JP2023028081A - Laminate for electronic circuit board - Google Patents

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JP2023028081A JP2021133561A JP2021133561A JP2023028081A JP 2023028081 A JP2023028081 A JP 2023028081A JP 2021133561 A JP2021133561 A JP 2021133561A JP 2021133561 A JP2021133561 A JP 2021133561A JP 2023028081 A JP2023028081 A JP 2023028081A
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壮弘 岩本
Takehiro Iwamoto
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Abstract

To provide a laminate for an electronic circuit board in which a copper layer is hard to peel, excellent in peel strength and less in transmission loss, and a manufacturing method thereof.SOLUTION: A laminate for an electronic circuit board includes a copper layer on at least one surface of a resin layer containing a styrene-based resin having a syndiotactic structure, and a plurality of protrusions on the surface of the copper layer in contact with the resin layer. The protrusions have the shape of particles when viewed from the normal direction of the surface of the copper layer in contact with the resin layer, the average aspect ratio of the particles is 1.3 to 5.0, and the average area of the particles is 0.005 to 0.025 μm2.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、電子回路基板用積層体に関する。 The present invention relates to a laminate for electronic circuit board.

シンジオタクチック構造を有するポリスチレン系樹脂(以下、SPSともいう。)は、機械的強度、耐熱性、電気特性、吸水寸法安定性、及び耐薬品性等の優れた性能を有する。そのため、SPSは、電気・電子機器材料、車載・電装部品、家電製品、各種機械部品、産業用資材等の様々な用途に使用される樹脂として非常に有用である。
更に、SPSはスチレンモノマーを重合して得られる炭化水素樹脂であり、誘電損失が少なく、絶縁性も有するため、前記用途の中でも電気・電子機器材料として使用することが検討されている。
Polystyrene resins having a syndiotactic structure (hereinafter also referred to as SPS) have excellent properties such as mechanical strength, heat resistance, electrical properties, water absorption dimensional stability, and chemical resistance. Therefore, SPS is very useful as a resin used in various applications such as electrical/electronic equipment materials, automotive/electrical parts, household appliances, various machine parts, and industrial materials.
Furthermore, SPS is a hydrocarbon resin obtained by polymerizing styrene monomer, and since it has low dielectric loss and insulating properties, it is being studied for use as a material for electrical and electronic equipment among the above applications.

SPSを用いた電子機器材料の例として、たとえば、特許文献1には耐電食特性と信頼性の向上、及び高密度実装への対応を目的として、SPS、極性基をもつ重合体、熱可塑性樹脂等、難燃性樹脂組成物、及びガラスクロスを積層し、少なくとも一方の面に金属層を積層してなるプリント配線用基板が開示されている。 As an example of electronic device materials using SPS, for example, Patent Document 1 describes SPS, a polymer having a polar group, and a thermoplastic resin for the purpose of improving electrolytic corrosion resistance and reliability and responding to high-density mounting. discloses a printed wiring board obtained by laminating a flame-retardant resin composition and a glass cloth, and laminating a metal layer on at least one surface.

特開平9-077937号公報JP-A-9-077937

近年、電子機器の高性能化に伴い、電子回路に用いられる配線の微細化が求められているが、配線を微細化することにより、基板と銅等の金属配線との接触面積が減少し、剥離しやすいという問題が生じる。そのため、微細な配線であっても剥離しにくい回路基板が求められている。
また、電子機器・情報端末の高性能化・高機能化と情報通信技術の進歩により、通信には高周波の信号が用いられるようになっている。そのため、高周波数の信号を用いた場合においても、伝送損失の少ない回路基板を製造することのできる材料が求められている。
そのため、配線の微細化という要求に応えつつ、金属配線と基板樹脂の接着性の向上と伝送損失の低減を両立する回路基板が求められていた。
したがって、本発明は、銅層が剥離しにくく、剥離強度に優れ、伝送損失が少ない電子回路基板用積層体、及びその製造方法を提供することを課題とする。
In recent years, as the performance of electronic devices has improved, miniaturization of wiring used in electronic circuits has been demanded. A problem arises that it is easy to peel off. Therefore, there is a demand for a circuit board in which even fine wiring is difficult to peel off.
In addition, high-frequency signals have come to be used for communication due to the advancement in performance and functionality of electronic devices and information terminals and the progress in information communication technology. Therefore, there is a demand for a material that can be used to manufacture a circuit board with little transmission loss even when a high-frequency signal is used.
Therefore, there has been a demand for a circuit board that achieves both improved adhesion between metal wiring and substrate resin and reduced transmission loss while meeting the demand for finer wiring.
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a laminate for an electronic circuit board in which the copper layer is less likely to peel, has excellent peel strength, and has less transmission loss, and a method for producing the same.

本発明者らは鋭意検討の結果、SPS層の少なくとも一面に、特定の突起を有する銅層を有する積層体が前記課題を解決することを見出した。すなわち、本発明は以下の[1]~[18]に関する。 As a result of extensive studies, the inventors of the present invention have found that a laminate having a copper layer having specific projections on at least one surface of an SPS layer solves the above problems. That is, the present invention relates to the following [1] to [18].

[1]シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂層の少なくとも一面に銅層を有し、銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である、電子回路基板用積層体。
[2]前記粒子が鋭角を持つ粒子を含む、上記[1]に記載の電子回路基板用積層体。
[3]前記銅層の樹脂層に接する面の平均粗さ(Ra)が0.10~0.50μmであり、前記銅層の樹脂層に接する面の最大高さ粗さ(Rz)が1.00~5.00μmである、上記[1]又は[2]に記載の電子回路基板用積層体。
[4]前記銅層の樹脂層に接する面のX線光電子分光法を用いた原子組成分析によるケイ素元素の含有量が7%以上である、上記[1]~[3]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。
[5]前記粒子が、ひし形又は略ひし形の粒子を含む、上記[1]~[4]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。
[6]前記樹脂層の両面に銅層を有する、上記[1]~[5]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。
[7]前記銅層を構成する銅箔が電解銅箔である、上記[1]~[6]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。
[8]前記樹脂層がスチレン系エラストマーを更に含む、上記[1]~[7]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。
[9]前記シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂の重量平均分子量が100,000~300,000である、上記[1]~[8]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。
[10]前記銅層の厚さが8~30μmである、上記[1]~[9]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。
[11]電子回路基板用積層体の厚さが10~3,000μmである、上記[1]~[10]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。
[12]上記[1]~[11]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体を用いた電子回路基板。
[13]シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂シートの少なくとも一面に、銅箔を、プレス温度が前記スチレン系樹脂の融点以下でプレスして一体化するプレス工程を有し、
銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である電子回路基板用積層体を得る、電子回路基板用積層体の製造方法。
[14]前記銅箔の少なくとも一面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅箔表面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である、上記[13]に記載の電子回路基板用積層体の製造方法。
[15]前記プレス工程におけるプレス圧力が、5MPa以上20Pa以下である、上記[13]又は[14]に記載の電子回路基板用積層体の製造方法。
[16]前記樹脂シートが無延伸シートである、上記[13]~[15]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体の製造方法。
[17]プレス工程の前に、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂とスチレン系エラストマーとを混練し、キャストして、樹脂シートを得る工程を有する、上記[13]~[16]のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体の製造方法。
[18]樹脂シートを得る工程において、前記のシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂とスチレン系エラストマーに更に核剤を混練する、上記[17]に記載の電子回路基板用積層体の製造方法。
[1] A resin layer containing a styrene-based resin having a syndiotactic structure has a copper layer on at least one surface thereof, and a surface of the copper layer in contact with the resin layer has a plurality of projections, and the projections are made of the copper. It has a particle shape when viewed from the normal direction of the surface of the layer in contact with the resin layer, the average aspect ratio of the particles is 1.3 to 5.0, and the average area of the particles is 0.005 to 0.005. A laminate for an electronic circuit board, which is 0.025 μm 2 .
[2] The laminate for an electronic circuit board according to [1] above, wherein the particles include particles having an acute angle.
[3] The surface of the copper layer in contact with the resin layer has an average roughness (Ra) of 0.10 to 0.50 μm, and the surface of the copper layer in contact with the resin layer has a maximum height roughness (Rz) of 1. The laminate for an electronic circuit board according to the above [1] or [2], which has a thickness of 0.00 to 5.00 μm.
[4] Any one of the above [1] to [3], wherein the surface of the copper layer in contact with the resin layer has a silicon element content of 7% or more as determined by atomic composition analysis using X-ray photoelectron spectroscopy. The laminate for an electronic circuit board according to 1.
[5] The laminate for an electronic circuit board according to any one of [1] to [4] above, wherein the particles include rhombic or approximately rhombic particles.
[6] The laminate for an electronic circuit board according to any one of [1] to [5] above, which has copper layers on both sides of the resin layer.
[7] The laminate for an electronic circuit board according to any one of [1] to [6] above, wherein the copper foil constituting the copper layer is an electrolytic copper foil.
[8] The laminate for an electronic circuit board according to any one of [1] to [7] above, wherein the resin layer further contains a styrene-based elastomer.
[9] The laminate for an electronic circuit board according to any one of [1] to [8] above, wherein the styrene resin having a syndiotactic structure has a weight average molecular weight of 100,000 to 300,000. .
[10] The laminate for an electronic circuit board according to any one of [1] to [9] above, wherein the copper layer has a thickness of 8 to 30 μm.
[11] The electronic circuit board laminate according to any one of the above [1] to [10], wherein the electronic circuit board laminate has a thickness of 10 to 3,000 μm.
[12] An electronic circuit board using the electronic circuit board laminate according to any one of [1] to [11] above.
[13] A pressing step of pressing and integrating a copper foil on at least one surface of a resin sheet containing a styrene resin having a syndiotactic structure at a pressing temperature equal to or lower than the melting point of the styrene resin;
A surface of the copper layer in contact with the resin layer has a plurality of protrusions, the protrusions having a particle shape when viewed from the normal direction of the surface of the copper layer in contact with the resin layer, A method for producing a laminate for an electronic circuit board, wherein the laminate for an electronic circuit board has an average aspect ratio of 1.3 to 5.0 and an average area of the particles of 0.005 to 0.025 μm 2 .
[14] At least one surface of the copper foil has a plurality of projections, the projections have a particle shape when viewed from the normal direction of the copper foil surface, and the average aspect ratio of the particles is 1.3 to 5.0, and the average area of the particles is 0.005 to 0.025 μm 2 .
[15] The method for manufacturing an electronic circuit board laminate according to the above [13] or [14], wherein the pressing pressure in the pressing step is 5 MPa or more and 20 Pa or less.
[16] The method for producing a laminate for an electronic circuit board according to any one of [13] to [15] above, wherein the resin sheet is a non-stretching sheet.
[17] Any one of the above [13] to [16], which has a step of kneading and casting a styrene resin having a syndiotactic structure and a styrene elastomer before the pressing step to obtain a resin sheet. 1. A method for producing a laminate for an electronic circuit board according to 1 above.
[18] The method for producing a laminate for an electronic circuit board according to [17] above, wherein in the step of obtaining the resin sheet, the styrene-based resin having a syndiotactic structure and the styrene-based elastomer are further kneaded with a nucleating agent.

本発明によれば、銅層が剥離しにくく、剥離強度に優れ、伝送損失が少ない電子回路基板用積層体、及びその製造方法を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the laminated body for electronic circuit boards which a copper layer is hard to peel, is excellent in peeling strength, and has little transmission loss, and its manufacturing method can be provided.

実施例1及び比較例1~4に用いた銅箔の樹脂シートに接する面(銅層の樹脂層に接する面)の表面の走査型電子顕微鏡写真(倍率:5千倍)である。1 is a scanning electron micrograph (magnification: 5,000 times) of the surface of the copper foil used in Example 1 and Comparative Examples 1 to 4 in contact with the resin sheet (the surface of the copper layer in contact with the resin layer). 実施例1に用いた銅箔の樹脂シートに接する面(銅層の樹脂層に接する面)の表面の走査型電子顕微鏡写真(倍率:5万倍)及びその写真を二値化した画像である。1 is a scanning electron microscope photograph (magnification: 50,000 times) of the surface of the copper foil used in Example 1 in contact with the resin sheet (the surface of the copper layer in contact with the resin layer) and a binarized image of the photograph. . 実施例1及び比較例1~4に用いた銅箔(銅層)の断面の走査型電子顕微鏡写真(倍率:5千倍)である。1 is a scanning electron micrograph (magnification: 5,000 times) of a cross section of a copper foil (copper layer) used in Example 1 and Comparative Examples 1 to 4. FIG. 実施例1、比較例1及び比較例2に用いた銅箔(銅層)の断面の走査型電子顕微鏡写真(倍率:3万倍)である。1 is scanning electron micrographs (magnification: 30,000 times) of cross sections of copper foils (copper layers) used in Example 1, Comparative Example 1, and Comparative Example 2. FIG.

