JP2022181106A - 制御盤試験システム - Google Patents

Abstract

【課題】試験の効率を向上することができる制御盤試験システムを提供する。【解決手段】制御盤試験システムは、エレベーターの操作盤から出力される信号を模擬した操作模擬信号を出力する操作模擬装置と、操作模擬装置が出力した操作模擬信号に基づいてエレベーターの動作を制御する制御信号をエレベーターの制御盤に出力することで制御盤の動作試験を行う試験装置と、制御盤に対応する動作試験において定められた手順に基づいて、操作模擬装置に試験装置へ操作模擬信号を出力させる自動動作装置と、を備えた。【選択図】図１

Description

本開示は、制御盤試験システムに関する。

特許文献１は、制御盤試験システムを開示する。当該制御盤試験システムによれば、位置検出器は、エレベーターのかごを駆動するためのモータの回転量を測定する。当該制御試験システムは、位置検出器に測定されたモータの回転量に基づいて推定したかご位置の情報を用いて、制御盤の試験を行い得る。

特開２００６－１９９４０９号公報

しかしながら、特許文献１に記載の制御盤試験システムにおいて、試験の作業員は、試験を行う制御盤に対応するモータを設置する作業を行う。また、作業員は、試験項目に応じてボタンの入力を模擬する装置を操作する作業を行う。このため、試験の効率が低下する。

本開示は、上述の課題を解決するためになされた。本開示の目的は、試験の効率を向上することができる制御盤試験システムを提供することである。

本開示に係る制御盤試験システムは、エレベーターの操作盤から出力される信号を模擬した操作模擬信号を出力する操作模擬装置と、前記操作模擬装置が出力した前記操作模擬信号に基づいて前記エレベーターの動作を制御する制御信号をエレベーターの制御盤に出力することで前記制御盤の動作試験を行う試験装置と、前記制御盤に対応する前記動作試験において定められた手順に基づいて、前記操作模擬装置に前記試験装置へ前記操作模擬信号を出力させる自動動作装置と、を備えた。

本開示に係る制御盤試験システムは、エレベーターの動作を制御する制御信号を制御盤に出力することで前記制御盤の動作試験を行う試験装置と、前記試験装置が出力した前記制御信号に基づいて前記制御盤が前記エレベーターのモータを制御するときに前記制御盤が出力するモータ入力信号を受け付け、前記モータ入力信号に基づいて前記モータの動作を模擬した結果を示すモータ出力信号を前記試験装置に出力するモータ模擬装置と、を備えた。

本開示によれば、自動試験装置は、動作試験において定められた手順に基づいて操作模擬装置に操作模擬信号を出力させる。モータ模擬装置は、制御盤からのモータ入力信号に基づいてモータの動作を模擬した結果を示すモータ出力信号を出力する。このため、試験の効率を向上することができる。

実施の形態１における制御盤試験システムのブロック図である。 実施の形態１における制御盤試験システムの記憶装置が記憶する情報を示す図である。 実施の形態１における制御盤試験システムの記憶装置のブロック図である。 実施の形態１における制御盤試験システムの表示装置に表示される内容を示す図である。 実施の形態１における制御盤試験システムによって行われる動作試験の概要を説明するためのフローチャートである。 実施の形態１における制御盤試験システムの試験装置のハードウェア構成図である。 実施の形態２における制御盤試験システムの要部のブロック図である。 実施の形態３における制御盤試験システムの中継器を示す図である。 実施の形態３における制御盤試験システムに接続された従来の中継器の例を示す図である。

本開示を実施するための形態について添付の図面に従って説明する。なお、各図中、同一または相当する部分には同一の符号が付される。当該部分の重複説明は適宜に簡略化ないし省略される。

実施の形態１．
図１は実施の形態１における制御盤試験システムのブロック図である。

図１には、動作試験の対象となるエレベーターの制御盤１０が示される。例えば、制御盤１０は、図示されない建築物の試験室に設けられる。制御盤１０は、全体制御部１１とモータ制御部１２とを備える。

全体制御部１１は、エレベーターシステムにおいて全体の動作を制御し得るよう設けられる。具体的には、全体制御部１１は、エレベーターの乗場に設けられたボタン、エレベーターのかごに設けられたボタン、等の操作ボタンが押下されたことを検出し得るよう設けられる。全体制御部１１は、当該かごの昇降動作、当該かごに設けられたドアの開閉動作、等のエレベーター全体の動作を制御し得るよう設けられる。

モータ制御部１２は、エレベーターのモータを制御し得るよう設けられる。具体的には、モータ制御部１２は、全体制御部１１からの制御指令に基づいて、エレベーターの巻上機モータの動作を制御するモータ入力信号を出力し得るよう設けられる。例えば、モータ制御部１２は、モータを駆動する駆動回路等の図示されない駆動部を備える。モータ制御部１２は、モータと電気的に接続され得るよう設けられる。

