタをオンして電子の排出経路を形成する。ここで、光電変換部10と固定電位(VDD)間を接続する経路上のトランジスタは、転送トランジスタ11とリセットトランジスタ4、容量付加トランジスタ5が該当し、これらのトランジスタをオン
動作させる。これにより、光電変換部10で発生した電荷は固定電位(VDD)に排出され、光電変換部10において電子は蓄積されない。この結果、光電変換部10から蓄積容量部12への電子のオーバーフローは発生しない。また、蓄積容量接続トランジスタ13はオフされるため、蓄積容量部12において電子の蓄積が可能となる。光電変換部10からの電子のオーバーフローはないため、高輝度な光照射においても蓄積容量部12は、蓄積容量部12で生成された暗電荷(暗電子)のみの蓄積が可能となる。
<第6実施形態>
第6実施形態には、上記の第1~5実施形態のいずれも適用可能である。図24は本実施形態の半導体装置1430を備えた機器1491を説明する模式図である。半導体装置1430は、第1~5実施形態で説明した光電変換装置のいずれか、あるいは複数の実施形態を組み合わせた光電変換装置とすることができる。半導体装置1430を備える機器1491について詳細に説明する。半導体装置1430は、上記のように、半導体層を有する半導体デバイス1410のほかに、半導体デバイス1410を収容するパッケージ1420を含むことができる。パッケージ1420は、半導体デバイス1410が固定された基体と、半導体デバイス1410に対向するガラスなどの蓋体と、を含むことができる。パッケージ1420は、さらに、基体に設けられた端子と半導体デバイス1410に設けられた端子とを接続するボンディングワイヤやバンプなどの接合部材を含むことができる。
機器1491は、光学装置1440、制御装置1450、処理装置1460、表示装置1470、記憶装置1480、機械装置1490の少なくともいずれかを備えることができる。光学装置1440は、半導体装置1430に対応する。光学装置1440は、例えばレンズやシャッター、ミラーである。制御装置1450は、半導体装置1430を制御する。制御装置1450は、例えばASICなどの半導体装置である。
処理装置1460は、半導体装置1430から出力された信号を処理する。処理装置1460は、AFE(アナログフロントエンド)あるいはDFE(デジタルフロントエンド)を構成するための、CPUやASICなどの半導体装置である。表示装置1470は、半導体装置1430で得られた情報(画像)を表示する、EL表示装置や液晶表示装置である。記憶装置1480は、半導体装置1430で得られた情報(画像)を記憶する、磁気デバイスや半導体デバイスである。記憶装置1480は、SRAMやDRAMなどの揮発性メモリ、あるいは、フラッシュメモリやハードディスクドライブなどの不揮発性メモリである。
機械装置1490は、モーターやエンジンなどの可動部あるいは推進部を有する。機器1491では、半導体装置1430から出力された信号を表示装置1470に表示したり、機器1491が備える通信装置(不図示)によって外部に送信したりする。そのために、機器1491は、半導体装置1430が有する記憶回路や演算回路とは別に、記憶装置1480や処理装置1460をさらに備えることが好ましい。機械装置1490は、半導体装置1430から出力された信号に基づいて制御されてもよい。
また、機器1491は、撮影機能を有する情報端末(例えばスマートフォンやウエアラブル端末)やカメラ(例えばレンズ交換式カメラ、コンパクトカメラ、ビデオカメラ、監視カメラ)などの電子機器に適する。カメラにおける機械装置1490はズーミングや合焦、シャッター動作のために光学装置1440の部品を駆動することができる。あるいは、カメラにおける機械装置1490は防振動作のために半導体装置1430を移動することができる。
また、機器1491は、車両や船舶、飛行体などの輸送機器であり得る。輸送機器にお
ける機械装置1490は移動装置として用いられうる。輸送機器としての機器1491は、半導体装置1430を輸送するものや、撮影機能により運転(操縦)の補助および/または自動化を行うものに好適である。運転(操縦)の補助および/または自動化のための処理装置1460は、半導体装置1430で得られた情報に基づいて移動装置としての機械装置1490を操作するための処理を行うことができる。あるいは、機器1491は内視鏡などの医療機器や、測距センサなどの計測機器、電子顕微鏡のような分析機器、複写機などの事務機器、ロボットなどの産業機器であってもよい。
第6実施形態によれば、良好な画素特性を得ることが可能となる。したがって、半導体装置1430の価値を高めることができる。ここでいう価値を高めることには、機能の追加、性能の向上、特性の向上、信頼性の向上、製造歩留まりの向上、環境負荷の低減、コストダウン、小型化、軽量化の少なくともいずれかが該当する。
したがって、第6実施形態に係る半導体装置1430を機器1491に用いれば、機器の価値をも向上することができる。例えば、半導体装置1430を輸送機器に搭載して、輸送機器の外部の撮影や外部環境の測定を行う際に優れた性能を得ることができる。よって、輸送機器の製造、販売を行う上で、第6実施形態に係る半導体装置1430を輸送機器へ搭載することを決定することは、輸送機器自体の性能を高める上で有利である。特に、半導体装置1430で得られた情報を用いて輸送機器の運転支援および/または自動運転を行う輸送機器に半導体装置1430は好適である。
以上、本開示の光電変換装置について、その好適な実施形態に基づいて詳述してきたが、本開示はこれら特定の実施形態に限られるものではなく、本開示の技術の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本開示に含まれる。また、上記の複数の実施形態は適宜組み合わせて実施することもできる。
本実施形態の開示は、以下の構成を含む。
(構成1)
光電変換装置であって、
第1の光電変換部と、
前記第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するフローティングディフュージョンと、
前記フローティングディフュージョンに接続された増幅トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送を制御する第1の転送トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送経路と異なる経路を介して前記第1の光電変換部と接続された第1の蓄積容量部と、
前記フローティングディフュージョンと固定電位とを接続するリセットトランジスタと、
前記フローティングディフュージョンと前記第1の蓄積容量部とを接続する第1の蓄積容量接続トランジスタと、
を有し、
