JP2023012315A - 磁気ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】データ記録のパフォーマンスを向上させること。
【解決手段】磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、磁気ヘッドと、磁気ヘッドに電力を供給する電力供給部と、磁気ディスクに対するデータのリード/ライトを制御する共に、データのライト時に前記ライトヘッドのオフセット量に応じて、ライトヘッドの磁場範囲を抑制する制御部と、磁場範囲を抑制してデータをライトした磁気ディスクのアドレスを記憶するアドレス記憶部と、を備える。制御部は、所定のタイミングで、アドレス記憶部に記憶したアドレスに基づいて前記リードヘッドにより前記磁気ディスクからデータをリードし、当該リードしたデータを磁気ディスクに磁場範囲の抑制をせずにライトヘッドによりライトする。
【選択図】図10
【解決手段】磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、磁気ヘッドと、磁気ヘッドに電力を供給する電力供給部と、磁気ディスクに対するデータのリード/ライトを制御する共に、データのライト時に前記ライトヘッドのオフセット量に応じて、ライトヘッドの磁場範囲を抑制する制御部と、磁場範囲を抑制してデータをライトした磁気ディスクのアドレスを記憶するアドレス記憶部と、を備える。制御部は、所定のタイミングで、アドレス記憶部に記憶したアドレスに基づいて前記リードヘッドにより前記磁気ディスクからデータをリードし、当該リードしたデータを磁気ディスクに磁場範囲の抑制をせずにライトヘッドによりライトする。
【選択図】図10
Description
実施形態は、磁気ディスク装置に関する。
磁気ディスク装置の記憶容量の大容量化が求められている。このため、磁気ディスク装置を大容量化するために磁気ディスクのトラックピッチを狭め記録密度を高密度化することが行われている。
既述のように磁気ディスクの記録密度を高密度化すると、磁気ディスク装置の記憶容量を増やすころができる。このように記憶容量の大容量化を図ることができる一方で、データを記録する場合に、隣接トラックへの磁場の影響度が増加するという事態も生じる。具体的には、データの記録時に、磁気ディスク装置が外部から何等かの振動(衝撃)を受けると、ライトヘッドがトラック上で揺れる。この揺れ幅(オフセット量)が大きくなり隣接トラックのデータを侵してしまうことがあるこれを防止するために、オフセット量に閾値を設け、この閾値を超えた場合は、データの記録を禁止する処理をすることが行われている。振動(衝撃)が単発の場合は、磁気ディスクが1回転した後にデータの記録が可能になるが、長期的な振動(衝撃)の場合は、データの記録が許可されない状態が継続される。このため、磁気ディスク装置のデータ記録のパフォーマンスが悪化する。
実施形態は、データ記録のパフォーマンスを向上させることができ磁気ディスク装置を提供することを目的とする。
一実施形態に係る、磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッド、前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッド、及び前記磁気ディスクに対する前記リードヘッド、並びに前記ライトヘッドの浮上量を調整するヒータを含む磁気ヘッドと、前記リードヘッド、前記ライトヘッド、及び前記ヒータに電力を供給する電力供給部と、前記磁気ディスクに対するデータのリード/ライトを制御する共に、前記データのライト時に前記ライトヘッドのオフセット量に応じて、前記ライトヘッドの磁場範囲を抑制する制御部と、前記磁場範囲を抑制してデータをライトした前記磁気ディスクのアドレスを記憶するアドレス記憶部と、を備える。前記制御部は、所定のタイミングで、前記アドレス記憶部に記憶したアドレスに基づいて前記リードヘッドにより前記磁気ディスクからデータをリードし、当該リードしたデータを前記磁気ディスクに前記磁場範囲の抑制をせずに前記ライトヘッドによりライトする。
以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、開示はあくまで一例にすぎず、以下の実施形態に記載した内容により発明が限定されるものではない。当業者が容易に想到し得る変形は、当然に開示の範囲に含まれる。説明をより明確にするため、図面において、各部分のサイズ、形状等を実際の実施態様に対して変更して模式的に表す場合もある。複数の図面において、対応する要素には同じ参照数字を付して、詳細な説明を省略する場合もある。
