JP2023097072A - Display device - Google Patents

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Abstract

To provide a display device that can suppress a change in luminance by an off-leak of a switching transistor.SOLUTION: A display device 1 comprises a plurality of pixels, and each of the plurality of pixels comprises: a light emitting element EL; a holding capacitor Cs; a drive transistor TD; and a writing transistor T3. The holding capacitor Cs is formed of: a lower part electrode 310 that is connected to a gate electrode of the drive transistor TD, and connected to the writing transistor T3; a first insulation layer 140; a first top part electrode 220 that is connected to a source electrode of the drive transistor TD, and has a first facing part to be arranged facing the lower part electrode 310; a second insulation layer 150; and a second top part electrode 320 that is connected to the source electrode of the drive transistor TD, and has a second facing part to be arranged facing the lower part electrode 310, in which the first facing part and second facing part are formed in a part where the first and second facing parts are not overlapped, and the lower part electrode 310 is formed so as to overlap each of the first facing part and second facing part.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本開示は、表示装置に関する。 The present disclosure relates to display devices.

自発光型表示装置に用いられる電気光学素子として、有機EL素子が知られている。有機EL素子は、有機薄膜に電界をかけると発光する現象を利用した電気光学素子であり、有機EL素子を流れる電流値を制御することで発色の階調を得ている。そのため、有機EL素子を用いる有機EL表示装置は、有機EL素子の電流量を制御するための駆動トランジスタと、駆動トランジスタの制御電圧を保持する保持容量(キャパシタ)と、制御電圧を保持容量に書き込むためのサンプリングトランジスタ(書き込みトランジスタ)とを含む画素回路が画素ごとに設けられている(特許文献1を参照)。 Organic EL elements are known as electro-optical elements used in self-luminous display devices. An organic EL element is an electro-optical element that utilizes the phenomenon that an organic thin film emits light when an electric field is applied thereto, and color gradation is obtained by controlling the current value flowing through the organic EL element. Therefore, an organic EL display device using an organic EL element includes a drive transistor for controlling the current amount of the organic EL element, a storage capacitor for holding the control voltage of the drive transistor, and a control voltage written in the storage capacitor. A pixel circuit including a sampling transistor (writing transistor) is provided for each pixel (see Patent Document 1).

特開2013-057947号公報JP 2013-057947 A

ところで、書き込みトランジスタ等のスイッチングトランジスタのオフリークによって、保持容量に保持された電荷が減少することにより、有機EL素子等の発光素子に流れる発光電流が減少し、所望の輝度を維持できない、つまりオフリークにより輝度が変化することが起こり得る。特許文献1には、書き込みトランジスタのオフリークによる輝度の変化を抑制することについては開示されていない。 By the way, off-leakage of a switching transistor such as a writing transistor reduces the electric charge held in the storage capacitor, thereby reducing light emission current flowing through a light-emitting element such as an organic EL element. It can happen that the brightness changes. Japanese Patent Laid-Open No. 2002-200003 does not disclose suppression of luminance change due to off-leakage of the write transistor.

そこで、本開示は、スイッチングトランジスタのオフリークによる輝度の変化を抑制することができる表示装置を提供する。 Accordingly, the present disclosure provides a display device capable of suppressing luminance changes due to off-leakage of switching transistors.

本開示の一態様に係る表示装置は、2次元状に配置された複数の画素を備える表示装置であって、前記複数の画素のそれぞれは、発光素子と、データ信号線を介して供給されたデータ信号を保持する保持容量と、前記データ信号に応じた電流を前記発光素子に供給する駆動トランジスタと、前記データ信号線と前記駆動トランジスタのゲート電極との間に接続される書き込みトランジスタであって、ソース電極及びドレイン電極の一方が前記データ信号線と接続される書き込みトランジスタとを備え、前記保持容量は、前記駆動トランジスタのゲート電極、及び、前記書き込みトランジスタと接続される第1電極層と、第1電極層を覆う第1絶縁層と、前記駆動トランジスタのソース電極と接続され、前記第1絶縁層上に前記第1電極層と対向して配置される第1対向部を有する第2電極層と、前記第1絶縁層及び前記第2電極層を覆う第2絶縁層と、前記駆動トランジスタの前記ソース電極と接続され、少なくとも一部が前記第2絶縁層上に形成される第3電極層であって、前記第1電極層と対向して配置される第2対向部を有する第3電極層とにより形成され、前記第1対向部と前記第2対向部とは、前記表示装置の平面視において、互いに重ならない位置に形成され、前記第1電極層は、前記平面視において、前記第1対向部及び前記第2対向部のそれぞれと重なるように形成される。 A display device according to an aspect of the present disclosure is a display device including a plurality of pixels arranged two-dimensionally, wherein each of the plurality of pixels includes a light-emitting element and a data signal line. A holding capacitor for holding a data signal, a drive transistor for supplying a current corresponding to the data signal to the light emitting element, and a write transistor connected between the data signal line and a gate electrode of the drive transistor, , a write transistor having one of a source electrode and a drain electrode connected to the data signal line, wherein the storage capacitor includes a gate electrode of the drive transistor and a first electrode layer connected to the write transistor; a first insulating layer covering a first electrode layer; and a second electrode connected to the source electrode of the drive transistor and having a first facing portion arranged on the first insulating layer so as to face the first electrode layer. a second insulating layer covering the first insulating layer and the second electrode layer; and a third electrode connected to the source electrode of the driving transistor and at least partially formed on the second insulating layer. and a third electrode layer having a second facing portion arranged to face the first electrode layer, and the first facing portion and the second facing portion are formed of the display device. The first electrode layers are formed at positions that do not overlap each other in plan view, and the first electrode layers are formed so as to overlap each of the first facing portion and the second facing portion in plan view.

本開示の一態様に係る表示装置によれば、スイッチングトランジスタのオフリークによる輝度の変化を抑制することができる。 According to the display device according to one embodiment of the present disclosure, change in luminance due to off-leakage of the switching transistor can be suppressed.

図1は、比較例に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す平面図である。FIG. 1 is a plan view schematically showing the configuration of a pixel circuit of a display device according to a comparative example. 図2は、図1のII-II切断線で切断した、比較例に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a pixel circuit of a display device according to a comparative example cut along the II-II cutting line in FIG. 図3は、実施の形態1に係る表示装置の機能的な構成を示すブロック図である。3 is a block diagram showing a functional configuration of the display device according to Embodiment 1. FIG. 図4は、実施の形態1に係る表示装置の画素回路の構成を示す回路図である。4 is a circuit diagram showing a configuration of a pixel circuit of the display device according to Embodiment 1. FIG. 図5は、実施の形態1に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す平面図である。5 is a plan view schematically showing the configuration of the pixel circuit of the display device according to Embodiment 1. FIG. 図6は、図5のVI-VI切断線で切断した、実施の形態1に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。6 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit of the display device according to Embodiment 1, cut along the VI-VI cutting line in FIG. 図7は、図5のVII-VII切断線で切断した、実施の形態1に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit of the display device according to Embodiment 1, cut along the VII-VII cutting line in FIG. 図8は、実施の形態1に係る表示装置の効果を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining the effect of the display device according to Embodiment 1. FIG. 図9は、実施の形態1に係る表示装置の各種ゲート制御信号のタイミングチャートを示す図である。9 is a timing chart of various gate control signals of the display device according to Embodiment 1. FIG. 図10は、図5のVI-VI切断線に対応する切断線で切断した、実施の形態2に係る表示装置の画素回路の構成の第1例を模式的に示す断面図である。10 is a cross-sectional view schematically showing a first example of the configuration of the pixel circuit of the display device according to Embodiment 2, cut along a cutting line corresponding to the VI-VI cutting line in FIG. 図11は、図5のVI-VI切断線に対応する切断線で切断した、実施の形態2に係る表示装置の画素回路の構成の第2例を模式的に示す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view schematically showing a second example of the configuration of the pixel circuit of the display device according to Embodiment 2, cut along a cutting line corresponding to the VI-VI cutting line in FIG. 図12は、図5のVII-VII切断線に対応する切断線で切断した、実施の形態2に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。FIG. 12 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit of the display device according to Embodiment 2, taken along the cutting line corresponding to the VII-VII cutting line in FIG. 図13は、実施の形態2に係る表示装置の製造方法を説明するための図である。13A and 13B are diagrams for explaining the manufacturing method of the display device according to the second embodiment. 図14は、実施の形態3に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す平面図である。14 is a plan view schematically showing the configuration of the pixel circuit of the display device according to Embodiment 3. FIG. 図15は、図14のXV-XV切断線で切断した、実施の形態3に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。15 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit of the display device according to Embodiment 3, cut along the XV-XV cutting line of FIG. 14. FIG.

(本開示に至った経緯)
本開示の説明に先立ち、本開示に至った経緯について図1及び図2を参照しながら説明する。図1は、比較例に係る表示装置の画素回路1011の構成を模式的に示す平面図である。図2は、図1のII-II切断線で切断した、比較例に係る表示装置の画素回路1011の構成を模式的に示す断面図である。なお、以下では、回路と回路が形成される領域とを、同一の符号で参照することがある。
(Circumstances leading to this disclosure)
Prior to the description of the present disclosure, the background to the present disclosure will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. FIG. 1 is a plan view schematically showing the configuration of a pixel circuit 1011 of a display device according to a comparative example. FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a pixel circuit 1011 of a display device according to a comparative example, cut along the II-II cutting line in FIG. Note that hereinafter, a circuit and a region where the circuit is formed may be referred to with the same reference numerals.

図1に示すように、サブ画素回路1011R、1011G、1011Bは、画素領域1011を分割した3つのサブ画素領域1011R、1011G、1011Bにそれぞれ形成されている。サブ画素回路1011R、1011G、1011Bは、互いに同一の構成を有している。 As shown in FIG. 1, the sub-pixel circuits 1011R, 1011G and 1011B are formed in three sub-pixel regions 1011R, 1011G and 1011B obtained by dividing the pixel region 1011, respectively. The sub-pixel circuits 1011R, 1011G, and 1011B have the same configuration.

画素回路1011は、例えば、基板110上に、この順に配置された第1配線層、半導体層、第2配線層によって形成されている。第1配線層は、主に、制御信号線INI、REF、WS、参照電圧線VINI、VREF、保持容量Cs、Cs、Csの一方電極(例えば、図2に示す下部電極210)、及び、各トランジスタのゲート電極として用いられる。半導体層は、各トランジスタのチャネル領域として用いられる。第2配線層は、主に、データ信号線Vdat、Vdat、Vdat、正電源線VCC、保持容量Cs、Cs、Csの他方電極(例えば、図2に示す第1上部電極220)、及び、各トランジスタのソース電極、ドレイン電極として用いられる。異なる層同士は、ビアにより接続される。正電源線VCCは、電源線の一例である。 The pixel circuit 1011 is formed of, for example, a first wiring layer, a semiconductor layer, and a second wiring layer arranged in this order on the substrate 110 . The first wiring layer mainly includes control signal lines INI, REF, and WS, reference voltage lines VINI and VREF, one electrodes of storage capacitors Cs R , Cs G , and Cs B (for example, the lower electrode 210 shown in FIG. 2), And it is used as a gate electrode of each transistor. The semiconductor layer is used as the channel region of each transistor. The second wiring layer mainly includes the data signal lines Vdat R , Vdat G , Vdat B , the positive power supply line VCC, the other electrodes of the storage capacitors Cs R , Cs G , Cs B (for example, the first upper electrode shown in FIG. 2). 220), and the source and drain electrodes of each transistor. Different layers are connected by vias. The positive power line VCC is an example of a power line.

画素回路1011に含まれる発光素子EL、EL、ELは、同一の制御信号INI、REF、WSに従って同一のタイミングで保持容量Cs、Cs、Csに保持されたデータ信号(データ電圧)Vdat、Vdat、Vdatに応じた輝度で発光する。保持容量Cs、Cs、Csのそれぞれには、後述する駆動トランジスタTD、TD、TDのそれぞれのゲートソース間の電位差Vgsを決定するための電荷がデータ信号線Vdat、Vdat、Vdatを介して蓄積される。 The light emitting elements EL R , E G , and EL B included in the pixel circuit 1011 generate data signals ( data Voltage) Light is emitted with luminance corresponding to Vdat R , Vdat G , and Vdat B. Each of the storage capacitors Cs R , Cs G , and Cs B carries charges on the data signal lines Vdat R , Vdat for determining the potential difference Vgs between the gate and source of each of the drive transistors TDR , TDG , and TD B , which will be described later. G , accumulated through Vdat B ;

なお、図示は省略しているが、基板、第1配線層、半導体層、第2配線層を覆うように平坦化層が設けられ、発光素子EL、EL、ELは、平坦化層上に形成される。 Although not shown, a planarization layer is provided to cover the substrate, the first wiring layer, the semiconductor layer , and the second wiring layer. Formed on top.

なお、上記では、サブ画素回路に応じて各構成要素の符号に「R」、「G」及び「B」を付したが、以下において、3つのサブ画素回路を区別しない場合は、「R」、「G」及び「B」の記載を省略した符号を付す場合がある。保持容量Cs、Cs、Csを例に説明すると、保持容量Csとも記載する場合がある。 In the above description, "R", "G", and "B" are assigned to the symbols of the respective components according to the sub-pixel circuits. , “G” and “B” may be omitted. Taking the holding capacitors Cs R , Cs G , and Cs B as an example, they may also be referred to as holding capacitors Cs.

図2に示すように、画素回路1011は、断面構成として、基板110と、第1アンダーコート層120と、第2アンダーコート層130と、第1絶縁層140と、第2絶縁層150と、金属層160及び180と、発光層170と、第4絶縁層200と、下部電極210と、第1上部電極220と、正電源線VCC及びデータ信号線Vdatとを有する。図2の例では、表示装置は、トップエミッション型の表示装置である。すなわち、発光素子EL、EL、ELから発せられる光は、基板110の表面方向(Z軸プラス方向)に出射される。 As shown in FIG. 2, the pixel circuit 1011 has a cross-sectional configuration including a substrate 110, a first undercoat layer 120, a second undercoat layer 130, a first insulating layer 140, a second insulating layer 150, It has metal layers 160 and 180, a light emitting layer 170, a fourth insulating layer 200, a lower electrode 210, a first upper electrode 220, a positive power supply line VCC and a data signal line VdatG . In the example of FIG. 2, the display device is a top emission display device. That is, the light emitted from the light-emitting elements EL R , ELG , and EL B is emitted in the surface direction of the substrate 110 (Z-axis positive direction).

基板110は、例えば、ガラス基板又はガラスフィルムである。基板110上には、複数の画素(画素回路1011)が形成される。 Substrate 110 is, for example, a glass substrate or a glass film. A plurality of pixels (pixel circuits 1011 ) are formed on the substrate 110 .

第1アンダーコート層120は、基板110の表面を覆うように設けられる。第1アンダーコート層120は例えば、例えば、窒化シリコン膜により構成される絶縁層(窒化シリコン層)である。 The first undercoat layer 120 is provided to cover the surface of the substrate 110 . The first undercoat layer 120 is, for example, an insulating layer (silicon nitride layer) made of a silicon nitride film.

第2アンダーコート層130は、第1アンダーコート層120の表面を覆うように設けられる。第2アンダーコート層130は、例えば、例えば、酸化シリコン膜により構成される絶縁層(酸化シリコン層)である。なお、第2アンダーコート層130上に形成される電極により第1配線層が形成される。 The second undercoat layer 130 is provided so as to cover the surface of the first undercoat layer 120 . The second undercoat layer 130 is, for example, an insulating layer (silicon oxide layer) made of, for example, a silicon oxide film. The electrode formed on the second undercoat layer 130 forms the first wiring layer.

