JP2022165725A - Device mounting apparatus and device mounting method using the same - Google Patents

Device mounting apparatus and device mounting method using the same Download PDF

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Abstract

To provide a device mounting apparatus and device mounting method which can accurately and collectively transfer a device to a mounting substrate being the transfer destination from a transfer source sheet.SOLUTION: A device mounting apparatus comprises: a roll; a table which can move in the horizontal direction and rotate around an axis in the vertical direction; a camera for roll which images the roll surface; a camera for table which images the table surface; and a control device. An adhesive sheet, a transfer source sheet, and a mounting substrate having a mount part being the transfer destination are placed on the table. The control unit acquires position information from an image of the device by the camera for roll, acquires position information from an image of the mount part by the camera for table and controls alignment between the roll and the table on the basis of the position information of the mount part and the device.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明はデバイス実装装置及びそれを用いたデバイス実装方法に関する。 The present invention relates to a device mounting apparatus and a device mounting method using the same.

従来、半導体装置等のデバイスを移送する場合、移送元のシートに整列配置されたデバイスを、1個毎にピックアップして移送先の基板(実装用基板)にマウントしていた(特許文献1)。しかし、多数のデバイスを整列配置する製品、例えばディスプレイ装置等に対して、1個毎にデバイスを基板に移送すると、製造工期が長くなるという問題が生じる。そこで、移送に要する時間を低減するため、粘着性を有するキャリアに複数のデバイスを粘着させ、キャリアに粘着したデバイスを移送先の基板に一括して転写する実装方法が提案されている(特許文献2-5)。 Conventionally, when transferring a device such as a semiconductor device, the devices arranged in alignment on a transfer source sheet are picked up one by one and mounted on a transfer destination substrate (mounting substrate) (Patent Document 1). . However, for a product in which a large number of devices are aligned, such as a display device, if the devices are transferred one by one to the substrate, a problem arises in that the manufacturing period is lengthened. Therefore, in order to reduce the time required for transfer, a mounting method has been proposed in which a plurality of devices are adhered to an adhesive carrier, and the devices adhered to the carrier are collectively transferred to a destination substrate (Patent Document 2). 2-5).

特開2002-111289号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-111289 特開2018-26540号公報JP 2018-26540 A 特表2019-521530号公報Japanese Patent Application Publication No. 2019-521530 特開2007-27693号公報JP-A-2007-27693 特開2013-183163号公報JP 2013-183163 A

複数のデバイスをキャリアを介して、一括して移送元のシートから移送先の基板に移送する場合、移送を媒介するキャリアの位置を制御して微細なデバイスをキャッチし、別の基板上でリリースするという動作が要求される。そのため、実際に装置を稼働するためには、高い位置制御技術が求められる。この傾向は、デバイスの大きさや配列間隔が小さいほど顕著となる。
特許文献1に開示されているようにピックアップ装置を用いて移送する場合、カメラを使用してデバイスを1個毎に位置制御することが可能である。しかし、一括してデバイスを転写する場合、特許文献1のような位置制御を採用することはできない。
また、例えば、マイクロLED(μLED)のように一辺が約数十μm程度の微細な半導体デバイスが数μm間隔で第1の基板上に多数並べられ、これを数十~数百mmサイズのキャリアに貼り付けられた厚み例えば0.3mmの粘着シートに一次転写し、これを同じ大きさの第2の基板上に二次転写する場合、キャリアに貼り付けられた粘着シートの押し込み量として例えば数μm以下が要求されることがある。このような場合、移送元の基板及び移送先の基板に対するキャリアの位置精度は±2μm以下であることが要求される。
When multiple devices are transferred from the source sheet to the destination board via a carrier, the position of the carrier that mediates the transfer is controlled to catch the fine devices and release them on another board. The action of doing is required. Therefore, in order to actually operate the device, a high position control technique is required. This tendency becomes more pronounced as the size of the device and the arrangement interval become smaller.
When transferring using a pick-up device as disclosed in Patent Document 1, it is possible to position-control each device using a camera. However, when transferring devices collectively, it is not possible to adopt the position control as in Patent Document 1.
Further, for example, a large number of fine semiconductor devices having sides of about several tens of μm, such as micro LEDs (μLEDs), are arranged on the first substrate at intervals of several μm, and are mounted on a carrier having a size of several tens to several hundred mm. When primary transfer is performed on an adhesive sheet having a thickness of, for example, 0.3 mm attached to a carrier, and secondary transfer is performed on a second substrate having the same size, the pressing amount of the adhesive sheet attached to the carrier is, for example, several μm or less may be required. In such a case, the positional accuracy of the carrier with respect to the source substrate and the destination substrate is required to be ±2 μm or less.

本発明は上記に鑑みてなされたものであり、転写元シートから転写先の実装基板へデバイスを精度よく位置制御し、一括して転写することを可能とするデバイス実装装置とこの装置を用いたデバイス実装方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and uses a device mounting apparatus capable of accurately controlling the position of a device from a transfer source sheet to a transfer destination mounting substrate and transferring them all at once. The object is to provide a device mounting method.

本発明に係るデバイス実装装置は、
回転軸(J)の周りに回転可能な円筒形のロール(2)と、
水平方向の移動と鉛直方向の軸の周りの回転を可能とするテーブル駆動機構を有するテーブル(4、14)と、
前記ロール(2)の表面を撮像するロール用カメラ(20)と、
前記テーブル(4)の表面を撮像するテーブル用カメラ(21、22)と、
制御装置(80)とを備え、
前記テーブル(4、14)は前記ロール(2)に貼付する粘着シート(1)、デバイス(C)を表面に有する転写元シート(3)、及び前記デバイス(C)の転写先であるマウント部(T)を表面に有する実装基板(13)を載置するものであり、
前記制御部は、
前記ロール(2)に貼付された前記粘着シート(1)に粘着された状態での、前記ロール用カメラ(20)による前記デバイス(C)の画像を処理することで前記デバイス(C)の位置情報を取得し、
前記テーブル(2)に載置された状態での、前記テーブル用カメラ(21、22)による前記マウント部(T)の画像を処理することで前記マウント部(T)の位置情報を取得し、
前記マウント部(T)の位置情報と前記デバイス(C)の位置情報とに基づき、前記ロール(2)と前記テーブル(4、14)とのアライメントを制御することを特徴とする。
A device mounting apparatus according to the present invention includes:
a cylindrical roll (2) rotatable about an axis of rotation (J);
a table (4, 14) having a table drive mechanism allowing horizontal movement and rotation about a vertical axis;
a roll camera (20) for imaging the surface of the roll (2);
table cameras (21, 22) for imaging the surface of the table (4);
a controller (80),
The tables (4, 14) include an adhesive sheet (1) to be attached to the roll (2), a transfer source sheet (3) having a device (C) on its surface, and a mount section to which the device (C) is transferred. A mounting substrate (13) having (T) on the surface is placed,
The control unit
Position of the device (C) by processing an image of the device (C) by the roll camera (20) in a state of being adhered to the adhesive sheet (1) adhered to the roll (2) get information,
Acquiring positional information of the mount portion (T) by processing an image of the mount portion (T) by the table cameras (21, 22) while the mount portion (T) is placed on the table (2);
The alignment between the roll (2) and the table (4, 14) is controlled based on the positional information of the mount (T) and the positional information of the device (C).

このような構成のデバイス実装装置とすることで、中間媒体として粘着シート1が貼付されたロール2を用いて、デバイスCを正確に実装基板13に転写することができる。
また、ロール2の表面に粘着シート1を貼付するため、粘着シート1の張り替えが容易であり、ロール2の表面において適切な粘着力を維持することができる。
By using the device mounting apparatus having such a configuration, it is possible to accurately transfer the device C onto the mounting substrate 13 using the roll 2 to which the adhesive sheet 1 is attached as an intermediate medium.
Moreover, since the adhesive sheet 1 is attached to the surface of the roll 2, the adhesive sheet 1 can be easily replaced, and the surface of the roll 2 can maintain an appropriate adhesive force.

また、本発明に係るデバイス実装装置は、
前記テーブル(4、14)上に載置された前記実装基板(13)の前記マウント部(T)の高さを測定する第1の距離測定器(6)と、
前記テーブル(4、14)と前記ロール(2)に貼付された前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)との距離を測定する第2の距離測定器(7a、7b)とを備えることを特徴とする。
Further, the device mounting apparatus according to the present invention is
a first distance measuring device (6) for measuring the height of the mounting portion (T) of the mounting substrate (13) placed on the table (4, 14);
A second distance measuring device (7a, 7b) for measuring the distance between the table (4, 14) and the device (C) on the adhesive sheet (1) attached to the roll (2). It is characterized by

このような構成とすることで、デバイスCを実装基板13に二次転写する際に、精密な押し込み量の制御が可能となる。 With such a configuration, when the device C is secondary-transferred onto the mounting board 13, it is possible to precisely control the pressing amount.

また、本発明に係るデバイス実装装置は、
前記ロール(2)は前記粘着シート(1)により部分的に覆われることを特徴とする。
Further, the device mounting apparatus according to the present invention is
The roll (2) is characterized in that it is partially covered with the adhesive sheet (1).

このような構成とすることで、ロール用カメラ20の感度校正が容易であり、また第1の距離測定器6、第2の距離測定器7a、7bの距離測定の精度を維持することができる。 With such a configuration, it is possible to easily calibrate the sensitivity of the roll camera 20 and maintain the distance measurement accuracy of the first distance measuring device 6 and the second distance measuring devices 7a and 7b. .

また、本発明に係るデバイス実装装置は、
前記テーブル(4、14)は真空チャックを有することを特徴とする。
Further, the device mounting apparatus according to the present invention is
Said table (4, 14) is characterized by having a vacuum chuck.

このような構成とすることで、粘着シート1のロール2への貼付が容易となる。 With such a configuration, the adhesive sheet 1 can be easily attached to the roll 2 .

本発明に係るデバイス実装装置を用いたデバイス実装方法は、
前記ロール(2)に前記粘着シート(1)を貼り付けるステップS1と、
前記転写元シート(3)上の前記デバイス(C)を前記粘着シート(1)に一次転写するステップS2と、
前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)の位置を計測するステップS3と、
前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)を前記実装用基板(13)に二次転写するステップS4とを含み、
前記ステップS3において、
前記ロール用カメラ(20)で撮影した前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)の画像を処理し前記デバイス(C)の位置情報を取得し、
前記ステップS4において、
前記テーブル用カメラ(21)で撮影した前記実装用基板(13)上の前記マウント部(T)の画像を処理して前記マウント部の位置情報を取得し、
前記第1の距離測定器(6)により前記テーブル(4、14)から前記実装用基板(13)上の前記マウント部(T)までの高さを取得し、
前記第2の距離測定器(7a、7b)により前記テーブル(4、14)から前記ロール(2)に貼付された前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)までの距離を取得し、
前記デバイス(C)の位置情報と前記マウント部の位置情報とを照合し、前記ロール(2)対して前記テーブル(4、14)に載置された前記実装用基板(13)をアライメントし、
前記テーブル(4、14)から前記マウント部(T)までの高さと、前記テーブル(4、14)から前記デバイス(C)までの距離から算出した近接距離に基づき、前記デバイス(C)と前記マウント部(T)とが接触可能となるように、前記ロール(2)を前記テーブル(4、14)に近接させ、
前記ロール(2)を回転させながら前記テーブル(4、14)を相対的に移動させることで、前記デバイス(C)を前記マウント部(T)に転写することを特徴とする。
A device mounting method using a device mounting apparatus according to the present invention includes:
A step S1 of sticking the adhesive sheet (1) on the roll (2);
a step S2 of primarily transferring the device (C) on the transfer source sheet (3) to the adhesive sheet (1);
a step S3 of measuring the position of the device (C) on the adhesive sheet (1);
a step S4 of secondary transfer of the device (C) on the adhesive sheet (1) to the mounting substrate (13),
In step S3,
An image of the device (C) on the adhesive sheet (1) photographed by the roll camera (20) is processed to obtain position information of the device (C),
In step S4,
an image of the mounting portion (T) on the mounting substrate (13) photographed by the table camera (21) is processed to acquire positional information of the mounting portion;
Obtaining the height from the table (4, 14) to the mount portion (T) on the mounting board (13) by the first distance measuring device (6),
Acquiring the distance from the table (4, 14) to the device (C) on the adhesive sheet (1) attached to the roll (2) by the second distance measuring device (7a, 7b),
aligning the mounting board (13) placed on the table (4, 14) with respect to the roll (2) by collating the positional information of the device (C) with the positional information of the mounting portion;
Based on the proximity distance calculated from the height from the table (4, 14) to the mount part (T) and the distance from the table (4, 14) to the device (C), the device (C) and the Bringing the roll (2) close to the table (4, 14) so that it can come into contact with the mount part (T),
The device (C) is transferred to the mount (T) by relatively moving the tables (4, 14) while rotating the roll (2).

このような構成とすることで、ロール2に貼付された粘着シート1を介して、転写元シート3から実装基板13に、正確に一括して転写することができるとともに、粘着シート1の張り替えが容易であり、適切な条件でデバイスCの実装基板13への転写を実行することができる。 With such a configuration, it is possible to transfer from the transfer source sheet 3 to the mounting substrate 13 accurately and collectively through the adhesive sheet 1 attached to the roll 2, and the adhesive sheet 1 can be replaced. It is easy and the device C can be transferred to the mounting board 13 under appropriate conditions.

本発明によれば、転写元シートから転写先の実装基板へデバイスを精度よく位置制御し、一括して転写することを可能とするデバイス実装装置とこの装置を用いたデバイス実装方法を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a device mounting apparatus and a device mounting method using this apparatus, which can accurately position-control devices from a transfer source sheet to a transfer destination mounting board and transfer the devices all at once. can be done.

図1(A)はデバイス実装装置100の主要な構成を示す斜視図であり、図1(B)は、デバイス実装装置100の主要な構成要素及びそれらを制御する制御装置80の構成図である。FIG. 1A is a perspective view showing the main configuration of the device mounting apparatus 100, and FIG. 1B is a configuration diagram of the main components of the device mounting apparatus 100 and a control device 80 that controls them. . 図2(A)は、転写前のデバイスCを配列した転写元シート3を示す平面図である。図2(B)は、転写先のチップ(マウント部)Tが形成された実装基板(転写先基板)13を示す平面図である。FIG. 2A is a plan view showing the transfer source sheet 3 on which the devices C are arranged before transfer. FIG. 2B is a plan view showing a mounting substrate (transfer destination substrate) 13 on which a transfer destination chip (mount portion) T is formed. 図3(A)は、一次転写の各工程における第1のテーブル4とロール2との相対的な位置関係を説明する模式図であり、図3(B)は、二次転写の各工程における第2のテーブル14とロール2との相対的な位置関係を説明する模式図である。FIG. 3A is a schematic diagram illustrating the relative positional relationship between the first table 4 and the roll 2 in each step of primary transfer, and FIG. FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a relative positional relationship between a second table 14 and rolls 2; 図4(A)は、粘着シート1をロール2に貼り付ける前の様子を示す斜視図であり、図4(B)は第1のテーブル4に吸着固定された粘着シート1を示す拡大断面図であり、図4(C)は粘着シート1をロール2に貼り付けた後の様子を示す斜視図であり、図4(D)は複数の粘着シート1を貼付したロール2と第1のテーブル4とを示す断面図である。FIG. 4A is a perspective view showing the adhesive sheet 1 before being attached to the roll 2, and FIG. 4B is an enlarged cross-sectional view showing the adhesive sheet 1 fixed to the first table 4 by suction. 4(C) is a perspective view showing a state after the adhesive sheet 1 is attached to the roll 2, and FIG. 4(D) is a roll 2 to which a plurality of adhesive sheets 1 are attached and the first table. 4 is a sectional view showing 4. FIG. 図5(A)は、粘着シート1が貼付されたロール2を回転させながら第1のテーブル4を相対的に移動させる一次転写の直前の様子を示す模式図であり、図5(B)、(C)は、一次転写によって粘着シート1にデバイスCが転写される様子を模式的に説明する部分拡大断面図である。FIG. 5(A) is a schematic diagram showing a state immediately before primary transfer in which the first table 4 is relatively moved while rotating the roll 2 to which the adhesive sheet 1 is attached. (C) is a partially enlarged cross-sectional view schematically explaining how the device C is transferred to the adhesive sheet 1 by primary transfer. 図6(A)は、ロール2を回転させながら第2のテーブルを相対的に移動させる二次転写の直前の様子を示す模式図であり、図6(B)、(C)は、実装基板13上のチップTの上にデバイスCが二次転写される様子を模式的に説明する拡大断面図である。FIG. 6A is a schematic diagram showing a state immediately before secondary transfer in which the second table is relatively moved while rotating the roll 2, and FIGS. 6B and 6C are mounting substrates. 13 is an enlarged cross-sectional view schematically explaining how a device C is secondarily transferred onto a chip T on 13. FIG. 図7(A)、(B)、(C)は、実装基板13上のチップTに3種類のデバイスCが順に転写された例を示す平面図である。7A, 7B, and 7C are plan views showing an example in which three types of devices C are sequentially transferred onto a chip T on the mounting substrate 13. FIG. 図8(A)は、第1のテーブル4の上方に第2のカメラ21が設置された様子を示す模式図であり、図8(B)は、転写元シート3に対する第2のカメラ21の視野FL21を示す模式図であり、図8(C)は第2のカメラ21の視野を模式的示す拡大図である。FIG. 8A is a schematic diagram showing a state in which the second camera 21 is installed above the first table 4, and FIG. FIG. 8C is an enlarged view schematically showing the field of view FL21. FIG. 図9(A)は、2台の第2のカメラ21により、第1のテーブル4上に傾いて配列されたデバイスCを観察した画像の例を模式的に示す平面図であり、図9(B)は第2のカメラ21と第1のテーブル4との関係を示す模式図であり、図9(C)は、転写元シート3上の第2のカメラ21の視野を模式的に示す平面図である。FIG. 9(A) is a plan view schematically showing an example of an image observed by the two second cameras 21 of the devices C arranged at an angle on the first table 4. FIG. 9B) is a schematic diagram showing the relationship between the second camera 21 and the first table 4, and FIG. 9C is a plan view schematically showing the field of view of the second camera 21 on the transfer source sheet 3. It is a diagram. 図10(A)は、一次転写によりロール2の粘着シート1にデバイスCが転写された後の様子を示す模式図であり、図10(B)は、粘着シート1上のデバイスCを、第2のテーブル14上の実装基板13に二次転写する準備段階の様子を示す模式図である。FIG. 10A is a schematic diagram showing a state after the device C is transferred to the adhesive sheet 1 of the roll 2 by primary transfer, and FIG. 2 is a schematic diagram showing a preparatory stage for secondary transfer to the mounting substrate 13 on the table 14 of No. 2. FIG. 図11はデバイス実装方法の全体フローを示すフロー図である。FIG. 11 is a flowchart showing the overall flow of the device mounting method. 図12は、ステップS1(粘着シート貼付)をより詳細なステップに分解して説明するフロー図である。FIG. 12 is a flowchart for explaining step S1 (adhesion of adhesive sheet) by disassembling it into more detailed steps. 図13は、転写元シート3からロール2に貼付された粘着シート1にデバイスCを一次転写するステップS2を説明するフロー図である。FIG. 13 is a flowchart for explaining step S2 of primarily transferring the device C from the transfer source sheet 3 to the adhesive sheet 1 attached to the roll 2. As shown in FIG. 図14は、ロール2に貼付された粘着シート1上のデバイスCの位置を計測するステップS3と、粘着シート1から実装基板13のチップT上に二次転写するステップS4を説明するフロー図である。FIG. 14 is a flowchart for explaining the step S3 of measuring the position of the device C on the adhesive sheet 1 attached to the roll 2 and the step S4 of secondary transfer from the adhesive sheet 1 onto the chip T of the mounting board 13. FIG. be.

以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。但し、以下の実施形態は、いずれも本発明の要旨の認定において限定的な解釈を与えるものではない。また、同一又は同種の部材については同じ参照符号を付して、説明を省略することがある。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. However, none of the following embodiments provide a restrictive interpretation in identifying the gist of the present invention. Also, the same reference numerals are given to members of the same or similar type, and description thereof may be omitted.

(第1の実施形態)-デバイス実装装置-
図1(A)はデバイス実装装置100の主要な構成を示す斜視図であり、図1(B)は、デバイス実装装置100の主要な構成要素及びそれらを制御する制御装置80の構成図である。
デバイス実装装置100は、ロール2と、転写対象であるデバイスCを有する転写元シート1を載置して水平に移動可能な第1のテーブル(定盤)4と、デバイスCの転写先である実装基板13を載置して水平に移動可能な第2のテーブル(定盤)14と、第1のカメラ20、第2のカメラ21及び第3のカメラ22、並びにこれらを制御する制御装置80を備える。
(First Embodiment) -Device Mounting Apparatus-
FIG. 1A is a perspective view showing the main configuration of the device mounting apparatus 100, and FIG. 1B is a configuration diagram of the main components of the device mounting apparatus 100 and a control device 80 that controls them. .
The device mounting apparatus 100 includes a roll 2, a first table (surface plate) 4 on which a transfer source sheet 1 having a device C to be transferred is placed and which can be horizontally moved, and a transfer destination of the device C. A second table (surface plate) 14 on which the mounting substrate 13 is placed and which can move horizontally, a first camera 20, a second camera 21 and a third camera 22, and a control device 80 for controlling them. Prepare.

