JP2023137090A - 測距装置及び測距方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】物体の配置情報を精度よく計測できる測距装置を提供する。
【解決手段】測距装置は、それぞれが物体で反射された反射光信号を受光する複数の受光素子と、前記複数の受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度及び受光タイミングに基づいて、前記物体までの距離に応じた距離画像を生成する画像処理部と、前記受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度と、前記反射光信号に基づいて計測される前記物体までの距離と、の少なくとも一方に基づいて、前記物体の方向を検出する物体方向検出部と、前記物体方向検出部で検出された前記物体の方向に基づいて、前記距離画像を構成する少なくとも一部の画素を分割する画素分割部と、を備える。
【選択図】図5
【解決手段】測距装置は、それぞれが物体で反射された反射光信号を受光する複数の受光素子と、前記複数の受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度及び受光タイミングに基づいて、前記物体までの距離に応じた距離画像を生成する画像処理部と、前記受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度と、前記反射光信号に基づいて計測される前記物体までの距離と、の少なくとも一方に基づいて、前記物体の方向を検出する物体方向検出部と、前記物体方向検出部で検出された前記物体の方向に基づいて、前記距離画像を構成する少なくとも一部の画素を分割する画素分割部と、を備える。
【選択図】図5
Description
本発明の一実施形態は、測距装置及び測距方法に関する。
物体に対して光信号を照射し、物体からの反射光信号を受光して、物体までの距離を非接触で計測するToF(Time of Flight)方式の測距装置が普及している。ToF方式の測距装置では、発光部から発光する光信号を一次元方向又は二次元方向に走査させて、所定の範囲内に位置する物体の距離を計測し、距離画像を生成する。距離画像の各画素は、個々の受光素子で受光された反射光信号に対応する。
各画素の受光素子は、各受光素子に応じた方向からの反射光信号を受光するが、その方向に複数の物体が位置する場合がある。この場合、1つの画素内に複数の物体の距離情報が含まれることになり、各物体の識別が困難になるおそれがある。
そこで、1つの画素内に複数の物体の距離情報が含まれる場合は、画素を分割して分割画素領域ごとに距離情報を求めることも考えられるが、同一方向に位置する複数の物体の向きや形状、サイズは必ずしも同一ではないため、画素の分割方向が適切でないと、個々の物体の配置情報を正しく計測できなくなる。
そこで、本発明の一実施形態では、物体の配置情報を精度よく計測できる測距装置及び測距方法を提供するものである。
上記の課題を解決するために、本発明の一実施形態によれば、それぞれが物体で反射された反射光信号を受光する複数の受光素子と、
前記複数の受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度及び受光タイミングに基づいて、前記物体までの距離に応じた距離画像を生成する画像処理部と、
前記受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度と、前記反射光信号に基づいて計測される前記物体までの距離と、の少なくとも一方に基づいて、前記物体の方向を検出する物体方向検出部と、
前記物体方向検出部で検出された前記物体の方向に基づいて、前記距離画像を構成する少なくとも一部の画素を分割する画素分割部と、を備える、測距装置が提供される。
前記複数の受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度及び受光タイミングに基づいて、前記物体までの距離に応じた距離画像を生成する画像処理部と、
前記受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度と、前記反射光信号に基づいて計測される前記物体までの距離と、の少なくとも一方に基づいて、前記物体の方向を検出する物体方向検出部と、
前記物体方向検出部で検出された前記物体の方向に基づいて、前記距離画像を構成する少なくとも一部の画素を分割する画素分割部と、を備える、測距装置が提供される。
以下、図面を参照して、測距装置及び測距方法の実施形態について説明する。以下では、測距装置の主要な構成部分を中心に説明するが、測距装置には、図示又は説明されていない構成部分や機能が存在しうる。以下の説明は、図示又は説明されていない構成部分や機能を除外するものではない。
(測距装置の基本構成)