なお、アンダーコート層はSiO、SiNに限るものではなく、バリア性を有する薄膜であればよい。また、その厚みも適宜変更可能である。 Note that the undercoat layer is not limited to SiO or SiN, and may be a thin film having a barrier property. Also, its thickness can be changed as appropriate.

下部電極210は、第2アンダーコート層130上に形成される電極の一部であり、保持容量Cs_convを形成するための一方電極として機能する。下部電極210は、書き込みトランジスタT3及び駆動トランジスタTDのゲート電極のそれぞれと接続されている。 The lower electrode 210 is part of the electrode formed on the second undercoat layer 130 and functions as one electrode for forming the storage capacitor Cs_conv. The lower electrode 210 is connected to each of the gate electrodes of the write transistor T3 and the drive transistor TD.

第1絶縁層140は、下部電極210を含む1以上の電極(第1配線層)が形成された第2アンダーコート層130を覆うように設けられる。第1絶縁層140は、下部電極210と第1上部電極220との間に充填されている。第1絶縁層140は、例えば、酸化シリコン膜であるが、窒化シリコン膜、酸窒化シリコン膜及び酸化アルミニウム膜等の無機絶縁膜により構成されてもよい。第1絶縁層140上に形成される電極により第2配線層が形成される。なお、図2に示す保持容量Cs_convは、図1に示す保持容量Csに相当する。 The first insulating layer 140 is provided so as to cover the second undercoat layer 130 on which one or more electrodes (first wiring layer) including the lower electrode 210 are formed. A first insulating layer 140 is filled between the lower electrode 210 and the first upper electrode 220 . The first insulating layer 140 is, for example, a silicon oxide film, but may be made of an inorganic insulating film such as a silicon nitride film, a silicon oxynitride film, or an aluminum oxide film. The electrodes formed on the first insulating layer 140 form a second wiring layer. Note that the holding capacitance Cs_conv shown in FIG. 2 corresponds to the holding capacitance Cs shown in FIG.

第1上部電極220、正電源線VCC及びデータ信号線Vdatは、第1絶縁層140上に形成される電極の一部である。本実施の形態では、第1上部電極220は、下部電極210と対向して設けられる部分(第1対向部)を有し、保持容量Cs_convを形成するための他方電極として機能する。第1対向部は、第1上部電極220のうち、平面視において、下部電極210と重なる部分である。なお、「A」と「B」とが対向して設けられるとは、「A」と「B」との間の少なくとも一部に他の金属層が形成されていていないことを意味する。 The first upper electrode 220 , the positive power line VCC and the data signal line Vdat are part of the electrodes formed on the first insulating layer 140 . In the present embodiment, first upper electrode 220 has a portion (first facing portion) that faces lower electrode 210 and functions as the other electrode for forming storage capacitor Cs_conv. The first facing portion is a portion of the first upper electrode 220 that overlaps the lower electrode 210 in plan view. Note that "A" and "B" are provided facing each other means that another metal layer is not formed at least partly between "A" and "B".

正電源線VCCは、駆動トランジスタTDのドレイン電極、及び、電源30(図3を参照)に接続され、平面視において、X軸方向に長尺状である。 The positive power supply line VCC is connected to the drain electrode of the drive transistor TD and the power supply 30 (see FIG. 3), and is elongated in the X-axis direction in plan view.

データ信号線Vdatは、サブ画素回路1011Bに隣接するサブ画素回路1011Gのデータ信号線である。正電源線VCC及びデータ信号線Vdatは、平面視において、下部電極210(画素回路1011Rの下部電極210)と重ならない位置に設けられる。 A data signal line Vdat G is a data signal line of the sub-pixel circuit 1011G adjacent to the sub-pixel circuit 1011B. The positive power supply line VCC and the data signal line Vdat G are provided at positions that do not overlap the lower electrode 210 (the lower electrode 210 of the pixel circuit 1011R) in plan view.

第2絶縁層150は、第1上部電極220、データ信号線Vdat等を含む複数の電極(第2配線層)が形成された第1絶縁層140を覆うように設けられる。第2絶縁層150は、例えば、第1絶縁層140より厚み(Z軸方向の長さ)が厚い。第2絶縁層150は、例えば、酸化シリコン膜であるが、窒化シリコン膜、酸窒化シリコン膜及び酸化アルミニウム膜等の無機絶縁膜により構成されてもよい。また、第2絶縁層150は、無機絶縁膜と有機絶縁膜とにより構成されてもよい。有機絶縁膜は、例えば、基板110の表面を平坦化するための平坦化層として機能する。 The second insulating layer 150 is provided so as to cover the first insulating layer 140 in which a plurality of electrodes (second wiring layer) including the first upper electrode 220, the data signal line Vdat G , etc. are formed. The second insulating layer 150 is, for example, thicker (length in the Z-axis direction) than the first insulating layer 140 . The second insulating layer 150 is, for example, a silicon oxide film, but may be composed of an inorganic insulating film such as a silicon nitride film, a silicon oxynitride film, or an aluminum oxide film. Also, the second insulating layer 150 may be composed of an inorganic insulating film and an organic insulating film. The organic insulating film functions, for example, as a planarization layer for planarizing the surface of the substrate 110 .

金属層160は、EL層を形成するための電極であり、例えば、陽極(アノード)である。金属層160は、サブ画素ごとに形成されている。 The metal layer 160 is an electrode for forming an EL layer, such as an anode. A metal layer 160 is formed for each sub-pixel.

発光層170は、第3絶縁層190により区画された領域ごとに設けられ、保持容量Csに蓄積される電荷量に応じた発光電流により発光する。 The light-emitting layer 170 is provided for each region partitioned by the third insulating layer 190, and emits light by a light-emitting current corresponding to the amount of charge accumulated in the storage capacitor Cs.

金属層180は、EL層を形成するための電極であり、例えば、陰極(カソード)である。金属層180は、負電源線VCATHと接続される。金属層180は、複数の画素を一括して覆うように形成される。金属層180は、第4電極層の一例である。 The metal layer 180 is an electrode for forming an EL layer, such as a cathode. Metal layer 180 is connected to negative power supply line VCATH. The metal layer 180 is formed to collectively cover a plurality of pixels. Metal layer 180 is an example of a fourth electrode layer.

第3絶縁層190は、発光層170を形成するために基板110上を区画するバンク(隔壁)である。第3絶縁層190は、感光性の熱硬化性樹脂により形成される。 The third insulating layer 190 is a bank (partition wall) that partitions the substrate 110 for forming the light emitting layer 170 . The third insulating layer 190 is made of photosensitive thermosetting resin.

発光層170、第3絶縁層190、金属層160及び180によりEL層が形成される。 The light emitting layer 170, the third insulating layer 190, and the metal layers 160 and 180 form an EL layer.

なお、EL層上に、保護膜、封止樹脂、及び、封止基板がこの順で積層されてもよい(図示省略)。 Note that a protective film, a sealing resin, and a sealing substrate may be laminated in this order on the EL layer (not shown).

なお、下部電極210、第1上部電極220、正電源線VCC及びデータ信号線Vdatは、例えば、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)及びチタン(Ti)等の金属、又は、合金により構成される。 Note that the lower electrode 210, the first upper electrode 220, the positive power supply line VCC, and the data signal line Vdat are, for example, molybdenum (Mo), tungsten (W), aluminum (Al), copper (Cu), silver (Ag), and It is made of a metal such as titanium (Ti) or an alloy.

上記のように、比較例に係る画素回路では、下部電極210、第1上部電極220、及び、下部電極210と第1上部電極220との間の第1絶縁層140により、保持容量Cs_convが形成される。 As described above, in the pixel circuit according to the comparative example, the storage capacitor Cs_conv is formed by the lower electrode 210, the first upper electrode 220, and the first insulating layer 140 between the lower electrode 210 and the first upper electrode 220. be done.

図1に示す補償トランジスタT2、及び、書き込みトランジスタT3等のスイッチングトランジスタには、高速動作を重視する観点から、ポリシリコン半導体TFT(Thin Film Transistor)が一般的に用いられる。しかしながら、ポリシリコン半導体TFTは、結晶欠陥起因等のリークにより、オフリーク電流が比較的大きく、保持容量Cs_convに保持された電荷が抜けるため、駆動トランジスタTDのゲートソース間の電位差Vgsが小さくなり、発光素子ELに流れる発光電流が減少し、所望の輝度(所望の階調値)での表示を行えなくなる、又は、所望の輝度を維持できなくなる。 Polysilicon semiconductor TFTs (Thin Film Transistors) are generally used for switching transistors such as the compensation transistor T2 and the write transistor T3 shown in FIG. 1 from the viewpoint of emphasizing high-speed operation. However, the polysilicon semiconductor TFT has a relatively large off-leakage current due to leakage caused by crystal defects and the like, and the electric charge held in the storage capacitor Cs_conv escapes. The light emission current flowing through the element EL is reduced, and the desired luminance (desired gradation value) cannot be displayed, or the desired luminance cannot be maintained.

なお、ポリシリコン半導体TFTのオフリーク電流は、製造時のプロセス制御(Si結晶性の制御)に依存する傾向が高く、既存技術では低減に限界がある。オフリーク電流が発生する要因としては、サブスレッショルドリーク電流(ドレイン-ソース間リーク)、ゲートリーク電流(ゲート絶縁膜リーク)、GIDL(Gate-Induced-Drain-Leakage current)電流、又は、接合リーク電流(結晶性欠陥リーク電流)の発生等が例示される。 The off-leakage current of a polysilicon semiconductor TFT tends to depend on process control (control of Si crystallinity) at the time of manufacturing, and there is a limit to how much the existing technology can reduce it. Factors that cause off-leakage current include sub-threshold leakage current (drain-source leakage), gate leakage current (gate insulating film leakage), GIDL (gate-induced-drain-leakage current) current, and junction leakage current ( crystalline defect leakage current) is exemplified.

そこで、本願発明者は、スイッチングトランジスタのオフリークによる輝度の変化を抑制することができる表示装置について鋭意検討を行い、以下に説明する表示装置を創案した。 Accordingly, the inventors of the present application conducted extensive research on a display device capable of suppressing a change in luminance due to off-leakage of a switching transistor, and created the display device described below.

以下、本開示の各実施の形態について、図面を用いて説明する。なお、以下に説明する各実施の形態は、いずれも本開示における一具体例を示すものである。したがって、以下の各実施の形態で示される、数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態等は、一例であって本開示を限定する主旨ではない。よって、以下の各実施の形態における構成要素のうち、本開示における独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。 Hereinafter, each embodiment of the present disclosure will be described with reference to the drawings. It should be noted that each embodiment described below is a specific example of the present disclosure. Therefore, numerical values, shapes, materials, constituent elements, arrangement positions and connection forms of constituent elements, and the like shown in the following embodiments are examples and are not intended to limit the present disclosure. Therefore, among the constituent elements in each of the following embodiments, the constituent elements not described in the independent claims of the present disclosure will be described as optional constituent elements.

また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。また、各図において、実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する。 Each figure is a schematic diagram and is not necessarily strictly illustrated. Moreover, in each figure, the same code|symbol is attached|subjected to the substantially same structure, and the overlapping description is abbreviate|omitted or simplified.

また、本明細書及び図面において、X軸、Y軸及びZ軸は、右手系の三次元直交座標系の三軸を示している。各実施の形態では、Z軸方向を各層の積層方向としている。本明細書において、「平面視」とは、画素回路の厚み方向に沿って画素回路を見た場合を意味する。 In the present specification and drawings, the X-axis, Y-axis and Z-axis indicate the three axes of a right-handed three-dimensional orthogonal coordinate system. In each embodiment, the Z-axis direction is defined as the stacking direction of each layer. In this specification, “planar view” means the case where the pixel circuit is viewed along the thickness direction of the pixel circuit.

また、本明細書において、同一、平行等の要素間の関係性を示す用語、及び、矩形、長尺等の要素の形状を示す用語、並びに、数値、及び、数値範囲は、厳格な意味のみを表す表現ではなく、実質的に同等な範囲、例えば数%程度(例えば、10%程度)の差異をも含むことを意味する表現である。 In addition, in this specification, terms that indicate the relationship between elements such as identical and parallel, terms that indicate the shape of elements such as rectangular and long, and numerical values and numerical ranges are strictly meaning only is not an expression that represents a substantially equivalent range, for example, a difference of about several percent (for example, about 10%).

(実施の形態1)
[1-1.表示装置の構成]
まずは、本実施の形態に係る表示装置1の概略構成について、図3~図5を参照しながら説明する。図3は、本実施の形態に係る表示装置1の機能的な構成を示すブロック図である。なお、以下の説明では、簡潔のため、信号と信号を伝達する配線とを、同一の符号で参照することがある。
(Embodiment 1)
[1-1. Configuration of display device]
First, a schematic configuration of the display device 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 3 to 5. FIG. FIG. 3 is a block diagram showing the functional configuration of the display device 1 according to this embodiment. In the following description, for the sake of brevity, the same reference numerals may be used to refer to a signal and a wiring that transmits the signal.

図3に示すように、表示装置1は、表示モジュール10と、制御部20と、電源30とを備える。表示モジュール10は、表示パネル12(表示部)と、ゲートドライバ13と、データドライバ14とを有する。 As shown in FIG. 3, the display device 1 includes a display module 10, a control section 20, and a power supply 30. The display module 10 has a display panel 12 (display unit), a gate driver 13 and a data driver 14 .

表示パネル12は、複数の画素回路11(画素)を2次元状(マトリクス状)に配置して構成される。つまり、表示パネル12は、複数の画素行Lを有する。各画素回路11は、R、G、Bの発光色にそれぞれ対応するサブ画素回路11R、11G、11B(サブ画素)を有する。本実施の形態では、複数の画素行Lを構成する複数の画素のそれぞれは、発光素子として、有機EL素子を有する例について説明するが、これに限定されない。表示パネル12は、発光素子として、QLED(Quantum-dot Light Emitting Diode)素子を有していてもよい。 The display panel 12 is configured by arranging a plurality of pixel circuits 11 (pixels) two-dimensionally (in a matrix). That is, the display panel 12 has a plurality of pixel rows L. FIG. Each pixel circuit 11 has sub-pixel circuits 11R, 11G, and 11B (sub-pixels) corresponding to R, G, and B emission colors, respectively. In the present embodiment, an example in which each of a plurality of pixels forming a plurality of pixel rows L has an organic EL element as a light emitting element will be described, but the present invention is not limited to this. The display panel 12 may have a QLED (Quantum-dot Light Emitting Diode) element as a light emitting element.

行列状の各行には、同じ行に配置される複数の画素回路11に接続される3本の制御信号線INI、REF及びWSが設けられる。制御信号線INI、REF及びWSは、ゲートドライバ13から供給される制御信号INI、REF、WSを、画素回路11へ伝達する。なお、制御信号線の本数及び制御信号は一例であり、この例には限定されない。また、制御信号線INI、REF、WSは、走査線の一例である。 Each row of the matrix is provided with three control signal lines INI, REF and WS connected to the plurality of pixel circuits 11 arranged in the same row. Control signal lines INI, REF and WS transmit control signals INI, REF and WS supplied from the gate driver 13 to the pixel circuit 11 . Note that the number of control signal lines and the control signals are just an example, and the present invention is not limited to this example. Also, the control signal lines INI, REF, and WS are examples of scanning lines.

