JP2021501236A - 大気圧プラズマで高分子材料の表面を処理する方法 - Google Patents

大気圧プラズマで高分子材料の表面を処理する方法 Download PDF

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Abstract

可撓性高分子基材を処理する方法がここに提供されている。その方法は、約90W超の出力を使用して不活性ガスから大気圧プラズマビームを発生させる工程、そのプラズマビームを可撓性高分子基材の表面に向ける工程、およびその高分子基材の表面に亘りプラズマビームを走査して、処理済み基材表面を形成する工程を有してなる。

Description

関連出願の説明
本出願は、その内容が依拠され、ここに下記に完全に述べられているかのように全てが引用される、2017年10月27日に出願された米国仮特許出願第62/578020号の優先権の恩恵を主張するものである。
本開示は、広く、高分子材料の表面の処理に関する。詳しくは、本開示は、高分子基材の表面改質のための大気圧プラズマ処理に関する。
無菌状態に維持しながらの、流体の配合、貯蔵、移動および輸送のために、バイオプロセス産業において、無菌状態で流体を収容する袋が使用されている。同様に、医療目的に使用される血液、尿および他の物質を保持するために使用される袋は、その物質の無菌状態を提供し、維持することが好ましい。それらの袋は、血清、緩衝剤および超純水などの生物流体に、また細胞培養物を増殖させて、細胞が産生する価値のある生物薬剤化合物を得るために、使用されることがある。その中に収容される製品の品質を維持するための袋の特徴のいくつかに、製品との生体適合性、無菌性、および非発熱原性がある。それらの袋は、典型的に、使用後に廃棄されるものであり、無菌流体を調製し、貯蔵するための効率的な手段として認識されている。一般に、これの使い捨て袋は、可撓性であり、ガンマ線で殺菌された適合プラスチックから製造される。
そのような袋は、典型的に、液体培地および細胞を保持する入れ物または容器を提供するために、折り畳まれ、または切断され封止される単一材料または複数の材料の積層体を含む。それらの袋は、一般に、可撓性であり、使い捨てである。しかし、従来の可撓性の使い捨て袋は、安価であり、適合性があるであろうが、特に、生体物質が腐食性である場合、もしくは袋内での加工、または袋の製造が高温で行われる場合(生体物質が高分子の抽出可能物および浸出可能物に敏感である場合、加工結果に影響することがある)、そのような袋は、高分子からの抽出可能物および浸出可能物によって、その中で加工される生体物質の成分をある程度、汚染するであろう。
本開示の実施の形態によれば、可撓性高分子基材を処理する方法が提供される。その方法は、約90W超の出力を使用して不活性ガスから大気圧プラズマビームを発生させる工程、そのプラズマビームを可撓性高分子基材の表面に向ける工程、およびその高分子基材の表面の少なくとも一部の上にプラズマビームを走査して、処理済み基材表面を形成する工程を有してなる。
追加の特徴および利点は、以下の詳細な説明に述べられており、一部は、その説明から当業者に容易に明白となるか、または以下の詳細な説明、特許請求の範囲、並びに添付図面を含む、ここに記載されたような実施の形態を実施することによって、認識されるであろう。
先の一般的な説明および以下の詳細な説明の両方とも、例示に過ぎず、請求項の性質および特徴を理解するための概要または骨子を提供する意図があることが理解されよう。添付図面は、さらなる理解を与えるために含まれ、本明細書に含まれ、その一部を構成する。図面は、1つ以上の実施の形態を示しており、説明と共に、様々な実施の形態の原理および作動を説明する働きをする。
本開示は、以下の説明、および純粋に非限定例として与えられた、添付図面からより明白に理解されるであろう。
本開示の実施の形態による、高分子材料の表面を処理する方法を示す流れ図 本開示の実施の形態による例示の大気圧プラズマ装置の説明図 本開示の実施の形態による例示の大気圧プラズマ装置の説明図 本開示の実施の形態による例示のバイオプロセスバッグの分解図 本開示の実施の形態による例示のバイオプロセスバッグの分解図 背景測定値;ガラス試料;120Wの出力でのヘリウムプラズマの20走査で処理されたMetalloceneフイルム;150Wの出力でのヘリウムプラズマの40走査で処理されたMetalloceneフイルム;150Wの出力でのヘリウムプラズマの80走査で処理されたMetalloceneフイルム;4つの別々の10LのMetalloceneプラスチックバッグ;およびビス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ホスフェート(bDtBPP)標準に関する超高速液体クロマトグラフィー(UPLC)の時限波長クロマトグラム
ここで、その例が添付図面に示されている、本発明の実施の形態を詳しく参照する。できるときはいつでも、同じまたは同様の部分を称するために、図面に亘り、同じ参照番号が使用される。
名詞は、文脈がそうではないと明白に示していない限り、複数の対象を含む。同じ特徴を列挙する全ての範囲の端点は、独立して組み合わせることができ、列挙された端点を含む。全ての文献は、参照により含まれる。
ここに用いられているように、「有する」、「含む」などの用語は、制約のない意味で使用され、一般に、「含むが、限定されない」ことを意味する。
ここに用いられる全ての科学用語と技術用語は、特に明記のない限り、当該技術分野に通常用いられる意味を有する。ここに与えられた定義は、この中に頻繁に使用される特定の用語の理解を促進するためであり、本開示の範囲を限定する意図はない。
本開示は、始めは広く、次に、いくつかの例示の実施の形態に基づいて詳細に、下記に記載される。個々の例示の実施の形態において互いに組み合わされて示された特徴は、全てが実現される必要はない。特に、個々の特徴は、省略されても、もしくは同じ例示の実施の形態に、または他の例示の実施の形態に示された他の特徴と何か他の方法で組み合わされてもよい。
本開示の実施の形態は、高分子基材の表面を処理する方法、および表面の少なくとも一部が本開示にしたがって処理された高分子材料を含むバイオプロセスバッグに関する。ここに記載された方法は、高分子基材の表面を大気圧プラズマで処理して、処理済み表面を形成する工程を含む。未処理の高分子基材の表面と比べて、処理済みの高分子基材の表面は、抽出可能化合物および浸出可能化合物の総濃度が減少している。詳しくは、未処理の高分子基材の表面と比べて、処理済みの高分子基材の表面は、減少した濃度のビス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ホスフェート(bDtBPP)を有する。例えば、本開示の実施の形態にしたがって形成された処理済みの高分子基材の表面は、未処理の高分子基材の表面と比べて、抽出可能物および浸出可能物の全含有量が約70%超減少している。