図1は測距装置1の基本構成を示すブロック図である。図1の測距装置1は、ToF(Time of Flight)方式の距離計測を行うものである。図1の測距装置1は、発光部2と、光制御部3と、受光部4と、信号処理部5と、画像処理部6と、制御部7とを備えている。
図1は測距装置1の基本構成を示すブロック図である。図1の測距装置1は、ToF(Time of Flight)方式の距離計測を行うものである。図1の測距装置1は、発光部2と、光制御部3と、受光部4と、信号処理部5と、画像処理部6と、制御部7とを備えている。
図1の測距装置1の少なくとも一部は、1つ又は複数の半導体IC(Integrated Circuit)で構成可能である。例えば、信号処理部5と画像処理部6を一つの半導体チップの内部に集積してもよいし、この半導体チップに受光部4まで含めて集積してもよい。また、この半導体チップに発光部2まで含めて集積してもよい。
発光部2は、光信号を発光する。光信号は、例えば所定の周波数帯域及び所定のパルス幅を有するレーザ光信号である。レーザ光とは、位相及び周波数が揃ったコヒーレントな光である。発光部2は、パルス状の光信号を所定の周期で間欠的に発光する。発光部2が光信号を発光する周期は、光信号の一つのパルスに基づいて距離計測装置8で距離を計測するのに要する時間以上の時間間隔である。
発光部2は、発振器11と、発光制御部12と、発光素子13と、第1駆動部14と、第2駆動部15とを有する。発振器11は、光信号を発光する周期に応じた発振信号を生成する。第1駆動部14は、発振信号に同期させて、発光素子13に間欠的に電力を供給する。発光素子13は、第1駆動部14からの電力に基づいて、光信号を間欠的に出射する。発光素子13は、単一のレーザ光を出射するレーザ素子でもよいし、複数のレーザ光を同時に出射するレーザユニットでもよい。発光制御部12は、発振信号に同期させて、第2駆動部15を制御する。第2駆動部15は、発光制御部12からの指示に応じて、発振信号に同期した駆動信号を光制御部3に供給する。
光制御部3は、発光素子13から出射された光信号の進行方向を制御する。また、光制御部3は、第2駆動部15からの駆動信号に基づいて、光信号の進行方向を制御する。
光制御部3は、第1レンズ21と、ビームスプリッタ22と、第2レンズ23と、走査ミラー24とを有する。
第1レンズ21は発光部2から出射された光信号を集光させて、ビームスプリッタ22に導く。ビームスプリッタ22は、第1レンズ21からの光信号を二方向に分岐させて、第2レンズ23と走査ミラー24に導く。第2レンズ23は、ビームスプリッタ22からの分岐光を受光部4に導く。光信号を受光部4に導光する理由は、受光部4にて発光タイミングを検出するためである。
走査ミラー24は、発光部2内の第2駆動部15からの駆動信号に同期して、ミラー面を回転駆動する。これにより、ビームスプリッタ22を通過して走査ミラー24のミラー面に入射された分岐光(光信号)の反射方向を制御する。第2駆動部15からの駆動信号に基づいて走査ミラー24のミラー面を一定周期で回転駆動することで、光制御部3から出射された光信号を所定範囲内で少なくとも一次元方向に走査させることができる。ミラー面を回転駆動する軸を二方向に設けることで、光制御部3から出射された光信号を所定範囲内で二次元方向に走査させることも可能となる。図1では、走査ミラー24により、測距装置1から発光される光信号をX方向及びY方向に走査させる例を示している。
測距装置1から発光された光信号の走査範囲内に、物体20が存在する場合、光信号は物体20で反射される。物体20で反射された反射光のうち、少なくとも一部は、受光部4にて受光される。
受光部4は、光検出器31と、増幅器32と、第3レンズ33と、受光素子34と、A/D変換器35とを有する。光検出器31は、ビームスプリッタ22で分岐された光を受光して電気信号に変換する。光検出器31にて、光信号の発光タイミングを検出できる。増幅器32は、光検出器31から出力された電気信号を増幅する。
第3レンズ33は、物体20で反射されたレーザ光を受光素子34に結像させる。受光素子34は、レーザ光を受光して電気信号に変換する。受光素子34は、例えばSPAD(Silicon Photon Avalanche Diode)である。SPADは、APD(Avalanche Photo-Diode)をガイガーモードで動作させるものであり、受光した1つの光子を光電変換した電気信号を出力することができる。実際には、複数の受光素子34が、一次元又は二次元方向に配置されている。1個のSPADで1画素を構成してもよいし、2以上のSPADで1画素を構成してもよい。1画素の単位は、SiPM(Silicon Photomultiplier)とも呼ばれる。
A/D変換器35は、受光素子34から出力された電気信号を所定のサンプリングレートでサンプリングしてA/D変換し、デジタル信号を生成する。A/D変換器35の代わりに、時間デジタル変換器(TDC:Time Digital Converter)を設けてもよい。
