JP2022129870A - Circuit device and method for manufacturing circuit device - Google Patents

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理生 阿部
Rio Abe
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Abstract

To provide a circuit device capable of improving solderability between a conductor layer and a lead.SOLUTION: A circuit device includes: a substrate having a first surface and a second surface that is an opposite surface to the first surface; an electronic component with a lead; a first solder layer; and a connection member. There is formed a through hole penetrating trough the substrate along a direction from the first surface to the second surface, in the substrate. The internal wall surface of the through hole is covered with a conductor layer where a through hole is formed. The substrate has first wiring and second wiring on the first surface. The first wiring includes a first edge connected to the conductor layer and a second edge that is an edge on the opposite side to the first edge. The second wiring includes a third edge separated from the second edge. The lead is inserted into the through hole. The first solder layer is filled in the through hole, thereby connecting the lead and the conductor layer. The connection member connects the second edge and the third edge.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、回路装置及び回路装置の製造方法に関する。 The present invention relates to a circuit device and a method of manufacturing a circuit device.

例えば特許文献1(特開2007-250697号公報)には、多層配線基板が記載されている。特許文献1に記載の多層配線基板は、複数の配線層と、複数の絶縁層とを有する。複数の配線層及び複数の絶縁層は、多層配線基板の厚さ方向に沿って交互に積層されている。多層配線基板には、厚さ方向に沿って多層配線基板を貫通している貫通穴が形成されている。貫通穴の内壁面は、スルーホールが形成されている導体層により被覆されている。電気部品のリードは、スルーホールに挿入されているとともに、はんだ付けが行われることにより導体層に接続されている。 For example, Patent Document 1 (Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2007-250697) describes a multilayer wiring board. A multilayer wiring board described in Patent Document 1 has a plurality of wiring layers and a plurality of insulating layers. The plurality of wiring layers and the plurality of insulating layers are alternately laminated along the thickness direction of the multilayer wiring board. A through hole is formed in the multilayer wiring board so as to penetrate the multilayer wiring board along the thickness direction. The inner wall surface of the through hole is covered with a conductor layer in which the through hole is formed. The leads of the electrical component are inserted into the through holes and connected to the conductor layers by soldering.

複数の配線層には、電源配線層が含まれている。電源配線層は、2つの絶縁層の間において全面にわたって形成されている。そのため、導体層の熱は、電源配線層を通って周囲に拡散されやすい。その結果、導体層の温度が上昇しにくいことがある。 A power supply wiring layer is included in the plurality of wiring layers. The power wiring layer is formed over the entire surface between the two insulating layers. Therefore, the heat of the conductor layer is easily diffused to the surroundings through the power supply wiring layer. As a result, it may be difficult for the temperature of the conductor layer to rise.

導体層の温度が上昇しにくいと、導体層とリードとのはんだ付けが良好に行えないことがある。この問題を解消するために、導体層の周囲にある電源配線層には、サーマルランドが形成されている。 If the temperature of the conductor layer does not rise easily, the soldering between the conductor layer and the leads may not be performed satisfactorily. To solve this problem, a thermal land is formed in the power supply wiring layer around the conductor layer.

特開2007-250697号公報JP 2007-250697 A

しかしながら、本発明者らが鋭意検討したところによると、特許文献1に記載の多層配線基板は、導体層とリードとの間のはんだ付け性に改善の余地がある。 However, according to the inventors' intensive studies, the multilayer wiring board described in Patent Document 1 has room for improvement in the solderability between the conductor layer and the leads.

本発明は、上記のような従来技術の問題点に鑑みてなされたものである。より具体的には、本発明は、導体層とリードとの間のはんだ付け性を改善することが可能な回路装置を提供するものである。 The present invention has been made in view of the problems of the prior art as described above. More specifically, the present invention provides a circuit device capable of improving solderability between conductor layers and leads.

本発明の回路装置は、第1面と、第1面の反対面である第2面とを有する基板と、リードを有する電気部品と、第1はんだ層と、接続部材とを備える。基板には、第1面から第2面に向かう方向に沿って基板を貫通している貫通穴が形成されている。貫通穴の内壁面は、スルーホールが形成されている導体層により被覆されている。基板は、第1面に、第1配線と、第2配線とを有する。第1配線は、導体層に接続されている第1端部と、第1端部の反対側の端部である第2端部とを含む。第2配線は、第2端部と離間している第3端部を含む。リードは、スルーホールに挿入されている。第1はんだ層は、スルーホール内に充填されていることにより、リードと導体層とを接続している。接続部材は、第2端部と第3端部とを接続している。 A circuit device of the present invention comprises a substrate having a first surface and a second surface opposite to the first surface, an electrical component having leads, a first solder layer, and a connecting member. A through hole is formed in the substrate so as to extend through the substrate along the direction from the first surface to the second surface. The inner wall surface of the through hole is covered with a conductor layer in which the through hole is formed. The substrate has a first wiring and a second wiring on the first surface. The first trace includes a first end connected to the conductor layer and a second end opposite the first end. The second trace includes a third end spaced apart from the second end. Leads are inserted into the through holes. The first solder layer connects the lead and the conductor layer by filling the through hole. The connecting member connects the second end and the third end.

上記の回路装置では、接続部材がジャンパ抵抗であってもよい。上記の回路装置では、接続部材がジャンパ線であってもよい。 In the above circuit device, the connection member may be a jumper resistor. In the above circuit device, the connection member may be a jumper wire.

上記の回路装置では、接続部材が第2はんだ層であってもよい。この場合、第2端部と第3端部とは、櫛歯状に形成されている溝により離間していてもよく、渦巻き状に形成されている溝により離間していてもよい。 In the above circuit device, the connection member may be the second solder layer. In this case, the second end portion and the third end portion may be separated by a groove formed in a comb shape, or may be separated by a groove formed in a spiral shape.

本発明の回路装置の製造方法は、第1面と、第1面の反対面である第2面とを有する基板及びリードを有する電気部品を準備する工程と、電気部品を基板に取り付ける工程とを備える。基板には、第1面から第2面に向かう方向に沿って基板を貫通している貫通穴が形成されている。貫通穴の内壁面は、スルーホールが形成されている導体層により被覆されている。基板は、第1面に、第1配線と、第2配線とを有する。第1配線は、導体層に接続されている第1端部と、第1端部の反対側の端部である第2端部とを含む。第2配線は、第2端部と離間している第3端部を含む。電気部品を基板に取り付ける工程は、リードがスルーホールに挿入されている状態でリードと導体層とをはんだ付けすることにより行われる。回路装置の製造方法は、電気部品を基板に取り付ける工程の後に第1端部と第2端部とを接続部材により接続する工程をさらに備える。 A method of manufacturing a circuit device according to the present invention includes the steps of preparing a substrate having a first surface and a second surface opposite to the first surface and an electrical component having leads, and attaching the electrical component to the substrate. Prepare. A through hole is formed in the substrate so as to extend through the substrate along the direction from the first surface to the second surface. The inner wall surface of the through hole is covered with a conductor layer in which the through hole is formed. The substrate has a first wiring and a second wiring on the first surface. The first trace includes a first end connected to the conductor layer and a second end opposite the first end. The second trace includes a third end spaced apart from the second end. The process of attaching the electrical component to the substrate is performed by soldering the leads and the conductor layer while the leads are inserted into the through holes. The method of manufacturing a circuit device further includes the step of connecting the first end and the second end with a connecting member after the step of attaching the electrical component to the substrate.

本発明の回路装置及び回路装置の製造方法によると、導体層とリードとの間のはんだ付け性を改善することができる。 According to the circuit device and circuit device manufacturing method of the present invention, the solderability between the conductor layer and the lead can be improved.

回路装置100の平面図である。2 is a plan view of the circuit device 100; FIG. 回路装置100の断面図である。2 is a cross-sectional view of the circuit device 100; FIG. 回路装置100の製造方法を示す工程図である。3A to 3C are process diagrams showing a method of manufacturing the circuit device 100; 準備工程S1における基板10の断面図である。It is a sectional view of substrate 10 in preparatory process S1. 回路装置200の断面図である。2 is a cross-sectional view of the circuit device 200; FIG. 回路装置300の平面図である。3 is a plan view of the circuit device 300; FIG. 回路装置300の側面図である。3 is a side view of the circuit device 300; FIG. 回路装置400の平面図である。4 is a plan view of the circuit device 400; FIG. 回路装置400の拡大平面図である。4 is an enlarged plan view of the circuit device 400; FIG. 変形例に係る回路装置400の拡大平面図である。FIG. 11 is an enlarged plan view of a circuit device 400 according to a modification;

本発明の実施形態の詳細を、図面を参照しながら説明する。ここでは、同一又は相当する部分に同一の参照符号を付し、重複する説明は繰り返さないものとする。 Details of embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Here, the same reference numerals are given to the same or corresponding parts, and redundant description will not be repeated.

(第1実施形態)
以下に、第1実施形態に係る回路装置(以下「回路装置100」とする)を説明する。
(First embodiment)
A circuit device (hereinafter referred to as "circuit device 100") according to the first embodiment will be described below.

<回路装置100の構成>
図1は、回路装置100の平面図である。図2は、回路装置100の断面図である。図1及び図2に示されるように、回路装置100は、基板10と、電気部品20と、はんだ層30と、接続部材40とを有している。
<Configuration of Circuit Device 100>
FIG. 1 is a plan view of the circuit device 100. FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view of the circuit device 100. As shown in FIG. As shown in FIGS. 1 and 2, the circuit device 100 includes a substrate 10, electrical components 20, solder layers 30, and connection members 40. As shown in FIGS.

基板10は、例えば、多層配線基板である。基板10は、銅インレイ基板であってもよい。基板10は、第1面10aと、第2面10bとを有している。第1面10a及び第2面10bは、基板10の厚さ方向における端面である。第2面10bは、第1面10aの反対面である。 The board 10 is, for example, a multilayer wiring board. Substrate 10 may be a copper inlay substrate. The substrate 10 has a first surface 10a and a second surface 10b. The first surface 10a and the second surface 10b are end surfaces of the substrate 10 in the thickness direction. The second surface 10b is the opposite surface of the first surface 10a.