前記光電変換装置は、第1のモードにおいて、前記第1の光電変換部の容量を超える信号電荷が前記第1の蓄積容量部に保持され、前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第1の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、
前記光電変換装置は、第2のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記第1の転送トランジスタおよび前記リセットトランジスタによって、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出した後、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少
なくとも前記第1の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する
ことを特徴とする光電変換装置。
(構成2)
前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記第1のモードにおける前記第1の光電変換部の信号電荷の蓄積時に前記第1の転送トランジスタに印加される電圧よりも0.6V以上高い電圧を前記第1の転送トランジスタに印加することにより、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出することを特徴とする構成1に記載の光電変換装置。
(構成3)
前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記リセットトランジスタをオンすることにより前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出することを特徴とする構成1または2に記載の光電変換装置。
(構成4)
第2の光電変換部と
前記第2の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの信号電荷の転送を制御する第2の転送トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの信号電荷の転送経路と異なる経路を介して前記第2の光電変換部と接続された第2の蓄積容量部と、
前記フローティングディフュージョンと前記第2の蓄積容量部とを接続する第2の蓄積容量接続トランジスタと、
を有し、
前記光電変換装置は、前記第1のモードにおいて、前記第2の光電変換部の容量を超える信号電荷が前記第2の蓄積容量部に保持され、前記第2の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第2の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第3の信号を出力し、
前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記第2の光電変換部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記第2の転送トランジスタおよび前記リセットトランジスタによって、前記第2の光電変換部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第2の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第4の信号を出力する
ことを特徴とする構成1から3のいずれか1項に記載の光電変換装置。
(構成5)
前記第1の蓄積容量接続トランジスタおよび前記第2の蓄積容量接続トランジスタの少なくとも一方が、容量付加トランジスタを介して前記フローティングディフュージョンに接続されることを特徴とする構成4に記載の光電変換装置。
(構成6)
前記光電変換装置は、前記フローティングディフュージョンが保持する信号電荷に基づく信号出力を取得する信号出力取得部に接続され、
前記信号出力取得部は、前記第2のモードにおいて、前記第2の信号を用いて前記第1の信号を補正する
ことを特徴とする構成1から5のいずれか1項に記載の光電変換装置。
(構成7)
光電変換装置であって、
第1の光電変換部と、
前記第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するフローティングディフュージョンと、
前記フローティングディフュージョンに接続された増幅トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送を制御する第1の転送トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転
送経路を介して前記第1の光電変換部と接続された第1の蓄積容量部と、
前記フローティングディフュージョンと固定電位とを接続するリセットトランジスタと、
前記フローティングディフュージョンと前記第1の蓄積容量部とを接続する第1の蓄積容量接続トランジスタと、
を有し、
前記光電変換装置は、第1のモードにおいて、前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第1の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、
前記光電変換装置は、第2のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記第1の転送トランジスタおよび前記リセットトランジスタによって、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出した後、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第1の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する
ことを特徴とする光電変換装置。
(構成8)
前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記第1のモードにおける前記第1の光電変換部の信号電荷の蓄積時に前記第1の転送トランジスタに印加される電圧よりも0.3V以上高い電圧を前記第1の転送トランジスタに印加することにより、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出することを特徴とする構成7に記載の光電変換装置。
(構成9)
前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記リセットトランジスタをオンすることにより前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出することを特徴とする構成7または8に記載の光電変換装置。
