JP2022089048A - Machining waste liquid treatment device - Google Patents

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Abstract

To provide a machining waste liquid treatment device which improves a life of a filtration filter arranged on the machining waste liquid treatment device, and can avoid promotion of consumption of an ion exchange resin.SOLUTION: A machining waste liquid treatment device includes at least a waste water tank 81, a filtration part 83 for filtering waste water fed from the waste water tank 81, a clean water tank 84 for storing clean water purified by the filtration part 83, an ultraviolet irradiation unit 85 for irradiating the clean water fed from the clean water tank 84 with ultraviolet rays, and destroying an organic matter, and an ion exchange resin part 87 for producing pure water from the clean water fed from the ultraviolet irradiation unit 85, and has a machining chip removal unit 60 that is arranged between a machining device and the waste water tank 81, and bonds machining chips included in the waste water to a recovery part by an electrophoresis method, and removes the machining chips.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、加工装置が排出する排水から純水を生成する加工廃液処理装置に関する。 The present invention relates to a processing waste liquid treatment device that generates pure water from waste water discharged from the processing device.

IC、LSI等の複数のデバイスが分割予定ラインによって区画され表面に形成されたウエーハは、研削装置によって裏面が研削され、携帯電話、パソコン等の電気機器に利用される。 A wafer having a plurality of devices such as ICs and LSIs partitioned by a scheduled division line and formed on the front surface is ground on the back surface by a grinding device and used for electric devices such as mobile phones and personal computers.

また、研削装置、ダイシング装置から排出される排水から加工屑を除去して純水を生成する加工廃液処理装置が本出願人によって提案されている(例えば特許文献1を参照)。該加工廃液処理装置を、研削装置の排水を処理するために配設する場合、研削装置から排出される排水には、多くの加工屑(研削屑)が含まれていることから、加工廃液処理装置を構成する濾過フィルターの寿命が著しく低下し、頻繁に濾過フィルターを交換しなければならず、不経済であるという問題がある。 Further, the present applicant has proposed a processing waste liquid treatment device that removes processing waste from wastewater discharged from a grinding device and a dicing device to generate pure water (see, for example, Patent Document 1). When the processing waste liquid treatment device is arranged for treating the wastewater of the grinding device, the wastewater discharged from the grinding device contains a large amount of processing waste (grinding waste), so that the processing waste liquid treatment is performed. There is a problem that the life of the filtration filter constituting the device is significantly shortened, the filtration filter must be replaced frequently, and it is uneconomical.

上記問題に対し、ウエーハを研削して排出される加工廃液に含まれる加工屑(例えばシリコン微粒子)を、電気泳動法によって回収して、加工廃液を精製する装置(例えば特許文献2を参照)が本出願人によって提案されており、当該装置を上記した加工廃液処理装置に適用することで、加工廃液処理装置に配設された濾過フィルターの寿命を延ばすことが考えられる。 To solve the above problem, an apparatus (see, for example, Patent Document 2) that collects processing waste (for example, silicon fine particles) contained in the processing waste liquid discharged by grinding a wafer by an electrophoresis method and purifies the processing waste liquid. Proposed by the present applicant, it is conceivable to extend the life of the filtration filter disposed in the processing waste liquid treatment device by applying the device to the above-mentioned processing waste liquid treatment device.

特開2009-190128号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-190128 特開2013-121637号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2013-121637

ところで、電気泳動法によって効果的に加工屑を回収するために、排出される加工廃液を、高導電率(低電気抵抗率)に調整すべく、加工廃液中にCOを混入することが行われている。しかし、加工廃液処理装置において、清水から純水を生成するために配設されるイオン交換樹脂は、イオン交換処理を行う液中にCOが含まれていることでイオン交換樹脂の消耗が促進されてしまい、今度は、該イオン交換樹脂の寿命が低下してしまうという問題がある。 By the way, in order to effectively recover the processing waste by the electrophoresis method, CO 2 may be mixed in the processing waste liquid in order to adjust the discharged processing waste liquid to high conductivity (low electrical resistivity). It has been. However, in the processing waste liquid treatment equipment, the ion exchange resin disposed to generate pure water from fresh water has CO 2 contained in the liquid to be subjected to the ion exchange treatment, which accelerates the consumption of the ion exchange resin. This time, there is a problem that the life of the ion exchange resin is shortened.

本発明は、上記事実に鑑みなされたものであり、その主たる技術課題は、加工廃液処理装置に配設された濾過フィルターの寿命を向上させると共に、イオン交換樹脂の消耗の促進を回避することができる加工廃液処理装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above facts, and its main technical problem is to improve the life of the filtration filter disposed in the processing waste liquid treatment apparatus and to avoid the acceleration of consumption of the ion exchange resin. It is an object of the present invention to provide a processing waste liquid treatment apparatus which can be performed.

