JP2022146438A - 転がり軸受の異常診断装置および異常診断方法 - Google Patents

転がり軸受の異常診断装置および異常診断方法 Download PDF

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Abstract

【課題】光ファイバがねじ切れるのを防止するための回転機構が不要な、転がり軸受の異常診断装置および異常診断方法を提供する。【解決手段】外輪11と、回転輪である内輪13と、外輪11と内輪13との間に配置される複数の転動体14と、内輪13に固定され、FBGを有する光ファイバ40と、光ファイバ40に向けて光を出射し、光ファイバ40からの反射光を測定するひずみ測定器20と、を備える転がり軸受10の異常診断装置1。【選択図】図1

Description

本発明は、転がり軸受の異常診断装置および異常診断方法に関する。
大型の機械で使用される転がり軸受は、交換が容易ではない。したがって、このような転がり軸受は、軸受はく離(軸受寿命)直前まで使用されるのが望ましいにもかかわらず、設計上の軸受寿命に対して早期に軸受の交換がなされてしまうことがある。
その理由として、実際の機械では、設計時の使用条件(荷重、回転数、潤滑など)とは異なる厳しい使用条件で軸受が使用されることが挙げられる。そのため、軸受を設計上の寿命まで有効に利用するために、機械稼働時の軸受の状態を把握することが課題となっている。
特許文献1には、軸受の荷重を外輪のひずみ分布から推定する装置が開示されている。この装置においては、非回転輪である外輪の外周面にFBG(Fiber Bragg Grating)を内蔵した光ファイバが固定され、転動体の荷重によって発生するひずみが測定されることで、軸受の状態が把握される。
特許文献2には、軸受の回転輪である内輪の荷重状態を内輪のひずみ分布から推定する装置が開示されている。この装置においては、内輪の内周面にFBGを内蔵した光ファイバが固定され、転動体の荷重によって発生するひずみが測定されることで、軸受の状態が把握される。
特許第5650754号公報 特許第5638312号公報
特許文献1に関し、軸受はく離は、経験的に内輪に発生することが多い。その理由は、内輪に作用する面圧が、外輪に作用する面圧より高くなる傾向があるためと考えられる。このため、外輪の荷重状態よりも内輪の荷重状態を把握する方が望ましい。
特許文献2に関し、回転輪である内輪に光ファイバが固定されているため、光ファイバがねじ切れるのを防止するために機械的な回転機構(ロータリージョイント)が必要であり、この回転機構の故障が問題となる。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、光ファイバがねじ切れるのを防止するための回転機構が不要な、転がり軸受の異常診断装置および異常診断方法を提供することを目的とする。
本発明の上記目的は、下記の構成により達成される。
(1) 外輪と、
回転輪である内輪と、
前記外輪と前記内輪との間に配置される複数の転動体と、
前記内輪に固定され、FBGを有する光ファイバと、
前記光ファイバに向けて光を出射し、前記光ファイバからの反射光を測定するひずみ測定器と、
を備える、
転がり軸受の異常診断装置。
(2) 前記光ファイバと前記ひずみ測定器との間の光路を制御することで、前記光ファイバと前記ひずみ測定器とを光学的に接続する光学機構を更に備える、
(1)に記載の異常診断装置。
(3) 前記光学機構は、レンズである
(2)に記載の異常診断装置。
(4) 前記光学機構は、一対の円錐レンズである、
(2)に記載の異常診断装置。
(5) 前記一対の円錐レンズは、前記転がり軸受の軸方向において、前記転がり軸受と前記ひずみ測定器との間に配置され、
前記一対の円錐レンズは、前記ひずみ測定器からの出射光を拡げて前記光ファイバに到達するように制御し、前記光ファイバからの反射光を縮めて前記ひずみ測定器に到達するように制御する
(4)に記載の異常診断装置。
(6) 前記内輪の内周面には、周方向に延びる溝が形成され、
前記溝に、前記光ファイバが配置される、
(1)~(5)の何れか1項に記載の異常診断装置。
(7) 前記光ファイバは、複数の前記FBGを備える、
(1)~(6)の何れか1項に記載の異常診断装置。
(8) 外輪と、
回転輪である内輪と、
前記外輪と前記内輪との間に配置される複数の転動体と、
を備える転がり軸受の異常診断方法であって、
FBGを有する光ファイバを、前記内輪に固定し、
ひずみ測定器によって、前記光ファイバに向けて光を出射し、且つ、前記光ファイバからの反射光を測定する、
転がり軸受の異常診断方法。
本発明によれば、光ファイバがねじ切れるのを防止するための回転機構が不要な、転がり軸受の異常診断装置および異常診断方法を提供できる。
転がり軸受の異常診断装置の模式図である。 内輪を軸方向から見た図である。 内輪の一部を径方向内側から見た図である。 内輪の一部を周方向から見た断面図である。
以下、本発明の実施形態の転がり軸受の異常診断装置および異常診断方法について、図面を参照して説明する。図1は、転がり軸受の異常診断装置1の模式図である。図2は、内輪13を軸方向から見た図である。図3は、内輪13の一部を径方向内側から見た図である。図4は、内輪13の一部を周方向から見た断面図である。