基板10は、複数の配線層11と、複数の絶縁層12とを有している。複数の配線層11及び複数の絶縁層12は、配線層11が第1面10a及び第2面10bに位置するように、基板10の厚さ方向に沿って交互に積層配置されている。このことを別の観点から言えば、第1面10a及び第2面10bに位置する配線層11以外の配線層11は、2つの絶縁層12により挟み込まれている。 The substrate 10 has a plurality of wiring layers 11 and a plurality of insulating layers 12 . The plurality of wiring layers 11 and the plurality of insulating layers 12 are alternately stacked along the thickness direction of the substrate 10 such that the wiring layers 11 are positioned on the first surface 10a and the second surface 10b. From another point of view, the wiring layers 11 other than the wiring layers 11 located on the first surface 10 a and the second surface 10 b are sandwiched between two insulating layers 12 .

配線層11は、導電材料により形成されている。導電材料は、例えば金属材料である。金属材料の具体例は、銅(Cu)等である。絶縁層12は、絶縁材料により形成されている。絶縁材料は、例えば樹脂材料である。樹脂材料の具体例は、エポキシ樹脂である。 The wiring layer 11 is made of a conductive material. A conductive material is, for example, a metal material. A specific example of the metal material is copper (Cu) or the like. The insulating layer 12 is made of an insulating material. The insulating material is, for example, a resin material. A specific example of the resin material is epoxy resin.

基板10には、貫通穴10cが形成されている。貫通穴10cは、厚さ方向に沿って基板10を貫通している。すなわち、貫通穴10cは、第1面10aから第2面10bに向かう方向に沿って基板10を貫通している。 A through hole 10 c is formed in the substrate 10 . The through hole 10c penetrates the substrate 10 along the thickness direction. That is, the through hole 10c penetrates the substrate 10 along the direction from the first surface 10a to the second surface 10b.

基板10は、導体層13を有している。導体層13は、貫通穴10cの内壁面を被覆している。導体層13は、導電材料により形成されている。導電材料は、例えば金属材料である。金属材料の具体例は、銅である。導体層13には、スルーホール13aが形成されている。スルーホール13aは、厚さ方向に沿って基板10を貫通している。導体層13は、複数の導体層13の各々に接続されている。 The substrate 10 has a conductor layer 13 . The conductor layer 13 covers the inner wall surface of the through hole 10c. The conductor layer 13 is made of a conductive material. A conductive material is, for example, a metal material. A specific example of a metallic material is copper. A through hole 13 a is formed in the conductor layer 13 . The through hole 13a penetrates the substrate 10 along the thickness direction. The conductor layer 13 is connected to each of the plurality of conductor layers 13 .

第1面10a及び第2面10bに位置する配線層11以外の配線層11のうちの少なくとも1つは、電源配線層になっている。この電源配線層は、2つの絶縁層の間において全面にわたって形成されている。この電源配線層には、導体層13の周囲にある部分においてサーマルランド(図示せず)が形成されていてもよい。 At least one of the wiring layers 11 other than the wiring layers 11 located on the first surface 10a and the second surface 10b is a power supply wiring layer. This power supply wiring layer is formed over the entire surface between the two insulating layers. A thermal land (not shown) may be formed in the power supply wiring layer in a portion around the conductor layer 13 .

第1面10aに位置している配線層11は、第1配線14と、第2配線15とを有している。第1配線14は、第1端部14aと、第2端部14bとを有している。第1端部14aは、導体層13に接続されている第1配線14の端部である。第2端部14bは、第1端部14aの反対側の端部である。第2配線15は、第3端部15aを有している。第3端部15aは、第1端部14aと離間している。すなわち、第3端部15aは、第1端部14aと間隔を空けて対向配置されている。 The wiring layer 11 located on the first surface 10 a has first wirings 14 and second wirings 15 . The first wiring 14 has a first end 14a and a second end 14b. The first end 14 a is the end of the first wiring 14 connected to the conductor layer 13 . The second end 14b is the end opposite to the first end 14a. The second wiring 15 has a third end 15a. The third end 15a is separated from the first end 14a. That is, the third end portion 15a is arranged to face the first end portion 14a with a space therebetween.

電気部品20は、リード21を有している。リード21は、導電材料により形成されており、電気部品20の接続端子として機能する。導電材料は、例えば金属材料である。導電材料の具体例は、銅(銅合金)である。リード21は、スルーホール13aに挿入されている。より具体的には、リード21は、第2面10b側からスルーホール13aに挿入されている。 The electrical component 20 has leads 21 . The lead 21 is made of a conductive material and functions as a connection terminal for the electrical component 20 . A conductive material is, for example, a metal material. A specific example of the conductive material is copper (copper alloy). The lead 21 is inserted into the through hole 13a. More specifically, the lead 21 is inserted into the through hole 13a from the second surface 10b side.

