JP2023023057A - Processing apparatus and method for manufacturing processed product - Google Patents

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Abstract

To provide a processing apparatus and a method for manufacturing a processed product, which simplifies a configuration and prevents scattering of working liquid while reducing footprint.SOLUTION: A processing apparatus includes processing tables 2A and 2B that hold a sealed substrate W, a first holding mechanism 3 that holds the sealed substrate to transport the sealed substrate to the processing tables, a processing mechanism, a transfer table onto which a plurality of products are transferred, a second holding mechanism that transports the plurality of products to the transfer table, a transfer movement mechanism having a common transfer shaft 71 for moving the first holding mechanism and the second holding mechanism, a processing movement mechanism for moving the processing mechanism, a working liquid supply mechanism for jetting work liquid, and a working liquid scattering prevention mechanism for preventing scattering of the working liquid.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、加工装置、及び加工品の製造方法に関するものである。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a processing apparatus and a method of manufacturing a processed product.

従来、特許文献1に示すように、切断システムにおいて、ストリップピッカーがX軸方向に移動して半導体ストリップをオンロード装置から切断装置のチャックテーブルに移送し、チャックテーブルが半導体ストリップを吸着してY軸方向でシステム後方に移動した後に、半導体ストリップをスピンドルにより半導体パッケージに切断する構成のものが考えられている。また、チャックテーブルは、ボールスクリュー(ボールねじ機構)を用いてY軸方向に移動される構成としてある。 Conventionally, as shown in Patent Document 1, in a cutting system, a strip picker moves in the X-axis direction to transfer a semiconductor strip from an on-loading device to a chuck table of a cutting device, and the chuck table sucks the semiconductor strip to produce a Y-axis. Arrangements have been conceived in which the semiconductor strip is cut into semiconductor packages by a spindle after an axial movement to the rear of the system. Also, the chuck table is configured to be moved in the Y-axis direction using a ball screw (ball screw mechanism).

しかしながら、上記の切断システムでは、ボールスクリューを用いてチャックテーブルを移動して切断を行うことから、ボールスクリューを加工水や加工屑から保護する蛇腹部材を設け、さらに蛇腹部材を保護するために蛇腹部材上に複数のプレート部材を設ける必要がある。その結果、装置構成が複雑になってしまう。 However, in the cutting system described above, since the ball screw is used to move the chuck table for cutting, a bellows member is provided to protect the ball screw from processing water and processing waste. A plurality of plate members must be provided on the member. As a result, the device configuration becomes complicated.

また、上記の切断システムでは、半導体ストリップをX軸方向に移送するだけでなく、半導体ストリップを切断するためにY軸方向でシステム後方に移送するので、装置のフットプリントが大きくなってしまう。 Moreover, in the cutting system described above, the semiconductor strip is not only transported in the X-axis direction, but also transported in the Y-axis direction to the rear of the system for cutting the semiconductor strip, which increases the footprint of the apparatus.

一方で、特許文献2に示すように、切削手段を加工送り手段でX軸方向に加工送りするとともに、位置固定的なチャックテーブルに切り込み送り手段でZ軸方向に切り込み送りさせて、チャックテーブル上に保持された被加工物の切削加工を行う加工装置が考えられている。この加工装置では、加工送りに伴う切削水に対する防水として、チャックテーブル周りの水平配設の蛇腹構造による防水手段に不要にしている。 On the other hand, as shown in Patent Document 2, the cutting means is processed and fed in the X-axis direction by the processing feed means, and the position-fixed chuck table is fed in the Z-axis direction by the cutting feed means. A processing apparatus for cutting a workpiece held in a workpiece has been considered. In this machining apparatus, waterproofing means by a horizontally arranged bellows structure around the chuck table is not required for waterproofing against cutting water accompanying machining feed.

ところが、この加工装置では、チャックテーブル周りの水平配設の蛇腹構造による防水手段を不要にできるものの、切削加工において切削水が周囲の構成要素に飛散してしまい、不具合となる場合がある。 However, although this processing apparatus can eliminate the need for a waterproof means by means of a horizontally arranged bellows structure around the chuck table, there are cases in which cutting water scatters to surrounding components during cutting, resulting in a problem.

特表2007-536727号公報Japanese Patent Publication No. 2007-536727 特開2008-140981号公報JP 2008-140981 A

そこで本発明は、上記問題点を解決すべくなされたものであり、装置構成を簡素化するとともに、フットプリントを低減しつつ、加工液の飛散を防止することをその主たる課題とするものである。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made to solve the above-described problems, and its main object is to simplify the apparatus configuration, reduce the footprint, and prevent the machining fluid from scattering. .

すなわち本発明に係る加工装置は、加工対象物を保持する加工テーブルと、前記加工対象物を前記加工テーブルに搬送するために前記加工対象物を保持する第1保持機構と、前記加工テーブルに保持された前記加工対象物を加工する加工機構と、加工後の前記加工対象物が移される移載テーブルと、加工後の前記加工対象物を前記加工テーブルから前記移載テーブルに搬送するために加工後の前記加工対象物を保持する第2保持機構と、前記加工テーブル及び前記移載テーブルの配列方向に沿って延び、前記第1保持機構及び前記第2保持機構を移動させるための共通のトランスファ軸を有する搬送用移動機構と、前記加工機構を水平面において前記トランスファ軸に沿った第1方向及び当該第1方向に直交する第2方向それぞれに移動させる加工用移動機構と、前記加工用移動機構により前記加工機構とともに移動し、加工送り方向の前側から前記加工機構に加工液を噴射する加工液供給機構と、前記加工機構に対して前記加工送り方向の後側に設けられるとともに、前記加工テーブルの上面よりも下側の位置から上方を覆い、前記加工液の飛散を防止する加工液飛散防止機構とを備えることを特徴とする。 That is, a processing apparatus according to the present invention includes a processing table that holds an object to be processed, a first holding mechanism that holds the object to be processed in order to convey the object to be processed to the processing table, and a mechanism that holds the object to be processed on the processing table. a processing mechanism for processing the processed workpiece; a transfer table to which the processed workpiece is transferred; and a processing mechanism for transferring the processed workpiece from the processing table to the transfer table. a second holding mechanism for holding the subsequent workpiece; and a common transfer that extends along the arrangement direction of the processing table and the transfer table and moves the first holding mechanism and the second holding mechanism. a conveying movement mechanism having an axis; a processing movement mechanism for moving the processing mechanism in a horizontal plane in a first direction along the transfer shaft and a second direction orthogonal to the first direction; and the processing movement mechanism. a machining liquid supply mechanism that moves together with the machining mechanism by and ejects machining fluid to the machining mechanism from the front side in the machining feed direction; and a machining table that is provided behind the machining mechanism in the machining feed direction and a machining fluid scattering prevention mechanism that covers the upper side from a position below the upper surface of the machining fluid to prevent the machining fluid from scattering.

このように構成した本発明によれば、装置構成を簡素化するとともに、フットプリントを低減しつつ、加工液の飛散を防止することができる。 According to the present invention configured in this manner, it is possible to simplify the device configuration, reduce the footprint, and prevent the machining liquid from scattering.

本発明の一実施形態に係る切断装置の構成を模式的に示す図である。It is a figure showing typically composition of a cutting device concerning one embodiment of the present invention. 同実施形態の切断用テーブル及びその周辺構造を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically the table for cutting of the same embodiment, and its peripheral structure. 同実施形態の切断用テーブル及びその周辺構造の構成を模式的に示すZ方向から見た図(平面図)である。It is the figure (plan view) seen from the Z direction which shows typically the structure of the cutting table of the same embodiment, and its peripheral structure. 同実施形態の切断用テーブル及びその周辺構造の構成を模式的に示すY方向から見た図(正面図)である。It is the figure (front view) seen from the Y direction which shows typically the structure of the cutting table of the same embodiment, and its peripheral structure. 同実施形態の第1保持機構及び搬送用移動機構の構成を模式的に示すY方向から見た図(正面図)である。It is the figure (front view) seen from the Y direction which shows typically the structure of the 1st holding mechanism of the same embodiment, and the moving mechanism for conveyance. 同実施形態の第1保持機構及び搬送用移動機構の構成を模式的に示すX方向から見た図(側面図)である。It is the figure (side view) which showed typically the structure of the 1st holding mechanism of the same embodiment, and the moving mechanism for conveyance seen from the X direction. 同実施形態のラックアンドピニオン機構の構成を模式的に示す断面図である。It is a sectional view showing typically composition of a rack and pinion mechanism of the embodiment. 同実施形態の第2保持機構及び搬送用移動機構の構成を模式的に示すY方向から見た図(正面図)である。It is the figure (front view) seen from the Y direction which shows typically the structure of the 2nd holding mechanism of the same embodiment, and the moving mechanism for conveyance. 同実施形態の加工用移動機構及びカバー部材の構成を模式的に示すX方向から見た断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view viewed from the X direction schematically showing the configuration of the processing moving mechanism and the cover member of the same embodiment. 同実施形態の加工用移動機構、カバー部材及び切削水飛散防止機構の構成を模式的に示すY方向から見た断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view viewed from the Y direction schematically showing the configurations of the machining moving mechanism, the cover member, and the cutting water scattering prevention mechanism of the same embodiment. 同実施形態の加工用移動機構、カバー部材及び切削水飛散防止機構の構成を模式的に示すY方向から見た断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view viewed from the Y direction schematically showing the configurations of the machining moving mechanism, the cover member, and the cutting water scattering prevention mechanism of the same embodiment. 同実施形態の切削水飛散防止機構におけるシャッタ部材の(a)上昇位置、及び、(b)下降位置を示す模式図である。4A and 4B are schematic diagrams showing (a) a raised position and (b) a lowered position of the shutter member in the cutting water splash prevention mechanism of the same embodiment; 同実施形態の切削水飛散防止機構の動作を示す模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing the operation of the cutting water splash prevention mechanism of the same embodiment; 同実施形態の切削水飛散防止機構の動作を示す模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing the operation of the cutting water splash prevention mechanism of the same embodiment; 同実施形態の切断装置の動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows operation|movement of the cutting device of the same embodiment.

次に、本発明について、例を挙げてさらに詳細に説明する。ただし、本発明は、以下の説明により限定されない。 The invention will now be described in more detail by means of examples. However, the invention is not limited by the following description.

本発明の加工装置は、前述のとおり、加工対象物を保持する加工テーブルと、前記加工対象物を前記加工テーブルに搬送するために前記加工対象物を保持する第1保持機構と、前記加工テーブルに保持された前記加工対象物を加工する加工機構と、加工後の前記加工対象物が移される移載テーブルと、加工後の前記加工対象物を前記加工テーブルから前記移載テーブルに搬送するために加工後の前記加工対象物を保持する第2保持機構と、前記加工テーブル及び前記移載テーブルの配列方向に沿って延び、前記第1保持機構及び前記第2保持機構を移動させるための共通のトランスファ軸を有する搬送用移動機構と、前記加工機構を水平面において前記トランスファ軸に沿った第1方向及び当該第1方向に直交する第2方向それぞれに移動させる加工用移動機構と、前記加工用移動機構により前記加工機構とともに移動し、加工送り方向の前側から前記加工機構に加工液を噴射する加工液供給機構と、前記加工機構に対して前記加工送り方向の後側に設けられるとともに、前記加工テーブルの上面よりも下側の位置から上方を覆い、前記加工液の飛散を防止する加工液飛散防止機構とを備えることを特徴とする。
この加工装置であれば、加工テーブル及び移載テーブルの配列方向に沿って延びる共通のトランスファ軸により第1保持機構及び第2保持機構を移動させる構成とし、加工用移動機構により加工機構を水平面においてトランスファ軸に沿った第1方向及び当該第1方向に直交する第2方向それぞれに移動させるので、加工テーブルを第1方向及び第2方向に移動させることなく、加工対象物を加工することができる。このため、加工テーブルをボールねじ機構により移動させることなく、ボールねじ機構を保護するための蛇腹部材及び当該蛇腹部材を保護するためのカバー部材を不要にすることができる。その結果、加工装置の装置構成を簡素化することができる。また、加工テーブルが水平面上において第1方向及び第2方向に移動しない構成となるので、加工テーブルの移動スペース及びその周辺の無駄なスペースを削減することができ、加工装置のフットプリントを低減することができる。
特に本発明では、加工送り方向の前側から加工機構に加工液を噴射する構成において、加工機構に対して加工送り方向の後側に、加工テーブルの上面よりも下側の位置から上方を覆う加工液飛散防止機構を設けているので、加工液の飛散を防止することができる。
As described above, the processing apparatus of the present invention includes a processing table that holds an object to be processed, a first holding mechanism that holds the object to be processed in order to convey the object to be processed to the processing table, and the processing table. a processing mechanism for processing the processing object held in a table, a transfer table for transferring the processing object after processing, and a transfer table for transferring the processing object after processing from the processing table to the transfer table a second holding mechanism that holds the workpiece after machining; and a common mechanism that extends along the arrangement direction of the processing table and the transfer table and moves the first holding mechanism and the second holding mechanism. and a processing movement mechanism for moving the processing mechanism in a horizontal plane in a first direction along the transfer shaft and a second direction orthogonal to the first direction, and the processing a machining fluid supply mechanism that moves together with the machining mechanism by a moving mechanism and injects machining fluid to the machining mechanism from the front side in the machining feed direction; A machining liquid scattering prevention mechanism is provided to cover the upper side of the machining table from a position below the upper surface of the machining table to prevent the machining liquid from scattering.
In this processing apparatus, the first holding mechanism and the second holding mechanism are moved by a common transfer shaft extending along the arrangement direction of the processing table and the transfer table, and the processing movement mechanism moves the processing mechanism in the horizontal plane. Since it is moved in the first direction along the transfer axis and in the second direction orthogonal to the first direction, the workpiece can be processed without moving the processing table in the first direction and the second direction. . Therefore, the bellows member for protecting the ball screw mechanism and the cover member for protecting the bellows member can be made unnecessary without moving the machining table by the ball screw mechanism. As a result, the device configuration of the processing device can be simplified. In addition, since the processing table is configured so as not to move in the first direction and the second direction on the horizontal plane, it is possible to reduce the movement space of the processing table and the wasted space therearound, thereby reducing the footprint of the processing apparatus. be able to.
In particular, in the present invention, in the configuration in which the machining liquid is sprayed from the front side in the machining feed direction to the machining mechanism, the machining that covers the upper side from the position below the upper surface of the machining table on the rear side in the machining feed direction with respect to the machining mechanism Since the liquid scattering prevention mechanism is provided, the machining liquid can be prevented from scattering.

加工用移動機構による加工機構の移動に追従しつつ加工液の飛散を防止するためには、前記加工液飛散防止機構は、前記加工機構の移動に伴って伸縮し、前記加工送り方向に直交する上方及び側方を覆う蛇腹部材と、前記蛇腹部材における前記加工送り方向の後端部が接続され、前記加工送り方向の後方を覆うシャッタ部材とを有することが望ましい。
加工機構による加工対象物の加工時にシャッタ部材が移動すると、加工液の飛散を確実に防止できない可能性がある。この問題を解決するためには、加工装置は、前記加工機構による前記加工対象物の加工時において前記シャッタ部材を固定する固定部を有していることが望ましい。
In order to prevent the machining fluid from scattering while following the movement of the machining mechanism by the machining moving mechanism, the machining fluid scattering prevention mechanism expands and contracts along with the movement of the machining mechanism and extends perpendicularly to the machining feed direction. It is desirable to have a bellows member that covers the upper side and sides, and a shutter member that is connected to the rear end portion of the bellows member in the feed direction and covers the rear side in the feed direction.
If the shutter member moves during machining of the workpiece by the machining mechanism, it may not be possible to reliably prevent the machining fluid from scattering. In order to solve this problem, it is desirable that the processing device has a fixing portion that fixes the shutter member during processing of the object by the processing mechanism.

1つの加工装置において加工対象物の処理能力を上げるためには、本発明の加工装置は、前記加工テーブルを複数備えていることが望ましい。
ここで、前記固定部は、前記複数の加工テーブルそれぞれに対応して設けられていることが望ましい。この構成であれば、蛇腹部材を1つの加工テーブルに対応した長さにすることができ、縮んだ状態の蛇腹部材の寸法を小さくすることができる。また、各加工テーブルに応じてシャッタ部材を固定し、1つの加工テーブルを蛇腹部材で覆う構成にすることができ、加工していない加工テーブルに対して加工前の加工対象物を搬入することができるし、加工後の加工対象物を搬出することができる等の処理能力を上げることができる。
In order to increase the processing capacity of a single processing apparatus, the processing apparatus of the present invention preferably has a plurality of processing tables.
Here, it is preferable that the fixed portion is provided corresponding to each of the plurality of processing tables. With this configuration, the bellows member can be made to have a length corresponding to one processing table, and the size of the bellows member in a contracted state can be reduced. In addition, the shutter member can be fixed according to each processing table, and one processing table can be covered with a bellows member, so that an object to be processed before processing can be carried into the processing table that is not processed. In addition, the processing capacity can be increased, such as being able to carry out the processed object after processing.

複数の加工テーブルに対応した複数の固定部にシャッタ部材を移動させるためには、前記加工用移動機構は、前記シャッタ部材を複数の前記固定部それぞれに移動させることが望ましい。
この構成であれば、シャッタ部材を移動させる移動機構を別途設ける必要がなく、シャッタ部材を移動させる構成を簡略化することができる。
In order to move the shutter member to a plurality of fixed portions corresponding to a plurality of processing tables, it is preferable that the working moving mechanism move the shutter member to each of the plurality of fixed portions.
With this configuration, there is no need to separately provide a moving mechanism for moving the shutter member, and the configuration for moving the shutter member can be simplified.

シャッタ部材の下端部が加工テーブルの上面よりも低い位置に設けられていることから、シャッタ部材を加工テーブルに干渉することなく移動させる必要がある。このため、前記シャッタ部材は、その下端部が前記加工テーブルの上面よりも上側に位置する上昇位置と、前記下端部が前記加工テーブルの上面よりも下側に位置する下降位置との間で移動可能であり、前記下降位置において前記固定部により固定されることが望ましい。 Since the lower end of the shutter member is provided at a position lower than the upper surface of the processing table, it is necessary to move the shutter member without interfering with the processing table. For this reason, the shutter member moves between a raised position where the lower end is located above the upper surface of the processing table and a lowered position where the lower end is located below the upper surface of the processing table. It is possible and is preferably fixed by the fixing part in the lowered position.

前記加工用移動機構は、いわゆるガントリ機構と呼ばれるものである。具体的に前記加工用移動機構は、前記加工機構を前記第1方向であるX方向に直線移動させるX方向移動部と、前記加工機構を前記第2方向であるY方向に直線移動させるY方向移動部とを備え、前記X方向移動部は、前記加工テーブルを挟んでX方向に沿って設けられた一対のX方向ガイドレールと、当該一対のX方向ガイドレールに沿って移動するとともに、前記Y方向移動部を介して前記加工機構を支持する支持体とを有していることが望ましい。この構成において、共通のトランスファ軸は、支持体の上方において当該支持体を横切るように配置され、共通のトランスファ軸及び支持体は互いに交差する位置関係となる。
このようにX方向に沿って設けられる一対のX方向ガイドレールが加工テーブルを挟んで設けられるので、一対のX方向ガイドレールのピッチ(間隔)を大きくすることができる。その結果、X方向ガイドレール同士の上下方向の位置ずれが加工に与える影響を小さくすることができる。つまり、加工機構(例えばブレードなどの回転工具)と加工テーブルの直交度のズレを小さくすることができ、加工精度を向上させることができる。また、X方向ガイドレールに従来よりも低スペックのものを用いることができる。
The working movement mechanism is a so-called gantry mechanism. Specifically, the processing moving mechanism includes an X-direction moving unit that linearly moves the processing mechanism in the X direction, which is the first direction, and a Y-direction that linearly moves the processing mechanism in the Y direction, which is the second direction. a moving part, the X-direction moving part moving along a pair of X-direction guide rails provided along the X direction with the machining table interposed therebetween; It is desirable to have a support for supporting the processing mechanism via the Y-direction moving part. In this configuration, the common transfer axis is positioned above and across the supports such that the common transfer axis and the supports are in a crosswise relationship with each other.
Since the pair of X-direction guide rails provided along the X-direction are provided so as to sandwich the processing table, the pitch (interval) between the pair of X-direction guide rails can be increased. As a result, it is possible to reduce the influence of vertical misalignment between the X-direction guide rails on machining. In other words, it is possible to reduce the deviation in orthogonality between the machining mechanism (for example, a rotary tool such as a blade) and the machining table, thereby improving the machining accuracy. Also, the X-direction guide rail can be of lower specifications than the conventional one.

上記の加工用移動機構においては、前記X方向に沿って一方を向く方向が前記加工送り方向であり、前記支持体においてX方向に沿った一方側に前記加工機構及び前記加工液供給機構が設けられており、前記支持体においてX方向に沿った他方側に前記加工液飛散防止機構が設けられていることが望ましい。この構成であれば、支持体の下側を通過した加工液が支持体のX方向に沿った他方側で飛散することを防止することができる。 In the above machining moving mechanism, the machining feeding direction is the direction facing one side along the X direction, and the machining mechanism and the machining liquid supply mechanism are provided on one side of the support along the X direction. It is desirable that the machining fluid scattering prevention mechanism is provided on the other side of the support along the X direction. With this configuration, it is possible to prevent the working liquid that has passed under the support from scattering on the other side of the support along the X direction.

支持体のX方向に沿った一方側における加工液の飛散を防止するためには、前記支持体のX方向に沿った一方側に前記加工機構及び前記加工液供給機構を収容するカバー部材が設けられていることが望ましい。 In order to prevent the machining liquid from scattering on one side of the support along the X direction, a cover member for accommodating the machining mechanism and the machining liquid supply mechanism is provided on one side of the support along the X direction. It is desirable that

また、上記の加工装置を用いて加工品を製造する加工品の製造方法も本発明の一態様である。 A method for manufacturing a processed product using the processing apparatus described above is also an aspect of the present invention.

<本発明の一実施形態>
以下に、本発明に係る加工装置の一実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下に示すいずれの図についても、わかりやすくするために、適宜省略し又は誇張して模式的に描かれている。同一の構成要素については、同一の符号を付して説明を適宜省略する。
<One embodiment of the present invention>
An embodiment of a processing apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings. It should be noted that all of the drawings shown below are schematically drawn with appropriate omissions or exaggerations for the sake of clarity. The same components are given the same reference numerals, and the description thereof is omitted as appropriate.

<加工装置の全体構成>
本実施形態の加工装置100は、加工対象物である封止済基板Wを切断することによって、複数の製品Pに個片化する切断装置である。
<Overall configuration of processing equipment>
The processing apparatus 100 of the present embodiment is a cutting apparatus that separates a plurality of products P by cutting a sealed substrate W, which is an object to be processed.

ここで、封止済基板Wとは、半導体チップ、抵抗素子、キャパシタ素子等の電子素子が接続された基板に対して、少なくとも電子素子を樹脂封止するように樹脂成形したものである。封止済基板Wを構成する基板としては、リードフレーム、プリント配線板を用いることができ、これら以外にも、半導体製基板(シリコンウェーハ等の半導体ウェーハを含む)、金属製基板、セラミック製基板、ガラス製基板、樹脂製基板等を用いることができる。また、封止済基板Wを構成する基板には、配線が施されていても施されていなくてもよい。 Here, the sealed substrate W is a substrate to which electronic elements such as a semiconductor chip, a resistor element, a capacitor element, etc. are connected, and resin-molded so as to seal at least the electronic elements with resin. A lead frame and a printed wiring board can be used as the substrate constituting the sealed substrate W. In addition to these, semiconductor substrates (including semiconductor wafers such as silicon wafers), metal substrates, and ceramic substrates can be used. , a glass substrate, a resin substrate, or the like can be used. Further, the substrates constituting the sealed substrate W may or may not be wired.

また、本実施形態の封止済基板W及び製品Pは、一方の面が後に実装される実装面となる。本実施形態の説明では、後に実装される一方の面を「実装面」と記載し、その反対側の面を「反対面」と記載する。 Also, one surface of the sealed substrate W and the product P of this embodiment becomes a mounting surface to be mounted later. In the description of this embodiment, one surface to be mounted later is described as a "mounting surface", and the opposite surface is described as an "opposite surface".

具体的に切断装置100は、図1に示すように、封止済基板Wを保持する2つの切断用テーブル(加工テーブル)2A、2Bと、封止済基板Wを切断用テーブル2A、2Bに搬送するために封止済基板Wを保持する第1保持機構3と、切断用テーブル2A、2Bに保持された封止済基板Wを切断する切断機構(加工機構)4と、複数の製品Pが移される移載テーブル5と、複数の製品Pを切断用テーブル2A、2Bから移載テーブル5に搬送するために複数の製品Pを保持する第2保持機構6と、第1保持機構3及び第2保持機構6を移動させるための共通のトランスファ軸71を有する搬送用移動機構7と、切断機構4を切断用テーブル2A、2Bに保持された封止済基板Wに対して移動させる切断用移動機構(加工用移動機構)8とを備えている。なお、第1保持機構3及び搬送用移動機構7により封止済基板Wを搬送する搬送機構(ローダ)が構成され、第2保持機構6及び搬送用移動機構7により複数の製品Pを搬送する搬送機構(アンローダ)が構成される。 Specifically, as shown in FIG. 1, the cutting apparatus 100 includes two cutting tables (processing tables) 2A and 2B that hold the sealed substrate W, and the sealed substrate W on the cutting tables 2A and 2B. A first holding mechanism 3 that holds the sealed substrate W for transportation, a cutting mechanism (processing mechanism) 4 that cuts the sealed substrate W held on the cutting tables 2A and 2B, and a plurality of products P a transfer table 5 to which the are transferred, a second holding mechanism 6 for holding a plurality of products P in order to transfer the plurality of products P from the cutting tables 2A and 2B to the transfer table 5, a first holding mechanism 3 and A transfer moving mechanism 7 having a common transfer shaft 71 for moving the second holding mechanism 6, and a cutting mechanism 4 for moving the sealed substrate W held by the cutting tables 2A and 2B. A moving mechanism (processing moving mechanism) 8 is provided. The first holding mechanism 3 and the transport moving mechanism 7 constitute a transport mechanism (loader) for transporting the sealed substrate W, and the second holding mechanism 6 and the transport moving mechanism 7 transport a plurality of products P. A transport mechanism (unloader) is configured.

以下の説明において、切断用テーブル2A、2Bの上面に沿った平面(水平面)内で互いに直交する方向をそれぞれ第1方向であるX方向及び第2方向であるY方向、X方向及びY方向に直交する鉛直方向をZ方向とする。具体的には、図1の左右方向をX方向とし、上下方向をY方向とする。後述するが、X方向は、支持体812の移動方向であり、また、門型の支持体812における一対の脚部を架け渡される梁部(ビーム部)の長手方向(梁部の延びる方向)に直交する方向である(図2及び図3参照)。 In the following description, the directions orthogonal to each other in the plane (horizontal plane) along the upper surfaces of the cutting tables 2A and 2B are the X direction as the first direction and the Y direction as the second direction, and the X direction and the Y direction. The perpendicular direction is defined as the Z direction. Specifically, the horizontal direction in FIG. 1 is the X direction, and the vertical direction is the Y direction. As will be described later, the X direction is the direction in which the support 812 moves, and the longitudinal direction (the direction in which the beam extends) of the beam that bridges the pair of legs of the gate-shaped support 812 . (see FIGS. 2 and 3).

<切断用テーブル2A、2B>
2つの切断用テーブル2A、2Bは、X方向、Y方向及びZ方向に固定して設けられている。なお、切断用テーブル2Aは、切断用テーブル2Aの下に設けられた回転機構9Aによってθ方向に回転可能である。また、切断用テーブル2Bは、切断用テーブル2Bの下に設けられた回転機構9Bによってθ方向に回転可能である。
<Cutting tables 2A and 2B>
The two cutting tables 2A, 2B are fixed in the X, Y and Z directions. The cutting table 2A can be rotated in the .theta. direction by a rotating mechanism 9A provided below the cutting table 2A. Further, the cutting table 2B can be rotated in the .theta. direction by a rotating mechanism 9B provided under the cutting table 2B.

これら2つの切断用テーブル2A、2Bは、水平面上においてX方向に沿って設けられている。具体的には、2つの切断用テーブル2A、2Bは、それらの上面が同一の水平面上に位置する(Z方向において同じ高さ位置する)ように配置されるとともに(図4参照)、それらの上面の中心(具体的には回転機構9A、9Bによる回転中心)がX方向に延びる同一直線上に位置するように配置されている(図2及び図3参照)。 These two cutting tables 2A and 2B are provided along the X direction on the horizontal plane. Specifically, the two cutting tables 2A and 2B are arranged such that their upper surfaces are positioned on the same horizontal plane (located at the same height in the Z direction) (see FIG. 4), and their The centers of the upper surfaces (specifically, the centers of rotation of the rotation mechanisms 9A and 9B) are arranged on the same straight line extending in the X direction (see FIGS. 2 and 3).

