JP2023500752A - 光学式粒子分析計のための較正検証 - Google Patents
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Abstract
Description
調子の良い(healthy)EMRの源102
調子の良いチャンバ106
調子の良い光学アセンブリ112
調子の良い集光システム120
調子の良い検出器118
調子の良い増幅回路132
を示す。一実施形態では、以前に決定され、最後の較正の時間において又はその頃に貯蔵されるピーク510振幅値よりも小さい、分析するステップ208において決定されるピーク510の振幅の値は、
場合によっては不安定な又は故障したEMRの源102
場合によっては汚染された、位置合わせが不良な、又は故障した光学アセンブリ112
場合によっては汚染された又は故障した集光システム120
場合によっては汚染された又は故障した検出器118
場合によっては故障した増幅回路132
のうちの少なくとも1つを示す。一実施形態では、以前に決定され、最後の較正の時間において又はその頃に貯蔵されるピーク510振幅値よりも大きい、分析するステップ208において決定されるピーク510の振幅の値は、
場合によっては位置合わせが不良な光学アセンブリ112
場合によっては故障した増幅回路132
のうちの少なくとも1つを示す。
実施例1:チェックパルス有効性検査
実施例2:調整前較正結果を通過させることを維持するための許可されたLASAIR-IV信号損失の調査
実施例3:検出器ボード低速、チェックパルス、ピークホールドADC回路の説明
実施例4:低速、チェックパルス、ピークホールドADC回路に関するタイミングの考慮事項
実施例5:検出器ボード低速、チェックパルス、ピークホールドADC回路に対する周囲空気粒子影響
実施例6:計器周波数スペクトル
Claims (53)
- 粒子とは無関係に光学式粒子分析計の較正ステータスを決定するための方法であって、
電磁放射のビームを生成するための前記電磁放射の源と、
サンプル媒体を含むため、及び前記電磁放射のビームを受けるためのチャンバと、
前記電磁放射のビームを前記チャンバから向ける/前記チャンバに向けるために前記電磁放射の源と光学的に連絡する光学アセンブリと、
前記電磁放射のビームからの散乱放射を検出するための検出器と、
前記電磁放射のビームからの前記散乱放射を前記チャンバから及び前記検出器に向けるための集光システムと、
を含む光学式粒子分析計を用意するステップと、
前記電磁放射の源に印加されたパワーを変調するステップと、
前記変調するステップに応答して、低周波数時間領域を有する検出器信号波形を誘導するステップと、
前記検出器信号波形を分析して、前記電磁放射の源、前記光学アセンブリ、前記チャンバ、前記検出器、及び前記集光システムのうちの1つ又は複数と関連づけられた少なくとも1つの診断パラメータの値を決定するステップと、
前記少なくとも1つの診断パラメータの前記1つ又は複数の決定された値に基づいて前記光学式粒子分析計の前記較正ステータスを決定するステップと、
を含み、
前記光学式粒子分析計内に存在する1つ又は複数の粒子に関して、及び前記電磁放射の源に印加された前記パワーを変調する前記ステップに応答して、前記低周波数時間領域よりも高い中間周波数時間領域を有する粒子検出信号が生成され、以って、前記検出器信号の前記低周波数時間領域と前記粒子検出信号の前記中間周波数時間領域との間の望ましくない干渉を回避し、
以って、粒子とは無関係に光学式粒子分析計の前記較正ステータスを決定する、方法。 - 前記電磁放射の源がレーザである、請求項1に記載の方法。
- 高周波数時間領域レーザ面駆動電流周波数を印加し、高周波数時間領域で前記レーザに印加された電流を変調して、空間モードホッピングを防止するステップ
をさらに含み、
前記高周波数時間領域が、前記中間周波数時間領域よりも高い周波数であり、前記中間周波数時間領域又は前記低周波数時間領域のいずれとも干渉しない、
