JP2022013096A - Film deposition mask jig and film deposition apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被成膜物の成膜時に用いる成膜用マスク治具および成膜装置に関する。 The present invention relates to a film forming mask jig and a film forming apparatus used when forming a film to be formed.
被成膜物に対して成膜を行うための成膜装置が知られている。 A film forming apparatus for forming a film on a film to be filmed is known.
そのような成膜装置の一例として、特許文献1には、成膜室と、成膜源と、成膜室内において被成膜物が成膜源の上方を成膜源と対向しつつ通過するように被成膜物を搬送する搬送部と、搬送部に取り付けられ、被成膜物を収容して保持する収容部を有する保持具とを備えた成膜装置が開示されている。保持具は、被成膜物の非成膜領域への成膜を防ぐためのマスク部を備えている。この成膜装置によれば、搬送部によって、保持具の収容部に収容された被成膜物が成膜源の上方を通過することにより、マスク部によって覆われていない領域に成膜させることができる。
As an example of such a film forming apparatus,
ここで、被成膜物によっては、厚みが薄いものもある。そのような厚みの薄い被成膜物を保持具の収容部に収容して成膜を行う場合、マスク部が設けられていない開口部に被成膜物が落下する可能性がある。 Here, depending on the film to be filmed, the thickness may be thin. When such a thin film to be filmed is accommodated in the accommodating portion of the holder to form a film, the film to be filmed may fall into the opening not provided with the mask portion.
本発明は、上記課題を解決するものであり、被成膜物の落下を抑制することができる成膜用マスク治具、および、そのような成膜用マスク治具を備える成膜装置を提供することを目的とする。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention solves the above-mentioned problems, and provides a film-forming mask jig capable of suppressing the falling of a film-forming object, and a film-forming apparatus provided with such a film-forming mask jig. The purpose is to do.
本発明の成膜用マスク治具は、
被成膜物を収容する収容部と、
成膜時に前記被成膜物の下方に位置し、前記被成膜物の非成膜領域への成膜を防ぐためのマスク部と、
前記マスク部が設けられていない開口部において、前記被成膜物が前記収容部に収容された状態で前記被成膜物と接触しない位置に設けられ、前記被成膜物の落下を抑制するための落下抑制部材と、
を備えることを特徴とする。
The film forming mask jig of the present invention is
An accommodating part for accommodating the film to be filmed and
A mask portion located below the film-deposited object at the time of film-forming to prevent film formation on the non-deposited area of the film-deposited object, and a mask portion.
In the opening where the mask portion is not provided, the film to be filmed is provided at a position where the film to be filmed is housed in the accommodating portion and does not come into contact with the film to be filmed, thereby suppressing the drop of the film to be filmed. Fall suppression member for
It is characterized by having.
本発明の成膜装置は、
成膜室と、
前記成膜室の内部に位置する成膜源と、
上述した成膜用マスク治具と、
前記成膜室内において、前記成膜用マスク治具の前記収容部に収容された前記被成膜物が前記成膜源の上方を前記成膜源と対向しつつ通過するように前記被成膜物を搬送する搬送部と、
を備えることを特徴とする。
The film forming apparatus of the present invention is
The film formation room and
The film formation source located inside the film formation chamber and
The above-mentioned film forming mask jig and
In the film forming chamber, the film to be filmed so that the film to be filmed housed in the accommodating portion of the mask jig for film forming passes above the film forming source while facing the film forming source. A transport unit that transports goods and
It is characterized by having.
本発明の成膜用マスク治具によれば、マスク部が設けられていない開口部に落下抑制部材が設けられているので、開口部から下方へと被成膜物が落下することを抑制することができる。 According to the film-forming mask jig of the present invention, since the drop suppressing member is provided in the opening where the mask portion is not provided, the film-forming object is suppressed from falling downward from the opening. be able to.
本発明の成膜装置によれば、マスク部が設けられていない開口部に設けられた落下抑制部材を成膜用マスク治具が備えているので、被成膜物が開口部から下方へと落下することを抑制することができる。 According to the film forming apparatus of the present invention, since the film forming mask jig is provided with a drop suppressing member provided in the opening in which the mask portion is not provided, the film to be formed moves downward from the opening. It is possible to suppress the fall.
以下に本発明の実施形態を示して、本発明の特徴を具体的に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be shown, and the features of the present invention will be specifically described.
(積層セラミックコンデンサの構成)
はじめに、本発明の成膜用マスク治具および成膜装置を用いて成膜が行われることによって作製される積層セラミックコンデンサの構成について説明する。ただし、成膜が行われることによって作製される対象物が積層セラミックコンデンサに限定されることはなく、例えば、積層セラミックコンデンサ以外の電子部品であってもよいし、電子部品以外のものでもよい。
(Composition of multilayer ceramic capacitor)
First, the configuration of a multilayer ceramic capacitor manufactured by forming a film using the film forming mask jig and the film forming apparatus of the present invention will be described. However, the object produced by the film formation is not limited to the monolithic ceramic capacitor, and may be, for example, an electronic component other than the monolithic ceramic capacitor, or may be an electronic component other than the electronic component.