信号処理部5は、ヒストグラム生成部41と、距離計測部42とを有する。ヒストグラム生成部41は、A/D変換器35で生成されたデジタル信号に基づいて、受光部4が反射光信号の信号強度の時間分布であるヒストグラムを生成する。
距離計測部42は、ヒストグラムの時間頻度が最大のタイミングを反射光信号の受光タイミングとして、発光部2が光信号を発光したタイミングとの時間差により、物体までの距離を計測する。より具体的には、距離計測部42は、以下の式(1)に基づいて、物体20までの距離を計測する。
距離=光速×(反射光の受光タイミング-光信号の発光タイミング)/2 …(1)
距離計測部42は、ヒストグラムの時間頻度が最大のタイミングを反射光信号の受光タイミングとして、発光部2が光信号を発光したタイミングとの時間差により、物体までの距離を計測する。より具体的には、距離計測部42は、以下の式(1)に基づいて、物体20までの距離を計測する。
距離=光速×(反射光の受光タイミング-光信号の発光タイミング)/2 …(1)
式(1)式における「反射光の受光タイミング」とは、より正確には、ヒストグラムで求められる反射光信号の信号強度が最大の受光タイミングである。
画像処理部6は、距離計測部42で計測された物体までの距離に基づいて、距離画像を生成する。距離画像は複数の画素で構成され、各画素は、対応する受光素子34で受光された反射光信号に基づく距離情報を表している。本実施形態による測距装置1は、画像処理部6の処理動作に特徴があり、その詳細は後述する。
制御部7は、発光部2、受光部4、信号処理部5、及び画像処理部6を制御する。具体的には、制御部7は、発光部2から光信号を発光するタイミングを制御するとともに、受光部4が反射光信号を受光してデジタル信号を生成する制御を行う。また、制御部7は、受光部4内のA/D変換器35がA/D変換する際の時間分解能を制御してもよい。また、制御部7は、信号処理部5内のヒストグラム生成部41がヒストグラムを生成する制御と、距離計測部42が物体までの距離を計測する制御を行う。さらに、制御部7は、画像処理部6が距離画像を生成する制御を行う。
図1の測距装置1の少なくとも一部は、SiP(Silicon in Package)で実装可能である。図2は受光部4と信号処理部5を基板上に実装してパッケージ化する例を示す模式的な斜視図である。図2の基板51上には、第1ダイ52と第2ダイ53が設けられている。第1ダイ52上には、図1の受光部4内の受光素子34が配置されている。受光素子34は、1以上のSPADを含むSiPM54である。SiPM54は、X方向及びY方向に複数個ずつ配置されている。第2ダイ53上には、図1の受光部4内のA/D変換器35(ADC)35と、信号処理部5とが配置されている。第1ダイ52上のパッド55と、第2ダイ53上のパッド56とがボンディングワイヤ57で接続されている。
図2のレイアウト図では、第1ダイ52上に複数のSiPM54を配置しているが、各SiPM54に対応づけて、APDのデッドタイムを短縮するためのアクティブクエンチ回路やパッシブクエンチ回路を配置してもよい。また、第2ダイ53上に画像処理部6を実装してもよい。
図1の測距装置1は、LiDAR(Light Detection And Ranging)とも呼ばれる。距離画像を構成する各画素は、対応する方向からの反射光信号を受光して得られる物体までの距離情報を含んでいる。各画素で受光される反射光信号は、必ずしも一つの物体で反射された光信号とは限らず、複数の物体で反射された光信号を含む場合もありうる。
図3Aは複数の物体からの反射光信号が1つの画素で受光される例を示す図、図3Bは受光素子34の出力信号波形を示す図である。1つの画素の視野範囲(FoV:Field of View)内の第1物体Aと第2物体Bは、測距装置1から同一方向の互いに異なる距離に配置されている。この場合、この方向の反射光信号を受光する受光素子34の出力信号は、図3Bのような波形になる。第1物体Aは、第2物体Bよりも測距装置1に近い位置に配置されているため、受光素子34は第1物体Aからの反射光信号を1stエコー信号として受光し、その後、第2物体Bからの反射光信号を2ndエコー信号として受光する。図示のように、1stエコー信号の信号強度のピーク値は、2ndエコー信号の信号強度のピーク値よりも大きい。
この他、受光素子34には、太陽光などの環境光信号も受光される。環境光信号の信号レベルは、通常は反射光信号の信号レベルよりもはるかに小さいため、フィルリング処理等で除去できるが、遠方に位置する物体からの反射光信号の信号レベルは小さくなるため、環境光信号との峻別が困難になる場合もありうる。
図3Aのように同一方向に位置する第1物体Aと第2物体Bからの1stエコー信号と2ndエコー信号を受光した受光素子34は、1stエコー信号に応じた電圧信号と、2ndエコー信号に応じた電圧信号をA/D変換器35に送る。A/D変換器35は、1stエコー信号と2ndエコー信号に応じたデジタル信号を生成する。信号処理部5内の距離計測部42は、1stエコー信号の受光タイミングに基づいて第1物体Aの距離を計測するとともに、2ndエコー信号の受光タイミングに基づいて第2物体Bの距離を計測する。画像処理部6は、第1物体Aの距離情報と第2物体Bの距離情報を含む距離画像を生成する。
図4は、距離画像内の水平方向に隣接する3つの画素p1、p2、p3の画素情報を模式的に示す図である。画素p1の全域は、第1物体Aからの反射光信号に基づく距離情報を含んでいる。画素p3の全域は、第2物体Bからの反射光信号に基づく距離情報を含んでいる。一方、画素p2の一部領域は、第1物体Aからの反射光信号に基づく距離情報を含み、画素p2の残りの領域は、第2物体Bからの反射光信号に基づく距離情報を含んでいる。
このように、図4の例では、画素p2は、第1物体Aからの反射光信号に基づく距離情報と、第2物体Bからの反射光信号に基づく距離情報とを含んでいるため、画素p2に含まれる距離情報がどの物体によるものかを正確に把握できなくなるおそれがある。そこで、本実施形態では、画素p2のように、一個の画素内に複数の物体の距離情報が含まれる場合は、画素を分割して解像度を向上させるものである。
(第1の実施形態)
第1の実施形態による測距装置1は、図1と同様のブロック構成を備えているが、画像処理部6の内部構成に特徴がある。
第1の実施形態による測距装置1は、図1と同様のブロック構成を備えているが、画像処理部6の内部構成に特徴がある。
図5は第1の実施形態による画像処理部6の内部構成の一例を示すブロック図である。第1の実施形態による画像処理部6は、物体方向検出部61と画素分割部62を有する。
物体方向検出部61には、距離計測部42で計測された画素ごとの距離情報が入力される。物体方向検出部61は、受光素子34で受光された反射光信号の信号強度と、反射光信号に基づいて計測される物体までの距離との少なくとも一方に基づいて、物体の方向を検出する。
画素分割部62は、物体方向検出部61で検出された物体の方向に基づいて、距離画像を構成する少なくとも一部の画素を分割する。画素分割部62は、複数の物体の距離情報を含む画素を分割する。
物体方向検出部61は、受光素子34で受光された2つ以上の物体からの反射光信号の信号強度と、反射光信号に基づいて計測される2つ以上の物体までの距離と、の少なくとも一方に基づいて、2つ以上の物体の少なくとも一方の方向を検出する。画素分割部62は、2つ以上の物体の少なくとも一方の方向に基づいて、2つ以上の物体の距離情報を含む画素を分割する。
画素分割部62は、2つ以上の物体の距離情報を含む画素内の個々の物体の位置に応じて画素分割を行ってもよい。例えば、後述するように、1画素内の右上部分に他の物体の距離情報が含まれる場合は、この右上部分を分割して他の物体の距離情報を割り振ってもよい。
図6は物体方向検出部61の処理動作の一例を示す図である。図6Aは第1物体Aの距離情報と第2物体Bの距離情報が一部の画素で重なり合っている状態を示している。図6Aの例では、第1物体Aは、第2物体Bの長手方向に対して、傾斜した方向に配置されている。図6Aの格子状の各枠は、画素を示している。
図6Bは、太枠で示す注目画素の周囲において、第1物体Aの距離情報を含む画素にはA、第2物体Bの距離情報を含む画素にはBと記載した図である。図6A及び図6Bの注目画素の大部分は第2物体Bの距離情報を含んでいるが、注目画素内の右上の一部には、第1物体Aの距離情報が含まれている。そこで、物体方向検出部61は、図6Bに示すように、注目画素から右上方向を第1物体Aの方向として検出する。Aと記載された画素の配置により、第1物体Aの方向を検出できる。
図7は画素分割部62の処理動作の一例を示す図である。図7Aは図6Aと同じである。画素分割部62は、図7Bに示すように、第1物体Aが第2物体Bに重なり合っている領域を含む画素を分割し、画素サイズよりも小さい複数の分割画素dpa、dpbを設ける。各分割画素の一部dpaは第1物体Aに割り当てられ、残りdpbは第2物体Bに割り当てられる。より詳細には、第1物体Aと重なっている分割画素dpaは第1物体Aに割り当てられる。第1物体Aに割り当てられた分割画素dpaは、第2物体Bの長手方向から傾斜した方向に配置されており、分割画素dpaの配置により、第1物体Aの方向を検出することができる。
このように、第1の実施形態による測距装置1では、距離画像を構成する画素内に複数の物体の距離情報が含まれる場合には、重なり合う物体の方向を検出し、物体の方向に合わせて画素を分割する。これにより、物体の重なり具合に応じて画素を分割することができ、距離画像の解像度を向上できる。
本実施形態では、距離画像を構成する全画素を分割するのではなく、複数の物体の距離情報を含む画素に限って画素分割を行うため、距離画像のデータ量を極端に大きくすることなく、距離画像の高解像度化を行うことができる。
(第2の実施形態)
第2の実施形態は、1画素内に複数の物体の距離情報が含まれる場合に、1画素内の各物体の面積を計算するものである。
第2の実施形態は、1画素内に複数の物体の距離情報が含まれる場合に、1画素内の各物体の面積を計算するものである。