図1は、実施形態に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示す図である。
図1に示すように、磁気ディスク装置200は、例えば、ハードデイスクドライブ(HDD)として構成され、磁気ディスク1と、スピンドルモータ(SPM)2と、アクチュエータ3と、ボイスコイルモータ(VCM)4と、磁気ヘッド10と、サーボコンボ(SVC)20と、ヘッドアンプIC30と、R/Wチャネル40と、ハードディスクコントローラ(HDC)50と、マイクロプロセッサ(MPU)60と、揮発性メモリ70と、不揮発性メモリ80とを備えている。また、磁気ディスク装置200は、ホストシステム150と接続可能である。磁気ヘッド10は、ライトヘッド10W、リードヘッド10R、及びヒータHEを備えている。サーボコンボ20、R/Wチャネル40、HDC50及びMPU60は、1チップの集積回路に組み込まれていてもよい。
図1に示すように、磁気ディスク装置200は、例えば、ハードデイスクドライブ(HDD)として構成され、磁気ディスク1と、スピンドルモータ(SPM)2と、アクチュエータ3と、ボイスコイルモータ(VCM)4と、磁気ヘッド10と、サーボコンボ(SVC)20と、ヘッドアンプIC30と、R/Wチャネル40と、ハードディスクコントローラ(HDC)50と、マイクロプロセッサ(MPU)60と、揮発性メモリ70と、不揮発性メモリ80とを備えている。また、磁気ディスク装置200は、ホストシステム150と接続可能である。磁気ヘッド10は、ライトヘッド10W、リードヘッド10R、及びヒータHEを備えている。サーボコンボ20、R/Wチャネル40、HDC50及びMPU60は、1チップの集積回路に組み込まれていてもよい。
磁気ディスク1は、例えば、円板状に形成され非磁性体からなる基板を有している。基板の各表面には、下地層として軟磁気特性を示す材料からなる軟磁性層と、その上層部に、ディスク面に対して垂直方向に磁気異方性を有する磁気記録層と、その上層部に保護膜層とが記載の順に積層されている。ここで、磁気ヘッド10の方向を上層とする。
磁気ディスク1は、スピンドルモータ(SPM)2に固定され、このSPM2によって所定の速度で回転させられる。なお、1枚に限らず、複数枚の磁気ディスク1がSPM2に設置されてもよい。SPM2は、サーボコンボ20から供給される駆動電流(または駆動電圧)により駆動される。磁気ディスク1は、磁気ヘッド10によってデータパターンが記録再生される。磁気ディスク1は、システム領域100と、データ領域110とを有する。システム領域100は、詳細は後述する磁気ディスク1のディスク面の状態を記憶する状態情報記憶部102を有する。システム領域100は、例えば、磁気ディスク1の半径方向の最外周または最内周の一部に設けられる。データ領域110は、データが記憶される。
アクチュエータ3は、回動自在に設置されているとともに、その先端部に磁気ヘッド10が支持されている。ボイスコイルモータ(VCM)4によってアクチュエータ3を回動することで、磁気ヘッド10は、磁気ディスク1の所望のトラック上に移動され、位置決めされる。VCM4は、サーボコンボ20から供給される駆動電流(または駆動電圧)によって駆動される。
磁気ヘッド10は、既述のように、ライトヘッド10Wと、リードヘッド10Rとを有する。ライトヘッド10Wは、磁気ディスク1に対してデータをライトする。リードヘッド10Rは、磁気ディスクからデータをリードする。ヒータHEは、ライトヘッド10W、又はリードヘッド10Rの磁気ディスク1のディスク面に対する浮上量(言い換えれば、隙間)を調整する。
サーボコンボ20は、サーボ制御部21と、スピンドルモータ制御部22とを含む。サーボ制御部21は、MPU60の制御に従いボイスコイルモータ4を制御すると共に、磁気ヘッド10のヘッド位置情報を検出する。この検出されたヘッド位置情報は、MPU60に出力される。ヘッド位置情報は、本実施形態では、磁気ディスク1上のライトヘッドの位置が、位置付けする目標位置からずれたオフセット量を示す情報を含む。スピンドルモータ制御部22は、MPU60の制御に従いスピンドルモータ2を制御する。ボイスコイルモータ4が駆動することによって、磁気ヘッド10は磁気ディスク1上の目標トラックへ位置付けられる。
ヘッドアンプIC(電力供給部)30は、R/Wチャネル40から供給されるライトデータに応じたライト信号(ライト電流)をライトヘッド10Wに供給する。また、ヘッドアンプIC30は、リードヘッド10Rから出力されたリード信号を増幅して、R/Wチャネル40に伝送する。さらに、ヘッドアンプIC30は、ヒータHEに印加する電圧調整することにより、ライトヘッド10W、又はリードヘッド10Rの磁気ディスク1のディスク面に対する浮上量を調整する。
