JP2022065264A - Molded film, molded body, and method for manufacturing the same - Google Patents

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広一 戸崎
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Abstract

To provide a molded film which suppresses reduction in tensile force in a molding process and conductivity due to stress under high temperature, and is excellent in ion migration resistance between conductive patterns after molding, and a molded body which is excellent in conductivity and can maintain circuit characteristics even in use under a severe condition for a long period, and a method for manufacturing the same.SOLUTION: A molding film for forming a printing conductive circuit coated with an insulating layer on a base material surface having an uneven surface or a three-dimensional curved surface, in which the molded film has a conductive layer and an insulating layer on a base film, the conductive layer is a cured product of a conductive resin composition containing a resin (A1), a solvent (B1) and conductive particles (D), the insulating layer is a cured product of an insulating resin composition containing a resin (A2), a solvent (B2) and a modifier (E) having at least either one of an ester bond and an aromatic structure, and the modifier (E) satisfies a specific condition.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、成形フィルム、成形体およびその製造方法に関する。 The present invention relates to a molded film, a molded body, and a method for producing the same.

特許文献1には、樹脂成形体と、当該樹脂成形体の一面に対して面一になるように埋め込まれたベースフィルムと、前記樹脂成形体と前記ベースフィルムとの間に配置された導電回路とを有する特定の導電回路一体化成形品が開示されている。
特許文献1には、当該導電回路一体化成形品の製造方法として、特定の導電回路が形成されたベースフィルムを射出成形用金型のキャビティ面に配置した後、溶融樹脂を射出して、樹脂成形体を射出成形することが記載されている。
特許文献1において、導電回路は、特定の透明金属薄膜をエッチングすることにより形成されている。
Patent Document 1 describes a resin molded body, a base film embedded so as to be flush with one surface of the resin molded body, and a conductive circuit arranged between the resin molded body and the base film. A specific conductive circuit integrated molded product having the above is disclosed.
In Patent Document 1, as a method for manufacturing the conductive circuit integrated molded product, a base film on which a specific conductive circuit is formed is placed on the cavity surface of an injection molding die, and then a molten resin is injected to form a resin. It is described that the molded body is injection-molded.
In Patent Document 1, the conductive circuit is formed by etching a specific transparent metal thin film.

エッチング法に代わる導電回路の形成方法として、導電性インキを用いた印刷方法が検討されている。導電性インキを印刷する手法によれば、エッチング法と比較して、煩雑な工程がなく、容易に導電回路を形成することができ、生産性が向上し、低コスト化を図ることができる。
例えば特許文献2には、スクリーン印刷によって高精細な導電性パターンを形成することが可能な低温処理型の導電性インキとして、特定の導電性微粒子と、特定のエポキシ樹脂とを含有する導電性インキが開示されている。スクリーン印刷によれば導電パターンの厚膜化が可能であり、導電パターン低抵抗化が実現できるとされている。
As a method for forming a conductive circuit instead of the etching method, a printing method using conductive ink has been studied. According to the method of printing the conductive ink, as compared with the etching method, there is no complicated process, the conductive circuit can be easily formed, the productivity can be improved, and the cost can be reduced.
For example, Patent Document 2 describes a conductive ink containing specific conductive fine particles and a specific epoxy resin as a low-temperature treatment type conductive ink capable of forming a high-definition conductive pattern by screen printing. Is disclosed. According to screen printing, it is possible to increase the thickness of the conductive pattern, and it is said that the resistance of the conductive pattern can be reduced.

また、特許文献3には、3次元的な立体感を表現することが可能な加飾シートの製造方法として、透明樹脂層上にパターン状に印刷された印刷層を有する積層体と、ベースフィルム上に装飾層を有する積層シートとを熱圧着させることにより、前記装飾層を前記印刷層のパターンに沿った凹凸形状とする方法が開示されている。 Further, in Patent Document 3, as a method for manufacturing a decorative sheet capable of expressing a three-dimensional three-dimensional effect, a laminate having a printed layer printed in a pattern on a transparent resin layer and a base film are provided. A method of forming the decorative layer into an uneven shape along the pattern of the printed layer by thermocompression bonding with a laminated sheet having a decorative layer on the top is disclosed.

また、特許文献4には、ベースフィルム上に導電性インキの印刷により導電性パターンが形成された成型フィルムの熱成形および樹脂成型体との一体化を行うことで、樹脂成形体と前記ベースフィルムとの間に導電回路を有する、導電回路一体化成形品を得る方法が開示されている。 Further, in Patent Document 4, a resin molded body and the base film are described by thermoforming a molded film in which a conductive pattern is formed by printing a conductive ink on the base film and integrating the resin molded body. Disclosed is a method for obtaining a conductive circuit integrated molded product having a conductive circuit between the two.

特開2012-11691号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-11691 特開2011-252140号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-252140 特開2007-296848号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2007-296884 特開2019-189680号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2019-189680

特許文献1の手法によれば、成形体の表面に、容易に導電体を設けることができる。一方、凹凸面や曲面を有する基材など、様々な形状の基材表面に導電回路を形成したいという要望が高まっている。このような基材表面に導電層を有するフィルムを張り合わせて導電回路を形成する場合、当該フィルムは基材の表面形状に合わせて変形する必要がある。当該フィルムの変形時に、導電層には部分的に大きな引張力が生じることがある。当該引張力により導電層の破断などが生じ、導電性の低下が問題となった。さらにそのような凹凸面や曲面を有する基材上に導電回路を形成する際、前記の導電層を有するフィルムを変形させたのち、または変形させるのと同時にフィルムと前記基材とを一体化することが必要となるが、この一体化工程において高温下でプラスチック基材と摩擦されることによる応力ストレスが導電回路に加わる。当該高温下応力ストレスによっても導電層の破断などが生じ、導電性の低下が問題となった。
これに対し、特許文献4の手法では熱成形プロセスへの耐性が導電インキ材料に付与されているため、上記の高温下応力ストレスによる導電性の低下が解決されている。しかし一方で、この方法で立体形状の基材表面に形成された導電回路は樹脂成型体と導電層とが直接接触しており、この境界部分の密着性が必ずしも十分でなく、また実際には極めて細かい空隙が生じている場合があった。このため、この導電回路一体化成形品を実用的な危機として長期間過酷な条件下で使用した場合、時間経過とともにイオンマイグレーションによる回路間短絡の発生が問題となった。
According to the method of Patent Document 1, a conductor can be easily provided on the surface of the molded product. On the other hand, there is an increasing demand for forming a conductive circuit on the surface of a base material having various shapes such as a base material having an uneven surface or a curved surface. When a film having a conductive layer is laminated on the surface of such a base material to form a conductive circuit, the film needs to be deformed according to the surface shape of the base material. When the film is deformed, a large tensile force may be partially generated on the conductive layer. The tensile force causes breakage of the conductive layer, which causes a problem of deterioration of conductivity. Further, when forming a conductive circuit on a base material having such an uneven surface or a curved surface, the film having the conductive layer is deformed or deformed, and at the same time, the film and the base material are integrated. However, in this integration process, stress stress due to friction with the plastic substrate under high temperature is applied to the conductive circuit. The stress stress under high temperature also causes breakage of the conductive layer, which causes a problem of deterioration of conductivity.
On the other hand, in the method of Patent Document 4, since the conductive ink material is imparted with resistance to the thermoforming process, the decrease in conductivity due to the above-mentioned stress stress under high temperature is solved. However, on the other hand, in the conductive circuit formed on the surface of the three-dimensional base material by this method, the resin molded body and the conductive layer are in direct contact with each other, and the adhesion at the boundary portion is not always sufficient, and in reality, In some cases, extremely fine voids were formed. Therefore, when this conductive circuit integrated molded product is used under severe conditions for a long period of time as a practical crisis, a short circuit between circuits due to ion migration has become a problem with the passage of time.

本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり、成形プロセスにおける引張力および高温下での応力ストレスによる導電性の低下が抑制され、かつ成形後も導電パターン間のイオンマイグレーション耐性に優れた成形フィルム、及び、導電性に優れかつ長期間の過酷条件使用でも回路特性を保持可能な成形体及びその製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and the decrease in conductivity due to the tensile force in the molding process and the stress stress at high temperature is suppressed, and the ion migration resistance between the conductive patterns is improved even after molding. It is an object of the present invention to provide an excellent molded film, a molded body having excellent conductivity and capable of maintaining circuit characteristics even when used under harsh conditions for a long period of time, and a method for producing the same.

本実施の成型フィルムは、凹凸面または三次元曲面を有する基材表面に絶縁層で被覆された印刷導電回路を形成するための成形フィルムであって、該成形フィルムはベースフィルム上に導電層と絶縁層とを備えた成形フィルムであって、
導電層は樹脂(A1)と、溶剤(B1)と、導電性粒子(D)とを含む導電性樹脂組成物の硬化物であり、
絶縁層は樹脂(A2)と、溶剤(B2)と、エステル結合または芳香族構造のうち少なくともいずれか1つを有する改質剤(E)とを含む絶縁性樹脂組成物の硬化物であり、
前記絶縁層の体積固有抵抗が
1×1010Ω・cm以上1×1017Ω・cm未満であり、
前記改質剤(E)が下記の条件(1)~(3)をすべて満たす。
条件(1)数平均分子量が100~2000である
条件(2)水酸基を1分子中に1つ以上有する
条件(3)105℃180分加熱後における加熱残留分が60%以上100%以下である
The molded film of this embodiment is a molded film for forming a printed conductive circuit coated with an insulating layer on the surface of a base material having an uneven surface or a three-dimensional curved surface, and the molded film has a conductive layer on a base film. A molded film with an insulating layer,
The conductive layer is a cured product of a conductive resin composition containing a resin (A1), a solvent (B1), and conductive particles (D).
The insulating layer is a cured product of an insulating resin composition containing a resin (A2), a solvent (B2), and a modifier (E) having at least one of an ester bond and an aromatic structure.
The volume resistivity of the insulating layer is 1 × 10 10 Ω · cm or more and less than 1 × 10 17 Ω · cm.
The modifier (E) satisfies all of the following conditions (1) to (3).
Conditions (1) Conditions that the number average molecular weight is 100 to 2000 (2) Conditions that have one or more hydroxyl groups in one molecule (3) The heating residue after heating at 105 ° C for 180 minutes is 60% or more and 100% or less.

本成型フィルムの一実施形態は、樹脂(A1)が、芳香族構造を主鎖に有する。 In one embodiment of the present molded film, the resin (A1) has an aromatic structure in the main chain.

本成形フィルムの一実施形態は、樹脂(A1)が、エステル結合およびアミド結合より選ばれる1つ以上の結合基を主鎖に有する。 In one embodiment of the molded film, the resin (A1) has one or more linking groups selected from ester and amide bonds in the main chain.

本成形フィルムの一実施形態は、絶縁性樹脂組成物中にイソシアネート系化合物である架橋剤(C2)を有する。 One embodiment of the present molded film has a cross-linking agent (C2) which is an isocyanate-based compound in the insulating resin composition.

本成形フィルムの一実施形態は、改質剤(E)が芳香族炭化水素樹脂を含む。 In one embodiment of the present molded film, the modifier (E) contains an aromatic hydrocarbon resin.

本成形フィルムの一実施形態は、改質剤(E)がポリエステルポリオール構造を有する化合物を含む。 One embodiment of the molded film comprises a compound in which the modifier (E) has a polyester polyol structure.

本成形フィルムの一実施形態は、改質剤(E)がベンゾトリアゾール構造を有する化合物を含む。 One embodiment of the molded film comprises a compound in which the modifier (E) has a benzotriazole structure.

本成形フィルムの一実施形態は、ベースフィルムが、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリプロピレン及び、ポリエチレンテレフタレートより選択されるフィルム、又はこれらの積層フィルムである。 In one embodiment of the present molded film, the base film is a film selected from polycarbonate, polymethylmethacrylate, polypropylene, and polyethylene terephthalate, or a laminated film thereof.

本成形フィルムの一実施形態は、ベースフィルムの両方の面上に、それぞれ導電層と絶縁層をこの順に備える。 In one embodiment of the present molded film, a conductive layer and an insulating layer are provided on both surfaces of the base film in this order, respectively.

本成型フィルムの一実施形態は、絶縁層上に、さらに第二の導電層と第二の絶縁層をこの順に備える。 In one embodiment of the present molded film, a second conductive layer and a second insulating layer are further provided on the insulating layer in this order.

本成型フィルムの一実施形態は、所定の形状に成形された成形フィルムが、絶縁層面と基材表面が接するように、あるいはベースフィルム面と基材表面が接するように基材上に積層され、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に絶縁層で被覆された印刷導電回路を形成された成形体。 In one embodiment of the present molded film, the molded film molded into a predetermined shape is laminated on the base material so that the insulating layer surface and the base material surface are in contact with each other, or the base film surface and the base material surface are in contact with each other. A molded body in which a printed conductive circuit coated with an insulating layer is formed on the surface of a base material having an uneven surface or a three-dimensional curved surface.

本成型フィルムの一実施形態は、基材上に前記成形フィルムを配置する工程と、
オーバーレイ成形法により、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む。
One embodiment of the present molded film includes a step of arranging the molded film on a substrate and a step of arranging the molded film.
A step of integrating the molded film and the base material by an overlay molding method is included.

本成型フィルムの一実施形態は、前記成形フィルムを所定の形状に成形する工程と、成形後の前記成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む。 One embodiment of the present molded film is a step of molding the molded film into a predetermined shape, a step of arranging the molded film after molding in a mold for injection molding, and molding of a base material by injection molding. In addition, the step of integrating the molded film and the base material is included.

本成型フィルムの一実施形態は、前期記載の成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルム中の導電層を基材側に転写する工程とを含む。 In one embodiment of the present molded film, the molding film described in the previous term is placed in a mold for injection molding, the base material is molded by injection molding, and the conductive layer in the molded film is placed on the base material side. Includes transfer steps.

本発明によれば、成形プロセスにおける引張力および高温下での応力ストレスによる導電性の低下が抑制され、かつ成形後も導電パターン間のイオンマイグレーション耐性に優れた成形フィルム、及び、導電性に優れかつ長期間の過酷条件使用でも回路特性を保持可能な成形体及びその製造方法を提供することができる。 According to the present invention, a molding film that suppresses a decrease in conductivity due to tensile force in the molding process and stress stress under high temperature, and has excellent ion migration resistance between conductive patterns even after molding, and excellent conductivity. Moreover, it is possible to provide a molded body capable of maintaining circuit characteristics even when used under harsh conditions for a long period of time, and a method for manufacturing the same.

本実施の成形フィルムの一例を示す、模式的な断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows an example of the molded film of this embodiment. 本実施の成形フィルムの別の一例を示す、模式的な断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows another example of the molded film of this embodiment. 本実施の成形フィルムの別の一例を示す、模式的な断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows another example of the molded film of this embodiment. 本実施の成形フィルムの別の一例を示す、模式的な断面図である。It is a schematic cross-sectional view which shows another example of the molded film of this embodiment. 成形体の第1の製造方法の一例を示す、模式的な工程図である。It is a schematic process diagram which shows an example of the 1st manufacturing method of a molded body. 成形体の第2の製造方法の別の一例を示す、模式的な工程図である。It is a schematic process diagram which shows another example of the 2nd manufacturing method of a molded body. 成形体の第3の製造方法の別の一例を示す、模式的な工程図である。It is a schematic process diagram which shows another example of the 3rd manufacturing method of a molded body.

以下、本実施に係る成形フィルム、成形体及びその製造方法について順に詳細に説明する。
なお本実施において、硬化物とは、化学反応により硬化したもののみならず、例えば溶剤が揮発することにより硬くなったものなど、化学反応によらずに硬化したものを包含する。
Hereinafter, the molded film, the molded body, and the manufacturing method thereof according to the present implementation will be described in detail in order.
In this embodiment, the cured product includes not only a product cured by a chemical reaction but also a product cured by a chemical reaction, for example, a product hardened by volatilization of a solvent.

[成形フィルム]
本実施の成形フィルムは、ベースフィルム上に導電層および絶縁層を備えた成形フィルムであって、
前記導電層が、導電性組成物の硬化物であり、前記絶縁層が、絶縁性組成物の硬化物であることを特徴とする。
本実施の成形フィルムによれば、凹凸面または三次元曲面など任意の基材面に導電回路が形成された成形体を得ることができる。
[Molded film]
The molded film of this embodiment is a molded film having a conductive layer and an insulating layer on the base film.
The conductive layer is a cured product of the conductive composition, and the insulating layer is a cured product of the insulating composition.
According to the molded film of this embodiment, it is possible to obtain a molded body in which a conductive circuit is formed on an arbitrary base material surface such as an uneven surface or a three-dimensional curved surface.

本発明者らは、平坦でない基材表面に適用可能であり、かつプラスチック基材との一体化工程へのプロセス適正を有する成型フィルムを製造するために、スクリーン印刷可能な導電性樹脂組成物および絶縁性樹脂組成物の検討を行った。成型フィルムの製造に適用するために、絶縁性組成物の体積固有抵抗と改質剤成分とを各種調整し検討したところ、特定の改質剤成分を含む絶縁性組成物によって、得られた成型フィルムを、成型可能な高温下で引っ張った時に生じる断線の有無や抵抗値変化の大きさと、導電回路一体形成品を長期間過酷な条件下で通電使用した場合の経時のイオンマイグレーション特性が異なることを見出した。さらに、特定の構造を含む樹脂を用いた導電性樹脂組成物と前述の絶縁性組成物によって得られた成型フィルムでは、より顕著な特性を示すことを見出した。
本発明者らは、このような知見に基づいて検討した結果、体積固有値が低い絶縁層を導電層上に積層した場合、導電回路一体形成品において、平坦なフィルム回路基盤などと比較して、際立って大きなイオンマイグレーションが発生することを確認した。また、導電層上に形成された絶縁層が、改質剤を有さない場合やエステル結合や芳香族構造をもたない改質剤を使用した場合、また、エステル結合や芳香族構造のいずれか一つを有していても、数平均分子量が特定の範囲を満たさなく、かつ1分子中に水酸基を持っておらず、105℃180分における加熱残留分が60%以下となる改質剤を使用した場合、成形フィルムをその軟化点に当たる高温での引っ張りにより変形させた際に導電層の亀裂発生や局所変形がより多く生じることや、絶縁層が導電層へ浸潤する事により導電層の導電性が大きく劣化する事がわかった。さらに、亀裂発生が生じることで導電層近傍に高温高湿下で連続導通した際のイオンマイグレーションによる黒色酸化銀の発生増加と導電パターン間の絶縁抵抗値の低下、ならびにリークタッチ(絶縁破壊)が発生する確率が高くなることが明らかとなった。また、加飾層上に導電層および絶縁層を設ける場合も同様であった。
The present inventors have screen-printable conductive resin compositions and screen-printable conductive resin compositions for producing molded films that are applicable to uneven substrate surfaces and have process suitability for integration steps with plastic substrates. The insulating resin composition was examined. In order to apply it to the production of molded films, various adjustments were made to the volume resistivity of the insulating composition and the modifier component, and the molding was obtained with the insulating composition containing a specific modifier component. The presence or absence of disconnection and the magnitude of change in resistivity value that occur when the film is pulled at a high temperature that can be molded, and the ion migration characteristics over time when the conductive circuit integrated product is energized and used under harsh conditions for a long period of time are different. I found. Furthermore, it has been found that the conductive resin composition using the resin containing a specific structure and the molded film obtained by the above-mentioned insulating composition exhibit more remarkable characteristics.
As a result of studies based on such findings, the present inventors, when an insulating layer having a low volume eigenvalue is laminated on a conductive layer, are compared with a flat film circuit board or the like in a conductive circuit integrated product. It was confirmed that a significantly large ion migration occurred. Further, when the insulating layer formed on the conductive layer does not have a modifier, or when a modifier having no ester bond or aromatic structure is used, or whether the insulating layer has an ester bond or an aromatic structure. Even if it has one, the modifier whose number average molecular weight does not satisfy a specific range, does not have a hydroxyl group in one molecule, and has a heating residue of 60% or less at 105 ° C. for 180 minutes. When is used, when the molded film is deformed by pulling at a high temperature corresponding to its softening point, more cracks and local deformation of the conductive layer occur, and the insulating layer infiltrates into the conductive layer, so that the conductive layer is deformed. It was found that the conductivity was greatly deteriorated. Furthermore, due to the occurrence of cracks, the generation of black silver oxide increases due to ion migration when continuous conduction near the conductive layer under high temperature and high humidity, the insulation resistance value between the conductive patterns decreases, and leakage touch (dielectric breakdown) occurs. It became clear that the probability of occurrence is high. The same applies to the case where the conductive layer and the insulating layer are provided on the decorative layer.