図1に示されるように、本実施形態の転がり軸受の異常診断装置1は、転がり軸受10と、ひずみ測定器20と、光学機構30と、を備える。なお、図中において、転がり軸受10の軸方向はAで示され、径方向はBで示され、周方向はCで示される。また、軸方向一方側(図1中、左側)はA1で示され、軸方向他方側(図1中、右側)はA2で示される。
転がり軸受10は、不図示のハウジングに取付けられる固定輪である外輪11と、回転軸12の外周面に固定されて回転軸12とともに回転する回転輪である内輪13と、外輪11と内輪13との間に転動自在に配置される複数の転動体14と、を備える。図示の例では、回転軸12の軸方向一方側(図中、左側)にフランジ部12aが形成されており、このフランジ部12aによって内輪13の軸方向位置が規制される。
図2~4に示されるように、内輪13の内周面15の軸方向中央部には、周方向全周に延びるように、径方向外側に向かって凹む溝16が設けられている。この溝16の底面には、接着剤等の任意の手段によって光ファイバ40が固定される。
光ファイバ40は、FBG(Fiber Bragg Grating)41、FBG42、FBG43、FBG44を有する。FBG41、FBG42、FBG43、FBG44は、光ファイバ40にレーザー光が照射されることで、光ファイバ40中のコアに回折格子を形成したものである。図中、光ファイバ40において、FBG41、FBG42、FBG43、FBG44が形成される箇所は強調されて、実際よりも大きく示されている。
本実施形態では、光ファイバ40は溝16の略全周にわたって配設されており、4個のFBG41、FBG42、FBG43、FBG44が周方向に等間隔に配置されている。なお、光ファイバ40および複数のFBG41、FBG42、FBG43、FBG44は、その全体が溝16の内部に配置されて、内輪13の外部には露出しないので、内輪13が回転する際にも損傷が防止される。
本実施形態の光ファイバ40は、複数のFBG41、FBG42、FBG43、FBG44を備えるが、FBGの数や配置は、特に限定されず、適宜変更して構わない。FBG41、FBG42、FBG43、FBG44は、内輪13のひずみを検出する素子として機能する。本実施形態のように、複数のFBG41、FBG42、FBG43、FBG44が周方向Cに所定間隔に配置される構成は、複数箇所で内輪13のひずみを測定可能であるので好ましい。
本実施形態において、FBG41、FBG42、FBG43、FBG44は、それぞれ反射する波長が異なっている。FBGは、内輪13のひずみに起因して伸縮することにより、その反射光の波長が変化する。反射光の波長の変化に基づき、いずれのFBGからの反射光の波長が変化したかを判別することが可能となる。すなわち、FBGの形成箇所に応じて、内輪13のひずみの発生箇所を判別することができる。また、反射光の波長の変化量から、ひずみの値を測定することも可能である。
図3に示されるように、内輪13の内周面15には、径方向外側に向かって凹む光ファイバ取出し溝17が設けられている。光ファイバ取出し溝17は、溝16から内輪13の軸方向他方側面13aまで貫通するように延びている。なお、図示の例では、光ファイバ40を取出しやすいように、光ファイバ取出し溝17が軸方向Aに対して斜めに傾いているが、光ファイバ取出し溝17は、軸方向Aに対して平行に延びてもよい。
光ファイバ40は、光ファイバ取出し溝17の底面に接着剤等の任意の手段によって固定される。そして、光ファイバ40の一端が、内輪13の外部に露出し、軸方向他方側A2を向く(図1参照)。
ひずみ測定器20は、インテロゲータ21と、インテロゲータ21とLANケーブル等で接続されたパーソナルコンピュータ(PC)23と、インテロゲータ21に接続された第二光ファイバ25と、を有する。
インテロゲータ21は、第二光ファイバ25を介して光を、内輪13に固定された光ファイバ40に向けて出射する。後述するように、第二光ファイバ25から出射した光は、その進路(光路)が光学機構30によって制御され、内輪13に固定された光ファイバ40に到達する。光は全反射しながら光ファイバ40のコアを進み、複数のFBG41、FBG42、FBG43、FBG44へ到達する。光はFBG41、FBG42、FBG43、FBG44によって反射光と透過光に分けられる。反射光は光ファイバ40のコアを逆行し、光学機構30及び第二光ファイバ25を介してインテロゲータ21へ戻る。そして、インテロゲータ21およびPC23によって、反射光の波長強度が数値化され、軸受回転時の転動体荷重によって発生する内輪13の内周面15のひずみが測定される。
上述したように、本実施形態において、FBG41、FBG42、FBG43、FBG44は、それぞれ反射する波長が異なっている。内輪13におけるFBGの形成箇所にひずみが発生し、FBGそのものが伸縮することにより、反射光の波長が変化する。よって、波長の変化した反射光から、いずれのFBGが伸縮したかを判別することにより、内輪13のひずみの発生箇所を判別することができる。また、反射光の波長の変化量から、ひずみを測定することが可能となる。このひずみに基づき、内輪13に作用している荷重状態を把握できる。
軸受回転時には、内輪13に固定された光ファイバ40は内輪13と共に回転するが、ひずみ測定器20の第二光ファイバ25は回転しないため、これら光ファイバ40および第二光ファイバ25は切断しないように接続される必要がある。機械的な回転機構(例えばロータリージョイント)によって光ファイバ40および第二光ファイバ25が接続された場合、回転機構の故障が問題となる可能性がある。したがって、本実施形態では、光ファイバ40とひずみ測定器20の第二光ファイバ25との間の光路を制御することで、光ファイバ40とひずみ測定器20の第二光ファイバ25とを光学的に接続する光学機構30が用いられる。
ひずみ測定器20および光学機構30は、転がり軸受10と同心に配置される。すなわち、ひずみ測定器20の第二光ファイバ25の中心軸および光学機構30の中心軸は、転がり軸受10の中心軸O上に位置する。
光学機構30は、転がり軸受10の軸方向Aにおいて、転がり軸受10とひずみ測定器20の第二光ファイバ25との間に配置される。光学機構30は、一対の円錐レンズ31,33を有する。一対の円錐レンズ31,33のうち、軸方向他方側A2に位置するものを第一円錐レンズ31と呼び、軸方向一方側A1に位置するものを第二円錐レンズ33と呼ぶ。第一円錐レンズ31、第二円錐レンズ33は、例えば、合成石英、BK7(ボロシリケートクラウンガラス)などによって構成される。
第一円錐レンズ31は、軸方向他方側A2に位置する第一面31aと、軸方向一方側A1に位置する第二面31bと、を有する。第一面31aは、軸方向に対して直交する平面である。第二面31bは、円錐形状である。
第二円錐レンズ33は、軸方向他方側A2に位置する第一面33aと、軸方向一方側A1に位置する第二面33bと、を有する。第一面33aは、円錐形状である。第二面33bは、軸方向に対して直交する平面である。
ひずみ測定器20の第二光ファイバ25から出射された光は、第一円錐レンズ31の第一面31aに対して軸方向Aに平行に入射し、第二面31bによって屈折されて径方向外側に傾いて出射する。
第一円錐レンズ31から径方向に拡がるように出射された光は、第二円錐レンズ33の第一面33aに入射する際に軸方向Aに平行となるように屈折され、第二面33bから軸方向Aに平行に出射する。
第二円錐レンズ33から出射された光は、内輪13の軸方向他方側面13aから突出した光ファイバ40(図3参照)に入射する。なお、第二円錐レンズ33から出射された光は、内輪13の軸方向他方側面13aの全周に照射される。したがって、内輪13が回転して光ファイバ40の周方向位置が経時的に変わる場合であっても、光ファイバ40は任意の位置でひずみ測定器20からの光を受信可能である。
そして、光ファイバ40のFBG41、FBG42、FBG43、FBG44によって反射された光が、来た経路を介して、ひずみ測定器20まで戻る。
すなわち、FBG41、FBG42、FBG43、FBG44によって反射された光は、内輪13の軸方向他方側面13aから突出した光ファイバ40から、軸方向Aに平行に出射する。
光ファイバ40から出射された光は、第二円錐レンズ33の第二面33bに対して軸方向Aに平行に入射し、第一面33aによって屈折されて径方向内側に傾いて出射する。
第二円錐レンズ33から径方向に縮められるように出射された光は、第一円錐レンズ31の第二面31bに入射する際に軸方向Aに平行となるように屈折され、第一面31aから軸方向Aに平行に出射する。
第一円錐レンズ31から出射された光は、第二光ファイバ25を介して、インテロゲータ21に入射する。
このように、一対の円錐レンズ31,33は、ひずみ測定器20からの出射光を拡げて、内輪13に固定された光ファイバ40に到達するように制御し、この光ファイバ40からの反射光を縮めて前記ひずみ測定器に到達するように制御する。
したがって、本実施形態の異常診断装置1によれば、光学的な接続装置である光学機構30(一対の円錐レンズ31,33)が設けられるので、光ファイバ40がねじ切れるのを防止するための機械的な回転機構が不要となる。
なお、光学機構30は、光ファイバ40とひずみ測定器20との間の光路を制御することで光ファイバ40とひずみ測定器20とを光学的に接続するものであれば、一対の円錐レンズ31,33に限られない。更には、光ファイバ40とひずみ測定器20は、光学機構30なしで、他の方法により光学的に接続されてもよい。例えば、図1において、第二光ファイバ25を下方にずらし、光ファイバ40と直接対向する位置までずらしてもよい。この場合、一対の円錐レンズ31,33は不要である。この場合、光ファイバ40への出射、光ファイバ40からの反射は、円周上の1カ所に限定されるが、測定位置が一定のため、内輪のどの位置にどのような荷重が作用しているかを直ちに求めることができ、データの解析が容易となる。
光学機構30は、任意の光学素子の組み合わせによって構成されて構わない。光学素子としては、ミラー、レンズ、プリズム、フィルタ等が例示される。
本実施形態の異常診断装置1は、特に、交換が容易ではない大型の転がり軸受(風車のドライブトレインや鉱山設備等の転がり軸受)に好適である。
1 異常診断装置
10 転がり軸受
11 外輪
12 回転軸
12a フランジ部
13 内輪
13a 軸方向他方側面
14 転動体
15 内周面
16 溝
17 光ファイバ取出し溝
20 ひずみ測定器
21 インテロゲータ
23 パーソナルコンピュータ
25 第二光ファイバ
30 光学機構
31 第一円錐レンズ
31a 第一面
31b 第二面
33 円錐レンズ
33a 第一面
33b 第二面
40 光ファイバ
41 FBG
42 FBG
43 FBG
44 FBG