上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、加工装置が排出する排水から純水を生成する加工廃液処理装置であって、排水を貯水する排水タンクと、該排水タンクから送り出された排水を濾過する濾過部と、該濾過部によって精製された清水を貯水する清水タンクと、該清水タンクから送り出された清水に紫外線を照射して有機物を破壊する紫外線照射ユニットと、該紫外線照射ユニットから送り出された清水から純水を生成するイオン交換樹脂部と、を少なくとも含み、該加工装置と該排水タンクとの間に配設され排水に含まれる加工屑を電気泳動法によって回収部に付着させて除去する加工屑除去ユニットと、該加工屑除去ユニットに供給される排水にCOを供給するCO供給部と、が配設されると共に、該加工屑除去ユニットから該イオン交換樹脂部に至る経路に、排水に含まれるCOの濃度を減少させるシャワー手段が配設される加工廃液処理装置が提供される。 In order to solve the above-mentioned main technical problem, according to the present invention, it is a processing wastewater treatment device that generates pure water from the wastewater discharged from the processing device, and is a drainage tank that stores the wastewater and is sent out from the drainage tank. A filtration unit that filters wastewater, a fresh water tank that stores fresh water purified by the filtration unit, an ultraviolet irradiation unit that irradiates the fresh water sent out from the fresh water tank with ultraviolet rays to destroy organic substances, and the ultraviolet irradiation unit. It contains at least an ion exchange resin part that generates pure water from the fresh water sent out from, and is disposed between the processing device and the drainage tank, and the processing waste contained in the wastewater adheres to the recovery part by electrophoresis. A machined waste removing unit for removing the machined waste and a CO 2 supply unit for supplying CO 2 to the wastewater supplied to the machined waste removing unit are arranged, and the ion exchange resin unit is provided from the machined waste removing unit. A processing waste liquid treatment apparatus is provided in which a shower means for reducing the concentration of CO 2 contained in waste water is provided on the route leading to.

本発明の加工廃液処理装置は、排水を貯水する排水タンクと、該排水タンクから送り出された排水を濾過する濾過部と、該濾過部によって精製された清水を貯水する清水タンクと、該清水タンクから送り出された清水に紫外線を照射して有機物を破壊する紫外線照射ユニットと、該紫外線照射ユニットから送り出された清水から純水を生成するイオン交換樹脂部と、を少なくとも含み、該加工装置と該排水タンクとの間に配設され排水に含まれる加工屑を電気泳動法によって回収部に付着させて除去する加工屑除去ユニットと、該加工屑除去ユニットに供給される排水にCOを供給するCO供給部と、が配設されると共に、該加工屑除去ユニットから該イオン交換樹脂部に至る経路に、排水に含まれるCOの濃度を減少させるシャワー手段が配設されるので、加工屑除去ユニットの回収効率が向上すると共に、排水タンクから送り出された排水を濾過する濾過部の寿命が向上し、さらに、イオン交換樹脂部に配設されるイオン交換樹脂の消耗を減少させることができる。 The processed waste liquid treatment apparatus of the present invention includes a drainage tank for storing wastewater, a filtering unit for filtering the wastewater sent out from the drainage tank, a freshwater tank for storing fresh water purified by the filtering unit, and the freshwater tank. The processing apparatus and the processing apparatus include at least an ultraviolet irradiation unit that irradiates fresh water discharged from the water with ultraviolet rays to destroy organic substances, and an ion exchange resin unit that generates pure water from the fresh water delivered from the ultraviolet irradiation unit. CO 2 is supplied to the work waste removal unit that is arranged between the drain tank and the work waste contained in the waste water and adheres to the recovery unit to remove it, and the waste water supplied to the work waste removal unit. A CO 2 supply unit and a shower means for reducing the concentration of CO 2 contained in the waste water are arranged in the path from the processing waste removing unit to the ion exchange resin unit. The recovery efficiency of the waste removal unit can be improved, the life of the filtration unit that filters the wastewater sent from the drainage tank can be improved, and the consumption of the ion exchange resin disposed in the ion exchange resin unit can be reduced. can.

本実施形態の研削装置、及び加工廃液処理装置の概略を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the outline of the grinding apparatus and the processing waste liquid treatment apparatus of this embodiment. 加工廃液処理装置の構成の詳細を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the detail of the structure of the processing waste liquid processing apparatus. 本実施形態の加工屑除去ユニットの断面模式図である。It is sectional drawing of the processing scrap removal unit of this embodiment. 本実施形態のシャワー手段の実施態様を一部断面で示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the embodiment of the shower means of this embodiment in a partial cross section.

以下、本発明に基づいて構成される加工廃液処理装置に係る実施形態について、添付図面を参照しながら、詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments relating to the processing waste liquid treatment apparatus configured based on the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1には、本実施形態の加工廃液処理装置5、及び加工廃液処理装置5が適用される加工装置である研削装置1の概略を示す斜視図が示されている。 FIG. 1 shows a perspective view showing an outline of the machining waste liquid treatment device 5 of the present embodiment and the grinding device 1 which is a machining device to which the machining waste liquid treatment device 5 is applied.

研削装置1は、装置ハウジング10に配設された保持手段2と、保持手段2に保持されるウエーハWの裏面Wbを研削する研削手段3と、研削手段3を矢印Z軸方向(上下方向)に昇降させる昇降手段4とを少なくとも備えている。研削装置1によって加工されるウエーハWは、例えば、シリコンウエーハであり、図中左方側に示すように、ウエーハWの下面側(本実施形態では、図示を省略する複数のデバイスが形成された表面側)に保護テープTが貼着されて、裏面Wb側が上方に露出した状態で保持手段2に保持される。 The grinding device 1 grinds the holding means 2 disposed in the device housing 10, the grinding means 3 for grinding the back surface Wb of the wafer W held by the holding means 2, and the grinding means 3 in the Z-axis direction (vertical direction). It is provided with at least an elevating means 4 for elevating and lowering. The wafer W processed by the grinding device 1 is, for example, a silicon wafer, and as shown on the left side in the figure, a plurality of devices not shown are formed on the lower surface side of the wafer W (in the present embodiment, a plurality of devices (not shown) are formed. The protective tape T is attached to the front surface side), and is held by the holding means 2 with the back surface Wb side exposed upward.

保持手段2は、X軸方向及び該X軸方向と直交するY軸方向とにより規定され、実質的に水平面を構成する保持面21aを備えたチャックテーブル21を備えている。チャックテーブル21は、図示を省略する回転駆動手段によって回転可能に構成されており、保持面21aは通気性を有する部材によって構成されている。チャックテーブル21は、図示を省略する吸引手段に接続されており、該吸引手段を作動することで、保持面21aに吸引負圧が供給される。チャックテーブル21は、装置ハウジング10の内部に収容された図示を省略するX軸移動手段により、X軸方向の任意の位置に移動させることができる。 The holding means 2 includes a chuck table 21 having a holding surface 21a defined by an X-axis direction and a Y-axis direction orthogonal to the X-axis direction and substantially forming a horizontal plane. The chuck table 21 is configured to be rotatable by a rotary driving means (not shown), and the holding surface 21a is configured to have a breathable member. The chuck table 21 is connected to a suction means (not shown), and by operating the suction means, a suction negative pressure is supplied to the holding surface 21a. The chuck table 21 can be moved to an arbitrary position in the X-axis direction by an X-axis moving means (not shown) housed inside the device housing 10.

研削手段3は、回転軸31と、回転軸31の下端に配設された研削ホイール32と、研削ホイール32の下面に環状に複数配設された研削砥石33と、該回転軸31を回転させる電動モータ34と、該研削手段3を支持すると共に図中矢印Zで示すZ軸方向に移動可能に支持されたZ軸移動基台35とを少なくとも備えている。Z軸移動基台35は、昇降手段4によって、Z軸方向における任意の位置に移動させることが可能である。研削装置1は、図示を省略する制御手段を備えており、該制御手段から指示される制御信号により、その作動がコントロールされる。 The grinding means 3 rotates a rotating shaft 31, a grinding wheel 32 arranged at the lower end of the rotating shaft 31, a plurality of grinding grinds 33 arranged in an annular shape on the lower surface of the grinding wheel 32, and the rotating shaft 31. It includes at least an electric motor 34 and a Z-axis moving base 35 that supports the grinding means 3 and is movably supported in the Z-axis direction indicated by the arrow Z in the figure. The Z-axis moving base 35 can be moved to an arbitrary position in the Z-axis direction by the elevating means 4. The grinding device 1 includes control means (not shown), and its operation is controlled by a control signal instructed by the control means.

研削装置1において、チャックテーブル21にウエーハWを吸引保持し、研削手段3によってウエーハWの裏面Wbを研削すると、研削加工時に研削ホイール32の下面側に供給された研削水にシリコン微粒子等を含む加工屑が混入した排水L1が生成され、研削装置1の装置ハウジング10に配設されたドレインホース12から排出される。ドレインホース12から排出された排水L1は、ポンプP1が作動することにより加工廃液処理装置5に送られ、濾過、精製を施されて、純水L9が生成され、研削手段3の回転軸31の上端31aに供給されて、回転軸31の内部に形成される供給路(図示は省略する)を介して研削ホイール32の下面に導かれて、再び研削水として利用される。 In the grinding apparatus 1, when the wafer W is sucked and held on the chuck table 21 and the back surface Wb of the wafer W is ground by the grinding means 3, the grinding water supplied to the lower surface side of the grinding wheel 32 during the grinding process contains silicon fine particles and the like. The drainage L1 mixed with the machining chips is generated and discharged from the drain hose 12 arranged in the apparatus housing 10 of the grinding apparatus 1. The drainage L1 discharged from the drain hose 12 is sent to the processing waste liquid treatment device 5 by the operation of the pump P1, filtered and refined to generate pure water L9, and the rotary shaft 31 of the grinding means 3 It is supplied to the upper end 31a, guided to the lower surface of the grinding wheel 32 via a supply path (not shown) formed inside the rotating shaft 31, and used again as grinding water.

加工廃液処理装置5は、研削装置1から排出された排水L1にCOを供給するCO供給部50と、CO供給部50から排出されCO濃度が高められた排水L2に含まれる加工屑を電気泳動法によって除去する加工屑除去ユニット60と、該加工屑除去ユニット60から排出される加工屑が除去された排水L3をさらに精製して、純水を生成する純水生成装置80とを備えている。図1に加え、図2を参照しながら、本実施形態の加工廃液処理装置5の詳細について説明する。 The processing waste liquid treatment device 5 is included in the CO 2 supply unit 50 that supplies CO 2 to the waste water L1 discharged from the grinding device 1 and the waste water L2 that is discharged from the CO 2 supply unit 50 and has an increased CO 2 concentration. A machined waste removing unit 60 that removes dust by an electrophoresis method, and a pure water generator 80 that further purifies the wastewater L3 from which the processed waste discharged from the machined waste removing unit 60 has been removed to generate pure water. It is equipped with. In addition to FIG. 1, the details of the processing waste liquid treatment apparatus 5 of the present embodiment will be described with reference to FIG. 2.

研削装置1において研削加工が実施され、ドレインホース12から排出された排水L1は、図2に示すように、経路101を介してCO供給部50に導入される。CO供給部50は、CO貯蔵タンク51と、混合器52とを備えている。CO供給部50に導入された排水L1は、混合器52を通過することにより、CO貯蔵タンク51から供給されるCOが混合される。排水L1のCO濃度が高められることで、低電気抵抗率となり、導電性が高められた排水L2は、経路102を介して加工屑除去ユニット60に送られる。図2に加え、図3を参照しながら、加工屑除去ユニット60の概略について説明する。 Grinding is performed in the grinding device 1, and the drainage L1 discharged from the drain hose 12 is introduced into the CO 2 supply unit 50 via the path 101 as shown in FIG. The CO 2 supply unit 50 includes a CO 2 storage tank 51 and a mixer 52. The wastewater L1 introduced into the CO 2 supply unit 50 passes through the mixer 52, so that CO 2 supplied from the CO 2 storage tank 51 is mixed. By increasing the CO 2 concentration of the waste water L1, the waste water L2 having a low electrical resistivity and an increased conductivity is sent to the processing waste removing unit 60 via the path 102. In addition to FIG. 2, the outline of the machined waste removing unit 60 will be described with reference to FIG.

図3には、加工屑除去ユニット60の断面模式図が示されている。図に示すように、加工屑除去ユニット60は、経路102を介して導入口60aから導入された排水L2を収容するタンク61と、タンク61に配設されたポンプ61aの作用により、配管61bを介して排水L2が導入される加工屑回収手段63と、を備えている。加工屑回収手段63は、排水L2を貯水する貯水槽63aと、貯水槽63aにその一部が組み込まれる加工屑分離機構64と、加工屑回収機構65と、を備えている。 FIG. 3 shows a schematic cross-sectional view of the machining debris removing unit 60. As shown in the figure, the machined waste removing unit 60 connects the pipe 61b by the action of the tank 61 for accommodating the drainage L2 introduced from the introduction port 60a via the path 102 and the pump 61a arranged in the tank 61. It is provided with a processing waste collecting means 63 into which the drainage L2 is introduced through the pipe. The work waste collecting means 63 includes a water storage tank 63a for storing the wastewater L2, a work waste separation mechanism 64 in which a part thereof is incorporated in the water storage tank 63a, and a work waste recovery mechanism 65.

加工屑分離機構64は、貯水槽63aに貯水された排水L2から、ウエーハWを研削する際に発生するシリコンの微粒子等を含む加工屑Dを分離する。加工屑分離機構64は、貯水槽63a内に配設された複数の陰極板64aと、各陰極板64a間に配設された複数の下部ローラ64bと、各陰極板64aの上方に配設された複数の上部ローラ64cと、該上部ローラ64cの上方であって図中左方側に配設された電動モータ64dと、電動モータ64dに駆動される駆動ローラ64eと、該駆動ローラ64eと同一の高さであって、図中右方側に配設された従動ローラ64fと、前記した各ローラに、図に示すように掛け回され加工屑Dを吸着して回収する回収部として機能する無端ベルト64gと、陰極板64aにマイナス(-)を、無端ベルト64gにプラス(+)の電圧を印加する直流電源64hと、を備えている。無端ベルト64gは、導電性を有する金属製(例えばステンレス鋼板)で形成されている。前記した陰極板64a、及び無端ベルト64gが掛け回された下部ローラ64bの周辺は、貯水槽63aに貯水された排水L2内に浸水しており、貯水槽63aの下部には、加工屑Dが除去された後の排水L3を排出する排出口60bが配設されている。 The processing waste separation mechanism 64 separates the processing waste D containing fine particles of silicon generated when grinding the wafer W from the drainage L2 stored in the water storage tank 63a. The machining waste separation mechanism 64 is arranged above the plurality of cathode plates 64a arranged in the water storage tank 63a, the plurality of lower rollers 64b arranged between the cathode plates 64a, and the cathode plates 64a. The plurality of upper rollers 64c, the electric motor 64d above the upper roller 64c and arranged on the left side in the figure, the drive roller 64e driven by the electric motor 64d, and the same drive roller 64e. As shown in the figure, the driven roller 64f arranged on the right side in the figure and each of the above-mentioned rollers are hung around the height of the driven roller D and functions as a collecting unit for adsorbing and collecting the machining waste D. It is provided with 64 g of an endless belt and a DC power supply 64h for applying a negative (−) voltage to the cathode plate 64a and a positive (+) voltage to the endless belt 64 g. The endless belt 64 g is made of a conductive metal (for example, a stainless steel plate). The periphery of the cathode plate 64a and the lower roller 64b around which the endless belt 64g is hung is flooded in the drainage L2 stored in the water storage tank 63a, and the processing waste D is contained in the lower part of the water storage tank 63a. A discharge port 60b for discharging the drained water L3 after being removed is provided.

加工屑回収機構65は、剥離部65aと、回収箱65bとを備えている、上記した直流電源64hにより陰極板64a、無端ベルト64gに通電し、駆動モータ64dを作動して無端ベルト64gを矢印Aで示す方向に回転させることで、電気泳動によってマイナス(-)に帯電した加工屑Dが、マイナス(-)に帯電された陰極板64aから反発され、プラス(+)に帯電された無端ベルト64gに吸着される。無端ベルト64gに吸着された加工屑Dは、無端ベルト64gによって運ばれて、回収箱65b上の剥離部65aにて剥離され、回収箱65bに落下させられて回収される。このようにして、貯水槽63aに貯水された排水L2から、加工屑Dが除去される。なお、本実施形態では、回収箱65bに隣接した位置にヒータ65cも配設されており、ヒータ65cの作用により、回収箱65bに回収された加工屑Dが乾燥させられる。また、上記した実施形態では、加工屑Dを吸着して回収する回収部として金属製の無端ベルト64gを配設したが、本発明はこれに限定されず、直流電源64hの陽極に接続されてプラス(+)に帯電させられる電極板であってもよい。該電極板を使用する場合は、上記した貯水槽63a内の陰極板64a間に該電極板を進入させて、排水L2内の加工屑Dを吸着させた後、貯水槽63aから該電極板を取り出すことにより、排水L2中から加工屑Dを回収することができる。 The machining waste recovery mechanism 65 energizes the cathode plate 64a and the endless belt 64g by the above-mentioned DC power supply 64h, which includes the peeling portion 65a and the recovery box 65b, and operates the drive motor 64d to point the endless belt 64g as an arrow. By rotating in the direction indicated by A, the work scrap D charged negatively (-) by electrophoresis is repelled from the cathode plate 64a charged negatively (-), and the endless belt charged positively (+). It is adsorbed to 64 g. The work waste D adsorbed on the endless belt 64g is carried by the endless belt 64g, peeled off by the peeling portion 65a on the collection box 65b, dropped on the collection box 65b, and collected. In this way, the work waste D is removed from the drainage L2 stored in the water storage tank 63a. In the present embodiment, the heater 65c is also arranged at a position adjacent to the collection box 65b, and the processing waste D collected in the collection box 65b is dried by the action of the heater 65c. Further, in the above-described embodiment, 64 g of a metal endless belt is disposed as a recovery unit for adsorbing and recovering the processing waste D, but the present invention is not limited to this, and the present invention is not limited to this and is connected to the anode of the DC power supply 64h. It may be an electrode plate that is positively charged (+). When the electrode plate is used, the electrode plate is inserted between the cathode plates 64a in the water storage tank 63a to adsorb the processing waste D in the drainage L2, and then the electrode plate is removed from the water storage tank 63a. By taking it out, the processing waste D can be recovered from the wastewater L2.

