JP2022142633A - Positioning mechanism and semiconductor processing device - Google Patents

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JP2022142633A JP2021042882A JP2021042882A JP2022142633A JP 2022142633 A JP2022142633 A JP 2022142633A JP 2021042882 A JP2021042882 A JP 2021042882A JP 2021042882 A JP2021042882 A JP 2021042882A JP 2022142633 A JP2022142633 A JP 2022142633A
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Abstract

To suppress dust emission.SOLUTION: A positioning mechanism 70 is a mechanism for positioning a cassette 50 housing a plate-like material processed by a semiconductor processing device 1 on an upper surface 61 of a cassette stage 60. The cassette 50 includes: opposite side plates; an upper plate and a bottom plate, for coupling side plates; a plurality of housing shelves which is formed in the side plate and houses the plate-like material; an open part to/from which the plate-like material is carried-in/out; and a back-surface plate opposite to the open part. The positioning mechanism 70 includes: an open part positioning part 73 that positions a corner part as an edge of the open part to/from which the plate-like material is carried-in/out; a back-surface roller 71 in contact with the back surface plate; an open part positioning part 73; and a bottom surface roller 72 that is installed in a space from the back surface roller 71 so as to be in contact with the back surface roller 71, and supports an end part on the back surface plate side of the bottom plate of the cassette 50.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、板状物を収容するカセットを、カセットステージに位置決めする位置決め機構及び半導体処理装置に関する。 BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a positioning mechanism and a semiconductor processing apparatus for positioning a cassette containing plate-like objects on a cassette stage.

半導体ウエーハの処理工程では、半導体ウエーハなどの板状物がカセットに収容される(例えば、特許文献1参照)。半導体ウエーハの処理工程では、半導体処理装置は、処理対象となる板状物を収容するカセットを、カセットステージに設置し、該カセットステージから任意の搬送ユニットによって、板状物を搬出入し、各種の処理を行う。 2. Description of the Related Art In a process for processing semiconductor wafers, a plate-like object such as a semiconductor wafer is accommodated in a cassette (see, for example, Patent Document 1). In a semiconductor wafer processing process, a semiconductor processing apparatus places a cassette containing a plate-shaped object to be processed on a cassette stage, carries in and out the plate-shaped object from the cassette stage by an arbitrary transport unit, and carries out various processes. process.

そのため、半導体処理装置は、カセットステージの決められた位置にカセットを設置する必要がある。 Therefore, in the semiconductor processing apparatus, it is necessary to install the cassette at a predetermined position on the cassette stage.

特開2014-78656号公報JP 2014-78656 A

しかしながら、カセットをカセットステージに位置決めしておく際に、カセットの角が擦れて、発塵し、半導体処理装置内に浮遊した塵がウエーハに付着する恐れがあった。 However, when the cassette is positioned on the cassette stage, the corners of the cassette rub against each other, dust is generated, and there is a risk that the dust floating in the semiconductor processing apparatus will adhere to the wafer.

本発明の目的は、発塵を抑制することができる位置決め機構及び半導体処理装置を提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a positioning mechanism and a semiconductor processing apparatus capable of suppressing dust generation.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の位置決め機構は、半導体処理装置により処理される板状物を収容するカセットを、該カセットを設置するカセットステージの上面に位置決めする位置決め機構であって、該カセットは、対向する側板と、該側板を連結する上板及び底板と、該側板に複数形成され板状物を収容する収容棚と、該板状物が搬出入される開口部と、該開口部と対向する背面部と、を有し、該位置決め機構は、該板状物が搬出入される該開口部を位置決めする開口部位置決め部と、該背面部と接触する背面ローラーと、該開口部位置決め部と、該背面ローラーとの間に、該背面ローラーと近接して設置され、該カセットの該背面部側を支持する底面ローラーと、を有することを特徴とする。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, a positioning mechanism of the present invention positions a cassette containing a plate-like object to be processed by a semiconductor processing apparatus on the upper surface of a cassette stage on which the cassette is installed. A mechanism, wherein the cassette includes side plates facing each other, a top plate and a bottom plate connecting the side plates, a plurality of storage shelves formed on the side plates for storing plate-like objects, and the plate-like objects being carried in and out. The positioning mechanism has an opening and a back face facing the opening, and the positioning mechanism contacts the back face and the opening positioning part for positioning the opening through which the plate-like object is carried in and out. A back surface roller, the opening positioning part, and a bottom surface roller installed between the back surface roller and the back surface roller in the vicinity of the back surface roller to support the back surface side of the cassette. .

前記位置決め機構において、該開口部位置決め部は、該板状物が搬出入される該開口部側の縁に接触する開口部ローラーと、該開口部ローラーと、該背面ローラーとの間に、該開口部ローラーと近接して設置され、該底面ローラーと同じ高さを有し、該カセットの該開口部側を支持する支持ブロックと、を有しても良い。 In the positioning mechanism, the opening positioning part includes an opening roller that contacts the edge of the opening into which the plate-shaped object is carried in and out, the opening roller, and the back roller. a support block positioned adjacent to the aperture roller and having the same height as the bottom roller to support the aperture side of the cassette.

本発明の半導体処理装置は、板状物を処理する半導体処理装置であって、板状物を収容するカセットを設置するカセットステージと、該カセットを該カセットステージの上面に位置決めする位置決め機構と、を備え、該位置決め機構として、前記位置決め機構を備えることを特徴とする。 A semiconductor processing apparatus according to the present invention is a semiconductor processing apparatus for processing a plate-like object, comprising: a cassette stage on which a cassette containing the plate-like object is installed; a positioning mechanism for positioning the cassette on the upper surface of the cassette stage; and the positioning mechanism is provided as the positioning mechanism.

本発明は、発塵を抑制することができるという効果を奏する。 ADVANTAGE OF THE INVENTION This invention is effective in the ability to suppress dust generation.

図1は、実施形態1に係る半導体処理装置の構成例を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a configuration example of a semiconductor processing apparatus according to Embodiment 1. FIG. 図2は、図1に示された半導体処理装置のカセットステージに設置されるカセットの構成例を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a configuration example of a cassette installed on the cassette stage of the semiconductor processing apparatus shown in FIG. 図3は、実施形態1に係る位置決め機構を模式的に示す平面図である。3 is a plan view schematically showing the positioning mechanism according to the first embodiment; FIG. 図4は、図3に示された位置決め機構を模式的に示す側面図である。4 is a side view schematically showing the positioning mechanism shown in FIG. 3. FIG. 図5は、実施形態1の変形例に係る位置決め機構を模式的に示す平面図である。5 is a plan view schematically showing a positioning mechanism according to a modification of the first embodiment; FIG.

本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 A form (embodiment) for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited by the contents described in the following embodiments. In addition, the components described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art and those that are substantially the same. Furthermore, the configurations described below can be combined as appropriate. In addition, various omissions, substitutions, or changes in configuration can be made without departing from the gist of the present invention.

〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係る位置決め機構及び半導体処理装置を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る半導体処理装置の構成例を示す斜視図である。図2は、図1に示された半導体処理装置のカセットステージに設置されるカセットの構成例を示す斜視図である。図3は、実施形態1に係る位置決め機構を模式的に示す平面図である。図4は、図3に示された位置決め機構を模式的に示す側面図である。
[Embodiment 1]
A positioning mechanism and a semiconductor processing apparatus according to Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a configuration example of a semiconductor processing apparatus according to Embodiment 1. FIG. FIG. 2 is a perspective view showing a configuration example of a cassette installed on the cassette stage of the semiconductor processing apparatus shown in FIG. 3 is a plan view schematically showing the positioning mechanism according to the first embodiment; FIG. 4 is a side view schematically showing the positioning mechanism shown in FIG. 3. FIG.

