JP2021189000A - 分析装置選択装置および分析装置選択方法 - Google Patents

Abstract

【課題】適切な分析装置の選択を容易に行うことを可能にする分析装置選択装置および分析装置選択方法を提供する。【解決手段】各分析装置１０の構成を示す装置情報が装置情報取得部４１により取得される。各分析装置１０の使用スケジュールを示すスケジュール情報がスケジュール情報取得部４２により取得される。試料の分析手法が分析手法取得部４４により取得される。装置情報取得部４１により取得された装置情報およびスケジュール情報取得部４２により取得されたスケジュール情報に基づいて、複数の分析装置１０のうち、分析手法取得部４４により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置１０が装置選択部４８により選択される。装置選択部４８により選択された分析装置１０を識別するための識別情報が提示部５１により提示される。【選択図】図２

Description

本発明は、分析装置選択装置および分析装置選択方法に関する。

試料の分析を行う研究施設には、ガスクロマトグラフ、液体クロマトグラフまたは質量分析装置等の複数の分析装置が設けられることがある。また、このような分析システムには、データベース管理システム、ラボラトリデータ管理システムまたはラボラトリ情報管理システム等の管理装置が設けられる（例えば特許文献１参照）。複数の分析装置は、管理装置により管理される。研究施設に所属する分析システムの使用者は、複数の分析装置から所望の分析手法に適合する分析装置を選択して用いることにより、試料の分析を行うことができる。

特開２００８−２４１３８６号公報

分析装置は種々の分析カラムまたは検出器等の構成部品を複数含むため、これらの構成部品の組み合わせにより分析装置の種類は多岐に及ぶ。したがって、熟練していない使用者には、適切な分析装置を選択することは容易ではない。また、いずれかの分析装置は、他の使用者により現在使用されていることがある。あるいは、他の使用者によりいずれかの分析装置の使用が予約されていることがある。そのため、各使用者は、他の使用者と干渉しないように分析装置を選択する必要がある。しかしながら、分析手法によっては分析に長時間を要することがあるため、他の使用者と干渉しないように分析装置を選択することは困難である。

本発明の目的は、適切な分析装置の選択を容易に行うことを可能にする分析装置選択装置および分析装置選択方法を提供することである。

本発明の一態様は、試料を分析する複数の分析装置とともに設けられる分析装置選択装置であって、各分析装置の構成を示す装置情報を取得する装置情報取得部と、各分析装置の使用スケジュールを示すスケジュール情報を取得するスケジュール情報取得部と、試料の分析手法を取得する分析手法取得部と、前記装置情報取得部により取得された装置情報および前記スケジュール情報取得部により取得されたスケジュール情報に基づいて、前記複数の分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択する装置選択部と、前記装置選択部により選択された分析装置を識別するための識別情報を提示する提示部とを備える、分析装置選択装置に関する。

本発明の他の態様は、試料を分析する複数の分析装置に用いられる分析装置選択方法であって、各分析装置の構成を示す装置情報を取得するステップと、各分析装置の使用スケジュールを示すスケジュール情報を取得するステップと、試料の分析手法を取得するステップと、取得された装置情報およびスケジュール情報に基づいて、前記複数の分析装置のうち、取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択するステップと、選択された分析装置を識別するための識別情報を提示するステップとを含む、分析装置選択方法に関する。

本発明によれば、適切な分析装置の選択を容易に行うことが可能になる。

本発明の一実施の形態に係る分析装置選択装置を含む分析システムの構成を示す図である。 分析装置選択装置の構成を示す図である。 分析装置選択装置により実行される提示処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。 分析装置選択装置により実行される提示処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。 分析装置選択装置により実行される提示処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。

（１）分析システムの構成
以下、本発明の実施の形態に係る分析装置選択装置および分析装置選択方法について図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の一実施の形態に係る分析装置選択装置を含む分析システムの構成を示す図である。図１に示すように、分析システム１００は、複数の分析装置１０、分析管理装置２０、タスク管理装置３０および分析装置選択装置４０を含む。各分析装置１０、分析管理装置２０、タスク管理装置３０および分析装置選択装置４０は、互いに通信可能にネットワーク１１０に接続される。

各分析装置１０は、例えば１もしくは複数のガスクロマトグラフ、１もしくは複数の液体クロマトグラフまたは１もしくは複数の質量分析装置等を含む。分析管理装置２０、タスク管理装置３０および分析装置選択装置４０の各々は、パーソナルコンピュータ等の情報処理装置により実現され、ＣＰＵ（中央演算処理装置）およびメモリを含む。分析管理装置２０、タスク管理装置３０および分析装置選択装置４０は、共通の情報処理装置により実現されてもよい。この場合、分析管理装置２０、タスク管理装置３０および分析装置選択装置４０は、共通のＣＰＵおよびメモリを含む。