図2に戻り説明を続けると、加工屑除去ユニット60の作用により加工屑Dが除去された排水L3が、加工屑除去ユニット60の排出口60bから経路103上のポンプP2の作用により排出されて、純水生成装置80に送られる。純水生成装置80は、シャワー手段70と、シャワー手段70から放出された排水L3を貯水する排水タンク81と、排水タンク81から排出された排水L4を濾過して精製する濾過部83と、濾過部83によって精製された清水L5を貯水する清水タンク84と、清水タンク84から送り出された清水L5に紫外線を照射して清水L5に含まれる有機物を破壊する紫外線照射ユニット85と、紫外線照射ユニット85によって生成された清水L6から純水L7を生成するイオン交換樹脂部87と、を少なくとも備えている。さらに、本実施形態では、上記構成に加え、イオン交換樹脂部87から送り出された純水L7内に残存する有機物が破壊されて残存する物質等を除去する精密フィルター88と、精密フィルター88によって濾過され排出された純水L8を、研削水として適切な温度に調整された純水L9として研削装置1に供給する温度コントローラー89とを備えている。 Returning to FIG. 2 and continuing the explanation, the drainage L3 from which the work piece D has been removed by the action of the work piece removal unit 60 is discharged from the discharge port 60b of the work piece removal unit 60 by the action of the pump P2 on the path 103. , Is sent to the pure water generator 80. The pure water generator 80 includes a shower means 70, a drainage tank 81 for storing the drainage L3 discharged from the shower means 70, a filtering unit 83 for filtering and purifying the drainage L4 discharged from the drainage tank 81, and filtration. A fresh water tank 84 that stores the fresh water L5 purified by the unit 83, an ultraviolet irradiation unit 85 that irradiates the fresh water L5 sent out from the fresh water tank 84 with ultraviolet rays to destroy organic substances contained in the fresh water L5, and an ultraviolet irradiation unit 85. It is provided with at least an ion exchange resin unit 87 that produces pure water L7 from the fresh water L6 produced by. Further, in the present embodiment, in addition to the above configuration, filtration is performed by a precision filter 88 for removing the remaining substances and the like by destroying the organic substances remaining in the pure water L7 sent out from the ion exchange resin unit 87, and the precision filter 88. It is provided with a temperature controller 89 that supplies the discharged pure water L8 to the grinding device 1 as pure water L9 adjusted to an appropriate temperature as grinding water.

図示の実施形態では、濾過部83は、第1濾過フィルター831、第2濾過フィルター832を備え、純水生成装置80の作動を止めることなく濾過部83の作動を継続することができるように、流路切換弁82を備えている。一方の濾過フィルターの目詰まりが検出された場合には、経路104から導かれる排水L4の流れを目詰まりしていない他方の濾過フィルターに導き、目詰まりが検出された濾過フィルターを新たな濾過フィルターに交換する。なお、濾過部83の濾過フィルターの目詰まりは、経路104上に図示を省略する圧力検出手段を配設することにより検出することが可能である。イオン交換樹脂部87は、第1イオン交換樹脂部871、第2イオン交換樹脂部872を備え、純水生成装置80の作動を止めることなくイオン交換樹脂部87の作動を継続することができるように、流路切換弁86を備えている。例えば、第2イオン交換樹脂部872の消耗が検出される場合には、経路107から導かれる清水L6の流れを、消耗していない第1イオン交換樹脂部871に導き、第2イオン交換樹脂部872を新しいイオン交換樹脂に交換する。なお、イオン交換樹脂の消耗の度合いは、経路108上に図示を省略する比抵抗値検出手段を配設し、比抵抗値検出手段により検出される検出値を判定することで、検出することが可能である。 In the illustrated embodiment, the filtration unit 83 includes a first filtration filter 831 and a second filtration filter 832 so that the operation of the filtration unit 83 can be continued without stopping the operation of the pure water generator 80. A flow path switching valve 82 is provided. When clogging of one of the filtration filters is detected, the flow of the drainage L4 guided from the path 104 is guided to the other filtration filter that is not clogged, and the filtration filter in which the clogging is detected is used as a new filtration filter. Replace with. The clogging of the filtration filter of the filtration unit 83 can be detected by disposing a pressure detecting means (not shown) on the path 104. The ion exchange resin unit 87 includes a first ion exchange resin unit 871 and a second ion exchange resin unit 872 so that the operation of the ion exchange resin unit 87 can be continued without stopping the operation of the pure water generator 80. Is provided with a flow path switching valve 86. For example, when the consumption of the second ion exchange resin unit 872 is detected, the flow of fresh water L6 guided from the path 107 is guided to the first ion exchange resin unit 871 that is not consumed, and the second ion exchange resin unit is used. Replace 872 with a new ion exchange resin. The degree of consumption of the ion exchange resin can be detected by disposing a resistivity value detecting means (not shown) on the path 108 and determining the detection value detected by the resistivity value detecting means. It is possible.

図2に加え、図4を参照しながら、上記した本実施形態のシャワー手段70について、さらに説明する。図4に示すように、シャワー手段70は、経路103から導かれる排水L3を放出するシャワーヘッド72を備えている。シャワーヘッド72の下端部は、円板状に形成され(図2を参照)ており、シャワーヘッド72の下面74には、全面に渡り、複数の微細な穴が形成されている。シャワーヘッド72の下面74は、排水タンク81内の水面よりも上方に配設されており、ポンプP2の作動により経路103を介して供給された排水L3は、シャワーヘッド72の下面74から排水タンク81内に向けてシャワー状に放出される。 In addition to FIG. 2, the shower means 70 of the present embodiment described above will be further described with reference to FIG. As shown in FIG. 4, the shower means 70 includes a shower head 72 that discharges the drainage L3 guided from the path 103. The lower end of the shower head 72 is formed in a disk shape (see FIG. 2), and a plurality of fine holes are formed on the lower surface 74 of the shower head 72 over the entire surface. The lower surface 74 of the shower head 72 is arranged above the water surface in the drain tank 81, and the drainage L3 supplied via the path 103 by the operation of the pump P2 is drained from the lower surface 74 of the shower head 72. It is discharged like a shower toward the inside of 81.

本実施形態の加工廃液処理装置5は、概ね上記したとおりの構成を備えており、その機能、作用効果について、より具体的に説明する。 The processing waste liquid treatment apparatus 5 of the present embodiment has substantially the same configuration as described above, and its function and action / effect will be described more specifically.

研削装置1において、保持手段2のチャックテーブル21に吸引保持されたウエーハWの裏面Wbが、研削手段3によって研削加工され、研削に使用された研削水の排水L1が、ポンプP1の作用によりドレインホース12を含む経路101を介して、CO供給部50に導かれる。図2に基づき説明したように、CO供給部50の作用により排水L1にCOが混合され、CO濃度が高められることにより、例えば、電気抵抗率が0.3MΩ・cmから、0.2MΩ・cmに低下させられる。CO濃度が高められた排水L2は、経路102を介して加工屑除去ユニット60に導かれ、排水L2に含まれるシリコンの微粒子を主とする加工屑Dが除去される。上記したように、排水L2は、CO濃度が高められて電気抵抗率が調整されていることにより、加工屑分離機構64における回収率が向上し、加工屑Dが効率よく回収される。なお、加工屑分離機構64では、直流電源64hによって印加される電圧値に応じた粒子径の加工屑Dが一定の割合で除去されるが、排水L2に含まれる加工屑Dの全てが除去されるわけではない。 In the grinding device 1, the back surface Wb of the wafer W sucked and held by the chuck table 21 of the holding means 2 is ground by the grinding means 3, and the drainage L1 of the grinding water used for grinding is drained by the action of the pump P1. It is guided to the CO 2 supply unit 50 via the path 101 including the hose 12. As described with reference to FIG. 2, CO 2 is mixed with the waste water L1 by the action of the CO 2 supply unit 50, and the CO 2 concentration is increased, so that, for example, the electrical resistivity is from 0.3 MΩ · cm to 0. It can be reduced to 2 MΩ · cm. The waste water L2 having an increased CO 2 concentration is guided to the work waste removing unit 60 via the path 102, and the work waste D mainly composed of silicon fine particles contained in the waste water L2 is removed. As described above, in the wastewater L2, the CO 2 concentration is increased and the electrical resistivity is adjusted, so that the recovery rate in the work waste separation mechanism 64 is improved, and the work waste D is efficiently recovered. In the processing waste separation mechanism 64, the processing waste D having a particle size corresponding to the voltage value applied by the DC power supply 64h is removed at a constant ratio, but all the processing waste D contained in the wastewater L2 is removed. Not that.

次いで、加工屑除去ユニット60によって加工屑Dがある程度除去された排水L3は、シャワー手段70を介して純水生成装置80の排水タンク81に導かれる。上記したように、排水L3が、シャワー手段70を介して排水タンク81に導かれてシャワーヘッド72から放出されることにより、排水L3からCOが放出されることに加え、排水タンク81内で攪拌されて、排水L3内のCOが放出されてCOの濃度が低下させられる。 Next, the wastewater L3 from which the processing waste D has been removed to some extent by the processing waste removing unit 60 is guided to the drainage tank 81 of the pure water generator 80 via the shower means 70. As described above, the drainage L3 is guided to the drainage tank 81 via the shower means 70 and discharged from the shower head 72, so that CO 2 is released from the drainage L3 and in the drainage tank 81. After being stirred, CO 2 in the waste water L3 is released to reduce the concentration of CO 2 .

排水タンク81に接続される経路104上のポンプP3の作用により、排水タンク81からCO濃度が低下させられた排水L4が、流路切換弁82を介して濾過部83の一方の濾過フィルター、例えば第1濾過フィルター831に導かれる。第1濾過フィルター831では、加工屑除去ユニット60において除去されずに排水L4内に残留している物質等が濾過され、濾過部83から清水L5が排出される。濾過部83から排出される清水L5は、経路105を介して清水タンク84に導かれて貯水される。 The drainage L4 whose CO 2 concentration has been reduced from the drainage tank 81 by the action of the pump P3 on the path 104 connected to the drainage tank 81 is removed from the drainage tank 81 via the flow path switching valve 82 to one of the filtration filters of the filtration unit 83. For example, it is guided to the first filtration filter 831. In the first filtration filter 831, substances and the like that are not removed by the processing waste removing unit 60 and remain in the wastewater L4 are filtered, and fresh water L5 is discharged from the filtration unit 83. The fresh water L5 discharged from the filtration unit 83 is guided to the fresh water tank 84 via the path 105 and stored.