走査線は、複数の画素行Lごとに配置され、映像信号に対応したデータ信号を書き込むための画素行Lを選択するために設けられる。 A scanning line is arranged for each of a plurality of pixel rows L, and provided for selecting a pixel row L for writing a data signal corresponding to a video signal.

行列状の各列には、同じ列に配置される複数の画素回路11に接続される3本のデータ信号線Vdat、Vdat、Vdatが設けられる。データ信号線Vdat、Vdat、Vdatは、データドライバ14から供給されるR、G、Bの発光輝度に関連するデータ信号Vdat、Vdat、Vdatを、画素回路11へ、それぞれ伝達する。 Each column in matrix is provided with three data signal lines Vdat R , Vdat G , and Vdat B connected to a plurality of pixel circuits 11 arranged in the same column. The data signal lines Vdat R , Vdat G , and Vdat B transmit data signals Vdat R , Vdat G , and Vdat B related to the emission luminance of R, G, and B supplied from the data driver 14 to the pixel circuit 11 , respectively. do.

なお、図3では、ゲートドライバ13は、表示パネル12の片側に配置されているが、両側に配置されていてもよい。また、データドライバ14は、表示パネル12にCOG(Chip on Glass)で実装されてもよく、COF(Chip On Film)で実装されてもよい。 Although the gate driver 13 is arranged on one side of the display panel 12 in FIG. 3, it may be arranged on both sides. In addition, the data driver 14 may be implemented in the display panel 12 as a COG (Chip on Glass) or as a COF (Chip On Film).

制御部20は、表示モジュール10の各構成要素を制御する。制御部20は、外部から映像信号を受信し、当該映像信号の各フレームの画像を表示パネル12において表示するための制御信号を、ゲートドライバ13及びデータドライバ14へ供給する。 The control unit 20 controls each component of the display module 10 . The control unit 20 receives a video signal from the outside and supplies control signals for displaying an image of each frame of the video signal on the display panel 12 to the gate driver 13 and the data driver 14 .

電源30は、表示パネル12、ゲートドライバ13、データドライバ14、及び、制御部20へ動作用の電力を供給する。電源30は、例えば、参照電圧VINI、VREF、正電源電圧VCC、及び、負電源電圧VCATHを、表示パネル12へ供給する。 The power supply 30 supplies operating power to the display panel 12 , the gate driver 13 , the data driver 14 , and the control section 20 . The power supply 30 supplies the display panel 12 with, for example, reference voltages VINI, VREF, a positive power supply voltage VCC, and a negative power supply voltage VCATH.

ここで、画素回路11の詳細な構成について、図4~図7を参照しながら説明する。図4は、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を示す回路図である。 Here, the detailed configuration of the pixel circuit 11 will be described with reference to FIGS. 4 to 7. FIG. FIG. 4 is a circuit diagram showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to this embodiment.

図4に示すように、画素回路11を構成するサブ画素回路11R、11G、11Bは、互いに同一の構成を有している。以下、画素回路11の構成について、サブ画素回路11Rに着目して説明する。 As shown in FIG. 4, the sub-pixel circuits 11R, 11G, and 11B forming the pixel circuit 11 have the same configuration. The configuration of the pixel circuit 11 will be described below, focusing on the sub-pixel circuit 11R.

サブ画素回路11Rは、初期化トランジスタT1と、補償トランジスタT2と、書き込みトランジスタT3と、保持容量Csと、駆動トランジスタTDと、発光素子ELとを有している。また、サブ画素回路11Rは、制御信号線INI、REF、WS、参照電圧線VINI、VREF、データ信号線Vdat、正電源線VCC、及び、負電源線VCATHを有している。なお、初期化トランジスタT1及び補償トランジスタT2は、必須の構成要素ではない。 The sub-pixel circuit 11R has an initialization transistor T1- R , a compensation transistor T2- R , a write transistor T3- R , a storage capacitor Cs- R , a drive transistor TD -R , and a light-emitting element EL -R . Also, the sub-pixel circuit 11R has control signal lines INI, REF, WS, reference voltage lines VINI, VREF, data signal lines Vdat R , positive power line VCC, and negative power line VCATH. Note that the initialization transistor T1R and the compensation transistor T2R are not essential components.

初期化トランジスタT1は、制御信号INIに従ってオン状態となり、駆動トランジスタTDのソースノードを参照電圧(基準電圧)VINIに設定する。 The initialization transistor T1R is turned on according to the control signal INI, and sets the source node of the driving transistor TDR to the reference voltage (reference voltage) VINI.

補償トランジスタT2は、制御信号REFに従ってオン状態となり、駆動トランジスタTDのゲート電極(ゲートノード)に参照電圧VREFを供給する。これは、発光素子ELの電極(例えば、アノード)の電位を初期化することに相当する。 The compensation transistor T2R is turned on according to the control signal REF, and supplies the reference voltage VREF to the gate electrode (gate node) of the driving transistor TDR . This corresponds to initializing the potential of the electrode (eg, anode) of the light emitting element ELR .

書き込みトランジスタT3は、制御信号WSに従ってオン状態となり、データ信号Vdatの電圧を保持容量Csに保持させる。書き込みトランジスタT3は、データ信号線Vdatと駆動トランジスタTDのゲート電極との間に接続されている。具体的には、書き込みトランジスタT3は、ソース電極及びドレイン電極の一方がデータ信号線Vdatに接続され、ソース電極及びドレイン電極の他方が補償トランジスタT2のソース電極及びドレイン電極の一方、及び、駆動トランジスタTDのゲート電極に接続されている。 The write transistor T3- R is turned on according to the control signal WS, and causes the voltage of the data signal Vdat- R to be held in the holding capacitor Cs- R . The write transistor T3- R is connected between the data signal line Vdat- R and the gate electrode of the drive transistor TD- R . Specifically, one of the source electrode and the drain electrode of the write transistor T3R is connected to the data signal line VdatR , and the other of the source electrode and the drain electrode is connected to one of the source electrode and the drain electrode of the compensation transistor T2R . , is connected to the gate electrode of the drive transistor TDR .

駆動トランジスタTDは、ソース電極及びドレイン電極の一方が正電源線VCCに接続され、ソース電極及びドレイン電極の他方が発光素子ELのアノードに接続され、保持容量Csに保持されたデータ信号Vdatに応じた発光電流を発光素子ELに供給する。これにより、発光素子ELは、データ信号Vdatに応じた輝度で発光する。 One of the source and drain electrodes of the drive transistor TD R is connected to the positive power supply line VCC, and the other of the source and drain electrodes is connected to the anode of the light emitting element EL R. The data signal stored in the storage capacitor Cs R is A light emitting current corresponding to Vdat R is supplied to the light emitting element EL R. As a result, the light emitting element EL R emits light with luminance corresponding to the data signal Vdat R.

保持容量Csは、データ信号線Vdatを介して供給されたデータ信号Vdatを保持する。詳細は後述するが、本開示に係る保持容量Csは、比較例に係る保持容量Csに比べて容量が大きい。本開示に係る保持容量Csは、比較例で示した保持容量Cs_convと、保持容量Cs_add(図6を参照)との合成容量により実現される。 The holding capacitor CsR holds the data signal VdatR supplied via the data signal line VdatR . Although the details will be described later, the holding capacitor CsR according to the present disclosure has a larger capacity than the holding capacitor CsR according to the comparative example. The holding capacitance CsR according to the present disclosure is realized by a combined capacitance of the holding capacitance Cs_conv shown in the comparative example and the holding capacitance Cs_add (see FIG. 6).

発光素子ELは、自発光型の発光素子であり、本実施の形態では、有機EL(Electro Luminescence)素子である。発光素子ELのアノード電極は、駆動トランジスタTDのソース電極及びドレイン電極の一方と接続される。発光素子ELのカソード電極には、カソード電源線(負電源線VCATH)によってカソード電圧(負電源電圧VCATH)が印加されている。 The light-emitting element EL R is a self-luminous light-emitting element, and is an organic EL (Electro Luminescence) element in this embodiment. An anode electrode of the light emitting element EL R is connected to one of a source electrode and a drain electrode of the driving transistor TDR . A cathode voltage (negative power supply voltage VCATH) is applied to the cathode electrode of the light emitting element EL R through a cathode power supply line (negative power supply line VCATH).

なお、図4に示すゲート電位Vgは、駆動トランジスタTDのゲート電極の電位を示しており、ソース電位Vsは、駆動トランジスタTDのソース電極の電位を示している。 Note that the gate potential VgR shown in FIG. 4 indicates the potential of the gate electrode of the drive transistor TDR , and the source potential VsR indicates the potential of the source electrode of the drive transistor TDR .

なお、上記で説明した各トランジスタは、例えば、n型の薄膜トランジスタ(n型TFT)で構成されるが、p型の薄膜トランジスタ(p型TFT)で構成されてもよい。また、上記で説明した各トランジスタには、例えば、ポリシリコン半導体TFTが用いられるがこれに限定されない。 Each transistor described above is configured by, for example, an n-type thin film transistor (n-type TFT), but may be configured by a p-type thin film transistor (p-type TFT). Also, for each transistor described above, for example, a polysilicon semiconductor TFT is used, but the present invention is not limited to this.

ここで、画素回路11の断面構成について、図5~図7を参照しながら説明する。図5は、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す平面図である。図6は、図5のVI-VI切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す断面図である。図7は、図5のVII-VII切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す断面図である。 Here, the cross-sectional configuration of the pixel circuit 11 will be described with reference to FIGS. 5 to 7. FIG. FIG. 5 is a plan view schematically showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to this embodiment. FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to the present embodiment, taken along the line VI-VI in FIG. FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to the present embodiment taken along line VII-VII in FIG.

図5~図7に示すように、本実施の形態に係る画素回路11は、比較例に係る画素回路1011の下部電極210に替えて下部電極310を有し、さらに第2上部電極320及び第4絶縁層200を有する。 As shown in FIGS. 5 to 7, the pixel circuit 11 according to the present embodiment has a lower electrode 310 instead of the lower electrode 210 of the pixel circuit 1011 according to the comparative example, and furthermore has a second upper electrode 320 and a second upper electrode 320 . It has 4 insulating layers 200 .

下部電極310は、駆動トランジスタTDのゲート電極、及び、書き込みトランジスタT3と接続され、保持容量Cs_conv及びCs_addを形成するための一方電極として機能する。下部電極310は、比較例に係る下部電極210より平面視における面積が広い電極である。下部電極310は、例えば、平面視において、第1上部電極220、及び、第2上部電極320の一部を覆うように形成される。例えば、下部電極310は、平面視において、第1上部電極220の第1対向部、及び、第2上部電極320の第2対向部のそれぞれと重なるように設けられる。例えば、下部電極310は、正電源線VCCに跨がって形成されている。なお、下部電極310は、隣接するサブ画素回路のデータ信号線(図6の例では、データ信号線Vdat)とは平面視において重ならない。 The lower electrode 310 is connected to the gate electrode of the drive transistor TD R and the write transistor T3 R , and functions as one electrode for forming the storage capacitors Cs_conv and Cs_add. The lower electrode 310 is an electrode having a larger area in plan view than the lower electrode 210 according to the comparative example. The lower electrode 310 is formed, for example, so as to partially cover the first upper electrode 220 and the second upper electrode 320 in plan view. For example, the lower electrode 310 is provided so as to overlap the first opposing portion of the first upper electrode 220 and the second opposing portion of the second upper electrode 320 in plan view. For example, the lower electrode 310 is formed across the positive power supply line VCC. Note that the lower electrode 310 does not overlap the data signal line (the data signal line Vdat G in the example of FIG. 6) of the adjacent sub-pixel circuit in plan view.

下部電極310は、平面視において、第1上部電極220と対向する部分である第1電極部310aと、第1電極部320aと対向する第2電極部310bと、第2電極部320bと対向する第3電極部310cと、駆動トランジスタTDのゲート電極と接続される第4電極部310dとを有する。下部電極310は、第1上部電極220(例えば、後述する第1対向部)と、第1電極部320a及び第2電極部320bとを覆う。 In a plan view, the lower electrode 310 has a first electrode portion 310a that faces the first upper electrode 220, a second electrode portion 310b that faces the first electrode portion 320a, and a second electrode portion 320b that faces the second electrode portion 320b. It has a third electrode portion 310c and a fourth electrode portion 310d connected to the gate electrode of the drive transistor TDR . The lower electrode 310 covers the first upper electrode 220 (for example, the first facing portion described later), the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b.

第1電極部310aは、例えば、矩形状であり、第2電極部310b及び第3電極部310cは、長尺状である。例えば、第2電極部310b及び第3電極部310cは、正電源線VCCに沿って長尺状である。下部電極310は、平面視において、第2電極部310bと第3電極部310cとにより正電源線VCCを挟む構成を有する。第1電極部310aは、比較例に示す下部電極210に相当する。第4電極部310dは、第1配線部の一例である。 The first electrode portion 310a is, for example, rectangular, and the second electrode portion 310b and the third electrode portion 310c are elongated. For example, the second electrode portion 310b and the third electrode portion 310c are elongated along the positive power line VCC. The lower electrode 310 has a configuration in which the positive power supply line VCC is sandwiched between the second electrode portion 310b and the third electrode portion 310c in plan view. The first electrode portion 310a corresponds to the lower electrode 210 shown in the comparative example. The fourth electrode portion 310d is an example of a first wiring portion.

平面視において、下部電極310のうち第1上部電極220及び第2上部電極320と重なる部分、つまり下部電極310のうち第1上部電極220及び第2上部電極320を覆う部分は、第3対向部の一例である。また、平面視において、下部電極310と重なる第1上部電極220の部分は、第1対向部の一例である。第1上部電極220は、第1絶縁層140上において下部電極310と対向して配置される第1対向部を有するとも言える。第1上部電極220は、第2電極層の一例である。 A portion of the lower electrode 310 that overlaps the first upper electrode 220 and the second upper electrode 320 in a plan view, that is, a portion of the lower electrode 310 that covers the first upper electrode 220 and the second upper electrode 320 is a third facing portion. is an example. Also, in plan view, the portion of the first upper electrode 220 that overlaps with the lower electrode 310 is an example of the first facing portion. It can also be said that the first upper electrode 220 has a first facing portion arranged to face the lower electrode 310 on the first insulating layer 140 . The first upper electrode 220 is an example of a second electrode layer.

図6及び図7に示すように、画素回路11は、第2絶縁層150と、金属層160との間に第2上部電極320及び第3絶縁層190を有する。 As shown in FIGS. 6 and 7 , the pixel circuit 11 has a second upper electrode 320 and a third insulating layer 190 between the second insulating layer 150 and the metal layer 160 .

第1絶縁層140は、下部電極310を含む1以上の電極(第1配線層)が形成された第2アンダーコート層130を覆うように形成される。第1絶縁層140は、下部電極310を覆うように形成されるとも言える。 The first insulating layer 140 is formed to cover the second undercoat layer 130 on which one or more electrodes (first wiring layer) including the lower electrode 310 are formed. It can also be said that the first insulating layer 140 is formed to cover the lower electrode 310 .

