JP2023181975A - Control device, program, and control method - Google Patents

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仁志 竹内
Hitoshi Takeuchi
光彦 宮崎
Mitsuhiko Miyazaki
憲二 松崎
Kenji Matsuzaki
健太 中村
Kenta Nakamura
巧知 寺岡
Yoshitomo Teraoka
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Hakko Corp
Hakko Co Ltd
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Abstract

To obtain a control device capable of suppressing overshooting without deteriorating the performance of a solder processing device.SOLUTION: A control device includes: an acquisition part for acquiring a detection value of temperature detected by a detection part; a specification part for specifying a temperature change trend of a solder processing part, on the basis of history information of the detection value acquired by the acquisition part; a setting part for setting a number of heating pulses to be applied to a heating part, by correcting a reference value using a correction value; a control part for controlling application of the heating pulses to the heating part, on the basis of a setting result of the number of heating pulses according to the setting part; and a storage part for storing the history information. The setting part sets the correction value using correcting information that is different in a situation when the temperature change trend is a temperature rising trend and in a situation when the temperature change trend is a temperature falling trend.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、制御装置、プログラム、及び制御方法に関し、特に、半田処理装置を制御する制御装置、プログラム、及び制御方法に関する。 The present invention relates to a control device, a program, and a control method, and particularly to a control device, program, and control method for controlling a solder processing device.

背景技術に係る半田こての温度制御装置が、特許文献1に開示されている。当該温度制御装置は、加熱パルスを生成する加熱パルス発生部と、加熱パルスを受けて半田ティップを加熱するとともに半田ティップの温度に対応したセンサ信号を出力する加熱部と、加熱部に対して可変個数の加熱パルスを供給することによって半田ティップの温度を制御する制御部と、を備える。制御部は、加熱部からのセンサ信号を計測温度データに変換し、この計測温度データと設定温度との温度差に基づいて、非線形な関係で加熱パルスの上記可変個数を決定する。 A temperature control device for a soldering iron according to the background art is disclosed in Patent Document 1. The temperature control device includes a heating pulse generation section that generates heating pulses, a heating section that heats the soldering tip in response to the heating pulse and outputs a sensor signal corresponding to the temperature of the soldering tip, and a heating section that is variable for the heating section. and a controller configured to control the temperature of the solder tip by supplying a number of heating pulses. The control section converts the sensor signal from the heating section into measured temperature data, and determines the variable number of heating pulses in a nonlinear relationship based on the temperature difference between the measured temperature data and the set temperature.

特開2001-62562号公報Japanese Patent Application Publication No. 2001-62562

特許文献1に開示された温度制御装置によると、ワークに対する半田づけの作業が終了して半田ティップの温度が設定温度より低い温度から設定温度に回復しようとする時に、過度なオーバーシュートが発生する可能性がある。 According to the temperature control device disclosed in Patent Document 1, excessive overshoot occurs when the temperature of the solder tip attempts to recover from a temperature lower than the set temperature to the set temperature after the soldering work on the work is finished. there is a possibility.

図1は、半田づけ時の半田ティップ及びワークの温度の遷移を示す図である。この例において、半田ティップの設定温度は400℃である。半田づけのために半田ティップがワークに接触することにより、ティップ温度は低下してワーク温度は上昇する。次のワークへの移動のために半田ティップがワークから離れることにより、ティップ温度は上昇してワーク温度は低下する。最後のワークに対する半田づけが終了した時点でティップ温度は設定温度よりも低い約300℃であるため、制御部は、設定温度との温度差に基づいて、加熱パルスの上記可変個数として大きな値を設定する。最後のワークに関しては次のワークが存在しないため、加熱パルスの過剰供給によって半田ティップの温度は急激に上昇する。その結果、図1において二点鎖線で示すように、ティップ温度が設定温度である400℃を超えた後も温度上昇がしばらく継続し、過度なオーバーシュートが発生する。 FIG. 1 is a diagram showing temperature transitions of a solder tip and a workpiece during soldering. In this example, the solder tip temperature setting is 400°C. When the solder tip comes into contact with the workpiece for soldering, the temperature of the tip decreases and the temperature of the workpiece increases. When the solder tip separates from the workpiece in order to move to the next workpiece, the temperature of the tip increases and the temperature of the workpiece decreases. Since the tip temperature is approximately 300°C lower than the set temperature at the time when soldering for the last workpiece is completed, the control unit sets a large value as the variable number of heating pulses based on the temperature difference from the set temperature. Set. Regarding the last work, since there is no next work, the temperature of the solder tip increases rapidly due to the excessive supply of heating pulses. As a result, as shown by the two-dot chain line in FIG. 1, the temperature continues to rise for a while even after the tip temperature exceeds the set temperature of 400° C., resulting in excessive overshoot.

一方で、加熱パルス数を全体的に少なく設定することによってオーバーシュートを抑制する制御も考えられるが、そのような制御ではワークとの接触により低下したティップ温度を上昇させるための加熱パルス数も減少するため、半田こての性能が低下してしまう。 On the other hand, control can be considered to suppress overshoot by setting the overall number of heating pulses to a small number, but such control also reduces the number of heating pulses to raise the tip temperature, which has decreased due to contact with the workpiece. As a result, the performance of the soldering iron deteriorates.

本発明はかかる問題を解決するためになされたものであり、半田処理装置の性能を低下させることなくオーバーシュートを抑制することが可能な、制御装置、プログラム、及び制御方法を得ることを目的とする。 The present invention has been made to solve such problems, and an object thereof is to obtain a control device, a program, and a control method that can suppress overshoot without reducing the performance of a solder processing device. do.

本発明の一態様に係る制御装置は、半田を処理する半田処理部と、加熱パルスの印加によって前記半田処理部を加熱する加熱部と、前記半田処理部の温度を検出する検出部と、を有する半田処理装置を制御する制御装置であって、前記検出部が検出した前記温度の検出値を取得する取得部と、前記取得部が取得した前記検出値の履歴情報に基づいて、前記半田処理部の温度変化傾向を特定する特定部と、補正値を用いて基準値を補正することによって、前記加熱部に印加する前記加熱パルス数を設定する設定部と、前記設定部による前記加熱パルス数の設定結果に基づいて、前記加熱部への前記加熱パルスの印加を制御する制御部と、前記履歴情報を記憶する記憶部と、を備え、前記設定部は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて前記補正値を設定する。 A control device according to one aspect of the present invention includes a solder processing section that processes solder, a heating section that heats the soldering section by applying a heating pulse, and a detection section that detects the temperature of the soldering section. A control device for controlling a solder processing apparatus having: an acquisition unit that acquires a detected value of the temperature detected by the detection unit; and a control device that controls the soldering process based on history information of the detected value acquired by the acquisition unit. a setting section that sets the number of heating pulses to be applied to the heating section by correcting a reference value using a correction value; and a setting section that sets the number of heating pulses applied to the heating section by correcting a reference value using a correction value. a control unit that controls application of the heating pulse to the heating unit based on a setting result, and a storage unit that stores the history information; The correction value is set using different correction information depending on whether the temperature is decreasing or the temperature is decreasing.

本態様によれば、設定部は、温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて補正値を設定する。従って、たとえ半田処理部の設定温度と検出値との温度差が同一であっても、温度下降傾向時と温度上昇傾向時とで異なる補正値を用いて異なる加熱パルス数を設定できるため、各傾向時の特性等に応じて加熱パルス数を最適値に設定できる。その結果、温度下降傾向時において半田処理装置の性能を低下させることなく、温度上昇傾向時においてオーバーシュートを抑制することが可能となる。 According to this aspect, the setting unit sets the correction value using different correction information depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend. Therefore, even if the temperature difference between the set temperature of the soldering section and the detected value is the same, different correction values can be used to set different numbers of heating pulses when the temperature is decreasing and when the temperature is increasing. The number of heating pulses can be set to an optimal value depending on the characteristics during the trend. As a result, it is possible to suppress overshoot when the temperature tends to rise without reducing the performance of the solder processing apparatus when the temperature tends to fall.

上記態様において、前記補正用情報は、前記記憶部に記憶された、前記基準値に加算する加算値を示す加算テーブルと、前記基準値から減算する減算値を示す減算テーブルとを含み、前記補正値は、前記加算テーブルが示す前記加算値、又は、前記減算テーブルが示す前記減算値であり、前記設定部は、前記温度変化傾向に応じて、前記基準値、前記基準値に前記加算値を加算した値、又は、前記基準値から前記減算値を減算した値に基づいて、前記加熱パルス数を設定すると良い。 In the above aspect, the correction information includes an addition table that is stored in the storage unit and indicates an addition value to be added to the reference value, and a subtraction table that indicates a subtraction value to be subtracted from the reference value, and the correction information The value is the addition value indicated by the addition table or the subtraction value indicated by the subtraction table, and the setting unit sets the reference value and the addition value to the reference value according to the temperature change tendency. The number of heating pulses may be set based on the added value or the value obtained by subtracting the subtracted value from the reference value.

本態様によれば、設定部は、記憶部に記憶された加算テーブル及び減算テーブルを参照することによって、温度変化傾向に応じて適切な加熱パルス数を設定することが可能となる。 According to this aspect, the setting section can set an appropriate number of heating pulses according to the temperature change tendency by referring to the addition table and subtraction table stored in the storage section.

上記態様において、前記半田処理部の設定温度が第1領域に属する場合の前記加算テーブル及び前記減算テーブルと、前記半田処理部の前記設定温度が第2領域に属する場合の前記加算テーブル及び前記減算テーブルとは異なると良い。 In the above aspect, the addition table and the subtraction table when the set temperature of the soldering section belongs to a first region, and the addition table and the subtraction table when the set temperature of the soldering section belongs to a second region. It would be nice if it was different from the table.

本態様によれば、半田処理部の設定温度に応じて適切な温度制御を行うことが可能となる。 According to this aspect, it is possible to perform appropriate temperature control according to the set temperature of the solder processing section.

上記態様において、前記基準値は、前記半田処理部の設定温度と前記取得部が取得した前記検出値との差に基づいて設定される基準パルス数を示す値であり、前記半田処理部の前記設定温度が第1領域に属する場合の前記基準値と、前記半田処理部の前記設定温度が第2領域に属する場合の前記基準値とは異なる前記半田処理部の設定温度が第1領域に属する場合の前記基準値と、前記半田処理部の設定温度が第2領域に属する場合の前記基準値とは異なると良い。 In the above aspect, the reference value is a value indicating a reference pulse number that is set based on the difference between the set temperature of the solder processing section and the detected value acquired by the acquisition section; The set temperature of the solder processing section, which is different from the reference value when the set temperature belongs to a first region and the reference value when the set temperature of the solder processing section belongs to a second region, belongs to the first region. The reference value in this case may be different from the reference value in the case where the set temperature of the solder processing section belongs to the second region.

本態様によれば、半田処理部の設定温度に応じて適切な温度制御を行うことが可能となる。 According to this aspect, it is possible to perform appropriate temperature control according to the set temperature of the solder processing section.

上記態様において、前記設定部は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合は、前記基準値から前記補正値を減算することによって、前記基準値で示される基準パルス数よりも少ない前記加熱パルス数を設定し、前記温度変化傾向が温度下降傾向である場合は、前記基準値に前記補正値を加算することによって、前記基準パルス数よりも多い前記加熱パルス数を設定すると良い。 In the above aspect, when the temperature change tendency is a temperature increase tendency, the setting unit subtracts the correction value from the reference value, so that the heating pulse number is less than the reference pulse number indicated by the reference value. If the temperature change trend is a temperature decrease trend, it is preferable to set the heating pulse number to be greater than the reference pulse number by adding the correction value to the reference value.

本態様によれば、温度下降傾向時において半田処理装置の性能を低下させることなく、温度上昇傾向時においてオーバーシュートを抑制することが可能となる。 According to this aspect, it is possible to suppress overshoot when the temperature tends to rise without reducing the performance of the solder processing apparatus when the temperature tends to fall.

上記態様において、前記基準値は、前記半田処理部の設定温度と前記取得部が取得した前記検出値との差に基づいて設定される基準パルス数を示す値であり、前記設定部は、前記基準値で示される前記基準パルス数を印加した場合に予測される前記半田処理部の温度変化量の予測値と、前記検出部が検出した前記検出値から算出した前記半田処理部の温度変化量の実測値との差に応じて、前記補正値を設定すると良い。 In the above aspect, the reference value is a value indicating a reference pulse number that is set based on the difference between the set temperature of the soldering section and the detected value acquired by the acquisition section, and the setting section a predicted value of the amount of temperature change in the solder processing section predicted when the reference pulse number indicated by the reference value is applied, and an amount of temperature change in the solder processing section calculated from the detected value detected by the detection section; It is preferable to set the correction value according to the difference from the actual measured value.

