JP2022503404A - X線検出器設計 - Google Patents
X線検出器設計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022503404A JP2022503404A JP2020569111A JP2020569111A JP2022503404A JP 2022503404 A JP2022503404 A JP 2022503404A JP 2020569111 A JP2020569111 A JP 2020569111A JP 2020569111 A JP2020569111 A JP 2020569111A JP 2022503404 A JP2022503404 A JP 2022503404A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- ray
- submodule
- submodules
- edge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000013461 design Methods 0.000 title description 33
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 48
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 35
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 35
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 35
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 31
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 31
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 claims description 28
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 239000007943 implant Substances 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 81
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 description 21
- 230000004044 response Effects 0.000 description 16
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 8
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 8
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 7
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 6
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 4
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 2
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 2
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 238000009607 mammography Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000012916 structural analysis Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 102000001671 Acid Sensing Ion Channels Human genes 0.000 description 1
- 108010068806 Acid Sensing Ion Channels Proteins 0.000 description 1
- 229910004611 CdZnTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 239000002872 contrast media Substances 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000002600 positron emission tomography Methods 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 230000002028 premature Effects 0.000 description 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/243—Modular detectors, e.g. arrays formed from self contained units
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/244—Auxiliary details, e.g. casings, cooling, damping or insulation against damage by, e.g. heat, pressure or the like
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/247—Detector read-out circuitry
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Pathology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
本例では、半導体センサ21がどのようにマルチチップモジュール(MCM)内の基板の機能も有することができるのかが示されている。信号は、信号経路23によって検出器要素または画素22から、活性センサ区域の隣に位置付けられた並列処理回路24(例えば、ASIC)の入力へ配線される。用語、特定用途向け集積回路(ASIC)は、特定用途のために用いられ、構成された任意の一般的集積回路として広義に解釈されるべきであることを理解されたい。ASICは、各X線から発生された電荷を処理し、それを、光子を検出し、および/または光子のエネルギーを推定するために用いられ得るデジタル・データに変換する。ASICは、MCMの外部に位置するデジタル処理回路機構および/またはメモリへの接続のために構成され得、最終的に、データは、画像を再構成するための入力として用いられることになる。
このような死角区域、または少なくとも、このような区域を有することの影響を低減することは、画像品質の改善のために非常に有益である。
・ 感受性シリコン区域を最大化するよう傾斜エッジにおいて変更された電極パターン。
・ 離散的階段の異なるバージョンを含む重なり合いのいくつかの異なる変形例。
・ センサの傾斜エッジが画素の矩形柱を横断する際のエッジにおける空の空間を低減するよう変更されたガードリング構造。