第2の実施形態による測距装置1は、図1と同様のブロック構成を備えているが、画像処理部6の内部構成が図5とは異なっている。
図8は第2の実施形態による画像処理部6の内部構成の一例を示すブロック図である。図8の画像処理部6は、物体方向検出部61と、画素分割部62と、信号強度検出部63と、物体面積計算部64とを有する。
図8は第2の実施形態による画像処理部6の内部構成の一例を示すブロック図である。図8の画像処理部6は、物体方向検出部61と、画素分割部62と、信号強度検出部63と、物体面積計算部64とを有する。
図8の物体方向検出部61は、図5の物体方向検出部61と同じであり、受光素子34で受光された反射光信号の信号強度と、反射光信号に基づいて計測される物体までの距離と、の少なくとも一方に基づいて、物体の方向を検出する。
信号強度検出部63は、受光素子34で受光された反射光信号の信号強度を検出する。信号強度とは、距離画像を構成する各画素信号の輝度情報に該当する。
物体面積計算部64は、信号強度検出部63で検出された信号強度に基づいて、反射光信号を受光した受光素子34に対応する画素内の物体の面積を計算する。
画素分割部62は、物体方向検出部61で検出された物体の方向と、物体面積計算部64で計算された画素内の物体の面積とに基づいて、画素を分割する。
物体面積計算部64は、1画素内に複数の物体の距離情報が含まれる場合には、1画素内に含まれる複数の物体の面積をそれぞれ計算した結果に基づいて複数の物体の中の特定の物体の面積を計算するか、又は1画素内に含まれる特定の物体以外の物体の面積を考慮せずに、1画素内に含まれる特定の物体の面積を計算する。
より詳細には、物体面積計算部64は、1画素内の複数の物体の面積比率に基づいて、1画素内に含まれる複数の物体の面積をそれぞれ計算するか、又は1画素内に含まれる特定の物体以外の物体の面積を考慮せずに、1画素内に含まれる特定の物体の面積を計算する。物体面積計算部64は、1画素内に複数の物体の距離情報が含まれる場合には、複数の物体からの反射光信号の信号強度を比較することにより、1画素内に含まれる複数の物体の面積をそれぞれ計算する。
物体面積計算部64は、第1計算部、第2計算部、及び第3計算部を有していてもよい。
例えば、第1計算部は、第1画素内の全域に第1物体Aの距離情報が含まれる場合の第1画素に対応する受光素子34の信号強度に対する、第2画素内の一部に第1物体Aが含まれる場合の第2画素に対応する受光素子34の信号強度の割合を計算する。第1計算部は、後述する式(5)の右辺分子の第1項の計算を行うものである。
例えば、第2計算部は、第3画素内の全域に第2物体Bが含まれる場合の第3画素に対応する受光素子34の信号強度に対する、第2画素内の一部に第2物体Bが含まれる場合の第2画素に対応する受光素子34の信号強度の割合を計算する。第2計算部は、後述する式(5)の右辺分子の括弧内の計算を行うものである。
例えば、第3計算部は、第1計算部で計算された割合と、第2計算部で計算された割合とに基づいて、第2画素内の第1物体A及び第2物体Bの少なくとも一方の面積割合を計算する。第3計算部は、後述する式(5)の計算を行うものである。
物体面積計算部64は、さらに第4計算部を有していてもよい。例えば、第4計算部は、第2計算部で計算された割合を1から引いた値を計算する。第3計算部は、第1計算部で計算された割合と、第4計算部で計算された割合とに基づいて、第2画素内の第1物体Aの面積割合を計算する。第4計算部は、後述する式(5)の右辺分子の括弧内の計算を行うものである。
図9は水平方向に配置される5つの画素の距離画像の一例を示す図である。以下では、5つの画素を第1画素px1~第5画素px5と呼ぶ。図9では、第4画素px4と第5画素px5は第1物体Aの距離情報のみを含み、第1画素px1と第2画素px2は第2物体Bの距離情報のみを含み、第3画素px3は第1物体Aと第2物体Bの距離情報を含む例を示している。第1物体Aは、第2物体Bよりも測距装置1から近い位置に存在するものとする。
物体面積計算部64は、以下の式(2)に基づいて、第3画素px3内の第1物体Aの面積割合p3_A_areaを計算する。面積割合p3_A_areaは、第3画素px3の面積を1としたときの第3画素px3内の第1物体Aの面積割合である。
式(2)では、第3画素px3内の第1物体Aからの反射光信号の信号強度をp3_A_1st_return、第4画素px4及び第5画素px5の信号強度の平均値をp4_p5_avr、第3画素px3内の第2物体Bからの反射光信号の信号強度をp3_B_2nd_return、第1画素px1及び第2画素px2の信号強度の平均値をp1_p2_avrとしている。
式(2)の右辺分子の第1項は、第4画素px4及び第5画素px5の第1物体Aからの反射光信号の信号強度の平均値に対する、第3画素px3の第1物体Aからの反射光信号の信号強度の割合である。すなわち、式(2)の右辺分子の第1項は、第3画素px3内の第1物体Aの面積割合を示している。
