JP2024002556A - Ｘ線ｃｔ装置および検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】検出モジュールが正しく配線されているか否かの確認を支援すること。【解決手段】Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線管と、Ｘ線検出器と、取得部と、検出部と、を備える。前記Ｘ線管は、Ｘ線を発生する。前記Ｘ線検出器は、前記Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する検出モジュールが複数並べて配置され、当該配置ごとに設けられ前記検出モジュールが接続されるスロットと前記検出モジュールの其々とが配線される。前記取得部は、前記Ｘ線検出器により検出されたＸ線を示す検出データを取得する。前記検出部は、前記検出データに基づいて、前記検出モジュールの配線の誤りを検出する。【選択図】図１

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、Ｘ線ＣＴ装置および検査方法に関する。

従来、Ｘ線ＣＴ（Computed Tomography）装置は、Ｘ線を検出するＸ線検出器を備える。Ｘ線検出器は、Ｘ線を検出する検出素子が並べられた検出モジュールがチャンネル方向に複数並べられている。そして、各検出モジュールは、配置された位置に応じたスロットに配線される。

Ｘ線ＣＴ装置は、各スロットから取得したデータを、スロットに応じた配置で結合することにより検出データを生成する。そのため、Ｘ線ＣＴ装置は、検出モジュールが配置された位置に応じたスロットに配線されていない場合、正しい検出データを生成することができない。

しかしながら、検出モジュールが正しく配線されているか否かの確認は目視により行われている。

特開２０２１－１２６３５１号公報

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、検出モジュールが正しく配線されているか否かの確認を支援することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線管と、Ｘ線検出器と、取得部と、検出部と、を備える。前記Ｘ線管は、Ｘ線を発生する。前記Ｘ線検出器は、前記Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する検出モジュールが複数並べて配置され、当該配置ごとに設けられ前記検出モジュールが接続されるスロットと前記検出モジュールの其々とが配線される。前記取得部は、前記Ｘ線検出器により検出されたＸ線を示す検出データを取得する。前記検出部は、前記検出データに基づいて、前記検出モジュールの配線の誤りを検出する。

図１は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成の一例を示す図である。 図２は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。 図３は、配線が正しい場合の検出データの一例を示す図である。 図４は、配線が誤っている場合の検出データの一例を示す図である。 図５は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。 図６は、第２の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の一例を示す図である。 図７は、第２の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。 図８は、第２の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。 図９は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の一例を示す図である。 図１０は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。 図１１は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行する配線誤りの検出方法の一例を示す図である。 図１２は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。 図１３は、第４の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の一例を示す図である。 図１４は、第４の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。 図１５は、第４の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。 図１６は、第５の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の一例を示す図である。 図１７は、第５の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。 図１８は、第５の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。

以下、図面を参照しながら、本実施形態に関するＸ線ＣＴ装置および検査方法について説明する。以下の実施形態では、同一の参照符号を付した部分は同様の動作をおこなうものとして、重複する説明を適宜省略する。

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１の構成の一例を示す図である。図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１は、架台装置１０と、寝台装置３０と、コンソール装置４０とを有する。

ここで、図１においては、非チルト状態での回転フレーム１３の回転軸又は寝台装置３０の天板３３の長手方向をＺ軸方向とする。Ｚ軸方向は、スキャン軸方向の一例である。また、Ｚ軸方向に直交し、床面に対し水平である軸方向をＸ軸方向とする。また、Ｚ軸方向及びＸ軸方向に直交し、床面に対し垂直である軸方向をＹ軸方向とする。なお、図１は、説明のために架台装置１０を複数方向から描画したものであり、Ｘ線ＣＴ装置１が架台装置１０を１つ有する場合を示す。

架台装置１０は、Ｘ線管１１と、Ｘ線検出器１２と、回転フレーム１３と、Ｘ線高電圧装置１４と、制御装置１５と、ウェッジ１６と、コリメータ１７と、ＤＡＳ（Data Acquisition System）１８とを有する。なお、架台装置１０は、ガントリとも称される。

Ｘ線管１１は、熱電子を発生する陰極（フィラメント）と、熱電子の衝突を受けてＸ線を発生する陽極（ターゲット）とを有する真空管である。Ｘ線管１１は、Ｘ線高電圧装置１４からの高電圧の印加により、陰極から陽極に向けて熱電子を照射することで、被検体Ｐに対し照射するＸ線を発生する。例えば、Ｘ線管１１には、回転する陽極に熱電子を照射することでＸ線を発生させる回転陽極型のＸ線管がある。

Ｘ線検出器１２は、Ｘ線管１１から照射されて被検体Ｐを通過したＸ線を検出し、検出したＸ線の数やエネルギーに対応した信号をＤＡＳ１８へと出力する。Ｘ線検出器１２は、例えば、Ｘ線管１１の焦点を中心とした１つの円弧に沿ってチャンネル方向（チャネル方向）に複数の検出素子が配列された複数の検出素子列を有する。Ｘ線検出器１２は、例えば、チャンネル方向に複数の検出素子が配列された検出素子列が列方向（スライス方向、row方向）に複数配列された構造を有する。

例えば、Ｘ線検出器１２は、Ｘ線管１１から照射されたＸ線を検出する複数の検出モジュールと、検出モジュールにより検出されたデータを伝送する伝送ユニットとを備える。検出モジュールは、チャンネル方向に並べて配置される。伝送ユニットは、検出モジュールの配置ごとに設けられたスロットを有する。そして、Ｘ線検出器１２は、Ｘ線管１１から照射されたＸ線を検出する検出モジュールが複数並べて配置され、配置ごとに設けられ検出モジュールが接続されるスロットと、検出モジュールの其々とが配線される。ここで、スロットは、複数の検出モジュールの其々が接続される接続口である。

例えば、Ｘ線検出器１２は、グリッドと、シンチレータアレイと、光センサアレイとを有する間接変換型の検出器である。シンチレータアレイは、複数のシンチレータを有する。シンチレータは入射Ｘ線量に応じた光子量の光を出力するシンチレータ結晶を有する。グリッドは、シンチレータアレイのＸ線入射側の面に配置され、散乱Ｘ線を吸収するＸ線遮蔽板を有する。なお、グリッドはコリメータ（１次元コリメータ又は２次元コリメータ）と呼ばれる場合もある。光センサアレイは、シンチレータからの光量をそれに応じた電気信号に変換する機能を有し、例えば、フォトダイオード等の光センサを有する。なお、Ｘ線検出器１２は、入射したＸ線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であっても構わない。

回転フレーム１３は、Ｘ線管１１とＸ線検出器１２とを対向支持し、制御装置１５によってＸ線管１１とＸ線検出器１２とを回転させる円環状のフレームである。例えば、回転フレーム１３は、アルミニウムを材料とした鋳物である。なお、回転フレーム１３は、Ｘ線管１１及びＸ線検出器１２に加えて、Ｘ線高電圧装置１４やウェッジ１６、コリメータ１７、ＤＡＳ１８等を更に支持することもできる。更に、回転フレーム１３は、図１において図示しない種々の構成を更に支持することもできる。回転フレーム１３が支持する種々の構成については後述する。なお、回転フレーム１３は、回転ベースや回転体等とも称される。また、架台装置１０において、回転フレーム１３、及び、回転フレーム１３と共に回転移動する部分は、回転部とも称される。