第2のカメラ21(第1のテーブル用カメラ)及び第3のカメラ22(第2のテーブル用カメラ)は、第1のテーブル4及び第2のテーブル14の表面の撮像に用いるテーブル用カメラであり、第1のカメラ20はロール2の表面の撮像に用いるロール用カメラである。
第1のカメラ20の視野は主にロール2上にあり、第2のカメラ21の視野は主に第1のテーブル4上にあり、第3のカメラ22の視野は主に第2のテーブル14上にある。第1のカメラ20は主にロール2の表面又はその貼付物を撮像し、第2のカメラ21は主に第1のテーブル4の表面又はその積載物を撮像し、第3のカメラ22は主に第2のテーブル14の表面及びその積載物を撮像することができる。いずれのカメラも第1のテーブル4及び第2のテーブル14の表面より上方に設置されており、第1のテーブル4及び第2のテーブル14の各テーブル駆動機構と干渉することがない。
The second camera 21 (first table camera) and the third camera 22 (second table camera) are table cameras used for imaging the surfaces of the first table 4 and the second table 14. The first camera 20 is a roll camera used for imaging the surface of the roll 2 .
The field of view of the first camera 20 is mainly on the roll 2, the field of view of the second camera 21 is mainly on the first table 4, and the field of view of the third camera 22 is mainly on the second table 14. It is above. The first camera 20 mainly images the surface of the roll 2 or its stuck material, the second camera 21 mainly images the surface of the first table 4 or its load, and the third camera 22 mainly The surface of the second table 14 and its load can be imaged immediately. Both cameras are installed above the surfaces of the first table 4 and the second table 14 and do not interfere with the respective table driving mechanisms of the first table 4 and the second table 14 .

ロール2は断面が円形の円筒形状であり、その中心(回転軸J)の周りに回転可能なように、両端のシャフト2Sが不図示の軸受けにより支持されている。ロール2は不図示の昇降機構及び回転機構を有するロール駆動機構により昇降及び回転が可能である。具体的には、シャフト2Sには回転機構により回転運動が伝達され、ロール2のシャフト2Sを支持する軸受けは、昇降機構により、鉛直方向(図中Z軸方向)に移動が可能である。従って、昇降機構は、回転軸Jを水平に維持しながらロール2を鉛直方向に移動させることが可能である。
ロール駆動機構は制御装置80により制御される。昇降機構によるロール2のZ軸方向(鉛直方向)の位置は、制御装置80が所有する共通の座標系(又は絶対座標)により制御することができる。
また、ロール2の回転を可能にする回転機構も制御装置80により制御することができ、回転角は制御装置80が所有する共通の座標系により制御することができる。
The roll 2 has a cylindrical shape with a circular cross section, and shafts 2S at both ends are supported by bearings (not shown) so as to be rotatable around its center (rotational axis J). The roll 2 can be moved up and down and rotated by a roll driving mechanism having a lifting mechanism and a rotating mechanism (not shown). Specifically, rotational motion is transmitted to the shaft 2S by a rotation mechanism, and the bearings supporting the shaft 2S of the roll 2 are movable in the vertical direction (the Z-axis direction in the figure) by the lifting mechanism. Therefore, the lifting mechanism can move the roll 2 in the vertical direction while maintaining the rotation axis J horizontally.
The roll drive mechanism is controlled by controller 80 . The position of the roll 2 in the Z-axis direction (vertical direction) by the lifting mechanism can be controlled by a common coordinate system (or absolute coordinates) owned by the control device 80 .
The rotation mechanism that enables rotation of the roll 2 can also be controlled by the control device 80, and the rotation angle can be controlled by a common coordinate system owned by the control device 80. FIG.

第1のテーブル4及び第2のテーブル14は、回転軸Jの方向(図中X軸方向)及び回転軸Jに垂直な方向(図中Y軸方向)に平行移動可能である。
例えば、図中Y軸方向にガイドレールを配置し、ガイドレールに沿って第1のテーブル4及び第2のテーブル14を移動させることで、正確にY軸方向へ第1のテーブル4及び第2のテーブル14を移動させることができる。Y軸方向のガイドが確定すると、Y軸方向に移動可能なステージを設け、このステージ上にX軸方向への移動機構を設けることにより、第1のテーブル4及び第2のテーブル14を水平にX軸方向及びY軸方向に移動させることができる。
The first table 4 and the second table 14 can be translated in the direction of the rotation axis J (the X-axis direction in the figure) and the direction perpendicular to the rotation axis J (the Y-axis direction in the figure).
For example, by arranging a guide rail in the Y-axis direction in the drawing and moving the first table 4 and the second table 14 along the guide rail, the first table 4 and the second table 14 can be accurately moved in the Y-axis direction. table 14 can be moved. When the guide in the Y-axis direction is determined, a stage movable in the Y-axis direction is provided, and a moving mechanism in the X-axis direction is provided on this stage to horizontally move the first table 4 and the second table 14. It can be moved in the X-axis direction and the Y-axis direction.

さらに、第1のテーブル4及び第2のテーブル14は、Z軸方向(鉛直方向)に平行な回転軸の周りに回転可能に構成されている。例えばY軸方向に移動可能なステージにZ軸周りの回転機構を設けることにより、Z軸の周りに回転可能に構成することができる。 Furthermore, the first table 4 and the second table 14 are configured to be rotatable around a rotation axis parallel to the Z-axis direction (vertical direction). For example, by providing a stage movable in the Y-axis direction with a rotating mechanism about the Z-axis, the stage can be configured to be rotatable about the Z-axis.

このように、第1のテーブル4及び第2のテーブル14は、それぞれ個別に、角度調整のためZ軸周りに回転させる回転機構と、Y方向に平行移動させる並進移動機構(Y方向移動機構)と、X方向に移動させる横断移動機構(X方向移動機構)とを備える。
水平に直交する2つの軸方向(X軸方向及びY軸方向)の移動と鉛直方向(Z軸)の周りの回転との3つの運動は、それぞれ独立して制御される。
In this way, the first table 4 and the second table 14 each have a rotation mechanism that rotates around the Z axis for angle adjustment and a translation mechanism that translates in the Y direction (Y direction movement mechanism). and a transverse movement mechanism (X-direction movement mechanism) for moving in the X-direction.
The three motions, movement in two horizontally orthogonal axes (X-axis and Y-axis) and rotation about the vertical direction (Z-axis), are independently controlled.

これらの駆動機構は、制御装置80からの指令により、駆動させることができる。
回転機構、並進移動機構、横断移動機構の駆動装置として、例えばサーボモータ等を使用し、回転角、並進移動量、横断移動量を正確に制御できる。
制御装置80は、デバイス実装装置100の共通の座標系により、全ての回転機構、並進移動機構、横断移動機構を制御することができる。
These drive mechanisms can be driven by commands from the control device 80 .
For example, a servomotor or the like is used as a driving device for the rotation mechanism, the translational movement mechanism, and the transverse movement mechanism, so that the rotation angle, the amount of translational movement, and the amount of transverse movement can be accurately controlled.
The control device 80 can control all rotating mechanisms, translational movement mechanisms, and transverse movement mechanisms by using the common coordinate system of the device mounting apparatus 100 .

第1のテーブル4及び第2のテーブル14は、並進移動機構により、ロール2からY軸に平行な方向に離隔した位置と、ロール2の下方の位置とを往復することができる。
Y軸に平行な方向に沿った第1のテーブル4及び第2のテーブル14の移動経路の上方には、距離測定器(変位計)6が設けられている。
距離測定器6は、好適にはロール2のX軸方向中央に近接し、ロール2と干渉しない位置に配置される。距離測定器6の計測エリアは鉛直方向下向きに設定されている。
距離測定器6は、距離測定器6と第1のテーブル4及び第2のテーブル14の表面までの距離を測定することができ、例えばレーザ光を用いたセンサ等の公知の変位計を用いることができる。また、距離測定器6は、さらに、第1のテーブル4又は第2のテーブル14に載置された積載物の表面までの距離も測定可能であり、第1のテーブル4又は第2のテーブル14上の積載物の高さも測定可能である。例えば、距離測定器6は第1のテーブルに載置された粘着シート1の膜厚、転写元シート3の膜厚、第1のテーブルの表面から転写元シート3の表面(又はデバイスCの表面)までの高さ、第2のテーブル14の表面から載置された実装基板13のチップTの表面までの高さの測定が可能である。
The first table 4 and the second table 14 can reciprocate between a position separated from the roll 2 in a direction parallel to the Y-axis and a position below the roll 2 by means of a translation mechanism.
A distance measuring device (displacement meter) 6 is provided above the movement path of the first table 4 and the second table 14 along the direction parallel to the Y-axis.
The distance measuring device 6 is preferably placed close to the center of the roll 2 in the X-axis direction so as not to interfere with the roll 2 . The measurement area of the distance measuring device 6 is set downward in the vertical direction.
The distance measuring device 6 can measure the distance between the distance measuring device 6 and the surfaces of the first table 4 and the second table 14. For example, a known displacement meter such as a sensor using a laser beam can be used. can be done. Further, the distance measuring device 6 can also measure the distance to the surface of the load placed on the first table 4 or the second table 14, and the distance to the surface of the load placed on the first table 4 or the second table 14 The height of the upper load can also be measured. For example, the distance measuring device 6 measures the film thickness of the adhesive sheet 1 placed on the first table, the film thickness of the transfer source sheet 3, the surface of the transfer source sheet 3 from the surface of the first table (or the surface of the device C). ) and the height from the surface of the second table 14 to the surface of the chip T on the mounted substrate 13 can be measured.

なお、距離測定器6は、単独のセンサから構成されても良いが、さらに精度の向上等のためセンサが直線上に整列した一次元アレイセンサであってもよい。
距離測定器6として2次元平面にセンサが整列した二次元アレイセンサの採用を排除するものではないが、第1のテーブル4及び第2のテーブル14が移動機構を備えているため、直線上に整列したアレイセンサにより、2次元平面の位置検出が可能である。
The distance measuring device 6 may be composed of a single sensor, or may be a one-dimensional array sensor in which sensors are arranged in a straight line for the purpose of improving accuracy.
Although the use of a two-dimensional array sensor in which the sensors are aligned on a two-dimensional plane as the distance measuring device 6 is not excluded, since the first table 4 and the second table 14 are provided with a moving mechanism, they can be arranged in a straight line. Aligned array sensors allow two-dimensional planar position detection.

また、第1のテーブル4は後述するように、第1のテーブル4とロール2との距離を測定する距離測定器7a、7bを備えている。また、第2のテーブル14も第2のテーブル14とロール2との距離を測定する距離測定器7a、7bを備えることができる。
距離測定器7a、7bの計測エリアは鉛直方向上向きに設定されている。
距離測定器7a、7bは、例えばレーザ光を用いたセンサ等の公知の変位計を用いることができる。
Further, the first table 4 is provided with distance measuring devices 7a and 7b for measuring the distance between the first table 4 and the roll 2, as will be described later. Also, the second table 14 can be provided with distance measuring devices 7a, 7b for measuring the distance between the second table 14 and the roll 2. FIG.
The measurement areas of the distance measuring devices 7a and 7b are set vertically upward.
Known displacement gauges such as sensors using laser beams can be used as the distance measuring devices 7a and 7b.

図1(B)に示すように、制御装置80は、演算処理を行う演算部と、制御プログラムやデータを保存する記憶装置と、制御装置80が制御するデバイス実装装置100の構成要素と信号の入出力を行うIO部を備える。 As shown in FIG. 1B, the control device 80 includes an arithmetic unit that performs arithmetic processing, a storage device that stores control programs and data, and components and signals of the device mounting apparatus 100 controlled by the control device 80. An IO unit for input/output is provided.

制御装置80は、第1のカメラ20、第2のカメラ21及び第3のカメラ22からの出力信号である画像信号を入力し、画像処理を行い、処理結果等を記憶装置に保存する。また、距離測定器6、距離測定器7a、7bからの出力信号を入力し、各種の距離等を算出し、算出結果等を記憶装置に保存する。
さらに、制御装置80は、第1のテーブル4のX軸方向駆動機構(横断移動機構)、Y軸方向駆動機構(並進移動機構)及び回転駆動機構、並びに第2のテーブル14のX軸方向駆動機構、Y軸方向駆動機構及び回転駆動機構を制御し、駆動することができる。また、制御装置80は、ローラ2の回転駆動機構、昇降機構を制御し、駆動することができる。
記憶装置には、デバイスCを転写基シート1から実装基板13に転写するフローシーケンス(制御プログラム)が保存されており、制御装置80はフローシーケンスに従い第1のテーブル4、第2のテーブル14及びローラ2を制御することができる。
The control device 80 receives image signals, which are output signals from the first camera 20, the second camera 21 and the third camera 22, performs image processing, and stores the processing results and the like in a storage device. It also receives output signals from the distance measuring device 6 and the distance measuring devices 7a and 7b, calculates various distances, and saves the calculation results in a storage device.
Further, the control device 80 controls the X-axis direction driving mechanism (transverse movement mechanism), the Y-axis direction driving mechanism (translational movement mechanism) and the rotation driving mechanism of the first table 4, and the X-axis direction driving mechanism of the second table 14. mechanism, the Y-axis drive mechanism and the rotary drive mechanism can be controlled and driven. Further, the control device 80 can control and drive the rotation driving mechanism and the lifting mechanism of the roller 2 .
The storage device stores a flow sequence (control program) for transferring the device C from the transfer base sheet 1 to the mounting substrate 13, and the control device 80 follows the flow sequence to create the first table 4, the second table 14 and the Roller 2 can be controlled.

なお、第1のカメラ20、第2のカメラ21及び第3のカメラ22は、ロール2の回転軸Jに平行な方向(X軸方向)に移動可能に構成してもよい。その場合、制御装置80は第1のカメラ20、第2のカメラ21及び第3のカメラ22の移動装置を制御する。 Note that the first camera 20, the second camera 21, and the third camera 22 may be configured to be movable in a direction parallel to the rotation axis J of the roll 2 (X-axis direction). In that case, the control device 80 controls the moving devices of the first camera 20 , the second camera 21 and the third camera 22 .

図2(A)は、転写前のデバイスCを配列した転写元シート3を示す平面図である。図2(B)は、デバイスCの転写先のチップ(マウント部)Tが形成された実装基板(転写先基板)13を示す平面図である。実装基板13の周囲には位置合わせのためのアライメントマーク5が設けられている。チップTとして、配線、コネクタ、スイッチング素子、半導体素子等が例示される。 FIG. 2A is a plan view showing the transfer source sheet 3 on which the devices C are arranged before transfer. FIG. 2B is a plan view showing a mounting substrate (transfer destination substrate) 13 on which a chip (mount portion) T to which the device C is transferred is formed. Alignment marks 5 for alignment are provided around the mounting substrate 13 . Examples of the chip T include wiring, connectors, switching elements, semiconductor elements, and the like.

複数のデバイスCは直交するX軸方向及びY軸方向に所定の間隔で整列して配置されている。すなわち、複数のデバイスCは格子点上に配置されており、X軸方向に一定のピッチCxで配置され、かつY軸方向に一定のピッチCyで配置されている。
同様に複数のチップTは直交するX軸方向及びY軸方向に所定の間隔で整列して配置されている。複数のデバイスTは格子点上に配置されており、X軸方向に一定のピッチTxで配置され、かつY軸方向に一定のピッチTyで配置されている。
デバイスCを一括して転写元シート3から実装基板13に転写するため、Cx=nTxでありCy=mTyである。ただし、n、mは自然数である。
A plurality of devices C are aligned and arranged at predetermined intervals in the orthogonal X-axis direction and Y-axis direction. That is, the plurality of devices C are arranged on lattice points, arranged at a constant pitch Cx in the X-axis direction, and arranged at a constant pitch Cy in the Y-axis direction.
Similarly, a plurality of chips T are aligned and arranged at predetermined intervals in the orthogonal X-axis direction and Y-axis direction. A plurality of devices T are arranged on lattice points, arranged at a constant pitch Tx in the X-axis direction and at a constant pitch Ty in the Y-axis direction.
Since the devices C are collectively transferred from the transfer source sheet 3 to the mounting substrate 13, Cx=nTx and Cy=mTy. However, n and m are natural numbers.

第1のテーブル4及び第2のテーブル14は、チャッキング機構、例えば真空チャックを備えている。第1のテーブル4及び第2のテーブル14は、チャッキング機構により、それぞれ転写元シート3及び実装基板13を載置し固定可能である。 The first table 4 and the second table 14 are provided with chucking mechanisms, such as vacuum chucks. The first table 4 and the second table 14 can place and fix the transfer source sheet 3 and the mounting substrate 13, respectively, by a chucking mechanism.

以下、図を参照して、デバイス実装装置100の基本的な動作について説明する。 The basic operation of the device mounting apparatus 100 will be described below with reference to the drawings.

図3は、デバイスCを転写元シート3からロール2上の粘着シート1に転写(移送)する一次転写と、デバイスCをロール2上の粘着シート1から実装基板13に転写(移送)する二次転写の概要を示す説明図である。
図3(A)は、一次転写の各工程における第1のテーブル4とロール2との相対的な位置関係を説明する図であり、図3(B)は、二次転写の各工程における第2のテーブル14とロール2との相対的な位置関係を説明する図である。
以下、一次転写及び二次転写の概要について説明する。
FIG. 3 shows primary transfer in which the device C is transferred (transferred) from the transfer source sheet 3 to the adhesive sheet 1 on the roll 2, and secondary transfer in which the device C is transferred (transferred) from the adhesive sheet 1 on the roll 2 to the mounting board 13. FIG. 4 is an explanatory diagram showing an outline of next transfer;
FIG. 3A is a diagram for explaining the relative positional relationship between the first table 4 and the roll 2 in each step of primary transfer, and FIG. 2 is a diagram for explaining the relative positional relationship between the table 14 of No. 2 and the roll 2. FIG.
An outline of primary transfer and secondary transfer will be described below.

<一次転写>
以下、図3(A)を参照し一次転写の概要を工程順に説明する。一次転写の主要工程は以下のとおり。
(1)第1のテーブル4をロール2に向かって前進させ、転写開始位置に移動し、ロール2と第1のテーブル4とのアライメントを実行する。
(2)ロール2に貼付した粘着シート1が転写元シート3上のデバイスCに接触可能な位置までロール2を下降させる。
(3)ロール2を回転し、ロール2の回転と同期して第1のテーブル4を平行移動させ、転写元シート3上のデバイスCのロール2に貼付した粘着シート1への転写(移転)を開始する。
(4)転写元シート3上のデバイスCを、1列ずつロール2に貼付した粘着シート1上に転写(移転)する。転写元シート3上の全てのデバイスCの粘着シート1への転写が完了した後に、ロール2の回転と第1のテーブル4の移動とを停止する。
(5)ロール2を上昇する。
(6)ロール2を回転し、第1のテーブル4を移動して、それぞれ原点復帰する(ホームポジションに戻す)。
なお、相対的な位置関係示すものであり、例えばロール2を第1のテーブル4に対して前進後退してもよく、また第1のテーブル4をロール2に対して上昇下降させてもよい。
ロール2と第1のテーブル4とを水平方向又は鉛直方向に近接又は遠隔せしめればよい。
なお、第2のテーブル14とロール2との関係についても同様である。
<Primary transfer>
The outline of the primary transfer will be described below in order of steps with reference to FIG. The main steps of primary transfer are as follows.
(1) The first table 4 is advanced toward the roll 2, moved to the transfer start position, and the roll 2 and the first table 4 are aligned.
(2) The roll 2 is lowered to a position where the adhesive sheet 1 attached to the roll 2 can contact the device C on the transfer source sheet 3 .
(3) Rotate the roll 2, move the first table 4 parallel in synchronization with the rotation of the roll 2, and transfer (transfer) the device C on the transfer source sheet 3 to the adhesive sheet 1 attached to the roll 2. to start.
(4) The devices C on the transfer source sheet 3 are transferred (transferred) row by row onto the adhesive sheet 1 attached to the roll 2 . After the transfer of all the devices C on the transfer source sheet 3 to the adhesive sheet 1 is completed, the rotation of the roll 2 and the movement of the first table 4 are stopped.
(5) Raise roll 2;
(6) Rotate the roll 2, move the first table 4, and return to the origin (return to the home position).
It should be noted that this indicates a relative positional relationship.
The roll 2 and the first table 4 may be brought closer or farther in the horizontal or vertical direction.
The relationship between the second table 14 and the roll 2 is the same.

<二次転写>
以下、図3(B)を参照し二次転写の概要を工程順に説明する。二次転写の主要工程は以下のとおり。
(1)第2のテーブル14をロール2に向かって前進させ、転写開始位置に移動し、ロール2と第2のテーブル14とのアライメントを実行する。
(2)下降して粘着シート1に粘着されたデバイスCが実装基板13上のチップTに接触可能な位置までロール2を下降させる。
(3)ロール2を回転し、ロール2の回転と同期して第2のテーブル14を平行移動させ、粘着シート1に粘着されたデバイスCを実装基板13上のチップTへの転写(移転)を開始する。
(4)粘着シート1上のデバイスCを1列ずつ実装基板13上のチップT上に転写(移転)する。粘着シート1上の全てのデバイスCのチップTへの転写が完了した後に、ロール2の回転と第2のテーブル14の移動とを停止する。
(5)ロール2を上昇する。
(6)ロール2を回転し、第2のテーブル14を移動して、それぞれ原点復帰する(ホームポジションに戻す)。
以下、主要な工程について詳細に説明する。
<Secondary transfer>
The outline of the secondary transfer will be described below in order of steps with reference to FIG. 3(B). The main steps of secondary transcription are as follows.
(1) Advance the second table 14 toward the roll 2, move to the transfer start position, and perform alignment between the roll 2 and the second table 14;
(2) The roll 2 is lowered to a position where the device C adhered to the adhesive sheet 1 can come into contact with the chip T on the mounting board 13 .
(3) Rotate the roll 2, move the second table 14 in parallel in synchronization with the rotation of the roll 2, and transfer (transfer) the device C adhered to the adhesive sheet 1 to the chip T on the mounting substrate 13. to start.
(4) The devices C on the adhesive sheet 1 are transferred (transferred) to the chips T on the mounting board 13 row by row. After all the devices C on the adhesive sheet 1 have been transferred to the chips T, the rotation of the roll 2 and the movement of the second table 14 are stopped.
(5) Raise roll 2;
(6) Rotate the roll 2, move the second table 14, and return to the origin (return to the home position).
Main steps will be described in detail below.