はんだ層30は、はんだにより形成されている。はんだは、例えば、スズ(Sn)を主成分とする合金である。はんだ層30は、スルーホール13a内に充填されている。これにより、リード21は、導体層13に接続されている。 The solder layer 30 is made of solder. Solder is, for example, an alloy containing tin (Sn) as a main component. Solder layer 30 fills through hole 13a. The lead 21 is thereby connected to the conductor layer 13 .

接続部材40は、例えばジャンパ抵抗41である。接続部材40(ジャンパ抵抗41)は、第2端部14b及び第3端部15aに接続されている。これにより、第1配線14と第2配線15とが、電気的に導通している。 The connecting member 40 is, for example, a jumper resistor 41 . A connection member 40 (jumper resistor 41) is connected to the second end portion 14b and the third end portion 15a. Thereby, the first wiring 14 and the second wiring 15 are electrically connected.

<回路装置100の製造方法>
図3は、回路装置100の製造方法を示す工程図である。図3に示されるように、回路装置100の製造方法は、準備工程S1と、電気部品取り付け工程S2と、接続部材取り付け工程S3とを有している。電気部品取り付け工程S2は、準備工程S1の後に行われる。接続部材取り付け工程S3は、電気部品取り付け工程S2の後に行われる。
<Method for Manufacturing Circuit Device 100>
3A to 3D are process diagrams showing a method of manufacturing the circuit device 100. FIG. As shown in FIG. 3, the method of manufacturing the circuit device 100 includes a preparation step S1, an electrical component mounting step S2, and a connecting member mounting step S3. The electrical component mounting step S2 is performed after the preparation step S1. The connection member mounting step S3 is performed after the electrical component mounting step S2.

準備工程S1では、基板10及び電気部品20が準備される。準備工程S1では、接続部材40(ジャンパ抵抗41)が準備される。図4は、準備工程S1における基板10の断面図である。図4に示されるように、準備工程S1では、第2端部14bと第3端部15aとがジャンパ抵抗41により接続されていない。そのため、この段階では、第1配線14が第2配線15と熱的及び電気的に分離されている。 In the preparation step S1, the substrate 10 and the electrical component 20 are prepared. In the preparation step S1, the connection member 40 (jumper resistor 41) is prepared. FIG. 4 is a cross-sectional view of the substrate 10 in the preparation step S1. As shown in FIG. 4, the second end portion 14b and the third end portion 15a are not connected by the jumper resistor 41 in the preparation step S1. Therefore, at this stage, the first wiring 14 is thermally and electrically separated from the second wiring 15 .

電気部品取り付け工程S2では、基板10への電気部品20の取り付けが行われる。電気部品取り付け工程S2では、第1に、リード21がスルーホール13aに挿入される。第2に、リード21がスルーホール13aに挿入されている状態で、リード21の導体層13へのはんだ付けが行われる。このはんだ付けは、例えば、フローはんだ付けにより行われる。但し、リード21の導体層13へのはんだ付け方法は、これに限られない。 In the electrical component attachment step S2, the electrical component 20 is attached to the board 10. FIG. In the electric component mounting step S2, first, the leads 21 are inserted into the through holes 13a. Second, the leads 21 are soldered to the conductor layer 13 while the leads 21 are inserted into the through holes 13a. This soldering is performed, for example, by flow soldering. However, the method of soldering the leads 21 to the conductor layer 13 is not limited to this.

接続部材取り付け工程S3では、第2端部14b及び第3端部15aが、接続部材40(ジャンパ抵抗41)により接続される。ジャンパ抵抗41による第2端部14b及び第3端部15aの接続は、ジャンパ抵抗41を第2端部14b及び第3端部15aにはんだ付けすることにより行われる。このはんだ付けは、例えば手はんだ(はんだごてを用いたはんだ付け)により行われる。これにより、第1配線14と第2配線15とが電気的に接続され、図1及び図2に示される構造の回路装置100が製造される。 In the connection member attaching step S3, the second end portion 14b and the third end portion 15a are connected by the connection member 40 (jumper resistor 41). The connection of the second end portion 14b and the third end portion 15a by the jumper resistor 41 is performed by soldering the jumper resistor 41 to the second end portion 14b and the third end portion 15a. This soldering is performed, for example, by manual soldering (soldering using a soldering iron). Thereby, the first wiring 14 and the second wiring 15 are electrically connected, and the circuit device 100 having the structure shown in FIGS. 1 and 2 is manufactured.

<回路装置100の効果>
以下において、比較例に係る回路装置を「回路装置200」とする。図5は、回路装置200の断面図である。図5には、図2に対応する位置における回路装置200の断面図が示されている。図5に示されるように、回路装置200は、基板10と、電気部品20と、はんだ層30とを有している。しかしながら、回路装置200は、接続部材40(ジャンパ抵抗41)を有していない。また、回路装置200は、第1配線14及び第2配線15に代えて、一体形成されている配線16を有している。
<Effects of circuit device 100>
Hereinafter, the circuit device according to the comparative example is referred to as "circuit device 200". FIG. 5 is a cross-sectional view of the circuit device 200. As shown in FIG. FIG. 5 shows a cross-sectional view of the circuit device 200 at a position corresponding to FIG. As shown in FIG. 5, the circuit device 200 has a substrate 10, an electrical component 20, and a solder layer 30. As shown in FIG. However, circuit device 200 does not have connection member 40 (jumper resistor 41). Further, the circuit device 200 has a wiring 16 integrally formed instead of the first wiring 14 and the second wiring 15 .

回路装置200の製造工程でも、リード21がスルーホール13aに挿入されている状態で、リード21と導体層13とのはんだ付けが行われる。回路装置200では第1配線14及び第2配線15に代えて一体形成されている配線16が用いられているため、このはんだ付けが行われている際に、導体層13の熱が配線16を通って拡散されやすい。その結果、はんだ付けが行われている際に導体層13の温度が十分に上昇せず、導体層13及びリード21のはんだ付けが不良となることがある。 Also in the manufacturing process of the circuit device 200, the leads 21 and the conductor layer 13 are soldered while the leads 21 are inserted into the through holes 13a. Since the circuit device 200 uses the wiring 16 integrally formed instead of the first wiring 14 and the second wiring 15, the wiring 16 is damaged by the heat of the conductor layer 13 during the soldering. Easy to spread through. As a result, the temperature of the conductor layer 13 does not rise sufficiently during soldering, and the soldering of the conductor layer 13 and the leads 21 may become defective.

他方で、回路装置100では、リード21と導体層13との間のはんだ付けが行われている際、導体層13に接続される第1面10aの配線が第1配線14と第2配線15とに分離されているため、導体層13の熱が第2配線15までは拡散されがたい。その結果、回路装置100では、リード21と導体層13との間のはんだ付けが行われている際に、導体層13の温度を上昇させやすい。このように、回路装置100によると、導体層13とリード21との間のはんだ付け性を改善することができる。なお、第1配線14及び第2配線15は、最終的には接続部材40(ジャンパ抵抗41)により電気的に接続されるため、回路装置100は、回路装置200と同様の電気的な機能が実現できる。 On the other hand, in the circuit device 100, when the lead 21 and the conductor layer 13 are soldered, the wiring on the first surface 10a connected to the conductor layer 13 is the first wiring 14 and the second wiring 15. Therefore, the heat of the conductor layer 13 is difficult to diffuse to the second wiring 15 . As a result, in the circuit device 100, the temperature of the conductor layer 13 is likely to rise while the leads 21 and the conductor layer 13 are being soldered. Thus, according to the circuit device 100, the solderability between the conductor layer 13 and the leads 21 can be improved. Since the first wiring 14 and the second wiring 15 are finally electrically connected by the connecting member 40 (jumper resistor 41), the circuit device 100 has the same electrical function as the circuit device 200. realizable.

(第2実施形態)
以下に、第2実施形態に係る回路装置(以下「回路装置300」とする)を説明する。ここでは、回路装置100と異なる点を主に説明し、重複する説明は繰り返さないものとする。
(Second embodiment)
A circuit device (hereinafter referred to as "circuit device 300") according to the second embodiment will be described below. Here, differences from the circuit device 100 will be mainly described, and redundant description will not be repeated.

<回路装置300の構成>
図6は、回路装置300の平面図である。図7は、回路装置300の側面図である。図6及び図7に示されるように、回路装置300は、基板10と、電気部品20と、はんだ層30と、接続部材40とを有している。この点に関して、回路装置300の構成は、回路装置100の構成と共通している。
<Configuration of Circuit Device 300>
FIG. 6 is a plan view of the circuit device 300. FIG. FIG. 7 is a side view of the circuit device 300. FIG. As shown in FIGS. 6 and 7, the circuit device 300 has a substrate 10, electrical components 20, solder layers 30, and connection members 40. As shown in FIGS. In this regard, the configuration of circuit device 300 is common to the configuration of circuit device 100 .

しかしながら、回路装置300では、接続部材40として、ジャンパ抵抗41に代えてジャンパ線42が用いられている。また、回路装置300では、基板10の詳細構成が回路装置100と異なっている。 However, in circuit device 300 , jumper wires 42 are used as connection members 40 instead of jumper resistors 41 . Further, the circuit device 300 differs from the circuit device 100 in the detailed configuration of the substrate 10 .

回路装置300では、基板10に、貫通穴10d及び貫通穴10eがさらに形成されている。貫通穴10d及び貫通穴10eは、厚さ方向(第1面10aから第2面10bに向かう方向)に沿って、基板10を貫通している。貫通穴10dと貫通穴10eとの間には第2端部14b及び第3端部15aが配置されている。 In the circuit device 300, the substrate 10 is further formed with a through hole 10d and a through hole 10e. The through holes 10d and 10e penetrate the substrate 10 along the thickness direction (the direction from the first surface 10a to the second surface 10b). A second end portion 14b and a third end portion 15a are arranged between the through hole 10d and the through hole 10e.

ジャンパ線42は、第1部分42aと、第2部分42bと、第3部分42cとを有している。第1部分42aは、第1面10aに平行な方向に延在している。第2部分42b及び第3部分42cは、第1面10aから第2面10bに向かう方向に延在している。第2部分42b及び第3部分42cは、それぞれ、第1部分42aの両端に接続されている。すなわち、ジャンパ線42は、コの字型の形状を有している。 The jumper wire 42 has a first portion 42a, a second portion 42b and a third portion 42c. The first portion 42a extends in a direction parallel to the first surface 10a. The second portion 42b and the third portion 42c extend in the direction from the first surface 10a toward the second surface 10b. The second portion 42b and the third portion 42c are respectively connected to both ends of the first portion 42a. That is, the jumper wire 42 has a U-shape.

第2部分42b及び第3部分42cは、それぞれ、貫通穴10d及び貫通穴10eに挿入されている。これにより、第2端部14bと第3端部15aとが、第1部分42aにより接続されている。 The second portion 42b and the third portion 42c are inserted into the through holes 10d and 10e, respectively. Thereby, the second end portion 14b and the third end portion 15a are connected by the first portion 42a.

<回路装置300の製造方法>
回路装置300の製造方法は、準備工程S1、電気部品取り付け工程S2及び接続部材取り付け工程S3を有している点に関して、回路装置100の製造方法と共通している。しかしながら、回路装置300の製造方法は、接続部材取り付け工程S3の詳細に関して回路装置100の製造方法と異なっている。
<Method for Manufacturing Circuit Device 300>
The manufacturing method of the circuit device 300 is common to the manufacturing method of the circuit device 100 in that it includes a preparation step S1, an electrical component mounting step S2, and a connecting member mounting step S3. However, the manufacturing method of the circuit device 300 differs from the manufacturing method of the circuit device 100 with respect to the details of the connection member attaching step S3.

回路装置300の製造方法における接続部材取り付け工程S3では、まず、第2部分42b及び第3部分42cが、貫通穴10d及び貫通穴10eにそれぞれ挿入される。この状態で、第1部分42aと第2端部14b及び第3端部15aとが、はんだ付けにより接続される。 In the connection member attaching step S3 in the manufacturing method of the circuit device 300, first, the second portion 42b and the third portion 42c are inserted into the through holes 10d and 10e, respectively. In this state, the first portion 42a, the second end portion 14b and the third end portion 15a are connected by soldering.

<回路装置300の効果>
回路装置300でも、リード21と導体層13との間のはんだ付けが行われている際に導体層13に接続される第1面10aの配線が第1配線14と第2配線15とに分離されており、導体層13の熱が第2配線15までは拡散されがたい。そのため、回路装置300でも、回路装置100と同様に、リード21と導体層13との間のはんだ付けが行われている際に導体層13の温度を上昇させやすく、導体層13とリード21との間のはんだ付け性を改善することができる。
<Effect of circuit device 300>
Also in the circuit device 300, the wiring on the first surface 10a connected to the conductor layer 13 when the leads 21 and the conductor layer 13 are soldered is separated into the first wiring 14 and the second wiring 15. Therefore, it is difficult for the heat of the conductor layer 13 to diffuse to the second wiring 15 . Therefore, in the circuit device 300 as well as in the circuit device 100, the temperature of the conductor layer 13 is likely to rise when soldering is performed between the leads 21 and the conductor layer 13. Solderability can be improved during

(第3実施形態)
以下に、第3実施形態に係る回路装置(以下「回路装置400」とする)を説明する。ここでは、回路装置100と異なる点を主に説明し、重複する説明は繰り返さないものとする。
(Third Embodiment)
A circuit device (hereinafter referred to as "circuit device 400") according to the third embodiment will be described below. Here, differences from the circuit device 100 will be mainly described, and redundant description will not be repeated.

<回路装置400の構成>
図8は、回路装置400の平面図である。図8に示されるように、回路装置300は、基板10と、電気部品20と、はんだ層30と、接続部材40とを有している。この点に関して、回路装置400の構成は、回路装置100の構成と共通している。
<Configuration of Circuit Device 400>
FIG. 8 is a plan view of the circuit device 400. FIG. As shown in FIG. 8 , the circuit device 300 has a substrate 10 , electrical components 20 , solder layers 30 and connection members 40 . In this regard, the configuration of circuit device 400 is common to the configuration of circuit device 100 .

しかしながら、回路装置400では、接続部材40として、ジャンパ抵抗41に代えてはんだ層43が用いられている。また、回路装置400では、基板10の詳細構成が回路装置100と異なっている。 However, in circuit device 400 , solder layer 43 is used as connecting member 40 instead of jumper resistor 41 . Further, the circuit device 400 differs from the circuit device 100 in the detailed configuration of the substrate 10 .

図9は、回路装置400の拡大平面図である。図9には、第2端部14b及び第3端部15a近傍における回路装置400の拡大された平面図が示されている。図9中では、はんだ層43が点線により示されている。図9に示されるように、回路装置400では、第2端部14bと第3端部15aとが、溝17により離間されている。溝17は、平面視において櫛歯状に形成されている。 FIG. 9 is an enlarged plan view of the circuit device 400. FIG. FIG. 9 shows an enlarged plan view of the circuit device 400 near the second end 14b and the third end 15a. In FIG. 9, the solder layer 43 is indicated by dotted lines. As shown in FIG. 9 , in circuit device 400 , second end 14 b and third end 15 a are separated by groove 17 . The grooves 17 are formed in a comb shape in plan view.

図10は、変形例に係る回路装置400の拡大平面図である。図10には、図9に対応する位置における回路装置400の拡大された平面図が示されている。図10では、はんだ層43が点線により示されている。図10に示されるように、溝17は、平面視において渦巻き状に形成されていてもよい。 FIG. 10 is an enlarged plan view of a circuit device 400 according to a modification. FIG. 10 shows an enlarged plan view of circuit device 400 at a position corresponding to FIG. In FIG. 10, the solder layer 43 is indicated by dotted lines. As shown in FIG. 10, the groove 17 may be spirally formed in plan view.

図9及び図10に示されるように、はんだ層43は、第2端部14b上及び第3端部15a上に配置されている。このことを別の観点から言えば、はんだ層43は、第2端部14bと第3端部15aとの間でブリッジしている。これにより、第1配線14と第2配線15とが電気的に接続されている。 As shown in FIGS. 9 and 10, the solder layer 43 is arranged on the second end 14b and the third end 15a. Another way of looking at this is that the solder layer 43 bridges between the second end 14b and the third end 15a. Thereby, the first wiring 14 and the second wiring 15 are electrically connected.

<回路装置400の製造方法>
回路装置400の製造方法は、準備工程S1、電気部品取り付け工程S2及び接続部材取り付け工程S3を有している点に関して、回路装置100の製造方法と共通している。しかしながら、回路装置400の製造方法は、接続部材取り付け工程S3の詳細に関して回路装置100の製造方法と異なっている。
<Method for Manufacturing Circuit Device 400>
The manufacturing method of the circuit device 400 is common to the manufacturing method of the circuit device 100 in that it includes a preparation step S1, an electrical component mounting step S2, and a connection member mounting step S3. However, the manufacturing method of the circuit device 400 differs from the manufacturing method of the circuit device 100 with respect to the details of the connection member attaching step S3.

回路装置400の製造方法における接続部材取り付け工程S3では、第2端部14b及び第3端部15aに対するはんだ付けにより接続される。このはんだ付けは、例えば手はんだ(はんだごてを用いたはんだ付け)により行われる。なお、第2端部14bと第3端部15aとが櫛歯状又は渦巻き状に形成されている溝17により離間されている結果、第2端部14bと第3端部15aとの間の間隔が小さくなっているため、上記のはんだ付けの際に、はんだ層43が第2端部14bと第3端部15aとの間でブリッジしやすい。 In the connecting member attaching step S3 in the manufacturing method of the circuit device 400, the second end portion 14b and the third end portion 15a are connected by soldering. This soldering is performed, for example, by manual soldering (soldering using a soldering iron). As a result of the second end 14b and the third end 15a being separated by the comb-shaped or spiral groove 17, the space between the second end 14b and the third end 15a Since the distance is small, the solder layer 43 tends to bridge between the second end 14b and the third end 15a during the above soldering.

回路装置400でも、リード21と導体層13との間のはんだ付けが行われている際に導体層13に接続される第1面10aの配線が第1配線14と第2配線15とに分離されており、導体層13の熱が第2配線15までは拡散されがたい。そのため、回路装置400でも、回路装置100と同様に、リード21と導体層13との間のはんだ付けが行われている際に導体層13の温度を上昇させやすく、導体層13とリード21との間のはんだ付け性を改善することができる。 Also in the circuit device 400, the wiring on the first surface 10a connected to the conductor layer 13 when the lead 21 and the conductor layer 13 are soldered is separated into the first wiring 14 and the second wiring 15. Therefore, it is difficult for the heat of the conductor layer 13 to diffuse to the second wiring 15 . Therefore, in the circuit device 400 as well as in the circuit device 100, the temperature of the conductor layer 13 is likely to rise when soldering is performed between the leads 21 and the conductor layer 13. Solderability can be improved during

以上のように本発明の実施形態について説明を行ったが、上記の実施形態を様々に変形することも可能である。また、本発明の範囲は、上記の実施形態に限定されるものではない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更を含むことが意図される。 Although the embodiment of the present invention has been described as above, it is also possible to modify the above embodiment in various ways. Moreover, the scope of the present invention is not limited to the above embodiments. The scope of the present invention is indicated by the scope of claims, and is intended to include all changes within the meaning and scope of equivalence to the scope of claims.

上記の実施形態は、電気部品が基板に取り付けられている回路装置に特に有利に適用される。 The above embodiments are particularly advantageously applied to circuit devices in which electrical components are mounted on a substrate.

