JP2022168597A - 電磁ノイズ計測方法、及び電磁ノイズ計測装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ノイズ源を正確に特定することを可能にした電磁ノイズ計測方法、及び電磁ノイズ計測装置を提供する。【解決手段】この電磁ノイズ計測方法は、対象装置の近傍において、第１のタイミングにおいて、測定プローブの第１ポートを介して、前記対象装置の近傍の電磁ノイズを計測する遠方界測定を実行して、その測定データをメモリに記憶するステップを実行する。その後、前記対象装置に電磁ノイズを与えるノイズ源の候補の近傍において、前記第１のタイミングよりも後の第２のタイミングにおいて、前記第１ポートを介して、前記ノイズ源の候補の近傍の電磁ノイズを計測する近傍界測定を実行するステップと、前記遠方界測定と前記近傍界測定との間の近似度を示す数値であるノイズ源マッチングインデックスを計算するステップとを、繰り返し測定箇所を変えて実行する。【選択図】図１

Description

本発明は、電磁ノイズ計測方法、及び電磁ノイズ計測装置に関する。

電子回路等から放出される電磁放射ノイズや伝導ノイズなどの電磁ノイズ（Electromagnetic Noise、またはＥＭノイズ）は、所定の規制値の範囲内に抑制することが求められる。電磁ノイズが規制値の範囲を超えている場合、そのような電磁ノイズは周囲の他の回路の動作に影響を与える虞がある。このため、所定の規制値を超える電磁ノイズを発生しているノイズ源(Noise Source)を特定する技術が求められている。

従来、ノイズ源を特定するための計測方法として、周波数ドメイン計測により周波数スペクトルを得る方法、又はタイムドメイン計測をして短時間フーリエ変換（ＳＴ－ＦＦＴ）することにより周波数スペクトルを得る方法が知られている。高周波数のノイズ源（例えばクロック信号回路、通信回路からのノイズ等）は、周波数スペクトルから特定することが容易である。

しかし、従来の方法では、対象装置の近傍における電磁ノイズの測定（遠方界測定）と、ノイズ源の候補の近傍における電磁ノイズの測定（近傍界測定）を行い、周波数スペクトルを分析する場合において、近傍界測定を実行する測定プローブが、同時に測定される遠方界測定の測定プローブに影響を与えることが起こり、このため、ノイズ源を正確に特定することが困難であるという問題がある。

特開２０１４－２２２２１５号公報

本発明は、ノイズ源を正確に特定することを可能にした電磁ノイズ計測方法、及び電磁ノイズ計測装置を提供することを目的とする。

上記の課題を解決するため、本発明に係る電磁ノイズ計測方法は、第１のタイミングにおいて、第１ポートを介して、対象装置の近傍の電磁ノイズを計測する遠方界測定を実行して、その測定データをメモリに記憶するステップを実行する。その後、前記対象装置に電磁ノイズを与えるノイズ源の候補の近傍において、前記第１のタイミングよりも後の第２のタイミングにおいて、前記第１ポートを介して、近傍界測定を実行するステップと、前記遠方界測定と前記近傍界測定との間の近似度を示す数値であるノイズ源マッチングインデックスを計算するステップとを、繰り返し測定箇所を変えて実行する。

本発明によれば、ノイズ源を正確に特定することを可能にした電磁ノイズ計測方法、及び電磁ノイズ計測装置を提供することができる。

第１の実施の形態に係る電磁ノイズ計測装置１５０１を説明するブロック図である。 第１の実施の形態の電磁ノイズ計測装置１５０１の動作（電磁ノイズ計測方法）を説明するフローチャートである。 ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法を説明するフローチャートである。 第１の実施の形態におけるノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法を説明するフローチャートである。 第２の実施の形態におけるノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法を説明するフローチャートである。 第２の実施の形態におけるノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法を説明するフローチャートである。 第３の実施の形態におけるノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法を説明するフローチャートである。 第３の実施の形態におけるノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法を説明するフローチャートである。 遠方界測定の検出信号に係る変調周波数データ８０１の一例である。 近傍界測定の検出信号に係る変調周波数データ９０１の一例である。 図９の変調周波数データにおいて、最大の変調振幅（正規化後）が得られる周波数を示すグラフである。 第４の実施の形態におけるノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法を説明するフローチャートである。 第４の実施の形態における、正規化後の周波数スペクトルの波形の一例である。