このようなやや体積固有抵抗が低い絶縁層を導電層上に積層した場合や、高温での引っ張りにより変形させた際に導電層の亀裂発生や局所変形、それに伴うイオンマイグレーションがより多く生じるような導電層および絶縁層を有する成形フィルムであっても、それ単体を平坦なフィルム回路基板などとして使用する場合、および二次元曲面上に曲げた状態で使用する場合には問題とならなった。しかしながら平坦でない基材表面の形状、例えば凹凸形状や三次元曲面形状に追従させ一体化させる成形フィルムとして使用する場合には、成形フィルムは変形を伴うことになる。そのため、樹脂フィルムの変形に対し、導電層および絶縁層に対し発生する変形応力が導電層や導電層/絶縁層界面に集中し剥離乃至断線が起こることにより、導電層の導電性が低下しているものと予測される。
なお、本発明における凹凸面や三次元曲面とは、なだらかな曲線断面を有する面のみでなく、鋭角状の角や矩形形状を有する立体面全般を示す。すなわち、平面を伸縮することなく変形させることのみでは、成立させることのできない立体形状を指し、例えば半球状、円錐状、円柱状、四角柱状等の立体形状を指すものである。なお、ある立体形状が、連続した立体面内に先述の平面または二次元曲面と、三次元曲面の両方の要素を有する場合、例えば平面形状に1か所以上の部分的な半球状形状が組み合わされた立体形状に関しては、全体として平面を伸縮することなく変形させることによって成立させることのできない立体形状であることから、これも三次元曲面であるものとする。即ち本発明における凹凸面や三次元曲面は、フレキシブル基板等を折り曲げることでは実現できないものであり、たとえば、成形性フィルムの加熱下での立体成形による賦形などによって実現可能となる形状である。
When such an insulating layer having a slightly low resistivity is laminated on the conductive layer, or when the conductive layer is deformed by pulling at a high temperature, more cracks or local deformation of the conductive layer and accompanying ion migration occur. Even a molded film having a conductive layer and an insulating layer has become a problem when it is used alone as a flat film circuit board or the like, or when it is used in a state of being bent on a two-dimensional curved surface. However, when used as a molded film that follows and integrates the shape of the surface of a non-flat base material, for example, an uneven shape or a three-dimensional curved surface shape, the molded film is accompanied by deformation. Therefore, with respect to the deformation of the resin film, the deformation stress generated on the conductive layer and the insulating layer is concentrated on the conductive layer and the conductive layer / insulating layer interface, causing peeling or disconnection, and the conductivity of the conductive layer is lowered. It is expected that there will be.
The uneven surface and the three-dimensional curved surface in the present invention refer not only to a surface having a gentle curved cross section but also to a general three-dimensional surface having acute-angled corners and a rectangular shape. That is, it refers to a three-dimensional shape that cannot be established only by deforming the plane without expanding and contracting, and refers to a three-dimensional shape such as a hemispherical shape, a conical shape, a columnar shape, or a square columnar shape. When a certain three-dimensional shape has elements of both the above-mentioned plane or two-dimensional curved surface and a three-dimensional curved surface in a continuous three-dimensional surface, for example, one or more partial hemispherical shapes are combined with the plane shape. As for the formed three-dimensional shape, since it is a three-dimensional shape that cannot be established by deforming the plane without expanding and contracting, it is also assumed to be a three-dimensional curved surface. That is, the uneven surface and the three-dimensional curved surface in the present invention cannot be realized by bending a flexible substrate or the like, and are shapes that can be realized by, for example, shaping by three-dimensional molding of a formable film under heating.

本発明者らはこれらの知見に基づいて鋭意検討を行った結果、絶縁層の体積固有抵抗が、1×1010Ω・cm以上1×1017Ω・cm未満である成形フィルムを用いた際に、導電回路一体形成品において、イオンマイグレーションの発生が抑制されることを見出した。また、前記絶縁層を形成する絶縁性樹脂組成物がエステル結合または芳香族構造のうち少なくともいずれか一つを有し、数平均分子量が100~2000であり、水酸基を1分子中に1つ以上有し、105℃180分加熱後における加熱残留分が60%以上100%以下である、改質剤を有する成形フィルムを用いた際に、導電回路一体形成品において、イオンマイグレーションの発生が抑制されることを見出した。また、当該フィルムを用いることで、実用的強度をもつ立体形状プラスチックからなる基材上の凹凸面や曲面などの任意の面に絶縁被覆された導電回路が形成された形成体を得ることができる。 As a result of diligent studies based on these findings, the present inventors have used a molded film having a volume resistivity of 1 × 10 10 Ω · cm or more and less than 1 × 10 17 Ω · cm. It was found that the occurrence of ion migration is suppressed in the conductive circuit integrally formed product. Further, the insulating resin composition forming the insulating layer has at least one of an ester bond and an aromatic structure, has a number average molecular weight of 100 to 2000, and has one or more hydroxyl groups in one molecule. When a molded film having a modifier, which has a residual heating content of 60% or more and 100% or less after heating at 105 ° C. for 180 minutes, is used, the occurrence of ion migration is suppressed in the conductive circuit integrally formed product. I found that. Further, by using the film, it is possible to obtain a formed body in which a conductive circuit having an insulating coating is formed on an arbitrary surface such as an uneven surface or a curved surface on a base material made of a three-dimensional plastic having practical strength. ..

本実施の成形フィルムの層構成について図1及び図2を参照して説明する。図1及び図2は、本実施の成形フィルムの一例を示す、模式的な断面図である。
図1の例に示される成形フィルム10は、ベースフィルム1上に、導電層2を有し、当該導電層2上に絶縁層3を備えている。導電層2は、ベースフィルム1の全面に形成されていてもよく、図1の例のように所望のパターン状に形成されていてもよい。また絶縁層3は、ベースフィルム1および導電層2上の全面に形成されていてもよく、図1の例のように導電層2の一部を被覆するように所望のパターン状に形成されていてもよい。
図2の例に示される成形フィルム10は、ベースフィルム1上に、加飾層3を有し、当該加飾層3上に、導電層2を有し、さらに当該導電層2上に絶縁層3を備えている。また図2の例に示されるように、成形フィルム10は、導電層2上に、電子部品4や、取り出し回路に接続するためのピン5を備えていてもよい。
図3の例に示される成形フィルム10は、ベースフィルム1上に、導電層2を有し、当該導電層2上に絶縁層3を備えている。またベースフィルム1の反対側の面上に第2の導電層7を有し、当該第2の導電層7上に第2の絶縁層8を備えている。第2の導電層7もまた、ベースフィルム1の全面に形成されていてもよく、図1の例のように所望のパターン状に形成されていてもよい。また第2の絶縁層8もまた、ベースフィルム1および第2の導電層7の全面に形成されていてもよく、図3の例のように第2の導電層7の一部を被覆するように所望のパターン状に形成されていてもよい。
図4の例に示される成形フィルム10は、ベースフィルム1上に、導電層2を有し、当該導電層2上に絶縁層3を有し、さらに当該絶縁層3上に第2の導電層7を有し、当該第2の導電層7上に第2の絶縁層8を備えている。この場合の第2の導電層7は、ベースフィルム1および絶縁層3上の全面に形成されていてもよく、図4の例のように導電層2の、絶縁層3に被覆されていない露出部があった場合は、この導電層2と部分的に接触するように所望のパターンに設けられていてもよい。また導電層2といずれの部分も接触していなくても構わない。第2の絶縁層8もまた、ベースフィルム1、導電層2、絶縁層3および第2の導電層7の全面に形成されていてもよく、図4の例のように第2の導電層7の一部を被覆するように所望のパターン状に形成されていてもよい。
また、図示はしないが、本実施の成形フィルム10が加飾層3を備える場合、図2の例のほか、ベースフィルム1の一方の面に加飾層3を有し、他方の面に導電層2を備える層構成であってもよい。
本実施の成形フィルムは、少なくともベースフィルムと、導電層と絶縁層を備えるものであり、必要に応じて他の層を有してもよいものである。以下このような成形フィルムの各層について説明する。
The layer structure of the molded film of this embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. 1 and 2 are schematic cross-sectional views showing an example of the molded film of this embodiment.
The molded film 10 shown in the example of FIG. 1 has a conductive layer 2 on the base film 1 and an insulating layer 3 on the conductive layer 2. The conductive layer 2 may be formed on the entire surface of the base film 1 or may be formed in a desired pattern as in the example of FIG. Further, the insulating layer 3 may be formed on the entire surface of the base film 1 and the conductive layer 2, and is formed in a desired pattern so as to cover a part of the conductive layer 2 as in the example of FIG. You may.
The molded film 10 shown in the example of FIG. 2 has a decorative layer 3 on the base film 1, a conductive layer 2 on the decorative layer 3, and an insulating layer on the conductive layer 2. It is equipped with 3. Further, as shown in the example of FIG. 2, the molded film 10 may include an electronic component 4 and a pin 5 for connecting to a take-out circuit on the conductive layer 2.
The molded film 10 shown in the example of FIG. 3 has a conductive layer 2 on the base film 1 and an insulating layer 3 on the conductive layer 2. Further, the second conductive layer 7 is provided on the opposite surface of the base film 1, and the second insulating layer 8 is provided on the second conductive layer 7. The second conductive layer 7 may also be formed on the entire surface of the base film 1 or may be formed in a desired pattern as in the example of FIG. Further, the second insulating layer 8 may also be formed on the entire surfaces of the base film 1 and the second conductive layer 7, and may cover a part of the second conductive layer 7 as in the example of FIG. It may be formed in a desired pattern.
The molded film 10 shown in the example of FIG. 4 has a conductive layer 2 on the base film 1, an insulating layer 3 on the conductive layer 2, and a second conductive layer on the insulating layer 3. 7 is provided, and a second insulating layer 8 is provided on the second conductive layer 7. In this case, the second conductive layer 7 may be formed on the entire surface of the base film 1 and the insulating layer 3, and is not covered with the insulating layer 3 of the conductive layer 2 as in the example of FIG. If there is a portion, it may be provided in a desired pattern so as to partially contact the conductive layer 2. Further, it is not necessary that any portion of the conductive layer 2 is in contact with the conductive layer 2. The second insulating layer 8 may also be formed on the entire surface of the base film 1, the conductive layer 2, the insulating layer 3, and the second conductive layer 7, and the second conductive layer 7 may be formed as in the example of FIG. It may be formed in a desired pattern so as to cover a part of the above.
Further, although not shown, when the molded film 10 of the present embodiment includes the decorative layer 3, in addition to the example of FIG. 2, the decorative layer 3 is provided on one surface of the base film 1 and the other surface is conductive. It may have a layer structure including the layer 2.
The molded film of this embodiment includes at least a base film, a conductive layer and an insulating layer, and may have other layers if necessary. Hereinafter, each layer of such a molded film will be described.

<ベースフィルム>
本実施においてベースフィルムは、基材形成時の成形温度条件下で基材表面の形状に追従可能な程度の柔軟性および延伸性を有するものの中から適宜選択することができ、成形体の用途や、成形体の製造方法などに応じて選択することが好ましい。
例えば、成形体の製造方法として、後述するオーバーレイ成形法や、フィルムインサート法を採用する場合には、ベースフィルムが成形体に残ることから、導電層の保護層としての機能を有することなどを考慮してベースフィルムを選択することができる。
一方、成形体の製造方法として後述するインモールド転写法などを採用する場合には、剥離性を有するベースフィルムを選択することが好ましい。
<Base film>
In this embodiment, the base film can be appropriately selected from those having flexibility and stretchability that can follow the shape of the surface of the base material under the molding temperature conditions at the time of forming the base material. , It is preferable to select according to the manufacturing method of the molded product and the like.
For example, when an overlay molding method or a film insert method, which will be described later, is adopted as a method for manufacturing a molded body, consideration is given to having a function as a protective layer for a conductive layer because the base film remains in the molded body. You can select the base film.
On the other hand, when an in-mold transfer method or the like, which will be described later, is adopted as a method for producing a molded product, it is preferable to select a base film having peelability.

ベースフィルムは上記の観点から適宜選択することができ、例えば、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリスチレン、ポリイミド、ポリアミド、ポリエーテルスルホン、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリ塩化ビニル、ポリエチレン、ポリプロピレン、シクロオレフィンポリマー、ABS(アクリロニトリル-ブタジエン-スチレン共重合樹脂)、AES(アクリロニトリル-エチレン-スチレン共重合樹脂)、カイダック(アクリル変性塩ビ樹脂)、変性ポリフェニレンエーテル、及びこれら樹脂の2種以上からなるポリマーアロイ等のフィルムや、これらの積層フィルムであってもよい。中でも、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレートより選択されるフィルム、又はこれらの積層フィルムであることが好ましい。積層フィルムとしては、中でも、ポリカーボネートとポリメチルメタクリレートの積層フィルムが好ましい。
ポリカーボネートとポリメチルメタクリレートの積層フィルムの製造方法は、特に限定されず、ポリカーボネートフィルムとポリメチルメタクリレートフィルムとを貼り合わせて積層してもよく、ポリカーボネートとポリメチルメタクリレートとを共押出しにより積層フィルムとしてもよい。
また、これらのベースフィルムの表面がコロナ処理等の改質処理が施されていることも好ましい。
The base film can be appropriately selected from the above viewpoints, for example, polycarbonate, polymethylmethacrylate, polyethylene terephthalate, polystyrene, polyimide, polyamide, polyether sulfone, polyethylene naphthalate, polybutylene terephthalate, polyvinyl chloride, polyethylene, polypropylene. , Cycloolefin polymer, ABS (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer resin), AES (acrylonitrile-ethylene-styrene copolymer resin), Kaidak (acrylic modified vinyl chloride resin), modified polyphenylene ether, and two or more of these resins. A film such as a polymer alloy or a laminated film thereof may be used. Above all, a film selected from polycarbonate, polymethylmethacrylate, polypropylene, polyethylene terephthalate, or a laminated film thereof is preferable. As the laminated film, a laminated film of polycarbonate and polymethylmethacrylate is particularly preferable.
The method for producing the laminated film of polycarbonate and polymethylmethacrylate is not particularly limited, and the polycarbonate film and the polymethylmethacrylate film may be laminated and laminated, or the polycarbonate and polymethylmethacrylate may be co-extruded to form a laminated film. good.
It is also preferable that the surface of these base films is subjected to a modification treatment such as a corona treatment.

また、必要に応じ、導電性組成物の印刷性を向上させるなどの目的で、ベースフィルムにアンカーコート層を設け、当該アンカーコート層上に導電性組成物を印刷してもよい。アンカーコート層は、ベースフィルムとの密着性、更には導電性組成物との密着性が良好で成形時にフィルムに追従するものであれば、特に限定されず、また樹脂ビーズ等の有機フィラーや金属酸化物等の無機フィラーも必要に応じて添加してもよい。アンカーコート層を設ける方法は特に限定されず、従来公知の塗工方法にて塗布、乾燥、硬化して得ることができる。
また更に必要に応じ、成形体表面の傷つき防止のため、ベースフィルムにハードコート層を設け、その反対の面に導電性組成物および必要に応じて加飾層を印刷してもよい。ハードコート層は、ベースフィルムとの密着性、更には表面硬度が良好で成形時にフィルムに追従するものであれば、特に限定されず、また樹脂ビーズ等の有機フィラーや金属酸化物等の無機フィラーも必要に応じて添加してもよい。ハードコート層を設ける方法は特に限定されず、従来公知の塗工方法にて塗布、乾燥、硬化して得ることができる。
Further, if necessary, an anchor coat layer may be provided on the base film for the purpose of improving the printability of the conductive composition, and the conductive composition may be printed on the anchor coat layer. The anchor coat layer is not particularly limited as long as it has good adhesion to the base film and further adheres to the conductive composition and follows the film at the time of molding, and is not particularly limited, and is an organic filler such as resin beads or a metal. Inorganic fillers such as oxides may also be added as needed. The method of providing the anchor coat layer is not particularly limited, and it can be obtained by coating, drying and curing by a conventionally known coating method.
Further, if necessary, in order to prevent the surface of the molded product from being scratched, a hard coat layer may be provided on the base film, and the conductive composition and, if necessary, a decorative layer may be printed on the opposite surface. The hard coat layer is not particularly limited as long as it has good adhesion to the base film and has good surface hardness and follows the film during molding, and is not particularly limited as long as it is an organic filler such as resin beads or an inorganic filler such as a metal oxide. May be added as needed. The method of providing the hard coat layer is not particularly limited, and it can be obtained by coating, drying and curing by a conventionally known coating method.

また本実施の成形フィルムが加飾層を有する場合には、透明性を有するベースフィルムを選択することが好ましい。 When the molded film of the present embodiment has a decorative layer, it is preferable to select a transparent base film.

ベースフィルムの厚みは特に限定されないが、例えば、10μm以上500μm以下とすることができ、20μm以上450μm以下が好ましい。 The thickness of the base film is not particularly limited, but can be, for example, 10 μm or more and 500 μm or less, preferably 20 μm or more and 450 μm or less.

<導電層>
本実施の成形フィルムにおいて導電層は、後述する導電性樹脂組成物の硬化物である。
導電層の形成方法は特に限定されないが、本実施においては、スクリーン印刷法、パッド印刷法、ステンシル印刷法、スクリーンオフセット印刷法、ディスペンサー印刷法、グラビアオフセット印刷法、反転オフセット印刷法、マイクロコンタクト印刷法により形成することが好ましく、スクリーン印刷法により形成することがより好ましい。
スクリーン印刷法においては、導電回路パターンの高精細化に対応すべく微細なメッシュ、特に好ましくは300~650メッシュ程度の微細なメッシュのスクリーンを用いることが好ましい。この時のスクリーンの開放面積は約20~50%が好ましい。スクリーン線径は約10~70μmが好ましい。
スクリーン版の種類としては、ポリエステルスクリーン、コンビネーションスクリーン、メタルスクリーン、ナイロンスクリーン等が挙げられる。また、高粘度なペースト状態のものを印刷する場合は、高張力ステンレススクリーンを使用することができる。
スクリーン印刷のスキージは丸形、長方形、正方形いずれの形状であってもよく、またアタック角度(印刷時の版とスキージの角度)を小さくするために研磨スキージも使用することができる。その他の印刷条件等は従来公知の条件を適宜設計すればよい。
<Conductive layer>
In the molded film of this embodiment, the conductive layer is a cured product of the conductive resin composition described later.
The method for forming the conductive layer is not particularly limited, but in this embodiment, a screen printing method, a pad printing method, a stencil printing method, a screen offset printing method, a dispenser printing method, a gravure offset printing method, a reverse offset printing method, and a microcontact printing method are used. It is preferably formed by a method, and more preferably formed by a screen printing method.
In the screen printing method, it is preferable to use a fine mesh, particularly preferably a screen having a fine mesh of about 300 to 650 mesh, in order to cope with high definition of the conductive circuit pattern. The open area of the screen at this time is preferably about 20 to 50%. The screen wire diameter is preferably about 10 to 70 μm.
Examples of the screen version include polyester screens, combination screens, metal screens, nylon screens and the like. Further, when printing a high-viscosity paste state, a high-strength stainless steel screen can be used.
The screen-printed squeegee may have a round, rectangular or square shape, and a polished squeegee can also be used to reduce the attack angle (the angle between the plate and the squeegee at the time of printing). For other printing conditions and the like, conventionally known conditions may be appropriately designed.

導電性組成物をスクリーン印刷により印刷後、加熱して乾燥および架橋反応を行い硬化する。
溶剤の十分な揮発および架橋反応のために、加熱温度は80~230℃、加熱時間としては10~120分とすることが好ましい。これにより、パターン状の導電層を得ることができる。
After printing the conductive composition by screen printing, it is heated to dry and crosslink to be cured.
For sufficient volatilization and cross-linking reaction of the solvent, the heating temperature is preferably 80 to 230 ° C. and the heating time is preferably 10 to 120 minutes. Thereby, a patterned conductive layer can be obtained.

導電層の膜厚は、求められる導電性等に応じて適宜調整すればよく、特に限定されないが、例えば、0.5μm以上20μm以下とすることができ、1μm以上15μm以下とすることが好ましい。 The film thickness of the conductive layer may be appropriately adjusted according to the required conductivity and the like, and is not particularly limited, but may be, for example, 0.5 μm or more and 20 μm or less, and preferably 1 μm or more and 15 μm or less.

[導電性樹脂組成物]
本実施の成形フィルムに用いられる導電性樹脂組成物は、樹脂(A1)と、溶剤(B1)と、導電性粒子(D)と、を含有するものであり、必要に応じて更に架橋剤(C1)及び他の成分を含有してもよい。
以下このような成形フィルム用導電性組成物の各成分について説明する。
[Conductive resin composition]
The conductive resin composition used in the molded film of the present embodiment contains a resin (A1), a solvent (B1), and conductive particles (D), and if necessary, further a cross-linking agent ( It may contain C1) and other components.
Hereinafter, each component of such a conductive composition for a molded film will be described.

<樹脂(A1)>
本実施の導電性組成物は、成膜性や、ベースフィルム乃至加飾層への密着性を付与するために、バインダー性の樹脂(A1)を含有する。また、本実施においては、樹脂(A1)を含有することにより、導電層に柔軟性を付与することができる。そのため、樹脂(A1)を含有することにより延伸に対する導電層の断線が抑制される。
<Resin (A1)>
The conductive composition of this embodiment contains a binder resin (A1) in order to impart film forming property and adhesion to the base film or the decorative layer. Further, in this embodiment, the conductive layer can be imparted with flexibility by containing the resin (A1). Therefore, by containing the resin (A1), disconnection of the conductive layer due to stretching is suppressed.

前記樹脂(A1)は、導電性組成物用途に用いられる樹脂の中から適宜選択して用いることができる。
樹脂(A1)としては、例えば、アクリル系樹脂、ビニルエーテル樹脂、ポリエーテル系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、エポキシ樹脂、フェノキシ系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂、ポリオレフィン樹脂、スチレン系ブロック共重合樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリイミド系樹脂などが挙げられ、1種単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
The resin (A1) can be appropriately selected and used from the resins used for the conductive composition application.
Examples of the resin (A1) include acrylic resin, vinyl ether resin, polyether resin, polyester resin, polyurethane resin, epoxy resin, phenoxy resin, polycarbonate resin, polyvinyl chloride resin, polyolefin resin, and styrene. Examples thereof include a block copolymer resin, a polyamide resin, and a polyimide resin, and one type can be used alone or two or more types can be used in combination.

本実施において樹脂(A1)は、主鎖中に芳香族構造を含む樹脂であることが好ましい。芳香族構造を有することで、絶縁性組成物からの過度な溶剤浸潤をおさえるのみならず、改質剤を含む絶縁層との界面での親和性が向上することで、より高温条件下における熱延伸形成時の亀裂発生を抑え、導電性の低下を抑制できるため好ましい。 In this embodiment, the resin (A1) is preferably a resin containing an aromatic structure in the main chain. Having an aromatic structure not only suppresses excessive solvent infiltration from the insulating composition, but also improves the affinity at the interface with the insulating layer containing the modifier, thereby heat under higher temperature conditions. It is preferable because it can suppress the generation of cracks during stretching formation and suppress the decrease in conductivity.

さらに本実施において樹脂(A1)は、エステル結合、およびアミド結合からなる群より選ばれる結合を主鎖に含む樹脂であることがより好ましい。この場合、上述の導電層への溶剤浸潤を防ぐことに加え、改質剤を含む絶縁層との親和性がより優れるため、高温条件下における熱延伸形成時の亀裂発生を抑え、導電性の低下をさらに抑制でき、製造された成形体のイオンマイグレーション耐性が優れるため、より好ましい。 Further, in this embodiment, the resin (A1) is more preferably a resin having a bond selected from the group consisting of an ester bond and an amide bond in the main chain. In this case, in addition to preventing solvent infiltration into the above-mentioned conductive layer, the affinity with the insulating layer containing a modifier is more excellent, so that crack generation during thermal stretching formation under high temperature conditions is suppressed, and the conductivity is high. It is more preferable because the decrease can be further suppressed and the produced molded product has excellent ion migration resistance.