実施形態1に係る半導体処理装置1は、板状物200を処理する装置である。実施形態1では、半導体処理装置1の処理対象の板状物200は、シリコン(Si)、サファイア(Al)、ガリウムヒ素(GaAs)または炭化ケイ素(SiC)等を基板とする円板状の半導体ウエーハ、光デバイスウエーハ等のウエーハである。 A semiconductor processing apparatus 1 according to Embodiment 1 is an apparatus for processing a plate-like object 200 . In the first embodiment, the plate-like object 200 to be processed by the semiconductor processing apparatus 1 is a disk whose substrate is silicon (Si), sapphire (Al 2 O 3 ), gallium arsenide (GaAs), silicon carbide (SiC), or the like. It is a wafer such as a shaped semiconductor wafer, an optical device wafer, or the like.

板状物200は、図1に示すように、交差する複数の分割予定ライン201で区画された表面202の各領域それぞれにデバイス203が形成されている。デバイス203は、例えば、IC(Integrated Circuit)、あるいやLSI(Large Scale Integration)等の集積回路、CCD(Charge Coupled Device)、あるいはCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等のイメージセンサ、またはMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)等である。また、本発明では、板状物200は、ウエーハに限らず、樹脂により封止されたデバイスを複数有した矩形状の樹脂パッケージ基板、セラミックス板、又はガラス板等でも良い。 As shown in FIG. 1, the plate-like object 200 has a device 203 formed in each region of a surface 202 partitioned by a plurality of intersecting dividing lines 201 . The device 203 is, for example, an integrated circuit such as an IC (Integrated Circuit) or LSI (Large Scale Integration), a CCD (Charge Coupled Device), an image sensor such as a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor), or a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), etc. In the present invention, the plate-like object 200 is not limited to a wafer, and may be a rectangular resin package substrate having a plurality of resin-sealed devices, a ceramic plate, a glass plate, or the like.

実施形態1において、板状物200は、板状物200の外径よりも大径のテープ205が表面202の裏側の裏面204に貼着され、テープ205の外縁部が、内径が板状物200の外径よりも大径な環状フレーム206に貼着されて、環状フレーム206の内側の開口内にテープ205により支持される。板状物200は、分割予定ライン201に沿って個々のデバイス203毎に分割される。 In the first embodiment, the plate-like object 200 has a tape 205 having a larger diameter than the outer diameter of the plate-like object 200 and is attached to the back surface 204 of the front surface 202, and the outer edge of the tape 205 has an inner diameter of the plate-like object. It is attached to an annular frame 206 having a diameter larger than the outer diameter of 200 and supported by a tape 205 within an opening inside the annular frame 206 . The plate-like object 200 is divided into individual devices 203 along dividing lines 201 .

図1に示された半導体処理装置1は、板状物200をチャックテーブル10で保持し分割予定ライン201に沿って切削ブレード21で切削加工(処理に相当)を施して、板状物200を個々のデバイス203に分割する切削装置である。半導体処理装置1は、板状物200を保持するチャックテーブル10と、切削ユニット20(板状物200を処理する処理ユニットに相当)と、撮像ユニット30と、制御ユニット100とを備える。半導体処理装置1は、図1に示すように、切削ユニット20を2つ備えた、即ち、2スピンドルのダイサ、いわゆるフェイシングデュアルタイプの切削装置である。 The semiconductor processing apparatus 1 shown in FIG. 1 holds a plate-like object 200 on a chuck table 10 and performs cutting (corresponding to processing) with a cutting blade 21 along a dividing line 201 to cut the plate-like object 200. It is a cutting device that divides into individual devices 203 . The semiconductor processing apparatus 1 includes a chuck table 10 that holds a plate-like object 200 , a cutting unit 20 (corresponding to a processing unit that processes the plate-like object 200 ), an imaging unit 30 , and a control unit 100 . As shown in FIG. 1, the semiconductor processing apparatus 1 is provided with two cutting units 20, that is, a two-spindle dicer, a so-called facing dual type cutting apparatus.

また、半導体処理装置1は、図1に示すように、チャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的に移動させる移動ユニット40を備える。移動ユニット40は、チャックテーブル10を水平方向と平行なX軸方向に加工送りする加工送りユニットであるX軸移動ユニット41と、水平方向と平行でかつX軸方向と直交する割り出し送り方向であるY軸方向に切削ユニット20を移動させる割り出し送りユニットであるY軸移動ユニット42と、X軸方向とY軸方向とにそれぞれ直交する鉛直方向に平行な切り込み送り方向であるZ軸方向に切削ユニット20を移動させるZ軸移動ユニット43と、チャックテーブル10をZ軸方向と平行な軸心回りに回転する回転移動ユニット44とを備える。即ち、移動ユニット40は、X軸方向、Y軸方向及びZ軸方向にチャックテーブル10と切削ユニット20とを相対的に移動させるものである。 The semiconductor processing apparatus 1 also includes a moving unit 40 for relatively moving the chuck table 10 and the cutting unit 20, as shown in FIG. The movement unit 40 is an X-axis movement unit 41 which is a processing feed unit for processing and feeding the chuck table 10 in the X-axis direction parallel to the horizontal direction, and an indexing feed direction parallel to the horizontal direction and perpendicular to the X-axis direction. A Y-axis moving unit 42, which is an indexing feed unit that moves the cutting unit 20 in the Y-axis direction, and a cutting unit in the Z-axis direction, which is a cutting feed direction parallel to the vertical direction orthogonal to the X-axis direction and the Y-axis direction. 20, and a rotation movement unit 44 that rotates the chuck table 10 around an axis parallel to the Z-axis direction. That is, the moving unit 40 relatively moves the chuck table 10 and the cutting unit 20 in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction.

X軸移動ユニット41は、チャックテーブル10を回転移動ユニット44とともに加工送り方向であるX軸方向に移動させることで、チャックテーブル10を切削ユニット20に対してX軸方向に移動させるものである。X軸移動ユニット41は、チャックテーブル10に保持された板状物200を切削ユニット20が切削加工する加工領域と、チャックテーブル10に板状物200を搬入出する搬入出領域との間で、チャックテーブル10をX軸方向に沿って移動する。 The X-axis movement unit 41 moves the chuck table 10 along with the rotary movement unit 44 in the X-axis direction, which is the processing feed direction, thereby moving the chuck table 10 in the X-axis direction with respect to the cutting unit 20 . The X-axis movement unit 41 moves between the processing area where the cutting unit 20 cuts the plate-like object 200 held on the chuck table 10 and the loading/unloading area where the plate-like object 200 is loaded/unloaded from the chuck table 10. The chuck table 10 is moved along the X-axis direction.

Y軸移動ユニット42は、切削ユニット20をチャックテーブル10に対して割り出し送り方向であるY軸方向に移動させることで、チャックテーブル10を切削ユニット20に対してY軸方向に相対的に移動させるものである。Z軸移動ユニット43は、切削ユニット20を切り込み送り方向であるZ軸方向に移動させることで、チャックテーブル10を切削ユニット20に対してZ軸方向に相対的に移動させるものである。回転移動ユニット44は、X軸移動ユニット41によりX軸方向に移動され、チャックテーブル10をZ軸方向と平行な軸心回りに回転させるものである。 The Y-axis movement unit 42 moves the chuck table 10 relative to the cutting unit 20 in the Y-axis direction by moving the cutting unit 20 in the Y-axis direction, which is the index feed direction, with respect to the chuck table 10 . It is. The Z-axis movement unit 43 moves the chuck table 10 relative to the cutting unit 20 in the Z-axis direction by moving the cutting unit 20 in the Z-axis direction, which is the cutting feed direction. The rotary movement unit 44 is moved in the X-axis direction by the X-axis movement unit 41 to rotate the chuck table 10 around an axis parallel to the Z-axis direction.

