JP2022527309A - 耐引っかき性ガラスおよび製造方法 - Google Patents
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Abstract
ガラス系物品は、耐引っかき性の改善をもたらす応力プロファイルを含む。ガラス系物品は、リチウムアルミノケイ酸塩組成物、および0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む。上記物品は、前記ガラス系物品の表面から前記ガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム、および4μm以上8μm以下のスパイク層深さを含む。上記物品は、150MPa以上の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力を含み得る。
Description
本願は、2019年3月29日に出願された米国仮特許出願第62/826,300号の優先権の利益を主張し、その内容が依拠され、その内容全体を参照により本明細書に援用するものとする。
本明細書は、概して、耐引っかき性ガラスに関する。より具体的には、本明細書は、改善された耐引っかき性を有するガラスを提供する方法に関する。
イオン交換性ガラスは、保護ガラスとして、また電子デバイスの筐体に広く使用されている。イオン交換によって硬度の改善を含むガラスの表面強度の向上がもたらされるが、依然としてガラスよりも硬度の高い材料に接することによる引っかきがガラスに生じやすい。
耐引っかき性または耐摩耗性を改善するための試みとしては、通例、硬度を高めるためのガラス自体の組成の操作、代替材料の使用、またはガラス表面へのハードコートの施工が挙げられる。例えば、機械的性能が改善されたリチウム系ガラスが開発された。このLi系ガラスは、優れた落下性能を有することが示されており、これらのガラスは、さらに高い位置から落下させても破損(ガラスの破断/破壊)を生じることがない。引っかき性能を他の機械的性能と併せて改善するために、ホウ素を添加してガラスの密に充填されたネットワークを開くことができる。
携帯用デバイスの引っかき性能を改善することがガラスメーカーおよび携帯用デバイス製造業者にとって継続的な取組みであった。
したがって、イオン交換等によって強化することができ、ガラスを耐引っかき性ガラス物品として形成することを可能にする機械的特性を有するガラスが必要とされる。
本開示の態様は、ガラス系物品およびその製造方法に関する。
一態様では、ガラス系物品は、リチウムアルミノケイ酸塩組成物;ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む。
一態様では、ガラス系物品は、リチウムアルミノケイ酸塩組成物;ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および115MPa以上の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg)を含む。
一態様では、ガラス系物品は、前記ガラス系物品の表面から前記ガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;150MPa以上の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg);および0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む。
一態様では、ガラス系物品を製造する方法は、基板厚さ(t)を画定する対向した第1および第2の表面を有し、リチウムアルミノケイ酸塩組成物を有するガラス系基板を、8モル%以上100モル%以下の範囲のナトリウム塩濃度を有する溶融塩浴を含むイオン交換処理に供すステップ;ならびに前記ガラス系物品の表面から前記ガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;表面から4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike)に及ぶ圧縮層;および0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を有するガラス系物品を形成するステップを含む。
付加的な特徴および利点が以下の詳細な説明に記載され、一部はその説明から当業者に容易に明らかであり、または以下の詳細な説明、特許請求の範囲および添付の図面を含む、本明細書に記載される実施形態を実施することによって認識される。
上述の概要および以下の詳細な説明がどちらも様々な実施形態を説明し、特許請求される主題の性質および特徴を理解するための概観または枠組みを提供することを意図したものであることを理解されたい。添付の図面は、様々な実施形態の更なる理解を提供するために含まれ、本明細書に組み込まれ、その一部を構成する。図面は、本明細書に記載される様々な実施形態を示し、本明細書と共に、特許請求される主題の原理および作用を説明する役割を果たす。
本明細書に組み込まれ、その一部を構成する添付の図面は、下記の幾つかの実施形態を示すものである。
本明細書に開示および記載される実施形態による圧縮応力層を表面上に有するガラスの横断面を概略的に示す図である。
屈曲点応力を含む応力プロファイルの概略図である。
本明細書に開示されるガラス物品のいずれかを組み込んだ例示的な電子デバイスの平面図である。
図3Aの例示的な電子デバイスの透視図である。
一実施形態についての第1の表面(0μm)からのガラス物品における深さの関数としての酸化物モル濃度のグラフである。
比較例についての第1の表面(0μm)からのガラス物品における深さの関数としての酸化物モル濃度のグラフである。
比較例についての第1の表面(0μm)からのガラス物品における深さの関数としての酸化物モル濃度のグラフである。
一実施形態についての第1の表面(0μm)からのガラス物品における深さの関数としての酸化物モル濃度のグラフである。
一実施形態についての第1の表面(0μm)からのガラス物品における深さの関数としての酸化物モル濃度のグラフである。
ガラス系物品の実施形態および比較例についての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。
ガラス系物品の実施形態についての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。
一実施形態についての第1の表面(0μm)からのガラス物品における深さの関数としての酸化物モル濃度のグラフである。
ガラス系物品の実施形態についての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。
比較例についての第1の表面(0μm)からのガラス物品における深さの関数としての酸化物モル濃度のグラフである。
比較ガラス系物品についての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。
ガラス系物品の実施形態および比較例についての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。
ガラス系物品の実施形態および比較例についての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。
幾つかの例示的な実施形態を説明する前に、本開示が、以下の開示に記載される構成またはプロセス工程の詳細に限定されないことを理解されたい。本明細書に提示される開示は、他の実施形態の余地があり、様々な方法で実施または実行することが可能である。
本明細書全体を通して、「一実施形態」、「或る特定の実施形態」、「様々な実施形態」、「1つ以上の実施形態」または「実施形態」への言及は、その実施形態に関連して記載される特定の特徴、構造、材料または特性が本開示の少なくとも1つの実施形態に含まれることを意味する。このため、本明細書全体を通して様々な箇所での「1つ以上の実施形態において」、「或る特定の実施形態において」、「様々な実施形態において」、「一実施形態において」または「実施形態において」等の表現の登場は、必ずしも同じ実施形態または1つの実施形態のみを指す訳ではない。さらに、特定の特徴、構造、材料または特性を1つ以上の実施形態において任意の好適な方法で組み合わせることができる。
定義および測定法
「ガラス系物品」および「ガラス系基板」という用語は、完全にまたは部分的にガラスからなる任意の物体を含むように使用される。合わせガラス系物品には、ガラスと非ガラス材料との積層体、ガラスと結晶性材料との積層体が含まれる。1つ以上の実施形態によるガラス系基板は、ソーダ石灰ケイ酸塩ガラス、アルカリ-アルミノケイ酸塩ガラス、アルカリ含有ホウケイ酸塩ガラスおよびアルカリ含有アルミノホウケイ酸塩ガラスから選択することができる。
「ガラス系物品」および「ガラス系基板」という用語は、完全にまたは部分的にガラスからなる任意の物体を含むように使用される。合わせガラス系物品には、ガラスと非ガラス材料との積層体、ガラスと結晶性材料との積層体が含まれる。1つ以上の実施形態によるガラス系基板は、ソーダ石灰ケイ酸塩ガラス、アルカリ-アルミノケイ酸塩ガラス、アルカリ含有ホウケイ酸塩ガラスおよびアルカリ含有アルミノホウケイ酸塩ガラスから選択することができる。
「基礎組成」は、任意のイオン交換(IOX)処理の前の基板の化学的組成である。すなわち、基礎組成はIOXからのいかなるイオンによってもドープされていない。IOX処理されたガラス系物品の中心部での組成は通例、IOX処理条件がIOXのために供給されたイオンが基板の中心部に拡散しないようなものである場合の基礎組成と同じである。1つ以上の実施形態において、ガラス物品の中心部での中心組成は、基礎組成を含む。
「実質的に」および「約」という用語が、任意の定量的な比較、値、測定または他の表現に起因し得る特有の不確実性の度合いを表すために本明細書で用いられる場合があることに留意されたい。また、これらの用語は、問題となる主題の基本的な機能に変化を生じさせることなく、定量的表現が規定の参照から変動し得る度合いを表すために本明細書で用いられる。このため、例えば、「MgOを実質的に含まない」ガラス系物品は、MgOがガラス系物品に積極的に添加またはバッチ添加されていないが、汚染物質として非常に少量で存在する可能性がある物品である。本明細書で使用される場合、「約」という用語は、量、サイズ、配合、パラメーター、ならびに他の量および特性が正確ではなく、また正確である必要がなく、概算であり、かつ/またはより大きいか、もしくはより小さくてもよく、所望に応じて許容差、変換係数、丸め、測定誤差等、および当業者に既知の他の要因を反映することを意味する。値または範囲の端点を記載する際に「約」という用語が使用される場合、その開示が言及された特定の値または端点を含むことを理解すべきである。本明細書における数値または範囲の端点に「約」が付されているか否かに関わらず、数値または範囲の端点は、「約」によって修飾された実施形態および「約」によって修飾されていない実施形態の2つの実施形態が含まれることを意図したものである。範囲のそれぞれの端点が他の端点との関連においても、また他の端点とは無関係にも重要であることがさらに理解される。
他に規定のない限り、本明細書に記載される組成は全て、酸化物ベースのモルパーセント(モル%)単位で表される。
