JP2023083740A - Scanning optical device - Google Patents

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晃治 阿部
Koji Abe
淳一 横井
Junichi Yokoi
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Abstract

To prevent a situation where dust near a coupling lens moves toward a polygon mirror and is attached to the polygon mirror.SOLUTION: A scanning optical device 1 comprises: a semiconductor laser 10 that emits light; a coupling lens 20 that converts the light from the semiconductor laser 10 into a beam; a condensing lens 40 that condenses the light from the coupling lens 20 in a sub scanning direction; a deflector 50 that has a polygon mirror 51 deflecting the beam from the condensing lens 40 in a main scanning direction; a scanning optical system Lo that forms the light from the deflector 50 into an image on an image surface; a frame F to which the deflector 50 and the scanning optical system Lo are fixed; and a cover that covers at least a part of the frame F where the deflector 50 is arranged. The frame F has a first wall F1 that has a first opening through which the beam traveling toward the polygon mirror 51 passes. The condensing lens 40 closes the first opening.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、カップリングレンズと偏向器を備える走査光学装置に関する。 The present invention relates to a scanning optical device comprising a coupling lens and a deflector.

従来、走査光学装置として、半導体レーザからの光をビームに変換するカップリングレンズと、カップリングレンズからのビームを偏向するポリゴンミラーを有する偏向器と、偏向器に偏向されたビームを像面に結像する走査光学系と、カップリングレンズ、偏向器および走査光学系を保持するフレームとを備えるものが知られている(特許文献1参照)。この技術では、フレームは、ポリゴンミラーの回転軸線方向の一方に向けて開口する第1凹部と、回転軸線方向の他方に向けて開口する第2凹部とを有している。カップリングレンズと偏向器は、第1凹部内に配置され、走査光学系は、第2凹部内に配置されている。 Conventional scanning optical devices include a coupling lens for converting light from a semiconductor laser into a beam, a deflector having a polygon mirror for deflecting the beam from the coupling lens, and a beam deflected by the deflector onto an image plane. A scanning optical system that forms an image and a frame that holds a coupling lens, a deflector, and the scanning optical system are known (see Patent Document 1). In this technique, the frame has a first recess opening in one direction of the rotation axis of the polygon mirror and a second recess opening in the other direction of the rotation axis. The coupling lens and deflector are arranged in the first recess and the scanning optics are arranged in the second recess.

特開2015-206910号公報JP 2015-206910 A

しかしながら、従来技術では、カップリングレンズと偏向器が同じ空間にあり分離されていないので、カップリングレンズ付近の塵埃がポリゴンミラーに向けて移動してポリゴンミラーに付着するおそれがある。 However, in the prior art, since the coupling lens and the deflector are in the same space and are not separated, dust near the coupling lens may move toward the polygon mirror and adhere to the polygon mirror.

そこで、本発明は、カップリングレンズ付近の塵埃がポリゴンミラーに向けて移動してポリゴンミラーに付着するのを抑制することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to prevent dust near a coupling lens from moving toward and adhering to a polygon mirror.

前記課題を解決するため、本発明に係る走査光学装置は、光を出射する半導体レーザと、前記半導体レーザからの光をビームに変換するカップリングレンズと、前記カップリングレンズからのビームを副走査方向に集光する集光レンズと、前記集光レンズからのビームを主走査方向に偏向するポリゴンミラーを有する偏向器と、前記偏向器からの光を像面に結像する走査光学系と、前記偏向器および前記走査光学系が固定されたフレームと、前記フレームのうち少なくとも前記偏向器が配置された部分を覆うカバーと、を備える。
前記フレームは、前記ポリゴンミラーに向かうビームが通過する第1開口を有する第1壁を有する。
前記集光レンズは、前記第1開口を塞ぐ。
In order to solve the above problems, a scanning optical device according to the present invention includes a semiconductor laser that emits light, a coupling lens that converts the light from the semiconductor laser into a beam, and a sub-scanning beam from the coupling lens. a condenser lens for condensing light in a direction, a deflector having a polygon mirror for deflecting the beam from the condenser lens in the main scanning direction, and a scanning optical system for forming an image of the light from the deflector on an image plane; a frame to which the deflector and the scanning optical system are fixed; and a cover that covers at least a portion of the frame where the deflector is arranged.
The frame has a first wall with a first aperture through which the beam directed to the polygon mirror passes.
The condensing lens closes the first opening.

この構成によれば、カップリングレンズからポリゴンミラーに向かうビームが通過する第1開口を集光レンズで塞ぐので、カップリングレンズ付近の塵埃がポリゴンミラーに向けて移動してポリゴンミラーに付着するのを抑制することができる。 According to this configuration, the condenser lens closes the first opening through which the beam from the coupling lens to the polygon mirror passes, so that dust in the vicinity of the coupling lens is prevented from moving toward the polygon mirror and adhering to the polygon mirror. can be suppressed.

また、前記カバーは、前記集光レンズに入射するビームの進行方向から見て、前記第1壁と重なる第1リブを有していてもよい。 Moreover, the cover may have a first rib that overlaps the first wall when viewed from the traveling direction of the beam incident on the condenser lens.

この構成によれば、第1壁とカバーの間の密閉性を高めることができる。 According to this configuration, it is possible to improve the sealing performance between the first wall and the cover.

また、前記フレームは、前記カップリングレンズと前記集光レンズの間に位置し、前記ビームが通過する開口絞りを有する絞り板を有し、前記集光レンズは、前記第1壁と前記絞り板の間で挟まれていてもよい。 Also, the frame has an aperture plate positioned between the coupling lens and the condensing lens and having an aperture stop through which the beam passes, the condensing lens being located between the first wall and the aperture plate. may be sandwiched between

この構成によれば、第1壁と絞り板の間で集光レンズを挟むことで、集光レンズを第1壁に密着させることができ、密閉性を高めることができる。 According to this configuration, by sandwiching the condenser lens between the first wall and the aperture plate, the condenser lens can be brought into close contact with the first wall, and sealing can be improved.

また、前記フレームは、前記ポリゴンミラーで反射されたビームが通過する第2開口を有する第2壁を有し、前記走査光学系のうち前記ポリゴンミラーに最も近い走査レンズは、前記第2開口を塞いでいてもよい。 The frame has a second wall having a second aperture through which the beam reflected by the polygon mirror passes, and the scanning lens closest to the polygon mirror in the scanning optical system has the second aperture. You can block it.

この構成によれば、走査光学系付近の塵埃がポリゴンミラーに向けて移動してポリゴンミラーに付着するのを抑制することができる。 With this configuration, it is possible to prevent dust from moving toward the polygon mirror and adhering to the polygon mirror near the scanning optical system.

また、前記走査光学装置は、前記走査レンズと前記カバーの間に位置するシール部材をさらに備えていてもよい。 Also, the scanning optical device may further include a sealing member positioned between the scanning lens and the cover.

この構成によれば、走査レンズとカバーの間の密閉性を高めることができる。 With this configuration, the sealing between the scanning lens and the cover can be enhanced.

また、前記カバーは、前記走査レンズに入射するビームの進行方向から見て、前記第2壁と重なる第2リブを有していてもよい。 Further, the cover may have a second rib that overlaps the second wall when viewed from the traveling direction of the beam incident on the scanning lens.

この構成によれば、カバーと第2壁の間の密閉性を高めることができる。 According to this configuration, it is possible to improve the sealing performance between the cover and the second wall.

また、前記走査光学系は、前記ポリゴンミラーの回転軸線に沿った第1方向に直交する第2方向において、前記ポリゴンミラーの一方側に配置され、前記第1方向および前記第2方向に直交する前記主走査方向に偏向されるビームが入射し、前記走査光学装置は、前記カバーを前記フレームに固定する第1ネジおよび第2ネジをさらに備え、前記回転軸線は、前記主走査方向において、前記第1ネジと前記第2ネジの間に位置していてもよい。 The scanning optical system is arranged on one side of the polygon mirror in a second direction perpendicular to the first direction along the axis of rotation of the polygon mirror, and perpendicular to the first direction and the second direction. A beam deflected in the main scanning direction is incident, and the scanning optical device further includes a first screw and a second screw for fixing the cover to the frame, and the rotation axis is aligned in the main scanning direction with the It may be located between the first screw and the second screw.

この構成によれば、フレームのうち偏向器が配置された部分の密閉性を高めることができる。 According to this configuration, it is possible to enhance the sealing performance of the portion of the frame where the deflector is arranged.

また、前記半導体レーザおよび前記カップリングレンズを複数有し、複数の前記カップリングレンズから出射されるビームのうち、2つのビームは、前記第2方向に離れており、前記第1ネジは、前記2つのビームの光路の間に位置していてもよい。 Further, the semiconductor laser and the coupling lens are provided in plurality, two of the beams emitted from the plurality of coupling lenses are separated in the second direction, and the first screw is the It may be located between the optical paths of the two beams.

また、前記カバーは、前記偏向器と前記走査光学系の少なくとも一部とを覆っていてもよい。 Also, the cover may cover the deflector and at least part of the scanning optical system.

この構成によれば、偏向器を覆うカバーで、走査光学系も一緒に封止することができる。 According to this configuration, the scanning optical system can also be sealed together with the cover that covers the deflector.

また、前記フレームは、前記ポリゴンミラーの回転軸線に沿った第1方向に交差し、前記偏向器が取り付けられる第1ベース壁と、前記第1方向に交差し、前記第1ベース壁に対して、前記第1方向の一方側にずれた位置に位置する第2ベース壁と、を有し、前記偏向器は、前記第1ベース壁に対して、前記第1方向の一方側に位置し、前記カップリングレンズは、前記第2ベース壁に対して、前記第1方向の他方側に位置していてもよい。 Also, the frame intersects a first base wall on which the deflector is mounted in a first direction along the rotational axis of the polygon mirror, intersects in the first direction, and is relative to the first base wall. and a second base wall positioned at a position shifted to one side in the first direction, wherein the deflector is positioned on the one side in the first direction with respect to the first base wall, The coupling lens may be positioned on the other side in the first direction with respect to the second base wall.