清水タンク84に貯水された清水L5は、ポンプP4の作用により経路106を介して、紫外線照射ユニット85に導入される。紫外線照射ユニット85では、清水L5に対して紫外線を照射し、清水L5内に残留する有機物等を破壊して殺菌した清水L6を生成する。紫外線照射ユニット85から排出された殺菌後の清水L6は、経路107、流路切換弁86を介して、イオン交換樹脂部87の、例えば、第1イオン交換樹脂部871に導かれる。第1イオン交換樹脂部871に導かれた清水L6は、清水L6に含まれる帯電した物質(イオン)がイオン交換作用により除去されて、清水L6から純水L7が生成される。 The fresh water L5 stored in the fresh water tank 84 is introduced into the ultraviolet irradiation unit 85 via the path 106 by the action of the pump P4. The ultraviolet irradiation unit 85 irradiates the fresh water L5 with ultraviolet rays to destroy organic substances and the like remaining in the fresh water L5 to generate sterilized fresh water L6. The sterilized fresh water L6 discharged from the ultraviolet irradiation unit 85 is guided to the ion exchange resin unit 87, for example, the first ion exchange resin unit 871 via the path 107 and the flow path switching valve 86. In the fresh water L6 guided to the first ion exchange resin unit 871, the charged substance (ion) contained in the fresh water L6 is removed by the ion exchange action, and pure water L7 is generated from the fresh water L6.

イオン交換樹脂部87から経路108に排出された純水L7は、精密フィルター88に導かれて、純水L7に残存する濾過部83以降に混入した不純物や、紫外線照射ユニット85において発生した有機物の分解物等が取り除かれる。精密フィルター88から排出された純水L8は、経路109を介して温度コントローラー89に導かれて、研削装置1において使用される研削水として好適な温度に調整され、純水供給手段として機能する温度コントローラー89に内蔵されたポンプ(図示は省略する)、又は温度コントローラー89に接続された経路110上のポンプP5(図1を参照)の作用により、再び研削装置1の研削手段3に導入され、研削水として使用される。なお、上記した精密フィルター88、及び温度コントローラー89の設置は任意であり、必要に応じて配設されるものである。 The pure water L7 discharged from the ion exchange resin unit 87 into the path 108 is guided by the precision filter 88, and impurities mixed in the filtration unit 83 and subsequent parts remaining in the pure water L7 and organic substances generated in the ultraviolet irradiation unit 85. Decompositions etc. are removed. The pure water L8 discharged from the precision filter 88 is guided to the temperature controller 89 via the path 109, adjusted to a temperature suitable for grinding water used in the grinding apparatus 1, and functions as a pure water supply means. It is introduced into the grinding means 3 of the grinding apparatus 1 again by the action of the pump built in the controller 89 (not shown) or the pump P5 (see FIG. 1) on the path 110 connected to the temperature controller 89. Used as grinding water. The precision filter 88 and the temperature controller 89 described above are optional and are arranged as necessary.

上記した実施形態によれば、研削装置1と加工廃液処理装置5の排水タンク81との間に、加工屑Dを除去する加工屑除去ユニット60と、加工屑除去ユニット60に供給される排水L1にCOを供給するCO供給部50を配設していることにより、加工屑除去ユニット60における加工屑Dの回収効率が向上すると共に、排水タンク81から送り出された排水を濾過する濾過部83の濾過フィルター(第1濾過フィルター831、第2濾過フィルター832)の寿命が向上する。そして、排水タンク81からイオン交換樹脂部87に至る経路に、排水に含まれるCOの濃度を減少させるシャワー手段70を配設していることから、イオン交換樹脂部87に導かれる清水L6中のCO濃度が低下させられて、イオン交換樹脂部87の消耗を減少させることができる。 According to the above-described embodiment, between the grinding device 1 and the drain tank 81 of the machining waste liquid treatment device 5, the machining waste removing unit 60 for removing the machining waste D and the drainage L1 supplied to the machining waste removing unit 60 By arranging the CO 2 supply unit 50 that supplies CO 2 to the wastewater, the efficiency of collecting the work waste D in the work waste removal unit 60 is improved, and the filtration unit that filters the wastewater sent out from the drainage tank 81. The life of the 83 filtration filters (first filtration filter 831 and second filtration filter 832) is improved. Since the shower means 70 for reducing the concentration of CO 2 contained in the wastewater is arranged in the path from the drainage tank 81 to the ion exchange resin portion 87, the fresh water L6 guided to the ion exchange resin portion 87 is provided. The CO 2 concentration of the ion exchange resin portion 87 can be reduced, and the consumption of the ion exchange resin portion 87 can be reduced.