「応力プロファイル」は、ガラス系物品全体にわたる厚さの関数としての応力である。圧縮応力領域は、第1の表面から物品の圧縮深さ(DOC)に及び、物品が圧縮応力下にある領域である。中心張力領域は、DOCから延び、物品が引張応力下にある領域を含む。
本明細書で使用される場合、圧縮深さ(DOC)は、ガラス系物品内の応力が圧縮応力から引張応力へと変化する深さを指す。DOCでは、応力が正の(圧縮)応力から負の(引張)応力に移るため、0の応力値を示す。機械分野で通常用いられる慣例によると、圧縮は負の(<0)応力として表され、張力は正の(>0)応力として表される。しかしながら、本明細書全体を通して、正の値の応力は、正の値または絶対値、すなわち、本明細書で列挙されるように、CS=|CS|として表される圧縮応力(CS)である。さらに、負の値の応力は引張応力である。しかし、「引張」という用語と共に使用される場合、応力または中心張力(CT)は正の値、すなわちCT=|CT|として表されることがある。中心張力(CT)は、ガラス系物品の中心領域または中心張力領域における引張応力を指す。最大中心張力(最大CTまたはCTmax)は、公称0.5・t[式中、tは物品厚さである]の中心張力領域において生じ得るが、これは最大引張応力の位置の正確な中心部からの変動を許容する。ピーク張力(PT)は、測定された最大張力を指し、物品の中心部での張力であっても、またはそうでなくてもよい。
応力プロファイルの「屈曲点(knee)」は、応力プロファイルの傾きが急から緩やかに移行する物品の深さである。屈曲点は、傾きが変化している深さの範囲にわたる移行域を指す場合もある。屈曲点応力CSkは、CSプロファイルのより深い部分をスパイクの深さ(DOLsp)に外挿する圧縮応力の値として定義される。既知の方法で表面応力計によって測定されたDOLspを報告する。屈曲点応力を含む応力プロファイルの概略図を図2に提示する。
金属酸化物に関して第1の表面から層深さ(DOL)まで変動する、または物品厚さ(t)の少なくとも大部分にわたって変動する、0でない金属酸化物濃度は、イオン交換の結果として物品内に応力が発生したことを示す。金属酸化物濃度の変動は、本明細書で金属酸化物濃度勾配と称されることがある。濃度が0でなく、第1の表面からDOLまで変動するか、または厚さの一部にわたって変動する金属酸化物は、ガラス系物品内に応力を発生すると説明することができる。金属酸化物の濃度勾配または変動は、ガラス系基板中の複数の第1の金属イオンを複数の第2の金属イオンと交換する、ガラス系基板の化学強化によって生じる。
本明細書で使用される場合、「交換深さ(depth of exchange)」、「層深さ(depth of layer)」(DOL)、「化学層深さ(chemical depth of layer)」および「化学層の深さ(depth of chemical layer)」という用語は、区別なく使用することができ、概して、イオン交換プロセス(IOX)によって促進されるイオン交換が特定のイオンについて行われる深さを説明する。DOLは、金属酸化物またはアルカリ金属酸化物のイオン(例えば、金属イオンまたはアルカリ金属イオン)がガラス系物品に拡散し、グロー放電発光分光分析法(GD-OES))によって決定されるイオンの濃度が最小値に達する、ガラス系物品内の深さ(すなわち、ガラス系物品の表面からその内部領域までの距離)を指す。幾つかの実施形態では、DOLは、イオン交換(IOX)プロセスによって導入される最も拡散が遅いまたは最大のイオンの交換深さとして示される。カリウムに関するDOL(DOLK)は、ガラス物品のカリウム含有量が下層の基板のカリウム含有量に達する深さである。ナトリウムに関するDOL(DOLNa)は、ガラス物品のナトリウム含有量が下層の基板のナトリウム含有量に達する深さである。
他に規定のない限り、本明細書において、CTおよびCSはメガパスカル(MPa)で表され、厚さはミリメートルで表され、DOCおよびDOLはマイクロメートル(μm)で表される。
圧縮応力(表面/ピークCS、CSmaxを含む)およびDOLspは、折原製作所(日本)製のFSM-6000等の市販の計器を用いて、表面応力計(FSM)によって測定される。表面応力測定は、ガラスの複屈折と関連する応力光学係数(SOC)の正確な測定に依存する。SOCは、「Standard Test Method for Measurement of Glass Stress-Optical Coefficient」と題するASTM規格C770-16(その内容全体を参照により本明細書に援用するものとする)に記載される手順C(ガラスディスク法)に従って測定される。
最大中心張力(CT)またはピーク張力(PT)および応力保持値は、当該技術分野で既知の散乱光偏光器(SCALP)技術を用いて測定される。屈折近接場(RNF)法またはSCALPを用いて応力プロファイルおよび圧縮深さ(DOC)を測定することができる。RNF法を応力プロファイルの測定に用いる場合、SCALPによって得られた最大CT値をRNF法において用いる。特に、RNFによって測定された応力プロファイルの力平衡を得て、SCALP測定によって得られる最大CT値に対して較正する。RNF法は、「Systems and methods for measuring a profile characteristic of a glass sample」と題する米国特許第8,854,623号明細書(その全体を参照により本明細書に援用するものとする)に記載されている。特に、RNF法は、ガラス物品を参照ブロックに隣接して配置することと、1Hz~50Hzの速度にて直交偏光間で切り替えられる偏光切替光線を生成することと、偏光切替光線における出力量を測定することと、偏光切替参照シグナルを生成することとを含み、直交偏光のそれぞれにおける測定出力量は、互いに50%以内である。この方法は、ガラスサンプル内の異なる深さについて偏光切替光線をガラスサンプルおよび参照ブロックに透過させた後、透過した偏光切替光線を、リレー光学系を用いてシグナル光検出器に中継することをさらに含み、シグナル光検出器により偏光切替検出器シグナルが生成する。この方法はまた、検出器シグナルを参照シグナルで除算して、正規化検出器シグナルを形成することと、正規化検出器シグナルからガラスサンプルのプロファイル特性を決定することとを含む。
ガラス系物品の特性の総括
本明細書のガラス系物品は、改善された耐引っかき性を有するように設計された応力プロファイルを有する。独特な応力プロファイルには、ガラス系物品の表面もしくはその近くでの所望のカリウム-ナトリウムモル比、および/または屈曲点での所望の圧縮応力、および/または物品の或る特定の深さにわたる所望の平均圧縮応力が含まれる。
本明細書のガラス系物品は、改善された耐引っかき性を有するように設計された応力プロファイルを有する。独特な応力プロファイルには、ガラス系物品の表面もしくはその近くでの所望のカリウム-ナトリウムモル比、および/または屈曲点での所望の圧縮応力、および/または物品の或る特定の深さにわたる所望の平均圧縮応力が含まれる。
イオン交換において、Na2Oのモル%がLi2Oのモル%よりも低い基礎組成を有するガラスは、顕著なカリウムからリチウムへのイオン交換を起こす可能性がある。リチウムは、それぞれのイオン半径サイズに基づいて非常に速い拡散速度で容易にナトリウムとイオン交換され、数時間以内にリチウムガラスの放物線状の応力プロファイルを達成することが可能であるが、リチウムとカリウムとのイオン交換は、カリウムのイオン半径がNaよりも著しく大きいことから、はるかに遅い。Na2Oのモル%<<Li2Oのモル%のリチウム系ガラス組成物の引っかき性能は、イオン交換において高いナトリウム塩(例えばNaNO3)濃度を用い、カリウムからリチウムへのイオン交換の量を低減することで改善することができる。100%のNaNO3塩を含む処理浴に供すると、10%以下のNaNO3塩を含有する処理浴と比較して引っかき性能が顕著に改善する。また、処理浴においてLiNO3を10%以上のNaNO3塩と組み合わせて使用することで、壊れやすさの範囲外でありながら引っかき性能が改善する。横断亀裂が生じる荷重は、処理浴内のナトリウム濃度の上昇と共に増加する。このことは、カリウムとナトリウムとのモル%濃度比が同様の(またはさらには表面のナトリウム濃度がより高い)ガラスの表面とも関連する。
本明細書に記載される方法は、特定の浴条件(高ナトリウム濃度)を使用することで、得られる応力プロファイルが、改善された引っかき性能および良好な落下性能を有するガラスをもたらすという点で有利である。このプロセスでは、ホウ素添加によって見られる組成変化とは対照的に、応力プロファイルによって耐引っかき性の向上を達成することができる。最終的に、ユーザーは、イオン交換プロファイルによってガラスの引っかき性能を向上または低下させることができる。
ここで、様々な実施形態によるリチウムアルミノケイ酸塩ガラスおよび耐引っかき性について詳細に言及する。アルカリアルミノケイ酸塩ガラスは、良好なイオン交換可能性を有し、化学強化プロセスを用いてアルカリアルミノケイ酸塩ガラスにおける高い強度および高い靱性特性が達成された。ナトリウムアルミノケイ酸塩ガラスは、高いガラス成形性および品質を有する高イオン交換性ガラスである。リチウムアルミノケイ酸塩ガラスは、高いガラス品質を有する高イオン交換性ガラスである。Al2O3をケイ酸塩ガラスネットワークに置換することで、イオン交換における一価カチオンの相互拡散性(interdiffusivity)が高まる。溶融塩浴(例えば、KNO3またはNaNO3)における化学強化によって、高い強度、高い靱性および高い圧入亀裂抵抗を有するガラスを達成することができる。化学強化によって達成される応力プロファイルは、ガラス物品の落下性能、強度、靱性および他の属性、ならびに耐引っかき性の改善を高める様々な形状を有し得る。
したがって、良好な物理的特性、化学的耐久性およびイオン交換可能性を有するリチウムアルミノケイ酸塩ガラスは、保護ガラスとしての使用について注目を集めている。異なるイオン交換プロセスによって、より大きな中心張力(CT)、圧縮深さ(DOC)および高い圧縮応力(CS)を達成することができる。本明細書に記載される応力プロファイルは、リチウム含有ガラス物品の耐破壊性の向上をもたらす。
本明細書に記載されるガラス組成物の実施形態では、構成成分(例えばSiO2、Al2O3、Li2O、Na2O等)の濃度は、他に規定のない限り、酸化物ベースのモルパーセント(モル%)で与えられる。或る成分の様々に挙げられる範囲がいずれも、任意の他の成分について様々に挙げられる範囲のいずれかと個別に組み合わせられ得ることを理解されたい。
リチウムアルミノケイ酸塩ガラス組成物のイオン交換方法および応力プロファイルが本明細書に開示される。応力プロファイルは、耐引っかき性を示す。図1を参照すると、ガラスは厚さtを有し、ガラスの表面から圧縮深さ(DOC)に及ぶ圧縮応力下の第1の領域(例えば、図1の第1および第2の圧縮応力層120、122)と、ガラスのDOCから中心または内部領域に及ぶ引張応力または中心張力(CT)下の第2の領域(例えば、図1の中心領域130)とを有する。
圧縮応力(CS)は、通例、ガラスの表面で生じる最大またはピーク値を有し(しかし、ピークがガラスの表面からの或る深さで生じる場合があるため、そうである必要はない)、CSは関数に応じて表面からの距離dと共に変化する。再び図1を参照すると、第1の圧縮層120は、第1の表面110から深さd1に及び、第2の圧縮層122は、第2の表面112から深さd2に及ぶ。これらのセグメントが共にガラス100の圧縮またはCSを規定する。
両方の主面(図1の110、112)の圧縮応力は、ガラスの中心領域(130)に蓄積された張力によって平衡が保たれる。