本発明の電子回路基板用積層体は、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂層の少なくとも一面に銅層を有し、銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である。
以下、各項目について詳細に説明する。
The laminate for an electronic circuit board of the present invention has a copper layer on at least one surface of a resin layer containing a styrene-based resin having a syndiotactic structure, and has a plurality of protrusions on the surface of the copper layer in contact with the resin layer. and the protrusion has a particle shape when viewed from the normal direction of the surface of the copper layer in contact with the resin layer, the average aspect ratio of the particle is 1.3 to 5.0, and the particle has an average area of 0.005 to 0.025 μm 2 .
Each item will be described in detail below.

[電子回路基板用積層体]
本発明の電子回路基板用積層体は、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂層の少なくとも一面に銅層を有し、銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である。
[Laminate for electronic circuit board]
The laminate for an electronic circuit board of the present invention has a copper layer on at least one surface of a resin layer containing a styrene-based resin having a syndiotactic structure, and has a plurality of protrusions on the surface of the copper layer in contact with the resin layer. and the protrusion has a particle shape when viewed from the normal direction of the surface of the copper layer in contact with the resin layer, the average aspect ratio of the particle is 1.3 to 5.0, and the particle has an average area of 0.005 to 0.025 μm 2 .

<樹脂層>
本発明の電子回路基板用積層体における樹脂層は、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む。
樹脂層中のシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂の含有量は、好ましくは30質量%以上であり、より好ましくは50質量%以上であり、更に好ましくは70質量%以上であり、より更に好ましくは80質量%以上であり、また、好ましくは95質量%以下であり、より好ましくは90質量%以下であり、更に好ましくは85質量%以下である。樹脂層中のシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂の含有量が前記の範囲であれば、高周波特性と靱性が共に優れた積層体となる。
樹脂層は、無延伸シートでも延伸シートであってもよい。無延伸シートを用いる場合、プレス温度が樹脂シートの融点以下であっても銅箔が密着しやすく、優れた剥離強度が得られる。一方で、樹脂層中のシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂の含有量が95質量%を超える場合、樹脂層には延伸したシートを用いることができる。この場合、特に高周波特性に優れた積層体となる。
また、樹脂層の厚さは、好ましくは60~192μmであり、より好ましくは69~161μmであり、更に好ましくは80~140μmである。樹脂層の厚さが前記の範囲であれば、絶縁性と靱性に優れ、かつ回路の高密度化も可能となる。樹脂層は複数の層からなっていてもよく、その場合は各層の合計の厚さが前記の範囲であることが好ましい。
<Resin layer>
The resin layer in the laminate for an electronic circuit board of the present invention contains a styrene-based resin having a syndiotactic structure.
The content of the styrene-based resin having a syndiotactic structure in the resin layer is preferably 30% by mass or more, more preferably 50% by mass or more, still more preferably 70% by mass or more, and even more preferably. is 80% by mass or more, preferably 95% by mass or less, more preferably 90% by mass or less, and still more preferably 85% by mass or less. If the content of the styrene-based resin having a syndiotactic structure in the resin layer is within the above range, the laminate will be excellent in both high-frequency characteristics and toughness.
The resin layer may be a non-stretched sheet or a stretched sheet. When a non-stretching sheet is used, even if the pressing temperature is lower than the melting point of the resin sheet, the copper foil is easily adhered to the resin sheet, resulting in excellent peel strength. On the other hand, when the content of the styrene-based resin having a syndiotactic structure in the resin layer exceeds 95% by mass, a stretched sheet can be used for the resin layer. In this case, the laminated body is particularly excellent in high frequency characteristics.
Also, the thickness of the resin layer is preferably 60 to 192 μm, more preferably 69 to 161 μm, still more preferably 80 to 140 μm. If the thickness of the resin layer is within the above range, the insulating properties and toughness are excellent, and high-density circuits can be achieved. The resin layer may consist of a plurality of layers, in which case the total thickness of each layer is preferably within the above range.

(シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂)
樹脂層を構成するシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂(以下、単にスチレン系樹脂ともいう)は、ラセミダイアッド(r)で75モル%以上、好ましくは85モル%以上、ラセミペンタッド(rrrr)で30モル%以上、好ましくは50モル%以上のシンジオタクティシティを有する。
タクティシティは、隣り合うスチレン単位におけるフェニル環が、重合体ブロックの主鎖によって形成される平面に対して交互に配置されている割合のことを意味する。シンジオタクティシティは、核磁気共鳴法(13C-NMR法)により定量できる。ダイアッドは連続した2つのモノマーユニット、ペンタッドは5つのモノマーユニットでのシンジオタクティシティを示す。
(Styrene-based resin having a syndiotactic structure)
The styrene resin having a syndiotactic structure (hereinafter also simply referred to as a styrene resin) constituting the resin layer contains 75 mol % or more, preferably 85 mol % or more of racemic diad (r), racemic pentad (rrrr ) has a syndiotacticity of 30 mol % or more, preferably 50 mol % or more.
Tacticity refers to the proportion of phenyl rings in adjacent styrene units that alternate with respect to the plane formed by the backbone of the polymer block. Syndiotacticity can be quantified by a nuclear magnetic resonance method ( 13 C-NMR method). A diad indicates syndiotacticity with two consecutive monomer units and a pentad with five monomer units.

スチレン系樹脂としては、ポリスチレン、又はスチレンを主成分とする共重合体等が挙げられ、ポリスチレン(スチレンホモポリマー)が好ましい。
スチレン系樹脂にスチレンを主成分とする共重合体を用いる場合、スチレン成分は90モル%以上が好ましく、95モル%以上がより好ましく、99モル%以上が更に好ましい。
Examples of styrene-based resins include polystyrene and copolymers containing styrene as a main component, and polystyrene (styrene homopolymer) is preferred.
When a copolymer containing styrene as a main component is used as the styrene resin, the styrene content is preferably 90 mol% or more, more preferably 95 mol% or more, and even more preferably 99 mol% or more.

スチレン系樹脂の重量平均分子量は、100,000~300,000が好ましく、150,000~250,000がより好ましく、150,000~200,000が更に好ましい。重量平均分子量は、単分散ポリスチレンを標準物質としたゲル浸透クロマトグラフィーで求められる。具体的には、実施例に記載した測定方法によって求められる。
スチレン系樹脂の軟化点は、260℃より大きいことが好ましく、261℃以上がより好ましく、262℃以上が更に好ましく、263~267℃がより更に好ましい。軟化点はJIS K7206:2016に準拠して測定することができ、具体的には実施例に示す方法で測定することができる。
スチレン系樹脂の融点は、265℃以上が好ましく、267℃以上がより好ましく、269℃以上がさらにより好ましい。また、275℃以下が好ましく、273℃以下がより好ましい。スチレン系樹脂の融点は、示差走査熱量測定(DSC測定)装置によりJIS K 7121:1987の「一定の熱処理を行った後、融解温度を測定する場合」に記載される方法に準じて、昇温速度20℃/分の条件にて得られる融解ピーク温度から、樹脂の融点を求めることができる。
The weight average molecular weight of the styrene-based resin is preferably 100,000 to 300,000, more preferably 150,000 to 250,000, even more preferably 150,000 to 200,000. The weight average molecular weight is determined by gel permeation chromatography using monodisperse polystyrene as a standard. Specifically, it is obtained by the measuring method described in the Examples.
The softening point of the styrene resin is preferably higher than 260.degree. C., more preferably 261.degree. C. or higher, still more preferably 262.degree. A softening point can be measured based on JISK7206:2016, and can be specifically measured by the method shown in an Example.
The melting point of the styrene-based resin is preferably 265°C or higher, more preferably 267°C or higher, and even more preferably 269°C or higher. Moreover, 275 degrees C or less is preferable and 273 degrees C or less is more preferable. The melting point of the styrenic resin is measured by a differential scanning calorimeter (DSC measurement) according to the method described in JIS K 7121:1987 "Measuring the melting temperature after a certain heat treatment". The melting point of the resin can be obtained from the melting peak temperature obtained under the conditions of a rate of 20°C/min.

(スチレン系エラストマー)
本発明の電子回路基板用積層体における樹脂層は、スチレン系エラストマーを含んでもよく、特に優れた靱性が得られる観点から、好ましくはスチレン系エラストマーを含む。
樹脂層中のスチレン系エラストマーの含有量は、好ましくは5質量%以上であり、より好ましくは10質量%以上であり、更に好ましくは15質量%以上であり、また、好ましくは50質量%以下であり、より好ましくは30質量%以下である。前記の範囲であれば、靱性に優れ、かつ伝送損失の少ない積層体を得ることができる。
(Styrene-based elastomer)
The resin layer in the laminate for an electronic circuit board of the present invention may contain a styrene-based elastomer, and preferably contains a styrene-based elastomer from the viewpoint of obtaining particularly excellent toughness.
The content of the styrene-based elastomer in the resin layer is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, still more preferably 15% by mass or more, and preferably 50% by mass or less. Yes, more preferably 30% by mass or less. Within the above range, a laminate having excellent toughness and low transmission loss can be obtained.

スチレン系エラストマーの具体例としては、スチレンイソプレンスチレンブロック共重合体(SIS)、スチレンブタジエンスチレンブロック共重合体(SBS)、スチレンエチレンプロピレンブロック共重合体(SEP)、スチレンエチレンブチレンスチレンブロック共重合体(SEBS)、スチレンエチレンプロピレンスチレンブロック共重合体(SEPS)、及びスチレンエチレンエチレンプロピレンスチレンブロック共重合体(SEEPS)からなる群より選ばれる少なくとも1つが好ましく、これらのスチレン系エラストマーは一種のみを単独で又は二種以上を組み合わせて用いることができる。
これらスチレン系エラストマーの中では、スチレンエチレンブチレンスチレンブロック共重合体(SEBS)が好ましく、未変性のスチレンエチレンブチレンスチレンブロック共重合体(SEBS)がより好ましい。未変性SEBSを用いることで、得られる積層体に絶縁性を維持しつつ、靭性を付与することができる。
スチレン系エラストマーのMFRは温度230℃、荷重2.16kgfの測定条件下において、0.0(No Flow)~10g/10minであることが好ましい。
スチレン系エラストマーの重量平均分子量は、好ましくは150,000~250,000である。
Specific examples of styrene elastomers include styrene isoprene styrene block copolymer (SIS), styrene butadiene styrene block copolymer (SBS), styrene ethylene propylene block copolymer (SEP), and styrene ethylene butylene styrene block copolymer. (SEBS), styrene ethylene propylene styrene block copolymer (SEPS), and styrene ethylene propylene styrene block copolymer (SEEPS). or in combination of two or more.
Among these styrene-based elastomers, styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymers (SEBS) are preferred, and unmodified styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymers (SEBS) are more preferred. By using unmodified SEBS, it is possible to impart toughness to the obtained laminate while maintaining insulation.
The MFR of the styrene-based elastomer is preferably 0.0 (No Flow) to 10 g/10 min under measurement conditions of a temperature of 230° C. and a load of 2.16 kgf.
The weight average molecular weight of the styrene elastomer is preferably 150,000 to 250,000.

(他の添加剤等)
本発明の電子回路基板用積層体における樹脂層は、各種添加剤を含んでいてもよい。
樹脂層に好ましく用いられる添加剤としては、核剤、酸化防止剤、ガラスクロス、充填剤、難燃剤、可塑剤、帯電防止剤、着色剤等が挙げられる。
(other additives, etc.)
The resin layer in the laminate for an electronic circuit board of the present invention may contain various additives.
Additives preferably used in the resin layer include nucleating agents, antioxidants, glass cloth, fillers, flame retardants, plasticizers, antistatic agents, colorants and the like.