本態様によれば、適切な加熱パルス数を高精度に設定することが可能となる。 According to this aspect, it is possible to set an appropriate number of heating pulses with high precision.

上記態様において、前記設定部は、前記温度変化傾向が温度下降傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた差が負である場合、又は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた差が正である場合は、前記基準値に前記補正値を加算することによって、前記基準パルス数よりも多い前記加熱パルス数を設定し、前記温度変化傾向が温度下降傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた差が正である場合、又は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた差が負である場合は、前記基準値から前記補正値を減算することによって、前記基準パルス数よりも少ない前記加熱パルス数を設定すると良い。 In the above aspect, when the temperature change trend is a temperature decrease trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value from the absolute value of the predicted value is negative, or when the temperature change trend is a temperature increase trend, If the trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the measured value from the absolute value of the predicted value are positive, the number of heating pulses is greater than the number of reference pulses by adding the correction value to the reference value. is set, and the temperature change trend is a temperature decrease trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value from the absolute value of the predicted value is positive, or the temperature change trend is a temperature increase trend and the predicted value If the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measurement value from the absolute value of is negative, the number of heating pulses may be set to be smaller than the reference number of pulses by subtracting the correction value from the reference value.

本態様によれば、温度変化傾向及び予測値と実測値との大小に応じて、適切な加熱パルス数を高精度に設定することが可能となる。 According to this aspect, it is possible to set an appropriate number of heating pulses with high precision according to the temperature change tendency and the magnitude of the predicted value and the actual measurement value.

上記態様において、前記記憶部は、前記記憶部は、前記基準値を示す基準テーブルと、前記補正用情報として、前記温度変化傾向が温度下降傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた前記差が負である場合に設定される前記補正値を示す下降用加算テーブルと、前記温度変化傾向が温度上昇傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた前記差が正である場合に設定される前記補正値を示す上昇用加算テーブルと、前記温度変化傾向が温度下降傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた前記差が正である場合に設定される前記補正値を示す下降用減算テーブルと、前記温度変化傾向が温度上昇傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた前記差が負である場合に設定される前記補正値を示す上昇用減算テーブルと、を記憶すると良い。 In the above aspect, the storage unit stores a reference table indicating the reference value, and the correction information in which the temperature change trend is a temperature decreasing trend and the absolute value of the actual measurement value is determined from the absolute value of the predicted value. a downward addition table indicating the correction value to be set when the difference obtained by subtracting the value is negative, and the temperature change trend is a temperature increase trend and the absolute value of the actual measured value is subtracted from the absolute value of the predicted value an increase addition table indicating the correction value to be set when the difference is positive; and the temperature change trend is a temperature decrease trend, and the difference is obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value from the absolute value of the predicted value. is positive, and the temperature change trend is a temperature increase trend, and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value from the absolute value of the predicted value is negative. It is preferable to store an increase subtraction table indicating the correction value set in a certain case.

本態様によれば、下降用加算テーブル、下降用減算テーブル、上昇用加算テーブル、及び上昇用減算テーブルを個別に設けることにより、細密な温度制御を行うことが可能となる。 According to this aspect, by separately providing the descending addition table, the descending subtraction table, the ascending addition table, and the ascending subtraction table, it is possible to perform precise temperature control.

上記態様において、前記下降用減算テーブルの前記補正値はゼロに設定されていると良い。 In the above aspect, it is preferable that the correction value of the descending subtraction table is set to zero.

本態様によれば、温度下降傾向時において半田処理装置の性能低下を適切に防止することが可能となる。 According to this aspect, it is possible to appropriately prevent performance deterioration of the solder processing apparatus when the temperature tends to decrease.

上記態様において、前記設定部は、今回の制御サイクルである第1制御サイクルより前の第2制御サイクルにおける前記加熱パルス数を示す前記基準値と、前記検出値及び前記検出値の前記履歴情報に基づく前記半田処理部の温度変化量に応じた前記補正値とに基づいて、前記第1制御サイクルにおける前記加熱パルス数を設定すると良い。 In the above aspect, the setting unit sets the reference value indicating the number of heating pulses in the second control cycle before the first control cycle that is the current control cycle, the detected value, and the history information of the detected value. The number of heating pulses in the first control cycle may be set based on the correction value according to the amount of temperature change of the solder processing section.

本態様によれば、加熱パルス数を簡易かつ適切に設定することが可能となる。 According to this aspect, it becomes possible to easily and appropriately set the number of heating pulses.

上記態様において、前記設定部は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合は、前記基準値から前記補正値を減算することによって、前記基準値で示される基準パルス数よりも少ない前記加熱パルス数を設定し、前記温度変化傾向が温度下降傾向である場合は、前記基準値に前記補正値を加算することによって、前記基準パルス数よりも多い前記加熱パルス数を設定すると良い。 In the above aspect, when the temperature change tendency is a temperature increase tendency, the setting unit subtracts the correction value from the reference value, so that the heating pulse number is less than the reference pulse number indicated by the reference value. If the temperature change trend is a temperature decrease trend, it is preferable to set the heating pulse number to be greater than the reference pulse number by adding the correction value to the reference value.

本態様によれば、温度下降傾向時において半田処理装置の性能を低下させることなく、温度上昇傾向時においてオーバーシュートを抑制することが可能となる。 According to this aspect, it is possible to suppress overshoot when the temperature tends to rise without reducing the performance of the solder processing apparatus when the temperature tends to fall.

上記態様において、前記設定部は、前記第1制御サイクルと前記第2制御サイクルとの間の温度変化量と、前記第2制御サイクルとそれより前の第3制御サイクルとの間の温度変化量とに基づいて、前記補正値を設定すると良い。 In the above aspect, the setting unit is configured to determine the amount of temperature change between the first control cycle and the second control cycle, and the amount of temperature change between the second control cycle and a third control cycle preceding it. It is preferable to set the correction value based on the following.

本態様によれば、補正値を適切に設定できるため、温度制御の精度を向上することが可能となる。 According to this aspect, since the correction value can be appropriately set, it is possible to improve the accuracy of temperature control.

上記態様において、前記設定部は、前記第1制御サイクルと前記第2制御サイクルとの間の前記温度変化傾向と、前記第2制御サイクルと前記第3制御サイクルとの間の前記温度変化傾向とが互いに相違し、かつ、前記第1制御サイクルと前記第2制御サイクルとの間の温度変化量が、前記第2制御サイクルと前記第3制御サイクルとの間の温度変化量未満である場合、前記補正値をゼロに設定すると良い。 In the above aspect, the setting unit is configured to determine the temperature change tendency between the first control cycle and the second control cycle, and the temperature change tendency between the second control cycle and the third control cycle. are different from each other, and the amount of temperature change between the first control cycle and the second control cycle is less than the amount of temperature change between the second control cycle and the third control cycle, It is preferable to set the correction value to zero.

本態様によれば、ノイズ等に起因する誤制御の発生を抑制することが可能となる。 According to this aspect, it is possible to suppress the occurrence of erroneous control due to noise or the like.

本発明の一態様に係るプログラムは、半田を処理する半田処理部と、加熱パルスの印加によって前記半田処理部を加熱する加熱部と、前記半田処理部の温度を検出する検出部と、を有する半田処理装置を制御する制御装置に搭載される情報処理装置を、前記検出部が検出した前記温度の検出値を取得する取得手段と、前記取得手段が取得した前記検出値の履歴情報に基づいて、前記半田処理部の温度変化傾向を特定する特定手段と、補正値を用いて基準値を補正することによって、前記加熱部に印加する加熱パルス数を設定する設定手段と、前記設定手段による前記加熱パルス数の設定結果に基づいて、前記加熱部への前記加熱パルスの印加を制御する制御手段と、として機能させるためのプログラムであって、前記設定手段は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて前記補正値を設定する。 A program according to one aspect of the present invention includes a solder processing section that processes solder, a heating section that heats the soldering section by applying a heating pulse, and a detection section that detects the temperature of the soldering section. An information processing device installed in a control device that controls a solder processing device is configured to include an acquisition unit that acquires the detected value of the temperature detected by the detection unit, and based on history information of the detected value acquired by the acquisition unit. , a specifying means for specifying a temperature change tendency of the soldering section; a setting section for setting the number of heating pulses to be applied to the heating section by correcting a reference value using a correction value; A program for functioning as a control means for controlling the application of the heating pulses to the heating section based on a setting result of the number of heating pulses, the setting means controlling the temperature change trend to be a temperature increase trend. The correction value is set using different correction information depending on whether the temperature is decreasing or the temperature is decreasing.

本態様によれば、設定手段は、温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて補正値を設定する。従って、たとえ半田処理部の設定温度と検出値との温度差が同一であっても、温度下降傾向時と温度上昇傾向時とで異なる補正値を用いて異なる加熱パルス数を設定できるため、各傾向時の特性等に応じて加熱パルス数を最適値に設定できる。その結果、温度下降傾向時において半田処理装置の性能を低下させることなく、温度上昇傾向時においてオーバーシュートを抑制することが可能となる。 According to this aspect, the setting means sets the correction value using different correction information depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend. Therefore, even if the temperature difference between the set temperature of the soldering section and the detected value is the same, different correction values can be used to set different numbers of heating pulses when the temperature is decreasing and when the temperature is increasing. The number of heating pulses can be set to an optimal value depending on the characteristics during the trend. As a result, it is possible to suppress overshoot when the temperature tends to rise without reducing the performance of the solder processing apparatus when the temperature tends to fall.

本発明の一態様に係る制御方法は、半田を処理する半田処理部と、加熱パルスの印加によって前記半田処理部を加熱する加熱部と、前記半田処理部の温度を検出する検出部と、を有する半田処理装置を制御する制御方法であって、情報処理装置が、前記検出部が検出した前記温度の検出値を取得し、取得した前記検出値の履歴情報に基づいて、前記半田処理部の温度変化傾向を特定し、補正値を用いて基準値を補正することによって、前記加熱部に印加する加熱パルス数を設定し、前記加熱パルス数の設定結果に基づいて、前記加熱部への前記加熱パルスの印加を制御し、前記加熱パルス数の設定において、前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて前記補正値を設定する。 A control method according to one aspect of the present invention includes: a solder processing section that processes solder; a heating section that heats the soldering section by applying a heating pulse; and a detection section that detects the temperature of the soldering section. 2. A control method for controlling a solder processing apparatus comprising: an information processing apparatus that obtains a detected value of the temperature detected by the detection section, and controls the solder processing section based on history information of the obtained detected value. The number of heating pulses to be applied to the heating section is set by identifying the temperature change tendency and correcting the reference value using the correction value, and the number of heating pulses to be applied to the heating section is set based on the result of setting the number of heating pulses. The application of heating pulses is controlled, and in setting the number of heating pulses, the correction value is set using different correction information depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend.

本態様によれば、加熱パルス数の設定において、温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて補正値を設定する。従って、たとえ半田処理部の設定温度と検出値との温度差が同一であっても、温度下降傾向時と温度上昇傾向時とで異なる補正値を用いて異なる加熱パルス数を設定できるため、各傾向時の特性等に応じて加熱パルス数を最適値に設定できる。その結果、温度下降傾向時において半田処理装置の性能を低下させることなく、温度上昇傾向時においてオーバーシュートを抑制することが可能となる。 According to this aspect, in setting the number of heating pulses, a correction value is set using different correction information depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend. Therefore, even if the temperature difference between the set temperature of the soldering section and the detected value is the same, different correction values can be used to set different numbers of heating pulses when the temperature is decreasing and when the temperature is increasing. The number of heating pulses can be set to an optimal value depending on the characteristics during the trend. As a result, it is possible to suppress overshoot when the temperature tends to rise without reducing the performance of the solder processing apparatus when the temperature tends to fall.

本発明によれば、半田処理装置の性能を低下させることなくオーバーシュートを抑制することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to suppress overshoot without reducing the performance of the solder processing device.

半田づけ時の半田ティップ及びワークの温度の遷移を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the temperature transition of a solder tip and a workpiece during soldering. 本発明の実施形態に係る半田処理システムの構成を簡略化して示す図である。1 is a diagram showing a simplified configuration of a solder processing system according to an embodiment of the present invention. マイコンの構成を簡略化して示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a simplified configuration of a microcomputer. 制御部による加熱パルスの印加制御を示す図である。It is a figure which shows the application control of the heating pulse by a control part. 基準テーブルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a reference table. 加算テーブルの一例を示す図である。It is a figure showing an example of an addition table. 減算テーブルの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a subtraction table. 情報処理部が実行する処理を示すフローチャートである。5 is a flowchart illustrating processing executed by an information processing unit. 第1実施形態に関して、設定部による加熱パルス数の設定手法を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a method of setting the number of heating pulses by a setting unit in the first embodiment. 温度下降時における加熱パルス数の設定結果の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the setting result of the number of heating pulses when temperature falls. 温度上昇時における加熱パルス数の設定結果の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the setting result of the number of heating pulses when temperature rises. 第2実施形態に関して、設定部による加熱パルス数の設定手法を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a method of setting the number of heating pulses by a setting unit in the second embodiment. 第3実施形態に関して、設定部による加熱パルス数の設定手法を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a method of setting the number of heating pulses by a setting section in the third embodiment. 第3実施形態に関して、設定部による加熱パルス数の設定手法を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a method of setting the number of heating pulses by a setting section in the third embodiment. 温度下降時における加熱パルス数の設定結果の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the setting result of the number of heating pulses when temperature falls. 温度上昇時における加熱パルス数の設定結果の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the setting result of the number of heating pulses when temperature rises.