図1は、本開示の実施の形態による高分子基材の表面を処理する方法100の流れ図を示している。ここに記載されたように、高分子基材は、以下の群からの少なくとも1種類のプラスチック材料を含むフイルムまたは積層体であることがある:ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリ塩化ビニル(PVC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリスチレン(PS)、ポリカーボネート(PC)、ポリメチルペンテン(PMP)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリエチレン酢酸ビニル共重合体(EVA)、ポリフルオロアルコキシ(PFA)、およびその誘導体。そのフイルムまたは積層体は、低い溶融温度を有することがあり、高いガス透過率も有することがある。
本開示の実施の形態によれば、方法100は、不活性ガスから大気圧プラズマビームを発生させる工程110を含むことがある。ここに用いられているように、「大気圧プラズマ」という用語は、周囲圧力条件下、例えば、約1気圧(atm)(約101kPa)の圧力、または約0.1atm(約10.1kPa)から約5atm(約505kPa)に及ぶ圧力で不活性ガスから形成されたプラズマを含む。例示の不活性ガスは、ヘリウム(He)、ネオン(Ne)、アルゴン(Ar)、クリプトン(Kr)、キセノン(Xe)、およびラドン(Rn)、並びに必要に応じて、水素(H)、窒素(N)、または空気および任意の所望の比率でのその任意の組合せの内の1つ以上を含む。プラズマを励起して、大気圧プラズマビームを形成するために使用される電力は、約90W超、例えば、約90Wと約250Wの間、または約120Wと約220Wの間、またさらには約140Wと約200Wの間、およびそれらの間の全ての値であることがある。
本開示の実施の形態によれば、方法100は、そのプラズマビームを可撓性高分子基材の表面に向けて、その可撓性高分子基材の表面の一部をプラズマビームに暴露する工程120をさらに含むことがある。
本開示の実施の形態によれば、方法100は、その可撓性高分子基材の表面の少なくとも一部の上にプラズマビームを走査して、処理済み基材表面を形成する工程130をさらに含むことがある。プラズマビームを走査する工程130は、可撓性高分子基材に関してプラズマビームを移動させる工程、またはプラズマビームに関して可撓性高分子基材を移動させる工程を含むことがある。プラズマビームが高分子基材の表面のほとんど全表面積の上に動かされることがある一方で、その方法は、代わりに、高分子基材の表面の一部のみの上にプラズマビームを移動させる工程を含むことがある。例えば、可撓性高分子基材が、バイオプロセスバッグなどの使い捨て可撓性バッグを形成するために使用される意図がある場合、その方法は、可撓性バッグの流体接触層として働く高分子基材の表面の部分のみの上にプラズマビームを動かす工程を含むことがある。そのプラズマビームは、可撓性バッグを形成するために溶接されるであろうエッジの部分など、高分子基材の表面の他の部分の上に動かされないことがある。必要に応じて、プラズマビームを走査する工程130は、高分子基材の表面の第1の部分の上にプラズマビームを動かし、次いでその後、高分子基材の表面の第2の部分の上にプラズマビームを動かす工程を含むことがある。
ここに記載されたように、一回の走査は、可撓性高分子基材の表面の一部の上のプラズマビームの動作を記載する。その可撓性高分子基材の表面の同じ部分の上のプラズマビームのその後の動作は、高分子基材の表面のその後の走査と記載される。本開示の実施の形態によれば、可撓性高分子基材の表面の少なくとも一部の上にプラズマビームを走査して、処理済みの基材表面を形成する工程130は、可撓性高分子基材の表面の同じ部分の上の複数回の走査を含むことがある。可撓性高分子基材の表面の少なくとも一部の上にプラズマビームを走査して、処理済みの基材表面を形成する工程130は、約10回超の走査、または約20回超の走査、または約30回超の走査、または約40回超の走査、または約50回超の走査、または約60回超の走査、または約70回超の走査、または約80回超の走査、または約90回超の走査、またさらには約100回超の走査を含むことがある。例えば、可撓性高分子基材の表面の少なくとも一部の上にプラズマビームを走査して、処理済みの基材表面を形成する工程130は、約10回の走査と約100回の走査の間、または約20回の走査と約90回の走査の間、または約30回の走査と約80回の走査の間、またさらには約40回の走査と約70回の走査の間の走査を含むことがある。
可撓性高分子基材の表面の同じ部分の上の走査の回数に加え、可撓性高分子基材の表面の部分は、処理済みの基材表面を形成するのに十分な任意の期間に亘り、プラズマビームに暴露されてもよい。可撓性高分子基材の表面の部分は、約0.5秒超、例えば、約0.5秒と約5.0分の間、または約1.0秒と約3.0分の間、または約3.0秒と約1.0分の間、またさらには約5.0秒と約30秒の間、およびそれらの間の全ての値に亘り、プラズマビームに暴露されることがある。処理される目的の可撓性高分子基材の体積は、その可撓性高分子基材がプラズマビームに暴露されるであろう期間および走査の回数を定義するまたは制限するであろうと認識される。例えば、大容積の可撓性高分子基材が処理されることを目的とする場合、可撓性高分子基材の表面の同じ部分の上の走査の回数を制限しながら、比較的短い期間に亘り可撓性高分子基材をプラズマビームに暴露することが都合よいであろう。
図2は、本開示の実施の形態による大気圧プラズマ装置200を示している。装置200は、例えば、誘電体バリア放電(DBD)型プラズマ装置であることがあり、一般に、基材支持体202およびプラズマ発生器222を備えている。装置200は、基材支持体202を備えることがある。基材支持体202は、可撓性高分子基材が大気圧プラズマビームに暴露され得るように可撓性高分子基材を位置付けるどの適切な支持体であってもよい。一例として、図2は、基材支持体202上に存在する可撓性高分子基材がプラズマ発生器222のプラズマ放出口206の下を通過するように、中心軸204の周りを回転可能な基材支持体202を備える。装置200は、基材支持体202とプラズマ発生器222との間に約0.5mm超の距離を有することがある。例えば、基材支持体202とプラズマ発生器222との間の距離は、約0.5mmと約10mmとの間、または約1.0mmと約5.0mmとの間、または約1.5mmと約4.0mmとの間であることがある。どの特定の理論で束縛する意図もないが、プラズマ発生器222が基材支持体202から約10mmを超える距離に配置されると、ここに記載されたような処理済み基材表面を形成するのに、高分子フイルムの表面の十分な緻密化が妨げられると考えられる。