R/Wチャネル40は、読み出し(リード)/書き込み(ライト)に関連する信号を処理する信号処理回路である。R/Wチャネル40は、リードデータの信号処理を実行するリードチャネルと、ライトデータの信号処理を実行するライトチャネルとを含む。R/Wチャネル40は、リードヘッド10RからヘッドアンプIC30を介して入力されるリード信号をデジタルデータに変換し、デジタルデータからリードデータを復調する。R/Wチャネル40は、HDC50から転送されるライトデータを符号化し、符号化されたライトデータを、ヘッドアンプIC30を介してライトヘッド10Wに転送する。
HDC50は、インタフェース制御部51と、バッファ制御部52と、ディスク制御部53と、コマンド制御部54とを含む。また、HDC50は、磁気ヘッド10、サーボコンボ20、ヘッドアンプIC30、R/Wチャネル40、およびMPU60を介して、磁気ディスク1へのデータの書き込みと、磁気ディスク1からのデータの読み出しとを制御する。より詳細には、インタフェース制御部51は、磁気ディスク装置200とホストシステム150とのインタフェースを構成する。バッファ制御部52は、インタフェース制御部51から転送されたコマンド、インタフェース制御部51に転送するコマンドを一時的にバッファ90に保持する。ディスク制御部53は、磁気ディスク1に対するデータのライト、及び磁気ディスク1からリードするデータの処理を実行する。コマンド制御部54は、バッファ制御部52から転送されたコマンドを制御する。これらの制御部により、HDC50は、ホストシステム150から転送される信号を受信し、且つホストシステム150へ信号を転送するホストインタフェースコントローラとして機能する。また、HDC50は、ホストシステム150から転送されるコマンド(ライトコマンド、リードコマンド等)を受信し、受信したコマンドをMPU60に送信する。
MPU60は、磁気ディスク装置200のメインコントローラであり、リード/ライト制御部61と、位置検出部62とを有する。リード/ライト制御部61は、リード/ライト動作を制御する。位置検出部62は、磁気ヘッド10の位置をSVC20から出力されるヘッド位置情報に基づいて検出する。
揮発性メモリ70は、例えば、DRAMである。揮発性メモリ70は、揮発性メモリ70に記憶される情報については、図2を参照して後述する。不揮発性メモリ80は、例えば、フラッシュROMである。不揮発性メモリ80は、例えば、MPU60の処理に必要なプログラムを格納する。プログラムの内容の詳細は、図7,図10を参照して後述する。
図2は、揮発性メモリ70に記憶される情報の一例を示す図である。
図2に示すように、揮発性メモリ70は、第1閾値記憶部71、第2閾値記憶部72、及び管理情報記憶部73を含む。第1閾値記憶部71は、第1閾値を記憶する。第1閾値は、通常の浮上状態でライトヘッド10Wによるデータのライトの影響により隣接するトラックに記憶されるデータを侵食するオフセット量を示す値である。第2閾値記憶部72は、第2閾値を記憶する。第2閾値は、第1閾値より大きいオフセット量であり、図4から図6を参照して後述する磁場抑制制御に基づくデータのライトを行っても、データのライトの影響により隣接するトラックに記憶されるデータを侵食するオフセット量を示す値である。なお、第1閾値、及び第2閾値は、例えば、磁気ディスク装置200に電源が投入されたときに、磁気ディスク装置200内のいずれかの場所に格納されている第1閾値、及び第2閾値が第1閾値記憶部71、及び第2閾値記憶部72にそれぞれ保持されるようになっている。管理情報記憶部73は、管理情報を記憶する。管理情報は、磁場抑制制御を実行してライトしたデータのアドレスを示す情報である。
図2に示すように、揮発性メモリ70は、第1閾値記憶部71、第2閾値記憶部72、及び管理情報記憶部73を含む。第1閾値記憶部71は、第1閾値を記憶する。第1閾値は、通常の浮上状態でライトヘッド10Wによるデータのライトの影響により隣接するトラックに記憶されるデータを侵食するオフセット量を示す値である。第2閾値記憶部72は、第2閾値を記憶する。第2閾値は、第1閾値より大きいオフセット量であり、図4から図6を参照して後述する磁場抑制制御に基づくデータのライトを行っても、データのライトの影響により隣接するトラックに記憶されるデータを侵食するオフセット量を示す値である。なお、第1閾値、及び第2閾値は、例えば、磁気ディスク装置200に電源が投入されたときに、磁気ディスク装置200内のいずれかの場所に格納されている第1閾値、及び第2閾値が第1閾値記憶部71、及び第2閾値記憶部72にそれぞれ保持されるようになっている。管理情報記憶部73は、管理情報を記憶する。管理情報は、磁場抑制制御を実行してライトしたデータのアドレスを示す情報である。