図1は、被成膜物の一例であるLW逆転積層セラミックコンデンサ10の外観を模式的に示す斜視図である。図2は、図1に示すLW逆転積層セラミックコンデンサ10のII-II線に沿った模式的な断面図である。LW逆転積層セラミックコンデンサとは、後述するように、長さ方向Lの寸法が幅方向Wの寸法より短いコンデンサのことである。以下の説明では、LW逆転積層セラミックコンデンサ10を単に積層セラミックコンデンサ10と呼ぶ。
FIG. 1 is a perspective view schematically showing the appearance of the LW reversing laminated
図1および図2に示すように、積層セラミックコンデンサ10は、全体として直方体形状を有する電子部品であり、積層体11と、積層体11の表面に設けられた一対の外部電極14a、14bとを備える。一対の外部電極14a,14bは、図1および図2に示すように、対向するように設けられている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the laminated
ここでは、一対の外部電極14a,14bが対向する方向を積層セラミックコンデンサ10の長さ方向Lと定義し、後述する誘電体層12と内部電極13a,13bとが積層されている方向を積層方向Tと定義し、長さ方向Lおよび積層方向Tのいずれの方向にも直交する方向を幅方向Wと定義する。長さ方向L、積層方向T、および、幅方向Wのうちの任意の2つの方向は、互いに直交する方向である。
Here, the direction in which the pair of
積層セラミックコンデンサ10のサイズに特に制約はないが、本実施形態における成膜用マスク治具および成膜装置は、長さ方向Lの寸法に対する積層方向Tの寸法の割合が0.5以下である積層セラミックコンデンサ10に対して、好適に用いることができる。積層セラミックコンデンサ10のサイズの一例として、長さ方向Lの寸法は0.2mm以上0.8mm以下、幅方向Wの寸法は0.4mm以上1.6mm以下、積層方向Tの寸法は0.05mm以上0.4mm以下である。すなわち、本実施形態において、積層セラミックコンデンサ10の長さ方向Lの寸法は、幅方向Wの寸法より短い。また、一対の外部電極14a、14bの長さ方向Lにおける寸法は、それぞれ0.02mm以上0.4mm以下である。
The size of the multilayer
なお、積層セラミックコンデンサ10の長さ方向Lの寸法が、幅方向Wの寸法より長い場合、長さ方向Wの寸法に対する積層方向Tの寸法の割合が0.5以下である積層セラミックコンデンサに対しても、好適に用いることができる。そのような積層セラミックコンデンサのサイズの一例として、長さ方向Lの寸法は0.2mm以上1.6mm以下、幅方向Wの寸法は0.125mm以上0.8mm以下、積層方向Tの寸法は0.05mm以上0.4mm以下である。また、一対の外部電極14a、14bの長さ方向Lにおける寸法は、それぞれ0.05mm以上0.5mm以下である。
When the dimension of the laminated
積層体11は、長さ方向Lに相対する第1の端面15aおよび第2の端面15bと、積層方向Tに相対する第1の主面16aおよび第2の主面16bと、幅方向Wに相対する第1の側面17aおよび第2の側面17bとを有する。
The
積層体11は、角部および稜線部に丸みを帯びていることが好ましい。ここで、角部は、積層体11の3面が交わる部分であり、稜線部は、積層体11の2面が交わる部分である。
The
図2に示すように、積層体11は、積層された複数の誘電体層12と複数の内部電極13a,13bとを含む。内部電極13a,13bには、第1の内部電極13aと第2の内部電極13bとが含まれている。より詳細には、積層体11は、第1の内部電極13aと第2の内部電極13bとが積層方向Tにおいて、誘電体層12を介して交互に複数積層された構造を有する。
As shown in FIG. 2, the
第1の内部電極13aは、積層体11の第1の端面15aに引き出されているが、第2の端面15b、第1の側面17a、および、第2の側面17bには引き出されていない。第2の内部電極13bは、積層体11の第2の端面15bに引き出されているが、第1の端面15a、第1の側面17a、および、第2の側面17bには引き出されていない。なお、積層体11には、第1の内部電極13aおよび第2の内部電極13bの他に、表面に露出しない内部電極が含まれていてもよい。
The first
第1の外部電極14aは、積層体11の第1の端面15aの全体に形成されているとともに、第1の端面15aから、第1の主面16a、第2の主面16b、第1の側面17a、および、第2の側面17bに回り込むように形成されている。具体的には、第1の外部電極14aは、第1の端面15aに形成された第1の下地層141aと、第1の主面16aおよび第2の主面16bに形成された第2の下地層142aと、第1の下地層141aおよび第2の下地層142aを覆うめっき層143aとを備える。なお、第1の外部電極14aは、第1の側面17a、および、第2の側面17bに回り込まないように形成されていてもよい。第1の外部電極14aは、第1の内部電極13aと電気的に接続されている。
The first
第2の外部電極14bは、積層体11の第2の端面15bの全体に形成されているとともに、第2の端面15bから、第1の主面16a、第2の主面16b、第1の側面17a、および、第2の側面17bに回り込むように形成されている。具体的には、第2の外部電極14bは、第2の端面15bに形成された第1の下地層141bと、第1の主面16aおよび第2の主面16bに形成された第2の下地層142bと、第1の下地層141bおよび第2の下地層142bを覆うめっき層143bとを備える。なお、第2の外部電極14bは、第1の側面17a、および、第2の側面17bに回り込まないように形成されていてもよい。第2の外部電極14bは、第2の内部電極13bと電気的に接続されている。
The second
(積層セラミックコンデンサの製造方法)
図3は、積層セラミックコンデンサ10の製造方法の一例を説明するためのフローチャートである。なお、以下に示す積層セラミックコンデンサ10の製造方法は、製造過程の途中段階まで一括して加工処理を行なうことでマザー積層体を作製し、その後にマザー積層体を分断して個片化し、個片化後の未焼成積層体にさらに加工処理を施すことによって、複数の積層セラミックコンデンサ10を同時に大量に生産する方法である。
(Manufacturing method of multilayer ceramic capacitors)
FIG. 3 is a flowchart for explaining an example of a method for manufacturing the monolithic
図3のステップS1では、セラミックスラリーを調製する。具体的には、セラミック粉末、バインダおよび溶剤などを所定の配合比率で混合することによって、セラミックスラリーを作製する。 In step S1 of FIG. 3, a ceramic slurry is prepared. Specifically, a ceramic slurry is prepared by mixing ceramic powder, a binder, a solvent, and the like in a predetermined blending ratio.
ステップS1に続くステップS2では、セラミックグリーンシートを形成する。具体的には、キャリアフィルム上において、ダイコータ、グラビアコータ、または、マイクログラビアコータなどを用いて、セラミックスラリーをシート状に成形することにより、セラミックグリーンシートを形成する。 In step S2 following step S1, a ceramic green sheet is formed. Specifically, a ceramic green sheet is formed by molding a ceramic slurry into a sheet on a carrier film using a die coater, a gravure coater, a microgravure coater, or the like.