分析管理装置２０は、各分析装置１０の装置情報、スケジュール情報および状態情報を管理する。装置情報は、分析装置１０の構成を特定するための情報であり、分析装置１０の機種、または分析装置１０に含まれる分離カラム等の構成部品の種類、移動相等の消耗品の種類もしくは量等を示す。スケジュール情報は、分析装置１０が現在使用されているか否かまたは使用が予定されているか否か等の使用スケジュールを示す。状態情報は、分析装置１０に含まれるカラムオーブンの温度、送液ポンプの圧力または消耗品の使用回数もしくは残量等を示す。

タスク管理装置３０は、いずれかの分析装置１０を用いた分析手法を記述する複数のメソッドファイルを管理する。分析手法には、使用する分析装置１０の機種、または使用する構成部品の種類、消耗品の種類もしくは量が含まれる。また、メソッドファイルには、分析所要時間または使用する分析装置１０における構成部品の状態（例えばカラムオーブンの温度または送液ポンプの圧力）の変化が含まれる。

分析装置選択装置４０は、各分析装置１０の装置情報、スケジュール情報および状態情報に基づいて、使用者により指定された分析手法に適合する分析装置１０を選択する。また、分析装置選択装置４０は、選択された分析装置１０を識別するための識別情報を使用者に提示する。分析装置選択装置４０の詳細については後述する。

（２）分析装置選択装置
図２は、図１の分析装置選択装置４０の構成を示す図である。図２に示すように、分析装置選択装置４０は、機能部として、装置情報取得部４１、スケジュール情報取得部４２、状態情報取得部４３、分析手法取得部４４、機種選択部４５、部品選択部４６、消耗品選択部４７、装置選択部４８、準備決定部４９、優先順位決定部５０および提示部５１を含む。分析装置選択装置４０のＣＰＵがメモリに記憶された制御プログラムを実行することにより、分析装置選択装置４０の機能部が実現される。分析装置選択装置４０の機能部の一部または全部が電子回路等のハードウエアにより実現されてもよい。

装置情報取得部４１は、分析管理装置２０から各分析装置１０の装置情報を取得する。スケジュール情報取得部４２は、分析管理装置２０から各分析装置１０のスケジュール情報を取得する。状態情報取得部４３は、分析管理装置２０から各分析装置１０の状態情報を取得する。分析手法取得部４４は、使用者により指定されたメソッドファイル（分析手法）をタスク管理装置３０から取得する。使用者は、タスク管理装置３０に所望のメソッドファイルを指定することができる。分析手法取得部４４は、使用者により直接入力された分析手法を取得してもよい。

機種選択部４５は、装置情報取得部４１により取得された装置情報に基づいて、分析システム１００の複数の分析装置１０のうち、分析手法取得部４４により取得された分析手法で使用する機種の分析装置１０、および当該機種と互換性を有する機種の分析装置１０を選択する。部品選択部４６は、装置情報に基づいて、機種選択部４５により選択された分析装置１０のうち、分析手法を実行可能な分析装置１０、および当該構成部品を取り付け可能な分析装置１０を選択する。分析手法を実行可能な分析装置１０とは、分析手法で使用する種類の構成部品が取り付けられている分析装置１０を意味する。

消耗品選択部４７は、装置情報に基づいて、部品選択部４６により選択された分析装置１０のうち、分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置１０、および当該消耗品を取り付け可能な分析装置１０を選択する。分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置１０とは、分析手法で使用する種類の消耗品が取り付けられており、かつ、消耗品の残量（残り使用可能回数または残り使用可能期間を含む。）が分析で使用する量よりも大きい分析装置１０を意味する。

装置選択部４８は、現在使用可能な分析装置１０を選択する。具体的には、消耗品選択部４７により選択された分析装置１０のうち、使用および使用の予約がされていない分析装置１０、ならびに使用の予約がされている時刻までに分析を終了可能な分析装置１０が選択される。使用の予約がされている時刻までに分析を終了可能であるか否かは、分析手法における分析所要時間に基づいて判定される。

準備決定部４９は、装置選択部４８により選択される各分析装置１０を使用可能にするために要する準備作業および準備時間を決定する。例えば、状態情報取得部４３により取得された各分析装置１０の状態情報が示す現時点の構成部品の状態（例えば圧力および温度）を分析手法における分析開始時の構成部品の状態に調整するための時間が準備時間として決定される。