第2絶縁層150は、第1上部電極220を含む1以上の電極(第2配線層)が形成された第1絶縁層140を覆うように形成される。第2絶縁層150は、第1上部電極220及び第1絶縁層140を覆うとも言える。 The second insulating layer 150 is formed to cover the first insulating layer 140 on which one or more electrodes (second wiring layer) including the first upper electrode 220 are formed. It can also be said that the second insulating layer 150 covers the first upper electrode 220 and the first insulating layer 140 .

第2上部電極320は、少なくとも一部が第2絶縁層150上に形成され、保持容量Cs_addを形成するための他方電極として機能する。第2上部電極320は、駆動トランジスタTDのソース電極及びドレイン電極の一方と接続部330を介して接続される。つまり、第2上部電極320は、第1上部電極220と電気的に接続されており、同電位である。また、本実施の形態では、第2上部電極320は、初期化トランジスタT1のソース電極及びドレイン電極の一方と接続部330を介して接続される。第2上部電極320は、第3電極層の一例である。 The second upper electrode 320 is at least partially formed on the second insulating layer 150 and functions as the other electrode for forming the storage capacitor Cs_add. The second upper electrode 320 is connected to one of the source electrode and the drain electrode of the driving transistor TDR through the connecting portion 330 . That is, the second upper electrode 320 is electrically connected to the first upper electrode 220 and has the same potential. In addition, in the present embodiment, the second upper electrode 320 is connected to one of the source electrode and the drain electrode of the initialization transistor T1R through the connection portion 330 . The second upper electrode 320 is an example of a third electrode layer.

なお、接続部330は、第1上部電極220を駆動トランジスタTDのソース電極及びドレイン電極の一方と接続する。接続部330は、第2配線部の一例である。 Note that the connecting portion 330 connects the first upper electrode 220 to one of the source electrode and the drain electrode of the driving transistor TDR . The connecting portion 330 is an example of a second wiring portion.

なお、図7に示すように、接続部330と第2上部電極320との接続は、コンタクト部Cにおいて実現される。第2絶縁層150には、接続部330と第2上部電極320(例えば、第3電極部320c)とが重なる位置に貫通孔151が形成されており、当該貫通孔151を介して、接続部330と第2上部電極320とが接続される。例えば、貫通孔151において、第1絶縁層140上に直接形成されている接続部330と、第2上部電極320とが接続される。第2上部電極320は、接続部330を介して駆動トランジスタTDのソース電極と電気的に接続されるとも言える。 Note that the connection between the connection portion 330 and the second upper electrode 320 is realized at the contact portion C, as shown in FIG. A through-hole 151 is formed in the second insulating layer 150 at a position where the connecting portion 330 and the second upper electrode 320 (for example, the third electrode portion 320c) overlap. 330 and the second upper electrode 320 are connected. For example, the connection portion 330 directly formed on the first insulating layer 140 and the second upper electrode 320 are connected in the through hole 151 . It can also be said that the second upper electrode 320 is electrically connected to the source electrode of the driving transistor TD through the connection portion 330 .

第2上部電極320は、第1電極部320aと、第2電極部320bと第3電極部320cとを有する。本実施の形態では、第2上部電極320は、第2絶縁層150上に直接形成されている。 The second upper electrode 320 has a first electrode portion 320a, a second electrode portion 320b and a third electrode portion 320c. In this embodiment, the second upper electrode 320 is directly formed on the second insulating layer 150 .

第1電極部320aは、第2電極部310bと対向する部分を有し、正電源線VCCよりデータ信号線Vdat側に設けられる。第1電極部320aは、正電源線VCCに沿ってX軸方向に長尺状である。第1電極部320aは、平面視において、下部電極310(例えば、第2電極部310b)と重なる部分である。 The first electrode portion 320a has a portion facing the second electrode portion 310b, and is provided closer to the data signal line Vdat R than the positive power supply line VCC. The first electrode portion 320a is elongated in the X-axis direction along the positive power supply line VCC. The first electrode portion 320a is a portion that overlaps with the lower electrode 310 (for example, the second electrode portion 310b) in plan view.

第2電極部320bは、第3電極部310cと対向する部分を有し、正電源線VCCと、隣接するサブ画素のデータ信号線(図5の例では、データ信号線Vdat)との間に設けられる。第1電極部320aは、正電源線VCCに沿ってX軸方向に長尺状である。第2電極部320bは、平面視において、下部電極310(例えば、第3電極部310c)と重なる部分である。 The second electrode portion 320b has a portion facing the third electrode portion 310c, and is between the positive power supply line VCC and the data signal line (data signal line Vdat G in the example of FIG. 5) of the adjacent sub-pixel. provided in The first electrode portion 320a is elongated in the X-axis direction along the positive power supply line VCC. The second electrode portion 320b is a portion that overlaps with the lower electrode 310 (for example, the third electrode portion 310c) in plan view.

第1電極部320a及び第2電極部320bは、平面視において、第1対向部と重ならない位置に設けられる。第1電極部320a及び第2電極部320bは、平面視において、正電源線VCCを挟むように形成されている。第1電極部320a及び第2電極部320bは、平面視において、平行に設けられていてもよい。また、第2電極部320bのX軸方向の長さは、第1電極部320aのX軸方向の長さと同じであってもよい。第1電極部320a及び第2電極部320bは、第2対向部の一例である。 The first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are provided at positions that do not overlap with the first facing portion in plan view. The first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are formed so as to sandwich the positive power supply line VCC in plan view. The first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b may be provided in parallel in plan view. Also, the length in the X-axis direction of the second electrode portion 320b may be the same as the length in the X-axis direction of the first electrode portion 320a. The first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are examples of the second facing portion.

第3電極部320cは、平面視において、第1電極部320a及び第2電極部320bの長尺方向(X軸方向)と交差する方向(例えば、直交する方向)に長尺であり、第1電極部320a及び第2電極部320bと、接続部330とを電気的に接続するために設けられる。第3電極部320cは、例えば、貫通孔151の内面を覆うように形成される。また、第3電極部320cは、平面視において、第4電極部310dと交差しており、第4電極部310dの一部と重なる。 The third electrode portion 320c is long in a direction intersecting (for example, a direction orthogonal to) the longitudinal direction (X-axis direction) of the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b in plan view, and is the first electrode portion 320c. It is provided to electrically connect the electrode portion 320 a and the second electrode portion 320 b to the connection portion 330 . The third electrode portion 320c is formed to cover the inner surface of the through hole 151, for example. Further, the third electrode portion 320c intersects the fourth electrode portion 310d in plan view, and overlaps with a part of the fourth electrode portion 310d.

なお、第2上部電極320は、既存配線の寄生容量の増加を抑制する観点から、下層に信号線等がない領域に形成されるとよい。 From the viewpoint of suppressing an increase in parasitic capacitance of the existing wiring, the second upper electrode 320 is preferably formed in a region where there is no signal line or the like in the lower layer.

第4絶縁層200は、第2上部電極320を含む1以上の電極(第3配線層)が形成された第2絶縁層150を覆うように設けられる。第4絶縁層200は、例えば、酸化シリコン膜であるが、窒化シリコン膜、酸窒化シリコン膜及び酸化アルミニウム膜等の無機絶縁膜により構成されてもよい。 The fourth insulating layer 200 is provided so as to cover the second insulating layer 150 on which one or more electrodes (third wiring layer) including the second upper electrode 320 are formed. The fourth insulating layer 200 is, for example, a silicon oxide film, but may be made of an inorganic insulating film such as a silicon nitride film, a silicon oxynitride film, or an aluminum oxide film.

なお、上記で説明した各電極層の構成材料は、例えば、チタン(Ti)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、アルミニウム(Al)、モリブデン(Mo)、銀(Ag)、ネオジウム(Nd)及び銅(Cu)のうちの1種を含む単体又は合金が挙げられる。あるいは、それらのうちの少なくとも1種を含む化合物又は2種以上を含む積層膜であってもよい。また、例えば、ITO等の透明導電膜が用いられてもよい。 Note that the constituent materials of each electrode layer described above are, for example, titanium (Ti), tungsten (W), tantalum (Ta), aluminum (Al), molybdenum (Mo), silver (Ag), and neodymium (Nd). and copper (Cu). Alternatively, it may be a compound containing at least one of them or a laminated film containing two or more of them. Also, for example, a transparent conductive film such as ITO may be used.

上記のように、本実施の形態に係る画素回路11では、比較例に係る画素回路1011に示す保持容量Cs_convに加えて、下部電極310、第2上部電極320及び下部電極310と第2上部電極320との間の第1絶縁層140及び第2絶縁層150とにより、保持容量Cs_addが形成される。具体的には、第2電極部310bと第1電極部320aとの間の第1補助保持容量と、第3電極部310cと第2電極部320bとの間の第2補助保持容量と、第4電極部310dと第3電極部320cとの間の第3補助保持容量との合成容量により、保持容量Cs_addが形成される。 As described above, in the pixel circuit 11 according to the present embodiment, in addition to the storage capacitor Cs_conv shown in the pixel circuit 1011 according to the comparative example, the lower electrode 310, the second upper electrode 320, and the lower electrode 310 and the second upper electrode A storage capacitor Cs_add is formed by the first insulating layer 140 and the second insulating layer 150 between 320 . Specifically, a first auxiliary holding capacitance between the second electrode portion 310b and the first electrode portion 320a, a second auxiliary holding capacitance between the third electrode portion 310c and the second electrode portion 320b, and a A holding capacity Cs_add is formed by a combined capacity of the third auxiliary holding capacity between the four-electrode portion 310d and the third electrode portion 320c.

保持容量Cs_addは、平面視において、下部電極310と、第2上部電極320とが重なる面積をSとし、下部電極310と、第2上部電極320との距離をd1とすると、以下の(式1)により算出可能である。 The holding capacitance Cs_add is expressed by the following (equation 1 ).

Cs_add=ε0×εx×S/d1 ・・・(式1) Cs_add=ε0×εx×S/d1 (Formula 1)

なお、ε0は、真空の誘電率を示し、εxは、比誘電率を示す。また、画素回路11の合計の保持容量Csは、以下の(式2)により算出可能である。 Note that ε0 indicates the permittivity of vacuum, and εx indicates the relative permittivity. Also, the total holding capacitance Cs of the pixel circuit 11 can be calculated by the following (Equation 2).

Cs=Cs_conv+Cs_add ・・・(式2) Cs=Cs_conv+Cs_add (Formula 2)

保持容量Csは、保持容量Cs_convより大きな値となる。 The holding capacitor Cs has a value larger than the holding capacitor Cs_conv.

このように、本実施の形態に係る表示装置1は、保持容量Csを比較例で説明した保持容量Cs_convより大きくすることができる。 Thus, the display device 1 according to the present embodiment can make the holding capacitor Cs larger than the holding capacitor Cs_conv described in the comparative example.

また、平面視において、第2電極部310bと第1電極部310aとが重なる面積、及び、第3電極部310cと第2電極部310bとが重なる面積は、例えば、等しくてもよい。つまり、第2電極部310bと第1電極部310aとで形成される保持容量Cs_addと、第3電極部310cと第2電極部310bとで形成される保持容量Cs_addとは、等しくてもよい。なお、2つの保持容量Cs_addは、等しいことに限定されず、互いに異なっていてもよい。 Also, in plan view, the overlapping area of the second electrode portion 310b and the first electrode portion 310a and the overlapping area of the third electrode portion 310c and the second electrode portion 310b may be equal, for example. That is, the holding capacitance Cs_add formed by the second electrode portion 310b and the first electrode portion 310a may be equal to the holding capacitance Cs_add formed by the third electrode portion 310c and the second electrode portion 310b. Note that the two holding capacitors Cs_add are not limited to being equal, and may be different from each other.

[1-2.保持容量を大きくすることの効果]
保持容量Csを大きくすることの効果について、図8を参照しながら説明する。図8は、本実施の形態に係る表示装置1の効果を説明するための図である。図8の縦軸は、画素電流(発光電流)の低下度合いを示し、横軸は時間を示す。図8は、1フレームの開始時点の画素電流の値を基準とした、表示装置1及び従来技術の表示装置における1フレームの間の画素電流の低下度合いの比較を示す。なお、従来技術とは、保持容量Cs_conv及びCs_addのうち保持容量Cs_convのみで画素回路の保持容量が形成される表示装置を意味する。
[1-2. Effect of increasing the retention capacity]
The effect of increasing the holding capacitance Cs will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a diagram for explaining the effects of the display device 1 according to this embodiment. The vertical axis of FIG. 8 indicates the degree of decrease in pixel current (luminescence current), and the horizontal axis indicates time. FIG. 8 shows a comparison of the degree of reduction in pixel current during one frame between the display device 1 and the display device of the prior art, based on the value of the pixel current at the start of one frame. Note that the conventional technology means a display device in which the storage capacitor of the pixel circuit is formed only by the storage capacitor Cs_conv of the storage capacitors Cs_conv and Cs_add.

図8に示すように、本実施の形態に係る表示装置1では、従来技術の表示装置に比べて、1フレームの間での画素電流の低下が抑制されている(図8に示す「-ΔIpixが改善」を参照)。表示装置1は、従来に比べて保持容量Csが大きいので、電荷の蓄積量も従来に比べて大きい。一方、オフリークにより抜ける画素電流の量は、保持容量Csに関わらず一定である。つまり、表示装置1は、電荷の蓄積量に対するオフリークによる電荷の低減量の割合が小さい。よって、本実施の形態に係る表示装置1は、図8に示すように、画素電流の低下度合いが緩和されるので、発光電流の減少が抑制され、オフリークによる輝度の変化を抑制することができる。 As shown in FIG. 8, in the display device 1 according to the present embodiment, a decrease in pixel current during one frame is suppressed ("-ΔIpix improved). Since the display device 1 has a larger holding capacitance Cs than the conventional one, the amount of accumulated charge is also larger than the conventional one. On the other hand, the amount of pixel current that leaks due to off-leakage is constant regardless of the storage capacitor Cs. In other words, in the display device 1, the ratio of the amount of charge reduction due to off-leakage to the amount of accumulated charge is small. Therefore, in the display device 1 according to the present embodiment, as shown in FIG. 8, the degree of decrease in the pixel current is moderated, so the decrease in the emission current is suppressed, and the change in luminance due to off-leakage can be suppressed. .

例えば、保持容量Cs_conv及び保持容量Cs_addの合成の保持容量が保持容量Cs_conv単体の保持容量の1.5倍となる場合、駆動トランジスタTD、TD、TDのゲートソース間の電位差Vgsの低下をおよそ0.67倍に抑えることができるので、それに伴い画素電流Ipixの低下を抑制することができる。 For example, when the combined holding capacitance of the holding capacitance Cs_conv and the holding capacitance Cs_add is 1.5 times the holding capacitance of the single holding capacitance Cs_conv, the potential difference Vgs between the gate and source of the drive transistors TDR , TDG , and TDB decreases. can be suppressed to about 0.67 times, the corresponding decrease in the pixel current Ipix can be suppressed.

なお、本実施の形態に係る表示装置1は、保持容量Cs_conv及び保持容量Cs_addの合成の保持容量Csが形成される構成を有するので、保持容量の増加に伴い画素電流が増加する。そのため、表示装置1では、保持容量Cs_convのみで保持容量Csが形成される構成(例えば、比較例に係る構成)を有する場合と、画素値が同じ場合の発光素子ELに流れる画素電流が一致するように、データ信号が調整されてもよい。 Note that the display device 1 according to the present embodiment has a configuration in which a combined storage capacitor Cs of the storage capacitor Cs_conv and the storage capacitor Cs_add is formed, so the pixel current increases as the storage capacitor increases. Therefore, in the display device 1, the pixel current flowing through the light-emitting element EL when the pixel value is the same is the same as when the display device 1 has a configuration in which the storage capacitor Cs is formed only by the storage capacitor Cs_conv (for example, a configuration according to the comparative example). so that the data signal may be conditioned.