ステップS2に続くステップS3では、マザーシートを作製する。具体的には、セラミックグリーンシート上に、導電性ペーストが所定のパターンとなるように塗工することによって、セラミックグリーンシート上に所定の導電パターンが形成されたマザーシートを作製する。導電性ペーストの塗工は、例えば、スクリーン印刷法またはグラビア印刷法などを用いた印刷により行うことができる。導電性ペーストには、例えば、Ni成分が含まれる。 In step S3 following step S2, a mother sheet is produced. Specifically, a mother sheet having a predetermined conductive pattern formed on the ceramic green sheet is produced by applying the conductive paste on the ceramic green sheet so as to form a predetermined pattern. The coating of the conductive paste can be performed, for example, by printing using a screen printing method, a gravure printing method, or the like. The conductive paste contains, for example, a Ni component.
ステップS3に続くステップS4では、導電パターンが形成されていないマザーシートを所定枚数積層し、その上に、導電パターンが形成されているマザーシートを複数枚積層し、その上に、導電パターンが形成されていないマザーシートを所定枚数積層することによって、マザーシート群を作製する。 In step S4 following step S3, a predetermined number of mother sheets on which the conductive pattern is not formed are laminated, and a plurality of mother sheets on which the conductive pattern is formed are laminated, and the conductive pattern is formed on the plurality of mother sheets. A mother sheet group is produced by laminating a predetermined number of unfinished mother sheets.
ステップS4に続くステップS5では、マザーシート群を圧着することによって、マザー積層体を作製する。例えば、静水圧プレスまたは剛体プレスによって、マザーシート群を積層方向に加圧することによって圧着する。 In step S5 following step S4, a mother laminated body is produced by crimping the mother sheet group. For example, a hydrostatic press or a rigid body press is used to press the mother sheets in the stacking direction for crimping.
ステップS5に続くステップS6では、マザー積層体を押切り、ダイシング、レーザなどの切断方法で切断することによって、複数の未焼成積層体に個片化する。 In step S6 following step S5, the mother laminated body is cut off by a cutting method such as dicing, laser, or the like to be individualized into a plurality of unfired laminated bodies.
ステップS6に続くステップS7では、未焼成積層体をバレル研磨する。具体的には、未焼成積層体を、セラミック材料よりも硬度の高いメディアボールとともにバレルと呼ばれる小箱内に封入し、バレルを回転させる。これにより、未焼成積層体の外表面の角部および稜線部に曲面状の丸みがもたされる。 In step S7 following step S6, the unfired laminate is barrel-polished. Specifically, the unfired laminate is enclosed in a small box called a barrel together with a media ball having a hardness higher than that of the ceramic material, and the barrel is rotated. As a result, the corners and ridges of the outer surface of the unfired laminate are rounded in a curved surface.
ステップS7に続くステップS8では、未焼成積層体の表面に、第1の外部電極14aおよび第2の外部電極14bの第1の下地層141a,141bとなる導電性ペーストを付与する。具体的には、第1の下地層141a,141bとなる導電性ペーストを、各種印刷法またはディップ法などによって、未焼成積層体の両端面に付与する。この導電性ペーストは、例えば、有機溶剤と金属粒子とセラミックとを含む。金属粒子には、例えば、Ni成分が含まれる。
In step S8 following step S7, a conductive paste serving as a
ステップS8に続くステップS9では、表面に導電性ペーストを付与した未焼成積層体を焼成する。未焼成積層体を焼成することにより、セラミック誘電体材料および導電体材料が焼成される。焼成温度は、セラミック誘電体材料および導電体材料の種類に応じて適宜設定され、例えば、900℃以上1300℃以下の範囲内の温度である。未焼成積層体を焼成することによって、積層体11が得られる。 In step S9 following step S8, the unfired laminate having the conductive paste applied to the surface is fired. By firing the unfired laminate, the ceramic dielectric material and the conductor material are fired. The firing temperature is appropriately set according to the type of the ceramic dielectric material and the conductor material, and is, for example, a temperature in the range of 900 ° C. or higher and 1300 ° C. or lower. By firing the unfired laminate, the laminate 11 is obtained.
ステップS9に続くステップS10では、焼成によって得られた積層体11をバレル研磨する。 In step S10 following step S9, the laminate 11 obtained by firing is barrel-polished.
ステップS10に続くステップS11では、スパッタリングなどの乾式めっき法により、積層体11の第1の主面16aに第2の下地層142a,142bを形成する。第2の下地層142a,142bの形成は、後述する本発明の成膜装置を用いて行うことができる。第2の下地層142a,142bは、例えば、ニクロム(NiCr)、モネル(NiCu)、チタン(Ti)、銅(Cu)、または、銀(Ag)などの純金属または合金からなる。
In step S11 following step S10, the