X軸移動ユニット41、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43は、軸心回りに回転自在に設けられた周知のボールねじ、ボールねじを軸心回りに回転させる周知のモータ及びチャックテーブル10又は切削ユニット20をX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に移動自在に支持する周知のガイドレールを備える。 The X-axis moving unit 41, the Y-axis moving unit 42, and the Z-axis moving unit 43 are a well-known ball screw provided rotatably around the axis, a well-known motor for rotating the ball screw around the axis, and the chuck table 10. Alternatively, a well-known guide rail that supports the cutting unit 20 so as to be movable in the X-axis direction, the Y-axis direction, or the Z-axis direction is provided.

チャックテーブル10は、円盤形状であり、板状物200を保持する保持面11がポーラスセラミック等の多孔質材から構成されている。また、チャックテーブル10は、X軸移動ユニット41により搬入出領域と加工領域とに亘ってX軸方向に移動自在に設けられ、かつ回転移動ユニット44によりZ軸方向と平行な軸心回りに回転自在に設けられている。チャックテーブル10は、保持面11が図示しない真空吸引源と接続され、真空吸引源より吸引されることで、保持面11に載置された板状物200を吸引、保持する。実施形態1では、チャックテーブル10は、テープ205を介して板状物200を吸引、保持する。チャックテーブル10の周囲には、図1に示すように、環状フレーム206をクランプするクランプ部12が複数設けられている。 The chuck table 10 has a disk shape, and a holding surface 11 for holding the plate-like object 200 is made of a porous material such as porous ceramic. The chuck table 10 is provided to be movable in the X-axis direction over the loading/unloading area and the machining area by the X-axis movement unit 41, and is rotated around the axis parallel to the Z-axis direction by the rotation movement unit 44. freely set. The holding surface 11 of the chuck table 10 is connected to a vacuum suction source (not shown) and sucked from the vacuum suction source to suck and hold the plate-like object 200 placed on the holding surface 11 . In Embodiment 1, the chuck table 10 sucks and holds the plate-like object 200 via the tape 205 . A plurality of clamping portions 12 for clamping the annular frame 206 are provided around the chuck table 10, as shown in FIG.

切削ユニット20は、チャックテーブル10で保持された板状物200を切削加工する処理ユニットである。切削ユニット20は、それぞれ、Y軸移動ユニット42によりチャックテーブル10に対してY軸方向に相対的に移動自在に設けられ、かつ、Z軸移動ユニット43によりZ軸方向に相対的に移動自在に設けられている。 The cutting unit 20 is a processing unit that cuts the plate-like object 200 held by the chuck table 10 . The cutting units 20 are provided to be relatively movable in the Y-axis direction with respect to the chuck table 10 by the Y-axis moving unit 42, and are relatively movable in the Z-axis direction by the Z-axis moving unit 43. is provided.

切削ユニット20は、図1に示すように、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43などを介して、装置本体2から立設した門型の支持フレーム3に設けられている。切削ユニット20は、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43により、チャックテーブル10の保持面11の任意の位置に切削ブレード21を位置付け可能となっている。 As shown in FIG. 1, the cutting unit 20 is provided on a gate-shaped support frame 3 erected from the apparatus main body 2 via a Y-axis movement unit 42, a Z-axis movement unit 43, and the like. The cutting unit 20 can position the cutting blade 21 at any position on the holding surface 11 of the chuck table 10 by the Y-axis moving unit 42 and the Z-axis moving unit 43 .

切削ユニット20は、それぞれ、図1に示すように、チャックテーブル10で保持された板状物200を切削加工する切削ブレード21と、Y軸移動ユニット42及びZ軸移動ユニット43によりY軸方向及びZ軸方向に移動自在に設けられたスピンドルハウジング22と、スピンドルハウジング22に軸心回りに回転可能に設けられかつ図示しないモータにより回転されるとともに先端部に切削ブレード21が装着されるスピンドル23と、切削ブレード21に切削液を供給する切削液供給ノズル24とを有する。 As shown in FIG. 1, the cutting unit 20 includes a cutting blade 21 that cuts a plate-like object 200 held by the chuck table 10, and a Y-axis moving unit 42 and a Z-axis moving unit 43 that move the cutting blade 21 in the Y-axis direction and the Z-axis moving unit 43, respectively. A spindle housing 22 is provided movably in the Z-axis direction, and a spindle 23 is provided rotatably about the axis of the spindle housing 22, is rotated by a motor (not shown), and has a cutting blade 21 attached to its tip. , and a cutting fluid supply nozzle 24 for supplying cutting fluid to the cutting blade 21 .

実施形態1では、切削ブレード21は、それぞれ、円環状の円形基台と、円形基台の外周縁に配設されて板状物200を切削加工する円環状の切り刃とを備える所謂ハブブレードである。切り刃は、ダイヤモンドやCBN(Cubic Boron Nitride)等の砥粒と、金属や樹脂等の砥粒を固定するボンド材(結合材)とからなり厚み一定のリング状に形成されている。また、本発明では、切削ブレード21は、切り刃のみで構成された所謂ワッシャーブレードでも良い。 In the first embodiment, the cutting blades 21 are so-called hub blades each having an annular base and an annular cutting edge disposed on the outer peripheral edge of the circular base for cutting the plate-like object 200. is. The cutting edge is made of abrasive grains such as diamond or CBN (Cubic Boron Nitride), and a bonding material (bonding material) that fixes the abrasive grains such as metal or resin, and is formed in a ring shape with a constant thickness. Further, in the present invention, the cutting blade 21 may be a so-called washer blade composed only of a cutting edge.

撮像ユニット30は、切削ユニット20と一体的に移動するように、切削ユニット20に固定されている。撮像ユニット30は、チャックテーブル10に保持された切削前の板状物200の分割すべき領域を撮影する撮像素子を備えている。撮像素子は、例えば、CCD(Charge-Coupled Device)撮像素子又はCMOS(Complementary MOS)撮像素子である。撮像ユニット30は、チャックテーブル10に保持された板状物200を撮影して、板状物200と切削ブレード21との位置合わせを行なうアライメントを遂行するため等の画像を得、得た画像を制御ユニット100に出力する。 The imaging unit 30 is fixed to the cutting unit 20 so as to move together with the cutting unit 20 . The imaging unit 30 includes an imaging element that captures an area to be divided of the plate-like object 200 before cutting held on the chuck table 10 . The imaging device is, for example, a CCD (Charge-Coupled Device) imaging device or a CMOS (Complementary MOS) imaging device. The imaging unit 30 captures an image of the plate-like object 200 held on the chuck table 10, obtains an image for performing alignment for aligning the position of the plate-like object 200 and the cutting blade 21, and obtains the obtained image. Output to control unit 100 .

また、半導体処理装置1は、チャックテーブル10のX軸方向の位置を検出するため図示しないX軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のY軸方向の位置を検出するための図示しないY軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出するためのZ軸方向位置検出ユニットとを備える。X軸方向位置検出ユニット及びY軸方向位置検出ユニットは、X軸方向、又はY軸方向と平行なリニアスケールと、読み取りヘッドとにより構成することができる。Z軸方向位置検出ユニットは、モータのパルスで切削ユニット20のZ軸方向の位置を検出する。X軸方向位置検出ユニット、Y軸方向位置検出ユニット及びZ軸方向位置検出ユニットは、チャックテーブル10のX軸方向、切削ユニット20のY軸方向又はZ軸方向の位置を制御ユニット100に出力する。なお、実施形態1では、半導体処理装置1のチャックテーブル10及び切削ユニット20のX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の位置は、予め定められた図示しない原点位置を基準とした位置で定められる。 The semiconductor processing apparatus 1 also includes an X-axis position detection unit (not shown) for detecting the position of the chuck table 10 in the X-axis direction, and a Y-axis direction detection unit (not shown) for detecting the position of the cutting unit 20 in the Y-axis direction. A position detection unit and a Z-axis direction position detection unit for detecting the position of the cutting unit 20 in the Z-axis direction are provided. The X-axis direction position detection unit and the Y-axis direction position detection unit can be composed of a linear scale parallel to the X-axis direction or the Y-axis direction and a reading head. The Z-axis direction position detection unit detects the position of the cutting unit 20 in the Z-axis direction using motor pulses. The X-axis direction position detection unit, the Y-axis direction position detection unit, and the Z-axis direction position detection unit output the position of the chuck table 10 in the X-axis direction and the cutting unit 20 in the Y-axis direction or Z-axis direction to the control unit 100. . In the first embodiment, the positions of the chuck table 10 and the cutting unit 20 of the semiconductor processing apparatus 1 in the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction are determined based on a predetermined origin position (not shown). be done.

また、半導体処理装置1は、切削加工前後の板状物200を複数枚収容するカセット50を上面61に設置しかつカセット50をZ軸方向に移動させるカセットステージ60と、切削加工後の板状物200を洗浄する洗浄ユニット62とを備える。 The semiconductor processing apparatus 1 also includes a cassette stage 60 on which a cassette 50 for accommodating a plurality of plate-shaped objects 200 before and after cutting is installed on the upper surface 61 and which moves the cassette 50 in the Z-axis direction, and a plate-shaped object after cutting. and a washing unit 62 for washing the object 200 .

カセット50は、半導体処理装置1により切削加工される複数枚の板状物200をZ軸方向に間隔あけて重ねて収容可能な収容容器である。カセット50は、図2に示すように、互いに対向する一対の側板51と、上板52及び底板53と、複数の収容棚54と、背面部としての背面板55とを有している。一対の側板51、上板52、底板53及び背面板55は、平板状に形成されている。 The cassette 50 is a storage container capable of accommodating a plurality of plate-like objects 200 cut by the semiconductor processing apparatus 1 while being spaced apart in the Z-axis direction. As shown in FIG. 2, the cassette 50 has a pair of side plates 51 facing each other, a top plate 52 and a bottom plate 53, a plurality of storage shelves 54, and a back plate 55 as a back portion. A pair of side plates 51, top plate 52, bottom plate 53 and rear plate 55 are formed in a flat plate shape.

一対の側板51は、カセット50がカセットステージ60の上面61に設置されると、X軸方向に沿って互いに間隔をあけて対向する。上板52は、一対の側板51の上端同士を連結し、底板53は、一対の側板51の下端同士を連結する。上板52と底板53とは、Z軸方向に沿って互いに間隔をあけて対向する。背面板55は、一対の側板51、上板52及び底板53の図2中手間側の一端同士を連結する。実施形態1では、背面板55は、一対の側板51、上板52及び底板53の一端同士の間の全体を塞ぐが、本発明では、必ずしも全体を塞ぐことなく一部分のみを塞いでも良い。また実施形態1では、上板52と、底板53は、側板51の間の全体を塞ぐ板で形成されているが、必ずしも全体を塞がず一対の側板51の一部を連結して一部分のみを塞ぎ、カセット50を軽量化しても良い。 When the cassette 50 is placed on the upper surface 61 of the cassette stage 60, the pair of side plates 51 face each other with a gap along the X-axis direction. The upper plate 52 connects the upper ends of the pair of side plates 51 together, and the bottom plate 53 connects the lower ends of the pair of side plates 51 together. The upper plate 52 and the bottom plate 53 face each other with a gap along the Z-axis direction. The back plate 55 connects the ends of the pair of side plates 51, the top plate 52 and the bottom plate 53 on the central side in FIG. In Embodiment 1, the rear plate 55 covers the entire space between the ends of the pair of side plates 51, the top plate 52 and the bottom plate 53, but in the present invention it may not necessarily cover the whole but only a part. In the first embodiment, the upper plate 52 and the bottom plate 53 are formed of plates that cover the entire gap between the side plates 51. However, the pair of side plates 51 are not necessarily closed entirely, and only a portion of the pair of side plates 51 are connected. may be closed to reduce the weight of the cassette 50.

また、カセット50は、一対の側板51、上板52及び底板53の図2奥側の他端同士の間に板状物200が搬出入される開口部56を形成している。このために、カセット50は、開口部56を有している。また、背面板55は、カセット50がカセットステージ60に設置されるとY軸方向に沿って、開口部56と水平方向に沿って対向する。背面板55は、開口部56を通してカセット50内に収容された板状物200に当接して、板状物200を図2手前側の背面で支持する。 The cassette 50 also forms an opening 56 through which the plate-like object 200 is carried in and out between the other ends of the pair of side plates 51, top plate 52, and bottom plate 53 on the back side in FIG. For this purpose the cassette 50 has an opening 56 . Further, when the cassette 50 is placed on the cassette stage 60, the back plate 55 horizontally faces the opening 56 along the Y-axis direction. The back plate 55 contacts the plate-like object 200 accommodated in the cassette 50 through the opening 56 and supports the plate-like object 200 on the front side in FIG.

収容棚54は、一対の側板51の互いに対向する内面に複数形成されている。収容棚54は、カセット50がカセットステージ60に設置されると、Y軸方向と平行な棒状に形成され、各側板51の内面にZ軸方向に間隔をあけて配置されている。カセット50がカセットステージ60に設置されると、一方の側板51に形成された収容棚54は、他方の側板51に形成された収容棚54と、X軸方向に対向する。収容棚54は、カセット50がカセットステージ60に設置されると、X軸方向に対向するもの同士の上面に環状フレーム206が載置されて、板状物200をカセット50内に位置決めして収容する。また、カセット50は、上板52の上面にオペレータなどが把持することが可能な取っ手59を有している。 A plurality of storage racks 54 are formed on the inner surfaces of the pair of side plates 51 facing each other. When the cassette 50 is placed on the cassette stage 60, the housing racks 54 are formed in a bar shape parallel to the Y-axis direction, and are arranged on the inner surfaces of the side plates 51 at intervals in the Z-axis direction. When the cassette 50 is installed on the cassette stage 60, the storage shelf 54 formed on one side plate 51 faces the storage shelf 54 formed on the other side plate 51 in the X-axis direction. When the cassette 50 is installed on the cassette stage 60, the storage racks 54 have the annular frames 206 placed on the upper surfaces of the shelves facing each other in the X-axis direction to position and store the plate-like object 200 in the cassette 50. do. The cassette 50 also has a handle 59 on the upper surface of the upper plate 52 that can be gripped by an operator or the like.

制御ユニット100は、半導体処理装置1の上述した各ユニットをそれぞれ制御して、板状物200に対する加工動作を半導体処理装置1に実施させるものである。なお、制御ユニット100は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有するコンピュータである。制御ユニット100の演算処理装置は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理装置が演算処理を実施して、半導体処理装置1を制御するための制御信号を入出力インターフェース装置を介して半導体処理装置1の上述した構成要素に出力する。 The control unit 100 controls each of the above-described units of the semiconductor processing apparatus 1 to cause the semiconductor processing apparatus 1 to perform processing operations on the plate-like object 200 . Note that the control unit 100 includes an arithmetic processing unit having a microprocessor such as a CPU (central processing unit), a storage device having a memory such as ROM (read only memory) or RAM (random access memory), and an input/output unit. A computer having an interface device. The arithmetic processing unit of the control unit 100 performs arithmetic processing according to a computer program stored in a storage device, and outputs a control signal for controlling the semiconductor processing device 1 to a semiconductor device via an input/output interface device. Output to the above-described components of the processing device 1 .

また、制御ユニット100は、加工動作の状態や画像などを表示する液晶表示装置などにより構成される表示ユニット101と、オペレータが加工条件などを登録する際に用いる入力ユニットとに接続されている。入力ユニットは、表示ユニット101に設けられたタッチパネルと、キーボード等の外部入力装置とのうち少なくとも一つにより構成される。 The control unit 100 is also connected to a display unit 101 configured by a liquid crystal display device for displaying the state of machining operations, images, etc., and an input unit used by the operator to register machining conditions and the like. The input unit is composed of at least one of a touch panel provided on the display unit 101 and an external input device such as a keyboard.

また、半導体処理装置1は、カセット50から板状物200を搬出、カセット50に板状物200を搬入するとともに板状物200をカセット50、チャックテーブル10、及び洗浄ユニット62の間で搬送する図3に示す搬送ユニット63と、板状物200を収容するカセット50をカセットステージ60の上面61に位置決めする位置決め機構70(図3及び図4に示す)とを備える。なお、図1は、搬送ユニット63及び位置決め機構70を省略している。 The semiconductor processing apparatus 1 unloads the plate-like object 200 from the cassette 50, loads the plate-like object 200 into the cassette 50, and conveys the plate-like object 200 between the cassette 50, the chuck table 10, and the cleaning unit 62. 3, and a positioning mechanism 70 (shown in FIGS. 3 and 4) that positions the cassette 50 containing the plate-like object 200 on the upper surface 61 of the cassette stage 60. As shown in FIG. Note that the transport unit 63 and the positioning mechanism 70 are omitted in FIG.

位置決め機構70は、カセットステージ60の上面61の搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル10と開口部56がY軸方向に並ぶ位置にカセット50を位置決めするものである。位置決め機構70は、図3に示すように、カセットステージ60の上面61に設置され、背面ローラー71と、底面ローラー72と、開口部位置決め部73と、第1側方ローラー74と、第2側方ローラー75とを有する。 The positioning mechanism 70 positions the cassette 50 at a position where the chuck table 10 positioned in the loading/unloading area of the upper surface 61 of the cassette stage 60 and the opening 56 are aligned in the Y-axis direction. The positioning mechanism 70 is installed on the upper surface 61 of the cassette stage 60, as shown in FIG. and a side roller 75 .

背面ローラー71は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の背面板55に接触するものである。背面ローラー71は、軸心711がX軸方向と平行な円盤状に形成され、図4に示すように、上面61から立設した立設片712の上端部に軸心711回りに回転自在に支持されている。背面ローラー71の外周面の下端は、上面61よりも上方に配置されている。また、背面ローラー71は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の背面板55よりもY軸方向にチャックテーブル10から離れた側に配置されて、外周面にカセット50の背面板55が接触する。実施形態1では、背面ローラー71は、X軸方向に沿って間隔をあけて2つ配置され、それぞれがカセット50の角部よりもY軸方向にチャックテーブル10から離れた側に配置されている。 The back roller 71 is in contact with the back plate 55 of the cassette 50 placed on the upper surface 61 of the cassette stage 60 . The back roller 71 is formed in a disk shape with an axis 711 parallel to the X-axis direction, and as shown in FIG. Supported. The lower end of the outer peripheral surface of the back roller 71 is arranged above the upper surface 61 . In addition, the back roller 71 is arranged on the side farther from the chuck table 10 in the Y-axis direction than the back plate 55 of the cassette 50 installed on the upper surface 61 of the cassette stage 60, and the back plate 55 of the cassette 50 is arranged on the outer peripheral surface. comes into contact. In the first embodiment, two rear surface rollers 71 are arranged with an interval along the X-axis direction, and each is arranged on the side farther from the chuck table 10 in the Y-axis direction than the corner of the cassette 50 . .

底面ローラー72は、開口部位置決め部73の開口部ローラー76と、背面ローラー71との間に、背面ローラー71と近接して設置され、カセット50の底板53の背面板55側の端部を支持するものである。底面ローラー72は、軸心721がX軸方向と平行な円盤状に形成され、図4に示すように、上面61に軸心721回りに回転自在に支持されている。底面ローラー72は、外周面の上端が、背面ローラー71の外周面の上端よりも下方に配置されている。底面ローラー72は、実施形態1では、上面61に設けられた図示しない凹部内に設置されて、底面ローラー72の下端が、上面61よりも下方に配置されている。 The bottom roller 72 is installed between the opening roller 76 of the opening positioning portion 73 and the back roller 71 and close to the back roller 71, and supports the end of the bottom plate 53 of the cassette 50 on the back plate 55 side. It is something to do. The bottom surface roller 72 is formed in a disc shape with an axis 721 parallel to the X-axis direction, and is rotatably supported on the top surface 61 about the axis 721 as shown in FIG. The bottom surface roller 72 is arranged such that the upper end of the outer peripheral surface is lower than the upper end of the outer peripheral surface of the back roller 71 . In Embodiment 1, the bottom surface roller 72 is installed in a recess (not shown) provided on the top surface 61 , and the lower end of the bottom surface roller 72 is arranged below the top surface 61 .

また、底面ローラー72は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の底板53の背面板55側の端部の下方に配置されて、外周面にカセット50の底板53の背面板55側の端部が接触する。実施形態1では、底面ローラー72は、X軸方向に沿って間隔をあけて2つ配置され、それぞれが背面ローラー71とY軸方向に並ぶ位置に配置されている。 The bottom surface roller 72 is arranged below the rear plate 55 side end of the bottom plate 53 of the cassette 50 installed on the upper surface 61 of the cassette stage 60 , and is provided on the outer peripheral surface of the cassette 50 on the rear plate 55 side of the bottom plate 53 of the cassette 50 . are in contact with each other. In Embodiment 1, two bottom surface rollers 72 are arranged with an interval along the X-axis direction, and each is arranged at a position aligned with the back surface roller 71 in the Y-axis direction.

開口部位置決め部73は、板状物200がカセット50に搬出入されるカセット50の開口部56側でかつ底板53側の角部57(図4等に示し、開口部56の縁に相当)を位置決めするものである。開口部位置決め部73は、開口部ローラー76と、支持ブロック77とを有する。 The opening positioning portion 73 is a corner portion 57 on the side of the opening 56 of the cassette 50 through which the plate-like object 200 is carried in and out of the cassette 50 and on the side of the bottom plate 53 (corresponding to the edge of the opening 56 shown in FIG. 4 and the like). is positioned. The opening positioner 73 has an opening roller 76 and a support block 77 .

開口部ローラー76は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の開口部56側でかつ底板53側の角部57に接触する。開口部ローラー76は、軸心761がX軸方向と平行な円盤状に形成され、図4に示すように、上面61から立設した第2立設片762の上端部に軸心761回りに回転自在に支持されている。開口部ローラー76の外周面の下端は、上面61よりも上方に配置され、開口部ローラー76の外周面の上端は、背面ローラー71の外周面の上端よりも下方に配置されている。また、開口部ローラー76は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の開口部56よりもY軸方向に搬入出領域のチャックテーブル10寄りに配置されて、外周面にカセット50の開口部56側でかつ底板53側の角部57が接触する。実施形態1では、開口部ローラー76は、X軸方向に沿って間隔をあけて2つ配置され、それぞれが背面ローラー71及び底面ローラー72とY軸方向に並ぶ位置に配置されている。 The opening roller 76 contacts the corner 57 on the side of the opening 56 of the cassette 50 placed on the upper surface 61 of the cassette stage 60 and on the side of the bottom plate 53 . The opening roller 76 is formed in a disc shape with an axis 761 parallel to the X-axis direction, and as shown in FIG. It is rotatably supported. The lower end of the outer peripheral surface of the opening roller 76 is arranged above the upper surface 61 , and the upper end of the outer peripheral surface of the opening roller 76 is arranged below the upper end of the outer peripheral surface of the back roller 71 . In addition, the opening roller 76 is arranged closer to the chuck table 10 in the loading/unloading area in the Y-axis direction than the opening 56 of the cassette 50 installed on the upper surface 61 of the cassette stage 60, and the opening of the cassette 50 is arranged on the outer peripheral surface. A corner portion 57 on the side of the portion 56 and on the side of the bottom plate 53 contacts. In Embodiment 1, two opening rollers 76 are arranged with an interval along the X-axis direction, and each is arranged at a position aligned with the back roller 71 and the bottom roller 72 in the Y-axis direction.

支持ブロック77は、開口部ローラー76と、背面ローラー71との間に、開口部ローラー76と近接して設置され、カセット50の底板53の開口部56側の端部を支持するものである。支持ブロック77は、カセットステージ60の上面61から凸に形成され、上面771が水平方向と平行に形成されている。支持ブロック77は、上面771が底面ローラー72の外周面の上端と同じ高さに配置され、実施形態1では、上面771が開口部ローラー76の外周面の上端よりも下方に配置されている。 The support block 77 is installed between the opening roller 76 and the rear roller 71 in the vicinity of the opening roller 76 and supports the edge of the bottom plate 53 of the cassette 50 on the opening 56 side. The support block 77 is formed to protrude from the upper surface 61 of the cassette stage 60, and the upper surface 771 is formed parallel to the horizontal direction. The upper surface 771 of the support block 77 is arranged at the same height as the upper end of the outer peripheral surface of the bottom roller 72 , and in the first embodiment, the upper surface 771 is arranged below the upper end of the outer peripheral surface of the opening roller 76 .

また、支持ブロック77は、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の底板53の開口部56側の端部の下方に配置されて、上面771にカセット50の底板53の開口部56側の端部が載置される。実施形態1では、支持ブロック77は、X軸方向に沿って間隔をあけて2つ配置され、それぞれが背面ローラー71、底面ローラー72及び開口部ローラー76とY軸方向に並ぶ位置に配置されている。 In addition, the support block 77 is arranged below the end of the bottom plate 53 of the cassette 50 on the side of the opening 56 of the bottom plate 53 of the cassette 50 installed on the top surface 61 of the cassette stage 60 . is placed. In Embodiment 1, two support blocks 77 are arranged with an interval along the X-axis direction, and each is arranged at a position aligned with the back roller 71, the bottom roller 72, and the opening roller 76 in the Y-axis direction. there is

第1側方ローラー74と第2側方ローラー75とは、カセット50の側板51の外表面と接触するものであり、X軸方向に沿って互いの間にカセットステージ60の上面61に設置されるカセット50を位置付けるものである。側方ローラー74,75は、軸心741,751がY軸方向と平行な円盤状に形成され、図4に示すように、上面61から立設した図示しない立設片の上端部に軸心741,751回りに回転自在に支持されている。側方ローラー74,75の外周面の上端は、底面ローラー72の外周面の上端及び支持ブロック77の上面と同じ高さに配置され、開口部ローラー76の外周面の上端よりも下方に配置されている。また、実施形態1において、側方ローラー74,75は、それぞれ、X軸方向に間隔をあけて2つ配置され、カセットステージ60の上面61に設置されるカセット50の側板51のY軸方向の両端部の外表面に接触する。 The first side roller 74 and the second side roller 75 are in contact with the outer surface of the side plate 51 of the cassette 50, and are installed on the upper surface 61 of the cassette stage 60 between each other along the X-axis direction. position the cassette 50. The side rollers 74 and 75 are disc-shaped with the axes 741 and 751 parallel to the Y-axis direction, and as shown in FIG. 741 and 751 are rotatably supported. The upper ends of the outer peripheral surfaces of the side rollers 74 and 75 are arranged at the same height as the upper end of the outer peripheral surface of the bottom roller 72 and the upper surface of the support block 77, and are arranged below the upper end of the outer peripheral surface of the opening roller 76. ing. In the first embodiment, two side rollers 74 and 75 are arranged with an interval in the X-axis direction, and are arranged in the Y-axis direction of the side plate 51 of the cassette 50 installed on the upper surface 61 of the cassette stage 60 . Contact the outer surface of both ends.

前述した構成の半導体処理装置1は、板状物200を収容したカセット50がカセットステージ60の上面61に設置され、制御ユニット100に加工条件が設定される。半導体処理装置1は、オペレータ等からの加工動作の開始指示を制御ユニット100が受け付けると、加工動作を開始する。 In the semiconductor processing apparatus 1 configured as described above, the cassette 50 containing the plate-like object 200 is installed on the upper surface 61 of the cassette stage 60, and processing conditions are set in the control unit 100. FIG. The semiconductor processing apparatus 1 starts a machining operation when the control unit 100 receives a machining operation start instruction from an operator or the like.

加工動作を開始すると、半導体処理装置1は、制御ユニット100が搬送ユニット63を制御してカセット50から板状物200を1枚取り出し、テープ205を介して搬入出領域のチャックテーブル10の保持面11に載置する。加工動作では、半導体処理装置1は、テープ205を介して板状物200を保持面11に吸引保持し、クランプ部12で環状フレーム206をクランプし、スピンドル23を軸心回りに回転し、切削液を切削ブレード21に供給する。半導体処理装置1は、制御ユニット100が移動ユニット40を制御して搬入出領域から加工領域に向けてチャックテーブル10を撮像ユニット30の下方まで移動し、撮像ユニット30によりチャックテーブル10に吸引保持した板状物200を撮像して、アライメントを遂行する。 When the processing operation is started, the control unit 100 controls the transfer unit 63 to take out one plate-like object 200 from the cassette 50 . 11. In the processing operation, the semiconductor processing apparatus 1 sucks and holds the plate-like object 200 on the holding surface 11 via the tape 205, clamps the annular frame 206 with the clamping part 12, rotates the spindle 23 around the axis, and cuts the workpiece. A liquid is supplied to the cutting blade 21 . In the semiconductor processing apparatus 1, the control unit 100 controls the movement unit 40 to move the chuck table 10 from the loading/unloading area toward the processing area to below the imaging unit 30, and the imaging unit 30 sucks and holds the chuck table 10. Alignment is performed by imaging the plate-like object 200 .