ガラス系物には、金属酸化物に関して第1および第2の表面の一方または両方から層深さ(DOL)まで変動する、0でない濃度を有するアルカリ金属酸化物が存在する。第1の表面から変動する金属酸化物の0でない濃度によって応力プロファイルが生成する。0でない濃度は、物品厚さの一部に沿って変動してもよい。幾つかの実施形態では、アルカリ金属酸化物の濃度は0ではなく、どちらも約0・t~約0.3・tの厚さ範囲に沿って変動する。幾つかの実施形態では、アルカリ金属酸化物の濃度は0ではなく、約0・t~約0.35・t、約0・t~約0.4・t、約0・t~約0.45・t、約0・t~約0.48・t、または約0・t~約0.50・tの厚さ範囲に沿って変動する。濃度の変動は、上記の厚さ範囲に沿って連続的であってもよい。濃度の変動は、約100μmの厚さセグメントに沿って約0.2モル%以上の金属酸化物濃度の変化を含み得る。金属酸化物濃度の変化は、約100μmの厚さセグメントに沿って約0.3モル%以上、約0.4モル%以上または約0.5モル%以上であってもよい。この変化は、マイクロプローブを含む当該技術分野で既知の方法によって測定することができる。
幾つかの実施形態では、濃度の変動は、約10μm~約30μmの範囲の厚さセグメントに沿って連続的であってもよい。幾つかの実施形態では、アルカリ金属酸化物の濃度は、第1の表面から第1の表面と第2の表面との間の値まで減少し、その値から第2の表面まで増加する。
アルカリ金属酸化物の濃度は、2つ以上の金属酸化物(例えば、Na2OとK2Oとの組み合わせ)を含んでいてもよい。幾つかの実施形態では、2つの金属酸化物を用い、イオンの半径が互いに異なる場合、浅部では、より半径が大きいイオンの濃度が、より半径が小さいイオンの濃度よりも高く、より深部では、より半径が小さいイオンの濃度が、より半径が大きいイオンの濃度よりも高い。
1つ以上の実施形態において、アルカリ金属酸化物の濃度勾配は、物品の厚さtの大部分に及ぶ。幾つかの実施形態では、金属酸化物の濃度は、第1および/または第2のセクションの厚さ全体に沿って約0.5モル%以上(例えば約1モル%以上)であってもよく、第1の表面および/または第2の表面0・tで最高であり、第1の表面と第2の表面との間の値まで実質的に一貫して減少する。その値では、金属酸化物の濃度は、厚さt全体に沿って最低であるが、その点でも濃度は0ではない。言い換えると、その特定の金属酸化物の0でない濃度は、厚さt(本明細書に記載される)の大部分または厚さt全体に沿って延在する。ガラス系物品中の特定の金属酸化物の総濃度は、約1モル%~約20モル%の範囲であり得る。
アルカリ金属酸化物の濃度は、ガラス系物品の形成のためにイオン交換したガラス系基板中の金属酸化物のベースライン量から決定することができる。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比が、0以上1.8以下、または0.2以上、0.4以上、0.6以上、0.8以上、1以上、1.2以上、1.4以上、1.6以上かつ/もしくは1.7以下、1.5以下、1.3以下、1.1以下、0.9以下、ならびにその間の全ての値および部分範囲である。これらのK2OとNa2Oとのモル比は、本明細書に記載されるガラス系物品の耐引っかき性の改善に少なくとも一部寄与する。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、スパイク層深さ(DOLspike)が4μm以上、4.5μm以上、5μm以上、5.5μm以上、6μm以上、6.5μm以上、7μm以上かつ/または8μm以下、7.5μm以下、7μm以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、カリウム層深さ(DOLK)が4μm以上、4.5μm以上、5μm以上、5.5μm以上、6μm以上、6.5μm以上、7μm以上かつ/または8μm以下、7.5μm以下、7μm以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、ガラス系物品の表面から深さに及ぶ、ナトリウムの0でない様々な濃度(DOLNa)が4μm以上、4.5μm以上、5μm以上、5.5μm以上、6μm以上、6.5μm以上、7μm以上かつ/または8μm以下、7.5μm以下、7μm以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg)が115MPa以上、120MPa以上、125MPa以上、130MPa以上、135MPa以上、140MPa以上、145MPa以上、150MPa以上、155MPa以上、160MPa以上、165MPa以上、170MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、屈曲点での圧縮応力(CSk)が115MPa以上、120MPa以上、125MPa以上、130MPa以上、135MPa以上、140MPa以上、145MPa以上、150MPa以上、155MPa以上、160MPa以上、165MPa以上、170MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、屈曲点での圧縮応力(CSk)が115MPa以上、120MPa以上、125MPa以上、130MPa以上、135MPa以上、140MPa以上、145MPa以上、150MPa以上、155MPa以上、160MPa以上、165MPa以上、170MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、圧縮深さ(DOC)が0.19t以上、0.20t以上、0.21t以上、0.22t以上、0.23t以上、0.24t以上、0.25t以上かつ/または0.30t以下、0.29t以下、0.28t以下、0.27t以下、0.26t以下、0.25t以下、0.24t以下、0.23t以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、圧縮深さ(DOC)が150μm以上、155μm以上、160μm以上、165μm以上、170μm以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、tが0.5mm~0.8mmの範囲、ならびにその間の全ての値および部分範囲であり、かつ/またはtは0.8mm以下、0.75mm以下、0.73mm以下、0.70mm以下、0.65mm以下、0.6mm以下、0.55mm以下、0.4mm以下、0.3mm以下もしくは0.2mm以下、かつ/もしくは0.1mm以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)であり得る。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、最大圧縮応力(CSmax)が500MPa以上、550MPa以上、600MPa以上、650MPa以上、700MPa以上、750MPa以上、800MPa以上、850MPa以上、900MPa以上、950MPa以上、1000MPa以上、1050MPa以上、1100MPa以上、1150MPa以上または1200MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
1つ以上の実施形態において、ガラス系物品は、Li2O/Na2Oモル比が0.10以上0.63以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)である。
ガラス系物品は、0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比と組み合わせて、以下の特徴のうち1つまたは組み合わせを有し得る:リチウムアルミノケイ酸塩組成物;ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;4μm以上、4.5μm以上、5μm以上、5.5μm以上、6μm以上、6.5μm以上、7μm以上かつ/または8μm以下、7.5μm以下、7μm以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)のスパイク層深さ(DOLspike);115MPa以上、120MPa以上、125MPa以上、130MPa以上、135MPa以上、140MPa以上、145MPa以上、150MPa以上、155MPa以上、160MPa以上、165MPa以上、170MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg);115MPa以上、120MPa以上、125MPa以上、130MPa以上、135MPa以上、140MPa以上、145MPa以上、150MPa以上、155MPa以上、160MPa以上、165MPa以上、170MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)の屈曲点での圧縮応力(CSk);0.19t以上、0.20t以上、0.21t以上、0.22t以上、0.23t以上、0.24t以上、0.25t以上かつ/もしくは0.30t以下、0.29t以下、0.28t以下、0.27t以下、0.26t以下、0.25t以下、0.24t以下、0.23t以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)であり、かつ/または150μm以上、155μm以上、160μm以上、165μm以上、170μm以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)である圧縮深さ(DOC);0.5mm~0.8mmの範囲、ならびにその間の全ての値および部分範囲のt、ならびに/または0.8mm以下、0.75mm以下、0.73mm以下、0.70mm以下、0.65mm以下、0.6mm以下、0.55mm以下、0.4mm以下、0.3mm以下もしくは0.2mm以下、かつ/もしくは0.1mm以上であり得るt;500MPa以上、550MPa以上、600MPa以上、650MPa以上、700MPa以上、750MPa以上、800MPa以上、850MPa以上、900MPa以上、950MPa以上、1000MPa以上、1050MPa以上、1100MPa以上、1150MPa以上または1200MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)の最大圧縮応力(CSmax);0.10以上0.63以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)のLi2O/Na2Oモル比。また、ガラス系物品の中心部で、基礎組成は、9.39~25モル%のアルミナ(Al2O3)と、0.1~20モル%の酸化ナトリウム(Na2O)と、最大9.01モル%の酸化ホウ素(B2O3)と、少なくとも1種のアルカリ土類金属酸化物とを含み、15モル%≦(R2O+R’O-Al2O3-ZrO2)-B2O3≦2モル%であり、ここで、RはNaならびに任意にLi、K、RbおよびCsの1つ以上であり、R’はMg、Ca、SrおよびBaの1つ以上である。
ガラス系物品は、4μm以上、4.5μm以上、5μm以上、5.5μm以上、6μm以上、6.5μm以上、7μm以上かつ/または8μm以下、7.5μm以下、7μm以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)のスパイク層深さ(DOLspike)と組み合わせて、以下の特徴のうち1つまたは組み合わせを有し得る:リチウムアルミノケイ酸塩組成物;ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比;115MPa以上、120MPa以上、125MPa以上、130MPa以上、135MPa以上、140MPa以上、145MPa以上、150MPa以上、155MPa以上、160MPa以上、165MPa以上、170MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg);115MPa以上、120MPa以上、125MPa以上、130MPa以上、135MPa以上、140MPa以上、145MPa以上、150MPa以上、155MPa以上、160MPa以上、165MPa以上、170MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)の屈曲点での圧縮応力(CSk);0.19t以上、0.20t以上、0.21t以上、0.22t以上、0.23t以上、0.24t以上、0.25t以上かつ/もしくは0.30t以下、0.29t以下、0.28t以下、0.27t以下、0.26t以下、0.25t以下、0.24t以下、0.23t以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)であり、かつ/または150μm以上、155μm以上、160μm以上、165μm以上、170μm以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)である圧縮深さ(DOC);0.5mm~0.8mmの範囲、ならびにその間の全ての値および部分範囲のt、ならびに/または0.8mm以下、0.75mm以下、0.73mm以下、0.70mm以下、0.65mm以下、0.6mm以下、0.55mm以下、0.4mm以下、0.3mm以下もしくは0.2mm以下、かつ/もしくは0.1mm以上であり得るt;500MPa以上、550MPa以上、600MPa以上、650MPa以上、700MPa以上、750MPa以上、800MPa以上、850MPa以上、900MPa以上、950MPa以上、1000MPa以上、1050MPa以上、1100MPa以上、1150MPa以上または1200MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)の最大圧縮応力(CSmax);0.10以上0.63以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)のLi2O/Na2Oモル比。また、ガラス系物品の中心部で、基礎組成は、9.39~25モル%のアルミナ(Al2O3)と、0.1~20モル%の酸化ナトリウム(Na2O)と、最大9.01モル%の酸化ホウ素(B2O3)と、少なくとも1種のアルカリ土類金属酸化物とを含み、15モル%≦(R2O+R’O-Al2O3-ZrO2)-B2O3≦2モル%であり、ここで、RはNaならびに任意にLi、K、RbおよびCsの1つ以上であり、R’はMg、Ca、SrおよびBaの1つ以上である。
ガラス系物品は、115MPa以上、120MPa以上、125MPa以上、130MPa以上、135MPa以上、140MPa以上、145MPa以上、150MPa以上、155MPa以上、160MPa以上、165MPa以上、170MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg)と組み合わせて、以下の特徴のうち1つまたは組み合わせを有し得る:リチウムアルミノケイ酸塩組成物;ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比;4μm以上、4.5μm以上、5μm以上、5.5μm以上、6μm以上、6.5μm以上、7μm以上かつ/または8μm以下、7.5μm以下、7μm以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)のスパイク層深さ(DOLspike);115MPa以上、120MPa以上、125MPa以上、130MPa以上、135MPa以上、140MPa以上、145MPa以上、150MPa以上、155MPa以上、160MPa以上、165MPa以上、170MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)の屈曲点での圧縮応力(CSk);0.19t以上、0.20t以上、0.21t以上、0.22t以上、0.23t以上、0.24t以上、0.25t以上かつ/もしくは0.30t以下、0.29t以下、0.28t以下、0.27t以下、0.26t以下、0.25t以下、0.24t以下、0.23t以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)であり、かつ/または150μm以上、155μm以上、160μm以上、165μm以上、170μm以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)である圧縮深さ(DOC);0.5mm~0.8mmの範囲、ならびにその間の全ての値および部分範囲のt、ならびに/または0.8mm以下、0.75mm以下、0.73mm以下、0.70mm以下、0.65mm以下、0.6mm以下、0.55mm以下、0.4mm以下、0.3mm以下もしくは0.2mm以下、かつ/もしくは0.1mm以上であり得るt;500MPa以上、550MPa以上、600MPa以上、650MPa以上、700MPa以上、750MPa以上、800MPa以上、850MPa以上、900MPa以上、950MPa以上、1000MPa以上、1050MPa以上、1100MPa以上、1150MPa以上または1200MPa以上(その間の全ての値および部分範囲を含む)の最大圧縮応力(CSmax);0.10以上0.63以下(その間の全ての値および部分範囲を含む)のLi2O/Na2Oモル比。また、ガラス系物品の中心部で、基礎組成は、9.39~25モル%のアルミナ(Al2O3)と、0.1~20モル%の酸化ナトリウム(Na2O)と、最大9.01モル%の酸化ホウ素(B2O3)と、少なくとも1種のアルカリ土類金属酸化物とを含み、15モル%≦(R2O+R’O-Al2O3-ZrO2)-B2O3≦2モル%であり、ここで、RはNaならびに任意にLi、K、RbおよびCsの1つ以上であり、R’はMg、Ca、SrおよびBaの1つ以上である。
一態様では、ガラス系物品は、リチウムアルミノケイ酸塩組成物;ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む。
一態様では、ガラス系物品は、リチウムアルミノケイ酸塩組成物;ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および115MPa以上の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg)を含む。
一態様では、ガラス系物品は、ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;150MPa以上の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg);および0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む。
ガラス系基板
基板として使用され得るガラスの例としては、アルカリ-アルミノケイ酸塩ガラス組成物またはアルカリ含有アルミノホウケイ酸塩ガラス組成物を挙げることができるが、他のガラス組成物も企図される。使用され得るガラス系基板の具体例としては、アルカリ-アルミノケイ酸塩ガラス、アルカリ含有ホウケイ酸塩ガラス、アルカリ-アルミノホウケイ酸塩ガラス、アルカリ含有リチウムアルミノケイ酸塩ガラスまたはアルカリ含有リン酸塩ガラスが挙げられるが、これらに限定されない。ガラス系基板は、イオン交換性として特徴付けられ得る基礎組成を有する。本明細書で使用される場合、「イオン交換性」は、その組成を有する基板が、基板の表面またはその近くに位置するカチオンを、サイズがより大きいまたはより小さい同じ価数のカチオンと交換することが可能であることを意味する。
基板として使用され得るガラスの例としては、アルカリ-アルミノケイ酸塩ガラス組成物またはアルカリ含有アルミノホウケイ酸塩ガラス組成物を挙げることができるが、他のガラス組成物も企図される。使用され得るガラス系基板の具体例としては、アルカリ-アルミノケイ酸塩ガラス、アルカリ含有ホウケイ酸塩ガラス、アルカリ-アルミノホウケイ酸塩ガラス、アルカリ含有リチウムアルミノケイ酸塩ガラスまたはアルカリ含有リン酸塩ガラスが挙げられるが、これらに限定されない。ガラス系基板は、イオン交換性として特徴付けられ得る基礎組成を有する。本明細書で使用される場合、「イオン交換性」は、その組成を有する基板が、基板の表面またはその近くに位置するカチオンを、サイズがより大きいまたはより小さい同じ価数のカチオンと交換することが可能であることを意味する。
1つ以上の実施形態において、ガラス系基板は、リチウム含有アルミノケイ酸塩を含み得る。
実施形態では、ガラス系基板は、応力プロファイルを形成することが可能な任意の組成物から形成することができる。幾つかの実施形態では、ガラス系基板は、2018年11月28日に出願された「Glasses with Low Excess Modifier Content」と題する米国特許出願公開第16/202,691号明細書(その全体を参照により本明細書に援用するものとする)に記載されているガラス組成物から形成することができる。幾つかの実施形態では、ガラス物品は、2018年11月28日に出願された「Ion-Exchangeable Mixed Alkali Aluminosilicate Glasses」と題する米国特許出願公開第16/202,767号明細書(その全体を参照により本明細書に援用するものとする)に記載されているガラス組成物から形成することができる。
ガラス系基板は、それが成形され得る方法によって特徴付けることができる。例えば、ガラス系基板は、フロート成形可能(すなわち、フロート法によって成形される)、ダウンドロー可能、特にフュージョン成形可能またはスロットドロー可能(すなわち、フュージョンドロー法またはスロットドロー法等のダウンドロー法によって成形される)と特徴付けることができる。実施形態では、ガラス系基板はロール成形され得る。
本明細書に記載されるガラス系基板の幾つかの実施形態は、ダウンドロー法によって成形され得る。ダウンドロー法では、比較的未処理の表面を有する、均一な厚さを有するガラス系基板が製造される。ガラス物品の平均曲げ強度は、表面傷の量およびサイズに左右されるため、接触が最小限であった未処理の表面は、より高い初期強度を有する。加えて、ダウンドローガラス物品は、非常に平らで滑らかな表面を有し、高コストの研削および研磨を行うことなく、その最終用途に用いることができる。
ガラス系基板の幾つかの実施形態は、フュージョン成形可能(すなわち、フュージョンドロー法を用いて成形可能)と記載されることもある。フュージョン法では、溶融ガラス原料を受容するチャネルを有するドロータンクが使用される。チャネルは、チャネルの長さに沿ってチャネルの両側に上部が開口した堰を有する。チャネルが溶融材料で満たされると、溶融ガラスが堰から溢れ出る。重力により、溶融ガラスがドロータンクの外表面を2つの流れるガラス膜として流れ落ちる。ドロータンクのこれらの外表面は、下方内側に伸び、ドロータンクの下の端部で合流する。2つの流れるガラス膜は、この端部で合流して融合し、単一の流れるガラス物品を形成する。フュージョンドロー法は、チャネルを越えて流れる2つのガラス膜が融合することから、得られるガラス物品の外表面のいずれも、装置のどの部分とも接触しないという利点をもたらす。このため、フュージョンドローガラス物品の表面特性は、かかる接触の影響を受けない。