図2および3は、1つのプラズマ発生器222を備えた大気圧プラズマ装置200を示しているが、本開示の実施の形態による大気圧プラズマ装置200はいくつのプラズマ発生器を備えてもよいことを認識すべきである。複数のプラズマ発生器222により、可撓性高分子基材の大気圧プラズマビームへの暴露が増し、このことは、処理済み基材表面を形成するのに十分な期間を都合よく減少させるであろう。代わりの基材支持体202もここでは考えられる。例えば、装置200は、コンベヤベルト(図示せず)を備えることがあり、ここで、可撓性高分子基材は、コンベヤベルト上で動いてプラズマ放出口206を通過して、可撓性高分子基材の表面を大気圧プラズマに暴露する。
必要に応じて、図3に示されるように、本開示の実施の形態による大気圧プラズマ装置300は、第1のスプール302および第2のスプール304をさらに備えることがある。この随意的な構成において、第1のスプール302は、そのスプール上に巻き付けられた可撓性高分子基材322を備える。基材支持体202は、図3に矢印Aで示される方向に回転駆動され、第1のスプール302は図3に矢印Bで示された方向に回転し、第2のスプール304は図3に矢印Cで示された方向に回転する。このように、可撓性高分子基材322は、第1のスプール302から基材支持体202の周りに巻かれ、処理済みの可撓性高分子基材324として第2のスプール304に巻き取られる。可撓性高分子基材322または処理済みの可撓性高分子基材324のスプール302、304からの、またはそこへの運動を促進するために、基材支持体202とスプール302、304の各々との間に、ローラが配置されることがある。図3に示されるように、可撓性高分子基材322は、基材支持体202が回転するときに、基材支持体202の周りに巻かれる。可撓性高分子基材322は、プラズマ発生器222のプラズマ放出口206の下を通過する。
スプール302、304の他の構成も可能であると考えられる。例えば、スプールは、基材支持体202のどの側に配置されてもよく、基材支持体202は、可撓性高分子基材322のプラズマ処理を促進するために、どの方向に回転してもよい。それに加え、スプール302、304は、基材支持体202の同じ側にあるものと図3に示されているが、第1のスプール302が基材支持体202の第1の側に配置され、第2のスプール304が基材支持体202の第2の側に配置されてもよい。さらに、図3に関して、明瞭にする目的のために、可撓性高分子基材は、プラズマ発生器222のプラズマ放出口206の下を通過する前には可撓性高分子基材322として記載され、プラズマ発生器222のプラズマ放出口206の下を通過した後には処理済みの可撓性高分子基材324として記載されている。可撓性高分子基材は、複数回、プラズマ発生器222のプラズマ放出口206の下を通過してもよいことを認識すべきである。そうすることによって、基材支持体202は、図3の矢印Aで示される方向と反対の方向に回転駆動され、第1のスプール302が図3の矢印Bで示される方向と反対の方向に回転し、第2のスプール304が図3の矢印Cで示された方向と反対の方向に回転することがある。このように、可撓性高分子基材322はさらに、第2のスプール304から、基材支持体202の周りに巻かれ、第1のスプール302上に巻き取られることがある。可撓性高分子基材322は、何回、プラズマ発生器222のプラズマ放出口206の下を通過してもよい。
大気圧プラズマ装置200、300は、プラズマ発生器222内の電極に流体接続され、その電極に不活性ガスを提供するように作られた不活性ガス源210をさらに備えることがあり、その電極で、ガスからプラズマが形成される。ガス源210から出たガスは、プラズマ発生器222内の電極に向けられ、そこで、大気圧プラズマが形成される。次に、その大気圧プラズマは、電極からプラズマ放出口206に通過し、そこで、プラズマ発生器222から出る。プラズマ発生器222内の電極は、電源226に接続されることがある。電源226は、基材支持体202内に配置された接地電極228にさらに接続されることがある。プラズマ発生器222内の電極と、接地電極228との間に、容量結合プラズマが形成されることがある。その電源は、無線周波数(RF)またはマイクロ波周波数(MF)電力を供給することがある。誘電体層232が、基材234と接地電極228との間に配置されることがある。あるいは(図示せず)、誘電体層は、プラズマ発生器222内の各電極と基材234との間に配置された複数の誘電体層であってもよい。そのような構成は例示に過ぎず、誘電体バリア放電大気圧プラズマ装置の他の適切な構成を利用してもよいことを認識すべきである。
大気圧プラズマ装置200は、装置200の様々な構成要素に接続され、そのような構成要素の作動を制御するように作られた制御装置236をさらに備えることがある。その制御装置は、基材支持体202に接続されているのが概略示されているが、本開示の実施の形態にしたがって装置200を制御するために、装置200のそれらの構成要素のいずれ、およびそれらの構成要素のいくつに作動可能に接続されてもよい。制御装置236は、一般に、中央処理装置(CPU)238、メモリ240、およびCPU238の支援回路242を備えている。制御装置236は、装置200を直接的に、もしくは装置200の特定の構成要素に関連した他のコンピュータまたは制御装置(図示せず)により、制御してもよい。制御装置236は、様々な容器およびサブプロセッサを制御するための工業環境に使用できるどの形態の汎用コンピュータ用プロセッサの内の1つであってもよい。
メモリ、またはCPU238のコンピュータ可読メモリ240は、ランダムアクセスメモリ(RAM)、リードオンリーメモリ(ROM)、フロッピーディスク(登録商標)、ハードディスク、フラッシュ、もしくはローカルまたはリモートのデジタル保存の任意の他の形態などの容易に入手できるメモリの1つ以上であることがある。支援回路242は、従来の様式でプロセッサを支援するためにCPU238に接続されている。これらの回路は、キャッシュメモリ、電源装置、クロック回路、入力/出力回路およびサブシステムなどを備えている。ここに記載されたような方法は、その制御装置を、ここに記載された実施の形態にしたがって装置200の作動を制御する特定目的の制御装置に変えるように実行されるまたは発動されることがあるソフトウェアルーチンとしてメモリ240内に記憶されることがある。そのソフトウェアルーチンは、CPU238により制御されているハードウェアから遠隔設置された第2のCPU(図示せず)により記憶および/または実行されることもある。
作動において、基材200は、基材支持体202上に配置され、中心軸204の周りに回転されることがある。プラズマ放出口206は、第1のプロセスガスを供給することがあり、電源226からの電力をプラズマ発生器222の電極および接地電極228に供給することによって、気圧プラズマが形成されることがある。基材200は、中心軸の周りのいくつの所望の数の回転および/またはどの所望の期間に亘り、大気圧プラズマに暴露されてもよい。
