JP2022142633A - Positioning mechanism and semiconductor processing device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、板状物を収容するカセットを、カセットステージに位置決めする位置決め機構及び半導体処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE
半導体ウエーハの処理工程では、半導体ウエーハなどの板状物がカセットに収容される(例えば、特許文献1参照)。半導体ウエーハの処理工程では、半導体処理装置は、処理対象となる板状物を収容するカセットを、カセットステージに設置し、該カセットステージから任意の搬送ユニットによって、板状物を搬出入し、各種の処理を行う。 2. Description of the Related Art In a process for processing semiconductor wafers, a plate-like object such as a semiconductor wafer is accommodated in a cassette (see, for example, Patent Document 1). In a semiconductor wafer processing process, a semiconductor processing apparatus places a cassette containing a plate-shaped object to be processed on a cassette stage, carries in and out the plate-shaped object from the cassette stage by an arbitrary transport unit, and carries out various processes. process.
そのため、半導体処理装置は、カセットステージの決められた位置にカセットを設置する必要がある。 Therefore, in the semiconductor processing apparatus, it is necessary to install the cassette at a predetermined position on the cassette stage.
しかしながら、カセットをカセットステージに位置決めしておく際に、カセットの角が擦れて、発塵し、半導体処理装置内に浮遊した塵がウエーハに付着する恐れがあった。 However, when the cassette is positioned on the cassette stage, the corners of the cassette rub against each other, dust is generated, and there is a risk that the dust floating in the semiconductor processing apparatus will adhere to the wafer.
本発明の目的は、発塵を抑制することができる位置決め機構及び半導体処理装置を提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a positioning mechanism and a semiconductor processing apparatus capable of suppressing dust generation.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の位置決め機構は、半導体処理装置により処理される板状物を収容するカセットを、該カセットを設置するカセットステージの上面に位置決めする位置決め機構であって、該カセットは、対向する側板と、該側板を連結する上板及び底板と、該側板に複数形成され板状物を収容する収容棚と、該板状物が搬出入される開口部と、該開口部と対向する背面部と、を有し、該位置決め機構は、該板状物が搬出入される該開口部を位置決めする開口部位置決め部と、該背面部と接触する背面ローラーと、該開口部位置決め部と、該背面ローラーとの間に、該背面ローラーと近接して設置され、該カセットの該背面部側を支持する底面ローラーと、を有することを特徴とする。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, a positioning mechanism of the present invention positions a cassette containing a plate-like object to be processed by a semiconductor processing apparatus on the upper surface of a cassette stage on which the cassette is installed. A mechanism, wherein the cassette includes side plates facing each other, a top plate and a bottom plate connecting the side plates, a plurality of storage shelves formed on the side plates for storing plate-like objects, and the plate-like objects being carried in and out. The positioning mechanism has an opening and a back face facing the opening, and the positioning mechanism contacts the back face and the opening positioning part for positioning the opening through which the plate-like object is carried in and out. A back surface roller, the opening positioning part, and a bottom surface roller installed between the back surface roller and the back surface roller in the vicinity of the back surface roller to support the back surface side of the cassette. .
前記位置決め機構において、該開口部位置決め部は、該板状物が搬出入される該開口部側の縁に接触する開口部ローラーと、該開口部ローラーと、該背面ローラーとの間に、該開口部ローラーと近接して設置され、該底面ローラーと同じ高さを有し、該カセットの該開口部側を支持する支持ブロックと、を有しても良い。 In the positioning mechanism, the opening positioning part includes an opening roller that contacts the edge of the opening into which the plate-shaped object is carried in and out, the opening roller, and the back roller. a support block positioned adjacent to the aperture roller and having the same height as the bottom roller to support the aperture side of the cassette.
本発明の半導体処理装置は、板状物を処理する半導体処理装置であって、板状物を収容するカセットを設置するカセットステージと、該カセットを該カセットステージの上面に位置決めする位置決め機構と、を備え、該位置決め機構として、前記位置決め機構を備えることを特徴とする。 A semiconductor processing apparatus according to the present invention is a semiconductor processing apparatus for processing a plate-like object, comprising: a cassette stage on which a cassette containing the plate-like object is installed; a positioning mechanism for positioning the cassette on the upper surface of the cassette stage; and the positioning mechanism is provided as the positioning mechanism.