[1-3.画素回路の動作]
画素回路11の動作の動作について、図9を参照しながら説明する。図9は、本実施の形態に係る表示装置1の各種ゲート制御信号(制御信号INI、REF、WS)のタイミングチャートを示す図である。
[1-3. Operation of Pixel Circuit]
Operation of the pixel circuit 11 will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a diagram showing a timing chart of various gate control signals (control signals INI, REF, WS) of the display device 1 according to this embodiment.

図9に示すように、時間t1~時間t4は、消灯期間である。時間t1において制御信号REFが低レベルから高レベルとなり補償トランジスタT2、T2、T2がオンすることで、消灯期間が開始される。時間t2~時間t3は、制御信号REFが低レベルであり、制御信号INIが高レベルであり、初期化動作が行われる初期化期間である。時間t3~時間t4は、制御信号REFが高レベルであり、制御信号INIが低レベルであり、閾値補償動作が行われる閾値補償期間(Vth補償期間)である。 As shown in FIG. 9, the period from time t1 to time t4 is the extinguishing period. At time t1, the control signal REF changes from low level to high level to turn on the compensation transistors T2 R , T2 G , and T2 B , thereby starting the extinguishing period. A period from time t2 to time t3 is an initialization period during which the control signal REF is at low level, the control signal INI is at high level, and the initialization operation is performed. Time t3 to time t4 is a threshold compensation period (Vth compensation period) during which the control signal REF is at high level, the control signal INI is at low level, and the threshold compensation operation is performed.

時間t4~時間t5において、制御信号WSが高レベルであるので、書き込みトランジスタT3、T3、T3がオンになり、保持容量Cs、Cs、Csのそれぞれにデータ信号線Vdat、Vdat、Vdatのそれぞれに保持されているデータ信号の書き込みが行われる。時間t4~時間t5の期間は、データ書き込み期間である。時間t4~時間t5では、例えば、保持容量Cs_conv、及び、Cs_addに同時に電荷が蓄積される。 From time t4 to time t5, since the control signal WS is at high level, the write transistors T3 R , T3 G and T3 B are turned on, and the data signal lines Vdat R are applied to the storage capacitors Cs R , Cs G and Cs B , respectively. , Vdat G and Vdat B are written. A period from time t4 to time t5 is a data write period. From time t4 to time t5, for example, charges are accumulated simultaneously in the holding capacitors Cs_conv and Cs_add.

そして、時間t5において、制御信号WSが低レベルとなることで、発光素子EL、EL、ELが発光する。 Then, at time t5, the control signal WS becomes low level, so that the light emitting elements EL R , EL G , and EL B emit light.

なお、消灯期間は、初期設定のための期間であり、具体的には当該サブ画素回路が点灯していない(つまり、黒表示である)期間である。画素行がn行であり、1水平期間を1Hとすると、消灯期間は、例えば、n×Hで規定される期間である。なお、「黒表示」は、完全な黒(非発光)であることに限定されず、実質的に黒であるものも含まれ、例えば、所定の輝度以下であることも含まれてもよい。 Note that the light-off period is a period for initial setting, specifically a period in which the sub-pixel circuit is not lit (that is, black display). Assuming that there are n pixel rows and one horizontal period is 1H, the off period is a period defined by n×H, for example. Note that "black display" is not limited to being completely black (non-light emitting), but includes being substantially black, and may also include, for example, having a predetermined luminance or less.

[1-4.効果等]
以下では、表示装置1の効果を記載するが、便宜上、発光素子EL、EL、ELを発光素子ELと記載し、データ信号線及びデータ信号Vdat、Vdat、Vdatをデータ信号線及びデータ信号Vdatと記載し、保持容量Cs、Cs、Csを保持容量Csと記載し、駆動トランジスタTD、TD、TDを駆動トランジスタTDと記載し、書き込みトランジスタT3、T3、T3を書き込みトランジスタT3と記載する。
[1-4. effects, etc.]
In the following, the effects of the display device 1 will be described . line and data signal Vdat, storage capacitors Cs R , Cs G , Cs B are described as storage capacitors Cs, drive transistors TD R , TD G , TD B are described as drive transistors TD, write transistors T3 R , T3 G and T3 B are referred to as write transistor T3.

以上のように、本実施の形態に係る表示装置1は、2次元状に配置された複数の画素(画素回路11)を備える表示装置である。複数の画素のそれぞれは、発光素子ELと、データ信号線Vdatを介して供給されたデータ信号を保持する保持容量Csと、データ信号Vdatに応じた電流を発光素子ELに供給する駆動トランジスタTDと、データ信号線Vdatと駆動トランジスタTDのゲート電極との間に接続される書き込みトランジスタT3であって、ソース電極及びドレイン電極の一方がデータ信号線Vdatと接続される書き込みトランジスタT3とを備える。保持容量Csは、駆動トランジスタTDのゲート電極、及び、書き込みトランジスタT3と接続される下部電極310(第1電極層の一例)と、下部電極310を覆う第1絶縁層140と、駆動トランジスタTDのソース電極と接続され、第1絶縁層140上に下部電極310と対向して配置される第1対向部を有する第1上部電極220と、第1絶縁層140及び下部電極310を覆う第2絶縁層150と、駆動トランジスタTDのソース電極と接続され、少なくとも一部が第2絶縁層150上に形成される第2上部電極320(第3電極層の一例)であって、下部電極310と対向して配置される第2対向部(例えば、第1電極部320a及び第2電極部320b)を有する第2上部電極320とにより形成され、第1対向部と第2対向部とは、表示装置1の平面視において、互いに重ならない位置に形成され、下部電極310は、平面視において、第1対向部及び第2対向部のそれぞれと重なるように形成される。 As described above, the display device 1 according to the present embodiment is a display device including a plurality of pixels (pixel circuits 11) arranged two-dimensionally. Each of the plurality of pixels includes a light emitting element EL, a storage capacitor Cs that holds a data signal supplied through a data signal line Vdat, and a driving transistor TD that supplies a current corresponding to the data signal Vdat to the light emitting element EL. , a write transistor T3 connected between the data signal line Vdat and the gate electrode of the drive transistor TD, wherein one of the source electrode and the drain electrode is connected to the data signal line Vdat. The storage capacitor Cs is composed of a lower electrode 310 (an example of a first electrode layer) connected to the gate electrode of the drive transistor TD and the write transistor T3, a first insulating layer 140 covering the lower electrode 310, and the drive transistor TD. A first upper electrode 220 connected to the source electrode and having a first facing portion disposed on the first insulating layer 140 to face the lower electrode 310; and a second upper electrode 320 (an example of a third electrode layer) connected to the source electrode of the driving transistor TD and at least partially formed on the second insulating layer 150 and facing the lower electrode 310 . and a second upper electrode 320 having a second opposing portion (for example, a first electrode portion 320a and a second electrode portion 320b) that are arranged in parallel with each other. The lower electrodes 310 are formed so as not to overlap each other in plan view, and the lower electrode 310 is formed so as to overlap each of the first facing portion and the second facing portion in plan view.

これにより、下部電極310、第1上部電極220(第1対向部)及び第1絶縁層140で形成される保持容量Cs_convに加え、下部電極310、第2上部電極320(第2対向部)及び第1絶縁層140(又は第1絶縁層140及び第2絶縁層150)で形成される保持容量Cs_addが形成される。つまり、表示装置1では、複数の画素のそれぞれにおいて、保持容量Csが従来より増加する。このような表示装置1は、図8で説明したように、蓄積される電荷量が従来より多いので、オフリークによる影響を受けにくい。よって、本実施の形態に係る表示装置1は、書き込みトランジスタT3(スイッチングトランジスタ)のオフリークによる輝度の変化を抑制することができる。 Accordingly, in addition to the storage capacitor Cs_conv formed by the lower electrode 310, the first upper electrode 220 (first facing portion), and the first insulating layer 140, the lower electrode 310, the second upper electrode 320 (second facing portion), and A storage capacitor Cs_add formed of the first insulating layer 140 (or the first insulating layer 140 and the second insulating layer 150) is formed. That is, in the display device 1, each of the plurality of pixels has a larger storage capacitance Cs than in the conventional case. As described with reference to FIG. 8, such a display device 1 is less susceptible to off-leakage because the amount of accumulated charge is larger than that of the conventional device. Therefore, the display device 1 according to the present embodiment can suppress changes in brightness due to off-leakage of the write transistor T3 (switching transistor).

また、第2対向部は、第2絶縁層150上に直接形成されている。 Also, the second facing portion is formed directly on the second insulating layer 150 .

これにより、第2絶縁層150上に直接形成されている第2対向部(例えば、第1電極部320a及び第2電極部320b)と下部電極310とにより保持容量Cs_addが形成されるので画素ごとの保持容量Csを増やすことができる。 As a result, the holding capacitor Cs_add is formed by the second opposing portion (for example, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b) directly formed on the second insulating layer 150 and the lower electrode 310, so that each pixel can be increased.

また、下部電極310は、第1対向部及び第2対向部を覆う第3対向部と、第3対向部及び駆動トランジスタTDのゲート電極を接続する第4電極部310dとを有し、第2上部電極320は、平面視において、第4電極部310d(第1配線部の一例)の一部と重なる。 The lower electrode 310 has a third facing portion covering the first facing portion and the second facing portion, and a fourth electrode portion 310d connecting the third facing portion and the gate electrode of the driving transistor TD. The upper electrode 320 overlaps a part of the fourth electrode portion 310d (an example of the first wiring portion) in plan view.

これにより、第2上部電極320と第4電極部310dとが重なる部分でも容量が形成されるので、保持容量Cs_addをより増加させることができる。 As a result, capacitance is formed even in the portion where the second upper electrode 320 and the fourth electrode portion 310d overlap, so that the storage capacitance Cs_add can be further increased.

また、第1対向部は、平面視において、矩形状であり、第2対向部は、平面視において、長尺状である。 In addition, the first facing portion has a rectangular shape in plan view, and the second facing portion has an elongated shape in plan view.

これにより、第1対向部と第2対向部とが異なる形状により形成されるので、第1対向部及び第2対向部を設けることができるレイアウト面積に制限がある場合であっても、保持容量Cs_addを効果的に増加させることができる。 As a result, the first facing portion and the second facing portion are formed with different shapes, so even if there is a limit to the layout area in which the first facing portion and the second facing portion can be provided, the holding capacitor Cs_add can be effectively increased.

また、第2絶縁層150は、平面視において、第1上部電極220及び駆動トランジスタTDのソース電極を接続する接続部330(第2配線部の一例)と第2上部電極320とが重なる位置に貫通孔151が形成されており、第2上部電極320は、貫通孔151を介して駆動トランジスタTDのソース電極と電気的に接続される。 In addition, the second insulating layer 150 is located at a position where the second upper electrode 320 overlaps the connection portion 330 (an example of the second wiring portion) that connects the first upper electrode 220 and the source electrode of the driving transistor TD in plan view. A through hole 151 is formed, and the second upper electrode 320 is electrically connected to the source electrode of the drive transistor TD through the through hole 151 .

これにより、第2上部電極320をより広く形成することが可能となるので、保持容量Cs_addをさらに増加させることができる。 As a result, the second upper electrode 320 can be formed wider, so that the storage capacitance Cs_add can be further increased.

また、さらに、駆動トランジスタTDのドレイン電極に接続され、平面視において、長尺状に形成された正電源線VCC(電源線の一例)を備え、第2対向部は、平面視において、正電源線VCCを挟むように形成されている。 Further, a positive power supply line VCC (an example of a power supply line) is provided which is connected to the drain electrode of the drive transistor TD and formed in a long shape in plan view. They are formed so as to sandwich the line VCC.

これにより、平面視における正電源線VCCの周囲のスペースを利用して、保持容量Cs_addを効果的に増加させることができる。 This makes it possible to effectively increase the storage capacitance Cs_add by utilizing the space around the positive power supply line VCC in plan view.

(実施の形態2)
以下では、本実施の形態に係る表示装置について、図10~図13を参照しながら説明する。以下では、実施の形態1との相違点を中心に説明し、実施の形態1と同一又は類似の内容については説明を省略又は簡略化する。本実施の形態では、保持容量Cs_addを形成する他方電極が第2絶縁層150の上面よりも下方の位置に形成されている例について説明する。図10を用いて第2絶縁層150の貫通孔に他方電極が形成される場合の構成を説明し、図11を用いて第2絶縁層150の有底の凹部に他方電極が形成される場合の構成を説明する。
(Embodiment 2)
The display device according to the present embodiment will be described below with reference to FIGS. 10 to 13. FIG. In the following, differences from the first embodiment will be mainly described, and descriptions of the same or similar contents as those of the first embodiment will be omitted or simplified. In this embodiment, an example in which the other electrode forming the storage capacitor Cs_add is formed below the upper surface of the second insulating layer 150 will be described. A configuration in which the other electrode is formed in the through hole of the second insulating layer 150 will be described with reference to FIG. will be explained.

[2-1.表示装置の構成]
図10は、図5のVI-VI切断線に対応する切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成の第1例を模式的に示す断面図である。
[2-1. Configuration of display device]
FIG. 10 is a cross-sectional view schematically showing a first example of the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to the present embodiment, taken along a cutting line corresponding to the VI-VI cutting line in FIG.

図10に示すように、第2上部電極320の第1電極部320a及び第2電極部320bは、第2絶縁層150上ではなく、第2絶縁層150に形成された貫通孔152及び153に形成されている。図10の例では、貫通孔152及び153は、第2絶縁層150をZ軸方向に貫通する凹部である。第2絶縁層150には、平面視において、第1電極部320a及び第2電極部320bと重なる位置に第1絶縁層140側(Z軸マイナス側)に貫通する凹部(貫通孔152及び153)が形成されているとも言える。 As shown in FIG. 10, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b of the second upper electrode 320 are not on the second insulating layer 150, but on the through holes 152 and 153 formed in the second insulating layer 150. formed. In the example of FIG. 10, the through holes 152 and 153 are recesses penetrating the second insulating layer 150 in the Z-axis direction. In the second insulating layer 150, recesses (through holes 152 and 153) penetrating to the first insulating layer 140 side (the negative side of the Z axis) at positions overlapping with the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b in plan view. can be said to be formed.

この場合、第1電極部320a及び第2電極部320bは、第1絶縁層140上に形成される。つまり、第1電極部320a及び第2電極部320bと、第1上部電極220とは同層(第2配線層)に形成され、下部電極310までの距離d2が等しい。距離d2は、距離d1より小さい距離である。 In this case, the first electrode part 320 a and the second electrode part 320 b are formed on the first insulating layer 140 . That is, the first electrode portion 320a, the second electrode portion 320b, and the first upper electrode 220 are formed in the same layer (second wiring layer), and the distance d2 to the lower electrode 310 is the same. The distance d2 is a distance smaller than the distance d1.

