JP2023530196A - 試料の顕微鏡分析を行うためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
第1の観点によれば、本明細書は、顕微鏡分析経路と、照準経路と、前記分析経路と前記照準経路とを分離するために前記顕微鏡用対物レンズの上流に配置されたビームスプリッタ素子と、前記照準画像を表示し、かつ、前記照準画像上に、前記検出パターンの位置を示す画像要素を表示するように構成された表示モジュールと、を含む、試料の顕微鏡分析用のシステムであって、前記顕微鏡分析経路は、所定の視野で所定の公称開口数の顕微鏡用対物レンズと、第1の照明パターンに従って、かつ、第1のスペクトル帯域で、前記顕微鏡用対物レンズを通して前記試料を照明するように構成された照明経路と、前記顕微鏡用対物レンズを含む検出経路であって、前記視野内で、検出パターンに従って、前記試料の前記照明に応答して前記試料によって放射される光ビームを検出し、検出信号を生成するように構成された前記検出経路と、前記検出信号から前記試料の顕微鏡分析に関する情報を生成するように構成された処理ユニットと、を含み、前記照準経路は、前記顕微鏡用対物レンズと、第2のスペクトル帯域で前記試料を照明するように構成されたフルフィールド照明装置と、二次元検出器と、前記顕微鏡用対物レンズとともに、前記視野を包含する前記試料の所定の有効視野を、前記二次元検出器の検出領域と光学的に共役にして、前記有効視野の表面反射で照準画像を形成するように構成されたフルフィールドイメージング装置を形成する1つ以上のイメージング素子と、を含む、システムに関連する。
1つ以上の例示的な実施形態によれば、第1の態様による試料の分析方法は、
顕微鏡分析経路を照明することなく、試料の照準画像を形成する第1の工程と、
試料の照準画像における着目分析ゾーンの検出と、
前記着目ゾーンにおける前記試料の顕微鏡分析と、を含む。
装置では、焦点を調整することも可能である。これによって、顕微鏡分析経路が試料の深部に画像を形成するように構成されている場合(例えば図1Bに示すようなOCMイメージングの場合)であっても、試料の表面反射において照準画像を形成することが可能となる。
参考文献
Claims (20)
- 顕微鏡分析経路(140)と、
照準経路(150)と、
前記分析経路と前記照準経路とを分離するために前記顕微鏡用対物レンズの上流に配置されたビームスプリッタ素子(145)と、
前記照準画像を表示し、かつ、前記照準画像上に、前記検出パターンの位置を示す画像要素(530)を表示するように構成された表示モジュール(170)と、
を含む、試料(S)の顕微鏡分析用のシステム(101~103)であって、
前記顕微鏡分析経路(140)は、
所定の視野(401)で所定の公称開口数(NA)の顕微鏡用対物レンズ(110)と、
第1の照明パターンに従って、かつ、第1のスペクトル帯域で、前記顕微鏡用対物レンズを通して前記試料を照明するように構成された照明経路(120)と、
前記顕微鏡用対物レンズを含む検出経路(130)であって、前記視野内で、検出パターン(431~433)に従って、前記試料の前記照明に応答して前記試料によって放射される光ビームを検出し、検出信号を生成するように構成された前記検出経路(130)と、
前記検出信号から前記試料の顕微鏡分析に関する情報を生成するように構成された処理ユニット(160)と、を含み、
前記照準経路(150)は、
前記顕微鏡用対物レンズ(110)と、
第2のスペクトル帯域で前記試料を照明するように構成されたフルフィールド照明装置(158)と、
二次元検出器(155)と、
前記顕微鏡用対物レンズ(110)とともに、前記視野を包含する前記試料の所定の有効視野を、前記二次元検出器(155)の検出領域(156)と光学的に共役にして、前記有効視野の表面反射で照準画像を形成するように構成されたフルフィールドイメージング装置(250)を形成する1つ以上のイメージング素子(251~253)と、
を含む、システム。 - 前記フルフィールドイメージング装置は、前記顕微鏡用対物レンズの物体空間において、開口数が前記顕微鏡用対物レンズの公称開口数未満である、請求項1に記載の試料分析システム。
- 前記照準経路は、前記フルフィールドイメージング装置の前記開口数を制限するための絞り(255)をさらに含む、請求項2に記載の試料分析システム。
- 前記照準経路の前記フルフィールドイメージング装置は、焦点の調整が可能なものである、請求項1~3のいずれか1項に記載の試料分析システム。
- 前記照準経路の前記フルフィールド照明装置は、前記顕微鏡用対物レンズの遠位面の周囲に配置された複数の光源(158)を含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の試料分析システム。
- 前記第2のスペクトル帯域は、前記第1のスペクトル帯域と少なくとも部分的に異なり、前記照準経路は、少なくとも前記第1のスペクトル帯域において光パワーを減少させるための手段を含む、請求項1~5のいずれか1項に記載の試料分析システム。
- 前記第2のスペクトル帯域は、前記第1のスペクトル帯域と少なくとも部分的に異なり、前記ビームスプリッタ素子は、前記第1のスペクトル帯域および前記第2のスペクトル帯域のそれぞれにおいてビームを分割するように構成されたダイクロイック素子を含む、請求項1~6のいずれか1項に記載の試料分析システム。
- 前記検出パターンの位置を示す前記画像要素は、事前の較正によって決定された図形要素を含む、請求項1~7のいずれか1項に記載の試料分析システム。
- 前記顕微鏡分析経路は、共焦点イメージング経路および/または光コヒーレンストモグラフィイメージング経路であり、前記試料の顕微鏡分析に関する前記情報は、前記試料の少なくとも1つの画像を含む、請求項1~8のいずれか1項に記載の試料分析システム。
- 前記顕微鏡分析経路は分光分析経路であり、前記試料の顕微鏡分析に関する前記情報は、前記試料の少なくとも1つの点で前記試料によって放射される前記光ビームの少なくとも1つのスペクトルを含む、請求項1~8のいずれか1項に記載の試料分析システム。
- 試料(S)を分析するための方法であって、
所定の視野(401)で所定の公称開口数(NA)の顕微鏡用対物レンズ(110)を含む顕微鏡分析経路によって前記試料の顕微鏡分析を実施し、
前記顕微鏡用対物レンズと、二次元検出器(155)と、前記顕微鏡用対物レンズとともにフルフィールドイメージング装置(250)を形成するように構成された1つ以上のイメージング素子と、を含む照準経路(150)によって、前記視野を包含する前記試料の所定の有効視野の表面反射で照準画像を形成し、
前記照準画像を表示するとともに、前記照準画像上に、前記検出パターンの位置を示す画像要素(530)を表示することを含み、
前記顕微鏡分析は、
第1の所定の照明パターン(431~433)に従って、かつ、第1のスペクトル帯域で、前記顕微鏡用対物レンズを通して前記試料を照明し、
検出信号を形成するために、前記視野内で、かつ、検出パターンに従って、前記試料の前記照明に応答して前記試料によって放射された光ビームを検出し、
前記試料の顕微鏡分析に関する情報を生成するために、前記検出信号を処理することを含み、
前記照準画像の形成は、
第2のスペクトル帯域での前記試料のフルフィールド照明と、
前記照準画像を形成するために、前記フルフィールドイメージング装置によって、前記試料の有効視野と前記二次元検出器(155)の検出領域(156)とを光学的に共役させることと、
を含む、方法。 - 前記試料の前記顕微鏡分析と照準画像の前記形成とを連続して行う、請求項11に記載の試料分析方法。
- 前記顕微鏡分析経路を照明することなく、前記試料の照準画像を形成する第1の工程と、
前記試料の前記照準画像における着目分析ゾーンの前記検出と、
前記着目ゾーンにおける前記試料の前記顕微鏡分析と、
を含む、請求項11に記載の試料分析方法。 - 前記試料の前記顕微鏡分析時、前記照準経路の前記照明をオフにする、請求項13に記載の試料分析方法。
- 前記試料の前記顕微鏡分析は、前記試料の共焦点イメージングおよび/または光コヒーレンストモグラフィイメージングを含む、請求項11~14のいずれか1項に記載の試料分析方法。
- 前記試料の前記顕微鏡分析は、所定のイメージング速度でBスキャン画像を形成することを含み、前記イメージング速度は、前記照準画像の取得速度と同期している、請求項15に記載の試料分析方法。
- 前記試料の前記顕微鏡分析は、前記試料の分光分析を含む、請求項11~14のいずれか1項に記載の試料分析方法。
- 前記画像要素について、前記検出パターンの位置を示す図形要素を決定することを可能にする事前の較正工程を含む、請求項11~17のいずれか1項に記載の試料分析方法。
- 前記照準画像の前記画像要素に重ねてマーカー(640、740)を表示することをさらに含み、前記マーカーは、ユーザが前記検出パターンにおいて着目点をターゲットにできるようにする、請求項11~18のいずれか1項に記載の試料分析方法。
- 前記試料は、例えば皮膚などの生体組織である、請求項11~19のいずれか1項に記載の試料分析方法。
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