また、2つの切断用テーブル2A、2Bは、封止済基板Wを吸着保持するものであり、図1に示すように、2つの切断用テーブル2A、2Bに対応して、吸着保持するための2つの真空ポンプ10A、10Bが配置されている。各真空ポンプ10A、10Bは、例えば水封式真空ポンプである。 The two cutting tables 2A and 2B suck and hold the sealed substrate W, and as shown in FIG. Two vacuum pumps 10A, 10B are arranged. Each vacuum pump 10A, 10B is, for example, a water ring vacuum pump.

ここで、切断用テーブル2A、2BがXYZ方向に固定されているため、真空ポンプ10A、10Bから切断用テーブル2A、2Bに接続される配管(不図示)を短くすることができ、配管の圧力損失を低減して、吸着力の低下を防止することができる。その結果、例えば1mm角以下の極小パッケージであっても確実に切断用テーブル2A、2Bに吸着することができる。また、配管の圧力損失による吸着力の低下を防止できるので、真空ポンプ10A、10Bの容量を小さくすることができ、小型化やコストダウンにもつながる。 Here, since the cutting tables 2A and 2B are fixed in the XYZ directions, the pipes (not shown) connected from the vacuum pumps 10A and 10B to the cutting tables 2A and 2B can be shortened, and the pipe pressure It is possible to reduce the loss and prevent the deterioration of the adsorption force. As a result, even a very small package of, for example, 1 mm square or less can be reliably attracted to the cutting tables 2A and 2B. In addition, since it is possible to prevent a decrease in adsorption force due to pressure loss in the piping, the capacities of the vacuum pumps 10A and 10B can be reduced, leading to miniaturization and cost reduction.

<第1保持機構3>
第1保持機構3は、図1に示すように、封止済基板Wを基板供給機構11から切断用テーブル2A、2Bに搬送するために封止済基板Wを保持するものである。この第1保持機構3は、図5及び図6に示すように、封止済基板Wを吸着保持するための複数の吸着部311が設けられた吸着ヘッド31と、当該吸着ヘッド31の吸着部311に接続された真空ポンプ(不図示)とを有している。そして、吸着ヘッド31が、後述する搬送用移動機構7などにより所望の位置に移動されることにより、封止済基板Wを基板供給機構11から切断用テーブル2A、2Bに搬送する。
<First holding mechanism 3>
The first holding mechanism 3, as shown in FIG. 1, holds the sealed substrate W in order to transport the sealed substrate W from the substrate supply mechanism 11 to the cutting tables 2A and 2B. As shown in FIGS. 5 and 6, the first holding mechanism 3 includes a suction head 31 provided with a plurality of suction portions 311 for sucking and holding the sealed substrate W, and a suction portion of the suction head 31. 311 and a vacuum pump (not shown). Then, the suction head 31 is moved to a desired position by a transfer mechanism 7 or the like, which will be described later, to transfer the sealed substrate W from the substrate supply mechanism 11 to the cutting tables 2A and 2B.

基板供給機構11は、図1に示すように、複数の封止済基板Wが外部から収容される基板収容部111と、当該基板収容部111に収容された封止済基板Wを第1保持機構3により吸着保持される保持位置RPに移動させる基板供給部112とを有している。この保持位置RPは、2つの切断用テーブル2A、2BとX方向において同列となるように設定されている。なお、基板供給機構11は、第1保持機構3により吸着される封止済基板Wを柔軟な状態として、吸着を容易とするために加熱する加熱部113を有していても良い。 As shown in FIG. 1, the substrate supply mechanism 11 includes a substrate accommodation portion 111 that accommodates a plurality of sealed substrates W from the outside, and a first holding portion for the sealed substrates W accommodated in the substrate accommodation portion 111 . and a substrate supply unit 112 for moving to a holding position RP where the mechanism 3 sucks and holds the substrate. This holding position RP is set so as to be aligned with the two cutting tables 2A and 2B in the X direction. Note that the substrate supply mechanism 11 may have a heating unit 113 that heats the sealed substrate W to be attracted by the first holding mechanism 3 so as to make it flexible and facilitate the attraction.

<切断機構4>
加工機構である切断機構4は、図1、図2及び図3に示すように、ブレード41A、41B及び2つのスピンドル42A、42Bからなる2つの回転工具40を有するものである。2つのスピンドル42A、42Bは、それらの回転軸がY方向に沿うように設けられており、それらに取り付けられるブレード41A、41Bが互いに対向するように配置される(図3参照)。スピンドル42Aのブレード41A及びスピンドル42Bのブレード41Bは、X方向とZ方向とを含む面内において回転することによって各切断用テーブル2A、2Bに保持された封止済基板Wを切断する。なお、本実施形態の切断装置100には、図4に示すように、ブレード41A、41Bによって発生する摩擦熱を抑えるために加工液である切削水を噴射する切削水供給機構(加工液供給機構)12が設けられている。この切削水供給機構12については、後述する。
<Cutting mechanism 4>
As shown in FIGS. 1, 2 and 3, the cutting mechanism 4, which is a working mechanism, has two rotary tools 40 consisting of blades 41A and 41B and two spindles 42A and 42B. The two spindles 42A, 42B are provided with their rotation axes along the Y direction, and the blades 41A, 41B attached thereto are arranged so as to face each other (see FIG. 3). The blade 41A of the spindle 42A and the blade 41B of the spindle 42B cut the sealed substrate W held on the cutting tables 2A and 2B by rotating in a plane including the X direction and the Z direction. As shown in FIG. 4, the cutting apparatus 100 of the present embodiment includes a cutting water supply mechanism (working fluid supply mechanism) that injects cutting water, which is a working fluid, in order to suppress frictional heat generated by the blades 41A and 41B. ) 12 are provided. The cutting water supply mechanism 12 will be described later.

<移載テーブル5>
本実施形態の移載テーブル5は、図1に示すように、後述する検査部13により検査された複数の製品Pが移されるテーブルである。この移載テーブル5は、いわゆるインデックステーブルといわれるものであり、複数の製品Pを各種トレイ21に仕分けする前に、複数の製品Pが一時的に載置される。また、移載テーブル5は、2つの切断用テーブル2A、2Bと水平面上においてX方向に沿って一列に配置される。移載テーブル5に載置された複数の製品Pは、検査部13による検査結果(良品、不良品など)に応じて、仕分け機構20によって各種トレイ21に仕分けされる。
<Transfer table 5>
The transfer table 5 of the present embodiment, as shown in FIG. 1, is a table to which a plurality of products P inspected by an inspection unit 13, which will be described later, are transferred. This transfer table 5 is a so-called index table, and a plurality of products P are temporarily placed thereon before sorting the plurality of products P onto various trays 21 . Also, the transfer table 5 and the two cutting tables 2A and 2B are arranged in a line along the X direction on the horizontal plane. A plurality of products P placed on the transfer table 5 are sorted into various trays 21 by the sorting mechanism 20 according to the inspection results (good products, defective products, etc.) by the inspection unit 13 .

なお、各種トレイ21は、トランスファ軸71に沿って移動するトレイ搬送機構22により所望の位置に搬送され、仕分け機構20によって仕分けられる製品Pが載置される。仕分けされた後に各種トレイ21は、トレイ搬送機構22によりトレイ収容部23に収容される。 Various trays 21 are transported to desired positions by a tray transport mechanism 22 that moves along a transfer shaft 71, and products P sorted by the sorting mechanism 20 are placed thereon. After being sorted, the various trays 21 are accommodated in the tray accommodating section 23 by the tray conveying mechanism 22 .

<検査部13>
ここで、検査部13は、図1に示すように、切断用テーブル2A、2Bと移載テーブル5との間に設けられ、第2保持機構6に保持された複数の製品Pを検査するものである。本実施形態の検査部13は、製品Pの反対面を検査する第1検査部131と、製品Pの実装面を検査する第2検査部132とを有している。第1検査部131は、反対面を検査するための光学系を有する撮像カメラであり、第2検査部132は、実装面を検査するための光学系を有する撮像カメラである。なお、第1検査部131及び第2検査部132を共通としても良い。
<Inspection unit 13>
Here, as shown in FIG. 1, the inspection unit 13 is provided between the cutting tables 2A and 2B and the transfer table 5, and inspects the plurality of products P held by the second holding mechanism 6. is. The inspection unit 13 of this embodiment has a first inspection unit 131 that inspects the opposite surface of the product P and a second inspection unit 132 that inspects the mounting surface of the product P. As shown in FIG. The first inspection unit 131 is an imaging camera having an optical system for inspecting the opposite surface, and the second inspection unit 132 is an imaging camera having an optical system for inspecting the mounting surface. Note that the first inspection unit 131 and the second inspection unit 132 may be shared.

また、検査部13により複数の製品Pの両面を検査可能にするために、複数の製品Pを反転させる反転機構14が設けられている(図1参照)。この反転機構14は、複数の製品Pを保持する保持テーブル141と、当該保持テーブル141を表裏逆となるように反転させるモータなどの反転部142とを有している。 In addition, a reversing mechanism 14 for reversing the plurality of products P is provided so that both sides of the plurality of products P can be inspected by the inspection unit 13 (see FIG. 1). The reversing mechanism 14 has a holding table 141 that holds a plurality of products P, and a reversing unit 142 such as a motor that turns the holding table 141 upside down.

第2保持機構6が加工テーブル2A、2Bから複数の製品Pを保持した際には、製品Pの反対面が下側を向いている。この状態で、加工テーブル2A、2Bから反転機構14に複数の製品Pを搬送する途中で、第1検査部131により製品Pの反対面が検査される。その後、第2保持機構6に保持された複数の製品Pが反転機構14により反転されて、その後、反転機構14が移載テーブル5の位置まで移動する。この移動の間に、第2検査部132により下側を向いている製品Pの実装面が検査される。その後、製品Pが移載テーブル5に受け渡される。 When the second holding mechanism 6 holds a plurality of products P from the processing tables 2A and 2B, the opposite surfaces of the products P face downward. In this state, the opposite surface of the product P is inspected by the first inspection unit 131 while the plurality of products P are being transported from the processing tables 2A and 2B to the reversing mechanism 14 . After that, the multiple products P held by the second holding mechanism 6 are reversed by the reversing mechanism 14 , and then the reversing mechanism 14 moves to the position of the transfer table 5 . During this movement, the mounting surface of the product P facing downward is inspected by the second inspection unit 132 . After that, the product P is delivered to the transfer table 5 .

<第2保持機構6>
第2保持機構6は、図1に示すように、複数の製品Pを切断用テーブル2A、2Bから反転機構14に搬送するために複数の製品Pを保持するものである。この第2保持機構6は、図8に示すように、複数の製品Pを吸着保持するための複数の吸着部611が設けられた吸着ヘッド61と、当該吸着ヘッド61の吸着部611に接続された真空ポンプ(不図示)とを有している。そして、吸着ヘッド61が、後述する搬送用移動機構7などにより所望の位置に移動されることにより、複数の製品Pを切断用テーブル2A、2Bから保持テーブル141に搬送する。
<Second holding mechanism 6>
The second holding mechanism 6 holds a plurality of products P in order to convey the plurality of products P from the cutting tables 2A and 2B to the reversing mechanism 14, as shown in FIG. As shown in FIG. 8 , the second holding mechanism 6 is connected to a suction head 61 provided with a plurality of suction portions 611 for sucking and holding a plurality of products P, and the suction portions 611 of the suction head 61 . and a vacuum pump (not shown). Then, the suction head 61 is moved to a desired position by a transfer mechanism 7 or the like, which will be described later, to transfer the plurality of products P from the cutting tables 2A and 2B to the holding table 141 .

<搬送用移動機構7>
搬送用移動機構7は、図1に示すように、第1保持機構3を少なくとも基板供給機構11と切断用テーブル2A、2Bとの間で移動させるとともに、第2保持機構6を少なくとも切断用テーブル2A、2Bと保持テーブル141との間で移動させるものである。
<Conveyance moving mechanism 7>
As shown in FIG. 1, the transportation moving mechanism 7 moves the first holding mechanism 3 between at least the substrate supply mechanism 11 and the cutting tables 2A and 2B, and moves the second holding mechanism 6 between at least the cutting tables. It is moved between 2A, 2B and the holding table 141 .

そして、搬送用移動機構7は、図1に示すように、2つの切断用テーブル2A、2B及び移載テーブル5の配列方向(X方向)に沿って一直線に延び、第1保持機構3及び第2保持機構6を移動させるための共通のトランスファ軸71を有する。 As shown in FIG. 1, the transportation moving mechanism 7 extends in a straight line along the arrangement direction (X direction) of the two cutting tables 2A and 2B and the transfer table 5, and the first holding mechanism 3 and the second 2 has a common transfer shaft 71 for moving the holding mechanism 6 .

このトランスファ軸71は、第1保持機構3が基板供給機構11の基板供給部112の上方に移動できるとともに、第2保持機構6が移載テーブル5の上方に移動できる範囲で設けられている(図1参照)。また、このトランスファ軸71に対して、第1保持機構3、第2保持機構6、切断用テーブル2A、2B及び移載テーブル5は、平面視において同じ側(手前側)に設けられている。その他、検査部13、反転機構14、各種トレイ21、トレイ搬送機構22、トレイ収容部23、後述する第1クリーニング機構18及び第2クリーニング機構19、回収容器172も、トランスファ軸71に対して同じ側(手前側)に設けられている。 The transfer shaft 71 is provided within a range in which the first holding mechanism 3 can move above the substrate supply section 112 of the substrate supply mechanism 11 and the second holding mechanism 6 can move above the transfer table 5 ( See Figure 1). The first holding mechanism 3, the second holding mechanism 6, the cutting tables 2A and 2B, and the transfer table 5 are provided on the same side (front side) of the transfer shaft 71 in plan view. In addition, the inspection section 13, the reversing mechanism 14, various trays 21, the tray conveying mechanism 22, the tray accommodating section 23, the first cleaning mechanism 18 and the second cleaning mechanism 19 described later, and the collection container 172 are the same with respect to the transfer shaft 71. provided on the side (front side).

さらに搬送用移動機構7は、図5、図6及び図8に示すように、トランスファ軸71に沿ってX方向に第1保持機構3及び第2保持機構6を移動させるメイン移動機構72と、トランスファ軸71に対して第1保持機構3及び第2保持機構6をZ方向に昇降移動させる昇降移動機構73と、トランスファ軸71に対して第1保持機構3及び第2保持機構6をY方向に水平移動させる水平移動機構74とを有している。 Furthermore, as shown in FIGS. 5, 6, and 8, the transporting moving mechanism 7 includes a main moving mechanism 72 that moves the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6 in the X direction along the transfer shaft 71; A vertical movement mechanism 73 for vertically moving the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6 with respect to the transfer shaft 71 in the Z direction, and a vertical movement mechanism 73 for vertically moving the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6 with respect to the transfer shaft 71 in the Y direction. and a horizontal movement mechanism 74 for horizontal movement.