第1電極部320aは、断面視において、第1上部電極220と、正電源線VCCとの間に、互いに接触しないように配置され、第2電極部320bは、正電源線VCCと、データ信号線Vdatとの間に、互いに接触しないように配置される。つまり、第1電極部320a及び第2電極部320bのそれぞれは、第1上部電極220、正電源線VCC及びデータ信号線Vdatと電気的に分離されている。第1電極部320a及び第2電極部320bは、下部電極310と対向する部分(第1部分)を有する。 The first electrode portion 320a is arranged between the first upper electrode 220 and the positive power supply line VCC so as not to contact each other in a cross-sectional view, and the second electrode portion 320b is arranged between the positive power supply line VCC and the data signal. and the line Vdat G so as not to contact each other. That is, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are electrically isolated from the first upper electrode 220, the positive power line VCC and the data signal line VdatG , respectively. The first electrode portion 320 a and the second electrode portion 320 b have a portion (first portion) facing the lower electrode 310 .

保持容量Cs_addは、平面視において、下部電極310と、第2上部電極320とが平面視において重なる面積をSとし、下部電極310と、第2上部電極320との距離をd2とすると、以下の(式3)により算出可能である。 The storage capacitor Cs_add is calculated as follows, where S is the overlapping area of the lower electrode 310 and the second upper electrode 320 in plan view, and d2 is the distance between the lower electrode 310 and the second upper electrode 320. It can be calculated by (Equation 3).

Cs_add=ε0×εx×S/d2 ・・・(式3) Cs_add=ε0×εx×S/d2 (Formula 3)

また、第1電極部320aは、貫通孔152の内面152aを覆うように形成されており、第2電極部320bは、貫通孔153の内面153aを覆うように形成されている。貫通孔152及び153は、平面視において、第2配線層の各電極(第1上部電極220、正電源線VCC及びデータ信号線Vdat)と重ならない位置に形成される。貫通孔152は、平面視において第1上部電極220及び正電源線VCCの間であって、正電源線VCCに沿って長尺状に形成されており、貫通孔153は、平面視において正電源線VCC及びデータ信号線Vdatの間であって、正電源線VCCに沿って長尺状に形成されている。例えば、貫通孔152及び153は、平面視において、平行な貫通溝である。 The first electrode portion 320a is formed to cover the inner surface 152a of the through hole 152, and the second electrode portion 320b is formed to cover the inner surface 153a of the through hole 153. As shown in FIG. The through holes 152 and 153 are formed at positions that do not overlap each electrode (the first upper electrode 220, the positive power supply line VCC and the data signal line Vdat G ) of the second wiring layer in plan view. The through-hole 152 is formed between the first upper electrode 220 and the positive power supply line VCC in plan view and is elongated along the positive power supply line VCC. It is formed in an elongated shape along the positive power supply line VCC between the line VCC and the data signal line VdatG . For example, the through holes 152 and 153 are parallel through grooves in plan view.

第1電極部320aのうち貫通孔152の内面152aに形成される部分(第2部分の一例)、及び、第2電極部320bのうち貫通孔153の内面153aに形成される部分(第2部分の一例)は、平面視において、正電源線VCCに沿って延在する。内面152a及び153aに電極が形成されることで、当該電極と下部電極310との間での容量が形成される。つまり、内面152a及び153aに電極が形成されることで、保持容量Cs_addをさらに増やす効果が期待される。なお、第2部分は、第1部分と接続されている。 A portion of the first electrode portion 320a formed on the inner surface 152a of the through hole 152 (an example of the second portion), and a portion of the second electrode portion 320b formed on the inner surface 153a of the through hole 153 (second portion). ) extends along the positive power supply line VCC in plan view. By forming electrodes on the inner surfaces 152 a and 153 a , capacitance is formed between the electrodes and the lower electrode 310 . In other words, by forming the electrodes on the inner surfaces 152a and 153a, an effect of further increasing the holding capacitance Cs_add is expected. Note that the second portion is connected to the first portion.

なお、第2絶縁層150に形成される貫通孔152及び153の数は2つに限定されず、平面視において下部電極310と第2上部電極320とが重なる領域に形成されていれば、1つであってもよいし、3つ以上であってもよい。また、貫通孔152及び153は、貫通溝であることに限定されず、筒状の複数の貫通孔により実現されてもよい。 The number of through holes 152 and 153 formed in the second insulating layer 150 is not limited to two. There may be one, or three or more. Moreover, the through holes 152 and 153 are not limited to being through grooves, and may be realized by a plurality of cylindrical through holes.

図11は、図5のVI-VI切断線に対応する切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成の第2例を模式的に示す断面図である。 FIG. 11 is a cross-sectional view schematically showing a second example of the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to the present embodiment, cut along a cutting line corresponding to the VI-VI cutting line in FIG.

図11に示すように、第2上部電極320の第1電極部320a及び第2電極部320bは、第2絶縁層150に形成された凹部154及び155内に形成されている。図11の例では、凹部154及び155は、第2絶縁層150をZ軸方向に貫通していない有底(未貫通)の溝である。第2絶縁層150には、平面視において、第1電極部320a及び第2電極部320bと重なる位置に第1絶縁層140側(Z軸マイナス側)に凹む有底の凹部154及び155が形成されているとも言える。 As shown in FIG. 11 , the first electrode portion 320 a and the second electrode portion 320 b of the second upper electrode 320 are formed in recesses 154 and 155 formed in the second insulating layer 150 . In the example of FIG. 11, the recesses 154 and 155 are bottomed (non-penetrating) grooves that do not penetrate the second insulating layer 150 in the Z-axis direction. In the second insulating layer 150, bottomed recesses 154 and 155 recessed toward the first insulating layer 140 side (Z-axis negative side) are formed at positions overlapping with the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b in plan view. It can be said that it is.

凹部154及び154が有底の溝であるので、第1電極部320a及び第2電極部320bは、凹部154及び155の底面上に形成される。つまり、第1電極部320a及び第2電極部320bは、第2配線層と第3配線層との間に形成され、下部電極310までの距離は距離d3となる。距離d3は、距離d1より小さく、かつ、距離d2(図10を参照)より大きい距離である。 Since the concave portions 154 and 154 are bottomed grooves, the first electrode portion 320 a and the second electrode portion 320 b are formed on the bottom surfaces of the concave portions 154 and 155 . That is, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are formed between the second wiring layer and the third wiring layer, and the distance to the lower electrode 310 is the distance d3. The distance d3 is smaller than the distance d1 and larger than the distance d2 (see FIG. 10).

凹部154及び155が形成される平面視上の位置は、貫通孔152及び153と同じである。 The positions in plan view where the recesses 154 and 155 are formed are the same as the through holes 152 and 153 .

保持容量Cs_addは、平面視において、下部電極310と、第2上部電極320とが重なる面積をSとし、下部電極310と、第2上部電極320との距離をd3とすると、以下の(式4)により算出可能である。 The holding capacitance Cs_add is expressed by the following (Equation 4 ).

Cs_add=ε0×εx×S/d3 ・・・(式4) Cs_add=ε0×εx×S/d3 (Formula 4)

また、第1電極部320aは、凹部154の内面を覆うように形成されており、第2電極部320bは、凹部155の内面を覆うように形成されている。 The first electrode portion 320 a is formed to cover the inner surface of the recess 154 , and the second electrode portion 320 b is formed to cover the inner surface of the recess 155 .

図12は、図5のVII-VII切断線に対応する切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す断面図である。 FIG. 12 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to the present embodiment, taken along the cutting line corresponding to the VII-VII cutting line in FIG.

図12に示すように、第2上部電極320は、平面視において第3電極部310cと重なるので、第2上部電極320と第3電極部310cとの間にも保持容量Cs_addが形成される。これにより、さらに保持容量Csを大きくすることができる。また、図12の例では、第3電極部310cの上方に凹部は形成されていない。第3電極部310cの上方とは、平面視において、第3電極部310cと第4電極部310dとが重なる領域である。当該領域が駆動トランジスタTDと物理的に近い位置であるので、駆動トランジスタTDの動作への影響を考慮して当該領域に凹部は形成されていない。 As shown in FIG. 12, since the second upper electrode 320 overlaps the third electrode portion 310c in a plan view, a holding capacitance Cs_add is also formed between the second upper electrode 320 and the third electrode portion 310c. Thereby, the holding capacitance Cs can be further increased. Further, in the example of FIG. 12, no recess is formed above the third electrode portion 310c. Above the third electrode portion 310c is a region where the third electrode portion 310c and the fourth electrode portion 310d overlap in plan view. Since the region is physically close to the drive transistor TD, no recess is formed in the region in consideration of the influence on the operation of the drive transistor TD.

この場合、平面視において第2電極部310bと第1電極部320aとが重なる面積をS1とし、第2電極部310bと第1電極部320aとで形成される保持容量をCs_add_1(図12中の第2電極部310bと第1電極部320aとの間の保持容量Cs_add)とし、平面視において第4電極部310dと第3電極部320cとが重なる面積をS2とし、第2電極部310bと第1電極部320aとで形成される保持容量をCs_add_2(図12中の第4電極部310dと第3電極部320cとの間の保持容量Cs_add)とは、以下の(式5)の関係が成り立つ。 In this case, the overlapping area of the second electrode portion 310b and the first electrode portion 320a in a plan view is S1, and the storage capacitor formed by the second electrode portion 310b and the first electrode portion 320a is Cs_add_1 (in FIG. 12). Cs_add) between the second electrode portion 310b and the first electrode portion 320a; The holding capacitance Cs_add_2 (holding capacitance Cs_add between the fourth electrode portion 310d and the third electrode portion 320c in FIG. 12) formed with the first electrode portion 320a and the following (Equation 5) holds: .

Cs_add_2/S2<Cs_add_1/S1 ・・・(式5) Cs_add_2/S2<Cs_add_1/S1 (Formula 5)

なお、第2絶縁層150は、第3電極部310cの上方において、駆動トランジスタTDの動作に影響を及ぼさない程度の有底の凹部が形成されており、当該凹部の底面に第2上部電極320が形成されていてもよい。このような凹部の深さは、例えば、実験等により取得可能である。 The second insulating layer 150 has a bottomed concave portion formed above the third electrode portion 310c to such an extent that it does not affect the operation of the driving transistor TD. may be formed. The depth of such recesses can be obtained by, for example, experiments.

なお、第2絶縁層150に形成される凹部154及び155の数は2つに限定されず、平面視において下部電極310と重なる領域に形成されていれば、1つであってもよいし、3つ以上であってもよい。また、凹部154及び155は、溝状の凹みであることに限定されず、筒状の複数の凹みにより実現されてもよい。 The number of recesses 154 and 155 formed in the second insulating layer 150 is not limited to two. It may be three or more. Further, the recesses 154 and 155 are not limited to groove-shaped recesses, and may be realized by a plurality of cylindrical recesses.

[2-2.表示装置の製造方法]
次に、図11及び図12に示す貫通孔151、凹部154及び凹部155の作製方法について、図13を参照しながら説明する。図13は、本実施の形態に係る表示装置1の製造方法を説明するための図である。図13は、貫通孔151、凹部154及び凹部155を形成するための露光工程を模式的に示す。なお、フォトマスク500に入射する光(例えば、UV光)の光量は、平面視において、例えば、均一である。また、第2絶縁層150の材料となる樹脂は、ポジ型の感光性樹脂であるとするが、これに限定されない。
[2-2. Display device manufacturing method]
Next, a method for manufacturing the through holes 151, the recesses 154 and the recesses 155 shown in FIGS. 11 and 12 will be described with reference to FIG. 13A and 13B are diagrams for explaining the manufacturing method of the display device 1 according to the present embodiment. FIG. 13 schematically shows an exposure process for forming through-holes 151, recesses 154 and recesses 155. As shown in FIG. Note that the amount of light (eg, UV light) incident on the photomask 500 is, for example, uniform in plan view. Also, although the resin that is the material of the second insulating layer 150 is assumed to be a positive photosensitive resin, it is not limited to this.

第2絶縁層150は、第1絶縁層140上に下部電極310を含む第1配線層が形成された後、第2絶縁層150を形成するためのポジ型の感光性樹脂を塗布し、プリベークで硬化(仮硬化)させ、図13に示すフォトマスク500で露光し、現像液でエッチング部の樹脂を除去し、ポストベークで最終硬化(本硬化)させることで形成される。 After the first wiring layer including the lower electrode 310 is formed on the first insulating layer 140, the second insulating layer 150 is formed by applying a positive photosensitive resin for forming the second insulating layer 150 and pre-baking. is cured (provisionally cured) with , exposed with a photomask 500 shown in FIG.

図13に示すように、フォトマスク500を用いた露光工程により貫通孔151、凹部154及び凹部155が形成される。フォトマスク500は、遮光部510と、透過部520と、ハーフトーン部530とを有する。フォトマスク500は、遮光部510以外に光透過率が互いに異なる透過部分を2つ以上有するように構成されるマルチトーンマスクである。 As shown in FIG. 13, through holes 151, recesses 154 and recesses 155 are formed by an exposure process using a photomask 500. As shown in FIG. The photomask 500 has a light blocking portion 510 , a transmission portion 520 and a halftone portion 530 . The photomask 500 is a multi-tone mask configured to have two or more transmissive portions having different light transmittances in addition to the light shielding portion 510 .

遮光部510は、貫通孔151、凹部154及び凹部155が形成されない領域(例えば、第3電極部310cが形成される含む領域)に設けられ、フォトマスク500に入射する光を遮光する部分である。 The light shielding portion 510 is provided in a region where the through hole 151, the concave portion 154 and the concave portion 155 are not formed (for example, the region including the third electrode portion 310c is formed), and is a portion that blocks light incident on the photomask 500. .

透過部520は、貫通孔151が形成される領域に設けられ、フォトマスク500に入射する光を透過する部分である。 The transmission portion 520 is provided in a region where the through hole 151 is formed, and is a portion that transmits light incident on the photomask 500 .

ハーフトーン部530は、有底の溝が形成される領域(例えば、第1電極部310a及び第2電極部310bが形成される領域)に設けられ、フォトマスク500に入射する光を一部透過する部分である。ハーフトーン部530は、透過部520より透過率が小さく、かつ、遮光部510より透過率が高い部分である。なお、ハーフトーン部530は、X軸方向に長尺状に設けられる。 The halftone portion 530 is provided in a region where a groove with a bottom is formed (for example, a region where the first electrode portion 310a and the second electrode portion 310b are formed), and partially transmits light incident on the photomask 500. This is the part to do. The halftone portion 530 has a lower transmittance than the transmissive portion 520 and a higher transmittance than the light shielding portion 510 . The halftone portion 530 is elongated in the X-axis direction.

このようなフォトマスク500を用いることで、互いに深さの異なる溝(例えば、貫通溝、及び、貫通未時)を1回の露光で形成することができる。なお、図10に示す貫通孔152及び153を形成する場合、ハーフトーン部530の部分を透過部520に置き換えたフォトマスクを用いればよい。 By using such a photomask 500, grooves having different depths (for example, through grooves and non-through grooves) can be formed by one exposure. When forming the through holes 152 and 153 shown in FIG. 10, a photomask in which the halftone portion 530 is replaced with the transmission portion 520 may be used.