以下、添付図面を参照して本実施形態について説明する。添付図面では、機能的に同じ要素は同じ番号で表示される場合もある。なお、添付図面は本開示の原理に則った実施形態と実装例を示しているが、これらは本開示の理解のためのものであり、決して本開示を限定的に解釈するために用いられるものではない。本明細書の記述は典型的な例示に過ぎず、本開示の特許請求の範囲又は適用例を如何なる意味においても限定するものではない。

本実施形態では、当業者が本開示を実施するのに十分詳細にその説明がなされているが、他の実装・形態も可能で、本開示の技術的思想の範囲と精神を逸脱することなく構成・構造の変更や多様な要素の置き換えが可能であることを理解する必要がある。従って、以降の記述をこれに限定して解釈してはならない。

各種情報の例として、「データ」、「グラフ」等の表現にて説明することがあるが、各種情報はこれら以外のデータ構造で表現されてもよい。例えば、「ＸＸテーブル」、「ＸＸリスト」、「ＸＸキュー」等の各種情報は、「ＸＸ情報」としてもよい。識別情報について説明する際に、「識別情報」、「識別子」、「名」、「ＩＤ」、「番号」等の表現を用いるが、これらについてはお互いに置換が可能である。同一あるいは同様の機能を有する構成要素が複数ある場合には、同一の符号に異なる添字を付して説明する場合がある。また、これらの複数の構成要素を区別する必要がない場合には、添字を省略して説明する場合がある。

実施例において、プログラムを実行して行う処理について説明する場合がある。ここで、計算機は、プロセッサ（例えばＣＰＵ、ＧＰＵ）によりプログラムを実行し、記憶資源（例えばメモリ）やインターフェースデバイス（例えば通信ポート）等を用いながら、プログラムで定められた処理を行う。そのため、プログラムを実行して行う処理の主体を、プロセッサとしてもよい。同様に、プログラムを実行して行う処理の主体が、プロセッサを有するコントローラ、装置、システム、計算機、ノードであってもよい。プログラムを実行して行う処理の主体は、演算部であれば良く、特定の処理を行う専用回路を含んでいてもよい。ここで、専用回路とは、例えばＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＣＰＬＤ（Complex Programmable Logic Device）等である。

プログラムは、プログラムソースから計算機にインストールされてもよい。プログラムソースは、例えば、プログラム配布サーバまたは計算機が読み取り可能な記憶メディアであってもよい。プログラムソースがプログラム配布サーバの場合、プログラム配布サーバはプロセッサと配布対象のプログラムを記憶する記憶資源を含み、プログラム配布サーバのプロセッサが配布対象のプログラムを他の計算機に配布してもよい。また、実施例において、２以上のプログラムが１つのプログラムとして実現されてもよいし、１つのプログラムが２以上のプログラムとして実現されてもよい。

［第１の実施の形態］
図１を参照して、第１の実施の形態に係る電磁ノイズ計測装置１５０１を説明する。この電磁ノイズ計測装置１５０１は、対象装置１５０８（Victim）との関係でターゲット装置１５０７中のノイズ源１５１０を特定するための装置である。図１においては、１つのノイズ源１５１０のみが図示されている。ノイズ源１５１０の個数、位置等は測定開始前においては不明であり、電磁ノイズ計測装置１５０１のユーザは、測定プローブ１５０６を様々な場所（ノイズ源の候補の近傍）に移動させて、得られた検出信号に従い、対象装置１５０８の動作に影響を与える電磁ノイズを発するノイズ源を同定する。ここで、電磁ノイズ（Electromagnetic Noise、またはＥＭノイズ）とは、例えば電子回路等から放出される電磁放射ノイズや伝導ノイズである。

電磁ノイズ計測装置１５０１は、一例として、ＲＦインタフェース１５０２と、メモリユニット１５０３と、メインプロセッサ１５０４と、測定プローブ１５０６と、Ｉ／Ｏインタフェース１５０５と、ディスプレイ１５０９とを備えて構成される。測定プローブ１５０６は、ノイズ源１５１０の候補となる装置の近くに移動させられ、その位置での電磁ノイズを計測する。ＲＦインタフェース１５０２は、測定プローブ１５０６が検出した検出信号をメインプロセッサ１５０４での処理のための信号に変換し転送する機能を有する。

メインプロセッサ１５０４は、メモリユニット１５０３に格納されるコンピュータプログラムにより実現される、遠方界測定処理部１５０４Ａ、近傍界測定処理部１５０４Ｂ、及びノイズ源マッチングインデックス計算部１５０４Ｃを構成する。遠方界測定処理部１５０４Ａは、対象装置１５０８の近傍であって、ノイズ源１５１０からは遠方である領域（遠方界）における電磁ノイズの測定を実行する。また、近傍界測定処理部１５０４Ｂは、ノイズ源１５１０の候補である装置の近傍である領域（近傍界）における電磁ノイズの測定を実行する。遠方界測定処理部１５０４Ａでの測定と、近傍界測定処理部１５０４Ｂでの測定は、それぞれ異なるタイミングで実行されると共に、単一のポートを介してＲＦインタフェース１５０２に入力された検出信号に従って実行される。遠方界測定処理部１５０４Ａでの測定は、近傍界測定処理部１５０４Ｂでの測定よりも時間的に先行する。

ノイズ源マッチングインデックス計算部１５０４Ｃは、遠方界測定処理部１５０４Ａにおける測定データと、近傍界測定処理部１５０４Ｂの測定データとの間のマッチングを行い、そのマッチングの結果に従い、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩを計算する。ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩは、対象装置１５０８の動作に影響を与えている電磁ノイズである可能性の高さを数値で示すものである。すなわち、計算されたノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの数値が大きいほど、近傍界測定処理部１５０４Ｂが実行された際に測定プローブ１５０６の近傍に位置していた装置がノイズ源であると判断される可能性が高くなる。

Ｉ／Ｏインタフェース１５０５は、メインプロセッサ１５０４で演算処理されたデータを、ディスプレイ１５０９や、その他外部装置（図示せず）に対して出力し、また外部装置からデータや、ユーザからの命令を受信するためのインタフェースである。ディスプレイ１５０９は、メインプロセッサ１２で演算されたデータを表示可能に構成される。外部装置は、例えば、ユーザが命令（指示）を入力するための入力装置（例えばキーボード、マウス等）であってもよいし、外部記憶装置であってもよいし、ネットワークを介して接続された管理装置であってもよい。また、ディスプレイ１５０９は、ヘッドマウントディスプレイであってもよい。

図２を参照して、第１の実施の形態の電磁ノイズ計測装置１５０１の動作（電磁ノイズ計測方法）を説明する。この第１の実施の形態の電磁ノイズ計測装置１５０１は、まず対象装置１５０８の近傍において遠方界測定を実行し、その後測定プローブ１５０６を用い且つ同一のポートを介して、ノイズ源１５１０の候補の近傍において近傍界測定を実行する。これにより、正確に対象装置１５０８の動作に影響を与えるノイズ源１５１０を特定することが可能になる。