ステップS11に続くステップS12では、スパッタリングなどの乾式めっき法により、積層体11の第2の主面16bに第2の下地層142a,142bを形成する。第2の下地層142a,142bの形成は、後述する本発明の成膜装置を用いて行うことができる。
In step S12 following step S11, the
ステップS12に続くステップS13では、めっき処理により、第1の下地層141aおよび第2の下地層142aを覆うように、めっき層143aを形成する。同様に、第1の下地層141bおよび第2の下地層142bを覆うように、めっき層143bを形成する。めっき層143a,143bを形成することにより、第1の外部電極14aおよび第2の外部電極14bが構成される。めっき層143a,143bには、例えば、Cu成分が含まれる。
In step S13 following step S12, the
上述した工程により、積層セラミックコンデンサ10が作製される。
The monolithic
(成膜装置)
<第1の実施形態>
以下では、本発明の第1の実施形態における成膜装置200および成膜用マスク治具270の構成について説明する。成膜装置200は、スパッタリング装置である。ただし、成膜装置200がスパッタリング装置に限定されることはなく、蒸着やイオンプレーティングなど、他の乾式めっきを行う装置であってもよい。
(Film formation device)
<First Embodiment>
Hereinafter, the configurations of the
図4は、第1の実施形態における成膜装置200の構成を模式的に示す側面図である。図5は、図4に示す成膜装置200を矢印Vの方向から見た図である。図6は、図4に示す成膜装置200を矢印VIの方向から見た図である。図7は、図4に示す成膜装置200の搬送部250の一部の形状を示す平面図である。図8は、成膜装置200のトレー260の形状を示す平面図である。図9は、成膜装置200の成膜用マスク治具270の形状を示す平面図である。図10は、図9中のX部を拡大して示す斜視図である。図11は、図10に示す成膜用マスク治具270のXI-XI線に沿った模式的な断面図である。図12は、図10に示す成膜用マスク治具270のXII-XII線に沿った模式的な断面図である。図13は、図11に示す成膜用マスク治具270の一部をXIIIの方向から見た模式的底面図である。なお、図9では、理解を容易にするために、成膜用マスク治具270のうち、後述するマスク部274および落下抑制部材275は省略している。
FIG. 4 is a side view schematically showing the configuration of the
図4に示すように、成膜装置200は、成膜室220と、成膜室220に隣接して設けられた第1の減圧室210と、成膜室220に隣接して設けられた第2の減圧室230とを備える。なお、第1の減圧室210および第2の減圧室230を省略した構成としてもよい。
As shown in FIG. 4, the
第1の減圧室210には、第1の減圧室210内を減圧する第1の真空ポンプ211が設けられている。成膜室220には、成膜室220内を減圧する第2の真空ポンプ221が設けられている。第2の減圧室230には、第2の減圧室230内を減圧する第3の真空ポンプ231が設けられている。成膜室220内は、第1の減圧室210および第2の減圧室230の各々の内部より気圧が低く、略真空状態になっている。
The
成膜装置200は、被搬送物を、第1の減圧室210、成膜室220、および、第2の減圧室230の順に通過させる搬送部250をさらに備える。搬送部250の搬送方向Y1に沿って、搬送部250を支持する複数のローラ280が互いに間隔をあけて配置されている。本実施形態において、搬送部250は、ベルトコンベアで構成されている。ただし、搬送部250がベルトコンベアに限定されることはなく、レール上を走行する台車などであってもよい。
The
図6に示すように、搬送部250は、水平方向に対して角度α傾いて位置するように、ローラ280によって支持されている。角度αは、0°より大きく、例えば5°である。図7に示すように、搬送部250には、平面視において矩形状の開口部251、および、平面視において、開口部251の外周に位置する矩形状の座繰り部252が設けられている。開口部251および座繰り部252は、ベルトコンベアの長手方向において等間隔に設けられている。
As shown in FIG. 6, the
図4に示すように、搬送部250による被搬送物の搬送方向Y1において、第1の減圧室210の入口には、上下方向に開閉する第1のシャッタ240が設けられている。第1の減圧室210と成膜室220との境界には、上下方向に開閉する第2のシャッタ241が設けられている。成膜室220と第2の減圧室230との境界には、上下方向に開閉する第3のシャッタ242が設けられている。第2の減圧室230の出口には、上下方向に開閉する第4のシャッタ243が設けられている。シャッタ240~243の各々は、搬送部250による被搬送物の通過時のみ開いた状態となり、それ以外の時は閉じた状態になっている。
As shown in FIG. 4, in the transport direction Y1 of the object to be transported by the
成膜室220の内部には、成膜源が配置されている。本実施形態では、成膜源として、第1のターゲット222、第2のターゲット223、および、第3のターゲット224が配置されている。第1のターゲット222、第2のターゲット223、および、第3のターゲット224は、成膜室220内において、搬送部250の鉛直下方に位置しており、搬送部250による被搬送物の搬送方向Y1に沿って、1列に配置されている。搬送部250は、成膜室220内において、被成膜物が第1のターゲット222、第2のターゲット223、および、第3のターゲット224の上方を、各ターゲット222、223、224と対向しつつ通過するように、被成膜物を搬送する。なお、配置されるターゲットの数は、3つに限られず、1つ以上であればよい。
A film forming source is arranged inside the
第1のターゲット222、第2のターゲット223、および、第3のターゲット224の各々は、図4の矢印Vの方向に見たときに、板状の外形を有している。第1のターゲット222、第2のターゲット223、および、第3のターゲット224はそれぞれ、図6に示すように傾いた状態の搬送部250に取り付けられた成膜用マスク治具270と平行となるように傾いている。
Each of the
第1のターゲット222、第2のターゲット223、および、第3のターゲット224からは、被成膜物に成膜するための原料が噴霧される。一例として、噴霧される原料は、ニクロム(NiCr)、モネル(NiCu)、チタン(Ti)、銅(Cu)または銀(Ag)などの純金属または合金からなる金属粒子である。
From the
本実施形態では、搬送部250の座繰り部252内に、図8に示すトレー260が配置される。トレー260は、平面視にて、搬送部250の座繰り部252より僅かに小さい矩形状の外形を有している。トレー260には、平面視にて矩形状の開口部261、および、平面視にて開口部261の外周に位置する矩形状の座繰り部262が設けられている。本実施形態では、開口部261および座繰り部262が、トレー260にマトリックス状に6つ設けられている。搬送部250の座繰り部252内にトレー260が配置された状態では、トレー260の6つの開口部261の各々は、搬送部250の開口部251上に位置する。
In the present embodiment, the
成膜用マスク治具270は、図5に示すように、トレー260の座繰り部262内に配置される。成膜用マスク治具270は、平面視にて、トレー260の座繰り部262より僅かに小さい矩形状の外形を有している。図9に示すように、平面視において、成膜用マスク治具270の外周は、互いに平行な一対の第1辺272aと、互いに平行な一対の第2辺272bとから構成されている。なお、必ずしもトレー260が設けられていなくてもよく、成膜用マスク治具270が搬送部250の座繰り部252内に直接配置されてもよい。
As shown in FIG. 5, the film forming