10 基板、10a 第1面、10b 第2面、10c,10d,10e 貫通穴、11 配線層、12 絶縁層、13 導体層、13a スルーホール、14 第1配線、14a 第1端部、14b 第2端部、15 第2配線、15a 第3端部、16 配線、17 溝、20 電気部品、21 リード、30 はんだ層、40 接続部材、41 ジャンパ抵抗、42 ジャンパ線、42a 第1部分、42b 第2部分、42c 第3部分、43 はんだ層、100,200,300,400 回路装置、S1 準備工程、S2 電気部品取り付け工程、S3 接続部材取り付け工程。 10 substrate 10a first surface 10b second surface 10c, 10d, 10e through hole 11 wiring layer 12 insulating layer 13 conductor layer 13a through hole 14 first wiring 14a first end 14b second 2 ends, 15 second wiring, 15a third end, 16 wiring, 17 groove, 20 electric component, 21 lead, 30 solder layer, 40 connection member, 41 jumper resistor, 42 jumper wire, 42a first portion, 42b 2nd part 42c 3rd part 43 solder layer 100, 200, 300, 400 circuit device S1 preparation step S2 electrical component mounting step S3 connection member mounting step.

Claims (7)

第1面と、前記第1面の反対面である第2面とを有する基板と、
リードを有する電気部品と、
第1はんだ層と、
接続部材とを備え、
前記基板には、前記第1面から前記第2面に向かう方向に沿って前記基板を貫通している貫通穴が形成されており、
前記貫通穴の内壁面は、スルーホールが形成されている導体層により被覆されており、
前記基板は、前記第1面に、第1配線と、第2配線とを有し、
前記第1配線は、前記導体層に接続されている第1端部と、前記第1端部の反対側の端部である第2端部とを含み、
前記第2配線は、前記第2端部と離間している第3端部を含み、
前記リードは、前記スルーホールに挿入されており、
前記第1はんだ層は、前記スルーホール内に充填されていることにより、前記リードと前記導体層とを接続しており、
前記接続部材は、前記第2端部と前記第3端部とを接続している、回路装置。
a substrate having a first surface and a second surface opposite to the first surface;
an electrical component having leads;
a first solder layer;
a connecting member;
The substrate is formed with a through hole penetrating the substrate along a direction from the first surface to the second surface,
The inner wall surface of the through hole is covered with a conductor layer in which the through hole is formed,
The substrate has a first wiring and a second wiring on the first surface,
the first wiring includes a first end connected to the conductor layer and a second end opposite to the first end;
the second wiring includes a third end spaced apart from the second end;
The lead is inserted into the through hole,
The first solder layer is filled in the through hole to connect the lead and the conductor layer,
The circuit device, wherein the connection member connects the second end and the third end.
前記接続部材は、ジャンパ抵抗器である、請求項1に記載の回路装置。 2. The circuit device according to claim 1, wherein said connecting member is a jumper resistor. 前記接続部材は、ジャンパ線である、請求項1に記載の回路装置。 2. The circuit device according to claim 1, wherein said connection member is a jumper wire. 前記接続部材は、第2はんだ層である、請求項1に記載の回路装置。 2. The circuit device according to claim 1, wherein said connecting member is a second solder layer. 前記第2端部と前記第3端部とは、櫛歯状に形成されている溝により離間している、請求項4に記載の回路装置。 5. The circuit device according to claim 4, wherein said second end and said third end are separated by a comb-shaped groove. 前記第2端部と前記第3端部とは、渦巻き状に形成されている溝により離間している、請求項4に記載の回路装置。 5. The circuit device of claim 4, wherein the second end and the third end are separated by a spirally formed groove. 第1面と、前記第1面の反対面である第2面とを有する基板及びリードを有する電気部品を準備する工程と、
前記電気部品を前記基板に取り付ける工程とを備え、
前記基板には、前記第1面から前記第2面に向かう方向に沿って前記基板を貫通している貫通穴が形成されており、
前記貫通穴の内壁面は、スルーホールが形成されている導体層により被覆されており、
前記基板は、前記第1面に、第1配線と、第2配線とを有し、
前記第1配線は、前記導体層に接続されている第1端部と、前記第1端部の反対側の端部である第2端部とを含み、
前記第2配線は、前記第2端部と離間している第3端部を含み、
前記電気部品を前記基板に取り付ける工程は、前記リードが前記スルーホールに挿入されている状態で前記リードと前記導体層とをはんだ付けすることにより行われ、
前記電気部品を前記基板に取り付ける工程の後に前記第1端部と前記第2端部とを接続部材により接続する工程をさらに備える、回路装置の製造方法。
providing an electrical component having a substrate and leads having a first side and a second side opposite the first side;
and attaching the electrical component to the substrate;
The substrate is formed with a through hole penetrating the substrate along a direction from the first surface to the second surface,
The inner wall surface of the through hole is covered with a conductor layer in which the through hole is formed,
The substrate has a first wiring and a second wiring on the first surface,
The first wiring includes a first end connected to the conductor layer and a second end opposite to the first end,
the second wiring includes a third end spaced apart from the second end;
The step of attaching the electrical component to the substrate is performed by soldering the lead and the conductor layer while the lead is inserted into the through hole,
A method of manufacturing a circuit device, further comprising the step of connecting the first end and the second end with a connecting member after the step of attaching the electrical component to the substrate.
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