・ 早期の電圧破壊をもたらし得るであろう電気的ホット・スポットを回避するための(少なくとも最小曲率半径を有する)丸みのある角部。
・ センサの基部を超えて延びるエッジに沿って読み出しトレースを配線するためのオプション。
・ 重なり合い領域にわたる応答の均一性を最適化するための散乱防止コリメータ・ブレードの配置。
・ 例えば、(切頂)台形または三角形形状を有するダイオード/電極(またはより一般的には、検出器要素)に基づく、傾斜エッジサブモジュールのためのエッジ画素の設計。(切頂)台形または三角形ダイオード/電極または検出器要素は、若干傾斜したエッジに沿った深さセグメント内に配列され得る。
Claims (35)
- 多数のX線検出器サブモジュール(21-1、21-2、...)を有するX線検出器(20)であって、各検出器サブモジュール(21)が、少なくとも2つの方向に延びる検出器要素(22)のアレイを有するエッジオン検出器サブモジュールであり、前記方向のうちの1つが入射X線の方向の成分を有し、
前記検出器サブモジュール(21)が順々に積層され、および/または横に並んで配列されており、
前記検出器サブモジュール(21)の少なくとも部分について、前記検出器サブモジュール(21)が、隣接した検出器サブモジュール間の間隙をもたらすように配列されており、前記間隙の少なくとも部分がX線源(10)のX線焦点の方に直線的に向けられていない、X線検出器(20)。 - 前記検出器サブモジュール(21)が、前記入射X線の方向と実質的に垂直な方向に横に並んで配列されており、隣接した検出器サブモジュール(21)間の前記間隙の少なくとも部分が、前記X線焦点から発出するいずれのX線経路とも一直線にならず、前記検出器サブモジュール(21)間の前記間隙の延長において前記検出器サブモジュールのうちの少なくとも1つによって検出適用範囲をもたらす、請求項1に記載のX線検出器。
- 隣接した検出器サブモジュール(21)が同じ検出器要素(22)の情報を共有し、および/または隣接した検出器モジュールからの異なる検出器要素(22)の出力信号が複合される、請求項1または2に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)の少なくとも部分について、隣接した検出器サブモジュール(21)が、前記入射X線の方向に少なくとも部分的に重なり合う検出区域を有する、請求項1から3のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)の少なくとも部分について、前記検出器サブモジュール(21)が、前記間隙区域内で、2つの隣接した検出器サブモジュールを通過するX線が両方の検出器サブモジュール内の検出器要素(22)によって検出されることを可能にするように配列されている、請求項1から4のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記X線に由来する前記2つの隣接した検出器モジュール(21)の検出器要素(22)の前記出力信号が光子計数のために後続の信号処理の間に複合され得る、請求項5に記載のX線検出器。
- 第1の検出器サブモジュール(21-1)の、前記間隙の最も近くに位置する少なくとも1つの検出器要素(22)、すなわち、エッジ要素が、前記焦点に向かう方向において、第2の検出器サブモジュール(21-2)の、前記間隙の最も近くに位置しない少なくとも1つの検出器要素(22)、すなわち、非エッジ要素と一直線になるように配置されている、請求項5または6に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)の少なくとも部分が、前記X線源(10)の前記X線焦点に対して若干湾曲した全体構成で横に並んで配列されている、請求項1から7のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 各エッジオン検出器サブモジュール(21)が、前記入射X線の方向において検出器要素(22)の2つ以上の深さセグメントを有する、深さセグメント化X線検出器である、請求項1から8のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 各検出器サブモジュール(21)が、前記検出器要素(22)が配列された基板に基づき、各検出器サブモジュール(21)が、前記検出器サブモジュールの側部に沿って検出器要素の前記アレイを包囲する外側ガードリング構造を有する、請求項1から9のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)が平面モジュールであり、前記検出器サブモジュールの少なくとも部分について、前記検出器サブモジュール(21)が前記検出器サブモジュールの面内方向に横に並んで配列されている、請求項1から10のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)の少なくとも部分について、前記検出器サブモジュール(21)が、コンピュータ断層撮影(CT)システムのz方向に、および/または前記z方向と垂直な方向に横に並んで配列されている、請求項1から11のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)が、前記z方向と実質的に垂直な方向に横に並んで配列されており、検出器サブモジュール(21)が前記z方向にも順々に積層されている、請求項12に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)が実質的に前記z方向に横に並んで配列されており、検出器モジュール(21)が、前記z方向と実質的に垂直な方向にも積層されている、請求項12に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)の少なくとも部分について、前記検出器サブモジュール(21)が、隣接した検出器サブモジュール間の間隙をもたらすように配列されており、前記間隙の少なくとも部分については、前記間隙が前記X線焦点からのX線ビーム経路に対して0でない角度を有する、請求項1から14のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)の少なくとも部分について、前記検出器サブモジュール(21)の側エッジが、傾斜したエッジであるか、または前記側エッジが階段状の構成を有する、請求項1から15のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記検出器サブモジュール(21)が台形および/または平行四辺形の幾何学的形態を有する、請求項16に記載のX線検出器システム。
- 前記検出器サブモジュール(21)が、エッジオン・シリコン・センサであって、それらが、互いに隣接して配置されたときに若干重なり合うことを可能にするように形状設定され、電極をパターン化された、エッジオン・シリコン・センサである、請求項1から17のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記X線検出器(20)が光子計数X線検出器である、請求項1から18のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 検出器サブモジュール(21)の側エッジにおける検出器要素(22)が、丸みのある角部を有する先細状のエッジセグメントを含み、前記丸みのある角部の先端部半径が最小許容半径以上である、請求項1から19のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記丸みのある角部の前記先端部半径が電荷雲半径以上である、請求項20に記載のX線検出器。