また、前記半導体レーザは、第1半導体レーザと、前記第1半導体レーザから前記副走査方向に間隔を空けた位置に配置された第2半導体レーザと、を含み、前記カップリングレンズは、前記第1半導体レーザからの光をビームに変換する第1カップリングレンズと、前記第2半導体レーザからの光をビームに変換する第2カップリングレンズと、を含み、前記集光レンズは、前記第1カップリングレンズからのビームと、前記第2カップリングレンズからのビームと、を前記副走査方向に集光してもよい。 Further, the semiconductor laser includes a first semiconductor laser and a second semiconductor laser arranged at a position spaced apart from the first semiconductor laser in the sub-scanning direction, and the coupling lens is the second semiconductor laser. a first coupling lens for converting light from one semiconductor laser into a beam; and a second coupling lens for converting light from the second semiconductor laser into a beam; The beam from the coupling lens and the beam from the second coupling lens may be condensed in the sub-scanning direction.

この構成によれば、複数のビームが通過する第1開口を一つの集光レンズで塞ぐことができる。 According to this configuration, the first aperture through which a plurality of beams pass can be closed with one condensing lens.

また、前記半導体レーザは、第1半導体レーザと、前記第1半導体レーザから前記副走査方向と前記集光レンズに入射するビームの進行方向とに直交する方向に間隔を空けた位置に配置された第3半導体レーザと、を含み、前記カップリングレンズは、前記第1半導体レーザからの光をビームに変換する第1カップリングレンズと、前記第3半導体レーザからの光をビームに変換する第3カップリングレンズと、を含み、前記集光レンズは、前記第1カップリングレンズからのビームと、前記第3カップリングレンズからのビームと、を前記副走査方向に集光してもよい。 Further, the semiconductor laser is arranged at a position spaced apart from the first semiconductor laser in a direction orthogonal to the sub-scanning direction and the advancing direction of the beam incident on the condenser lens from the first semiconductor laser. a third semiconductor laser, wherein the coupling lens comprises a first coupling lens that converts the light from the first semiconductor laser into a beam; and a third coupling lens that converts the light from the third semiconductor laser into a beam. and a coupling lens, wherein the condenser lens may converge the beam from the first coupling lens and the beam from the third coupling lens in the sub-scanning direction.

この構成によれば、複数のビームが通過する第1開口を一つの集光レンズで塞ぐことができる。 According to this configuration, the first aperture through which a plurality of beams pass can be closed with one condensing lens.

また、前記集光レンズは、前記集光レンズに入射するビームの進行方向に突出し、前記第1壁に接触するリブを有していてもよい。 Further, the condenser lens may have a rib that protrudes in a traveling direction of the beam incident on the condenser lens and contacts the first wall.

この構成によれば、集光レンズの光学面を第1壁に接触させることなく、集光レンズで第1開口を封止することができる。 According to this configuration, the first opening can be sealed with the condenser lens without bringing the optical surface of the condenser lens into contact with the first wall.

本発明によれば、カップリングレンズ付近の塵埃がポリゴンミラーに向けて移動してポリゴンミラーに付着するのを抑制することができる。 According to the present invention, it is possible to prevent dust near the coupling lens from moving toward the polygon mirror and adhering to the polygon mirror.

一実施形態に係る走査光学装置を第1方向の他方側から見た斜視図である。3 is a perspective view of the scanning optical device according to one embodiment as viewed from the other side in the first direction; FIG. カップリングレンズ周りの構造を示す斜視図である。4 is a perspective view showing a structure around a coupling lens; FIG. 走査光学装置を第1方向の一方側から見た斜視図である。4 is a perspective view of the scanning optical device as seen from one side in a first direction; FIG. 図1のIV-IV断面図である。FIG. 2 is a sectional view along IV-IV in FIG. 1; 図1のV-V断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line VV of FIG. 1; フレームを第1方向の他方側から見た斜視図である。FIG. 10 is a perspective view of the frame viewed from the other side in the first direction; フレームを第1方向の一方側から見た斜視図である。It is the perspective view which looked at the flame|frame from one side of the 1st direction. 反射ミラーをフレームに取り付けるための構造を示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing a structure for attaching a reflecting mirror to a frame; フレーム、第1カバーおよび第2カバーを分解して示す斜視図である。FIG. 4 is an exploded perspective view showing the frame, the first cover, and the second cover; フレームを第1方向の一方側から見た平面図である。FIG. 4 is a plan view of the frame viewed from one side in the first direction; 第1カバーが取り付けられたフレームを第1方向の一方側から見た平面図である。FIG. 4 is a plan view of the frame to which the first cover is attached, viewed from one side in the first direction; 第1カバーの第2リブを示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a second rib of the first cover; 第1カバーと第1走査レンズの間にあるシール部材を示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a sealing member between the first cover and the first scanning lens; 第2カバーを第1方向の一方側から見た斜視図である。It is the perspective view which looked at the 2nd cover from the one side of the 1st direction. 第1壁と第2カバーの第1リブとの関係を示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing the relationship between the first wall and the first rib of the second cover;

図1~図3に示すように、走査光学装置1は、フレームFと、入射光学系Liと、偏向器50と、走査光学系Loとを備える。走査光学装置1は、電子写真式の画像形成装置に適用される。以下の説明では、図3に示すポリゴンミラー51の回転軸線X1に沿った方向を、「第1方向」と称する。また、第1方向に直交する方向であって、図3に示すポリゴンミラー51と第1走査レンズ60が並ぶ方向を、「第2方向」と称する。また、第1方向および第2方向に直交する方向を「第3方向」と称する。なお、第3方向は、走査光学系Loにおいては主走査方向に相当し、第1方向は、副走査方向に相当する。また、図面における各方向を示す矢印は、各方向における「一方側」を指すこととする。 As shown in FIGS. 1 to 3, the scanning optical device 1 includes a frame F, an incident optical system Li, a deflector 50, and a scanning optical system Lo. The scanning optical device 1 is applied to an electrophotographic image forming apparatus. In the following description, the direction along the rotation axis X1 of the polygon mirror 51 shown in FIG. 3 is referred to as "first direction". A direction orthogonal to the first direction and in which the polygon mirror 51 and the first scanning lens 60 shown in FIG. 3 are arranged is referred to as a "second direction". Also, a direction orthogonal to the first direction and the second direction is referred to as a "third direction". Note that the third direction corresponds to the main scanning direction in the scanning optical system Lo, and the first direction corresponds to the sub-scanning direction. Also, an arrow indicating each direction in the drawings indicates "one side" in each direction.

図2に示すように、入射光学系Liは、4つの半導体レーザ10と、4つのカップリングレンズ20と、絞り板30と、集光レンズ40(図1参照)とを備える。 As shown in FIG. 2, the incident optical system Li includes four semiconductor lasers 10, four coupling lenses 20, an aperture plate 30, and a condenser lens 40 (see FIG. 1).

半導体レーザ10は、光を出射する装置である。半導体レーザ10は、走査光学装置1が走査露光する4つの感光ドラム200(図5参照)に対応して4つ設けられている。各感光ドラム200には、それぞれ異なる色のトナー像が形成される。 The semiconductor laser 10 is a device that emits light. Four semiconductor lasers 10 are provided corresponding to the four photosensitive drums 200 (see FIG. 5) that are scanned and exposed by the scanning optical device 1 . A toner image of a different color is formed on each photosensitive drum 200 .

なお、本実施形態では、第1色を「イエロー(Y)」、第2色を「マゼンタ(M)」、第3色を「シアン(C)」、第4色を「ブラック(K)」とする。以下の説明では、第1色に対応した部品の名称の頭に「第1」を付し、第1色に対応した部品の符号の末尾に「Y」を付して区別する場合がある。また、第2色、第3色、第4色に対応した部品ついても同様に、名称の頭に「第2」、「第3」、「第4」を付し、符号の末尾に「M」、「C」、「K」を付して区別する場合がある。 In this embodiment, the first color is "yellow (Y)," the second color is "magenta (M)," the third color is "cyan (C)," and the fourth color is "black (K)." and In the following description, the name of the part corresponding to the first color may be prefixed with "first" and the part corresponding to the first color may be distinguished by adding "Y" to the end of the reference numeral. Parts corresponding to the second, third, and fourth colors are similarly prefixed with "second," "third," and "fourth," and suffixed with "M , “C”, and “K” may be used for distinction.

第1半導体レーザ10Yは、第2半導体レーザ10Mに対して第1方向に間隔を空けて並んでいる。第1半導体レーザ10Yは、第2半導体レーザ10Mに対して第1方向の一方側に位置する。 The first semiconductor laser 10Y is arranged with a gap in the first direction from the second semiconductor laser 10M. The first semiconductor laser 10Y is located on one side in the first direction with respect to the second semiconductor laser 10M.

第3半導体レーザ10Cは、第2半導体レーザ10Mに対して第2方向に間隔を空けて並んでいる。第3半導体レーザ10Cは、第2半導体レーザ10Mに対して第2方向の他方側に位置する。第4半導体レーザ10Kは、第1方向において第3半導体レーザ10Cと間隔を空けて並び、かつ、第2方向において第1半導体レーザ10Yと間隔を空けて並んでいる。 The third semiconductor laser 10C is spaced apart from the second semiconductor laser 10M in the second direction. The third semiconductor laser 10C is positioned on the other side in the second direction with respect to the second semiconductor laser 10M. The fourth semiconductor laser 10K is spaced apart from the third semiconductor laser 10C in the first direction and spaced from the first semiconductor laser 10Y in the second direction.

カップリングレンズ20は、半導体レーザ10からの光をビームに変換するレンズである。各色に対応したカップリングレンズ20Y,20M,20C,20Kは、対応する半導体レーザ10Y,10M,10C,10Kと対向する位置に配置されている。 The coupling lens 20 is a lens that converts the light from the semiconductor laser 10 into a beam. Coupling lenses 20Y, 20M, 20C and 20K corresponding to each color are arranged at positions facing corresponding semiconductor lasers 10Y, 10M, 10C and 10K.

図1に示すように、絞り板30は、カップリングレンズ20からのビームが通過する開口絞り31を有する部位であり、フレームFに一体に形成されている。絞り板30は、カップリングレンズ20と集光レンズ40の間に位置している。 As shown in FIG. 1, the diaphragm plate 30 is a part having an aperture diaphragm 31 through which the beam from the coupling lens 20 passes, and is formed integrally with the frame F. As shown in FIG. A diaphragm plate 30 is located between the coupling lens 20 and the condenser lens 40 .

集光レンズ40は、カップリングレンズ20からのビームを副走査方向においてポリゴンミラー51に集光するレンズである。集光レンズ40は、絞り板30に対してカップリングレンズ20とは反対側に位置している。 The condenser lens 40 is a lens for condensing the beam from the coupling lens 20 onto the polygon mirror 51 in the sub-scanning direction. The condenser lens 40 is located on the side opposite to the coupling lens 20 with respect to the aperture plate 30 .