本実施において樹脂(A1)は、架橋性官能基を有していてもよい。架橋性官能基とは、ヒドロキシ基、アミノ基、カルボキシル基、酸無水物基より選択される置換基であり、1分子中に1つあるいは2つ以上含んでもよい。これらの架橋性官能基は必要に応じて後述する架橋剤(C1)と組み合わせることにより樹脂(A1)を3次元架橋することができ、導電層に硬度が求められる用途において好適に用いることができる。さらに、後述する架橋剤(C2)や改質剤(E)と組み合わせることにより、樹脂(A1)が含まれる導電層と絶縁層の界面が3次元架橋されることで、導電層の界面応力を低下させることができ、熱延伸時の応力緩和および亀裂やボイドの発生を抑えることができる。 In this embodiment, the resin (A1) may have a crosslinkable functional group. The crosslinkable functional group is a substituent selected from a hydroxy group, an amino group, a carboxyl group and an acid anhydride group, and may contain one or two or more in one molecule. These crosslinkable functional groups can crosslink the resin (A1) three-dimensionally by combining with a crosslinking agent (C1) described later, if necessary, and can be suitably used in applications where hardness is required for the conductive layer. .. Further, by combining with a cross-linking agent (C2) and a modifier (E) described later, the interface between the conductive layer containing the resin (A1) and the insulating layer is three-dimensionally cross-linked to reduce the interfacial stress of the conductive layer. It can be reduced, and stress relaxation during thermal stretching and generation of cracks and voids can be suppressed.

本実施において樹脂(A1)は、後述の実施例、その他公知の方法により合成して用いてもよく、また、所望の物性を有する市販品を用いてもよい。本実施において樹脂(A1)は1種単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。 In this embodiment, the resin (A1) may be synthesized and used by the following examples or other known methods, or a commercially available product having desired physical properties may be used. In this embodiment, the resin (A1) can be used alone or in combination of two or more.

本実施の導電性組成物中の樹脂(A1)の含有割合は、用途等に応じて適宜調整すればよく特に限定されないが、導電性組成物に含まれる固形分全量に対し、5質量%以上50質量%以下であることが好ましく、10質量%以上40質量%以下であることがより好ましい。樹脂(A1)の含有割合が上記下限値以上であれば、成膜性や、ベースフィルム等への密着性向上し、また、導電層に柔軟性を付与することができる。また、樹脂(A1)の含有割合が上記上限値以下であれば、相対的に導電性微粒子(D)の含有割合を高めることができ、導電性に優れた導電層を形成することができる。 The content ratio of the resin (A1) in the conductive composition of this embodiment may be appropriately adjusted according to the intended use and is not particularly limited, but is 5% by mass or more with respect to the total amount of solid content contained in the conductive composition. It is preferably 50% by mass or less, and more preferably 10% by mass or more and 40% by mass or less. When the content ratio of the resin (A1) is at least the above lower limit value, the film forming property and the adhesion to the base film and the like can be improved, and the conductive layer can be imparted with flexibility. Further, when the content ratio of the resin (A1) is not more than the above upper limit value, the content ratio of the conductive fine particles (D) can be relatively increased, and a conductive layer having excellent conductivity can be formed.

<溶剤(B1)>
溶剤(B1)としては特に限定されないが、連続スクリーン印刷性の観点から沸点180℃以上270℃以下であることが好ましい。溶剤としては、例えば、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、ブチルアセテート、ガンマブチロラクトン、イソホロン、テトラリンなどが挙げられるが、これらに限定されず用いることができる。本実施において溶剤(B1)は1種単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
<Solvent (B1)>
The solvent (B1) is not particularly limited, but the boiling point is preferably 180 ° C. or higher and 270 ° C. or lower from the viewpoint of continuous screen printability. Examples of the solvent include, but are not limited to, diethylene glycol monoethyl ether acetate, diethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monobutyl ether acetate, dipropylene glycol monomethyl ether acetate, butyl acetate, gamma butyrolactone, isophorone, and tetralin. Can be done. In this embodiment, the solvent (B1) can be used alone or in combination of two or more.

<導電性微粒子(D)>
導電性微粒子(D)は、導電層内で複数の導電性微粒子が接触して導電性を発現するものであり、本実施においては、高温で加熱することなく導電性が得られるものの中から適宜選択して用いられる。
本実施に用いられる導電性微粒子としては、金属微粒子、カーボン微粒子、導電性酸化物微粒子などが挙げられる。
金属微粒子としては、例えば、金、銀、銅、ニッケル、クロム、パラジウム、ロジウム、ルテニウム、インジウム、アルミニウム、タングステン、モルブテン、白金等の金属単体粉のほか、銅-ニッケル合金、銀-パラジウム合金、銅-スズ合金、銀-銅合金、銅-マンガン合金などの合金粉、前記金属単体粉または合金粉の表面を、銀などで被覆した金属コート粉などが挙げられる。また、カーボン微粒子としては、カーボンブラック、グラファイト、カーボンナノチューブなどが挙げられる。また、導電性酸化物微粒子としては、酸化銀、酸化インジウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化ルテニウムなどが挙げられる。
<Conductive fine particles (D)>
The conductive fine particles (D) are those in which a plurality of conductive fine particles come into contact with each other in the conductive layer to develop conductivity. Selected and used.
Examples of the conductive fine particles used in this embodiment include metal fine particles, carbon fine particles, and conductive oxide fine particles.
Examples of the metal fine particles include single metal powders such as gold, silver, copper, nickel, chromium, palladium, rhodium, ruthenium, indium, aluminum, tungsten, morphten, and platinum, as well as copper-nickel alloys and silver-palladium alloys. Examples thereof include alloy powders such as copper-tin alloys, silver-copper alloys, and copper-manganese alloys, and metal-coated powders obtained by coating the surface of the metal single powder or the alloy powder with silver or the like. Examples of carbon fine particles include carbon black, graphite, and carbon nanotubes. Examples of the conductive oxide fine particles include silver oxide, indium oxide, tin oxide, zinc oxide, ruthenium oxide and the like.

本実施においては、中でも、銀粉、銅粉、銀コート粉、銅合金粉、導電性酸化物粉、およびカーボン微粒子より選択される1種以上の導電性微粒子を含むことが好ましい。これらの導電性微粒子(D)を用いることにより、焼結することなく、導電性に優れた導電層を形成することができ、さらに後述する成形フィルムとして立体形状に成形した際の延伸性や導電性の保持性能に優れた導電層を形成することができる。 In this embodiment, it is preferable to include one or more conductive fine particles selected from silver powder, copper powder, silver-coated powder, copper alloy powder, conductive oxide powder, and carbon fine particles. By using these conductive fine particles (D), it is possible to form a conductive layer having excellent conductivity without sintering, and further, stretchability and conductivity when molded into a three-dimensional shape as a molding film described later. It is possible to form a conductive layer having excellent property retention performance.

導電性微粒子(D)の形状は、特に限定されないが、フレーク状または連鎖凝集状であることが好ましい。フレーク状の場合は2次元平面状の扁平形状であれば特に限定されない。なお本発明における「フレーク状」とは、鱗片状、鱗状、板状、扁平状、シート状等と呼称される2次元平面状の扁平形状全般を指す。中でも、印刷性の保持と成形引張時の導電性維持および、プラスチック基材との一体化工程における高温下での基材プラスチックとの摩擦応力ストレス耐性の観点から、アスペクト比が3以上500以下のものが特に好ましい。また連鎖凝集状の場合は、微細な球状粒子が互いに結着した不定形状であれば特に限定しない。なお本発明における「連鎖凝集状」とは、結着球状、連鎖球状、凝集状などと呼称される球状粒子が決着してできた不定形状全般を指す。連鎖凝集状であることも、印刷性の保持と成形引張時の導電性維持および、プラスチック基材との一体化工程における高温下での高温下での基材プラスチックとの摩擦応力ストレス耐性の観点から特に好ましい。 The shape of the conductive fine particles (D) is not particularly limited, but is preferably flake-shaped or chain-aggregated. In the case of a flake shape, the shape is not particularly limited as long as it is a flat shape having a two-dimensional plane shape. The "flake-like" in the present invention refers to a general flat shape of a two-dimensional plane called a scale-like, a scale-like, a plate-like, a flat-like, a sheet-like, or the like. Above all, the aspect ratio is 3 or more and 500 or less from the viewpoint of maintaining printability, maintaining conductivity during molding tension, and friction stress stress resistance with the base plastic at high temperature in the process of integrating with the plastic base material. Those are particularly preferable. Further, in the case of chain aggregation, it is not particularly limited as long as it has an indefinite shape in which fine spherical particles are bound to each other. The term "chain-aggregated" in the present invention refers to all indefinite shapes formed by the settlement of spherical particles called bound spheres, chained spheres, agglomerated particles, and the like. The chain-aggregated form also maintains printability, maintains conductivity during molding tension, and is resistant to frictional stress and stress with the base plastic at high temperatures in the process of integrating with the plastic base material. Is particularly preferable.

導電性微粒子の平均粒子径は、特に限定されないが、導電性組成物中での分散性や印刷性の保持、成形時の導電性維持および、溶融樹脂による射出成型プロセス耐性または成形済樹脂へ高温引張耐性の観点から、0.5μm以上30μm以下が好ましく、1μm以上15μm以下がより好ましい。
なお本実施において導電性微粒子(D)の平均粒子径は以下のように算出する。JISM8511(2014)記載のレーザ回折・散乱法に準拠し、レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置(日機装株式会社製:マイクロトラック9220FRA)を用い、分散剤として市販の界面活性剤ポリオキシエチレンオクチルフェニルエーテル(ロシュ・ダイアグノスティックス株式会社製:トリトンX-100)を0.5体積%含有する水溶液に導電性微粒子(D)を適量投入し、撹拌しながら40Wの超音波を180秒照射した後、測定を行った。求められたメディアン径(D50)の値を導電性微粒子(D)の平均粒径とした。
The average particle size of the conductive fine particles is not particularly limited, but the dispersibility and printability in the conductive composition are maintained, the conductivity is maintained during molding, and the injection molding process resistance by the molten resin or the high temperature to the molded resin is obtained. From the viewpoint of tensile resistance, 0.5 μm or more and 30 μm or less are preferable, and 1 μm or more and 15 μm or less are more preferable.
In this implementation, the average particle size of the conductive fine particles (D) is calculated as follows. Based on the laser diffraction / scattering method described in JISM8511 (2014), a commercially available surfactant polyoxyethylene octylphenyl is used as a dispersant using a laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device (Microtrac 9220FRA manufactured by Nikkiso Co., Ltd.). An appropriate amount of conductive fine particles (D) was added to an aqueous solution containing 0.5% by volume of ether (manufactured by Roche Diffractives Co., Ltd .: Triton X-100), and 40 W ultrasonic waves were irradiated for 180 seconds while stirring. After that, the measurement was performed. The value of the obtained median diameter (D50) was taken as the average particle size of the conductive fine particles (D).

本実施において導電性微粒子(D)は、1種単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
本実施の導電性組成物中の導電性微粒子(D)の含有割合は、用途等に応じて適宜調整すればよく特に限定されないが、導電性組成物に含まれる固形分全量に対し、50質量%以上85質量%以下であることが好ましく、55質量%以上80質量%以下であることが好ましい。導電性微粒子(D)の含有割合が上記下限値以上であれば、導電性に優れた導電層を形成することができる。また、導電性微粒子(D)の含有割合が上記上限値以下であれば、樹脂(A1)の含有割合を高めることができ、成膜性や、ベースフィルム等への密着性が向上し、また、導電層に柔軟性を付与することができる。
In this embodiment, the conductive fine particles (D) can be used alone or in combination of two or more.
The content ratio of the conductive fine particles (D) in the conductive composition of this embodiment may be appropriately adjusted according to the intended use and is not particularly limited, but is 50 mass by mass with respect to the total amount of solid content contained in the conductive composition. % Or more and preferably 85% by mass or less, and preferably 55% by mass or more and 80% by mass or less. When the content ratio of the conductive fine particles (D) is at least the above lower limit value, a conductive layer having excellent conductivity can be formed. Further, when the content ratio of the conductive fine particles (D) is not more than the above upper limit value, the content ratio of the resin (A1) can be increased, the film forming property and the adhesion to the base film or the like are improved, and also. , Flexibility can be imparted to the conductive layer.

<任意成分>
本発明の導電性組成物は、必要に応じてさらに他の成分を含有してもよい。このような他の成分としては、架橋剤(C1)のほか、分散剤、耐摩擦向上剤、赤外線吸収剤、紫外線吸収剤、芳香剤、酸化防止剤、有機顔料、無機顔料、消泡剤、シランカップリング剤、可塑剤、難燃剤、保湿剤等が挙げられる。
<Arbitrary ingredient>
The conductive composition of the present invention may further contain other components, if necessary. In addition to the cross-linking agent (C1), such other components include dispersants, friction improvers, infrared absorbers, ultraviolet absorbers, fragrances, antioxidants, organic pigments, inorganic pigments, defoamers, and the like. Examples thereof include a silane coupling agent, a plasticizer, a flame retardant, and a moisturizing agent.

<架橋剤(C1)>
本実施において前記樹脂(A1)を架橋するために架橋剤(C1)を、任意成分として追加で用いてもよい。架橋剤(C1)としては、前記樹脂(A1)が有する反応性官能基と架橋形成しうる反応性官能基を1分子中に2つ以上有するものの中から適宜選択して用いることができる。このような反応性官能基としては、たとえば、エポキシ基、イソシアネート基、ブロック化イソシアネート基、アルキルオキシアミノ基、アジリジニル基、オキセタニル基、カルボジイミド基、β-ヒドロキシアルキルアミド基などが挙げられる。
<Crosslinking agent (C1)>
In this embodiment, a cross-linking agent (C1) may be additionally used as an optional component for cross-linking the resin (A1). The cross-linking agent (C1) can be appropriately selected from those having two or more reactive functional groups in one molecule that can form cross-links with the reactive functional groups of the resin (A1). Examples of such a reactive functional group include an epoxy group, an isocyanate group, a blocked isocyanate group, an alkyloxyamino group, an aziridinyl group, an oxetanyl group, a carbodiimide group, a β-hydroxyalkylamide group and the like.

<導電性組成物の製造方法>
本実施の導電性組成物の製造方法は、前記樹脂(A1)と、導電性微粒子(D)と、溶剤(B1)と、必要により用いられる架橋剤(C1)およびその他の成分とを、溶解乃至分散する方法であればよく、公知の混合手段により混合することにより製造することができる。
<Manufacturing method of conductive composition>
In the method for producing a conductive composition of this embodiment, the resin (A1), the conductive fine particles (D), the solvent (B1), the cross-linking agent (C1) used as necessary, and other components are dissolved. Any method may be used, and it can be produced by mixing with a known mixing means.

[絶縁層]
本実施の成形フィルムにおいて絶縁層は、後述する絶縁性樹脂組成物の硬化物であり、体積抵抗値は、1×1010Ω・cm以上1×1017Ω・cm未満である。
絶縁層により導電層を被覆することによって、製造プロセス中の導電層への摩擦ダメージ等を防ぐことができる。また高温下での基材プラスチックとの摩擦応力ストレスが導電層に直接加わることを防ぐ、耐熱応力保護層としての役割も発揮する。さらに導電層パターン間の長期連続通電時の絶縁性確保が可能となり、これは、絶縁性組成物が通常微細な凹凸の存在する導電層を確実に隅々まで浸透し封止するとともに、絶縁層が樹脂成型体成形体との接着層としても働くことで、外部からの水分や硫黄化合物その他の腐蝕性ガスをより確実に遮断することが可能なためである。また、外部からの衝撃等に対し、成型フィルムの樹脂成型体基材との物理的な剥離を抑制することも可能になる。
絶縁層の形成方法は特に限定されないが、本実施においては、スクリーン印刷法、パッド印刷法、ステンシル印刷法、スクリーンオフセット印刷法、ディスペンサー印刷法、グラビアオフセット印刷法、反転オフセット印刷法、マイクロコンタクト印刷法により形成することが好ましく、スクリーン印刷法により形成することがより好ましい。
スクリーン印刷法においては、導電回路パターンを外部から確実に絶縁し、かつある程度のパターニング精度も確保できるように、特定範囲のメッシュ、特に好ましくは120~400メッシュ程度のメッシュのスクリーンを用いることが好ましい。この時のスクリーンの開放面積は約20~50%が好ましい。スクリーン線径は約10~70μmが好ましい。
スクリーン版の種類としては、ポリエステルスクリーン、コンビネーションスクリーン、メタルスクリーン、ナイロンスクリーン等が挙げられる。また、高粘度なペースト状態のものを印刷する場合は、高張力ステンレススクリーンを使用することができる。
スクリーン印刷のスキージは丸形、長方形、正方形いずれの形状であってもよく、またアタック角度(印刷時の版とスキージの角度)を小さくするために研磨スキージも使用することができる。その他の印刷条件等は従来公知の条件を適宜設計すればよい。
[Insulation layer]
In the molded film of this embodiment, the insulating layer is a cured product of the insulating resin composition described later, and the volume resistance value is 1 × 10 10 Ω · cm or more and less than 1 × 10 17 Ω · cm.
By covering the conductive layer with the insulating layer, it is possible to prevent frictional damage to the conductive layer during the manufacturing process. It also serves as a heat-resistant stress protection layer that prevents frictional stress stress from the base plastic at high temperatures from being directly applied to the conductive layer. Further, it is possible to secure the insulating property during long-term continuous energization between the conductive layer patterns, which means that the insulating composition surely permeates and seals the conductive layer having fine irregularities to every corner and seals the insulating layer. This is because, by acting as an adhesive layer with the resin molded body, it is possible to more reliably block moisture, sulfur compounds and other corrosive gases from the outside. In addition, it is possible to suppress the physical peeling of the molded film from the resin molded body base material against an impact from the outside.
The method for forming the insulating layer is not particularly limited, but in this embodiment, a screen printing method, a pad printing method, a stencil printing method, a screen offset printing method, a dispenser printing method, a gravure offset printing method, a reverse offset printing method, and a microcontact printing method are used. It is preferably formed by a method, and more preferably formed by a screen printing method.
In the screen printing method, it is preferable to use a screen having a specific range of mesh, particularly preferably about 120 to 400 mesh, so that the conductive circuit pattern can be reliably insulated from the outside and a certain degree of patterning accuracy can be ensured. .. The open area of the screen at this time is preferably about 20 to 50%. The screen wire diameter is preferably about 10 to 70 μm.
Examples of the screen version include polyester screens, combination screens, metal screens, nylon screens and the like. Further, when printing a high-viscosity paste state, a high-strength stainless steel screen can be used.
The screen-printed squeegee may have a round, rectangular or square shape, and a polished squeegee can also be used to reduce the attack angle (the angle between the plate and the squeegee at the time of printing). For other printing conditions and the like, conventionally known conditions may be appropriately designed.

本実施の成形フィルムに用いる絶縁層は、絶縁性組成物をスクリーン印刷により印刷後、加熱して乾燥および架橋反応を行い硬化する。
溶剤の十分な揮発および架橋反応のために、加熱温度は80~230℃、加熱時間としては10~120分とすることが好ましい。これにより、パターン状の絶縁層を得ることができる。パターン状絶縁層は、導電パターンの全面を被覆してもよいが、導電パターンを回路として使用する際に外部機器との接続が取れるように露出した導電パターン面を残しながら、導電パターンの一部を被覆するように絶縁層を設けてもよい。
The insulating layer used for the molded film of the present embodiment is cured by printing the insulating composition by screen printing, heating it, drying it, and performing a cross-linking reaction.
For sufficient volatilization and cross-linking reaction of the solvent, the heating temperature is preferably 80 to 230 ° C. and the heating time is preferably 10 to 120 minutes. Thereby, a patterned insulating layer can be obtained. The patterned insulating layer may cover the entire surface of the conductive pattern, but is a part of the conductive pattern while leaving an exposed conductive pattern surface so that it can be connected to an external device when the conductive pattern is used as a circuit. An insulating layer may be provided so as to cover the above.

絶縁層の膜厚は、求められる絶縁性等に応じて適宜調整すればよく、特に限定されないが、例えば、5μm以上50μm以下とすることができ、8μm以上30μm以下とすることが好ましい。 The film thickness of the insulating layer may be appropriately adjusted according to the required insulating property and the like, and is not particularly limited, but may be, for example, 5 μm or more and 50 μm or less, and preferably 8 μm or more and 30 μm or less.

[絶縁性樹脂組成物]
本実施の成形フィルムに用いられる絶縁性樹脂組成物は、樹脂(A2)と、溶剤(B2)と、改質剤(E)と、を含有するものであり、必要に応じてさらに架橋剤(C2)及び他の成分を含有してもよいものである。
以下このような成形フィルム用絶縁性組成物の各成分について説明する。
[Insulating resin composition]
The insulating resin composition used in the molded film of the present embodiment contains a resin (A2), a solvent (B2), and a modifier (E), and further contains a cross-linking agent (E) as necessary. It may contain C2) and other components.
Hereinafter, each component of such an insulating composition for a molded film will be described.

<樹脂(A2)>
本実施の絶縁性組成物は、成膜性や絶縁性の確保、並びに導電層およびベースフィルム乃至加飾層への密着性を付与するために、バインダー性の樹脂(A2)を含有する。
また、本実施においては、樹脂(A2)を含有することにより、絶縁層が導電層を被覆した際に絶縁層に柔軟強靭性に基づく力学的なクッション性能を付与することができる。そのため、樹脂(A2)を含有することにより延伸に対する絶縁層の断裂のみでなく、導電層の断線も抑制される。
なお、樹脂(A2)は、後述する改質剤(E)を除くものとする。
<Resin (A2)>
The insulating composition of this embodiment contains a binder resin (A2) in order to ensure film forming property and insulating property, and to impart adhesion to the conductive layer and the base film or the decorative layer.
Further, in this embodiment, by containing the resin (A2), it is possible to impart mechanical cushioning performance based on flexibility and toughness to the insulating layer when the insulating layer covers the conductive layer. Therefore, by containing the resin (A2), not only the breakage of the insulating layer due to stretching but also the breakage of the conductive layer is suppressed.
The resin (A2) does not include the modifier (E) described later.