以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、異なる図面において同一の符号を付した要素は、同一又は対応する要素を示すものとする。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that elements given the same reference numerals in different drawings indicate the same or corresponding elements.

図2は、本発明の実施形態に係る半田処理システムの構成を簡略化して示す図である。半田処理システムは、半田を処理する半田処理装置11と、半田処理装置11を制御する制御装置12とを備える。本実施形態の例において、半田処理装置11は半田こてである。但し、半田処理装置11は、半田除去器又はツイーザー等であっても良い。 FIG. 2 is a diagram showing a simplified configuration of a solder processing system according to an embodiment of the present invention. The solder processing system includes a solder processing device 11 that processes solder, and a control device 12 that controls the solder processing device 11. In the example of this embodiment, the solder processing device 11 is a soldering iron. However, the solder processing device 11 may be a solder remover, a tweezer, or the like.

半田処理装置11は、こて先21と、半田づけのためにワークに接触される半田処理部としての半田ティップ22と、半田ティップ22の温度を検出する温度センサ23と、加熱パルスHPが印加されることによって半田ティップ22を加熱するヒータ24とを有する。温度センサ23は、例えば熱電対を用いて構成されている。 The soldering device 11 includes an iron tip 21, a soldering tip 22 as a soldering portion that comes into contact with a workpiece for soldering, a temperature sensor 23 that detects the temperature of the soldering tip 22, and a heating pulse HP is applied. and a heater 24 that heats the solder tip 22 by heating the solder tip 22. The temperature sensor 23 is configured using, for example, a thermocouple.

制御装置12は、半田処理装置11に有線接続されたステーションとして構成されており、マイクロコンピュータ(以下「マイコン」と略す)31と、温度センサ23が検出した半田ティップ22の温度の検出値を増幅してマイコン31に入力するアンプ32と、マイコン31によって制御されるスイッチング素子33とを有している。スイッチング素子33は、例えばFETを用いて構成されている。スイッチング素子33がオンされることにより、加熱パルスHPがヒータ24に印加され、それによって半田ティップ22が加熱される。スイッチング素子33がオフされることにより、ヒータ24への加熱パルスHPの印加が停止され、それによって半田ティップ22の加熱が停止される。なお、制御装置12は、小型化されることによって半田処理装置11内に実装されても良い。 The control device 12 is configured as a station connected to the solder processing device 11 by wire, and amplifies the temperature value of the solder tip 22 detected by a microcomputer (hereinafter abbreviated as "microcomputer") 31 and a temperature sensor 23. and a switching element 33 controlled by the microcomputer 31. The switching element 33 is configured using, for example, an FET. By turning on the switching element 33, a heating pulse HP is applied to the heater 24, thereby heating the solder tip 22. By turning off the switching element 33, the application of the heating pulse HP to the heater 24 is stopped, and thereby heating of the solder tip 22 is stopped. Note that the control device 12 may be mounted within the solder processing device 11 by being miniaturized.

図3は、マイコン31の構成を簡略化して示す図である。マイコン31は、アナログ信号をディジタル信号に変換するADC41と、情報処理部42と、記憶部43とを有している。情報処理部42は、CPU等の情報処理装置を用いて構成されている。記憶部43は、HDD、SSD、又は半導体メモリ等を用いて構成されている。 FIG. 3 is a diagram showing a simplified configuration of the microcomputer 31. As shown in FIG. The microcomputer 31 includes an ADC 41 that converts analog signals into digital signals, an information processing section 42, and a storage section 43. The information processing unit 42 is configured using an information processing device such as a CPU. The storage unit 43 is configured using an HDD, SSD, semiconductor memory, or the like.

コンピュータ読み取り可能なROM等の記録媒体から読み出したプログラムをCPUが実行することによって実現される機能として、情報処理部42は、取得部51、特定部52、設定部53、及び制御部54を有している。換言すれば、上記プログラムは、制御装置12に搭載される情報処理装置としての情報処理部42を、取得部51(取得手段)、特定部52(特定手段)、設定部53(設定手段)、及び制御部54(制御手段)として機能させるためのプログラムである。 The information processing unit 42 has an acquisition unit 51, a specification unit 52, a setting unit 53, and a control unit 54 as functions realized by the CPU executing a program read from a computer-readable recording medium such as a ROM. are doing. In other words, the program includes the information processing unit 42 as an information processing device installed in the control device 12, the acquisition unit 51 (acquisition means), the identification unit 52 (identification means), the setting unit 53 (setting means), and a program for functioning as the control unit 54 (control means).

記憶部43には、ルックアップテーブル(以下「LUT」と略す)61と履歴情報62とが記憶されている。 The storage unit 43 stores a lookup table (hereinafter abbreviated as “LUT”) 61 and history information 62.

取得部51は、温度センサ23が検出した半田ティップ22の温度の検出値を、アンプ32及びADC41を介して取得する。取得部51が取得した検出値の時系列データは、履歴情報62として記憶部43に記憶される。特定部52は、履歴情報62に基づいて半田ティップ22の温度変化傾向を特定する。温度変化傾向は、温度下降傾向、温度上昇傾向、及び温度維持傾向を含む。設定部53は、補正値を用いて基準値を補正することによって、各制御サイクルにおいてヒータ24に印加する加熱パルス数を設定する。基準値とは、次に印加する加熱パルス数の基準となる基準パルス数を示す値である。補正値とは、温度変化傾向に基づいて基準値を補正する値であり、基準値に加算する加算値及び基準値から減算する減算値を含む。設定部53は、半田ティップ22の温度変化傾向に応じて、基準値、基準値に加算値を加算した値、又は、基準値から減算値を減算した値に基づいて、加熱パルス数を設定する。設定部53は、温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて補正値を設定する。補正用情報は、LUT61又は演算式等を含み、以下の例ではLUT61を用いる。LUT61は、複数の加算値を示す加算テーブルと、複数の減算値を示す減算テーブルとを含む。制御部54は、設定部53による加熱パルス数の設定結果に基づいて、各制御サイクルにおいてスイッチング素子33を制御することにより、ヒータ24への加熱パルスHPの印加を制御する。 The acquisition unit 51 acquires the temperature value of the solder tip 22 detected by the temperature sensor 23 via the amplifier 32 and the ADC 41 . Time-series data of detected values acquired by the acquisition unit 51 is stored in the storage unit 43 as history information 62. The identification unit 52 identifies the temperature change tendency of the solder tip 22 based on the history information 62. The temperature change trend includes a temperature decrease trend, a temperature increase trend, and a temperature maintenance trend. The setting unit 53 sets the number of heating pulses to be applied to the heater 24 in each control cycle by correcting the reference value using the correction value. The reference value is a value indicating the number of reference pulses used as a reference for the number of heating pulses to be applied next. The correction value is a value that corrects the reference value based on the temperature change tendency, and includes an addition value that is added to the reference value and a subtraction value that is subtracted from the reference value. The setting unit 53 sets the number of heating pulses based on a reference value, a value obtained by adding an addition value to the reference value, or a value obtained by subtracting a subtraction value from the reference value, according to the temperature change tendency of the solder tip 22. . The setting unit 53 sets a correction value using different correction information depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend. The correction information includes the LUT 61 or an arithmetic expression, and the LUT 61 is used in the following example. The LUT 61 includes an addition table showing a plurality of addition values and a subtraction table showing a plurality of subtraction values. The control unit 54 controls the application of the heating pulse HP to the heater 24 by controlling the switching element 33 in each control cycle based on the setting result of the number of heating pulses by the setting unit 53.

図4は、制御部54による加熱パルスHPの印加制御を示す図である。図4には、今回の制御サイクルである第1制御サイクルと、前回の制御サイクルである第2制御サイクルと、前々回の制御サイクルである第3制御サイクルとを示している。第1制御サイクルの先頭の測定タイミングT0において、スイッチング素子33がオフされるとともに、温度センサ23の検出値S0が取得部51によって取得される。第2制御サイクルの先頭の測定タイミングT1において、スイッチング素子33がオフされるとともに、温度センサ23の検出値S1が取得部51によって取得される。第3制御サイクルの先頭の測定タイミングT2において、スイッチング素子33がオフされるとともに、温度センサ23の検出値S2が取得部51によって取得される。 FIG. 4 is a diagram showing application control of the heating pulse HP by the control unit 54. FIG. 4 shows a first control cycle, which is the current control cycle, a second control cycle, which is the previous control cycle, and a third control cycle, which is the previous control cycle. At measurement timing T0 at the beginning of the first control cycle, the switching element 33 is turned off, and the detection value S0 of the temperature sensor 23 is acquired by the acquisition unit 51. At measurement timing T1 at the beginning of the second control cycle, the switching element 33 is turned off, and the detection value S1 of the temperature sensor 23 is acquired by the acquisition unit 51. At measurement timing T2 at the beginning of the third control cycle, the switching element 33 is turned off, and the detection value S2 of the temperature sensor 23 is acquired by the acquisition unit 51.

本実施形態の例において、連続する測定タイミングT同士の間隔は例えば0.3秒であり、この0.3秒の間に最大で37個の加熱パルスHPを含めることが可能である。つまり、各制御サイクルにおいてヒータ24に印加可能な加熱パルス数は、最小値0から最大値37までの任意の設定値であり、設定部53によって算出される。設定部53は、加熱パルス数の算出結果が最大値を超える場合は、加熱パルス数を最大値(この例の場合は37)に設定する。同様に、設定部53は、加熱パルス数の算出結果が最小値未満となる場合は、加熱パルス数を最小値(この例の場合は0)に設定する。 In the example of this embodiment, the interval between successive measurement timings T is, for example, 0.3 seconds, and a maximum of 37 heating pulses HP can be included in this 0.3 second. That is, the number of heating pulses that can be applied to the heater 24 in each control cycle is an arbitrary set value from a minimum value of 0 to a maximum value of 37, and is calculated by the setting unit 53. If the calculation result of the number of heating pulses exceeds the maximum value, the setting unit 53 sets the number of heating pulses to the maximum value (37 in this example). Similarly, when the calculation result of the number of heating pulses is less than the minimum value, the setting unit 53 sets the number of heating pulses to the minimum value (0 in this example).

なお、制御部54による加熱パルスHPの印加制御は、半田処理装置11の電源をオンした直後の立ち上がりを除き、半田ティップ22の温度が最初に設定温度に到達した後から有効としても良い。 Note that the application control of the heating pulse HP by the control unit 54 may be effective after the temperature of the solder tip 22 reaches the set temperature for the first time, except for the start-up immediately after the solder processing apparatus 11 is turned on.

(第1実施形態)
第1実施形態において、基準値は、半田ティップ22の設定温度と取得部51が取得した検出値(S0)との差に基づいて設定される基準パルス数を示す値である。基準値の設定は、LUTの参照又は演算式を用いた算出を含む。第1実施形態において、設定部53は、温度変化傾向が温度維持傾向である場合は、基準パルス数に等しい加熱パルス数を設定し、温度変化傾向が温度上昇傾向である場合は、基準値から補正値を減算することによって基準パルス数よりも少ない加熱パルス数を設定し、温度変化傾向が温度下降傾向である場合は、基準値に加算値を加算することによって基準パルス数よりも多い加熱パルス数を設定する。
(First embodiment)
In the first embodiment, the reference value is a value indicating the number of reference pulses that is set based on the difference between the set temperature of the solder tip 22 and the detected value (S0) acquired by the acquisition unit 51. Setting the reference value includes reference to the LUT or calculation using an arithmetic expression. In the first embodiment, the setting unit 53 sets the number of heating pulses equal to the reference pulse number when the temperature change tendency is a temperature maintenance tendency, and sets the number of heating pulses equal to the reference pulse number when the temperature change tendency is a temperature increase tendency, from the reference value. Set the number of heating pulses less than the standard number of pulses by subtracting the correction value, and if the temperature change trend is a downward trend, set the number of heating pulses more than the standard number of pulses by adding the additional value to the standard value. Set the number.