メイン移動機構72は、図5~図8に示すように、トランスファ軸71に設けられ、第1保持機構3及び第2保持機構6をガイドする共通のガイドレール721と、当該ガイドレール721に沿って第1保持機構3及び第2保持機構6を移動させるラックアンドピニオン機構722とを有している。 As shown in FIGS. 5 to 8, the main moving mechanism 72 is provided on the transfer shaft 71 and has a common guide rail 721 for guiding the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6. and a rack-and-pinion mechanism 722 for moving the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6 .

ガイドレール721は、トランスファ軸71に沿ってX方向に一直線に延びており、トランスファ軸71と同様に、第1保持機構3が基板供給機構11の基板供給部112の上方に移動できるとともに、第2保持機構6が移載テーブル5の上方に移動できる範囲で設けられている。このガイドレール721には、昇降移動機構73及び水平移動機構74を介して第1保持機構3及び第2保持機構6が設けられるスライド部材723がスライド可能に設けられている。ここで、ガイドレール721は第1保持機構3及び第2保持機構6に共通するが、昇降移動機構73、水平移動機構74及びスライド部材723は、第1保持機構3及び第2保持機構6のそれぞれに対して個別に設けられている。 The guide rail 721 extends straight in the X direction along the transfer shaft 71, and, like the transfer shaft 71, allows the first holding mechanism 3 to move above the substrate supply portion 112 of the substrate supply mechanism 11, 2 A holding mechanism 6 is provided within a range in which it can move above the transfer table 5 . The guide rail 721 is slidably provided with a slide member 723 on which the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6 are provided via a vertical movement mechanism 73 and a horizontal movement mechanism 74 . Here, the guide rail 721 is common to the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6, but the vertical movement mechanism 73, the horizontal movement mechanism 74 and the slide member 723 are common to the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6. provided separately for each.

ラックアンドピニオン機構722は、第1保持機構3及び第2保持機構6に共通のカムラック722aと、第1保持機構3及び第2保持機構6それぞれに設けられ、アクチュエータ(不図示)により回転するピニオンギア722bとを有している。カムラック722aは、共通のトランスファ軸71に設けられており、複数のカムラック要素を連結することにより、種々の長さに変更することができるものである。また、ピニオンギア722bは、スライド部材723に設けられ、いわゆるローラピニオンと呼ばれるものであり、図7に示すように、モータの回転軸とともに回転する一対のローラ本体722b1と、当該一対のローラ本体722b1の間において周方向に等間隔に設けられ、ローラ本体722b1に対して転動可能に設けられた複数のローラピン722b2とを有するものである。本実施形態のラックアンドピニオン機構722は、上記のローラピニオンを用いているので、カムラック722aに対して2つ以上のローラピン722b2が接触することになり、正逆方向にバックラッシが発生せず、第1保持機構3及び第2保持機構6をX方向に移動させる際に位置決め精度が良くなる。 The rack and pinion mechanism 722 includes a cam rack 722a common to the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6, and a pinion provided in each of the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6 and rotated by an actuator (not shown). and a gear 722b. The cam rack 722a is provided on the common transfer shaft 71 and can be varied in length by connecting a plurality of cam rack elements. The pinion gear 722b is provided on the slide member 723 and is called a so-called roller pinion. As shown in FIG. It has a plurality of roller pins 722b2 which are provided at equal intervals in the circumferential direction between the roller bodies 722b1 and are provided so as to be able to roll with respect to the roller body 722b1. Since the rack-and-pinion mechanism 722 of this embodiment uses the roller pinions described above, two or more roller pins 722b2 come into contact with the cam rack 722a. Positioning accuracy is improved when moving the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6 in the X direction.

昇降移動機構73は、図5及び図8に示すように、第1保持機構3及び第2保持機構6それぞれに対応して設けられている。第1保持機構3の昇降移動機構73は、図5及び図6に示すように、トランスファ軸71(具体的にはメイン移動機構72)と第1保持機構3との間に介在して設けられており、Z方向に沿って設けられたZ方向ガイドレール73aと、当該Z方向ガイドレール73aに沿って第1保持機構3を移動させるアクチュエータ部73bとを有している。なお、アクチュエータ部73bは、例えばボールねじ機構を用いたものであっても良いし、エアシリンダを用いたものであっても良いし、リニアモータを用いたものであっても良い。なお、第2保持機構6の昇降移動機構73の構成は、図8に示すように、第1保持機構3の昇降移動機構73と同様である。 As shown in FIGS. 5 and 8, the lifting mechanism 73 is provided corresponding to each of the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6. As shown in FIGS. The lifting mechanism 73 of the first holding mechanism 3 is interposed between the transfer shaft 71 (specifically, the main moving mechanism 72) and the first holding mechanism 3, as shown in FIGS. It has a Z-direction guide rail 73a provided along the Z-direction, and an actuator portion 73b for moving the first holding mechanism 3 along the Z-direction guide rail 73a. The actuator section 73b may use, for example, a ball screw mechanism, an air cylinder, or a linear motor. The configuration of the up-and-down movement mechanism 73 of the second holding mechanism 6 is the same as that of the up-and-down movement mechanism 73 of the first holding mechanism 3, as shown in FIG.

水平移動機構74は、図5及び図8に示すように、第1保持機構3及び第2保持機構6それぞれに対応して設けられている。第1保持機構3の水平移動機構74は、図5及び図6に示すように、トランスファ軸71(具体的には昇降移動機構73)と第1保持機構3との間に介在して設けられており、Y方向に沿って設けられたY方向ガイドレール74aと、第1保持機構3に対してY方向ガイドレール74aの一方側に力を付与する弾性体74bと、第1保持機構3をY方向ガイドレール74aの他方側に移動させるカム機構74cとを有する。ここで、カム機構74cは、偏心カムを用いたものであり、当該偏心カムをモータ等のアクチュエータで回転させることにより、第1保持機構3のY方向への移動量を調整することができる。 The horizontal movement mechanism 74 is provided corresponding to each of the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6, as shown in FIGS. The horizontal movement mechanism 74 of the first holding mechanism 3 is interposed between the transfer shaft 71 (specifically, the vertical movement mechanism 73) and the first holding mechanism 3, as shown in FIGS. Y-direction guide rails 74a provided along the Y-direction, elastic bodies 74b for applying force to the first holding mechanism 3 on one side of the Y-direction guide rails 74a, and the first holding mechanism 3. and a cam mechanism 74c for moving to the other side of the Y-direction guide rail 74a. Here, the cam mechanism 74c uses an eccentric cam, and the amount of movement of the first holding mechanism 3 in the Y direction can be adjusted by rotating the eccentric cam with an actuator such as a motor.

なお、第2保持機構6の水平移動機構74の構成は、図8に示すように、第1保持機構3の昇降移動機構73と同様である。また、第2保持機構6には水平移動機構74を設けない構成としても良いし、第1保持機構3及び第2保持機構6の両方に水平移動機構74を設けない構成としても良い。さらに、水平移動機構74は、昇降移動機構73と同様に、カム機構74cを用いることなく、例えばボールねじ機構を用いたものであっても良いし、エアシリンダを用いたものであっても良いし、リニアモータを用いたものであっても良い。 The configuration of the horizontal movement mechanism 74 of the second holding mechanism 6 is the same as that of the vertical movement mechanism 73 of the first holding mechanism 3, as shown in FIG. Further, the second holding mechanism 6 may be configured without the horizontal movement mechanism 74 , or both the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6 may be configured without the horizontal movement mechanism 74 . Further, the horizontal movement mechanism 74 may use, for example, a ball screw mechanism or an air cylinder without using the cam mechanism 74c, like the elevation movement mechanism 73. Alternatively, a linear motor may be used.

<切断用移動機構8(加工用移動機構)>
切断用移動機構8は、2つのスピンドル42A、42Bそれぞれを、X方向、Y方向及びZ方向の各方向に直線移動させるものである。
<Moving Mechanism 8 for Cutting (Moving Mechanism for Processing)>
The cutting movement mechanism 8 linearly moves each of the two spindles 42A and 42B in the X, Y and Z directions.

具体的に切断用移動機構8は、図2~図4、図9~図11に示すように、スピンドル32A、32BをX方向に直線移動させるX方向移動部81と、スピンドル32A、32BをY方向に直線移動させるY方向移動部82と、スピンドル32A、32BをZ方向に直線移動させるZ方向移動部83とを備えている。本実施形態では、この切断用移動機構8による切断機構4の加工送り方向SDは、X方向に沿って一方を向く方向(X方向に沿って他方側から一方側を向く方向である(図3等参照)。 Specifically, as shown in FIGS. 2 to 4 and 9 to 11, the cutting movement mechanism 8 includes an X-direction movement unit 81 that linearly moves the spindles 32A and 32B in the X direction, and a Y direction movement unit that moves the spindles 32A and 32B in the Y direction. A Y-direction moving unit 82 that linearly moves the spindles 32A and 32B in the Z-direction. In this embodiment, the processing feed direction SD of the cutting mechanism 4 by the cutting movement mechanism 8 is a direction facing one side along the X direction (a direction facing one side from the other side along the X direction (FIG. 3 etc.).

X方向移動部81は、2つの切断用テーブル2A、2Bで共通のものであり、特に図2及び図3に示すように、2つの切断用テーブル2A、2Bを挟んでX方向に沿って設けられた一対のX方向ガイドレール811と、当該一対のX方向ガイドレール811に沿って移動するとともに、Y方向移動部82及びZ方向移動部83を介してスピンドル32A、32Bを支持する支持体812とを有している。一対のX方向ガイドレール811は、X方向に沿って設けられた2つの切断用テーブル2A、2Bの側方に設けられている。また、支持体812は、例えば門型のものであり、Y方向に延びる形状を有している。具体的に支持体812は、一対のX方向ガイドレール811から上方に延びる一対の脚部と、当該一対の脚部に架け渡される梁部(ビーム部)とを有し、当該梁部がY方向に延びている。この支持体812において、X方向に沿った一方側(加工送り方向SDを向く側)に切断機構4のスピンドル32A、32Bが設けられている。 The X-direction moving part 81 is common to the two cutting tables 2A and 2B, and is provided along the X direction with the two cutting tables 2A and 2B interposed therebetween, as particularly shown in FIGS. and a support body 812 that moves along the pair of X-direction guide rails 811 and supports the spindles 32A and 32B via the Y-direction movement portion 82 and the Z-direction movement portion 83. and A pair of X-direction guide rails 811 are provided on the sides of the two cutting tables 2A and 2B provided along the X-direction. Further, the support 812 is, for example, a portal type and has a shape extending in the Y direction. Specifically, the support 812 has a pair of legs extending upward from the pair of X-direction guide rails 811 and beams (beams) bridging the pair of legs. extending in the direction In this support 812, spindles 32A and 32B of the cutting mechanism 4 are provided on one side along the X direction (the side facing the processing feed direction SD).

そして、支持体812は、例えば、X方向に延びるボールねじ機構813により、一対のX方向ガイドレール811上をX方向に沿って直線的に往復移動する。このボールねじ機構813はサーボモータ等の駆動源(不図示)により駆動される。その他、支持体812は、リニアモータ等の他の直動機構により往復移動するように構成しても良い。 The support 812 is linearly reciprocated along the X direction on the pair of X direction guide rails 811 by, for example, a ball screw mechanism 813 extending in the X direction. The ball screw mechanism 813 is driven by a drive source (not shown) such as a servomotor. In addition, the support 812 may be configured to reciprocate by another linear motion mechanism such as a linear motor.

Y方向移動部82は、特に図3に示すように、支持体812においてY方向に沿って設けられたY方向ガイドレール821と、当該Y方向ガイドレール821に沿って移動するY方向スライダ822とを有している。なお、Y方向移動部82は、支持体812において、X方向に沿った一方側(加工送り方向SDを向く側)に設けられている。Y方向スライダ822は、例えばリニアモータ823により駆動されるものであり、Y方向ガイドレール821上を直線的に往復移動する。本実施形態では、2つのスピンドル32A、32Bに対応して2つのY方向スライダ822が設けられている。これにより、2つのスピンドル32A、32Bは互いに独立してY方向に移動可能とされている。その他、Y方向スライダ822は、ボールねじ機構を用いた他の直動機構により往復移動するように構成しても良い。 3, the Y-direction moving part 82 includes a Y-direction guide rail 821 provided along the Y direction on the support 812, and a Y-direction slider 822 that moves along the Y-direction guide rail 821. have. Note that the Y-direction moving portion 82 is provided on one side of the support 812 along the X direction (the side facing the processing feed direction SD). The Y-direction slider 822 is driven by, for example, a linear motor 823 and linearly reciprocates on the Y-direction guide rail 821 . In this embodiment, two Y-direction sliders 822 are provided corresponding to the two spindles 32A, 32B. This allows the two spindles 32A and 32B to move independently of each other in the Y direction. Alternatively, the Y-direction slider 822 may be configured to reciprocate by another direct acting mechanism using a ball screw mechanism.

Z方向移動部83は、図9~図11に示すように、各Y方向スライダ822においてZ方向に沿って設けられたZ方向ガイドレール831と、当該Z方向ガイドレール831に沿って移動するとともにスピンドル32A、32Bを支持するZ方向スライダ832とを有している。つまり、Z方向移動部83は、各スピンドル32A、32Bに対応して設けられている。Z方向スライダ832は、例えば、偏心カム機構(不図示)により駆動されるものであり、Z方向ガイドレール831上を直線的に往復移動する。その他、Z方向スライダ832は、ボールねじ機構等の他の直動機構により往復移動するように構成しても良い。 As shown in FIGS. 9 to 11, the Z-direction moving part 83 moves along a Z-direction guide rail 831 provided along the Z-direction in each Y-direction slider 822 and moves along the Z-direction guide rail 831. and a Z-direction slider 832 that supports the spindles 32A, 32B. That is, the Z-direction moving part 83 is provided corresponding to each spindle 32A, 32B. The Z-direction slider 832 is driven by, for example, an eccentric cam mechanism (not shown), and linearly reciprocates on the Z-direction guide rail 831 . Alternatively, the Z-direction slider 832 may be configured to reciprocate by another direct acting mechanism such as a ball screw mechanism.