(構成10)
前記光電変換装置は、前記フローティングディフュージョンが保持する信号電荷に基づく信号出力を取得する信号出力取得部に接続され、
前記信号出力取得部は、前記第2のモードにおいて、前記第2の信号を用いて前記第1の信号を補正する
ことを特徴とする構成7から9のいずれか1項に記載の光電変換装置。
(構成11)
光電変換装置であって、
第1の光電変換部と、
前記第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するフローティングディフュージョンと、
前記フローティングディフュージョンに接続された増幅トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送を制御する第1の転送トランジスタと、
前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送経路を介して前記第1の光電変換部と接続された第1の蓄積容量部と、
前記第1の光電変換部と固定電位とを接続するオーバーフロードレイントランジスタと、
前記フローティングディフュージョンと前記第1の蓄積容量部とを接続する第1の蓄積容量接続トランジスタと、
を有し、
前記光電変換装置は、第1のモードにおいて、前記第1の光電変換部の容量を超える信号電荷が前記第1の蓄積容量部に保持され、前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第1の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、
前記光電変換装置は、第2のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記オーバーフロードレイントランジスタによって、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出した後、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第1の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する
ことを特徴とする光電変換装置。
(構成12)
前記光電変換装置は、前記第1の蓄積容量接続トランジスタをオンにして前記第1の蓄積容量部が前記フローティングディフュージョンと接続された状態で、前記第1の蓄積容量部の信号電荷を前記フローティングディフュージョンから前記増幅トランジスタを介して出力することを特徴とする構成11に記載の光電変換装置。
(構成13)
前記光電変換装置は、前記フローティングディフュージョンが保持する信号電荷に基づく信号出力を取得する信号出力取得部に接続され、
前記信号出力取得部は、前記第2のモードにおいて、前記第2の信号を用いて前記第1の信号を補正する
ことを特徴とする構成11または12に記載の光電変換装置。
(構成14)
前記光電変換装置は、前記第1のモードおよび前記第2のモードの少なくとも一方のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部の信号電荷を読み出すリセットレベルの取得を省略することを特徴とする構成1から13のいずれか1項に記載の光電変換装置。
(構成15)
前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記光電変換装置の画素部の一部の行では前記第2のモードで駆動し、その他の行では前記第1のモードで駆動し、
前記光電変換装置は、撮像フレームごとに前記第2のモードで駆動される行を変更することを特徴とする構成1から14のいずれか1項に記載の光電変換装置。
(構成16)
前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記光電変換装置の画素部の一部の行では前記第1のモードおよび前記第2のモードで駆動し、その他の行では前記第1のモードで駆動し、
前記光電変換装置は、撮像フレームごとに前記第1のモードおよび前記第2のモードで駆動される行を変更する
ことを特徴とする構成1から14のいずれか1項に記載の光電変換装置。
(構成17)
前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記光電変換装置の画素部のすべての行で前記第1のモードと前記第2のモードとを交互に駆動することを特徴とする構成1から14のいずれか1項に記載の光電変換装置。
(構成18)
前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記第1のモードでは、前記光電変換装置の画素部の一部の行のみを対象に前記第1の信号を出力することを特徴とする構成1から14のいずれか1項に記載の光電変換装置。
(構成19)
前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記第1のモードでは、一部の行のみを対象に前記フローティングディフュージョンの信号電荷をラインメモリに転送し、前記ラインメモリに転送された信号電荷に基づいて前記第1の信号を出力することを特徴とする構成1から14のいずれか1項に記載の光電変換装置。
(構成20)
構成1から19のいずれか1項に記載の光電変換装置と、
前記光電変換装置から出力される信号を取得する信号出力取得部と、
を有することを特徴とする撮像システム。
(構成21)
前記第2の信号を記憶するメモリをさらに有し、
前記信号出力取得部は、前記メモリに記憶された前記第2の信号を取得して前記第1の信号を補正する
ことを特徴とする構成20に記載の撮像システム。
(構成22)
前記第1のモードにおける前記第1の光電変換部の信号電荷の蓄積時間が、前記第2のモードにおける前記第1の光電変換部の信号電荷の蓄積時間よりも長く、
前記信号出力取得部は、前記蓄積時間の差に基づいて前記第2の信号を増幅する処理を行う
ことを特徴とする構成20または21に記載の撮像システム。
(構成23)
前記信号出力取得部は、前記撮像システムの外部からのトリガ信号に応じて前記第2のモードに切り替えることを特徴とする構成20から22のいずれか1項に記載の撮像システム。
(構成24)
構成1から19のいずれか1項に記載の光電変換装置を備える機器であって、
前記光電変換装置に対応した光学装置、
前記光電変換装置を制御する制御装置、
前記光電変換装置から出力された信号を処理する処理装置、
前記光電変換装置で得られた情報を表示する表示装置、
前記光電変換装置で得られた情報を記憶する記憶装置、および、