制御盤試験システム２０は、制御盤１０と同じ試験室に設けられる。制御盤試験システム２０は、制御盤１０の動作試験を実施し得るよう設けられる。制御盤試験システム２０は、モータ模擬装置２１と操作模擬装置２２と記憶装置２３と表示装置２４と試験装置２５と自動動作装置２６とを備える。

モータ模擬装置２１は、制御盤１０のモータ制御部１２に電気的に接続される。モータ模擬装置２１は、モータモデル等のモデルに基づいてエレベーターのモータの電気的な応答を模擬し得るよう設けられる。

具体的には、モータ模擬装置２１は、図示されないＡＤ変換回路と演算機器とＤＡ変換回路とを有する。ＡＤ変換回路は、モータ制御部１２からモータ入力信号の電圧の入力を受け付け得る。ＡＤ変換回路は、アナログ信号である当該モータ入力信号の電圧をデジタル入力信号に変換し得る。例えば、演算機器は、パーソナルコンピュータ、マイコンボード、ＦＰＧＡボード、等の機器を有する。演算機器は、ＡＤ変換回路が変換したデジタル入力信号に対してモータの応答を模擬した演算を行い得る。演算機器は、モータの応答を模擬した演算結果を示すデジタル出力信号を生成し得る。ＤＡ変換回路は、演算機器からのデジタル出力信号をアナログ信号に変換し得る。ＤＡ変換回路は、当該デジタル出力信号を示すアナログ信号であるモータ出力信号を生成し得る。ＤＡ変換回路は、モータ出力信号をモータ制御部１２に出力し得る。

操作模擬装置２２は、エレベーターの乗場操作盤、かご操作盤、等の操作盤が出力する信号を出力し得るよう設けられる。具体的には、操作模擬装置２２は、当該操作盤において行われる操作を模擬した入力を受け付け得るよう設けられる。操作模擬装置２２は、受け付けた入力に対応する操作模擬信号を出力し得るよう設けられる。

記憶装置２３は、制御盤１０の機種情報と制御盤１０の動作試験についての試験情報と動作試験の結果情報とを記憶する。

例えば、表示装置２４は、液晶ディスプレイ装置である。表示装置２４は、情報を表示し得るよう設けられる。

例えば、試験装置２５は、ＰＬＣ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）、パーソナルコンピュータ、マイコンボード、ＦＰＧＡボード、等の演算機器によって構成される。試験装置２５は、制御盤１０の全体制御部１１と電気的に接続される。試験装置２５は、制御盤試験システム２０において、モータ模擬装置２１と操作模擬装置２２と記憶装置２３と表示装置２４とに接続される。例えば、試験装置２５は、動作試験の手順に基づいて、制御盤１０を構成する各機器の機能不良、制御盤１０の組み立て不良、等の製造上の不良があるか否かを規定の判定基準に則って自動で判定し得る。

例えば、自動動作装置２６は、演算機器によって構成される。自動動作装置２６は、操作模擬装置２２と試験装置２５とに接続される。

自動動作装置２６は、動作試験の手順に基づいて、操作模擬装置２２と試験装置２５とに指令を送信することで、動作試験を実施する。

具体的には、例えば、自動動作装置２６は、エレベーターの乗場操作盤についての動作試験を実施する。作業員が試験装置２５に対して当該動作試験を実施する操作を行った場合、自動動作装置２６は、当該動作試験を開始する。当該動作試験において、自動動作装置２６は、操作模擬装置２２に対して、乗場操作盤の特定のボタンの入力動作を模擬させる指令を送信する。操作模擬装置２２は、当該特定のボタンが押下された場合に当該乗場操作盤が出力する信号を模擬した操作模擬信号を出力する。試験装置２５は、操作模擬装置２２が出力した操作模擬信号を受け付け、当該特定のボタンに対応する制御信号を制御盤１０に出力する。

制御盤１０は、試験装置２５から制御信号を受信した場合、当該信号に対応してエレベーターのかごを配車する演算を行う。制御盤１０は、かごを配車する演算に基づいてモータ模擬装置２１に対してモータを駆動するモータ入力信号を出力する。モータ模擬装置２１は、当該モータ入力信号に基づいてモータの動作を模擬する演算を行い、モータ出力信号を制御盤１０と試験装置２５とに送信する。

試験装置２５は、モータ模擬装置２１と操作模擬装置２２と制御盤１０とから動作に関する信号を取得する。動作試験において、試験装置２５は、取得した信号に基づいて制御盤１０の動作を監視する。試験装置２５は、制御盤１０の動作が規定の判定基準を満足するか否か、即ち当該動作試験が合格であるか不合格であるかを判定する。