本明細書に記載されるガラス系基板の幾つかの実施形態は、スロットドロー法によって成形され得る。スロットドロー法は、フュージョンドロー法とは異なる。スロットドロー法では、溶融原料ガラスをドロータンクに供給する。ドロータンクの下部には、スロットの長さを延長するノズルを有する開放スロットがある。溶融ガラスは、スロット/ノズルを通って流れ、連続したガラス物品としてアニーリング領域へと下方に引き出される。
一実施形態では、基礎組成は、9.39~25モル%のアルミナ(Al2O3)と、0.1~20モル%の酸化ナトリウム(Na2O)と、最大9.01モル%の酸化ホウ素(B2O3)と、少なくとも1種のアルカリ土類金属酸化物とを含み、15モル%≦(R2O+R’O-Al2O3-ZrO2)-B2O3≦2モル%であり、ここで、RはNaならびに任意にLi、K、RbおよびCsの1つ以上であり、R’はMg、Ca、SrおよびBaの1つ以上である。
1つ以上の実施形態において、本明細書に記載されるガラス系基板は、非晶質の微細構造を示してもよく、結晶または結晶子を実質的に含まなくてもよい。言い換えると、幾つかの実施形態では、ガラス系基板の物品はガラスセラミック材料を除外したものである。
イオン交換(IOX)処理
基礎組成を有するガラス基板の化学強化は、イオン交換性ガラス基板を、カチオン(例えばK+、Na+、Ag+等)を含有する溶融浴内に入れることによって行われ、このカチオンがガラス中に拡散する一方で、ガラスのより小さなアルカリイオン(例えばNa+、Li+)は、溶融浴内に拡散する。より小さなカチオンがより大きなカチオンに置き換わることで、ガラスの上面近くに圧縮応力が生じる。表面近くの圧縮応力と平衡を保つために、ガラス内部に引張応力が生じる。
基礎組成を有するガラス基板の化学強化は、イオン交換性ガラス基板を、カチオン(例えばK+、Na+、Ag+等)を含有する溶融浴内に入れることによって行われ、このカチオンがガラス中に拡散する一方で、ガラスのより小さなアルカリイオン(例えばNa+、Li+)は、溶融浴内に拡散する。より小さなカチオンがより大きなカチオンに置き換わることで、ガラスの上面近くに圧縮応力が生じる。表面近くの圧縮応力と平衡を保つために、ガラス内部に引張応力が生じる。
イオン交換プロセスに関しては、独立して熱拡散プロセスまたは電気拡散プロセスであり得る。ガラスを複数のイオン交換浴内に浸漬し、浸漬の間に洗浄および/またはアニーリングの工程を行うイオン交換プロセスの非限定的な例は、複数の連続したイオン交換処理において異なる濃度の塩浴に浸漬することによってガラスを強化する、「Glass with Compressive Surface for Consumer Applications」と題し、2008年7月11日に出願された米国仮特許出願第61/079,995号明細書からの優先権を主張する、2013年10月22日に発行されたDouglas C. Allan et al.による米国特許第8,561,429号明細書、および流出イオンで希釈された第1の浴におけるイオン交換に続く、第1の浴よりも流出イオンの濃度が低い第2の浴における浸漬によってガラスを強化する、「Dual Stage Ion Exchange for Chemical Strengthening of Glass」と題し、2008年7月29日に出願された米国仮特許出願第61/084,398号明細書からの優先権を主張する、2012年11月20日に発行されたChristopher M. Lee et al.による米国特許第8,312,739号明細書に記載されている。米国特許第8,561,429号明細書および米国特許第8,312,739号明細書の内容全体を参照により本明細書に援用するものとする。
イオン交換プロセスを行った後、ガラス物品の表面の組成が成形時のガラス物品(すなわち、イオン交換プロセスを受ける前のガラス物品)の組成とは異なり得ることを理解されたい。これは、成形時のガラス中の或る種のアルカリ金属イオン、例えばLi+またはNa+が、それぞれより大きなアルカリ金属イオン、例えばNa+またはK+に置き換えられたためである。しかしながら、ガラス物品の深さの中心または中心近くのガラス組成は、実施形態では、依然として成形時のガラス物品の組成を有する。
一態様では、ガラス系物品を製造する方法は、基板厚さ(t)を画定する対向した第1および第2の表面を有し、リチウムアルミノケイ酸塩組成物を有するガラス系基板を、8モル%以上100モル%以下の範囲のナトリウム塩濃度を有する溶融塩浴を含むイオン交換処理に供することと、ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;表面から4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike)に及ぶ圧縮層;および0以上1.8以下の、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を有するガラス系物品を形成することとを含む。
本明細書の方法によって作製されたガラス系物品は、以下の1つ以上を含み得る:115MPa以上の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg);および0.19t以上かつ/または150μm以上の圧縮深さ(DOC)。ガラス系基板の基礎組成は、酸化ナトリウム(Na2O)と酸化リチウム(Li2O)とのモル比が0.63以下である。ナトリウム塩は、NaNO3、Na2CO3、Na3PO4、Na2SO4、Na3BO3、NaClまたはそれらの組み合わせを含み得る。
一実施形態では、上記方法は単回イオン交換処理を用いて行われ、溶融塩浴は、8質量%以上100質量%以下の量のナトリウム塩と、0質量%以上10質量%以下の量のリチウム塩と、0質量%以上90質量%以下の量のカリウム塩とを含む。ナトリウム塩は硝酸ナトリウム(NaNO3)を含んでいてもよく、リチウム塩は硝酸リチウム(LiNO3)を含み、カリウム塩は硝酸カリウム(KNO3)を含む。
一実施形態では、上記方法は二重イオン交換処理を用いて行われ、第1の溶融塩浴は、8質量%以上100質量%以下の量のナトリウム塩と、0質量%以上10質量%以下の量のリチウム塩と、0質量%以上90質量%以下の量のカリウム塩とを含み、第2の溶融塩浴は、8質量%以上100質量%以下の量のナトリウム塩と、0質量%以上10質量%以下の量のリチウム塩と、0質量%以上90質量%以下の量のカリウム塩を含む。各溶融塩浴において、ナトリウム塩は硝酸ナトリウム(NaNO3)を含んでいてもよく、リチウム塩は硝酸リチウム(LiNO3)を含み、カリウム塩は硝酸カリウム(KNO3)を含む。
ここでの方法は、表面から0.4μmの深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比が0以上1.8以下であるガラス系基板の形成に効果的であり得る。
本明細書の方法は、スパイク層深さ(DOLspike)が4μm以上8μm以下であるガラス系基板の形成に効果的であり得る。
最終製品
本明細書に開示されるガラス系物品は、別の物品、例えばディスプレイを有する物品(または表示装置)(例えば携帯電話、タブレット、コンピュータ、ナビゲーションシステム等を含む家電製品)、建築用品、輸送手段(例えば自動車、列車、航空機、船舶等)、電気器具、または幾らかの透明性、耐引っかき性、耐摩耗性もしくはそれらの組み合わせを必要とする任意の物品に組み込むことができる。本明細書に開示されるガラス物品のいずれかを組み込んだ例示的な物品を図3Aおよび図3Bに示す。具体的には、図3Aおよび図3Bには、前面304、後面306および側面308を有するハウジング302と、少なくとも部分的にまたは完全にハウジング内にあり、少なくともコントローラ、メモリ、およびハウジングの前面にあるかまたはそれに隣接したディスプレイ310を含む電気部品(図示せず)と、ディスプレイを覆うようにハウジングの前面にあるかまたはそれを覆うカバー312とを備える消費者向け電子デバイス300を示す。幾つかの実施形態では、カバー312および/またはハウジング302は、本明細書に開示されるガラス物品のいずれかを含み得る。
本明細書に開示されるガラス系物品は、別の物品、例えばディスプレイを有する物品(または表示装置)(例えば携帯電話、タブレット、コンピュータ、ナビゲーションシステム等を含む家電製品)、建築用品、輸送手段(例えば自動車、列車、航空機、船舶等)、電気器具、または幾らかの透明性、耐引っかき性、耐摩耗性もしくはそれらの組み合わせを必要とする任意の物品に組み込むことができる。本明細書に開示されるガラス物品のいずれかを組み込んだ例示的な物品を図3Aおよび図3Bに示す。具体的には、図3Aおよび図3Bには、前面304、後面306および側面308を有するハウジング302と、少なくとも部分的にまたは完全にハウジング内にあり、少なくともコントローラ、メモリ、およびハウジングの前面にあるかまたはそれに隣接したディスプレイ310を含む電気部品(図示せず)と、ディスプレイを覆うようにハウジングの前面にあるかまたはそれを覆うカバー312とを備える消費者向け電子デバイス300を示す。幾つかの実施形態では、カバー312および/またはハウジング302は、本明細書に開示されるガラス物品のいずれかを含み得る。
様々な実施形態が以下の実施例によってさらに明らかとなる。実施例では、強化される前の実施例は「基板」と称される。強化に供した後、実施例は「物品」または「ガラス系物品」と称される。
組成A~Cによるガラス基板をイオン交換し、得られる物品を試験した。
組成AおよびBは、以下の組成を有していた。組成A:17.83モル%のAl2O3、6.11モル%のB2O3、4.41モル%のMgO、1.73モル%のNa2O、58.39モル%のSiO2、0.08モル%のSnO2、0.18モル%のK2O、0.02モル%のFe2O3、0.58モル%のCaOおよび10.66モル%のLi2O(0.00モル%のSrO、0.00モル%のZnOおよび0.00モル%のP2O5);ならびに0.16のNa2O/Li2Oモル比。組成B:12.88モル%のAl2O3、1.84モル%のB2O3、2.86モル%のMgO、2.39モル%のNa2O、70.96モル%のSiO2、0.07モル%のSnO2、0.02モル%のFe2O3、8.13モル%のLi2Oおよび0.85モル%のZnO(0.00モル%のK2O、0.00モル%のCaO、0.00モル%のSrOおよび0.00モル%のP2O5);ならびに0.29のNa2O/Li2Oモル比。
組成Cは、以下の組成を有していた。組成C:15.17モル%のAl2O3、6.73モル%のB2O3、1.02モル%のMgO、4.32モル%のNa2O、63.27モル%のSiO2、0.03モル%のSnO2、0.02モル%のFe2O3、1.55モル%のCaO、6.86モル%のLi2Oおよび1.03モル%のSrO(0.00モル%のK2Oおよび0.00モル%のP2O5、0.00モル%のZnO);ならびに0.63のNa2O/Li2Oモル比。
0モル%のナトリウム塩~100モル%のナトリウム塩を含む様々なイオン交換条件下で幾つかのガラス物品を作製した。実施例のガラス物品の引っかき試験を、Gilmore Diamondsのヌープ形状ダイヤモンドチップを備えるBrukerのUMT(universal mechanical tester)を用いて完了した。チップにより、ガラス物品の表面に対して0.14N/秒の速度で5Nまたは8Nの所望の荷重まで負荷をかけ、チップを9.34mm/分の速度で物品の横方向に引っ張って1回の負荷につき2本~5本の引っかき傷をつけた。そこから0.14N/秒の速度でダイヤモンドチップの負荷を除いた。
実施例1~6および実施例A~D(比較)-組成Aをベースとしたガラス物品-SIOX
ガラス物品を、表1Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Aによる基板をベースとして形成した。
ガラス物品を、表1Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Aによる基板をベースとして形成した。
表1Bに引っかきデータを示す。
表1Bの実施例A(比較)は、イオン交換浴内にナトリウムが存在しない場合に5Nでガラス物品に横断亀裂が生じたことを示す。荷重を8Nまで増大させると、物品の破壊が生じた。イオン交換浴のナトリウム濃度が上昇するにつれ、横断亀裂が形成される閾値が上昇した。6%Na/94%Kの浴を有する実施例B(比較)では、5Nで横断亀裂が示され、8Nまで負荷をかけた場合に物品は破断しなかった。12%Naの条件を有する実施例1では、閾値がさらに上昇し、5Nで横断亀裂は観察されなかったが、実施例Bと比べて少数の幾らかの横断亀裂が8Nで生じた。浴濃度を30%Naまで上昇させた実施例6については、5Nで横断亀裂は観察されなかったが、8Nで幾らかの横断亀裂が生じた。浴濃度を100%Naまで上昇させた実施例2については、5Nまたは8Nで横断亀裂は観察されなかった。しかしながら、実施例2および6の物品は壊れやすかった。公称10%NaNO3濃度では、0.75mm(実施例4)~0.8mm(実施例3)の厚さで同様の挙動が観察される。
図4~8には、それぞれ実施例1、C、D、4および6について、第1の表面(0μm)からのガラス物品における深さの関数としての酸化物モル濃度のGDOES元素プロファイルを提示する。
図4の実施例1については、0μmから0.4μmまでの距離にわたって測定された濃度値の曲線下の平均は、Na2Oモル%が4.1、K2Oモル%が4.82であった。得られる二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比は1.16であった。カリウム層深さ(DOLK)は4.7μmであった。
図5の実施例C(比較)については、0μmから0.4μmまでの距離にわたって測定された濃度値の曲線下の平均は、Na2Oモル%が4.2、K2Oモル%が8.4であった。得られる二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比は2.0であった。カリウム層深さ(DOLK)は7.2μmであった。
図6の実施例D(比較)については、0μmから0.4μmまでの距離にわたって測定された濃度値の曲線下の平均は、Na2Oモル%が3.7、K2Oモル%が8.1であった。得られる二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比は2.21であった。カリウム層深さ(DOLK)は7.9μmであった。
図7の実施例4については、0μmから0.4μmまでの距離にわたって測定された濃度値の曲線下の平均をとると、平均Na2Oモル%は4.64であり、平均K2Oモル%は4.88であった。得られる二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比は1.05であった。カリウム層深さ(DOLK)は5.0μmであった。
図8の実施例6については、0μmから0.4μmまでの距離にわたって測定された濃度値の曲線下の平均をとると、平均Na2Oモル%は8.78であり、平均K2Oモル%は3.31であった。得られる二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比は0.38であった。カリウム層深さ(DOLK)は6.2μmであった。
0μmから0.4μmまでの距離にわたるK2OとNa2Oとの平均モル比が1.25である実施例1の耐引っかき性は、この比がそれぞれ2.0および2.27である実施例CおよびDよりも良好であった。この比がそれぞれ1.05および0.38である実施例4および6はどちらも、優れた耐引っかき性を示した。
このことから、概して、耐引っかき性に有利な応力プロファイルは、表面またはその近くのNa2Oモル%がK2Oモル%と比べて同程度であるか、またはその数モル%以内であると結論付けられる。さらに、0μmから0.4μmまでの距離にわたるK2OとNa2Oとの好ましい平均モル比は、0以上1.8以下(その間の全ての値および範囲を含む)である。
図9は、全て同じ厚さの実施例1、3およびBについての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。2つの本発明の物品および1つの比較物品について深さ10~30μmの深さで同程度の圧縮応力が示されるが、塩浴内のNaモル%がより高い実施例1は、表1Bに記載されるように、実施例Bと比較して横断亀裂が発生する荷重が顕著に増大していた。
どちらも図9に示される実施例1および3については、図9の平均曲線下面積に基づく、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力は、どちらも140MPaであった。実施例1は、5.1μmの層深さ(DOLspike)および138MPaのCSkneeを有していた。実施例3は、5.3μmの層深さ(DOLspike)および141MPaのCSkneeを有していた。
図10は、実施例4および5についての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。10%のNaNO3/1.2%のLiNO3を使用した実施例4では、約40MPa高い表面CSを有する応力プロファイルが得られたが、これは過剰応力破損に有益であり得る。
実施例7および8、ならびに実施例E(比較)-組成Bをベースとしたガラス物品-SIOX
ガラス物品を、表2Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Bによる基板をベースとして形成した。
ガラス物品を、表2Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Bによる基板をベースとして形成した。
表2Bに引っかきデータを示す。
表2Bの実施例E(比較)は、イオン交換浴内に存在するナトリウムが少ない場合に5Nおよび8Nの両方でガラス物品に横断亀裂が生じたことを示す。イオン交換浴のナトリウム濃度が上昇するにつれ、横断亀裂が形成される閾値が上昇した。12%Naの条件を有する実施例7では、閾値がさらに上昇し、5Nで横断亀裂は観察されなかったが、8Nで横断亀裂が見られた。浴濃度を100%Naまで上昇させた実施例8では、5Nまたは8Nで横断亀裂は観察されなかった。
図11の実施例7について、0μmから0.4μmまでの距離にわたって測定された濃度値の曲線下の平均をとると、平均Na2Oモル%は3.55であり、平均K2Oモル%は4.47であった。得られる二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比は1.26であった。カリウム層深さ(DOLK)は6.1μmであった。
図12は、実施例7およびEについての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。実施例7のCSknee(116MPa)は、比較例EのCSknee(約100MPa)と比べて約16MPa改善した。
図12に示される実施例7については、図12の平均曲線下面積に基づく、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力は、102MPaであった。実施例7は、6.5μmの層深さ(DOLspike)および116MPaのCSkneeを有していた。
実施例F(比較)-組成Cをベースとしたガラス物品-DIOX
ガラス物品を、表3Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Cによる基板をベースとして形成した。
ガラス物品を、表3Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Cによる基板をベースとして形成した。
表3Bに引っかきデータを示す。
図13には、実施例F(比較)について、第1の表面(0μm)からのガラス物品における深さの関数としての酸化物モル濃度のGDOES元素プロファイルを提示する。0μmから0.4μmまでの距離にわたって測定された濃度値の曲線下の平均をとると、平均Na2Oモル%は3.15であり、平均K2Oモル%は7.5であった。得られる二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比は2.37であった。
図14は、実施例EおよびFについての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。ガラスの中心部では、実施例E(比較)は0.29のNa2O/Li2Oモル比を有していたのに対し、実施例F(比較)は0.63のNa2O/Li2Oモル比を有していた。この2つのガラス組成物は、同等の応力プロファイルを有していた。
表3Bの実施例F(比較)は、5Nおよび8Nの両方でDIOX処理時に横断亀裂が見られなかったことを示す。表2Bの実施例E(比較)では、イオン交換浴内に存在するナトリウムが少ない場合に5Nおよび8Nの両方でガラス物品に横断亀裂が生じた。ガラス組成物のガラスの中心部におけるNa2O/Li2Oモル比が0.63(実施例F)対0.29(実施例E)である場合に、同様の応力プロファイル(図14)について引っかき性能が改善された(横断亀裂が8Nで観察されなかった)。0.63のNa2O/Li2Oモル比では、塩中のK+とガラス中のLiとのIOXが低く、K+はガラス中のNaとイオン交換し、塩中のNa+はガラス中のLiとイオン交換する。このため、表面層におけるガラスのモル体積は、大きなKイオンを小さなNaイオンとイオン交換し、表面を脆化させても大幅には減少しなかった。
図14に示される実施例F(比較)については、図14の平均曲線下面積に基づく、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力は、92MPaであった。実施例Fは、8.1μmの層深さ(DOLspike)および109MPaのCSkneeを有していた。
実施例9および10-組成Aをベースとしたガラス物品-DIOX
ガラス物品を、表4Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Aによる基板をベースとして形成した。
ガラス物品を、表4Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Aによる基板をベースとして形成した。
表4Bに引っかきデータを示す。