- 前記検出器要素(22)の電極パターンが、有効検出区域を維持し、および/または空のシリコン・センサ区域を最小化するように変更されている、請求項1から21のいずれか一項に記載のX線検出器。
- エッジ検出器要素(22-2)の少なくとも部分の幅が、隣の検出器要素(22-1)の幅よりも大きく、および/または隣の検出器要素(22-1)の少なくとも部分の幅が、対応するエッジ検出器要素(22-2)の最も大きい幅よりも大きい、請求項22に記載のX線検出器。
- 前記隣の検出器要素(22-1)がエッジ検出器要素(22-2)の検出線内へ延びる、請求項23に記載のX線検出器。
- サブ検出器モジュール(21)のガードリング構造の少なくとも区分が、前記ガードリング構造が前記サブ検出器モジュール(21)のセンサ区域のエッジにおける前記検出器要素(22)に密接に従うことを可能にするように変更されている、請求項1から24のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記ガードリング構造が埋め込み材および多数のガードリングを含み、前記埋め込み材の区分および/または前記ガードリングのうちの少なくとも1つの区分が、前記ガードリング構造が前記センサ区域の前記エッジにおける前記検出器要素(22)の電極に従うことを可能にするように拡大または変更されている、請求項25に記載のX線検出器。
- エッジ検出器要素(22)からの布線トレース(23)が、エッジから数段離れた検出器要素の間の間隙を通して読み出しパッドまたは回路へ配線されている、請求項1から26のいずれか一項に記載のX線検出器。
- エッジ検出器要素(22)からの布線トレース(23)が、前記エッジ検出器要素とそれらの隣の検出器要素との間の間隙を通して読み出しパッドまたは回路へ配線されている、請求項1から27のいずれか一項に記載のX線検出器。
- エッジ検出器要素(22)からの布線トレース(23)が、エッジ検出器要素とガードリング構造との間の間隙を通して読み出しパッドまたは回路へ配線されている、請求項1から28のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 各検出器サブモジュール(21)がコリメータのセットを有し、前記コリメータの配置が、前記間隙領域にわたる検出器ストリップ検出効率プロファイルに基づいて少なくとも部分的に決定され、実施される、請求項1から29のいずれか一項に記載のX線検出器。
- 前記コリメータが、最も低い検出効率を有する前記隣接したサブ検出器モジュール(21)間の交差領域におけるそれらのエッジ検出器要素(22)からオフセットをもって配置されている、請求項30に記載のX線検出器。
- 請求項1から31のいずれか一項に記載のX線検出器(20)を備えるX線撮像システム(100)。
- 多数のX線検出器サブモジュール(21-1、21-2、...)を有するX線センサシステム(20)であって、各検出器サブモジュール(21)がエッジオン検出器サブモジュールであり、
i)前記検出器サブモジュール(21)が横に並んで配列されており、ii)前記検出器サブモジュール(21)が、隣接した検出器サブモジュール間の間隙をもたらすように配列されており、前記間隙の少なくとも部分が、X線源(10)の前記X線焦点から発出するいずれのX線経路とも一直線にならず、前記検出器サブモジュール間の交差領域において前記検出器サブモジュール(21)のうちの少なくとも1つによって検出適用範囲をもたらす、X線センサシステム(20)。 - 前記隣接した検出器サブモジュール(21)が、入射X線の方向に少なくとも部分的に重なり合う、1つまたは複数の検出器要素(22)を含む、検出区域を有する、請求項33に記載のX線センサシステム。
- 前記検出器サブモジュール(21)が、エッジオン・シリコン・センサであって、それらが、互いに隣接して配置されたときに若干重なり合うことを可能にするように形状設定され、電極をパターン化された、エッジオン・シリコン・センサである、請求項33または34に記載のX線センサシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201862684402P | 2018-06-13 | 2018-06-13 | |
US62/684,402 | 2018-06-13 | ||
PCT/SE2019/050149 WO2019240645A1 (en) | 2018-06-13 | 2019-02-19 | X-ray detector design |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022503404A true JP2022503404A (ja) | 2022-01-12 |
JP7199455B2 JP7199455B2 (ja) | 2023-01-05 |
Family
ID=68839822
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020569111A Active JP7199455B2 (ja) | 2018-06-13 | 2019-02-19 | X線検出器設計 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11054532B2 (ja) |
EP (1) | EP3807677B1 (ja) |
JP (1) | JP7199455B2 (ja) |
KR (1) | KR102474619B1 (ja) |
CN (1) | CN112262326B (ja) |
IL (1) | IL279382B (ja) |
WO (1) | WO2019240645A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113017665B (zh) * | 2021-02-03 | 2022-05-27 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种CT探测器Gap_Size校准板及其校准方法、校准总成 |
US11389125B1 (en) | 2021-02-05 | 2022-07-19 | GE Precision Healthcare LLC | System and method for mitigating trace triggering of channels in x-ray detector |
US11647973B2 (en) * | 2021-05-04 | 2023-05-16 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Three-dimensional tileable gamma ray detector |
JP2023014756A (ja) * | 2021-07-19 | 2023-01-31 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影装置の作動方法、放射線撮影装置の作動プログラム |
EP4329623A4 (en) * | 2021-11-24 | 2024-05-22 | Shanghai United Imaging Healthcare Co., Ltd. | DETECTOR SYSTEMS FOR IMAGING |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070019784A1 (en) * | 2005-07-25 | 2007-01-25 | Digimd Corporation | Apparatus and methods of an X-ray and tomosynthesis and dual spectra machine |