加工動作では、半導体処理装置1は、制御ユニット100が加工条件に基づいて移動ユニット40等を制御して、切削ブレード21と板状物200とを分割予定ライン201に沿って相対的に移動させながら板状物200の分割予定ライン201に切削ブレード21をテープ205に到達するまで切り込ませて切削加工する。半導体処理装置1は、加工条件に沿って、板状物200の分割予定ライン201を切削して、板状物200を個々のデバイス203に分割する。半導体処理装置1は、板状物200の全ての分割予定ライン201を切削すると、チャックテーブル10を加工領域から搬入出領域に向けて移動し、搬送ユニット63で板状物200を洗浄ユニット62に搬送し、洗浄ユニット62で切削加工後の板状物200を洗浄した後、搬送ユニット63で板状物200をカセット50に搬入する。半導体処理装置1は、カセット50内の全ての板状物200を切削加工すると、加工動作を終了する。 In the processing operation, the control unit 100 of the semiconductor processing apparatus 1 controls the movement unit 40 and the like based on the processing conditions to relatively move the cutting blade 21 and the plate-like object 200 along the dividing line 201. The cutting blade 21 is caused to cut into the planned dividing line 201 of the plate-like object 200 until it reaches the tape 205 to perform cutting. The semiconductor processing apparatus 1 cuts the dividing lines 201 of the plate-like object 200 according to the processing conditions to divide the plate-like object 200 into individual devices 203 . After cutting all the dividing lines 201 of the plate-like object 200 , the semiconductor processing apparatus 1 moves the chuck table 10 from the processing area toward the carry-in/out area, and the transfer unit 63 moves the plate-like object 200 to the cleaning unit 62 . After the cut plate-like object 200 is washed by the washing unit 62 , the plate-like object 200 is carried into the cassette 50 by the conveying unit 63 . When the semiconductor processing apparatus 1 cuts all the plate-like objects 200 in the cassette 50, the processing operation is finished.

また、半導体処理装置1は、カセット50がカセットステージ60の上面61に設置される際には、図4に実線で示すように、背面板55側でかつ底板53側の角部58(背面板55側の縁に相当)が背面ローラー71と底面ローラー72との間に挿入され、背面板55が背面ローラー71に接触され、底板53が底面ローラー72に接触される。半導体処理装置1は、カセット50が、角部58が背面ローラー71と底面ローラー72とに接触させられてガイドされながら図4に二点鎖線で示すように、角部58を中心に開口部56側でかつ底板53側の角部57がカセットステージ60の上面61に近づけられて、底板53が底面ローラー72及び支持ブロック77の上面771に載置される。また、半導体処理装置1は、開口部ローラー76と背面ローラーと側方ローラー74,75にカセット50が接触して、位置決め機構70が、カセット50をカセットステージ60の上面61に位置決めして設置する。 In the semiconductor processing apparatus 1, when the cassette 50 is placed on the upper surface 61 of the cassette stage 60, as indicated by the solid line in FIG. 55 side edge) is inserted between the back roller 71 and the bottom roller 72 , the back plate 55 is brought into contact with the back roller 71 , and the bottom plate 53 is brought into contact with the bottom roller 72 . In the semiconductor processing apparatus 1, the cassette 50 is guided with the corners 58 brought into contact with the back roller 71 and the bottom roller 72, and as shown by the two-dot chain line in FIG. The bottom plate 53 is placed on the bottom rollers 72 and the top surface 771 of the support block 77 with the bottom plate 53 side corner 57 brought closer to the top surface 61 of the cassette stage 60 . In the semiconductor processing apparatus 1, the cassette 50 contacts the opening roller 76, the back roller, and the side rollers 74 and 75, and the positioning mechanism 70 positions and installs the cassette 50 on the upper surface 61 of the cassette stage 60. .

以上説明した実施形態1に係る半導体処理装置1及び位置決め機構70は、カセット50の背面板55と接触する背面ローラー71と、開口部位置決め部73と背面ローラー71との間に背面ローラー71と近接して設置され、カセット50の底板53の背面板55側の端部を支持する底面ローラー72とを備えている。このために、半導体処理装置1及び位置決め機構70は、角部58が背面ローラー71と底面ローラー72との間に挿入され、角部58が背面ローラー71と底面ローラー72とに接触させられてガイドされながら、角部58を支点に角部57がカセットステージ60の上面61に近づけられて、カセット50を上面61に位置決めして設置することができるため、角部58がカセットステージ60とこすれて発塵する問題が防止することができる。 The semiconductor processing apparatus 1 and the positioning mechanism 70 according to the first embodiment described above include the rear roller 71 that contacts the rear plate 55 of the cassette 50, and the rear roller 71 and the rear roller 71 that are adjacent to each other between the opening positioning portion 73 and the rear roller 71. and a bottom roller 72 that supports the end of the bottom plate 53 of the cassette 50 on the side of the rear plate 55 . For this purpose, the semiconductor processing apparatus 1 and the positioning mechanism 70 are guided by the corner portion 58 being inserted between the back roller 71 and the bottom roller 72 and the corner portion 58 being brought into contact with the back roller 71 and the bottom roller 72 . At the same time, the corner portion 57 is brought closer to the upper surface 61 of the cassette stage 60 with the corner portion 58 as a fulcrum, so that the cassette 50 can be positioned and installed on the upper surface 61 . The problem of dust generation can be prevented.

従来は、カセット50の角部57,58がカセットステージ60とこすれて発塵する事を防止するために、作業者がカセット50をカセットステージ60の上方まで持ち上げカセット50を水平に下ろしてカセットステージ60に位置決めしていたため、板状物200のサイズが大きくなりカセット50が重くなると作業者の負担が大きかった。本発明はオペレータ側の角部58をカセットステージ60に先におろし、カセット50を傾けた状態で、その後角部58を中心に角部57を下ろしていくという動作でも背面ローラー71と底面ローラー72とによって、角部58がカセットステージ60とこすれて発塵することを防げる。よって、オペレータはカセット50全体を持ち上げた状態で位置決めしなくてよいので、発塵を防ぎつつ、オペレータの負荷が軽減される。 Conventionally, in order to prevent the corners 57 and 58 of the cassette 50 from rubbing against the cassette stage 60 to generate dust, an operator lifts the cassette 50 above the cassette stage 60 and lowers the cassette 50 horizontally. 60, the burden on the operator was increased when the size of the plate-like object 200 became large and the cassette 50 became heavy. According to the present invention, the back roller 71 and the bottom roller 72 can also be operated by first lowering the corner 58 on the operator side onto the cassette stage 60, and then lowering the corner 57 around the corner 58 with the cassette 50 tilted. This prevents the corner 58 from rubbing against the cassette stage 60 to generate dust. Therefore, the operator does not have to position the cassette 50 while lifting the entire cassette 50, thereby reducing the burden on the operator while preventing dust generation.

したがって、半導体処理装置1及び位置決め機構70は、カセット50をカセットステージ60の上面61に位置決めして設置する際に、カセット50の特に角部58が擦れることを抑制することができる。その結果、半導体処理装置1及び位置決め機構70は、カセット50を位置決めして設置する際に、発塵を抑制することができるという効果を奏する。 Therefore, the semiconductor processing apparatus 1 and the positioning mechanism 70 can suppress rubbing of the cassette 50 , particularly the corners 58 , when the cassette 50 is positioned and installed on the upper surface 61 of the cassette stage 60 . As a result, the semiconductor processing apparatus 1 and the positioning mechanism 70 have the effect of suppressing dust generation when the cassette 50 is positioned and installed.