ここに記載されたような高分子基材の表面を処理する方法は、図2に示されたものなどの大気圧プラズマ装置200を使用して行われることがある。このように、ここに記載された方法にしたがって処理すべき可撓性高分子基材は、基材支持体202上に配置されることがある。それに加え、可撓性高分子基材の表面の少なくとも一部の上にプラズマビームを走査して、処理済み基材表面を形成する工程130は、可撓性高分子基材の表面がプラズマ放出口206に対して動くように、基材支持体202を中心軸204の周りに回転させる工程を含むことがある。あるいは、ここに記載されたような高分子基材の表面を処理する方法は、図3に示されたものなどの大気圧プラズマ装置300を使用して行われることがある。このように、ここに記載された方法にしたがって処理すべき可撓性高分子基材は、第1のスプール302上に配置されることがある。それに加え、可撓性高分子基材の表面の少なくとも一部の上にプラズマビームを走査して、処理済み基材表面を形成する工程130は、第1のスプール302を回転させる工程、およびその可撓性高分子基材の表面がプラズマ放出口206に対して動くように、高分子基材を第1のスプール302から基材支持体202の周りに巻く工程を含むことがある。
それに加え、ここに記載された方法にしたがって、大気圧プラズマビームを発生させる工程は、不活性ガスを不活性ガス源210からプラズマ発生器222の電極に流す工程を含むことがある。
図4は、本開示の実施の形態による例示のバイオプロセスバッグの分解図を示す。図から分かるように、バイオプロセスバッグ100は、フイルムまたは積層体から形成された少なくとも2つのシート102、104を含む。シート102、104は、流体を受け入れるための内部区画を有する枕形バッグを形成するためにそれらのシートのエッジに沿って溶接されることがある。あるいは、図5に示されるように、バイオプロセスバッグ200は、流体を受け入れるための内部区画を画成する、底部202、上部204、および側壁280を有する三次元バッグであることがある。底部202、上部204、および側壁280の少なくとも1つは、フイルムまたは積層体から形成されている。側壁280は、材料の1つの連続片から形成されることがある。あるいは、側壁280は、そのエッジに沿って接合された2つ以上のパネルを含むことがある。側壁280および/または底部202および/または上部204は、一片の材料から形成されることがあり、それによって、バイオプロセスバッグ200の様々な部分の境界が、曲げまたは折り目により画成される。あるいは、側壁280、底部202および上部204の1つ以上は、別々に形成され、それらの部分の互いの溶接などによって、そのエッジに沿って接合されることがある。バイオプロセスバッグ100、200は、密封されており、流体および/または他の成分の処理の全ての段階で使用するために閉鎖系を提供することが好ましい。ここに用いられているように、「閉鎖系」という用語は、その系の内容物の無菌性を確実にし、周囲の外気からの汚染物質の導入を制限するまたは防ぐように密封された系を称する。
バイオプロセスバッグ100のシート102、104の各々は、同じまたは異なる材料の1つ以上から形成されることがある。バイオプロセスバッグ200の上部204、底部202および側壁280の各々は、同じまたは異なる材料の1つ以上から形成されることがある。不透明または着色材料が使用される場合、そのバッグの少なくとも一部は、バッグの内部区画内の流体および/または他の成分を見られるように実質的に透明であることがある。例えば、シート102、104のいずれかの一部、または上部204、底部202および側壁280のいずれかの少なくとも一部は、バッグの内部区画をそこを通じて見ることができる窓を提供するために透明であることがある。
ここに用いられているように、「流体」という用語は、制限なく、液体、液体懸濁液、気体、ガス状懸濁液などの、流動できる任意の物質を示すために使用される。「流体および/または他の成分」という用語は、細胞増殖のための栄養素、細胞、細胞培養過程の副産物、およびバイオプロセス系で従来添加または形成されることのある任意の他の生体物質または成分を有する細胞培養培地を含むことのある流体を称するために本開示の全体に亘り使用されている。ここに記載されたバイオプロセスバッグおよび他の容器は、1種類以上の細胞または試薬を含むことがある。それに加え、そのバッグは、細胞培養培地を含むことがある。細胞培養培地は、例えば、以下に限られないが、糖類、塩類、アミノ酸、血清(例えば、ウシ胎仔血清)、抗生物質、成長因子、分化因子、着色料、または他の所望の因子であることがある。バッグに供給されることのある一般的な培地としては、ダルベッコ変性イーグル培地(DMEM)、ハムF12栄養混合物、最小必須培地(MEM)、RPMI培地などが挙げられる。以下に限られないが、不死化細胞、初代培養細胞、癌細胞、幹細胞(例えば、胚または人工多能性)などを含むどのタイプの培養細胞をバッグに含んでもよい。細胞は、哺乳類細胞、鳥の細胞、魚の細胞などであってよい。細胞は、以下に限られないが、腎臓、線維芽、乳腺、皮膚、脳、子宮、肺、骨、神経、筋肉、心臓、結腸直腸、膵臓、免疫(例えば、B細胞)、血液などを含むどの組織タイプのものであってもよい。細胞は、分散(例えば、新たに播種された)、密集、二次元、三次元、球状などを含む、バッグ内のどの培養形態にあってもよい。いくつかの実施の形態において、細胞は、培地を含まずに存在する(例えば、凍結乾燥、防腐剤中、凍結など)。
バイオプロセスバッグ100、200は、バイオプロセス用途のための使い捨て製品に従来関連する材料から形成されることがある。バイオプロセスバッグ100のシート102、104、またはバイオプロセスバッグ200の底部202、上部204および側壁280のいずれかまたは全てが、以下の群からの少なくとも1種類のプラスチック材料を含むフイルムまたは積層体から形成されることがある:ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリ塩化ビニル(PVC)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリスチレン(PS)、ポリカーボネート(PC)、ポリメチルペンテン(PMP)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリフルオロアルコキシ(PFA)、およびその誘導体。
相対寸法と絶対寸法の両方を含むバイオプロセスバッグ100、200の寸法を変えることができることを理解すべきである。例えば、バッグは、約1.0ml、または約5.0ml、または約10ml、または約25ml、または約50ml、または約100ml、または約250ml、または約500ml、または約1000ml、または約2000ml、または約5000ml、または約10,000ml、またさらには約20,000mlの容積、並びにそれらの間の全ての容積の流体および/または他の成分を保持するように作られることがある。