図3に示すように、偏向器50は、ポリゴンミラー51と、モータ52とを有する。ポリゴンミラー51は、集光レンズ40からのビームを主走査方向に偏向するミラーである。ポリゴンミラー51は、回転軸線X1から等距離に設けられた5つのミラー面を有している。モータ52は、ポリゴンミラー51を回転させるモータである。モータ52は、フレームFに固定されている。 As shown in FIG. 3, the deflector 50 has a polygon mirror 51 and a motor 52 . The polygon mirror 51 is a mirror that deflects the beam from the condenser lens 40 in the main scanning direction. The polygon mirror 51 has five mirror surfaces equidistant from the rotation axis X1. A motor 52 is a motor for rotating the polygon mirror 51 . The motor 52 is fixed to the frame F.

走査光学系Loは、偏向器50に偏向されたビームを、像面としての感光ドラム200の表面に結像する光学系である。走査光学系Loは、フレームFに固定されている。図5に示すように、走査光学系Loは、イエローに対応した第1走査光学系LoYと、マゼンタに対応した第2走査光学系LoMと、シアンに対応した第3走査光学系LoCと、ブラックに対応した第4走査光学系LoKとを有する。 The scanning optical system Lo is an optical system that forms an image of the beam deflected by the deflector 50 on the surface of the photosensitive drum 200 as an image plane. The scanning optical system Lo is fixed to the frame F. As shown in FIG. 5, the scanning optical system Lo includes a first scanning optical system LoY for yellow, a second scanning optical system LoM for magenta, a third scanning optical system LoC for cyan, and a scanning optical system LoC for black. and a fourth scanning optical system LoK corresponding to .

第1走査光学系LoYおよび第2走査光学系LoMは、第2方向において、ポリゴンミラー51の一方側に配置されている。第3走査光学系LoCおよび第4走査光学系LoKは、第2方向において、ポリゴンミラー51の他方側に配置されている。各走査光学系LoY,LoM,LoC,LoKには、ポリゴンミラー51によって主走査方向に偏向されたビームが入射する。 The first scanning optical system LoY and the second scanning optical system LoM are arranged on one side of the polygon mirror 51 in the second direction. The third scanning optical system LoC and the fourth scanning optical system LoK are arranged on the other side of the polygon mirror 51 in the second direction. A beam deflected in the main scanning direction by a polygon mirror 51 is incident on each of the scanning optical systems LoY, LoM, LoC, and LoK.

第1走査光学系LoYは、第1走査レンズ60YMと、第2走査レンズ70Yと、反射ミラー81Yとを有する。 The first scanning optical system LoY has a first scanning lens 60YM, a second scanning lens 70Y, and a reflecting mirror 81Y.

第1走査レンズ60YMは、偏向器50で偏向されたビームBY,BMを主走査方向に屈折させて像面に結像させるレンズである。また、第1走査レンズ60YMは、偏向器50によって等角速度で走査された光を、像面において等速度となるようにするfθ特性を有する。第1走査レンズ60YMは、第1走査光学系LoYのうちポリゴンミラー51に最も近い走査レンズである。 The first scanning lens 60YM is a lens that refracts the beams BY and BM deflected by the deflector 50 in the main scanning direction and forms an image on the image plane. Further, the first scanning lens 60YM has an fθ characteristic that causes the light scanned at a constant angular velocity by the deflector 50 to have a constant velocity on the image plane. The first scanning lens 60YM is the scanning lens closest to the polygon mirror 51 in the first scanning optical system LoY.

反射ミラー81Yは、第1走査レンズ60YMからのビームBYを像面に向けて反射するミラーである。
第2走査レンズ70Yは、反射ミラー81Yで反射されたビームBYを副走査方向に屈折させて像面に結像させるレンズである。第2走査レンズ70Yは、ポリゴンミラー51に対して第1方向の一方側の位置に配置されている。第2走査レンズ70Yは、第1走査光学系LoYのうち像面に最も近い走査レンズである。
The reflecting mirror 81Y is a mirror that reflects the beam BY from the first scanning lens 60YM toward the image plane.
The second scanning lens 70Y is a lens that refracts the beam BY reflected by the reflecting mirror 81Y in the sub-scanning direction and forms an image on the image plane. The second scanning lens 70Y is arranged on one side of the polygon mirror 51 in the first direction. The second scanning lens 70Y is the scanning lens closest to the image plane in the first scanning optical system LoY.

第2走査光学系LoMは、第1走査レンズ60YMと、第2走査レンズ70Mと、反射ミラー81Mと、ミラー82Mとを有する。 The second scanning optical system LoM has a first scanning lens 60YM, a second scanning lens 70M, a reflecting mirror 81M, and a mirror 82M.

第1走査レンズ60YMは、第1走査光学系LoYと共用されている。第2走査レンズ70Mおよび反射ミラー81Mは、第1走査光学系LoYの第2走査レンズ70Yおよび反射ミラー81Yと同様の機能を有する。ミラー82Mは、第1走査レンズ60YMからのビームBMを反射ミラー81Mに反射するミラーである。 The first scanning lens 60YM is shared with the first scanning optical system LoY. The second scanning lens 70M and reflecting mirror 81M have the same functions as the second scanning lens 70Y and reflecting mirror 81Y of the first scanning optical system LoY. The mirror 82M is a mirror that reflects the beam BM from the first scanning lens 60YM to the reflecting mirror 81M.

第3走査光学系LoCは、ポリゴンミラー51の回転軸線X1に対して、おおむね第2走査光学系LoMと線対称の構造となっている。具体的に、第3走査光学系LoCは、第2走査光学系LoMの各部材と同様の機能を有する、第1走査レンズ60CK、第2走査レンズ70C、反射ミラー81Cおよびミラー82Cを有する。 The third scanning optical system LoC has a structure that is substantially line-symmetrical to the second scanning optical system LoM with respect to the rotation axis X1 of the polygon mirror 51 . Specifically, the third scanning optical system LoC has a first scanning lens 60CK, a second scanning lens 70C, a reflecting mirror 81C and a mirror 82C that have the same functions as the members of the second scanning optical system LoM.

第4走査光学系LoKは、ポリゴンミラー51の回転軸線X1に対して、おおむね第1走査光学系LoYと線対称の構造となっている。具体的に、第4走査光学系LoKは、第1走査光学系LoYの各部材と同様の機能を有する、第1走査レンズ60CK、第2走査レンズ70Kおよび反射ミラー81Kを有する。 The fourth scanning optical system LoK has a structure substantially line-symmetrical to the first scanning optical system LoY with respect to the rotation axis X1 of the polygon mirror 51 . Specifically, the fourth scanning optical system LoK has a first scanning lens 60CK, a second scanning lens 70K, and a reflecting mirror 81K that have the same functions as the members of the first scanning optical system LoY.

図4に示すように、各半導体レーザ10Y,10M,10C,10Kから出射された光は、対応する各カップリングレンズ20Y,20M,20C,20Kを通ることでビームBY,BM,BC,BKに変換される。ビームBY,BM,BC,BKは、絞り板30の対応する開口絞り31Y,31M,31C,31Kを通った後、集光レンズ40を通って、ポリゴンミラー51に入射される。集光レンズ40は、ビームBY,BM,BC,BKが共通して通過するレンズであり、入射面が円筒面、出射面が平面で構成される。 As shown in FIG. 4, the light emitted from each of the semiconductor lasers 10Y, 10M, 10C and 10K passes through the corresponding coupling lenses 20Y, 20M, 20C and 20K to form beams BY, BM, BC and BK. converted. The beams BY, BM, BC, and BK pass through the corresponding aperture stops 31Y, 31M, 31C, and 31K of the diaphragm plate 30, pass through the condenser lens 40, and are incident on the polygon mirror 51. FIG. The condenser lens 40 is a lens through which the beams BY, BM, BC, and BK commonly pass, and has a cylindrical entrance surface and a plane exit surface.

図5に示すように、ポリゴンミラー51は、ビームBY,BM,BC,BKを、対応する走査光学系LoY,LoM,LoC,LoKに向けて偏向する。第1走査光学系LoYに向かうビームBYは、第1走査レンズ60YMを通った後、反射ミラー81Yで反射され、第2走査レンズ70Yを通って第1方向の一方側の像面に向けて出射される。ビームBYは、第1方向と所定の角度をなして第2走査レンズ70Yから出射される。ビームBYは、第1感光ドラム200Yの表面に結像され、主走査方向に走査される。 As shown in FIG. 5, the polygon mirror 51 deflects the beams BY, BM, BC and BK toward the corresponding scanning optics LoY, LoM, LoC and LoK. The beam BY directed toward the first scanning optical system LoY passes through the first scanning lens 60YM, is reflected by the reflecting mirror 81Y, passes through the second scanning lens 70Y, and is emitted toward the image plane on one side in the first direction. be done. The beam BY is emitted from the second scanning lens 70Y at a predetermined angle with respect to the first direction. The beam BY is imaged on the surface of the first photosensitive drum 200Y and scanned in the main scanning direction.

第2走査光学系LoMに向かうビームBMは、第1走査レンズ60YMを通った後、ミラー82Mおよび反射ミラー81Mで反射され、第2走査レンズ70Mを通って第1方向の一方側の像面に向けて出射される。ビームBMは、第1方向と所定の角度をなして第2走査レンズ70Mから出射される。ビームBMは、第2感光ドラム200Mの表面に結像され、主走査方向に走査される。なお、ビームBC,BKも、同様に、対応する走査光学系LoC,LoKによって、第1方向の一方側の像面に向けて出射されて、対応する感光ドラム200C,200Kの表面に結像され、主走査方向に走査される。 The beam BM traveling toward the second scanning optical system LoM passes through the first scanning lens 60YM, is reflected by the mirror 82M and the reflecting mirror 81M, passes through the second scanning lens 70M, and reaches the image plane on one side in the first direction. emitted towards. The beam BM is emitted from the second scanning lens 70M at a predetermined angle with respect to the first direction. The beam BM is imaged on the surface of the second photosensitive drum 200M and scanned in the main scanning direction. The beams BC and BK are similarly emitted toward the image plane on one side in the first direction by the corresponding scanning optical systems LoC and LoK, and are imaged on the surfaces of the corresponding photosensitive drums 200C and 200K. , are scanned in the main scanning direction.