US20120193548A1 (en) * | 2011-01-28 | 2012-08-02 | Analogic Corporation | Overlapping detector elements of a radiographic detector array |
JP2012517604A (ja) * | 2009-02-11 | 2012-08-02 | プリズマティック、センサーズ、アクチボラグ | X線撮像用シリコン検出器アセンブリ |
WO2016158501A1 (ja) * | 2015-03-30 | 2016-10-06 | 株式会社日立製作所 | 放射線撮像装置,放射線計数装置および放射線撮像方法 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4937453A (en) | 1987-05-06 | 1990-06-26 | Nelson Robert S | X-ray detector for radiographic imaging |
US5434417A (en) | 1993-11-05 | 1995-07-18 | The Regents Of The University Of California | High resolution energy-sensitive digital X-ray |
US5889313A (en) | 1996-02-08 | 1999-03-30 | University Of Hawaii | Three-dimensional architecture for solid state radiation detectors |
US6167110A (en) * | 1997-11-03 | 2000-12-26 | General Electric Company | High voltage x-ray and conventional radiography imaging apparatus and method |
US6118840A (en) | 1998-01-20 | 2000-09-12 | General Electric Company | Methods and apparatus to desensitize incident angle errors on a multi-slice computed tomograph detector |
AU3853300A (en) * | 1999-03-15 | 2000-10-04 | Mamea Imaging Ab | Device and method relating to x-ray imaging |
SE515884C2 (sv) * | 1999-12-29 | 2001-10-22 | Xcounter Ab | Förfarande och anordning för radiografi samt strålningsdetektor |
SE516333C2 (sv) * | 2000-03-22 | 2001-12-17 | Xcounter Ab | Metod och anordning för radiografi och en strålningsdetektor |
US6583420B1 (en) * | 2000-06-07 | 2003-06-24 | Robert S. Nelson | Device and system for improved imaging in nuclear medicine and mammography |
US7117588B2 (en) | 2002-04-23 | 2006-10-10 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method for assembling tiled detectors for ionizing radiation based image detection |
US7291841B2 (en) * | 2003-06-16 | 2007-11-06 | Robert Sigurd Nelson | Device and system for enhanced SPECT, PET, and Compton scatter imaging in nuclear medicine |
WO2005006986A1 (en) * | 2003-07-22 | 2005-01-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Radiation mask for two dimensional ct detector |
US7635848B2 (en) * | 2005-04-01 | 2009-12-22 | San Diego State University Research Foundation | Edge-on SAR scintillator devices and systems for enhanced SPECT, PET, and compton gamma cameras |
US8098795B2 (en) | 2008-09-29 | 2012-01-17 | Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg | Device and method for time-delayed integration on an X-ray detector composed of a plurality of detector modules |
US8913714B2 (en) * | 2009-04-17 | 2014-12-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Detector arrangement and X-ray tomography device for performing phase-contrast measurements and method for performing a phase-contrast measurement |
DE102010015422B4 (de) * | 2010-04-19 | 2013-04-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendetektor mit einer direkt konvertierenden Halbleiterschicht und Kalibrierverfahren für einen solchen Röntgendetektor |
US8204171B2 (en) * | 2010-10-11 | 2012-06-19 | General Electric Company | Multi-faceted tileable detector for volumetric computed tomography imaging |
US10088580B2 (en) * | 2012-05-31 | 2018-10-02 | Minnesota Imaging And Engineering Llc | Detector systems for radiation imaging |