Claims (8)

  1. 外輪と、
    回転輪である内輪と、
    前記外輪と前記内輪との間に配置される複数の転動体と、
    前記内輪に固定され、FBGを有する光ファイバと、
    前記光ファイバに向けて光を出射し、前記光ファイバからの反射光を測定するひずみ測定器と、
    を備える、
    転がり軸受の異常診断装置。
  2. 前記光ファイバと前記ひずみ測定器との間の光路を制御することで、前記光ファイバと前記ひずみ測定器とを光学的に接続する光学機構を更に備える、
    請求項1に記載の異常診断装置。
  3. 前記光学機構は、レンズである
    請求項2に記載の異常診断装置。
  4. 前記光学機構は、一対の円錐レンズである、
    請求項2に記載の異常診断装置。
  5. 前記一対の円錐レンズは、前記転がり軸受の軸方向において、前記転がり軸受と前記ひずみ測定器との間に配置され、
    前記一対の円錐レンズは、前記ひずみ測定器からの出射光を拡げて前記光ファイバに到達するように制御し、前記光ファイバからの反射光を縮めて前記ひずみ測定器に到達するように制御する
    請求項4に記載の異常診断装置。
  6. 前記内輪の内周面には、周方向に延びる溝が形成され、
    前記溝に、前記光ファイバが配置される、
    請求項1~5の何れか1項に記載の異常診断装置。
  7. 前記光ファイバは、複数の前記FBGを備える、
    請求項1~6の何れか1項に記載の異常診断装置。
  8. 外輪と、
    回転輪である内輪と、
    前記外輪と前記内輪との間に配置される複数の転動体と、
    を備える転がり軸受の異常診断方法であって、
    FBGを有する光ファイバを、前記内輪に固定し、
    ひずみ測定器によって、前記光ファイバに向けて光を出射し、且つ、前記光ファイバからの反射光を測定する、
    転がり軸受の異常診断方法。
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