フレームFは、樹脂製であり、成形によって一体に造られている。フレームFは、図7に示す第1凹部CP1と、図6に示す第2凹部CP2とを有する。第1凹部CP1は、第1方向の一方側に開口する。第2凹部CP2は、第1方向の他方側に開口する。図5に示すように、第1凹部CP1内には、偏向器50と、走査光学系Loの一部とが配置されている。具体的には、走査光学系Loのうち各反射ミラー81を除く部材が、第1凹部CP1内に配置されている。図2に示すように、第2凹部CP2内には、カップリングレンズ20、絞り板30および集光レンズ40(図1参照)が配置されている。 The frame F is made of resin and integrally formed by molding. The frame F has a first recess CP1 shown in FIG. 7 and a second recess CP2 shown in FIG. The first recess CP1 opens on one side in the first direction. The second recess CP2 opens on the other side in the first direction. As shown in FIG. 5, the deflector 50 and part of the scanning optical system Lo are arranged in the first concave portion CP1. Specifically, the members of the scanning optical system Lo other than the reflecting mirrors 81 are arranged in the first concave portion CP1. As shown in FIG. 2, the coupling lens 20, the aperture plate 30 and the condenser lens 40 (see FIG. 1) are arranged inside the second recess CP2.

図6および図7に示すように、フレームFは、第1凹部CP1の底に位置する第1ベース壁Fb1と、第2凹部CP2の底に位置する第2ベース壁Fb2とを有する。 As shown in FIGS. 6 and 7, the frame F has a first base wall Fb1 positioned at the bottom of the first recess CP1 and a second base wall Fb2 positioned at the bottom of the second recess CP2.

第1ベース壁Fb1および第2ベース壁Fb2は、第1方向に交差する壁である。詳しくは、第1ベース壁Fb1および第2ベース壁Fb2は、厚み方向が第1方向に沿っている壁である。つまり、第1ベース壁Fb1および第2ベース壁Fb2は、第1方向に直交する平面を有する壁である。 The first base wall Fb1 and the second base wall Fb2 are walls that intersect in the first direction. Specifically, the first base wall Fb1 and the second base wall Fb2 are walls whose thickness direction is along the first direction. That is, the first base wall Fb1 and the second base wall Fb2 are walls having planes orthogonal to the first direction.

第2ベース壁Fb2は、第1ベース壁Fb1に対して、第1方向の一方側にずれた位置に位置する。図5に示すように、第1ベース壁Fb1には、偏向器50が取り付けられている。具体的には、モータ52を構成する基板が第1ベース壁Fb1に第1方向の一方側からネジで固定されている。また、走査光学系Loの前述した一部が第1ベース壁Fb1に第1方向の一方側に取り付けられている。具体的には、第1走査レンズ60YM,60CKが、図7に示すように、第1ベース壁Fb1の一部である第1座面B1に取り付けられている。第1座面B1は第1ベース壁Fb1の偏向器50が取り付けられた部分から、第1方向の一方側にずれた面である。また第2走査レンズ70Y,70M,70C,70Kが、第1ベース壁Fb1から第1方向一方側に突出した第2座面B2に取り付けられている。ミラー82M,82Cが、第1ベース壁Fb1から第1方向一方側に突出した第3座面B3に取り付けられている。第1ベース壁Fb1のうち、ミラー82M,82Cと第1方向において重なる部分は、第1ベース壁Fb1の偏向器50が取り付けられた部分から第1方向の一方側にずれた面である。そのため、偏向器50と走査光学系Loの一部は、第1ベース壁Fb1に対して、第1方向の一方側に位置する。図2に示すように、半導体レーザ10、カップリングレンズ20および絞り板30は、第2ベース壁Fb2に対して、第1方向の他方側に位置する。また、図1に示すように、集光レンズ40および反射ミラー81も、第2ベース壁Fb2に対して、第1方向の他方側に位置する。 The second base wall Fb2 is located at a position shifted to one side in the first direction with respect to the first base wall Fb1. As shown in FIG. 5, a deflector 50 is attached to the first base wall Fb1. Specifically, a substrate that constitutes the motor 52 is fixed to the first base wall Fb1 with screws from one side in the first direction. In addition, the aforementioned part of the scanning optical system Lo is attached to the first base wall Fb1 on one side in the first direction. Specifically, the first scanning lenses 60YM and 60CK are attached to the first seat surface B1, which is part of the first base wall Fb1, as shown in FIG. The first seat surface B1 is a surface deviated to one side in the first direction from the portion of the first base wall Fb1 to which the deflector 50 is attached. Second scanning lenses 70Y, 70M, 70C, and 70K are attached to a second seating surface B2 that protrudes from the first base wall Fb1 to one side in the first direction. Mirrors 82M and 82C are attached to a third seating surface B3 that protrudes from the first base wall Fb1 to one side in the first direction. A portion of the first base wall Fb1 that overlaps the mirrors 82M and 82C in the first direction is a surface shifted to one side in the first direction from the portion of the first base wall Fb1 to which the deflector 50 is attached. Therefore, the deflector 50 and part of the scanning optical system Lo are positioned on one side in the first direction with respect to the first base wall Fb1. As shown in FIG. 2, the semiconductor laser 10, the coupling lens 20 and the aperture plate 30 are positioned on the other side in the first direction with respect to the second base wall Fb2. Further, as shown in FIG. 1, the condenser lens 40 and the reflecting mirror 81 are also positioned on the other side in the first direction with respect to the second base wall Fb2.

反射ミラー81は、第1ベース壁Fb1付近に配置され、第1ベース壁Fb1に対して、第1方向の他方側に露出している。言い換えると、第1ベース壁Fb1は、反射ミラー81の第1方向の他方側に位置する部分を有していない。これにより、反射ミラー81は、第1ベース壁Fb1で隠されることなく第1方向の他方側に露出して、フレームFに対して、第1方向の他方側から取付可能となっている。 The reflecting mirror 81 is arranged near the first base wall Fb1 and exposed on the other side in the first direction with respect to the first base wall Fb1. In other words, the first base wall Fb1 does not have a portion located on the other side of the reflecting mirror 81 in the first direction. Accordingly, the reflecting mirror 81 is exposed on the other side in the first direction without being hidden by the first base wall Fb1, and can be attached to the frame F from the other side in the first direction.

図6に示すように、フレームFは、第1凹部CP1と第2凹部CP2の間に位置する第1壁F1をさらに有する。第1壁F1は、第1ベース壁Fb1と第2ベース壁Fb2に接続されている(図7も参照)。第1壁F1は、第2ベース壁Fb2から第1方向の他方側に突出するとともに、第1ベース壁Fb1から第1方向の一方側に突出している。 As shown in FIG. 6, the frame F further has a first wall F1 located between the first recess CP1 and the second recess CP2. The first wall F1 is connected to the first base wall Fb1 and the second base wall Fb2 (see also FIG. 7). The first wall F1 protrudes from the second base wall Fb2 to the other side in the first direction and protrudes from the first base wall Fb1 to one side in the first direction.

第1壁F1は、絞り板30の各開口絞り31からポリゴンミラー51に向かうビームBY,BM,BC,BKが通過する2つの第1開口F11,F12を有する。第1開口F11,F12は、第1方向に長いスリット状に形成され、第3方向に貫通するとともに、第1方向の一方側に開口している(図7参照)。第1開口F11は、ビームBY,BMを通す。第1開口F12は、ビームBC,BKを通す。 The first wall F1 has two first apertures F11, F12 through which the beams BY, BM, BC, BK directed from each aperture stop 31 of the aperture plate 30 to the polygon mirror 51 pass. The first openings F11 and F12 are formed in a slit shape elongated in the first direction, penetrate in the third direction, and open on one side in the first direction (see FIG. 7). The first aperture F11 passes the beams BY and BM. The first aperture F12 passes the beams BC, BK.

図1に示すように、集光レンズ40は、図6に示す第1開口F11,F12を塞ぐように配置されている。集光レンズ40は、第1壁F1と絞り板30の間で挟まれている。図15に示すように、集光レンズ40は、出射面から第3方向の一方側に突出するリブ40Aを有し、リブ40Aが第1壁F1に接触している。また集光レンズ40は、入射面から第3方向の他方側に突出するリブ40Bを有し、リブ40Bが絞り板30に接触している。詳しくは、リブ40Bの第2方向の各端部が、絞り板30に接触している(図1参照)。リブ40A,40Bは集光レンズ40の光学面である出射面および入射面の周囲を囲むように構成されている。これにより、集光レンズ40の光学面を直接第1壁F1および絞り板30に接触させることなく、集光レンズ40で第1開口F11,F12を塞ぐことが可能である。 As shown in FIG. 1, the condenser lens 40 is arranged to close the first openings F11 and F12 shown in FIG. The condenser lens 40 is sandwiched between the first wall F1 and the aperture plate 30. As shown in FIG. As shown in FIG. 15, the condenser lens 40 has ribs 40A that protrude from the exit surface to one side in the third direction, and the ribs 40A are in contact with the first wall F1. The condenser lens 40 also has a rib 40B projecting from the entrance surface to the other side in the third direction, and the rib 40B is in contact with the aperture plate 30 . Specifically, each end in the second direction of the rib 40B is in contact with the aperture plate 30 (see FIG. 1). The ribs 40A and 40B are configured to surround the exit surface and the entrance surface, which are the optical surfaces of the condenser lens 40. As shown in FIG. As a result, the condenser lens 40 can block the first apertures F11 and F12 without bringing the optical surface of the condenser lens 40 into direct contact with the first wall F1 and the aperture plate 30 .

図3および図7に示すように、フレームFは、第2方向においてポリゴンミラー51(図3参照)の両側に位置する2つの第2壁F2をさらに有する。第2方向の一方側の第2壁F2は、ポリゴンミラー51で反射されたビームBY,BMが通過する第2開口F21を有する。第2方向の他方側の第2壁F2は、ポリゴンミラー51で反射されたビームBC,BKが通過する第2開口F22を有する。各第2開口F21,F22は、第2方向に貫通するとともに、第1方向の一方側に開口する。 As shown in FIGS. 3 and 7, the frame F further has two second walls F2 positioned on either side of the polygon mirror 51 (see FIG. 3) in the second direction. A second wall F2 on one side in the second direction has a second opening F21 through which the beams BY and BM reflected by the polygon mirror 51 pass. A second wall F2 on the other side in the second direction has a second opening F22 through which the beams BC and BK reflected by the polygon mirror 51 pass. Each of the second openings F21 and F22 penetrates in the second direction and opens on one side in the first direction.