核剤としては、有機核剤、及び無機核剤が使用できるが、好ましくは有機核剤である。
有機核剤としては、例えばジ-p-tert-ブチル安息香酸の金属塩、p-tert-ブチル安息香酸の金属塩、シクロヘキサンカルボン酸のナトリウム塩、β-ナフトエ酸のナトリウム塩などのカルボン酸の金属塩、リン酸2,2’-メチレンビス(4,6-ジ-t-ブチルフェニル)金属塩などの有機リン化合物などが挙げられ、好ましくは有機リン化合物であり、より好ましくはリン酸2,2’-メチレンビス(4,6-ジ-t-ブチルフェニル)金属塩である。
核剤の含有量としては、樹脂層中、好ましくは0.1~1質量%である。
As the nucleating agent, an organic nucleating agent and an inorganic nucleating agent can be used, but the organic nucleating agent is preferred.
Examples of organic nucleating agents include carboxylic acid salts such as metal salts of di-p-tert-butylbenzoic acid, metal salts of p-tert-butylbenzoic acid, sodium salts of cyclohexanecarboxylic acid, and sodium salts of β-naphthoic acid. Metal salts, organic phosphorus compounds such as 2,2′-methylenebis(4,6-di-t-butylphenyl) phosphate metal salts, and the like, preferably organic phosphorus compounds, more preferably phosphoric acid 2, 2'-methylenebis(4,6-di-t-butylphenyl) metal salt.
The content of the nucleating agent is preferably 0.1 to 1% by mass in the resin layer.

酸化防止剤としては、ペンタエリスリチル-テトラキス〔3-(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネート〕、n-オクタデシル-3-(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネート等のヒンダードフェノール系酸化防止剤、(2,6-ジ-t-ブチル-4-メチルフェニル)ペンタエリスリトールジホスファイト等のリン系酸化防止剤が挙げられ、好ましくはヒンダードフェノール系酸化防止剤である。
酸化防止剤の含有量としては、樹脂層中、好ましくは0.01~0.5質量%である。
Antioxidants include pentaerythrityl-tetrakis [3-(3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl)propionate], n-octadecyl-3-(3,5-di-t-butyl- 4-hydroxyphenyl)propionate and other hindered phenol antioxidants, (2,6-di-t-butyl-4-methylphenyl)pentaerythritol diphosphite and other phosphorus antioxidants, preferably It is a hindered phenolic antioxidant.
The content of the antioxidant is preferably 0.01 to 0.5% by mass in the resin layer.

ガラスクロスとしては、織り方が、平織、綾織、目抜平織等のガラスクロスが挙げられ、好ましくは平織のガラスクロスである。
ガラスクロスは、カップリング剤で表面処理した、表面処理ガラスクロスが好ましい。表面処理に用いられるカップリング剤としては、シラン系カップリング剤、チタン系カップリング剤を用いることができる。
Examples of the glass cloth include glass cloth with a weaving method such as plain weave, twill weave, and open plain weave, preferably plain weave glass cloth.
The glass cloth is preferably a surface-treated glass cloth surface-treated with a coupling agent. A silane-based coupling agent and a titanium-based coupling agent can be used as the coupling agent used for the surface treatment.

<銅層>
本発明の電子回路基板用積層体は、前記樹脂層の少なくとも一面に銅層を有し、銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である。
<Copper layer>
The laminate for an electronic circuit board of the present invention has a copper layer on at least one surface of the resin layer, and has a plurality of protrusions on the surface of the copper layer in contact with the resin layer, and the protrusions are formed on the copper layer. It has a particle shape when viewed from the normal direction of the surface in contact with the resin layer, the average aspect ratio of the particles is 1.3 to 5.0, and the average area of the particles is 0.005 to 0.05. 025 μm 2 .

前記のとおり、本発明の電子回路基板用積層体は、樹脂層の少なくとも一面に銅層を有しているが、樹脂層の両面に銅層を有することが好ましい。両面に銅層を有することで、回路の複雑化、高密度化が可能となる。
すなわち、本発明の電子回路基板用積層体は、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂層の少なくとも片面に銅層が積層されており、好ましくはシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂層の両面に銅層が積層され、樹脂層の両面に銅層が積層される場合、銅層、樹脂層、銅層の順に積層される。
As described above, the laminate for an electronic circuit board of the present invention has a copper layer on at least one side of the resin layer, and preferably has a copper layer on both sides of the resin layer. Having copper layers on both sides allows for more complex circuits and higher densities.
That is, in the laminate for an electronic circuit board of the present invention, a copper layer is laminated on at least one side of a resin layer containing a styrene resin having a syndiotactic structure, preferably a styrene resin having a syndiotactic structure. A copper layer is laminated|stacked on both surfaces of the resin layer to contain, and when a copper layer is laminated|stacked on both surfaces of a resin layer, it laminates|stacks in order of a copper layer, a resin layer, and a copper layer.

本発明の電子回路基板用積層体が有する銅層は、剥離強度と伝送損失低減を両立させる観点から、銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有するが、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに、前記銅層の樹脂層に接する面の表面のうち、前記複数の突起が占める面積が、好ましくは50%以上であり、より好ましくは70%以上であり、更に好ましくは90%以上であり、より更に好ましくは95%以上である。100%であってもよく、前記銅層の樹脂層に接する面の表面が全て突起で覆われていてもよい。 The copper layer of the laminate for an electronic circuit board of the present invention has a plurality of protrusions on the surface of the copper layer in contact with the resin layer from the viewpoint of achieving both peel strength and transmission loss reduction. The area occupied by the plurality of protrusions is preferably 50% or more, more preferably 70%, of the surface of the copper layer in contact with the resin layer when viewed from the normal direction of the surface in contact with the layer. or more, more preferably 90% or more, and even more preferably 95% or more. It may be 100%, or the surface of the copper layer in contact with the resin layer may be entirely covered with protrusions.

前記複数の突起は、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有しており、前記粒子は、好ましくは鋭角を持つ粒子を含み、より好ましくはひし形又は略ひし形の粒子を含む。
前記銅層の樹脂層に接する面の表面のうち、鋭角を持つ粒子の形状を有する突起が占める面積が、好ましくは50%以上であり、より好ましくは70%以上であり、更に好ましくは90%以上であり、より更に好ましくは95%以上である。100%であってもよく、前記銅層の樹脂層に接する面の表面が鋭角を持つ粒子の形状を有する突起で全て覆われていてもよい。
前記銅層の樹脂層に接する面の表面のうち、ひし形又は略ひし形の粒子の形状を有する突起が占める面積が、好ましくは50%以上であり、より好ましくは70%以上であり、更に好ましくは90%以上であり、より更に好ましくは95%以上である。100%であってもよく、前記銅層の樹脂層に接する面の表面がひし形又は略ひし形の粒子の形状を有する突起で全て覆われていてもよい。
The plurality of protrusions have a particle shape when viewed from the normal direction of the surface of the copper layer in contact with the resin layer, and the particles preferably include particles having an acute angle, more preferably rhombic. Or it contains approximately diamond-shaped particles.
Of the surface of the surface of the copper layer in contact with the resin layer, the area occupied by protrusions having the shape of particles with acute angles is preferably 50% or more, more preferably 70% or more, and still more preferably 90%. or more, and more preferably 95% or more. It may be 100%, and the surface of the surface of the copper layer in contact with the resin layer may be entirely covered with projections having the shape of particles with acute angles.
Of the surface of the surface of the copper layer in contact with the resin layer, the area occupied by protrusions having the shape of rhombic or approximately rhombic particles is preferably 50% or more, more preferably 70% or more, and even more preferably. It is 90% or more, and more preferably 95% or more. It may be 100%, and the surface of the surface of the copper layer in contact with the resin layer may be entirely covered with projections having the shape of rhombus or approximately rhombus particles.

前記粒子の平均アスペクト比は、1.3~5.0であるが、好ましくは1.5~4.0であり、より好ましくは2.0~3.5であり、更に好ましくは2.5~3.0である。
前記粒子の平均面積は、0.005~0.025μm2であるが、好ましくは0.005~0.020μm2であり、より好ましくは0.010~0.020μm2であり、更に好ましくは0.010~0.015μm2である。
前記粒子形状、すなわち前記銅層の樹脂層に接する面の表面における突起の形状は、電子顕微鏡を用いて拡大し撮影して得られた前記表面の画像で観察することができる。
また、前記画像において、最表面に観測される粒子のうち面積が上位となる30個の面積とアスペクト比を測定し、それらを平均した値をそれぞれ粒子の平均アスペクト比と粒子の平均面積とした。
なお、前記アスペクト比は、各粒子の面積と同一の面積を有する楕円に近似し、長軸及び短軸の長さを求めた。
具体的な測定方法及び算出方法の例は実施例に示す。
The average aspect ratio of the particles is 1.3 to 5.0, preferably 1.5 to 4.0, more preferably 2.0 to 3.5, still more preferably 2.5. ~3.0.
The average area of the particles is 0.005-0.025 μm 2 , preferably 0.005-0.020 μm 2 , more preferably 0.010-0.020 μm 2 , still more preferably 0 0.010 to 0.015 μm 2 .
The shape of the particles, that is, the shape of the protrusions on the surface of the copper layer in contact with the resin layer can be observed in an image of the surface obtained by magnifying and photographing using an electron microscope.
In the image, the areas and aspect ratios of 30 particles having the highest area among the particles observed on the outermost surface were measured, and the averaged values thereof were taken as the average aspect ratio of the particles and the average area of the particles, respectively. .
The aspect ratio was obtained by approximating an ellipse having the same area as the area of each particle, and determining the lengths of the major and minor axes.
Examples of specific measurement methods and calculation methods are shown in Examples.

また、前記粒子の平均短軸長さは、好ましくは0.05~0.12μmであり、より好ましくは0.05~0.010μmである。
粒子の平均短軸長さは、前記のアスペクト比の算出に用いた近似楕円の短軸の長さ、30個を平均した長さである。
Also, the average minor axis length of the particles is preferably 0.05 to 0.12 μm, more preferably 0.05 to 0.010 μm.
The average minor axis length of the particles is the average length of 30 minor axis lengths of the approximate ellipse used to calculate the aspect ratio.

前記突起の側面から見た形状は、好ましくは樹状形状である。
なお、突起の側面から見た形状は、前記銅層を厚さ方向に切断した切断面を写真撮影し、得られた画像から観察することができる。
前記突起を側面から見た樹状形状の幅は、好ましくは0.05~0.12μmであり、また、前記突起の高さは、好ましくは0.05~0.30μmである。
なお、突起の高さは、前記銅層を厚さ方向に切断した切断面を写真撮影し、得られた画像から測定することができる。
The shape of the protrusions viewed from the side is preferably a dendritic shape.
The shape of the projection viewed from the side can be observed from the image obtained by photographing the cut surface of the copper layer cut in the thickness direction.
The width of the dendritic shape when the projections are viewed from the side is preferably 0.05 to 0.12 μm, and the height of the projections is preferably 0.05 to 0.30 μm.
The height of the projection can be measured from the image obtained by photographing the cut surface of the copper layer cut in the thickness direction.

銅層の樹脂層に接する面の平均粗さ(Ra)は、好ましくは0.10μm以上であり、より好ましくは0.13μm以上であり、また、好ましくは0.50μm以下であり、より好ましくは0.40μm以下であり、更に好ましくは0.30μm以下であり、より更に好ましくは0.20μm以下である。
また、本発明の電子回路基板用積層体が有する銅層は、剥離強度と伝送損失低減を両立させる観点から、銅層の樹脂層に接する面の最大高さ粗さ(Rz)は、好ましくは1.00μm以上であり、より好ましくは1.50μm以上であり、更に好ましくは2.00μm以上であり、また、好ましくは5.00μm以下であり、より好ましくは4.00μm以下であり、更に好ましくは3.00μm以下である。
前記平均粗さ(Ra)及び前記最大高さ粗さ(Rz)は、具体的には実施例の方法によって測定することができる。
The average roughness (Ra) of the surface of the copper layer in contact with the resin layer is preferably 0.10 μm or more, more preferably 0.13 μm or more, and preferably 0.50 μm or less, more preferably It is 0.40 μm or less, more preferably 0.30 μm or less, and even more preferably 0.20 μm or less.
In addition, from the viewpoint of achieving both peel strength and transmission loss reduction, the copper layer of the laminate for an electronic circuit board of the present invention has a maximum height roughness (Rz) of the surface of the copper layer in contact with the resin layer. 1.00 μm or more, more preferably 1.50 μm or more, still more preferably 2.00 μm or more, preferably 5.00 μm or less, more preferably 4.00 μm or less, still more preferably is 3.00 μm or less.
Specifically, the average roughness (Ra) and the maximum height roughness (Rz) can be measured by the methods of Examples.