図3は、システム領域102に記憶される状態情報の一例を示す図である。
状態情報は、磁気ディスク1のディスク面の状態を示す情報である。図3に示すように、状態情報102aは、磁気ディスク1のデータ領域110のアドレスに対応付けて記憶される。状態情報102aは、本実施形態においては、通常、面ムラ、凸部等のディスク面の3つの状態を示す。通常は、適正な状態にディスク面が形成されていることを示す。面ムラは、磁場が変化しやすい状態にディスク面が形成されていることを示す。凸部は、突起がディスク面に形成されていることを示す。このようにディスク面の状態がデータ領域110のアドレスに対応させて記憶される。なお、状態情報102aは、例えば、出荷前の検査時に磁気ディスク1のディスク面の検査を行い、その検査結果に基づいて、生成され、システム領域100の状態情報記憶部102に記憶される。
状態情報は、磁気ディスク1のディスク面の状態を示す情報である。図3に示すように、状態情報102aは、磁気ディスク1のデータ領域110のアドレスに対応付けて記憶される。状態情報102aは、本実施形態においては、通常、面ムラ、凸部等のディスク面の3つの状態を示す。通常は、適正な状態にディスク面が形成されていることを示す。面ムラは、磁場が変化しやすい状態にディスク面が形成されていることを示す。凸部は、突起がディスク面に形成されていることを示す。このようにディスク面の状態がデータ領域110のアドレスに対応させて記憶される。なお、状態情報102aは、例えば、出荷前の検査時に磁気ディスク1のディスク面の検査を行い、その検査結果に基づいて、生成され、システム領域100の状態情報記憶部102に記憶される。
図4から図6は、データのライト時に発生する磁場を抑制する磁場抑制制御の一例を説明するための図である。図4から図6は、条件C1~条件C3のそれぞれの条件で磁場を抑制する場合である。この磁場の抑制は、例えば、データライト時に振動が与えられた場合に、磁気ヘッド10、より詳細には、ライヘッド10Wのオフセットが発生した場合に、実行される。
図4は、条件C1時の磁場の抑制の作用の一例を示す図である。
条件C1は、ライヘッド10Wの浮上量を低減する場合である。浮上量は、言い換えれば、磁気ディスク1のディスク面に対するライトヘッド10Wの距離である。浮上量の調整は、MPU60の指示に基づいて、ヘッドアンプIC30から磁気ヘッド10内、かつ、ライトヘッド10W近傍に設けられたヒータHE(図4では図示省略)に印加する電圧を変化させることにより、実現される。図4に示すように、データライト時の通常時のライトヘッド10Wが位置P1である場合に、ライトヘッド10Wの書き広がり幅を幅W1とすると、ライトヘッド10Wの浮上量を下げ、言い換えれば、ディスク面との距離を狭めて位置P2した場合、書き広がり幅は、幅W2(<W1)となる。このように、ライトヘッド10Wの浮上量を位置P1から位置P2に下げることにより、書き広がり幅を狭くすることが可能になる。したがって、条件C1の場合、磁気ディスク装置200は、データライト時に発生する磁場を抑制することが可能になる。
条件C1は、ライヘッド10Wの浮上量を低減する場合である。浮上量は、言い換えれば、磁気ディスク1のディスク面に対するライトヘッド10Wの距離である。浮上量の調整は、MPU60の指示に基づいて、ヘッドアンプIC30から磁気ヘッド10内、かつ、ライトヘッド10W近傍に設けられたヒータHE(図4では図示省略)に印加する電圧を変化させることにより、実現される。図4に示すように、データライト時の通常時のライトヘッド10Wが位置P1である場合に、ライトヘッド10Wの書き広がり幅を幅W1とすると、ライトヘッド10Wの浮上量を下げ、言い換えれば、ディスク面との距離を狭めて位置P2した場合、書き広がり幅は、幅W2(<W1)となる。このように、ライトヘッド10Wの浮上量を位置P1から位置P2に下げることにより、書き広がり幅を狭くすることが可能になる。したがって、条件C1の場合、磁気ディスク装置200は、データライト時に発生する磁場を抑制することが可能になる。
図5は、条件C2時の磁場の抑制の作用の一例を示す図である。
条件C2は、ライトヘッド10Wに供給する電流(又は、電圧)を低減する場合である。ライトヘッド10Wに供給する電流の調整は、MPU60の指示に基づいて、ヘッドアンプIC30からライトヘッド10Wに供給する電流値を変化させることにより、実現される。図5に示すように、データライト時に、通常時の電流値の電流がライトヘッド10Wに供給される場合に、ライトヘッド10Wの書き広がり幅を幅W1とすると、ライトヘッド10Wに供給する電流を下げた場合、書き広がり幅は、幅W3(<W1)となる。このように、ライトヘッド10Wに供給する電流を下げることにより、書き広がり幅を狭くすることが可能になる。したがって、条件C2の場合も、条件C1の場合と同様に、磁気ディスク装置200は、データライト時に発生する磁場を抑制することが可能になる。