各第2壁F2は、第1ベース壁Fb1から第1方向の一方側に突出する。各第2壁F2は、第1壁F1と後述する第1側壁F41に接続されている。これにより、第1ベース壁Fb1、第1壁F1、各第2壁F2および第1側壁F41によって、ポリゴンミラー51を収容するための収容凹部CP3が形成されている。 Each second wall F2 protrudes from the first base wall Fb1 to one side in the first direction. Each 2nd wall F2 is connected to the 1st wall F1 and the 1st side wall F41 mentioned later. Thus, the first base wall Fb1, the first wall F1, the second walls F2, and the first side walls F41 form an accommodation recess CP3 for accommodating the polygon mirror 51. As shown in FIG.

第1走査レンズ60YMは、第2開口F21の一部を塞ぐように配置されている。第1走査レンズ60CKは、第2開口F22の一部を塞ぐように配置されている。 The first scanning lens 60YM is arranged so as to block part of the second opening F21. The first scanning lens 60CK is arranged so as to block part of the second opening F22.

フレームFは、各凹部CP1,CP2を囲う略矩形の枠を構成する第1側壁F41、第2側壁F42、第3側壁F43および第4側壁F44をさらに有する。 The frame F further has a first side wall F41, a second side wall F42, a third side wall F43 and a fourth side wall F44 forming a substantially rectangular frame surrounding the recesses CP1 and CP2.

第1側壁F41は、偏向器50に対して半導体レーザ10とは反対側に位置する。第1側壁F41は、第1ベース壁Fb1から第1方向の一方側に突出する。 The first side wall F41 is located on the side opposite to the semiconductor laser 10 with respect to the deflector 50 . The first side wall F41 protrudes from the first base wall Fb1 to one side in the first direction.

第2側壁F42は、偏向器50に対して第1側壁F41とは反対側に位置する。詳しくは、第2側壁F42は、カップリングレンズ20に対して偏向器50とは反対側に位置する。第2側壁F42は、第2ベース壁Fb2から第1方向の他方側に突出する。 The second side wall F42 is located on the opposite side of the deflector 50 from the first side wall F41. Specifically, the second side wall F42 is located on the side opposite to the deflector 50 with respect to the coupling lens 20 . The second side wall F42 protrudes from the second base wall Fb2 to the other side in the first direction.

第3側壁F43は、第1走査レンズ60YMに対して偏向器50とは反対側に位置する。第3側壁F43は、第1側壁F41、第1ベース壁Fb1、第2ベース壁Fb2および第2側壁F42の第2方向における一方側の端部に接続されている。第3側壁F43の一部は、第1ベース壁Fb1から第1方向の一方側に突出し、他部は、第2ベース壁Fb2から第1方向の他方側に突出する。 The third side wall F43 is located on the side opposite to the deflector 50 with respect to the first scanning lens 60YM. The third side wall F43 is connected to one end in the second direction of the first side wall F41, the first base wall Fb1, the second base wall Fb2, and the second side wall F42. A portion of the third side wall F43 protrudes from the first base wall Fb1 to one side in the first direction, and the other portion protrudes from the second base wall Fb2 to the other side in the first direction.

第4側壁F44は、第1走査レンズ60CKに対して偏向器50とは反対側に位置する。第4側壁F44は、第1側壁F41、第1ベース壁Fb1、第2ベース壁Fb2および第2側壁F42の第2方向における他方側の端部に接続されている。第4側壁F44の一部は、第1ベース壁Fb1から第1方向の一方側に突出し、他部は、第2ベース壁Fb2から第1方向の他方側に突出する。 The fourth side wall F44 is located on the side opposite to the deflector 50 with respect to the first scanning lens 60CK. The fourth side wall F44 is connected to ends of the first side wall F41, the first base wall Fb1, the second base wall Fb2, and the second side wall F42 on the other side in the second direction. A portion of the fourth side wall F44 protrudes from the first base wall Fb1 to one side in the first direction, and the other portion protrudes from the second base wall Fb2 to the other side in the first direction.

図8に示すように、走査光学装置1は、前述した第1凹部CP1および第2凹部CP2等を有するフレームFに着脱可能な支持部材Fsをさらに有している。支持部材Fsは、反射ミラー81を支持する部材である。支持部材Fsは、反射ミラー81を支持して角度の調整が可能な座面FsZを有している。座面FsZは、反射ミラー81を傾動可能に支持することが可能な球状の突起Fs1を有する。突起Fs1は、反射ミラー81に向けて突出し、反射ミラー81と接触して反射ミラー81の向きを調整する際の支点となる。反射ミラー81は、光硬化樹脂Pによって座面FsZに対する向きが固定されている。光硬化樹脂Pは、例えば紫外線硬化樹脂とすることができる。光硬化樹脂Pによって固定された反射ミラー81および支持部材Fsは、U形状の板バネSPによって、フレームFに取り付けられる。 As shown in FIG. 8, the scanning optical device 1 further has a support member Fs that can be attached to and detached from the frame F having the above-described first recess CP1 and second recess CP2. The support member Fs is a member that supports the reflecting mirror 81 . The support member Fs has a bearing surface FsZ that supports the reflecting mirror 81 and is adjustable in angle. The seat surface FsZ has a spherical protrusion Fs1 capable of tiltably supporting the reflecting mirror 81 . The protrusion Fs1 protrudes toward the reflecting mirror 81 and becomes a fulcrum when the reflecting mirror 81 is adjusted in its orientation by coming into contact with the reflecting mirror 81 . The orientation of the reflecting mirror 81 with respect to the seat surface FsZ is fixed by the photocurable resin P. As shown in FIG. The photocurable resin P can be, for example, an ultraviolet curable resin. The reflecting mirror 81 and the support member Fs fixed by the photocurable resin P are attached to the frame F by U-shaped leaf springs SP.

支持部材Fsおよび板バネSPは、1つの反射ミラー81に対して、反射ミラー81の長手方向の両端部に1つずつ配置されている。1つの反射ミラー81に対応した一対の支持部材Fsと一対の板バネSPは、4つの反射ミラー81のそれぞれに対して設けられている。 One supporting member Fs and one plate spring SP are arranged at both ends of the reflecting mirror 81 in the longitudinal direction for one reflecting mirror 81 . A pair of supporting members Fs and a pair of leaf springs SP corresponding to one reflecting mirror 81 are provided for each of the four reflecting mirrors 81 .

フレームFは、支持部材Fsを支持する支持面Fm1を有する。支持面Fm1は、4つの反射ミラー81の長手方向の各端部に対応した位置に配置されている(図6参照)。 The frame F has a support surface Fm1 that supports the support member Fs. The support surface Fm1 is arranged at a position corresponding to each longitudinal end of the four reflecting mirrors 81 (see FIG. 6).

反射ミラー81をフレームFに取り付ける場合には、支持部材Fsの突起Fs1の両側に光硬化樹脂Pを塗布し、支持部材Fsを支持面Fm1に取り付ける。その後、第1反射ミラー81を、支持部材Fsの突起Fs1に接触させる。このとき、光硬化樹脂Pは支持部材Fsと第1反射ミラー81の両者に接触した状態で配置される。その後、板ばねSPを取り付け、第1反射ミラー81を支持部材FsとともにフレームFに向けて押圧する。次いで、半導体レーザ10から光を出射させた状態で、突起Fs1を起点にして第1反射ミラー81を傾動させることで、像面におけるビームの位置を監視しながら、第1反射ミラー81の角度を調整する。角度を調整するときには、図示せぬアームを第1反射ミラー81に押し当てて、第1反射ミラー81を動かす。角度調整が完了した後、光硬化樹脂Pに光を当てることで、第1反射ミラー81が支持部材Fsに固定される。 When the reflecting mirror 81 is attached to the frame F, the photocurable resin P is applied to both sides of the protrusion Fs1 of the support member Fs, and the support member Fs is attached to the support surface Fm1. After that, the first reflecting mirror 81 is brought into contact with the protrusion Fs1 of the support member Fs. At this time, the photocurable resin P is arranged in contact with both the supporting member Fs and the first reflecting mirror 81 . After that, the plate spring SP is attached, and the first reflecting mirror 81 is pressed toward the frame F together with the support member Fs. Next, while light is being emitted from the semiconductor laser 10, the angle of the first reflecting mirror 81 is changed while monitoring the position of the beam on the image plane by tilting the first reflecting mirror 81 with the projection Fs1 as a starting point. adjust. When adjusting the angle, an arm (not shown) is pressed against the first reflecting mirror 81 to move the first reflecting mirror 81 . After the angle adjustment is completed, the photocurable resin P is exposed to light, thereby fixing the first reflecting mirror 81 to the support member Fs.

図2に示すように、走査光学装置1は、第1レーザホルダH11と、第2レーザホルダH12と、第1レンズホルダH21と、第2レンズホルダH22とをさらに備えている。 As shown in FIG. 2, the scanning optical device 1 further includes a first laser holder H11, a second laser holder H12, a first lens holder H21, and a second lens holder H22.

第1レーザホルダH11は、第1半導体レーザ10Y、第2半導体レーザ10Mおよび第1カップリングレンズ20Yを保持する断面視L字形状の部材である。第1カップリングレンズ20Yは、光硬化樹脂によって第1レーザホルダH11に固定されている。第1カップリングレンズ20Yは、第1方向の他方側から第1レーザホルダH11に取付可能となっている。第1レーザホルダH11は、フレームFに固定されている。なお、第2レーザホルダH12は、第1レーザホルダH11とは保持する対象が異なるだけであり、その他の点は、第1レーザホルダH11と同様に構成されるため、説明は省略する。 The first laser holder H11 is an L-shaped member in cross section that holds the first semiconductor laser 10Y, the second semiconductor laser 10M, and the first coupling lens 20Y. The first coupling lens 20Y is fixed to the first laser holder H11 with photocurable resin. The first coupling lens 20Y can be attached to the first laser holder H11 from the other side in the first direction. The first laser holder H11 is fixed to the frame F. Note that the second laser holder H12 differs from the first laser holder H11 only in the object to be held, and is otherwise configured in the same manner as the first laser holder H11, so description thereof will be omitted.

第1レンズホルダH21は、第2カップリングレンズ20Mを、第1カップリングレンズ20Yに対して第1方向に並んだ位置に保持する部材である。第1レンズホルダH21は、第2カップリングレンズ20Mが嵌合される筒状部を有する。第1レンズホルダH21は、光硬化樹脂によって第1レーザホルダH11に固定されている。第1レンズホルダH21は、第1方向の他方側から第1レーザホルダH11に取付可能となっている。なお、第2レンズホルダH22は、第1レンズホルダH21とは保持する対象や、固定先が第2レーザホルダH12に変わるだけであり、その他の点は、第1レンズホルダH21と同様に構成されるため、説明は省略する。 The first lens holder H21 is a member that holds the second coupling lens 20M at a position aligned in the first direction with respect to the first coupling lens 20Y. The first lens holder H21 has a tubular portion in which the second coupling lens 20M is fitted. The first lens holder H21 is fixed to the first laser holder H11 with a photocurable resin. The first lens holder H21 can be attached to the first laser holder H11 from the other side in the first direction. The second lens holder H22 differs from the first lens holder H21 in that it only holds and fixes to the second laser holder H12, and is otherwise configured in the same manner as the first lens holder H21. Therefore, the description is omitted.

カップリングレンズ20をフレームに取り付ける場合、まず、各レーザホルダH11,H12をフレームFに固定する。その後、第1カップリングレンズ20Yまたは第1レーザホルダH11に光硬化樹脂を塗布し、第1半導体レーザ10Yに対して第1カップリングレンズ20Yの位置を調整する。位置の調整後、光硬化樹脂に光を当てることで、第1カップリングレンズ20Yを第1レーザホルダH11に固定する。第4カップリングレンズ20Kについても、第1カップリングレンズ20Yの取付方法と同じ方法で、第2レーザホルダH12に固定する。 When attaching the coupling lens 20 to the frame, the laser holders H11 and H12 are fixed to the frame F first. After that, a photocurable resin is applied to the first coupling lens 20Y or the first laser holder H11, and the position of the first coupling lens 20Y is adjusted with respect to the first semiconductor laser 10Y. After adjusting the position, the first coupling lens 20Y is fixed to the first laser holder H11 by applying light to the photocurable resin. The fourth coupling lens 20K is also fixed to the second laser holder H12 in the same manner as the first coupling lens 20Y.

その後、第2カップリングレンズ20Mを保持した状態の第1レンズホルダH21または第1レーザホルダH11に光硬化樹脂を塗布し、第2半導体レーザ10Mに対して第2カップリングレンズ20Mの位置を調整する。位置の調整後、光硬化樹脂に光を当てることで、第1レンズホルダH21を第1レーザホルダH11に固定する。第3カップリングレンズ20Cについても、第2カップリングレンズ20Mの取付方法と同じ方法で、第2レンズホルダH22を介して第2レーザホルダH12に固定する。 After that, a photocurable resin is applied to the first lens holder H21 or the first laser holder H11 holding the second coupling lens 20M, and the position of the second coupling lens 20M is adjusted with respect to the second semiconductor laser 10M. do. After adjusting the position, the first lens holder H21 is fixed to the first laser holder H11 by exposing the photocurable resin to light. The third coupling lens 20C is also fixed to the second laser holder H12 via the second lens holder H22 in the same manner as the second coupling lens 20M.

図9に示すように、走査光学装置1は、カバーCをさらに備える。カバーCは、第1カバーC1と、第2カバーC2とを有する。 The scanning optical device 1 further comprises a cover C, as shown in FIG. The cover C has a first cover C1 and a second cover C2.

第1カバーC1は、偏向器50および第1ベース壁Fb1を、第1方向の一方側から覆うカバーである。詳しくは、第1カバーC1は、第1凹部CP1を覆う。 The first cover C1 is a cover that covers the deflector 50 and the first base wall Fb1 from one side in the first direction. Specifically, the first cover C1 covers the first recess CP1.

第2カバーC2は、カップリングレンズ20および第2ベース壁Fb2を、第1方向の他方側から覆うカバーである。詳しくは、第2カバーC2は、第2凹部CP2を覆う。 The second cover C2 is a cover that covers the coupling lens 20 and the second base wall Fb2 from the other side in the first direction. Specifically, the second cover C2 covers the second recess CP2.

走査光学装置1は、第1ネジN1、第2ネジN2および2つの第3ネジN3をさらに備える。第1ネジN1および第2ネジN2は、第1カバーC1をフレームFに固定するネジである。各第3ネジN3は、第2カバーC2をフレームFに固定するネジである。 The scanning optical device 1 further comprises a first screw N1, a second screw N2 and two third screws N3. The first screw N1 and the second screw N2 are screws for fixing the first cover C1 to the frame F. As shown in FIG. Each third screw N3 is a screw for fixing the second cover C2 to the frame F. As shown in FIG.

図10に示すように、フレームFは、第1ネジN1が締結される第1ボスF51と、第2ネジN2が締結される第2ボスF52とを有する。第1ボスF51、ポリゴンミラー51の回転軸線X1および第2ボスF52は、第3方向に並んでいる。詳しくは、第1ボスF51および第2ボスF52は、第3方向に延びて回転軸線X1を通る直線LN上に位置している。回転軸線X1は、第3方向において、第1ボスF51と第2ボスF52の間に位置している。また、第1ボスF51は、第2方向に離れた2つのビーム、例えば、ビームBY,BKの光路の間に位置している。 As shown in FIG. 10, the frame F has a first boss F51 to which the first screw N1 is fastened, and a second boss F52 to which the second screw N2 is fastened. The first boss F51, the rotation axis X1 of the polygon mirror 51, and the second boss F52 are arranged in the third direction. Specifically, the first boss F51 and the second boss F52 are positioned on a straight line LN extending in the third direction and passing through the rotation axis X1. The rotation axis X1 is located between the first boss F51 and the second boss F52 in the third direction. Also, the first boss F51 is positioned between the optical paths of two beams separated in the second direction, for example, the beams BY and BK.

そのため、図11に示すように、第1カバーC1がフレームFに取り付けられた状態において、回転軸線X1は、第3方向において、第1ネジN1と第2ネジN2の間に位置する。また、第1ネジN1および第2ネジN2は、前述した直線LN上に位置する。さらに、第1ネジN1は、第2方向に離れた2つのビームBY,BKの光路の間に位置する。 Therefore, as shown in FIG. 11, when the first cover C1 is attached to the frame F, the rotation axis X1 is located between the first screw N1 and the second screw N2 in the third direction. Also, the first screw N1 and the second screw N2 are positioned on the straight line LN described above. Furthermore, the first screw N1 is positioned between the optical paths of the two beams BY and BK that are separated in the second direction.

図12に示すように、第1カバーC1は、2つの第2リブR21,R22を有する。各第2リブR21,R22は、第1走査レンズ60YM(図13参照)に入射するビームの進行方向、詳しくは第2方向から見て、第2壁F2と重なっている。各第2リブR21,R22は、第3方向に延びている。各第2リブR21,R22は、第2壁F2との第2方向の間隔が第2壁F2の厚さより小さい。2つの第2リブR21,R22は、第2方向において、第2壁F2を挟んでいる。2つのうちポリゴンミラー51から遠い側の第2リブR21は、近い側の第2リブR22よりも第1ベース壁Fb1側に突出している。なお、2つの第2リブR21,R22は、ポリゴンミラー51に対して第2方向の他方側にある第2壁F2に対しても同様に設けられている。 As shown in FIG. 12, the first cover C1 has two second ribs R21 and R22. Each of the second ribs R21 and R22 overlaps the second wall F2 when viewed from the traveling direction of the beam incident on the first scanning lens 60YM (see FIG. 13), more specifically from the second direction. Each second rib R21, R22 extends in the third direction. Each of the second ribs R21 and R22 has a distance in the second direction from the second wall F2 smaller than the thickness of the second wall F2. The two second ribs R21 and R22 sandwich the second wall F2 in the second direction. Of the two, the second rib R21 on the side farther from the polygon mirror 51 protrudes toward the first base wall Fb1 than the second rib R22 on the closer side. The two second ribs R21 and R22 are similarly provided on the second wall F2 on the other side of the polygon mirror 51 in the second direction.

図13に示すように、走査光学装置1は、第1走査レンズ60YMと第1カバーC1の第2リブR21との間に位置するシール部材SLをさらに備えている。シール部材SLは、例えばスポンジなどの弾性部材からなる。シール部材SLは、第1走査レンズ60YMとともに、第2壁F2の第2開口F21(図3参照)を塞ぐ。なお、シール部材SLは、ポリゴンミラー51に対して第2方向の他方側にある第1走査レンズ60CKに対しても同様に設けられている。 As shown in FIG. 13, the scanning optical device 1 further includes a seal member SL positioned between the first scanning lens 60YM and the second rib R21 of the first cover C1. The seal member SL is made of an elastic member such as sponge. The sealing member SL closes the second opening F21 (see FIG. 3) of the second wall F2 together with the first scanning lens 60YM. The sealing member SL is similarly provided for the first scanning lens 60CK located on the other side of the polygon mirror 51 in the second direction.

図14に示すように、第2カバーC2は、第1リブR1と、2つの第3リブR3とを有する。第1リブR1は、第2方向に延びている。2つの第3リブR3は、第1リブR1の第2方向の中央部において、第2方向に間隔を空けて並んでいる。各第3リブR3は、第1リブR1よりも第2ベース壁Fb2側(図15参照)に突出している。 As shown in FIG. 14, the second cover C2 has a first rib R1 and two third ribs R3. The first rib R1 extends in the second direction. The two third ribs R3 are arranged side by side in the second direction with a gap therebetween in the second direction central portion of the first rib R1. Each third rib R3 protrudes further toward the second base wall Fb2 (see FIG. 15) than the first rib R1.

図15に示すように、第1リブR1は、集光レンズ40に入射するビームの進行方向、詳しくは第3方向から見て、第1壁F1と重なっている。第1リブR1と第1壁F1との第3方向の間隔は、第1壁F1の厚さ以下となっている。 As shown in FIG. 15, the first rib R1 overlaps the first wall F1 when viewed from the traveling direction of the beam incident on the condenser lens 40, specifically from the third direction. The distance between the first rib R1 and the first wall F1 in the third direction is equal to or less than the thickness of the first wall F1.

図4に示すように、第3リブR3は、第3方向から見て、第1壁F1と重なっている。第3リブR3と第1壁F1との第3方向の間隔は、第1壁F1の厚さよりも小さい。第3リブR3は、フレームFとの間で集光レンズ40を挟んでいる。 As shown in FIG. 4, the third rib R3 overlaps the first wall F1 when viewed from the third direction. The distance in the third direction between the third rib R3 and the first wall F1 is smaller than the thickness of the first wall F1. The third rib R3 and the frame F sandwich the condensing lens 40 therebetween.

次に、走査光学装置1の部材の位置や向きなどを調整する作業について説明する。
図1および図2に示すように、カップリングレンズ20の位置調整を行う場合には、カップリングレンズ20またはレンズホルダH21,H22を保持する治具を、第1方向の他方側から第2凹部CP2内に入れる。そのため、位置調整用の装置は、フレームFの第1方向の他方側に配置される。
Next, operations for adjusting the positions and orientations of the members of the scanning optical device 1 will be described.
As shown in FIGS. 1 and 2, when adjusting the position of the coupling lens 20, a jig for holding the coupling lens 20 or the lens holders H21 and H22 is moved from the other side in the first direction into the second concave portion. Put in CP2. Therefore, the device for position adjustment is arranged on the other side of the frame F in the first direction.

また、ポリゴンミラー51に入射されるビームを検知する検査を行う場合には、検査を行う装置を、第1方向の一方側から第1凹部CP1内に入れる。そのため、検査用の装置は、フレームFの第1方向の一方側に配置される。 Further, when performing an inspection for detecting the beam incident on the polygon mirror 51, the device for inspection is put into the first concave portion CP1 from one side in the first direction. Therefore, the device for inspection is arranged on one side of the frame F in the first direction.

反射ミラー81の角度を調整する場合には、反射ミラー81を保持する治具を、第1方向の他方側から反射ミラー81に接触させる。そのため、角度調整用の装置は、フレームFの第1方向の他方側に配置される。その際に、第2走査レンズ70の第1方向の一方側に配置された検査用の装置によってビームを検知する。ビームを検知する装置をフレームFの第1方向の一方側に配置し、カップリングレンズ20の位置調整用の装置と、反射ミラー81の角度調整用の装置とをフレームFの第1方向の他方側に配置することが可能となる。検知のための装置と調整のための装置とをフレームFを挟んで反対側に配置できるため、製造設備の構造の制約を緩和することができる。またこれにより、フレームFを製造設備に固定した状態で、カップリングレンズ20の位置調整と、反射ミラー81の角度調整を連続して行うことが可能になる。 When adjusting the angle of the reflecting mirror 81, the jig holding the reflecting mirror 81 is brought into contact with the reflecting mirror 81 from the other side in the first direction. Therefore, the device for angle adjustment is arranged on the other side of the frame F in the first direction. At that time, the beam is detected by an inspection device arranged on one side of the second scanning lens 70 in the first direction. A device for detecting the beam is arranged on one side of the frame F in the first direction, and a device for adjusting the position of the coupling lens 20 and a device for adjusting the angle of the reflecting mirror 81 are arranged on the other side of the frame F in the first direction. It can be placed on the side. Since the device for detection and the device for adjustment can be arranged on opposite sides of the frame F, restrictions on the structure of manufacturing equipment can be relaxed. Further, this makes it possible to continuously adjust the position of the coupling lens 20 and the angle of the reflection mirror 81 while fixing the frame F to the manufacturing equipment.

以上によれば、本実施形態において以下のような効果を得ることができる。
カップリングレンズ20の位置調整用の装置をフレームFの第1方向の他方側に配置することができるとともに、ポリゴンミラー51に入射される光を検知する装置をフレームFの第1方向の一方側に配置することができるので、設備の構造の制約を緩和することができる。
According to the above, the following effects can be obtained in this embodiment.
A device for adjusting the position of the coupling lens 20 can be arranged on the other side of the frame F in the first direction, and a device for detecting light incident on the polygon mirror 51 can be arranged on one side of the frame F in the first direction. Since it can be placed in the space, restrictions on the structure of the equipment can be relaxed.

偏向器50と走査光学系Loの一部を第1ベース壁Fb1に対して同じ側に配置することで、偏向器50と走査光学系Loの一部の取付方向が同一方向となるので、走査光学系Loを精度よく配置することができる。 By arranging the deflector 50 and part of the scanning optical system Lo on the same side with respect to the first base wall Fb1, the attachment direction of the deflector 50 and part of the scanning optical system Lo becomes the same direction. The optical system Lo can be arranged with high accuracy.

走査光学系Loからのビームを第1方向の一方側に出射する構成としたので、走査光学系Loから出射されるビームを、カップリングレンズ20の位置調整用の装置とは逆側から測定できる。 Since the beam from the scanning optical system Lo is emitted to one side in the first direction, the beam emitted from the scanning optical system Lo can be measured from the opposite side of the device for adjusting the position of the coupling lens 20. .

反射ミラー81が第1ベース壁Fb1に対して第1方向の他方側に露出するので、調整が必要なカップリングレンズ20と反射ミラー81を同じ側から調整することができる。 Since the reflecting mirror 81 is exposed on the other side in the first direction with respect to the first base wall Fb1, the coupling lens 20 and the reflecting mirror 81 requiring adjustment can be adjusted from the same side.

偏向器50および第1ベース壁Fb1を第1方向の一方側から覆う第1カバーC1を設けたので、偏向器50に塵埃が付着するのを第1カバーC1によって抑制することができる。 Since the first cover C1 that covers the deflector 50 and the first base wall Fb1 from one side in the first direction is provided, the first cover C1 can prevent dust from adhering to the deflector 50 .

カップリングレンズ20および第2ベース壁Fb2を第1方向の他方側から覆う第2カバーC2を設けたので、カップリングレンズ20に塵埃が付着するのを第2カバーC2によって抑制することができる。 Since the second cover C2 is provided to cover the coupling lens 20 and the second base wall Fb2 from the other side in the first direction, the second cover C2 can prevent dust from adhering to the coupling lens 20.

ポリゴンミラー51の回転軸線X1が主走査方向において第1ネジN1と第2ネジN2の間に位置するので、フレームFのうち偏向器50が配置された部分の密閉性を高めることができる。 Since the rotation axis X1 of the polygon mirror 51 is positioned between the first screw N1 and the second screw N2 in the main scanning direction, the sealing of the portion of the frame F where the deflector 50 is arranged can be enhanced.

カップリングレンズ20からポリゴンミラー51に向かうビームが通過する第1開口F11,F12を集光レンズ40で塞ぐので、カップリングレンズ20付近の塵埃がポリゴンミラー51に向けて移動してポリゴンミラー51に付着するのを抑制することができる。 Since the first apertures F11 and F12 through which the beams from the coupling lens 20 to the polygon mirror 51 pass are blocked by the condenser lens 40, dust near the coupling lens 20 moves toward the polygon mirror 51 and falls on the polygon mirror 51. Adhesion can be suppressed.

第2カバーC2が、第3方向から見て第1壁F1と重なる第1リブR1を有するので、第1壁F1と第2カバーC2の間の密閉性を高めることができる。 Since the second cover C2 has the first rib R1 that overlaps the first wall F1 when viewed from the third direction, it is possible to improve the airtightness between the first wall F1 and the second cover C2.

第1壁F1と絞り板30の間で集光レンズ40を挟むので、集光レンズ40を第1壁F1に密着させることができ、密閉性を高めることができる。 Since the condenser lens 40 is sandwiched between the first wall F1 and the aperture plate 30, the condenser lens 40 can be brought into close contact with the first wall F1, thereby improving sealing.

ポリゴンミラー51で反射されたビームが通過する第2開口F21,F22を第1走査レンズ60YM,60CKで塞ぐので、走査光学系Lo付近の塵埃がポリゴンミラー51に向けて移動してポリゴンミラー51に付着するのを抑制することができる。 Since the second apertures F21 and F22 through which the beams reflected by the polygon mirror 51 pass are blocked by the first scanning lenses 60YM and 60CK, dust in the vicinity of the scanning optical system Lo moves toward the polygon mirror 51 and hits the polygon mirror 51. Adhesion can be suppressed.

第1走査レンズ60YM,60CKと第1カバーC1の間にシール部材SLを設けたので、第1走査レンズ60YM,60CKと第1カバーC1の間の密閉性を高めることができる。 Since the sealing member SL is provided between the first scanning lenses 60YM, 60CK and the first cover C1, the sealing between the first scanning lenses 60YM, 60CK and the first cover C1 can be improved.

第1カバーC1が、第2方向から見て第2壁F2と重なる第2リブR21,R22を有するので、第1カバーC1と第2壁F2の間の密閉性を高めることができる。 Since the first cover C1 has the second ribs R21 and R22 that overlap the second wall F2 when viewed from the second direction, it is possible to enhance the airtightness between the first cover C1 and the second wall F2.

また、前記カバーは、前記偏向器と前記走査光学系の少なくとも一部とを覆っていてもよい。 Also, the cover may cover the deflector and at least part of the scanning optical system.

第1カバーC1が偏向器50と走査光学系Loの一部とを覆うので、第1カバーC1によって偏向器50と走査光学系Loの一部を一緒に封止することができる。 Since the first cover C1 covers the deflector 50 and part of the scanning optical system Lo, the first cover C1 can seal the deflector 50 and part of the scanning optical system Lo together.

なお、本発明は前記実施形態に限定されることなく、以下に例示するように様々な形態で利用できる。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be used in various forms as exemplified below.

前記実施形態では、走査光学系Loの一部を第1ベース壁Fb1の第1方向の一方側に取り付けたが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、走査光学系の全部を、第1ベース壁の第1方向の一方側に取り付けてもよい。 Although a part of the scanning optical system Lo is attached to one side of the first base wall Fb1 in the first direction in the above embodiment, the present invention is not limited to this. For example, the entire scanning optical system may be mounted on one side of the first base wall in the first direction.

前記実施形態では、第1側壁F41、第2側壁F42、第3側壁F43および第4側壁F44をフレームFに設けたが、本発明はこれに限定されず、4つの側壁のうち少なくとも1つは、カバーに設けられていてもよい。 In the above embodiment, the frame F is provided with the first sidewall F41, the second sidewall F42, the third sidewall F43, and the fourth sidewall F44, but the invention is not limited to this, and at least one of the four sidewalls is , may be provided on the cover.

カバーは、フレームのうち少なくとも偏向器が配置された部分を覆えばよい。例えば、偏向器を覆うカバーと、走査光学系の一部を覆うカバーが別体であってもよい。また、カバーは、走査光学系の全部を覆っていてもよい。例えば、第1凹部内に走査光学系の全部が収容される場合には、カバーが走査光学系の全部を覆ってもよい。 The cover may cover at least the portion of the frame where the deflector is arranged. For example, a cover that covers the deflector and a cover that covers a part of the scanning optical system may be separate. Also, the cover may cover the entire scanning optical system. For example, when the entire scanning optical system is accommodated in the first recess, the cover may cover the entire scanning optical system.

第1リブ、第2リブの数は、前記実施形態に限定されず、いくつであってもよい。また、第1リブを2つ設け、2つの第1リブで第1壁を挟んでもよい。 The numbers of the first ribs and the second ribs are not limited to those in the above embodiment, and may be any number. Alternatively, two first ribs may be provided and the first wall may be sandwiched between the two first ribs.