前記光電変換装置で得られた情報に基づいて動作する機械装置、の少なくともいずれかをさらに備える
ことを特徴とする機器。
500 光電変換装置、1 FD、4 リセットトランジスタ、6 光電変換部、7 転送トランジスタ、8 蓄積容量部、9 蓄積容量接続トランジスタ

Claims (24)

  1. 光電変換装置であって、
    第1の光電変換部と、
    前記第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するフローティングディフュージョンと、
    前記フローティングディフュージョンに接続された増幅トランジスタと、
    前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送を制御する第1の転送トランジスタと、
    前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送経路と異なる経路を介して前記第1の光電変換部と接続された第1の蓄積容量部と、
    前記フローティングディフュージョンと固定電位とを接続するリセットトランジスタと、
    前記フローティングディフュージョンと前記第1の蓄積容量部とを接続する第1の蓄積容量接続トランジスタと、
    を有し、
    前記光電変換装置は、第1のモードにおいて、前記第1の光電変換部の容量を超える信号電荷が前記第1の蓄積容量部に保持され、前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第1の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、
    前記光電変換装置は、第2のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記第1の転送トランジスタおよび前記リセットトランジスタによって、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出した後、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第1の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する
    ことを特徴とする光電変換装置。
  2. 前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記第1のモードにおける前記第1の光電変換部の信号電荷の蓄積時に前記第1の転送トランジスタに印加される電圧よりも0.6V以上高い電圧を前記第1の転送トランジスタに印加することにより、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出することを特徴とする請求項1に記載の光電変換装置。
  3. 前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記リセットトランジスタをオンすることにより前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出することを特徴とする請求項1に記載の光電変換装置。
  4. 第2の光電変換部と
    前記第2の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの信号電荷の転送を制御する第2の転送トランジスタと、
    前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの信号電荷の転送経路と異なる経路を介して前記第2の光電変換部と接続された第2の蓄積容量部と、
    前記フローティングディフュージョンと前記第2の蓄積容量部とを接続する第2の蓄積容量接続トランジスタと、
    を有し、
    前記光電変換装置は、前記第1のモードにおいて、前記第2の光電変換部の容量を超える信号電荷が前記第2の蓄積容量部に保持され、前記第2の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第2の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第3の信号を出力し、
    前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記第2の光電変換部と前記フロー
    ティングディフュージョンとを接続しない状態で前記第2の転送トランジスタおよび前記リセットトランジスタによって、前記第2の光電変換部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第2の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第4の信号を出力する
    ことを特徴とする請求項1に記載の光電変換装置。
  5. 前記第1の蓄積容量接続トランジスタおよび前記第2の蓄積容量接続トランジスタの少なくとも一方が、容量付加トランジスタを介して前記フローティングディフュージョンに接続されることを特徴とする請求項4に記載の光電変換装置。
  6. 前記光電変換装置は、前記フローティングディフュージョンが保持する信号電荷に基づく信号出力を取得する信号出力取得部に接続され、
    前記信号出力取得部は、前記第2のモードにおいて、前記第2の信号を用いて前記第1の信号を補正する
    ことを特徴とする請求項1に記載の光電変換装置。
  7. 光電変換装置であって、
    第1の光電変換部と、
    前記第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するフローティングディフュージョンと、
    前記フローティングディフュージョンに接続された増幅トランジスタと、
    前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送を制御する第1の転送トランジスタと、
    前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送経路を介して前記第1の光電変換部と接続された第1の蓄積容量部と、
    前記フローティングディフュージョンと固定電位とを接続するリセットトランジスタと、
    前記フローティングディフュージョンと前記第1の蓄積容量部とを接続する第1の蓄積容量接続トランジスタと、
    を有し、
    前記光電変換装置は、第1のモードにおいて、前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第1の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、