超高速液体クロマトグラフィー(UPLC)は、化合物を分離、特定、および定量化するために使用されるカラムクロマトグラフィーの形態である。UPLCにより、小さい粒子の分離および分析を迅速かつ効果的に行うことができる。一般に、液体クロマトグラフィーは、分離すべき粒子の混合物をカラムに通過させる過程である。これにより、混合物から分離された分析物を他の分子から測定することができる。そのカラムに、静止相として知られている、充填材料が充填されている。UPLCにおいて、ポンプが、移動相として知られている混合物をカラムに押し通す。移動相が静止相を通過するときに、検出器が、異なる分子の保持時間を示す。保持時間は、静止相、分析されている分子、および使用される溶媒の間の相互作用に応じて変動する。
Cortecs C18 2.1×100mm 2.7μm Columnを使用するWaters Acquity UPLC光ダイオードアレイ検出器に使用されるAcquity UPLC H−Class System(マサチューセッツ州、ミルフォード所在のWaters Corporationから市販されている)を用いて、下記に記載されたような様々なフイルムを分析した。図6は、背景測定値600;ガラス試料610;120Wの出力でのヘリウムプラズマの20走査で処理されたMetalloceneフイルム620;150Wの出力でのヘリウムプラズマの40走査で処理されたMetalloceneフイルム630;150Wの出力でのヘリウムプラズマの80走査で処理されたMetalloceneフイルム640;4つの別々の10Lのプラスチックバッグ650、660、670、680;およびビス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ホスフェート(bDtBPP)標準690に関するUPLCの時限波長クロマトグラムを示している。bDtBPPは、細胞増殖にとって極めて有害であることが示されている抽出可能化合物である。この化合物は、ポリエチレン(可撓性の使い捨てバイオプロセスバッグなどのバイオプロセス容器において材料流体接触層として一般に使用される高分子の内の1つ)の多くの配合物中に存在する一般的な酸化防止剤添加物である、トリス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ホスファイト(商標名Irgafos 168(登録商標))の分解に由来する。bDtBPPが混ざった成長培地およびいくかの哺乳類細胞系統を使用する細胞増殖実験は、百万分率範囲をはるかに下回る濃度で悪影響を示した。bDtBPPに対する細胞応答は、迅速であり、ミトコンドリア膜電位の著しい減少をもたらす。ポリエチレン系フイルムからのbDtBPPの移動は、時間および温度依存性であることが示されている。さらに、実験により、酸化した「Irgafos 168」のイオン化放射線(ガンマ線照射など)への暴露は、相当な量の浸出可能なbDtBPPが生成される重要な条件であることが示唆される。
Metalloceneフイルム620、Metalloceneフイルム630、およびMetalloceneフイルム640の各々を、90W超の励起出力で形成された大気圧プラズマビームで処理した。このプラズマを形成するために使用した不活性ガスはヘリウムであり、ガス流量は、約14.5標準リットル毎分(SLM)であった。高周波プラズマ発生器(13.56MHz)を連続/非フィラメントモードで使用した。このプラズマ発生器は、基材支持体の表面から約2.0mmと約3.0mmの間に配置されたプラズマ放出口を備えた。この基材支持体はローラであり、フイルムの各々は、処理すべきローラの表面上に個々に配置された。
図6から分かるように、150Wで処理されたMetalloceneフイルムの各々は、4つの別々の10Lのプラスチックバッグ650、660、670、680と比べて、bDtBPPの濃度の減少を示した。150Wの出力でのヘリウムプラズマの40走査で処理されたMetalloceneフイルム630は、4つの別々の10Lのプラスチックバッグ650、660、670、680と比べて、bDtBPPの濃度の減少を示した。150Wの出力でのヘリウムプラズマの80走査で処理されたMetalloceneフイルム640は、4つの別々の10Lのプラスチックバッグ650、660、670、680と比べて、bDtBPPの濃度のさらに大きい減少を示した。Metalloceneフイルム640のUPLC時限波長クロマトグラムは、ガラス試料610のUPLC時限波長クロマトグラムと似ていた。
細胞増殖に対する悪影響のために、bDtBPPは、図6に示されたUPLC時限波長クロマトグラムを比較する上で重要な差を示すものとして、ここに言及されている。しかしながら、4つの別々の10LのMetalloceneプラスチックバッグ650、660、670、680が示した他の抽出可能化合物および浸出可能化合物の多くも、本開示にしたがって処理されたフイルム620、630、640において実質的に減少しているまたはなくなっていることも留意すべきである。実際に、本開示にしたがって処理されたフイルム620、630、640は、4つの別々の10LのMetalloceneプラスチックバッグ650、660、670、680と比べて、抽出可能および浸出可能の全含有量の約70%超の減少を示した。それゆえ、本開示の実施の形態は、高分子フイルム中のbDtBPPの濃度を減少させるが、本開示の実施の形態は、少なくともいくつかの細胞の増殖にとって有害であろう他の抽出可能化合物および浸出可能化合物の量も減少させる。
どの特定の理論に束縛されることは意図されないが、本開示によるヘリウムプラズマ処理は、高分子フイルムから形成されたバイオプロセスバッグの流体接触層の機能を果たすことを目的とする高分子フイルムの表面の架橋および緻密化を促進させると考えられる。そのヘリウムプラズマ処理は、高分子フイルムの表面から低分子量種を除去し、高分子フイルムの表面上の結晶化度の変化を誘発させることによって、高分子フイルムの表面上の抽出可能化合物および浸出可能化合物の存在を減少させると考えられる。一般に、プラズマ処理により生じるイオン化エネルギーのために、より反応性の種が生成される。そのような反応性種は架橋を促進させることがあり、この架橋が、高分子の表面からより小さい分子を追い出し、比較的緻密な高分子表面を形成する。そのような緻密な表面は、TBPPの分解をもたらすことがある酸素の拡散を防ぐ。
本開示は、限られた数の実施の形態を含んでいるが、本開示の恩恵を受けた当業者には、本開示の範囲から逸脱しない他の実施の形態も想起できることが認識されるであろう。
以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。
実施形態1
可撓性高分子基材を処理する方法において、
約90W超の出力を使用して不活性ガスから大気圧プラズマビームを発生させる工程、