自動動作装置２６は、試験装置２５が１つの動作試験を完了した場合、当該動作試験の自動動作を終了する。

その後、例えば、作業員は、動作試験において不合格の項目が存在した場合、当該不合格の原因を調査する。

次に、図２と図３とを用いて、動作試験についての情報を説明する。
図２は実施の形態１における制御盤試験システムの記憶装置が記憶する情報を示す図である。図３は実施の形態１における制御盤試験システムの記憶装置のブロック図である。

図２に示されるように、記憶装置２３は、機種情報ＤＢ２３ａと手順情報ＤＢ２３ｂと結果情報ＤＢ２３ｃとを記憶する（ＤＢ：ＤａｔａＢａｓｅ）。

機種情報ＤＢ２３ａは、機種情報が格納されたデータベースである。機種情報は、「機種番号」の情報、「機種機能」の情報、「階床数」の情報、および「定格速度」の情報の情報が対応付けられた情報である。

「機種番号」の情報は、試験を行う対象の制御盤１０を識別する情報である。「機種機能」の情報は、当該制御盤１０が設置される予定のエレベーターにおいて、当該エレベーターに設けられる機能を示す情報である。「機種機能」の情報は、エレベーターが設置される建築物ごとにそれぞれ異なる機能を示す情報である。具体的には、例えば、「機種機能」の情報は、当該エレベーターに設けられる地震検知装置の仕様情報である。「階床数」の情報は、当該エレベーターが設置される建築物の階床数を示す情報である。「定格速度」の情報は、当該エレベーターに設定されたかごの定格速度を示す情報である。

手順情報ＤＢ２３ｂは、試験情報が格納されたデータベースである。試験情報は、「機種番号」の情報と「試験項目」の情報と「項目別試験手順」の情報とが対応付けられた情報である。

「試験項目」の情報は、動作試験において試験が行われる個別の項目を示す情報である。１つの動作試験において、１以上の試験項目が設定される。「項目別試験手順」の情報は、動作試験において、当該個別の項目の試験手を行うための手順を示す情報である。例えば、「項目別試験手順」の情報は、ある個別の項目試験を実施する時に、作業員が行うべき作業指示内容の情報、操作模擬装置２２に入力されるべき操作内容の情報、等の情報である。１つの試験項目において、１以上の試験手順が設定される。

結果情報ＤＢ２３ｃは、動作試験の結果を示す試験結果情報が格納されたデータベースである。試験結果情報は、「機種番号」の情報と「試験装置番号」の情報と「試験時刻」の情報と「試験合否」の情報と「試験結果詳細」の情報とが対応付けられた情報である。

「試験装置番号」の情報は、動作試験を行った試験装置２５を識別する装置番号を示す情報である。「試験時刻」の情報は、動作試験が行われた日時を示す情報である。「試験合否」の情報は、制御盤１０が当該動作試験に合格したことまたは不合格であったことを示す情報である。「試験結果詳細」の情報は、当該動作試験の詳細な結果を示す情報である。

図３は、記憶装置２３と試験装置２５と自動動作装置２６との情報のやり取りの概要を示す。

動作試験を開始する場合、作業員は、試験装置２５を起動する。試験装置２５は、初期設定を開始する。

初期設定において、試験装置２５は、制御盤１０から機種番号の情報を取得する。試験装置２５は、記憶装置２３から機種番号の情報に対応する試験条件の情報を取得する。具体的には、試験条件の情報を取得するとき、まず試験装置２５は、記憶装置２３から制御盤１０の機種番号に対応する機種情報を第１の試験条件の情報として取得する。その後、試験装置２５は、記憶装置２３から機種情報に対応する試験情報を第２の試験条件の情報として取得する。試験装置２５は、取得した試験情報に基づいて、試験手順を設定する。例えば、試験手順は、動作試験の試験項目において、操作模擬装置２２に対して特定の入力が行われるべきタイミング、順番、等の手順である。試験装置２５は、試験手順を設定した場合、初期設定を終了する。

自動動作装置２６は、試験装置２５が初期設定を終了したことを検出する。この場合、自動動作装置２６は、試験装置２５から当該機種情報と設定された試験手順の情報とを取得する。

自動動作装置２６は、機種情報と試験手順の情報と情報に基づいて、１つの動作試験に定められた１以上の試験項目の各々について、当該項目を実施するか否かを判定する。自動動作装置２６は、試験項目を実施すると判定した場合、当該試験項目に含まれる試験手順で定められた入力が行われるよう、操作模擬装置２２または試験装置２５に対して当該試験手順ごとに特定の信号を出力させる命令を送信する。

自動動作装置２６は、試験項目を実施しないと判定した場合、またはある試験項目の実施が完了した場合、次の試験項目を実施するか否かを判定する。自動動作装置２６は、１つの動作試験に定められた全ての試験項目について実施することまたは実施しないことを判定した場合、当該動作試験を終了する。

次に、図４を用いて、表示装置２４に表示される内容を説明する。
図４は実施の形態１における制御盤試験システムの表示装置に表示される内容を示す図である。

試験装置２５は、動作試験に関連する内容を表示装置２４に表示させる。

図４に示されるように、表示装置２４には、かご状態表示部分２４ａと乗場状態表示部分２４ｂとボタン操作表示部分２４ｃと試験情報表示部分２４ｄとが表示される。

かご状態表示部分２４ａには、動作試験において制御盤１０が模擬的に演算したかごの動作状態を示す情報が表示される。具体的には、かご状態表示部分２４ａには、模擬的に演算された上下方向におけるかごの位置、模擬的に演算されたかごの速度、模擬的に再現されたかごの内部インジケーターに表示される内容、等を示す情報が表示される。

乗場状態表示部分２４ｂには、動作試験において制御盤１０が模擬的に演算した乗場の動作状態を示す情報が表示される。具体的には、乗場状態表示部分２４ｂには、模擬的に演算された乗場ドアの開閉状態、模擬的に再現された乗場インジケーターに表示される内容、等を示す情報が表示される。

ボタン操作表示部分２４ｃには、操作模擬装置２２が出力する操作模擬信号を実際の機器と対応させて示した情報が表示される。具体的には、例えば、乗場操作盤の試験において、ボタン操作表示部分２４ｃには、操作模擬装置２２がいずれの乗場操作盤のボタンを模擬した信号を出力しているかが表示される。

試験情報表示部分２４ｄは、動作試験の内容を示す情報が表示される。具体的には、試験情報表示部分２４ｄは、試験項目、項目別手順、試験項目内の合否、等を示す情報が表示される。

次に、図５を用いて、動作試験を説明する。
図５は実施の形態１における制御盤試験システムによって行われる動作試験の概要を説明するためのフローチャートである。

図５に示されるように、制御盤１０に接続された試験装置２５を起動することで、作業員は、動作試験を開始する。

ステップＳ０１において、試験装置２５は、制御盤１０から制御盤１０の機種番号の情報を取得する。

その後、ステップＳ０２の動作が行われる。ステップＳ０２において、試験装置２５は、機種番号に対応する試験条件の情報と機種番号に対応する試験項目の情報と当該試験項目に対応する項目別試験手順の情報とを記憶装置２３から取得する。試験装置２５は、受信した項目別試験手順の情報に基づいて、試験手順を設定する。

その後、ステップＳ０３の動作が行われる。ステップＳ０３において、作業員は、試験条件が設定されたことを表示装置２４に表示された内容から確認した後、制御盤１０とモータ模擬装置２１とを試験ケーブルで接続する。

その後、ステップＳ０４の動作が行われる。ステップＳ０４において、自動動作装置２６は、試験装置２５から機種情報と設定された試験手順の情報とを取得する。自動動作装置２６は、操作模擬装置２２に入力指令を送信することで自動動作を開始する。

その後、ステップＳ０５からステップＳ０８までのループ１の動作が行われる。ステップＳ０５において、自動動作装置２６は、試験項目の情報に基づいて試験の項目数を決定する。自動動作装置２６は、ループ１を実行した回数ｎを演算する。例えば、自動動作装置２６は、動作試験において、初めて試験項目を実行する場合、ループ１を実行した回数ｎが１であるという演算を行う。自動動作装置２６は、ｎの値が試験の項目数以下であると判定した場合、ループ１を実行する。

ループ１として、ステップＳ０６の動作が行われる。ステップＳ０６において、自動動作装置２６は、機種機能の情報と項目別手順の情報とに基づいて、直前のステップＳ０５で演算した値ｎと同じ値であるｎ番目の試験項目を実行する必要があるか否かを判定する。

ステップＳ０６で、自動動作装置２６がｎ番目の試験項目を実行する必要があると判定した場合、ループ１として、ステップＳ０７の動作が行われる。ステップＳ０７において、自動動作装置２６は、操作模擬装置２２と試験装置２５とに当該試験項目を実行させる。

ステップＳ０７の動作が完了した後、またはステップＳ０６で自動動作装置２６がｎ番目の試験項目を実行する必要が無いと判定した場合、ループ１として、ステップＳ０８の動作が行われる。ステップＳ０８において、自動動作装置２６は、設定した試験項目が全て実行されたまたは実行する必要が無いと判断されたか否か、即ち、ループした回数ｎが試験項目の数以上であるか否かを判定する。

ステップＳ０８で、ループした回数ｎが試験項目の回数より少ないと判定した場合、自動動作装置２６は、ループした回数に１を加算する。その後、自動動作装置２６は、ループ１であるステップＳ０５以降の動作を行う。

ステップＳ０８で、ループした回数ｎが試験項目の数以上であると判定された場合、ステップＳ０９の動作が行われる。ステップＳ０９において、自動動作装置２６は、ループ１を終了する動作として、自動動作を終了する。試験装置２５は、自動動作が終了した旨の情報を表示装置２４に表示させる。

その後、ステップＳ１０の動作が行われる。ステップＳ１０において、作業員は、制御盤１０とモータ模擬装置２１とに接続された試験ケーブル、および制御盤１０と試験装置２５とに接続された試験ケーブルを取り外す。

その後、ステップＳ１１の動作が行われる。ステップＳ１１において、試験装置２５は、試験結果情報を記憶装置２３に記憶させる。

その後、動作試験は終了する。

以上で説明した実施の形態１によれば、制御盤試験システム２０は、操作模擬装置２２と試験装置２５と自動動作装置２６とを備える。自動動作装置２６は、定められた動作試験の手順に基づいて操作模擬装置２２に信号を出力させる。試験装置２５は、操作模擬装置２２が制御盤１０に入力した信号に基づいて制御盤１０の動作試験を行う。このため、動作試験において、作業員が試験の手順に基づいて操作模擬装置２２を操作する作業を省略することができる。その結果、試験の効率を向上することができる。

また、制御盤試験システム２０は、モータ模擬装置２１を備える。モータ模擬装置２１は、制御盤１０に接続されるモータの動作を模擬した結果を制御盤１０に出力する。このため、動作試験において、作業員は、制御盤１０に対応する実際のモータを準備する作業を省略することができる。その結果、試験の効率を向上することができる。

また、制御盤試験システム２０は、記憶装置２３と表示装置２４とを備える。記憶装置２３は、動作試験に必要な情報を記憶する。表示装置２４は、動作試験に関する情報を表示する。このため、動作試験において、作業員は、試験の情報を認識することができる。

また、制御盤試験システム２０において、機種情報と試験情報と試験結果情報とが記憶される。試験装置２５は、機種情報と試験情報とに基づいて、制御盤１０に対応する試験手順を設定する。試験装置２５は、動作試験の結果を試験結果情報として記憶装置２３に記憶させる。このため、試験装置２５は、制御盤１０の設置される条件に対応した試験手順を自動で設定できる。試験装置２５は、試験結果を残すことができる。

また、制御盤試験システム２０の表示装置２４には、かご状態表示部分２４ａと乗場状態表示部分２４ｂとボタン操作表示部分２４ｃと試験情報表示部分２４ｄとが表示される。このため、制御盤試験システム２０は、動作試験で模擬的に行われている動作の状態を作業員に知らせることができる。作業員は、現在の動作試験の状況を確認しながら作業を進めることができる。

なお、操作模擬装置２２は、パーソナルコンピュータとディスプレイとキーボードとマウスとで構成されていてもよい。ディスプレイは、操作盤を模擬した情報を表示してもよい。

なお、試験装置２５は、シーケンス制御を行う装置であってもよい。

なお、動作試験の際に、試験装置２５が起動される前に制御盤１０とモータ模擬装置２１とは試験ケーブルで接続されていてもよい。この場合、図５に示されるフローチャートにおいて、ステップＳ０３の動作は省略されてもよい。

なお、動作試験において、作業員は、自動動作装置２６が操作模擬装置２２および試験装置２５に実行させる試験の手順を、自動動作装置２６を利用せずに手動で行ってもよい。この場合、当該作業員は、表示装置２４の画面を確認しながら操作模擬装置２２を操作する。

次に、図６を用いて、試験装置２５を構成するハードウェアの例を詳しく説明する。
図６は実施の形態１における制御盤試験システムの試験装置のハードウェア構成図である。

試験装置２５の各機能は、処理回路により実現し得る。例えば、処理回路は、少なくとも１つのプロセッサ１００ａと少なくとも１つのメモリ１００ｂとを備える。例えば、処理回路は、少なくとも１つの専用のハードウェア２００を備える。

処理回路が少なくとも１つのプロセッサ１００ａと少なくとも１つのメモリ１００ｂとを備える場合、試験装置２５の各機能は、ソフトウェア、ファームウェア、またはソフトウェアとファームウェアとの組み合わせで実現される。ソフトウェアおよびファームウェアの少なくとも一方は、プログラムとして記述される。ソフトウェアおよびファームウェアの少なくとも一方は、少なくとも１つのメモリ１００ｂに格納される。少なくとも１つのプロセッサ１００ａは、少なくとも１つのメモリ１００ｂに記憶されたプログラムを読み出して実行することにより、試験装置２５の各機能を実現する。少なくとも１つのプロセッサ１００ａは、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＤＳＰともいう。例えば、少なくとも１つのメモリ１００ｂは、ＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュメモリ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ等の、不揮発性または揮発性の半導体メモリ、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ミニディスク、ＤＶＤ等である。

処理回路が少なくとも１つの専用のハードウェア２００を備える場合、処理回路は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ、ＦＰＧＡ、またはこれらの組み合わせで実現される。例えば、試験装置２５の各機能は、それぞれ処理回路で実現される。例えば、試験装置２５の各機能は、まとめて処理回路で実現される。

試験装置２５の各機能について、一部を専用のハードウェア２００で実現し、他部をソフトウェアまたはファームウェアで実現してもよい。例えば、記憶装置２３に試験結果情報を記憶させる機能については専用のハードウェア２００としての処理回路で実現し、記憶装置２３に試験結果情報を記憶させる機能以外の機能については少なくとも１つのプロセッサ１００ａが少なくとも１つのメモリ１００ｂに格納されたプログラムを読み出して実行することにより実現してもよい。

このように、処理回路は、ハードウェア２００、ソフトウェア、ファームウェア、またはこれらの組み合わせで試験装置２５の各機能を実現する。

図示されないが、モータ模擬装置２１の各機能、操作模擬装置２２の各機能、記憶装置２３の各機能、および自動動作装置２６の各機能も、それぞれが試験装置２５の各機能を実現する処理回路と同等の処理回路で実現される。

実施の形態２．
図７は実施の形態２における制御盤試験システムの要部のブロック図である。なお、実施の形態１の部分と同一又は相当部分には同一符号が付される。当該部分の説明は省略される。

実施の形態２において、制御盤試験システム２０は、解析装置２７を備える。

例えば、解析装置２７は、パーソナルコンピュータ、等の演算機器とディスプレイ装置とから構成される。解析装置２７は、記憶装置２３に接続される。

解析装置２７は、記憶装置２３の結果情報ＤＢ２３ｃから直近の動作試験および過去の動作試験のうち１つ以上の動作試験に関する試験結果情報を取得する。解析装置２７は、取得した試験結果情報を解析し、解析した結果をディスプレイ装置に表示する。

解析装置２７は、複数の手法を用いて試験結果情報を解析し、複数の方法で当該解析した結果を表示する。

具体的には、例えば、解析装置２７は、試験結果情報に含まれる、試験項目ごとに当該試験項目の試験が完了するまでに経過した時間の情報に基づいて、ある日に実施された試験項目の試験に要した時間の平均値、中央値、等を解析演算する。その後、解析装置２７は、解析演算した経過時間の平均値、中央値、等の値が縦軸にとられ、試験が実施された日付が横軸にとられたグラフを作成する。解析装置２７は、当該グラフをディスプレイ装置に表示する。

例えば、解析装置２７は、図示されないある試験装置２５と図示されない別の試験装置２５とによって実施された２つの動作試験について、対応する２つの試験結果情報を解析演算した結果を比較することで、いずれかの試験装置２５に異常が発生しているか否かを判定する。解析装置２７は、いずれかの試験装置２５に異常が発生していると判定した場合、当該判定結果をディスプレイ装置に表示する。

以上で説明した実施の形態２によれば、制御盤試験システム２０は、解析装置２７を備える。解析装置２７は、記憶装置２３が記憶する過去の試験結果情報に基づいて、今回の動作試験と過去の動作試験とを比較する。解析装置２７は、当該比較した解析内容を画面に表示する。このため、制御盤試験システム２０は、動作試験に関する結果を可視化することができる。制御盤試験システム２０は、過去の動作試験と今回の動作試験とを比較できる。その結果、作業員は、制御盤試験システム２０、動作試験の環境、等に異常が発生したことを早期に発見することができる。具体的には、作業員は、特定の動作試験において不合格の発生比率が高いという異常、特定の動作試験を実行するために必要な時間が増加しているという異常、等を早期に発見することができる。また、異常の内容が可視化されるため、作業員は、当該異常に対して適切な対策を講じることができる。

なお、解析装置２７は、２つの試験装置２５だけでなく、１つまたは３つ以上の試験装置２５に対して、異常が発生しているか否かを判定してもよい。

なお、図示されないが、解析装置２７の各機能も、試験装置２５の各機能を実現する処理回路と同等の処理回路で実現されてもよい。

なお、解析装置２７は、試験結果情報を解析した結果を表示装置２４に表示させてもよい。

なお、解析装置２７は、機種番号ごと、作業員の識別番号ごと、等に分類したグラフを作成してもよい。このため、動作試験の際に発生する異常、動作試験に関する傾向、等をより詳細に分析することができる。

なお、解析装置２７は、日付ごとでなく、月ごとまたは年ごとに整理された横軸を有するグラフを作成してもよい。このため、より長い時間間隔で変化する動作試験に関する傾向を観測することができる。

なお、解析装置２７は、試験に要した時間でなく、試験項目が不合格だった回数を示すグラフを作成してもよい。このため、不合格だった回数が多い試験項目、不合格だった試験装置、不合格だった制御盤１０の機種番号、等の情報を特定できる。また、当該試験項目について不合格だった原因が制御盤１０の不具合に起因しない場合に、当該不合格だった原因を分析することができる。また、当該不合格だった原因に対して、対策を講じることができる。その結果、試験において制御盤１０の不具合に起因しない不合格の発生を抑制でき、動作試験の効率を向上することができる。また、動作試験における不良検出精度を向上することができる。また、動作試験における試験時間を短縮することができる。

なお、解析装置２７は、試験装置２５ごと、または制御盤１０の機種番号ごとに不合格だった回数が多い試験項目を順番に並べた表を作成してもよい。解析装置２７は、当該表をディスプレイ装置に表示してもよい。このため、不合格の回数が多い順番に対策を講じることができる。

実施の形態３．
図８は実施の形態３における制御盤試験システムの中継器を示す図である。なお、実施の形態１または実施の形態２の部分と同一又は相当部分には同一符号が付される。当該部分の説明は省略される。

実施の形態３において、制御盤試験システム２０は、動力ケーブル３０と中継器３１とを備える。

動力ケーブル３０は、制御盤１０と試験装置２５とに接続される。動力ケーブル３０は、試験装置２５から制御盤１０に動力となる電力を供給し得るよう設けられる。例えば、動力ケーブル３０は、三相交流電源、三相モータ、等に使用されるケーブルである。

中継器３１は、試験ケーブルとして制御盤１０と試験装置２５との間で信号を伝達し得るよう設けられる。中継器３１は、複数の分岐ケーブル３２と第１コネクタ３３と複数の第２コネクタ３４とを有する。

複数の分岐ケーブル３２は、信号を伝達するケーブルである。複数の分岐ケーブル３２の各々は、両端に接続ピンを有する。

第１コネクタ３３の形状は、試験装置２５の接続部２５ａに対応するよう形成される。第１コネクタ３３は、複数の分岐ケーブル３２の一端に設けられる。第１コネクタ３３は、複数の分岐ケーブル３２における複数の接続ピンを１つにまとめる。第１コネクタ３３は、試験装置２５の接続部２５ａに接続される。

複数の第２コネクタ３４の形状は、制御盤１０の複数の接続部１０ａにそれぞれ対応するよう形成される。複数の第２コネクタ３４の各々は、複数の分岐ケーブル３２の他端に設けられる。複数の第２コネクタ３４の各々は、複数の分岐ケーブル３２のうち対応する制御盤１０の接続部１０ａのピンの本数に等しい数の分岐ケーブル３２を１つにまとめる。複数の第２コネクタ３４の各々は、対応する本数の分岐ケーブル３２の接続ピンを１つにまとめる。複数の第２コネクタ３４は、制御盤１０において対応する接続部１０ａにそれぞれ接続される。

次に、図９を用いて、中継器３１と比較したときの従来の中継器を説明する。
図９は実施の形態３における制御盤試験システムに接続された従来の中継器の例を示す図である。

図９に示されるように、従来の例において、動力ケーブル３０は、実施の形態３の動力ケーブルと同様のケーブルが適用され得る。従来の例において、複数の従来中継器３５は、制御盤１０と従来の試験装置２５とに接続される。複数の従来中継器３５は、制御盤１０の複数の接続部１０ａの形状およびピンの本数に対応する本数の分岐ケーブルをそれぞれ有する。複数の従来中継器３５の各々は、両端に分岐ケーブルの本数と等しい数の接続ピンを有する。

従来の例において、従来の試験装置２５は、複数の従来中継器３５に対応する複数の接続部２５ｂを備える。このため、従来では、制御盤１０の接続部１０ａの形状およびピンの本数に対応する複数の従来中継器３５と従来の試験装置２５とを用意する必要があった。また、従来では、作業員は、従来中継器３５のコネクタに印字されたコネクタ名称と従来の試験装置２５の接続部２５ｂに印字されたコネクタ名称とを確認しながら、複数の従来中継器３５の各々を従来の試験装置２５に接続する作業を行う必要があった。一方で、実施の形態３の図９には図示されない中継器３１は、第１コネクタ３３が試験装置２５の１つの接続部２５ａに接続されることで、試験装置２５に接続される。