成膜用マスク治具270は、図9~13に示すように、被成膜物を収容する収容部273と、成膜時に被成膜物の下方に位置し、被成膜物の非成膜領域への成膜を防ぐためのマスク部274と、被成膜物の落下を抑制するための落下抑制部材275とを備える。そのような構成を実現するために、成膜用マスク治具270は、図10に示すように、収容部273の内壁を構成する枠部材272と、枠部材272と隣接したマスキング部材271とを含む。
As shown in FIGS. 9 to 13, the film forming
図9に示すように、枠部材272は、平面視にて、矩形の板状の外形を有している。枠部材272の外形は、平面視にて、互いに平行な一対の第1辺272aと、互いに平行な第2辺272bとから構成されている。すなわち、平面視において、枠部材272の外形と成膜用マスク治具270の外形とは同一である。
As shown in FIG. 9, the
平面視において、収容部273を構成する内壁は、互いに対向する一対の第1辺272haおよび互いに対向する一対の第2辺272hbを含み、全体として略矩形の形状を有する。ただし、内壁の4つの角部には、ぬすみ加工が施されており、半円状の切欠272hcが設けられている。
In a plan view, the inner wall constituting the
落下抑制部材275は、マスク部274が設けられていない開口部において、被成膜物が収容部273に収容された状態で被成膜物と接触しない位置に設けられている(図10、図11参照)。なお、図11および図12において、破線120は、収容部273に被成膜物が収容されたときの下面の位置を表している。開口部に落下抑制部材275が設けられていることにより、被成膜物が開口部に落下しそうになった場合でも、落下抑制部材275によって支えられるので、そのまま下方に落下することを防ぐことができる。また、落下抑制部材275が被成膜物と接触していると、接触している領域において成膜されなくなるが、被成膜物と接触しない位置に落下抑制部材275が設けられていることにより、落下抑制部材275によって成膜が阻害されることを抑制することができる。
The
なお、成膜用マスク治具270の製造時に、落下抑制部材275をマスク部274と一体的に形成してもよいし、別途作製した落下抑制部材275をマスク部274に取り付けるようにしてもよい。
At the time of manufacturing the film forming
図13に示すように、本実施形態では、被成膜物が収容部273に収容されたときに被成膜物とマスク部274とが対向する方向(図11のXIIIの方向)に見たときに、落下抑制部材275は、所定の幅W1で延伸する形状を有している。収容部273に収容されたときの被成膜物と落下抑制部材275との間の距離L1は、落下抑制部材275の幅W1以上である(図12参照)。収容部273に収容されたときの被成膜物と落下抑制部材275との間の距離L1が落下抑制部材275の幅W1以上であることにより、落下抑制部材275によって成膜が阻害されることなく、被成膜物の成膜領域の全てを成膜することが可能となる。
As shown in FIG. 13, in the present embodiment, when the film to be filmed is housed in the
図13に示すように、被成膜物が収容部273に収容されたときに被成膜物とマスク部274とが対向する方向に見たときに、落下抑制部材275の延伸方向と直交する方向Y2において、収容部273を構成する内壁と落下抑制部材275との間の距離および落下抑制部材275が複数設けられている場合における落下抑制部材275同士の間の距離のうちの最も長い距離は、落下抑制部材275の延伸方向における収容部273の寸法W11より短い。この距離関係が成り立つことにより、被成膜物を収容部273内に振り込むときや、被成膜物を収容した成膜用マスク治具270を搬送部250に取り付けるときなどにおいて、被成膜物の落下を抑制することができる。なお、落下抑制部材275の延伸方向と直交する方向Y2は、積層セラミックコンデンサ10の幅方向Wに対応している。また、収容部273の寸法W11は、積層セラミックコンデンサ10の長さ方向Lにおける寸法よりわずかに大きい。
As shown in FIG. 13, when the film-deposited object is accommodated in the
本実施形態において、マスク部274は、図13に示すように、収容部273の内壁を構成する一対の第2辺272hbが対向する方向の中央付近に設けられている。落下抑制部材275は、中央付近に設けられているマスク部274から、その両側に位置する一対の第2辺272hb側に向かって延伸するように、それぞれ2つずつ、合計4つ設けられている。上述した「落下抑制部材275の延伸方向と直交する方向Y2において、収容部273を構成する内壁と落下抑制部材275との間の距離」は、図13に示す距離L11と距離L13であり、「落下抑制部材275が複数設けられている場合における落下抑制部材275同士の間の距離」は、図13に示す距離L12である。図13に示す例では、距離L11~L13のうちの最も長い距離は、距離L12である。したがって、距離L12と、落下抑制部材275の延伸方向における収容部273の寸法W11との間には、L12<W11の関係が成り立つ。上述したように、L12<W11の関係が成り立つことにより、被成膜物の落下を抑制することができる。
In the present embodiment, as shown in FIG. 13, the
なお、マスク部274の配置位置は、収容部273の内壁を構成する一対の第2辺272hbが対向する方向における中央付近でなくてもよい。
The position of the
本実施形態では、図13に示すように、被成膜物が収容部273に収容されたときに被成膜物とマスク部274とが対向する方向に見たときに、マスク部274から収容部273を構成する内壁に向かって延伸している落下抑制部材275と内壁との間には隙間SPが存在する。隙間SPの寸法Wh1は、収容部273の深さD1(図12参照)の1/2以下である。上記隙間SPの寸法Wh1が収容部273の深さD1の1/2であることにより、隙間SPから被成膜物が落下することを防ぐことができる。なお、収容部273の深さD1は、被成膜物の積層方向Tにおける寸法の0.8倍以上1.5倍以下であることが好ましい。
In the present embodiment, as shown in FIG. 13, when the film-deposited object is accommodated in the
落下抑制部材275の幅W1は、0.1mm以下である。一例として、落下抑制部材275の幅W1は、0.04mmである。
The width W1 of the
上述したように、本実施形態では、落下抑制部材275が複数、具体的には、マスク部274から、その両側にそれぞれ2つずつ、合計4つ設けられている。落下抑制部材275が複数設けられていることにより、被成膜物の落下をより効果的に抑制することができる。
As described above, in the present embodiment, a plurality of
ここで、本実施形態では、図9に示すように、収容部273の内壁を構成する第2辺272hbが、枠部材272の外形の第2辺272bに対して角度θをなすように、収容部273が設けられている。すなわち、複数の収容部273は、枠部材272の外形の第2辺272bに対して、角度θをなす複数の仮想直線272d上にて、互いに間隔をあけて並んでいる。なお、仮想直線272dと収容部273の内壁を構成する第2辺272hbとは、平行である。
Here, in the present embodiment, as shown in FIG. 9, the second side 272hb constituting the inner wall of the
角度θは、搬送部250の傾き角度α(図6参照)より大きいことが好ましい。具体的には、角度θは、20°以上40°以下であることが好ましく、例えば31°である。この場合、後述するように、収容部273内に被成膜物を収容した際に、被成膜物の端面と第2辺272hb、および、被成膜物の側面と第1辺272haとをそれぞれ接触させて、安定して被成膜物を保持することができる。