第1実施形態において、設定部53は、基準値と、半田ティップ22の温度変化傾向及び温度変化量に応じた上記補正値とに基づいて、次に印加する加熱パルス数を設定する。これにより、加熱パルス数を簡易かつ適切に設定することが可能となる。設定部53は、温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて補正値を設定する。また、第1実施形態において、LUT61は、基準値を示す基準テーブルと、基準値に加算する補正値である加算値を示す加算テーブルと、基準値から減算する補正値である減算値を示す減算テーブルとを有する。設定部53は、温度変化傾向が温度上昇傾向である場合は減算テーブルを参照し、温度下降傾向である場合は加算テーブルを参照する。 In the first embodiment, the setting unit 53 sets the number of heating pulses to be applied next based on the reference value and the correction value according to the temperature change tendency and temperature change amount of the solder tip 22. This makes it possible to easily and appropriately set the number of heating pulses. The setting unit 53 sets a correction value using different correction information depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend. Further, in the first embodiment, the LUT 61 includes a reference table indicating a reference value, an addition table indicating an addition value which is a correction value to be added to the reference value, and a subtraction table indicating a subtraction value which is a correction value to be subtracted from the reference value. It has a table. The setting unit 53 refers to the subtraction table when the temperature change trend is a temperature increase trend, and refers to the addition table when the temperature change trend is a temperature decrease trend.

図5は、基準テーブルの一例を示す図である。図6は、加算テーブルの一例を示す図である。図7は、減算テーブルの一例を示す図である。 FIG. 5 is a diagram showing an example of a reference table. FIG. 6 is a diagram showing an example of an addition table. FIG. 7 is a diagram showing an example of a subtraction table.

図5を参照して、半田ティップ22の設定温度から検出値を減算した温度差が例えば5℃、10℃、15℃の場合は、基準値で示される基準パルス数はそれぞれ7個、20個、28個となる。つまり、設定温度と検出値との温度差が小さいほど基準パルス数は少なく設定されており、設定温度と検出値との温度差が大きいほど基準パルス数は多く設定されている。 Referring to FIG. 5, if the temperature difference obtained by subtracting the detected value from the set temperature of the solder tip 22 is, for example, 5°C, 10°C, or 15°C, the number of reference pulses indicated by the reference value is 7 and 20, respectively. , 28 pieces. That is, the smaller the temperature difference between the set temperature and the detected value, the smaller the number of reference pulses is set, and the larger the temperature difference between the set temperature and the detected value, the larger the number of reference pulses is set.

なお、基準テーブルは、半田ティップ22の設定温度の温度領域に応じて複数設けられていても良い。例えば、高温領域用の基準テーブルと低温領域用の基準テーブルとが別個に設けられていても良い。複数の基準テーブルが設けられることにより、設定温度が第1領域(例えば高温領域)に属する場合の基準値と、設定温度が第2領域(例えば低温領域)に属する場合の基準値とは、互いに異なる。これにより、半田ティップ22の設定温度に応じて適切な温度制御を行うことが可能となる。なお、高温、中温、及び低温の3つの温度領域に合わせて3つ(又は4つ以上)の基準テーブルが設けられていても良い。後述の第2実施形態についても同様である。 Note that a plurality of reference tables may be provided depending on the temperature range of the set temperature of the solder tip 22. For example, a reference table for a high temperature region and a reference table for a low temperature region may be provided separately. By providing a plurality of reference tables, the reference value when the set temperature belongs to the first region (for example, high temperature region) and the reference value when the set temperature belongs to the second region (for example, low temperature region) are mutually different. different. This makes it possible to perform appropriate temperature control according to the set temperature of the solder tip 22. Note that three (or four or more) reference tables may be provided in accordance with the three temperature regions of high temperature, medium temperature, and low temperature. The same applies to the second embodiment described below.

図6を参照して、半田ティップ22の温度変化傾向、すなわち第1制御サイクルの検出値S0から第2制御サイクルの検出値S1を減算した温度差が負である温度下降傾向の場合で、検出値S0と検出値S1の差の絶対値が例えば5℃、10℃、15℃の場合は、加算値で示される加算パルス数(補正値)はそれぞれ4個、8個、21個となる。図7を参照して、第1制御サイクルの検出値S0から第2制御サイクルの検出値S1を減算した温度差が正である温度上昇傾向の場合で、検出値S0と検出値S1の差の絶対値が例えば5℃、10℃、15℃の場合は、減算値で示される減算パルス数(補正値)はそれぞれ3個、5個、9個となる。 Referring to FIG. 6, in the case where the temperature change trend of the solder tip 22, that is, the temperature difference obtained by subtracting the detected value S1 of the second control cycle from the detected value S0 of the first control cycle is a negative temperature decreasing trend, When the absolute value of the difference between the value S0 and the detected value S1 is, for example, 5° C., 10° C., and 15° C., the number of added pulses (corrected value) indicated by the added value is 4, 8, and 21, respectively. Referring to FIG. 7, in the case of a temperature increase trend where the temperature difference obtained by subtracting the detected value S1 of the second control cycle from the detected value S0 of the first control cycle is positive, the difference between the detected value S0 and the detected value S1 is For example, when the absolute values are 5° C., 10° C., and 15° C., the number of subtracted pulses (corrected value) indicated by the subtracted value is 3, 5, and 9, respectively.

なお、加算テーブル及び減算テーブルは、半田ティップ22の設定温度の温度領域に応じてそれぞれ複数設けられていても良い。例えば、高温領域用の加算テーブル及び減算テーブルと低温領域用の加算テーブル及び減算テーブルとが別個に設けられていても良い。これにより、半田ティップ22の設定温度に応じて適切な温度制御を行うことが可能となる。この場合の基準テーブルは、一つのみ設けられていても良いし、前述のように温度領域に応じて複数設けられていても良い。後述の第2実施形態についても同様である。 Note that a plurality of addition tables and subtraction tables may be provided depending on the temperature range of the set temperature of the solder tip 22. For example, an addition table and a subtraction table for a high temperature region and an addition table and a subtraction table for a low temperature region may be provided separately. This makes it possible to perform appropriate temperature control according to the set temperature of the solder tip 22. In this case, only one reference table may be provided, or a plurality of reference tables may be provided depending on the temperature range as described above. The same applies to the second embodiment described below.

図8は、情報処理部42が実行する処理を示すフローチャートである。 FIG. 8 is a flowchart showing the processing executed by the information processing section 42.

まずステップSP01において取得部51は、温度センサ23が検出した半田ティップ22の温度の検出値を、アンプ32及びADC41を介して取得する。取得部51が取得した検出値の時系列データは、履歴情報62として記憶部43に記憶される。 First, in step SP01, the acquisition unit 51 acquires the temperature value of the solder tip 22 detected by the temperature sensor 23 via the amplifier 32 and the ADC 41. Time-series data of detected values acquired by the acquisition unit 51 is stored in the storage unit 43 as history information 62.

次にステップSP02において特定部52は、履歴情報62に基づいて半田ティップ22の温度変化傾向を特定する。特定部52は、検出値S0と検出値S1とを比較し、検出値S0が検出値S1より小さい場合には温度変化傾向は温度下降傾向であると特定し、検出値S0が検出値S1より大きい場合には温度変化傾向は温度上昇傾向であると特定し、検出値S0が検出値S1に等しい場合には温度変化傾向は温度維持傾向であると特定する。なお、検出値S0との比較対象は、検出値S1に限らず、検出値S2であっても良いし、検出値S1と検出値S2との平均値であっても良い。 Next, in step SP02, the identification unit 52 identifies the temperature change tendency of the solder tip 22 based on the history information 62. The specifying unit 52 compares the detected value S0 and the detected value S1, and when the detected value S0 is smaller than the detected value S1, specifies that the temperature change trend is a temperature decreasing trend, and the detected value S0 is smaller than the detected value S1. If the detected value S0 is greater than the detected value S1, the temperature change trend is determined to be a temperature increase trend, and if the detected value S0 is equal to the detected value S1, the temperature change trend is determined to be a temperature maintenance trend. Note that the object to be compared with the detected value S0 is not limited to the detected value S1, but may be the detected value S2, or the average value of the detected value S1 and the detected value S2.

次にステップSP03において設定部53は、補正値を用いて基準値を補正することによって、第1制御サイクルにおいてヒータ24に印加する加熱パルス数を設定する。設定部53は、基準パルス数を示す基準テーブルと、半田ティップ22の温度変化量に応じた加算テーブル又は減算テーブルとに基づいて、加熱パルス数を設定する。 Next, in step SP03, the setting unit 53 sets the number of heating pulses to be applied to the heater 24 in the first control cycle by correcting the reference value using the correction value. The setting unit 53 sets the number of heating pulses based on a reference table indicating the reference pulse number and an addition table or subtraction table according to the amount of temperature change of the solder tip 22.

図9は、第1実施形態に関して、設定部53による加熱パルス数Pの設定手法を示す図である。 FIG. 9 is a diagram showing a method for setting the number of heating pulses P by the setting section 53 in the first embodiment.

ΔTは、検出値S0から検出値S1を減算した温度変化量である。 ΔT is the amount of temperature change obtained by subtracting the detected value S1 from the detected value S0.

は、加算テーブルによって設定される加算パルス数である。 P + is the number of addition pulses set by the addition table.

は、減算テーブルによって設定される減算パルス数である。 P- is the number of subtraction pulses set by the subtraction table.

Pは、第1制御サイクル(次に印加する加熱パルス数)に関して設定する加熱パルス数である。 P is the number of heating pulses set for the first control cycle (number of heating pulses applied next).

P0は、基準テーブルによって設定される基準パルス数である。 P0 is the reference pulse number set by the reference table.

設定部53は、条件1により温度維持傾向である場合(ΔT=0)には、基準テーブルによって設定した基準パルス数に等しく加熱パルス数P(=P0)を設定する。 When the temperature tends to be maintained according to condition 1 (ΔT=0), the setting unit 53 sets the number of heating pulses P (=P0) equal to the reference pulse number set by the reference table.

設定部53は、条件1により温度上昇傾向である場合(ΔT>0)には、基準テーブルによって設定した基準パルス数から、減算テーブルによって設定した減算パルス数を減算することにより、加熱パルス数P(=P0-P)を設定する。つまり、特定部52が温度上昇傾向と特定した場合、設定部53は、基準値から補正値を減算することによって、基準パルス数よりも少ない加熱パルス数を設定する。これにより、ヒータ24への余分な電力供給を抑制し、図1において実線で示すようにオーバーシュートを適切に抑制することが可能となる。 When the temperature tends to rise according to condition 1 (ΔT>0), the setting unit 53 sets the number of heating pulses P by subtracting the number of subtraction pulses set by the subtraction table from the reference number of pulses set by the reference table. (=P0- P- ) is set. That is, when the specifying unit 52 specifies that the temperature tends to increase, the setting unit 53 sets the number of heating pulses smaller than the reference pulse number by subtracting the correction value from the reference value. This makes it possible to suppress excess power supply to the heater 24 and appropriately suppress overshoot as shown by the solid line in FIG.

設定部53は、条件1により温度下降傾向である場合(ΔT<0)には、基準テーブルによって設定した基準パルス数に、加算テーブルによって設定した加算パルス数を加算することにより、加熱パルス数P(=P0+P)を設定する。これにより、想定より大きな負荷がかかった場合にヒータ24への追加の電力供給を行う。 When the temperature tends to fall according to condition 1 (ΔT<0), the setting unit 53 sets the number of heating pulses P by adding the number of addition pulses set by the addition table to the reference number of pulses set by the reference table. (=P0+P + ) is set. Thereby, additional power is supplied to the heater 24 when a load larger than expected is applied.

次にステップSP04において制御部54は、設定部53による加熱パルス数の設定結果に基づいて、各制御サイクルにおいてスイッチング素子33を制御することにより、ヒータ24への加熱パルスHPの印加を制御する。 Next, in step SP04, the control unit 54 controls the application of the heating pulse HP to the heater 24 by controlling the switching element 33 in each control cycle based on the setting result of the number of heating pulses by the setting unit 53.

第1実施形態によれば、設定部53は、半田ティップ22の温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報(例えば加算テーブル又は減算テーブル)を用いて補正値を設定する。従って、たとえ半田ティップ22の設定温度と検出値との温度差が同一であっても、温度下降傾向時と温度上昇傾向時とで異なる補正値を用いて異なる加熱パルス数を設定できるため、各傾向時の特性等に応じて加熱パルス数を最適値に設定できる。その結果、温度下降傾向時において半田処理装置11の性能を低下させることなく、温度上昇傾向時においてオーバーシュートを抑制することが可能となる。 According to the first embodiment, the setting unit 53 uses different correction information (for example, an addition table or a subtraction table) depending on whether the temperature change trend of the solder tip 22 is a temperature increase trend or a temperature decrease trend. and set the correction value. Therefore, even if the temperature difference between the set temperature of the solder tip 22 and the detected value is the same, different correction values can be used to set different numbers of heating pulses when the temperature is decreasing and when the temperature is increasing. The number of heating pulses can be set to an optimal value depending on the characteristics during the trend. As a result, it is possible to suppress overshoot when the temperature tends to rise without reducing the performance of the solder processing apparatus 11 when the temperature tends to fall.