条件C2は、ライトヘッド10Wに供給する電流(又は、電圧)を低減する場合である。ライトヘッド10Wに供給する電流の調整は、MPU60の指示に基づいて、ヘッドアンプIC30からライトヘッド10Wに供給する電流値を変化させることにより、実現される。図5に示すように、データライト時に、通常時の電流値の電流がライトヘッド10Wに供給される場合に、ライトヘッド10Wの書き広がり幅を幅W1とすると、ライトヘッド10Wに供給する電流を下げた場合、書き広がり幅は、幅W3(<W1)となる。このように、ライトヘッド10Wに供給する電流を下げることにより、書き広がり幅を狭くすることが可能になる。したがって、条件C2の場合も、条件C1の場合と同様に、磁気ディスク装置200は、データライト時に発生する磁場を抑制することが可能になる。
図6は、条件C3時の磁場の抑制の作用の一例を示す図である。
条件C3は、ライヘッド10Wの浮上量を低減すると共に、ライトヘッド10Wに供給する電流(又は、電圧)を低減する場合である。つまり、条件C1と、条件C2とを組み合わせた場合である。ライトヘッド10Wの浮上量を位置P1から位置P2に下げると共に、ライトヘッド10Wに供給する電流を下げることにより、書き広がり幅を狭くすることが可能になり。したがって、条件C3の場合も、条件C1,C2の場合と同様に、磁気ディスク装置200は、データライト時に発生する磁場を抑制することが可能になる。
条件C3は、ライヘッド10Wの浮上量を低減すると共に、ライトヘッド10Wに供給する電流(又は、電圧)を低減する場合である。つまり、条件C1と、条件C2とを組み合わせた場合である。ライトヘッド10Wの浮上量を位置P1から位置P2に下げると共に、ライトヘッド10Wに供給する電流を下げることにより、書き広がり幅を狭くすることが可能になり。したがって、条件C3の場合も、条件C1,C2の場合と同様に、磁気ディスク装置200は、データライト時に発生する磁場を抑制することが可能になる。
また、図4から図6を参照して説明した、ライトヘッド10Wの浮上量、及びライヘッド10Wに供給する電流値は、例えば、磁気ディスク1の媒体特性(既述の通常、面ムラ)、媒体突起(既述の凸部)、浮上マージン、ライタビリティ―確保等の状況に応じて設定することが可能である。
次に、データライト時の処理を説明する。図7は、データライト時にMPU14が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
図7に示すように、ホスト命令(本実施形態では、ライトコマンド)を受信すると(ST101)、MPU60は、ヘッド位置情報は第1閾値以内か否かを判定する(ST101)。具体的には、MPU60は、ヘッド位置情報に含まれる目標位置からのオフセット量が第1閾値記憶部71に記憶される第1閾値以内か否かを判定する。第1閾値以内であると判定した場合(ST102:YES)、MPU60は、データのライトを実行し(ST103)、ホスト応答する(ST104)。つまり、MPU60は、ライト完了をホストシステム150に送信する。
一方、ヘッド位置情報が第1閾値以内でないと判定した場合(ST102:NO)、MPU60は、ヘッド位置情報は第2閾値以内か否かを判定する(ST105)。具体的には、MPU60は、ヘッド位置情報に含まれる目標位置からのオフセット量が第2閾値記憶部72に記憶される第2閾値以内か否かを判定する。第2閾値以内であると判定した場合(ST105:YES)、MPU60は、磁場抑制制御を実行する(ST106)。つまり、図4から図6を参照して既述した、条件C1から条件C3のいずれかの手法を用いて、データライト時の磁場を抑制する制御を実行する。
ここで、どのように条件C1から条件C3が選択されるかについて説明する。本実施形態では、MPU60は、状態情報記憶部102に記憶される状態情報102a(参照:図3)に基づいて、条件C1から条件C3のいずれを選択する。例えば、凸部の状態の領域にデータをライトする場合、MPU60は、条件C2を選択する。当該領域に有する突起により、ライトヘッド10Wが当該突起と接触する可能性を回避するためである。このように、磁気ディスク1のディスク面の状態に応じて、磁場抑制制御を設定することが可能である。
このように磁場抑制制御を実行したうえで、MPU60は、データのライトを実行する(ST107)。次に、MPU60は、アドレスを登録する(ST108)。具体的には、MPU60は、磁場抑制制御を実行してライトしたデータのアドレスを管理情報記憶部73に記憶する。次に、MPU60は、磁場抑制制御を解除し(ST109)、ホスト応答する(ST104)。
また、第2閾値以内でないと判定した場合(ST105:NO)、MPU60は、ライトを停止する(ST110)。そして、MPU60は、磁気ディスク1の回転待ちを行い(ST111)、ヘッド位置情報は第2閾値以内であるか否かを判定する(ST112)。MPU60がヘッド位置情報は第2閾値以内であると判定した場合(ST112:YES)、処理は、既述のステップST106へ進み、MPU60は、磁場抑制制御をしたうえでデータのライトを実行する(ST106~ST109,ST104)。
また、ヘッド位置情報は第2閾値以内でないと判定した場合(ST112:NO)、MPU60は、磁気ディスク1の回転待ちを行い(ST113)、MPU60は、ヘッド位置情報は第1閾値以内か否かを判定する(ST114)。第1閾値以内であると判定した場合(ST114:YES)、処理は、既述のステップST103へ進み、MPU60は、データのライトを実行し(ST103)、ライト完了をホストに応答する(ST104)。第1閾値以内でないと判定した場合(ST114:NO)、MPU60は、この処理を終了する。
次に、オフセット量の閾値に応じた磁場抑制制御と、ライト状態の一例について説明する。図8は、本実施形態の技術を適用しない他の実施形態の場合であり、図9は、本実施形態の場合である。
まず、他の実施形態について説明する。他の実施形態は、ライトヘッド10Wのオフセット量のライトを禁止する閾値が1つの場合である。
符号T1に示すように、ライト(WT)状態に応じて、ライトヘッド位置、浮上(一定)、IW(電流)(一定)を示している。ライト状態としては、WT許可の状態T11、ライト許可オフセットの状態T12、ライト禁止閾値超オフセットの状態T13を示している。ライトヘッド10Wは、任意のトラックTrk(n)に位置し、このトラックTrk(n)には、トラックTrk(n+1)が隣接している。また、磁場Bは、ライトヘッド10Wの磁場の範囲を示している。浮上は、ライトヘッド10Wの浮上量であり、電流はライトヘッド10Wに流す電流量であり、この他の実施形態では、磁場抑制制御を実行しないため、それぞれ、一定である。
図8に示すように、ライト許可時の状態T11においては、トラックTrk(n)のトラック幅と、磁場Bの範囲とが略一致している。データのライト時に磁気ディスク装置が何等かの衝撃を受け、ライトヘッド10Wがオフセットする場合がある。このオフセット量が閾値を超えない場合は、ライト許可オフセットの状態T12のように、磁場Bの範囲は、トラックTrk(n)のトラック幅からずれ、トラックTrk(n+1)のトラック幅をわずかに含むような場合である。ずれがわずかであるため、トラックTrk(n+1)には影響を与えない。しかしながら、ライト禁止閾値超えの状態T13のように、オフセット量が閾値を超えた場合、磁場Bの範囲は、トラックTrk(n)のトラック幅からのずれが大きくなり、トラックTrk(n+1)のトラック幅をかなり含むようになる。これでは、隣接するトラックTrk(n+1)に影響を与え、トラックTrk(n+1)に記憶されているデータを侵してしまう。これを防止するために、オフセット量が閾値を超えた場合は、データの記録を禁止する処理が行われる。しかし、このような振動が継続される場合、磁気ディスク装置のデータの記録が許可されない状態が継続され、データ記録のパフォーマンスが非常に悪化する。
次に、本実施形態について説明する。本実施形態は、ライトヘッド10Wのオフセット量の閾値が、既述のように第1閾値、及び第2閾値の2つの場合である。
符号T2に示すように、符号T1の場合と同様に、ライト(WT)状態に応じて、ライトヘッド位置、浮上(一定)、IW(電流)(一定)を示している。ライト状態としては、WT許可の状態T21、ライト許可オフセットの状態T22、ライト許可第1閾値超えオフセットの状態T23、及びライト禁止第2閾値超えオフセットの状態T24を示している。ライトヘッド10Wの位置は、任意のトラックTrk(n)に位置し、このトラックTrk(n)にトラックTrk(n+1)が隣接している。また、図8の場合と同様に、磁場Bは、ライトヘッド10Wの磁場の範囲を示しており、浮上は、ライトヘッド10Wの浮上量であり、電流はライトヘッド10Wに供給する電流量である。