<粘着シートの貼付>
デバイス実装装置100は、転写元シート3上のデバイスCを移送し、実装基板13のチップT上に実装するため、中間媒体としてロール2を使用する。
ロール2は、一旦その表面にデバイスCを粘着し、デバイスCを粘着した状態でロール2の下方に実装基板13が移動し、その後、ロール2表面からデバイスCを剥離し、実装基板13のチップT上に実装する。
<Affixing the adhesive sheet>
The device mounting apparatus 100 uses the roll 2 as an intermediate medium to transfer the device C on the transfer source sheet 3 and mount it on the chip T of the mounting substrate 13 .
The device C is once adhered to the surface of the roll 2, and the mounting substrate 13 is moved under the roll 2 while the device C is adhered. Implement on T.

ロール2の表面に粘着性を備えさせるためは、ロール2の表面を粘着性を有する材料により構成することが考えられる。
しかし、ロール2の粘着表面において、デバイスCの粘着と剥離とを繰り返すと、ロール2の粘着面は汚染等により粘着性が低下することになる。粘着面が汚染された場合には、粘着面を洗浄することにより、ある程度の粘着性の回復は期待されるものの、所望の粘着性を維持し続けることは困難となる。所望の粘着性が確保できない場合、ロール2の交換又はロール2の表面の再加工が必要となる。
In order to provide the surface of the roll 2 with adhesiveness, it is conceivable to configure the surface of the roll 2 with a material having adhesiveness.
However, if the device C is repeatedly adhered and peeled off on the adhesive surface of the roll 2, the adhesive surface of the roll 2 will become less adhesive due to contamination or the like. When the adhesive surface is contaminated, it is expected that the adhesiveness will recover to some extent by washing the adhesive surface, but it will be difficult to maintain the desired adhesiveness. If the desired adhesiveness cannot be secured, replacement of the roll 2 or reprocessing of the surface of the roll 2 is required.

そのため、本デバイス実装装置100においては、ロール2の表面自体に粘着性を持たせるのではなく、ロール2の表面を例えばステンレス等の金属で構成し、ロール2に粘着シート1を貼付する。
粘着シート1の粘着性が低下した場合には、ロール2の粘着シート1を剥離し、その後ロール2の表面を洗浄することで、新しい粘着シート1を貼付することができ、所望の粘着力を維持することが可能となる。
以下、図4を参照し、粘着シート1のロール2の表面への貼付け工程を説明する。
Therefore, in the device mounting apparatus 100, the surface of the roll 2 is made of a metal such as stainless steel, and the adhesive sheet 1 is attached to the roll 2, instead of making the surface of the roll 2 itself adhesive.
When the adhesiveness of the adhesive sheet 1 is reduced, the adhesive sheet 1 on the roll 2 is peeled off, and then the surface of the roll 2 is washed, so that a new adhesive sheet 1 can be applied, and the desired adhesive strength can be obtained. can be maintained.
The step of attaching the adhesive sheet 1 to the surface of the roll 2 will be described below with reference to FIG.

図4は、粘着シート1を円筒形状のロール2に取り付ける工程を示す模式図である。図4(A)は、粘着シート1をロール2に貼り付ける前の様子を示す斜視図であり、図4(B)は第1のテーブル4に吸着固定された粘着シート1を示す拡大断面図であり、図4(C)は粘着シート1をロール2に貼り付けた後の様子を示す斜視図であり、図4(D)は複数の粘着シート1を貼付したロール2と第1のテーブル4とを示す断面図である。 FIG. 4 is a schematic diagram showing the process of attaching the adhesive sheet 1 to the cylindrical roll 2. As shown in FIG. FIG. 4A is a perspective view showing the adhesive sheet 1 before being attached to the roll 2, and FIG. 4B is an enlarged cross-sectional view showing the adhesive sheet 1 fixed to the first table 4 by suction. 4(C) is a perspective view showing a state after the adhesive sheet 1 is attached to the roll 2, and FIG. 4(D) is a roll 2 to which a plurality of adhesive sheets 1 are attached and the first table. 4 is a sectional view showing 4. FIG.

図4(A)に示すように、第1のテーブル4には粘着シート1が載置される。第1のテーブル4に粘着シート1が載置された後、粘着シート1の位置ずれを防止するため、第1のテーブル4のチャッキング機構により粘着シート1が固定される。 As shown in FIG. 4(A), the adhesive sheet 1 is placed on the first table 4 . After the adhesive sheet 1 is placed on the first table 4 , the adhesive sheet 1 is fixed by the chucking mechanism of the first table 4 in order to prevent the adhesive sheet 1 from shifting.

ロール2は、図中X軸に平行な回転軸Jの周りに回転することができる。また、ロール2は、鉛直方向(図中Z軸方向)に上下に移動が可能であり、鉛直方向の昇降機構により、ロール2の下降量を制御し、ロール2の表面を第1のテーブル4の粘着シート1に接触させることができる。
なお、ロール2の下降量(ロール2と第1のテーブル4との近接距離)は、距離測定器7a、7bにより測定されたロール2の表面と第1のテーブルとの距離、距離測定器6により測定された粘着シート1の膜厚に基づいて、制御装置80によって決定してもよい。
The roll 2 can rotate around a rotation axis J parallel to the X-axis in the drawing. In addition, the roll 2 can move up and down in the vertical direction (the Z-axis direction in the figure), and the vertical elevating mechanism controls the amount of descent of the roll 2 so that the surface of the roll 2 moves to the first table 4 . can be brought into contact with the adhesive sheet 1.
The amount of descent of the roll 2 (proximity distance between the roll 2 and the first table 4) is the distance between the surface of the roll 2 and the first table measured by the distance measuring devices 7a and 7b, the distance measuring device 6 may be determined by the controller 80 based on the film thickness of the pressure-sensitive adhesive sheet 1 measured by .

一方、第1のテーブル4は、図中Y軸方向にロール2に向かって水平に移動することができる。
ロール2の表面を第1のテーブル4の粘着シート1に接触可能な位置に下降した状態で、ロール2を回転させながら第1のテーブル4Y軸方向に移動させることで、粘着シート1を端部の辺E1側からロール2の表面に接触させ、粘着させることができる。
On the other hand, the first table 4 can move horizontally toward the roll 2 in the Y-axis direction in the figure.
With the surface of the roll 2 lowered to a position where it can come into contact with the adhesive sheet 1 on the first table 4, the roll 2 is rotated and moved in the Y-axis direction of the first table 4, thereby removing the adhesive sheet 1 from the edge. can be brought into contact with the surface of the roll 2 from the side E1 of the roll 2 and adhered thereto.

図4(B)は、第1のテーブル4に好適に採用できるチャッキング機構の例を説明するための断面図である。チャッキング機構による粘着シート1の不均一な伸縮を防止するため、第1のテーブル4には、表面が平坦な多孔質のセラミック製のプレート41が設けられ、多孔質プレートの下部から排気通路42を介して真空排気を行うことにより、粘着シート1を多孔質プレートに真空吸着する。
粘着シート1は、粘着層1ALと保護層1PLを有する積層構造とすることができる。第1のテーブル4と保護層1PLとが接するように、粘着シート1が第1のテーブル4にチャッキングされている。保護層1PLがチャッキングされ、粘着層1ALと保護層1PLとの間で剥離し、粘着層1ALがロール2の表面に粘着する。
なお、チャキング機構は上記に限定されるものではない。
FIG. 4B is a cross-sectional view for explaining an example of a chucking mechanism that can be suitably employed in the first table 4. As shown in FIG. In order to prevent uneven expansion and contraction of the adhesive sheet 1 by the chucking mechanism, the first table 4 is provided with a porous ceramic plate 41 having a flat surface. The pressure-sensitive adhesive sheet 1 is vacuum-adsorbed to the porous plate by evacuating through.
The adhesive sheet 1 can have a laminated structure having an adhesive layer 1AL and a protective layer 1PL. The adhesive sheet 1 is chucked on the first table 4 so that the first table 4 and the protective layer 1PL are in contact with each other. The protective layer 1PL is chucked, separated between the adhesive layer 1AL and the protective layer 1PL, and the adhesive layer 1AL adheres to the surface of the roll 2. - 特許庁
Note that the chucking mechanism is not limited to the above.

粘着シート1は、保護層1PLと第1のテーブル4との間に、さらにクッション材からなる層を備えてもよい。粘着シート1をロール2の表面に貼付する際、粘着シート1の変形を低減し、粘着シート1をさらに均一にロール2の表面に貼付することができる。 The adhesive sheet 1 may further include a layer of cushioning material between the protective layer 1PL and the first table 4. As shown in FIG. When attaching the adhesive sheet 1 to the surface of the roll 2, the deformation of the adhesive sheet 1 can be reduced, and the adhesive sheet 1 can be attached to the surface of the roll 2 more uniformly.

第1のテーブル4には、距離測定器(変位計)7a、7b、例えばレーザ光による位置センサが設けられており、ロール2と第1のテーブル4との間の距離を測定可能である。
図4(A)において、距離測定器7aは、第1のテーブル4のX軸方向の両端の側壁面に設置されており、距離測定器7bは、第1のテーブル4のY軸方向の一端の側壁面に設置されている例を示すが、距離測定器7a、7bの数及び設置位置は、適宜設定可能である。
The first table 4 is provided with distance measuring devices (displacement gauges) 7a and 7b, for example, position sensors using laser beams, so that the distance between the roll 2 and the first table 4 can be measured.
In FIG. 4A, the distance measuring devices 7a are installed on the side walls of both ends of the first table 4 in the X-axis direction, and the distance measuring devices 7b are installed on one end of the first table 4 in the Y-axis direction. Although an example in which the distance measuring devices 7a and 7b are installed on the side wall surface of is shown, the number and installation positions of the distance measuring devices 7a and 7b can be set as appropriate.

ロール2を第1のテーブル4に接近させる際に、距離測定器7aにより、ロール2と第1のテーブルとの距離を測定してもよい。距離測定器7aは、粘着シート1の粘着開始位置である辺E1の延長線上で、第1のテーブル4のY軸方向の両側の側壁に設置されているため、ロール2を下降させながら第1のテーブル4とロール2の表面との距離を測定することも可能である。
予め粘着シート1の膜厚を取得しておけば、測定された距離に基づいて、ロール2の表面が粘着シート1の粘着層1ALに接触可能な位置までロール2を第1のテーブル4へと下降させることが可能となる。
第1のテーブル4に載置された粘着シート1の膜厚は、距離測定器6により測定することが可能である。距離測定器6により、距離測定器6と第1のテーブル4の表面との距離及び距離測定器6と第1のテーブル4に載置された粘着シート1の表面との距離を測定し、それらの距離の差分から粘着シート1の膜厚測定が可能である。
When the roll 2 approaches the first table 4, the distance between the roll 2 and the first table may be measured by the distance measuring device 7a. The distance measuring device 7a is installed on both side walls of the first table 4 in the Y-axis direction on the extension of the side E1, which is the adhesion start position of the adhesive sheet 1. It is also possible to measure the distance between the table 4 and the surface of the roll 2.
If the film thickness of the adhesive sheet 1 is obtained in advance, the roll 2 is moved to the first table 4 to a position where the surface of the roll 2 can contact the adhesive layer 1AL of the adhesive sheet 1 based on the measured distance. It can be lowered.
The film thickness of the adhesive sheet 1 placed on the first table 4 can be measured by the distance measuring device 6 . The distance measuring device 6 measures the distance between the distance measuring device 6 and the surface of the first table 4 and the distance between the distance measuring device 6 and the surface of the pressure-sensitive adhesive sheet 1 placed on the first table 4. It is possible to measure the film thickness of the adhesive sheet 1 from the difference in the distance of .

なお、後述するようにロール2に貼付された粘着シート1の膜厚は、距離測定器7b又は距離測定器7aを利用して測定可能である。
このように距離測定器7a、7bは、ロール2に貼付された積載物の高さを測定可能であり、例えば、ロール2の表面からロール2に貼付された粘着シート1上のデバイスCまでの高さも測定可能である。
As will be described later, the film thickness of the adhesive sheet 1 attached to the roll 2 can be measured using the distance measuring device 7b or the distance measuring device 7a.
In this way, the distance measuring devices 7a and 7b can measure the height of the load attached to the roll 2, for example, from the surface of the roll 2 to the device C on the adhesive sheet 1 attached to the roll 2. Height can also be measured.

その後、ロール2を回転させながら第1のテーブル4を平行移動させ、粘着シート1、特に粘着層1ALをロール2の表面に粘着させる。
ロール2の回転速度及び第1のテーブル4の移動速度を調整することにより、粘着シート1に接触するロール2の表面のY軸方向の移動速度(接線速度)と、第1のテーブル4のY軸方向の移動速度を等しくすることができる。
After that, the roll 2 is rotated while the first table 4 is moved in parallel so that the adhesive sheet 1 , especially the adhesive layer 1 AL is adhered to the surface of the roll 2 .
By adjusting the rotation speed of the roll 2 and the movement speed of the first table 4, the movement speed (tangential speed) of the surface of the roll 2 in contact with the adhesive sheet 1 in the Y-axis direction and the Y Axial movement speeds can be made equal.

ロール2の表面が粘着シート1に接触し、粘着シート1を押圧した状態で、ロール2が回転するとともに、第1のテーブル4がY軸方向に移動し、粘着シート1がロール2の表面に粘着される。ロール2の表面が粘着シート1を押圧する圧力は、ロール2の表面が粘着シート1を押し込む量により調節することができる。
ロール2をZ軸に平行な方向に下降させ、ロール2の表面が粘着シート1にちょうど接する位置から、ロール2を更に所定量(押し込み量)、例えば5μm下降させ、粘着シート1を押し込むことができる。
このように、距離測定器7a、7bを用いた距離測定技術を用いることにより、高精度な押し込み量の制御、すなわち押圧力の制御が可能となる。
While the surface of the roll 2 contacts the adhesive sheet 1 and presses the adhesive sheet 1, the roll 2 rotates and the first table 4 moves in the Y-axis direction, so that the adhesive sheet 1 touches the surface of the roll 2. Adhesive. The pressure with which the surface of the roll 2 presses the adhesive sheet 1 can be adjusted by the amount by which the surface of the roll 2 presses the adhesive sheet 1 .
The roll 2 is lowered in a direction parallel to the Z-axis, and from the position where the surface of the roll 2 just contacts the adhesive sheet 1, the roll 2 is further lowered by a predetermined amount (push amount), for example, 5 μm, and the adhesive sheet 1 can be pushed. can.
Thus, by using the distance measuring technique using the distance measuring devices 7a and 7b, it is possible to control the pressing amount with high accuracy, that is, control the pressing force.

なお、ロール2を下降させる代わりに、相対的に第1のテーブル4をZ軸方向に上昇させてもよく、又、ロール2及び第1のテーブル4の両方をZ軸方向に移動させてもよい。
第1のテーブル4に昇降機構を設け、制御装置80により制御すればよい。
なお、同様に第2のテーブル14に昇降機構を設け、制御装置80により制御するよう構成してもよい。
Instead of lowering the roll 2, the first table 4 may be relatively raised in the Z-axis direction, or both the roll 2 and the first table 4 may be moved in the Z-axis direction. good.
An elevating mechanism may be provided on the first table 4 and controlled by the control device 80 .
Similarly, the second table 14 may be provided with an elevating mechanism and controlled by the control device 80 .

粘着シート1をロール2の表面に粘着させた後、図4(C)に示すように、ロール2を上昇し、第1のテーブル4から離隔する。
第1のテーブル4を図4(A)の工程と逆方向に移動し、また、ロール2を図4(A)の工程と逆方向に回転させ、ホーム位置に戻す(原点復帰)ことも可能である。
After sticking the adhesive sheet 1 to the surface of the roll 2, the roll 2 is raised and separated from the first table 4 as shown in FIG. 4(C).
It is also possible to move the first table 4 in the direction opposite to the process of FIG. 4(A) and rotate the roll 2 in the direction opposite to the process of FIG. 4(A) to return to the home position (origin return). is.

図4(C)に示すように、ロール2の表面は部分的に粘着シート1に覆われ、一部のロール2の表面が露出している。距離測定器7bは、第1のテーブル4のY軸方向の一端の側壁面に設置されているため、ロール2を回転させながら距離測定器7bにより距離測定を行うことにより、粘着シート1の表面までの距離と、露出したロール2の表面までの距離を測定することができる。
その結果、粘着シート1とロール2との段差、すなわち粘着シート1の厚さを測定することができる。
さらに、粘着シート1の厚さを監視することで、粘着シート1の経時変化を観察することができる。粘着シート1の交換時期を知ることができる。また、粘着シートの表面の凹凸を距離測定器7bにより計測することも可能である。
As shown in FIG. 4C, the surface of the roll 2 is partially covered with the adhesive sheet 1, and a part of the surface of the roll 2 is exposed. Since the distance measuring device 7b is installed on the side wall surface of one end of the first table 4 in the Y-axis direction, the surface of the adhesive sheet 1 is measured by measuring the distance with the distance measuring device 7b while the roll 2 is rotated. and the distance to the exposed surface of the roll 2 can be measured.
As a result, the step between the adhesive sheet 1 and the roll 2, that is, the thickness of the adhesive sheet 1 can be measured.
Furthermore, by monitoring the thickness of the adhesive sheet 1, the change over time of the adhesive sheet 1 can be observed. It is possible to know when the adhesive sheet 1 should be replaced. Further, it is also possible to measure the unevenness of the surface of the adhesive sheet with the distance measuring device 7b.

図4(A)、(C)に示す距離測定器7a、7bは、適宜目的に合わせて配置箇所や数を設定し、第1のテーブル4に設置することができる。同様に第2のテーブル14に設置することができる。 The distance measuring instruments 7a and 7b shown in FIGS. 4A and 4C can be installed on the first table 4 by appropriately setting the location and the number of the distance measuring instruments according to the purpose. It can be installed on the second table 14 as well.

また、ロール2の表面を撮影できる第1のカメラ20(図1参照)により、粘着シート1の表面状態を観察することができる。粘着シート1の汚れ、曇り(Haze)等を第1のカメラ20により監視し、粘着シート1の経時変化を知ることで、交換時期を知ることも可能である。この場合、露出したロール2の表面(金属表面)を照度の基準にして第1のカメラ20の感度校正が可能であり、粘着シート1の表面の変化を正確に知ることができる。
また、粘着シート1に異常が観察された場合、転写を行わないように警告を発することにより、不良品の発生を防止することもできる。
Moreover, the surface state of the adhesive sheet 1 can be observed by the first camera 20 (see FIG. 1) capable of photographing the surface of the roll 2 . By monitoring dirt, haze, etc. of the adhesive sheet 1 with the first camera 20 and knowing the change over time of the adhesive sheet 1, it is also possible to know when to replace the adhesive sheet. In this case, it is possible to calibrate the sensitivity of the first camera 20 with the exposed surface (metallic surface) of the roll 2 as a reference for illuminance, and changes in the surface of the adhesive sheet 1 can be accurately known.
In addition, when an abnormality is observed in the pressure-sensitive adhesive sheet 1, it is possible to prevent the occurrence of defective products by issuing a warning not to perform the transfer.

図4(C)においては、ロール2に1枚の粘着シート1を貼付する例を示している。
予めロール2に複数枚の粘着シート1を貼付してもよい。
例えば図4(D)に示すように、転写元シート3の図中Y軸方向(ロール2の回転軸に垂直な方向)の長さが200mmの場合、直径250mmのロール2を使用し、ロール2の表面に3枚の粘着シート1a、1b、1cを約60mmの間隔を空けて貼付することができる。
3枚の粘着シート1を使用することで、粘着シート1の張り替え周期を3倍に延ばすことが可能である。
また、それぞれのシートに異なるデバイスを粘着してもよい。例えば、3原色(RGB)のLEDを、3枚の粘着シート1a、1b、1cにそれぞれ粘着させることができ、表示デバイスに、3種類(RGB)のLEDをマウントすることも可能である。
FIG. 4(C) shows an example in which one adhesive sheet 1 is attached to the roll 2 .
A plurality of adhesive sheets 1 may be attached to the roll 2 in advance.
For example, as shown in FIG. 4D, when the transfer source sheet 3 has a length of 200 mm in the Y-axis direction (the direction perpendicular to the rotation axis of the roll 2), a roll 2 with a diameter of 250 mm is used. Three adhesive sheets 1a, 1b, and 1c can be pasted on the surface of 2 with an interval of about 60 mm.
By using three pressure-sensitive adhesive sheets 1, it is possible to extend the replacement cycle of the pressure-sensitive adhesive sheets 1 by three times.
Also, different devices may be adhered to each sheet. For example, three primary color (RGB) LEDs can be adhered to three adhesive sheets 1a, 1b, and 1c, respectively, and three types of (RGB) LEDs can be mounted on the display device.

なお、この場合も、ロール2の一部の表面は露出しており、粘着シート1の膜厚測定や、表面状態の監視が可能である。 Also in this case, a part of the surface of the roll 2 is exposed, so that it is possible to measure the film thickness of the pressure-sensitive adhesive sheet 1 and monitor the surface condition.

上記のように、ロール2の下方から距離測定器7bにより、距離測定器7b(又は第1のテーブル4の表面)からロール2の表面までの距離を測定できる。さらに、ロール2を中心軸Cの周りに回転することで、ロール2に貼付された粘着シート1との距離が測定可能である。
例えば図4(D)に示す例においても、複数の粘着シート1a、1b、1cの表面から距離測定器7bまでの距離と、複数の粘着シート1a、1b、1cが貼付されていないロール2の表面から距離測定器7bまでの距離が測定できる。そのため、複数の粘着シート1a、1b、1cのそれぞれの膜厚を測定することができる。
As described above, the distance from the distance measuring device 7b (or the surface of the first table 4) to the surface of the roll 2 can be measured from below the roll 2 by the distance measuring device 7b. Furthermore, by rotating the roll 2 around the central axis C, the distance from the adhesive sheet 1 attached to the roll 2 can be measured.
For example, even in the example shown in FIG. 4(D), the distance from the surface of the plurality of adhesive sheets 1a, 1b, 1c to the distance measuring device 7b and the distance of the roll 2 to which the plurality of adhesive sheets 1a, 1b, 1c are not attached. The distance from the surface to the distance measuring device 7b can be measured. Therefore, the film thickness of each of the plurality of adhesive sheets 1a, 1b, 1c can be measured.

また、距離測定器7aを用いて、距離測定器7a(又は第1のテーブル4の表面)からロール2まで及び距離測定器7a(又は第1のテーブル4の表面)から粘着シート1までの距離を測定可能に構成してもよい。ただし、距離測定器7aから粘着シート1までの距離を測定するためには、距離測定器7aが粘着シート1の下方に位置するまで、第1のテーブル4のX軸方向への移動を可能とする必要がある。 Further, using the distance measuring device 7a, the distance from the distance measuring device 7a (or the surface of the first table 4) to the roll 2 and from the distance measuring device 7a (or the surface of the first table 4) to the adhesive sheet 1 may be configured to be measurable. However, in order to measure the distance from the distance measuring device 7a to the adhesive sheet 1, it is possible to move the first table 4 in the X-axis direction until the distance measuring device 7a is positioned below the adhesive sheet 1. There is a need to.

なお、図4(D)に示すように、距離測定器7a、7bの検出面と、第1のテーブル4の表面とを同一平面に設定することで、距離測定器7a、7bからの距離と第1のテーブル4の表面からの距離は等しくなることはいうまでもない。 As shown in FIG. 4D, by setting the detection surfaces of the distance measuring instruments 7a and 7b and the surface of the first table 4 on the same plane, the distance from the distance measuring instruments 7a and 7b and the Needless to say, the distances from the surface of the first table 4 are equal.

<一次転写>
図5(A)は、粘着シート1が貼付されたロール2を回転させながら第1のテーブル4を相対的に移動させる一次転写の直前の様子を示す模式図である。
第1のテーブル4には、デバイスCが整列された転写元シート3が載置されている。
図5(B)、(C)は、一次転写によって粘着シート1にデバイスCが転写される様子を模式的に説明する部分拡大断面図である。
<Primary transfer>
FIG. 5A is a schematic diagram showing a state immediately before primary transfer in which the first table 4 is relatively moved while rotating the roll 2 to which the adhesive sheet 1 is attached.
The transfer source sheet 3 on which the devices C are arranged is placed on the first table 4 .
FIGS. 5B and 5C are partially enlarged cross-sectional views schematically explaining how the device C is transferred to the adhesive sheet 1 by primary transfer.

図5(A)に示すように、デバイスCが整列された転写元シート3を第1のテーブルに載置する。転写元シート3の載置は、好適には搬送ロボットを使用するが、作業者によりマニュアル作業によって載置してもよい。 As shown in FIG. 5A, the transfer source sheet 3 on which the devices C are aligned is placed on the first table. The transfer source sheet 3 is preferably placed using a transport robot, but may be placed manually by an operator.

その後、転写元シート3とロール2との位置合わせを第1のテーブル4の各駆動機構により行うことができる。
図2(A)に示すように転写元シート3上に複数のデバイスCが整列して配置され、複数のデバイスCは、格子点上に規則的に配置されている。転写元シート3上のデバイスCをロール2に貼付された粘着シート1に一次転写するために、図2(A)に示す転写元シート3のX軸方向と、ロール2の回転軸Jの方向(図5(A)のX軸方向)とが平行になるように、第1のテーブル4のアライメント(位置合わせ)を行う。
Thereafter, alignment between the transfer source sheet 3 and the roll 2 can be performed by each drive mechanism of the first table 4 .
As shown in FIG. 2A, a plurality of devices C are aligned on the transfer source sheet 3, and the plurality of devices C are regularly arranged on lattice points. In order to primarily transfer the device C on the transfer source sheet 3 to the adhesive sheet 1 attached to the roll 2, the X-axis direction of the transfer source sheet 3 and the direction of the rotation axis J of the roll 2 shown in FIG. (X-axis direction in FIG. 5(A)) is aligned with the first table 4 .

第1のテーブル4は、角度調整のためZ軸周りに第1のテーブル4を回転させる回転機構と、X方向に平行移動させるX方向移動機構(移送方向移動機構)と、Y方向に移動させるY方向移動機構(横断方向移動機構)とを備える。
ロール2と第1のテーブル4上の転写元シート3のアライメントのため、回転機構により第1のテーブル4の傾きを補正することができる。アライメントは、制御装置80により、第1のテーブル4の駆動機構を制御することで実行される。
The first table 4 includes a rotation mechanism that rotates the first table 4 around the Z-axis for angle adjustment, an X-direction movement mechanism (transfer direction movement mechanism) that moves parallel in the X direction, and a Y-direction movement mechanism that moves the first table 4 in the Y direction. and a Y-direction movement mechanism (transverse direction movement mechanism).
Due to the alignment of the transfer source sheet 3 on the roll 2 and the first table 4, the inclination of the first table 4 can be corrected by the rotation mechanism. Alignment is performed by controlling the driving mechanism of the first table 4 by the control device 80 .

以下、具体的にデバイスCを粘着シート1に一次転写するフローについて説明する。
図5(A)に示すように、第1のテーブル4上の転写元シート3の一端側の辺E3をロール2側に配置する。
図5(B)に示すように、ロール2を回転させ粘着シート1の辺E1を下方に配置する。 そして、転写元シート3の辺E3に最も近いデバイスCの列が粘着シート1の下方に位置するように、第1のテーブル4を図5(A)中矢印A方向(Y軸方向)に移動する。
その後、粘着シート1が転写元シート3上のデバイスCと接触可能となるように、ロール2が下降する。例えば、粘着シート1の表面と転写元シート3上のデバイスCの表面の水平レベルを一致させる。さらにロール2を所定距離、例えば5μm下降させロール2の表面を粘着シート1に押し込むように、粘着シート1の表面と転写元シート3上のデバイスCの表面の水平レベルを設定してもよい。
Hereinafter, the flow of primary transfer of the device C to the adhesive sheet 1 will be specifically described.
As shown in FIG. 5A, the side E3 on the one end side of the transfer source sheet 3 on the first table 4 is arranged on the roll 2 side.
As shown in FIG. 5B, the roll 2 is rotated so that the side E1 of the adhesive sheet 1 faces downward. Then, the first table 4 is moved in the direction of arrow A (Y-axis direction) in FIG. do.
After that, the roll 2 is lowered so that the adhesive sheet 1 can come into contact with the device C on the transfer source sheet 3 . For example, the surface of the adhesive sheet 1 and the surface of the device C on the transfer source sheet 3 are leveled horizontally. Further, the horizontal level of the surface of the adhesive sheet 1 and the surface of the device C on the transfer source sheet 3 may be set so that the roll 2 is lowered by a predetermined distance, for example, 5 μm and the surface of the roll 2 is pushed into the adhesive sheet 1 .

次に図5(C)に示すように、ロール2を図中矢印B方向に回転させるとともに、第1のテーブル4を図中矢印C方向(Y軸方向)に移動させる。粘着シート1の表面とデバイスCとの接触部においては、粘着シート1の接線方向(Y軸方向)の接線速度と転写元シート3上のデバイスCのY軸方向の移動速度が等しくなるように、ロール2の回転速度と第1のテーブル4の並進速度とを調整する。
ロール2の回転と第1のテーブル4の移動により、転写元シート3上のデバイスCは、回転軸Jに平行な1列ずつ粘着シート1に粘着され、転写される。
Next, as shown in FIG. 5(C), the roll 2 is rotated in the arrow B direction, and the first table 4 is moved in the arrow C direction (Y-axis direction). At the contact portion between the surface of the adhesive sheet 1 and the device C, the tangential speed of the adhesive sheet 1 in the tangential direction (Y-axis direction) and the moving speed of the device C on the transfer source sheet 3 in the Y-axis direction are equal. , to adjust the rotational speed of the roll 2 and the translational speed of the first table 4 .
Due to the rotation of the roll 2 and the movement of the first table 4, the devices C on the transfer source sheet 3 are adhered to the adhesive sheet 1 row by row parallel to the rotation axis J and transferred.

<二次転写>
図6(A)は、ロール2を回転させながら第2のテーブルを相対的に移動させる二次転写の直前の様子を示す模式図である。第2のテーブル14には、チップTが形成された実装基板13が載置されている。
図6(B)、(C)は、実装基板13上のチップTの上にデバイスCが二次転写される様子を模式的に説明する拡大断面図である。
<Secondary transfer>
FIG. 6A is a schematic diagram showing a state immediately before secondary transfer in which the second table is relatively moved while the roll 2 is rotated. A mounting substrate 13 having a chip T formed thereon is placed on the second table 14 .
6B and 6C are enlarged cross-sectional views schematically explaining how the device C is secondary-transferred onto the chip T on the mounting substrate 13. FIG.

図2(B)に示すように実装基板13上に複数のチップTが整列して配置され、複数のチップTは、格子点上に規則的に配置されている。図2(B)に示す実装基板13のX軸方向と、ロール2の回転軸Jの方向(図6(A)のX軸方向)とが平行になるように、第2のテーブル14の位置補正を行う。 As shown in FIG. 2B, a plurality of chips T are arranged on the mounting board 13 in a row, and the plurality of chips T are arranged regularly on grid points. The second table 14 is positioned so that the X-axis direction of the mounting board 13 shown in FIG. 2B and the direction of the rotation axis J of the roll 2 (the X-axis direction in FIG. 6A) are parallel. Make corrections.

第2のテーブル14は、角度調整のためZ軸周りに第2のテーブル14を回転させる回転機構と、X方向に平行移動させるX方向移動機構(移送方向移動機構)と、Y方向に移動させるY方向移動機構(横断方向移動機構)とを備える。
ロール2と第2のテーブル14上の実装基板13のアライメントのため、回転機構により第2のテーブル14の傾きを補正することができる。さらに、ロール2に貼付された粘着シート1上に整列して粘着されたデバイスCと、実装基板13上に整列して配置されたチップTとのアライメント(位置合わせ)のため、第2のテーブル14のX方向移動機構とY方向移動機構とを用い、実装基板13の位置を補正する。
なお、第2のテーブル14のアライメントは、第1のテーブル4と同様に、制御装置80により、第2のテーブル14の駆動機構を制御することで実行される。
The second table 14 includes a rotation mechanism that rotates the second table 14 around the Z-axis for angle adjustment, an X-direction movement mechanism (transfer direction movement mechanism) that moves parallel in the X direction, and a Y-direction movement mechanism that moves the second table 14 in the Y direction. and a Y-direction movement mechanism (transverse direction movement mechanism).
For the alignment of the roll 2 and the mounting substrate 13 on the second table 14, the inclination of the second table 14 can be corrected by the rotation mechanism. Further, a second table is provided for alignment (alignment) between the devices C aligned and adhered on the adhesive sheet 1 adhered to the roll 2 and the chips T aligned and arranged on the mounting substrate 13. The position of the mounting substrate 13 is corrected using the X-direction moving mechanism and the Y-direction moving mechanism 14 .
The alignment of the second table 14 is performed by controlling the drive mechanism of the second table 14 by the control device 80 in the same manner as the first table 4 .

以下、具体的にデバイスCを粘着シート1から実装基板13上に二次転写するフローについて説明する。
図6(A)に示すように、 第2のテーブル14上の実装基板13の一端側の辺E13をロール2側に配置する。
Hereinafter, the flow of secondary transfer of the device C from the adhesive sheet 1 onto the mounting board 13 will be specifically described.
As shown in FIG. 6A, the side E13 of one end side of the mounting board 13 on the second table 14 is arranged on the roll 2 side.

図6(B)に示すように、ロール2を回転させ粘着シート1の辺E1を下方に配置する。そして、転写先の実装基板13のチップTの列が、粘着シート1の辺E1に最も近いデバイスCの下方に位置するように、第2のテーブル14を図中矢印A方向(Y軸方向)に移動する。そして、デバイスCの表面が実装基板13のチップTと接触可能となるように、ロール2が下降する。
なお、ロール2の下降量(ロール2と第2のテーブル14との近接距離)は、ロール2と第2のテーブル14に載置されたチップTとの距離、及びロール2の表面からデバイスCの表面までの距離から算出できる。
ロール2と第2のテーブル14に載置されたチップTとの距離は、距離測定器6により計測可能であり、ロール2の表面からデバイスCの表面までの距離は、距離測定器7b又は距離測定器7aにより測定可能である。
また、ロール2の下降量に押し込み量を考慮してもよい。
As shown in FIG. 6B, the roll 2 is rotated so that the side E1 of the adhesive sheet 1 faces downward. Then, the second table 14 is moved in the direction of the arrow A (Y-axis direction) so that the rows of the chips T on the mounting substrate 13 to which the transfer is to be placed are positioned below the devices C closest to the side E1 of the adhesive sheet 1. move to Then, the roll 2 descends so that the surface of the device C can come into contact with the chip T on the mounting board 13 .
The amount of descent of the roll 2 (proximity distance between the roll 2 and the second table 14) depends on the distance between the roll 2 and the chip T placed on the second table 14, and the distance between the roll 2 and the device C from the surface of the roll 2. can be calculated from the distance to the surface of
The distance between the roll 2 and the chip T placed on the second table 14 can be measured by the distance measuring device 6, and the distance from the surface of the roll 2 to the surface of the device C can be measured by the distance measuring device 7b or the distance It can be measured by the measuring instrument 7a.
Also, the pushing amount may be taken into consideration for the amount of descent of the roll 2 .

次に図6(C)に示すように、ロール2を図中矢印B方向に回転させるとともに、第2のテーブル14を図中矢印C方向(Y軸方向)に移動させる。デバイスCとチップTとの接触部においては、デバイスCの接線方向(Y軸方向)の接線速度と実装基板13上のチップTのY軸方向の移動速度が等しくなるように、ロール2の回転速度と第2のテーブル14の水平方向の移動速度(並進速度)とを調整する。 Next, as shown in FIG. 6(C), the roll 2 is rotated in the direction of the arrow B in the drawing, and the second table 14 is moved in the direction of the arrow C in the drawing (Y-axis direction). At the contact portion between the device C and the chip T, the roll 2 is rotated so that the tangential speed of the device C in the tangential direction (Y-axis direction) and the moving speed of the chip T on the mounting substrate 13 in the Y-axis direction are equal. The speed and the horizontal movement speed (translational speed) of the second table 14 are adjusted.

ロール2の回転と第2のテーブル14の移動により、粘着シート1に粘着されたデバイスCは、回転軸Jに平行な1列ずつチップTの表面と接触する。
チップT上には粘着層が設けられており、チップT上の粘着層の粘着力は、粘着シート1の粘着層1ALの粘着力より大きいため、デバイスCはチップT上に移動し、二次転写される。
Due to the rotation of the roll 2 and the movement of the second table 14, the devices C adhered to the adhesive sheet 1 come into contact with the surface of the chips T row by row parallel to the rotation axis J. FIG.
An adhesive layer is provided on the chip T, and the adhesive force of the adhesive layer on the chip T is greater than the adhesive force of the adhesive layer 1AL of the adhesive sheet 1. Therefore, the device C moves onto the chip T, and the secondary be transcribed.

なお、チップT上にデバイスCを転写するための粘着層は、チップT上に粘着剤や導電性の接着剤を塗布法により形成してもよい。 The adhesive layer for transferring the device C onto the chip T may be formed on the chip T by applying an adhesive or a conductive adhesive.

また、図4(D)に示す例により、実装基板13上のチップTに複数種類のデバイスCを転写することも可能である。
図7(A)、(B)、(C)は、実装基板13上のチップTに3種類のデバイスCが順に転写された例を示す平面図である。
図7(A)に示すように、ロール2に貼付された粘着シート1aを介した一次転写及び二次転写により、転写元シート3上のデバイスC、例えば赤色LEDを実装基板13のチップT上に転写する。
その後、図7(B)に示すように、ロール2に貼付された粘着シート1bを介した一次転写及び二次転写により、異なる転写元シート3’上のデバイスC’、例えば緑色LEDを実装基板13のチップT上に転写する。
このとき、デバイスC’は、デバイスCを転写したチップTと異なるチップTであり、例えばデバイスCを転写したチップTから-X方向に1ピッチずらしたチップTに転写する。
その後、図7(C)に示すように、ロール2に貼付された粘着シート1cを介した一次転写及び二次転写により、さらに異なる転写元シート3’’上のデバイスC’’、例えば青色LEDを実装基板13のチップT上に転写する。
このとき、デバイスC’’は、デバイスC及びデバイスC’を転写したチップTと異なるチップTであり、例えばデバイスC’を転写したチップTから-X方向に1ピッチずらしたチップTに転写する。
Further, according to the example shown in FIG. 4D, it is also possible to transfer a plurality of types of devices C to the chip T on the mounting board 13 .
FIGS. 7A, 7B, and 7C are plan views showing an example in which three types of devices C are sequentially transferred onto the chip T on the mounting substrate 13. FIG.
As shown in FIG. 7A, the primary transfer and secondary transfer via the adhesive sheet 1a attached to the roll 2 cause the device C, for example, a red LED on the transfer source sheet 3 to be transferred onto the chip T of the mounting substrate 13. to be transcribed.
After that, as shown in FIG. 7B, primary transfer and secondary transfer via the adhesive sheet 1b attached to the roll 2 are performed to mount the device C', for example, a green LED on a different transfer source sheet 3'. 13 onto the chip T.
At this time, the device C' is a chip T different from the chip T on which the device C is transferred.
After that, as shown in FIG. 7(C), primary transfer and secondary transfer via the adhesive sheet 1c attached to the roll 2 are performed to transfer the device C'', for example, a blue LED, on a different transfer source sheet 3''. is transferred onto the chip T of the mounting board 13 .
At this time, the device C'' is a chip T different from the chip T on which the device C and the device C' are transferred. .

デバイスC、C’、C’’は、X方向にピッチCx及びY方向にピッチCyで規則的に整列しているため、基準となるデバイスC、C’、C’’を転写するチップTを1つ決定すると、全てのデバイスC、C’、C’’を転写するチップTが決定される。
上記製造プロセスにより、実装基板13にチップTには、異なる3種類のデバイスC、C’、C’’を転写することができる。
Since the devices C, C', C'' are regularly aligned with a pitch Cx in the X direction and a pitch Cy in the Y direction, the chip T to which the reference devices C, C', C'' are transferred is When one is determined, the chip T to transfer all the devices C, C', C'' is determined.
Three different types of devices C, C′, and C″ can be transferred to the chip T on the mounting substrate 13 by the manufacturing process described above.

なお、上記のように、ロール2上に3枚の粘着シート1a、1b、1cを粘着させ、それぞれにデバイスC、C’、C’’を粘着させておき、実装基板13にチップTに異なる3種類のデバイスC、C’、C’’を転写してもよいが、同一の粘着シート1を用いて、複数回数一次転写と二次転写を繰り返して、順次実装基板13の異なるデバイスCを実装してもよい。 In addition, as described above, the three adhesive sheets 1a, 1b, and 1c are adhered to the roll 2, and the devices C, C', and C'' are adhered to the rolls 2, respectively. Although three types of devices C, C', and C'' may be transferred, using the same adhesive sheet 1, primary transfer and secondary transfer are repeated a plurality of times, and devices C with different mounting substrates 13 are sequentially transferred. May be implemented.

<アライメント>
以下、図8~図10を参照して、デバイスCの正確な位置合わせ(アライメント)を行う手順について詳細に説明する。
<Alignment>
The procedure for accurate alignment of the device C will be described in detail below with reference to FIGS. 8 to 10. FIG.

図8(A)は、第1のテーブル4の上方に第2のカメラ21が設置された様子を示す模式図である。チャック機構により第1のテーブル4上には転写元シート3が固定されており、第2のカメラ21は、転写元シート3の表面上のデバイスCを撮影することができる。
図8(B)は、転写元シート3に対する第2のカメラ21の視野FL21を示す模式図であり、図8(C)は第2のカメラ21の視野を模式的に示す拡大図である。例えば、図8(A)に示す状態から、転写元シート3上のデバイスCが第2のカメラ21の視野FL21に入るように、第1のテーブル4をY方向に移動させ、位置を調整することで、所望の位置でデバイスCを観察することができる。
FIG. 8A is a schematic diagram showing a state in which the second camera 21 is installed above the first table 4. FIG. The transfer source sheet 3 is fixed on the first table 4 by a chuck mechanism, and the second camera 21 can photograph the device C on the surface of the transfer source sheet 3 .
8B is a schematic diagram showing the field of view FL21 of the second camera 21 with respect to the transfer source sheet 3, and FIG. 8C is an enlarged diagram schematically showing the field of view of the second camera 21. FIG. For example, from the state shown in FIG. 8A, the first table 4 is moved in the Y direction to adjust the position so that the device C on the transfer source sheet 3 enters the field of view FL21 of the second camera 21. By doing so, the device C can be observed at a desired position.

第1のテーブル4のY方向及びX方向の位置は、並進移動機構(Y方向移動機構)及び横断移動機構(X方向移動機構)に対して指定できる。並進移動機構及び横断移動機構により、第1のテーブル4をY方向及びX方向に移動させ、転写元シート3のデバイスCの最外周の列及びその両端(又は一端)、すなわち角部のデバイスCを、第2のカメラ21から出力される画像に対して画像処理技術を用いて特定し、その位置座標を、例えば第1のテーブル4の位置制御座標により特定できるよう構成することも可能である。角部のデバイスCの位置座標(位置情報)を基準として、全てのデバイスCの位置座標(位置情報)を特定することができる。
なお、第1のテーブル4をX方向に移動させる代わりに、第2のカメラ21をX方向に移動させ角部のデバイスCの位置座標を特定するよう構成してもよい。
The Y-direction and X-direction positions of the first table 4 can be specified for a translational movement mechanism (Y-direction movement mechanism) and a transverse movement mechanism (X-direction movement mechanism). The first table 4 is moved in the Y direction and the X direction by the translational movement mechanism and the transverse movement mechanism, and the outermost row of the device C on the transfer source sheet 3 and its both ends (or one end), that is, the corner device C can be specified using an image processing technique for the image output from the second camera 21, and the position coordinates can be specified by the position control coordinates of the first table 4, for example. . The position coordinates (position information) of all the devices C can be specified based on the position coordinates (position information) of the devices C at the corners.
Instead of moving the first table 4 in the X direction, the second camera 21 may be moved in the X direction to specify the position coordinates of the device C at the corner.