前記実施形態では、座面FsZを有する支持部材FsをフレームFとは異なる部材で構成したが、座面FsZはフレームFに一体に設けられてもよい。 In the above embodiment, the support member Fs having the seat surface FsZ is made of a member different from the frame F, but the seat surface FsZ may be provided integrally with the frame F.

半導体レーザ10は、複数の発光点を有する構成としてもよい。これにより半導体レーザ10からの複数の光が、1つのカップリングレンズ20によって複数のビームに変換され、複数のビームが対応する走査光学系Loによって感光ドラム200の表面に結像されるよう構成してもよい。このように構成した場合、前記実施形態のビームBY,BM,BC,BKがそれぞれ複数のビームを含む構成となる。 The semiconductor laser 10 may be configured to have a plurality of light emitting points. As a result, a plurality of beams emitted from the semiconductor laser 10 are converted into a plurality of beams by one coupling lens 20, and the plurality of beams are imaged on the surface of the photosensitive drum 200 by the corresponding scanning optical system Lo. may When configured in this manner, the beams BY, BM, BC, and BK of the above embodiment each include a plurality of beams.

前記実施形態では、カラーの画像形成装置に適用される走査光学装置を例示したが、走査光学装置は、1つのビームのみを走査するモノクロの画像形成装置に適用されるものであってもよい。 Although the scanning optical device applied to the color image forming apparatus is exemplified in the above embodiment, the scanning optical device may be applied to a monochrome image forming apparatus that scans only one beam.

前記した実施形態および変形例で説明した各要素を、任意に組み合わせて実施してもよい。 Each element described in the above embodiment and modifications may be implemented in any combination.

1 走査光学装置
10 半導体レーザ
20 カップリングレンズ
40 集光レンズ
50 偏向器
51 ポリゴンミラー
C カバー
F フレーム
F1 第1壁
F11 第1開口
F12 第1開口
Lo 走査光学系
REFERENCE SIGNS LIST 1 scanning optical device 10 semiconductor laser 20 coupling lens 40 condenser lens 50 deflector 51 polygon mirror C cover F frame F1 first wall F11 first aperture F12 first aperture Lo scanning optical system

Claims (13)

光を出射する半導体レーザと、
前記半導体レーザからの光をビームに変換するカップリングレンズと、
前記カップリングレンズからのビームを副走査方向に集光する集光レンズと、
前記集光レンズからのビームを主走査方向に偏向するポリゴンミラーを有する偏向器と、
前記偏向器からの光を像面に結像する走査光学系と、
前記偏向器および前記走査光学系が固定されたフレームと、
前記フレームのうち少なくとも前記偏向器が配置された部分を覆うカバーと、を備え、
前記フレームは、前記ポリゴンミラーに向かうビームが通過する第1開口を有する第1壁を有し、
前記集光レンズは、前記第1開口を塞ぐことを特徴とする走査光学装置。
a semiconductor laser that emits light;
a coupling lens for converting light from the semiconductor laser into a beam;
a condenser lens for condensing the beam from the coupling lens in a sub-scanning direction;
a deflector having a polygon mirror that deflects the beam from the condenser lens in a main scanning direction;
a scanning optical system that forms an image of the light from the deflector on an image plane;
a frame to which the deflector and the scanning optical system are fixed;
a cover that covers at least a portion of the frame where the deflector is arranged;
the frame has a first wall with a first aperture through which a beam directed to the polygon mirror passes;
The scanning optical device, wherein the condensing lens closes the first opening.
前記カバーは、
前記集光レンズに入射するビームの進行方向から見て、前記第1壁と重なる第1リブを有することを特徴とする請求項1に記載の走査光学装置。
The cover is
2. A scanning optical apparatus according to claim 1, further comprising a first rib that overlaps with said first wall when viewed from a direction in which a beam incident on said condenser lens travels.
前記フレームは、
前記カップリングレンズと前記集光レンズの間に位置し、前記ビームが通過する開口絞りを有する絞り板を有し、
前記集光レンズは、前記第1壁と前記絞り板の間で挟まれていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の走査光学装置。
The frame is
a diaphragm plate positioned between the coupling lens and the condenser lens and having an aperture diaphragm through which the beam passes;
3. A scanning optical device according to claim 1, wherein said condenser lens is sandwiched between said first wall and said aperture plate.
前記フレームは、前記ポリゴンミラーで反射されたビームが通過する第2開口を有する第2壁を有し、
前記走査光学系のうち前記ポリゴンミラーに最も近い走査レンズは、前記第2開口を塞ぐことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の走査光学装置。
the frame has a second wall with a second aperture through which the beam reflected by the polygon mirror passes;
4. The scanning optical apparatus according to claim 1, wherein the scanning lens closest to the polygon mirror in the scanning optical system closes the second aperture.
前記走査レンズと前記カバーの間に位置するシール部材をさらに備えることを特徴とする請求項4に記載の走査光学装置。 5. The scanning optical device of claim 4, further comprising a sealing member positioned between said scanning lens and said cover. 前記カバーは、
前記走査レンズに入射するビームの進行方向から見て、前記第2壁と重なる第2リブを有することを特徴とする請求項4または請求項5に記載の走査光学装置。
The cover is
6. A scanning optical device according to claim 4, further comprising a second rib that overlaps with the second wall when viewed from the direction of travel of the beam incident on the scanning lens.
前記走査光学系は、前記ポリゴンミラーの回転軸線に沿った第1方向に直交する第2方向において、前記ポリゴンミラーの一方側に配置され、前記第1方向および前記第2方向に直交する前記主走査方向に偏向されるビームが入射し、
前記走査光学装置は、前記カバーを前記フレームに固定する第1ネジおよび第2ネジをさらに備え、
前記回転軸線は、前記主走査方向において、前記第1ネジと前記第2ネジの間に位置することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の走査光学装置。
The scanning optical system is arranged on one side of the polygon mirror in a second direction perpendicular to the first direction along the axis of rotation of the polygon mirror, and the scanning optical system is arranged on one side of the polygon mirror and is perpendicular to the first direction and the second direction. A beam deflected in the scanning direction is incident,
the scanning optics further comprising a first screw and a second screw securing the cover to the frame;
7. The scanning optical device according to claim 1, wherein the rotation axis is positioned between the first screw and the second screw in the main scanning direction.
前記半導体レーザおよび前記カップリングレンズを複数有し、
複数の前記カップリングレンズから出射されるビームのうち、2つのビームは、前記第2方向に離れており、
前記第1ネジは、前記2つのビームの光路の間に位置することを特徴とする請求項7に記載の走査光学装置。
Having a plurality of the semiconductor lasers and the coupling lenses,
two of the beams emitted from the plurality of coupling lenses are separated in the second direction;
8. The scanning optical apparatus of claim 7, wherein said first screw is positioned between the optical paths of said two beams.
前記カバーは、前記偏向器と前記走査光学系の少なくとも一部とを覆うことを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の走査光学装置。 9. The scanning optical device according to claim 1, wherein the cover covers the deflector and at least part of the scanning optical system. 前記フレームは、
前記ポリゴンミラーの回転軸線に沿った第1方向に交差し、前記偏向器が取り付けられる第1ベース壁と、
前記第1方向に交差し、前記第1ベース壁に対して、前記第1方向の一方側にずれた位置に位置する第2ベース壁と、を有し、
前記偏向器は、前記第1ベース壁に対して、前記第1方向の一方側に位置し、
前記カップリングレンズは、前記第2ベース壁に対して、前記第1方向の他方側に位置することを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の走査光学装置。
The frame is
a first base wall that intersects a first direction along the axis of rotation of the polygon mirror and on which the deflector is mounted;
a second base wall that intersects the first direction and is located at a position shifted to one side in the first direction with respect to the first base wall;
the deflector is positioned on one side in the first direction with respect to the first base wall;
10. The scanning optical device according to claim 1, wherein the coupling lens is positioned on the other side in the first direction with respect to the second base wall.
前記半導体レーザは、第1半導体レーザと、前記第1半導体レーザから前記副走査方向に間隔を空けた位置に配置された第2半導体レーザと、を含み、
前記カップリングレンズは、前記第1半導体レーザからの光をビームに変換する第1カップリングレンズと、前記第2半導体レーザからの光をビームに変換する第2カップリングレンズと、を含み、
前記集光レンズは、前記第1カップリングレンズからのビームと、前記第2カップリングレンズからのビームと、を前記副走査方向に集光することを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の走査光学装置。
the semiconductor laser includes a first semiconductor laser and a second semiconductor laser spaced from the first semiconductor laser in the sub-scanning direction;
the coupling lens includes a first coupling lens that converts light from the first semiconductor laser into a beam, and a second coupling lens that converts light from the second semiconductor laser into a beam;
11. Any of claims 1 to 10, wherein the condenser lens converges the beam from the first coupling lens and the beam from the second coupling lens in the sub-scanning direction. A scanning optical device according to any one of the preceding claims.
前記半導体レーザは、第1半導体レーザと、前記第1半導体レーザから前記副走査方向と前記集光レンズに入射するビームの進行方向とに直交する方向に間隔を空けた位置に配置された第3半導体レーザと、を含み、
前記カップリングレンズは、前記第1半導体レーザからの光をビームに変換する第1カップリングレンズと、前記第3半導体レーザからの光をビームに変換する第3カップリングレンズと、を含み、
前記集光レンズは、前記第1カップリングレンズからのビームと、前記第3カップリングレンズからのビームと、を前記副走査方向に集光することを特徴とする請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の走査光学装置。
The semiconductor laser is arranged at a position spaced apart from the first semiconductor laser in a direction orthogonal to the sub-scanning direction and the traveling direction of the beam incident on the condenser lens from the first semiconductor laser. a semiconductor laser;
the coupling lens includes a first coupling lens that converts light from the first semiconductor laser into a beam, and a third coupling lens that converts light from the third semiconductor laser into a beam;
12. The condensing lens converges the beam from the first coupling lens and the beam from the third coupling lens in the sub-scanning direction. A scanning optical device according to any one of the preceding claims.
前記集光レンズは、前記集光レンズに入射するビームの進行方向に突出し、前記第1壁に接触するリブを有することを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の走査光学装置。 13. The condensing lens according to any one of claims 1 to 12, wherein the condensing lens has a rib that protrudes in a traveling direction of the beam incident on the condensing lens and contacts the first wall. scanning optics.
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