まず、ステップＳ１０２では、遠方界測定処理部１５０４Ａにより遠方界測定及び前処理が実施される。遠方界測定処理部１５０４Ａにより測定され前処理された測定データは、メモリユニット１５０３に一時保持される。

次に、ステップＳ１０３では、対象装置１５０８からは離間しているが、ノイズ源１５１０の候補の近傍である領域に測定プローブ１５０６が配置され、近傍界測定処理部１５０４Ｂにより近傍界測定が実施される。ステップＳ１０３は、ステップＳ１０２よりも後のタイミングで実行される。近傍界測定処理部１５０４Ｂにより得られた測定データは、メモリユニット１５０３に一時保持される。

続くステップＳ１０４では、ステップＳ１０２で実行されてメモリユニット１５０３に格納された遠方界測定の測定データ、及びステップＳ１０３で実行された近傍界測定の測定データに基づき、ノイズ源マッチングインデックス計算部１５０４Ｃがノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩを計算する。演算されたノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩは、時刻データ等と共に、メモリユニット１５０３に記憶される。

そして、ステップＳ１０５では、計算されたノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩがＩ／Ｏインタフェース１５０５を介してディスプレイ１５０９又は外部装置（図示せず）に転送され、本装置のユーザに通知される。このステップＳ１０３～Ｓ１０５が、測定プローブ１５０６の位置（測定箇所）を順次変更して繰り返し実行される。ユーザは、異なる測定プローブ１５０６の位置ごとに、ディスプレイ１５０９に表示され又は外部装置に転送されたノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩを確認する。そして、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩとして高い数値が得られた場合、その直近の測定プローブ１５０６の近傍に位置していた装置をノイズ源と判定することができる。

この第１の実施の形態における、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法を、図３Ａ及び図３Ｂのフローチャートを参照して説明する。多くの場合、電磁ノイズは、十分に長い時間で観察した場合、一定の周期性を有する（周期定常性（cyclo-stationarity））。このため、遠方界測定の測定データと、近傍界測定の測定データとの間においても、近似した時間的な関連性を期待することができる。

そこで、遠方界測定の測定データの一の時間依存周波数と、近傍界測定の測定データの同一の時間依存周波数との間の相互相関の絶対値の最大値を計算することにより（deferred cross-relation at the same frequency）、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭIを計算することができる。具体的には、図３Ａに示すように、近傍界測定の検出信号の、着目する周波数インデックスｋでのスペクトル密度の時間変化σ_ｓ[ｋ、ｎ]を演算し（ステップＳ２０２）、一方、図３Ｂに示すように、遠方界測定の、着目する周波数インデックスｋ（同一の周波数）でのスペクトル密度の時間変化σ_ｖ[ｋ、ｎ]を演算する（ステップＳ３０２）。遠方界測定の検出信号は、ステップＳ１０２の計測後、メモリユニット１５０３に記憶されている。

その後、ステップＳ２０３、Ｓ３０３において、σ_ｓ[ｋ、ｎ]、σ_ｖ[ｋ、ｎ]の平均値／σ_ｓ、／σ_ｖを演算し、σ_ｓ[ｋ、ｎ]、σ_ｖ[ｋ、ｎ]からこの平均値／σ_ｓ［ｋ］、／σ_ｖ[ｋ]を減算した信号Ｓo［ｋ、ｎ］、Ｖo[ｋ、ｎ]を演算する（下記の[数１]の第１式、第２式）。そして、この信号Ｓｏ、Ｖｏを正規化すると共に、その正規化信号の積の総和を最大とする時間間隔ｍを探索し、その最大値となる総和を相互相関値Ｉｄ［ｋ］とする（［数１］の第３式）。

以上説明したように、この第１の実施の形態の電磁ノイズ計測装置によれば、遠方界測定と、近傍界測定とを、単一のポートを介して、異なる時間で計測し、両者の間のノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩを計算することで、ノイズ源１５１０を特定する。このため、遠方界測定の測定結果は、近傍界測定時の測定プローブの影響を受けないため、より正確に遠方界測定を実行し、正確にノイズ源を特定することが容易になる。