図1(A)に示す例では、デバイス実装装置100は2台の第2のカメラ21を備えている。図8(B)において2つの円で囲まれた領域は、2台の第2のカメラ21の視野FL21の例を示す。
第2のカメラ21の視野FL21中には複数のデバイスCが観察される。一括してデバイスCを転写する場合、個々のデバイスCの形状を認識する方法では、全体的な傾きを補正することはできない。
第2のカメラ21の視野FL21中の複数のデバイスCの配置から傾きを検出し、第1のテーブル4の回転機構により、傾き補正を行うことができる。
In the example shown in FIG. 1A, the device mounting apparatus 100 has two second cameras 21 . Areas surrounded by two circles in FIG. 8(B) show examples of the field of view FL21 of the two second cameras 21 .
A plurality of devices C are observed in the field of view FL21 of the second camera 21. FIG. When transferring the devices C collectively, the method of recognizing the shape of each device C cannot correct the overall tilt.
The inclination can be detected from the arrangement of the plurality of devices C in the field of view FL21 of the second camera 21, and the inclination can be corrected by the rotation mechanism of the first table 4. FIG.

なお、デバイスCの配列の傾きが補正された後に、第2のカメラ21により転写元シート3の表面を観察しながら、第1のテーブル4のY方向及びX方向に移動させ、デバイスCの配列の最外縁の列の端部、すなわち角部の位置座標を、例えば移動機構の位置制御座標により特定するよう構成してもよい。
また、デバイスCの配列のY軸方向の両端の列の位置を確認することも可能である。これにより、第2のカメラ21により最初に一次転写するデバイスCの列の位置と、最後に一次転写するデバイスCの列の位置を確認し、Y軸方向の最遠の間隔を計測できる。
After the inclination of the arrangement of the devices C is corrected, the first table 4 is moved in the Y direction and the X direction while observing the surface of the transfer source sheet 3 with the second camera 21, and the device C is arranged. The position coordinates of the end of the row of the outermost edge of , that is, the corner, may be specified by, for example, the position control coordinates of the moving mechanism.
It is also possible to check the positions of the columns at both ends of the array of devices C in the Y-axis direction. As a result, the second camera 21 can confirm the position of the row of the devices C for first primary transfer and the position of the row of the devices C for the last primary transfer, and measure the farthest distance in the Y-axis direction.

以下、デバイスCの配列を有する転写元シート3が、第1のテーブル4上で傾いて載置された場合の傾き角を検出する3種類の傾き角検出方法について説明する。
なお、第2のカメラ21等の出力画像の取得及び画像処理(画像の解析)は、制御装置80により実行される。
Three types of tilt angle detection methods for detecting the tilt angle when the transfer source sheet 3 having the device C arranged thereon is tilted on the first table 4 will be described below.
Acquisition of an output image of the second camera 21 and the like and image processing (image analysis) are performed by the control device 80 .

(第1の角度検出方法)
第1の角度検出方法は、第2のカメラ21の視野内におけるデバイスCの配置から画像処理により傾き角を検出する方法である。1台の第2のカメラ21により傾き角の検出が可能な方法である。以下、1台の第2のカメラ21を用いた角度検出の例について説明する。
(First angle detection method)
A first angle detection method is a method of detecting an inclination angle by image processing from the arrangement of the device C within the field of view of the second camera 21 . In this method, the tilt angle can be detected by a single second camera 21 . An example of angle detection using one second camera 21 will be described below.

図8(C)は、第2のカメラ21により、傾いて配列されていたデバイスCを観察した画像の例を示す。
第2のカメラ21から出力された画像信号を、制御装置80が取得し、公知の画像認識法により、デバイスCの特定部、例えばデバイスCのエッジ又は外形を検出する。その後、特定部を繋ぐ直線(図中点線α)とX軸方向又はY軸方向とのなす角度θを算出し、デバイスCの傾き角θを検出する。
2台の第2のカメラ21において、それぞれ傾き角θを算出し、平均値を求めてもよい。
FIG. 8C shows an example of an image obtained by observing the tilted devices C with the second camera 21 .
An image signal output from the second camera 21 is acquired by the control device 80, and a specific portion of the device C, for example, an edge or contour of the device C is detected by a known image recognition method. After that, an angle θ formed between a straight line (dotted line α in the drawing) connecting the specific portions and the X-axis direction or the Y-axis direction is calculated, and the tilt angle θ of the device C is detected.
In the two second cameras 21, the inclination angle θ may be calculated for each, and the average value may be obtained.

(第2の角度検出方法)
第2の角度検出方法は、X軸方向に離隔して設置された2台の第2のカメラ21のデバイスCの画像を処理し、画像データを連携させて傾き角を検出する方法である。2台の第2のカメラ21により、X軸方向に一直線上に配置されたデバイスCの列を特定し、その列のY軸方向の変位を計測することにより傾きを測定することが可能である。
すなわち、デバイスCの配列のX軸に対する傾き角を検出することができる。
以下、2台の第2のカメラ21を用いた角度検出の例について説明する。
(Second angle detection method)
The second angle detection method is a method of processing the images of the device C of the two second cameras 21 installed separately in the X-axis direction and linking the image data to detect the tilt angle. By using the two second cameras 21, it is possible to identify a row of devices C arranged in a straight line in the X-axis direction and measure the displacement of the row in the Y-axis direction to measure the tilt. .
That is, the tilt angle of the array of devices C with respect to the X axis can be detected.
An example of angle detection using two second cameras 21 will be described below.

図9(A)は、2台の第2のカメラ21により、第1のテーブル4上に傾いて配列されていたデバイスCを観察した画像の例を模式的に示す平面図である。図9(A)において、2つの円は2台の第2のカメラ21の視野FL21を示す。
同一直線上に並んだデバイスCの配列を特定するために、例えば最初に粘着シート1に粘着されるデバイスCの列、すなわち転写元シート3の端部の辺E3に最も近いデバイスCの列を特定する。図9(A)に示すように、転写元シート3の端部の辺E3に最も近いデバイスCの列が2台の第2のカメラ21の視野に入るように第1のテーブル4の位置を調整する。
FIG. 9A is a plan view schematically showing an example of an image obtained by observing the devices C tilted and arranged on the first table 4 by the two second cameras 21. FIG. In FIG. 9A, two circles indicate fields of view FL21 of the two second cameras 21. In FIG.
In order to specify the arrangement of the devices C arranged on the same straight line, for example, the row of the devices C first adhered to the adhesive sheet 1, that is, the row of the devices C closest to the edge E3 of the transfer source sheet 3 is determined. Identify. As shown in FIG. 9A, the first table 4 is positioned so that the row of devices C closest to the edge E3 of the transfer source sheet 3 is within the field of view of the two second cameras 21. adjust.

例えば、図8(A)に示すように、転写元シート3上のデバイスCが2台の第2のカメラ21の視野外に位置する状態から、第1のテーブル4をY方向に移動させる。デバイスCが2台の第2のカメラ21の視野FL21に最初に観察されるデバイスCの列を転写元シート3の端部の辺E3に最も近いデバイスCの列であると特定することができる。 For example, as shown in FIG. 8A, the first table 4 is moved in the Y direction from the state where the device C on the transfer source sheet 3 is positioned outside the field of view of the two second cameras 21 . The row of device C in which device C is first observed in the field of view FL21 of the two second cameras 21 can be identified as the row of device C closest to edge E3 of transfer source sheet 3. .

辺E3に最も近いデバイスCの列の傾きを2台の第2のカメラ21からの出力を画像処理することで算出する。
具体的には、2台の第2のカメラ21の位置は固定されているため、2台の第2のカメラ21の視野FL21の間隔、例えば視野FL21の中心の間隔は既知である。
2台の第2のカメラ21から出力される画像のそれぞれに対して画像認識によりエッジ検出等を行い、複数のデバイスCの特定部を繋ぐ直線α(図中点線α)を求めることができる。2台の第2のカメラ21の視野FL21の間隔をLとし、距離L離れた箇所におけるデバイスCの配置のズレ(変位h)を、直線αとX軸との関係から検出することができる。
デバイスCの配置の傾き角(X軸方向に対する傾き角)θはhとL等を用いて算出することができる。
第2の角度検出方法は、第1の角度検出方法と比較して、傾き角の検出精度が向上する。
The inclination of the row of devices C closest to the side E3 is calculated by image processing the outputs from the two second cameras 21 .
Specifically, since the positions of the two second cameras 21 are fixed, the distance between the fields of view FL21 of the two second cameras 21, for example, the distance between the centers of the fields of view FL21 is known.
Edge detection or the like is performed by image recognition on each of the images output from the two second cameras 21, and a straight line α (dotted line α in the drawing) connecting the specific portions of the plurality of devices C can be obtained. Let L be the interval between the fields of view FL21 of the two second cameras 21, and the misalignment (displacement h) of the device C at a distance L can be detected from the relationship between the straight line α and the X axis.
The inclination angle (inclination angle with respect to the X-axis direction) θ of arrangement of the device C can be calculated using h, L, and the like.
The second angle detection method improves the detection accuracy of the tilt angle compared to the first angle detection method.

なお、特定するデバイスCの列は、辺E3に最も近いデバイスCの列に限定するものではない。 Note that the column of devices C to be specified is not limited to the column of devices C closest to the side E3.

(第3の角度検出方法)
第3の角度検出方法は、第2のカメラ21と第1のテーブル4の移動機構とを連携させ、第2のカメラ21の画像を処理して傾き角を検出する方法である。1台の第2のカメラ21により、Y軸方向に一直線上に配置されたデバイスCの列を特定し、その列のX軸方向の変位を計測することにより傾きを測定することが可能である。すなわち、デバイスCのY軸に対する傾き角を検出することができる。
上記の第2の角度検出方法は、2台の第2のカメラ21を必要とするが、第3の角度検出方法では、1台の第2のカメラ21を用いても、検出精度を向上することが可能となる。
以下、1台の第2のカメラ21と第1のテーブル4の移動機構とを用いた角度検出の例について説明する。
(Third angle detection method)
A third angle detection method is a method of linking the second camera 21 and the moving mechanism of the first table 4 and processing the image of the second camera 21 to detect the tilt angle. A single second camera 21 identifies a row of devices C arranged in a straight line in the Y-axis direction, and it is possible to measure the tilt by measuring the displacement of the row in the X-axis direction. . That is, the tilt angle of device C with respect to the Y-axis can be detected.
Although the second angle detection method requires two second cameras 21, the third angle detection method improves detection accuracy even with one second camera 21. becomes possible.
An example of angle detection using one second camera 21 and the movement mechanism of the first table 4 will be described below.

図9(B)は第2のカメラ21と第1のテーブル4との関係を示す模式図であり、図9(C)は、転写元シート3上の第2のカメラ21の視野を模式的に示す平面図である。
まず、図9(B)に示すように、転写元シート3を載置した第1のテーブル4をY軸方向に移動させる。
第2のカメラ21の位置は固定されているため、図9(C)に示すように、第2のカメラ21の視野FL21は、相対的に、転写元シート3上を反対方向(-Y方向)に走査されることになる。
例えば、第2のカメラ21の視野FL21は、図9(C)中の視野FL21-1から視野FL21-2に移動する。視野FL21-1から視野FL21-2の移動距離をD1とする。
FIG. 9B is a schematic diagram showing the relationship between the second camera 21 and the first table 4, and FIG. 9C schematically shows the field of view of the second camera 21 on the transfer source sheet 3. is a plan view shown in FIG.
First, as shown in FIG. 9B, the first table 4 on which the transfer source sheet 3 is placed is moved in the Y-axis direction.
Since the position of the second camera 21 is fixed, the field of view FL21 of the second camera 21 relatively moves over the transfer source sheet 3 in the opposite direction (-Y direction), as shown in FIG. 9C. ) will be scanned.
For example, the field of view FL21 of the second camera 21 moves from the field of view FL21-1 to the field of view FL21-2 in FIG. 9(C). Let D1 be the moving distance from the field of view FL21-1 to the field of view FL21-2.

第2のカメラ21からの出力画像を処理し、例えばエッジ検出等により、Y方向の列に整列配置されたデバイスCを特定し、そのデバイスCを繋ぐ直線α1(図中点線で示す)を求めることができる。 The output image from the second camera 21 is processed, for example, by edge detection or the like, the devices C arranged in rows in the Y direction are specified, and a straight line α1 (indicated by a dotted line in the figure) connecting the devices C is obtained. be able to.

デバイスCのY方向の列がY軸に対して傾斜している場合、第2のカメラ21をY軸方向に移動すると、特定したY方向の列のデバイスCは、視野FL21から外れるようにX軸に平行な方向に移動する。
特定したY方向の列が視野FL21-2の範囲内に収まる場合、直線α1上のデバイスCの変位h1を視野FL21-2の画像から取得することができる。
デバイスCの配置の傾き角θはh1とD1とを用いて算出することができる。
When the row of the devices C in the Y direction is tilted with respect to the Y axis, when the second camera 21 is moved in the Y direction, the devices C in the specified row in the Y direction are moved out of the field of view FL21. Move parallel to the axis.
If the specified Y-direction column falls within the range of the field of view FL21-2, the displacement h1 of the device C on the straight line α1 can be obtained from the image of the field of view FL21-2.
The tilt angle θ of the layout of the device C can be calculated using h1 and D1.

なお、この操作を繰り返すことも可能である。視野FL21-2から視野FL21-3までの距離をD2とし、視野FL21-2と視野FL21-3の画像から特定されたY方向の列に整列配置されたデバイスCを繋ぐ直線をα2(図中点線で示す)とし、視野FL21-3の画像から直線α2上のデバイスCの変位h2取得することができる
デバイスCの配置の傾き角θは、(h1+h2)及び(D1+D2)とを用いて算出することができる。
Note that this operation can be repeated. Let D2 be the distance from the field of view FL21-2 to the field of view FL21-3, and α2 ( dotted line), and the displacement h2 of the device C on the straight line α2 can be obtained from the image of the field of view FL21-3. be able to.

このように、第1のテーブル4を、ロール2の回転軸Jに垂直な方向に移動させ、第1のテーブル4の上方に固定して配置された第2のカメラ21の視野FL21を転写元シート3で走査し、第2のカメラ21から出力された画像から転写元シート3に配列されたデバイスCの傾き角(Y軸方向に対する傾き角)を検出することができる。
なお、2台の第2のカメラ21のそれぞれに対して、第3の角度検出方法によりデバイスCの傾き角を検出し、検出された2つの傾き角の平均値をデバイスCの傾き角としてもよい。
In this way, the first table 4 is moved in a direction perpendicular to the rotation axis J of the roll 2, and the field of view FL21 of the second camera 21 fixedly arranged above the first table 4 is transferred. It is possible to scan the sheet 3 and detect the tilt angle (the tilt angle with respect to the Y-axis direction) of the devices C arranged on the transfer source sheet 3 from the image output from the second camera 21 .
Alternatively, the tilt angle of the device C may be detected by the third angle detection method for each of the two second cameras 21, and the average value of the detected two tilt angles may be used as the tilt angle of the device C. good.

本第3の角度検出方法は、転写元シート3に配列されたデバイスCが、X軸に平行な方向と比較してY軸に平行な方向に長く配置されている場合、特に効果的である。
また、第2の角度検出方法及び第3の角度検出方法は、共に第2のカメラ21の異なる位置での視野の画像を用いて傾き角を検出する。第2の角度検出方法は、異なる位置の視野の間隔が固定されているのに対して、第3の角度検出方法は、異なる位置の視野の間隔を自由に設定できる。
This third angle detection method is particularly effective when the devices C arranged on the transfer source sheet 3 are arranged longer in the direction parallel to the Y axis than in the direction parallel to the X axis. .
Also, both the second angle detection method and the third angle detection method detect the tilt angle using images of fields of view of the second camera 21 at different positions. In the second angle detection method, the intervals between the fields of view at different positions are fixed, whereas in the third angle detection method, the intervals between the fields of view at different positions can be freely set.

転写元シート3上のデバイスCの配列等に合わせて、第1の角度検出方法、第2の角度検出方法、第3の角度検出方法を適宜選択できる。 The first angle detection method, the second angle detection method, and the third angle detection method can be appropriately selected according to the arrangement of the devices C on the transfer source sheet 3 or the like.

なお、上記3種の角度検出方法を適宜組合わせてもよい。
例えば、デバイスCの傾き角が大きい場合、第1の角度検出方法により、デバイスCの傾き角を検出し、第1のテーブル4をZ軸周りに回転させる回転機構により回転させることで傾きを補正する。その後、第2の角度検出方法又は第3の角度検出方法により、更に精度よく傾き角を検出し、第1のテーブル4を回転機構により回転させることで傾きを補正することができる。
Note that the above three types of angle detection methods may be combined as appropriate.
For example, when the tilt angle of the device C is large, the tilt angle of the device C is detected by the first angle detection method, and the tilt is corrected by rotating the first table 4 around the Z axis using a rotation mechanism. do. After that, the inclination angle can be detected with higher accuracy by the second angle detection method or the third angle detection method, and the inclination can be corrected by rotating the first table 4 by the rotation mechanism.

また、第3の角度検出方法は、実質的に、第2のカメラ21の視野FL21の範囲を自由に拡大できるため、第3の角度検出方法によりデバイスCの列の傾き角を検出し、第1のテーブル4の回転機構により傾きを補正するという操作を繰り返すことで、所望の精度でデバイスCの列の傾き角を補正してもよい。 In addition, since the third angle detection method can substantially freely expand the range of the field of view FL21 of the second camera 21, the tilt angle of the row of devices C is detected by the third angle detection method. By repeating the operation of correcting the tilt by the rotation mechanism of the table 4 in step 1, the tilt angle of the row of devices C may be corrected with desired accuracy.

第1のテーブル4の回転機構により傾き角を補正した後に、第2のカメラ21を用いた上記の位置計測方法を実行して、デバイスCの位置座標を特定するよう構成することができる。特定された転写元シート3上のデバイスCの位置座標を一次転写前のデバイスCの位置情報(転写元シート3上のデバイスCの位置情報)として、制御装置80の記憶装置に保存するよう構成することができる。 After correcting the tilt angle by the rotation mechanism of the first table 4, the position coordinates of the device C can be identified by executing the above-described position measurement method using the second camera 21. FIG. The specified position coordinates of the device C on the transfer source sheet 3 are stored in the storage device of the control device 80 as the position information of the device C before primary transfer (position information of the device C on the transfer source sheet 3). can do.

なお、傾き角補正後の再度の位置測定を行わず、回転行列等の座標変換により、傾き角補正後のデバイスCの座標を算出し、一次転写前のデバイスCの位置情報(転写元シート3上のデバイスCの位置情報)として、制御装置80の記憶装置に保存してもよい。 Note that the coordinates of the device C after the tilt angle correction are calculated by coordinate conversion such as a rotation matrix without measuring the position again after the tilt angle correction, and the position information of the device C before the primary transfer (transfer source sheet 3 It may be stored in the storage device of the control device 80 as position information of the device C above).

図10(A)は、一次転写によりロール2の粘着シート1にデバイスCが転写された後の様子を示す模式図である。ロール2の上方には第1のカメラ20が設置されている。
第1のカメラ20は、粘着シート1上のデバイスCを撮像することで、デバイスC間のX軸方向及び円周方向の距離(又はデバイスCの配列ピッチ)、最遠デバイス間の距離、傾きなどを確認することも可能である。
FIG. 10A is a schematic diagram showing a state after the device C is transferred to the adhesive sheet 1 of the roll 2 by primary transfer. A first camera 20 is installed above the roll 2 .
The first camera 20 captures an image of the device C on the adhesive sheet 1 to determine the distance between the devices C in the X-axis direction and the circumferential direction (or the arrangement pitch of the devices C), the distance between the farthest devices, the tilt etc. can also be checked.

デバイスC間のX軸方向の距離(又はデバイスCのX軸方向のピッチ)は、第1のカメラ20の視野の画像を画像処理技術により測定可能であり、デバイスC間の円周方向の距離(又はデバイスCの円周方向のピッチ)は、ロール2の半径を考慮しながら第1のカメラ20の視野の画像を画像処理技術により測定するか、ロール2を回転させながら円周方向の移動距離をモニタしながら第1のカメラ20の取得した画像を画像処理技術により測定することが可能である。 The distance in the X-axis direction between the devices C (or the pitch in the X-axis direction of the devices C) can be measured by image processing technology on the image of the field of view of the first camera 20, and the distance in the circumferential direction between the devices C (or the pitch in the circumferential direction of the device C) is measured by image processing technology on the image of the field of view of the first camera 20 while considering the radius of the roll 2, or the movement in the circumferential direction while rotating the roll 2. It is possible to measure the image acquired by the first camera 20 by image processing technology while monitoring the distance.

ロール2の円周方向の移動距離を測定するため、ロール2に所定の間隔で形成された計測用マーク、例えばロール2の表面から突出する矩形状の突起部又は凹部を設けてもよい。
距離測定器7aにより、突起部をカウントすることで円周方向の移動距離の計測を可能に構成してもよい。
なお、別途リニアエンコーダやロータリーエンコーダーを設置して円周方向の移動距離を計測してもよい。
In order to measure the movement distance of the roll 2 in the circumferential direction, the roll 2 may be provided with measurement marks formed at predetermined intervals, for example, rectangular protrusions or recesses protruding from the surface of the roll 2 .
The distance measuring device 7a may be configured to be able to measure the moving distance in the circumferential direction by counting the protrusions.
A linear encoder or a rotary encoder may be installed separately to measure the movement distance in the circumferential direction.