また、部品選択部４６により選択された分析装置１０に必要な構成部品が取り付けられていない場合、分析装置１０に当該構成部品を取り付けることが準備作業として決定され、準備作業に要する時間が準備時間として決定される。消耗品選択部４７により選択された分析装置１０に必要な消耗品が取り付けられていない場合、分析装置１０に当該消耗品の取り付けまたは補充することが準備作業として決定され、準備作業に要する時間が準備時間として決定される。これらの準備時間は、構成部品または消耗品の種類に応じて予め定められていてもよいし、予め一定に定められていてもよい。

準備決定部４９により決定された準備時間は、分析手法における分析所要時間に加算される。また、分析装置１０の構成部品等が取り換えられた場合には、分析終了後に分析装置１０に元の構成部品等が再度取り付けられてもよい。この場合、構成部品等を再度取り付けるための時間が準備時間として決定され、決定された準備時間が分析所要時間にさらに加算されてもよい。

優先順位決定部５０は、装置選択部４８により選択された分析装置１０の使用の優先順位を決定する。例えば、分析手法で使用する機種の分析装置１０の優先順位は、当該機種と互換性を有する分析装置１０の優先順位よりも高く決定される。構成部品の状態の調整の必要な程度が小さい分析装置１０の優先順位は、構成部品の状態の調整の必要な程度が大きい分析装置１０の優先順位よりも高く決定される。

また、構成部品の取り付け作業を必要としない分析装置１０の優先順位は、構成部品の取り付け作業を必要とする分析装置１０の優先順位よりも高く決定される。消耗品の取り付け作業および補充作業を必要としない分析装置１０の優先順位は、消耗品の取り付け作業または補充作業を必要とする分析装置１０の優先順位よりも高く決定される。

提示部５１は、装置選択部４８により選択された分析装置１０の識別情報を使用者に提示する。また、提示部５１は、準備決定部４９により決定された各分析装置１０の準備作業および準備時間を分析装置１０に対応するように使用者に提示する。さらに、提示部５１は、優先順位決定部５０により決定された各分析装置１０の優先順位を分析装置１０に対応するように使用者に提示する。提示方法の一例として、分析システム１００が表示装置を含む場合には、分析装置１０の識別情報が表示装置に表示されてもよい。

（３）提示処理
図３、図４および図５は、分析装置選択装置４０により実行される提示処理のアルゴリズムの一例を示すフローチャートである。装置情報取得部４１は、分析管理装置２０から装置情報を取得する（ステップＳ１）。スケジュール情報取得部４２は、分析管理装置２０からスケジュール情報を取得する（ステップＳ２）。状態情報取得部４３は、分析管理装置２０から状態情報を取得する（ステップＳ３）。

分析手法取得部４４は、タスク管理装置３０から分析手法を取得する（ステップＳ４）。分析手法取得部４４は、使用者により分析手法が直接入力されることにより分析手法を取得してもよい。また、ステップＳ１〜Ｓ４は、いずれが先に実行されてもよいし、同時に実行されてもよい。

次に、機種選択部４５は、分析システム１００の複数の分析装置１０のうち、ステップＳ４で取得された分析手法で使用する機種の分析装置１０があるか否かをステップＳ１で取得された装置情報に基づいて判定する（ステップＳ５）。分析装置１０がない場合、機種選択部４５はステップＳ７に進む。分析装置１０がある場合、機種選択部４５は、該当する分析装置１０を選択し（ステップＳ６）、ステップＳ７に進む。

ステップＳ７において、機種選択部４５は、分析システム１００の複数の分析装置１０のうち、ステップＳ４で取得された分析手法で使用する機種と互換性を有する機種の分析装置１０があるか否かをステップＳ１で取得された装置情報に基づいて判定する（ステップＳ７）。分析装置１０がない場合、機種選択部４５はステップＳ９に進む。分析装置１０がある場合、機種選択部４５は、該当する分析装置１０を選択し（ステップＳ８）、ステップＳ９に進む。

ステップＳ９において、部品選択部４６は、ステップＳ６，Ｓ８で選択された分析装置１０のうち、ステップＳ４で取得された分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置１０があるか否かをステップＳ１で取得された装置情報に基づいて判定する（ステップＳ９）。分析装置１０がない場合、部品選択部４６はステップＳ１２に進む。