図9に示すように、ライト許可時の状態T21においては、トラックTrk(n)のトラック幅と、磁場Bの範囲とが略一致しており、ライト許可オフセットの状態T22においては、磁場Bの範囲は、トラックTrk(n)のトラック幅からずれ、トラックTrk(n+1)のトラック幅をわずかに含むのは、図8の場合と同様である。ライト許可第1閾値超えの状態T23の場合は、オフセット量が第1閾値を超えるため、磁場Bの範囲は、トラックTrk(n)のトラック幅からずれ、トラックTrk(n+1)のトラック幅を含むようになる。しかしながら、ライトヘッド10Wの浮上量が低減され、つまり、磁気ディスク1のディスク面との距離が近くなるため、磁場の影響が抑制される。また、ライトヘッド10Wの浮上量の調整に代えて、または、ライトヘッド10Wの浮上量の調整と共に、ライトヘッド10Wへ供給する電流を低減するように調整してもよい。このように、ライトヘッド10Wのオフセット量が第1閾値を超えた場合、磁場抑制制御を実行することにより、第1閾値を超えても、隣接するトラックTrk(n+1)に影響を与えなくなり、データのライトができるようになる。オフセット量がもっと大きくなり、ライト禁止第2閾値超えオフセットの状態T24になった場合は、トラックTrk(n)のトラック幅からのずれが大きくなり、磁場抑制制御を実行しても、磁場Bの範囲がトラックTrk(n+1)のトラック幅をかなり含むようになるため、データの記録を禁止する処理が行われる。
以上のように、磁気ディスク装置200は、オフセット量が第1閾値を超えても第2閾値を超えるまでは、磁場抑制制御を実行することにより、データのライトを継続することができる。このため、磁気ディスク装置200は、データ記録のパフォーマンスを向上させることができる。
次に、データをリライトする処理について説明する。既述のように、磁気ディスク装置200に振動等が与えられ、ライトヘッド10Wのオフセット量が第1閾値を超え、かつ、第2閾値以内までの場合、磁場抑制制御によりデータがライトされる。この場合、磁場抑制制御によりデータをライトしているため、通常のライト時よりデータのライト品質が劣る場合も生じ得る。このため、磁気ディスク装置200では、当該データをリードし、リードしたデータをさらにライトする処理を実行する。図10は、MPU60が実行するデータのリライト処理の一例を示すフローチャートである。この処理は、本実施形態では、アイドル状態のときに実行されることとする。
アイドル状態時に、MPU60は、管理情報が記憶されているか否かを判定する(ST201)。より詳細には、MPU60は、アイドル状態時に、管理情報記憶部73を参照し、管理情報が記憶されているか否かを確認する。管理情報が記憶されていると判定した場合(ST201:YES)、MPU60は、リードヘッド10Rの浮上量を通常時より下げる(ST202)。このようにリードヘッド10Rの浮上量を下げた状態で、データのリードを実行する(ST203)。つまり、MPU60は、管理情報に記憶されるアドレス(領域)に基づいて、磁気ディスク1からデータをリードする。
次に、MPU60は、管理情報に基づいてライトする(ST204)。MPU60は、管理情報に記憶されるアドレスからリードしたデータをデータ領域110にライトする。次に、MPU60は、リードヘッド10Rの浮上量を通常時に戻す(ST205)。この状態で、MPU60は、リードを実行する(ST206)。つまり、MPU60は、ライトしたデータが通常のリード時の浮上量でリード可能であるかを確認する。
次に、MPU60は、管理情報をクリアする(ST207)。このように管理情報記憶部73に記憶される管理情報をクリアした後、アイドル状態に復帰する。なお、既述のステップST201で管理情報が記憶されていないと判定された場合(ST201:NO)、アイドル状態が継続される。
以上のように、磁気ディスク装置200は、磁場抑制制御によりライトしたデータをリライトすることができる。このため、磁気ディスク装置200は、データのライト品質を向上させることができる。また、当該データのリライトをアイドル状態のときに実行するため、磁気ディスク装置200の処理負担を軽減することができる。なお、データのリライトは、アイドル状態のときでなくても、磁気ディスク装置200の処理の負荷が軽いときに実行してもよい。さらに、所定のタイミングで強制的にデータのリライト処理を実行してもよい。この場合の所定のタイミングは、例えば、いわゆるリフレッシュ処理を実行する前のタイミングである。
また、上記実施形態では、磁気ディスク装置200は、磁場抑制を実行するか否かを規定する閾値として、第1閾値、第2閾値の2つを有する場合で説明したが、これに限るものではない。3つ以上の閾値を用いて、各段階で磁場抑制制御を変化させるようにしてもよい。
なお、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1…磁気ディスク、2…スピンドルモータ、3…アクチュエータ、4…ボイスコイルモータ、10…磁気ヘッド、10W…ライトヘッド、10R…リードヘッド、20…サーボコンボ、30…ヘッドアンプIC、40…R/Wチャネル、50…HDC、60…MPU、70…揮発性メモリ、71…第1閾値記憶部、72…第2閾値記憶部、73…管理情報記憶部、100…システム領域、102…状態情報記憶部、200…磁気ディスク装置、HE…ヒータ