円周方向の最遠デバイス間の距離は、ロール2を回転させながら円周方向の移動距離をモニタしながら第1のカメラ20の取得した画像を画像処理技術により測定することが可能であり、回転軸Jに平行なX軸方向の最遠デバイス間の距離は、第1のカメラ20をX軸方向に移動可能に構成することにより第1のカメラ20の取得した画像を画像処理技術により測定することが可能である。又は測定されたデバイスC間のX軸方向の距離及びピッチと、X軸方向のデバイスCの数から算出することも可能である。 The distance between the furthest devices in the circumferential direction can be measured by image processing technology on the image acquired by the first camera 20 while monitoring the movement distance in the circumferential direction while rotating the roll 2. The distance between the farthest devices in the X-axis direction parallel to the rotation axis J is measured by image processing technology on the image acquired by the first camera 20 by configuring the first camera 20 to be movable in the X-axis direction. It is possible to Alternatively, it can be calculated from the measured distance and pitch between devices C in the X-axis direction and the number of devices C in the X-axis direction.

ロール2上でのデバイスCの傾きは、上記第1、第2、第3の角度検出方法により測定可能である。この場合、第3の角度検出方法においては、第1のテーブル4をY方向に移動させる代わりに、ロール2を回転軸Jの周りに回転させればよい。
なお、有限の角度の傾きが確認された場合、転写先の実装基板13に二次転写する際に実装基板13をY軸方向又はX軸方向に対して傾斜させてもよい。
The tilt of the device C on the roll 2 can be measured by the first, second and third angle detection methods. In this case, in the third angle detection method, instead of moving the first table 4 in the Y direction, the roll 2 may be rotated around the rotation axis J.
In addition, when the tilt of a finite angle is confirmed, the mounting board 13 may be tilted with respect to the Y-axis direction or the X-axis direction when performing the secondary transfer to the mounting board 13 of the transfer destination.

また、ロール2上のデバイスCの位置とロール2の回転角の関係を取得することができる。以下、デバイスCの位置と回転角についての基本的関係を説明する。
ロール2の回転軸Jから粘着シート1上のデバイスCまでの距離をrとし、回転角度をωとする。転写元シート3上のデバイスCの配列のピッチがCyのとき、ロール2の粘着シート1上の円周方向のデバイスCの配列のピッチもCyとなる。回転角度Δω変化すると円周方向にrΔω移動する。ロール2を回転角度Δω回転させて、粘着シート1上でデバイスCの1ピッチ分移動させるためには、Δω=Cy/rとすればよい。
rに比べCyが小さい場合、nピッチ、例えば50ピッチ分、ロール2の粘着シート1上において移動させるには、Δω=nCy/rとすればよい。
また、逆にロール2の粘着シート1上において円周方向にnピッチ分移動したときの回転角度の関係を取得することが可能である。
ただし、回転角度Δωとピッチとの上記関係式は、適宜に微調整を行ってもよい。
Also, the relationship between the position of the device C on the roll 2 and the rotation angle of the roll 2 can be acquired. The basic relationship between the position and rotation angle of device C will now be described.
Let r be the distance from the rotation axis J of the roll 2 to the device C on the adhesive sheet 1, and ω be the rotation angle. When the arrangement pitch of the devices C on the transfer source sheet 3 is Cy, the arrangement pitch of the devices C in the circumferential direction on the adhesive sheet 1 of the roll 2 is also Cy. When the rotation angle Δω changes, it moves rΔω in the circumferential direction. In order to rotate the roll 2 by the rotation angle Δω and move the device C by one pitch on the adhesive sheet 1, Δω=Cy/r.
When Cy is smaller than r, n pitches, for example, 50 pitches can be moved on the adhesive sheet 1 of the roll 2 by setting Δω=nCy/r.
Conversely, it is possible to obtain the relationship of the rotation angle when the adhesive sheet 1 of the roll 2 is moved in the circumferential direction by n pitches.
However, the above relational expression between the rotation angle Δω and the pitch may be finely adjusted as appropriate.

第1のカメラ20から出力される画像を画像処理し、移動したデバイスCの数をカウントし、移動したデバイスCの数n、又はピッチCyのn倍と、ロール2の回転角度との相関を取得することができる。又は、第1のカメラ20により、最初に検出されたデバイスCから最後に検出されたデバイスCまでの距離、すなわち最遠デバイスC間の距離と回転角度との関係を取得することができる。
逆に、円周方向のデバイスCの移動距離nCyと回転角度の変化量から、回転軸JからデバイスCまでの距離を算出することも可能である。
回転角度と円周方向のデバイスCの移動距離との相関データは、制御装置80の記憶装置に保存することができ、デバイスCの実装基板13への転写の際に活用することができる。
Image processing is performed on the image output from the first camera 20, the number of devices C that have moved is counted, and the correlation between the number n of devices C that has moved or n times the pitch Cy and the rotation angle of the roll 2 is calculated. can be obtained. Alternatively, the first camera 20 can acquire the distance from the first detected device C to the last detected device C, that is, the relationship between the distance between the farthest devices C and the rotation angle.
Conversely, it is also possible to calculate the distance from the rotation axis J to the device C from the movement distance nCy of the device C in the circumferential direction and the amount of change in the rotation angle.
Correlation data between the rotation angle and the movement distance of the device C in the circumferential direction can be stored in the storage device of the control device 80 and used when transferring the device C to the mounting board 13 .

また、ロール2の表面に予め基準(図10(A)中黒矢印)を定めることで、粘着シート1上のデバイスCの列の位置を角度(ω)により特定することができ、デバイスCの列の位置と角度との関係を記憶することができる。又は基準からの円周に沿った距離によりデバイスCの列の位置を特定し、それらの関係を記憶してもよい。 Further, by setting a reference (black arrow in FIG. 10A) in advance on the surface of the roll 2, the position of the row of the devices C on the adhesive sheet 1 can be specified by the angle (ω). The relationship between column positions and angles can be stored. Or the columns of devices C may be located by their circumferential distance from the reference and their relationship stored.

粘着シート1上のデバイスCの回転軸J方向(X方向)の位置については、第1のステージ4上で測定したデバイスCのX方向の位置を用いることができる。
なお、第1のカメラ20を使用してデバイスCのX方向の位置を実測するように構成してもよい。例えば、X方向にガイドレールを設け、駆動装置により第1のカメラ20をガイドレールに沿ってX方向に移動させるよう構成してもよい。第1のカメラ20をX方向に移動可能とすることで、第1のカメラ20のデバイスCの撮像データを画像認識し、デバイスCのX方向の位置を測定することができる。この場合、例えば端部の辺E1に最も近いデバイスC列の両端(又は一端)、すなわち角部のデバイスCの位置を測定すればよい。
なお、カメラの位置は鉛直上方に限定されず適宜設定可能である。
As for the position of the device C on the adhesive sheet 1 in the direction of the rotation axis J (X direction), the position of the device C in the X direction measured on the first stage 4 can be used.
Note that the first camera 20 may be used to actually measure the position of the device C in the X direction. For example, a guide rail may be provided in the X direction, and the driving device may move the first camera 20 along the guide rail in the X direction. By making the first camera 20 movable in the X direction, it is possible to recognize the image data of the device C captured by the first camera 20 and measure the position of the device C in the X direction. In this case, for example, both ends (or one end) of the row of devices C closest to the end side E1, that is, the positions of the devices C at the corners may be measured.
Note that the position of the camera is not limited to vertically upward and can be set as appropriate.

ロール2に貼付された粘着シート1上での全てのデバイスCの位置座標(位置情報)は、測定された角部のデバイスCを基準座標として、傾き、デバイスC間の距離及びピッチ等から算出することができる。算出されたデバイスCの位置座標は、制御装置80の記憶装置にロール2の粘着シート1上のデバイスCに位置座標として保存することができる。 The positional coordinates (positional information) of all the devices C on the adhesive sheet 1 attached to the roll 2 are calculated from the inclination, the distance between the devices C, the pitch, etc. with the measured corner device C as the reference coordinate. can do. The calculated positional coordinates of the device C can be stored in the storage device of the control device 80 as the positional coordinates of the device C on the adhesive sheet 1 of the roll 2 .

取得された粘着シート1上のデバイスCのピッチ数又は段差形状とロール2の回転角度との相関は、制御装置80の記憶装置に保存される。従って、制御装置80は、粘着シート1の端部の辺E1に最も近いデバイスCのX軸方向の列におけるロール2の回転角度の値、その他デバイスCの各X軸方向の列におけるロール2の回転角度の値を知ることができる。 The obtained correlation between the number of pitches of the device C on the adhesive sheet 1 or the step shape and the rotation angle of the roll 2 is stored in the storage device of the controller 80 . Therefore, the control device 80 determines the value of the rotation angle of the roll 2 in the X-axis direction row of the device C closest to the edge E1 of the adhesive sheet 1, and the value of the roll 2 in each X-axis direction row of the device C. You can know the value of the rotation angle.

図10(B)は、粘着シート1上のデバイスCを、第2のテーブル14上の実装基板13に二次転写する準備段階の様子を示す模式図である。
第2のテーブル14の上方には第3のカメラ22が設置されている。第3のカメラ22から出力される画像を画像処理することにより、実装基板13のチップTの位置情報を取得することができる。
例えば、まず、上記第1、第2、第3の角度検出方法により、チップTの配列の傾き角を検出し、第2のテーブル14の回転機構によって傾きを補正する。その後に、第3のカメラ22により実装基板13の表面を観察しながら、第2のテーブル14のY方向及びX方向の移動機構を利用して、チップTの配列の最外周の列及びその端部、すなわち角部の位置座標(位置情報)を特定することができる。角部のチップTの位置座標から、全てのチップTの位置座標(位置情報)を特定することができる。
第2のテーブル14に載置された実装基板13上の全てのチップTの位置座標を、制御装置80の記憶装置に保存することができる。
FIG. 10B is a schematic diagram showing a preparatory stage for secondary transfer of the device C on the adhesive sheet 1 to the mounting board 13 on the second table 14 .
A third camera 22 is installed above the second table 14 . By image processing the image output from the third camera 22, the position information of the chip T on the mounting board 13 can be obtained.
For example, first, the inclination angle of the arrangement of the chips T is detected by the first, second, and third angle detection methods, and the inclination is corrected by the rotating mechanism of the second table 14 . After that, while observing the surface of the mounting substrate 13 with the third camera 22, the movement mechanism of the second table 14 in the Y direction and the X direction is used to move the outermost row of the array of the chips T and its edge. The positional coordinates (positional information) of the part, that is, the corner can be specified. The positional coordinates (positional information) of all the chips T can be specified from the positional coordinates of the chips T at the corners.
The position coordinates of all the chips T on the mounting board 13 placed on the second table 14 can be stored in the storage device of the control device 80 .

図2(B)に示すように、十字等のアライメントマーク5が形成されている場合、第3のカメラ22によりアライメントマーク5を撮像し、第1の角度検出方法により傾き角度を検出できる。
また、実装基板13の両側の縁部に形成されているアライメントマーク5を2台の第3のカメラ22によりアライメントマーク5を撮像し、第2の角度検出方法により、傾きを検出することも可能である。アライメントマーク5のY軸方向のずれ(変位h)を画像処理技術により算出し、2つのアライメントマーク5間の距離Wと変位hを用いて、傾き角度θが算出可能である。
ただし、この場合、2台の第3のカメラ22の間隔を、実装基板13の両側に形成されたアライメントマーク5の間隔とが等しくなるように設定する必要がある。
As shown in FIG. 2B, when an alignment mark 5 such as a cross is formed, the alignment mark 5 can be imaged by the third camera 22 and the tilt angle can be detected by the first angle detection method.
In addition, it is also possible to detect the inclination by the second angle detection method by capturing images of the alignment marks 5 formed on the edges of both sides of the mounting substrate 13 with the two third cameras 22 . is. The deviation (displacement h) of the alignment marks 5 in the Y-axis direction is calculated by image processing technology, and the tilt angle θ can be calculated using the distance W between the two alignment marks 5 and the displacement h.
However, in this case, it is necessary to set the interval between the two third cameras 22 to be equal to the interval between the alignment marks 5 formed on both sides of the mounting board 13 .

また、2台の第3のカメラ22の間隔とアライメントマーク5の間隔とが等しくない場合、まず、両側に形成されたアライメントマーク5の一方を、1台の第3のカメラ22により撮像する。その後、第2のテーブル13の横断移動機構(X方向移動機構)により第2のテーブル13を移動させ、他方の第3のカメラ22により、もう一方の対向するアライメントマーク5を撮像し、アライメントマーク5のY軸方向のずれ(変位h)を画像処理技術により算出する。
2つのアライメントマーク5間の距離Wが既知の場合、距離Wと変位hを用いて傾き角度θが算出可能である。
距離Wが不明な場合には、2台の第3のカメラ22の間隔と第2のテーブル13のX軸方向の移動距離とから、2つのアライメントマーク5間の距離Wは容易に算出することができる。
第2のテーブル13の移動機構の制御座標を基にアライメントマーク5の位置座標を特定することができる。
If the interval between the two third cameras 22 and the interval between the alignment marks 5 are not equal, first, one of the alignment marks 5 formed on both sides is imaged by the single third camera 22 . After that, the second table 13 is moved by the transverse movement mechanism (X-direction movement mechanism) of the second table 13, and the other facing alignment mark 5 is imaged by the other third camera 22, and the alignment mark 5 in the Y-axis direction (displacement h) is calculated by an image processing technique.
If the distance W between the two alignment marks 5 is known, the tilt angle θ can be calculated using the distance W and the displacement h.
If the distance W is unknown, the distance W between the two alignment marks 5 can be easily calculated from the distance between the two third cameras 22 and the movement distance of the second table 13 in the X-axis direction. can be done.
The position coordinates of the alignment mark 5 can be specified based on the control coordinates of the movement mechanism of the second table 13 .

実装基板13の表面に複雑な回路パターン等が形成され、画像処理が困難又は高度なパターン認識技術が必要になる場合、アライメントマーク5を使用して、チップTの配列の傾き角を検出することが可能である。 When a complex circuit pattern or the like is formed on the surface of the mounting board 13 and image processing is difficult or advanced pattern recognition technology is required, the alignment marks 5 can be used to detect the tilt angle of the arrangement of the chips T. is possible.

アライメントマーク5を測定した位置座標を基準座標として、チップTのピッチTx、Ty、及びチップTの配列情報(X軸方向のチップ数及びY軸方向のチップ数)から全てのチップTの位置座標を算出することができる。このようにして取得された第2のテーブル14に載置された実装基板13上の全てのチップTの位置座標を、制御装置80の記憶装置に保存することができる。 Positional coordinates of all the chips T are obtained from the pitches Tx and Ty of the chips T and the arrangement information of the chips T (the number of chips in the X-axis direction and the number of chips in the Y-axis direction) using the positional coordinates obtained by measuring the alignment marks 5 as reference coordinates. can be calculated. The position coordinates of all the chips T on the mounting board 13 placed on the second table 14 thus acquired can be stored in the storage device of the control device 80 .

なお、転写元シート3にアライメントマークが存在する場合には、上記のようにアライメントマークを基準にデバイスCの位置座標を取得してもよい。
ただし、ロール2に貼付された粘着シート1にはアライメントマークが存在しないため、デバイスCにより位置座標を取得する必要がある。
In addition, when an alignment mark exists on the transfer source sheet 3, the position coordinates of the device C may be obtained based on the alignment mark as described above.
However, since there is no alignment mark on the adhesive sheet 1 attached to the roll 2, it is necessary to obtain the position coordinates by the device C.

なお、第3のカメラ22を設けず、第3のカメラ22の代わりに第2のカメラ21を用いてもよい。
第2のカメラ21と第3のカメラ22とを個別に備えることにより、デバイスCの傾きの補正及びデバイスCの座標の特定と、チップTの傾きの補正及びチップTの座標の特定とを同時に進行することができ、転写に要する時間を低減することができる。デバイス実装装置100の処理能力(スループット)の向上に寄与する。
Note that the second camera 21 may be used instead of the third camera 22 without providing the third camera 22 .
By separately providing the second camera 21 and the third camera 22, correction of the tilt of the device C and identification of the coordinates of the device C and correction of the tilt of the chip T and identification of the coordinates of the chip T can be performed simultaneously. can proceed and the time required for transfer can be reduced. This contributes to improving the processing capability (throughput) of the device mounting apparatus 100 .

制御装置80の記憶装置には、転写元シート3上のデバイスCの位置座標、ロール2の粘着シート1に粘着されたデバイスCの位置座標、実装基板13上のチップTの位置座標が記憶されている。
従って、制御装置80は、粘着シート1に粘着されたデバイスCを、実際に転写する実装基板13上のチップT(以下、転写先チップTと称す。)の位置を指定することができる。
具体的には、粘着シート1に粘着されたデバイスCの辺E1に最も近い角部のデバイスC(以下、基準デバイスCと称す。)について、実装基板13上の転写すべきチップTの位置座標を指定する。
The storage device of the controller 80 stores the positional coordinates of the device C on the transfer source sheet 3, the positional coordinates of the device C adhered to the adhesive sheet 1 of the roll 2, and the positional coordinates of the chip T on the mounting board 13. ing.
Therefore, the control device 80 can specify the position of the chip T on the mounting substrate 13 to which the device C adhered to the adhesive sheet 1 is actually transferred (hereinafter referred to as transfer destination chip T).
Specifically, the positional coordinates of the chip T to be transferred on the mounting substrate 13 for the device C at the corner closest to the side E1 of the device C adhered to the adhesive sheet 1 (hereinafter referred to as the reference device C) are Specify

デバイスCは所定のピッチで整列して配置されており、チップTも所定のピッチで整列して配置されている。そのため、基準デバイスCと転写先の転写先チップTとを指定することにより、粘着シート1上の全てのデバイスCを、転写先の実装基板13上のチップT上に転写することができる。 The devices C are aligned at a predetermined pitch, and the chips T are also aligned at a predetermined pitch. Therefore, by specifying the reference device C and the transfer destination chip T as the transfer destination, all the devices C on the adhesive sheet 1 can be transferred onto the chip T on the mounting substrate 13 as the transfer destination.

制御装置80は、ローラ2の表面上において、基準デバイスCの位置を特定する角度を入手し、基準デバイスCが下方に位置するようにローラ2の回転駆動機構を制御する。
制御装置80は、基準デバイスCのX軸方向の位置座標、及び転写先チップTのX軸方向及びY軸方向の位置座標を入手する。
制御装置80は、基準デバイスCが転写先チップTに接触可能となるようローラ2の昇降機構を制御してローラ2を下降させる。さらに所定の押し込み量に相当する距離分を追加的にロール2を降下させる。
The controller 80 obtains the angle specifying the position of the reference device C on the surface of the roller 2 and controls the rotation drive mechanism of the roller 2 so that the reference device C is positioned below.
The control device 80 obtains the positional coordinates of the reference device C in the X-axis direction and the positional coordinates of the transfer destination chip T in the X-axis and Y-axis directions.
The control device 80 controls the elevating mechanism of the roller 2 to lower the roller 2 so that the reference device C can come into contact with the transfer destination chip T. FIG. Further, the roll 2 is additionally lowered by a distance corresponding to a predetermined pushing amount.

制御装置80は、ローラ2が停止した状態から、所定の一定の接線速度に到達するまでに要する回転角(又は回転時間)を、データとして記憶している。さらに、制御装置80は、第2のテーブル14が、停止した状態から、上記接線速度と同じ移動速度に到達するまでに要する距離(又は移動時間)を、データとして記憶している。
なお、これらのデータは予め実験等により取得可能である。
制御装置80は、ローラ2の接線速度及び第2のテーブル14のY方向の移動速度が一致した状態で、基準デバイスCが転写先チップTと接触するように、ロール2の回転角及び第2のテーブル14の位置を設定する。
The control device 80 stores, as data, the rotation angle (or rotation time) required for the roller 2 to reach a predetermined constant tangential velocity from the stopped state. Further, the control device 80 stores as data the distance (or movement time) required for the second table 14 to reach the same moving speed as the tangential speed from a stopped state.
It should be noted that these data can be obtained in advance through experiments or the like.
The control device 80 adjusts the rotation angle of the roll 2 and the second table 14 so that the reference device C contacts the transfer destination chip T while the tangential speed of the roller 2 and the moving speed of the second table 14 in the Y direction are the same. set the position of the table 14 of

その後、制御装置80は、粘着シート1のデバイスCのY軸方向の速度と、実装基板13上のチップTのY軸方向の速度が等しくなるように、ローラ2の回転駆動機構及び第2のテーブル14のY軸方向駆動機構を制御する。ローラ2の回転とともに粘着シート1のデバイスCは1列ずつ実装基板13上のチップT上に転写される。 After that, the controller 80 controls the rotational drive mechanism of the roller 2 and the second rotation drive mechanism so that the speed of the device C on the adhesive sheet 1 in the Y-axis direction and the speed of the chip T on the mounting substrate 13 in the Y-axis direction are equal. It controls the Y-axis drive mechanism of the table 14 . As the roller 2 rotates, the devices C on the adhesive sheet 1 are transferred row by row onto the chips T on the mounting substrate 13 .

なお、制御装置80は、粘着シート1に粘着されたデバイスCの傾き角及び実装基板13上の転写すべきチップの傾き角を入手し、必要に応じて、第2のテーブル14の回転駆動機構を制御して、Z軸方向の周りに回転させ、傾き角の補正を行ってもよい。 The control device 80 obtains the tilt angle of the device C adhered to the adhesive sheet 1 and the tilt angle of the chip to be transferred on the mounting substrate 13, and if necessary, rotates the rotation drive mechanism of the second table 14. may be controlled to rotate around the Z-axis direction to correct the tilt angle.

(第2の実施形態)-デバイス実装方法-
以下、デバイス実装装置100を用いたデバイス実装方法について説明する。
図11~14は、デバイス実装装置100を用いた、デバイス実装方法の各ステップを説明するフロー図である。
なお、各ステップにおいて実行する内容の詳細、例えば位置計測等は、上記のとおりである。
(Second Embodiment) -Device Mounting Method-
A device mounting method using the device mounting apparatus 100 will be described below.
11 to 14 are flow charts explaining each step of the device mounting method using the device mounting apparatus 100. FIG.
Details of the contents executed in each step, such as position measurement, are as described above.

図11はデバイス実装方法の全体フローを示すフロー図である。以下、フロー順に各ステップについて説明する。
ステップS1は、粘着シート1をロール2に貼り付ける工程である。
ステップS2は、デバイスCを粘着シート1に一次転写する工程である。
ステップS3は、粘着シート1上のデバイスC及び実装基板13上のチップTの位置計測(位置座標の取得)を行う工程である。位置計測については上記のとおりである。
ステップS4は、デバイスCを実装用基板13上のチップTに二次転写する工程である。
FIG. 11 is a flowchart showing the overall flow of the device mounting method. Each step will be described below in the order of the flow.
Step S<b>1 is a process of attaching the adhesive sheet 1 to the roll 2 .
Step S<b>2 is a step of primarily transferring the device C to the adhesive sheet 1 .
Step S3 is a step of performing position measurement (acquisition of position coordinates) of the device C on the adhesive sheet 1 and the chip T on the mounting board 13 . Position measurement is as described above.
Step S<b>4 is a step of secondary transfer of the device C to the chip T on the mounting substrate 13 .

図11に示すように、ロール2に粘着シート1を貼付(ステップS1)後、粘着シート1の粘着性が劣化する等の理由により粘着シート1を張り替えるまで、デバイスCのチップTへの転写(ステップS2、ステップS3、ステップS4)を繰り返すことができる。
なお、繰り返し回数は3回に限定するものではない。
また、同一の実装基板13上に異なる複数種のデバイスCを転写することもできる。
例えば、図7に示す例では、3種類のデバイスC、C’、C’’を同一の実装基板13に転写している。同一の実装基板13に対して、ステップS2、ステップS3、ステップS4を複数回繰り返すことも可能である。
As shown in FIG. 11, after the adhesive sheet 1 is attached to the roll 2 (step S1), the device C is transferred to the chip T until the adhesive sheet 1 is replaced due to deterioration of the adhesiveness of the adhesive sheet 1 or the like. (Step S2, step S3, step S4) can be repeated.
Note that the number of repetitions is not limited to three.
Also, different types of devices C can be transferred onto the same mounting board 13 .
For example, in the example shown in FIG. 7, three types of devices C, C', and C'' are transferred to the same mounting board 13. FIG. Steps S<b>2 , S<b>3 , and S<b>4 can be repeated multiple times for the same mounting board 13 .

図12は、ステップS1(粘着シート貼付)をより詳細なステップに分解して説明するフロー図である。
以下、図12を参照し、フロー順に各ステップを説明する。
ステップS1-1:粘着シート1を第1のテーブル4のチャッキング機構上にセット(載置)する。より具体的には、第1のテーブル4のチャッキング機構(例えば、真空チャック用のプレート41)上に粘着シート1をセットする。この作業は、作業者により手動で実行してもよいが、搬送装置により自動で実行してもよい。
ステップS1-2:粘着シート1をチャッキング(吸着)する。
ステップS1-3:スタートスイッチをオンにする。デバイス実装装置100の制御装置80による転写シーケンスの制御が開始される。上記のように、各主要構成要素は制御装置80による制御が可能となる。また、ロール2、第1のテーブル4、第2のテーブル14等は、可動範囲の校正を行い、その後原点(ホームポジション)に復帰するよう構成してもよい。
なお、スタートスイッチをオンにするステップは、他のフローについても同様である。
ステップS1-4:ロール2の表面が粘着シート1に接触可能なように、ロール2が粘着シート1の貼付可能位置まで降下する。ロール2を下降させることにより、ロール2の表面と粘着シート1の表面の水平レベルを整合させる。例えば、両表面の水平レベルを一致させてもよいが、押し込み量を考慮して両表面の水平レベルを設定してもよい。以下のロール2の下降のステップにおいても同様である。
なお、このステップにおいては、ロール2の表面は粘着シート1に接触していない。
ステップS1-5:第1のテーブル4がロール2の下方へと水平移動する。このステップにおいて、ロール2の粘着シート1の取付開始箇所が第1のテーブル4側になるようロール2が回転する。例えば、ロール2上に粘着シート1の端部を粘着させる箇所に基準マークや目盛を設けておき取付開始箇所としてもよい。基準マークは、ロール2の表面において円周位置を決定する基準として機能させることもできる。
また、図4(D)に示すように、複数の粘着シート1をロール2上に貼付する場合、粘着シート1が取り付けられていないロール2表面を第1のテーブル4側に向ける。
ステップS1-6:ロール2上へ粘着シート1の貼付(粘着)を開始する。制御装置80は、ロール2及び第1のテーブル4の粘着動作の制御を開始し、ロール2を回転させると共に、第1のテーブル4を水平移動させる。ロール2及び第1のテーブル4が停止した状態から加速し、第1のテーブル4の水平方向の速度と、ロール2の接線速度とを一致させる。その後、第1のテーブル4の水平方向の移動速度及びロール2の回転速度は、それぞれ一定を維持する。
ステップS1-7:ロール2の回転と同期して第1のテーブル4が水平移動し、第1のテーブル4上の粘着シート1が、端部の辺から順にロール2の表面に接触し、貼付される。
なお、ロール2と粘着シート1とをそれぞれ停止した状態で接触させ、その後にロール2の回転と粘着シート1の水平移動を行うように設定してもよい。しかし、第1のテーブル4の水平方向の速度とロール2の接線速度とを一致させた後にロール2と粘着シート1とを接触し、貼付しているため、粘着シート1の全長に亘って、同一テンションで貼付が可能となる。
ステップS1-8:第1のテーブル4上の全ての粘着シート1がロール2の表面へ貼付される。粘着シート1のロール2への粘着動作が終了する。ロール2の回転と第1のテーブル4の移動が停止する。
ステップS1-9:ロール2が、第1のテーブル4の移動と干渉しない位置に上昇する。
ステップS1-10:第1のテーブル4とロール2が原点(ホームポジション)に移動(原点復帰)する。
FIG. 12 is a flowchart for explaining step S1 (adhesion of adhesive sheet) by disassembling it into more detailed steps.
Hereinafter, each step will be described in order of flow with reference to FIG.
Step S1-1: The adhesive sheet 1 is set (placed) on the chucking mechanism of the first table 4. FIG. More specifically, the adhesive sheet 1 is set on the chucking mechanism (for example, the plate 41 for vacuum chuck) of the first table 4 . This work may be performed manually by an operator, or may be performed automatically by a conveying device.
Step S1-2: The adhesive sheet 1 is chucked (adsorbed).
Step S1-3: Turn on the start switch. Control of the transfer sequence by the controller 80 of the device mounting apparatus 100 is started. As noted above, each major component can be controlled by controller 80 . Further, the roll 2, the first table 4, the second table 14, etc. may be configured to calibrate the movable range and then return to the origin (home position).
The step of turning on the start switch is the same for other flows.
Step S1-4: The roll 2 is lowered to a position where the adhesive sheet 1 can be pasted so that the surface of the roll 2 can contact the adhesive sheet 1. By lowering the roll 2, the horizontal level of the surface of the roll 2 and the surface of the adhesive sheet 1 is aligned. For example, the horizontal levels of both surfaces may be the same, or the horizontal levels of both surfaces may be set in consideration of the amount of pushing. The same applies to the step of lowering the roll 2 below.
Note that the surface of the roll 2 is not in contact with the adhesive sheet 1 in this step.
Step S1-5: The first table 4 moves horizontally below the roll 2. In this step, the roll 2 is rotated so that the attachment start position of the adhesive sheet 1 of the roll 2 is on the first table 4 side. For example, a reference mark or a scale may be provided on the roll 2 where the end portion of the adhesive sheet 1 is to be adhered, and this may be used as the attachment start point. The fiducial marks can also serve as references for determining the circumferential position on the surface of the roll 2 .
Further, as shown in FIG. 4(D), when a plurality of adhesive sheets 1 are attached on the roll 2, the surface of the roll 2 on which the adhesive sheets 1 are not attached faces the first table 4 side.
Step S1-6: Start sticking (sticking) the adhesive sheet 1 onto the roll 2. The control device 80 starts controlling the adhesion operation of the roll 2 and the first table 4, rotates the roll 2, and moves the first table 4 horizontally. The roll 2 and the first table 4 are accelerated from a stopped state to make the horizontal speed of the first table 4 and the tangential speed of the roll 2 match. After that, the horizontal movement speed of the first table 4 and the rotation speed of the roll 2 are kept constant.
Step S1-7: The first table 4 moves horizontally in synchronization with the rotation of the roll 2, and the adhesive sheet 1 on the first table 4 comes into contact with the surface of the roll 2 in order from the edge, and sticks. be done.
Alternatively, the roll 2 and the adhesive sheet 1 may be stopped and brought into contact with each other, and then the roll 2 is rotated and the adhesive sheet 1 is moved horizontally. However, after the horizontal speed of the first table 4 and the tangential speed of the roll 2 are matched, the roll 2 and the pressure-sensitive adhesive sheet 1 are brought into contact with each other and adhered. Affixing is possible with the same tension.
Step S1-8: All the adhesive sheets 1 on the first table 4 are attached to the surface of the roll 2; The operation of adhering the adhesive sheet 1 to the roll 2 is completed. The rotation of the roll 2 and the movement of the first table 4 are stopped.
Step S1-9: The roll 2 rises to a position where it does not interfere with the movement of the first table 4.
Step S1-10: The first table 4 and the roll 2 move to the origin (home position) (origin return).

図13は、転写元シート3からロール2に貼付された粘着シート1にデバイスCを一次転写するステップS2を説明するフロー図である。
以下、図13を参照し、フロー順に各ステップを説明する。
ステップS2-1:転写元シート3を第1のテーブル4のチャッキング機構上にセット(載置)する。セット(載置)する。
この作業は、作業者により手動で実行してもよいが、搬送装置により自動で実行してもよい。
転写元シート3上のデバイスCの配列が第1のテーブル4のX軸、Y軸方向に揃うようにセットする。ただし、デバイスCの配列に傾きが生じた場合、後のステップで修正する。
ステップS2-2:転写元シート3をチャッキング(吸着)する。チャッキングにより、以降のステップにおいて、転写元シート3が不要に動くことがない。
ステップS2-3:スタートスイッチをオンにする。
ステップS2-4:第1のテーブル4及びロール2に対して距離計測位置に移動する。
距離測定は、第1のテーブル4に設けられた距離測定器7aにより可能である。距離測定器7aが、ロール2の回転軸Jの鉛直方向の下方に配置されるように、第1のテーブル4が移動する。
ステップS2-5:第1のテーブル4とロール2との間の距離を計測する。
また、このステップにおいて、転写元シート3上のデバイスCの位置(デバイスCの配列の傾きを含む)を計測する。上記のとおり、距離の計測は距離測定器7a、7bを使用し、デバイスCの位置の計測は第2のカメラ21を使用することができる。計測結果は制御装置80の記憶装置に保存される。第2のカメラ21で撮像しながら第1のテーブル4をY軸方向に移動させ、Y軸方向のデバイスCの一次転写開始位置及び一次転写終了位置を取得することができる。
ステップS2-6:第1のテーブル4を水平に移動すると共に、ロール2を回転し、粘着シート1がデバイスCを粘着して一次転写が可能となる位置に、粘着シート1を配置する(図3(A)(1)参照)。
このステップでは、ロール2と第1のテーブル4のアライメントを行う位置まで移動する。第1のテーブル4を高速移動させることで、スループット向上に寄与する。
ステップS2-7:ロール2に貼付された粘着シート1と転写元シート3上のデバイスCとのアライメントを実行する。アライメントは、デバイスCの位置を基に実行し、ロール2の回転軸Jに対する傾きを補正することが可能である。また、好適には、粘着シート1のX軸方向の中央と転写元シート3のX軸方向の中央とを合わせる。
アライメント後の状況は第2のカメラ21で確認可能である。
転写元シート3のデバイスCの配列に傾きがある場合、アライメントにより、転写元シート3のデバイスCのX軸方向の列が、ロール2の回転軸Jと平行になるように第1のテーブル4の回転機構を用いて補正される。
ステップS2-8:粘着シート1が転写元シート3上のデバイスCと接触可能となるように、ロール2が下降する。このステップで、粘着シート1の表面と転写元シート3上のデバイスCの表面の水平レベルを整合させる。(図3(A)(2)参照)。
なお、このステップでは、粘着シート1とデバイスCとは接触していない。
ステップS2-9:一次転写のため、第1のテーブル4とロール2とが静止した状態から、第1のテーブル4の水平移動とロール2の回転を開始する。第1のテーブル4の水平方向の移動速度とロール2の接線速度とを一致させる。速度が一致した段階で第1のテーブル4の水平方向の移動速度及びロール2の回転速度は、それぞれ一定を維持する(それぞれ等速度になる)。
ステップS2-10:ロール2を回転させると共に、ロール2の回転に同期して第1のテーブル4を水平移動させることで、転写元シート3上のデバイスCから粘着シート1への貼り付けを開始する(図3(A)(3)参照)。
ステップS2-11:第1のテーブル4に載置された転写元シート3上のデバイスCがロール2の粘着シート1に順次1列ずつ又は連続した複数列ずつ接触し、粘着される。
なお、ロール2上の粘着シート1と転写元シート3上のデバイスCとをそれぞれ停止した状態で接触させ、その後にロール2の回転と第1のテーブル4の水平移動を行うように設定してもよい。しかし、第1のテーブル4の水平方向の速度とロール2の接線速度とを一致させた後に粘着シート1とデバイスCとを接触し、粘着しているため、粘着シート1の全長に亘って均等にデバイスCが粘着される。その結果、高い位置精度で粘着シート1にデバイスCを粘着することが可能となる。
ステップS2-12:デバイスCの転写元シート3から粘着シート1への転写が終了し、ロール2の回転と第1のテーブル4の移動が停止する(図3(A)(4)参照)。
制御装置80は、最初に一次転写されるデバイスCの列の位置(一次転写開始列のY座標)と、最後に一次転写されるデバイスCの列の位置(一次転写終了列のY座標)から、ロール2の回転角度を算出し、記憶装置に保存している。そのため、全てのデバイスCの一次転写が終了する第1のテーブル4の停止位置とロール2の回転停止位置(停止角度)を把握している制御装置80により、第1のテーブル4の水平移動とロール2の回転の開始と停止を制御することができる。
ステップS2-13:後ロール2が上昇する(図3(A)(5)参照)。
ステップS2-14:第1のテーブル4とロール2が原点(ホームポジション)に移動(原点復帰)する(図3(A)(6)参照)。
FIG. 13 is a flowchart for explaining step S2 of primarily transferring the device C from the transfer source sheet 3 to the adhesive sheet 1 attached to the roll 2. As shown in FIG.
Hereinafter, each step will be described in order of flow with reference to FIG.
Step S2-1: The transfer source sheet 3 is set (placed) on the chucking mechanism of the first table 4. FIG. Set (place).
This work may be performed manually by an operator, or may be performed automatically by a conveying device.
The devices C on the transfer source sheet 3 are set so as to be aligned in the X-axis and Y-axis directions of the first table 4 . However, if the arrangement of the devices C is tilted, it will be corrected in a later step.
Step S2-2: The transfer source sheet 3 is chucked (attracted). Chucking prevents the transfer source sheet 3 from moving unnecessarily in subsequent steps.
Step S2-3: Turn on the start switch.
Step S2-4: Move to the distance measurement position with respect to the first table 4 and the roll 2.
Distance measurement is possible with a distance measuring device 7 a provided on the first table 4 . The first table 4 moves so that the distance measuring device 7a is arranged below the rotation axis J of the roll 2 in the vertical direction.
Step S2-5: The distance between the first table 4 and the roll 2 is measured.
Also, in this step, the positions of the devices C on the transfer source sheet 3 (including the inclination of the arrangement of the devices C) are measured. As described above, the distance measurement can use the rangefinders 7a, 7b and the position measurement of the device C can use the second camera 21. FIG. The measurement results are saved in the storage device of the control device 80 . By moving the first table 4 in the Y-axis direction while imaging with the second camera 21, the primary transfer start position and the primary transfer end position of the device C in the Y-axis direction can be acquired.
Step S2-6: The first table 4 is moved horizontally, the roll 2 is rotated, and the adhesive sheet 1 is placed at a position where the adhesive sheet 1 adheres to the device C and primary transfer is possible (Fig. 3(A)(1)).
In this step, the roll 2 and the first table 4 are moved to a position for alignment. High-speed movement of the first table 4 contributes to an improvement in throughput.
Step S2-7: The adhesive sheet 1 attached to the roll 2 and the device C on the transfer source sheet 3 are aligned. Alignment can be performed based on the position of the device C to correct the tilt of the roll 2 with respect to the axis of rotation J. Preferably, the center of the adhesive sheet 1 in the X-axis direction and the center of the transfer source sheet 3 in the X-axis direction are aligned.
The situation after alignment can be confirmed by the second camera 21 .
When the arrangement of the devices C on the transfer source sheet 3 is tilted, the first table 4 is aligned so that the rows of the devices C on the transfer source sheet 3 in the X-axis direction are parallel to the rotation axis J of the roll 2 . is corrected using the rotation mechanism of
Step S2-8: The roll 2 descends so that the adhesive sheet 1 can come into contact with the device C on the transfer source sheet 3. In this step, the horizontal level of the surface of the adhesive sheet 1 and the surface of the device C on the transfer source sheet 3 is aligned. (See FIG. 3(A)(2)).
Note that the adhesive sheet 1 and the device C are not in contact with each other in this step.
Step S2-9: For primary transfer, horizontal movement of the first table 4 and rotation of the roll 2 are started from a state in which the first table 4 and the roll 2 are stationary. The horizontal moving speed of the first table 4 and the tangential speed of the roll 2 are matched. When the speeds match, the horizontal movement speed of the first table 4 and the rotation speed of the rolls 2 are maintained constant (they become constant speeds).
Step S2-10: By rotating the roll 2 and horizontally moving the first table 4 in synchronization with the rotation of the roll 2, the device C on the transfer source sheet 3 starts to stick to the adhesive sheet 1. (see FIG. 3(A)(3)).
Step S2-11: The devices C on the transfer source sheet 3 placed on the first table 4 are brought into contact with the adhesive sheet 1 on the roll 2 one by one in sequence or by a plurality of continuous rows, and are adhered.
The adhesive sheet 1 on the roll 2 and the device C on the transfer source sheet 3 are brought into contact with each other in a stopped state, and then the roll 2 is rotated and the first table 4 is horizontally moved. good too. However, after the horizontal speed of the first table 4 and the tangential speed of the roll 2 are matched, the pressure-sensitive adhesive sheet 1 and the device C are brought into contact with each other and are adhered. device C is adhered to. As a result, it becomes possible to adhere the device C to the adhesive sheet 1 with high positional accuracy.
Step S2-12: The transfer from the original transfer sheet 3 of the device C to the adhesive sheet 1 is completed, and the rotation of the roll 2 and the movement of the first table 4 are stopped (see FIG. 3(A) (4)).
The control device 80 determines the position of the row of the device C to which the first primary transfer is performed (the Y coordinate of the primary transfer start row) and the position of the row of the device C to which the last primary transfer is performed (the Y coordinate of the primary transfer end row). , the rotation angle of the roll 2 is calculated and stored in the storage device. Therefore, the horizontal movement of the first table 4 and the The start and stop of rotation of the roll 2 can be controlled.
Step S2-13: The rear roll 2 is lifted (see FIG. 3(A)(5)).
Step S2-14: The first table 4 and roll 2 move to the origin (home position) (return to origin) (see FIG. 3(A) (6)).

図14は、ロール2に貼付された粘着シート1上のデバイスCの位置を計測するステップS3と、粘着シート1から実装基板13のチップT上に二次転写するステップS4を説明するフロー図である。
以下、図14を参照し、ステップS3とステップS4について、それぞれフロー順に各ステップを説明する。
なお、ステップS3の結果をステップS4に活用するため、ステップS3の後にステップS4を実行するが、ステップS3とステップS4とを同時に進行させてもよい。
FIG. 14 is a flowchart for explaining the step S3 of measuring the position of the device C on the adhesive sheet 1 attached to the roll 2 and the step S4 of secondary transfer from the adhesive sheet 1 onto the chip T of the mounting board 13. FIG. be.
Hereinafter, with reference to FIG. 14, steps S3 and S4 will be described in order of the flow.
In order to utilize the result of step S3 in step S4, step S4 is executed after step S3, but step S3 and step S4 may proceed simultaneously.

<デバイス位置計測>
ステップS3-1:スタートスイッチをオンにする。
ステップS3-2:ロール3に貼付された粘着シート1上のデバイスCが第1のカメラ20により撮像可能なようにロール2が上昇する。
ステップS3-3:第1のカメラ20により粘着シート1上のデバイスCの位置計測可能な位置でロール2が停止する。
ステップS3-4:第1のカメラ20により粘着シート1上のデバイスCの位置計測を開始する。
ステップS3-5:デバイスCの位置を計測する。
ロール2を回転させながら第1のカメラ20によりデバイスCを撮像することで、粘着シート1上の円周方向に、デバイスCの位置を順次計測することができる。回転軸Jに対するデバイスCの列の傾きの有無の確認、及び傾きが確認された場合には傾き角度の計測も可能である。
制御装置80は、デバイスCの位置をロール2の回転角度、または円周方向の距離と対応させて記憶装置に保存する。
また、回転軸Jに対するデバイスCの列の傾きが確認された場合、傾き角度も記憶装置に保存される。
ステップS3-6:デバイスCの位置計測が終了する。
<Device position measurement>
Step S3-1: Turn on the start switch.
Step S3-2: The roll 2 is lifted so that the device C on the adhesive sheet 1 attached to the roll 3 can be imaged by the first camera 20. FIG.
Step S3-3: The roll 2 stops at a position where the position of the device C on the adhesive sheet 1 can be measured by the first camera 20. FIG.
Step S3-4: Position measurement of the device C on the adhesive sheet 1 by the first camera 20 is started.
Step S3-5: Measure the position of device C.
By imaging the device C with the first camera 20 while rotating the roll 2 , the position of the device C can be sequentially measured in the circumferential direction on the adhesive sheet 1 . It is also possible to confirm whether or not the row of devices C is tilted with respect to the rotation axis J, and to measure the tilt angle when the tilt is confirmed.
The controller 80 associates the position of the device C with the rotation angle of the roll 2 or the distance in the circumferential direction and stores it in the storage device.
Also, if the tilt of the row of devices C with respect to the axis of rotation J is confirmed, the tilt angle is also stored in the storage device.
Step S3-6: Position measurement of device C ends.