分析装置１０がある場合、部品選択部４６は、該当する分析装置１０を選択する（ステップＳ１０）。また、準備決定部４９は、ステップＳ３で取得された状態情報およびステップＳ４で取得された分析手法に基づいて、ステップＳ１０で選択された分析装置１０の構成部品の状態の調整についての準備時間を決定し（ステップＳ１１）、ステップＳ１２に進む。

ステップＳ１２において、部品選択部４６は、ステップＳ６，Ｓ８で選択された分析装置１０のうち、ステップＳ４で取得された分析手法を実行するための構成部品を取り付け可能な分析装置１０があるか否かをステップＳ１で取得された装置情報に基づいて判定する（ステップＳ１２）。分析装置１０がない場合、部品選択部４６はステップＳ１６に進む。

分析装置１０がある場合、部品選択部４６は、該当する分析装置１０を選択する（ステップＳ１３）。また、準備決定部４９は、ステップＳ１３で選択された分析装置１０への構成部品の取り付けについての準備作業および準備時間を決定する（ステップＳ１４）。さらに、準備決定部４９は、ステップＳ１３で選択された分析装置１０の構成部品の状態の調整についての準備時間を決定し（ステップＳ１５）、ステップＳ１６に進む。ステップＳ１５で決定される準備時間は、予め一定に定められていてもよい。

ステップＳ１６において、消耗品選択部４７は、ステップＳ１０，Ｓ１３で選択された分析装置１０のうち、ステップＳ４で取得された分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置１０があるか否かをステップＳ１で取得された装置情報に基づいて判定する（ステップＳ１６）。分析装置１０がない場合、消耗品選択部４７はステップＳ１８に進む。分析装置１０がある場合、消耗品選択部４７は、該当する分析装置１０を選択し（ステップＳ１７）、ステップＳ１８に進む。

ステップＳ１８において、消耗品選択部４７は、ステップＳ１０，Ｓ１３で選択された分析装置１０のうち、ステップＳ４で取得された分析手法を実行するための消耗品を取り付け可能な分析装置１０があるか否かをステップＳ１で取得された装置情報に基づいて判定する（ステップＳ１８）。分析装置１０がない場合、消耗品選択部４７はステップＳ２１に進む。

分析装置１０がある場合、消耗品選択部４７は、該当する分析装置１０を選択する（ステップＳ１９）。また、準備決定部４９は、ステップＳ１９で選択された分析装置１０への消耗品の取り付けまたは補充についての準備作業および準備時間を決定し（ステップＳ２０）、ステップＳ２１に進む。

ステップＳ２１において、装置選択部４８は、ステップＳ２で取得されたスケジュール情報、ステップＳ４で取得された分析手法およびステップＳ１１，Ｓ１４，Ｓ１５，Ｓ２０で決定された準備時間に基づいて、現在使用可能な分析装置１０を選択する（ステップＳ２１）。具体的には、ステップＳ１７，Ｓ１９で選択された分析装置１０のうち、使用および使用の予約がされていない分析装置１０、ならびに使用の予約がされている時刻までに分析を終了可能な分析装置１０が選択される。

その後、優先順位決定部５０は、ステップＳ２１で選択された分析装置１０の優先順位を決定する（ステップＳ２２）。ここで、ステップＳ６で選択された分析装置１０の優先順位は、ステップＳ８で選択された分析装置１０の優先順位よりも高い。ステップＳ１０で選択された分析装置１０の優先順位は、ステップＳ１３で選択された分析装置１０の優先順位よりも高い。ステップＳ１７で選択された分析装置１０の優先順位は、ステップＳ１９で選択された分析装置１０の優先順位よりも高い。ステップＳ１１で決定された準備時間が短い分析装置１０の優先順位は、準備時間が長い分析装置１０の優先順位よりも高い。

最後に、提示部５１は、ステップＳ２１で選択された分析装置１０の識別情報、ステップＳ１１，Ｓ１４，Ｓ１５，Ｓ２０で決定された準備作業および準備時間、ならびにステップＳ２２で決定された各分析装置１０の優先順位を提示する（ステップＳ２３）。これにより、提示処理が終了する。

（４）効果
本実施の形態に係る分析装置選択装置４０においては、各分析装置１０の構成を示す装置情報が装置情報取得部４１により取得される。各分析装置１０の使用スケジュールを示すスケジュール情報がスケジュール情報取得部４２により取得される。試料の分析手法が分析手法取得部４４により取得される。装置情報取得部４１により取得された装置情報およびスケジュール情報取得部４２により取得されたスケジュール情報に基づいて、複数の分析装置１０のうち、分析手法取得部４４により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置１０が装置選択部４８により選択される。装置選択部４８により選択された分析装置１０を識別するための識別情報が提示部５１により提示される。