符号T2に示すように、符号T1の場合と同様に、ライト(WT)状態に応じて、ライトヘッド位置、浮上(変動)、IW(電流)(変動)を示している。ライト状態としては、WT許可の状態T21、ライト許可オフセットの状態T22、ライト許可第1閾値超えオフセットの状態T23、及びライト禁止第2閾値超えオフセットの状態T24を示している。ライトヘッド10Wの位置は、任意のトラックTrk(n)に位置し、このトラックTrk(n)にトラックTrk(n+1)が隣接している。また、図8の場合と同様に、磁場Bは、ライトヘッド10Wの磁場の範囲を示しており、浮上は、ライトヘッド10Wの浮上量であり、電流はライトヘッド10Wに供給する電流量である。
Claims (10)
- 磁気ディスクと、
前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッド、前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッド、及び前記磁気ディスクに対する前記リードヘッド、並びに前記ライトヘッドの浮上量を調整するヒータを含む磁気ヘッドと、
前記リードヘッド、前記ライトヘッド、及び前記ヒータに電力を供給する電力供給部と、
前記磁気ディスクに対するデータのリード/ライトを制御する共に、前記データのライト時に前記ライトヘッドのオフセット量に応じて、前記ライトヘッドの磁場範囲を抑制する制御部と、
前記磁場範囲を抑制してデータをライトした前記磁気ディスクのアドレスを記憶するアドレス記憶部と、
を備え、
前記制御部は、所定のタイミングで、前記アドレス記憶部に記憶したアドレスに基づいて前記リードヘッドにより前記磁気ディスクからデータをリードし、当該リードしたデータを前記磁気ディスクに前記磁場範囲の抑制をせずに前記ライトヘッドによりライトする、
磁気ディスク装置。 - 前記オフセット量を規定する第1閾値、及び前記第1閾値より大きい第2閾値を記憶する閾値記憶部を備え、
前記制御部は、データのライト時に、前記第1閾値を超えても前記第2閾値を超えるまでは、前記磁場抑制を行って前記データのライトを継続し、前記第2閾値を超えた場合、前記データのライトを禁止する、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。 - 前記制御部は、
前記電力供給部を制御して前記ヒータに印加する電圧を調整して前記ライトヘッドの前記磁気ディスクに対する浮上量を調整することにより、前記データのライト時の磁場抑制を行う、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。 - 前記制御部は、
前記電力供給部を制御して前記ライトヘッドに供給する電流を調整することにより、前記データのライト時の磁場抑制を行う、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。 - 前記磁気ディスクのディスク面の状態を示す状態情報を記憶する状態情報記憶部を備え、
前記制御部は、前記データをライトする領域に対して前記状態情報記憶部に記憶される状態情報に基づいて、前記磁場抑制を変更する、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。 - 前記状態情報記憶部は、前記磁気ディスクに設けられる、
請求項5に記載の磁気ディスク装置。 - 前記状態情報は、面ムラ、及び凸部を示す情報を含む、
請求項5に記載の磁気ディスク装置。 - 前記制御部は、前記アドレス記憶部に記憶したアドレスに基づいて前記リードヘッドにより前記磁気ディスクからデータをリードする場合、前記ヒータに印加する電圧を調整することにより、前記リードヘッドの前記磁気ディスクのディスク面に対する浮上量を他のデータをリードする場合より、低くする、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。 - 前記所定のタイミングは、前記磁気ディスク装置がアイドル状態のときである、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。 - 前記リードしたデータを前記磁気ディスクに磁場抑制をせずに前記ライトヘッドによりライトした場合、前記アドレス記憶部に記憶される当該データに対応するアドレスをクリアする、
請求項1に記載の磁気ディスク装置。
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