表4Bの実施例9および10に示されるように、高い表面CSを達成するために高Na(15%)DIOXを用いた引っかき性能(図15)は、5Nで横断亀裂のない引っかき性能を維持した。どちらのDIOX条件も、深い圧縮深さを達成した上で壊れやすさを制御するのに十分な%Liを有する、高Na塩(例えば10%超のNaNO3)での第1の工程と、表面上に高いCSスパイクを構築するために短時間のLiを用いない高Na塩での第2の工程とを有する。このDIOXアプローチを用いると、Na2O/Li2Oモル比が0.63未満のLi含有ガラス組成物において横断亀裂を生じることなく約700~800MPaのCSを達成することが可能である。
図15は、実施例1、9および10、ならびにB(比較)についての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。DIOXを用いた実施例9および10では、5Nで横断亀裂がないことによって測定されるように(表4B)、良好な引っかき性能と共に高い表面圧縮応力(CS)を有する応力プロファイルが得られた。また、実施例9および10のDIOX応力プロファイルは、5Nで横断亀裂を有していた実施例B(比較)(6%Na、表面CSは725MPa)、および5Nで横断亀裂を有しなかった実施例1(12%Na、2%Li、表面CSは603MPa)のSIOX応力プロファイルと比較してより高い屈曲点応力を有する。
どちらも図15に示される実施例9および10については、図15の平均曲線下面積に基づく、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力は、それぞれ203MPaおよび174MPaであった。実施例9は、4.4μmの層深さ(DOLspike)および280MPaのCSkneeを有していた。実施例10は、5.2μmの層深さ(DOLspike)および233MPaのCSkneeを有していた。
実施例G~I(比較)-組成Aをベースとしたガラス物品-DIOX
ガラス物品を、表5Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Aによる基板をベースとして形成した。
ガラス物品を、表5Aに記載の浴条件に従ってイオン交換した、組成Aによる基板をベースとして形成した。
表5Bに引っかきデータを示す。
表5Bに示されるように、第1のDIOX工程において高Na(15%)を用い、続いてLiを用いずに低Na塩(10%未満のNaNO3)で長時間(30分超)の第2の工程を行う実施例G(比較)について、Na2O/Li2Oモル比が0.63未満のガラスでは、5Nで横断亀裂が生じた。同様に、第1のDIOX工程において低Na(5%)を用い、続いてLiを用いずに高Na塩(15%NaNO3)の第2の工程を行う実施例H(比較)について、Na2O/Li2Oモル比が0.63未満のガラスでは、同様に5Nで横断亀裂が生じた。
図16は、実施例1および10、ならびにBおよびG(比較)についての表面からの位置(μm)に対する応力(MPa)のグラフである。実施例G(比較)および実施例10は、DIOX処理であり、高い表面CSを有する応力プロファイルが得られた。実施例G(比較)は引っかき性能が低く、実施例10は、5Nで横断亀裂がないことによって測定されるように良好な引っかき性能を有していた。実施例G(比較)の応力プロファイルは、828MPaの表面CSを有し、実施例10は726MPaの表面CSを有していた。図16では、応力プロファイルを、5Nで横断亀裂を有していた実施例B(比較)(6%Na、表面CSは725MPa)、および5Nで横断亀裂を有しなかった実施例1(12%Na、2%Li、表面CSは603MPa)のSIOX応力プロファイルと比較する。
本明細書に記載される全ての組成成分、関係および比率は、特に明記しない限り、モル%で提示する。本明細書に開示される全ての範囲は、範囲が開示される前または後に明記されているかを問わず、広く開示される範囲に包含されるあらゆる範囲および部分範囲を含む。
特許請求される主題の趣旨および範囲から逸脱することなく、本明細書に記載される実施形態に様々な変更および変形を加えることができることは当業者には明らかである。このため、かかる変更および変形が添付の特許請求の範囲およびそれらの均等物の範囲内に含まれる限りにおいて、本明細書が本明細書に記載される様々な実施形態の変更および変形を包含することが意図される。
以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。
実施形態1
リチウムアルミノケイ酸塩組成物;
ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および
0以上1.8以下の、表面から0.4μmのガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比
を含むガラス系物品。
リチウムアルミノケイ酸塩組成物;
ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および
0以上1.8以下の、表面から0.4μmのガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比
を含むガラス系物品。
実施形態2
前記ガラス系物品が、115MPa以上の、15μm~40μmの前記ガラス系物品の深さにわたる平均圧縮応力(CSavg)を有する、実施形態1記載のガラス系物品。
前記ガラス系物品が、115MPa以上の、15μm~40μmの前記ガラス系物品の深さにわたる平均圧縮応力(CSavg)を有する、実施形態1記載のガラス系物品。
実施形態3
115MPa以上の屈曲点での圧縮応力(CSknee)を含み、前記DOLspikeが4.4μm以上である、実施形態1または2記載のガラス系物品。
115MPa以上の屈曲点での圧縮応力(CSknee)を含み、前記DOLspikeが4.4μm以上である、実施形態1または2記載のガラス系物品。
実施形態4
リチウムアルミノケイ酸塩組成物;
ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および
115MPa以上の、15μm~40μmのガラス系物品の深さにわたる平均圧縮応力(CSavg)
を含むガラス系物品。
リチウムアルミノケイ酸塩組成物;
ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および
115MPa以上の、15μm~40μmのガラス系物品の深さにわたる平均圧縮応力(CSavg)
を含むガラス系物品。
実施形態5
0以上1.8以下の、表面から0.4μmの前記ガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む、実施形態4記載のガラス系物品。
0以上1.8以下の、表面から0.4μmの前記ガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む、実施形態4記載のガラス系物品。
実施形態6
屈曲点での圧縮応力(CSknee)が120MPa以上である、実施形態1から5までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
屈曲点での圧縮応力(CSknee)が120MPa以上である、実施形態1から5までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
実施形態7
前記CSkneeが125MPa以上である、実施形態6記載のガラス系物品。
前記CSkneeが125MPa以上である、実施形態6記載のガラス系物品。
実施形態8
前記CSkneeが130MPa以上である、実施形態6記載のガラス系物品。
前記CSkneeが130MPa以上である、実施形態6記載のガラス系物品。
実施形態9
ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
150MPa以上の、15μm~40μmのガラス系物品の深さにわたる平均圧縮応力(CSavg);および
0以上1.8以下の、表面から0.4μmのガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比
を含むガラス系物品。
ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
150MPa以上の、15μm~40μmのガラス系物品の深さにわたる平均圧縮応力(CSavg);および
0以上1.8以下の、表面から0.4μmのガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比
を含むガラス系物品。
実施形態10
リチウムアルミノケイ酸塩組成物を含む、実施形態9記載のガラス系物品。
リチウムアルミノケイ酸塩組成物を含む、実施形態9記載のガラス系物品。
実施形態11
厚さt;
ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
0.19t以上の圧縮深さ(DOC);
4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および
0以上1.8以下の、表面から0.4μmのガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比
を含むガラス系物品。
厚さt;
ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
0.19t以上の圧縮深さ(DOC);
4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および
0以上1.8以下の、表面から0.4μmのガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比
を含むガラス系物品。
実施形態12
圧縮深さが150μm以上である、実施形態1から11までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
圧縮深さが150μm以上である、実施形態1から11までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
実施形態13
圧縮深さが155μm以上である、実施形態12記載のガラス系物品。
圧縮深さが155μm以上である、実施形態12記載のガラス系物品。
実施形態14
圧縮深さが160μm以上である、実施形態12記載のガラス系物品。
圧縮深さが160μm以上である、実施形態12記載のガラス系物品。
実施形態15
前記ガラス系物品の中心部で、酸化ナトリウム(Na2O)と酸化リチウム(Li2O)とのモル比が0.63以下である、実施形態1から14までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
前記ガラス系物品の中心部で、酸化ナトリウム(Na2O)と酸化リチウム(Li2O)とのモル比が0.63以下である、実施形態1から14までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
実施形態16
前記ガラス系物品の中心部で、基礎組成が9.39~25モル%のアルミナ(Al2O3)と、0.1~20モル%の酸化ナトリウム(Na2O)と、最大9.01モル%の酸化ホウ素(B2O3)と、少なくとも1種のアルカリ土類金属酸化物とを含み、15モル%≦(R2O+R’O-Al2O3-ZrO2)-B2O3≦2モル%であり、ここで、RはNaならびに任意にLi、K、RbおよびCsの1つ以上であり、R’はMg、Ca、SrおよびBaの1つ以上である、実施形態1から15までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