前記樹脂(A2)は、絶縁性組成物用途に用いられる樹脂の中から、適宜選択して用いることができる。
樹脂(A2)としては、例えば、アクリル系樹脂、ビニルエーテル樹脂、ポリエーテル系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、エポキシ樹脂、フェノキシ系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリオレフィン樹脂、スチレン系ブロック共重合樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリイミド系樹脂などが挙げられ、1種単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
The resin (A2) can be appropriately selected and used from the resins used for the use of the insulating composition.
Examples of the resin (A2) include acrylic resin, vinyl ether resin, polyether resin, polyester resin, polyurethane resin, epoxy resin, phenoxy resin, polycarbonate resin, polyolefin resin, and styrene block copolymer resin. Examples thereof include polyamide-based resins and polyimide-based resins, and one type can be used alone or two or more types can be used in combination.

本実施において前記樹脂(A2)は、ハロゲン元素を構造中に有さないか、含有率が極めて低いものが好ましい。ハロゲン元素を構造中に有さないことで、導電層と積層して使用した際に、過酷条件下でのイオンマイグレーション耐性がさらに優れる点で好適である。さらに本実施において前記樹脂(A2)は、繰返し構造中にエステル結合を含む、重量平均分子量5,000~200,000の樹脂であることが特に好ましい。繰返し構造中にエステル結合を含む、重量平均分子量5,000~200,000の樹脂であることにより、絶縁層が成型フィルムと導電層の導電性微粒子表面の双方に効率よく濡れ広がり強力に接着するとともに、高温条件下における適度な弾力性を発現することで、熱成形時の伸長からの導電層の保護特性と成型体となった後の導電パターン間のイオンマイグレーション耐性をも高いレベルで両立可能となる。 In this embodiment, the resin (A2) preferably has no halogen element in its structure or has an extremely low content. Since the halogen element is not present in the structure, it is preferable in that the ion migration resistance under harsh conditions is further excellent when used in a laminated manner with the conductive layer. Further, in this embodiment, the resin (A2) is particularly preferably a resin having a weight average molecular weight of 5,000 to 200,000, which contains an ester bond in the repeating structure. The resin having a weight average molecular weight of 5,000 to 200,000 containing an ester bond in the repeating structure allows the insulating layer to efficiently wet and spread on both the molded film and the surface of the conductive fine particles of the conductive layer and adhere strongly. At the same time, by exhibiting appropriate elasticity under high temperature conditions, it is possible to achieve both the protection property of the conductive layer from elongation during thermal molding and the ion migration resistance between the conductive patterns after forming the molded body at a high level. Will be.

本実施において樹脂(A2)は、任意の架橋性官能基、特にヒドロキシ基、アミノ基、カルボキシル基および酸無水物基より選択される官能基を1分子中に2つ以上有してもよい。これらの中でも、後述する改質剤(E)や架橋剤(C2)との反応性の観点から、ヒドロキシ基およびアミノ基が好ましい。前記架橋性官能基を用いることで、溶媒を十分に揮発させ、脱離基によるボイドの発生を抑えつつ、低温で架橋することができる。また、改質剤(E)と、架橋剤(C2)と、を組み合わせることで樹脂(A2)を3次元架橋することができ、硬度が要求される用途に好適に用いることができる。さらに、架橋により前記の絶縁層が導電層を被覆した際に絶縁層に柔軟強靭性に基づく力学的なクッション性能を強化するとともに、絶縁層自体の熱成形時の伸張性をも高いレベルでバランスよく両立することが可能であることから、さらに好適に用いることができる。 In this embodiment, the resin (A2) may have two or more functional groups selected from any crosslinkable functional group, particularly a hydroxy group, an amino group, a carboxyl group and an acid anhydride group. Among these, hydroxy groups and amino groups are preferable from the viewpoint of reactivity with the modifier (E) and the cross-linking agent (C2) described later. By using the crosslinkable functional group, the solvent can be sufficiently volatilized, and the crosslink can be carried out at a low temperature while suppressing the generation of voids due to the leaving group. Further, the resin (A2) can be three-dimensionally crosslinked by combining the modifier (E) and the crosslinking agent (C2), and can be suitably used for applications requiring hardness. Furthermore, when the insulating layer covers the conductive layer by cross-linking, the insulating layer is enhanced with mechanical cushioning performance based on flexibility and toughness, and the extensibility of the insulating layer itself during thermoforming is also balanced at a high level. Since it is possible to achieve both, it can be used more preferably.

本実施において樹脂(A2)は、後述の実施例、その他公知の方法により合成して用いてもよく、また、所望の物性を有する市販品を用いてもよい。本実施において樹脂(A2)は1種単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。 In this embodiment, the resin (A2) may be synthesized and used by the following examples or other known methods, or a commercially available product having desired physical properties may be used. In this embodiment, the resin (A2) can be used alone or in combination of two or more.

本実施の絶縁性組成物中の樹脂(A2)の含有割合は、用途等に応じて適宜調整すればよく特に限定されないが、導電性組成物に含まれる固形分全量に対し、50質量%以上100質量%以下であることが好ましく、70質量%以上100質量%以下であることがより好ましい。樹脂(A2)の含有割合が上記下限値以上であれば、成膜性や、ベースフィルム等への密着性が向上し、また、導電層に柔軟性を付与することができる。 The content ratio of the resin (A2) in the insulating composition of this embodiment may be appropriately adjusted according to the intended use and is not particularly limited, but is 50% by mass or more with respect to the total amount of solid content contained in the conductive composition. It is preferably 100% by mass or less, and more preferably 70% by mass or more and 100% by mass or less. When the content ratio of the resin (A2) is at least the above lower limit value, the film forming property and the adhesion to the base film and the like can be improved, and the conductive layer can be imparted with flexibility.

<溶剤(B2)>
溶剤(B2)としては特に限定されないが、連続スクリーン印刷性の観点から沸点180℃以上270℃以下であることが好ましい。溶剤としては、例えば、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、ブチルアセテート、ガンマブチロラクトン、イソホロン、テトラリンなどが挙げられるが、これらに限定されず用いることができる。本実施において溶剤(B2)は1種単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
<Solvent (B2)>
The solvent (B2) is not particularly limited, but the boiling point is preferably 180 ° C. or higher and 270 ° C. or lower from the viewpoint of continuous screen printability. Examples of the solvent include, but are not limited to, diethylene glycol monoethyl ether acetate, diethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monobutyl ether acetate, dipropylene glycol monomethyl ether acetate, butyl acetate, gamma butyrolactone, isophorone, and tetralin. Can be done. In this embodiment, the solvent (B2) can be used alone or in combination of two or more.

<架橋剤(C2)>
本実施において前記樹脂(A2)を架橋するために架橋剤(C2)を、任意成分として追加で用いてもよい。架橋剤(C2)としては、前記樹脂(A2)が有する反応性官能基と架橋形成しうる反応性官能基を1分子中に2つ以上有するものの中から適宜選択して用いることができる。このような反応性官能基としては、たとえば、エポキシ基、イソシアネート基、ブロック化イソシアネート基、アルキルオキシアミノ基、アジリジニル基、オキセタニル基、カルボジイミド基、β-ヒドロキシアルキルアミド基などが挙げられ、この中でもイソシアネート基、ブロック化イソシアネート基を有するイソシアネート系化合物を用いることが好ましく、ブロックイソシアネート基を有するブロックイソシアネートを特に好適に用いることができる。
<Crosslinking agent (C2)>
In this embodiment, a cross-linking agent (C2) may be additionally used as an optional component for cross-linking the resin (A2). The cross-linking agent (C2) can be appropriately selected from those having two or more reactive functional groups in one molecule that can form cross-links with the reactive functional groups of the resin (A2). Examples of such a reactive functional group include an epoxy group, an isocyanate group, a blocked isocyanate group, an alkyloxyamino group, an aziridinyl group, an oxetanyl group, a carbodiimide group, a β-hydroxyalkylamide group and the like. It is preferable to use an isocyanate-based compound having an isocyanate group and a blocked isocyanate group, and blocked isocyanate having a blocked isocyanate group can be particularly preferably used.

ブロックイソシアネートとしては、ヘキサメチレンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネート、テトラメチルキシリレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート等の2官能イソシアネートまたはそれらのアロファネート体、ビウレット体、アダクト体、プレポリマー体、イソシアヌレート体等からなる2官能以上のイソシアネートのイソシアネート基が、ε-カプロラクタムやMEKオキシム等で保護(ブロック化)されたイソシアネート化合物であればよく、特に限定されるものではない。具体的には、上記イソシアネート化合物のイソシアネート基を、ε-カプロラクタム、MEKオキシム、シクロヘキサノンオキシム、ピラゾール、3,5-ジメチルピラゾール、ジイソプロピルアミン、マロン酸ジエチル、アセト酢酸エチル、フェノール等でブロックしたものなどが挙げられる。また、メラミンやベンゾグアナミン等の芳香族窒素元素をメタノールやブタノール等のアルコールと炭酸エステル化合物とで処理して得られる、N-アルコキシカルボニルメラミン等のアルコールブロック芳香族イソシアネートなども使用することができる。 Examples of the blocked isocyanate include bifunctional isocyanates such as hexamethylene diisocyanate, tolylene diisocyanate, xylylene diisocyanate, tetramethylxylylene diisocyanate, and isophorone diisocyanate, or allophanates thereof, biurets, adducts, prepolymers, isocyanurates, and the like. The isocyanate group of the bifunctional or higher functional isocyanate comprising the above is not particularly limited as long as it is an isocyanate compound protected (blocked) with ε-caprolactum, MEK oxime, or the like. Specifically, the isocyanate group of the above isocyanate compound is blocked with ε-caprolactam, MEK oxime, cyclohexanone oxime, pyrazole, 3,5-dimethylpyrazole, diisopropylamine, diethyl malonate, ethyl acetoacetate, phenol, etc. Can be mentioned. Further, an alcohol-blocked aromatic isocyanate such as N-alkoxycarbonylmelamine obtained by treating an aromatic nitrogen element such as melamine or benzoguanamine with an alcohol such as methanol or butanol and a carbonic acid ester compound can also be used.

架橋剤(C2)を前記樹脂(A2)と併用することで絶縁層が3次元架橋されるのみならず、前記樹脂(A1)とも架橋形成することで、導電層と絶縁層の親和性が向上し、界面間の応力が緩和され、配線へのクラックを抑制することができる。 By using the cross-linking agent (C2) in combination with the resin (A2), not only the insulating layer is three-dimensionally cross-linked, but also by forming a cross-link with the resin (A1), the affinity between the conductive layer and the insulating layer is improved. However, the stress between the interfaces is relaxed, and cracks in the wiring can be suppressed.

<改質剤(E)>
本実施において熱延伸時の亀裂発生を抑制するために、絶縁層を形成する絶縁性樹脂組成物は改質剤(E)を含む。改質剤(E)はエステル結合および芳香族構造のうち少なくともいずれか一つを有し、以下の条件(1)~(3)を満たす改質剤(E)を含む。
条件(1)数平均分子量が100~2000である
条件(2)水酸基を1分子中に1つ以上有する
条件(3)105℃180分加熱後における加熱残留分が60%以上100%以下である
上記改質剤(E)を含むことにより、絶縁性組成物を導電層上に印刷した積層物を高温下で熱延伸成形した際に導電層と絶縁層の界面間の応力を緩和することができる。その結果、導電層の亀裂発生を抑え、導電層の劣化を防ぎ、導電性の低下が抑制された成形フィルムが製造可能になる。
<Modifier (E)>
In this embodiment, the insulating resin composition forming the insulating layer contains the modifier (E) in order to suppress the generation of cracks during thermal stretching. The modifier (E) has at least one of an ester bond and an aromatic structure, and contains a modifier (E) that satisfies the following conditions (1) to (3).
Conditions (1) Conditions where the number average molecular weight is 100 to 2000 (2) Conditions where one molecule has one or more hydroxyl groups (3) The heating residue after heating at 105 ° C for 180 minutes is 60% or more and 100% or less. By containing the modifier (E), it is possible to relieve the stress between the interface between the conductive layer and the insulating layer when the laminate obtained by printing the insulating composition on the conductive layer is thermally stretched and molded at a high temperature. can. As a result, it becomes possible to manufacture a molded film in which cracking of the conductive layer is suppressed, deterioration of the conductive layer is prevented, and deterioration of conductivity is suppressed.

このような改質剤(E)としては、前述の条件を満たす限り、特に制限されないが、たとえば、ポリエステル、ポリウレタン、ポリアミド、フェノキシ、エポキシなどの共重合体、芳香族炭化水素樹脂、低分子ヘテロ環化合物などを用いることができ、その中でも芳香族炭化水素樹脂、ポリエステルポリオール化合物、またはベンゾトリアゾール化合物がとくに好ましい。 The modifier (E) is not particularly limited as long as the above conditions are satisfied, but for example, a copolymer such as polyester, polyurethane, polyamide, phenoxy, or epoxy, an aromatic hydrocarbon resin, or a low molecular weight hetero. A ring compound or the like can be used, and among them, an aromatic hydrocarbon resin, a polyester polyol compound, or a benzotriazole compound is particularly preferable.

前述の芳香族炭化水素樹脂は、芳香族炭化水素とホルムアルデヒドから得られる芳香族炭化水素ホルムアルデヒド樹脂である。前述の芳香族炭化水素ホルムアルデヒド樹脂の原料として使用される芳香族炭化水素としてはベンゼン環、ナフタレン環などの芳香環、またはその任意の水素原子がアルキル基に置換された、アルキル化芳香族化合物であれば、特に制限されないが、具体例としては、トルエン、オルトキシレン、メタキシレン、パラキシレン、メシチレン、プソイドキュメン、炭素数が10以上の単環芳香族炭化水素化合物ならびにナフタレン、メチルナフタレン等の多環芳香族炭化水素などが挙げられる。なおこれらの反応に用いる芳香族炭化水素は1種単独ないし、2種以上を併用して使用することができる。また、前述の芳香族炭化水素を必須成分としてフェノール、アルキルフェノール、クレゾールなどのフェノール化合物と共重合した変性型芳香族炭化水素ホルムアルデヒド樹脂であってもよい。 The above-mentioned aromatic hydrocarbon resin is an aromatic hydrocarbon formaldehyde resin obtained from aromatic hydrocarbons and formaldehyde. The above-mentioned aromatic hydrocarbon The aromatic hydrocarbon used as a raw material for the formaldehyde resin is an aromatic ring such as a benzene ring or a naphthalene ring, or an alkylated aromatic compound in which any hydrogen atom thereof is substituted with an alkyl group. If there is, the present invention is not particularly limited, and specific examples thereof include toluene, orthoxylene, metaxylene, paraxylene, mesitylene, pseudocumene, monocyclic aromatic hydrocarbon compounds having 10 or more carbon atoms, and polycycles such as naphthalene and methylnaphthalene. Aromatic hydrocarbons and the like can be mentioned. The aromatic hydrocarbons used in these reactions may be used alone or in combination of two or more. Further, a modified aromatic hydrocarbon formaldehyde resin obtained by copolymerizing the above-mentioned aromatic hydrocarbon with a phenol compound such as phenol, alkylphenol, and cresol as an essential component may be used.

前述の芳香族炭化水素ホルムアルデヒド樹脂の市販品としては、フドー株式会社製ニカノールY-50、Y-100、Y-300、Y-1000、LLL、LL、L、H、Gなどのキシレン樹脂、ニカノールGHP-150、HP120、HP-100、HP-210などのアルキルフェノール変性キシレン樹脂、ニカノールP-100、GP-200などのノボラック変性キシレン樹脂、レゾール変性キシレン樹脂であるニカノールPR-1440、エチレンオキシド変性キシレン樹脂であるニカノールL5などが挙げられる。 Commercially available products of the above-mentioned aromatic hydrocarbon formaldehyde resin include xylene resins such as Nicanol Y-50, Y-100, Y-300, Y-1000, LLL, LL, L, H and G manufactured by Fudow Co., Ltd., and Nicanol. Alkylphenol-modified xylene resins such as GHP-150, HP120, HP-100 and HP-210, novolak-modified xylene resins such as Nikanol P-100 and GP-200, resol-modified xylene resins Nikanol PR-1440 and ethylene oxide-modified xylene resins. Nicanol L5 and the like.

前述のポリエステルポリオールは、多価アルコールと多価カルボン酸の重縮合からなる、ポリエステル重合体であれば、特に制限されない。前述の多価アルコールとしては、エチレングリコール、1,4-ブタンジオール、1,6-ヘキサンジオールなどの脂肪族ジオール、プロピレングリコール、ネオペンチルグリコール、1,3-ブタンジオールなどの分岐ジオール、1,4-ビス(ヒドロキシメチル)シクロヘキサン、2,2-ビス(4-ヒドロキシシクロヘキシル)プロパンなどの脂環式ジオール、m-キシリレングリコール、p-キシリレングリコール、ビスフェノールA、ビスフェノールS、ビスフェノールFなどの芳香族ジオールが挙げられる。前述の多価カルボン酸としては、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸などの芳香族カルボン酸やコハク酸、アジピン酸、マレイン酸などの脂肪族ジカルボン酸、1,2-シクロヘキサンジカルボン酸や1,4-シクロヘキサンジカルボン酸などの脂環式ジカルボン酸などが挙げられる。 The polyester polyol described above is not particularly limited as long as it is a polyester polymer composed of a polycondensation of a polyhydric alcohol and a polyvalent carboxylic acid. Examples of the above-mentioned polyhydric alcohol include ethylene glycol, aliphatic diols such as 1,4-butanediol and 1,6-hexanediol, branched diols such as propylene glycol, neopentyl glycol and 1,3-butanediol, and 1, Alicyclic diols such as 4-bis (hydroxymethyl) cyclohexane, 2,2-bis (4-hydroxycyclohexyl) propane, m-xylylene glycol, p-xylylene glycol, bisphenol A, bisphenol S, bisphenol F, etc. Aromatic diols can be mentioned. Examples of the above-mentioned polyvalent carboxylic acid include aromatic carboxylic acids such as phthalic acid, isophthalic acid and terephthalic acid, aliphatic dicarboxylic acids such as succinic acid, adipic acid and maleic acid, 1,2-cyclohexanedicarboxylic acid and 1,4. -Alicyclic dicarboxylic acid such as cyclohexanedicarboxylic acid can be mentioned.

前述のポリエステルポリオールの具体例としては、株式会社クラレ製クラレポリオールP510、P1010、キングインダストリーズ社製FLEXOREZ188、A308、148、A307などが挙げられる。 Specific examples of the above-mentioned polyester polyol include Kuraray polyols P510 and P1010 manufactured by Kuraray Co., Ltd., FLEXOREZ188 manufactured by King Industries, Inc., A308, 148, A307 and the like.

前述のベンゾトリアゾール化合物は、ベンゾトリアゾール構造を有していればよく、たとえば下記一般式(1)または(2)の構造が挙げられる。
一般式(1)

Figure 2022065264000002


一般式(2)
Figure 2022065264000003
The above-mentioned benzotriazole compound may have a benzotriazole structure, and examples thereof include the structure of the following general formula (1) or (2).
General formula (1)
Figure 2022065264000002


General formula (2)
Figure 2022065264000003

一般式(1)及び(2)中、RおよびRは、水素原子、ヒドロキシ基、アミノ基、置換基を有していてもよい炭素数1~6のアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基、スルホニル基を有する有機基、又は-A1-A2である。A1は、カルボニル基、置換基を有していてもよいアリーレン基、炭素数1~12のアルキレン基、炭素数3~12のシクロアルキレン基又は-A-O-であり、Aは炭素数1~12のアルキレン基である。A2は、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ヒドロキシ基、炭素数1~6のアルコキシ基、カルボキシ基、置換基を有していてもよいアリール基、又は各アルキル基の炭素数が1~6のジアルキルアミノ基である。 In the general formulas (1) and (2), R 1 and R 6 have a hydrogen atom, a hydroxy group, an amino group, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a substituent, and a substituent. It may be a phenyl group, an organic group having a sulfonyl group, or -A 1 -A 2 . A 1 is a carbonyl group, an arylene group which may have a substituent, an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms, a cycloalkylene group having 3 to 12 carbon atoms or —A3 −O—, and A3 is It is an alkylene group having 1 to 12 carbon atoms. A 2 has a hydrogen atom, a halogen atom, a cyano group, a hydroxy group, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, a carboxy group, an aryl group which may have a substituent, or each alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. It is a dialkylamino group of 6.

一般式(1)及び(2)中、R~R、R~R10はそれぞれ独立に、水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換基を有していてもよい炭素数1~6のアルキル基、炭素数1~6のアルコキシ基、スルホニル基を有する有機基、又は下記式(一般式(3))で表される有機基である。

一般式(3)

Figure 2022065264000004
In the general formulas ( 1 ) and ( 2 ), R2 to R5 and R7 to R10 may independently have a hydrogen atom, a halogen atom, a hydroxy group, and a substituent, and may have 1 to 6 carbon atoms. An organic group having an alkyl group, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, a sulfonyl group, or an organic group represented by the following formula (general formula (3)).

General formula (3)
Figure 2022065264000004

一般式(3)中、R11は、水素原子、または置換されていてもよい炭素数1~12のアルキル基である。nは0または1である。 In the general formula (3), R 11 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms which may be substituted. n is 0 or 1.

前述のベンゾトリアゾール化合物(一般式(1)または(2))の具体例としては城北化学株式会社製JF-77、80、83、JUST-500、エバーライトケミカル社製eversorb74、eversorb81、eversorb89、eversorb109などが挙げられる。 Specific examples of the above-mentioned benzotriazole compound (general formula (1) or (2)) include JF-77, 80, 83, JUST-500 manufactured by Johoku Chemical Co., Ltd., eversorb74, eversorb81, eversorb89, eversorb109 manufactured by Everlight Chemical Co., Ltd. And so on.

本実施の絶縁性組成物中の改質剤(E)の含有割合は、用途等に応じて適宜調整すればよく特に限定されないが、導電性組成物に含まれる固形分全量に対し、0.01質量%以上25質量%以下であることが好ましく、0.1質量%以上15質量%以下あることがより好ましい。改質剤(E)の含有割合が前述の範囲であれば、成形フィルムをその軟化点に当たる高温での引っ張りにより変形させた際に導電層の亀裂発生や局所変形をおさえることができ、絶縁層が導電層へ浸潤する事による導電層の導電性の劣化を抑制することができる。 The content ratio of the modifier (E) in the insulating composition of this embodiment may be appropriately adjusted according to the intended use and is not particularly limited, but is 0. It is preferably 01% by mass or more and 25% by mass or less, and more preferably 0.1% by mass or more and 15% by mass or less. When the content ratio of the modifier (E) is within the above range, it is possible to suppress the generation of cracks and local deformation of the conductive layer when the molded film is deformed by pulling at a high temperature corresponding to the softening point, and the insulating layer. It is possible to suppress deterioration of the conductivity of the conductive layer due to infiltration into the conductive layer.