[2-3.効果等]
以上のように、本実施の形態に係る表示装置1の第2絶縁層150には、平面視において、下部電極310(第1電極層の一例)と重なる位置に第1絶縁層140側(Z軸マイナス側)に凹む有底の凹部154及び155が形成されており、第2対向部(例えば、第1電極部320a及び第2電極部320b)は、凹部154及び155の底面上に形成されていてもよい。
[2-3. effects, etc.]
As described above, in the second insulating layer 150 of the display device 1 according to the present embodiment, the first insulating layer 140 side (Z Bottomed recesses 154 and 155 are formed on the bottom surface of the recesses 154 and 155 (for example, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b). may be

これにより、第1電極部320a及び第2電極部320bと下部電極310との距離を近づけることができるので、保持容量Cs_addをより増加させることができる。また、第1電極部320a及び第2電極部320bと下層の信号線との間には、第2絶縁層150が存在する。よって、表示装置1は、第1電極部320a及び第2電極部320bが他の信号線とショートすることを抑制しつつ保持容量Csを増加させることができる。 As a result, the distances between the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b and the lower electrode 310 can be shortened, so that the storage capacitance Cs_add can be further increased. A second insulating layer 150 exists between the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b and the underlying signal line. Therefore, the display device 1 can increase the storage capacitance Cs while suppressing short-circuiting of the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b with other signal lines.

また、第2絶縁層150には、平面視において、下部電極310と重なる位置に第1絶縁層140側に貫通する貫通孔152及び153(凹部の一例)が形成されており、第2対向部は、第1絶縁層140上に直接形成されている。 Further, in the second insulating layer 150, through holes 152 and 153 (an example of recessed portions) are formed through the first insulating layer 140 side at positions overlapping with the lower electrode 310 in plan view. are formed directly on the first insulating layer 140 .

これにより、第1電極部320a及び第2電極部320bと下部電極310との距離を第1上部電極220と下部電極310との距離d2まで近づけることができるので、保持容量Cs_addをさらに増加させることができる。よって、表示装置1は、保持容量Csをさらに増加させることができる。 As a result, the distance between the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b and the lower electrode 310 can be reduced to the distance d2 between the first upper electrode 220 and the lower electrode 310, so that the storage capacitance Cs_add can be further increased. can be done. Therefore, the display device 1 can further increase the storage capacitance Cs.

また、第2対向部は、下部電極310と対向する第1部分と、凹部の内面(例えば、貫通孔152及び153の内面152a及び153a)に形成される第2部分とにより構成される。 The second facing portion is composed of a first portion facing the lower electrode 310 and a second portion formed on the inner surface of the recess (for example, the inner surfaces 152a and 153a of the through holes 152 and 153).

これにより、第2部分と下部電極310とにより容量が形成されるので、さらに保持容量Cs_addを増加させることができる。 Thereby, a capacitance is formed by the second portion and the lower electrode 310, so that the storage capacitance Cs_add can be further increased.

(実施の形態3)
以下では、本実施の形態に係る表示装置について、図14及び図15を参照しながら説明する。以下では、実施の形態1との相違点を中心に説明し、実施の形態1と同一又は類似の内容については説明を省略又は簡略化する。本実施の形態では、画素回路11にVCC補助線410及びVCATH補助線420が形成されている場合について説明する。なお、図14では、画素回路11にVCC補助線410及びVCATH補助線420の両方が形成されている例について図示しているが、VCC補助線410及びVCATH補助線420の少なくとも一方が形成されていればよい。
(Embodiment 3)
The display device according to this embodiment will be described below with reference to FIGS. 14 and 15. FIG. In the following, differences from the first embodiment will be mainly described, and descriptions of the same or similar contents as those of the first embodiment will be omitted or simplified. In this embodiment, the case where the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 are formed in the pixel circuit 11 will be described. Although FIG. 14 shows an example in which both the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 are formed in the pixel circuit 11, at least one of the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 is formed. All you have to do is

[3-1.表示装置の構成]
図14は、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す平面図である。図15は、図14のXV-XV切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す断面図である。
[3-1. Configuration of display device]
FIG. 14 is a plan view schematically showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to this embodiment. FIG. 15 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to the present embodiment, taken along line XV-XV in FIG.

図14及び図15に示すように、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11は、実施の形態1に係る画素回路11に加えて、VCC補助線410及びVCATH補助線420を備える。VCC補助線410は、第1補助線の一例であり、VCATH補助線420は、第2補助線の一例である。 As shown in FIGS. 14 and 15, the pixel circuit 11 of the display device 1 according to the present embodiment includes a VCC auxiliary line 410 and a VCATH auxiliary line 420 in addition to the pixel circuit 11 according to the first embodiment. The VCC auxiliary line 410 is an example of a first auxiliary line, and the VCATH auxiliary line 420 is an example of a second auxiliary line.

VCC補助線410は、正電源線VCCと電気的に接続され、表示エリア内での正電源電圧VCCの電圧ドロップを抑制するために画素回路11内に設けられる配線である。VCC補助線410は、例えば、正電源線VCCより低抵抗な金属配線である。例えば、VCC補助線410は、メタル配線である。また、VCC補助線410は、例えば、平面視において、データ信号線Vdat(図14の例では、データ信号線Vdat)と少なくとも一部が重なるようにデータ信号線Vdatに沿って長尺状に形成されるが、データ信号線Vdatと重ならなくてもよい。VCC補助線410は、例えば、各画素に設けられる。 The VCC auxiliary line 410 is a wiring that is electrically connected to the positive power supply line VCC and provided in the pixel circuit 11 to suppress the voltage drop of the positive power supply voltage VCC within the display area. The VCC auxiliary line 410 is, for example, a metal wiring having a lower resistance than the positive power supply line VCC. For example, the VCC auxiliary line 410 is metal wiring. Further, the VCC auxiliary line 410 is elongated along the data signal line Vdat so as to at least partially overlap the data signal line Vdat (in the example of FIG. 14, the data signal line Vdat R ) in a plan view, for example. Although formed, it does not have to overlap with the data signal line Vdat. The VCC auxiliary line 410 is provided for each pixel, for example.

VCATH補助線420は、金属層180と電気的に接続され、表示エリア内での負電源電圧VCATHの電圧ドロップを抑制するために画素回路11内に設けられる配線である。VCATH補助線420は、例えば、金属層180より低抵抗な金属配線である。例えば、VCATH補助線420は、メタル配線である。また、VCATH補助線420は、例えば、平面視において、データ信号線Vdat(図14の例では、データ信号線Vdat)と少なくとも一部が重なるように、データ信号線Vdatに沿って長尺状に形成されるが、データ信号線Vdatと重ならなくてもよい。VCATH補助線420は、例えば、各画素に設けられる。 The VCATH auxiliary line 420 is a wiring that is electrically connected to the metal layer 180 and provided within the pixel circuit 11 to suppress voltage drop of the negative power supply voltage VCATH within the display area. The VCATH auxiliary line 420 is, for example, metal wiring having a lower resistance than the metal layer 180 . For example, the VCATH auxiliary line 420 is a metal wiring. Further, the VCATH auxiliary line 420 is elongated along the data signal line Vdat so as to at least partially overlap the data signal line Vdat (data signal line Vdat B in the example of FIG. 14) in plan view, for example. However, it does not have to overlap with the data signal line Vdat. The VCATH auxiliary line 420 is provided for each pixel, for example.

このようなVCC補助線410及びVCATH補助線420は、第2絶縁層150上に形成され、VCC補助線410及びVCATH補助線420を備える画素回路11は、第4絶縁層200が形成される。VCC補助線410及びVCATH補助線420は、平面視において、下部電極310及び接続部330と重ならない位置に設けられる。 The VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 are formed on the second insulating layer 150, and the pixel circuit 11 having the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 is formed on the fourth insulating layer 200. FIG. The VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 are provided at positions that do not overlap the lower electrode 310 and the connecting portion 330 in plan view.

そこで、VCC補助線410及びVCATH補助線420を備える画素回路11においては、追加の層を形成することなく、平面視においてVCC補助線410及びVCATH補助線420が形成されている領域以外の領域に第2上部電極320を形成することができる。 Therefore, in the pixel circuit 11 having the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420, without forming an additional layer, the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 are not formed in the area other than the area where the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 are formed in plan view. A second top electrode 320 may be formed.

データ信号線VdatとVCC補助線410との距離をd4、データ信号線Vdatと第1電極部320a及び第2電極部320bとの距離をd5とすると、以下の(式6)が成り立つ。 Assuming that the distance between the data signal line Vdat R and the VCC auxiliary line 410 is d4, and the distance between the data signal line Vdat R and the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b is d5, the following (Equation 6) holds.

d4>d5 ・・・(式6) d4>d5 (Formula 6)

これにより、VCC補助線410の下層の絶縁層(第2絶縁層150)の厚みが厚いので、データ信号線VdatとVCC補助線410とがショートすることを抑制することができる。つまり、データ信号線VdatとVCC補助線410との間の絶縁性を保持することができる。 Since the insulating layer (second insulating layer 150) below the VCC auxiliary line 410 is thick, short-circuiting between the data signal line Vdat R and the VCC auxiliary line 410 can be suppressed. That is, the insulation between the data signal line Vdat R and the VCC auxiliary line 410 can be maintained.

なお、図15にはVCATH補助線420は図示していないが、データ信号線VdatとVCATH補助線420との距離も距離d4となる。 Although the VCATH auxiliary line 420 is not shown in FIG. 15, the distance between the data signal line Vdat R and the VCATH auxiliary line 420 is also the distance d4.

なお、第2電極部320b及び第3電極部320cの少なくとも一部は、断面視において、VCC補助線410及びVCATH補助線420より下部電極310側(Z軸マイナス側)に設けられる。 At least a part of the second electrode portion 320b and the third electrode portion 320c is provided on the lower electrode 310 side (Z-axis minus side) with respect to the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 in a cross-sectional view.

[3-2.効果等]
以上のように、本実施の形態に係る表示装置1は、駆動トランジスタTDのドレイン電極に接続され、平面視において、長尺状に形成される正電源線VCCと、正電源線VCCと接続され、正電源線VCCより低抵抗なVCC補助線410(第1補助線の一例)とを備える。そして、VCC補助線410は、第2絶縁層150上に形成されていてもよい。また、本実施の形態に係る表示装置1は、発光素子ELのカソード電極と接続され、複数の画素を覆う金属層180(第4電極層の一例)と、金属層180と接続され、金属層180より低抵抗なVCATH補助線420(第2補助線の一例)とを備え、VCATH補助線420は、第2絶縁層150上に形成されていてもよい。
[3-2. effects, etc.]
As described above, the display device 1 according to the present embodiment is connected to the drain electrode of the driving transistor TD, and is connected to the positive power supply line VCC formed in a long shape in a plan view and the positive power supply line VCC. , and a VCC auxiliary line 410 (an example of a first auxiliary line) having a resistance lower than that of the positive power supply line VCC. Also, the VCC auxiliary line 410 may be formed on the second insulating layer 150 . Further, the display device 1 according to the present embodiment includes a metal layer 180 (an example of a fourth electrode layer) that is connected to the cathode electrode of the light emitting element EL and covers a plurality of pixels, and a metal layer 180 that is connected to the metal layer A VCATH auxiliary line 420 (an example of a second auxiliary line) having a resistance lower than 180, and the VCATH auxiliary line 420 may be formed on the second insulating layer 150 .

これにより、VCC補助線410及びVCATH補助線420の少なくとも一方の補助線が設けられる表示装置1においては、当該少なくとも一方の補助線を形成するために設けられる第2絶縁層150上に第2上部電極320を形成することができる。つまり、表示装置1は、第2上部電極320を形成するための専用の絶縁層を備えなくてもよい。よって、オフリークによる輝度の変化を抑制することができる表示装置1を低コストで実現することができる。 Accordingly, in the display device 1 in which at least one of the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 is provided, the second upper insulating layer 150 is provided on the second insulating layer 150 for forming at least one of the auxiliary lines. An electrode 320 can be formed. In other words, the display device 1 does not need to include a dedicated insulating layer for forming the second upper electrode 320 . Therefore, the display device 1 capable of suppressing a change in luminance due to off-leakage can be realized at low cost.

(その他の実施の形態)
以上、本開示に係る表示装置について、各実施の形態に基づいて説明してきたが、本開示に係る表示装置は、上記各実施の形態に限定されるものではない。各実施の形態における任意の構成要素を組み合わせて実現される別の実施の形態や、各実施の形態に対して本開示の主旨を逸脱しない範囲で当業者が思いつく各種変形を施して得られる変形例や、本実施の形態に係る表示装置を内蔵した各種機器も本開示に含まれる。
(Other embodiments)
Although the display device according to the present disclosure has been described above based on each embodiment, the display device according to the present disclosure is not limited to the above embodiments. Another embodiment realized by combining arbitrary components in each embodiment, and a modification obtained by applying various modifications that a person skilled in the art can think of without departing from the scope of the present disclosure for each embodiment For example, the present disclosure also includes various devices incorporating the display device according to the present embodiment.

例えば、第2絶縁層に形成される溝(保持容量を形成するための溝)は、一方が貫通溝であり、他方が有底の溝であってもよい。 For example, one of the trenches formed in the second insulating layer (the trench for forming the storage capacitor) may be a through trench and the other may be a bottomed trench.

また、上記の本開示は、表示パネル単体として実現されてもよい。本開示は、電源及び制御部を備えていない構成で実現されてもよい。このような表示パネルは、2次元状に配置された複数の画素を備える表示パネルであって、複数の画素のそれぞれは、発光素子と、データ信号線を介して供給されたデータ信号を保持する保持容量と、データ信号に応じた電流を発光素子に供給する駆動トランジスタと、データ信号線と駆動トランジスタのゲート電極との間に接続された書き込みトランジスタであって、ソース電極及びドレイン電極の一方がデータ信号線と接続された書き込みトランジスタとを備える。保持容量は、駆動トランジスタのゲート電極、及び、書き込みトランジスタと接続される第1電極層と、第1電極層上に形成される第1絶縁層と、駆動トランジスタのソース電極と接続され、第1絶縁層上に第1電極層と対向して配置される第1電極部を有する第2電極層と、第1絶縁層上に形成される第2絶縁層と、駆動トランジスタのソース電極と接続され、少なくとも一部が第2絶縁層上に形成される第3電極層であって、第1電極層と対向して配置される第2電極部を有する第3電極層とにより形成される。そして、第1電極部と第2電極部とは、表示パネルの平面視において、互いに重ならない位置に設けられ、第1電極層は、第1電極部及び第2電極部を覆う。なお、制御部を構成するICは、表示パネルに実装されていてもよい。 Further, the present disclosure described above may be implemented as a single display panel. The present disclosure may be implemented in a configuration that does not include a power supply and controller. Such a display panel includes a plurality of pixels arranged two-dimensionally, and each of the plurality of pixels holds a light-emitting element and a data signal supplied via a data signal line. a storage capacitor, a driving transistor for supplying a current corresponding to a data signal to the light emitting element, and a writing transistor connected between the data signal line and the gate electrode of the driving transistor, wherein one of the source electrode and the drain electrode is and a write transistor connected to the data signal line. The storage capacitor includes a first electrode layer connected to the gate electrode of the driving transistor and the writing transistor, a first insulating layer formed on the first electrode layer, and a source electrode of the driving transistor. A second electrode layer having a first electrode part arranged on the insulating layer so as to face the first electrode layer, a second insulating layer formed on the first insulating layer, and a source electrode of the driving transistor are connected. and a third electrode layer at least partially formed on the second insulating layer, the third electrode layer having a second electrode portion disposed facing the first electrode layer. The first electrode portion and the second electrode portion are provided at positions that do not overlap each other in plan view of the display panel, and the first electrode layer covers the first electrode portion and the second electrode portion. Note that the ICs forming the control unit may be mounted on the display panel.