前記ガラス系物品の中心部で、基礎組成が9.39~25モル%のアルミナ(Al2O3)と、0.1~20モル%の酸化ナトリウム(Na2O)と、最大9.01モル%の酸化ホウ素(B2O3)と、少なくとも1種のアルカリ土類金属酸化物とを含み、15モル%≦(R2O+R’O-Al2O3-ZrO2)-B2O3≦2モル%であり、ここで、RはNaならびに任意にLi、K、RbおよびCsの1つ以上であり、R’はMg、Ca、SrおよびBaの1つ以上である、実施形態1から15までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
実施形態17
5N以上のヌープ引っかき開始閾値を含む、実施形態1から16までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
5N以上のヌープ引っかき開始閾値を含む、実施形態1から16までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
実施形態18
前記ヌープ引っかき開始閾値が8N以上である、実施形態17記載のガラス系物品。
前記ヌープ引っかき開始閾値が8N以上である、実施形態17記載のガラス系物品。
実施形態19
前記ガラス系物品が、500MPa以上の最大圧縮応力(CSmax)を有する、実施形態1から18までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
前記ガラス系物品が、500MPa以上の最大圧縮応力(CSmax)を有する、実施形態1から18までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
実施形態20
前記DOLspikeがDOLKとほぼ同じである、実施形態1から19までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
前記DOLspikeがDOLKとほぼ同じである、実施形態1から19までのいずれか1つ記載のガラス系物品。
実施形態21
前面、後面および側面を有するハウジングと、
少なくとも部分的に前記ハウジング内に設けられた電気部品であって、少なくともコントローラ、メモリおよびディスプレイを含み、前記ディスプレイが前記ハウジングの前記前面にまたはそれに隣接して設けられる、電気部品と、
前記ディスプレイ上に配置されたカバーと
を備える消費者向け電子製品であって、前記ハウジングおよび前記カバーの少なくとも一方の少なくとも一部が、実施形態1から20までのいずれか1つ記載のガラス系物品を含む、消費者向け電子製品。
前面、後面および側面を有するハウジングと、
少なくとも部分的に前記ハウジング内に設けられた電気部品であって、少なくともコントローラ、メモリおよびディスプレイを含み、前記ディスプレイが前記ハウジングの前記前面にまたはそれに隣接して設けられる、電気部品と、
前記ディスプレイ上に配置されたカバーと
を備える消費者向け電子製品であって、前記ハウジングおよび前記カバーの少なくとも一方の少なくとも一部が、実施形態1から20までのいずれか1つ記載のガラス系物品を含む、消費者向け電子製品。
実施形態22
ガラス系物品を製造する方法であって、
基板厚さ(t)を画定する対向した第1および第2の表面を有し、リチウムアルミノケイ酸塩組成物を有するガラス系基板を、8モル%以上100モル%以下の範囲のナトリウム塩濃度を有する溶融塩浴を含むイオン交換処理に供して、ガラス系物品を形成するステップ
を含み、
前記ガラス系物品が、
前記ガラス系物品の表面から前記ガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
前記表面から4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike)に及ぶ圧縮層;および
0以上1.8以下の、前記表面から0.4μmの前記ガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む、方法。
ガラス系物品を製造する方法であって、
基板厚さ(t)を画定する対向した第1および第2の表面を有し、リチウムアルミノケイ酸塩組成物を有するガラス系基板を、8モル%以上100モル%以下の範囲のナトリウム塩濃度を有する溶融塩浴を含むイオン交換処理に供して、ガラス系物品を形成するステップ
を含み、
前記ガラス系物品が、
前記ガラス系物品の表面から前記ガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
前記表面から4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike)に及ぶ圧縮層;および
0以上1.8以下の、前記表面から0.4μmの前記ガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む、方法。
実施形態23
前記ガラス系物品が、以下の特徴:
115MPa以上の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg);および
0.19t以上かつ/または150μm以上の圧縮深さ(DOC)
のうち1つ以上を有する、実施形態22記載の方法。
前記ガラス系物品が、以下の特徴:
115MPa以上の、15μm~40μmの深さにわたる平均圧縮応力(CSavg);および
0.19t以上かつ/または150μm以上の圧縮深さ(DOC)
のうち1つ以上を有する、実施形態22記載の方法。
実施形態24
前記ガラス系基板の基礎組成が、0.63以下の酸化ナトリウム(Na2O)と酸化リチウム(Li2O)とのモル比を含む、実施形態22または23記載の方法。
前記ガラス系基板の基礎組成が、0.63以下の酸化ナトリウム(Na2O)と酸化リチウム(Li2O)とのモル比を含む、実施形態22または23記載の方法。
実施形態25
前記ナトリウム塩がNaNO3、Na2CO3、Na3PO4、Na2SO4、Na3BO3、NaClまたはそれらの組み合わせを含む、実施形態22から24までのいずれか1つ記載の方法。
前記ナトリウム塩がNaNO3、Na2CO3、Na3PO4、Na2SO4、Na3BO3、NaClまたはそれらの組み合わせを含む、実施形態22から24までのいずれか1つ記載の方法。
実施形態26
単回イオン交換処理を用いて行われ、前記溶融塩浴が、8質量%以上100質量%以下の量のナトリウム塩と、0質量%以上10質量%以下の量のリチウム塩と、0質量%以上90質量%以下の量のカリウム塩とを含む、実施形態22から25までのいずれか1つ記載の方法。
単回イオン交換処理を用いて行われ、前記溶融塩浴が、8質量%以上100質量%以下の量のナトリウム塩と、0質量%以上10質量%以下の量のリチウム塩と、0質量%以上90質量%以下の量のカリウム塩とを含む、実施形態22から25までのいずれか1つ記載の方法。
実施形態27
前記ナトリウム塩が硝酸ナトリウム(NaNO3)を含み、前記リチウム塩が硝酸リチウム(LiNO3)を含み、前記カリウム塩が硝酸カリウム(KNO3)を含む、実施形態26記載の方法。
前記ナトリウム塩が硝酸ナトリウム(NaNO3)を含み、前記リチウム塩が硝酸リチウム(LiNO3)を含み、前記カリウム塩が硝酸カリウム(KNO3)を含む、実施形態26記載の方法。
実施形態28
二重イオン交換処理を用いて行われ、
第1の溶融塩浴が、8質量%以上100質量%以下の量のナトリウム塩と、0質量%以上10質量%以下の量のリチウム塩と、0質量%以上90質量%以下の量のカリウム塩とを含み、
第2の溶融塩浴が、8質量%以上100質量%以下の量のナトリウム塩と、0質量%以上10質量%以下の量のリチウム塩と、0質量%以上90質量%以下の量のカリウム塩とを含む、実施形態22から25までのいずれか1つ記載の方法。
二重イオン交換処理を用いて行われ、
第1の溶融塩浴が、8質量%以上100質量%以下の量のナトリウム塩と、0質量%以上10質量%以下の量のリチウム塩と、0質量%以上90質量%以下の量のカリウム塩とを含み、
第2の溶融塩浴が、8質量%以上100質量%以下の量のナトリウム塩と、0質量%以上10質量%以下の量のリチウム塩と、0質量%以上90質量%以下の量のカリウム塩とを含む、実施形態22から25までのいずれか1つ記載の方法。
実施形態29
各溶融塩浴において、前記ナトリウム塩が硝酸ナトリウム(NaNO3)を含み、前記リチウム塩が硝酸リチウム(LiNO3)を含み、前記カリウム塩が硝酸カリウム(KNO3)を含む、実施形態28記載の方法。
各溶融塩浴において、前記ナトリウム塩が硝酸ナトリウム(NaNO3)を含み、前記リチウム塩が硝酸リチウム(LiNO3)を含み、前記カリウム塩が硝酸カリウム(KNO3)を含む、実施形態28記載の方法。
Claims (10)
- リチウムアルミノケイ酸塩組成物;
ガラス系物品の表面からガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike);および
0以上1.8以下の、表面から0.4μmのガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比
を含む、ガラス系物品。 - 前記ガラス系物品が、115MPa以上の、15μm~40μmの前記ガラス系物品の深さにわたる平均圧縮応力(CSavg)を有する、請求項1記載のガラス系物品。
- 屈曲点での圧縮応力(CSknee)が120MPa以上である、請求項1または2記載のガラス系物品。
- 圧縮深さが150μm以上である、請求項1から3までのいずれか1項記載のガラス系物品。
- 前記ガラス系物品の中心部で、酸化ナトリウム(Na2O)と酸化リチウム(Li2O)とのモル比が0.63以下である、請求項1から4までのいずれか1項記載のガラス系物品。
- 5N以上のヌープ引っかき開始閾値を含む、請求項1から5までのいずれか1項記載のガラス系物品。
- 前記ガラス系物品が、500MPa以上の最大圧縮応力(CSmax)を有する、請求項1から6までのいずれか1項記載のガラス系物品。
- 前面、後面および側面を有するハウジングと、
少なくとも部分的に前記ハウジング内に設けられた電気部品であって、少なくともコントローラ、メモリおよびディスプレイを含み、前記ディスプレイが前記ハウジングの前記前面にまたはそれに隣接して設けられる、電気部品と、
前記ディスプレイ上に配置されたカバーと
を備える消費者向け電子製品であって、前記ハウジングおよび前記カバーの少なくとも一方の少なくとも一部が、請求項1から7までのいずれか1項記載のガラス系物品を含む、消費者向け電子製品。 - ガラス系物品を製造する方法であって、
基板厚さ(t)を画定する対向した第1および第2の表面を有し、リチウムアルミノケイ酸塩組成物を有するガラス系基板を、8モル%以上100モル%以下の範囲のナトリウム塩濃度を有する溶融塩浴を含むイオン交換処理に供して、ガラス系物品を形成するステップ
を含み、前記ガラス系物品が、
前記ガラス系物品の表面から前記ガラス系物品の深さに及ぶ、0でない様々な濃度のナトリウム;
前記表面から4μm以上8μm以下のスパイク層深さ(DOLspike)に及ぶ圧縮層;および
0以上1.8以下の、前記表面から0.4μmの前記ガラス系物品の深さまでの距離で平均した二酸化カリウム(K2O)と二酸化ナトリウム(Na2O)とのモル比を含む、方法。 - 前記ガラス系基板の基礎組成が、0.63以下の酸化ナトリウム(Na2O)と酸化リチウム(Li2O)とのモル比を含む、請求項9記載の方法。
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