この切断用移動機構8とトランスファ軸71との位置関係は、図1及び図4に示すように、トランスファ軸71が、切断用移動機構8の上方において切断用移動機構8を横切るように配置されている。具体的にトランスファ軸71は、支持体812の上方において当該支持体812を横切るように配置され、トランスファ軸71及び支持体812は互いに交差する位置関係となる。 As shown in FIGS. 1 and 4, the positional relationship between the moving mechanism 8 for cutting and the transfer shaft 71 is such that the transfer shaft 71 is arranged above the moving mechanism 8 for cutting so as to cross the moving mechanism 8 for cutting. ing. Specifically, the transfer shaft 71 is arranged above the support 812 so as to cross the support 812 , and the transfer shaft 71 and the support 812 have a positional relationship of crossing each other.

<カバー部材15>
上記の切断用移動機構8において支持体812には、図3、図4、図9~図11に示すように、2つのスピンドル32A、32Bを収容するカバー部材15が設けられている。なお、図2においてカバー部材15は省略している。このカバー部材15は、支持体812においてX方向に沿った一方側(加工送り方向SDを向く側)に設けられており、噴射ノズル121から噴射される切削水が周囲に飛び散らないように切断機構4の2つのスピンドル32A、32Bだけでなく切削水供給機構12の噴射ノズル121を収容するものである。
<Cover member 15>
As shown in FIGS. 3, 4, and 9 to 11, the support 812 in the moving mechanism 8 for cutting is provided with a cover member 15 for accommodating the two spindles 32A and 32B. Note that the cover member 15 is omitted in FIG. The cover member 15 is provided on one side of the support body 812 along the X direction (the side facing the processing feed direction SD), and is provided in the cutting mechanism so that cutting water jetted from the jet nozzle 121 does not scatter around. 4, the two spindles 32A, 32B as well as the injection nozzle 121 of the cutting water supply mechanism 12 are accommodated.

具体的にカバー部材15は、図9~図11に示すように、下面にブレード41A、41Bを露出するための開口部15aが形成されている。また、カバー部材15の上面にはスピンドル42A、42Bや切断用移動機構8の移動を邪魔しないように開口部15bが形成されている。この上面の開口部15bは、蛇腹部材16により閉じられており、スピンドル42A、42Bの移動に伴って蛇腹部材16が伸縮するように構成されている。これらカバー部材15及び蛇腹部材16により、支持体812におけるX方向に沿った一方側(加工送り方向SDを向く側)は、スピンドル42A、42BのX方向の両側、Y方向の両側及び上側が覆われる構成となり、噴射ノズル121から噴射される切削水が飛び散る範囲が制限される。また、カバー部材15の手前側(支持体812とは反対側)の側壁には、カバー部材15の内部を視認可能な窓151が形成されている(図10、図11参照)。さらに、このカバー部材15の内部を排気機構(不図示)により排気することによって、効果的に液滴(ミスト)を外部に排出することができる。 Specifically, as shown in FIGS. 9 to 11, the cover member 15 is formed with openings 15a for exposing the blades 41A and 41B on its lower surface. An opening 15b is formed in the upper surface of the cover member 15 so as not to interfere with the movement of the spindles 42A and 42B and the moving mechanism 8 for cutting. The opening 15b on the upper surface is closed by a bellows member 16, which is configured to expand and contract as the spindles 42A and 42B move. The cover member 15 and the bellows member 16 cover one side of the support 812 along the X direction (the side facing the processing feed direction SD) on both sides of the spindles 42A and 42B in the X direction, both sides in the Y direction, and the upper side. As a result, the range over which the cutting water jetted from the jet nozzle 121 scatters is limited. Further, a window 151 through which the inside of the cover member 15 can be viewed is formed in the side wall on the front side of the cover member 15 (the side opposite to the support 812) (see FIGS. 10 and 11). Furthermore, by evacuating the inside of the cover member 15 with an exhaust mechanism (not shown), droplets (mist) can be effectively discharged to the outside.

<加工屑収容部17>
また、本実施形態の切断装置100は、図1に示すように、封止済基板Wの切断により生じた端材などの加工屑Sを収容する加工屑収容部17をさらに備えている。
<Processing waste container 17>
The cutting apparatus 100 of the present embodiment further includes a processing waste storage section 17 that stores processing waste S such as offcuts generated by cutting the sealed substrate W, as shown in FIG.

この加工屑収容部17は、図2~図4に示すように、切断用テーブル2A、2Bの下方に設けられており、平面視において切断用テーブル2A、2Bを取り囲む上部開口171Xを有する案内シュータ171と、当該案内シュータ171によりガイドされた加工屑Sを回収する回収容器172とを有している。加工屑収容部17を切断用テーブル2A、2Bの下方に設けることによって、加工屑Sの回収率を向上することができる。 As shown in FIGS. 2 to 4, the processing waste container 17 is provided below the cutting tables 2A and 2B, and is a guide chute having an upper opening 171X surrounding the cutting tables 2A and 2B in plan view. 171 and a collection container 172 for collecting the processing waste S guided by the guide shooter 171 . By providing the processing waste container 17 below the cutting tables 2A and 2B, the recovery rate of the processing waste S can be improved.

案内シュータ171は、切断用テーブル2A、2Bから飛散又は落下した加工屑Sを回収容器172に導くものである。本実施形態は、案内シュータ171の上部開口171Xが切断用テーブル2A、2Bを取り囲むように構成されているので(図3参照)、加工屑Sを取りこぼしにくくなり、加工屑Sの回収率を一層向上することができる。また、案内シュータ171は、切断用テーブル2A、2Bの下に設けられた回転機構9A、9Bを取り囲むように設けられており(図4参照)、加工屑S及び切削水から回転機構9A、9Bを保護するように構成されている。 The guide shooter 171 guides the processing waste S scattered or dropped from the cutting tables 2A and 2B to the collection container 172. As shown in FIG. In this embodiment, since the upper opening 171X of the guide shooter 171 surrounds the cutting tables 2A and 2B (see FIG. 3), it is difficult to remove the processing waste S, and the collection rate of the processing waste S is further improved. can be improved. Further, the guide shooter 171 is provided so as to surround the rotating mechanisms 9A and 9B provided under the cutting tables 2A and 2B (see FIG. 4). is configured to protect

本実施形態では、加工屑収容部17は2つの切断用テーブル2A、2Bに共通のものとされているが、切断用テーブル2A、2Bそれぞれに対応して設けられても良い。 In the present embodiment, the processing waste container 17 is shared by the two cutting tables 2A and 2B, but may be provided for each of the cutting tables 2A and 2B.

回収容器172は、案内シュータ171を自重により通過した加工屑Sを回収するものであり、本実施形態では、図4等に示すように、2つの切断用テーブル2A、2Bそれぞれに対応して設けられている。そして、2つの回収容器172は、トランスファ軸の手前側に配置されており、それぞれ独立して切断装置100の手前側から取り外すことができるように構成されている。この構成により、加工屑Sの廃棄等のメンテナンス性を向上することができる。なお、回収容器172は、封止済基板Wのサイズや、加工屑Sのサイズ及び量、作業性などを考慮して、全ての切断用テーブルの下全体に1つ設けて良いし、3つ以上で設けても良い。 The collection container 172 is for collecting the processing waste S that has passed through the guide shooter 171 by its own weight. In this embodiment, as shown in FIG. It is The two collection containers 172 are arranged on the front side of the transfer shaft, and configured to be independently removable from the front side of the cutting device 100 . With this configuration, it is possible to improve maintainability such as disposal of the processing waste S. Considering the size of the sealed substrate W, the size and amount of the processing waste S, the workability, etc., one collection container 172 may be provided under the entire cutting table, or three collection containers may be provided. The above may be set.

また、加工屑収容部17は、図4等に示すように、切削水と加工屑とを分離する分離部173を有している。この分離部173の構成としては、例えば、回収容器172の底面に切削水を通過させる多孔板等のフィルタを設けることが考えられる。この分離部173により、回収容器172に切削水を溜めることなく、加工屑Sを回収することができる。 Moreover, as shown in FIG. 4 and the like, the machining waste container 17 has a separating part 173 for separating cutting water and machining waste. As for the configuration of the separation unit 173, for example, a filter such as a perforated plate that allows cutting water to pass through the bottom surface of the collection container 172 may be provided. The separation unit 173 allows the processing waste S to be collected without accumulating cutting water in the collection container 172 .

<第1クリーニング機構18>
また、本発明の切断装置100は、図1及び図5に示すように、切断用テーブル2A、2Bに保持された複数の製品Pの上面側(実装面)をクリーニングする第1クリーニング機構18をさらに備えている。この第1クリーニング機構18は、切断用テーブル2A、2Bに保持された複数の製品Pの上面に洗浄液及び/又は圧縮空気を噴射する噴射ノズル18a(図5参照)によって、製品Pの上面側をクリーニングするものである。
<First Cleaning Mechanism 18>
As shown in FIGS. 1 and 5, the cutting apparatus 100 of the present invention includes a first cleaning mechanism 18 that cleans the upper surface side (mounting surface) of the plurality of products P held on the cutting tables 2A and 2B. I have more. The first cleaning mechanism 18 cleans the upper surfaces of the products P by means of injection nozzles 18a (see FIG. 5) that inject cleaning liquid and/or compressed air onto the upper surfaces of the plurality of products P held on the cutting tables 2A and 2B. It is for cleaning.

この第1クリーニング機構18は、図5に示すように、第1保持機構3とともにトランスファ軸71に沿って移動可能に構成されている。ここでは、第1クリーニング機構18は、トランスファ軸71に設けられるガイドレール721をスライドするスライド部材723に設けられている。ここで、第1クリーニング機構18及びスライド部材723の間には、第1クリーニング機構18をZ方向に昇降移動するための昇降移動機構181が設けられている。この昇降移動機構181は、例えばラックアンドピニオン機構を用いたもの、ボールねじ機構を用いたもの、又はエアシリンダを用いたもの等が考えられる。 The first cleaning mechanism 18 is configured to be movable along the transfer shaft 71 together with the first holding mechanism 3, as shown in FIG. Here, the first cleaning mechanism 18 is provided on a slide member 723 that slides on a guide rail 721 provided on the transfer shaft 71 . Here, between the first cleaning mechanism 18 and the slide member 723, there is provided an elevation movement mechanism 181 for vertically moving the first cleaning mechanism 18 in the Z direction. The lifting mechanism 181 may be, for example, one using a rack and pinion mechanism, one using a ball screw mechanism, or one using an air cylinder.

<第2クリーニング機構19>
さらに、本発明の切断装置100は、図1に示すように、第2保持機構6に保持された複数の製品Pの下面側(反対面)をクリーニングする第2クリーニング機構19をさらに備えている。この第2クリーニング機構19は、切断用テーブル2Bと検査部13との間に設けられており、第2保持機構6に保持された複数の製品Pの下面に洗浄液及び/又は圧縮空気を噴射することによって、製品Pの下面側をクリーニングする。つまり、第2保持機構6がトランスファ軸71に沿って移動される途中において、第2クリーニング機構19は製品Pの下面側をクリーニングする。
<Second Cleaning Mechanism 19>
Furthermore, the cutting device 100 of the present invention further includes a second cleaning mechanism 19 that cleans the lower surface side (opposite surface) of the plurality of products P held by the second holding mechanism 6, as shown in FIG. . The second cleaning mechanism 19 is provided between the cutting table 2B and the inspection section 13, and sprays cleaning liquid and/or compressed air onto the lower surfaces of the plurality of products P held by the second holding mechanism 6. By doing so, the lower surface side of the product P is cleaned. That is, the second cleaning mechanism 19 cleans the lower surface side of the product P while the second holding mechanism 6 is being moved along the transfer shaft 71 .

<加工液供給機構12(切削水供給機構)及び加工液飛散防止機構24(切削水飛散防止機構)>
本実施形態では、上述したように、切断機構4の加工送り方向SDは、X方向に沿った一方を向く方向(図3においては紙面上から下に移動する方向、図4においては、紙面右から左に移動する方向)となるように構成されている。
<Machining Fluid Supply Mechanism 12 (Cutting Water Supply Mechanism) and Machining Fluid Splash Prevention Mechanism 24 (Cutting Water Splash Prevention Mechanism)>
In the present embodiment, as described above, the processing feed direction SD of the cutting mechanism 4 is directed in one direction along the X direction (in FIG. from the left)).

そして、本実施形態の切断装置100は、図3、図4、図10及び図11に示すように、切断用移動機構8により切断機構4とともに移動する切削水供給機構12と、切削水の飛散を防止する切削水飛散防止機構24とを備えている。 3, 4, 10 and 11, the cutting device 100 of this embodiment includes a cutting water supply mechanism 12 that moves together with the cutting mechanism 4 by the cutting movement mechanism 8, and a cutting water scattering mechanism. and a cutting water scattering prevention mechanism 24 for preventing the cutting water from scattering.

ここで、支持体812においてX方向に沿った一方側(加工送り方向SDを向く側)に切断機構4及び切削水供給機構12が設けられており、支持体812のX方向に沿った他方側(加工送り方向SDとは反対側)に切削水飛散防止機構24が設けられている。 Here, the cutting mechanism 4 and the cutting water supply mechanism 12 are provided on one side of the support 812 along the X direction (the side facing the processing feed direction SD), and the other side of the support 812 along the X direction. A cutting water scattering prevention mechanism 24 is provided (on the side opposite to the machining feed direction SD).

切削水供給機構12は、図10及び図11に示すように、加工送り方向SDの前側から切断機構4のブレード41A、41Bに切削水を噴射する噴射ノズル121を有しており、この噴射ノズル121は、例えばZ方向移動部83に支持されている。具体的には、噴射ノズル121は、切断機構4のブレード41A、41Bに対して、支持体812とは反対側から、切断機構4のブレード41A、41Bに向けて切削水を噴射する。 10 and 11, the cutting water supply mechanism 12 has an injection nozzle 121 for injecting cutting water from the front side in the processing feed direction SD to the blades 41A and 41B of the cutting mechanism 4. This injection nozzle 121 is supported by, for example, the Z-direction moving part 83 . Specifically, the jet nozzle 121 jets cutting water toward the blades 41A and 41B of the cutting mechanism 4 from the opposite side of the support 812 to the blades 41A and 41B of the cutting mechanism 4 .

切削水飛散防止機構24は、切断機構4に対して加工送り方向SDの後側に設けられるとともに、切断用テーブル2A、2Bの上面よりも下側の位置から上方を覆う構成を有している。 The cutting water splash prevention mechanism 24 is provided on the rear side of the cutting mechanism 4 in the processing feed direction SD, and has a structure that covers the cutting tables 2A and 2B from a position below the upper surfaces of the cutting tables 2A and 2B. .