図10は、温度下降時における加熱パルス数の設定結果の一例を示す図である。設定温度との差に基づいて加熱パルス数を設定する従来手法と比較すると、基準値及び補正値を用いた発明手法では、温度下降時にはセンサ温度(検出値)が下がるほど加熱パルス数が従来手法より多く設定される傾向にある。これにより、発明手法によれば、温度下降時において半田処理装置11の性能の低下が効果的に回避される。 FIG. 10 is a diagram showing an example of the setting result of the number of heating pulses when the temperature decreases. Compared to the conventional method in which the number of heating pulses is set based on the difference from the set temperature, in the inventive method using a reference value and correction value, when the temperature decreases, the number of heating pulses decreases as the sensor temperature (detected value) decreases. It tends to be set more frequently. As a result, according to the inventive method, deterioration in the performance of the solder processing device 11 is effectively avoided when the temperature decreases.

図11は、温度上昇時における加熱パルス数の設定結果の一例を示す図である。従来手法と比較すると、基準値及び補正値を用いた発明手法では、温度上昇時にはセンサ温度が上がるほど加熱パルス数が従来手法より少なく設定される傾向にある。これにより、発明手法によれば、温度上昇時においてオーバーシュートが効果的に抑制される。 FIG. 11 is a diagram showing an example of the setting result of the number of heating pulses when the temperature rises. Compared to the conventional method, in the inventive method using a reference value and a correction value, when the temperature rises, the number of heating pulses tends to be set smaller as the sensor temperature rises, compared to the conventional method. As a result, according to the inventive method, overshoot is effectively suppressed when the temperature rises.

(第2実施形態)
第2実施形態において、基準値は、半田ティップ22の設定温度と取得部51が取得した検出値(S0)との差に基づいて設定される基準パルス数を示す値である。基準値の設定は、LUTの参照又は演算式を用いた算出を含む。第2実施形態において、設定部53は、基準値で示される基準パルス数を印加した場合に予測される半田ティップ22の温度変化量の予測値と、温度センサ23が検出した検出値から算出した半田ティップ22の温度変化量の実測値との差に応じて、補正値を設定する。
(Second embodiment)
In the second embodiment, the reference value is a value indicating the number of reference pulses that is set based on the difference between the set temperature of the solder tip 22 and the detected value (S0) acquired by the acquisition unit 51. Setting the reference value includes reference to the LUT or calculation using an arithmetic expression. In the second embodiment, the setting unit 53 calculates the predicted value of the amount of temperature change of the solder tip 22 predicted when the reference pulse number indicated by the reference value is applied, and the detected value detected by the temperature sensor 23. A correction value is set according to the difference between the amount of temperature change of the solder tip 22 and the actual measurement value.

具体的に、設定部53は、温度変化傾向が温度下降傾向かつ温度変化量の予測値の絶対値から温度変化量の実測値の絶対値を引いた差が負である場合(温度変化量の実測値の絶対値が温度変化量の予測値の絶対値超である場合)、又は、温度変化傾向が温度上昇傾向かつ温度変化量の予測値の絶対値から温度変化量の実測値の絶対値を引いた差が正である場合(温度変化量の実測値の絶対値が温度変化量の予測値の絶対値未満である場合)は、基準値に補正値を加算することによって、基準パルス数よりも多い加熱パルス数を設定する。また、設定部53は、温度変化傾向が温度下降傾向かつ温度変化量の予測値の絶対値から温度変化量の実測値の絶対値を引いた差が正である場合(温度変化量の実測値の絶対値が温度変化量の予測値の絶対値未満である場合)、又は、温度変化傾向が温度上昇傾向かつ温度変化量の予測値の絶対値から温度変化量の実測値の絶対値を引いた差が負である場合(温度変化量の実測値の絶対値が温度変化量の予測値の絶対値超である場合)は、基準値から補正値を減算することによって、基準パルス数よりも少ない加熱パルス数を設定する。これにより、加熱パルス数を簡易かつ適切に設定することが可能となる。ここで、予測値とは、基準パルス数を印加した場合に温度センサ23の検出値がどれだけ変化するかという温度変化量の予測値である。実際にはワークの大きさ等の半田ティップ22にかかる熱負荷又はその他の外的要因によって、加熱パルス印加後の検出値は予測値とは異なることが多く、本実施形態ではその予測値と実測値との差に応じた補正値を用いる。設定部53は、温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで補正値を異ならせるが、実際には予測値と実測値との差に応じた補正値が用いられるために、温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで補正値が偶然に同一となる場合も含まれる。また、第2実施形態において、LUT61は、基準値を示す基準テーブル(例えば図5)と、基準値に加算する補正値である加算値を示す加算テーブル(例えば図6)と、基準値から減算する補正値である減算値を示す減算テーブル(例えば図7)とを含む。 Specifically, when the temperature change trend is a decreasing trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value of the temperature change amount from the absolute value of the predicted value of the temperature change amount is negative ( (if the absolute value of the actual measured value exceeds the absolute value of the predicted value of the amount of temperature change), or the temperature change trend is a rising trend and the absolute value of the actual measured value of the amount of temperature change from the absolute value of the predicted value of the amount of temperature change If the difference obtained by subtracting Set the number of heating pulses higher than . Further, when the temperature change trend is a decreasing trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value of the temperature change amount from the absolute value of the predicted value of the temperature change amount is positive (the actual measured value of the temperature change amount is (the absolute value of the predicted value of the temperature change is less than the absolute value of the predicted value of the temperature change), or the temperature change trend is a rising trend and the absolute value of the actual measured value of the temperature change is subtracted from the absolute value of the predicted value of the temperature change. If the difference is negative (if the absolute value of the actual measured value of temperature change exceeds the absolute value of the predicted value of temperature change), by subtracting the correction value from the reference value, the number of pulses will be greater than the reference pulse number. Set a small number of heating pulses. This makes it possible to easily and appropriately set the number of heating pulses. Here, the predicted value is a predicted value of the amount of temperature change, which is how much the detected value of the temperature sensor 23 will change when the reference pulse number is applied. In reality, the detected value after applying the heating pulse is often different from the predicted value due to the heat load applied to the solder tip 22 such as the size of the workpiece or other external factors. A correction value is used depending on the difference from the value. The setting unit 53 sets different correction values depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend, but in reality, a correction value is used depending on the difference between the predicted value and the actual measurement value. Therefore, this also includes cases where the correction value is coincidentally the same in cases where the temperature tends to rise and cases where the temperature tends to fall. In addition, in the second embodiment, the LUT 61 includes a reference table (for example, FIG. 5) indicating a reference value, an addition table (for example, FIG. 6) indicating an addition value that is a correction value to be added to the reference value, and a table (for example, FIG. 6) indicating an addition value that is a correction value to be added to the reference value. and a subtraction table (for example, FIG. 7) showing subtraction values that are correction values.

図6を参照して、半田ティップ22の温度変化量の予測値から実測値を減算した温度差の絶対値が例えば5℃、10℃、15℃の場合は、加算値で示される加算パルス数(補正値)はそれぞれ4個、8個、21個となる。図7を参照して、半田ティップ22の温度変化量の予測値から実測値を減算した温度差の絶対値が例えば5℃、10℃、15℃の場合は、減算値で示される減算パルス数(補正値)はそれぞれ3個、5個、9個となる。 Referring to FIG. 6, if the absolute value of the temperature difference obtained by subtracting the actual value from the predicted value of the amount of temperature change of the solder tip 22 is, for example, 5°C, 10°C, or 15°C, then the number of additional pulses indicated by the added value (correction values) are 4, 8, and 21, respectively. Referring to FIG. 7, if the absolute value of the temperature difference obtained by subtracting the actual value from the predicted value of the amount of temperature change of the solder tip 22 is, for example, 5°C, 10°C, or 15°C, then the number of subtracted pulses indicated by the subtracted value (correction values) are 3, 5, and 9, respectively.

なお、加算テーブルは、温度下降傾向用の加算テーブル(下降用加算テーブル)と温度上昇傾向用の加算テーブル(上昇用加算テーブル)とが別個に設けられていても良い。下降用加算テーブルは、特定部52が温度下降傾向と特定し、かつ、温度変化量の予測値の絶対値から温度変化量の実測値の絶対値を引いた差が負である場合(温度変化量の実測値の絶対値が予測値の絶対値より大きい場合)に設定される補正値を示す。上昇用加算テーブルは、特定部52が温度上昇傾向と特定し、かつ、温度変化量の予測値の絶対値から温度変化量の実測値の絶対値を引いた差が正である場合(温度変化量の実測値の絶対値が予測値の絶対値より小さい場合)に設定される補正値を示す。 Note that the addition table may be provided separately as an addition table for a temperature decreasing tendency (a decreasing addition table) and an addition table for a temperature increasing tendency (a rising addition table). The downward addition table is used when the identifying unit 52 identifies a decreasing trend in temperature and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value of the temperature change from the absolute value of the predicted value of the temperature change is negative (temperature change Indicates the correction value set when the absolute value of the actual measured value of the quantity is greater than the absolute value of the predicted value. The increase addition table is used when the identification unit 52 identifies a temperature increase trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value of the temperature change amount from the absolute value of the predicted value of the temperature change amount is positive (temperature change Indicates the correction value set when the absolute value of the actual measured value of the quantity is smaller than the absolute value of the predicted value.

同様に、減算テーブルは、温度下降傾向用の減算テーブル(下降用減算テーブル)と温度上昇傾向用の減算テーブル(上昇用減算テーブル)とが別個に設けられていても良い。下降用減算テーブルは、特定部52が温度下降傾向と特定し、かつ、温度変化量の予測値の絶対値から温度変化量の実測値の絶対値を引いた差が正である場合(温度変化量の実測値の絶対値が予測値の絶対値より小さい場合)に設定される補正値を示す。上昇用減算テーブルは、特定部52が温度上昇傾向と特定し、かつ、温度変化量の予測値の絶対値から温度変化量の実測値の絶対値を引いた差が負である場合(温度変化量の実測値の絶対値が予測値の絶対値より大きい場合)に設定される補正値を示す。 Similarly, the subtraction table may be separately provided as a subtraction table for a temperature decreasing trend (a decreasing subtraction table) and a subtraction table for a temperature increasing trend (a rising subtraction table). The descending subtraction table is used when the identification unit 52 identifies a decreasing trend in temperature and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value of the temperature change from the absolute value of the predicted value of the temperature change is positive (temperature change Indicates the correction value set when the absolute value of the actual measured value of the quantity is smaller than the absolute value of the predicted value. The increase subtraction table is used when the identification unit 52 identifies a temperature increase trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value of the temperature change from the absolute value of the predicted value of the temperature change is negative (temperature change Indicates the correction value set when the absolute value of the actual measured value of the quantity is greater than the absolute value of the predicted value.

下降用加算テーブル、下降用減算テーブル、上昇用加算テーブル、及び上昇用減算テーブルを個別に設けることによって、細密な温度制御を行うことが可能となる。 By separately providing a descending addition table, a descending subtraction table, an ascending addition table, and an ascending subtraction table, it becomes possible to perform fine temperature control.

なお、下降用減算テーブルに関しては、全ての補正値がゼロに設定されていても良い。この場合、温度下降傾向で温度変化量の実測値が予測値より小さい場合であっても、温度変化量の予測値と実測値との差に関わらず加熱パルス数は基準パルス数に等しくなる。温度下降傾向時にはオーバーシュートの懸念がないものとして、あえて出力を下げる補正を行わない意図である。これにより、温度下降傾向時において半田処理装置11の性能低下を適切に防止することが可能となる。 Note that all correction values in the descending subtraction table may be set to zero. In this case, even if the actual value of the amount of temperature change is smaller than the predicted value due to a downward trend in temperature, the number of heating pulses will be equal to the number of reference pulses regardless of the difference between the predicted value and the actual value of the amount of temperature change. When the temperature is on a downward trend, there is no concern about overshoot, and the intention is not to make any correction to lower the output. This makes it possible to appropriately prevent performance deterioration of the solder processing device 11 when the temperature tends to decrease.

第2実施形態に係る情報処理部42が実行する処理は、図8のフローチャートによって示される。ステップSP01,SP02,SP04の処理は上記第1実施形態と同様である。 The process executed by the information processing unit 42 according to the second embodiment is shown by the flowchart in FIG. The processing in steps SP01, SP02, and SP04 is the same as in the first embodiment.

ステップSP03において設定部53は、補正値を用いて基準値を補正することによって、第1制御サイクルにおいてヒータ24に印加する加熱パルス数を設定する。設定部53は、基準パルス数を示す基準テーブルと、半田ティップ22の温度変化量の予測値と実測値との差に応じた補正値を示す加算テーブル又は減算テーブルとに基づいて、加熱パルス数を設定する。 In step SP03, the setting unit 53 sets the number of heating pulses to be applied to the heater 24 in the first control cycle by correcting the reference value using the correction value. The setting unit 53 determines the number of heating pulses based on a reference table indicating the number of reference pulses and an addition table or a subtraction table indicating a correction value according to the difference between the predicted value and the measured value of the amount of temperature change of the solder tip 22. Set.

図12は、第2実施形態に関して、設定部53による加熱パルス数Pの設定手法を示す図である。 FIG. 12 is a diagram showing a method of setting the number of heating pulses P by the setting section 53 in the second embodiment.

ΔTは、検出値S0から検出値S1を減算した温度変化量である。 ΔT is the amount of temperature change obtained by subtracting the detected value S1 from the detected value S0.

ΔTupは、温度上昇傾向時における検出値S0から検出値S1を減算した温度変化量(温度上昇量)の実測値の絶対値である。設定部53は、検出値の履歴情報62に基づいて、温度変化量の実測値を算出する。 ΔTup is the absolute value of the actual measured value of the amount of temperature change (amount of temperature rise) obtained by subtracting the detected value S1 from the detected value S0 when the temperature tends to increase. The setting unit 53 calculates the measured value of the amount of temperature change based on the detected value history information 62.

ΔTupPは、温度上昇傾向時における検出値S1の後、測定タイミングT0に予測される温度変化量(温度上昇量)の予測値の絶対値である。設定部53は、過去の制御サイクルにおける加熱パルス数の設定値の履歴情報と、半田ティップ22の設定温度と、検出値の履歴情報62とに基づいて、温度変化量の予測値を算出する。なお、温度変化量の予測値は、予め定められた予測テーブルに基づいて取得されても良い。当該予測テーブルは、基準パルス数が特定の種類のこて先に印加された時の温度変化の予測値を示し、実験又はシミュレーション等によって予め作成される。この場合、予測テーブルは温度上昇傾向の場合と温度下降傾向の場合とで異なる予測テーブルを用いてもよい。 ΔTupP is the absolute value of the predicted value of the amount of temperature change (amount of temperature rise) predicted at measurement timing T0 after the detected value S1 when the temperature tends to increase. The setting unit 53 calculates a predicted value of the amount of temperature change based on the history information of the set value of the number of heating pulses in the past control cycle, the set temperature of the solder tip 22, and the history information 62 of the detected value. Note that the predicted value of the amount of temperature change may be obtained based on a predetermined prediction table. The prediction table indicates a predicted value of temperature change when a reference pulse number is applied to a specific type of soldering iron tip, and is created in advance by experiment, simulation, or the like. In this case, different prediction tables may be used for the case where the temperature tends to rise and the case where the temperature tends to fall.

ΔTdownは、温度下降傾向時における検出値S0から検出値S1を減算した温度変化量(温度下降量)の実測値の絶対値である。 ΔTdown is the absolute value of the actual measured value of the amount of temperature change (amount of temperature decrease) obtained by subtracting the detected value S1 from the detected value S0 when the temperature tends to decrease.

ΔTdownPは、温度下降傾向時における検出値S1の後、測定タイミングT0に予測される温度変化量(温度下降量)の予測値の絶対値である。 ΔTdownP is the absolute value of the predicted value of the amount of temperature change (amount of temperature decrease) predicted at measurement timing T0 after the detected value S1 when the temperature tends to decrease.

は、加算テーブルによって設定される加算パルス数である。 P + is the number of addition pulses set by the addition table.

は、減算テーブルによって設定される減算パルス数である。 P- is the number of subtraction pulses set by the subtraction table.

Pは、第1制御サイクル(次に印加するパルス数)に関して設定する加熱パルス数である。 P is the number of heating pulses set for the first control cycle (number of pulses applied next).

P0は、基準テーブルによって設定される基準パルス数である。 P0 is the reference pulse number set by the reference table.

設定部53は、条件1により温度維持傾向である場合(ΔT=0)には、基準テーブルによって設定した基準パルス数に等しく加熱パルス数P(=P0)を設定する。 When the temperature tends to be maintained according to condition 1 (ΔT=0), the setting unit 53 sets the number of heating pulses P (=P0) equal to the reference pulse number set by the reference table.

設定部53は、条件1により温度上昇傾向である場合(ΔT>0)には、ΔTupP-ΔTupを計算する。設定部53は、条件2により当該計算結果が負(<0)である場合には、予測より温度上昇が大きいと判断し、基準テーブルによって設定した基準パルス数から、減算テーブルによって設定した減算パルス数を減算することにより、加熱パルス数P(=P0-P)を設定する。つまり、特定部52が温度上昇傾向と特定し、かつ、温度変化量の実測値の絶対値が温度変化量の予測値の絶対値より大きい場合、設定部53は、基準値から補正値を減算することによって、基準パルス数よりも少ない加熱パルス数を設定する。これにより、ヒータ24への余分な電力供給を抑制し、図1において実線で示すようにオーバーシュートを適切に抑制することが可能となる。また、設定部53は、条件2により当該計算結果が正(>0)である場合には、予測より温度上昇が小さいと判断し、基準テーブルによって設定した基準パルス数に、加算テーブルによって設定した加算パルス数を加算することにより、加熱パルス数P(=P0+P)を設定する。これにより、半田ティップ22の設定温度への復帰を素早く確実に行う。また、設定部53は、条件2により当該計算結果がゼロである場合には、基準テーブルによって設定した基準パルス数に等しく加熱パルス数P(=P0)を設定する。 If the temperature tends to increase according to condition 1 (ΔT>0), the setting unit 53 calculates ΔTupP−ΔTup. If the calculation result is negative (<0) according to condition 2, the setting unit 53 determines that the temperature rise is larger than predicted, and calculates the subtraction pulse set by the subtraction table from the reference pulse number set by the reference table. By subtracting the number, the number of heating pulses P (=P0−P ) is set. In other words, when the identifying unit 52 identifies a temperature increase trend and the absolute value of the actual measured value of the temperature change is larger than the absolute value of the predicted value of the temperature change, the setting unit 53 subtracts the correction value from the reference value. By doing so, the number of heating pulses is set smaller than the reference number of pulses. This makes it possible to suppress excess power supply to the heater 24 and appropriately suppress overshoot as shown by the solid line in FIG. Further, if the calculation result is positive (>0) according to condition 2, the setting unit 53 determines that the temperature rise is smaller than predicted, and sets the number of pulses set by the addition table to the reference pulse number set by the reference table. The number of heating pulses P (=P0+P + ) is set by adding the number of additional pulses. This ensures that the solder tip 22 returns to the set temperature quickly and reliably. Further, when the calculation result is zero according to condition 2, the setting unit 53 sets the number of heating pulses P (=P0) equal to the reference number of pulses set by the reference table.

設定部53は、条件1により温度下降傾向である場合(ΔT<0)には、ΔTdownP-ΔTdownを計算する。設定部53は、条件2により当該計算結果が負(<0)である場合には、予測より温度下降が大きいと判断し、基準テーブルによって設定した基準パルス数に、加算テーブルによって設定した加算パルス数を加算することにより、加熱パルス数P(=P0+P)を設定する。これにより、想定より大きな負荷がかかった場合にヒータ24への追加の電力供給を行う。また、設定部53は、条件2により当該計算結果が正(>0)である場合には、予測より温度下降が小さいと判断し、基準テーブルによって設定した基準パルス数から、減算テーブルによって設定した減算パルス数を減算することにより、加熱パルス数P(=P0-P)を設定する。これにより、半田ティップ22の温度の復帰に必要な熱以外の熱の供給を抑え、こて先21の余分な熱の蓄積を抑制する。また、設定部53は、条件2により当該計算結果がゼロである場合には、基準テーブルによって設定した基準パルス数に等しく加熱パルス数P(=P0)を設定する。 The setting unit 53 calculates ΔTdownP−ΔTdown when the temperature tends to decrease according to condition 1 (ΔT<0). If the calculation result is negative (<0) according to condition 2, the setting unit 53 determines that the temperature drop is larger than predicted, and adds the addition pulse set according to the addition table to the reference pulse number set according to the reference table. By adding the numbers, the number of heating pulses P (=P0+P + ) is set. Thereby, additional power is supplied to the heater 24 when a load larger than expected is applied. Further, if the calculation result is positive (>0) according to condition 2, the setting unit 53 determines that the temperature drop is smaller than predicted, and calculates the number of pulses set by the subtraction table from the reference pulse number set by the reference table. The number of heating pulses P (=P0−P ) is set by subtracting the number of subtraction pulses. This suppresses the supply of heat other than the heat required to restore the temperature of the soldering tip 22, and suppresses the accumulation of excess heat in the soldering tip 21. Further, when the calculation result is zero according to condition 2, the setting unit 53 sets the number of heating pulses P (=P0) equal to the reference number of pulses set by the reference table.

第2実施形態によれば、第1実施形態によって得られる効果に加えて、設定部53が半田ティップ22の温度変化量の予測値と実測値との差に応じて補正値を設定することにより、適切な加熱パルス数を高精度に設定することが可能となる。 According to the second embodiment, in addition to the effects obtained by the first embodiment, the setting unit 53 sets a correction value according to the difference between the predicted value and the measured value of the amount of temperature change of the solder tip 22. , it becomes possible to set an appropriate number of heating pulses with high precision.

(第3実施形態)
第3実施形態において、基準値は、前回の制御サイクルである第2制御サイクルにおける加熱パルス数を示す値である。
(Third embodiment)
In the third embodiment, the reference value is a value indicating the number of heating pulses in the second control cycle, which is the previous control cycle.

第3実施形態において、設定部53は、第2制御サイクルにおける加熱パルス数を示す基準値と、検出値及び検出値の履歴情報に基づく半田ティップ22の温度変化量に応じた上記補正値とに基づいて、第1制御サイクルにおける加熱パルス数を設定する。これにより、加熱パルス数を簡易かつ適切に設定することが可能となる。 In the third embodiment, the setting unit 53 sets the reference value indicating the number of heating pulses in the second control cycle and the correction value according to the amount of temperature change of the solder tip 22 based on the detected value and the history information of the detected value. Based on this, the number of heating pulses in the first control cycle is set. This makes it possible to easily and appropriately set the number of heating pulses.

具体的に、設定部53は、半田ティップ22の温度変化傾向が温度上昇傾向である場合は、基準値から補正値を減算することによって、基準パルス数よりも少ない加熱パルス数を設定する。また、設定部53は、半田ティップ22の温度変化傾向が温度下降傾向である場合は、基準値に補正値を加算することによって、基準パルス数よりも多い加熱パルス数を設定する。また、第3実施形態において、LUT61は、加算値を示す加算テーブル(例えば図6)と、減算値を示す減算テーブル(例えば図7)とを含む。 Specifically, when the temperature change tendency of the solder tip 22 is a temperature increase tendency, the setting unit 53 sets the number of heating pulses smaller than the reference pulse number by subtracting the correction value from the reference value. Further, when the temperature change tendency of the solder tip 22 is a temperature decreasing tendency, the setting unit 53 sets the number of heating pulses larger than the reference pulse number by adding a correction value to the reference value. Further, in the third embodiment, the LUT 61 includes an addition table (for example, FIG. 6) indicating an addition value and a subtraction table (for example, FIG. 7) indicating a subtraction value.

第3実施形態に係る情報処理部42が実行する処理は、図8のフローチャートによって示される。ステップSP01,SP02,SP04の処理は上記第1実施形態と同様である。 The process executed by the information processing unit 42 according to the third embodiment is shown by the flowchart in FIG. The processing in steps SP01, SP02, and SP04 is the same as in the first embodiment.

ステップSP03において設定部53は、補正値を用いて基準値を補正することによって、第1制御サイクルにおいてヒータ24に印加する加熱パルス数を設定する。設定部53は、第2制御サイクルにおける加熱パルス数を示す基準値と、検出値及び検出値の履歴情報に基づく半田ティップ22の温度変化量に応じた上記補正値とに基づいて、第1制御サイクルにおける加熱パルス数を設定する。 In step SP03, the setting unit 53 sets the number of heating pulses to be applied to the heater 24 in the first control cycle by correcting the reference value using the correction value. The setting unit 53 performs the first control based on the reference value indicating the number of heating pulses in the second control cycle and the correction value according to the amount of temperature change of the solder tip 22 based on the detected value and the history information of the detected value. Set the number of heating pulses in the cycle.

図13及び図14は、第3実施形態に関して、設定部53による加熱パルス数Pの設定手法を示す図である。 FIGS. 13 and 14 are diagrams showing a method for setting the number of heating pulses P by the setting section 53 in the third embodiment.

Taは、第1制御サイクルの検出値S0から第2制御サイクルの検出値S1を減算した温度変化量である。 Ta is the amount of temperature change obtained by subtracting the detected value S1 of the second control cycle from the detected value S0 of the first control cycle.

Tbは、第2制御サイクルの検出値S1から第3制御サイクルの検出値S2を減算した温度変化量である。 Tb is the amount of temperature change obtained by subtracting the detected value S2 of the third control cycle from the detected value S1 of the second control cycle.

Tcは、第1制御サイクルの検出値S0から第3制御サイクルの検出値S2を減算した温度変化量である。 Tc is the amount of temperature change obtained by subtracting the detected value S2 of the third control cycle from the detected value S0 of the first control cycle.

Paは、温度変化量Taに基づいて加算テーブルによって設定される加算パルス数である。 Pa + is the number of addition pulses set by the addition table based on the amount of temperature change Ta.

Paは、温度変化量Taに基づいて減算テーブルによって設定される減算パルス数である。 Pa - is the number of subtraction pulses set by the subtraction table based on the temperature change amount Ta.

Pbは、温度変化量Tbに基づいて加算テーブルによって設定される加算パルス数である。 Pb + is the number of addition pulses set by the addition table based on the amount of temperature change Tb.

Pbは、温度変化量Tbに基づいて減算テーブルによって設定される減算パルス数である。 Pb - is the number of subtraction pulses set by the subtraction table based on the temperature change amount Tb.

Pは、第1制御サイクル(次に印加するパルス数)に関して設定する加熱パルス数である。 P is the number of heating pulses set for the first control cycle (number of pulses applied next).

P0は、第2制御サイクルにおいて設定した加熱パルス数(基準パルス数)である。 P0 is the number of heating pulses (reference pulse number) set in the second control cycle.

設定部53は、条件1により温度維持傾向である場合(Ta=0)には、基準パルス数に等しく加熱パルス数P(=P0)を設定する。 When the temperature tends to be maintained according to condition 1 (Ta=0), the setting unit 53 sets the number of heating pulses P (=P0) equal to the reference number of pulses.

設定部53は、条件1により温度上昇傾向である場合(Ta>0)には、条件2によりTbが正(>0)であるか負又は0(≦0)であるかを判定する。Tbが正である場合、条件3によりTcは正又は0(≧0)である。Tcが正又は0である場合(つまり図14の一番上の特性である場合)、設定部53は、PaとPbとの合計値をP0から減算することにより、加熱パルス数P(=P0-(Pa+Pb))を設定する。つまり、特定部52が温度上昇傾向と特定した場合、設定部53は、基準値から補正値を減算することによって、基準パルス数よりも少ない加熱パルス数を設定する。これにより、ヒータ24への余分な電力供給を抑制し、オーバーシュートを適切に抑制することが可能となる。Tbが負又は0である場合、設定部53は、条件3によりTcが正又は0(≧0)であるか負(<0)であるかを判定する。Tcが正又は0である場合(つまり図14の上から2番目の特性である場合)、設定部53は、PaをP0から減算することにより、加熱パルス数P(=P0-Pa)を設定する。これにより、ヒータ24への余分な電力供給を抑制し、オーバーシュートを適切に抑制することが可能となる。Tcが負である場合(つまり図14の上から3番目の特性である場合)、設定部53は、基準パルス数に等しく加熱パルス数P(=P0)を設定する。つまり、設定部53は、第1制御サイクルと第2制御サイクルとの間の温度変化傾向と、第2制御サイクルと第3制御サイクルとの間の温度変化傾向とが互いに相違し、かつ、第1制御サイクルと第2制御サイクルとの間の温度変化量が、第2制御サイクルと第3制御サイクルとの間の温度変化量未満である場合、補正値をゼロに設定する。この結果、ノイズ等に起因する誤制御の発生を抑制することが可能となる。これにより、直前の検出値に左右されるのではなく、それ以前の履歴から複数サイクル前と比較した温度上昇又は温度下降の傾向の度合いに基づいて補正値を適切に設定できる。 When the temperature tends to increase according to condition 1 (Ta>0), the setting unit 53 determines whether Tb is positive (>0), negative, or 0 (≦0) according to condition 2. When Tb is positive, Tc is positive or 0 (≧0) according to condition 3. When Tc is positive or 0 (that is, when it is the topmost characteristic in FIG. 14), the setting unit 53 subtracts the total value of Pa and Pb from P0 to calculate the number of heating pulses P( =P0-( Pa- + Pb- )). That is, when the specifying unit 52 specifies that the temperature tends to increase, the setting unit 53 sets the number of heating pulses smaller than the reference pulse number by subtracting the correction value from the reference value. This makes it possible to suppress excess power supply to the heater 24 and appropriately suppress overshoot. When Tb is negative or 0, the setting unit 53 determines whether Tc is positive, 0 (≧0), or negative (<0) according to condition 3. When Tc is positive or 0 (that is, when it is the second characteristic from the top in FIG. 14), the setting unit 53 subtracts Pa from P0 to set the number of heating pulses P (=P0 − Pa ). Set. This makes it possible to suppress excess power supply to the heater 24 and appropriately suppress overshoot. If Tc is negative (that is, the third characteristic from the top in FIG. 14), the setting unit 53 sets the number of heating pulses P (=P0) equal to the reference number of pulses. In other words, the setting unit 53 determines that the temperature change tendency between the first control cycle and the second control cycle and the temperature change tendency between the second control cycle and the third control cycle are different from each other, and If the amount of temperature change between the first control cycle and the second control cycle is less than the amount of temperature change between the second control cycle and the third control cycle, the correction value is set to zero. As a result, it becomes possible to suppress the occurrence of erroneous control caused by noise or the like. Thereby, the correction value can be appropriately set based on the degree of the tendency of temperature rise or temperature fall compared to a plurality of cycles ago from the previous history, rather than depending on the immediately preceding detected value.

設定部53は、条件1により温度下降傾向である場合(Ta<0)には、条件2によりTbが負(<0)であるか正又は0(≧0)であるかを判定する。Tbが負である場合、条件3によりTcは負又は0(≦0)である。Tcが負又は0である場合(つまり図14の上から4番目の特性である場合)、設定部53は、PaとPbとの合計値をP0に加算することにより、加熱パルス数P(=P0+(Pa+Pb))を設定する。これにより、大きな負荷がかかった場合にヒータ24への追加の電力供給を行う。Tbが正又は0である場合、設定部53は、条件3によりTcが負又は0(≦0)であるか正(>0)であるかを判定する。Tcが負又は0である場合(つまり図14の上から5番目の特性である場合)、設定部53は、PaをP0に加算することにより、加熱パルス数P(=P0+Pa)を設定する。これにより、想定より大きな負荷がかかった場合にヒータ24への追加の電力供給を行う。Tcが正である場合(つまり図14の上から6番目の特性である場合)、設定部53は、基準パルス数に等しく加熱パルス数P(=P0)を設定する。この結果、ノイズ等に起因する誤制御の発生を抑制することが可能となる。これにより、直前の検出値に左右されるのではなく、それ以前の履歴から複数サイクル前と比較した温度上昇又は温度下降の傾向の度合いに基づいて補正値を適切に設定できる。 When the temperature tends to decrease according to condition 1 (Ta<0), the setting unit 53 determines whether Tb is negative (<0), positive, or 0 (≧0) according to condition 2. When Tb is negative, Tc is negative or 0 (≦0) according to condition 3. When Tc is negative or 0 (that is, the fourth characteristic from the top in FIG. 14), the setting unit 53 sets the number of heating pulses P by adding the total value of Pa + and Pb + to P0. (=P0+(Pa + +Pb + )) is set. Thereby, additional power is supplied to the heater 24 when a large load is applied. When Tb is positive or 0, the setting unit 53 determines whether Tc is negative, 0 (≦0), or positive (>0) according to condition 3. If Tc is negative or 0 (that is, the fifth characteristic from the top in FIG. 14), the setting unit 53 sets the number of heating pulses P (=P0+Pa + ) by adding Pa + to P0. do. Thereby, additional power is supplied to the heater 24 when a load larger than expected is applied. If Tc is positive (that is, the sixth characteristic from the top in FIG. 14), the setting unit 53 sets the number of heating pulses P (=P0) equal to the reference number of pulses. As a result, it becomes possible to suppress the occurrence of erroneous control caused by noise or the like. Thereby, the correction value can be appropriately set based on the degree of the tendency of temperature rise or temperature fall compared to a plurality of cycles ago from the previous history, rather than depending on the immediately preceding detected value.

第3実施形態によっても第1実施形態と同様に、温度下降傾向時において半田処理装置11の性能を低下させることなく、温度上昇傾向時においてオーバーシュートを抑制することが可能となる。 Similarly to the first embodiment, the third embodiment also makes it possible to suppress overshoot when the temperature tends to rise without reducing the performance of the solder processing apparatus 11 when the temperature tends to fall.

図15は、温度下降時における加熱パルス数の設定結果の一例を示す図である。設定温度との差に基づいて加熱パルス数を設定する従来手法と比較すると、基準値及び補正値を用いた発明手法では、温度下降時にはセンサ温度(検出値)が下がるほど加熱パルス数が従来手法より多く設定される傾向にある。これにより、発明手法によれば、温度下降時において半田処理装置11の性能の低下が効果的に回避される。 FIG. 15 is a diagram showing an example of the setting result of the number of heating pulses when the temperature decreases. Compared to the conventional method in which the number of heating pulses is set based on the difference from the set temperature, in the inventive method using a reference value and correction value, when the temperature decreases, the number of heating pulses decreases as the sensor temperature (detected value) decreases. It tends to be set more frequently. As a result, according to the inventive method, deterioration in the performance of the solder processing device 11 is effectively avoided when the temperature decreases.

図16は、温度上昇時における加熱パルス数の設定結果の一例を示す図である。従来手法と比較すると、基準値及び補正値を用いた発明手法では、温度上昇時にはセンサ温度が上がるほど加熱パルス数が従来手法より少なく設定される傾向にある。これにより、発明手法によれば、温度上昇時においてオーバーシュートが効果的に抑制される。 FIG. 16 is a diagram showing an example of the setting result of the number of heating pulses when the temperature rises. Compared to the conventional method, in the inventive method using a reference value and a correction value, when the temperature rises, the number of heating pulses tends to be set smaller as the sensor temperature rises, compared to the conventional method. As a result, according to the inventive method, overshoot is effectively suppressed when the temperature rises.

なお、制御中に半田ティップ22の温度が設定温度に復帰した場合には、前回の制御サイクルに関する加熱パルス数(基準値)はゼロにリセットしても良い。 Note that if the temperature of the solder tip 22 returns to the set temperature during control, the number of heating pulses (reference value) related to the previous control cycle may be reset to zero.

また、加算テーブル及び減算テーブルは、半田ティップ22の設定温度の温度領域に応じてそれぞれ複数設けられていても良い。 Furthermore, a plurality of addition tables and subtraction tables may be provided depending on the temperature range of the set temperature of the solder tip 22.

また、設定部53は加熱パルス数Pの設定のために今回の検出値S0、前回(1つ前)の検出値S1、及び前々回(2つ前)の検出値S2を用いたが、3つ前(又はそれより前)の検出値をさらに用いても良い。1つ前及び2つ前の検出値に代えて、2つ前及び4つ前等の検出値を用いても良い。複数の検出値の平均値を用いても良い。 In addition, the setting unit 53 used the current detection value S0, the previous (one previous) detection value S1, and the previous (two previous) detection value S2 to set the number of heating pulses P; Previous (or earlier) detected values may also be used. Instead of the first and second previous detected values, the second and fourth previous detected values may be used. An average value of a plurality of detected values may be used.