    前記光電変換装置は、第2のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記第1の転送トランジスタおよび前記リセットトランジスタによって、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出した後、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第1の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する
    ことを特徴とする光電変換装置。
  8. 前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記第1のモードにおける前記第1の光電変換部の信号電荷の蓄積時に前記第1の転送トランジスタに印加される電圧よりも0.3V以上高い電圧を前記第1の転送トランジスタに印加することにより、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出することを特徴とする請求項7に記載の光電変換装置。
  9. 前記光電変換装置は、前記第2のモードにおいて、前記リセットトランジスタをオンすることにより前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出することを特徴とする請求項7に記載の光電変換装置。
  10. 前記光電変換装置は、前記フローティングディフュージョンが保持する信号電荷に基づく信号出力を取得する信号出力取得部に接続され、
    前記信号出力取得部は、前記第2のモードにおいて、前記第2の信号を用いて前記第1の信号を補正する
    ことを特徴とする請求項7に記載の光電変換装置。
  11. 光電変換装置であって、
    第1の光電変換部と、
    前記第1の光電変換部から転送される信号電荷を保持するフローティングディフュージョンと、
    前記フローティングディフュージョンに接続された増幅トランジスタと、
    前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送を制御する第1の転送トランジスタと、
    前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンへの前記信号電荷の転送経路を介して前記第1の光電変換部と接続された第1の蓄積容量部と、
    前記第1の光電変換部と固定電位とを接続するオーバーフロードレイントランジスタと、
    前記フローティングディフュージョンと前記第1の蓄積容量部とを接続する第1の蓄積容量接続トランジスタと、
    を有し、
    前記光電変換装置は、第1のモードにおいて、前記第1の光電変換部の容量を超える信号電荷が前記第1の蓄積容量部に保持され、前記第1の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷と、前記第1の蓄積容量部に保持された信号電荷とに基づく第1の信号を出力し、
    前記光電変換装置は、第2のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続しない状態で前記オーバーフロードレイントランジスタによって、前記第1の光電変換部で発生した電荷を前記固定電位に排出した後、前記第1の蓄積容量部と前記フローティングディフュージョンとを接続して、少なくとも前記第1の蓄積容量部で発生した暗電荷に基づく第2の信号を出力する
    ことを特徴とする光電変換装置。
  12. 前記光電変換装置は、前記第1の蓄積容量接続トランジスタをオンにして前記第1の蓄積容量部が前記フローティングディフュージョンと接続された状態で、前記第1の蓄積容量部の信号電荷を前記フローティングディフュージョンから前記増幅トランジスタを介して出力することを特徴とする請求項11に記載の光電変換装置。
  13. 前記光電変換装置は、前記フローティングディフュージョンが保持する信号電荷に基づく信号出力を取得する信号出力取得部に接続され、
    前記信号出力取得部は、前記第2のモードにおいて、前記第2の信号を用いて前記第1の信号を補正する
    ことを特徴とする請求項11に記載の光電変換装置。
  14. 前記光電変換装置は、前記第1のモードおよび前記第2のモードの少なくとも一方のモードにおいて、前記第1の蓄積容量部の信号電荷を読み出すリセットレベルの取得を省略することを特徴とする請求項1、7、11のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  15. 前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記光電変換装置の画素部の一部の行では前記第2のモードで駆動し、その他の行では前記第1のモードで駆動し、
    前記光電変換装置は、撮像フレームごとに前記第2のモードで駆動される行を変更することを特徴とする請求項1、7、11のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  16. 前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記光電変換装置の画素部の一部の行では前記第1のモードおよび前記第2のモードで駆動し、その他の行では前記第1のモードで駆動し、
    前記光電変換装置は、撮像フレームごとに前記第1のモードおよび前記第2のモードで駆動される行を変更する
    ことを特徴とする請求項1、7、11のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  17. 前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記光電変換装置の画素部のすべての行で前記第1のモードと前記第2のモードとを交互に駆動することを特徴とする請求項1、7、11のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  18. 前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記第1のモードでは、前記光電変換装置の画素部の一部の行のみを対象に前記第1の信号を出力することを特徴とする請求項1、7、11のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  19. 前記光電変換装置は、同一の撮像フレームにおいて、前記第1のモードでは、一部の行のみを対象に前記フローティングディフュージョンの信号電荷をラインメモリに転送し、前記ラインメモリに転送された信号電荷に基づいて前記第1の信号を出力することを特徴とする請求項1、7、11のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  20. 請求項1、7、11のいずれか1項に記載の光電変換装置と、