式(2)の右辺分子の括弧内は、第1画素px1及び第2画素px2の第2物体Bからの反射光信号の信号強度の平均値に対する、第3画素px3の第2物体Bからの反射光信号の信号強度の割合を1から引いた値である。すなわち、式(2)の右辺分子の括弧内は、第3画素px3内の第2物体Bの面積割合を1から引くことにより、第3画素px3内の第1物体Aの面積割合を示している。
このように、式(2)は、第1物体Aの反射光信号から求めた第3画素px3内の第1物体Aの面積割合と、第2物体Bの反射光信号から求めた第3画素px3内の第1物体Aの面積割合との平均値を求めている。
式(2)に基づいて第3画素px3内の第1物体Aの面積割合p3_A_areaを計算する代わりに、以下の式(3)又は式(4)に基づいて第3画素px3内の第1物体Aの面積割合p3_A_areaを計算する一比較例も考えられる。
式(3)は式(2)の右辺分子の第1項であり、第4画素px4及び第5画素px5の第1物体Aからの反射光信号の信号強度の平均値に対する、第3画素px3の第1物体Aからの反射光信号の信号強度の割合である。また、式(4)は式(2)の右辺分子の括弧内であり、第1画素px1及び第2画素px2の第2物体Bからの反射光信号の信号強度の平均値に対する、第3画素px3の第2物体Bからの反射光信号の信号強度の割合を1から引いた値である。
式(3)は、第3画素px3内の第1物体Aの面積割合p3_A_areaを、第3画素px3の信号強度を第4画素px4と第5画素px5の信号強度と比較することで求めており、第1画素px1と第2画素px2の信号強度は考慮に入れていない。また、式(4)は、第3画素px3内の第1物体Aの面積割合p3_A_areaを、第3画素px3の信号強度を第1画素px1と第2画素px2の信号強度と比較することで求めており、第4画素px4と第5画素px5の信号強度は考慮に入れていない。
これに対して、式(2)は、第3画素px3内の第1物体Aの面積割合p3_A_areaを、第3画素px3の信号強度を第4画素px4と第5画素px5の信号強度と比較した結果と、第3画素px3の信号強度を第1画素px1と第2画素px2の信号強度と比較した結果とを考慮に入れて求めている。よって、式(2)の方が、式(3)又は式(4)よりも、第3画素px3内の第1物体Aの面積割合p3_A_areaをより精度よく計算できる可能性が高い。
なお、後述するように、第3画素px3内に含まれる第1物体Aと第2物体Bの面積比率によっては、式(2)よりも、式(3)又は式(4)で第3画素px3内の第1物体Aの面積割合を計算した方が精度が高くなることもありえる。このことについては、後述する。
図9の例では、第3画素px3は、第1物体Aと第2物体Bの距離情報を含んでいる。よって、式(2)で計算された第3画素px3内の第1物体Aの面積割合p3_A_areaを引くことで、第3画素px3内の第2物体Bの面積割合p4_areaを計算できる。
式(2)では、第4画素px4及び第5画素px5の第1物体Aからの反射光信号の信号強度の平均値に対する、第3画素px3の第1物体Aからの反射光信号の信号強度の割合と、第1画素px1及び第2画素px2の第1物体Aからの反射光信号の信号強度の平均値に対する、第3画素px3の第1物体Aからの反射光信号の信号強度の割合との平均値を計算しているが、これら2つの割合の平均値を計算する代わりに、これら2つの割合の二乗平均平方根(RMS:Root Mean Square)を計算してもよい。また、平均値と二乗平均平方根の両方を考慮に入れて、最終的な面積割合を計算してもよい。式(5)においても同様であり、二乗平均平方根を計算してもよいし、平均値と二乗平均平方根の両方を考慮に入れて、最終的な面積割合を計算してもよい。
図10は、図9の例において、第3画素px3内の第1物体Aと第2物体Bの面積比率に応じて、第3画素px3内の第1物体Aの面積の計算結果が変動する様子を示すグラフである。図10の横軸は第3画素px3内の第1物体Aの面積比率、縦軸は第3画素px3内の第1物体Aの面積のばらつきである。縦軸の値が大きいほど、第3画素px3内の第1物体Aの面積のばらつきが大きいことを示している。図10は、シミュレーション結果を示している。
図10には、式(2)に基づいて第3画素px3内の第1物体Aの面積割合を計算した曲線w1と、式(3)又は式(4)に基づいて第3画素px3内の第1物体Aの面積割合を計算した曲線w2とが図示されている。
図10の曲線w1とw2に示すように、第3画素px3内の第1物体Aと第2物体Bの面積比率にそれほど差異がない場合には、式(2)に基づいて第3画素px3内の第1物体Aの面積割合を計算することで、第3画素px3内の第1物体Aの面積を精度よく計算できる。一方、第3画素px3内の第1物体Aと第2物体Bの面積比率に偏りがある場合は、式(2)に基づいて第3画素px3内の第1物体Aの面積割合を計算すると、第3画素px3内の第1物体Aの面積のばらつきが大きくなる。