<絶縁性樹脂組成物の製造方法>
本実施の絶縁性組成物の製造方法は、前記樹脂(A2)と、溶剤(B2)と、架橋剤(C2)と、改質剤(E)およびその他の成分(F)とを、溶解乃至分散する方法であればよく、公知の混合手段により混合することにより製造することができる。
<Manufacturing method of insulating resin composition>
In the method for producing an insulating composition of this embodiment, the resin (A2), the solvent (B2), the cross-linking agent (C2), the modifier (E) and the other component (F) are dissolved or dissolved. Any method may be used as long as it is a dispersion method, and it can be produced by mixing by a known mixing means.

[加飾層]
本実施の成形フィルムは、得られる成形体の意匠性の点から、加飾層を有していてもよい。
加飾層は単色の色味を有する層であってもよく、任意の模様が付されたものであってもよい。
加飾層は、一例として、色材と、樹脂と、溶剤とを含有する加飾インキを調製した後、当該加飾インキを公知の印刷手段によりベースフィルムに塗布することにより形成することができる。
前記色材としては、公知の顔料や染料の中から適宜選択して用いることができる。また樹脂としては、前記本実施の絶縁性樹脂組成物における樹脂(A2)と同様のものの中から適宜選択して用いることが好ましい。
加飾層の厚みは特に限定されないが、例えば0.5μm以上10μm以下とすることができ、1μm以上5μm以下とすることが好ましい。
[Decoration layer]
The molded film of this embodiment may have a decorative layer from the viewpoint of the design of the obtained molded product.
The decorative layer may be a layer having a monochromatic tint, or may have an arbitrary pattern.
As an example, the decorative layer can be formed by preparing a decorative ink containing a coloring material, a resin, and a solvent, and then applying the decorative ink to the base film by a known printing means. ..
As the coloring material, a known pigment or dye can be appropriately selected and used. Further, as the resin, it is preferable to appropriately select and use the same resin (A2) as the resin (A2) in the insulating resin composition of the present embodiment.
The thickness of the decorative layer is not particularly limited, but can be, for example, 0.5 μm or more and 10 μm or less, and preferably 1 μm or more and 5 μm or less.

[成形体]
本実施の成形体は、基材上に少なくとも導電層が積層した成形体であって、導電層が、前記記載の成形フィルム用導電性組成物の硬化物であることを特徴とする。本実施の成形体は、前記本実施の成形フィルム用導電性組成物を用いた成形フィルムにより形成されるため、凹凸面や曲面など、任意の面に導電回路が形成された成形体となる。
以下、本実施の成形体の製造方法について、3つの実施形態を説明する。なお、本実施の成形体は、前記本実施の導電性組成物を用いて製造されたものであればよく、これらの方法に限定されるものではない。
[Molded product]
The molded product of the present embodiment is a molded product in which at least a conductive layer is laminated on a base material, and the conductive layer is a cured product of the conductive composition for a molding film described above. Since the molded body of this embodiment is formed by a molding film using the conductive composition for molding film of this embodiment, it is a molded body in which a conductive circuit is formed on an arbitrary surface such as an uneven surface or a curved surface.
Hereinafter, three embodiments will be described with respect to the method for manufacturing the molded product of the present embodiment. The molded product of the present embodiment may be manufactured by using the conductive composition of the present embodiment, and is not limited to these methods.

<第1の製造方法>
本実施に係る成形体の第1の製造方法は、前記本実施の成形フィルム用導電性組成物を、ベースフィルム上に印刷し、乾燥することにより成形フィルムを製造する工程と、
基材上に前記成形フィルムを配置する工程と、
オーバーレイ成形法により、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む。
以下、図3を参照して説明するが、成形フィルムの製造方法は前述のとおりであるので、ここでの説明は省略する。
<First manufacturing method>
The first method for producing a molded body according to the present embodiment includes a step of printing the conductive composition for a molded film of the present embodiment on a base film and drying the molded film to produce the molded film.
The process of arranging the molded film on the substrate and
A step of integrating the molded film and the base material by an overlay molding method is included.
Hereinafter, the description will be made with reference to FIG. 3, but since the method for manufacturing the molded film is as described above, the description thereof will be omitted here.

図5は、成形体の第1の製造方法の一例を示す、模式的な工程図である。図5(A)~(C)はそれぞれTOM(Three dimension Overlay Method)成形機のチャンバーボックス内に配置された成形フィルム10と基材20を図示するものであり、図5(B)および(C)ではチャンバーボックスを省略している。
第1の製造方法においては、まず、基材20を下側チャンバーボックス22のテーブル上に設置する。次いで、前記本実施の成形フィルム10を上側チャンバーボックス21と下側チャンバーボックス22との間を通し、基材20上に配置する。この際、成形フィルム10は導電層が基材20側、もしくは基材20とは反対側のどちらと面するように配置されていてもよく、最終的な成形体の用途によって選択される。次いで上側・下側チャンバーボックスを真空状態とした後、成形フィルムを加熱する。次いで、テーブルを上昇することにより基材20を上昇15する。次いで上側チャンバーボックス21内のみを大気開放する(図5(B))。この時、成形フィルムは基材側に加圧16され、成形フィルム10と基材20とが貼り合わされて一体化する(図5(C))。このようにして成形体30を得ることができる。
FIG. 5 is a schematic process diagram showing an example of a first manufacturing method of a molded product. 5 (A) to 5 (C) show the molding film 10 and the base material 20 arranged in the chamber box of the TOM (Three dimension Overlay Method) molding machine, respectively, and FIGS. 5 (B) and 5 (C) show. ) Omits the chamber box.
In the first manufacturing method, first, the base material 20 is placed on the table of the lower chamber box 22. Next, the molded film 10 of the present embodiment is passed between the upper chamber box 21 and the lower chamber box 22 and placed on the base material 20. At this time, the molded film 10 may be arranged so that the conductive layer faces either the base material 20 side or the base material 20 side, and is selected depending on the final use of the molded body. Next, after the upper and lower chamber boxes are evacuated, the molded film is heated. Then, the base material 20 is raised 15 by raising the table. Next, only the inside of the upper chamber box 21 is opened to the atmosphere (FIG. 5 (B)). At this time, the molded film is pressurized 16 to the base material side, and the molded film 10 and the base material 20 are bonded and integrated (FIG. 5 (C)). In this way, the molded body 30 can be obtained.

当該第1の製造方法において、基材20は予め任意の方法で準備することができる。当該第1の製造方法において、基材20の材質は特に限定されず、樹脂製であっても金属製であってもよい。当該第1の製造方法における基材20の材質の例としては、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリスチレン、ポリアミド、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンスルフィド、ポリ塩化ビニル、ポリエチレン、ポリプロピレン、シクロオレフィンポリマー、ABS(アクリロニトリル-ブタジエン-スチレン共重合樹脂)、変性ポリフェニレンエーテル、及びこれら樹脂の2種以上からなるポリマーアロイ等の熱可塑性樹脂や、ステンレス、銅、アルミ等の金属、その他ガラスやセラミックス等も用いることができる。 In the first manufacturing method, the base material 20 can be prepared in advance by any method. In the first manufacturing method, the material of the base material 20 is not particularly limited, and may be made of resin or metal. Examples of the material of the base material 20 in the first production method include polycarbonate, polymethylmethacrylate, polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polystyrene, polyamide, polyether sulfone, polyphenylene sulfide, polyvinyl chloride, polyethylene, polypropylene, and cyclo. Thermoplastic resins such as olefin polymers, ABS (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer resin), modified polypropylene ethers, and polymers alloys consisting of two or more of these resins, metals such as stainless steel, copper, and aluminum, and other glasses and ceramics. Etc. can also be used.

なお本第1の製造方法における、前述の基材との一体化工程における高温下での基材プラスチックとの摩擦応力ストレスとは、前記図5(C)での成形フィルムが基材側に加圧16され、成形フィルム10と基材20とが貼り合わされて一体化する際の、高温下で成形フィルムの導電回路と基材との間の摩擦応力に起因するものである。即ち本第1の製造方法においては、導電層は成形時の引張応力による負荷と、高温下での基材プラスチックとの摩擦応力ストレスを同時に受けることとなる。 The frictional stress stress with the base material plastic at high temperature in the above-mentioned integration step with the base material in the first manufacturing method is that the molded film in FIG. 5 (C) is applied to the base material side. This is due to the frictional stress between the conductive circuit of the molded film and the base material under high temperature when the pressure 16 is applied and the molded film 10 and the base material 20 are bonded and integrated. That is, in the first manufacturing method, the conductive layer is simultaneously subjected to a load due to tensile stress during molding and a frictional stress stress with the base plastic at a high temperature.

<第2の製造方法>
本実施に係る成形体の第2の製造方法は、前記本実施の成形フィルム用導電性組成物を、ベースフィルム上に印刷し、乾燥することにより成形フィルムを製造する工程と、
前記成形フィルムを所定の形状に成形する工程と、
成形後の前記成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む。以下、図6を参照して説明する。なお、第2の製造方法をフィルムインサート法ということがある。
<Second manufacturing method>
The second method for producing a molded body according to the present embodiment includes a step of printing the conductive composition for a molded film of the present embodiment on a base film and drying it to produce a molded film.
The process of molding the molded film into a predetermined shape and
A step of arranging the molded film after molding in a mold for injection molding, and
It includes a step of molding a base material by injection molding and integrating the molding film and the base material. Hereinafter, it will be described with reference to FIG. The second manufacturing method may be referred to as a film insert method.

図6は、成形体の第2の製造方法の一例を示す、模式的な工程図である。第2の製造方法において、成形フィルム10は、金型11により予め所定の形状に成形する(図6(A))。成形フィルム10は加熱して軟化した後に、又は軟化させながら、真空による金型への吸引もしくは圧空による金型への押しつけ、またはその両方を併用して行い、金型11により成形する(図6(B))。この際、成形フィルム10は導電層が後述する基材20側、もしくは基材20とは反対側のどちらと面するように成形されていてもよく、最終的な成形体の用途によって選択される。次いで、成形後の成形フィルム10を射出成形用の金型12内に配置する(図6(C)~図6(D))。次いで、開口部13から樹脂を射出14して、基材20を形成すると共に、前記成形フィルム10と、前記基材20とを一体化して、成形体30が得られる(図6(E))。 FIG. 6 is a schematic process diagram showing an example of a second manufacturing method of a molded product. In the second manufacturing method, the molded film 10 is preliminarily molded into a predetermined shape by the mold 11 (FIG. 6 (A)). The molding film 10 is formed by the mold 11 after being softened by heating or while being softened by suction to the mold by vacuum, pressing against the mold by pressure air, or both in combination (FIG. 6). (B)). At this time, the molded film 10 may be molded so that the conductive layer faces either the base material 20 side described later or the side opposite to the base material 20, and is selected depending on the final use of the molded body. .. Next, the molded film 10 after molding is placed in the mold 12 for injection molding (FIGS. 6 (C) to 6 (D)). Next, the resin is injected 14 from the opening 13 to form the base material 20, and the molded film 10 and the base material 20 are integrated to obtain a molded body 30 (FIG. 6 (E)). ..

第2の製造方法において基材20は予め準備する必要はなく、基材の成形と、成形フィルムとの一体化を同時に行うことができる。基材20の材質は、射出成形用に用いられる公知の樹脂の中から適宜選択して用いることができる。当該第2の製造方法における基材20の材質の例としては、前記第1の製造方法における基材20の材質の例で挙げられた熱可塑性樹脂と同様のものを使用することができる。 In the second manufacturing method, the base material 20 does not need to be prepared in advance, and the base material can be molded and integrated with the molded film at the same time. The material of the base material 20 can be appropriately selected and used from known resins used for injection molding. As an example of the material of the base material 20 in the second manufacturing method, the same thermoplastic resin as mentioned in the example of the material of the base material 20 in the first manufacturing method can be used.

なお本第2の製造方法における、前述の基材との一体化工程における高温下での基材プラスチックとの摩擦応力ストレスとは、図6(E)で開口部13から樹脂を射出14して、基材20を形成すると共に、前記成形フィルム10と、前記基材20とを一体化する際の、成形フィルム上の導電層が高温の溶融樹脂の型内への射出により受ける摩擦応力に起因するものである。即ち本第2の製造方法においては、導電層は成形時の引張応力による負荷を受けた後、別工程にて高温下での基材プラスチックとの摩擦応力ストレスを受けることとなる。 In the second manufacturing method, the frictional stress stress with the base material plastic under high temperature in the above-mentioned integration step with the base material is as shown in FIG. 6 (E) by injecting the resin 14 from the opening 13. Due to the frictional stress that the conductive layer on the molded film receives due to the injection of the high-temperature molten resin into the mold when forming the base material 20 and integrating the molded film 10 and the base material 20. It is something to do. That is, in the second manufacturing method, the conductive layer is subjected to a load due to tensile stress during molding, and then is subjected to frictional stress stress with the base plastic under high temperature in another step.

<第3の製造方法>
本実施に係る成形体の第3の製造方法は、前記本実施の成形フィルム用導電性組成物を、スクリーン印刷により、ベースフィルム上に印刷し、乾燥することにより成形フィルムを製造する工程と、
前記成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルム中の導電層を基材側に転写する工程と、を含む。
以下、図7を参照して説明する。なお、第3の製造方法をインモールド転写法ということがある。
<Third manufacturing method>
The third method for producing a molded body according to the present embodiment includes a step of printing the conductive composition for a molded film of the present embodiment on a base film by screen printing and drying to produce a molded film.
The step of arranging the molding film in the mold for injection molding and
It includes a step of molding a base material by injection molding and transferring the conductive layer in the molding film to the base material side.
Hereinafter, description will be made with reference to FIG. 7. The third manufacturing method may be referred to as an in-mold transfer method.

図7は、成形体の第3の製造方法の一例を示す、模式的な工程図である。第3の製造方法において成形フィルム10は、ベースフィルムとして剥離性を有するものを選択して用いる。当該成形フィルム10を射出成形用の金型12内に、後述する基材20側に導電層が向くように配置する(図7(A))。次いで、開口部13から樹脂を射出14して、基材20を形成すると共に、前記成形フィルム10と基材20とが密着し、基材20側に、少なくとも導電層が転写され(図7(B))、成形体30が得られる(図7(C))。なお、成形フィルム10が加飾層を有する場合には、加飾層と導電層とが転写される。 FIG. 7 is a schematic process diagram showing an example of a third manufacturing method of a molded product. In the third production method, the molded film 10 is selected and used as a base film having peelability. The molded film 10 is placed in a mold 12 for injection molding so that the conductive layer faces the base material 20 side described later (FIG. 7 (A)). Next, the resin is injected 14 from the opening 13 to form the base material 20, and the molded film 10 and the base material 20 are in close contact with each other, and at least the conductive layer is transferred to the base material 20 side (FIG. 7 (FIG. 7). B)), the molded body 30 is obtained (FIG. 7 (C)). When the molded film 10 has a decorative layer, the decorative layer and the conductive layer are transferred.

第3の製造方法においては、ベースフィルムを切断する必要がないため、図7の例に示されるように長尺状のベースフィルムを配置することができる。基材20の材質は、射出成形用に用いられる公知の樹脂の中から適宜選択して用いることができる。当該第3の製造方法における基材20の材質の例としては、前記第1の製造方法における基材20の材質の例で挙げられた熱可塑性樹脂と同様のものを使用することができる。 In the third manufacturing method, since it is not necessary to cut the base film, a long base film can be arranged as shown in the example of FIG. 7. The material of the base material 20 can be appropriately selected and used from known resins used for injection molding. As an example of the material of the base material 20 in the third manufacturing method, the same thermoplastic resin as mentioned in the example of the material of the base material 20 in the first manufacturing method can be used.

なお本第3の製造方法における、前述の基材との一体化工程における高温下での基材プラスチックとの摩擦応力ストレスとは、図7(C)で開口部13から樹脂を射出14して、基材20を形成すると共に、前記成形フィルム10と基材20とが密着する際の、成形フィルム上の導電層が高温の溶融樹脂の型内への射出により受ける摩擦応力に起因するものである。即ち本第3の製造方法においては、導電層は成形時の引張応力による負荷と、高温下での基材プラスチックとの摩擦応力ストレスを同時に受けることとなる。 In the third manufacturing method, the frictional stress stress with the base material plastic under high temperature in the above-mentioned integration step with the base material is as shown in FIG. 7 (C) by injecting the resin 14 from the opening 13. This is due to the frictional stress that the conductive layer on the molded film receives due to the injection of the high-temperature molten resin into the mold when the molded film 10 and the base material 20 are in close contact with each other while forming the base material 20. be. That is, in the third manufacturing method, the conductive layer is simultaneously subjected to a load due to tensile stress during molding and a frictional stress stress with the base plastic at a high temperature.

このようにして得られた成形体は、家電製品、自動車用部品、ロボット、ドローンなどのプラスチック筐体などに、回路やタッチセンサー・各種電子部品の実装を行うことを可能にする。また、電子機器の軽薄短小化および設計自由度の向上、多機能化に極めて有用である。 The molded body thus obtained makes it possible to mount circuits, touch sensors, and various electronic parts on plastic housings such as home appliances, automobile parts, robots, and drones. In addition, it is extremely useful for making electronic devices lighter, thinner, shorter, smaller, improving the degree of freedom in design, and increasing the number of functions.

以下に、実施例により本発明をより詳細に説明するが、以下の実施例は本発明を何ら制限するものではない。なお、実施例中の「部」は「質量部」を、「%」は「質量%」を表す。
また、実施例中の重量平均分子量および数平均分子量は、東ソー社製GPC(ゲル浸透クロマトグラフィー)「HLC-8320」を用いた測定におけるポリスチレン換算分子量である。
また、ブロックされた有効NCO基含有率は、「J I S K 1603-1:2007プラスチック-ポリウレタン原料芳香族イソシアネート 試験方法-第1部:イソシアネート 基含有率の求め方」から算出した。
また、改質剤(E)の加熱残留分は、直径4.5cm、深さ1.2cmのメンタム缶に1.0gの改質剤(E)を入れ均一に塗り広げ、105℃の熱風乾燥オーブン中で180分焼成した後の残留改質剤(E)量を記載した。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail by way of examples, but the following examples do not limit the present invention in any way. In the examples, "part" represents "parts by mass" and "%" represents "% by mass".
The weight average molecular weight and the number average molecular weight in the examples are polystyrene-equivalent molecular weights in the measurement using GPC (gel permeation chromatography) "HLC-8320" manufactured by Tosoh Corporation.
The blocked effective NCO group content was calculated from "JIS K 1603-1: 2007 Plastic-Polyurethane Raw Material Aromatic Isocyanate Test Method-Part 1: How to Obtain Isocyanate Group Content".
As for the heating residue of the modifier (E), 1.0 g of the modifier (E) was placed in a mentum can having a diameter of 4.5 cm and a depth of 1.2 cm, spread evenly, and dried with hot air at 105 ° C. The amount of the residual modifier (E) after baking in the oven for 180 minutes is described.

<樹脂(A1):(A-1)~(A-5)>
樹脂(A1)として以下の(A-1)~(A-5)の樹脂を用いた。
・樹脂(A-1):三菱ケミカル社製アクリル樹脂、「BR83」、重量平均分子量40,000、主鎖に芳香族構造、エステル結合、アミド結合のいずれも有さない。
・樹脂(A-2):日鉄ケミカルマテリアル株式会社製ビスフェノールA型フェノキシ樹脂、「フェトネートYP-50S」、重量平均分子量60,000、架橋性官能基として水酸基を含み、主鎖に芳香族構造を有し、エステル結合およびアミド結合は有さない。
・樹脂(A-3):ユニチカ株式会社製ポリエステル樹脂、「エリーテルUE3400」、重量平均分子量25,000、主鎖に芳香族構造およびエステル結合を有する。
<Resin (A1): (A-1) to (A-5)>
The following resins (A-1) to (A-5) were used as the resin (A1).
-Resin (A-1): Acrylic resin manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, "BR83", weight average molecular weight 40,000, has no aromatic structure, ester bond, or amide bond in the main chain.
-Resin (A-2): Bisphenol A type phenoxy resin manufactured by Nittetsu Chemical Materials Co., Ltd., "Fetonate YP-50S", weight average molecular weight 60,000, containing hydroxyl group as a crosslinkable functional group, aromatic structure in the main chain. Has no ester bond or amide bond.
Resin (A-3): Polyester resin manufactured by Unitika Ltd., "Elitel UE3400", having a weight average molecular weight of 25,000, and having an aromatic structure and an ester bond in the main chain.

<合成例1:樹脂(A-4)の合成>
攪拌機、温度計、留出液トラップ、窒素ガス導入管、減圧調整器を備えたセバラブルフラスコに、樹脂(A-3)(「エリーテルUE3400」)250.0部、イソホロンジイソシアネート75.0部、及びトルエン95.6部を仕込み、窒素気流下にて90℃で4時間撹拌し、ついでイソホロンジアミン6.7部を加えさらに90℃で2時間反応させたのち、冷却して反応を停止した。その後、取り出した後に表面がフッ素加工されたパレットに移して熱風乾燥オーブン中120℃で4時間乾燥させ、さらに24時間真空乾燥尾することで、重量平均分子量34,000、ガラス転移点4℃、アミノ基(官能基価5mgKOH/g)を有する主鎖中に芳香族構造およびエステル結合を有するウレタン樹脂(A-4)の固形物を得た。
<Synthesis Example 1: Synthesis of resin (A-4)>
In a separable flask equipped with a stirrer, thermometer, distillate trap, nitrogen gas introduction tube, and decompression regulator, 25.0 parts of resin (A-3) (“Elitel UE3400”), 75.0 parts of isophorone diisocyanate, And 95.6 parts of toluene were charged, and the mixture was stirred at 90 ° C. for 4 hours under a nitrogen stream, then 6.7 parts of isophorone diisocyanate was added and reacted at 90 ° C. for 2 hours, and then cooled to stop the reaction. After taking it out, it was transferred to a pallet whose surface was treated with fluorine, dried in a hot air drying oven at 120 ° C. for 4 hours, and vacuum dried for another 24 hours. A solid urethane resin (A-4) having an aromatic structure and an ester bond in a main chain having an amino group (functional group value 5 mgKOH / g) was obtained.

<合成例2:樹脂(A-5)の合成>
攪拌機、温度計、水分定量受器を付けた還流冷却管、窒素ガス導入管を備えたセバラブルフラスコに、ポリエーテルアミン(ハンツマン社製「JEFFAMINE D-2000」、重量平均分子量2,000)200.0部、イソフタル酸175.0部、及びトルエン95.6部を仕込み、混合物を撹拌しつつ、水の流出を確認し、温度を220℃まで昇温して脱水反応を続けた。1時間ごとにサンプリングを行い、重量平均分子量が30,000になったことを確認し、十分に冷却して反応を停止した。その後、取り出した後に表面がフッ素加工されたパレットに移して熱風乾燥オーブン中120℃で4時間乾燥させ、さらに24時間真空乾燥することで、重量平均分子量30,000であり、主鎖中に芳香族構造およびアミド結合を有するポリアミド樹脂(A-5)の固形物を得た。
<Synthesis Example 2: Synthesis of resin (A-5)>
Polyetheramine ("JEFFAMINE D-2000" manufactured by Huntsman, weight average molecular weight 2,000) 200 in a separable flask equipped with a stirrer, a thermometer, a reflux condenser equipped with a water content metering receiver, and a nitrogen gas introduction tube. .0 parts, 175.0 parts of isophthalic acid, and 95.6 parts of toluene were charged, and while stirring the mixture, the outflow of water was confirmed, and the temperature was raised to 220 ° C. to continue the dehydration reaction. Sampling was performed every hour, and it was confirmed that the weight average molecular weight reached 30,000, and the reaction was stopped by sufficiently cooling. Then, after taking it out, it is transferred to a pallet whose surface is treated with fluorine, dried in a hot air drying oven at 120 ° C. for 4 hours, and further vacuum dried for 24 hours to have a weight average molecular weight of 30,000 and an aromatic content in the main chain. A solid polyamide resin (A-5) having a group structure and an amide bond was obtained.

<樹脂(A2):(A-6)~(A-9)>
樹脂(A2)として以下の(A-6)~(A-9)の樹脂を用いた。
・樹脂(A-6):樹脂(A-1)をそのまま用いた。
・樹脂(A-7):東洋紡株式会社製ポリエステル樹脂、「バイロン245」、重量平均分子量19,000、主鎖に芳香族構造とエステル結合を有する。
<Resin (A2): (A-6) to (A-9)>
The following resins (A-6) to (A-9) were used as the resin (A2).
-Resin (A-6): The resin (A-1) was used as it was.
-Resin (A-7): Polyester resin manufactured by Toyobo Co., Ltd., "Byron 245", weight average molecular weight 19,000, having an aromatic structure and an ester bond in the main chain.

<合成例3:樹脂(A-8)の合成>
攪拌機、温度計、留出液トラップ、窒素ガス導入管、減圧調整器を備えたセバラブルフラスコに、ポリエステル樹脂(東洋紡株式会社製「バイロン200」)225.0部、イソホロンジイソシアネート32.3部、及びトルエン63.6部を仕込み、窒素気流下にて90℃で4時間撹拌し、ついでイソホロンジアミン3.6部を加え、さらに90℃で2時間反応させたのち、冷却して反応を停止した。その後、取り出した後に表面がフッ素加工されたパレットに移して熱風乾燥オーブン中120℃で4時間乾燥させ、さらに24時間真空乾燥することで、重量平均分子量25,000、ガラス転移点20℃、アミノ基(官能基価7mgKOH/g)を有する主鎖中に芳香族構造およびエステル結合を有するウレタン樹脂(A-8)の固形物を得た。
<Synthesis Example 3: Synthesis of Resin (A-8)>
225.0 parts of polyester resin ("Byron 200" manufactured by Toyobo Co., Ltd.), 32.3 parts of isophorone diisocyanate, in a separable flask equipped with a stirrer, thermometer, distillate trap, nitrogen gas introduction tube, and decompression regulator. And 63.6 parts of toluene were charged, stirred at 90 ° C. for 4 hours under a nitrogen stream, then 3.6 parts of isophorone diisocyanate was added, and the mixture was further reacted at 90 ° C. for 2 hours, then cooled to stop the reaction. .. Then, after taking it out, it is transferred to a pallet whose surface is treated with fluorine, dried in a hot air drying oven at 120 ° C. for 4 hours, and further vacuum dried for 24 hours to have a weight average molecular weight of 25,000, a glass transition point of 20 ° C., and an amino. A solid urethane resin (A-8) having an aromatic structure and an ester bond in a main chain having a group (functional group value 7 mgKOH / g) was obtained.

・樹脂(A-9):三菱ケミカル社製フェノキシ樹脂、「jER4250」、重量平均分子量60000、主鎖に芳香族構造を有し、エステル結合およびアミド結合を有さない。 Resin (A-9): Phenoxy resin manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, "jER4250", weight average molecular weight 60000, having an aromatic structure in the main chain, and having no ester bond or amide bond.

溶剤、架橋剤、導電性微粒子、改質剤及びその他成分として以下のものを用いた。
<溶剤(B-1)~(B-3)>
・溶剤(B-1):1,2,3,4-テトラヒドロナフタレン、沸点209℃
・溶剤(B-2):ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、沸点217℃
・溶剤(B-3):ブチルアセテート、沸点126℃
The following substances were used as solvents, cross-linking agents, conductive fine particles, modifiers and other components.
<Solvent (B-1) to (B-3)>
Solvent (B-1): 1,2,3,4-tetrahydronaphthalene, boiling point 209 ° C.
Solvent (B-2): diethylene glycol monoethyl ether acetate, boiling point 217 ° C.
-Solvent (B-3): Butyl acetate, boiling point 126 ° C.

<架橋剤(C-1)~(C-2)>
・架橋剤(C-1)
旭化成株式会社製、デュラネートMFA-75B、ヘキサメチレンジイソシアネートのイソシアヌレート変性体、イソシアネート基を1分子中に3つ含有、NCO基含有率13.7%、数平均分子量504、不揮発分75%のブチルアセテート溶液。
<Crosslinking agents (C-1) to (C-2)>
-Crosslinking agent (C-1)
Asahi Kasei Corporation, Duranate MFA-75B, isocyanurate modified hexamethylene diisocyanate, contains 3 isocyanate groups in 1 molecule, NCO group content 13.7%, number average molecular weight 504, non-volatile content 75% butyl Isocyanate solution.

・<合成例4:架橋剤(C-2)の合成>
架橋剤(C-1)(旭化成株式会社製、デュラネートMFA-75B(ヘキサメチレンジイソシアネートのイソシアヌレート変性体、イソシアネート基を1分子中に3つ含有し、NCO基含有率、不揮発分75%ブチルアセテート溶液)25.0部、マロン酸ジエチル8.0部、アセト酢酸エチル2.0部を仕込み、28%ナトリウムメチラート溶液0.1部を室温で添加し、60℃で6時間反応させた。その後、1―ブタノール0.25部を添加し、つづけて1時間攪拌した。撹拌後、リン酸ブチル0.02部を添加して、マロン酸ジエチルでブロックされたブロックイソシアネート組成物を19.3部得た。ブロックされたイソシアネート基の有効NCO基含有率は5.5%、数平均分子量は670であった。得られたブロックイソシアネートは不揮発分75%となるようにブチルアセテートに希釈して用いた。
-<Synthesis Example 4: Synthesis of Crosslinking Agent (C-2)>
Cross-linking agent (C-1) (manufactured by Asahi Kasei Co., Ltd., Duranate MFA-75B (isocyanurate modified form of hexamethylene diisocyanate, containing 3 isocyanate groups in 1 molecule, NCO group content, non-volatile content 75% butyl acetate) 25.0 parts of solution), 8.0 parts of diethyl malonate, and 2.0 parts of ethyl acetate were added, 0.1 part of 28% sodium methylate solution was added at room temperature, and the mixture was reacted at 60 ° C. for 6 hours. Then, 0.25 part of 1-butanol was added and stirred continuously for 1 hour. After stirring, 0.02 part of butyl phosphate was added to obtain 19.3 blocked isocyanate composition blocked with diethyl malonate. The effective NCO group content of the blocked isocyanate group was 5.5%, and the number average molecular weight was 670. The obtained blocked isocyanate was diluted with butyl acetate so as to have a non-volatile content of 75%. Using.

<導電性微粒子(D-1)~(D-4)>
・導電性微粒子(D-1):福田金属箔粉社製、フレーク状銀粉、平均粒子径5.2μm
・導電性微粒子(D-2):福田金属箔粉社製、連鎖凝集状銀粉、平均粒子径1.5μm
・導電性微粒子(D-3):DOWAエレクトロニクス社製、フレーク状銀コート銅粉、銀被覆量10%、平均粒子径4.0μm
・導電性微粒子(D-4):伊藤黒鉛社製、鱗片状黒鉛、平均粒子径15μm
<Conductive fine particles (D-1) to (D-4)>
-Conductive fine particles (D-1): Fukuda Metal Foil Powder Co., Ltd., flake-shaped silver powder, average particle diameter 5.2 μm
-Conductive fine particles (D-2): manufactured by Fukuda Metal Foil Powder Co., Ltd., chain-aggregated silver powder, average particle diameter 1.5 μm
-Conductive fine particles (D-3): manufactured by DOWA Electronics, flake-shaped silver-coated copper powder, silver coating amount 10%, average particle diameter 4.0 μm
-Conductive fine particles (D-4): manufactured by Ito Graphite Co., Ltd., scaly graphite, average particle diameter 15 μm

<改質剤(E-1)~(E-13)>
・改質剤(E-1):フドー株式会社製、芳香族炭化水素樹脂「ニカノールLLL」、芳香族構造を有する。数平均分子量258、1分子中に1つ以上の水酸基を有する、105℃180分後の加熱残留分は98%。
・改質剤(E-2):フドー株式会社製、芳香族炭化水素樹脂「ニカノールY-300」、芳香族構造をする。数平均分子量213、1分子中に1つ以上の水酸基を有する、105℃180分後の加熱残留分は98%。
・改質剤(E-3):フドー株式会社製、芳香族炭化水素樹脂「ニカノールH」、芳芳香族構造を有する。数平均分子量411、1分子中に1つ以上の水酸基を有する、105℃180分後の加熱残留分は96%。
・改質剤(E-4):キングインダストリーズ社製、ポリエステルポリオール「FLEXOREZA307」、エステル結合を有する。数平均分子量1203、1分子中に1つ以上の水酸基を有する、105℃180分後の加熱残留分は91%。
・改質剤(E-5):キングインダストリーズ社製、ポリエステルポリオール「FLEXOREZ188」、エステル結合を有する。数平均分子量612、1分子中に1つ以上の水酸基を有する、105℃180分後の加熱残留分は91%。
・改質剤(E-6):ヤスハラケミカル株式会社製、芳香族変性テルペンフェノール樹脂、「YSポリスターU130」、芳香族構造を有する。数平均分子量800、1分子中に1つ以上の水酸基を有する、105℃180分後の加熱残留分は98%。
・改質剤(E-7):城北化学株式会社製、ベンゾトリアゾール系化合物「JF-83」、芳香族構造を有する。数平均分子量561、1分子中に1つの水酸基を含む、105℃180分後の加熱残留分は99%。
・改質剤(E-8):エバーライトケミカル社製、ベンゾトリアゾール系化合物「eversorb74」、芳香族構造を有する。数平均分子量351、1分子中に1つの水酸基を含む、105℃180分後の加熱残留分は99%。
・改質剤(E-9):エバーライトケミカル社製、ベンゾトリアゾール系化合物「eversorb81」、芳香族構造を有する。数平均分子量351、1分子中に1つの水酸基を含む、105℃180分後の加熱残留分は94%。
・改質剤(E-10):株式会社クラレ製、ポリエステルポリオール、「クラレポリオールP6010」、エステル結合を有する。数平均分子量6,000、1分子中に1つ以上の水酸基を有する、105℃180分後の加熱残留分は96%。
・改質剤(E-11):ヤスハラケミカル株式会社製、芳香族変性テルペン樹脂、「YSレジンTO85」、芳香族構造を有する。数平均分子量820、1分子中に水酸基数を含まない、105℃180分後の加熱残留分は98%。
・改質剤(E-12):富士フイルムワコーケミカル社製、2-フェノキシエタノール。芳香族構造を有する。数平均分子量136、1分子中に1つの水酸基を含む、105℃180分後の加熱残留分は0.1%。
・改質剤(E-13):ヤスハラケミカル社製、ポリテルペン樹脂「YSレジンPX800」、芳香族構造もエステル結合も有さない。数平均分子量841、1分子に含まれる水酸基を含まない、105℃180分後の加熱残留分は98%。
<Modifiers (E-1) to (E-13)>
-Modifier (E-1): Manufactured by Fudow Co., Ltd., aromatic hydrocarbon resin "Nicanor LLL", having an aromatic structure. The number average molecular weight is 258, and one molecule has one or more hydroxyl groups, and the residual heat after 180 minutes at 105 ° C. is 98%.
-Modifier (E-2): Manufactured by Fudow Co., Ltd., aromatic hydrocarbon resin "Nicanor Y-300", which has an aromatic structure. Number average molecular weight 213, having one or more hydroxyl groups in one molecule, the residual heating after 180 minutes at 105 ° C is 98%.
-Modifier (E-3): Manufactured by Fudow Co., Ltd., aromatic hydrocarbon resin "Nicanor H", having a fragrant aromatic structure. Number average molecular weight 411, having one or more hydroxyl groups in one molecule, the residual heating after 180 minutes at 105 ° C is 96%.
Modifier (E-4): Polyester polyol "FLEXOREZA307" manufactured by King Industries, Inc., having an ester bond. Number average molecular weight 1203, having one or more hydroxyl groups in one molecule, the residual heating after 180 minutes at 105 ° C. is 91%.
Modifier (E-5): Polyester polyol "FLEXOREZ188" manufactured by King Industries, Inc., having an ester bond. Number average molecular weight 612, having one or more hydroxyl groups in one molecule, the residual heating after 180 minutes at 105 ° C. is 91%.
-Modifier (E-6): Manufactured by Yasuhara Chemical Co., Ltd., aromatic-modified terpene phenol resin, "YS Polystar U130", having an aromatic structure. The number average molecular weight is 800, and one molecule has one or more hydroxyl groups, and the residual heat after 180 minutes at 105 ° C. is 98%.
-Modifier (E-7): Manufactured by Johoku Chemical Co., Ltd., benzotriazole-based compound "JF-83", having an aromatic structure. Number average molecular weight 561, one molecule contains one hydroxyl group, and the heating residue after 180 minutes at 105 ° C is 99%.
-Modifier (E-8): A benzotriazole-based compound "eversorb74" manufactured by Everlite Chemical Co., Ltd., which has an aromatic structure. The number average molecular weight 351 contains one hydroxyl group in one molecule, and the residual heating residue after 180 minutes at 105 ° C. is 99%.
-Modifier (E-9): A benzotriazole compound "eversorb81" manufactured by Everlite Chemical Co., Ltd., which has an aromatic structure. The number average molecular weight 351 contains one hydroxyl group in one molecule, and the residual heating residue after 180 minutes at 105 ° C. is 94%.
Modifier (E-10): Kuraray Co., Ltd., polyester polyol, "Kuraray polyol P6010", having an ester bond. The number average molecular weight is 6,000, and one molecule has one or more hydroxyl groups, and the residual heat after 180 minutes at 105 ° C. is 96%.
-Modifier (E-11): Manufactured by Yasuhara Chemical Co., Ltd., aromatic-modified terpene resin, "YS resin TO85", having an aromatic structure. Number average molecular weight 820, the number of hydroxyl groups in one molecule is not included, and the heating residue after 180 minutes at 105 ° C is 98%.
-Modifier (E-12): 2-phenoxyethanol manufactured by FUJIFILM Wako Chemical Co., Ltd. It has an aromatic structure. The number average molecular weight 136, one hydroxyl group contained in one molecule, and the residual heating residue after 180 minutes at 105 ° C. was 0.1%.
Modifier (E-13): Polyterpene resin "YS resin PX800" manufactured by Yasuhara Chemical Co., Ltd., which has neither aromatic structure nor ester bond. The number average molecular weight 841, which does not contain the hydroxyl group contained in one molecule, is 98% after heating at 105 ° C. for 180 minutes.

<その他成分(F-1)、(F-2)>
・その他成分(F-1):ビックケミー社製、消泡剤、BYK-1790 固形分100%
・その他成分(F-2):第一工業製薬社製、アニオン性滑剤、カリセッケンHY 固形分100%
<Other ingredients (F-1), (F-2)>
-Other ingredients (F-1): Made by Big Chemie, antifoaming agent, BYK-1790 Solid content 100%
-Other ingredients (F-2): Manufactured by Dai-ichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd., anionic lubricant, Calisekken HY 100% solid content

<製造例1:成形フィルム用導電性組成物(G-1)の作成>
樹脂(A-1)20.0部を溶剤(B-1)30.0部に溶解させ、導電性微粒子(D-1)80.0部を撹拌混合し、3本ロールミル(小平製作所製)で混練したのち、プラネタリーミキサーにより均一に撹拌混合することで成形フィルム用導電性組成物(G-1)を得た。
<Production Example 1: Preparation of Conductive Composition for Molded Film (G-1)>
20.0 parts of the resin (A-1) is dissolved in 30.0 parts of the solvent (B-1), 80.0 parts of the conductive fine particles (D-1) are stirred and mixed, and a 3-roll mill (manufactured by Kodaira Seisakusho). After kneading with the above, the conductive composition for a molded film (G-1) was obtained by uniformly stirring and mixing with a planetary mixer.

<製造例2~18:成形フィルム用導電性組成物(G-2)~(G-18)の作成>
製造例1において、樹脂(A1)、溶剤(B1)、導電性微粒子(D)、架橋剤(C1)、またはその他成分(F-1)、(その他成分(E-1)はプラネタリーミキサーによる均一撹拌混合の直前に加えた)の種類及び配合量を表1のように変更した以外は、それぞれ製造例1と同様にして、成形フィルム用導電性組成物(G-2)~(G-18)を得た。
<Production Examples 2 to 18: Preparation of Conductive Compositions (G-2) to (G-18) for Molded Film>
In Production Example 1, the resin (A1), the solvent (B1), the conductive fine particles (D), the cross-linking agent (C1), or the other component (F-1), (the other component (E-1) is a planetary mixer. Conductive compositions for molded films (G-2) to (G-) in the same manner as in Production Example 1 except that the type and blending amount of (added immediately before uniform stirring and mixing) were changed as shown in Table 1. 18) was obtained.

<製造例19:成形フィルム用絶縁性組成物(H-1)の作成>
樹脂(A-6)20.0部を溶剤(B-1)30.0部に溶解させ、改質剤(E-1)2.0重量部および消泡剤(F-1)0.2重量部を加えたのち、プラネタリーミキサーにより均一に撹拌混合することで成形フィルム用絶縁性組成物(H-1)を得た。
<Production Example 19: Preparation of Insulating Composition (H-1) for Molded Film>
Dissolve 20.0 parts of the resin (A-6) in 30.0 parts of the solvent (B-1), 2.0 parts by weight of the modifier (E-1) and 0.2 parts of the defoaming agent (F-1). After adding parts by weight, the insulating composition for a molded film (H-1) was obtained by uniformly stirring and mixing with a planetary mixer.

<製造例19~46:成形フィルム用絶縁性組成物(H-2)~(H-28)の作成>
製造例19において、樹脂(A2)、溶剤(B2)、架橋剤(C2)、改質剤(E)またはその他成分(F-1)の種類(その他成分(F-1)はプラネタリーミキサーによる均一撹拌混合の直前に加えた)及び配合量を表2、3のように変更した以外は、それぞれ製造例19と同様にして、成形フィルム用絶縁性組成物(H-2)~(H-28)を得た。
<Production Examples 19 to 46: Preparation of Insulating Compositions (H-2) to (H-28) for Molded Film>
In Production Example 19, the type of resin (A2), solvent (B2), cross-linking agent (C2), modifier (E) or other component (F-1) (other component (F-1) is determined by a planetary mixer. Insulating compositions for molded films (H-2) to (H-), respectively, in the same manner as in Production Example 19 except that (added immediately before uniform stirring and mixing) and the blending amount were changed as shown in Tables 2 and 3, respectively. 28) was obtained.

<製造例47:加飾インキ(I-1)の作成>
樹脂溶液(A-7)175部(樹脂(A-7)のみとして70部)を準備し、これにフタロシアニンブルー顔料(トーヨーカラー社製、リオノールブルー FG7351)20部、酸化チタン顔料(石原産業社製TIPAQUE CR-93)10質量部を撹拌混合し、3本ロールミル(小平製作所製)で混練したのち、イソシアネート架橋剤(住化コベストロウレタン社製デスモジュール N3300、不揮発分100%)5部と溶剤(B-2)90部を加えて均一に撹拌混合することで加飾インキ(I-1)を得た。
<Manufacturing example 47: Preparation of decorative ink (I-1)>
Prepare 175 parts of resin solution (A-7) (70 parts for resin (A-7) only), and add 20 parts of phthalocyanine blue pigment (Toyo Color Co., Ltd., Lionol Blue FG7351) and titanium oxide pigment (Ishihara Sangyo). TIPAQUE CR-93) 10 parts by mass is stirred and mixed, kneaded with a 3-roll mill (manufactured by Kodaira Seisakusho), and then 5 parts of an isocyanate cross-linking agent (Death Module N3300 manufactured by Sumika Cobestro Urethane, 100% non-volatile content). And 90 parts of the solvent (B-2) were added and mixed uniformly with stirring to obtain a decorative ink (I-1).

なお、表1~表3中の各材料の数値はいずれも質量部である。 The numerical values of each material in Tables 1 to 3 are all parts by mass.