本発明は、発塵を抑制することができるという効果を奏する。 ADVANTAGE OF THE INVENTION This invention is effective in the ability to suppress dust generation.
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 A form (embodiment) for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited by the contents described in the following embodiments. In addition, the components described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art and those that are substantially the same. Furthermore, the configurations described below can be combined as appropriate. In addition, various omissions, substitutions, or changes in configuration can be made without departing from the gist of the present invention.
〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係る位置決め機構及び半導体処理装置を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る半導体処理装置の構成例を示す斜視図である。図2は、図1に示された半導体処理装置のカセットステージに設置されるカセットの構成例を示す斜視図である。図3は、実施形態1に係る位置決め機構を模式的に示す平面図である。図4は、図3に示された位置決め機構を模式的に示す側面図である。
[Embodiment 1]
A positioning mechanism and a semiconductor processing apparatus according to
実施形態1に係る半導体処理装置1は、板状物200を処理する装置である。実施形態1では、半導体処理装置1の処理対象の板状物200は、シリコン(Si)、サファイア(Al2O3)、ガリウムヒ素(GaAs)または炭化ケイ素(SiC)等を基板とする円板状の半導体ウエーハ、光デバイスウエーハ等のウエーハである。
A
板状物200は、図1に示すように、交差する複数の分割予定ライン201で区画された表面202の各領域それぞれにデバイス203が形成されている。デバイス203は、例えば、IC(Integrated Circuit)、あるいやLSI(Large Scale Integration)等の集積回路、CCD(Charge Coupled Device)、あるいはCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等のイメージセンサ、またはMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)等である。また、本発明では、板状物200は、ウエーハに限らず、樹脂により封止されたデバイスを複数有した矩形状の樹脂パッケージ基板、セラミックス板、又はガラス板等でも良い。
As shown in FIG. 1, the plate-
実施形態1において、板状物200は、板状物200の外径よりも大径のテープ205が表面202の裏側の裏面204に貼着され、テープ205の外縁部が、内径が板状物200の外径よりも大径な環状フレーム206に貼着されて、環状フレーム206の内側の開口内にテープ205により支持される。板状物200は、分割予定ライン201に沿って個々のデバイス203毎に分割される。
In the first embodiment, the plate-
図1に示された半導体処理装置1は、板状物200をチャックテーブル10で保持し分割予定ライン201に沿って切削ブレード21で切削加工(処理に相当)を施して、板状物200を個々のデバイス203に分割する切削装置である。半導体処理装置1は、板状物200を保持するチャックテーブル10と、切削ユニット20(板状物200を処理する処理ユニットに相当)と、撮像ユニット30と、制御ユニット100とを備える。半導体処理装置1は、図1に示すように、切削ユニット20を2つ備えた、即ち、2スピンドルのダイサ、いわゆるフェイシングデュアルタイプの切削装置である。
The
また、半導体処理装置1は、図1に示すように、チャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的に移動させる移動ユニット40を備える。移動ユニット40は、チャックテーブル10を水平方向と平行なX軸方向に加工送りする加工送りユニットであるX軸移動ユニット41と、水平方向と平行でかつX軸方向と直交する割り出し送り方向であるY軸方向に切削ユニット20を移動させる割り出し送りユニットであるY軸移動ユニット42と、X軸方向とY軸方向とにそれぞれ直交する鉛直方向に平行な切り込み送り方向であるZ軸方向に切削ユニット20を移動させるZ軸移動ユニット43と、チャックテーブル10をZ軸方向と平行な軸心回りに回転する回転移動ユニット44とを備える。即ち、移動ユニット40は、X軸方向、Y軸方向及びZ軸方向にチャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的に移動させるものである。