また、式(3)又は式(4)式に基づいて第3画素px3内の第1物体Aの面積割合を計算すると、第1画素px1内の第1物体Aの面積比率が大きくなるに従って、第3画素px3内の第1物体Aの面積のばらつきが大きくなる。
図11は、図9の例において、第3画素px3内の第2物体Bの面積比率と、第3画素px3内の第2物体Bの面積の計算結果のばらつきとの関係を示す図である。図11の横軸は第3画素px3内の第2物体Bの面積比率、縦軸は第3画素px3内の第2物体Bの面積の計算結果のばらつきを示している。図11には、式(5)に基づいて第3画素px3内の第2物体Bの面積割合を計算した曲線w3と、式(3)又は式(4)に基づいて第3画素px3内の第1物体Aの面積割合を計算した曲線w4と、式(6)又は式(7)に基づいて第3画素px3内の第2物体Bの面積割合を計算した曲線w5とを示している。
図11に示すように、第3画素px3内の第2物体Bの面積比率が第1閾値TH1未満の場合は、式(6)又は式(7)に基づいて第3画素px3内の第2物体Bの面積割合を計算するのが望ましい。また、第3画素px3内の第2物体Bの面積比率が第1閾値TH1以上で、かつ第2閾値TH2未満の場合は、式(5)に基づいて第3画素px3内の第2物体Bの面積割合を計算するのが望ましい。また、第3画素px3内の第2物体Bの面積比率が第2閾値TH2以上の場合は、式(3)又は式(4)に基づいて第3画素px3内の第2物体Bの面積割合を計算するのが望ましい。
このように、第2の実施形態による測距装置1は、画像処理部6内に、物体方向検出部61と、信号強度検出部63と、物体面積計算部64と、画素分割部62を設ける。物体面積計算部64は、複数の物体の距離情報を含む画素について、受光素子34が受光した反射光信号の信号強度に基づいて、画素内の各物体の面積割合を計算する。画素分割部62は、物体方向検出部61で検出された物体の方向と、物体面積計算部64で計算された画素内の物体の面積とに基づいて、画素分割を行う。これにより、画素内の複数の物体の重なり具合を考慮に入れて画素分割を行うことができ、距離画像内の複数の物体の距離情報を含む画素の解像度を向上できるとともに、距離画像の視認性がよくなる。
また、第2の実施形態では、複数の物体の距離情報を含む画素については、その周辺の画素に含まれる物体の距離情報を考慮に入れて、各物体の面積割合を計算し、その計算結果に基づいて画素分割を行う。これにより、物体の位置や方向に合わせて画素分割を行うことができる。
上述した実施形態で説明した測距装置1の少なくとも一部は、ハードウェアで構成してもよいし、ソフトウェアで構成してもよい。ソフトウェアで構成する場合には、測距装置1の少なくとも一部の機能を実現するプログラムをフレキシブルディスクやCD-ROM等の記録媒体に収納し、コンピュータに読み込ませて実行させてもよい。記録媒体は、磁気ディスクや光ディスク等の着脱可能なものに限定されず、ハードディスク装置やメモリなどの固定型の記録媒体でもよい。
また、測距装置1の少なくとも一部の機能を実現するプログラムを、インターネット等の通信回線(無線通信も含む)を介して頒布してもよい。さらに、同プログラムを暗号化したり、変調をかけたり、圧縮した状態で、インターネット等の有線回線や無線回線を介して、あるいは記録媒体に収納して頒布してもよい。
本開示の態様は、上述した個々の実施形態に限定されるものではなく、当業者が想到しうる種々の変形も含むものであり、本開示の効果も上述した内容に限定されない。すなわち、特許請求の範囲に規定された内容およびその均等物から導き出される本開示の概念的な思想と趣旨を逸脱しない範囲で種々の追加、変更および部分的削除が可能である。
1 測距装置、2 発光部、3 光制御部、4 受光部、5 信号処理部、6 画像処理部、7 制御部、8 距離計測装置、11 発振器、12 発光制御部、13 発光素子、14 第1駆動部、15 第2駆動部、20 物体、21 第1レンズ、22 ビームスプリッタ、23 第2レンズ、24 走査ミラー、31 光検出器、32 増幅器、33 第3レンズ、34 受光素子、35 A/D変換器、41 ヒストグラム生成部、42 距離計測部、51 基板、52 第1ダイ、53 第2ダイ、55 パッド、56 パッド、57 ボンディングワイヤ、61 物体方向検出部、62 画素分割部、63 信号強度検出部、64 物体面積計算部
Claims (15)
- それぞれが物体で反射された反射光信号を受光する複数の受光素子と、
前記複数の受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度及び受光タイミングに基づいて、前記物体までの距離に応じた距離画像を生成する画像処理部と、
前記受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度と、前記反射光信号に基づいて計測される前記物体までの距離と、の少なくとも一方に基づいて、前記物体の方向を検出する物体方向検出部と、
前記物体方向検出部で検出された前記物体の方向に基づいて、前記距離画像を構成する少なくとも一部の画素を分割する画素分割部と、を備える、測距装置。 - 前記画素分割部は、前記距離画像を構成する画素のうち、2つ以上の物体の距離情報を含む画素を分割する、請求項1に記載の測距装置。
- 前記物体方向検出部は、前記受光素子で受光された2つ以上の物体からの前記反射光信号の信号強度と、前記反射光信号に基づいて計測される前記2つ以上の物体までの距離と、の少なくとも一方に基づいて、前記2つ以上の物体の少なくとも一方の方向を検出し、
前記画素分割部は、前記2つ以上の物体の少なくとも一方の方向に基づいて、前記2つ以上の物体の距離情報を含む画素を分割する、請求項2に記載の測距装置。 - 前記画素分割部は、前記2つ以上の物体の距離情報を含む画素内の個々の物体の位置に応じて画素分割を行う、請求項3に記載の測距装置。
- 前記受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度を検出する信号強度検出部と、
前記信号強度検出部で検出された信号強度に基づいて、前記反射光信号を受光した前記受光素子に対応する画素内の前記物体の面積を計算する物体面積計算部と、を備え、
前記画素分割部は、前記物体方向検出部で検出された前記物体の方向と、前記物体面積計算部で計算された前記画素内の前記物体の面積とに基づいて、前記距離画像を構成する少なくとも一部の画素を分割する、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の測距装置。 - 前記物体面積計算部は、1画素内に複数の物体の距離情報が含まれる場合には、前記1画素内に含まれる前記複数の物体の面積をそれぞれ計算した結果に基づいて前記複数の物体の中の特定の物体の面積を計算するか、又は前記1画素内に含まれる前記特定の物体以外の物体の面積を考慮せずに、前記1画素内に含まれる前記特定の物体の面積を計算する、請求項5に記載の測距装置。
- 前記物体面積計算部は、1画素内の前記複数の物体の面積比率に基づいて、前記1画素内に含まれる前記複数の物体の面積をそれぞれ計算するか、又は前記1画素内に含まれる前記特定の物体以外の物体の面積を考慮せずに、前記1画素内に含まれる前記特定の物体の面積を計算する、請求項6に記載の測距装置。
- 前記物体面積計算部は、1画素内に複数の物体の距離情報が含まれる場合には、前記複数の物体からの前記反射光信号の信号強度を比較することにより、前記1画素内に含まれる前記複数の物体の面積をそれぞれ計算する、請求項5乃至7のいずれか一項に記載の測距装置。
- 前記物体面積計算部は、
第1画素内の全域に第1物体の距離情報が含まれる場合の前記第1画素に対応する前記受光素子の信号強度に対する、第2画素内の一部に前記第1物体が含まれる場合の前記第2画素に対応する前記受光素子の信号強度の割合を計算する第1計算部と、
第3画素内の全域に第2物体が含まれる場合の前記第3画素に対応する前記受光素子の信号強度に対する、前記第2画素内の一部に前記第2物体が含まれる場合の前記第2画素に対応する前記受光素子の信号強度の割合を計算する第2計算部と、
前記第1計算部で計算された割合と、前記第2計算部で計算された割合とに基づいて、前記第2画素内の前記第1物体及び前記第2物体の少なくとも一方の面積割合を計算する第3計算部と、を有する、請求項7又は8に記載の測距装置。 - 前記物体面積計算部は、前記第2計算部で計算された割合を1から引いた値を計算する第4計算部を有し、
前記第3計算部は、前記第1計算部で計算された割合と、前記第4計算部で計算された割合とに基づいて、前記第2画素内の前記第1物体の面積割合を計算する、請求項9に記載の測距装置。 - 前記第3計算部は、前記第1計算部で計算された割合と、前記第4計算部で計算された割合との平均値及び二乗平均平方根の少なくとも一方に基づいて、前記第2画素内の前記第1物体の面積割合を計算する、請求項10に記載の測距装置。
- 前記受光素子で前記反射光信号が受光されたタイミングと、発光部が前記物体に向けて光信号を発光したタイミングとの時間差により、前記物体までの距離を計測する距離計測部を備える、請求項1乃至11のいずれか一項に記載の測距装置。
- 前記距離計測部は、前記画素分割部で分割された画素ごとに前記距離を計測し、
前記画像処理部は、前記画素分割部で分割された画素に応じた解像度の前記距離画像を生成する、請求項12に記載の測距装置。 - 前記光信号を発光する前記発光部を備える、請求項12又は13に記載の測距装置。
- 一次元方向又は二次元方向に配置される複数の画素のそれぞれに設けられる受光素子にて、物体で反射された反射光信号を受光し、
前記受光素子で受光された前記反射光信号の信号強度と、前記反射光信号に基づいて計測される前記物体までの距離と、の少なくとも一方に基づいて、前記物体の方向を検出し、
検出された前記物体の方向に基づいて、前記複数の画素のうちの少なくとも一部の画素を分割する、測距方法。
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