具体的に切削水飛散防止機構24は、図3、図4、図10及び図11に示すように、切断機構4の移動に伴って伸縮する蛇腹部材241と、蛇腹部材241における加工送り方向SDの後端部が接続されたシャッタ部材242とを有している。 Specifically, as shown in FIGS. 3, 4, 10 and 11, the cutting water splash prevention mechanism 24 includes a bellows member 241 that expands and contracts along with the movement of the cutting mechanism 4, and a bellows member 241 that extends in the processing feed direction SD. and a shutter member 242 to which the rear end portion of the shutter member 242 is connected.

蛇腹部材241は、加工送り方向SDに直交する上方及び側方を覆うものである。具体的に蛇腹部材241は、側方を覆う一対の側壁部と、当該一対の側壁部の上端に連続して設けられ、上方を覆う上壁部とを有している。また、蛇腹部材241の加工送り方向SDの前端部は、支持体812の側面(加工送り方向SDとは反対側の面)に接続されている。また、シャッタ部材242は、加工送り方向SDの後方を覆うものである。これら蛇腹部材241及びシャッタ部材242により、支持体812の下方(具体的には支持体812の梁部の下方)を通過して、支持体812に対して加工送り方向SDとは反対側に飛び散った切削水は、蛇腹部材241及びシャッタ部材242に囲まれた空間に閉じ込められる。ここで、加工屑収容部17の案内シュータ171の内部を排気機構(不図示)により排気することによって、効果的に液滴(ミスト)を外部に排出することができる。 The bellows member 241 covers the top and sides perpendicular to the feed direction SD. Specifically, the bellows member 241 has a pair of side wall portions that cover the sides, and an upper wall portion that is provided continuously from the upper ends of the pair of side wall portions and covers the upper side. In addition, the front end portion of the bellows member 241 in the processing feed direction SD is connected to the side surface of the support 812 (the surface opposite to the processing feed direction SD). Also, the shutter member 242 covers the rear side in the processing feed direction SD. By these bellows member 241 and shutter member 242, the particles pass below the support 812 (specifically, below the beam portion of the support 812) and scatter on the side opposite to the processing feed direction SD with respect to the support 812. The cutting water is confined in the space surrounded by the bellows member 241 and the shutter member 242 . Here, droplets (mist) can be effectively discharged to the outside by exhausting the inside of the guide shooter 171 of the processing waste container 17 by means of an exhaust mechanism (not shown).

また、切削水飛散防止機構24は、図3、図4、図10及び図11に示すように、切断機構4による封止済基板Wの切断時において、シャッタ部材242を切断用テーブル2A、2Bに対して固定する固定部243A、243Bを有している。本実施形態では、2つの切断用テーブル2A、2Bを有していることから、固定部243A、243Bは、2つの切断用テーブル2A、2Bそれぞれに対応して設けられている。具体的に各固定部243A、243Bは、各切断用テーブル2A、2Bに対して、加工送り方向SDの後側に設けられている。また、各固定部243A、243Bは、シャッタ部材242のY方向における両端部を固定するためにY方向に沿って2つ設けられている(図3参照)。 3, 4, 10 and 11, the cutting water scattering prevention mechanism 24 moves the shutter member 242 to the cutting tables 2A and 2B when the sealed substrate W is cut by the cutting mechanism 4. As shown in FIGS. It has fixing portions 243A and 243B that are fixed with respect to. Since this embodiment has two cutting tables 2A and 2B, the fixing portions 243A and 243B are provided corresponding to the two cutting tables 2A and 2B, respectively. Specifically, the fixed portions 243A and 243B are provided on the rear side of the cutting tables 2A and 2B in the processing feed direction SD. Two fixing portions 243A and 243B are provided along the Y direction to fix both ends of the shutter member 242 in the Y direction (see FIG. 3).

そして、シャッタ部材242は、切断用移動機構8のX方向移動部81によって、2つの切断用テーブル2A、2Bそれぞれに対応して設けられた固定部243A、243Bそれぞれに移動される。 Then, the shutter member 242 is moved by the X-direction moving part 81 of the moving mechanism 8 for cutting to the fixing parts 243A and 243B respectively provided corresponding to the two cutting tables 2A and 2B.

ここで、シャッタ部材242の下端部は、切断機構4による封止済基板Wの切断時において、各切断用テーブル2A、2Bの上面よりも低い位置にある。このため、本実施形態のシャッタ部材242は、図10、図11及び図12に示すように、その下端部が切断用テーブル2A、2Bの上面よりも上側に位置する上昇位置U(図10、図12(a)参照)と、下端部が切断用テーブル2A、2Bの上面よりも下側に位置する下降位置D(図11、図12(b)参照)との間で移動可能に構成されている。なお、蛇腹部材241の一対の側壁部の下端部を各切断用テーブル2A、2Bの上面よりも低い位置となるように配置しても良い。 Here, the lower end of the shutter member 242 is positioned lower than the upper surfaces of the cutting tables 2A and 2B when the sealed substrate W is cut by the cutting mechanism 4 . Therefore, as shown in FIGS. 10, 11 and 12, the shutter member 242 of the present embodiment is positioned at a raised position U (FIGS. 10, 12A, and 12B) in which the lower end portion is located above the upper surfaces of the cutting tables 2A and 2B. 12(a)) and a lowered position D (see FIGS. 11 and 12(b)) where the lower end is located below the upper surfaces of the cutting tables 2A and 2B. ing. The lower ends of the pair of side walls of the bellows member 241 may be positioned lower than the upper surfaces of the cutting tables 2A and 2B.

そして、シャッタ部材242は、図11及び図12(b)に示すように、下降位置Dにおいて固定部243A、243Bにより固定される。具体的には、シャッタ部材242の側面に設けられた第1突出部242aが、固定部243A、243Bの凹部に嵌合することによって、シャッタ部材242が下降位置Dにおいて固定される。 11 and 12(b), the shutter member 242 is fixed at the lowered position D by fixing portions 243A and 243B. Specifically, the shutter member 242 is fixed at the lowered position D by fitting the first projecting portion 242a provided on the side surface of the shutter member 242 into the concave portions of the fixing portions 243A and 243B.

また、シャッタ部材242は、蛇腹部材241の後端部に昇降移動可能に接続されており、シャッタ部材242は、図3、図4、図10~図12に示すように、支持体812に設けられた昇降移動機構244により昇降移動する。 Further, the shutter member 242 is connected to the rear end portion of the bellows member 241 so as to be able to move up and down. It is moved up and down by the up-and-down movement mechanism 244 provided.

昇降移動機構244は、図10~図12に示すように、シャッタ部材242を保持するシャッタ保持部244aと、当該シャッタ保持部244aを支持体812に対して上下方向(Z方向)にガイドするガイドレール244bと、シャッタ保持部244aをガイドレール244bに沿って移動させる例えばエアシリンダ等の駆動部244cとを有している。本実施形態では、シャッタ保持部244aは、シャッタ部材242の側面に設けられた第2突出部242bに嵌合する凹部を有している。 10 to 12, the vertical movement mechanism 244 includes a shutter holding portion 244a that holds the shutter member 242 and a guide that guides the shutter holding portion 244a in the vertical direction (Z direction) with respect to the support 812. It has a rail 244b and a driving part 244c such as an air cylinder for moving the shutter holding part 244a along the guide rail 244b. In this embodiment, the shutter holding portion 244a has a recess that fits into the second projecting portion 242b provided on the side surface of the shutter member 242. As shown in FIG.

駆動部244cによりシャッタ保持部244aを上昇させることによって、シャッタ保持部244aの凹部が第2突出部242bに嵌合し、シャッタ保持部244aがシャッタ部材242を持ち上げ、シャッタ部材242が上昇位置Uに移動する(図10、図12(a)参照)。なお、上昇位置Uは、シャッタ保持部244aがシャッタ部材242を保持した状態であり、固定部243A、243Bによるシャッタ部材242の固定は解除される。 By raising the shutter holding portion 244a by the driving portion 244c, the concave portion of the shutter holding portion 244a is fitted to the second projecting portion 242b, the shutter holding portion 244a lifts the shutter member 242, and the shutter member 242 reaches the raised position U. Move (see FIGS. 10 and 12(a)). At the raised position U, the shutter holding portion 244a holds the shutter member 242, and the fixing of the shutter member 242 by the fixing portions 243A and 243B is released.

<切削に伴う切削水飛散防止機構24の動作>
次に、図4の左側の切断用テーブル2Aで封止済基板Wを切断する場合を考えて、切削水飛散防止機構24の動作について、図10~図14を参照して説明する。
<Operation of cutting water scattering prevention mechanism 24 accompanying cutting>
Next, considering the case where the sealed substrate W is cut by the cutting table 2A on the left side of FIG. 4, the operation of the cutting water splash prevention mechanism 24 will be described with reference to FIGS.

まず、昇降移動機構244のシャッタ保持部244aを上昇させて、シャッタ保持部244aをシャッタ部材242の第2突出部242bに嵌合させて、シャッタ部材242を上昇位置Uに上昇させる(図10、図12(a)、図13(a)参照)。また、搬送用移動機構7により封止済基板Wを保持した第1保持機構3を切断用テーブル2Aに移動させて、封止済基板Wを切断用テーブル2Aに載置する(図13(a)参照)。この状態で、切断用移動機構8の支持体812をX方向に沿った一方側に移動させ、シャッタ部材242を左側の切断用テーブル2Aに対応した固定部243Aの上方まで移動させる。この位置において、昇降移動機構244のシャッタ保持部244aを下降させると、シャッタ部材242が下降位置Dに下降して、固定部243Aに嵌合して固定される(図12(b)、図13(b)参照)。なお、シャッタ部材242を下降位置Dにすると、シャッタ保持部242aによるシャッタ部材242の保持は解除される。 First, the shutter holding portion 244a of the elevation movement mechanism 244 is raised to fit the shutter holding portion 244a into the second projecting portion 242b of the shutter member 242, thereby raising the shutter member 242 to the raised position U (see FIG. 10, 12(a) and 13(a)). Further, the first holding mechanism 3 holding the sealed substrate W is moved to the cutting table 2A by the transfer moving mechanism 7, and the sealed substrate W is placed on the cutting table 2A (Fig. 13A). )reference). In this state, the support 812 of the cutting movement mechanism 8 is moved to one side along the X direction, and the shutter member 242 is moved above the fixed portion 243A corresponding to the left cutting table 2A. At this position, when the shutter holding portion 244a of the elevation movement mechanism 244 is lowered, the shutter member 242 is lowered to the lowered position D and is fitted and fixed to the fixing portion 243A (FIGS. 12(b) and 13). (b)). When the shutter member 242 is moved to the lowered position D, the shutter member 242 is released from being held by the shutter holding portion 242a.

シャッタ部材242が固定部243Aによって固定された後に、切削水供給機構12の噴射ノズル121から切削水を噴射しつつ、切断用移動機構8により切断機構4を加工送り方向SDに移動させながら、封止済基板Wを切断する(図11、図13(c)参照)。この切断動作中、切断機構4及び支持体812の移動に伴って、蛇腹部材241の後端部がシャッタ部材242に固定された状態で、蛇腹部材241は伸縮する。これにより、支持体812の下方を通過して飛散した切削水は、蛇腹部材241及びシャッタ部材242に遮られて、右側の切断用テーブル2B等に切削水が飛散することが防止される。 After the shutter member 242 is fixed by the fixing portion 243A, cutting water is sprayed from the spray nozzle 121 of the cutting water supply mechanism 12, and the cutting mechanism 4 is moved in the processing feed direction SD by the cutting movement mechanism 8. The finished substrate W is cut (see FIGS. 11 and 13(c)). During this cutting operation, the bellows member 241 expands and contracts while the rear end portion of the bellows member 241 is fixed to the shutter member 242 as the cutting mechanism 4 and the support 812 move. As a result, the cutting water that has passed below the support 812 and is scattered is blocked by the bellows member 241 and the shutter member 242, thereby preventing the cutting water from scattering to the right cutting table 2B and the like.

封止済基板Wの切断が終了すると、切断用移動機構8の支持体812を固定部243Aの近傍まで移動させ、シャッタ保持部244aがシャッタ部材242の第2突出部242bに嵌合できる位置に移動させる。この状態で、昇降移動機構244のシャッタ保持部244aを上昇させて、シャッタ保持部244aを第2突出部242bに嵌合させるとともに、シャッタ部材242を上昇位置Uに移動させる(図12(a)、図14(d)参照)。これにより、固定部243Aによるシャッタ部材242の固定が解除される。そして、切断用移動機構8の支持体812を、複数の製品Pの搬送を邪魔しない位置に移動させる。この状態で、搬送用移動機構7は第2保持機構6を切断後の切断用テーブル2Aに移動させ、第2保持機構6は複数の製品Pを吸着保持し、複数の製品Pは、切断用テーブル2Aから搬送される(図14(e)参照)。 When the cutting of the sealed substrate W is completed, the supporting body 812 of the moving mechanism 8 for cutting is moved to the vicinity of the fixed portion 243A, and the shutter holding portion 244a is brought to a position where the second projecting portion 242b of the shutter member 242 can be fitted. move. In this state, the shutter holding portion 244a of the elevation movement mechanism 244 is raised to fit the shutter holding portion 244a into the second projecting portion 242b, and the shutter member 242 is moved to the raised position U (FIG. 12A). , see FIG. 14(d)). As a result, the fixing of the shutter member 242 by the fixing portion 243A is released. Then, the support 812 of the moving mechanism 8 for cutting is moved to a position where the transportation of the plurality of products P is not hindered. In this state, the transfer mechanism 7 moves the second holding mechanism 6 to the cutting table 2A after cutting, the second holding mechanism 6 holds the plurality of products P by suction, and the plurality of products P are placed on the cutting table 2A. It is conveyed from table 2A (see FIG. 14(e)).

その後、右側の切断用テーブル2Bにおいて封止済基板Wを切断する場合には、切断用テーブル2Bに封止済基板Wを載置した後に(図14(f)参照)、切断用移動機構8の支持体812をX方向に沿った他方側に移動させ、シャッタ部材242を右側の切断用テーブル2Bに対応した固定部243Bの上方まで移動させる。その後の動作は、上述した動作と同様である。 After that, when cutting the sealed substrate W on the cutting table 2B on the right side, after placing the sealed substrate W on the cutting table 2B (see FIG. 14(f)), the moving mechanism 8 for cutting support member 812 is moved to the other side along the X direction, and the shutter member 242 is moved above the fixing portion 243B corresponding to the cutting table 2B on the right side. Subsequent operations are similar to the operations described above.