11 半田処理装置
12 制御装置
22 半田ティップ
23 温度センサ
24 ヒータ
42 情報処理部
43 記憶部
51 取得部
52 特定部
53 設定部
54 制御部
61 LUT
62 履歴情報
11 Solder processing device 12 Control device 22 Solder tip 23 Temperature sensor 24 Heater 42 Information processing section 43 Storage section 51 Acquisition section 52 Specification section 53 Setting section 54 Control section 61 LUT
62 History information

Claims (15)

半田を処理する半田処理部と、加熱パルスの印加によって前記半田処理部を加熱する加熱部と、前記半田処理部の温度を検出する検出部と、を有する半田処理装置を制御する制御装置であって、
前記検出部が検出した前記温度の検出値を取得する取得部と、
前記取得部が取得した前記検出値の履歴情報に基づいて、前記半田処理部の温度変化傾向を特定する特定部と、
補正値を用いて基準値を補正することによって、前記加熱部に印加する前記加熱パルス数を設定する設定部と、
前記設定部による前記加熱パルス数の設定結果に基づいて、前記加熱部への前記加熱パルスの印加を制御する制御部と、
前記履歴情報を記憶する記憶部と、
を備え、
前記設定部は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて前記補正値を設定する、制御装置。
A control device for controlling a solder processing apparatus having a solder processing section that processes solder, a heating section that heats the solder processing section by applying a heating pulse, and a detection section that detects the temperature of the solder processing section. hand,
an acquisition unit that acquires a detected value of the temperature detected by the detection unit;
an identifying unit that identifies a temperature change tendency of the soldering unit based on history information of the detected value acquired by the acquiring unit;
a setting unit that sets the number of heating pulses to be applied to the heating section by correcting a reference value using a correction value;
a control unit that controls application of the heating pulse to the heating unit based on the setting result of the number of heating pulses by the setting unit;
a storage unit that stores the history information;
Equipped with
The setting unit is a control device that sets the correction value using different correction information depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend.
前記補正用情報は、前記記憶部に記憶された、前記基準値に加算する加算値を示す加算テーブルと、前記基準値から減算する減算値を示す減算テーブルとを含み、
前記補正値は、前記加算テーブルが示す前記加算値、又は、前記減算テーブルが示す前記減算値であり、
前記設定部は、前記温度変化傾向に応じて、前記基準値、前記基準値に前記加算値を加算した値、又は、前記基準値から前記減算値を減算した値に基づいて、前記加熱パルス数を設定する、請求項1に記載の制御装置。
The correction information includes an addition table indicating an addition value to be added to the reference value and a subtraction table indicating a subtraction value to be subtracted from the reference value, which is stored in the storage unit,
The correction value is the addition value indicated by the addition table or the subtraction value indicated by the subtraction table,
The setting unit sets the number of heating pulses based on the reference value, a value obtained by adding the added value to the reference value, or a value obtained by subtracting the subtracted value from the reference value, according to the temperature change tendency. The control device according to claim 1, wherein the control device sets:
前記半田処理部の設定温度が第1領域に属する場合の前記加算テーブル及び前記減算テーブルと、前記半田処理部の前記設定温度が第2領域に属する場合の前記加算テーブル及び前記減算テーブルとは異なる、請求項2に記載の制御装置。 The addition table and the subtraction table when the temperature setting of the solder processing section belongs to a first region are different from the addition table and the subtraction table when the temperature setting of the soldering processing section belongs to a second region. , The control device according to claim 2. 前記基準値は、前記半田処理部の設定温度と前記取得部が取得した前記検出値との差に基づいて設定される基準パルス数を示す値であり、
前記半田処理部の前記設定温度が第1領域に属する場合の前記基準値と、前記半田処理部の前記設定温度が第2領域に属する場合の前記基準値とは異なる、請求項1に記載の制御装置。
The reference value is a value indicating a reference pulse number that is set based on the difference between the set temperature of the solder processing section and the detected value acquired by the acquisition section,
The reference value when the set temperature of the solder processing section belongs to a first region is different from the reference value when the set temperature of the solder processing section belongs to a second region. Control device.
前記設定部は、
前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合は、前記基準値から前記補正値を減算することによって、前記基準値で示される基準パルス数よりも少ない前記加熱パルス数を設定し、
前記温度変化傾向が温度下降傾向である場合は、前記基準値に前記補正値を加算することによって、前記基準パルス数よりも多い前記加熱パルス数を設定する、請求項1に記載の制御装置。
The setting section includes:
If the temperature change trend is a temperature increase trend, subtracting the correction value from the reference value to set the number of heating pulses smaller than the reference pulse number indicated by the reference value;
The control device according to claim 1, wherein when the temperature change trend is a temperature decrease trend, the number of heating pulses is set to be greater than the number of reference pulses by adding the correction value to the reference value.
前記基準値は、前記半田処理部の設定温度と前記取得部が取得した前記検出値との差に基づいて設定される基準パルス数を示す値であり、
前記設定部は、前記基準値で示される前記基準パルス数を印加した場合に予測される前記半田処理部の温度変化量の予測値と、前記検出部が検出した前記検出値から算出した前記半田処理部の温度変化量の実測値との差に応じて、前記補正値を設定する、請求項1に記載の制御装置。
The reference value is a value indicating a reference pulse number that is set based on the difference between the set temperature of the solder processing section and the detected value acquired by the acquisition section,
The setting unit is configured to calculate the solder temperature from a predicted value of a temperature change amount of the solder processing unit predicted when the reference pulse number indicated by the reference value is applied, and the detected value detected by the detection unit. The control device according to claim 1, wherein the correction value is set according to a difference between the temperature change amount of the processing section and an actual measurement value.
前記設定部は、
前記温度変化傾向が温度下降傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた差が負である場合、又は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた差が正である場合は、前記基準値に前記補正値を加算することによって、前記基準パルス数よりも多い前記加熱パルス数を設定し、
前記温度変化傾向が温度下降傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた差が正である場合、又は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた差が負である場合は、前記基準値から前記補正値を減算することによって、前記基準パルス数よりも少ない前記加熱パルス数を設定する、請求項6に記載の制御装置。
The setting section includes:
If the temperature change trend is a temperature decrease trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value from the absolute value of the predicted value is negative, or if the temperature change trend is a temperature increase trend and the absolute value of the predicted value is negative. If the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measurement value is positive, the number of heating pulses is set to be greater than the number of reference pulses by adding the correction value to the reference value;
If the temperature change trend is a temperature decrease trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measured value from the absolute value of the predicted value is positive, or if the temperature change trend is a temperature increase trend and the absolute value of the predicted value is positive. According to claim 6, when the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measurement value is negative, the number of heating pulses is set to be smaller than the number of reference pulses by subtracting the correction value from the reference value. control device.
前記記憶部は、
前記基準値を示す基準テーブルと、
前記補正用情報として、
前記温度変化傾向が温度下降傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた前記差が負である場合に設定される前記補正値を示す下降用加算テーブルと、
前記温度変化傾向が温度上昇傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた前記差が正である場合に設定される前記補正値を示す上昇用加算テーブルと、
前記温度変化傾向が温度下降傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた前記差が正である場合に設定される前記補正値を示す下降用減算テーブルと、
前記温度変化傾向が温度上昇傾向かつ前記予測値の絶対値から前記実測値の絶対値を引いた前記差が負である場合に設定される前記補正値を示す上昇用減算テーブルと、
を記憶する、請求項7に記載の制御装置。
The storage unit includes:
a reference table indicating the reference value;
As the correction information,
a downward addition table indicating the correction value to be set when the temperature change trend is a temperature decrease trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measurement value from the absolute value of the predicted value is negative;
an increase addition table indicating the correction value to be set when the temperature change trend is a temperature increase trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measurement value from the absolute value of the predicted value is positive;
a downward subtraction table indicating the correction value to be set when the temperature change trend is a temperature decrease trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measurement value from the absolute value of the predicted value is positive;
an increase subtraction table that indicates the correction value that is set when the temperature change trend is a temperature increase trend and the difference obtained by subtracting the absolute value of the actual measurement value from the absolute value of the predicted value is negative;
The control device according to claim 7, wherein the control device stores:.
前記下降用減算テーブルの前記補正値はゼロに設定されている、請求項8に記載の制御装置。 The control device according to claim 8, wherein the correction value of the descending subtraction table is set to zero. 前記設定部は、今回の制御サイクルである第1制御サイクルより前の第2制御サイクルにおける前記加熱パルス数を示す前記基準値と、前記検出値及び前記検出値の前記履歴情報に基づく前記半田処理部の温度変化量に応じた前記補正値とに基づいて、前記第1制御サイクルにおける前記加熱パルス数を設定する、請求項1に記載の制御装置。 The setting unit is configured to control the soldering process based on the reference value indicating the number of heating pulses in a second control cycle prior to the first control cycle that is the current control cycle, the detected value, and the history information of the detected value. The control device according to claim 1, wherein the number of heating pulses in the first control cycle is set based on the correction value according to the amount of temperature change of the part. 前記設定部は、
前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合は、前記基準値から前記補正値を減算することによって、前記基準値で示される基準パルス数よりも少ない前記加熱パルス数を設定し、
前記温度変化傾向が温度下降傾向である場合は、前記基準値に前記補正値を加算することによって、前記基準パルス数よりも多い前記加熱パルス数を設定する、請求項10に記載の制御装置。
The setting section includes:
If the temperature change trend is a temperature increase trend, subtracting the correction value from the reference value to set the number of heating pulses smaller than the reference pulse number indicated by the reference value;
11. The control device according to claim 10, wherein when the temperature change trend is a temperature decrease trend, the number of heating pulses is set to be greater than the number of reference pulses by adding the correction value to the reference value.
前記設定部は、前記第1制御サイクルと前記第2制御サイクルとの間の温度変化量と、前記第2制御サイクルとそれより前の第3制御サイクルとの間の温度変化量とに基づいて、前記補正値を設定する、請求項10に記載の制御装置。 The setting unit is based on the amount of temperature change between the first control cycle and the second control cycle, and the amount of temperature change between the second control cycle and a third control cycle preceding it. 11. The control device according to claim 10, wherein the control device sets the correction value. 前記設定部は、前記第1制御サイクルと前記第2制御サイクルとの間の前記温度変化傾向と、前記第2制御サイクルと前記第3制御サイクルとの間の前記温度変化傾向とが互いに相違し、かつ、前記第1制御サイクルと前記第2制御サイクルとの間の温度変化量が、前記第2制御サイクルと前記第3制御サイクルとの間の温度変化量未満である場合、前記補正値をゼロに設定する、請求項12に記載の制御装置。 The setting unit is configured such that the temperature change tendency between the first control cycle and the second control cycle is different from the temperature change tendency between the second control cycle and the third control cycle. , and when the amount of temperature change between the first control cycle and the second control cycle is less than the amount of temperature change between the second control cycle and the third control cycle, the correction value is 13. The control device according to claim 12, wherein the control device is set to zero. 半田を処理する半田処理部と、加熱パルスの印加によって前記半田処理部を加熱する加熱部と、前記半田処理部の温度を検出する検出部と、を有する半田処理装置を制御する制御装置に搭載される情報処理装置を、
前記検出部が検出した前記温度の検出値を取得する取得手段と、
前記取得手段が取得した前記検出値の履歴情報に基づいて、前記半田処理部の温度変化傾向を特定する特定手段と、
補正値を用いて基準値を補正することによって、前記加熱部に印加する加熱パルス数を設定する設定手段と、
前記設定手段による前記加熱パルス数の設定結果に基づいて、前記加熱部への前記加熱パルスの印加を制御する制御手段と、
として機能させるためのプログラムであって、
前記設定手段は、前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて前記補正値を設定する、プログラム。
Equipped in a control device that controls a solder processing apparatus that has a solder processing section that processes solder, a heating section that heats the solder processing section by applying a heating pulse, and a detection section that detects the temperature of the solder processing section. information processing equipment,
acquisition means for acquiring the detected value of the temperature detected by the detection unit;
identification means for identifying a temperature change tendency of the soldering section based on history information of the detected values acquired by the acquisition means;
Setting means for setting the number of heating pulses to be applied to the heating section by correcting the reference value using the correction value;
A control means for controlling application of the heating pulse to the heating section based on a result of setting the number of heating pulses by the setting means;
It is a program to function as
The setting means sets the correction value using different correction information depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend.
半田を処理する半田処理部と、加熱パルスの印加によって前記半田処理部を加熱する加熱部と、前記半田処理部の温度を検出する検出部と、を有する半田処理装置を制御する制御方法であって、
情報処理装置が、
前記検出部が検出した前記温度の検出値を取得し、
取得した前記検出値の履歴情報に基づいて、前記半田処理部の温度変化傾向を特定し、
補正値を用いて基準値を補正することによって、前記加熱部に印加する加熱パルス数を設定し、
前記加熱パルス数の設定結果に基づいて、前記加熱部への前記加熱パルスの印加を制御し、
前記加熱パルス数の設定において、前記温度変化傾向が温度上昇傾向である場合と温度下降傾向である場合とで異なる補正用情報を用いて前記補正値を設定する、制御方法。
A control method for controlling a solder processing apparatus having a solder processing section that processes solder, a heating section that heats the solder processing section by applying a heating pulse, and a detection section that detects the temperature of the solder processing section. hand,
The information processing device
obtaining a detection value of the temperature detected by the detection unit;
Identifying a temperature change trend of the soldering part based on the acquired history information of the detected values,
setting the number of heating pulses to be applied to the heating section by correcting the reference value using the correction value;
Controlling the application of the heating pulse to the heating section based on the setting result of the number of heating pulses,
In setting the number of heating pulses, the control method sets the correction value using different correction information depending on whether the temperature change trend is a temperature increase trend or a temperature decrease trend.
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