この構成によれば、使用者は、所望の分析手法について分析装置選択装置４０により提示された識別情報を視認することにより、使用可能な分析装置１０を認識することができる。これにより、使用者は、適切な分析装置１０の選択を容易に行うことができる。

装置選択部４８により選択される分析装置１０は、分析手法に用いる機種の分析装置１０だけでなく、分析手法に用いる機種と互換性を有する機種の分析装置１０を含む。また、装置選択部４８により選択される分析装置１０は、分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置１０だけでなく、当該構成部品を取り付け可能な分析装置１０を含む。さらに、装置選択部４８により選択される分析装置１０は、分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置１０だけでなく、当該消耗品を取り付け可能な分析装置１０を含む。そのため、使用者は、より適切な分析装置１０の選択を容易に行うことができる。

また、装置情報取得部４１により取得された装置情報および分析手法取得部４４により取得された分析手法に基づいて、装置選択部４８により選択された各分析装置１０の使用の優先順位が優先順位決定部５０により決定される。優先順位決定部５０により決定された優先順位は、提示部５１により提示される。この場合、使用者は、提示された優先順位を視認することにより、より適切な分析装置１０の選択を容易に行うことができる。

ここで、分析手法に用いる機種の分析装置１０の優先順位が、当該分析手法に用いる機種と互換性を有する機種の分析装置１０の優先順位よりも高く決定される。この場合、分析により適した分析装置１０の優先順位を容易に高く決定することができる。分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置１０の優先順位が、当該構成部品を取り付け可能な分析装置１０の優先順位よりも高く決定される。この場合、構成部品の取り付け作業を行うことなく使用可能な分析装置１０の優先順位を容易に高く決定することができる。

分析手法取得部４４により取得された分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置１０の優先順位が、当該消耗品を取り付け可能な分析装置１０の優先順位よりも高く決定される。この場合、消耗品の取り付け作業または補充作業を行うことなく使用可能な分析装置１０の優先順位を容易に高く決定することができる。状態情報取得部４３により取得された状態情報が示す分析装置１０の構成部品の状態が分析手法における分析開始時の構成部品の状態に近い分析装置１０ほど優先順位が高く決定される。この場合、構成部品の状態の調整時間が短い分析装置１０の優先順位を容易に高く決定することができる。

また、装置情報取得部４１により取得された装置情報および分析手法取得部４４により取得された分析手法に基づいて、装置選択部４８により選択される分析装置１０を使用可能にするために要する準備作業および準備時間が準備決定部４９により決定される。装置選択部４８による分析装置１０の選択においては、分析装置１０を使用可能にするために要する準備時間が考慮される。そのため、使用者は、分析装置１０を使用可能にするための作業が必要な場合でも、適切な分析装置１０の選択を容易に行うことができる。

さらに、準備決定部４９により決定された準備作業および準備時間は、提示部５１により提示される。この場合、使用者は、分析装置１０を使用可能にするために要する準備作業および準備時間を容易に認識することができる。また、使用者は、準備作業および準備時間を認識することにより、より適切な分析装置１０を選択することができる。

（５）他の実施の形態
（ａ）上記実施の形態において、装置選択部４８により選択された分析装置１０の使用の優先順位が決定され、決定された優先順位が提示部５１により提示されるが、実施の形態はこれに限定されない。装置選択部４８により選択された分析装置１０の使用の優先順位が決定されず、優先順位が提示部５１により提示されなくてもよい。この場合、分析装置選択装置４０は、優先順位決定部５０を含まない。また、提示処理のステップＳ２２が省略される。

（ｂ）上記実施の形態において、準備作業および準備時間の両方が決定され、決定された準備作業および準備時間の両方が提示部５１により提示されるが、実施の形態はこれに限定されない。準備作業および準備時間の一方のみが決定されず、決定された準備作業および準備時間の一方のみが提示部５１により提示されてもよい。この場合、提示処理のステップＳ１１，Ｓ１４，Ｓ１５，Ｓ２０の一部が省略される。

あるいは、準備作業および準備時間の両方が決定されなくてもよい。この場合、分析装置選択装置４０は、準備決定部４９を含まない。また、提示処理のステップＳ１１，Ｓ１４，Ｓ１５，Ｓ２０の全部が省略される。準備時間が決定されない場合には、分析手法における分析所要時間に準備時間が加算されない。