前記プラズマビームをプラズマ放出口から前記可撓性高分子基材の表面に向ける工程、および
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査して、処理済み基材表面を形成する工程、
を有してなる方法。
実施形態2
前記大気圧プラズマビームを発生させる工程が、約120Wと約220Wの間の出力を使用する工程を含む、実施形態1に記載の方法。
実施形態3
前記大気圧プラズマビームを発生させる工程が、約140Wと約200Wの間の出力を使用する工程を含む、実施形態1または2に記載の方法。
実施形態4
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、該高分子基材の表面の全表面積未満に亘り前記プラズマビームを動かす工程を含む、実施形態1から3のいずれか1つに記載の方法。
実施形態5
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、該高分子基材の表面の第1の部分に亘り前記プラズマビームを動かし、次いで、該高分子基材の表面の第2の部分に亘り該プラズマビームを動かす工程を含む、実施形態1から4のいずれか1つに記載の方法。
実施形態6
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記高分子基材に関して該プラズマビームを動かす工程を含む、実施形態1から5のいずれか1つに記載の方法。
実施形態7
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記プラズマビームに関して該高分子基材を動かす工程を含む、実施形態1から5のいずれか1つに記載の方法。
実施形態8
前記不活性ガスが、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリプトン、キセノン、およびラドンの少なくとも1つを含む、実施形態1から7のいずれか1つに記載の方法。
実施形態9
前記プラズマビームを前記可撓性高分子基材の表面に向ける工程が、該可撓性高分子基材の表面を約0.5秒超に亘り前記プラズマビームに暴露する工程を含む、実施形態1から8のいずれか1つに記載の方法。
実施形態10
前記プラズマビームを前記可撓性高分子基材の表面に向ける工程が、該可撓性高分子基材の表面を約0.5秒と約5.0秒の間に亘り前記プラズマビームに暴露する工程を含む、実施形態1から9のいずれか1つに記載の方法。
実施形態11
前記プラズマビームを前記可撓性高分子基材の表面に向ける工程が、該可撓性高分子基材の表面を約1.0秒と約3.0秒の間に亘り前記プラズマビームに暴露する工程を含む、実施形態1から10のいずれか1つに記載の方法。
実施形態12
前記プラズマビームを前記可撓性高分子基材の表面に向ける工程が、該可撓性高分子基材の表面を約3.0秒と約1.0分秒の間に亘り前記プラズマビームに暴露する工程を含む、実施形態1から11のいずれか1つに記載の方法。
実施形態13
前記プラズマビームを前記可撓性高分子基材の表面に向ける工程が、該可撓性高分子基材の表面を約5.0秒と約30秒の間に亘り前記プラズマビームに暴露する工程を含む、実施形態1から12のいずれか1つに記載の方法。
実施形態14
前記可撓性高分子基材が基材支持体上に位置付けられている、実施形態1から13のいずれか1つに記載の方法。
実施形態15
前記基材支持体が中心軸の周りに回転可能であり、前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、該可撓性高分子基材の表面が前記プラズマ放出口に対して動くように、前記基材支持体を前記中心軸の周りに回転させる工程を含む、実施形態14に記載の方法。
実施形態16
前記可撓性高分子基材がスプール上に位置付けられている、実施形態1から13のいずれか1つに記載の方法。
実施形態17
前記スプールが中心軸の周りに回転可能であり、前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記可撓性高分子基材の表面が前記プラズマ放出口に対して動くように、前記スプールを回転させ、該高分子基材を該スプールから基材支持体の周りに巻く工程を含む、実施形態16に記載の方法。
実施形態18
前記大気圧プラズマビームを発生させる工程が、前記不活性ガスを不活性ガス源からプラズマ発生器の電極に流す工程を含む、実施形態1から17のいずれか1つに記載の方法。
実施形態19
前記処理済み基材表面が、未処理の高分子基材の表面の抽出可能および浸出可能全含有量の約70%未満の抽出可能および浸出可能全含有量を有する、実施形態1から18のいずれか1つに記載の方法。
実施形態20
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約10回を超える走査を含む、実施形態1から19のいずれか1つに記載の方法。
実施形態21
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約40回を超える走査を含む、実施形態1から20のいずれか1つに記載の方法。
実施形態22
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約60回を超える走査を含む、実施形態1から21のいずれか1つに記載の方法。
実施形態23
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約80回を超える走査を含む、実施形態1から22のいずれか1つに記載の方法。
実施形態24
前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約20回と約90回の間の走査を含む、実施形態1から23のいずれか1つに記載の方法。
実施形態25
実施形態1から24のいずれか1つに記載の方法により処理された可撓性高分子基材。
実施形態26
実施形態25に記載の可撓性高分子基材から作られたバイオプロセスバッグ。
100、200 バイオプロセスバッグ
102、104 シート
202 底部
204 上部
280 側壁
200、300 装置
202 基材支持体
206 プラズマ放出口
210 不活性ガス源
222 プラズマ発生器
228 接地電極
232 誘電体層
234 基材
236 制御装置
238 中央処理装置(CPU)
240 メモリ
242 支援回路
302 第1のスプール
304 第2のスプール
322 可撓性高分子基材
324 処理済みの可撓性高分子基材
600 背景測定値
610 ガラス試料
620、630、640 Metalloceneフイルム
650、660、670、680 10Lのプラスチックバッグ
690 ビス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ホスフェート(bDtBPP)標準

Claims (10)

  1. 可撓性高分子基材を処理する方法において、