    前記光電変換装置から出力される信号を取得する信号出力取得部と、
    を有することを特徴とする撮像システム。
  21. 前記第2の信号を記憶するメモリをさらに有し、
    前記信号出力取得部は、前記メモリに記憶された前記第2の信号を取得して前記第1の信号を補正する
    ことを特徴とする請求項20に記載の撮像システム。
  22. 前記第1のモードにおける前記第1の光電変換部の信号電荷の蓄積時間が、前記第2のモードにおける前記第1の光電変換部の信号電荷の蓄積時間よりも長く、
    前記信号出力取得部は、前記蓄積時間の差に基づいて前記第2の信号を増幅する処理を行う
    ことを特徴とする請求項20に記載の撮像システム。
  23. 前記信号出力取得部は、前記撮像システムの外部からのトリガ信号に応じて前記第2のモードに切り替えることを特徴とする請求項20に記載の撮像システム。
  24. 請求項1、7、11のいずれか1項に記載の光電変換装置を備える機器であって、
    前記光電変換装置に対応した光学装置、
    前記光電変換装置を制御する制御装置、
    前記光電変換装置から出力された信号を処理する処理装置、
    前記光電変換装置で得られた情報を表示する表示装置、
    前記光電変換装置で得られた情報を記憶する記憶装置、および、
    前記光電変換装置で得られた情報に基づいて動作する機械装置、の少なくともいずれかをさらに備える
    ことを特徴とする機器。
JP2022111338A 2022-07-11 2022-07-11 光電変換装置、撮像システム、および機器 Pending JP2024009651A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022111338A JP2024009651A (ja) 2022-07-11 2022-07-11 光電変換装置、撮像システム、および機器
US18/348,448 US20240015415A1 (en) 2022-07-11 2023-07-07 Photoelectric conversion device, imaging system, and equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022111338A JP2024009651A (ja) 2022-07-11 2022-07-11 光電変換装置、撮像システム、および機器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2024009651A true JP2024009651A (ja) 2024-01-23

Family

ID=89431071

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022111338A Pending JP2024009651A (ja) 2022-07-11 2022-07-11 光電変換装置、撮像システム、および機器

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20240015415A1 (ja)
JP (1) JP2024009651A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
US20240015415A1 (en) 2024-01-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9961262B2 (en) Solid-state imaging device having a switchable conversion gain in the floating diffusion, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus
TWI412273B (zh) 固態影像裝置及其驅動方法,以及電子裝置
US8816266B2 (en) Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus
JP3734717B2 (ja) イメージセンサ
CN101840926B (zh) 固态成像装置及其制造方法、驱动方法、以及电子设备
US11050966B2 (en) Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus
KR102391568B1 (ko) 고체 촬상 소자 및 촬상 장치
US20180091754A1 (en) Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus
US10645327B2 (en) Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus
JP2016015680A (ja) 固体撮像素子および撮像装置
TWI822831B (zh) 固態攝像裝置及電子機器
JP4746962B2 (ja) 固体撮像装置及び撮像システム
US11671730B2 (en) Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus
JP6825675B2 (ja) 撮像素子及び撮像装置
JP2024009651A (ja) 光電変換装置、撮像システム、および機器
JP6217338B2 (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP4464087B2 (ja) 撮像装置及びそれを用いた撮像システム
JP6375613B2 (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP2018198441A (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP7156330B2 (ja) 撮像素子及び撮像装置
JP4640102B2 (ja) 全方位カメラ
JP2021073772A (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP2019009820A (ja) 固体撮像素子
JP2017220957A (ja) 固体撮像素子及び撮像装置