<切断装置の動作の一例>
次に、切断装置100の動作の一例を説明する。図15には、切断装置10の動作における第1保持機構3の移動経路、及び、第2保持機構6の移動経路を示している。なお、本実施形態においては、切断装置100の動作、例えば封止済基板Wの搬送、封止済基板Wの切断、切削水飛散防止機構24の動作、製品Pの検査など、すべての動作や制御は制御部CTL(図1参照)により行われる。
<Example of operation of cutting device>
Next, an example of operation of the cutting device 100 will be described. FIG. 15 shows the moving path of the first holding mechanism 3 and the moving path of the second holding mechanism 6 in the operation of the cutting device 10. As shown in FIG. In the present embodiment, all operations such as the operation of the cutting device 100, for example, the transportation of the sealed substrate W, the cutting of the sealed substrate W, the operation of the cutting water scattering prevention mechanism 24, and the inspection of the product P are performed. Control is performed by the control unit CTL (see FIG. 1).

基板供給機構11の基板供給部112は、第1保持機構3により保持される保持位置RPに向けて、基板収容部111に収容された封止済基板Wを移動させる。 The substrate supply unit 112 of the substrate supply mechanism 11 moves the sealed substrate W accommodated in the substrate accommodation unit 111 toward the holding position RP held by the first holding mechanism 3 .

次に、搬送用移動機構7は第1保持機構3を保持位置RPに移動させ、第1保持機構3は封止済基板Wを吸着保持する。その後、搬送用移動機構7は、封止済基板Wを保持した第1保持機構3を切断用テーブル2A、2Bに移動させて、第1保持機構3は吸着保持を解除して、封止済基板Wを切断用テーブル2A、2Bに載置する。このとき、メイン移動機構72により封止済基板WのX方向の位置を調整し、水平移動機構74により封止済基板WのY方向の位置を調整する。そして、切断用テーブル2A、2Bは、封止済基板Wを吸着保持する。 Next, the transport moving mechanism 7 moves the first holding mechanism 3 to the holding position RP, and the first holding mechanism 3 holds the sealed substrate W by suction. After that, the transfer moving mechanism 7 moves the first holding mechanism 3 holding the sealed substrate W to the cutting tables 2A and 2B, and the first holding mechanism 3 releases the suction holding, and the sealed substrate W is released. A substrate W is placed on the cutting tables 2A and 2B. At this time, the main moving mechanism 72 adjusts the position of the sealed substrate W in the X direction, and the horizontal moving mechanism 74 adjusts the position of the sealed substrate W in the Y direction. The cutting tables 2A and 2B hold the sealed substrate W by suction.

ここで、封止済基板Wを保持した第1保持機構3を切断用テーブル2Bに移動させる場合には、昇降移動機構73が第1保持機構3を切断用移動機構8(支持体812)に物理的に干渉しない位置まで上昇させる。なお、封止済基板Wを保持した第1保持機構3を切断用テーブル2Bに移動させる際に、支持体812を切断用テーブル2Bから移載テーブル5側に退避させる場合には、上記のように第1保持機構3を昇降させる必要はない。 Here, when the first holding mechanism 3 holding the sealed substrate W is moved to the cutting table 2B, the elevation movement mechanism 73 moves the first holding mechanism 3 to the cutting movement mechanism 8 (support body 812). Raise to a position where there is no physical interference. When the first holding mechanism 3 holding the sealed substrate W is moved to the cutting table 2B, the support body 812 is retracted from the cutting table 2B to the transfer table 5 side. It is not necessary to raise and lower the first holding mechanism 3 at this time.

この状態で、切断用移動機構8が2つのスピンドル42A、42BをX方向及びY方向に順次移動させるとともに、切断用テーブル2A、2Bが回転することによって、封止済基板Wを格子状に切断して個片化する。封止済基板Wを格子状に切断するあたり、切削水飛散防止機構24は、上述した<切削に伴う切削水飛散防止機構24の動作>に説明した動作を行う。 In this state, the cutting movement mechanism 8 sequentially moves the two spindles 42A and 42B in the X direction and the Y direction, and the cutting tables 2A and 2B rotate to cut the sealed substrate W in a grid pattern. and singulate. When cutting the sealed substrate W in a grid pattern, the cutting water splash prevention mechanism 24 performs the operation described in <Operation of the cutting water splash prevention mechanism 24 associated with cutting>.

切断後に、搬送用移動機構7は第1クリーニング機構18を移動させて、切断用テーブル2A、2Bに保持されている複数の製品Pの上面側(実装面)をクリーニングする。このクリーニングの後、搬送用移動機構7は、第1保持機構3及び第1クリーニング機構18を所定の位置に退避させる。 After cutting, the transfer mechanism 7 moves the first cleaning mechanism 18 to clean the upper surface side (mounting surface) of the plurality of products P held on the cutting tables 2A and 2B. After this cleaning, the transfer mechanism 7 retracts the first holding mechanism 3 and the first cleaning mechanism 18 to predetermined positions.

次に、搬送用移動機構7は第2保持機構6を切断後の切断用テーブル2A、2Bに移動させ、第2保持機構6は複数の製品Pを吸着保持する。その後、搬送用移動機構7は、複数の製品Pを保持した第2保持機構6を第2クリーニング機構19に移動させる。これにより、第2クリーニング機構19が、第2保持機構6に保持されている複数の製品Pの下面側(反対面)をクリーニングする。 Next, the transfer mechanism 7 moves the second holding mechanism 6 to the cutting tables 2A and 2B after cutting, and the second holding mechanism 6 holds the plurality of products P by suction. After that, the transport moving mechanism 7 moves the second holding mechanism 6 holding the plurality of products P to the second cleaning mechanism 19 . Thereby, the second cleaning mechanism 19 cleans the lower surface side (opposite surface) of the plurality of products P held by the second holding mechanism 6 .

クリーニングの後、第2保持機構6に保持された複数の製品Pは、検査部13及び反転機構14により、両面検査が行われる。その後、搬送用移動機構7は、第2保持機構6を移載テーブル5に移動させて、第2保持機構6は吸着保持を解除して、複数の製品Pを移載テーブル5に載置する。移載テーブル5に載置された複数の製品Pは、検査部13による検査結果(良品、不良品など)に応じて、仕分け機構20によって各種トレイ21に仕分けされる。 After cleaning, the multiple products P held by the second holding mechanism 6 are double-sided inspected by the inspection unit 13 and the reversing mechanism 14 . After that, the transfer movement mechanism 7 moves the second holding mechanism 6 to the transfer table 5 , the second holding mechanism 6 releases the suction holding, and places the plurality of products P on the transfer table 5 . . A plurality of products P placed on the transfer table 5 are sorted into various trays 21 by the sorting mechanism 20 according to the inspection results (good products, defective products, etc.) by the inspection unit 13 .

なお、両面検査については、例えば、まず、第2保持機構6により吸着保持した状態で製品Pの一方の面を検査する。次に、第2保持機構6から反転機構14の保持テーブル141に製品Pを移載して、反転後の保持テーブル141により吸着保持した状態で製品Pの他方の面を検査することにより、両面検査を実行することができる。そして、この後の反転テーブル14から移載テーブル5への製品Pの搬送は、保持テーブル141から第2保持機構6に移載することにより行うことができる。また、保持テーブル141をX方向に移動可能な構成とし、保持テーブル141又は移載テーブル5の少なくとも一方をZ方向に移動可能な構成として、保持テーブル141を移載テーブル5の上方に移動させることにより、製品Pを移載テーブル5に搬送して移載することもできる。 As for the double-sided inspection, for example, first, one side of the product P is inspected while being sucked and held by the second holding mechanism 6 . Next, the product P is transferred from the second holding mechanism 6 to the holding table 141 of the reversing mechanism 14, and the other side of the product P is inspected while being sucked and held by the holding table 141 after reversing. inspection can be performed. Subsequently, the product P can be transferred from the reversing table 14 to the transfer table 5 by transferring it from the holding table 141 to the second holding mechanism 6 . Further, the holding table 141 is configured to be movable in the X direction, and at least one of the holding table 141 and the transfer table 5 is configured to be movable in the Z direction, and the holding table 141 is moved above the transfer table 5. The product P can also be transported to the transfer table 5 and transferred.

<本実施形態の効果>
本実施形態の切断装置100によれば、切断用テーブル2A、2B及び移載テーブル5の配列方向に沿って延びる共通のトランスファ軸71により第1保持機構3及び第2保持機構6を移動させる構成とし、切断用移動機構8により切断機構4を水平面においてトランスファ軸71に沿ったX方向及びX方向に直交するY方向それぞれに移動させるので、切断用テーブル2A、2BをX方向及びY方向に移動させることなく、封止済基板Wを加工することができる。このため、切断用テーブル2A、2Bをボールねじ機構により移動させることなく、ボールねじ機構を保護するための蛇腹部材及び当該蛇腹部材を保護するためのカバー部材を不要にすることができる。その結果、切断装置100の装置構成を簡素化することができる。また、切断用テーブル2A、2BをX方向及びY方向に移動しない構成にすることができ、切断装置100のフットプリントを低減することができる。
<Effects of this embodiment>
According to the cutting apparatus 100 of this embodiment, the first holding mechanism 3 and the second holding mechanism 6 are moved by the common transfer shaft 71 extending along the arrangement direction of the cutting tables 2A and 2B and the transfer table 5. , the cutting mechanism 4 is moved in the horizontal plane by the cutting movement mechanism 8 in the X direction along the transfer shaft 71 and in the Y direction orthogonal to the X direction, so that the cutting tables 2A and 2B are moved in the X direction and the Y direction. The sealed substrate W can be processed without the need to Therefore, the bellows member for protecting the ball screw mechanism and the cover member for protecting the bellows member can be eliminated without moving the cutting tables 2A and 2B by the ball screw mechanism. As a result, the configuration of the cutting device 100 can be simplified. Moreover, the cutting tables 2A and 2B can be configured so as not to move in the X and Y directions, and the footprint of the cutting device 100 can be reduced.

また、本実施形態では、加工送り方向SDの前側から切断機構4に切削水を噴射する構成において、切断機構4に対して加工送り方向SDの後側に、切断用テーブル2A、2Bの上面よりも下側の位置から上方を覆う切削液飛散防止機構24を設けているので、切削水の飛散を防止することができる。特に本実施形態では、支持体812のX方向に沿った一方側に切断機構4及び切削水供給機構12が設けられた構成において、支持体812のX方向に沿った他方側に切削水飛散防止機構24を設けているので、支持体812の下側を通過した切削水が支持体812のX方向に沿った他方側で飛散することを防止することができる。 Further, in the present embodiment, in the configuration in which cutting water is jetted to the cutting mechanism 4 from the front side in the processing feed direction SD, the cutting water is placed behind the cutting mechanism 4 in the processing feed direction SD from the upper surfaces of the cutting tables 2A and 2B. Since the cutting fluid scattering prevention mechanism 24 is provided to cover the top from the lower position, the cutting fluid can be prevented from scattering. In particular, in this embodiment, in the configuration in which the cutting mechanism 4 and the cutting water supply mechanism 12 are provided on one side of the support 812 along the X direction, the other side of the support 812 along the X direction is provided with a cutting water splash prevention device. Since the mechanism 24 is provided, it is possible to prevent cutting water that has passed under the support 812 from scattering on the other side of the support 812 along the X direction.

さらに、本実施形態では、切削水飛散防止機構24が蛇腹部材241を用いて構成されているので、切断用移動機構8による切断機構4の移動に追従しつつ切削水の飛散を防止することができる。ここで、蛇腹部材241における加工送り方向SDの後端部にシャッタ部材242を接続し、当該シャッタ部材242を固定部243A、243Bにより固定しているので、封止済基板Wの加工時に蛇腹部材241及びシャッタ部材242によって取り囲む空間を固定することができ、切削水の飛散を確実に防止することができる。 Furthermore, in this embodiment, since the cutting water splash prevention mechanism 24 is configured using the bellows member 241, it is possible to prevent the cutting water from splashing while following the movement of the cutting mechanism 4 by the moving mechanism 8 for cutting. can. Here, the shutter member 242 is connected to the rear end portion of the bellows member 241 in the processing feed direction SD, and the shutter member 242 is fixed by the fixing portions 243A and 243B. The surrounding space can be fixed by 241 and shutter member 242, and scattering of cutting water can be reliably prevented.

また、2つ以上の切断用テーブル2A、2BがX方向に沿って設けられるとともに、スピンドル42A、42Bを支持する支持体812をX方向に沿って移動させる構成のため、一方の切断用テーブル2Aで封止済基板Wを処理している際に、他方の切断用テーブル2Bにおいて搬送などの別の処理を行うことができる。そして、本実施形態では、シャッタ部材を固定する固定部243A、243Bを切断用テーブル2A、2B毎に設けているので、蛇腹部材241を1つの切断用テーブル2A、2Bに対応した長さにすることができ、縮んだ状態の蛇腹部材241の寸法を小さくすることができる。また、各切断用テーブル2A、2Bに応じてシャッタ部材242を固定し、1つの切断用テーブル2A、2Bを蛇腹部材241で覆う構成であり、加工していない切断用テーブル2A、2Bに対して加工前の封止済基板Wを搬入することができるし、複数の製品Pを搬出することができる等の処理能力を上げることができる。 In addition, since two or more cutting tables 2A and 2B are provided along the X direction and the support 812 that supports the spindles 42A and 42B is moved along the X direction, one cutting table 2A While the sealed substrate W is being processed on the other cutting table 2B, other processing such as transfer can be performed on the other cutting table 2B. In this embodiment, since the fixing portions 243A and 243B for fixing the shutter member are provided for each of the cutting tables 2A and 2B, the bellows member 241 is made to have a length corresponding to one cutting table 2A and 2B. It is possible to reduce the dimension of the bellows member 241 in the contracted state. In addition, the shutter member 242 is fixed according to each of the cutting tables 2A and 2B, and one of the cutting tables 2A and 2B is covered with the bellows member 241. A sealed substrate W before processing can be carried in, and a plurality of products P can be carried out, thereby increasing the processing capacity.