    約90W超の出力を使用して不活性ガスから大気圧プラズマビームを発生させる工程、
    前記プラズマビームをプラズマ放出口から前記可撓性高分子基材の表面に向ける工程、および
    前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査して、処理済み基材表面を形成する工程、
    を有してなる方法。
  2. 前記大気圧プラズマビームを発生させる工程が、約120Wと約220Wの間、または約140Wと約200Wの間の出力を使用する工程を含む、請求項1記載の方法。
  3. 前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記高分子基材に関して該プラズマビームを動かす工程、または前記プラズマビームに関して該高分子基材を動かす工程を含む、請求項1または2記載の方法。
  4. 前記プラズマビームを前記可撓性高分子基材の表面に向ける工程が、該可撓性高分子基材の表面を約0.5秒超に亘り前記プラズマビームに暴露する工程を含む、請求項1から3いずれか1項記載の方法。
  5. 前記プラズマビームを前記可撓性高分子基材の表面に向ける工程が、該可撓性高分子基材の表面を約0.5秒と約5.0秒の間、約1.0秒と約3.0秒の間、約3.0秒と約1.0分秒の間、または約5.0秒と約30秒の間に亘り前記プラズマビームに暴露する工程を含む、請求項1から4いずれか1項記載の方法。
  6. 前記可撓性高分子基材が、中心軸の周りに回転可能である基材支持体上に位置付けられており、前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、該可撓性高分子基材の表面が前記プラズマ放出口に対して動くように、前記基材支持体を前記中心軸の周りに回転させる工程を含む、請求項1から5いずれか1項記載の方法。
  7. 前記可撓性高分子基材が、中心軸の周りに回転可能であるスプール上に位置付けられており、前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記可撓性高分子基材の表面が前記プラズマ放出口に対して動くように、前記スプールを回転させ、該高分子基材を該スプールから基材支持体の周りに巻く工程を含む、請求項1から5いずれか1項記載の方法。
  8. 前記処理済み基材表面が、未処理の高分子基材の表面の抽出可能および浸出可能全含有量の約70%未満の抽出可能および浸出可能全含有量を有する、請求項1から7いずれか1項記載の方法。
  9. 前記高分子基材の表面の少なくとも一部の上に前記プラズマビームを走査する工程が、前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約10回を超える走査、前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約40回を超える走査、前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約60回を超える走査、前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約80回、または前記高分子基材の表面の同じ部分の上を約20回と約90回の間の走査を含む、請求項1から8いずれか1項記載の方法。
  10. 請求項1から9いずれか1項記載の方法により処理された可撓性高分子基材から作られたバイオプロセスバッグ。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001049470A (ja) * 1999-08-17 2001-02-20 Matsushita Electric Works Ltd プラズマ処理システム及びプラズマ処理方法
JP2002036255A (ja) * 2000-07-26 2002-02-05 Matsushita Electric Works Ltd プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
JP2003007497A (ja) * 2001-06-19 2003-01-10 Pearl Kogyo Kk 大気圧プラズマ処理装置
KR20090108874A (ko) * 2008-04-14 2009-10-19 한국기초과학지원연구원 플라즈마 표면처리에 의한 생분해성 고분자 수지의 생분해속도와 친수성 향상방법
JP2013049819A (ja) * 2011-08-31 2013-03-14 Sumitomo Rubber Ind Ltd 表面改質フッ素樹脂フィルムの製造方法及び表面改質フッ素樹脂フィルム
US20130302894A1 (en) * 2012-05-11 2013-11-14 Cryovac, Inc. Polymeric Film for Use in Bioprocessing Applications
US8632651B1 (en) * 2006-06-28 2014-01-21 Surfx Technologies Llc Plasma surface treatment of composites for bonding
JP2017518749A (ja) * 2014-05-30 2017-07-13 フィネッセ ソリューションズ、インコーポレイテッド バイオプロセスコンテナ用の無菌コネクタ

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5224441A (en) * 1991-09-27 1993-07-06 The Boc Group, Inc. Apparatus for rapid plasma treatments and method
US5456972A (en) 1993-05-28 1995-10-10 The University Of Tennessee Research Corporation Method and apparatus for glow discharge plasma treatment of polymer materials at atmospheric pressure
US5955161A (en) 1996-01-30 1999-09-21 Becton Dickinson And Company Blood collection tube assembly
JPH1017687A (ja) 1996-07-03 1998-01-20 Kawasumi Lab Inc 袋状物の内面処理方法
JP2003062451A (ja) 2001-08-23 2003-03-04 Ulvac Japan Ltd 薄膜プラズマ処理方法及び装置