[第２の実施の形態]
続いて、第２の実施の形態に係る電磁ノイズ計測装置を、図１、２、４及び５を参照して説明する。電磁ノイズ計測装置の構成は、第１の実施の形態と略同一であるので、重複する説明は省略する。また、ノイズ源の判定方法も、第１の実施の形態（図２）と同一である。ただし、この第２の実施の形態は、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法が第１の実施の形態とは異なっている。具体的には、第２の実施の形態は、遠方界測定と近傍界測定の間の相互相関を、異なる周波数領域で分析する方法を採用しており（deferred cross-correlation at different frequencies）、この点で第１の実施の形態と異なっている。

第２の実施の形態のノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算の実行手順を図４のフローチャートを参照して説明する。この計算方法は、低周波数のスイッチングにより生成される広帯域ノイズがある場合に有効である。

この第２の実施の形態では、下記の[数２]の第１式のように、近傍界測定の低周波数領域の時間領域の検出信号ｓ[ｎ]の絶対値｜ｓ［ｎ］｜を演算し、この絶対値｜ｓ［ｎ］｜から、検出信号ｓ［ｎ］の絶対値の平均値／｜ｓ｜を減算して信号ｓｏ［ｎ］を生成する（ステップＳ４０２）。

なお、遠方界測定に関しては、図５、及び[数２]の第２式のように、遠方界測定の検出信号の一の高周波成分ｋのスペクトル密度の時間変化σ_ｖ[ｋ、ｎ]の平方根を演算する（ステップＳ５０２）。そして、その平方根から、その平方根の平均値を減算して信号Ｖｏ［ｋ、ｎ］を演算する（ステップＳ５０３）。そして、第３式のように、この信号ｓｏ、Ｖｏを正規化すると共に、その正規化信号の積の総和が最大値となる時間間隔ｍを探索し、その最大値となる総和を相互相関値Ｉｍ［ｋ］とする（ステップＳ４０３）。

[第３の実施の形態]
続いて、第３の実施の形態に係る電磁ノイズ計測装置を、図１、２、６、７を参照して説明する。電磁ノイズ計測装置の構成は、第１の実施の形態と略同一であるので、重複する説明は省略する。また、ノイズ源の判定方法も、第１の実施の形態（図２）と同一である。ただし、この第３の実施の形態は、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法が第１の実施の形態とは異なっている。具体的には、ノイズ源マッチングインデックスの計算において、変調周波数解析を実行する点（Modulation Frequency Analysis (MFA) projection at same frequency）で前述の実施の形態と異なっている。

図７を参照して、第３の実施の形態のための図２のステップＳ１０２の遠方界測定の測定結果を処理する手順が説明される。変調周波数解析が遠方界測定の時間領域における検出信号に適用される。次に、着目する周波数ｋにおける変調周波数データＸｖ［ｋ、ｉ］が全ての変調周波数ｉに対し抽出され（ステップＳ７０３）、[数３]に示すように、正規化された変調周波数パターン＾Ｖ［ｋ，ｉ］が取得される（ステップＳ７０４）。

図６を参照して、第３の実施の形態におけるノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算の手順を説明する。まず、ステップＳ６０２において、近傍界測定の時間領域の検出信号に対し、変調周波数解析を適用し、変調周波数データＸ_ｓＬ［ｋ、ｉ］を算出する。ここで、変調周波数データとは、電磁ノイズの周波数と、当該電磁ノイズの変調周波数と、当該電磁ノイズの強度とが対応付けられた情報である。

続いて、ステップＳ６０３では、変調周波数データの中の全ての周波数の中の最大変調度（変調振幅）Ｓｍ［ｉ］を、下記の［数４］の第１式のように計算する。そして、［数４］の第２式、第３式のように、その最大変調度Ｓｍ［ｉ］から、その平均値／Ｓｍを減算し且つ正規化を実行する（ステップＳ６０４）。

そして、このようにして得られた遠方界測定の正規化後の変調周波数データ＾Ｖ［ｋ］を、近傍界測定の正規化後の変調周波数データ＾Ｓに投影する（ステップＳ６０５）。具体的には、[数５]に示すように、両者のドット積の絶対値が演算される。この投影（ドット積）の結果に従い、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩが計算される。

図７を参照して、第３の実施の形態におけるノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算の別の手順を説明する。図６と同様に、近傍界測定の時間領域の検出信号、及び遠方界測定の時間領域の検出信号に対し、変調周波数解析を適用し、変調周波数データを算出する（ステップＳ７０２）。次に、その両変調周波数データの中から、着目する周波数における変調周波数データを抽出する（ステップＳ７０３）。そして、両変調周波数パターンを正規化して（ステップＳ７０４）、同様に投影を行うことで、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩを計算する。

図８は、遠方界測定の検出信号に係る変調周波数データ８０１の一例であり、図９は、近傍界測定の検出信号に係る変調周波数データ９０１の一例である。図８において、符号８０２は、着目する周波数に係る周波数データの変調パターン（ステップＳ７０３）を示している。図１０は、図９の変調周波数データにおいて、最大の変調振幅（正規化後）が得られる周波数を示すグラフである。

[第４の実施の形態]
続いて、第４の実施の形態に係る電磁ノイズ計測装置を、図１１を参照して説明する。電磁ノイズ計測装置の構成は、第１の実施の形態と略同一であるので、重複する説明は省略する。また、ノイズ源の判定方法も、第１の実施の形態（図２）と同一である。ステップＳ１０２の遠方界測定の測定結果を処理する方法は、第３の実施の形態（図７）と同様である。ただし、この第４の実施の形態は、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算方法が第１の実施の形態とは異なっている。具体的には、ノイズ源マッチングインデックスの計算において、変調周波数解析を実行する点（Modulation Frequency Analysis (MFA) projection at different frequency）で前述の実施の形態と異なっている。

図１１を参照して、第４の実施の形態におけるノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩの計算の手順を説明する。この実施の形態では、近傍界測定の時間領域の検出信号に対しては、変調周波数解析は適用されない。近傍界測定の時間領域の検出信号σｓの周波数スペクトルＳｐ［ｉ］が、例えば、オシロスコープ（図示せず）で測定された波形のフーリエ変換を使用してパワースペクトル密度を推定することにより、またはスペクトラムアナライザを使用して測定される（ステップＳ６０３’）。そして、その周波数スペクトルＳｐ［ｉ］から、その平均値／Ｓｐを減算し且つ正規化を実行する（ステップＳ６０４’）。図１２は、正規化後の周波数スペクトルの波形の一例である。そして、遠方界測定の変調周波数データを、近傍界測定の周波数スペクトルに投影する（ステップＳ６０５）。投影の結果として、両データの近似度に従い、ノイズ源マッチングインデックスＮＳＭＩが計算される。

なお、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。

また、上記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の記録装置、又は、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤ等の記録媒体に置くことができる。

１５０１…電磁ノイズ計測装置
１５０２…ＲＦインタフェース
１５０３…メモリユニット
１５０４…メインプロセッサ
１５０５…Ｉ／Ｏインタフェース
１５０６…測定プローブ
１５０７…ターゲット装置
１５０８…対象装置
１５１０…ノイズ源
１５０９…ディスプレイ

Claims (8)

1. 第１のタイミングにおいて、第１ポートを介して、対象装置の近傍の電磁ノイズを計測する遠方界測定を実行して、その測定データをメモリに記憶するステップを実行し、その後、
   前記対象装置に電磁ノイズを与えるノイズ源の候補の近傍において、前記第１のタイミングよりも後の第２のタイミングにおいて、前記第１ポートを介して、近傍界測定を実行するステップと、
   前記遠方界測定と前記近傍界測定との間の近似度を示す数値であるノイズ源マッチングインデックスを計算するステップと
   を、繰り返し測定箇所を変えて実行すること
   を備える、電磁ノイズ計測方法。
2. 前記ノイズ源マッチングインデックスをユーザに提示するステップを更に備えた、請求項１に記載の方法。
3. 前記ノイズ源マッチングインデックスを計算するステップは、
   前記遠方界測定の検出信号の、着目する周波数インデックスｋでのスペクトル密度の時間変化を演算し、
   前記近傍界測定の検出信号の、着目する周波数インデックスｋでのスペクトル密度の時間変化を演算し、
   前記スペクトル密度の時間変化の平均値を、前記スペクトル密度の時間変化から減算した信号を演算し、その信号を正規化し、
   ２つの正規化信号の間の相互相関の最大値を計算する
   ことを含む、請求項１に記載の方法。
4. 前記ノイズ源マッチングインデックスを計算するステップは、
   前記遠方界測定の、第１の周波数領域の時間領域の検出信号の絶対値を演算し、この絶対値から、前記検出信号の絶対値の平均値を減算した第１信号を演算し、
   前記近傍界測定の、前記第１の周波数領域よりも高周波側の第２の周波数領域の周波数成分のスペクトル密度の時間変化の平方根を演算し、その平方根から、その平方根の平均値を減算して第２信号を演算し、
   前記第１信号及び前記第２信号を正規化し、その正規化信号の積の総和が最大値となる時間間隔を探索し、そのときの前記積の総和を相互相関値として出力する
   ことを含む、請求項１に記載の方法。
5. 前記ノイズ源マッチングインデックスを計算するステップは、
   前記近傍界測定の時間領域の検出信号、及び前記遠方界測定の時間領域の検出信号に対し、変調周波数解析を適用して変調周波数データを算出し、
   前記変調周波数データの中の全ての周波数の中で最大の変調度を与える近傍界の変調周波数パターンを計算し、その変調周波数データから、その平均値を減算し且つ正規化を実行し、
   前記遠方界測定の変調周波数データを、前記近傍界測定の変調周波数パターンに投影し、その投影の結果に従い、前記ノイズ源マッチングインデックスを計算する、請求項１に記載の方法。
6. 前記ノイズ源マッチングインデックスを計算するステップは、
   前記近傍界測定の時間領域の検出信号の周波数スペクトルを測定し、
   前記遠方界測定の時間領域の検出信号に対し変調周波数解析を適用して変調周波数データを算出し、
   前記遠方界測定の変調周波数データを、前記近傍界測定の周波数スペクトルのデータに投影し、その投影の結果に従い、前記ノイズ源マッチングインデックスを計算する、請求項１に記載の方法。
7. 対象装置の近傍、及びノイズ源の近傍の電磁ノイズを計測する測定プローブと、
   前記測定プローブと第１のポートを介して接続されるコンピュータシステムと
   を備え、
   前記コンピュータシステムは、
   前記対象装置の近傍において、第１のタイミングにおいて、前記測定プローブの第１ポートを介して、前記対象装置の近傍の電磁ノイズを計測する遠方界測定を実行して、その測定データをメモリに記憶し、
   前記ノイズ源の候補の近傍において、前記第１のタイミングよりも後の第２のタイミングにおいて、前記第１ポートを介して、前記ノイズ源の候補の近傍の電磁ノイズを計測する近傍界測定を実行し
   前記遠方界測定と前記近傍界測定との間の近似度を示す数値であるノイズ源マッチングインデックスを計算する
   よう構成されている、電磁ノイズ計測装置。
8. 前記ノイズ源マッチングインデックスをユーザに対し表示する表示部を更に備えた、請求項７に記載の装置。
   

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