（ｃ）上記実施の形態において、現時点の構成部品の状態を分析手法における分析開始時の構成部品の状態に調整するための準備時間が決定されるが、実施の形態はこれに限定されない。現時点の構成部品の状態を分析手法における分析開始時の構成部品の状態に調整するための準備時間は決定されなくてもよい。この場合、分析装置選択装置４０は状態情報取得部４３を含まない。また、提示処理のステップＳ３，Ｓ１１，Ｓ１５が省略される。

（ｄ）上記実施の形態において、機種選択部４５は、分析手法に用いる機種の分析装置１０、および当該分析手法に用いる機種と互換性を有する機種の分析装置１０を選択するが、実施の形態はこれに限定されない。機種選択部４５は、分析手法に用いる機種の分析装置１０を選択し、当該分析手法に用いる機種と互換性を有する機種の分析装置１０を選択しなくてもよい。この場合、提示処理のステップＳ７，Ｓ８が省略される。

（ｅ）上記実施の形態において、部品選択部４６は、分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置１０、および当該構成部品を取り付け可能な分析装置１０を選択するが、実施の形態はこれに限定されない。部品選択部４６は、分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置１０を選択し、当該構成部品を取り付け可能な分析装置１０を選択しなくてもよい。この場合、提示処理のステップＳ１２〜Ｓ１５が省略される。

（ｆ）上記実施の形態において、消耗品選択部４７は、分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置１０、および当該消耗品を取り付け可能な分析装置１０を選択するが、実施の形態はこれに限定されない。消耗品選択部４７は、分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置１０を選択し、当該消耗品を取り付け可能な分析装置１０を選択しなくてもよい。この場合、提示処理のステップＳ１８〜Ｓ２０が省略される。

（６）態様
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。

（第１項）一態様に係る分析装置選択装置は、
試料を分析する複数の分析装置とともに設けられる分析装置選択装置であって、
各分析装置の構成を示す装置情報を取得する装置情報取得部と、
各分析装置の使用スケジュールを示すスケジュール情報を取得するスケジュール情報取得部と、
試料の分析手法を取得する分析手法取得部と、
前記装置情報取得部により取得された装置情報および前記スケジュール情報取得部により取得されたスケジュール情報に基づいて、前記複数の分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択する装置選択部と、
前記装置選択部により選択された分析装置を識別するための識別情報を提示する提示部とを備えてもよい。

この構成によれば、使用者は、所望の分析手法について分析装置選択装置により提示された識別情報を視認することにより、使用可能な分析装置を認識することができる。これにより、使用者は、適切な分析装置の選択を容易に行うことができる。

（第２項）第１項に記載の分析装置選択装置は、
前記装置情報取得部により取得された装置情報および前記分析手法取得部により取得された分析手法に基づいて、前記装置選択部により選択された各分析装置の使用の優先順位を決定する優先順位決定部をさらに備え、
前記提示部は、前記優先順位決定部により決定された優先順位をさらに提示してもよい。

この場合、使用者は、提示された優先順位を視認することにより、より適切な分析装置の選択を容易に行うことができる。

（第３項）第２項に記載の分析装置選択装置は、
前記装置情報取得部により取得された装置情報に基づいて、前記複数の分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に用いる機種の分析装置、および当該分析手法に用いる機種と互換性を有する機種の分析装置を選択する機種を選択する機種選択部をさらに備え、
前記装置選択部は、前記機種選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択してもよい。

この場合、分析手法に用いる機種の分析装置だけでなく、分析手法に用いる機種と互換性を有する機種の分析装置が、分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置として選択される。そのため、より多数の使用可能な分析装置が提示される。これにより、使用者は、より適切な分析装置の選択を容易に行うことができる。

（第４項）第３項に記載の分析装置選択装置において、
前記優先順位決定部は、前記機種選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に用いる機種の分析装置の優先順位を、当該分析手法に用いる機種と互換性を有する機種の分析装置の優先順位よりも高く決定してもよい。

この場合、分析により適した分析装置の優先順位を容易に高く決定することができる。

（第５項）第３項または第４項に記載の分析装置選択装置は、
前記装置情報取得部により取得された装置情報に基づいて、前記機種選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置、および当該構成部品を取り付け可能な分析装置を選択する部品選択部をさらに備え、
前記装置選択部は、前記部品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択してもよい。

この場合、分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置だけでなく、当該構成部品を取り付け可能な分析装置が、分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置として選択される。そのため、より多数の使用可能な分析装置が提示される。これにより、使用者は、より適切な分析装置の選択を容易に行うことができる。