<実施例1~84、および比較2~7>
ポリカーボネート(PC)ベースフィルム(帝人社製、パンライト2151、厚み300μm))上に、成形フィルム用導電性組成物(G-1)~(G-18)をそれぞれスクリーン印刷機(ミノスクリーン社製、ミノマットSR5575半自動スクリーン印刷機)によって印刷した。次いで、熱風乾燥オーブン中、120℃で30分加熱することで、(1)幅70mm、長さ120mm、厚み10μmの四角形ベタ状パターン、(2)線幅2mm、長さ60mm、厚み10μmの直線状のパターンおよび(3)対向部線長50mm、L/S=100μm/100μm正負10本ずつの櫛形配線パターンを有する導電層を備えた成形フィルムをそれぞれ得た。この段階の(1)四角形ベタ状パターンについて、導電層の体積固有抵抗を抵抗率計(三菱ケミカルアナリティック社製、ロレスタGX MCP-T700)を用いて測定した。
さらにこの導電層を備えた成形フィルムの導電パターンが形成された面上に成形フィルム用絶縁性組成物(H-1)~(H-28)を、(1)前記四角形ベタ状導電パターンに対しては導電パターン全体を覆うように幅90mm、長さ140mm、厚み15μmとなるように、また(2)前記直線状導電パターンに対しては導電パターンの長さ方向に両端10mmが露出しその他の部分を覆うように幅10mm、長さ40mm、厚み15μmとなるように、さらに(3)前記櫛形配線パターンに対しては櫛形の対向パターン部の一部を覆うように幅6mm、長さ40mm、厚み15μmとなるように、それぞれ前記スクリーン印刷機によって重ね印刷した。次いで、熱風乾燥オーブンで120℃で30分加熱することで、前記パターン化された導電層とその一部または全部を被覆するように積層された絶縁層を備えた成形フィルムを得た。この際、導電性組成物と絶縁性組成物の組み合わせは表3~6の通りになるように、それぞれ成型フィルムを作成した。この段階の(1)四角形ベタ状パターンの、導電層と重なっていない端部の絶縁層部分について、絶縁層の体積固有抵抗を抵抗率計(三菱ケミカルアナリティック社製、ハイレスタUX MCP-HT800)を用いて測定した。
<Examples 1 to 84 and comparisons 2 to 7>
Conductive compositions for molding films (G-1) to (G-18) are printed on a polycarbonate (PC) base film (Teijin, Panlite 2151, thickness 300 μm), respectively, on a screen printing machine (Minoscreen). , Minomat SR5575 semi-automatic screen printing machine). Then, by heating at 120 ° C. for 30 minutes in a hot air drying oven, (1) a square solid pattern having a width of 70 mm, a length of 120 mm and a thickness of 10 μm, and (2) a straight line having a line width of 2 mm, a length of 60 mm and a thickness of 10 μm. A molded film having a similar pattern and (3) a conductive layer having a comb-shaped wiring pattern of (3) facing portion line length of 50 mm and L / S = 100 μm / 100 μm of 10 positive and negative lines was obtained, respectively. For the (1) quadrangular solid pattern at this stage, the volume intrinsic resistance of the conductive layer was measured using a resistivity meter (Roresta GX MCP-T700 manufactured by Mitsubishi Chemical Analytical Corporation).
Further, the insulating compositions for molded film (H-1) to (H-28) are applied onto the surface on which the conductive pattern of the molded film provided with the conductive layer is formed, (1) with respect to the square solid conductive pattern. The width is 90 mm, the length is 140 mm, and the thickness is 15 μm so as to cover the entire conductive pattern. (2) For the linear conductive pattern, 10 mm at both ends are exposed in the length direction of the conductive pattern. The width is 10 mm, the length is 40 mm, and the thickness is 15 μm so as to cover the portion. Overprinting was performed by the screen printing machine so as to have a thickness of 15 μm. Then, by heating in a hot air drying oven at 120 ° C. for 30 minutes, a molded film provided with the patterned conductive layer and an insulating layer laminated so as to cover a part or all of the patterned conductive layer was obtained. At this time, molded films were prepared so that the combinations of the conductive composition and the insulating composition were as shown in Tables 3 to 6. (1) Regarding the insulating layer portion at the end that does not overlap with the conductive layer in the (1) square solid pattern, the resistivity meter (HIRESTA UX MCP-HT800, manufactured by Mitsubishi Chemical Analytical Co., Ltd.) measures the volume intrinsic resistance of the insulating layer. Was measured using.

<実施例85~88>
前記実施例1、27、47および70において、ポリカーボネートベースフィルムの代わりに、アクリル樹脂ベースフィルム(住友化学社製、テクノロイS001G、厚み250μm)(300mm×210mm)を用いたこと、及び、熱風乾燥オーブンでの乾燥条件を80℃で30分としたこと以外は、前記実施例1、27、47および70と同様にして、成形フィルムを得た。
<Examples 85 to 88>
In Examples 1, 27, 47 and 70, an acrylic resin base film (Technoloy S001G, manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., thickness 250 μm) (300 mm × 210 mm) was used instead of the polycarbonate base film, and a hot air drying oven. A molded film was obtained in the same manner as in Examples 1, 27, 47 and 70, except that the drying conditions were set at 80 ° C. for 30 minutes.

<実施例89~92>
前記実施例1、27、47および70において、ポリカーボネートベースフィルムの代わりに、ポリカーボネート樹脂/アクリル樹脂2種2層共押し出しベースフィルム(住友化学社製、テクノロイC001、厚み125μm)を用い、ポリカーボネート樹脂側に成形フィルム用導電性組成物および絶縁性組成物の印刷を行ったこと以外は、前記実施例1、27、47および70と同様にして、成形フィルムを得た。
<Examples 89 to 92>
In Examples 1, 27, 47 and 70, instead of the polycarbonate base film, a polycarbonate resin / acrylic resin type 2 two-layer coextruded base film (Technoloy C001 manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., thickness 125 μm) was used, and the polycarbonate resin side was used. A molded film was obtained in the same manner as in Examples 1, 27, 47 and 70, except that the conductive composition for the molded film and the insulating composition were printed on the film.

<実施例93、94>
前記実施例1および27において、ポリカーボネートベースフィルムの代わりに、ポリプロピレン樹脂ベースフィルム(出光ユニテック社製、ピュアサーモAG-306、厚み200μm)を用いたこと、及び、熱風乾燥オーブンでの乾燥条件を80℃で30分としたこと以外は、前記実施例1および27と同様にして、成形フィルムを得た。
<Examples 93 and 94>
In Examples 1 and 27, a polypropylene resin base film (Pure Thermo AG-306 manufactured by Idemitsu Unitech Co., Ltd., thickness 200 μm) was used instead of the polycarbonate base film, and the drying conditions in a hot air drying oven were 80. Molded films were obtained in the same manner as in Examples 1 and 27 except that the temperature was set to 30 minutes.

<実施例95、96>
前記実施例47および70において、ポリカーボネートベースフィルムの代わりに、ポリエチレンテレフタラート樹脂ベースフィルム(RP東プラ社製A-PETフィルム、NOACRYSTAL-V、厚み300μm)を用い、及び、熱風乾燥オーブンでの乾燥条件を80℃で30分としたこと以外は、前記実施例47および70と同様にして、成形フィルムを得た。
<Examples 95 and 96>
In Examples 47 and 70, a polyethylene terephthalate resin base film (A-PET film manufactured by RP Topra Co., Ltd., NOACRYSTAL-V, thickness 300 μm) was used instead of the polycarbonate base film, and the film was dried in a hot air drying oven. Molded films were obtained in the same manner as in Examples 47 and 70 except that the conditions were set to 80 ° C. for 30 minutes.

<実施例97~100>
ポリカーボネートベースフィルム(帝人社製、パンライト2151、厚み300μm)上に、加飾インキ(I-1)を、ブレードコーターを用いて、乾燥膜厚が2μmとなるように塗工し、120℃で30分加熱して加飾層を形成した。
次いで、前記実施例1、27、47および70において、ポリカーボネートベースフィルムの代わりに上記加飾層付きベースフィルムを用い、加飾層上に導電層および絶縁層を形成した以外は、前記実施例1、27、47および70と同様にして、ポリカーボネートベースフィルム、加飾インキ層、導電層、絶縁層がこの順に積層された成形フィルムを得た。
<Examples 97 to 100>
A decorative ink (I-1) is applied onto a polycarbonate base film (Teijin Co., Ltd., Panlite 2151, thickness 300 μm) using a blade coater so that the dry film thickness is 2 μm, and the temperature is 120 ° C. It was heated for 30 minutes to form a decorative layer.
Next, in Examples 1, 27, 47, and 70, the base film with a decorative layer was used instead of the polycarbonate base film, and the conductive layer and the insulating layer were formed on the decorative layer. , 27, 47 and 70, a molded film in which a polycarbonate base film, a decorative ink layer, a conductive layer and an insulating layer were laminated in this order was obtained.

<実施例101>
前記実施例70において得られた成型フィルムの印刷されていない裏面に、さらに前記実施例70の導電パターンと絶縁パターンと表裏で重なる位置となるようにフィルム用導電性組成物および絶縁性組成物の印刷を行い、第二の導電層と、その一部を被覆するように積層された第二の絶縁層を形成したこと以外は、前記実施例70と同様にして、ベースフィルムの両面に導電層とその一部または全部を被覆するように積層された絶縁層を備えた成形フィルムを得た。
<Example 101>
The conductive composition for film and the insulating composition so as to overlap the conductive pattern and the insulating pattern of Example 70 on the front and back surfaces of the molded film obtained in Example 70 without printing. In the same manner as in the 70th embodiment, the conductive layers are formed on both sides of the base film, except that the second conductive layer and the second insulating layer laminated so as to cover a part of the second conductive layer are formed by printing. And a molded film having an insulating layer laminated so as to cover a part or the whole thereof was obtained.

<実施例102>
前記実施例70において得られた成型フィルムの絶縁パターン上に、さらに前記実施例70の導電パターンから幅方向に端部間隔が5mm離れた位置に印刷および乾燥を実施例70の導電パターンを形成した工程と同様に行い、さらに実施例70の絶縁パターンと重なる位置に第二の絶縁層パターンの印刷を行うことで、ベースフィルムの片側上に第一の導電層と、その一部を被覆するように積層された第一の絶縁層と、第二の導電層と、その一部を被覆するように積層された第二の絶縁層をこの順番に備えた成形フィルムを得た。
<Example 102>
On the insulating pattern of the molded film obtained in Example 70, the conductive pattern of Example 70 was further printed and dried at a position where the edge spacing was 5 mm in the width direction from the conductive pattern of Example 70. By performing the same procedure as in the process and further printing the second insulating layer pattern at a position overlapping the insulating pattern of Example 70, the first conductive layer and a part thereof are covered on one side of the base film. A molded film having a first insulating layer laminated on the surface, a second conductive layer, and a second insulating layer laminated so as to cover a part thereof was obtained in this order.

<比較例1>
前記実施例1において、絶縁層を形成しなかったこと以外は、前記実施例1と同様にして、成形フィルムを得た。
<Comparative Example 1>
A molded film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the insulating layer was not formed in Example 1.

[(1)配線抵抗評価]
上記実施例1~102、および比較例1~7の成形フィルムに形成された、2mm×60mmの直線状導電層パターンが真ん中に来るように長手方向に70mm、幅方向に10mmに切り出し、測定用クーポンとした。この測定用クーポン上の導電層とは反対側の面に、長手方向端から当該導電層と垂直な線を目印として油性マジックで4cm間隔になるように2本書き加えた。この目印に従い、テスターの両測定部を導電層に接触させ、4cm幅の導電層の抵抗値を測定し、これを配線成功(Ω)とした。結果を表4~11に示す。
[(1) Wiring resistance evaluation]
A 2 mm × 60 mm linear conductive layer pattern formed on the molded films of Examples 1 to 102 and Comparative Examples 1 to 7 is cut into 70 mm in the longitudinal direction and 10 mm in the width direction so as to be in the center, and is used for measurement. I made it a coupon. On the surface of the coupon for measurement opposite to the conductive layer, two lines were added with an oil-based marker at intervals of 4 cm from the end in the longitudinal direction using a line perpendicular to the conductive layer as a mark. According to this mark, both measuring portions of the tester were brought into contact with the conductive layer, and the resistance value of the conductive layer having a width of 4 cm was measured, and this was defined as successful wiring (Ω). The results are shown in Tables 4-11.

[(2)熱延伸評価1]
上記実施例1~84、89~92、97~102および比較例1~7の前記測定用クーポンを170℃の加熱オーブン中で、長手方向に引っ張り速度10mm/分で伸長率50%まで引き延ばした。オーブンから取出し、冷却後に光学顕微鏡を用いて断線の有無を評価した。また、上記配線抵抗の測定と同様の方法で、元の目印基準で4cm間隔に相当する位置の配線抵抗(Ω)を測定し、伸縮後の配線抵抗/伸縮前の配線抵抗を熱延伸時抵抗変動率(倍)とし、それぞれ以下の基準で評価した。結果を表4~11に示す。
(断線の有無)
A:断線は見られなかった
B:1~2個の軽微なヒビが確認された
C:重度の断線または導電塗膜の剥離が確認された
(熱延伸時抵抗変動率)
A:5倍以上10倍未満
B:10倍以上50倍未満
C:50倍以上
[(2) Thermal stretching evaluation 1]
The measurement coupons of Examples 1 to 84, 89 to 92, 97 to 102 and Comparative Examples 1 to 7 were stretched in a heating oven at 170 ° C. in the longitudinal direction at a pulling speed of 10 mm / min to an elongation rate of 50%. .. It was taken out of the oven, cooled, and then evaluated for disconnection using an optical microscope. In addition, the wiring resistance (Ω) at the position corresponding to the interval of 4 cm is measured by the same method as the measurement of the wiring resistance above, and the wiring resistance after expansion / contraction / the wiring resistance before expansion / contraction is the resistance at the time of thermal stretching. The fluctuation rate was set to (double), and each was evaluated according to the following criteria. The results are shown in Tables 4-11.
(Presence / absence of disconnection)
A: No disconnection was observed B: 1 to 2 minor cracks were confirmed C: Severe disconnection or peeling of the conductive coating film was confirmed (resistance fluctuation rate during thermal stretching)
A: 5 times or more and less than 10 times B: 10 times or more and less than 50 times C: 50 times or more

なお、伸長率は以下のように算出される値である。
(伸長率)[%]={(延伸後の長さ-延伸前の長さ)/(延伸前の長さ)}×100
The elongation rate is a value calculated as follows.
(Elongation rate) [%] = {(Length after stretching-Length before stretching) / (Length before stretching)} x 100

[(3)熱延伸評価2]
実施例1~84、89~92、97~102および比較例1~7においては、前記熱延伸評価1において、伸長率を100%に変更した以外は、前記熱延伸評価1と同様にして、以下の基準で評価した。結果を表4~11に示す。
(断線の有無)
A:断線は見られなかった
B:1~2個の軽微なヒビが確認された
C:重度の断線または導電塗膜の剥離が確認された
(熱延伸時抵抗変動率)
A:10倍以上50倍未満
B:50倍以上200倍未満
C:200倍以上
[(3) Thermal stretching evaluation 2]
In Examples 1 to 84, 89 to 92, 97 to 102 and Comparative Examples 1 to 7, the same as in the heat stretching evaluation 1 except that the elongation rate was changed to 100% in the heat stretching evaluation 1. It was evaluated according to the following criteria. The results are shown in Tables 4-11.
(Presence / absence of disconnection)
A: No disconnection was observed B: 1 to 2 minor cracks were confirmed C: Severe disconnection or peeling of the conductive coating film was confirmed (resistance fluctuation rate during thermal stretching)
A: 10 times or more and less than 50 times B: 50 times or more and less than 200 times C: 200 times or more

[(4)熱延伸評価3]
上記実施例85~88、93~96の前記測定用クーポンを130℃の加熱オーブン中で、長手方向に引っ張り速度10mm/分で伸長率50%まで引き延ばした。オーブンから取出し、冷却後に光学顕微鏡を用いて断線の有無を評価した。また、上記配線抵抗の測定と同様の方法で、元の目印基準で4mm間隔に相当する位置の配線抵抗(Ω)を測定し、伸縮後の配線抵抗/伸縮前の配線抵抗を熱延伸時抵抗変動率(倍)とし、それぞれ以下の基準で評価した。結果を表9に示す。
(断線の有無)
A:断線は見られなかった
B:1~2個の軽微なヒビが確認された
C:重度の断線または導電塗膜の剥離が確認された
(熱延伸時抵抗変動率)
A:5倍以上10倍未満
B:10倍以上50倍未満
C:50倍以上
[(4) Thermal stretching evaluation 3]
The measurement coupons of Examples 85 to 88 and 93 to 96 were stretched in a heating oven at 130 ° C. in the longitudinal direction at a pulling speed of 10 mm / min to an elongation rate of 50%. It was taken out of the oven, cooled, and then evaluated for disconnection using an optical microscope. In addition, the wiring resistance (Ω) at the position corresponding to the interval of 4 mm is measured by the same method as the measurement of the wiring resistance above, and the wiring resistance after expansion / contraction / the wiring resistance before expansion / contraction is the resistance at the time of thermal stretching. The fluctuation rate was set to (double), and each was evaluated according to the following criteria. The results are shown in Table 9.
(Presence / absence of disconnection)
A: No disconnection was observed B: 1 to 2 minor cracks were confirmed C: Severe disconnection or peeling of the conductive coating film was confirmed (resistance fluctuation rate during thermal stretching)
A: 5 times or more and less than 10 times B: 10 times or more and less than 50 times C: 50 times or more

[(5)熱延伸評価4]
実施例85~88、93~96においては、前記熱延伸評価3において、伸長率を100%に変更した以外は、前記熱延伸評価3と同様にして、以下の基準で評価した。結果を表9に示す。
(断線の有無)
A:断線は見られなかった
B:1~2個の軽微なヒビが確認された
C:重度の断線または導電塗膜の剥離が確認された
(熱延伸時抵抗変動率)
A:10倍以上50倍未満
B:50倍以上200倍未満
C:200倍以上
[(5) Thermal stretching evaluation 4]
In Examples 85 to 88 and 93 to 96, the evaluation was performed according to the following criteria in the same manner as in the thermal stretching evaluation 3 except that the elongation rate was changed to 100% in the thermal stretching evaluation 3. The results are shown in Table 9.
(Presence / absence of disconnection)
A: No disconnection was observed B: 1 to 2 minor cracks were confirmed C: Severe disconnection or peeling of the conductive coating film was confirmed (resistance fluctuation rate during thermal stretching)
A: 10 times or more and less than 50 times B: 50 times or more and less than 200 times C: 200 times or more

[(6)オーバーレイ成形による成形体製造時の工程耐性評価1]
上記実施例1~84、89~92、97~102および比較例1~7の成形フィルムの2mm×60mmの直線状パターンの位置と重なるように、半径4cmの半球状のABS樹脂成形物を導電体側の面と向かい合うように合わせ、TOM成形機(布施真空社製)を用いて設定温度170℃でオーバーレイ成形を行うことで、半球形状に成形された成形フィルムとABS樹脂成形物とが一体化した成形体を得た。この成形体の直線状パターン配線の削れおよび抵抗変動率を確認した。抵抗変動率は元の目印基準で6cm間隔に相当する位置の配線抵抗(Ω)を測定し、伸縮後の配線抵抗/伸縮前の配線抵抗を熱延伸時抵抗変動率(倍)とし、それぞれ以下の基準で評価した。結果を表4~11に示す。
(断線の有無と抵抗変動率)
A:配線の削れが見られず、かつ抵抗変動率が5倍以上30倍未満
B:1~2箇所の配線の削れによる端部欠けが確認される、または抵抗変動率が30倍以上500倍未満
C:配線の削れによる断線が1箇所以上確認される
[(6) Process resistance evaluation 1 when manufacturing a molded product by overlay molding]
A hemispherical ABS resin molded product having a radius of 4 cm is conductive so as to overlap the positions of the 2 mm × 60 mm linear patterns of the molded films of Examples 1 to 84, 89 to 92, 97 to 102 and Comparative Examples 1 to 7. By aligning them so that they face the surface on the body side and performing overlay molding at a set temperature of 170 ° C using a TOM molding machine (manufactured by Fuse Vacuum Co., Ltd.), the molded film molded into a hemispherical shape and the ABS resin molded product are integrated. A molded product was obtained. The scraping and resistance volatility of the linear pattern wiring of this molded product were confirmed. For the resistance fluctuation rate, measure the wiring resistance (Ω) at the position corresponding to the 6 cm interval based on the original mark, and set the wiring resistance after expansion and contraction / the wiring resistance before expansion and contraction as the resistance fluctuation rate during thermal stretching (double), and each is as follows. Evaluated according to the criteria of. The results are shown in Tables 4-11.
(Presence / absence of disconnection and resistance volatility)
A: No wiring scraping is seen, and the resistance fluctuation rate is 5 times or more and less than 30 times. Less than C: One or more disconnections due to scraping of wiring are confirmed.

[(7)オーバーレイ成形による成形体製造時の工程耐性評価2]
上記実施例85~88、93~96の成形フィルムの2mm×60mmの直線状パターンを使用し、130℃でオーバーレイ成形を行った以外は、前記オーバーレイ成形による成形体製造時の工程耐性評価1と同様に成形体を得て、オーバーレイ成形時の直線状パターン配線の削れおよび抵抗変動率を評価した。結果を表9に示す。
[(7) Process resistance evaluation 2 during manufacturing of molded product by overlay molding]
Except for the fact that the linear patterns of 2 mm × 60 mm of the molded films of Examples 85 to 88 and 93 to 96 were used and overlay molding was performed at 130 ° C. Similarly, a molded product was obtained, and the scraping and resistance fluctuation rate of the linear pattern wiring during overlay molding were evaluated. The results are shown in Table 9.