請求項2に記載の方法。 - 前記高周波数時間領域が、100MHzよりも大きい又はこれに等しく、約249MHzを含み、
前記中間周波数時間領域が、1kHz/7kHz~200MHzである範囲から選択され、及び/又は
前記低周波数時間領域範囲が、500Hzよりも小さい又はこれに等しい、
請求項1~3のいずれか一項に記載の方法。 - 前記光学式粒子分析計内の前記1つ又は複数の粒子が、前記分析計の残留汚染から、及び/又は前記較正ステータスを決定する前記ステップと同時に前記光学式粒子分析計によって分析されているサンプル内の粒子からである、請求項1~4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記較正ステータスが、前記電磁放射のビームと相互作用する粒子の存在下で決定される、請求項1に記載の方法。
- 低帯域フィルタ及び高帯域フィルタを用いて粒子検出システムをフィルタ処理して、前記中間周波数時間領域を取得するステップをさらに含む、請求項1~6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記チャンバがフローチャンバを備える、請求項1~7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記サンプル媒体が流体であり、方法が、変調する前記ステップ中に前記流体を前記フローチャンバに流すステップをさらに含む、請求項1~8のいずれか一項に記載の方法。
- 流す前記ステップが、前記フローチャンバの上流で前記流体をフィルタ処理するステップを含む、請求項9に記載の方法。
- 前記サンプル媒体が粒子を含む、請求項1~10のいずれか一項に記載の方法。
- 変調する前記ステップが、前記電磁放射の源に印加された前記パワーを第1のパワーレベルから第2のパワーレベルに切り換えるステップをさらに含む、請求項1~11のいずれか一項に記載の方法。
- 切り換える前記ステップが、周波数と、デューティサイクルと、前記第1のパワーレベルに対応する第1のスイッチング振幅と、前記第2のパワーレベルに対応する第2のスイッチング振幅とを有するスイッチング波形に従って前記電磁放射の源に印加された前記パワーを切り換えるステップをさらに含む、請求項12に記載の方法。
- 1ms~1sの範囲に対して選択された時間にわたって第2のパワーレベルで前記電磁放射の源に印加された前記パワーを維持するステップをさらに含む、請求項1~13のいずれか一項に記載の方法。
- 誘導する前記ステップが、
前記検出器によって、前記電磁放射の源に印加された第1のパワーレベルに対応する第1の放射パワーレベルで前記電磁放射のビーム又は前記レーザビームから前記散乱放射を第1に受けるステップと、
前記検出器によって、前記電磁放射の源に印加された第2のパワーレベルに対応する第2の放射パワーレベルで前記電磁放射のビーム又は前記レーザビームから前記散乱放射を第2に受けるステップと、
を含み、
前記検出器信号波形が、
立ち上がり縁と、
第1の信号振幅と、
第2の信号振幅と、
を有する、請求項1~14のいずれか一項に記載の方法。 - 前記検出器信号波形の前記立ち上がり縁が、立ち上がり縁関数によって定められる、請求項15に記載の方法。
- 前記光学式粒子分析計が、誘導する前記ステップに応答して検出器信号を増幅するための、前記検出器に動作可能に接続された増幅回路をさらに含み、第2の受ける前記ステップが、前記第1の放射パワーレベル及び前記第2の放射パワーレベルにそれぞれ対応する第1の状態から第2の状態に前記増幅回路の通電状態を変更するステップを含む、請求項15又は16に記載の方法。
- 前記検出器信号波形の前記立ち上がり縁が、前記第1の状態から前記第2の状態への前記増幅回路の前記通電状態の前記変更に対応する、請求項17に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの診断パラメータが前記増幅回路とさらに関連づけられる、請求項17又は18に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの診断パラメータが、前記第1の信号振幅の値と前記第2の信号振幅値の値との差の値として定められた検出器信号波形ピーク振幅を含み、分析する前記ステップが、