以上で説明した実施の形態３によれば、制御盤試験システム２０は、中継器３１を備える。中継器３１において、複数の第２コネクタ３４は、制御盤１０の接続部１０ａに対応する。様々な機種の制御盤１０に対応する様々な中継器３１を製作することで、１つの試験装置２５を用いて当該様々な機種の制御盤１０に対して動作試験を実施することができる。その結果、制御盤１０の機種の違いに依らず、試験装置２５を標準化することができる。

１０ 制御盤、 １０ａ 接続部、 １１ 全体制御部、 １２ モータ制御部、 ２０ 制御盤試験システム、 ２１ モータ模擬装置、 ２２ 操作模擬装置、 ２３ 記憶装置、 ２４ 表示装置、 ２５ 試験装置、 ２５ａ，２５ｂ 接続部、 ２６ 自動動作装置、 ２７ 解析装置、 ３０ 動力ケーブル、 ３１ 中継器、 ３２ 分岐ケーブル、 ３３ 第１コネクタ、 ３４ 第２コネクタ、 ３５ 従来中継器、 １００ａ プロセッサ、 １００ｂ メモリ、 ２００ ハードウェア

Claims (8)

1. エレベーターの操作盤から出力される信号を模擬した操作模擬信号を出力する操作模擬装置と、
   前記操作模擬装置が出力した前記操作模擬信号に基づいて前記エレベーターの動作を制御する制御信号をエレベーターの制御盤に出力することで前記制御盤の動作試験を行う試験装置と、
   前記制御盤に対応する前記動作試験において定められた手順に基づいて、前記操作模擬装置に前記試験装置へ前記操作模擬信号を出力させる自動動作装置と、
   を備えた制御盤試験システム。
2. 前記試験装置が出力した前記制御信号に基づいて前記制御盤が前記エレベーターのモータを制御するときに前記制御盤が出力するモータ入力信号を受け付け、前記モータ入力信号に基づいて前記モータの動作を模擬した結果を示すモータ出力信号を前記試験装置に出力するモータ模擬装置、
   を備えた請求項１に記載の制御盤試験システム。
3. エレベーターの動作を制御する制御信号を制御盤に出力することで前記制御盤の動作試験を行う試験装置と、
   前記試験装置が出力した前記制御信号に基づいて前記制御盤が前記エレベーターのモータを制御するときに前記制御盤が出力するモータ入力信号を受け付け、前記モータ入力信号に基づいて前記モータの動作を模擬した結果を示すモータ出力信号を前記試験装置に出力するモータ模擬装置と、
   を備えた制御盤試験システム。
4. 前記試験装置が前記動作試験の際に利用する情報と、前記動作試験の結果を示す情報と、を記憶する記憶装置と、
   前記動作試験が行われるときに、前記試験装置が出力する前記制御信号に応じて前記制御盤が行った模擬的な前記エレベーターの制御を示す情報を表示する表示装置と、
   を備えた請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の制御盤試験システム。
5. 前記試験装置は、前記動作試験の際に、前記制御盤が行う前記エレベーターのかごの動作の制御を示すかご状態表示部分と、前記制御盤が行う前記エレベーターの乗場における動作の制御を示す乗場状態表示部分と、前記制御盤に入力される信号に対応する操作ボタンを示すボタン操作表示部分と、前記動作試験の試験内容を示す試験情報表示部分と、を前記表示装置に表示させる請求項４に記載の制御盤試験システム。
6. 前記記憶装置は、エレベーターの機種に対応する機種情報と、前記機種情報に対応して定められた前記動作試験の手順を記憶する試験情報と、過去に行われた複数の前記動作試験の結果を示す複数の試験結果情報と、を記憶し、
   前記試験装置は、動作試験を行う前記制御盤に対応する前記機種情報と前記試験情報とを前記記憶装置から取得し、前記試験情報に基づいて前記動作試験の手順を設定し、前記動作試験の結果を前記記憶装置に記憶させる請求項４または請求項５に記載の制御盤試験システム。
7. 前記記憶装置が記憶する複数の試験結果情報に基づいて、前記動作試験の結果を過去の動作試験と比較した解析内容を表示する解析装置、
   を備えた請求項６に記載の制御盤試験システム。
8. 両端に接続ピンを有する複数の分岐ケーブルと、
   前記複数の分岐ケーブルの一端において、前記試験装置の接続部に合わせて前記複数の分岐ケーブルの接続ピンを１つにまとめた第１コネクタと、
   前記複数の分岐ケーブルの各々の他端において、前記制御盤における複数の接続部のピンの数に対応して前記複数の分岐ケーブルの接続ピンのうち１以上をそれぞれまとめた複数の第２コネクタと、
   を有する中継器、
   を備えた請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の制御盤試験システム。

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