[(8)フィルムインサート成形による成形体製造時の工程耐性評価1]
上記実施例1~84、89~92、97~102および比較例1~7の成形フィルムの2mm×60mmの直線状パターンの位置と重なるように、半径4cmの半球状窪みを中央に有するブロック状金属製モールドを導電層および絶縁層側の面と向かい合うように合わせ、TOM成形機(布施真空社製)を用いて設定温度170℃でオーバーレイ成形を行うことで、半球形状に成形された内側にパターン化導電体を有する成形用フィルムを得た。
次いで、当該半球形状に成形された成形フィルムを、バルブゲートタイプのインモールド成形用テスト金型が取り付けられた射出成形機(IS170(i5)、東芝機械社製)にセットし、PC/ABS樹脂(LUPOYPC/ABSHI5002、LG化学社製)を射出成形することで、パターン化導電体付き成形用フィルムと一体化された成形体を得た(射出条件:スクリュー径40mm、シリンダー温度260℃ 、金型温度(固定側、可動側)80℃ 、射出圧力180MPa、保圧力120MPa、射出速度60mm/秒(28%)、射出時間4秒、冷却時間20秒)。この成形体の直線状パターンの溶融樹脂の射出によるウォッシュアウト(溶融熱可塑性樹脂の温度および射出圧による配線パターンの変形や断線)および抵抗変動率を確認した。抵抗変動率は元の目印基準で6cm間隔に相当する位置の配線抵抗(Ω)を測定し、伸縮後の配線抵抗/伸縮前の配線抵抗を熱延伸時抵抗変動率(倍)とし、それぞれ以下の基準で評価した。結果を表4~11に示す。
(断線の有無と抵抗変動率)
A:配線のウォッシュアウトが全く見られず、かつ抵抗変動率が10倍以上50倍未満
B:軽度のウォッシュアウトによる配線の歪みが確認される、または抵抗変動率が50倍以上500倍未満
C:配線のウォッシュアウトによる断線が1箇所以上確認される
[(8) Process resistance evaluation at the time of manufacturing a molded product by film insert molding 1]
A block shape having a hemispherical recess with a radius of 4 cm in the center so as to overlap the positions of the 2 mm × 60 mm linear patterns of the molded films of Examples 1 to 84, 89 to 92, 97 to 102 and Comparative Examples 1 to 7. By aligning the metal mold so that it faces the surface on the conductive layer and the insulating layer side, and performing overlay molding at a set temperature of 170 ° C using a TOM molding machine (manufactured by Fuse Vacuum Co., Ltd.), the inside of the hemispherical shape is formed. A molding film having a patterned conductor was obtained.
Next, the molding film molded into the hemispherical shape was set in an injection molding machine (IS170 (i5), manufactured by Toshiba Machinery Co., Ltd.) equipped with a valve gate type in-mold molding test mold, and a PC / ABS resin was used. (LUPOYPC / ABSHI5002, manufactured by LG Chemical Co., Ltd.) was injection-molded to obtain a molded body integrated with a molding film with a patterned conductor (injection conditions: screw diameter 40 mm, cylinder temperature 260 ° C, mold). Temperature (fixed side, movable side) 80 ° C., injection pressure 180 MPa, holding pressure 120 MPa, injection speed 60 mm / sec (28%), injection time 4 seconds, cooling time 20 seconds). The washout (deformation and disconnection of the wiring pattern due to the temperature and injection pressure of the molten thermoplastic resin) and the resistance fluctuation rate due to the injection of the molten resin of the linear pattern of this molded product were confirmed. For the resistance fluctuation rate, measure the wiring resistance (Ω) at the position corresponding to the 6 cm interval based on the original mark, and set the wiring resistance after expansion and contraction / the wiring resistance before expansion and contraction as the resistance fluctuation rate during thermal stretching (double), and each is as follows. Evaluated according to the criteria of. The results are shown in Tables 4-11.
(Presence / absence of disconnection and resistance volatility)
A: No wiring washout is seen, and the resistance fluctuation rate is 10 times or more and less than 50 times. B: Wiring distortion due to slight washout is confirmed, or the resistance fluctuation rate is 50 times or more and less than 500 times C : One or more disconnections due to wiring washout are confirmed

[(9)フィルムインサート成形による成形体製造時の工程耐性評価2]
上記実施例85~88、93~96の成形フィルムの2mm×60mmの直線状パターンを使用し、130℃でオーバーレイ成形を行った以外は、前記フィルムインサート成形による成形体製造時の工程耐性評価1と同様に成形体を得て、フィルムインサート成形時の直線状パターンの溶融樹脂射出によるウォッシュアウトの程度および抵抗変動率を評価した。結果を表9に示す。
[(9) Process resistance evaluation at the time of manufacturing a molded product by film insert molding 2]
Process resistance evaluation 1 at the time of manufacturing a molded product by the film insert molding, except that the linear pattern of 2 mm × 60 mm of the molded films of Examples 85 to 88 and 93 to 96 was used and overlay molding was performed at 130 ° C. A molded product was obtained in the same manner as in the above, and the degree of washout and the resistance fluctuation rate due to the injection of the molten resin into the linear pattern during film insert molding were evaluated. The results are shown in Table 9.

[(10)フィルムインサート成形による成形体のイオンマイグレーション耐性評価]
上記実施例1~102、および比較例1~7の成形フィルムの櫛形配線パターンおよび絶縁層を有する成形フィルムを用いて、櫛形配線パターンの位置と中心位置が重なるように金型を併せてオーバーレイ成形を行った以外は、前記フィルムインサート成形による成形体製造時の工程耐性評価1と同様に成形体を得た。
上記各成形体の櫛形配線のそれぞれ正負電極の配線露出部をワニ口クリップによって配線に接続し、IMV社製マイグレーションテスター絶縁劣化評価試験機「MIG-8600B」を用いて、5V印加、85℃85%RH条件下での1000時間後の櫛形配線端子間の絶縁抵抗値を確認し、それぞれ以下の基準で評価した。結果を表11に示す。
(イオンマイグレーションによる短絡の有無と絶縁抵抗率)
A:絶縁抵抗変動率が初期の±25%未満
B:絶縁抵抗変動率が初期の±25%以上±100%未満
C:絶縁抵抗変動率が初期の±100%以上またはリークタッチ(電極間短絡履歴)あり
[(10) Evaluation of ion migration resistance of molded product by film insert molding]
Using the molded film having the comb-shaped wiring pattern and the insulating layer of the molded films of Examples 1 to 102 and Comparative Examples 1 to 7, the molds are overlapped and molded so that the position and the center position of the comb-shaped wiring pattern overlap. A molded product was obtained in the same manner as in the process resistance evaluation 1 at the time of manufacturing the molded product by the film insert molding.
Connect the exposed parts of the positive and negative electrodes of the comb-shaped wiring of each of the above moldings to the wiring with an alligator clip, and apply 5V at 85 ° C using the migration tester insulation deterioration evaluation tester "MIG-8600B" manufactured by IMV. The insulation resistance values between the comb-shaped wiring terminals after 1000 hours under the% RH condition were confirmed and evaluated according to the following criteria. The results are shown in Table 11.
(Presence / absence of short circuit due to ion migration and insulation resistivity)
A: Insulation resistance volatility is less than the initial ± 25% B: Insulation resistance volatility is ± 25% or more and less than ± 100% at the initial stage C: Insulation resistance volatility is ± 100% or more at the initial stage or leak touch (short circuit between electrodes) History) Yes

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[結果のまとめ]
導電層上に絶縁層を形成しない比較例1では、成形体の櫛型電極間のイオンマイグレーション耐性が劣り、経時で短絡を発生しやすく、成形体を立体配線回路として使用する際に適さないことが分かった。これは、成形体のベースフィルム-射出成形樹脂間の密着性が十分でないため、この界面からの水分の侵入によるイオン化促進や熱膨張収縮による導電パターンの機械的劣化が大きいことに起因すると考えられる。また、比較例2では絶縁層を形成しているものの、改質剤(E)を有していないため、成形体の櫛型電極間のイオンマイグレーション耐性が実用に耐えなかった。一方で、比較例3では体積固有抵抗が1010Ω・cm未満と低いため、成形体の櫛型電極間のイオンマイグレーション耐性が実用に耐えないレベルであった。以降で改質剤(E)の条件について述べる。比較例4では絶縁層に改質剤(E)を用いているが、数平均分子量が条件(1)の規定範囲より大きいため、導電層と絶縁層間の応力緩和効果が働かず、熱延伸時に導電層へ断線が発生することによる抵抗値変動率の大きさや電極間のイオンマイグレーション耐性が実用に耐えないレベルであった。また、比較例5では改質剤(E)の数平均分子量や加熱残留分は既定の範囲を満たしているが、条件(2)の水酸基を有していないため、導電層および絶縁層内で架橋体が形成されず、成形体の櫛型電極間のイオンマイグレーション耐性が実用に全く耐えなかった。さらに比較例6では条件(3)の加熱残留分を満たさないため、導電層に亀裂が発生し、イオンマイグレーション耐性が実用に耐えなかった。加えて、比較例7では条件(1)や(3)を満たしているものの、芳香族構造やエステル結合を有さないため、導電性や絶縁層に用いられる樹脂との親和性が低く、配線の亀裂が抑えきれずにイオンマイグレーション耐性が不十分であった。
[Summary of results]
In Comparative Example 1 in which the insulating layer is not formed on the conductive layer, the ion migration resistance between the comb-shaped electrodes of the molded body is inferior, short circuits are likely to occur over time, and the molded body is not suitable for use as a three-dimensional wiring circuit. I understood. It is considered that this is because the adhesion between the base film of the molded product and the injection molding resin is not sufficient, and therefore the mechanical deterioration of the conductive pattern due to the promotion of ionization due to the intrusion of water from this interface and the thermal expansion and contraction is large. .. Further, in Comparative Example 2, although the insulating layer was formed, since it did not have the modifier (E), the ion migration resistance between the comb-shaped electrodes of the molded product could not withstand practical use. On the other hand, in Comparative Example 3, since the volume resistivity was as low as less than 10 10 Ω · cm, the ion migration resistance between the comb-shaped electrodes of the molded product was at a level that could not withstand practical use. Hereinafter, the conditions of the modifier (E) will be described. In Comparative Example 4, the modifier (E) is used for the insulating layer, but since the number average molecular weight is larger than the specified range of the condition (1), the stress relaxation effect between the conductive layer and the insulating layer does not work, and during thermal stretching, the stress relaxing effect does not work. The magnitude of the resistance value fluctuation rate due to the disconnection in the conductive layer and the ion migration resistance between the electrodes were at a level that could not be put into practical use. Further, in Comparative Example 5, the number average molecular weight and the heating residue of the modifier (E) satisfy the predetermined ranges, but since they do not have the hydroxyl group of the condition (2), they are contained in the conductive layer and the insulating layer. No crosslinked body was formed, and the ion migration resistance between the comb-shaped electrodes of the molded body did not withstand practical use at all. Further, in Comparative Example 6, since the heating residue of the condition (3) was not satisfied, cracks were generated in the conductive layer, and the ion migration resistance could not withstand practical use. In addition, although the conditions (1) and (3) are satisfied in Comparative Example 7, since it does not have an aromatic structure or an ester bond, it has low conductivity and affinity with the resin used for the insulating layer, and wiring. The cracks could not be suppressed and the ion migration resistance was insufficient.

一方、実施例1~102の結果から、本実施の導電層および絶縁層を有する成型フィルムは、オーバーレイ成形およびフィルムインサート成形時に、溶融樹脂射出に対し断線が起きづらいのみならず、成型フィルムの熱延伸時に導電層パターンの断線も抑制されていた。とくに、導電性組成物に用いられる樹脂(A1)の主鎖中に芳香族構造を有し、かつエステル結合あるいはアミド結合を有する場合に、絶縁層中に改質剤(E)を用いた実施例3~13、15~18、40~81、83、84、87、88、91、92、95、96、99、100の成形フィルムでは、絶縁層中の改質剤の効果により導電層との親和性が高いため、熱成型延伸時の界面間での応力緩和が働く結果、微細クラックを防ぐことができ、熱延伸抵抗変動率も10倍未満と良好であった。とくに、架橋剤としてイソシアネート系化合物を用いている実施例53~84、88、92、96、100の成形フィルムでは、導電層と絶縁層間の親和性の高さに加え、改質剤と樹脂間で架橋されることで熱成型延伸時の微細クラックがなく、熱延伸抵抗変動率も10倍未満となることに加え、配線のウォッシュアウトが全く見られず、かつ絶縁抵抗変動率が初期値の±25%未満となる非常に優れた結果を示した。これらは、導電層と絶縁相関の親和性と架橋剤による架橋によって成型体配線間のマイグレーションが抑制され、成形体配線間の絶縁信頼性が向上したと考えられる。 On the other hand, from the results of Examples 1 to 102, the molded film having the conductive layer and the insulating layer of this embodiment is not only less likely to be disconnected from the molten resin injection during overlay molding and film insert molding, but also the heat of the molded film. The disconnection of the conductive layer pattern was also suppressed during stretching. In particular, when the resin (A1) used for the conductive composition has an aromatic structure in the main chain and has an ester bond or an amide bond, the modifier (E) is used in the insulating layer. In the molded films of Examples 3 to 13, 15 to 18, 40 to 81, 83, 84, 87, 88, 91, 92, 95, 96, 99, 100, the conductive layer is formed by the effect of the modifier in the insulating layer. As a result of stress relaxation between the interfaces during thermal molding and stretching, fine cracks could be prevented and the thermal stretching resistance fluctuation rate was as good as less than 10 times. In particular, in the molded films of Examples 53 to 84, 88, 92, 96, and 100 in which an isocyanate compound is used as the cross-linking agent, in addition to the high affinity between the conductive layer and the insulating layer, between the modifier and the resin. By cross-linking with, there are no fine cracks during thermal molding stretching, the thermal stretching resistance fluctuation rate is less than 10 times, no wiring washout is seen, and the insulation resistance fluctuation rate is the initial value. It showed very good results of less than ± 25%. It is considered that the migration between the molded body wirings was suppressed by the affinity between the conductive layer and the insulation correlation and the cross-linking with the cross-linking agent, and the insulation reliability between the molded body wirings was improved.

また、上記特性により、本発明の導電性樹脂組成物の導電層を備えた成形フィルムは、基材面が平坦でない立体形状であっても、優れた配線一体型の成形体が得られた。この成形体のイオンマイグレーション耐性についても、本発明の成形フィルムを成形する際の導電層パターン内のマイクロクラック発生とこれに伴う導電層表層付近のボイド発生が抑制され、結果的にイオンマイグレーション耐性も改善したと考えられる。 Further, due to the above characteristics, the molded film provided with the conductive layer of the conductive resin composition of the present invention has an excellent wiring-integrated molded body even if the base material surface is not flat and has a three-dimensional shape. Regarding the ion migration resistance of this molded product, the generation of microcracks in the conductive layer pattern when molding the molded film of the present invention and the accompanying void generation near the surface layer of the conductive layer are suppressed, and as a result, the ion migration resistance is also improved. It is considered to have improved.

このように、本実施の導電性組成物を用いた成形フィルムおよび配線一体型の成形体は、家電製品、自動車用部品、ロボット、ドローンなどのプラスチック筐体および立体形状部品へ直接、デザイン自由度を損なうことなく軽量かつ省スペースな回路の作り込みやタッチセンサー・アンテナ・発熱体・電磁波シールド・インダクタ(コイル)・抵抗体の作り込みや、・各種電子部品の実装を行うことを可能にする。また、電子機器の軽薄短小化および設計自由度の向上、多機能化に極めて有用である。 In this way, the molded film using the conductive composition and the wiring-integrated molded body of the present implementation have a degree of freedom in designing directly to plastic housings and three-dimensional shaped parts such as home appliances, automobile parts, robots, and drones. It is possible to build a lightweight and space-saving circuit without damaging it, build a touch sensor, antenna, heating element, electromagnetic wave shield, inductor (coil), resistor, and mount various electronic components. .. In addition, it is extremely useful for making electronic devices lighter, thinner, shorter, smaller, improving the degree of freedom in design, and increasing the number of functions.

1 ベースフィルム
2 導電層
3 絶縁層
4 電子部品
5 ピン
6 加飾層
7 第2の導電層
8 第2の絶縁層
10 成形フィルム
11 金型
12 射出成形用金型
13 開口部
14 射出
15 上昇
16 加圧
17 樹脂
20 基材
21 上側チャンバーボックス
22 下側チャンバーボックス
30 成形体
1 Base film 2 Conductive layer 3 Insulation layer 4 Electronic parts 5 Pin 6 Decorative layer 7 Second conductive layer 8 Second insulation layer 10 Molding film 11 Mold 12 Mold 12 Injection molding mold 13 Opening 14 Injection 15 Rise 16 Pressurized 17 Resin 20 Base material 21 Upper chamber box 22 Lower chamber box 30 Mold

Claims (14)

凹凸面または三次元曲面を有する基材表面に絶縁層で被覆された印刷導電回路を形成するための成形フィルムであって、
成形フィルムはベースフィルム上に導電層と絶縁層とを備えた成形フィルムであって、
導電層は樹脂(A1)と、溶剤(B1)と、導電性粒子(D)とを含む導電性樹脂組成物の硬化物であり、絶縁層は樹脂(A2)と、溶剤(B2)と、エステル結合または芳香族構造のうち少なくともいずれか1つを有する改質剤(E)とを含む絶縁性樹脂組成物の硬化物であり、
前記絶縁層の体積固有抵抗が、1×1010Ω・cm以上1×1017Ω・cm未満であり、前記改質剤(E)が下記の条件(1)~(3)をすべて満たす成型フィルム。
条件(1)数平均分子量が100~2000である
条件(2)水酸基を1分子中に1つ以上有する
条件(3)105℃180分加熱後における加熱残留分が60質量%以上100質量%以下である
A molded film for forming a printed conductive circuit coated with an insulating layer on the surface of a base material having an uneven surface or a three-dimensional curved surface.
The molded film is a molded film having a conductive layer and an insulating layer on the base film.
The conductive layer is a cured product of a conductive resin composition containing a resin (A1), a solvent (B1), and conductive particles (D), and the insulating layer is a resin (A2), a solvent (B2), and the like. A cured product of an insulating resin composition containing a modifier (E) having at least one of an ester bond and an aromatic structure.
Molding in which the volume resistivity of the insulating layer is 1 × 10 10 Ω · cm or more and less than 1 × 10 17 Ω · cm, and the modifier (E) satisfies all of the following conditions (1) to (3). the film.
Conditions (1) Conditions where the number average molecular weight is 100 to 2000 (2) Conditions where one molecule has one or more hydroxyl groups (3) The heating residue after heating at 105 ° C for 180 minutes is 60% by mass or more and 100% by mass or less. Is
前記樹脂(A1)が、主鎖中に芳香族構造を有する、請求項1記載の成形フィルム。 The molded film according to claim 1, wherein the resin (A1) has an aromatic structure in the main chain. 前記樹脂(A1)が、主鎖中にエステル結合、およびアミド結合より選ばれる1つ以上の結合基を有する、請求項1または2記載の成形フィルム。 The molded film according to claim 1 or 2, wherein the resin (A1) has one or more bonding groups selected from an ester bond and an amide bond in the main chain. さらに、絶縁性樹脂組成物が、イソシアネート系化合物である架橋剤(C2)を含む請求項1~3のいずれか1項に記載の成型フィルム。 The molded film according to any one of claims 1 to 3, wherein the insulating resin composition contains a cross-linking agent (C2) which is an isocyanate compound. 前記改質剤(E)が芳香族炭化水素樹脂を含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の成型フィルム。 The molded film according to any one of claims 1 to 4, wherein the modifier (E) contains an aromatic hydrocarbon resin. 前記改質剤(E)がポリエステルポリオール構造を有する化合物を含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の成型フィルム。 The molded film according to any one of claims 1 to 4, wherein the modifier (E) contains a compound having a polyester polyol structure. 前記改質剤(E)がベンゾトリアゾール構造を有する化合物を含む、請求項1~4のいずれか1項に記載の成型フィルム。 The molded film according to any one of claims 1 to 4, wherein the modifier (E) contains a compound having a benzotriazole structure. 前記ベースフィルムが、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリプロピレン及び、ポリエチレンテレフタレートより選択されるフィルム、又はこれらの積層フィルムである、請求項1~7のいずれか一項に記載の成形フィルム。 The molded film according to any one of claims 1 to 7, wherein the base film is a film selected from polycarbonate, polymethylmethacrylate, polypropylene, and polyethylene terephthalate, or a laminated film thereof. 前記ベースフィルムの両方の面上に、それぞれ導電層と絶縁層とをこの順に備える請求項1~8のいずれか一項に記載の成形フィルム。 The molded film according to any one of claims 1 to 8, wherein a conductive layer and an insulating layer are provided on both surfaces of the base film in this order. 前記絶縁層上に、さらに第二の導電層と第二の絶縁層とをこの順に備える請求項1~9のいずれか一項に記載の成形フィルム。 The molded film according to any one of claims 1 to 9, further comprising a second conductive layer and a second insulating layer on the insulating layer in this order. 所定の形状に成形された成形フィルムが、前記絶縁層面と基材表面が接するように、あるいは前記ベースフィルム面と基材表面が接するように基材上に積層され、凹凸面や三次元曲面を有する基材表面に絶縁層で被覆された印刷導電回路を形成された成形体であって、
前記成形フィルムが、請求項1~10いずれか一項記載の成形フィルムである、成形体。
The molded film molded into a predetermined shape is laminated on the base material so that the insulating layer surface and the base material surface are in contact with each other, or the base film surface and the base material surface are in contact with each other, to form an uneven surface or a three-dimensional curved surface. A molded product in which a printed conductive circuit coated with an insulating layer is formed on the surface of a base material having a base material.
A molded product, wherein the molded film is the molded film according to any one of claims 1 to 10.
基材上に請求項1~10のいずれか一項に記載の前記成形フィルムを配置する工程と、
オーバーレイ成形法により、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む、成形体の製造方法。
The step of arranging the molded film according to any one of claims 1 to 10 on a substrate, and
A method for producing a molded product, comprising a step of integrating the molded film and the base material by an overlay molding method.
請求項1~10のいずれか一項に記載の前記成形フィルムを所定の形状に成形する工程と、
成形後の前記成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルムと前記基材とを一体化する工程と、を含む、成形体の製造方法。
The step of molding the molded film according to any one of claims 1 to 10 into a predetermined shape, and
A step of arranging the molded film after molding in a mold for injection molding, and
A method for manufacturing a molded product, which comprises a step of molding a base material by injection molding and integrating the molding film and the base material.
請求項1~10のいずれか一項に記載の成形フィルムを、射出成形用の型内に配置する工程と、
射出成形により基材を成形すると共に、前記成形フィルム中の導電層を基材側に転写する工程と、を含む、成形体の製造方法。
A step of arranging the molding film according to any one of claims 1 to 10 in a mold for injection molding, and
A method for producing a molded product, comprising a step of molding a base material by injection molding and transferring a conductive layer in the molding film to the base material side.
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