（第６項）第５項に記載の分析装置選択装置において、
前記優先順位決定部は、前記部品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置の優先順位を、当該構成部品を取り付け可能な分析装置の優先順位よりも高く決定してもよい。

この場合、構成部品の取り付け作業を行うことなく使用可能な分析装置の優先順位を容易に高く決定することができる。

（第７項）第５項または第６項に記載の分析装置選択装置は、
前記装置情報取得部により取得された装置情報に基づいて、前記部品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置、および当該消耗品を取り付け可能な分析装置を選択する消耗品選択部をさらに備え、
前記装置選択部は、前記消耗品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択してもよい。

この場合、分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置だけでなく、当該消耗品を取り付け可能な分析装置が、分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置として選択される。そのため、より多数の使用可能な分析装置が提示される。これにより、使用者は、より適切な分析装置の選択を容易に行うことができる。

（第８項）第７項に記載の分析装置選択装置において、
前記優先順位決定部は、前記消耗品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置の優先順位を、当該消耗品を取り付け可能な分析装置の優先順位よりも高く決定してもよい。

この場合、消耗品の取り付け作業または補充作業を行うことなく使用可能な分析装置の優先順位を容易に高く決定することができる。

（第９項）第２項〜第８項のいずれか一項に記載の分析装置選択装置は、
各分析装置の構成部品の状態を示す状態情報を取得する状態情報取得部をさらに備え、
前記優先順位決定部は、前記状態情報取得部により取得された状態情報が示す分析装置の構成部品の状態が、前記分析手法取得部により取得された分析手法における分析開始時の構成部品の状態に近い分析装置ほど優先順位を高く決定してもよい。

この場合、構成部品の状態の調整時間が短い分析装置の優先順位を容易に高く決定することができる。

（第１０項）第１項〜第９項のいずれか一項に記載の分析装置選択装置は、
前記装置情報取得部により取得された装置情報および前記分析手法取得部により取得された分析手法に基づいて、前記装置選択部により選択される分析装置を使用可能にするために要する準備時間を決定する準備決定部をさらに備え、
前記装置選択部は、前記準備決定部により決定された準備時間にさらに基づいて使用可能な分析装置を選択してもよい。

この場合、分析装置を使用可能にするために要する準備時間を考慮して使用可能な分析装置が提示される。そのため、使用者は、分析装置を使用可能にするための作業が必要な場合でも、適切な分析装置の選択を容易に行うことができる。

（第１１項）第１０項に記載の分析装置選択装置において、
前記提示部は、前記準備決定部により決定された準備時間をさらに提示してもよい。

この場合、使用者は、分析装置を使用可能にするために要する準備時間を容易に認識することができる。また、使用者は、準備時間を認識することにより、より適切な分析装置を選択することができる。

（第１２項）第１０項または第１１項に記載の分析装置選択装置において、
前記準備決定部は、前記装置情報取得部により取得された装置情報および前記分析手法取得部により取得された分析手法に基づいて、前記装置選択部により選択される分析装置を使用可能にするために要する準備作業をさらに決定し、
前記提示部は、前記準備決定部により決定された準備作業をさらに提示してもよい。

この場合、使用者は、分析装置を使用可能にするために要する準備作業を容易に認識することができる。また、使用者は、準備作業を認識することにより、より適切な分析装置を選択することができる。

（第１３項）他の態様に係る分析装置選択方法は、
試料を分析する複数の分析装置に用いられる分析装置選択方法であって、
各分析装置の構成を示す装置情報を取得するステップと、
各分析装置の使用スケジュールを示すスケジュール情報を取得するステップと、
試料の分析手法を取得するステップと、
取得された装置情報およびスケジュール情報に基づいて、前記複数の分析装置のうち、取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択するステップと、
選択された分析装置を識別するための識別情報を提示するステップとを含んでもよい。

この分析装置選択方法によれば、使用者は、所望の分析手法について提示された識別情報を視認することにより、使用可能な分析装置を認識することができる。これにより、適切な分析装置の選択を容易に行うことができる。

１０…分析装置，２０…分析管理装置，３０…タスク管理装置，４０…分析装置選択装置，４１…装置情報取得部，４２…スケジュール情報取得部，４３…状態情報取得部，４４…分析手法取得部，４５…機種選択部，４６…部品選択部，４７…消耗品選択部，４８…装置選択部，４９…準備決定部，５０…優先順位決定部，５１…提示部，１００…分析システム，１１０…ネットワーク