BRPI0516670A (pt) 2004-10-29 2008-09-16 Dow Global Technologies Inc processo para preparar um revestimento de multicamadas, processo para preparar um revestimento sobre uma superfìcie de um substrato polimérico orgánico, estrutura composta, material de vitrificação e automóvel ou edifìcio
US20080107820A1 (en) 2004-10-29 2008-05-08 Gabelnick Aaron M Deposition Rate Plasma Enhanced Chemical Vapor Process
JP2008058336A (ja) 2004-12-14 2008-03-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学素子
US20070113867A1 (en) * 2005-11-22 2007-05-24 The Regents Of The University Of California Polymer treatment using a plasma brush
GB0919274D0 (en) * 2009-11-03 2009-12-16 Univ The Glasgow Plasma generation apparatus and use of plasma generation apparatus
JP5616657B2 (ja) 2010-03-12 2014-10-29 富士フイルム株式会社 表面処理方法
WO2012097079A2 (en) 2011-01-11 2012-07-19 Xcellerex, Inc. Linearly scalable single use bioreactor system
US20130022752A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 U.S. Government As Represented By The Secretary Of The Army Methods for treating a surface of a substrate by atmospheric plasma processing
CN103483610B (zh) 2012-06-13 2015-04-15 中国科学院理化技术研究所 一种血液相容性医用高分子材料的制备方法
JPWO2016009801A1 (ja) * 2014-07-14 2017-04-27 コニカミノルタ株式会社 ガスバリア性フィルムおよび電子デバイス
US10427974B2 (en) 2015-03-26 2019-10-01 Corning Incorporated Glass composite for use in extreme ultra violet lithography
US20160329193A1 (en) * 2015-05-05 2016-11-10 Eastman Kodak Company Atmospheric-pressure plasma treatment system
JP7209626B2 (ja) 2016-12-20 2023-01-20 コーニング インコーポレイテッド 物品の強度及び耐擦傷性を保持するための亀裂を緩和する単層及び多層フィルムを有するガラスベース物品

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001049470A (ja) * 1999-08-17 2001-02-20 Matsushita Electric Works Ltd プラズマ処理システム及びプラズマ処理方法
JP2002036255A (ja) * 2000-07-26 2002-02-05 Matsushita Electric Works Ltd プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
JP2003007497A (ja) * 2001-06-19 2003-01-10 Pearl Kogyo Kk 大気圧プラズマ処理装置
US8632651B1 (en) * 2006-06-28 2014-01-21 Surfx Technologies Llc Plasma surface treatment of composites for bonding
KR20090108874A (ko) * 2008-04-14 2009-10-19 한국기초과학지원연구원 플라즈마 표면처리에 의한 생분해성 고분자 수지의 생분해속도와 친수성 향상방법
JP2013049819A (ja) * 2011-08-31 2013-03-14 Sumitomo Rubber Ind Ltd 表面改質フッ素樹脂フィルムの製造方法及び表面改質フッ素樹脂フィルム
US20130302894A1 (en) * 2012-05-11 2013-11-14 Cryovac, Inc. Polymeric Film for Use in Bioprocessing Applications
JP2017518749A (ja) * 2014-05-30 2017-07-13 フィネッセ ソリューションズ、インコーポレイテッド バイオプロセスコンテナ用の無菌コネクタ

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
CHUN HUANG, YA-CHI CHANG, SHIN-YI WU: "Contact angle analysis of Low-temperature cyclonic atmospheric pressure plasma modified polyethylene", THIN SOLID FILMS, vol. 第518巻, JPN6022043297, 1 December 2009 (2009-12-01), pages 3575 - 3580, ISSN: 0005035684 *
M J SHENTON, G C STEVENS: "Surface modification of polymer surfaces:atmospheric plasma versus vacuum plasma treatments", JOURNAL OF PHYSICS:APPLIED PHYSICS, vol. 第34巻, JPN6022043298, 5 September 2001 (2001-09-05), GB, pages 2761 - 2768, XP055545383, ISSN: 0005035685, DOI: 10.1088/0022-3727/34/18/308 *

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