前記第1の信号振幅の前記値と、
前記第2の信号振幅の前記値と、
前記第1の振幅値と前記第2の振幅値との前記差の前記値、
を決定するステップをさらに含む、請求項15~19のいずれか一項に記載の方法。 - 前記光学式粒子分析計が、誘導する前記ステップに応答して検出器信号を増幅するための、前記検出器に動作可能に接続された増幅回路をさらに含み、前記検出器信号波形ピーク振幅が、前記電磁放射の源、前記チャンバ、前記光学アセンブリ、前記集光システム、前記検出器、及び前記増幅回路の動作条件と関連づけられる、請求項20に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの診断パラメータが前記立ち上がり縁のための経過時間を含み、分析する前記ステップが、前記立ち上がり縁のための前記経過時間を決定するステップを含む、請求項15~21のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光学式粒子分析計が前記電磁放射の源のための駆動回路をさらに含み、前記立ち上がり縁のための前記経過時間が前記駆動回路の動作条件と関連づけられる、請求項22に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの診断パラメータが前記立ち上がり縁関数を含み、分析する前記ステップが、前記立ち上がり縁の前記立ち上がり縁関数を決定するステップを含む、請求項16に記載の方法。
- 前記立ち上がり縁関数が、前記光学式粒子分析計の前記電磁放射の源、前記光学アセンブリ、前記チャンバ、前記検出器、及び前記集光システムの動作条件と関連づけられる、請求項24に記載の方法。
- 決定する前記ステップが、前記少なくとも1つの診断パラメータの前記1つ又は複数の決定された値を、前記光学式粒子分析計の以前の較正で決定されたそれぞれの較正パラメータのうちの少なくとも1つの対応する値と比較するステップをさらに含む、請求項1~25のいずれか一項に記載の方法。
- 比較する前記ステップが、前記少なくとも1つの診断パラメータの前記1つ又は複数の決定された値と前記以前の較正で決定された各それぞれの較正パラメータの前記対応する値との差を決定するステップを含む、請求項26に記載の方法。
- 前記較正ステータスを決定する前記ステップが、前記決定された差に基づいて前記光学式粒子分析計の前記較正ステータスを決定するステップを含む、請求項27に記載の方法。
- 電磁放射のビームを生成するための前記電磁放射の源と、
サンプル媒体を含むため、及び前記電磁放射のビームを受けるためのチャンバと、
前記電磁放射のビームを前記電磁放射の源から前記チャンバに向けるために前記電磁放射の源と光学的に連絡する光学アセンブリと、
前記電磁放射のビームからの散乱放射を検出するための検出器と、
前記電磁放射のビームからの散乱放射を前記チャンバから前記検出器に向けるための集光システムと、
前記電磁放射の源及び前記検出器に動作可能に接続されたプロセッサであって、
前記電磁放射の源に印加されたパワーを第1のパワーレベルから第2のパワーレベルに変調し、
低周波数時間領域で前記電磁放射の源に印加された前記パワーの前記変調によって誘導された散乱放射検出器信号波形を分析し、
前記電磁放射の源、前記チャンバ、前記光学アセンブリ、前記検出器、及び前記集光システムのうちの1つ又は複数と関連づけられた前記散乱放射検出器信号波形から少なくとも1つの診断パラメータの値を決定し、前記少なくとも1つの診断パラメータの前記1つ又は複数の決定された値に基づいて前記光学式粒子分析計の較正ステータスを決定する
ようにプログラムされるプロセッサと、
を備え、
前記光学式粒子分析計内に存在する1つ又は複数の粒子に関して、及び前記変調に応答して、前記低周波数時間領域よりも高い中間周波数時間領域を有する前記パワー粒子検出信号が生成され、以って、前記決定された診断パラメータのステータスが前記チャンバ内での粒子の存在又は不在とは無関係であるように前記低周波数時間領域と前記中間周波数時間領域との望ましくない干渉を回避する、
光学式粒子分析計。 - 前記中間周波数時間領域を取得するために各々が前記検出器に電子的に接続された低帯域フィルタと高帯域フィルタとをさらに備える、請求項29に記載の光学式粒子分析計。
- 前記チャンバがフローチャンバを備える、請求項29又は30に記載の光学式粒子分析計。
- 前記サンプル媒体が流体であり、前記光学式粒子分析計が、前記流体を前記フローチャンバに通すためのフローシステムをさらに備える、請求項29~31のいずれか一項に記載の光学式粒子分析計。
- 前記フローチャンバの上流で前記流体をフィルタ処理するためのフィルタをさらに備える、請求項32に記載の光学式粒子分析計。
- 前記サンプル媒体が粒子を含む、請求項29~33のいずれか一項に記載の光学式粒子分析計。
- 前記電磁放射の源に印加された前記パワーを変調するために、前記プロセッサが、前記電磁放射の源に印加された前記パワーを第1のパワーレベルから第2のパワーレベルに切り換えるようにさらにプログラムされる、請求項29~34のいずれか一項に記載の光学式粒子分析計。
- 前記電磁放射の源に印加された前記パワーを切り換えるために、前記プロセッサが、周波数と、デューティサイクルと、前記第1のパワーレベルに対応する第1のスイッチング振幅と、前記第2のパワーレベルに対応する第2のスイッチング振幅とを有するスイッチング波形に従って前記電磁放射の源に印加された前記パワーを切り換えるようにさらにプログラムされる、請求項35に記載の光学式粒子分析計。
- 前記プロセッサが、1ms~1sの範囲に対して選択された時間にわたって第2のパワーレベルで前記電磁放射の源に印加された前記パワーを維持するようにさらにプログラムされる、請求項29~36のいずれか一項に記載の光学式粒子分析計。
- 前記電磁放射の源に印加された前記パワーの前記変調によって誘導された前記散乱放射検出器信号波形に応答して、前記プロセッサが、
前記検出器から第1の検出器信号を第1に受け、前記第1の検出器信号が、前記電磁放射の源に印加された前記第1のパワーレベルに対応する第1の放射パワーレベルにおける前記電磁放射のビームからの散乱放射を表し、
前記検出器から第2の検出器信号を第2に受け、前記第2の検出器信号が、前記電磁放射の源に印加された前記第2のパワーレベルに対応する第2の放射パワーレベルにおける前記電磁放射のビームからの散乱放射を表す、
ようにさらにプログラムされ、
前記散乱放射検出器信号波形が、
立ち上がり縁と、
第1の信号振幅と、
第2の信号振幅と、
を有する、請求項29~37のいずれか一項に記載の光学式粒子分析計。 - 前記散乱放射検出器信号波形の前記立ち上がり縁が立ち上がり縁関数によって定められる、請求項38に記載の光学式粒子分析計。
- 前記プロセッサによる受領の前に前記第1の検出器信号及び前記第2の検出器信号を増幅するための、前記検出器に動作可能に接続された増幅回路をさらに備え、前記電磁放射の源に印加された前記パワーの前記変調に応答して、前記増幅回路の通電状態が、それぞれ前記第1の放射パワーレベル及び前記第2の放射パワーレベルに対応する第1の状態から第2の状態に変更する、請求項38又は39に記載の光学式粒子分析計。
- 前記散乱放射検出器信号波形の前記立ち上がり縁が、前記第1の状態から前記第2の状態への前記増幅回路の前記通電状態の前記変更に対応する、請求項40に記載の光学式粒子分析計。
- 前記少なくとも1つの診断パラメータが前記増幅回路とさらに関連づけられる、請求項40又は41に記載の光学式粒子分析計。