なお、上記した実施形態では、シャワー手段70を、加工屑除去ユニット60から排出された排水L3を排水タンク81に導く経路103上であって、排水タンク81に臨む位置に配設したが、本発明はこれに限定されず、加工屑除去ユニット60からイオン交換樹脂部87までの間に配設された経路であれば(例えば、経路104~107)、いずれの経路上に配設することができる。なお、その場合は、シャワー手段70と共に、シャワーヘッド72から放出された排水、又は清水を一時的に貯留するタンクを別途配設する必要がある。ただし、経路105にシャワー手段70を配設する場合は、清水タンク84の天井を開放することで、シャワー手段70から放出される清水L5からCOを放出させることができる。 In the above-described embodiment, the shower means 70 is arranged on the path 103 for guiding the drainage L3 discharged from the processing waste removing unit 60 to the drainage tank 81 at a position facing the drainage tank 81. The invention is not limited to this, and if it is a path arranged between the work waste removal unit 60 and the ion exchange resin portion 87 (for example, paths 104 to 107), it can be arranged on any path. can. In that case, it is necessary to separately dispose a tank for temporarily storing the drainage or fresh water discharged from the shower head 72 together with the shower means 70. However, when the shower means 70 is arranged on the path 105, CO 2 can be discharged from the fresh water L5 discharged from the shower means 70 by opening the ceiling of the fresh water tank 84.

また、上記した実施形態では、加工廃液処理装置5を、研削装置1に適用する例を示したが、本発明はこれに限定されず、純水を加工水として使用するその他の加工装置(例えば、ダイシング装置)にも適用することも可能である。 Further, in the above-described embodiment, an example in which the processing waste liquid treatment device 5 is applied to the grinding device 1 is shown, but the present invention is not limited to this, and other processing devices using pure water as the processing water (for example). , Dicing device) can also be applied.

1:研削装置
2:保持手段
21:チャックテーブル
21a:保持面
3:研削手段
31:回転軸
32:研削ホイール
33:研削砥石
34:電動モータ
35:Z軸移動基台
4:Z軸移動手段
5:加工廃液処理装置
10:装置ハウジング
12:ドレインホース
50:CO供給部
60:加工屑除去ユニット
60a:導入口
60b:排出口
61:タンク
61a:ポンプ
63:加工屑回収手段
63a:貯水槽
64:加工屑分離機構
64a:陰極板
64b:下部ローラ
64c:上部ローラ
64d:電動モータ
64e:駆動ローラ
64f:従動ローラ
64g:無端ベルト
64h:直流電源
65:加工屑回収機構
70:シャワー手段
72:シャワーヘッド
80:純水生成装置
81:排水タンク
82:流路切換弁
83:濾過部
831:第1濾過フィルター
832:第2濾過フィルター
84:清水タンク
85:紫外線照射ユニット
86:流路切換弁
87:イオン交換樹脂部
871:第1イオン交換樹脂部
872:第2イオン交換樹脂部
88:精密フィルター
89:温度コントローラー
101~110:経路
D:加工屑
W:ウエーハ
T:保護テープ
P1~P5:ポンプ
1: Grinding device 2: Holding means 21: Chuck table 21a: Holding surface 3: Grinding means 31: Rotating shaft 32: Grinding wheel 33: Grinding grindstone 34: Electric motor 35: Z-axis moving base 4: Z-axis moving means 5 : Processing waste liquid treatment device 10: Equipment housing 12: Drain hose 50: CO 2 supply unit 60: Processing waste removing unit 60a: Introducing port 60b: Discharge port 61: Tank 61a: Pump 63: Processing waste collecting means 63a: Water storage tank 64 : Machining waste separation mechanism 64a: Cathode plate 64b: Lower roller 64c: Upper roller 64d: Electric motor 64e: Drive roller 64f: Driven roller 64g: Endless belt 64h: DC power supply 65: Machining waste collection mechanism 70: Shower means 72: Shower Head 80: Pure water generator 81: Drainage tank 82: Flow path switching valve 83: Filter unit 831: First filtration filter 832: Second filtration filter 84: Fresh water tank 85: Ultraviolet irradiation unit 86: Flow path switching valve 87: Ion exchange resin part 871: 1st ion exchange resin part 872: 2nd ion exchange resin part 88: Precision filter 89: Temperature controller 101 to 110: Path D: Machining waste W: Weha T: Protective tape P1 to P5: Pump

Claims (1)

加工装置が排出する排水から純水を生成する加工廃液処理装置であって、
排水を貯水する排水タンクと、該排水タンクから送り出された排水を濾過する濾過部と、該濾過部によって精製された清水を貯水する清水タンクと、該清水タンクから送り出された清水に紫外線を照射して有機物を破壊する紫外線照射ユニットと、該紫外線照射ユニットから送り出された清水から純水を生成するイオン交換樹脂部と、を少なくとも含み、
該加工装置と該排水タンクとの間に配設され排水に含まれる加工屑を電気泳動法によって回収部に付着させて除去する加工屑除去ユニットと、該加工屑除去ユニットに供給される排水にCOを供給するCO供給部と、が配設されると共に、該加工屑除去ユニットから該イオン交換樹脂部に至る経路に、排水に含まれるCOの濃度を減少させるシャワー手段が配設される加工廃液処理装置。
It is a processing waste liquid treatment device that generates pure water from the wastewater discharged by the processing device.
The drainage tank that stores the wastewater, the filter unit that filters the wastewater sent out from the drainage tank, the fresh water tank that stores the fresh water purified by the filter unit, and the fresh water sent out from the fresh water tank are irradiated with ultraviolet rays. It contains at least an ultraviolet irradiation unit that destroys organic substances and an ion exchange resin portion that generates pure water from fresh water sent out from the ultraviolet irradiation unit.
The processing waste removal unit, which is arranged between the processing equipment and the drainage tank and removes the processing waste contained in the wastewater by adhering it to the collection unit by electrophoresis, and the wastewater supplied to the processing waste removal unit. A CO 2 supply unit that supplies CO 2 is provided, and a shower means that reduces the concentration of CO 2 contained in the wastewater is arranged in the path from the processing waste removing unit to the ion exchange resin unit. Processing waste liquid treatment equipment to be performed.
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