The
X軸移動ユニット41は、チャックテーブル10を回転移動ユニット44とともに加工送り方向であるX軸方向に移動させることで、チャックテーブル10を切削ユニット20に対してX軸方向に移動させるものである。X軸移動ユニット41は、チャックテーブル10に保持された板状物200を切削ユニット20が切削加工する加工領域と、チャックテーブル10に板状物200を搬入出する搬入出領域との間で、チャックテーブル10をX軸方向に沿って移動する。
The
Y軸移動ユニット42は、切削ユニット20をチャックテーブル10に対して割り出し送り方向であるY軸方向に移動させることで、チャックテーブル10を切削ユニット20に対してY軸方向に相対的に移動させるものである。Z軸移動ユニット43は、切削ユニット20を切り込み送り方向であるZ軸方向に移動させることで、チャックテーブル10を切削ユニット20に対してZ軸方向に相対的に移動させるものである。回転移動ユニット44は、X軸移動ユニット41によりX軸方向に移動され、チャックテーブル10をZ軸方向と平行な軸心回りに回転させるものである。
The Y-
X軸移動ユニット41、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43は、軸心回りに回転自在に設けられた周知のボールねじ、ボールねじを軸心回りに回転させる周知のモータ及びチャックテーブル10又は切削ユニット20をX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に移動自在に支持する周知のガイドレールを備える。
The
チャックテーブル10は、円盤形状であり、板状物200を保持する保持面11がポーラスセラミック等の多孔質材から構成されている。また、チャックテーブル10は、X軸移動ユニット41により搬入出領域と加工領域とに亘ってX軸方向に移動自在に設けられ、かつ回転移動ユニット44によりZ軸方向と平行な軸心回りに回転自在に設けられている。チャックテーブル10は、保持面11が図示しない真空吸引源と接続され、真空吸引源より吸引されることで、保持面11に載置された板状物200を吸引、保持する。実施形態1では、チャックテーブル10は、テープ205を介して板状物200を吸引、保持する。チャックテーブル10の周囲には、図1に示すように、環状フレーム206をクランプするクランプ部12が複数設けられている。
The chuck table 10 has a disk shape, and a
切削ユニット20は、チャックテーブル10で保持された板状物200を切削加工する処理ユニットである。切削ユニット20は、それぞれ、Y軸移動ユニット42によりチャックテーブル10に対してY軸方向に相対的に移動自在に設けられ、かつ、Z軸移動ユニット43によりZ軸方向に相対的に移動自在に設けられている。
The cutting
切削ユニット20は、図1に示すように、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43などを介して、装置本体2から立設した門型の支持フレーム3に設けられている。切削ユニット20は、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43により、チャックテーブル10の保持面11の任意の位置に切削ブレード21を位置付け可能となっている。
As shown in FIG. 1, the cutting
切削ユニット20は、それぞれ、図1に示すように、チャックテーブル10で保持された板状物200を切削加工する切削ブレード21と、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43によりY軸方向及びZ軸方向に移動自在に設けられたスピンドルハウジング22と、スピンドルハウジング22に軸心回りに回転可能に設けられかつ図示しないモータにより回転されるとともに先端部に切削ブレード21が装着されるスピンドル23と、切削ブレード21に切削液を供給する切削液供給ノズル24とを有する。
As shown in FIG. 1, the cutting
実施形態1では、切削ブレード21は、それぞれ、円環状の円形基台と、円形基台の外周縁に配設されて板状物200を切削加工する円環状の切り刃とを備える所謂ハブブレードである。切り刃は、ダイヤモンドやCBN(Cubic Boron Nitride)等の砥粒と、金属や樹脂等の砥粒を固定するボンド材(結合材)とからなり厚み一定のリング状に形成されている。また、本発明では、切削ブレード21は、切り刃のみで構成された所謂ワッシャーブレードでも良い。
In the first embodiment, the