Claims (13)

1. 試料を分析する複数の分析装置とともに設けられる分析装置選択装置であって、
   各分析装置の構成を示す装置情報を取得する装置情報取得部と、
   各分析装置の使用スケジュールを示すスケジュール情報を取得するスケジュール情報取得部と、
   試料の分析手法を取得する分析手法取得部と、
   前記装置情報取得部により取得された装置情報および前記スケジュール情報取得部により取得されたスケジュール情報に基づいて、前記複数の分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択する装置選択部と、
   前記装置選択部により選択された分析装置を識別するための識別情報を提示する提示部とを備える、分析装置選択装置。
2. 前記装置情報取得部により取得された装置情報および前記分析手法取得部により取得された分析手法に基づいて、前記装置選択部により選択された各分析装置の使用の優先順位を決定する優先順位決定部をさらに備え、
   前記提示部は、前記優先順位決定部により決定された優先順位をさらに提示する、請求項１記載の分析装置選択装置。
3. 前記装置情報取得部により取得された装置情報に基づいて、前記複数の分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に用いる機種の分析装置、および当該分析手法に用いる機種と互換性を有する機種の分析装置を選択する機種を選択する機種選択部をさらに備え、
   前記装置選択部は、前記機種選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択する、請求項２記載の分析装置選択装置。
4. 前記優先順位決定部は、前記機種選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に用いる機種の分析装置の優先順位を、当該分析手法に用いる機種と互換性を有する機種の分析装置の優先順位よりも高く決定する、請求項３記載の分析装置選択装置。
5. 前記装置情報取得部により取得された装置情報に基づいて、前記機種選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置、および当該構成部品を取り付け可能な分析装置を選択する部品選択部をさらに備え、
   前記装置選択部は、前記部品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択する、請求項３または４記載の分析装置選択装置。
6. 前記優先順位決定部は、前記部品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法を実行可能な構成部品が取り付けられている分析装置の優先順位を、当該構成部品を取り付け可能な分析装置の優先順位よりも高く決定する、請求項５記載の分析装置選択装置。
7. 前記装置情報取得部により取得された装置情報に基づいて、前記部品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置、および当該消耗品を取り付け可能な分析装置を選択する消耗品選択部をさらに備え、
   前記装置選択部は、前記消耗品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択する、請求項５または６記載の分析装置選択装置。
8. 前記優先順位決定部は、前記消耗品選択部により選択された分析装置のうち、前記分析手法取得部により取得された分析手法を実行可能な消耗品が取り付けられている分析装置の優先順位を、当該消耗品を取り付け可能な分析装置の優先順位よりも高く決定する、請求項７記載の分析装置選択装置。
9. 各分析装置の構成部品の状態を示す状態情報を取得する状態情報取得部をさらに備え、
   前記優先順位決定部は、前記状態情報取得部により取得された状態情報が示す分析装置の構成部品の状態が、前記分析手法取得部により取得された分析手法における分析開始時の構成部品の状態に近い分析装置ほど優先順位を高く決定する、請求項２〜８のいずれか一項に記載の分析装置選択装置。
10. 前記装置情報取得部により取得された装置情報および前記分析手法取得部により取得された分析手法に基づいて、前記装置選択部により選択される分析装置を使用可能にするために要する準備時間を決定する準備決定部をさらに備え、
    前記装置選択部は、前記準備決定部により決定された準備時間にさらに基づいて使用可能な分析装置を選択する、請求項１〜９のいずれか一項に記載の分析装置選択装置。
11. 前記提示部は、前記準備決定部により決定された準備時間をさらに提示する、請求項１０記載の分析装置選択装置。
12. 前記準備決定部は、前記装置情報取得部により取得された装置情報および前記分析手法取得部により取得された分析手法に基づいて、前記装置選択部により選択される分析装置を使用可能にするために要する準備作業をさらに決定し、
    前記提示部は、前記準備決定部により決定された準備作業をさらに提示する、請求項１０または１１記載の分析装置選択装置。
13. 試料を分析する複数の分析装置に用いられる分析装置選択方法であって、
    各分析装置の構成を示す装置情報を取得するステップと、
    各分析装置の使用スケジュールを示すスケジュール情報を取得するステップと、
    試料の分析手法を取得するステップと、
    取得された装置情報およびスケジュール情報に基づいて、前記複数の分析装置のうち、取得された分析手法に適合しかつ使用可能な分析装置を選択するステップと、
    選択された分析装置を識別するための識別情報を提示するステップとを含む、分析装置選択方法。

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