また、上記の本開示は、アクティブマトリクス基板単体として実現されてもよい。本開示は、電源、制御部及びEL層(例えば、発光層及び発光層を挟む電極層)を備えていない構成で実現されてもよい。このようなアクティブマトリクス基板は、2次元状に配置された複数の画素を備える表示装置に用いられるアクティブマトリクス基板であって、複数の画素のそれぞれを形成するための画素回路は、発光素子と、データ信号線を介して供給されたデータ信号を保持する保持容量と、データ信号に応じた電流を発光素子に供給する駆動トランジスタと、データ信号線と駆動トランジスタのゲート電極との間に接続された書き込みトランジスタであって、ソース電極及びドレイン電極の一方がデータ信号線と接続された書き込みトランジスタとを備え、保持容量は、駆動トランジスタのゲート電極、及び、書き込みトランジスタと接続される第1電極層と、第1電極層上に形成される第1絶縁層と、駆動トランジスタのソース電極と接続され、第1絶縁層上に第1電極層と対向して配置される第1電極部を有する第2電極層と、第1絶縁層上に形成される第2絶縁層と、駆動トランジスタのソース電極と接続され、少なくとも一部が第2絶縁層上に形成される第3電極層であって、第1電極層と対向して配置される第2電極部を有する第3電極層とにより形成される。そして、第1電極部と第2電極部とは、アクティブマトリクス基板の平面視において、互いに重ならない位置に設けられ、第1電極層は、第1電極部及び第2電極部を覆う。 Also, the present disclosure described above may be implemented as a single active matrix substrate. The present disclosure may be implemented in a configuration that does not include a power source, a control unit, and an EL layer (eg, a light-emitting layer and electrode layers sandwiching the light-emitting layer). Such an active matrix substrate is used in a display device having a plurality of pixels arranged two-dimensionally, and pixel circuits for forming each of the plurality of pixels include light emitting elements, A holding capacitor for holding a data signal supplied through a data signal line, a drive transistor for supplying a current corresponding to the data signal to a light emitting element, and a gate electrode of the data signal line and the drive transistor. A write transistor having one of a source electrode and a drain electrode connected to a data signal line, wherein the storage capacitor includes a gate electrode of the drive transistor and a first electrode layer connected to the write transistor. a first insulating layer formed on the first electrode layer; and a first electrode portion connected to the source electrode of the drive transistor and arranged on the first insulating layer to face the first electrode layer. an electrode layer, a second insulating layer formed on the first insulating layer, and a third electrode layer connected to the source electrode of the driving transistor and at least partially formed on the second insulating layer, It is formed by one electrode layer and a third electrode layer having a second electrode portion arranged to face each other. The first electrode portion and the second electrode portion are provided at positions that do not overlap each other in plan view of the active matrix substrate, and the first electrode layer covers the first electrode portion and the second electrode portion.

また、上記各実施の形態では、表示パネルは、トップエミッション構造型の表示パネルである例について説明したが、ボトムエミッション構造型の表示パネルであってもよい。 Further, in each of the above-described embodiments, an example in which the display panel is a top-emission display panel has been described, but the display panel may be a bottom-emission display panel.

また、上記各実施の形態における制御部及びデータドライバは、1つのICで実現されてもよいし、互いに異なるICにより実現されてもよい。 Also, the control section and the data driver in each of the above embodiments may be realized by one IC, or may be realized by different ICs.

また、上記各実施の形態における初期化トランジスタT1及びT1の機能及び構成は、例えば、初期化トランジスタT1と同じであり、補償トランジスタT2及びT2の機能及び構成は、例えば、補償トランジスタT2と同じであり、書き込みトランジスタT3及びT3の機能及び構成は、例えば、書き込みトランジスタT3と同じであり、駆動トランジスタTD及びTDの機能及び構成は、例えば、駆動トランジスタTDと同じであってもよい。 The functions and configurations of the initialization transistors T1G and T1B in each of the above embodiments are, for example, the same as those of the initialization transistors T1R , and the functions and configurations of the compensation transistors T2G and T2B are, for example, compensation The function and configuration of the write transistors T3G and T3B are the same as the transistor T2R , the function and configuration of the write transistors T3G and T3B are the same as the write transistor T3R , and the function and configuration of the drive transistors TDG and TDB are the same as the drive transistor TD It may be the same as R.

また、上記各実施の形態における発光素子EL及びELの機能及び構成は、例えば、発光素子ELと同じであってもよい。 Further, the functions and configurations of the light emitting elements EL G and EL B in each of the above embodiments may be the same as those of the light emitting element EL R , for example.

また、上記各実施の形態における保持容量Cs及びCsの機能及び構成は、例えば、保持容量Csと同じであってもよい。 Also, the functions and configurations of the holding capacitors CsG and CsB in each of the above embodiments may be the same as those of the holding capacitor CsR , for example.

また、上記各実施の形態における表示装置は、カラー画像を表示する例について説明したが、これに限定されず、例えば、モノクロ画像を表示してもよい。 Moreover, although the display device in each of the above embodiments has been described as an example of displaying a color image, it is not limited to this, and may display a monochrome image, for example.

本開示は、例えば、有機EL素子等を用いた表示装置に有用である。 The present disclosure is useful, for example, for display devices using organic EL elements and the like.

1 表示装置
10 表示モジュール
11 画素回路
11B、11G、11R サブ画素回路
12 表示パネル
13 ゲートドライバ
14 データドライバ
20 制御部
30 電源
110 基板
120 第1アンダーコート層
130 第2アンダーコート層
140 第1絶縁層
150 第2絶縁層
151 貫通孔
152、153 貫通孔(凹部)
152a、153a 内面
154、155 凹部
160 金属層
180 金属層(第4電極層)
170 発光層
190 第3絶縁層
200 第4絶縁層
220 第1上部電極(第2電極層)
310 下部電極(第1電極層)
310a 第1電極部
310b 第2電極部
310c、320c 第3電極部
310d 第4電極部(第1配線部)
320 第2上部電極(第3電極層)
320a 第1電極部(第2対向部)
320b 第2電極部(第2対向部)
330 接続部(第2配線部)
410 VCC補助線(第1補助線)
420 VCATH補助線(第2補助線)
500 フォトマスク
510 遮光部
520 透過部
530 ハーフトーン部
C コンタクト部
Cs、Cs、Cs、Cs、Cs_add、Cs_conv 保持容量
d1、d2、d3、d4、d5 距離
EL、EL、EL 発光素子
INI 初期化信号線、制御信号
L 画素行
REF 参照信号線、制御信号
t1、t2、t3、t4、t5 時間
T1、T1、T1 初期化トランジスタ
T2、T2、T2 補償トランジスタ
T3、T3、T3 書き込みトランジスタ
TD、TD、TD 駆動トランジスタ
VCATH 負電源線、負電源電圧
VCC 正電源線(電源線)、正電源電圧
Vdat、Vdat、Vdat データ信号線、データ信号
WS 書き込み信号線、制御信号
Reference Signs List 1 display device 10 display module 11 pixel circuit 11B, 11G, 11R sub-pixel circuit 12 display panel 13 gate driver 14 data driver 20 control section 30 power supply 110 substrate 120 first undercoat layer 130 second undercoat layer 140 first insulating layer 150 second insulating layer 151 through hole 152, 153 through hole (recess)
152a, 153a inner surface 154, 155 recess 160 metal layer 180 metal layer (fourth electrode layer)
170 Light Emitting Layer 190 Third Insulating Layer 200 Fourth Insulating Layer 220 First Upper Electrode (Second Electrode Layer)
310 lower electrode (first electrode layer)
310a first electrode portion 310b second electrode portion 310c, 320c third electrode portion 310d fourth electrode portion (first wiring portion)
320 second upper electrode (third electrode layer)
320a first electrode portion (second facing portion)
320b second electrode portion (second facing portion)
330 connection part (second wiring part)
410 VCC auxiliary line (first auxiliary line)
420 VCATH auxiliary line (second auxiliary line)
500 photomask 510 light shielding portion 520 transmission portion 530 halftone portion C contact portion Cs, Cs B , Cs G , Cs R , Cs_add, Cs_conv Storage capacitors d1, d2, d3, d4, d5 Distances EL B , ELG , EL R light emitting element INI initialization signal line, control signal L pixel row REF reference signal line, control signal t1, t2, t3, t4, t5 time T1 B , T1 G , T1 R initialization transistor T2 B , T2 G , T2 R compensation Transistors T3 B , T3 G , T3 R Write transistors TD B , TD G , TD R drive transistors VCATH Negative power supply line, negative power supply voltage VCC Positive power supply line (power supply line), positive power supply voltage Vdat B , Vdat G , Vdat R data Signal line, data signal WS Write signal line, control signal

Claims (11)

2次元状に配置された複数の画素を備える表示装置であって、
前記複数の画素のそれぞれは、
発光素子と、
データ信号線を介して供給されたデータ信号を保持する保持容量と、
前記データ信号に応じた電流を前記発光素子に供給する駆動トランジスタと、
前記データ信号線と前記駆動トランジスタのゲート電極との間に接続される書き込みトランジスタであって、ソース電極及びドレイン電極の一方が前記データ信号線と接続される書き込みトランジスタとを備え、
前記保持容量は、
前記駆動トランジスタのゲート電極、及び、前記書き込みトランジスタと接続される第1電極層と、
第1電極層を覆う第1絶縁層と、
前記駆動トランジスタのソース電極と接続され、前記第1絶縁層上に前記第1電極層と対向して配置される第1対向部を有する第2電極層と、
前記第1絶縁層及び前記第2電極層を覆う第2絶縁層と、
前記駆動トランジスタの前記ソース電極と接続され、少なくとも一部が前記第2絶縁層上に形成される第3電極層であって、前記第1電極層と対向して配置される第2対向部を有する第3電極層とにより形成され、
前記第1対向部と前記第2対向部とは、前記表示装置の平面視において、互いに重ならない位置に形成され、
前記第1電極層は、前記平面視において、前記第1対向部及び前記第2対向部のそれぞれと重なるように形成される
表示装置。
A display device comprising a plurality of pixels arranged two-dimensionally,
each of the plurality of pixels,
a light emitting element;
a holding capacitor for holding a data signal supplied via a data signal line;
a driving transistor that supplies a current corresponding to the data signal to the light emitting element;
a write transistor connected between the data signal line and a gate electrode of the drive transistor, wherein one of a source electrode and a drain electrode is connected to the data signal line;
The holding capacity is
a gate electrode of the drive transistor and a first electrode layer connected to the write transistor;
a first insulating layer covering the first electrode layer;
a second electrode layer connected to the source electrode of the drive transistor and having a first facing portion arranged on the first insulating layer so as to face the first electrode layer;
a second insulating layer covering the first insulating layer and the second electrode layer;
a third electrode layer connected to the source electrode of the drive transistor and at least partially formed on the second insulating layer, the second opposing portion being arranged to face the first electrode layer; and a third electrode layer having
The first facing portion and the second facing portion are formed at positions that do not overlap each other in a plan view of the display device,
The display device, wherein the first electrode layer is formed so as to overlap with each of the first facing portion and the second facing portion in plan view.
前記第2対向部は、前記第2絶縁層上に直接形成されている
請求項1に記載の表示装置。
The display device according to claim 1, wherein the second facing portion is directly formed on the second insulating layer.
前記第2絶縁層には、前記平面視において、前記第1電極層と重なる位置に前記第1絶縁層側に凹む有底の凹部が形成されており、
前記第2対向部は、前記凹部の底面上に形成されている
請求項1に記載の表示装置。
In the second insulating layer, a bottomed recess recessed toward the first insulating layer is formed at a position overlapping the first electrode layer in plan view,
The display device according to claim 1, wherein the second facing portion is formed on the bottom surface of the recess.
前記第2絶縁層には、前記平面視において、前記第1電極層と重なる位置に前記第1絶縁層側に貫通する凹部が形成されており、
前記第2対向部は、前記第1絶縁層上に形成されている
請求項1に記載の表示装置。
The second insulating layer has a recess penetrating toward the first insulating layer at a position overlapping with the first electrode layer in plan view,
The display device according to claim 1, wherein the second facing portion is formed on the first insulating layer.
前記第2対向部は、前記第1電極層と対向する第1部分と、前記凹部の内面に形成される第2部分とにより構成される
請求項3又は4に記載の表示装置。
5. The display device according to claim 3, wherein the second facing portion is composed of a first portion facing the first electrode layer and a second portion formed on an inner surface of the recess.
さらに、
前記駆動トランジスタのドレイン電極に接続され、前記平面視において、長尺状に形成される電源線と、
前記電源線と接続され、前記電源線より低抵抗な第1補助線とを備え、
前記第1補助線は、前記第2絶縁層上に形成されている
請求項1~5のいずれか1項に記載の表示装置。
moreover,
a power supply line connected to the drain electrode of the drive transistor and formed in an elongated shape in the plan view;
a first auxiliary line connected to the power line and having a resistance lower than that of the power line;
The display device according to any one of claims 1 to 5, wherein the first auxiliary line is formed on the second insulating layer.
さらに、
前記発光素子のカソード電極と接続され、前記複数の画素を覆う第4電極層と、
前記第4電極層と接続され、前記第4電極層より低抵抗な第2補助線とを備え、
前記第2補助線は、前記第2絶縁層上に形成される
請求項1~6のいずれか1項に記載の表示装置。
moreover,
a fourth electrode layer connected to the cathode electrode of the light emitting element and covering the plurality of pixels;
a second auxiliary line connected to the fourth electrode layer and having a resistance lower than that of the fourth electrode layer;
The display device according to any one of claims 1 to 6, wherein the second auxiliary line is formed on the second insulating layer.
前記第1電極層は、
前記第1対向部及び前記第2対向部を覆う第3対向部と、
前記駆動トランジスタの前記ゲート電極と接続される第1配線部を有し、
前記第3電極層は、前記平面視において、前記第1配線部の一部と重なる
請求項1~7のいずれか1項に記載の表示装置。
The first electrode layer is
a third facing portion covering the first facing portion and the second facing portion;
a first wiring portion connected to the gate electrode of the drive transistor;
The display device according to any one of claims 1 to 7, wherein the third electrode layer overlaps with a part of the first wiring portion in the plan view.
前記第1対向部は、前記平面視において、矩形状であり、
前記第2対向部は、前記平面視において、長尺状である
請求項8に記載の表示装置。
The first facing portion has a rectangular shape in the plan view,
The display device according to claim 8, wherein the second facing portion has an elongated shape in the plan view.
前記第2絶縁層には、前記平面視において、前記第2電極層及び前記駆動トランジスタの前記ソース電極を接続する第2配線部と前記第3電極層とが重なる位置に貫通孔が形成されており、
前記第3電極層は、前記貫通孔を介して前記駆動トランジスタの前記ソース電極と電気的に接続される
請求項1~9のいずれか1項に記載の表示装置。
A through hole is formed in the second insulating layer at a position where the third electrode layer overlaps with the second wiring portion connecting the second electrode layer and the source electrode of the driving transistor in the plan view. cage,
The display device according to any one of claims 1 to 9, wherein the third electrode layer is electrically connected to the source electrode of the drive transistor through the through hole.
さらに、前記駆動トランジスタのドレイン電極に接続され、前記平面視において、長尺状に形成される電源線を備え、
前記第2対向部は、前記平面視において、前記電源線を挟むように形成されている
請求項1~5のいずれか1項に記載の表示装置。
further comprising a power supply line connected to the drain electrode of the drive transistor and formed in an elongated shape in the plan view;
The display device according to any one of claims 1 to 5, wherein the second facing portion is formed so as to sandwich the power line in the plan view.
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