The angle θ is preferably larger than the tilt angle α of the transport unit 250 (see FIG. 6). Specifically, the angle θ is preferably 20 ° or more and 40 ° or less, for example, 31 °. In this case, as will be described later, when the film-deposited object is accommodated in the
本実施形態では、収容部273の内壁の2本の対角線のうちのいずれか一方の対角線272cが、枠部材272の外形の第2辺272bと平行になるように、複数の収容部273が設けられている。
In the present embodiment, a plurality of
本実施形態において、マスキング部材271は、1つのマスク部274を備えている。マスク部274は、収容部273の鉛直下方に位置して被成膜物と接する平坦部274tを有している。ただし、マスク部274の数が1つに限定されることはなく、被成膜物の非成膜領域に応じた数とすればよい。
In the present embodiment, the masking
マスキング部材271は、枠部材272の下面に接合されている。ただし、マスキング部材271と枠部材272とが一体的に形成されていてもよい。
The masking
成膜用マスク治具270がトレー260の座繰り部262内に配置されることにより、図6に示すように、成膜用マスク治具270は、水平方向に対して傾いて位置するように搬送部250に取り付けられる。
By arranging the film forming
ここで、第1の実施形態における成膜装置200による成膜方法について説明する。上述した図3に示すフローチャートのステップS11では、積層体の第1の主面16aに第2の下地層142a,142bを形成し、ステップS12では、積層体の第2の主面16bに第2の下地層142a,142bを形成する。ここでは、成膜装置200によって、第2の下地層142a,142bを形成する例について説明する。
Here, the film forming method by the
被成膜物である積層体11を第1の成膜用マスク治具270aの収容部273内に収容させるため、第1の成膜用マスク治具270aの枠部材272上に多数の積層体11を載置した状態で、シェーカにより第1の成膜用マスク治具270aを振動させる。その結果、複数の積層体11が複数の収容部273内にそれぞれ収容される。なお、第1の成膜用マスク治具270aは、成膜用マスク治具270と同じ構造を有する。
In order to accommodate the
落下抑制部材275を備えていない従来の成膜用マスク治具では、収容部に積層体11を収容させる際、マスク部が設けられていない開口部から積層体11が落下する可能性がある。これに対して、本実施形態における成膜用マスク治具270を用いた場合には、落下抑制部材275が設けられているので、積層体11が落下抑制部材275によって支えられ、下方への落下を抑制することができる。
In the conventional mask jig for film formation not provided with the
次に、第2の成膜用マスク治具270bの収容部273が第1の成膜用マスク治具270aの対応する収容部273と連通するように、第1の成膜用マスク治具270aの枠部材272上に、第2の成膜用マスク治具270bの枠部材272を重ね合わせる。この状態で、第1の成膜用マスク治具270aと第2の成膜用マスク治具270bとを、螺子などにより連結する。なお、第2の成膜用マスク治具270bは、成膜用マスク治具270と同じ構造を有する。
Next, the first film forming
互いに連結された第1の成膜用マスク治具270aおよび第2の成膜用マスク治具270bをプラズマ装置に挿入してArエッチングを行なうことにより、第1の成膜用マスク治具270a、第2の成膜用マスク治具270bおよび積層体11をクリーニングする。
By inserting the first film forming
次に、クリーニングした第1の成膜用マスク治具270aおよび第2の成膜用マスク治具270bを、図4~図6に示すように、トレー260を介して搬送部250に取り付ける。
Next, the cleaned first film-forming
図14は、本発明の第1の実施形態における成膜用マスク治具270の収容部273内に被成膜物である積層体11が収容された状態を示す平面図である。図15は、図14に示す成膜用マスク治具の収容部内に積層体11が収容された状態をXV-XV線矢印方向から見た断面図である。図15は、第1の成膜用マスク治具270a上に第2の成膜用マスク治具270bを重ね合わせた状態を図示している。
FIG. 14 is a plan view showing a state in which the
図14および図15に示すように、積層体11は、矢印30で示すように、第1の成膜用マスク治具270aの傾きにより、第1の成膜用マスク治具270aの収容部273内において内壁の1つの角部に偏って内壁と接している。具体的には、積層体11の第2の端面15bが第1の成膜用マスク治具270aの第2辺272hbと接し、積層体11の第2の側面17bが第1の成膜用マスク治具270aの第1辺272haと接している。
As shown in FIGS. 14 and 15, as shown by the
その結果、複数の収容部273内にそれぞれ収容された複数の積層体11は、複数の収容部273内の各々における略同一の位置に配置されることになる。
As a result, the plurality of
また、内壁の4つの角部に半円状の切欠272hcが設けられていることにより、積層体11の角部が上記切欠272hc内に収容されるため、積層体11の第2の端面15bと第2辺272hbとを安定して接触させることができるとともに、積層体11の第2の側面17bと第1辺272haとを安定して接触させることができる。
Further, since the corners of the
搬送部250によって、第1の成膜用マスク治具270aおよび第2の成膜用マスク治具270bが成膜室220内に搬入された時点でスパッタリング加工が開始される。搬送部250が連続運転して、第1の成膜用マスク治具270aおよび第2の成膜用マスク治具270bがターゲット222,223,224の鉛直上方を順次通過することにより、積層体11の第1の主面16aのうち、マスク部274と接していない領域が成膜される。これにより、積層体11の第1の主面16aに第2の下地層142a,142bが形成される。第2の下地層142a,142bの厚みは、例えば、0.01um以上5um以下である。
Sputtering is started when the first film forming
上述したように、ターゲット222,223,224から噴霧された金属粒子は、積層体11の下側の表面において、第1の成膜用マスク治具270aのマスク部274に覆われていない部分に付着する。上記のように、複数の収容部273内にそれぞれ収容された複数の積層体11は、複数の収容部273内の各々における略同一の位置に配置されているため、高い位置精度で成膜できるとともに、複数の積層体11に対して均一に成膜することができる。
As described above, the metal particles sprayed from the
搬送部250によって、第1の成膜用マスク治具270aおよび第2の成膜用マスク治具270bが成膜室220外に搬出された時点でスパッタリング加工を停止する。
When the first film forming
次に、第1の成膜用マスク治具270aと第2の成膜用マスク治具270bとを上下反転させた状態で、トレー260を介して搬送部250に取り付ける。図16は、第1の成膜用マスク治具270aと第2の成膜用マスク治具270bとを上下反転させた状態を示す断面図である。
Next, the first film-forming
第1の成膜用マスク治具270aと第2の成膜用マスク治具270bとを上下反転させることにより、図16に示すように、積層体11は、矢印30で示すように、第2の成膜用マスク治具270bの傾きにより、第2の成膜用マスク治具270bの収容部273内において内壁の1つの角部に偏って内壁と接している。具体的には、積層体11の第2の端面15bが第2の成膜用マスク治具270bの第2辺272hbと接し、積層体11の第2の側面17bが第2の成膜用マスク治具270bの第1辺272haと接している。また、積層体11は、第2の成膜用マスク治具270bのマスク部274に支持されている。具体的には、積層体11の第2の主面16bが、第2の成膜用マスク治具270bのマスク部274の平坦部274tと接している。
By inverting the first film forming
このように、第1の成膜用マスク治具270aと第2の成膜用マスク治具270bを上下反転させる際には、傾いた成膜用マスク治具270の下側に位置する積層体11の端面が入れ替わらないようにする。本実施形態においては、第2の端面15bが第1の端面15aと比べて、第1の成膜用マスク治具270aと第2の成膜用マスク治具270bとを上下反転させる前後においてともに、斜めに傾いた成膜用マスク治具270の下側に位置している。
As described above, when the first film forming
搬送部250によって、上下反転した状態の第1の成膜用マスク治具270aおよび第2の成膜用マスク治具270bが成膜室220内に搬入された時点でスパッタリング加工が開始される。搬送部250が連続運転して、第1の成膜用マスク治具270aおよび第2の成膜用マスク治具270bがターゲット222,223,224の鉛直上方を順次通過することにより、上下反転した状態の積層体11の下側が成膜される。これにより、積層体11の第2の主面16bのうち、マスク部274と接していない領域に、第2の下地層142a,142bが形成される。第2の下地層142a,142bの厚みは、例えば、0.01um以上5um以下である。
Sputtering is started when the first film-forming
次に、搬送部250から第1の成膜用マスク治具270aおよび第2の成膜用マスク治具270bが取り外される。第1の成膜用マスク治具270aと第2の成膜用マスク治具270bとの連結が解除され、第2の下地層142a,142bが形成された積層体11が収容部273から取り出される。その後、第2の下地層142a,142bが形成された積層体11にめっき処理が施される。
Next, the first film forming
<第2の実施形態>
第1の実施形態において、成膜用マスク治具270の落下抑制部材275は、マスク部274から収容部273を構成する内壁に向かって延伸しているが、落下抑制部材275と内壁との間には隙間SPが存在する(図13参照)。
<Second embodiment>
In the first embodiment, the
これに対して、第2の実施形態における成膜用マスク治具270では、落下抑制部材275と収容部273を構成する内壁との間には隙間が存在しない。
On the other hand, in the film forming
図17は、第2の実施形態における成膜用マスク治具270において、被成膜物が収容部273に収容されたときに被成膜物とマスク部274とが対向する方向に収容部273を見たときの平面図である。図17に示すように、落下抑制部材275は、マスク部274と、収容部273の第2辺272hb側の内壁とが対向する方向に延伸しており、落下抑制部材275と収容部273を構成する内壁との間には隙間が存在しない。落下抑制部材275と収容部273を構成する内壁との間に隙間が存在しないことにより、被成膜物の落下をより効果的に抑制することができる。
FIG. 17 shows the film forming
<第3の実施形態>
第1の実施形態において、成膜用マスク治具270の落下抑制部材275は、マスク部274から収容部273を構成する内壁に向かって延伸している。
<Third embodiment>
In the first embodiment, the
これに対して、第3の実施形態における成膜用マスク治具270では、収容部273を構成する内壁からマスク部274に向かって延伸している。
On the other hand, in the film forming
図18は、第3の実施形態における成膜用マスク治具270において、被成膜物が収容部273に収容されたときに被成膜物とマスク部274とが対向する方向に収容部273を見たときの平面図である。落下抑制部材275は、収容部273の第2辺272hb側の内壁からマスク部274に向かって延伸しており、マスク部274との間には隙間SPが存在する。このような構成でも、被成膜物の落下を抑制することが可能である。
FIG. 18 shows the film forming
また、第1の実施形態と同様に、隙間SPの寸法Wh1は、収容部273の深さD1(図12参照)の1/2以下であることが好ましい。上記隙間SPの寸法Wh1が収容部273の深さD1の1/2であることにより、隙間SPから被成膜物が落下することを防ぐことができる。
Further, as in the first embodiment, the dimension Wh1 of the gap SP is preferably ½ or less of the depth D1 (see FIG. 12) of the
<第4の実施形態>
図1および図2に示す積層セラミックコンデンサ10は、長さ方向Lにおける寸法が幅方向Wにおける寸法より短いが、長さ方向Lにおける寸法が幅方向Wにおける寸法より長くてもよい。長さ方向Lにおける寸法が幅方向Wにおける寸法より長い被成膜物を対象とする場合の成膜用マスク治具270の構成を以下で説明する。
<Fourth Embodiment>
The monolithic
図19は、第4の実施形態における成膜用マスク治具270において、被成膜物が収容部273に収容されたときに被成膜物とマスク部274とが対向する方向に収容部273を見たときの平面図である。マスク部274は、図19に示すように、収容部273の内壁を構成する一対の第1辺272haが対向する方向の中央付近に設けられている。落下抑制部材275は、中央付近に設けられているマスク部274から、その両側に位置する一対の第1辺272haに向かって延伸するように、それぞれ1つずつ、合計2つ設けられている。なお、マスク部274の配置位置は、収容部273の内壁を構成する一対の第1辺272haが対向する方向における中央付近でなくてもよい。
FIG. 19 shows the film forming
被成膜物が収容部273に収容されたときに被成膜物とマスク部274とが対向する方向に見たときに、落下抑制部材275の延伸方向と直交する方向Y2において、収容部273を構成する内壁と落下抑制部材275との間の距離および落下抑制部材275が複数設けられている場合における落下抑制部材275同士の間の距離のうちの最も長い距離は、落下抑制部材275の延伸方向における収容部273の寸法より短い。図19に示す例では、落下抑制部材275の延伸方向と直交する方向Y2において、落下抑制部材275は1つしか設けられていない。したがって、収容部273を構成する内壁と落下抑制部材275との間の距離L11,L13と、落下抑制部材275の延伸方向における収容部273の寸法W11との間には、L11(=L13)<W11の関係が成り立つ。
When the film-deposited object is accommodated in the
また、図19に示すように、被成膜物が収容部273に収容されたときに被成膜物とマスク部274とが対向する方向に見たときに、マスク部274から収容部273を構成する内壁に向かって延伸している落下抑制部材275と内壁との間には隙間SPが存在する。この隙間SPの寸法Wh1は、収容部273の深さD1の1/2以下である。
Further, as shown in FIG. 19, when the film-deposited object is accommodated in the
なお、他の実施形態と同様、収容部273に収容されたときの被成膜物と落下抑制部材275との間の距離は、落下抑制部材275の幅W1以上である。
As in the other embodiments, the distance between the film to be filmed and the
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内において、種々の応用、変形を加えることが可能である。例えば、上述した実施形態では、成膜用マスク治具270が斜めに傾いた状態で搬送部250に取り付けられるものとして説明したが(図6参照)、傾いていない状態で使用することもできる。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various applications and modifications can be added within the scope of the present invention. For example, in the above-described embodiment, the film forming
落下抑制部材275の形状や配置場所が上述した実施形態で説明した形状や配置場所に限定されることはない。すなわち、落下抑制部材275は、マスク部274が設けられていない開口部において、被成膜物が収容部273に収容された状態で被成膜物と接触しない位置に設けられ、被成膜物の落下を抑制できるものであればよい。
The shape and placement location of the
10 積層セラミックコンデンサ
11 積層体
12 誘電体層
13a 第1の内部電極
13b 第2の内部電極
14a 第1の外部電極
14b 第2の外部電極
141a、141b 第1の下地層
142a、142b 第2の下地層
143a、143b めっき層
200 成膜装置
210 第1の減圧室
211 第1の真空ポンプ
221 第2の真空ポンプ
222 第1のターゲット
223 第2のターゲット
224 第3のターゲット
230 第2の減圧室
231 第3の真空ポンプ
240 第1のシャッタ
241 第2のシャッタ
242 第3のシャッタ
243 第4のシャッタ
250 搬送部
260 トレー
270 成膜用マスク治具
270a 第1の成膜用マスク治具
270b 第2の成膜用マスク治具
271 マスキング部材
272 枠部材
273 収容部
274 マスク部
275 落下抑制部材
280 ローラ
10 Multilayer
Claims (7)
成膜時に前記被成膜物の下方に位置し、前記被成膜物の非成膜領域への成膜を防ぐためのマスク部と、
前記マスク部が設けられていない開口部において、前記被成膜物が前記収容部に収容された状態で前記被成膜物と接触しない位置に設けられ、前記被成膜物の落下を抑制するための落下抑制部材と、
を備えることを特徴とする成膜用マスク治具。 An accommodating part for accommodating the film to be filmed and
A mask portion located below the film-deposited object at the time of film-forming to prevent film formation on the non-deposited area of the film-deposited object, and a mask portion.
In the opening where the mask portion is not provided, the film to be filmed is provided at a position where the film to be filmed is housed in the accommodating portion and does not come into contact with the film to be filmed, thereby suppressing the drop of the film to be filmed. Fall suppression member for
A mask jig for film formation, which is characterized by being provided with.
前記収容部に収容されたときの前記被成膜物と前記落下抑制部材との間の距離は、前記落下抑制部材の前記幅以上であることを特徴とする請求項1に記載の成膜用マスク治具。 When the film-deposited object is accommodated in the accommodating portion, the fall-suppressing member has a shape that extends by a predetermined width when the film-deposited object and the mask portion are viewed in a direction facing each other. And
The film forming apparatus according to claim 1, wherein the distance between the film-deposited object and the drop-suppressing member when the film is accommodated in the accommodating portion is equal to or larger than the width of the drop-suppressing member. Mask jig.
前記隙間の寸法は、前記収容部の深さの1/2以下であることを特徴とする請求項2または3に記載の成膜用マスク治具。 When the film-deposited object is accommodated in the accommodating portion, when the film-deposited object and the mask portion are viewed in a direction facing each other, the film-deposited object extends from the mask portion toward the inner wall constituting the accommodating portion. There is a gap between the fall suppressing member and the inner wall.
The film forming mask jig according to claim 2 or 3, wherein the size of the gap is ½ or less of the depth of the accommodating portion.
前記成膜室の内部に位置する成膜源と、
請求項1~6のいずれか一項に記載の成膜用マスク治具と、
前記成膜室内において、前記成膜用マスク治具の前記収容部に収容された前記被成膜物が前記成膜源の上方を前記成膜源と対向しつつ通過するように前記被成膜物を搬送する搬送部と、
を備えることを特徴とする成膜装置。 The film formation room and
The film formation source located inside the film formation chamber and
The film forming mask jig according to any one of claims 1 to 6.
In the film forming chamber, the film to be filmed so that the film to be filmed housed in the accommodating portion of the mask jig for film forming passes above the film forming source while facing the film forming source. A transport unit that transports goods and
A film forming apparatus characterized by being provided with.
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