- 前記少なくとも1つの診断パラメータが、前記第1の信号振幅の値と前記第2の信号振幅値の値との差の値として定められた散乱放射検出器信号波形ピーク振幅を含み、前記電磁放射の源に印加された前記パワーの前記変調によって誘導される前記散乱放射検出器信号波形を分析するために、前記プロセッサが、
前記第1の信号振幅の前記値と、
前記第2の信号振幅の前記値と、
前記第1の振幅値と前記第2の振幅値との前記差の前記値、
を決定するようにさらにプログラムされる、請求項38~42のいずれか一項に記載の光学式粒子分析計。 - 前記プロセッサによる受領の前に前記第1の検出器信号及び前記第2の検出器信号を増幅するための、前記検出器に動作可能に接続された増幅回路をさらに備え、前記散乱放射検出器信号波形ピーク振幅が、前記電磁放射の源、前記チャンバ、前記光学アセンブリ、前記集光システム、前記検出器、及び前記増幅回路の動作条件と関連づけられる、請求項43に記載の光学式粒子分析計。
- 前記少なくとも1つの診断パラメータが前記立ち上がり縁のための経過時間を含み、前記電磁放射の源に印加された前記パワーの前記変調によって誘導される前記散乱放射検出器信号波形を分析するために、前記プロセッサが、前記立ち上がり縁のための前記経過時間を決定するようにさらにプログラムされる、請求項38~44のいずれか一項に記載の光学式粒子分析計。
- 前記電磁放射の源のための駆動回路をさらに備え、前記立ち上がり縁のための前記経過時間が前記駆動回路の動作条件と関連づけられる、請求項45に記載の光学式粒子分析計。
- 前記少なくとも1つの診断パラメータが前記立ち上がり縁関数を含み、前記電磁放射の源に印加された前記パワーの前記変調によって誘導される前記散乱放射検出器信号波形を分析するために、前記プロセッサが、前記立ち上がり縁の前記立ち上がり縁関数を決定するようにさらにプログラムされる、請求項39に記載の光学式粒子分析計。
- 前記立ち上がり縁関数が、前記光学式粒子分析計の前記電磁放射の源、前記光学アセンブリ、前記チャンバ、前記検出器、及び前記集光システムの動作条件と関連づけられる、請求項47に記載の光学式粒子分析計。
- 少なくとも1つの診断パラメータの前記値を決定するために、前記プロセッサが、前記少なくとも1つの診断パラメータの前記1つ又は複数の決定された値を、前記光学式粒子分析計の以前の較正で決定されたそれぞれの較正パラメータのうちの少なくとも1つの対応する値と比較するようにさらにプログラムされる、請求項29~48のいずれか一項に記載の光学式粒子分析計。
- 前記少なくとも1つの診断パラメータの前記1つ又は複数の決定された値を前記光学式粒子分析計の前記以前の較正で決定された前記それぞれの較正パラメータのうちの少なくとも1つの前記対応する値と比較するために、前記プロセッサが、前記少なくとも1つの診断パラメータの前記1つ又は複数の決定された値と前記以前の較正で決定された各それぞれの較正パラメータの前記対応する値との差を決定するようにさらにプログラムされる、請求項49に記載の光学式粒子分析計。
- 前記プロセッサが、前記決定された差に基づいて前記光学式粒子分析計の前記較正ステータスを決定するようにさらにプログラムされる、請求項50に記載の光学式粒子分析計。
- 前記電磁放射の源が、レーザ、ダイオードレーザ、ストリップダイオードレーザ、発光ダイオード、及び白熱電球のうちの少なくとも1つを含む、請求項29に記載の光学式粒子分析計。
- 前記電磁放射の源がレーザであり、少なくとも1つの診断パラメータが、
第1のパワーレベルでの前記印加されたパワーを有する前記レーザから前記第1の放射パワーレベルで前記レーザビームから前記検出器によって検出された前記散乱放射と
第2のパワーレベルでの前記印加されたパワーを有する前記レーザから前記第2の放射パワーレベルで前記レーザビームから前記検出器によって検出された前記散乱放射との
検出器信号振幅の差に対応する前記散乱放射検出器信号波形のピークの振幅を含む、請求項29に記載の光学式粒子分析計。
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