本実施形態では、X方向に設けられる一対のX方向ガイドレール811が切断用テーブル2A、2Bを挟んで設けられるので、一対のX方向ガイドレール811のピッチを大きくすることができる。その結果、X方向ガイドレール811同士のZ方向の位置ずれが加工に与える影響を小さくすることができる。さらに、一対のガイドレール811のピッチが大きくなることでX方向移動部81の直進性が向上し、その結果、ブレード41A、41Bの刃先のブレが小さくなり、切断の際の切削抵抗などが小さくなって、加工精度を向上させることができる。また、Y方向ガイドレール811を従来よりも低スペックのものを用いることができる。 In this embodiment, since a pair of X-direction guide rails 811 provided in the X direction are provided across the cutting tables 2A and 2B, the pitch between the pair of X-direction guide rails 811 can be increased. As a result, it is possible to reduce the influence of the Z-direction positional deviation between the X-direction guide rails 811 on machining. Furthermore, the straightness of the X-direction moving portion 81 is improved by increasing the pitch of the pair of guide rails 811, and as a result, the deflection of the cutting edges of the blades 41A and 41B is reduced, and the cutting resistance during cutting is reduced. As a result, machining accuracy can be improved. Also, the Y-direction guide rail 811 can be used with lower specifications than the conventional one.

本実施形態では、2つ以上の切断用テーブル2A、2Bが切断時にY方向に移動しないため、2つ以上の切断用テーブル2A、2Bに対する移動機構8(X方向移動部81)のX方向の平行度を一挙に調整することができる。すなわち、切断時に切断用テーブルが移動する従来の装置に切断用テーブルを2つ設ける場合、2つの切断用テーブルのX方向の平行度を調整し、さらにこの調整したX方向の平行度とブレードのX方向の平行度を調整する必要があった(具体的には、2回の調整が必要であった)が、本実施形態では、2つの切断用テーブル2A、2Bは切断時にX方向に移動しないため、ブレード41A、41BのX方向の平行度を調整するだけでよい(具体的には、1回の調整で済む)。 In this embodiment, since the two or more cutting tables 2A and 2B do not move in the Y direction during cutting, the moving mechanism 8 (X direction moving unit 81) moves in the X direction with respect to the two or more cutting tables 2A and 2B. Parallelism can be adjusted at once. That is, when two cutting tables are provided in a conventional apparatus in which the cutting tables move during cutting, the parallelism in the X direction of the two cutting tables is adjusted, and the parallelism in the X direction and the blade are adjusted. Although it was necessary to adjust the parallelism in the X direction (specifically, two adjustments were required), in this embodiment, the two cutting tables 2A and 2B move in the X direction during cutting. Therefore, it is sufficient to adjust the parallelism of the blades 41A and 41B in the X direction (specifically, one adjustment is sufficient).

<その他の変形実施形態>
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
<Other Modified Embodiments>
It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiments.

例えば、前記実施形態では、ツインカットテーブル方式であって、ツインスピンドル構成の切断装置を説明したが、これに限らず、シングルカットテーブル方式であって、シングルスピンドル構成の切断装置や、シングルカットテーブル方式であって、ツインスピンドル構成の切断装置などであってもよい。また、切断用テーブルを3つ以上有する構成であっても良い。この場合であっても3つ以上の切断用テーブルそれぞれに対応して3つ以上の固定部を有する構成となる。 For example, in the above-described embodiment, a twin-cut table system and a twin-spindle configuration cutting device have been described. It may be a system, such as a cutting device with a twin spindle configuration. Moreover, the structure which has three or more cutting tables may be sufficient. Even in this case, there are three or more fixing portions corresponding to three or more cutting tables.

また、前記実施形態の移載テーブル5は、各種トレイ21に仕分ける前に一時的に載置されるインデックステーブルであったが、移載テーブル5を反転機構14の保持テーブル141としても良い。 Further, the transfer table 5 of the above embodiment is an index table that is temporarily placed before sorting into the various trays 21 , but the transfer table 5 may be used as the holding table 141 of the reversing mechanism 14 .

さらに、前記実施形態では、移載テーブル5からトレイ21に仕分ける構成(「トレイ収容」とも呼ばれる。)であったが、複数の製品Pを粘着面を有する貼付部材に貼り付けて収容(「リング収容」とも呼ばれる。)する構成であっても良いし、複数の製品Pを収容ボックスに落下させてばらばらの状態で収容(「バルク収容」とも呼ばれる。)する構成であっても良いし、複数の製品Pを筒状容器の一端開口部から挿入して収容(「チューブ収容」とも呼ばれる。)する構成であっても良い。 Furthermore, in the above-described embodiment, the transfer table 5 is sorted into the tray 21 (also called “tray storage”). A plurality of products P may be dropped into a storage box and stored separately (also called “bulk storage”). The product P may be inserted from one end opening of the cylindrical container and accommodated (also called “tube accommodation”).

その上、前記実施形態の構成において、切断用テーブル2A、2Bにおいて封止済基板を切断することなく、溝を形成する構成としても良い。この場合、例えば、切断用テーブル2A、2Bで溝加工が施された封止済基板Wは、第1保持機構3及び搬送用移動機構7によって、基板供給部112に戻す構成としても良い。また、この基板供給部112に戻された封止済基板Wを基板収容部111に収容する構成としても良い。 Moreover, in the configuration of the above-described embodiment, the grooves may be formed without cutting the sealed substrate on the cutting tables 2A and 2B. In this case, for example, the sealed substrate W grooved by the cutting tables 2A and 2B may be returned to the substrate supply section 112 by the first holding mechanism 3 and the transfer movement mechanism 7 . Alternatively, the sealed substrate W returned to the substrate supply section 112 may be accommodated in the substrate accommodation section 111 .

また、トランスファ軸71を構成するカムラック要素は複数を連結して構成することができるので、例えば、切断装置(加工装置)100を、第2クリーニング機構19と検査部13との間で分離及び連結可能(着脱可能)なモジュール構成とすることができる。この場合、例えば、第2クリーニング機構19側のモジュールと、検査部13側のモジュールとの間に、検査部13での検査とは異なる種類の検査を行うモジュールを追加することができる。なお、ここに例示した構成以外にも、切断装置(加工装置)100をどこで分離及び連結可能(着脱可能)なモジュール構成としてもよく、追加するモジュールを検査以外の様々な機能のモジュールとしてもよい。 In addition, since a plurality of cam rack elements constituting the transfer shaft 71 can be connected together, for example, the cutting device (processing device) 100 can be separated and connected between the second cleaning mechanism 19 and the inspection unit 13. It can be configured as a removable (detachable) module. In this case, for example, between the module on the second cleaning mechanism 19 side and the module on the inspection section 13 side, a module that performs an inspection different from the inspection performed by the inspection section 13 can be added. In addition to the configuration illustrated here, the cutting device (processing device) 100 may have a module configuration that can be separated and connected (detachable) at any point, and the modules to be added may be modules with various functions other than inspection. .

また、本発明の加工装置は、切断以外の加工を行うものであってもよく、例えば切削や研削などのその他の機械加工を行うものであってもよい。 Further, the processing apparatus of the present invention may perform processing other than cutting, and may perform other mechanical processing such as cutting and grinding.

その他、本発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であるのは言うまでもない。 In addition, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and it goes without saying that various modifications are possible without departing from the spirit of the present invention.

100・・・切断装置(加工装置)
W・・・封止済基板(加工対象物)
P・・・製品(加工後の加工対象物)
SD・・・加工送り方向
2A、2B・・・切断用テーブル(加工テーブル)
3・・・第1保持機構
4・・・切断機構(加工機構)
5・・・移載テーブル
6・・・第2保持機構
7・・・搬送用移動機構
71・・・共通のトランスファ軸
8・・・切断用移動機構(加工用移動機構)
81・・・X方向移動部
811・・・一対のX方向ガイドレール
812・・・支持体
82・・・Y方向移動部
12・・・切削水供給機構(加工液供給機構)
15・・・カバー部材
24・・・切削水飛散防止機構(加工液飛散防止機構)
241・・・蛇腹部材
242・・・シャッタ部材
243A、243B・・・固定部
U・・・上昇位置
D・・・下降位置
100...Cutting device (processing device)
W: Sealed substrate (object to be processed)
P ... Product (object to be processed after processing)
SD: processing feed direction 2A, 2B: cutting table (processing table)
3 First holding mechanism 4 Cutting mechanism (processing mechanism)
5: Transfer table 6: Second holding mechanism 7: Transfer mechanism 71: Common transfer shaft 8: Cutting movement mechanism (processing movement mechanism)
81 X-direction moving part 811 A pair of X-direction guide rails 812 Support body 82 Y-direction moving part 12 Cutting water supply mechanism (working fluid supply mechanism)
15... Cover member 24... Cutting water scattering prevention mechanism (machining fluid scattering prevention mechanism)
241 Accordion member 242 Shutter members 243A, 243B Fixed portion U Raised position D Lowered position

Claims (10)

加工対象物を保持する加工テーブルと、
前記加工対象物を前記加工テーブルに搬送するために前記加工対象物を保持する第1保持機構と、
前記加工テーブルに保持された前記加工対象物を加工する加工機構と、
加工後の前記加工対象物が移される移載テーブルと、
加工後の前記加工対象物を前記加工テーブルから前記移載テーブルに搬送するために加工後の前記加工対象物を保持する第2保持機構と、
前記加工テーブル及び前記移載テーブルの配列方向に沿って延び、前記第1保持機構及び前記第2保持機構を移動させるための共通のトランスファ軸を有する搬送用移動機構と、
前記加工機構を水平面において前記トランスファ軸に沿った第1方向及び当該第1方向に直交する第2方向それぞれに移動させる加工用移動機構と、
前記加工用移動機構により前記加工機構とともに移動し、加工送り方向の一方側から前記加工機構に加工液を噴射する加工液供給機構と、
前記加工機構に対して前記加工送り方向の他方側に設けられるとともに、前記加工テーブルの上面よりも下側の位置から上方を覆い、前記加工液の飛散を防止する加工液飛散防止機構とを備える、加工装置。
a processing table holding an object to be processed;
a first holding mechanism for holding the workpiece for transporting the workpiece to the processing table;
a machining mechanism for machining the workpiece held on the machining table;
a transfer table to which the processed object is transferred;
a second holding mechanism that holds the processed workpiece in order to transport the processed workpiece from the processing table to the transfer table;
a transfer movement mechanism extending along the arrangement direction of the processing table and the transfer table and having a common transfer shaft for moving the first holding mechanism and the second holding mechanism;
a machining moving mechanism for moving the machining mechanism in a horizontal plane in a first direction along the transfer axis and in a second direction orthogonal to the first direction;
a machining fluid supply mechanism that moves together with the machining mechanism by the machining movement mechanism and injects machining fluid to the machining mechanism from one side in a machining feed direction;
a machining fluid scattering prevention mechanism provided on the other side in the machining feed direction with respect to the machining mechanism and covering the machining table from a position below the upper surface of the machining table to prevent the machining fluid from scattering. , processing equipment.
前記加工液飛散防止機構は、
前記加工機構の移動に伴って伸縮し、前記加工送り方向に直交する上方及び側方を覆う蛇腹部材と、
前記蛇腹部材における前記加工送り方向の後端部が接続され、前記加工送り方向の後方を覆うシャッタ部材とを有する、請求項1に記載の加工装置。
The machining fluid scattering prevention mechanism includes:
a bellows member that expands and contracts along with the movement of the processing mechanism and covers an upper side and a side perpendicular to the processing feeding direction;
2. The processing apparatus according to claim 1, further comprising a shutter member to which a rear end portion of said bellows member in said processing feed direction is connected and which covers a rear portion thereof in said processing feed direction.
前記加工機構による前記加工対象物の加工時において前記シャッタ部材を前記加工テーブルに対して固定する固定部を有している、請求項2に記載の加工装置。 3. The processing apparatus according to claim 2, further comprising a fixing portion for fixing said shutter member to said processing table when said processing mechanism is processing said object. 前記加工テーブルを複数備えており、
前記固定部は、前記複数の加工テーブルそれぞれに対応して設けられている、請求項3に記載の加工装置。
A plurality of the processing tables are provided,
4. The processing apparatus according to claim 3, wherein said fixing portion is provided corresponding to each of said plurality of processing tables.
前記加工用移動機構は、前記シャッタ部材を複数の前記固定部それぞれに移動させる、請求項4に記載の加工装置。 5. The processing apparatus according to claim 4, wherein said moving mechanism for processing moves said shutter member to each of said plurality of fixed portions. 前記シャッタ部材は、その下端部が前記加工テーブルの上面よりも上側に位置する上昇位置と、前記下端部が前記加工テーブルの上面よりも下側に位置する下降位置との間で移動可能であり、
前記下降位置において前記固定部により固定される、請求項3乃至5の何れか一項に記載の加工装置。
The shutter member is movable between a raised position where the lower end is located above the upper surface of the processing table and a lowered position where the lower end is located below the upper surface of the processing table. ,
The processing apparatus according to any one of claims 3 to 5, wherein said fixing portion fixes said lowered position.
前記加工用移動機構は、前記加工機構を前記第1方向であるX方向に直線移動させるX方向移動部と、前記加工機構を前記第2方向であるY方向に直線移動させるY方向移動部とを備え、
前記X方向移動部は、前記加工テーブルを挟んでX方向に沿って設けられた一対のX方向ガイドレールと、当該一対のX方向ガイドレールに沿って移動するとともに、前記Y方向移動部を介して前記加工機構を支持する支持体とを有している、請求項1乃至6の何れか一項に記載の加工装置。
The processing moving mechanism includes an X-direction moving unit that linearly moves the processing mechanism in the X direction, which is the first direction, and a Y-direction moving unit that linearly moves the processing mechanism in the Y direction, which is the second direction. with
The X-direction moving part moves along a pair of X-direction guide rails provided along the X direction with the machining table interposed therebetween, and moves along the pair of X-direction guide rails, and moves through the Y-direction moving part. 7. The processing apparatus according to claim 1, further comprising a support for supporting said processing mechanism.
前記X方向に沿って一方を向く方向が前記加工送り方向であり、
前記支持体においてX方向に沿った一方側に前記加工機構及び前記加工液供給機構が設けられており、
前記支持体においてX方向に沿った他方側に前記加工液飛散防止機構が設けられている、請求項7に記載の加工装置。
A direction facing one side along the X direction is the processing feed direction,
The processing mechanism and the processing liquid supply mechanism are provided on one side of the support along the X direction,
8. The processing apparatus according to claim 7, wherein the machining fluid scattering prevention mechanism is provided on the other side of the support along the X direction.
前記支持体においてX方向に沿った一方側に前記加工機構及び前記加工液供給機構を収容するカバー部材が設けられている、請求項8に記載の加工装置。 9. The processing apparatus according to claim 8, wherein a cover member for accommodating said processing mechanism and said processing liquid supply mechanism is provided on one side of said support along the X direction. 請求項1乃至9の何れか一項に記載の加工装置を用いて加工品を製造する加工品の製造方法。

A method of manufacturing a processed product, comprising manufacturing a processed product using the processing apparatus according to any one of claims 1 to 9.

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