撮像ユニット30は、切削ユニット20と一体的に移動するように、切削ユニット20に固定されている。撮像ユニット30は、チャックテーブル10に保持された切削前の板状物200の分割すべき領域を撮影する撮像素子を備えている。撮像素子は、例えば、CCD(Charge-Coupled Device)撮像素子又はCMOS(Complementary MOS)撮像素子である。撮像ユニット30は、チャックテーブル10に保持された板状物200を撮影して、板状物200と切削ブレード21との位置合わせを行なうアライメントを遂行するため等の画像を得、得た画像を制御ユニット100に出力する。
The
また、半導体処理装置1は、チャックテーブル10のX軸方向の位置を検出するため図示しないX軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のY軸方向の位置を検出するための図示しないY軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出するためのZ軸方向位置検出ユニットとを備える。X軸方向位置検出ユニット及びY軸方向位置検出ユニットは、X軸方向、又はY軸方向と平行なリニアスケールと、読み取りヘッドとにより構成することができる。Z軸方向位置検出ユニットは、モータのパルスで切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出する。X軸方向位置検出ユニット、Y軸方向位置検出ユニット及びZ軸方向位置検出ユニットは、チャックテーブル10のX軸方向、切削ユニット20のY軸方向又はZ軸方向の位置を制御ユニット100に出力する。なお、実施形態1では、半導体処理装置1のチャックテーブル10及び切削ユニット20のX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の位置は、予め定められた図示しない原点位置を基準とした位置で定められる。
The
また、半導体処理装置1は、切削加工前後の板状物200を複数枚収容するカセット50を上面61に設置しかつカセット50をZ軸方向に移動させるカセットステージ60と、切削加工後の板状物200を洗浄する洗浄ユニット62とを備える。
The
カセット50は、半導体処理装置1により切削加工される複数枚の板状物200をZ軸方向に間隔あけて重ねて収容可能な収容容器である。カセット50は、図2に示すように、互いに対向する一対の側板51と、上板52及び底板53と、複数の収容棚54と、背面部としての背面板55とを有している。一対の側板51、上板52、底板53及び背面板55は、平板状に形成されている。
The
一対の側板51は、カセット50がカセットステージ60の上面61に設置されると、X軸方向に沿って互いに間隔をあけて対向する。上板52は、一対の側板51の上端同士を連結し、底板53は、一対の側板51の下端同士を連結する。上板52と底板53とは、Z軸方向に沿って互いに間隔をあけて対向する。背面板55は、一対の側板51、上板52及び底板53の図2中手間側の一端同士を連結する。実施形態1では、背面板55は、一対の側板51、上板52及び底板53の一端同士の間の全体を塞ぐが、本発明では、必ずしも全体を塞ぐことなく一部分のみを塞いでも良い。また実施形態1では、上板52と、底板53は、側板51の間の全体を塞ぐ板で形成されているが、必ずしも全体を塞がず一対の側板51の一部を連結して一部分のみを塞ぎ、カセット50を軽量化しても良い。
When the
また、カセット50は、一対の側板51、上板52及び底板53の図2奥側の他端同士の間に板状物200が搬出入される開口部56を形成している。このために、カセット50は、開口部56を有している。また、背面板55は、カセット50がカセットステージ60に設置されるとY軸方向に沿って、開口部56と水平方向に沿って対向する。背面板55は、開口部56を通してカセット50内に収容された板状物200に当接して、板状物200を図2手前側の背面で支持する。
The
収容棚54は、一対の側板51の互いに対向する内面に複数形成されている。収容棚54は、カセット50がカセットステージ60に設置されると、Y軸方向と平行な棒状に形成され、各側板51の内面にZ軸方向に間隔をあけて配置されている。カセット50がカセットステージ60に設置されると、一方の側板51に形成された収容棚54は、他方の側板51に形成された収容棚54と、X軸方向に対向する。収容棚54は、カセット50がカセットステージ60に設置されると、X軸方向に対向するもの同士の上面に環状フレーム206が載置されて、板状物200をカセット50内に位置決めして収容する。また、カセット50は、上板52の上面にオペレータなどが把持することが可能な取っ手59を有している。
A plurality of
制御ユニット100は、半導体処理装置1の上述した各ユニットをそれぞれ制御して、板状物200に対する加工動作を半導体処理装置1に実施させるものである。なお、制御ユニット100は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有するコンピュータである。制御ユニット100の演算処理装置は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理装置が演算処理を実施して、半導体処理装置1を制御するための制御信号を入出力インターフェース装置を介して半導体処理装置1の上述した構成要素に出力する。
The control unit 100 controls each of the above-described units of the
また、制御ユニット100は、加工動作の状態や画像などを表示する液晶表示装置などにより構成される表示ユニット101と、オペレータが加工条件などを登録する際に用いる入力ユニットとに接続されている。入力ユニットは、表示ユニット101に設けられたタッチパネルと、キーボード等の外部入力装置とのうち少なくとも一つにより構成される。
The control unit 100 is also connected to a
また、半導体処理装置1は、カセット50から板状物200を搬出、カセット50に板状物200を搬入するとともに板状物200をカセット50、チャックテーブル10、及び洗浄ユニット62の間で搬送する図3に示す搬送ユニット63と、板状物200を収容するカセット50をカセットステージ60の上面61に位置決めする位置決め機構70(図3及び図4に示す)とを備える。なお、図1は、搬送ユニット63及び位置決め機構70を省略している。
The
位置決め機構70は、カセットステージ60の上面61の搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル10と開口部56がY軸方向に並ぶ位置にカセット50を位置決めするものである。位置決め機構70は、図3に示すように、カセットステージ60の上面61に設置され、背面ローラー71と、底面ローラー72と、開口部位置決め部73と、第1側方ローラー74と、第2側方ローラー75とを有する。
The
背面ローラー71は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の背面板55に接触するものである。背面ローラー71は、軸心711がX軸方向と平行な円盤状に形成され、図4に示すように、上面61から立設した立設片712の上端部に軸心711回りに回転自在に支持されている。背面ローラー71の外周面の下端は、上面61よりも上方に配置されている。また、背面ローラー71は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の背面板55よりもY軸方向にチャックテーブル10から離れた側に配置されて、外周面にカセット50の背面板55が接触する。実施形態1では、背面ローラー71は、X軸方向に沿って間隔をあけて2つ配置され、それぞれがカセット50の角部よりもY軸方向にチャックテーブル10から離れた側に配置されている。
The
底面ローラー72は、開口部位置決め部73の開口部ローラー76と、背面ローラー71との間に、背面ローラー71と近接して設置され、カセット50の底板53の背面板55側の端部を支持するものである。底面ローラー72は、軸心721がX軸方向と平行な円盤状に形成され、図4に示すように、上面61に軸心721回りに回転自在に支持されている。底面ローラー72は、外周面の上端が、背面ローラー71の外周面の上端よりも下方に配置されている。底面ローラー72は、実施形態1では、上面61に設けられた図示しない凹部内に設置されて、底面ローラー72の下端が、上面61よりも下方に配置されている。
The
また、底面ローラー72は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の底板53の背面板55側の端部の下方に配置されて、外周面にカセット50の底板53の背面板55側の端部が接触する。実施形態1では、底面ローラー72は、X軸方向に沿って間隔をあけて2つ配置され、それぞれが背面ローラー71とY軸方向に並ぶ位置に配置されている。
The
開口部位置決め部73は、板状物200がカセット50に搬出入されるカセット50の開口部56側でかつ底板53側の角部57(図4等に示し、開口部56の縁に相当)を位置決めするものである。開口部位置決め部73は、開口部ローラー76と、支持ブロック77とを有する。
The
開口部ローラー76は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の開口部56側でかつ底板53側の角部57に接触する。開口部ローラー76は、軸心761がX軸方向と平行な円盤状に形成され、図4に示すように、上面61から立設した第2立設片762の上端部に軸心761回りに回転自在に支持されている。開口部ローラー76の外周面の下端は、上面61よりも上方に配置され、開口部ローラー76の外周面の上端は、背面ローラー71の外周面の上端よりも下方に配置されている。また、開口部ローラー76は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の開口部56よりもY軸方向に搬入出領域のチャックテーブル10寄りに配置されて、外周面にカセット50の開口部56側でかつ底板53側の角部57が接触する。実施形態1では、開口部ローラー76は、X軸方向に沿って間隔をあけて2つ配置され、それぞれが背面ローラー71及び底面ローラー72とY軸方向に並ぶ位置に配置されている。
The opening