Ｘ線高電圧装置１４は、変圧器（トランス）及び整流器等の電気回路を有し、Ｘ線管１１に印加する高電圧を発生する高電圧発生装置と、Ｘ線管１１が発生するＸ線に応じた出力電圧の制御を行うＸ線制御装置とを有する。高電圧発生装置は、変圧器方式であってもよいし、インバータ方式であってもよい。なお、Ｘ線高電圧装置１４は、回転フレーム１３に設けられてもよいし、図示しない固定フレームに設けられても構わない。

制御装置１５は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等を有する処理回路と、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構とを有する。制御装置１５は、後述する入力インターフェース４３からの入力信号を受けて、架台装置１０及び寝台装置３０の動作制御を行う。例えば、制御装置１５は、回転フレーム１３の回転や架台装置１０のチルト、寝台装置３０及び天板３３の動作等について制御を行う。一例を挙げると、制御装置１５は、架台装置１０をチルトさせる制御として、入力された傾斜角度（チルト角度）情報により、Ｘ軸方向に平行な軸を中心に回転フレーム１３を回転させる。なお、制御装置１５は架台装置１０に設けられてもよいし、コンソール装置４０に設けられてもよい。

ウェッジ１６は、Ｘ線管１１から照射されたＸ線量を調節するためのフィルタである。具体的には、ウェッジ１６は、Ｘ線管１１から被検体Ｐへ照射されるＸ線の分布が、予め定められた分布になるように、Ｘ線管１１から照射されたＸ線を透過して減衰するフィルタである。例えば、ウェッジ１６は、ウェッジフィルタ（wedge filter）やボウタイフィルタ（bow-tie filter）であり、所定のターゲット角度や所定の厚みとなるようにアルミニウム等を加工したフィルタである。

また、架台装置１０は、配線検査用のウェッジ１６ａ（図２参照）を有する。ウェッジ１６ａは、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の一方の端から他方の端に向かうに従い、より減弱したＸ線を透過させる。これにより、Ｘ線検出器１２は、チャンネル方向の一方の端から他方の端に向かうに従い、より減弱したＸ線を検出する。

コリメータ１７は、ウェッジ１６を透過したＸ線の照射範囲を絞り込むための鉛板等であり、複数の鉛板等の組み合わせによってスリットを形成する。なお、コリメータ１７は、Ｘ線絞りと呼ばれる場合もある。また、図１においては、Ｘ線管１１とコリメータ１７との間にウェッジ１６が配置される場合を示すが、Ｘ線管１１とウェッジ１６との間にコリメータ１７が配置される場合であってもよい。この場合、ウェッジ１６は、Ｘ線管１１から照射され、コリメータ１７により照射範囲が制限されたＸ線を透過して減衰させる。

ＤＡＳ１８は、Ｘ線検出器１２が有する各検出素子によって検出されるＸ線の信号を収集する。例えば、ＤＡＳ１８は、各検出素子から出力される電気信号に対して増幅処理を行なう増幅器と、電気信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器とを有し、検出データを生成する。

ＤＡＳ１８が生成した検出データは、回転フレーム１３に設けられた発光ダイオード（Light Emitting Diode: ＬＥＤ）を有する送信機から、光通信によって、架台装置１０の非回転部分（例えば、固定フレーム等。図１での図示は省略している）に設けられた、フォトダイオードを有する受信機に送信され、コンソール装置４０へと転送される。ここで、非回転部分とは、例えば、回転フレーム１３を回転可能に支持する固定フレーム等である。なお、回転フレーム１３から架台装置１０の非回転部分へのデータの送信方法は、光通信に限らず、非接触型の如何なるデータ伝送方式を採用してもよいし、接触型のデータ伝送方式を採用しても構わない。

寝台装置３０は、撮影対象の被検体Ｐを載置、移動させる装置であり、基台３１と、寝台駆動装置３２と、天板３３と、支持フレーム３４とを有する。基台３１は、支持フレーム３４を鉛直方向に移動可能に支持する筐体である。寝台駆動装置３２は、被検体Ｐが載置された天板３３を、天板３３の長軸方向に移動する駆動機構であり、モータ及びアクチュエータ等を含む。支持フレーム３４の上面に設けられた天板３３は、被検体Ｐが載置される板である。なお、寝台駆動装置３２は、天板３３に加え、支持フレーム３４を天板３３の長軸方向に移動してもよい。

コンソール装置４０は、メモリ４１と、ディスプレイ４２と、入力インターフェース４３と、処理回路４４とを有する。なお、コンソール装置４０は架台装置１０とは別体として説明するが、架台装置１０にコンソール装置４０又はコンソール装置４０の各構成要素の一部が含まれてもよい。

メモリ４１は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。メモリ４１は、例えば、投影データやＣＴ画像データを記憶する。また、例えば、メモリ４１は、Ｘ線ＣＴ装置１に含まれる回路が各種の機能を実現するためのプログラムを記憶する。メモリ４１は、Ｘ線ＣＴ装置１とネットワークを介して接続されたサーバ群（クラウド）により実現されることとしてもよい。

ディスプレイ４２は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ４２は、処理回路４４によって生成された各種の画像を表示したり、操作者から各種の操作を受け付けるためのＧＵＩ（Graphical User Interface）を表示したりする。例えば、ディスプレイ４２は、液晶ディスプレイやＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイである。ディスプレイ４２は、デスクトップ型でもよいし、コンソール装置４０本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。また、ディスプレイ４２は、表示部の一例である。

入力インターフェース４３は、操作者から各種の入力操作を受け付けて、受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路４４に出力する。また、例えば、入力インターフェース４３は、スキャン条件や、ＣＴ画像データを再構成する際の再構成条件、ＣＴ画像データから後処理画像を生成する際の画像処理条件等の入力操作を操作者から受け付ける。

例えば、入力インターフェース４３は、マウスやキーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力回路、音声入力回路等により実現される。なお、入力インターフェース４３は、架台装置１０に設けられてもよい。また、入力インターフェース４３は、コンソール装置４０本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。また、入力インターフェース４３は、マウスやキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、コンソール装置４０とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路４４へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース４３の例に含まれる。

処理回路４４は、Ｘ線ＣＴ装置１全体の動作を制御する。処理回路４４は、例えば、操作機能４４１、テストモード機能４４２、取得機能４４３、検出機能４４４、通知機能４４５、及び変更機能４４６を有する。実施形態では、操作機能４４１、テストモード機能４４２、取得機能４４３、検出機能４４４、通知機能４４５、及び変更機能４４６にて行われる各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態でメモリ４１へ記憶されている。処理回路４４は、プログラムをメモリ４１から読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路４４は、図１の処理回路４４内に示された各機能を有することになる。

なお、図１においては単一のプロセッサにて、操作機能４４１、テストモード機能４４２、取得機能４４３、検出機能４４４、通知機能４４５、及び変更機能４４６を実現するものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路４４を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。また、図１においては、メモリ４１等の単一の記憶回路が各処理機能に対応するプログラムを記憶するものとして説明したが、複数の記憶回路を分散して配置して、処理回路４４は、個別の記憶回路から対応するプログラムを読み出す構成としても構わない。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphical Processing Unit）或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ），及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサはメモリ４１に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、メモリ４１にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。

操作機能４４１は、テストモードに関する操作を受ける。テストモードは、Ｘ線検出器１２の検出モジュールのそれぞれが配置された位置に応じたスロットに配線されているか否かを検査するモードである。例えば、操作機能４４１は、テストモードに関する操作として、テストモードに変更する操作を受け付ける。また、操作機能４４１は、検出モジュールの配線検証を開始する操作を受け付ける。