US10371834B2 (en) * | 2012-05-31 | 2019-08-06 | Minnesota Imaging And Engineering Llc | Detector systems for integrated radiation imaging |
US9841514B2 (en) * | 2015-09-24 | 2017-12-12 | Prismatic Sensors Ab | X-ray detector arrangement |
US10509135B2 (en) * | 2016-09-09 | 2019-12-17 | Minnesota Imaging And Engineering Llc | Structured detectors and detector systems for radiation imaging |
US10365383B2 (en) * | 2016-09-09 | 2019-07-30 | Minnesota Imaging And Engineering Llc | Structured detectors and detector systems for radiation imaging |
US10274610B2 (en) * | 2016-09-09 | 2019-04-30 | Minnesota Imaging And Engineering Llc | Structured detectors and detector systems for radiation imaging |
-
2019
- 2019-02-19 WO PCT/SE2019/050149 patent/WO2019240645A1/en unknown
- 2019-02-19 CN CN201980039048.4A patent/CN112262326B/zh active Active
- 2019-02-19 KR KR1020207036031A patent/KR102474619B1/ko active IP Right Grant
- 2019-02-19 EP EP19820139.4A patent/EP3807677B1/en active Active
- 2019-02-19 US US16/279,328 patent/US11054532B2/en active Active
- 2019-02-19 JP JP2020569111A patent/JP7199455B2/ja active Active
-
2020
- 2020-12-10 IL IL279382A patent/IL279382B/en unknown
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070019784A1 (en) * | 2005-07-25 | 2007-01-25 | Digimd Corporation | Apparatus and methods of an X-ray and tomosynthesis and dual spectra machine |
JP2012517604A (ja) * | 2009-02-11 | 2012-08-02 | プリズマティック、センサーズ、アクチボラグ | X線撮像用シリコン検出器アセンブリ |
US20120193548A1 (en) * | 2011-01-28 | 2012-08-02 | Analogic Corporation | Overlapping detector elements of a radiographic detector array |
WO2016158501A1 (ja) * | 2015-03-30 | 2016-10-06 | 株式会社日立製作所 | 放射線撮像装置,放射線計数装置および放射線撮像方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112262326B (zh) | 2024-04-12 |
IL279382A (en) | 2021-01-31 |
EP3807677B1 (en) | 2024-07-03 |
IL279382B (en) | 2022-01-01 |
EP3807677A1 (en) | 2021-04-21 |
CN112262326A (zh) | 2021-01-22 |
US20190383955A1 (en) | 2019-12-19 |
EP3807677A4 (en) | 2022-03-02 |
WO2019240645A1 (en) | 2019-12-19 |
US11054532B2 (en) | 2021-07-06 |
KR102474619B1 (ko) | 2022-12-05 |
KR20210029719A (ko) | 2021-03-16 |
JP7199455B2 (ja) | 2023-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102474619B1 (ko) | X-선 검출기 설계(x-ray detector design) | |
US8183535B2 (en) | Silicon detector assembly for X-ray imaging | |
CN113167917B (zh) | 使用光子计数事件进行相衬成像的x射线成像系统 | |
JP7127066B2 (ja) | X線撮像のための検出器 | |
CN110494769B (zh) | 具有自适应反重合系统的光子计数x射线探测器系统 | |
CN113039459B (zh) | 能在光子计数x射线检测器中估计x射线光子初始相互作用点的方法和系统 | |
CN114041070B (zh) | 边缘式光子计数检测器 | |
WO2022037763A1 (en) | Methods and systems for coincidence detection in x-ray detectors | |
US20220167936A1 (en) | Methods and systems for coincidence detection in x-ray detectors | |
US11723611B2 (en) | System and method for mitigating trace triggering of channels in X-ray detector | |
KR20230159300A (ko) | X-선 검출기용 콜리메이터 어셈블리 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210215 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210819 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220622 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220705 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20221005 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20221213 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221220 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7199455 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |