JP2022052003A - 解析装置、解析方法および解析プログラム - Google Patents
解析装置、解析方法および解析プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022052003A JP2022052003A JP2020158117A JP2020158117A JP2022052003A JP 2022052003 A JP2022052003 A JP 2022052003A JP 2020158117 A JP2020158117 A JP 2020158117A JP 2020158117 A JP2020158117 A JP 2020158117A JP 2022052003 A JP2022052003 A JP 2022052003A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- image data
- sheet
- surface pattern
- side direction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title claims abstract description 53
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 70
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 67
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 50
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 50
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 3
- 238000012795 verification Methods 0.000 abstract 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 19
- 239000000047 product Substances 0.000 description 14
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 6
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- General Factory Administration (AREA)
Abstract
Description
本発明の第1の実施形態について図を参照して詳細に説明する。図1は、本実施形態の品質管理システムの構成の概要を示す図である。本実施形態の品質管理システムは、解析装置10と、撮影装置20を備えている。
本発明の第2の実施形態について図を参照して詳細に説明する。図10は、本実施形態の解析装置100の構成の概要を示す図である。本実施形態の解析装置100は、画像データ取得部101と、履歴データ取得部102と、画像照合部103と、位置特定部104を備えている。画像データ取得部101は、シートを製造する際の複数の工程において、シートの長辺方向の複数箇所において撮影された表面紋様の画像データを取得する。履歴データ取得部102は、複数の工程において、表面紋様の画像データが取得された箇所における製造履歴データを取得する。具体的には、履歴データ取得部102は、例えば、シートを製造する際の各装置の履歴データおよび検査データを取得する。画像照合部103は、異なる工程間における表面紋様の画像データを照合し、互いに一致する画像データを特定する。位置特定部104は、表面紋様の画像データの照合結果を基に、複数の工程間において、シート上の長辺方向における位置が同一の製造履歴データを関連付ける。
11 画像データ取得部
12 履歴データ取得部
13 データ制御部
14 画像照合部
15 位置特定部
16 入力受付部
17 マップ表示部
18 記憶部
20 撮影装置
100 解析装置
101 画像データ取得部
102 履歴データ取得部
103 画像照合部
104 位置特定部
200 コンピュータ
201 CPU
202 メモリ
203 記憶装置
204 入出力I/F
205 通信I/F
Claims (10)
- シートを製造する際の複数の工程において、前記シートの長辺方向の複数箇所において撮影された表面紋様の画像データを取得する画像データ取得手段と、
前記複数の工程において、前記表面紋様の画像データが取得された箇所における製造履歴データを取得する履歴データ取得手段と、
異なる工程間における前記表面紋様の画像データを照合し、互いに一致する画像データを特定する画像照合手段と、
前記表面紋様の画像データの照合結果を基に、前記複数の工程間において、前記シート上の長辺方向における位置が同一の製造履歴データを関連付ける位置特定手段と
を備える解析装置。 - 前記画像照合手段は、前記表面紋様の画像データを照合する際に、少なくとも1つの工程の前記表面紋様の画像データについて、前記長辺方向と短辺方向とのうち少なくとも一方を拡大または縮小して他の工程の前記表面紋様の画像データと照合する請求項1に記載の解析装置。
- 前記位置特定手段は、前記表面紋様の画像データの拡大率または縮小率に基づいて、前記長辺方向において前記製造履歴データを関連付ける位置を補正する請求項2に記載の解析装置。
- 前記シートを示すマップ上の対応する位置に、前記長辺方向の位置が同一の製造履歴データを互いに関連付けて表示するマップ表示手段をさらに備える請求項1から3いずれかに記載の解析装置。
- 前記履歴データ取得手段は、前記シートの検査データをさらに取得し、
前記マップ表示手段は、前記検査データが取得された位置に対応する前記マップ上の位置に前記検査データを重ねて表示する請求項4に記載の解析装置。 - 前記位置特定手段は、時系列の前記製造履歴データを前記シートの長辺方向の位置データに変換し、前記長辺方向の位置が同一の履歴データと関連付ける請求項1から5いずれかに記載の解析装置。
- シートを製造する際の複数の工程において、前記シートの長辺方向の複数箇所において撮影された表面紋様の画像データを取得し、
前記複数の工程において、前記表面紋様の画像データが取得された箇所における製造履歴データを取得し、
異なる工程間における前記表面紋様の画像データを照合し、互いに一致する画像データを特定し、
前記表面紋様の画像データの照合結果を基に、前記複数の工程間において、前記シート上の長辺方向における位置が同一の製造履歴データを関連付ける解析方法。 - 前記表面紋様の画像データを照合する際に、少なくとも1つの工程の前記表面紋様の画像データについて、前記長辺方向と短辺方向とのうち少なくとも一方を拡大または縮小して他の工程の前記表面紋様の画像データと照合する請求項7に記載の解析方法。
- 前記表面紋様の画像データの拡大率または縮小率に基づいて、前記長辺方向において前記製造履歴データを関連付ける位置を補正する請求項8に記載の解析方法。
- シートを製造する際の複数の工程において、前記シートの長辺方向の複数箇所において撮影された表面紋様の画像データを取得する処理と、
前記複数の工程において、前記表面紋様の画像データが取得された箇所における製造履歴データを取得する処理と、
異なる工程間における前記表面紋様の画像データを照合し、互いに一致する画像データを特定する処理と、
前記表面紋様の画像データの照合結果を基に、前記複数の工程間において、前記シート上の長辺方向における位置が同一の製造履歴データを関連付ける処理と
をコンピュータに実行させる解析プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020158117A JP7521349B2 (ja) | 2020-09-23 | 2020-09-23 | 解析装置、解析方法および解析プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020158117A JP7521349B2 (ja) | 2020-09-23 | 2020-09-23 | 解析装置、解析方法および解析プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022052003A true JP2022052003A (ja) | 2022-04-04 |
JP7521349B2 JP7521349B2 (ja) | 2024-07-24 |
Family
ID=80949029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020158117A Active JP7521349B2 (ja) | 2020-09-23 | 2020-09-23 | 解析装置、解析方法および解析プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7521349B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20220397471A1 (en) * | 2021-06-14 | 2022-12-15 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Pressure vessel strain analysis device and pressure vessel manufacturing method |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007192660A (ja) | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Fujifilm Corp | フイルムの表面欠陥検出方法及び検出機 |
JP2013140050A (ja) | 2011-12-28 | 2013-07-18 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
WO2020174626A1 (ja) | 2019-02-27 | 2020-09-03 | 日本電気株式会社 | 製造管理方法 |
-
2020
- 2020-09-23 JP JP2020158117A patent/JP7521349B2/ja active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20220397471A1 (en) * | 2021-06-14 | 2022-12-15 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Pressure vessel strain analysis device and pressure vessel manufacturing method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7521349B2 (ja) | 2024-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5898221B2 (ja) | 製造されたウェブ製品のデジタルサンプルに対する評価のコンピュータ支援割り当て | |
US7495758B2 (en) | Apparatus and methods for two-dimensional and three-dimensional inspection of a workpiece | |
JP2000057349A (ja) | 欠陥の分類方法およびその装置並びに教示用データ作成方法 | |
JP5151019B2 (ja) | 疵検出装置及び疵検出方法 | |
US20050141760A1 (en) | Maximization of yield for web-based articles | |
US12026870B2 (en) | Manufacturing management method | |
KR20110006684A (ko) | 웨브 상에서의 우선적 결함 마킹 | |
JP5912125B2 (ja) | ウェブベース材料における不均一性の高速処理と検出 | |
JP2013541779A (ja) | ウェブベースの材料のばらつきを検出するための、不均一性の厳しさ度の連続的なチャート化 | |
CN105531214A (zh) | 用于跟踪片材中的缺陷的设备和方法 | |
JP2019196992A (ja) | 配筋検査方法及び配筋検査システム | |
CN116465315B (zh) | 一种网版质量自动化检测方法及系统 | |
KR101203325B1 (ko) | 시트-기반 물품에 대한 재고품 제어 | |
JP7521349B2 (ja) | 解析装置、解析方法および解析プログラム | |
CN113554645A (zh) | 基于wgan的工业异常检测方法和装置 | |
Spinola et al. | Real-time image processing for edge inspection and defect detection in stainless steel production lines | |
US8740061B2 (en) | Recording information for a web manufacturing process | |
CN111413350A (zh) | 一种检测光纤排线缺陷的方法及装置 | |
JP2004109105A (ja) | 表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法、及び欠陥検出方法 | |
TWI793883B (zh) | 用於線材皮膜的缺陷檢測方法及系統 | |
JPH0642940A (ja) | 帯状部材組継部の検査方法及びその装置 | |
JP4038161B2 (ja) | 金属板材の表面欠陥の原因推定装置および原因推定プログラムならびに原因推定方法 | |
JP2022052002A (ja) | 解析装置、解析方法および解析プログラム | |
TWM600842U (zh) | 片狀材料快速檢測瑕疵整合系統 | |
JP7468571B2 (ja) | 鋼帯コイルの巻き形状判定モデルの生成方法、巻き形状判定方法および処置工程設定方法、ならびに鋼帯コイルの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20211019 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230815 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240529 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240611 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240624 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7521349 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |