JP2022003330A - Cleaning jig - Google Patents

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Abstract

To provide a cleaning jig.SOLUTION: Disclosed herein is a cleaning jig 1 for cleaning a plurality of test sections in a test device. The cleaning jig 1 includes a frame 10 and a plurality of cleaning units 12. The frame has a first side 100 located at an outer edge of the frame. The plurality of cleaning units 12 are removably disposed on the first side of the frame. Each of the cleaning units has a cleaning sheet 126 and the cleaning sheet of each of the cleaning units extends outwardly from the frame. Each of the cleaning units corresponds to one of the test sections, and each of the test sections simultaneously comes into contact with a first surface and a second surface of the corresponding cleaning sheet.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

関連出願の相互参照
本出願は、２０２０年６月１２日に出願された台湾特許出願公開第１０９１１９７６２号明細書に対する優先権を主張し、その内容全体は、参照により本出願に組み込まれる。 Cross-reference to related applications This application claims priority to Taiwan Patent Application Publication No. 109119762 filed June 12, 2020, the entire contents of which are incorporated herein by reference.

本発明は、洗浄治具、より具体的には試験装置を洗浄するための洗浄治具に関する。 The present invention relates to a cleaning jig, more specifically a cleaning jig for cleaning a test device.

一般的に言うと、様々な電子機器は、電子機器が正常に作動し得ることを確実にするために、使用期間後の定期補修管理又は洗浄を必要とし得る。特に、試験装置などの高精度を必要とする電子機器について、測定値における誤差を減少させるために正しく保守管理及び洗浄することが必要である。例としてバッテリ検出のための試験装置を取り上げると、試験装置は、最初に試験部でバッテリの電極を締め付け、次いでバッテリが正常に作動しているかどうか確認するために、試験部を通してバッテリを充電及び放電する必要がある。実際には、バッテリが製造されるときにバッテリの電極が酸化膜で覆われることが多いため、試験部は、電極を締め付けている間に酸化膜を擦り落とす必要もある。結果として、各試験部の表面は、使用期間後、擦り落とされた酸化膜又はいくつかの残留物で汚れ得る。 Generally speaking, various electronic devices may require periodic repair management or cleaning after a period of use to ensure that the electronic device can operate normally. In particular, it is necessary to properly maintain and clean electronic devices such as test devices that require high accuracy in order to reduce errors in measured values. Taking a test device for battery detection as an example, the test device first tightens the battery electrodes at the test unit, then charges and charges the battery through the test unit to verify that the battery is operating normally. Need to discharge. In practice, when the battery is manufactured, the electrodes of the battery are often covered with an oxide film, so the test unit also needs to scrape off the oxide film while tightening the electrodes. As a result, the surface of each test section can be contaminated with a scraped oxide film or some residue after a period of use.

各試験部の表面上の酸化膜は、バッテリを充電及び放電する効率に影響し得るのみならず、検出の精度にも干渉し得ることが理解される。加えて、試験部は、大電流を送る必要があるため、各試験部の表面上の擦り落とされた酸化膜又は残留物は、煙又は火災事故も引き起こし得る。実際に、試験装置の試験部を定期的に洗浄することは、極めて重要であるが、試験装置の試験部を洗浄することは、極めて骨の折れることでもある。例えば、１つの試験装置は、一般に多数のバッテリをバッチで試験する必要がある。各バッテリの１つの電極が１つの試験部に対応すると仮定すると、試験装置が多数の試験部を有することになることが想像され得る。試験装置の試験部を１つずつ洗浄することは、極めて時間がかかり、且つ骨の折れることにならざるを得ない。したがって、産業は、洗浄を原因とする試験装置のダウンタイムを減らすために、且つまた試験装置を洗浄するための人的資源及び資源を減らすために、試験装置の複数の試験部をバッチで迅速に洗浄することができる新たな洗浄治具を必要としている。 It is understood that the oxide film on the surface of each test section can not only affect the efficiency of charging and discharging the battery, but can also interfere with the accuracy of detection. In addition, since the test parts need to send a large current, the scraped oxide film or residue on the surface of each test part can also cause smoke or fire accidents. In fact, cleaning the test section of the test device on a regular basis is extremely important, but cleaning the test section of the test device can also be extremely laborious. For example, one test device generally needs to test a large number of batteries in batch. Assuming that one electrode of each battery corresponds to one test unit, it can be imagined that the test device will have a large number of test units. Cleaning the test parts of the test device one by one is extremely time-consuming and laborious. Therefore, the industry can quickly batch multiple test units of test equipment in order to reduce the downtime of the test equipment due to cleaning and also to reduce the human resources and resources for cleaning the test equipment. Needs a new cleaning jig that can be cleaned.

本発明は、試験装置を停止させることなく試験装置の複数の試験部を迅速且つ大規模に洗浄し得る洗浄治具を提供し、それにより試験装置の検出効率を向上させる。 The present invention provides a cleaning jig capable of quickly and large-scale cleaning of a plurality of test units of a test device without stopping the test device, thereby improving the detection efficiency of the test device.

本発明は、試験装置における複数の試験部を洗浄するための洗浄治具を開示する。洗浄治具は、フレームと、複数の洗浄ユニットとを含む。フレームは、フレームの外縁に位置する第１の側を有する。複数の洗浄ユニットは、フレームの第１の側に取り外し可能に配置される。洗浄ユニットの各々は、洗浄シートを有し、及び洗浄ユニットの各々の洗浄シートは、フレームから外向きに延在する。洗浄ユニットの各々は、試験部の１つに対応し、及び試験部の各々は、対応する洗浄シートの第１の表面及び第２の表面に同時に接触する。 The present invention discloses a cleaning jig for cleaning a plurality of test portions in a test apparatus. The cleaning jig includes a frame and a plurality of cleaning units. The frame has a first side located on the outer edge of the frame. The plurality of cleaning units are detachably arranged on the first side of the frame. Each of the cleaning units has a cleaning sheet, and each cleaning sheet of the cleaning unit extends outward from the frame. Each of the cleaning units corresponds to one of the test units, and each of the test units simultaneously contacts the first and second surfaces of the corresponding cleaning sheet.

いくつかの実施形態において、洗浄ユニットの各々は、第１の係止部材を有することができ、及び第１の係止部材は、第１の側を取り外し可能に固定する。加えて、洗浄ユニットの各々は、第２の係止部材を有することができ、及び第２の係止部材は、洗浄シートを取り外し可能に固定する。第１の係止部材の係止方向は、第２の係止部材の係止方向と異なり得る。加えて、洗浄シートの第１の表面及び第２の表面は、紙やすりで作られ得る。 In some embodiments, each of the cleaning units can have a first locking member, and the first locking member detachably secures the first side. In addition, each of the cleaning units can have a second locking member, and the second locking member detachably secures the cleaning sheet. The locking direction of the first locking member may be different from the locking direction of the second locking member. In addition, the first and second surfaces of the cleaning sheet can be made of sandpaper.

いくつかの実施形態において、試験装置の試験部は、キャリア上の複数の電子部品を試験するために使用され、フレームは、フレーム長さ及びフレーム幅で画定され、及びフレーム長さは、キャリアの長さに等しいことができ、且つフレーム幅は、キャリアの幅に等しいことができる。加えて、第１の側における洗浄ユニットの設定位置は、キャリア上の電子部品の配置位置に対応し得る。 In some embodiments, the test unit of the test device is used to test multiple electronic components on the carrier, the frame is defined by the frame length and frame width, and the frame length is the carrier's. It can be equal to the length and the frame width can be equal to the width of the carrier. In addition, the setting position of the cleaning unit on the first side may correspond to the placement position of the electronic component on the carrier.

上記に基づき、本発明により提供された洗浄治具は、試験装置を洗浄するために使用され得、試験装置の試験部は、洗浄シートを締結し得、且つ試験部を１つずつ手動で洗浄することなくそれ自体で磨いて取り除く。それにより、本発明により提供された洗浄治具は、洗浄を原因とする試験装置のダウンタイムを減少させるために、且つまた試験装置を洗浄するための人的資源及び資源を減少させるために、試験装置の複数の試験部をバッチで迅速に洗浄することができる。 Based on the above, the cleaning jig provided by the present invention can be used to clean the test equipment, the test unit of the test equipment can be fastened with a cleaning sheet, and the test units can be manually cleaned one by one. Polish and remove by itself without doing. Thereby, the cleaning jig provided by the present invention is intended to reduce the downtime of the test equipment due to cleaning and also to reduce the human resources and resources for cleaning the test equipment. Multiple test parts of the test equipment can be quickly cleaned in batches.

本発明の実施形態による洗浄治具の斜視図である。It is a perspective view of the cleaning jig by embodiment of this invention. 本発明の実施形態による洗浄ユニットの斜視図である。It is a perspective view of the cleaning unit by embodiment of this invention. 本発明の実施形態による洗浄ユニットの側面図である。It is a side view of the cleaning unit by embodiment of this invention.

本発明の特徴、対象及び機能が以下にさらに開示される。しかしながら、それは、本発明の可能な実施形態のわずかなものにすぎず、本発明の範囲は、それに限定されず、すなわち、本発明の請求項に従ってなされる均等な変更形態及び修正形態は、依然として本発明の主題である。本発明の趣旨及び範囲から逸脱することなく、これは、本発明のさらなる使用可能性として検討されるべきである。 The features, objects and functions of the present invention are further disclosed below. However, it is only a small part of the possible embodiments of the invention, and the scope of the invention is not limited thereto, that is, the equal modifications and modifications made in accordance with the claims of the invention remain. It is the subject of the present invention. Without departing from the spirit and scope of the invention, this should be considered as a further usability of the invention.

図１及び図２を合せて参照されたい。図１は、本発明の実施形態による洗浄治具の斜視図である。図２は、本発明の実施形態による洗浄ユニットの斜視図である。図に示されるとおり、洗浄治具１は、フレーム１０と、複数の洗浄ユニット１２とを含む。複数の洗浄ユニット１２は、フレーム１０の２つの側に配置され得、各洗浄ユニットにおける洗浄シート１２６は、フレーム１０の外側に面するか、又はフレーム１０の外側に向かって延在する。例において、フレーム１０の２つの側は、それぞれ第１の側１００及び第２の側１０２として画定され得、複数の洗浄ユニット１２は、２つのグループに分けられ得る。洗浄ユニット１２の１つのグループは、第１の側１００に配置され、洗浄ユニット１２の別のグループは、第２の側１０２に配置される。図１に示されるとおり、第１の側１００に配置された複数の洗浄ユニット１２は、１列に並べて配置され、各洗浄ユニット１２における洗浄シート１２６は、同じ角度において、例えばフレーム１０の外側に向かって垂直に略方向付けられる。 See also FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a perspective view of a cleaning jig according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a perspective view of a cleaning unit according to an embodiment of the present invention. As shown in the figure, the cleaning jig 1 includes a frame 10 and a plurality of cleaning units 12. The plurality of cleaning units 12 may be arranged on two sides of the frame 10, and the cleaning sheet 126 in each cleaning unit faces the outside of the frame 10 or extends toward the outside of the frame 10. In the example, the two sides of the frame 10 may be defined as the first side 100 and the second side 102, respectively, and the plurality of cleaning units 12 may be divided into two groups. One group of cleaning units 12 is located on the first side 100 and another group of cleaning units 12 is located on the second side 102. As shown in FIG. 1, a plurality of cleaning units 12 arranged on the first side 100 are arranged side by side in a row, and the cleaning sheets 126 in each cleaning unit 12 are arranged at the same angle, for example, on the outside of the frame 10. It is roughly oriented vertically toward it.

洗浄治具１の機能は、試験装置を洗浄すること、特に試験装置の試験部（図１には示さず）を洗浄することである。実際には、試験装置が正常に作動しているか又は使用中であるとき（例えば、試験中）、試験装置の試験部は、電子部品（図示せず）を試験するために使用される。一例において、電子部品は、バッテリであり得、試験装置は、バッテリが正常に作動しているかどうかを検出するために使用される装置である。当業者は、試験部が、第１の場所において、動かないように電極に電気的に接続される必要があり、その後、充電及び放電試験が実施され得ることを理解し得る。電子部品がソフトパックバッテリであると仮定すると、ソフトパックバッテリの電極は、シート形及び可撓性であるため、試験部の各々は、誤って落下することを防止するために１つの電極を締め付けなければならない。当然のことながら、この実施形態は、電子部品をソフトパックバッテリに限定するものではなく、電極をシート形に限定するものでもない。試験装置の試験部が、電極を締め付けることにより電子部品の電極に電気的に接続される限り、それは、この実施形態の範囲内にあるはずである。 The function of the cleaning jig 1 is to clean the test device, in particular to clean the test unit (not shown in FIG. 1) of the test device. In practice, when the test device is operating normally or in use (eg, during testing), the test section of the test device is used to test electronic components (not shown). In one example, the electronic component can be a battery and the test device is a device used to detect whether the battery is operating normally. One of ordinary skill in the art can understand that the test unit needs to be electrically connected to the electrodes so as not to move in the first place, and then the charge and discharge tests can be performed. Assuming the electronic component is a soft pack battery, the electrodes of the soft pack battery are sheet-shaped and flexible, so each of the test parts tightens one electrode to prevent accidental drops. There must be. As a matter of course, this embodiment does not limit the electronic components to the soft pack battery, nor does it limit the electrodes to the sheet type. It should be within the scope of this embodiment as long as the test section of the test device is electrically connected to the electrodes of the electronic component by tightening the electrodes.

電子部品をバッチで試験するために、複数の電子部品がキャリア（図示せず）上に配置され得、このとき、キャリア全体が試験装置の格納位置に置かれ、それにより、複数の電子部品が一緒に試験され得る。対応して、試験装置は、複数の試験部を有し、それにより、各試験部は、電子部品の１つの電極に電気的に接続され得る。この実施形態は、電子部品の電極の位置を限定しない。例えば、複数の電子部品は、キャリアの２つの側に配置され得、各電子部品の電極は、キャリアの外側に対して垂直であり得る。実際には、キャリアにおける複数の電子部品の配置構成は、この実施形態の図１に示されている洗浄治具１と同様であり得る。例えば、キャリアは、洗浄治具１のフレーム１０と比較され得、電子部品は、洗浄治具１の洗浄ユニット１２と比較され得、電子部品の電極は、洗浄ユニット１２の洗浄シート１２６と比較され得る。このとき、洗浄治具１は、現実の電子部品（例えば、試験されるバッテリ）を有しないが、洗浄治具１は、依然として複数の電子部品を有するキャリアの外観をシミュレーションし得る。 For batch testing of electronic components, multiple electronic components may be placed on a carrier (not shown), where the entire carrier is placed in the storage position of the test equipment, thereby allowing the multiple electronic components to be placed. Can be tested together. Correspondingly, the test apparatus has a plurality of test units, whereby each test unit can be electrically connected to one electrode of an electronic component. This embodiment does not limit the position of the electrodes of the electronic component. For example, a plurality of electronic components may be placed on two sides of a carrier, and the electrodes of each electronic component may be perpendicular to the outside of the carrier. In practice, the arrangement of the plurality of electronic components in the carrier may be similar to the cleaning jig 1 shown in FIG. 1 of this embodiment. For example, the carrier may be compared to the frame 10 of the cleaning jig 1, the electronic component may be compared to the cleaning unit 12 of the cleaning jig 1, and the electrodes of the electronic component may be compared to the cleaning sheet 126 of the cleaning unit 12. obtain. At this time, the cleaning jig 1 does not have an actual electronic component (for example, a battery to be tested), but the cleaning jig 1 can still simulate the appearance of a carrier having a plurality of electronic components.

洗浄治具１が試験装置の格納位置に配置されることを可能にするため、フレーム１０は、フレーム長さＬ及びフレーム幅Ｗで画定され得、フレーム長さＬ及びフレーム幅Ｗの両方は、キャリアの長さ及び幅より小さい。複数の電子部品を有するキャリアをなおより良好にシミュレーションするために、フレーム長さＬは、キャリアの長さに厳密に等しいこともでき、フレーム幅Ｗは、キャリアの幅に厳密に等しいこともできる。加えて、フレーム１０の高さは、フレーム高さＨとしても画定され得、フレーム高さＨは、キャリアの高さより小さくなければならない。一例において、フレーム高さＨは、キャリアの高さに厳密に等しいこともでき、それにより、フレーム長さＬ、フレーム幅Ｗ及びフレーム高さＨがキャリアの長さ、幅及び高さと等しいとき、フレーム１０の容積及び外観は、キャリアとおよそ同じであるはずである。 The frame 10 may be defined by a frame length L and a frame width W to allow the cleaning jig 1 to be placed in the stowed position of the test device, both the frame length L and the frame width W. Less than the length and width of the carrier. To better simulate a carrier with multiple electronic components, the frame length L can be exactly equal to the carrier length and the frame width W can be exactly equal to the carrier width. .. In addition, the height of the frame 10 can also be defined as the frame height H, which must be less than the height of the carrier. In one example, the frame height H can also be exactly equal to the height of the carrier, whereby when the frame length L, frame width W and frame height H are equal to the carrier length, width and height. The volume and appearance of the frame 10 should be approximately the same as the carrier.

この実施形態において、洗浄ユニットの構造が説明され、洗浄ユニットによる試験部の洗浄の方法がおおまかに実証される。図２及び図３を合わせて参照されたい。図２は、本発明の実施形態による洗浄ユニットの斜視図であり、図３は、本発明の実施形態による洗浄ユニットの側面図である。図に示されるとおり、図２は、洗浄治具１の洗浄ユニット１２を示す。洗浄ユニット１２は、第１の係止部材１２２、第２の係止部材１２４及び洗浄シート１２６が配置される本体１２０を有する。第１の係止部材１２２は、洗浄治具１のフレーム１０を係止するために、例えばフレーム１０の第１の側１００を係止するために使用され得る。実際には、第１の係止部材１２２が係止されると、フレーム１０及び洗浄ユニット１２は、相対的に移動又は回転せず、それにより、洗浄シート１２６は、安定的に保たれ得る。第１の係止部材１２２が解放されると、洗浄ユニット１２は、フレーム１０から分離され得、それにより、洗浄ユニット１２は、保守又は交換され得る。 In this embodiment, the structure of the cleaning unit is described and the method of cleaning the test section by the cleaning unit is roughly demonstrated. See also FIGS. 2 and 3. FIG. 2 is a perspective view of the cleaning unit according to the embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a side view of the cleaning unit according to the embodiment of the present invention. As shown in the figure, FIG. 2 shows the cleaning unit 12 of the cleaning jig 1. The cleaning unit 12 has a main body 120 in which a first locking member 122, a second locking member 124, and a cleaning sheet 126 are arranged. The first locking member 122 can be used to lock the frame 10 of the cleaning jig 1, for example, to lock the first side 100 of the frame 10. In practice, when the first locking member 122 is locked, the frame 10 and the cleaning unit 12 do not move or rotate relative to each other, whereby the cleaning sheet 126 can be kept stable. When the first locking member 122 is released, the cleaning unit 12 can be separated from the frame 10, whereby the cleaning unit 12 can be maintained or replaced.

本体１２０は、第１の締付プレート１２０ａ及び第２の締付プレート１２０ｂとして画定された２つの同様のプレート状構造からなり、第２の係止部材１２４は、第１の締付プレート１２０ａ及び第２の締付プレート１２０ｂを係止するために使用され得ることが図２から分かり得る。さらに、図２において示される例において、第１の係止部材１２２及び第２の係止部材１２４の係止方向は、異なり、例えば、第１の係止部材１２２及び第２の係止部材１２４の係止方向は、互いに垂直であり得る。一例において、洗浄シート１２６の一端は、第１の締付プレート１２０ａと第２の締付プレート１２０ｂとの間に挟まれ得、洗浄シート１２６の他端は、試験部２を洗浄するために露出されている。実際には、洗浄シート１２６は、両面シート状要素であり、洗浄シート１２６の両側（第１の側及び第２の側）は、紙やすり状の粗い表面を有し得る。一例において、洗浄シート１２６は、半分に折り畳まれた一片の紙やすりであり得、紙やすりの滑らかな側は、紙やすりの粗い側が露出されるように内部に折り畳まれる。換言すると、洗浄シート１２６の第１の表面及び第２の表面の両方は、かみやすりの同じ粗い側であり得る。この実施形態は、１つの洗浄シート１２６を同時に締め付けることができる試験部２の数を限定しないことに言及することは、価値あることである。図３は、２つの試験部２が１つの洗浄シート１２６を同時に締め付け得ることを示すが、１つのみの試験部２が洗浄シート１２６を締め付け得ることも可能である。 The body 120 comprises two similar plate-like structures defined as a first tightening plate 120a and a second tightening plate 120b, and a second locking member 124 comprises a first tightening plate 120a and a second tightening plate 120b. It can be seen from FIG. 2 that it can be used to lock the second tightening plate 120b. Further, in the example shown in FIG. 2, the locking directions of the first locking member 122 and the second locking member 124 are different, for example, the first locking member 122 and the second locking member 124. Locking directions can be perpendicular to each other. In one example, one end of the cleaning sheet 126 may be sandwiched between the first tightening plate 120a and the second tightening plate 120b, and the other end of the cleaning sheet 126 may be exposed to clean the test section 2. Has been done. In practice, the cleaning sheet 126 is a double-sided sheet-like element, and both sides (first and second sides) of the cleaning sheet 126 may have a sandpaper-like rough surface. In one example, the cleaning sheet 126 can be a piece of sandpaper folded in half, with the smooth side of the sandpaper folded inward so that the coarse side of the sandpaper is exposed. In other words, both the first and second surfaces of the cleaning sheet 126 can be on the same rough side of the file. It is worth noting that this embodiment does not limit the number of test units 2 capable of simultaneously tightening one cleaning sheet 126. FIG. 3 shows that two test units 2 can tighten one cleaning sheet 126 at the same time, but it is also possible that only one test unit 2 can tighten the cleaning sheet 126.

実際上の例を挙げると、試験装置が電子部品を試験する場合、試験部２は、電子部品の電極を締め付けるだけでなく、電極の表面の酸化膜を擦り落とすために電極を擦るか又は摩擦しなければならない。ある期間後、酸化膜の残留物又はいくらかの粉塵が試験部２に付着することは、不可避であり、そのため、試験部２は、定期的に洗浄されなければならない。一例において、試験装置が電子部品を検査した後、キャリアの電子部品は、格納位置から引き出され得、洗浄治具１を交換品として格納位置に置き得る。洗浄シート１２６の位置は、電子部品の電極位置と同じであるため、技術者は、試験装置に対して同じ指示、例えば試験装置の試験部２を、電子部品の電極を締め付けるように制御するという指示を出すことができる。当然のことながら、この実施形態は、試験装置により受け取られる指示を限定するものではなく、技術者は、試験装置の自己洗浄プロセスのために設計された指示も出し得る。 To give a practical example, when a test device tests an electronic component, the test unit 2 not only tightens the electrode of the electronic component, but also rubs or rubs the electrode to scrape off the oxide film on the surface of the electrode. Must. After a period of time, it is inevitable that oxide film residues or some dust will adhere to the test unit 2, so the test unit 2 must be cleaned on a regular basis. In one example, after the test device inspects the electronic component, the electronic component of the carrier may be pulled out of the storage position and the cleaning jig 1 may be placed in the storage position as a replacement. Since the position of the cleaning sheet 126 is the same as the electrode position of the electronic component, the technician controls the same instruction to the test device, for example, the test unit 2 of the test device to tighten the electrode of the electronic component. You can give instructions. Of course, this embodiment does not limit the instructions received by the test device, and the technician may also issue instructions designed for the self-cleaning process of the test device.

上記に従い、電子部品の電極は、洗浄シート１２６と交換されているため、試験装置の試験部２は、洗浄シート１２６を、電子部品の電極が当初締め付けられると予期された位置で締め付ける。当業者は、試験部２が洗浄シート１２６を擦るか又は摩擦しなければならないため、試験部２を洗浄するという目的を達成するために、試験部２に堆積した残留物及び粉塵が洗浄シート１２６の粗い表面により擦り落とされ得ることを理解し得る。一例において、試験部２が多くのゴミを堆積させる場合、試験部２を完全に洗浄するために、技術者は、洗浄プロセスを向上させるために試験部２が洗浄シート１２６を数回締め付け得るように、同じ指示を２回以上試験装置に出し得る。試験装置は、洗浄シート１２６に試験部２を積極的に擦らせるか又は摩擦させる代わりに、洗浄治具１でそれ自体を洗浄し得ることが上記から分かり得る。したがって、既存の指示、例えば電極を締め付けるための指示を与えることにより、洗浄プロセスが完了し得る。 According to the above, since the electrode of the electronic component is replaced with the cleaning sheet 126, the test unit 2 of the test apparatus tightens the cleaning sheet 126 at the position where the electrode of the electronic component is initially expected to be tightened. Since a person skilled in the art must rub or rub the cleaning sheet 126, the residue and dust accumulated on the test unit 2 are removed from the cleaning sheet 126 in order to achieve the purpose of cleaning the test unit 2. It can be understood that it can be scraped off by the rough surface of. In one example, if the test unit 2 deposits a lot of debris, in order to completely clean the test unit 2, the technician may allow the test unit 2 to tighten the cleaning sheet 126 several times to improve the cleaning process. In addition, the same instruction may be given to the test device more than once. It can be seen from the above that the test apparatus can clean itself with the cleaning jig 1 instead of actively rubbing or rubbing the test unit 2 on the cleaning sheet 126. Therefore, the cleaning process can be completed by giving existing instructions, such as instructions for tightening the electrodes.

加えて、洗浄シート１２６が、交換が推奨される使用量に達すると（例えば、多くの使用後）、第１の締付プレート１２０ａを第２の締付プレート１２０ｂからわずかに分離するために、第２の係止部材１２４も解放され得る。このとき、技術者は、使用済洗浄シート１２６を第１の締付プレート１２０ａと第２の締付プレート１２０ｂとの間から引き出し得、且つそれを新たなものと交換し得る。試験装置を停止し、試験部２を１つずつ分解及び洗浄することに比べて、この実施形態には明らかな利点があり、すなわち、洗浄治具１は、一度により多くの試験部２を洗浄するために使用され得る。他方では、この実施形態は、次の格納位置において試験部２を洗浄するために洗浄シート１２６を交換するのみでよく、試験装置は、試験部２を洗浄するために停止される必要がなく、これは、試験装置の効率が非常に向上し得ることも意味する。 In addition, when the cleaning sheet 126 reaches the recommended usage for replacement (eg, after a lot of use), the first tightening plate 120a is slightly separated from the second tightening plate 120b. The second locking member 124 may also be released. At this time, the technician may pull out the used cleaning sheet 126 from between the first tightening plate 120a and the second tightening plate 120b and replace it with a new one. This embodiment has obvious advantages over shutting down the test equipment and disassembling and cleaning the test units 2 one at a time, i.e., the cleaning jig 1 cleans more test units 2 at a time. Can be used to. On the other hand, in this embodiment, the cleaning sheet 126 only needs to be replaced to clean the test unit 2 at the next storage position, and the test apparatus does not need to be stopped to clean the test unit 2. This also means that the efficiency of the test equipment can be greatly improved.

要約すると、本発明により提供された洗浄治具は、試験装置を洗浄するために使用され得、試験装置の試験部は、洗浄シートを締め付け得、且つ試験部を１つずつ手動で洗浄することなくそれ自体で残留物を擦り落とすことができる。それにより、本発明により提供された洗浄治具は、洗浄を原因とする試験装置のダウンタイムを減らすために、且つまた試験装置を洗浄するための人的資源及び資源を減らすために、試験装置の複数の試験部をバッチで迅速に洗浄することができる。 In summary, the cleaning jig provided by the present invention can be used to clean the test equipment, the test unit of the test equipment can tighten the cleaning sheet, and the test units can be manually cleaned one by one. The residue can be scraped off by itself. Accordingly, the cleaning jig provided by the present invention is a test device in order to reduce the downtime of the test device due to cleaning and also to reduce the human resources and resources for cleaning the test device. Multiple test parts can be quickly cleaned in batches.

１ 洗浄治具
２ 試験部
１０ フレーム
１２ 洗浄ユニット
１００ 第１の側
１０２ 第２の側
１２０ 本体
１２０ａ 第１の締付プレート
１２０ｂ 第２の締付プレート
１２２ 第１の係止部材
１２４ 第２の係止部材
１２６ 洗浄シート
Ｈ フレーム高さ
Ｌ フレーム長さ
Ｗ フレーム幅 1 Cleaning jig 2 Testing unit 10 Frame 12 Cleaning unit 100 1st side 102 2nd side 120 Main body 120a 1st tightening plate 120b 2nd tightening plate 122 1st locking member 124 2nd engagement Stop member 126 Cleaning sheet H Frame height L Frame length W Frame width

Claims (7)

試験装置における複数の試験部を洗浄するための洗浄治具であって、
フレームであって、前記フレームの外縁に位置する第１の側を有するフレームと、
前記フレームの第１の側に取り外し可能に配置された複数の洗浄ユニットと
を含み、
前記洗浄ユニットの各々は、洗浄シートを有し、及び前記洗浄ユニットの各々の前記洗浄シートは、前記フレームから外向きに延在し、
前記洗浄ユニットの各々は、前記試験部の１つに対応し、及び前記試験部の各々は、前記対応する洗浄シートの第１の表面及び第２の表面に同時に接触する、洗浄治具。 A cleaning jig for cleaning multiple test parts in a test device.
A frame having a first side located at the outer edge of the frame, and a frame.
Includes a plurality of removable cleaning units on the first side of the frame.
Each of the cleaning units has a cleaning sheet, and each of the cleaning units of the cleaning unit extends outward from the frame.
A cleaning jig in which each of the cleaning units corresponds to one of the test units, and each of the test units simultaneously contacts the first and second surfaces of the corresponding cleaning sheet. 前記洗浄ユニットの各々は、第１の係止部材を有し、及び前記第１の係止部材は、前記第１の側を取り外し可能に固定する、請求項１に記載の洗浄治具。 The cleaning jig according to claim 1, wherein each of the cleaning units has a first locking member, and the first locking member detachably fixes the first side. 前記洗浄ユニットの各々は、第２の係止部材を有し、及び前記第２の係止部材は、前記洗浄シートを取り外し可能に固定する、請求項２に記載の洗浄治具。 The cleaning jig according to claim 2, wherein each of the cleaning units has a second locking member, and the second locking member detachably fixes the cleaning sheet. 前記第１の係止部材の係止方向は、前記第２の係止部材の係止方向と異なる、請求項３に記載の洗浄治具。 The cleaning jig according to claim 3, wherein the locking direction of the first locking member is different from the locking direction of the second locking member. 前記試験装置の前記試験部は、キャリア上の複数の電子部品を試験するために使用され、前記フレームは、フレーム長さ及びフレーム幅で画定され、及び前記フレーム長さは、前記キャリアの長さに等しく、且つ前記フレーム幅は、前記キャリアの幅に等しい、請求項１に記載の洗浄治具。 The test unit of the test device is used to test a plurality of electronic components on a carrier, the frame is defined by a frame length and a frame width, and the frame length is the length of the carrier. The cleaning jig according to claim 1, wherein the frame width is equal to the width of the carrier. 前記第１の側における前記洗浄ユニットの設定位置は、前記キャリア上の前記電子部品の配置位置に対応する、請求項５に記載の洗浄治具。 The cleaning jig according to claim 5, wherein the setting position of the cleaning unit on the first side corresponds to the arrangement position of the electronic component on the carrier. 前記洗浄シートの前記第１の表面及び前記第２の表面は、紙やすりで作られる、請求項１に記載の洗浄治具。 The cleaning jig according to claim 1, wherein the first surface and the second surface of the cleaning sheet are made of sandpaper.
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