また、半導体処理装置1及び位置決め機構70は、開口部位置決め部73が開口部ローラー76を有しているので、背面ローラー71と開口部ローラー76等によりカセット50を位置決めするができ、カセット50を位置決めする際の摩擦が低減され発塵を防ぐことができる。 In the semiconductor processing apparatus 1 and the positioning mechanism 70, the opening positioning part 73 has the opening roller 76, so that the cassette 50 can be positioned by the back roller 71, the opening roller 76, and the like. Friction at the time of positioning is reduced and dust generation can be prevented.

〔変形例〕
本発明の実施形態1の変形例に係る位置決め機構を図面に基づいて説明する。図5は、実施形態1の変形例に係る位置決め機構を模式的に示す平面図である。なお、図5において、実施形態1と同一部分には、同一符号を付して説明を省略する。
[Modification]
A positioning mechanism according to a modification of Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to the drawings. 5 is a plan view schematically showing a positioning mechanism according to a modification of the first embodiment; FIG. In addition, in FIG. 5, the same reference numerals are assigned to the same parts as those in the first embodiment, and the description thereof is omitted.

実施形態1の変形例に係る位置決め機構70-1は、背面ローラー71、底面ローラー72、開口部ローラー76及び側方ローラー74,75が、図5に示すように、それぞれ、カセット50のX軸方向の全長又はY軸方向の全長とほぼ等しいローラー状に形成され、支持ブロック77がカセット50のX軸方向の全長とほぼ等しく形成されていること以外、実施形態1と同じである。変形例に係る位置決め機構70は、実施形態1と同様に、背面ローラー71と開口部位置決め部73の開口部ローラー76等によりカセット50を位置決めするので、カセット50を位置決めする際の摩擦が低減され発塵を防ぐことができ、発塵を抑制することができるという効果を奏する。 In the positioning mechanism 70-1 according to the modification of the first embodiment, the rear roller 71, the bottom roller 72, the opening roller 76 and the side rollers 74 and 75 are arranged on the X axis of the cassette 50 as shown in FIG. It is the same as Embodiment 1 except that it is formed in a roller shape substantially equal to the total length in the direction or the total length in the Y-axis direction, and the support block 77 is formed substantially equal to the total length in the X-axis direction of the cassette 50 . As in the first embodiment, the positioning mechanism 70 according to the modification positions the cassette 50 by the rear roller 71 and the opening roller 76 of the opening positioning portion 73, etc., so that the friction when positioning the cassette 50 is reduced. It is possible to prevent dust generation and to suppress dust generation.

なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。例えば、本発明では、半導体処理装置1は、切削装置に限定されずに、例えば、板状物200に対して透過性又は吸収性を有する波長のレーザービームを照射するレーザー加工装置、板状物200を研削する研削装置、板状物200を研磨する研磨装置、板状物200をバイト切削するバイト切削装置、板状物にプラズマエッチング等を施すプラズマ装置、板状物200にテープ205を貼着するテープ貼着装置、板状物200を透明体で保持し板状物200の表面202及び裏面204を検査する検査装置などの板状物200に種々の処理を施す装置でも良い。 It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiments. That is, various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. For example, in the present invention, the semiconductor processing apparatus 1 is not limited to a cutting apparatus. A grinding device for grinding the plate 200 , a polishing device for polishing the plate-like object 200 , a tool cutting device for cutting the plate-like object 200 with a tool, a plasma device for performing plasma etching or the like on the plate-like object, and a tape 205 affixed to the plate-like object 200 . An apparatus for performing various processes on the plate-like object 200, such as a tape sticking device to hold the plate-like object 200 with a transparent body and an inspection device for inspecting the front surface 202 and the back surface 204 of the plate-like object 200, may be used.

また、本発明では、カセット50は、収容棚54が板状物200を支持する環状フレーム206の背面側の端が当接するストッパを備えても良く、この場合、カセット50が、背面板55を備えずに、背面ローラー71が側板51の背面側の面(背面部に相当)に接触するのが望ましい。 Further, in the present invention, the cassette 50 may include a stopper with which the end of the back side of the annular frame 206 on which the storage rack 54 supports the plate-shaped object 200 abuts. It is desirable that the rear surface roller 71 contacts the surface of the side plate 51 on the rear surface side (corresponding to the rear portion).

1 半導体処理装置
50 カセット
51 側板
52 上板
53 底板
54 収容棚
55 背面板(背面部)
56 開口部
57 角部(開口部側の縁)
60 カセットステージ
61 上面
70,70-1 位置決め機構
71 背面ローラー
72 底面ローラー
73 開口部位置決め部
76 開口部ローラー
77 支持ブロック
200 板状物
Reference Signs List 1 semiconductor processing equipment 50 cassette 51 side plate 52 upper plate 53 bottom plate 54 storage shelf 55 rear plate (back portion)
56 opening 57 corner (edge on opening side)
60 cassette stage 61 upper surface 70, 70-1 positioning mechanism 71 rear roller 72 bottom roller 73 opening positioning portion 76 opening roller 77 support block 200 plate-like object

Claims (3)

半導体処理装置により処理される板状物を収容するカセットを、該カセットを設置するカセットステージの上面に位置決めする位置決め機構であって、
該カセットは、
対向する側板と、
該側板を連結する上板及び底板と、
該側板に複数形成され板状物を収容する収容棚と、
該板状物が搬出入される開口部と、
該開口部と対向する背面部と、を有し、
該位置決め機構は、
該板状物が搬出入される該開口部側を位置決めする開口部位置決め部と、
該背面部と接触する背面ローラーと、
該開口部位置決め部と、該背面ローラーとの間に、該背面ローラーと近接して設置され、該カセットの該背面部側を支持する底面ローラーと、
を有することを特徴とする位置決め機構。
A positioning mechanism for positioning a cassette containing plate-shaped objects to be processed by a semiconductor processing apparatus on the upper surface of a cassette stage on which the cassette is installed,
The cassette is
opposing side plates;
a top plate and a bottom plate connecting the side plates;
a plurality of storage racks formed on the side plate for storing plate-like objects;
an opening through which the plate-like object is carried in and out;
a rear portion facing the opening;
The positioning mechanism is
an opening positioning part for positioning the opening side through which the plate-like object is carried in and out;
a back roller in contact with the back portion;
a bottom roller disposed between the opening positioning portion and the back roller and adjacent to the back roller to support the back side of the cassette;
A positioning mechanism comprising:
該開口部位置決め部は、
該板状物が搬出入される該開口部側の縁に接触する開口部ローラーと、
該開口部ローラーと、該背面ローラーとの間に、該開口部ローラーと近接して設置され、該底面ローラーと同じ高さを有し、該カセットの該開口部側を支持する支持ブロックと、を有することを特徴とする請求項1に記載の位置決め機構。
The opening locator comprises:
an opening roller that contacts the edge of the opening on which the plate-like object is carried in and out;
a support block positioned between the opening roller and the back roller and proximate to the opening roller and having the same height as the bottom roller for supporting the opening side of the cassette; 2. The positioning mechanism of claim 1, comprising:
板状物を処理する半導体処理装置であって、
板状物を収容するカセットを設置するカセットステージと、
該カセットを該カセットステージの上面に位置決めする位置決め機構と、を備え、
該位置決め機構として、請求項1又は請求項2に記載の位置決め機構を備えることを特徴とする半導体処理装置。
A semiconductor processing apparatus for processing plate-shaped objects,
a cassette stage on which a cassette containing a plate-like object is installed;
a positioning mechanism that positions the cassette on the upper surface of the cassette stage,
A semiconductor processing apparatus comprising the positioning mechanism according to claim 1 or 2 as the positioning mechanism.
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