銅層の厚さは、高密度実装化、信頼性及び伝送損失の観点から、好ましくは8~30μmであり、より好ましくは9~25μmであり、更に好ましくは10~20μmである。 The thickness of the copper layer is preferably 8 to 30 μm, more preferably 9 to 25 μm, still more preferably 10 to 20 μm, from the viewpoints of high density mounting, reliability and transmission loss.

銅層は、銅箔から構成され、銅層を構成する銅箔は、好ましくは圧延銅箔及び電解銅箔からなる群より選ばれる少なくとも1つであり、剥離強度と伝送損失低減の観点から、より好ましくは電解銅箔である。
銅箔の表面は、前記のように特定の粒子形状の複数の突起を有していればよいが、表面の突起をこの形状に調整するために、粗化処理を行ってもよい。粗化処理方法としては、めっきによる粗化粒子の形成等が挙げられる。
更に銅箔は、耐熱処理、防錆処理、化学処理等の表面処理を施している表面処理銅箔であってもよい。
耐熱処理及び防錆処理としては、それぞれ耐熱性、防錆性を有する金属を用いてめっき加工する方法が挙げられる。
化学処理としては、樹脂層との密着性を高めるために、銅箔表面と反応する反応性基と樹脂層表面と反応する反応性基の両方を有する化合物での処理が挙げられる。このような化合物としてはシランカップリング剤等が挙げられる。前記樹脂層表面と反応する反応性基としては、エポキシ基、アミノ基、ビニル基、アクリル基、イソシアネート基、メルカプト基等が挙げられる。
The copper layer is composed of copper foil, and the copper foil that constitutes the copper layer is preferably at least one selected from the group consisting of rolled copper foil and electrolytic copper foil, and from the viewpoint of peel strength and transmission loss reduction, Electrolytic copper foil is more preferable.
The surface of the copper foil may have a plurality of projections of a specific particle shape as described above, and roughening treatment may be performed to adjust the projections on the surface to this shape. Examples of the roughening treatment method include formation of roughened particles by plating.
Furthermore, the copper foil may be a surface-treated copper foil that has been subjected to surface treatments such as heat-resistant treatment, antirust treatment, and chemical treatment.
Examples of the heat-resistant treatment and rust-proof treatment include a method of plating using metals having heat resistance and rust-proof properties, respectively.
Examples of the chemical treatment include treatment with a compound having both a reactive group that reacts with the copper foil surface and a reactive group that reacts with the resin layer surface, in order to enhance adhesion with the resin layer. Examples of such compounds include silane coupling agents. Examples of reactive groups that react with the resin layer surface include epoxy groups, amino groups, vinyl groups, acryl groups, isocyanate groups, mercapto groups, and the like.

前記銅層の樹脂層に接する面のX線光電子分光法を用いた原子組成分析によるケイ素元素の含有量は、好ましくは7%以上であり、より好ましくは8%以上であり、更に好ましくは9%以上であり、より更に好ましくは10%以上である。また、上限には制限はないが、好ましくは20%以下であり、より好ましくは15%以下であり、更に好ましくは12%以下である。ケイ素の含有量が前記の範囲であれば、樹脂層と銅層の接着性が優れ、剥離強度に優れる電子回路基板を得ることができる。
前記ケイ素元素の含有量は、具体的には実施例の方法によって測定することができる。
The silicon element content of the surface of the copper layer in contact with the resin layer determined by atomic composition analysis using X-ray photoelectron spectroscopy is preferably 7% or more, more preferably 8% or more, and still more preferably 9%. % or more, and more preferably 10% or more. Although there is no upper limit, it is preferably 20% or less, more preferably 15% or less, and still more preferably 12% or less. When the content of silicon is within the above range, an electronic circuit board having excellent adhesiveness between the resin layer and the copper layer and excellent peel strength can be obtained.
The content of the silicon element can be specifically measured by the method described in Examples.

<電子回路基板用積層体の特性等>
本発明の電子回路基板用積層体の厚さは、好ましくは10~3,000μmであり、用途によって適切な厚さに調節することが好ましい。
たとえば、本発明の電子回路基板用積層体をリジットの電子回路用基板として用いる場合、電子回路基板用積層体の厚さは、好ましくは50~3,000μmであり、より好ましくは100~2,000μmであり、更に好ましくは400~1,600μmである。また、本発明の電子回路基板用積層体をフレキシブルの電子回路用基板として用いる場合、電子回路基板用積層体の厚さは、好ましくは150μm以下であり、より好ましくは130μm以下であり、更に好ましくは125μm以下であり、また、好ましくは10μm以上、より好ましくは50μm以上、さらに好ましくは100μm以上である。前記の範囲であれば、強度に優れ、伝送損失が少なく、得られる電子回路基板及び製品の小型化も可能となる
<Characteristics, etc. of laminate for electronic circuit board>
The thickness of the electronic circuit board laminate of the present invention is preferably 10 to 3,000 μm, and is preferably adjusted to an appropriate thickness depending on the application.
For example, when the electronic circuit board laminate of the present invention is used as a rigid electronic circuit board, the thickness of the electronic circuit board laminate is preferably 50 to 3,000 μm, more preferably 100 to 2,000 μm. 000 μm, more preferably 400 to 1,600 μm. When the laminate for an electronic circuit board of the present invention is used as a flexible substrate for an electronic circuit, the thickness of the laminate for an electronic circuit board is preferably 150 µm or less, more preferably 130 µm or less, and even more preferably. is 125 μm or less, preferably 10 μm or more, more preferably 50 μm or more, and still more preferably 100 μm or more. Within the above range, the strength is excellent, the transmission loss is small, and the resulting electronic circuit board and product can be miniaturized.

本発明の電子回路基板用積層体は、銅層が剥離しにくく、剥離強度に優れ、伝送損失が少ないため、特に高周波回路基板や高周波アンテナ回路基板等に利用することが好ましい。 The laminate for an electronic circuit board of the present invention is preferably used for a high-frequency circuit board, a high-frequency antenna circuit board, etc., because the copper layer is difficult to peel off, the peel strength is excellent, and the transmission loss is small.

[電子回路基板用積層体の製造方法]
本発明の電子回路基板用積層体の製造方法は、上述の電子回路基板用積層体、すなわち、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂層の少なくとも一面に銅層を有し、銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である電子回路基板用積層体が得られる方法であれば、制限はないが、次のプレス工程を有する方法であることが好ましい。
具体的には、本発明の好適な電子回路基板用積層体の製造方法は、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂シートの少なくとも一面に、銅箔を、プレス温度が前記スチレン系樹脂の融点以下でプレスして一体化するプレス工程を有し、銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である電子回路基板用積層体を得る方法である。
[Method for producing laminate for electronic circuit board]
The method for producing a laminate for an electronic circuit board of the present invention comprises a copper layer on at least one surface of the laminate for an electronic circuit board, that is, a resin layer containing a styrene-based resin having a syndiotactic structure, and a copper layer has a plurality of projections on the surface of the surface in contact with the resin layer of the copper layer, the projections have a particle shape when viewed from the normal direction of the surface of the copper layer in contact with the resin layer, and the average aspect of the particles The ratio is 1.3 to 5.0, and the average area of the particles is 0.005 to 0.025 μm 2 . A method having steps is preferred.
Specifically, in the preferred method for producing a laminate for an electronic circuit board according to the present invention, a resin sheet containing a styrene resin having a syndiotactic structure is coated with a copper foil on at least one surface thereof, and the pressing temperature is set to the above styrene resin. The copper layer has a plurality of protrusions on the surface of the copper layer in contact with the resin layer, and the protrusions are normal to the surface of the copper layer in contact with the resin layer. For an electronic circuit board having a particle shape when viewed from a direction, the average aspect ratio of the particles being 1.3 to 5.0, and the average area of the particles being 0.005 to 0.025 μm 2 . It is a method of obtaining a laminate.

上記の電子回路基板用積層体の製造方法において、プレス工程に用いられる樹脂シートを得る工程を有することが好ましく、樹脂シートを得る工程は、プレス工程の前に、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂とスチレン系エラストマーとを混練し、キャストする工程であることが好ましい。
以下に各工程について説明する。
In the above-described method for producing a laminate for an electronic circuit board, it is preferable to have a step of obtaining a resin sheet to be used in the pressing step. The step of kneading and casting the resin and the styrene-based elastomer is preferred.
Each step will be described below.

(樹脂シートを得る工程)
本発明の電子回路基板用積層体の製造方法は、プレス工程の前に、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂とスチレン系エラストマーとを混練し、キャストして、樹脂シートを得る工程を有することが好ましい。
本発明の電子回路基板用積層体の製造方法に用いられる樹脂シートは、好ましくは無延伸シートである。無延伸シートを用いる場合、プレス温度が樹脂シートの融点以下であっても銅箔が密着しやすく、優れた剥離強度が得られる。
以下に具体的な樹脂シートを得る工程について説明する。
(Step of obtaining resin sheet)
The method for producing a laminate for an electronic circuit board according to the present invention comprises a step of kneading and casting a styrene resin having a syndiotactic structure and a styrene elastomer to obtain a resin sheet before the pressing step. is preferred.
The resin sheet used in the method for producing a laminate for an electronic circuit board of the present invention is preferably a non-stretching sheet. When a non-stretching sheet is used, even if the pressing temperature is lower than the melting point of the resin sheet, the copper foil is easily adhered to the resin sheet, resulting in excellent peel strength.
A specific process for obtaining a resin sheet will be described below.

本工程で用いられるシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂、及びスチレン系エラストマーは、好ましくはペレット状である。
本工程で用いられるシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂、及びスチレン系エラストマーは、それぞれ、好ましくは、上述の<樹脂層>の項で説明したシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂、及びスチレン系エラストマーであり、好ましいスチレン系樹脂及びスチレン系エラストマーも同様である。
本工程において、好ましくは、前記のシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂とスチレン系エラストマーに更に核剤を混練する。
また、好ましくは、酸化防止剤も混練する。
ここで用いられるシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂、及びスチレン系エラストマーの配合量は、好ましくは、上述の<樹脂層>の項で説明した樹脂層中の含有量である。
核剤の配合量は、得られる樹脂シート中、好ましくは0.1~1質量%である。
酸化防止剤の配合量は、得られる樹脂シート中、好ましくは0.05~0.5質量%である。
混練は、好ましくは二軸押出機で行い、得られた混練混合物をペレット化し、次のシート作製に供する。
The styrene-based resin having a syndiotactic structure and the styrene-based elastomer used in this step are preferably in the form of pellets.
The styrene-based resin having a syndiotactic structure and the styrene-based elastomer used in this step are preferably the styrene-based resin having a syndiotactic structure and the styrene-based elastomer described in the section <Resin layer> above, respectively. Elastomers, and preferred styrenic resins and styrenic elastomers are the same.
In this step, preferably, the styrene-based resin having a syndiotactic structure and the styrene-based elastomer are further kneaded with a nucleating agent.
Also preferably, an antioxidant is kneaded.
The amount of the styrene-based resin having a syndiotactic structure and the styrene-based elastomer used here is preferably the content in the resin layer described in the section <Resin Layer> above.
The content of the nucleating agent is preferably 0.1 to 1% by mass in the resulting resin sheet.
The blending amount of the antioxidant is preferably 0.05 to 0.5% by mass in the resulting resin sheet.
Kneading is preferably carried out with a twin-screw extruder, and the resulting kneaded mixture is pelletized and used for the next sheet production.

ペレット化した混練混合物を、好ましくは単軸押出機又は二軸押出機に導入し、Tダイスより溶融押出し、キャストロールにて冷却固化して樹脂シートを得る。
前記ペレット化した混練混合物は、予め乾燥することが好ましい。乾燥は、好ましくは60~150℃の環境下、10分間~3時間放置することによって行う。
次に押出機に混練混合物を導入するが、前記の乾燥ができない場合や乾燥が不十分である場合、真空ベント付き押出機を使用することが好ましい。
樹脂の流れ方向の厚さに変動が生じることを抑制し、厚さの均一な樹脂シートを得るために、押出機の後にギヤポンプを設置することが好ましい。
更に異物混入を避けるため、ギヤポンプの後にポリマーフィルターを設けることがより好ましい。
ポリマーフィルターとしては、リーフディスクタイプ、キャンドルタイプが挙げられる。
ポリマーフィルターの濾過材としては、焼結金属タイプが好ましい。捕集粒径としては、1~100μmが好ましい。
押出機での押出温度は、280~330℃が好ましい。押出機のヒーターから、ポリマーライン、ギヤポンプ、ポリマーフィルター、Tダイスまで押出温度に調整することが好ましい。
The pelletized kneaded mixture is preferably introduced into a single-screw extruder or a twin-screw extruder, melt-extruded through a T-die, and cooled and solidified by cast rolls to obtain a resin sheet.
The pelletized kneaded mixture is preferably pre-dried. Drying is preferably carried out by leaving in an environment of 60 to 150° C. for 10 minutes to 3 hours.
Next, the kneaded mixture is introduced into an extruder, and if the above drying cannot be performed or the drying is insufficient, it is preferable to use an extruder with a vacuum vent.
A gear pump is preferably installed after the extruder in order to suppress variations in the thickness of the resin in the flow direction and to obtain a resin sheet having a uniform thickness.
Furthermore, in order to avoid contamination with foreign matter, it is more preferable to provide a polymer filter after the gear pump.
Polymer filters include leaf disc type and candle type.
A sintered metal type is preferable as the filtering material of the polymer filter. The collected particle size is preferably 1 to 100 μm.
The extrusion temperature in the extruder is preferably 280-330°C. It is preferable to adjust the extruder temperature from the heater of the extruder to the polymer line, gear pump, polymer filter and T-die.

キャストロールの冷却媒体は、油又は水が好ましく、冷却温度は50~95℃が好ましく、60~90℃がより好ましい。
前記押出機のTダイスより溶融押出された樹脂混合物をキャストロールに密着させるため、エアーチャンバー、エアーナイフ方式、又は静電印加方式あるいはそれらを組み合わせて用いることが好ましい。
このようにキャストロール上に溶融した樹脂混合物を密着させ、急冷することにより、安定して連続して樹脂シートを得ることができる。
キャストロールの引速は0.5~30m/分が好ましく、1~15m/分がより好ましい。
The cooling medium for the cast rolls is preferably oil or water, and the cooling temperature is preferably 50 to 95°C, more preferably 60 to 90°C.
In order to adhere the resin mixture melted and extruded from the T-die of the extruder to the cast roll, it is preferable to use an air chamber, an air knife system, an electrostatic application system, or a combination thereof.
By bringing the molten resin mixture into close contact with the cast roll and rapidly cooling it, a resin sheet can be stably and continuously obtained.
The drawing speed of the cast roll is preferably 0.5 to 30 m/min, more preferably 1 to 15 m/min.

(プレス工程)
本発明の好適な電子回路基板用積層体の製造方法は、上記のようにして得られたシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂シートの少なくとも一面に、銅箔を、プレス温度が前記スチレン系樹脂の融点以下でプレスして一体化するプレス工程を有することが好ましい。
(Pressing process)
A preferred method for producing a laminate for an electronic circuit board according to the present invention comprises a resin sheet containing a styrene-based resin having a syndiotactic structure obtained as described above, and a copper foil on at least one surface of the resin sheet. It is preferable to have a pressing step of pressing and integrating at a temperature below the melting point of the styrene resin.

本プレス工程で用いる銅箔は、上述の<銅層>の項で説明した銅層を構成する銅箔であることが好ましい。
具体的には、本プレス工程で用いる銅箔は、剥離強度と伝送損失低減を両立させる観点から、銅箔の樹脂シートに接する面の表面に複数の突起を有するが、前記銅箔の樹脂シートに接する面の法線方向から見たときに、前記銅箔の樹脂シートに接する面の表面のうち、前記複数の突起が占める面積が、好ましくは50%以上であり、より好ましくは70%以上であり、更に好ましくは90%以上であり、より更に好ましくは95%以上である。100%であってもよく、前記銅箔の樹脂シートに接する面の表面が全て突起で覆われていてもよい。
The copper foil used in this pressing step is preferably the copper foil that constitutes the copper layer described in the section <Copper layer> above.
Specifically, the copper foil used in this pressing step has a plurality of protrusions on the surface of the copper foil contacting the resin sheet from the viewpoint of achieving both peel strength and transmission loss reduction. The area occupied by the plurality of protrusions is preferably 50% or more, more preferably 70% or more, of the surface of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet when viewed from the normal direction of the surface in contact with , more preferably 90% or more, and even more preferably 95% or more. It may be 100%, or the surface of the copper foil that is in contact with the resin sheet may be entirely covered with protrusions.

前記複数の突起は、前記銅箔の樹脂シートに接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有しており、前記粒子は、好ましくは鋭角を持つ粒子を含み、より好ましくはひし形又は略ひし形の粒子を含む。
前記銅箔の樹脂シートに接する面の表面のうち、鋭角を持つ粒子の形状を有する突起が占める面積が、好ましくは50%以上であり、より好ましくは70%以上であり、更に好ましくは90%以上であり、より更に好ましくは95%以上である。100%であってもよく、前記銅箔の樹脂シートに接する面の表面が鋭角を持つ粒子の形状を有する突起で全て覆われていてもよい。
前記銅箔の樹脂シートに接する面の表面のうち、ひし形又は略ひし形の粒子の形状を有する突起が占める面積が、好ましくは50%以上であり、より好ましくは70%以上であり、更に好ましくは90%以上であり、より更に好ましくは95%以上である。100%であってもよく、前記銅箔の樹脂シートに接する面の表面がひし形又は略ひし形の粒子の形状を有する突起で全て覆われていてもよい。
The plurality of protrusions have a particle shape when viewed from the normal direction of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet, and the particles preferably include particles having an acute angle, more preferably rhombic. Or it contains approximately diamond-shaped particles.
Of the surface of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet, the area occupied by protrusions having the shape of particles with acute angles is preferably 50% or more, more preferably 70% or more, and still more preferably 90%. or more, and more preferably 95% or more. It may be 100%, and the surface of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet may be entirely covered with projections having the shape of particles with acute angles.
Of the surface of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet, the area occupied by projections having the shape of rhombic or approximately rhombic particles is preferably 50% or more, more preferably 70% or more, and even more preferably. It is 90% or more, and more preferably 95% or more. It may be 100%, and the surface of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet may be entirely covered with projections having the shape of rhombus or approximately rhombus particles.

前記粒子の平均アスペクト比は、1.3~5.0であるが、好ましくは1.5~4.0であり、より好ましくは2.0~3.5であり、更に好ましくは2.5~3.0である。
前記粒子の平均面積は、0.005~0.025μm2であるが、好ましくは0.005~0.020μm2であり、より好ましくは0.010~0.020μm2であり、更に好ましくは0.010~0.015μm2である。
前記粒子形状、すなわち前記銅箔の樹脂シートに接する面の表面における突起の形状は、電子顕微鏡を用いて拡大し撮影して得られた前記表面の画像で観察することができる。
また、前記画像において、最表面に観測される粒子のうち面積が上位となる30個の面積とアスペクト比を測定し、それらを平均した値をそれぞれ粒子の平均アスペクト比と粒子の平均面積とした。
なお、前記アスペクト比は、各粒子の面積と同一の面積を有する楕円に近似し、長軸及び短軸の長さを求めた。
具体的な測定方法及び算出方法の例は実施例に示す。
The average aspect ratio of the particles is 1.3 to 5.0, preferably 1.5 to 4.0, more preferably 2.0 to 3.5, still more preferably 2.5. ~3.0.
The average area of the particles is 0.005-0.025 μm 2 , preferably 0.005-0.020 μm 2 , more preferably 0.010-0.020 μm 2 , still more preferably 0 0.010 to 0.015 μm 2 .
The shape of the particles, that is, the shape of the projections on the surface of the copper foil that is in contact with the resin sheet, can be observed in an image of the surface obtained by magnifying and photographing using an electron microscope.
In the image, the areas and aspect ratios of 30 particles having the highest area among the particles observed on the outermost surface were measured, and the averaged values thereof were taken as the average aspect ratio of the particles and the average area of the particles, respectively. .
The aspect ratio was obtained by approximating an ellipse having the same area as the area of each particle, and determining the lengths of the major and minor axes.
Examples of specific measurement methods and calculation methods are shown in Examples.

また、前記粒子の平均短軸長さは、好ましくは0.05~0.12μmであり、より好ましくは0.05~0.010μmである。
粒子の平均短軸長さは、前記のアスペクト比の算出に用いた近似楕円の短軸の長さ、30個を平均した長さである。
Also, the average minor axis length of the particles is preferably 0.05 to 0.12 μm, more preferably 0.05 to 0.010 μm.
The average minor axis length of the particles is the average length of 30 minor axis lengths of the approximate ellipse used to calculate the aspect ratio.

前記突起の側面から見た形状は、好ましくは樹状形状である。
なお、突起の側面から見た形状は、前記銅箔を厚さ方向に切断した切断面を写真撮影し、得られた画像から観察することができる。
また、前記突起を側面から見た樹状形状の幅は、好ましくは0.05~0.12μmであり、前記突起の高さは、好ましくは0.05~0.30μmである。
なお、突起の高さは、前記銅箔を厚さ方向に切断した切断面を写真撮影し、得られた画像から測定することができる。
The shape of the protrusions viewed from the side is preferably a dendritic shape.
The shape of the projection viewed from the side can be observed from the image obtained by photographing the cut surface of the copper foil cut in the thickness direction.
Further, the width of the dendritic shape when the projection is viewed from the side is preferably 0.05 to 0.12 μm, and the height of the projection is preferably 0.05 to 0.30 μm.
The height of the protrusions can be measured from the image obtained by photographing the cut surface of the copper foil cut in the thickness direction.

銅箔の樹脂シートに接する面の平均粗さ(Ra)は、好ましくは0.10μm以上であり、より好ましくは0.13μm以上であり、また、好ましくは0.50μm以下であり、より好ましくは0.40μm以下であり、更に好ましくは0.30μm以下であり、より更に好ましくは0.20μm以下である。
また、剥離強度と伝送損失低減を両立させる観点から、銅箔の樹脂シートに接する面の最大高さ粗さ(Rz)は、好ましくは1.00μm以上であり、より好ましくは1.50μm以上であり、更に好ましくは2.00μm以上であり、また、好ましくは5.00μm以下であり、より好ましくは4.00μm以下であり、更に好ましくは3.00μm以下である。
前記平均粗さ(Ra)及び前記最大高さ粗さ(Rz)は、具体的には実施例の方法によって測定することができる。
The average roughness (Ra) of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet is preferably 0.10 μm or more, more preferably 0.13 μm or more, and preferably 0.50 μm or less, more preferably It is 0.40 μm or less, more preferably 0.30 μm or less, and even more preferably 0.20 μm or less.
In addition, from the viewpoint of achieving both peel strength and transmission loss reduction, the maximum height roughness (Rz) of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet is preferably 1.00 μm or more, more preferably 1.50 μm or more. more preferably 2.00 μm or more, preferably 5.00 μm or less, more preferably 4.00 μm or less, and still more preferably 3.00 μm or less.
Specifically, the average roughness (Ra) and the maximum height roughness (Rz) can be measured by the methods of Examples.

銅箔の厚さは、高密度実装化、信頼性及び伝送損失の観点から、好ましくは8~30μmであり、より好ましくは9~25μmであり、更に好ましくは10~20μmである。 The thickness of the copper foil is preferably 8 to 30 μm, more preferably 9 to 25 μm, still more preferably 10 to 20 μm, from the viewpoints of high density mounting, reliability and transmission loss.

銅箔は、好ましくは圧延銅箔及び電解銅箔からなる群より選ばれる少なくとも1つであり、剥離強度と伝送損失低減の観点から、より好ましくは電解銅箔である。
銅箔の表面は、前記のように特定の粒子形状の複数の突起を有していればよいが、表面の突起をこの形状に調整するために、粗化処理を行ってもよい。粗化処理方法としては、めっきによる粗化粒子の形成等が挙げられる。
更に銅箔は、耐熱処理、防錆処理、化学処理等の表面処理を施している表面処理銅箔であってもよい。
耐熱処理及び防錆処理としては、それぞれ耐熱性、防錆性を有する金属を用いてめっき加工する方法が挙げられる。
化学処理としては、樹脂シートとの密着性を高めるために、銅箔表面と反応する反応性基と樹脂シート表面と反応する反応性基の両方を有する化合物での処理が挙げられる。このような化合物としてはシランカップリング剤等が挙げられる。前記樹脂シート表面と反応する反応性基としては、エポキシ基、アミノ基、ビニル基、アクリル基、イソシアネート基、メルカプト基等が挙げられる。
The copper foil is preferably at least one selected from the group consisting of rolled copper foil and electrolytic copper foil, and more preferably electrolytic copper foil from the viewpoint of peel strength and transmission loss reduction.
The surface of the copper foil may have a plurality of projections of a specific particle shape as described above, and roughening treatment may be performed to adjust the projections on the surface to this shape. Examples of the roughening treatment method include formation of roughened particles by plating.
Furthermore, the copper foil may be a surface-treated copper foil that has been subjected to surface treatments such as heat-resistant treatment, antirust treatment, and chemical treatment.
Examples of the heat-resistant treatment and rust-proof treatment include a method of plating using metals having heat resistance and rust-proof properties, respectively.
Examples of the chemical treatment include treatment with a compound having both a reactive group that reacts with the copper foil surface and a reactive group that reacts with the resin sheet surface, in order to increase adhesion to the resin sheet. Examples of such compounds include silane coupling agents. Examples of reactive groups that react with the surface of the resin sheet include epoxy groups, amino groups, vinyl groups, acryl groups, isocyanate groups, mercapto groups, and the like.

前記銅箔の樹脂シートに接する面のX線光電子分光法を用いた原子組成分析によるケイ素元素の含有量は、好ましくは7%以上であり、より好ましくは8%以上であり、更に好ましくは9%以上であり、より更に好ましくは10%以上である。また、上限には制限はないが、好ましくは20%以下であり、より好ましくは15%以下であり、更に好ましくは12%以下である。
前記ケイ素元素の含有量は、具体的には実施例の方法によって測定することができる。
The silicon element content of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet determined by atomic composition analysis using X-ray photoelectron spectroscopy is preferably 7% or more, more preferably 8% or more, and still more preferably 9%. % or more, and more preferably 10% or more. Although there is no upper limit, it is preferably 20% or less, more preferably 15% or less, and still more preferably 12% or less.
The content of the silicon element can be specifically measured by the method described in Examples.

本プレス工程では、銅箔の表面が前記の複数の突起を有する面を樹脂シートに接するように積層する。具体的には、粗化処理を施してある銅箔であれば、粗化処理された面を樹脂シートに接するように積層する。
銅箔は樹脂シートの少なくとも一面に積層すればよいが、好ましくは樹脂シートの両面に積層する。
本プレス工程では、常圧でプレスしてもよく、真空状態でプレスしてもよいが、真空状態でプレスすることが好ましい。プレス方法としては上下に平行で平らな熱板の間に銅箔/SPS樹脂/銅箔の順にセットアップして積層する方式でもよいし、2本の金属ロールもしくは金属ベルトにロール状に巻かれた銅箔、SPSシートを繰り出し連続的にプレスをしてもよい。
真空状態でプレスする場合、真空プレス機を用いることが好ましく、真空度は好ましくは-0.05MPa以下である。また、プレス保持時間は好ましくは1~60分間である。
In this pressing step, the surface of the copper foil is laminated so that the surface having the plurality of protrusions is in contact with the resin sheet. Specifically, if the copper foil has been roughened, it is laminated so that the roughened surface is in contact with the resin sheet.
The copper foil may be laminated on at least one side of the resin sheet, preferably on both sides of the resin sheet.
In this pressing step, pressing may be performed at normal pressure or in a vacuum state, but it is preferable to press in a vacuum state. As a pressing method, a method of setting up and laminating copper foil/SPS resin/copper foil in this order between parallel flat hot plates may be used. , the SPS sheet may be paid out and continuously pressed.
When pressing in a vacuum state, it is preferable to use a vacuum press, and the degree of vacuum is preferably -0.05 MPa or less. Also, the press holding time is preferably 1 to 60 minutes.

本工程では、樹脂シートの少なくとも一面に、銅箔を、プレス温度が前記スチレン系樹脂の融点以下でプレスして一体化するプレス工程を有することが好ましい。
プレス温度は、好ましくは240~275℃であり、より好ましくは250~270℃であり、更に好ましくは255~265℃である。前記の範囲であれば、得られる積層体は剥離強度に優れ、厚さは均一なものとなり、さらに積層体を製造するためのプレス時に生じる樹脂の流れ出しを抑制することができる。
This step preferably includes a pressing step of pressing and integrating a copper foil onto at least one surface of the resin sheet at a pressing temperature equal to or lower than the melting point of the styrene-based resin.
The pressing temperature is preferably 240-275°C, more preferably 250-270°C, still more preferably 255-265°C. Within the above range, the obtained laminate has excellent peel strength and a uniform thickness, and furthermore, it is possible to suppress the outflow of the resin during pressing for producing the laminate.

プレス圧力は、前記プレス温度によって、調整すればよく、プレス温度が高い場合はプレス圧力を低く、プレス温度が低いときはプレス圧力を高く調整することが好ましい。
具体的にはプレス条件は、好ましくは5MPa以上20MPa以下であり、より好ましくは6MPa以上15MPa以下であり、更に好ましくは8MPa以上13MPa以下である。
上記の条件で製造された積層体は、剥離強度に優れ、得られる積層体が均一した厚さを有しており、更にプレス工程での溶融フローによる樹脂の流れ出しが少なく、生産性にも優れている。
The press pressure may be adjusted according to the press temperature. It is preferable to adjust the press pressure to be low when the press temperature is high and to be high when the press temperature is low.
Specifically, the pressing conditions are preferably 5 MPa or more and 20 MPa or less, more preferably 6 MPa or more and 15 MPa or less, and still more preferably 8 MPa or more and 13 MPa or less.
The laminate produced under the above conditions has excellent peel strength, the resulting laminate has a uniform thickness, and there is little outflow of resin due to melt flow during the pressing process, resulting in excellent productivity. ing.

[電子回路基板]
本発明の電子回路基板は、前記電子回路基板用積層体を用いたものである。
すなわち、本発明の電子回路基板の第一の実施形態である電子回路基板は、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂層の少なくとも一面に銅層を有し、銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である電子回路基板用積層体を用いたものである。
これらのなかでも、前記電子回路基板用積層体の製造方法で得られた樹脂積層体を用いたものが好ましい。
[Electronic circuit board]
The electronic circuit board of the present invention uses the laminate for an electronic circuit board.
That is, the electronic circuit board, which is the first embodiment of the electronic circuit board of the present invention, has a copper layer on at least one surface of a resin layer containing a styrene-based resin having a syndiotactic structure, and the resin layer of the copper layer has The contact surface has a plurality of projections, the projections have the shape of particles when viewed from the normal direction of the surface of the copper layer contacting the resin layer, and the particles have an average aspect ratio of 1.5. 3 to 5.0, and the average area of the particles is 0.005 to 0.025 μm 2 .
Among these, it is preferable to use the resin laminate obtained by the method for producing a laminate for an electronic circuit board.

前記電子回路基板用積層体は、銅層が剥離しにくく、剥離強度に優れ、伝送損失が少ないため、本発明の電子回路基板は、特に高周波回路や高周波アンテナ回路等の用途に使用することが好ましい。 In the electronic circuit board laminate, the copper layer is difficult to peel off, the peel strength is excellent, and the transmission loss is small. preferable.

本発明の電子回路基板は、前記電子回路用基板積層体の銅層をパターニングすることにより製造される。パターニングは、フォトリソ法により銅層をエッチングすることにより行うことが好ましい。 The electronic circuit board of the present invention is manufactured by patterning the copper layer of the electronic circuit board laminate. Patterning is preferably performed by etching the copper layer by photolithography.

本発明の電子回路基板の厚さは、上述の電子回路基板用積層体の厚さと同様であればよく、好ましくは10~3,000μmであり、用途によって適切な厚さに調節することが好ましい。
具体的には、リジットの電子回路用基板である場合、電子回路基板の厚さは、好ましくは50~3,000μmであり、より好ましくは100~2,000μmであり、更に好ましくは400~1,600μmである。また、フレキシブルの電子回路用基板である場合、電子回路基板の厚さは、好ましくは150μm以下であり、より好ましくは130μm以下であり、更に好ましくは125μm以下であり、また、好ましくは10μm以上であり、より好ましくは50μm以上であり、さらに好ましくは100μm以上である。前記の範囲であれば、強度に優れ、伝送損失が少なく、製品の小型化も可能となる。
The thickness of the electronic circuit board of the present invention may be the same as the thickness of the electronic circuit board laminate described above, preferably 10 to 3,000 μm, and is preferably adjusted to an appropriate thickness depending on the application. .
Specifically, in the case of a rigid electronic circuit board, the thickness of the electronic circuit board is preferably 50 to 3,000 μm, more preferably 100 to 2,000 μm, still more preferably 400 to 1 μm. , 600 μm. In the case of a flexible electronic circuit board, the thickness of the electronic circuit board is preferably 150 μm or less, more preferably 130 μm or less, still more preferably 125 μm or less, and preferably 10 μm or more. It is preferably 50 μm or more, and still more preferably 100 μm or more. Within the above range, the strength is excellent, the transmission loss is small, and the size of the product can be reduced.

本発明を実施例によりさらに具体的に説明するが、本発明はこれらに何ら制限されるものではない。 The present invention will be described in more detail with reference to Examples, but the present invention is not limited to these.

(1)樹脂の重量平均分子量
ゲル浸透クロマトグラフィー(ゲルパーミエイションクロマトグラフィ、略称「GPC」)測定法により測定した。
測定条件は、東ソー株式会社製GPC装置(HLC-8321GPC/HT)、東ソー株式会社製GPCカラム(GMHHR-H(S)HT)を用い、溶離液として1,2,4-トリクロロベンゼンを用い、145℃で測定した。
標準ポリスチレンの検量線を用いて、ポリスチレン換算分子量として算出した。
(1) Weight Average Molecular Weight of Resin Measured by a gel permeation chromatography (gel permeation chromatography, abbreviated as “GPC”) measurement method.
Measurement conditions are GPC apparatus manufactured by Tosoh Corporation (HLC-8321GPC/HT), GPC column manufactured by Tosoh Corporation (GMHHR-H(S)HT), using 1,2,4-trichlorobenzene as an eluent, Measured at 145°C.
It was calculated as a polystyrene equivalent molecular weight using a standard polystyrene calibration curve.

(2)銅箔表面(銅層の樹脂層に接する面)の平均粗さ(Ra)及び最大高さ粗さ(Rz)
共焦点レーザー顕微鏡 OPTHLICS H1200(レーザーテック社製)を使用して測定した。
(2) Average roughness (Ra) and maximum height roughness (Rz) of copper foil surface (surface of copper layer in contact with resin layer)
It was measured using a confocal laser microscope OPTHLICS H1200 (manufactured by Lasertec).