支持ブロック77は、開口部ローラー76と、背面ローラー71との間に、開口部ローラー76と近接して設置され、カセット50の底板53の開口部56側の端部を支持するものである。支持ブロック77は、カセットステージ60の上面61から凸に形成され、上面771が水平方向と平行に形成されている。支持ブロック77は、上面771が底面ローラー72の外周面の上端と同じ高さに配置され、実施形態1では、上面771が開口部ローラー76の外周面の上端よりも下方に配置されている。
The
また、支持ブロック77は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の底板53の開口部56側の端部の下方に配置されて、上面771にカセット50の底板53の開口部56側の端部が載置される。実施形態1では、支持ブロック77は、X軸方向に沿って間隔をあけて2つ配置され、それぞれが背面ローラー71、底面ローラー72及び開口部ローラー76とY軸方向に並ぶ位置に配置されている。
In addition, the
第1側方ローラー74と第2側方ローラー75とは、カセット50の側板51の外表面と接触するものであり、X軸方向に沿って互いの間にカセットステージ60の上面61に設置されるカセット50を位置付けるものである。側方ローラー74,75は、軸心741,751がY軸方向と平行な円盤状に形成され、図4に示すように、上面61から立設した図示しない立設片の上端部に軸心741,751回りに回転自在に支持されている。側方ローラー74,75の外周面の上端は、底面ローラー72の外周面の上端及び支持ブロック77の上面と同じ高さに配置され、開口部ローラー76の外周面の上端よりも下方に配置されている。また、実施形態1において、側方ローラー74,75は、それぞれ、X軸方向に間隔をあけて2つ配置され、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の側板51のY軸方向の両端部の外表面に接触する。
The
前述した構成の半導体処理装置1は、板状物200を収容したカセット50がカセットステージ60の上面61に設置され、制御ユニット100に加工条件が設定される。半導体処理装置1は、オペレータ等からの加工動作の開始指示を制御ユニット100が受け付けると、加工動作を開始する。
In the
加工動作を開始すると、半導体処理装置1は、制御ユニット100が搬送ユニット63を制御してカセット50から板状物200を1枚取り出し、テープ205を介して搬入出領域のチャックテーブル10の保持面11に載置する。加工動作では、半導体処理装置1は、テープ205を介して板状物200を保持面11に吸引保持し、クランプ部12で環状フレーム206をクランプし、スピンドル23を軸心回りに回転し、切削液を切削ブレード21に供給する。半導体処理装置1は、制御ユニット100が移動ユニット40を制御して搬入出領域から加工領域に向けてチャックテーブル10を撮像ユニット30の下方まで移動し、撮像ユニット30によりチャックテーブル10に吸引保持した板状物200を撮像して、アライメントを遂行する。
When the processing operation is started, the control unit 100 controls the
加工動作では、半導体処理装置1は、制御ユニット100が加工条件に基づいて移動ユニット40等を制御して、切削ブレード21と板状物200とを分割予定ライン201に沿って相対的に移動させながら板状物200の分割予定ライン201に切削ブレード21をテープ205に到達するまで切り込ませて切削加工する。半導体処理装置1は、加工条件に沿って、板状物200の分割予定ライン201を切削して、板状物200を個々のデバイス203に分割する。半導体処理装置1は、板状物200の全ての分割予定ライン201を切削すると、チャックテーブル10を加工領域から搬入出領域に向けて移動し、搬送ユニット63で板状物200を洗浄ユニット62に搬送し、洗浄ユニット62で切削加工後の板状物200を洗浄した後、搬送ユニット63で板状物200をカセット50に搬入する。半導体処理装置1は、カセット50内の全ての板状物200を切削加工すると、加工動作を終了する。
In the processing operation, the control unit 100 of the
また、半導体処理装置1は、カセット50がカセットステージ60の上面61に設置される際には、図4に実線で示すように、背面板55側でかつ底板53側の角部58(背面板55側の縁に相当)が背面ローラー71と底面ローラー72との間に挿入され、背面板55が背面ローラー71に接触され、底板53が底面ローラー72に接触される。半導体処理装置1は、カセット50が、角部58が背面ローラー71と底面ローラー72とに接触させられてガイドされながら図4に二点鎖線で示すように、角部58を中心に開口部56側でかつ底板53側の角部57がカセットステージ60の上面61に近づけられて、底板53が底面ローラー72及び支持ブロック77の上面771に載置される。また、半導体処理装置1は、開口部ローラー76と背面ローラーと側方ローラー74,75にカセット50が接触して、位置決め機構70が、カセット50をカセットステージ60の上面61に位置決めして設置する。
In the
以上説明した実施形態1に係る半導体処理装置1及び位置決め機構70は、カセット50の背面板55と接触する背面ローラー71と、開口部位置決め部73と背面ローラー71との間に背面ローラー71と近接して設置され、カセット50の底板53の背面板55側の端部を支持する底面ローラー72とを備えている。このために、半導体処理装置1及び位置決め機構70は、角部58が背面ローラー71と底面ローラー72との間に挿入され、角部58が背面ローラー71と底面ローラー72とに接触させられてガイドされながら、角部58を支点に角部57がカセットステージ60の上面61に近づけられて、カセット50を上面61に位置決めして設置することができるため、角部58がカセットステージ60とこすれて発塵する問題が防止することができる。
The
従来は、カセット50の角部57,58がカセットステージ60とこすれて発塵する事を防止するために、作業者がカセット50をカセットステージ60の上方まで持ち上げカセット50を水平に下ろしてカセットステージ60に位置決めしていたため、板状物200のサイズが大きくなりカセット50が重くなると作業者の負担が大きかった。本発明はオペレータ側の角部58をカセットステージ60に先におろし、カセット50を傾けた状態で、その後角部58を中心に角部57を下ろしていくという動作でも背面ローラー71と底面ローラー72とによって、角部58がカセットステージ60とこすれて発塵することを防げる。よって、オペレータはカセット50全体を持ち上げた状態で位置決めしなくてよいので、発塵を防ぎつつ、オペレータの負荷が軽減される。
Conventionally, in order to prevent the
したがって、半導体処理装置1及び位置決め機構70は、カセット50をカセットステージ60の上面61に位置決めして設置する際に、カセット50の特に角部58が擦れることを抑制することができる。その結果、半導体処理装置1及び位置決め機構70は、カセット50を位置決めして設置する際に、発塵を抑制することができるという効果を奏する。
Therefore, the
また、半導体処理装置1及び位置決め機構70は、開口部位置決め部73が開口部ローラー76を有しているので、背面ローラー71と開口部ローラー76等によりカセット50を位置決めするができ、カセット50を位置決めする際の摩擦が低減され発塵を防ぐことができる。
In the
〔変形例〕
本発明の実施形態1の変形例に係る位置決め機構を図面に基づいて説明する。図5は、実施形態1の変形例に係る位置決め機構を模式的に示す平面図である。なお、図5において、実施形態1と同一部分には、同一符号を付して説明を省略する。
[Modification]
A positioning mechanism according to a modification of
実施形態1の変形例に係る位置決め機構70-1は、背面ローラー71、底面ローラー72、開口部ローラー76及び側方ローラー74,75が、図5に示すように、それぞれ、カセット50のX軸方向の全長又はY軸方向の全長とほぼ等しいローラー状に形成され、支持ブロック77がカセット50のX軸方向の全長とほぼ等しく形成されていること以外、実施形態1と同じである。変形例に係る位置決め機構70は、実施形態1と同様に、背面ローラー71と開口部位置決め部73の開口部ローラー76等によりカセット50を位置決めするので、カセット50を位置決めする際の摩擦が低減され発塵を防ぐことができ、発塵を抑制することができるという効果を奏する。
In the positioning mechanism 70-1 according to the modification of the first embodiment, the
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。例えば、本発明では、半導体処理装置1は、切削装置に限定されずに、例えば、板状物200に対して透過性又は吸収性を有する波長のレーザービームを照射するレーザー加工装置、板状物200を研削する研削装置、板状物200を研磨する研磨装置、板状物200をバイト切削するバイト切削装置、板状物にプラズマエッチング等を施すプラズマ装置、板状物200にテープ205を貼着するテープ貼着装置、板状物200を透明体で保持し板状物200の表面202及び裏面204を検査する検査装置などの板状物200に種々の処理を施す装置でも良い。
It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiments. That is, various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example, in the present invention, the
また、本発明では、カセット50は、収容棚54が板状物200を支持する環状フレーム206の背面側の端が当接するストッパを備えても良く、この場合、カセット50が、背面板55を備えずに、背面ローラー71が側板51の背面側の面(背面部に相当)に接触するのが望ましい。
Further, in the present invention, the
1 半導体処理装置
50 カセット
51 側板
52 上板
53 底板
54 収容棚
55 背面板(背面部)
56 開口部
57 角部(開口部側の縁)
60 カセットステージ
61 上面
70,70-1 位置決め機構
71 背面ローラー
72 底面ローラー
73 開口部位置決め部
76 開口部ローラー
77 支持ブロック
200 板状物
56
60
Claims (3)
該カセットは、
対向する側板と、
該側板を連結する上板及び底板と、
該側板に複数形成され板状物を収容する収容棚と、
該板状物が搬出入される開口部と、
該開口部と対向する背面部と、を有し、
該位置決め機構は、
該板状物が搬出入される該開口部側を位置決めする開口部位置決め部と、
該背面部と接触する背面ローラーと、
該開口部位置決め部と、該背面ローラーとの間に、該背面ローラーと近接して設置され、該カセットの該背面部側を支持する底面ローラーと、
を有することを特徴とする位置決め機構。 A positioning mechanism for positioning a cassette containing plate-shaped objects to be processed by a semiconductor processing apparatus on the upper surface of a cassette stage on which the cassette is installed,
The cassette is
opposing side plates;
a top plate and a bottom plate connecting the side plates;
a plurality of storage racks formed on the side plate for storing plate-like objects;
an opening through which the plate-like object is carried in and out;
a rear portion facing the opening;
The positioning mechanism is
an opening positioning part for positioning the opening side through which the plate-like object is carried in and out;
a back roller in contact with the back portion;
a bottom roller disposed between the opening positioning portion and the back roller and adjacent to the back roller to support the back side of the cassette;
A positioning mechanism comprising:
該板状物が搬出入される該開口部側の縁に接触する開口部ローラーと、
該開口部ローラーと、該背面ローラーとの間に、該開口部ローラーと近接して設置され、該底面ローラーと同じ高さを有し、該カセットの該開口部側を支持する支持ブロックと、を有することを特徴とする請求項1に記載の位置決め機構。 The opening locator comprises:
an opening roller that contacts the edge of the opening on which the plate-like object is carried in and out;
a support block positioned between the opening roller and the back roller and proximate to the opening roller and having the same height as the bottom roller for supporting the opening side of the cassette; 2. The positioning mechanism of claim 1, comprising:
板状物を収容するカセットを設置するカセットステージと、
該カセットを該カセットステージの上面に位置決めする位置決め機構と、を備え、
該位置決め機構として、請求項1又は請求項2に記載の位置決め機構を備えることを特徴とする半導体処理装置。 A semiconductor processing apparatus for processing plate-shaped objects,
a cassette stage on which a cassette containing a plate-like object is installed;
a positioning mechanism that positions the cassette on the upper surface of the cassette stage,
A semiconductor processing apparatus comprising the positioning mechanism according to claim 1 or 2 as the positioning mechanism.
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