<二次転写>
ステップS4-1:実装基板13を第2のテーブル14のチャッキング機構上にセット(載置)する。この作業は、作業者により手動で実行してもよいが、搬送装置により自動で実行してもよい。
実装基板13上のチップTの配列が第2のテーブル14のX軸、Y軸方向に揃うようにセットする。ただし、チップTの配列に傾きが生じた場合、後のステップで修正する。
なお、デバイス実装装置100が、第2のテーブル14を備えず、第1のテーブル4のみを備える場合には、第2のテーブル14の代わりに第1のテーブル4を使用する。この場合、以下の各ステップにおいて、第2のテーブル14は第1のテーブル4、第3のカメラ22は第2のカメラ21を意味する。
ステップS4-2:実装基板13をチャッキング(吸着)する。
チャッキングにより、以降のステップにおいて、実装基板13が不要に動くことがない。
ステップS4-3:スタートスイッチをオンにする。
ステップS4-4:第2のテーブル14上の実装基板13の厚さを計測するため、距離測定器6の下方に第2のテーブル14が水平移動する。
ステップS4-5:実装基板13の厚さを計測する。具体的には、上方に設置された距離測定器6は、距離測定器6と第2のテーブル14との距離、及び距離測定器6と実装基板13に設けられたチップTの表面との距離を計測する。これらの距離の差分から第2のテーブル4の表面から実装基板13のチップTの表面までの距離、すなわち実装基板13の厚さを計測する。
また、このステップにおいて、実装基板13上のチップTの位置(チップTの配列の傾きを含む)を計測する。上記のとおり、チップTの位置の計測は第3のカメラ22を使用することができ、計測結果は制御装置80の記憶装置に保存される。第3のカメラ22で撮像しながら第2のテーブル14を水平に移動し、チップTの二次転写位置取得することができる。
また、ロール2に貼付された粘着シート1と第2のテーブル14との距離を距離測定器7b(又は、距離測定器7a)により計測する。
計測された各計測値は、制御装置80の記憶装置に保存される。
ステップS4-6:第2のテーブル14とロール2との距離を計測するため、ロール2の下方に第2のテーブル14が水平移動する。具体的には第2のテーブル14に設けられた距離測定器7aがロール2の回転軸Jの下方に位置するよう、第2のテーブル14が移動する。
ステップS4-7:第2のテーブル14とロール2との距離を計測する。
距離測定器7aの出力は制御装置80に入力され、制御装置80の記憶装置に保存される。
ステップS4-8:第2のテーブル14を水平に移動すると共に、ロール2を回転し、粘着シート1に粘着されたデバイスCが、実装基板13上のチップTに粘着され、二次転写が可能となる位置に粘着シート1を配置する(図3(B)(1)参照)。第2のテーブル14はロール2とアライメント可能な位置に移動される。
粘着シート1の基準デバイスCが実装基板13の転写先チップTに転写可能なように、ロール2の回転軸J周りの回転角を調整する。
なお、例えば、図7に示すように複数種のデバイスCをチップT上に二次転写する場合、基準デバイスC(基準となるデバイスC)を転写するチップT(転写先チップT)デバイスCにより異なるため転写チップTを特定し、実装基板13上において基準デバイスCと転写先チップTの座標が一致するよう、ロール2及び第2のテーブル14の回転角度、位置が調整される。
ステップS4-9:ロール2に貼付された粘着シート1上のデバイスCが、正確に実装基板13のチップT上に粘着されるように、実装基板13をアライメントする。具体的には、ステップS3-5により取得したデバイスCの位置座標と、ステップステップS4-5で取得したチップTの位置座標とを照合し、デバイスCのX軸方向の列とチップTのX軸方向の列が平行となり、デバイスCとチップTとが重なるよう、第2のテーブル14の駆動機構により傾き角及びX軸方向、Y軸方向の位置を補正する。このようにして、ロール2と実装基板13との相対的位置関係を確定し、調整することができる。
ステップS4-10:粘着シート1上のデバイスCがチップTの表面と接触可能となるように、ロール2を下降する(図3(B)(2)参照)。
ロール2の下降距離は、ロール2と第2のテーブル14との距離、実装基板13の厚さ(第2のテーブル14の表面からチップT表面までの高さ)、ロール2の表面からデバイスCの表面までの高さにより算出される。制御装置80は算出されたロール2の下降量に基づき、ロール2の昇降機構を制御し、ロール2を下降させる。
なお、下降量には、さらに押し込みを考慮して、押し込み量、例えば5μmを加えてもよい。
ステップS4-11:二次転写のため、第2のテーブル14とロール2とが静止した状態から、第2のテーブル14の水平移動とロール2の回転を開始する。第2のテーブル14の水平方向の移動速度とロール2の接線速度とを一致させる。速度が一致した段階で第2のテーブル14の水平方向の移動速度及びロール2の回転速度は、それぞれ一定を維持する(それぞれ等速度になる)。
ステップS4-12:ロール2を回転させると共に、ロール2の回転に同期して第2のテーブル14を水平移動させることで、粘着シート1からへ実装基板13のデバイスCの貼り付けを開始する(図3(B)(3)参照)。チップT上に設けられた粘着層の粘着力が、粘着シート1の粘着層1ALの粘着力より大きいため、チップT上の粘着層に接触したデバイスCは粘着シート1からチップT上に転写される。
本ステップにおいてデバイスCが粘着シート1から実装基板13のチップT上に順次1列ずつ接触し、粘着され、転写される。
ステップS4-13:ロール2の粘着シート1上のデバイスCが第2のテーブル14上の実装基板13への転写が終了し、ロール2の回転と第2のテーブル14の移動が停止する(図3(B)(4)参照)。
制御装置80は、最初に二次転写されるロール2上のデバイスCの列の位置(回転角)と実装基板13上のチップTの列の位置(Y軸座標)と、最後に二次次転写されるロール2上のデバイスCの列の位置(回転角)と実装基板13上のチップTの列の位置(Y軸座標)を認識しているため、第2のテーブル14の水平移動とロール2の回転の開始と停止を制御することができる。
ステップS4-14:ロール2が上昇する(図3(B)(5)参照)。
ステップS4-15:第2のテーブル4とロール2が原点(ホームポジション)に移動(原点復帰)する(図3(B)(6)参照)。
<Secondary transfer>
Step S4-1: The mounting substrate 13 is set (placed) on the chucking mechanism of the second table 14. FIG. This work may be performed manually by an operator, or may be performed automatically by a conveying device.
The chips T on the mounting substrate 13 are set so as to be aligned in the X-axis and Y-axis directions of the second table 14 . However, if the arrangement of the chips T is tilted, it will be corrected in a later step.
If the device mounting apparatus 100 does not have the second table 14 but only the first table 4 , the first table 4 is used instead of the second table 14 . In this case, the second table 14 means the first table 4 and the third camera 22 means the second camera 21 in the following steps.
Step S4-2: The mounting substrate 13 is chucked (attracted).
Chucking prevents the mounting board 13 from moving unnecessarily in subsequent steps.
Step S4-3: Turn on the start switch.
Step S4-4: In order to measure the thickness of the mounting substrate 13 on the second table 14, the second table 14 is horizontally moved below the distance measuring device 6. FIG.
Step S4-5: The thickness of the mounting board 13 is measured. Specifically, the distance measuring device 6 installed above measures the distance between the distance measuring device 6 and the second table 14 and the distance between the distance measuring device 6 and the surface of the chip T provided on the mounting substrate 13. to measure From the difference between these distances, the distance from the surface of the second table 4 to the surface of the chip T on the mounting board 13, that is, the thickness of the mounting board 13 is measured.
Also, in this step, the positions of the chips T on the mounting board 13 (including the inclination of the arrangement of the chips T) are measured. As described above, the third camera 22 can be used to measure the position of the chip T, and the measurement results are stored in the storage device of the control device 80 . The secondary transfer position of the chip T can be acquired by horizontally moving the second table 14 while taking an image with the third camera 22 .
Also, the distance between the adhesive sheet 1 attached to the roll 2 and the second table 14 is measured by the distance measuring device 7b (or the distance measuring device 7a).
Each measured value is stored in the storage device of the control device 80 .
Step S4-6: In order to measure the distance between the second table 14 and the roll 2, the second table 14 moves horizontally below the roll 2. Specifically, the second table 14 moves so that the distance measuring device 7 a provided on the second table 14 is positioned below the rotation axis J of the roll 2 .
Step S4-7: The distance between the second table 14 and the roll 2 is measured.
The output of the distance measuring device 7a is input to the control device 80 and stored in the storage device of the control device 80. FIG.
Step S4-8: Move the second table 14 horizontally and rotate the roll 2 so that the device C adhered to the adhesive sheet 1 is adhered to the chip T on the mounting substrate 13, and secondary transfer is possible. The pressure-sensitive adhesive sheet 1 is placed at the position where the position is (see FIG. 3(B)(1)). The second table 14 is moved to a position where alignment with the roll 2 is possible.
The rotation angle of the roll 2 around the rotation axis J is adjusted so that the reference device C on the adhesive sheet 1 can be transferred to the transfer destination chip T on the mounting board 13 .
For example, as shown in FIG. 7, when a plurality of types of devices C are secondary-transferred onto a chip T, the chip T (transfer destination chip T) device C that transfers the reference device C (reference device C) Since they are different, the transfer chip T is specified, and the rotation angles and positions of the roll 2 and the second table 14 are adjusted so that the coordinates of the reference device C and the transfer destination chip T on the mounting board 13 match.
Step S4-9: The mounting board 13 is aligned so that the device C on the adhesive sheet 1 attached to the roll 2 is accurately adhered onto the chip T of the mounting board 13. FIG. Specifically, the positional coordinates of the device C acquired in step S3-5 and the positional coordinates of the chip T acquired in step S4-5 are collated, and the row of the device C in the X-axis direction and the X The drive mechanism of the second table 14 corrects the tilt angle and the positions in the X-axis direction and the Y-axis direction so that the rows in the axial direction become parallel and the devices C and the chips T overlap. In this way, the relative positional relationship between the roll 2 and the mounting board 13 can be determined and adjusted.
Step S4-10: Lower the roll 2 so that the device C on the adhesive sheet 1 can come into contact with the surface of the chip T (see FIG. 3(B) (2)).
The lowering distance of the roll 2 is determined by the distance between the roll 2 and the second table 14, the thickness of the mounting substrate 13 (the height from the surface of the second table 14 to the surface of the chip T), and the device C from the surface of the roll 2. It is calculated by the height to the surface of The controller 80 controls the lifting mechanism of the roll 2 based on the calculated amount of descent of the roll 2 to lower the roll 2 .
In consideration of further pushing, the pushing amount, for example, 5 μm may be added to the lowering amount.
Step S4-11: For secondary transfer, the horizontal movement of the second table 14 and the rotation of the roll 2 are started from the state in which the second table 14 and the roll 2 are stationary. The horizontal moving speed of the second table 14 and the tangential speed of the roll 2 are matched. When the speeds match, the horizontal movement speed of the second table 14 and the rotation speed of the roll 2 are maintained constant (they become constant speeds).
Step S4-12: By rotating the roll 2 and horizontally moving the second table 14 in synchronization with the rotation of the roll 2, the attachment of the device C on the mounting board 13 from the adhesive sheet 1 is started ( See FIG. 3(B)(3)). Since the adhesive force of the adhesive layer provided on the chip T is greater than the adhesive force of the adhesive layer 1AL of the adhesive sheet 1, the device C in contact with the adhesive layer on the chip T is transferred from the adhesive sheet 1 onto the chip T. be.
In this step, the devices C are brought into contact with the chips T on the mounting board 13 from the adhesive sheet 1 one by one, adhered, and transferred.
Step S4-13: The transfer of the device C on the adhesive sheet 1 of the roll 2 to the mounting board 13 on the second table 14 is completed, and the rotation of the roll 2 and the movement of the second table 14 are stopped (Fig. 3(B)(4)).
The control device 80 first determines the position (rotation angle) of the row of devices C on the roll 2 to be secondary-transferred, the position (Y-axis coordinate) of the row of chips T on the mounting board 13, and finally the secondary Since the position (rotation angle) of the row of devices C on the roll 2 to be transferred and the position (Y-axis coordinate) of the row of chips T on the mounting substrate 13 are recognized, the horizontal movement of the second table 14 and The start and stop of rotation of the roll 2 can be controlled.
Step S4-14: The roll 2 rises (see FIG. 3(B)(5)).
Step S4-15: The second table 4 and roll 2 move to the origin (home position) (return to origin) (see FIG. 3(B) (6)).

このように、図11に示す全体フローに従って、デバイスCを転写元シート3からロール2の粘着シート1に一次転写し、その後、粘着シート1から実装基板13に二次転写される。
上記のように、カメラによる画像及び距離測定器による距離測定の結果を有機的に組み合わせデバイスCとチップTとをアライメントするため、位置精度よくデバイスCを実装基板13の所定のチップT上に実装することができ、さらに転写時の押し込み量も正確に制御可能となる。
In this way, according to the overall flow shown in FIG. 11, the device C is primarily transferred from the original transfer sheet 3 to the adhesive sheet 1 of the roll 2, and then secondarily transferred from the adhesive sheet 1 to the mounting board 13. FIG.
As described above, the device C is mounted on the predetermined chip T on the mounting substrate 13 with high positional accuracy in order to organically combine the image from the camera and the distance measurement result from the distance measuring device to align the device C and the chip T. Furthermore, the pressing amount during transfer can be accurately controlled.

本発明にかかるデバイス実装装置によれば、ロールに貼付した粘着シートを介して精度よくデバイスを実装基板に転写することができる。さらに、粘着シートの粘着力の経時劣化に対しても、容易に対処することも可能となり、産業上の利用可能性は高い。 According to the device mounting apparatus of the present invention, the device can be accurately transferred onto the mounting board via the adhesive sheet attached to the roll. Furthermore, it becomes possible to easily cope with deterioration of the adhesive force of the adhesive sheet over time, and the industrial applicability is high.

100 デバイス実装装置
1、1a、1b、1c 粘着シート
1AL 粘着層
1PL 保護層
2 ロール
2S シャフト
3、3'、3'' 転写元シート
4 第1のテーブル(定盤)
5 アライメントマーク
6 距離測定器(変位計)
7a、7b 距離測定器(変位計)
13 実装基板(転写先基板)
14 第2のテーブル(定盤)
20 第1のカメラ
21 第2のカメラ
22 第3のカメラ
41 プレート
42 排気通路
80 制御装置
J 回転軸
E1、E3、E13 辺
FL21、FL21-1、FL21-2、FL21-3 視野
C、C'、C'' デバイス
Cx、Cy ピッチ
T チップ(マウント部)
Tx、Ty ピッチ
100 Device mounting apparatus 1, 1a, 1b, 1c Adhesive sheet 1AL Adhesive layer 1PL Protective layer 2 Roll 2S Shafts 3, 3', 3'' Transfer source sheet 4 First table (surface plate)
5 alignment mark 6 distance measuring device (displacement meter)
7a, 7b distance measuring instrument (displacement meter)
13 Mounting substrate (transfer destination substrate)
14 Second table (surface plate)
20 First camera 21 Second camera 22 Third camera 41 Plate 42 Exhaust passage 80 Control device J Rotational axes E1, E3, E13 Sides FL21, FL21-1, FL21-2, FL21-3 Field of view C, C' , C'' Device Cx, Cy Pitch T Chip (mount part)
Tx, Ty Pitch

Claims (5)

回転軸(J)の周りに回転可能な円筒形のロール(2)と、
水平方向の移動と鉛直方向の軸の周りの回転を可能とするテーブル駆動機構を有するテーブル(4、14)と、
前記ロール(2)の表面を撮像するロール用カメラ(20)と、
前記テーブル(4)の表面を撮像するテーブル用カメラ(21、22)と、
制御装置(80)とを備え、
前記テーブル(4、14)は前記ロール(2)に貼付する粘着シート(1)、デバイス(C)を表面に有する転写元シート(3)、及び前記デバイス(C)の転写先であるマウント部(T)を表面に有する実装基板(13)を載置するものであり、
前記制御部は、
前記ロール(2)に貼付された前記粘着シート(1)に粘着された状態での、前記ロール用カメラ(20)による前記デバイス(C)の画像を処理することで前記デバイス(C)の位置情報を取得し、
前記テーブル(2)に載置された状態での、前記テーブル用カメラ(21、22)による前記マウント部(T)の画像を処理することで前記マウント部(T)の位置情報を取得し、
前記マウント部(T)の位置情報と前記デバイス(C)の位置情報とに基づき、前記ロール(2)と前記テーブル(4、14)とのアライメントを制御することを特徴とするデバイス実装装置。
a cylindrical roll (2) rotatable about an axis of rotation (J);
a table (4, 14) having a table drive mechanism allowing horizontal movement and rotation about a vertical axis;
a roll camera (20) for imaging the surface of the roll (2);
table cameras (21, 22) for imaging the surface of the table (4);
a controller (80),
The tables (4, 14) include an adhesive sheet (1) to be attached to the roll (2), a transfer source sheet (3) having a device (C) on its surface, and a mount section to which the device (C) is transferred. A mounting substrate (13) having (T) on the surface is placed,
The control unit
Position of the device (C) by processing an image of the device (C) by the roll camera (20) in a state of being adhered to the adhesive sheet (1) adhered to the roll (2) get information,
Acquiring positional information of the mount portion (T) by processing an image of the mount portion (T) by the table cameras (21, 22) while the mount portion (T) is placed on the table (2);
A device mounting apparatus for controlling alignment between said roll (2) and said table (4, 14) based on positional information of said mount (T) and positional information of said device (C).
前記テーブル(4、14)上に載置された前記実装基板(13)の前記マウント部(T)の高さを測定する第1の距離測定器(6)と、
前記テーブル(4、14)と前記ロール(2)に貼付された前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)との距離を測定する第2の距離測定器(7a、7b)とを備えることを特徴とする請求項1記載のデバイス実装装置。
a first distance measuring device (6) for measuring the height of the mounting portion (T) of the mounting substrate (13) placed on the table (4, 14);
A second distance measuring device (7a, 7b) for measuring the distance between the table (4, 14) and the device (C) on the adhesive sheet (1) attached to the roll (2). 2. The device mounting apparatus according to claim 1, wherein:
前記ロール(2)は前記粘着シート(1)により部分的に覆われることを特徴とする請求項1又は2記載のデバイス実装装置。 3. The device mounting apparatus according to claim 1, wherein said roll (2) is partially covered with said adhesive sheet (1). 前記テーブル(4、14)は真空チャックを有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載のデバイス実装装置。 4. The device mounting apparatus according to claim 1, wherein said table (4, 14) has a vacuum chuck. 前記ロール(2)に前記粘着シート(1)を貼り付けるステップS1と、
前記転写元シート(3)上の前記デバイス(C)を前記粘着シート(1)に一次転写するステップS2と、
前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)の位置を計測するステップS3と、
前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)を前記実装用基板(13)に二次転写するステップS4とを含み、
前記ステップS3において、
前記ロール用カメラ(20)で撮影した前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)の画像を処理し前記デバイス(C)の位置情報を取得し、
前記ステップS4において、
前記テーブル用カメラ(21)で撮影した前記実装用基板(13)上の前記マウント部(T)の画像を処理して前記マウント部の位置情報を取得し、
前記第1の距離測定器(6)により前記テーブル(4、14)から前記実装用基板(13)上の前記マウント部(T)までの高さを取得し、
前記第2の距離測定器(7a、7b)により前記テーブル(4、14)から前記ロール(2)に貼付された前記粘着シート(1)上の前記デバイス(C)までの距離を取得し、
前記デバイス(C)の位置情報と前記マウント部の位置情報とを照合し、前記ロール(2)対して前記テーブル(4、14)に載置された前記実装用基板(13)をアライメントし、
前記テーブル(4、14)から前記マウント部(T)までの高さと、前記テーブル(4、14)から前記デバイス(C)までの距離から算出した近接距離に基づき、前記デバイス(C)と前記マウント部(T)とが接触可能となるように、前記ロール(2)を前記テーブル(4、14)に近接させ、
前記ロール(2)を回転させながら前記テーブル(4、14)を相対的に移動させることで、前記デバイス(C)を前記マウント部(T)に転写することを特徴とする請求項2記載のデバイス実装装置のデバイス実装方法。
A step S1 of sticking the adhesive sheet (1) on the roll (2);
a step S2 of primarily transferring the device (C) on the transfer source sheet (3) to the adhesive sheet (1);
a step S3 of measuring the position of the device (C) on the adhesive sheet (1);
a step S4 of secondary transfer of the device (C) on the adhesive sheet (1) to the mounting substrate (13),
In step S3,
An image of the device (C) on the adhesive sheet (1) photographed by the roll camera (20) is processed to obtain position information of the device (C),
In step S4,
an image of the mounting portion (T) on the mounting substrate (13) photographed by the table camera (21) is processed to acquire positional information of the mounting portion;
Obtaining the height from the table (4, 14) to the mount portion (T) on the mounting board (13) by the first distance measuring device (6),
Acquiring the distance from the table (4, 14) to the device (C) on the adhesive sheet (1) attached to the roll (2) by the second distance measuring device (7a, 7b),
aligning the mounting board (13) placed on the table (4, 14) with respect to the roll (2) by collating the positional information of the device (C) with the positional information of the mounting portion;
Based on the proximity distance calculated from the height from the table (4, 14) to the mount part (T) and the distance from the table (4, 14) to the device (C), the device (C) and the Bringing the roll (2) close to the table (4, 14) so that it can come into contact with the mount part (T),
3. The apparatus according to claim 2, wherein the device (C) is transferred to the mount portion (T) by relatively moving the tables (4, 14) while rotating the roll (2). A device mounting method for a device mounting apparatus.
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