テストモード機能４４２は、テストモードでのスキャンを実行する。図２は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１が実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。図２に示すように、テストモード機能４４２は、操作機能４４１により検出モジュールの配線検査を開始する操作が受け付けられた場合に、配線検査用のウェッジ１６ａに切り替える。

また、テストモード機能４４２は、スキャンさせる。すなわち、テストモード機能４４２は、Ｘ線管１１にＸ線を照射させる。また、テストモード機能４４２は、ウェッジ１６ａを介して照射されたＸ線を検出させる。

取得機能４４３は、Ｘ線検出器１２により検出されたＸ線を示す検出データを取得する。取得機能４４３は、取得部の一例である。更に詳しくは、取得機能４４３は、ＤＡＳ１８を介して、Ｘ線検出器１２から検出データを取得する。検出データは、Ｘ線検出器１２によるＸ線の検出結果であればよい。すなわち、検出データは、対数変換処理やオフセット補正処理、チャンネル間の感度補正処理、ビームハードニング補正等の前処理が実行される前のデータであってもよいし、前処理が実行された後のデータであってもよい。すなわち、検出データは、投影データと呼ばれるデータであってもよい。

また、検出データは、Ｘ線検出器１２の各スロットを介して取得されたデータを、スロットごとに割り当てられた配置で連結することにより形成される。例えば、検出データは、第１スロットに検出データの端に割り当てられ、第２スロットに検出データの端から２番目に割り当てられ、第３スロットに検出データの端から３番目に割り当てられ、第４スロットに検出データの端から４番目に割り当てられている場合、各スロットを介して取得したデータを、割り当てられた配置で連結される。

また、取得機能４４３は、テストモードにおいて、ウェッジ１６ａを介して照射されたＸ線の検出データを取得する。

検出機能４４４は、取得機能４４３により取得された検出データに基づいて、検出モジュールの配線の誤りを検出する。検出機能４４４は、検出部の一例である。図３は、配線が正しい場合の検出データの一例を示す図である。図４は、配線が誤っている場合の検出データの一例を示す図である。

ここで、ウェッジ１６ａは、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の一方の端から他方の端に向かうに従い、より減弱したＸ線を透過させる。すなわち、ウェッジ１６ａは、Ｘ線管１１とＸ線検出器１２との間に配置され、Ｘ線検出器１２に並べられた検出モジュールのチャンネル方向に応じて異なる出力となるＸ線を透過させる。したがって、検出モジュールが正しく配線されている場合、図３に示すように、Ｘ線検出器１２の出力は、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の一方の端から他方の端に向かうに従い低くなる。

言い換えると、Ｘ線検出器１２の出力は、Ｘ線検出器１２の隣接する検出モジュール間で連続性を有する。一方、検出モジュールが誤って配線されている場合、図４に示すように、Ｘ線検出器１２の出力は、急激に低くなったり、急激に高くなったりする。すなわち、Ｘ線検出器１２の出力は、Ｘ線検出器１２の検出モジュール連続性が無い。

そこで、検出機能４４４は、検出データにおいて、隣接する検出モジュール間でデータの連続性が無い場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。更に詳しくは、検出機能４４４は、検出データにおいて、隣接する検出モジュールで空間的にデータの連続性が無い場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。すなわち、検出機能４４４は、一つの検出データにおいて、検出モジュールのチャンネル方向に応じてＸ線が減弱していない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。

さらに、検出機能４４４は、隣接する検出モジュールで、データの連続性が無いチャンネルの検出モジュールと、スロットとの配線が誤っていると判定する。なお、検出機能４４４は、データの連続性に限らず、期待値と比較することにより検出モジュールの配線の誤りを検出してもよいし、他の方法により検出モジュールの配線の誤りを検出してもよい。

通知機能４４５は、検出モジュールの配線の誤りを通知する。例えば、通知機能４４５は、検出モジュールの配線の誤りが検出された場合に、誤っている配線を通知する。通知機能４４５は、通知部の一例である。

例えば、通知機能４４５は、ディスプレイ４２に表示することで通知する。更に詳しくは、通知機能４４５は、検出機能４４４により検出結果に基づいて、何れの検出モジュールとスロットとの配線が誤っているのかを通知する。また、通知機能４４５は、検出機能４４４により検出結果に基づいて、正しい配線の検出モジュールとスロットとを表示してもよい。なお、通知機能４４５は、ディスプレイ４２の表示に限らず、音声により通知してもよいし、他の装置に送信することにより通知してもよいし、他の方法により通知してもよい。これにより、操作者は、検出モジュールの配線に誤りがあることを把握することができる。したがって、操作者は、適切な処置を施すことができる。

変更機能４４６は、検出モジュールの配線に誤りが検出された場合に、誤って配線されたスロットに割り当てられているデータの配置の設定を、配線に応じたデータの配置の設定に変更する。

例えば、第１スロットに検出データの端が割り当てられ、第２スロットに検出データの端から２番目が割り当てられ、第３スロットに検出データの端から３番目が割り当てられ、第４スロットに検出データの端から４番目が割り当てられることが設定されているとする。この場合に、第２スロットに端から４番目に配置された検出モジュールが配線され、第４スロットに端から２番目に配置された検出モジュールが配線されると、検出データは、端から２番目のデータと、端から４番目のデータとが入れ替わってしまう。変更機能４４６は、第２スロットに検出データの端から４番目を割り当て、第４スロットに検出データの端から２番目を割り当てる設定に変更する。これにより、検出データは、端から２番目のデータと、端から４番目のデータとの入れ替わりが解消される。よって、Ｘ線ＣＴ装置１は、検出モジュールの配線を修正することなく、正しい検出データを取得することができる。

例えば、変更機能４４６は、検出データにおいて、隣接する検出モジュール間でデータの連続性を有するように、データの配置の設定を変更する。すなわち、変更機能４４６は、図４に示す複数の検出モジュールの各チャンネル間のＸ線検出器１２の出力が、図３に示すようにデータの連続性を有するように、データの配置の設定を変更する。なお、変更機能４４６は、操作者の操作に基づいて、データの配置の設定を変更してもよい。

次に、Ｘ線ＣＴ装置１が実行する配線テスト処理について説明する。

図５は、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１が実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。

操作機能４４１は、テストモードに変更し、テストを開始させる操作を受け付ける（ステップＳ１）。

テストモード機能４４２は、テスト用のウェッジ１６ａに変更する（ステップＳ２）。

テストモード機能４４２は、テスト用のウェッジ１６ａを介したスキャンを実行させる（ステップＳ３）。すなわち、テストモード機能４４２は、Ｘ線管１１にＸ線を照射させ、Ｘ線検出器１２に照射されたＸ線を検出させる。

取得機能４４３は、ウェッジ１６ａを透過したＸ線の検出データを取得する（ステップＳ４）。

検出機能４４４は、検出データに基づいて、検出モジュールの配線の誤りが検出されたか否かを判定する（ステップＳ５）。検出モジュールの配線の誤りが検出されない場合に（ステップＳ５；Ｙｅｓ）、Ｘ線ＣＴ装置１は、配線テスト処理を終了する。

検出モジュールの配線の誤りが検出された場合に（ステップＳ５；Ｎｏ）、通知機能４４５は、検出モジュールの配線の誤りを通知する（ステップＳ６）。

以上により、Ｘ線ＣＴ装置１は、配線テスト処理を終了する。

以上のように、第１の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１は、テストモードにおいて、ウェッジ１６ａを介してＸ線を照射する。また、Ｘ線ＣＴ装置１は、ウェッジ１６ａを介して照射されたＸ線の検出結果である検出データを取得する。そして、Ｘ線ＣＴ装置１は、ウェッジ１６ａによるＸ線の減弱に応じた検出データであるか否かに基づいて、検出モジュールの配線の誤りを検出する。よって、Ｘ線ＣＴ装置１は、検出モジュールが正しく配線されているか否かの確認を支援することができる。

また、ウェッジ１６ａは、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の一方の端から他方の端に向かうに従い、より減弱したＸ線を透過させる。これにより、検出モジュールの配線が正しい場合、検出データは、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の一方の端から他方の端に向かうに従い、Ｘ線検出器１２の出力は低くなる。言い換えると、検出データは、検出モジュールの配線が正しい場合に連続性を有し、検出モジュールの配線に誤りがある場合に連続性が無い。したがって、Ｘ線ＣＴ装置１は、検出データに連続性があるか否かにより、検出モジュールが正しく配線されているか否かを判定することができる。この場合に、Ｘ線ＣＴ装置１は、検出データを比較する比較対象のデータが無くても、検出モジュールが正しく配線されているか否かを判定することができる。

（第２の実施形態）
図６は、第２の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ａの一例を示す図である。

第２の実施形態に係るコンソール装置４０ａの処理回路４４ａは、操作機能４４１、テストモード機能４４２ａ、取得機能４４３ａ、検出機能４４４ａ、通知機能４４５、及び変更機能４４６を有する。

テストモード機能４４２ａは、Ｘ線管１１から照射されたＸ線を減弱させるために、配線検査用のウェッジ１６ａに代えて天板３３を使用する。図７は、第２の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ａが実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。図７に示すように、寝台装置３０の天板３３は、Ｘ線管１１とＸ線検出器１２との間に配置される。

テストモード機能４４２ａは、図７に示す位置にＸ線管１１、天板３３、及びＸ線検出器１２を配置する。すなわち、テストモード機能４４２ａは、Ｘ線管１１により照射されたＸ線が、天板３３を透過して、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端に照射される位置に各部を配置する。テストモード機能４４２ａは、この配置でスキャンを実行する。この場合、天板３３によりＸ線が減弱されるため、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端に対応する検出データの出力は低くなる。

また、テストモード機能４４２ａは、天板３３の位置を移動せずに、Ｘ線管１１とＸ線検出器１２とを僅かに回転させる。例えば、テストモード機能４４２ａは、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端であって、天板３３によりＸ線が遮られていた側の端に配置された検出モジュールの略中央が露出するまで回転させる。すなわち、テストモード機能４４２ａは、検出モジュールの略中央が天板３３により遮られずにＸ線が照射されるまで回転させる。

テストモード機能４４２ａは、回転後に、スキャンを実行する。この場合、略中央が露出した検出モジュールには、天板３３により減弱されていないＸ線が照射される。よって、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端に対応する検出データの出力は高くなる。

また、テストモード機能４４２ａは、略中央が露出した検出モジュールに隣接する検出モジュールの略中央が露出するまでＸ線管１１とＸ線検出器１２とを回転させる。そして、テストモード機能４４２ａは、回転後に、スキャンを実行する。テストモード機能４４２ａは、上述の処理を繰り返し実行する。

取得機能４４３ａは、異なる時間にスキャンされた複数の検出データを取得する。更に詳しくは、取得機能４４３ａは、天板３３の周囲を異なる回転角でスキャンした複数の検出データを取得する。

検出機能４４４ａは、取得機能４４３ａにより取得された複数の検出データに基づいて、検出モジュールの配線の誤りを検出する。すなわち、検出機能４４４ａは、複数の検出データにおいて、隣接する検出モジュール間で時間的にデータの連続性が無い場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。

ここで、検出モジュールが正しく配線されている場合、各検出データは、天板３３によりＸ線が遮られていた側の端に配置された検出モジュールから、Ｘ線検出器１２に配置された検出モジュールの順番で連続して出力が高くなる。一方、検出モジュールが誤って配線されている場合、各検出データは、Ｘ線検出器１２に配置された検出モジュールの順番とは異なる順番で出力が高くなる。

そこで、検出機能４４４ａは、複数の検出データにおいて、天板３３によりＸ線が減弱した領域がＸ線管１１及びＸ線検出器１２の回転角に応じた変化の場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。すなわち、検出機能４４４ａは、取得機能４４３ａにより取得された複数の検出データにデータの連続性が有る場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。

一方、検出機能４４４ａは、複数の検出データにおいて、天板３３によりＸ線が減弱した領域がＸ線管１１及びＸ線検出器１２の回転角に応じた変化ではない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。すなわち、検出機能４４４ａは、取得機能４４３ａにより取得された複数の検出データにデータの連続性が無い場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。

次に、Ｘ線ＣＴ装置１ａが実行する配線テスト処理について説明する。

図８は、第２の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ａが実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。

操作機能４４１は、テストモードに変更し、テストを開始させる操作を受け付ける（ステップＳ１１）。

テストモード機能４４２ａは、Ｘ線管１１及びＸ線検出器１２を回転させ、且つ天板３３を移動させることにより、図７に示す配置にする（ステップＳ１２）。すなわち、テストモード機能４４２ａは、Ｘ線管１１により発生されたＸ線が、天板３３を透過して、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端に照射される位置に各部を配置する。

テストモード機能４４２ａは、スキャンを実行させる（ステップＳ１３）。

テストモード機能４４２ａは、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端の検出モジュールから反対側の端の検出モジュールまでスキャンを実行したか否かを判定する（ステップＳ１４）。

Ｘ線検出器１２の端の検出モジュールまでスキャンを実行していない場合に（ステップＳ１４；Ｎｏ）、テストモード機能４４２ａは、隣接する検出モジュールまで回転させる（ステップＳ１５）。そして、テストモード機能４４２ａは、ステップＳ１２に移行する。

Ｘ線検出器１２の端の検出モジュールまでスキャンを実行した場合に（ステップＳ１４；Ｙｅｓ）、取得機能４４３ａは、繰り返し実行された回転とスキャンとにより生成された複数の検出データを取得する（ステップＳ１６）。

検出機能４４４ａは、取得機能４４３ａにより取得された複数の検出データに基づいて、検出モジュールの配線の誤りが検出されたか否かを判定する（ステップＳ１７）。更に詳しくは、検出機能４４４ａは、取得機能４４３ａにより取得された複数の検出データが、Ｘ線検出器１２に配置された順番で検出した出力が高くなっているか否かを判定する。

検出モジュールの配線の誤りが検出されない場合に（ステップＳ１７；Ｙｅｓ）、Ｘ線ＣＴ装置１ａは、配線テスト処理を終了する。

検出モジュールの配線の誤りが検出された場合に（ステップＳ１７；Ｎｏ）、通知機能４４５は、検出モジュールの配線の誤りを通知する（ステップＳ１８）。

以上により、Ｘ線ＣＴ装置１ａは、配線テスト処理を終了する。

なお、図８に示す配線テスト処理は、スキャンと、隣接する検出モジュールまでの回転とを交互に繰り返す処理となっている。しかしながら、配線テスト処理は、Ｘ線管１１及びＸ線検出器１２が天板３３の周囲を１回転する間、継続してスキャンする処理であってもよい。すなわち、テストモード機能４４２ａは、Ｘ線管１１及びＸ線検出器１２が天板３３の周囲を１回転する間、継続してスキャンしてもよい。この場合、検出機能４４４ａは、取得機能４４３ａにより取得された複数の検出データにデータの連続性が有る場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。すなわち、検出機能４４４ａは、複数の検出データにおいて、サイノグラム上で天板３３が、ビュー方向に連続して写っている場合に検出モジュールの配線は正しいと判定する。

以上のように、第２の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ａは、テストモードにおいて、天板３３が所定の位置に載置された状態でスキャンする。また、Ｘ線ＣＴ装置１ａは、天板３３の周囲を回転しながら各回転角でスキャンした複数の検出データを取得する。そして、Ｘ線ＣＴ装置１ａは、複数の検出データにおいて、天板３３によりＸ線が減弱した領域が回転角に応じた変化ではない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。

また、Ｘ線ＣＴ装置１ａは、Ｘ線管１１から照射されたＸ線を減弱させる部材としてＸ線ＣＴ装置１ａの一部分のである天板３３を使用する。よって、Ｘ線を減弱させる部材を準備する必要がない。

例えば、Ｘ線ＣＴ装置１ａは、天板３３により減弱したＸ線が、検出モジュールが並べられた端から順番に照射されるようにスキャンする。Ｘ線ＣＴ装置１ａは、複数の検出データにおいて、検出モジュールの配線が正しい場合に天板３３によりＸ線が減弱した領域は端から連続し、検出モジュールの配線に誤りがある場合に連続性が無くなる。この場合に、Ｘ線ＣＴ装置１ａは、検出データを比較する比較対象のデータが無くても、検出モジュールが正しく配線されているか否かを判定することができる。

（第３の実施形態）
図９は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｂの一例を示す図である。

第３の実施形態に係るコンソール装置４０ｂの処理回路４４ｂは、操作機能４４１、テストモード機能４４２ｂ、取得機能４４３ｂ、検出機能４４４ｂ、通知機能４４５、及び変更機能４４６を有する。

テストモード機能４４２ｂは、Ｘ線管１１から照射されたＸ線を減弱させるために、天板３３に載置された被写体Ｓを使用する。図１０は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｂが実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。図１０に示すように、検査者は、Ｘ線を減弱させる被写体Ｓを天板３３に載置する。被写体Ｓは、Ｘ線管１１とＸ線検出器１２との間であって、複数の検出素子が列方向に並べられた検出モジュールを横断し、且つ検出モジュールごとに列方向の異なる位置の検出素子が検出するように配置される。

天板３３は、被写体Ｓを載置する場所を示すマークが付加されていてもよい。また、テストモード機能４４２ｂは、被写体Ｓを載置する場所を示す画像を天板３３に投影してもよい。なお、被写体Ｓは、天板３３に限らず、架台装置１０の被検体Ｐが挿入される筒状に形成された開口に載置されてもよいし、専用の台座に載置されてもよい。

テストモード機能４４２ｂは、図１０に示すように被写体Ｓが配置された状態で、スキャンする。

取得機能４４３ｂは、被写体Ｓをスキャンした検出データを取得する。すなわち、取得機能４４３ｂは、Ｘ線管１１とＸ線検出器１２との間であって、複数の検出素子が列方向に並べられた検出モジュールを横断し、且つ検出モジュールごとに列方向の異なる位置の検出素子が検出するように配置された被写体Ｓをスキャンした検出データを取得する。

検出機能４４４ｂは、検出データにおいて、隣接する検出モジュール間で空間的にデータの連続性が無い場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。図１１は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｂが実行する配線誤りの検出方法の一例を示す図である。図１０に示すように天板３３などに被写体Ｓが配置された場合、取得機能４４３ｂは、図１１（ａ）に示す検出データを取得する。

ここで、検出データは、各検出モジュールの検出結果が結合することにより形成される。図１１（ｂ）に示すように、検出機能４４４ｂは、取得機能４４３ｂにより取得された検出データにおいて、各検出モジュールの領域ごとに被写体Ｓの中央がある区画の列方向の位置を検出する。区画は、複数の画素により形成される領域であってもよいし、一つの画素により形成される領域であってもよい。

検出機能４４４ｂは、被写体Ｓのチャンネル方向の略中央がある区画のそれぞれの検出モジュールのチャンネル番号と、列方向の位置を示す番号とを抽出する。そして、検出機能４４４ｂは、区画を列方向の位置を示す番号の順番に整列する。

ここで、正しい配線の場合、検出機能４４４ｂは、区画を列方向の位置を示す番号で整列すると、チャンネル番号は連続した番号の順番に整列する。一方、誤った配線の場合、検出機能４４４ｂは、区画を列方向の位置を示す番号で整列すると、チャンネル番号は不連続な番号の順番に整列する。そこで、検出機能４４４ｂは、区画を列方向の位置を示す番号に並べた場合に、チャンネル番号も連続した順番になっているか否かを判定する。

すなわち、検出機能４４４ｂは、検出データにおいて、被写体Ｓを検出した検出素子を列方向の順番に並べた配列で、検出モジュールのチャンネルの番号が連続している場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出しない。一方、検出機能４４４ｂは、検出データにおいて、被写体Ｓを検出した検出素子を列方向の順番に並べた配列で、検出モジュールのチャンネルの番号が連続していない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。

なお、検出機能４４４ｂは、被写体Ｓを検出した検出素子を列方向の順番に並べた配列で検出モジュールのチャンネルの番号の順番に限らず、他の方法により検出モジュールの配線の誤りを検出してもよい。図１０に示すように、被写体Ｓは、連続した物体である。そのため、検出データは、検出モジュールの配線が正しい場合、隣接するチェンネル間において、被写体Ｓが含まれる区間の端の周囲に、被写体Ｓが有る。そこで、検出機能４４４ｂは、隣接するチェンネル間において、被写体Ｓを検出した周囲に被写体Ｓが有るか否かに基づいて、検出モジュールの配線の誤りを検出してもよい。

次に、Ｘ線ＣＴ装置１ｂが実行する配線テスト処理について説明する。

図１２は、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｂが実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。

操作機能４４１は、テストモードに変更し、テストを開始させる操作を受け付ける（ステップＳ２１）。

テストモード機能４４２ｂは、被写体Ｓが載置された状態でスキャンを実行させる（ステップＳ２２）。

取得機能４４３ｂは、スキャンにより生成された検出データを取得させる（ステップＳ２３）。すなわち、取得機能４４３ｂは、被写体Ｓが写った検出データを取得する。

検出機能４４４ｂは、取得機能４４３ｂにより取得された検出データにおいて、各検出モジュールの領域ごとに被写体Ｓの中央がある区画の列方向の位置を検出する（ステップＳ２４）。

検出機能４４４ｂは、検出モジュールを示すチャンネルのそれぞれの区画を、列方向の位置を示す番号の順番に整列する（ステップＳ２５）。

検出機能４４４ｂは、整列した区画のチャンネル番号に基づいて、検出モジュールの配線の誤りが検出されたか否かを判定する（ステップＳ２６）。検出機能４４４ｂは、区画を列方向の位置を示す番号の順番に整列した場合に、チャンネル番号が連続した順番で整列されていれば検出モジュールの配線は正しいと判定する。

検出モジュールの配線の誤りが検出されない場合に（ステップＳ２６；Ｙｅｓ）、Ｘ線ＣＴ装置１ｂは、配線テスト処理を終了する。

検出モジュールの配線の誤りが検出された場合に（ステップＳ２６；Ｎｏ）、通知機能４４５は、検出モジュールの配線の誤りを通知する（ステップＳ２７）。

以上により、Ｘ線ＣＴ装置１ｂは、配線テスト処理を終了する。

以上のように、第３の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｂは、テストモードにおいて、被写体Ｓが所定の位置に載置された状態でスキャンする。また、Ｘ線ＣＴ装置１ｂは、被写体Ｓをスキャンした検出データを取得する。そして、Ｘ線ＣＴ装置１ｂは、検出データにおいて、被写体Ｓを検出した検出素子を列方向の順番に並べた配列で、検出モジュールのチャンネルの番号が連続していない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。よって、Ｘ線ＣＴ装置１ｂは、検出モジュールが正しく配線されているか否かの確認を支援することができる。

また、Ｘ線ＣＴ装置１ｂは、検出モジュールのチャンネルの番号が連続しているか否かにより、検出モジュールの配線の誤りを検出する。この場合に、Ｘ線ＣＴ装置１ｂは、検出データを比較する比較対象のデータが無くても、検出モジュールが正しく配線されているか否かを判定することができる。

（第４の実施形態）
図１３は、第４の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｃの一例を示す図である。

第４の実施形態に係るコンソール装置４０ｃの処理回路４４ｃは、操作機能４４１、テストモード機能４４２ｃ、取得機能４４３ｃ、検出機能４４４ｃ、通知機能４４５、及び変更機能４４６を有する。

テストモード機能４４２ｃは、コリメータ１７を制御することで、Ｘ線検出器１２の特定の領域に対してＸ線を照射する。ここで、コリメータ１７は、Ｘ線管１１とＸ線検出器１２との間に配置され、Ｘ線管１１から照射されたＸ線の照射範囲を限定する。例えば、テストモード機能４４２ｃは、Ｘ線の照射範囲を限定することにより、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端にある検出モジュールから内側にある検出モジュールへと順番にスキャンする。検出機能４４４ｃは、スキャンにより取得された検出データに基づいて、正しく配線されているか否かを判定する。

図１４は、第４の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｃが実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。テストモード機能４４２ｃは、コリメータ１７のスリットの間隔、及びコリメータ１７のスリットのＸ方向の位置を制御することにより、Ｘ線検出器１２の特定の領域に対してＸ線を照射する。例えば、テストモード機能４４２ｃは、チャンネル方向の順番で、検出モジュールのそれぞれに対してＸ線を照射する。

取得機能４４３ｃは、異なる時間にスキャンされた複数の検出データを取得する。すなわち、取得機能４４３ｃは、コリメータ１７によりＸ線の照射範囲が異なる複数の検出データを取得する。更に詳しくは、取得機能４４３ｃは、コリメータ１７のスリットがＸ方向の各位置でスキャンされた複数の検出データを取得する。

検出機能４４４ｃは、複数の検出データにおいて、隣接する検出モジュール間で時間的にデータの連続性が無い場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。すなわち、検出機能４４４ｃは、複数の検出データにおいて、照射範囲が連続的に変化していない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。更に詳しくは、検出機能４４４ｃは、テストモード機能４４２ｃにより各検出モジュールにＸ線を照射した順番と、各検出モジュールに対応する領域からＸ線を検出した検出データを取得した順番とが一致するか否かを判定する。

例えば、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端から内側に向けて順番にＸ線を照射した場合を想定する。この場合、検出機能４４４ｃは、取得機能４４３ｃにより１番目に取得した検出データが、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端の検出モジュールに対応する領域からＸ線を検出したことを示しているか否かを判定する。また、検出機能４４４ｃは、取得機能４４３ｃにより２番目に取得した検出データが、Ｘ線検出器１２のチャンネル方向の端から２番目の検出モジュールに対応する領域からＸ線を検出したことを示しているか否かを判定する。

このように、検出機能４４４ｃは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が連続的に変化しているか否かを判定する。すなわち、検出機能４４４ｃは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が端から端へと連続的に変化しているか否かを判定する。

検出機能４４４ｃは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が連続的に変化している場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。すなわち、検出機能４４４ｃは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が端から端へと順番に変化している場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。

一方、検出機能４４４ｃは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が連続的に変化していない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。すなわち、検出機能４４４ｃは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が端から端へと順番に変化していない場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。

なお、検出機能４４４ｃは、順番を比較することにより検出モジュールの配線の誤りを検出してもよい。例えば、検出機能４４４ｃは、検出モジュールにＸ線を照射した順番と、該当の検出モジュールに対応する領域からＸ線を検出した検出データを取得した順番とが一致する場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。一方、検出機能４４４ｃは、検出モジュールにＸ線を照射した順番と、該当の検出モジュールに対応する領域からＸ線を検出した検出データを取得した順番とが一致しない場合に、配線に誤りが有ると判定する。

次に、Ｘ線ＣＴ装置１ｃが実行する配線テスト処理について説明する。

図１５は、第４の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｃが実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。

操作機能４４１は、テストモードに変更し、テストを開始させる操作を受け付ける（ステップＳ３１）。

テストモード機能４４２ｃは、Ｘ線検出器１２の特定の検出モジュールに対してＸ線を照射するスリットをコリメータ１７に形成させる（ステップＳ３２）。

テストモード機能４４２ｃは、スキャンを実行させる（ステップＳ３３）。すなわち、テストモード機能４４２ｃは、Ｘ線管１１から照射されたＸ線に、コリメータ１７のスリットを通過させることで、Ｘ線検出器１２の特定の検出モジュールに対してＸ線を照射する。

テストモード機能４４２ｃは、全ての検出モジュールに対してスキャンを実行したか否かを判定する（ステップＳ３４）。全ての検出モジュールに対してスキャンを実行していない場合に（ステップＳ３４：Ｎｏ）、テストモード機能４４２ｃは、ステップＳ３２に移行する。

全ての検出モジュールに対してスキャンを実行した場合に（ステップＳ３４：Ｙｅｓ）、取得機能４４３ｃは、各検出モジュールに対するスキャンにより生成された複数の検出データを取得させる（ステップＳ３５）。

検出機能４４４ｃは、検出データに基づいて、検出モジュールの配線の誤りが検出されたか否かを判定する（ステップＳ３６）。検出モジュールの配線が検出されない場合に（ステップＳ３６；Ｙｅｓ）、Ｘ線ＣＴ装置１ｃは、配線テスト処理を終了する。

検出モジュールの配線の誤りが検出された場合に（ステップＳ３６；Ｎｏ）、通知機能４４５は、検出モジュールの配線の誤りを通知する（ステップＳ３７）。

以上により、Ｘ線ＣＴ装置１ｃは、配線テスト処理を終了する。

以上のように、第４の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｃは、テストモードにおいて、コリメータ１７によりＸ線の照射範囲を個々の検出モジュールに限定して、検出モジュールを変える度にスキャンする。また、Ｘ線ＣＴ装置１ｃは、照射範囲が異なる複数の検出データを取得する。そして、Ｘ線ＣＴ装置１ｃは、複数の検出データにおいて、Ｘ線を照射した順番に従って照射範囲が連続的に変化していない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。よって、Ｘ線ＣＴ装置１ｃは、検出モジュールが正しく配線されているか否かの確認を支援することができる。

また、Ｘ線ＣＴ装置１ｃは、複数の検出データにおいて、Ｘ線を照射した順番に従って照射範囲が連続的に変化しているか否かにより、検出モジュールの配線の誤りを検出する。この場合に、Ｘ線ＣＴ装置１ｃは、検出データを比較する比較対象のデータが無くても、検出モジュールが正しく配線されているか否かを判定することができる。