(3)銅箔表面(銅層の樹脂層に接する面)の突起形状
各実施例及び比較例で用いた銅箔の表面(銅層の樹脂層に接する面)を、電界放出型走査型電子顕微鏡SU8200(株式会社日立ハイテクサイエンス製)を用いて5万倍に拡大した画像を得た。
画像より、最表面に観測される粒子の形状を有する突起について、粒子の平均アスペクト比と粒子の平均面積を以下のようにして求めた。
前記電子顕微鏡により得られた画像において、最表面に観測される粒子のうち、輪郭が鮮明で二次凝集しておらず、重なりがない(又は少ない)、少なくとも30個以上の粒子を選定した。次に選定した30個以上の粒子のうち面積が上位となる30個を選定し、粒子を白、背景を黒に色づける二値化を行った。二値化した画像について、画像解析ソフト(Media Cybernetics社製 Image-Pro Plus 6.3J)によって、各粒子の面積とアスペクト比を測定し、それらを平均した値をそれぞれ粒子の平均アスペクト比と粒子の平均面積とした。
なお、前記アスペクト比は、粒子を画像解析ソフトにより求めた各粒子の面積と同一の面積を有する楕円に近似し、長軸及び短軸の長さを求めた。近似して得られる楕円の形状は、解析対象となる粒子の輪郭から前記画像解析ソフトにより算出することができる。
また、粒子の平均短軸長さは、前記のアスペクト比の算出に用いた近似楕円の短軸の長さ、30個を平均した長さである。
図1に実施例及び比較例で使用した銅箔の樹脂シートに接する面(銅層の樹脂層に接する面)の表面を、前記方法で5千倍に拡大した画像を示す。
図2に実施例で使用した銅箔の樹脂シートに接する面(銅層の樹脂層に接する面)の表面を、前記方法で5万倍に拡大した画像と、得られた画像を前記方法で二値化した画像を示す。
また、各実施例及び比較例で用いた銅箔を厚さ方向に切断した断面を、電界放出型走査型電子顕微鏡を用いて、拡大した画像を図3(倍率:5千倍)及び図4(倍率:3万倍)に示す。銅箔の上面が樹脂シートに接する面(銅層の樹脂層に接する面)である。実施例で用いた銅箔の表面に存在する突起の側面から見た形状は、樹状形状であることがわかる。
(3) Projection shape on the surface of the copper foil (the surface of the copper layer in contact with the resin layer) The surface of the copper foil used in each example and comparative example (the surface of the copper layer in contact with the resin layer) was subjected to field emission scanning electron An image magnified 50,000 times was obtained using a microscope SU8200 (manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd.).
From the image, the average aspect ratio of particles and the average area of particles for the projections having the shape of particles observed on the outermost surface were determined as follows.
Among the particles observed on the outermost surface in the image obtained by the electron microscope, at least 30 particles with clear outlines, no secondary agglomeration, and no (or little) overlap were selected. Next, 30 particles with the highest area were selected from the selected 30 or more particles, and binarization was performed by coloring the particles white and the background black. For the binarized image, the area and aspect ratio of each particle were measured using image analysis software (Image-Pro Plus 6.3J, manufactured by Media Cybernetics), and the averaged values were taken as the average aspect ratio of the particles and the average aspect ratio of the particles. was the average area of
The aspect ratio was determined by approximating the particles to an ellipse having the same area as the area of each particle determined by image analysis software, and determining the lengths of the major and minor axes. The elliptical shape obtained by approximation can be calculated from the contour of the particle to be analyzed by the image analysis software.
The average minor axis length of the particles is the average length of 30 minor axis lengths of the approximate ellipse used to calculate the aspect ratio.
FIG. 1 shows an image of the surface of the copper foil in contact with the resin sheet (the surface of the copper layer in contact with the resin layer) used in Examples and Comparative Examples, magnified 5,000 times by the above method.
FIG. 2 shows an image of the surface of the copper foil used in the example in contact with the resin sheet (the surface of the copper layer in contact with the resin layer) magnified 50,000 times by the above method, and an image obtained by the above method. A binarized image is shown.
3 (magnification: 5,000 times) and FIG. (Magnification: 30,000 times). The upper surface of the copper foil is the surface in contact with the resin sheet (the surface of the copper layer in contact with the resin layer). It can be seen that the shape of the protrusions present on the surface of the copper foil used in the examples, viewed from the side, is a dendritic shape.

(4)原子組成分析(X線光電子分光法(XPS))
XPS装置(アルバック・ファイ株式会社製「VersaProbeII」)を使用し、各元素のナロースキャンを行い、各元素のピーク面積を求めた。次に、表1に元素記号及び電子軌道を示した各元素におけるピーク面積の合計を100%とし、各元素のピーク面積を、各元素の原子比(%)として表1に示した。
(4) Atomic composition analysis (X-ray photoelectron spectroscopy (XPS))
Using an XPS device (“VersaProbe II” manufactured by ULVAC-Phi, Inc.), narrow scanning of each element was performed to determine the peak area of each element. Next, Table 1 shows the peak area of each element as the atomic ratio (%) of each element, with the sum of the peak areas of each element whose element symbols and electron orbitals are shown in Table 1 being 100%.

(5)樹脂の流れ出し
実施例及び比較例の積層体における樹脂の流れ出しは、次のように判断した。製造前後(プレス前後)での積層体の厚さを測定し、以下の式によって求めたシートの減肉(樹脂の減少量)が、10%以上であるときを「樹脂の流れ出しあり」、製造前後(プレス前後)での積層体の厚さを測定し、以下の式によって求めたシートの減肉(樹脂の減少量)が、10%未満であるときを「樹脂の流れ出しなし」とした。樹脂の流れ出しが少ないほど、樹脂シートのロスが少なく、生産性が良好である。なお、積層体を160mm×160mmに切断し、銅箔の流れ方向に直交する方向に5mm毎に厚さ測定器(ゲージ)で測定し、その最大値と最小値の差を平均値で除して求められる平均厚さを「積層体の厚さ」とした。
シートの減肉(%)=([プレス前の樹脂シートの平均厚さ+銅箔の厚さ(両面分:24μm)-プレス後の積層体の厚さ(平均厚さ)]/[プレス前の樹脂シートの平均厚さ])×100
(5) Outflow of Resin The outflow of resin in the laminates of Examples and Comparative Examples was judged as follows. The thickness of the laminate before and after production (before and after pressing) is measured, and when the sheet thickness reduction (resin reduction amount) obtained by the following formula is 10% or more, "resin flows out", production The thickness of the laminate was measured before and after (before and after pressing), and when the sheet thickness reduction (resin reduction amount) obtained by the following formula was less than 10%, it was regarded as "no resin flow". The less the resin flows out, the less the loss of the resin sheet and the better the productivity. In addition, the laminate was cut into 160 mm × 160 mm, and the thickness was measured with a thickness gauge (gauge) every 5 mm in the direction perpendicular to the flow direction of the copper foil, and the difference between the maximum and minimum values was divided by the average value. The average thickness obtained by the method was defined as the "thickness of the laminate".
Sheet thickness reduction (%) = ([average thickness of resin sheet before pressing + thickness of copper foil (both sides: 24 μm) - thickness of laminate after pressing (average thickness)] / [before pressing Average thickness of resin sheet]) × 100

(6)剥離強度
積層体の剥離強度は、積層体から銅箔を剥離する際の強度である。
測定は、測定器としてフォースゲージ(商品名:DPRS-2TR、株式会社イマダ製)を用い、JPCA電気回路基板規格第3版第7項「性能試験」に準拠し、次の条件で行った。
治具:90度剥離治具(商品名:P90-200N-BB、株式会社イマダ製)
引張速度:50mm/分
銅箔の流れ方向(銅箔製造時の巻取り方向)に剥離した際の強度、及び銅箔の流れ方向に直交する方向に剥離した際の強度を、それぞれ3回ずつ測定し、全ての測定値の平均値を積層体の剥離強度とした。
(6) Peel strength The peel strength of the laminate is the strength when peeling off the copper foil from the laminate.
The measurement was performed using a force gauge (trade name: DPRS-2TR, manufactured by Imada Co., Ltd.) as a measuring instrument in accordance with JPCA Electric Circuit Board Standards, 3rd Edition, Section 7 "Performance Test" under the following conditions.
Jig: 90 degree peeling jig (trade name: P90-200N-BB, manufactured by Imada Co., Ltd.)
Tensile speed: 50 mm/min The strength when peeled in the copper foil flow direction (copper foil winding direction) and the strength when peeled in the direction orthogonal to the copper foil flow direction were tested three times each. The average value of all measured values was taken as the peel strength of the laminate.

(7)伝送損失評価(高周波減衰率)
実施例及び比較例の積層体をフォトリソ法でエッチングをしてマイクロストリップライン(片面の銅層を幅270μmの細線状に残したもの。全長100mm)を作成した。
前記マイクロストリップラインについて、ネットワークアナライザー N5227(Keysight社製)を用いて、周波数65GHzでのS21減衰率を測定した。そして、全長25mmのDe-embedding用マイクロストリップラインを用いて、全長100mmのマイクロストリップラインのS21減衰率の結果からDe-embeddingを実施し、75mm長のS21減衰率(dB)(高周波減衰率)を測定した。高周波減衰率の絶対値が小さいほど、伝送損失が少ない。
(7) Transmission loss evaluation (high frequency attenuation factor)
The laminates of Examples and Comparative Examples were etched by a photolithographic method to form microstrip lines (thin lines with a width of 270 μm left on one side of the copper layer, total length of 100 mm).
For the microstrip line, the S21 attenuation rate at a frequency of 65 GHz was measured using a network analyzer N5227 (manufactured by Keysight). Then, using a microstrip line for De-embedding with a total length of 25 mm, De-embedding was performed from the result of the S21 attenuation rate of the microstrip line with a total length of 100 mm, and the S21 attenuation rate (dB) (high frequency attenuation rate) of 75 mm length was measured. The smaller the absolute value of the high-frequency attenuation factor, the smaller the transmission loss.

[電子回路基板用積層体の製造]
実施例1
(1)SPSシートの製造
SPS(シンジオタクチックポリスチレン、スチレンホモポリマー、重量平均分子量180,000)ペレット 80質量部、SEBS(スチレンエチレンブチレンスチレンブロック共重合体、セプトン8006、株式会社クラレ製)ペレット 20質量部、結晶核剤(アデカスタブNA11、株式会社ADEKA製)0.5質量部、及び酸化防止剤(イルガノックス1010、BASFジャパン株式会社製)0.2質量部を、二軸押出機にて290℃で溶融混練後、ペレット化した。得られたペレットを80℃で3時間乾燥した。
乾燥後のペレットをスクリュー径50mmの単軸押出機にて溶融し、以下の条件でTダイスより押出し、キャストロールにて冷却して、巻取り、厚さ50μmのSPSシートを得た。
押出時の温度は、押出機のヒーター、ポリマーライン、ギヤポンプ、ポリマーフィルター、Tダイスのいずれも300℃に設定した。Tダイスは、リップ幅500mm、リップ開度0.7~0.9mmに調整した。キャストロールは冷却媒体として油を用い、温度は80℃に設定した。キャストロールの引速は2.0m/分とした。
[Manufacture of laminate for electronic circuit board]
Example 1
(1) Production of SPS sheet SPS (syndiotactic polystyrene, styrene homopolymer, weight average molecular weight 180,000) pellets 80 parts by mass, SEBS (styrene ethylene butylene styrene block copolymer, Septon 8006, manufactured by Kuraray Co., Ltd.) pellets 20 parts by mass, 0.5 parts by mass of a crystal nucleating agent (adekastab NA11, manufactured by ADEKA Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of an antioxidant (Irganox 1010, manufactured by BASF Japan Co., Ltd.) with a twin-screw extruder After melt-kneading at 290° C., pelletization was performed. The pellets obtained were dried at 80° C. for 3 hours.
The dried pellets were melted in a single-screw extruder with a screw diameter of 50 mm, extruded through a T-die under the following conditions, cooled with a cast roll, and wound up to obtain an SPS sheet with a thickness of 50 μm.
The temperature during extrusion was set at 300° C. for all of the extruder heater, polymer line, gear pump, polymer filter and T-die. The T-die was adjusted to have a lip width of 500 mm and a lip opening of 0.7 to 0.9 mm. The cast rolls used oil as cooling medium and the temperature was set at 80°C. The drawing speed of the cast roll was 2.0 m/min.

(2)積層体の製造
(1)で得られたSPSシートを100mm×100mmの正方形に切り出し、厚さ50μmのSPSシートを2枚重ねた厚さ100μmの樹脂層とし、次の構成となるように積層し、該積層物を真空プレス機にて、真空度を-0.1MPaとし、プレス温度260℃、プレス圧力10.0MPa、プレス時間3分間の条件でプレスし、一体化させて積層体を得た。
プレス機における積層順は、上部より、真空プレス機の上部プレス板(160mm×160mm)、アルミニウム板(160mm×160mm、厚さ1mm)、電解銅箔(CF-T4X-SV、180mm×180mm、厚さ12μm、福田金属箔粉工業株式会社製、突起を有する面をSPSシート側に使用する。突起を有する面の突起形状及び粗さは表1に示す。)、(1)で得られたSPSシート(100mm×100mm)を2枚重ねた厚さ100μmの樹脂層、電解銅箔(CF-T4X-SV、180mm×180mm、厚さ12μm、福田金属箔粉工業株式会社製、突起を有する面をSPSシート側に使用する。突起を有する面の突起形状及び粗さは表1に示す。)、アルミニウム板(160mm×160mm、厚さ1mm)、真空プレス機の下部プレス板(160mm×160mm)とした。これにより、両面に銅層を有する積層体を得た。積層体の厚さ(平均厚さ)は124μmであった。剥離強度と伝送損失評価の値を表1に示す。なお、各評価では、積層体を各評価で必要となる形状に切断して用いた。
(2) Production of laminate The SPS sheet obtained in (1) was cut into a square of 100 mm × 100 mm, and two 50 µm-thick SPS sheets were laminated to form a 100 µm-thick resin layer having the following structure. , and the laminate is pressed with a vacuum press under the conditions of a vacuum degree of -0.1 MPa, a press temperature of 260 ° C., a press pressure of 10.0 MPa, and a press time of 3 minutes, and integrated into a laminate. got
The stacking order in the press machine is, from the top, the upper press plate of the vacuum press machine (160 mm × 160 mm), the aluminum plate (160 mm × 160 mm, thickness 1 mm), the electrolytic copper foil (CF-T4X-SV, 180 mm × 180 mm, thickness 12 μm, manufactured by Fukuda Metal Foil & Powder Co., Ltd., the surface with projections is used on the SPS sheet side.The projection shape and roughness of the surface with projections are shown in Table 1.), SPS obtained in (1) A resin layer with a thickness of 100 μm made by stacking two sheets (100 mm × 100 mm), electrolytic copper foil (CF-T4X-SV, 180 mm × 180 mm, thickness 12 μm, manufactured by Fukuda Metal Foil & Powder Co., Ltd., the surface with protrusions (Used on the SPS sheet side. The projection shape and roughness of the surface with projections are shown in Table 1.), an aluminum plate (160 mm × 160 mm, thickness 1 mm), a lower press plate (160 mm × 160 mm) of a vacuum press machine and bottom. Thus, a laminate having copper layers on both sides was obtained. The thickness (average thickness) of the laminate was 124 μm. Table 1 shows the values of peel strength and transmission loss evaluation. In addition, in each evaluation, the laminate was cut into a shape required for each evaluation and used.

比較例1及び3
(2)積層体の製造で用いた電解銅箔(CF-T4X-SV)を、表1に示す銅箔に変更した以外は、実施例1と同様にして、両面に銅層を有する積層体を得た。積層体の厚さは(平均厚さ)はいずれも124μmであった。剥離強度と伝送損失評価の値を表1に示す。
Comparative Examples 1 and 3
(2) A laminate having copper layers on both sides in the same manner as in Example 1, except that the electrolytic copper foil (CF-T4X-SV) used in the production of the laminate was changed to the copper foil shown in Table 1. got The thickness (average thickness) of each laminate was 124 μm. Table 1 shows the values of peel strength and transmission loss evaluation.

比較例2
比較例1のプレス条件を、表1に示すプレス温度とプレス圧力に変更した以外は、比較例1と同様にして、両面に銅層を有する積層体を得た。積層体の厚さは(平均厚さ)は124μmであった。剥離強度と伝送損失評価の値を表1に示す。
Comparative example 2
A laminate having copper layers on both sides was obtained in the same manner as in Comparative Example 1 except that the pressing conditions of Comparative Example 1 were changed to the pressing temperature and pressing pressure shown in Table 1. The thickness (average thickness) of the laminate was 124 μm. Table 1 shows the values of peel strength and transmission loss evaluation.

比較例4
(2)積層体の製造で用いた電解銅箔(CF-T4X-SV)を、電解銅箔(CF-T9DA-SV、銅箔表面の突起が非常に小さく、突起形状は測定できなかった。)に変更した以外は、実施例1と同様にして、両面に銅層を有する積層体を得た。積層体の厚さは(平均厚さ)は124μmであった。剥離強度の値を表1に示す。なお、銅層が剥離しやすく、マイクロストリップラインが良好に作成できないため、伝送損失評価ができなかった。
Comparative example 4
(2) The electrodeposited copper foil (CF-T4X-SV) used in the production of the laminate was replaced with the electrodeposited copper foil (CF-T9DA-SV). ) in the same manner as in Example 1 to obtain a laminate having copper layers on both sides. The thickness (average thickness) of the laminate was 124 μm. Table 1 shows the peel strength values. It should be noted that transmission loss could not be evaluated because the copper layer was easily peeled off and a microstrip line could not be formed satisfactorily.

Figure 2023028081000001
Figure 2023028081000001

表1の結果から、実施例である本発明の電子回路基板用積層体は、剥離強度が高いために、銅層が剥離しにくく、さらに伝送損失が少ないことから、高周波回路基板や高周波アンテナ回路基板用として有用であることがわかる。 From the results in Table 1, it can be seen that the laminates for electronic circuit boards of the present invention, which are examples, have high peel strength, so that the copper layer is difficult to peel off, and the transmission loss is small. It can be seen that it is useful for substrates.

Claims (18)

シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂層の少なくとも一面に銅層を有し、銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、
前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、
前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である、電子回路基板用積層体。
Having a copper layer on at least one surface of a resin layer containing a styrene-based resin having a syndiotactic structure, and having a plurality of protrusions on the surface of the copper layer in contact with the resin layer,
The protrusions have a particle shape when viewed from the normal direction of the surface of the copper layer in contact with the resin layer,
A laminate for an electronic circuit board, wherein the average aspect ratio of the particles is 1.3 to 5.0, and the average area of the particles is 0.005 to 0.025 μm 2 .
前記粒子が鋭角を持つ粒子を含む、請求項1に記載の電子回路基板用積層体。 2. The laminate for an electronic circuit board according to claim 1, wherein said particles include particles having an acute angle. 前記銅層の樹脂層に接する面の平均粗さ(Ra)が0.10~0.50μmであり、前記銅層の樹脂層に接する面の最大高さ粗さ(Rz)が1.00~5.00μmである、請求項1又は2に記載の電子回路基板用積層体。 The average roughness (Ra) of the surface of the copper layer in contact with the resin layer is 0.10 to 0.50 μm, and the maximum height roughness (Rz) of the surface of the copper layer in contact with the resin layer is 1.00 to The laminate for an electronic circuit board according to claim 1 or 2, which has a thickness of 5.00 µm. 前記銅層の樹脂層に接する面のX線光電子分光法を用いた原子組成分析によるケイ素元素の含有量が7%以上である、請求項1~3のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。 The electronic circuit board according to any one of claims 1 to 3, wherein the surface of the copper layer in contact with the resin layer has a silicon element content of 7% or more as determined by atomic composition analysis using X-ray photoelectron spectroscopy. Laminate for 前記粒子が、ひし形又は略ひし形の粒子を含む、請求項1~4のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。 The laminate for an electronic circuit board according to any one of claims 1 to 4, wherein the particles include rhombus-shaped or approximately rhombus-shaped particles. 前記樹脂層の両面に銅層を有する、請求項1~5のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。 6. The laminate for an electronic circuit board according to claim 1, having copper layers on both sides of said resin layer. 前記銅層を構成する銅箔が電解銅箔である、請求項1~6のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。 The laminate for an electronic circuit board according to any one of claims 1 to 6, wherein the copper foil constituting said copper layer is an electrolytic copper foil. 前記樹脂層がスチレン系エラストマーを更に含む、請求項1~7のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。 The laminate for an electronic circuit board according to any one of claims 1 to 7, wherein said resin layer further contains a styrene-based elastomer. 前記シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂の重量平均分子量が100,000~300,000である、請求項1~8のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。 The laminate for an electronic circuit board according to any one of claims 1 to 8, wherein the styrene resin having a syndiotactic structure has a weight average molecular weight of 100,000 to 300,000. 前記銅層の厚さが8~30μmである、請求項1~9のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。 The laminate for an electronic circuit board according to any one of claims 1 to 9, wherein said copper layer has a thickness of 8 to 30 µm. 電子回路基板用積層体の厚さが10~3,000μmである、請求項1~10のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体。 The laminate for an electronic circuit board according to any one of claims 1 to 10, wherein the laminate for an electronic circuit board has a thickness of 10 to 3,000 µm. 請求項1~11のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体を用いた電子回路基板。 An electronic circuit board using the laminate for an electronic circuit board according to any one of claims 1 to 11. シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂を含む樹脂シートの少なくとも一面に、銅箔を、プレス温度が前記スチレン系樹脂の融点以下でプレスして一体化するプレス工程を有し、
銅層の樹脂層に接する面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅層の樹脂層に接する面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である電子回路基板用積層体を得る、電子回路基板用積層体の製造方法。
A pressing step of pressing and integrating a copper foil on at least one surface of a resin sheet containing a styrene resin having a syndiotactic structure at a pressing temperature equal to or lower than the melting point of the styrene resin,
A surface of the copper layer in contact with the resin layer has a plurality of protrusions, the protrusions having a particle shape when viewed from the normal direction of the surface of the copper layer in contact with the resin layer, A method for producing a laminate for an electronic circuit board, wherein the laminate for an electronic circuit board has an average aspect ratio of 1.3 to 5.0 and an average area of the particles of 0.005 to 0.025 μm 2 .
前記銅箔の少なくとも一面の表面に複数の突起を有し、前記突起が、前記銅箔表面の法線方向から見たときに粒子の形状を有し、前記粒子の平均アスペクト比が1.3~5.0であり、前記粒子の平均面積が0.005~0.025μm2である、請求項13に記載の電子回路基板用積層体の製造方法。 At least one surface of the copper foil has a plurality of projections, the projections have a particle shape when viewed from the normal direction of the copper foil surface, and the particles have an average aspect ratio of 1.3. 14. The method for producing a laminate for an electronic circuit board according to claim 13, wherein the average area of the particles is 0.005 to 0.025 μm 2 . 前記プレス工程におけるプレス圧力が、5MPa以上20MPa以下である、請求項13又は14に記載の電子回路基板用積層体の製造方法。 15. The method for producing a laminate for an electronic circuit board according to claim 13 or 14, wherein the pressing pressure in said pressing step is 5 MPa or more and 20 MPa or less. 前記樹脂シートが無延伸シートである、請求項13~15のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体の製造方法。 The method for producing a laminate for an electronic circuit board according to any one of claims 13 to 15, wherein the resin sheet is a non-stretching sheet. プレス工程の前に、シンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂とスチレン系エラストマーとを混練し、キャストして、樹脂シートを得る工程を有する、請求項13~16のいずれか1つに記載の電子回路基板用積層体の製造方法。 The electronic according to any one of claims 13 to 16, which has a step of kneading and casting a styrene resin having a syndiotactic structure and a styrene elastomer before the pressing step to obtain a resin sheet. A method for producing a circuit board laminate. 樹脂シートを得る工程において、前記のシンジオタクチック構造を有するスチレン系樹脂とスチレン系エラストマーに更に核剤を混練する、請求項17に記載の電子回路基板用積層体の製造方法。 18. The method for producing a laminate for an electronic circuit board according to claim 17, wherein in the step of obtaining the resin sheet, the styrene-based resin having a syndiotactic structure and the styrene-based elastomer are further kneaded with a nucleating agent.
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