（第５の実施形態）
図１６は、第５の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｄの一例を示す図である。

第５の実施形態に係るコンソール装置４０ｄの処理回路４４ｄは、操作機能４４１、テストモード機能４４２ｄ、取得機能４４３ｄ、検出機能４４４ｄ、通知機能４４５、及び変更機能４４６を有する。

テストモード機能４４２ｄは、コリメータ１７を制御することで、Ｘ線が照射されるＸ線検出器１２の領域を段階的に広げる。言い換えると、テストモード機能４４２ｄは、Ｘ線検出器１２のうち、Ｘ線が照射される検出モジュールの数を段階的に多くする。検出機能４４４ｄは、検出データに基づいて、照射と同じようにＸ線が照射された領域が段階的に広がっているか否かを判定することで、正しく配線されているか否かを判定する。

図１７は、第５の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｄが実行するテストモードでのスキャンの一例を示す図である。コリメータ１７は、Ｘ線管１１とＸ線検出器１２との間に配置され、Ｘ線管１１から照射されたＸ線の照射範囲を限定する。テストモード機能４４２ｄは、コリメータ１７のスリットの間隔、及びコリメータ１７のスリットのＸ方向の位置を制御することにより、Ｘ線が照射される検出モジュールの数を段階的に多くする。

更に詳しくは、テストモード機能４４２ｄは、スリットを形成するコリメータ１７の一方をチャンネル方向に移動させる。すなわち、テストモード機能４４２ｄは、コリメータ１７のスリットを広げる。これにより、テストモード機能４４２ｄは、Ｘ線検出器１２のＸ線が照射される領域を、チャンネル方向に段階的に広げる。

具体的には、テストモード機能４４２ｄは、隣接する検出モジュールの略中央にＸ線が照射される間隔になるまでコリメータ１７の一方をチャンネル方向に移動させる。また、テストモード機能４４２ｄは、コリメータ１７を移動させた後にスキャンを実行する。そして、テストモード機能４４２ｄは、Ｘ線検出器１２のチェンネル方向の端にＸ線が照射される間隔になるまで、コリメータ１７の一方をチャンネル方向に移動させる処理と、スキャンとを交互に実行する。

また、テストモード機能４４２ｄは、チャンネル方向の端までコリメータ１７を広げた場合に、広げた側とは反対側を段階的に広げる。具体的には、テストモード機能４４２ｄは、既にＸ線が照射されている検出モジュールと隣接する検出モジュールの略中央にＸ線が照射される間隔になるまでコリメータ１７の一方をチャンネル方向に移動させる。また、テストモード機能４４２ｄは、コリメータ１７を移動させた後にスキャンを実行する。そして、テストモード機能４４２ｄは、Ｘ線検出器１２のチェンネル方向の端にＸ線が照射される間隔になるまで、コリメータ１７の一方をチャンネル方向に移動させる処理と、スキャンとを交互に実行する。これにより、テストモード機能４４２ｄは、Ｘ線検出器１２が有する複数の検出モジュールに対して、１個ずつ順番にスキャンする。

取得機能４４３ｄは、異なる時間にスキャンされた複数の検出データを取得する。すなわち、取得機能４４３ｄは、コリメータ１７によりＸ線の照射範囲が異なる複数の検出データを取得する。更に詳しくは、取得機能４４３ｄは、Ｘ線の照射範囲が段階的に広げられた複数の検出データを取得する。

ここで、テストモード機能４４２ｄは、領域が連続して広がるようにＸ線を照射している。よって、配線に誤りが無い場合、検出データは、Ｘ線を検出した領域が、チャンネル方向に段階的に連続して広がっている。一方、配線に誤りが有る場合、検出データは、Ｘ線を検出した領域の連続性が無くなっている。

そこで、検出機能４４４ｄは、複数の検出データにおいて、隣接する検出モジュール間で時間的にデータの連続性が無い場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。すなわち、検出機能４４４ｄは、各スキャンにより取得した複数の検出データに基づいて、Ｘ線が照射された領域がチャンネル方向に段階的に広がっていることを示しているか否かを判定する。検出機能４４４ｄは、Ｘ線が照射された領域がチャンネル方向に段階的に広がっている場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。すなわち、検出機能４４４ｄは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が連続的に変化している場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。

一方、検出機能４４４ｄは、Ｘ線が照射された領域の広がり方に規則性が無くなっている場合に、配線に誤りが有ると判定する。すなわち、検出機能４４４ｄは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が連続的に変化していない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。

次に、Ｘ線ＣＴ装置１ｄが実行する配線テスト処理について説明する。

図１８は、第５の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｄが実行する配線テスト処理の一例を示すフローチャートである。

操作機能４４１は、テストモードに変更し、テストを開始させる操作を受け付ける（ステップＳ４１）。

テストモード機能４４２ｄは、コリメータ１７を制御して、スリットの幅を変更する（ステップＳ４２）。

テストモード機能４４２ｄは、スキャンを実行させる（ステップＳ４３）。

テストモード機能４４２ｄは、コリメータ１７のスリットを端まで広げてスキャンしたか否かを判定する（ステップＳ４４）。

スリットを端まで広げてスキャンしていない場合に（ステップＳ４４；Ｎｏ）、テストモード機能４４２ｄは、ステップＳ４２に移行して、コリメータ１７のスリットの一方をチャンネル方向に広げる。

スリットを端まで広げてスキャンした場合に（ステップＳ４４；Ｙｅｓ）、テストモード機能４４２ｄは、コリメータ１７のスリットの反対側をチャンネル方向に広げる（ステップＳ４５）。

テストモード機能４４２ｄは、スキャンを実行させる（ステップＳ４６）。

テストモード機能４４２ｄは、コリメータ１７のスリットを端まで広げてスキャンしたか否かを判定する（ステップＳ４７）。

スリットを端まで広げてスキャンしていない場合に（ステップＳ４７；Ｎｏ）、テストモード機能４４２ｄは、ステップＳ４５に移行して、コリメータ１７のスリットの一方をチャンネル方向に広げる。

スリットを端まで広げてスキャンした場合に（ステップＳ４７；Ｙｅｓ）、取得機能４４３ｄは、スキャンにより生成された複数の検出データを取得させる（ステップＳ４８）。

検出機能４４４ｄは、検出データに基づいて、検出モジュールの配線の誤りが検出されたか否かを判定する（ステップＳ４９）。検出モジュールの配線が検出されない場合に（ステップＳ４９；Ｙｅｓ）、Ｘ線ＣＴ装置１ｄは、配線テスト処理を終了する。

検出モジュールの配線の誤りが検出された場合に（ステップＳ４９；Ｎｏ）、通知機能４４５は、検出モジュールの配線の誤りを通知する（ステップＳ５０）。

以上により、Ｘ線ＣＴ装置１ｄは、配線テスト処理を終了する。

なお、図１８に示す配線テスト処理は、スキャンと、隣接する検出モジュールまでの回転とを交互に繰り返す処理となっている。しかしながら、配線テスト処理は、コリメータ１７により形成されるスリットを端まで広げる間、継続してスキャンする処理であってもよい。すなわち、テストモード機能４４２ａは、コリメータ１７により形成されるスリットを端まで広げる間、継続してスキャンしてもよい。この場合、検出機能４４４ｄは、取得機能４４３ｄにより取得された複数の検出データにデータの連続性が有る場合に、検出モジュールの配線は正しいと判定する。すなわち、検出機能４４４ｄは、複数の検出データにおいて、サイノグラム上で、Ｘ線検出器１２の出力が、ビュー方向に連続している場合に検出モジュールの配線は正しいと判定する。

以上のように、第５の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置１ｄは、テストモードにおいて、コリメータ１７によりＸ線の照射範囲を段階的に広げながら、Ｘ線の照射範囲を広げる度にスキャンする。また、Ｘ線ＣＴ装置１ｄは、照射範囲が異なる複数の検出データを取得する。そして、Ｘ線ＣＴ装置１ｄは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が連続的に広がっていない場合に、検出モジュールの配線の誤りを検出する。

また、Ｘ線ＣＴ装置１ｄは、複数の検出データにおいて、Ｘ線の照射範囲が連続的に広がっているか否かにより、検出モジュールの配線の誤りを検出する。この場合に、Ｘ線ＣＴ装置１ｄは、検出データを比較する比較対象のデータが無くても、検出モジュールが正しく配線されているか否かを判定することができる。

（変形例１）
Ｘ線ＣＴ装置１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄは、操作機能４４１、テストモード機能４４２、４４２ａ、４４２ｂ、４４２ｃ、４４２ｄ、取得機能４４３、４４３ａ、４４３ｂ、４４３ｃ、４４３ｄ、検出機能４４４、４４４ａ、４４４ｂ、４４４ｃ、４４４ｄ、通知機能４４５、及び変更機能４４６を備えると説明した。しかしながら、これら機能部の全部又は一部は、Ｘ線ＣＴ装置１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ以外の他の装置が備えていてもよい。この場合、Ｘ線ＣＴ装置１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄは、検出データを他の装置に送信すればよい。

（変形例２）
Ｘ線ＣＴ装置１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄは、メモリ４１に記憶されているプログラムを実行することにより、操作機能４４１、テストモード機能４４２、４４２ａ、４４２ｂ、４４２ｃ、４４２ｄ、取得機能４４３、４４３ａ、４４３ｂ、４４３ｃ、４４３ｄ、検出機能４４４、４４４ａ、４４４ｂ、４４４ｃ、４４４ｄ、通知機能４４５、及び変更機能４４６を実現すると説明した。しかしながら、Ｘ線ＣＴ装置１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄは、操作機能４４１、テストモード機能４４２、４４２ａ、４４２ｂ、４４２ｃ、４４２ｄ、取得機能４４３、４４３ａ、４４３ｂ、４４３ｃ、４４３ｄ、検出機能４４４、４４４ａ、４４４ｂ、４４４ｃ、４４４ｄ、通知機能４４５、及び変更機能４４６の全部又は一部を半導体回路などのハードウェアにより実現してもよい。

以上説明した少なくとも１つの実施形態等によれば、検出モジュールが正しく配線されているか否かの確認を支援することができる。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、実施形態同士の組み合わせを行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ Ｘ線ＣＴ装置
１０ 架台装置
１１ Ｘ線管
１２ Ｘ線検出器
１３ 回転フレーム
１４ Ｘ線高電圧装置
１５ 制御装置
１６、１６ａ ウェッジ
１７ コリメータ
１８ ＤＡＳ（Data Acquisition System）
３０ 寝台装置
３１ 基台
３２ 寝台駆動装置
３３ 天板
３４ 支持フレーム
４０、４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄ コンソール装置
４１ メモリ
４２ ディスプレイ
４３ 入力インターフェース
４４、４４ａ、４４ｂ、４４ｃ、４４ｄ 処理回路
４４１ 操作機能
４４２、４４２ａ、４４２ｂ、４４２ｃ、４４２ｄ テストモード機能
４４３、４４３ａ、４４３ｂ、４４３ｃ、４４３ｄ 取得機能
４４４、４４４ａ、４４４ｂ、４４４ｃ、４４４ｄ 検出機能
４４５ 通知機能
４４６ 変更機能
Ｐ 被検体
Ｓ 被写体

Claims (10)

1. Ｘ線を発生するＸ線管と、
   前記Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する検出モジュールが複数並べて配置され、当該配置ごとに設けられ前記検出モジュールが接続されるスロットと、前記検出モジュールの其々とが配線されたＸ線検出器と、
   前記Ｘ線検出器により検出されたＸ線を示す検出データを取得する取得部と、
   前記検出データに基づいて、前記検出モジュールの配線の誤りを検出する検出部と、
   を備えるＸ線ＣＴ装置。
2. 前記検出部は、前記検出データにおいて、隣接する前記検出モジュール間でデータの連続性が無い場合に、前記配線の誤りを検出する、
   請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
3. 前記取得部は、前記検出データを取得し、
   前記検出部は、前記検出データにおいて、隣接する前記検出モジュール間で空間的にデータの連続性が無い場合に、前記配線の誤りを検出する、
   請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。
4. 前記取得部は、異なる時間にスキャンされた複数の前記検出データを取得し、
   前記検出部は、複数の前記検出データにおいて、隣接する前記検出モジュール間で時間的にデータの連続性が無い場合に、前記配線の誤りを検出する、
   請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。
5. 前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器との間に配置され、前記Ｘ線検出器に並べられた前記検出モジュールのチャンネル方向に応じて異なる出力となるＸ線を透過させるウェッジを更に備え、
   前記検出部は、前記検出データにおいて、前記検出モジュールのチャンネル方向に応じてＸ線が減弱していない場合に、前記配線の誤りを検出する、
   請求項３に記載のＸ線ＣＴ装置。
6. 前記取得部は、前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器との間であって、複数の検出素子が列方向に並べられた前記検出モジュールを横断し、且つ前記検出モジュールごとに前記列方向の異なる位置の検出素子が検出するように配置された被写体をスキャンした前記検出データを取得し、
   前記検出部は、前記検出データにおいて、前記被写体を検出した前記検出素子を前記列方向の順番に並べた配列で、前記検出モジュールのチャンネルの番号が連続していない場合に、前記配線の誤りを検出する、
   請求項３に記載のＸ線ＣＴ装置。
7. 前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器との間に配置された寝台装置の天板を更に備え、
   前記取得部は、前記天板の周囲を異なる回転角でスキャンした複数の前記検出データを取得し、
   前記検出部は、複数の前記検出データにおいて、前記天板によりＸ線が減弱した領域が前記回転角に応じた変化ではない場合に、前記配線の誤りを検出する、
   請求項４に記載のＸ線ＣＴ装置。
8. 前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器との間に配置され、前記Ｘ線管から照射されたＸ線の照射範囲を限定するコリメータを更に備え、
   前記取得部は、前記照射範囲が異なる複数の前記検出データを取得し、
   前記検出部は、複数の前記検出データにおいて、前記照射範囲が連続的に変化していない場合に、前記配線の誤りを検出する、
   請求項４に記載のＸ線ＣＴ装置。
9. 前記配線の誤りが検出された場合に、誤っている前記配線を通知する通知部を更に備える、
   請求項１から８の何れか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
10. Ｘ線を発生するＸ線管と、
    前記Ｘ線管から照射されたＸ線を検出する検出モジュールが複数並べて配置され、当該配置ごとに設けられ前記検出モジュールが接続されるスロットと前記検出モジュールの其々とが配線されたＸ線検出器とを備えるＸ線ＣＴ装置の検査方法であって、
    前記Ｘ線検出器により検出されたＸ線を示す検出データを取得し、
    前記検出データに基づいて、前記検出モジュールの配線の誤りを検出すること、
    を含む検査方法。

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