JP2021183996A - ターゲット供給装置、ターゲット供給方法、及び電子デバイスの製造方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 67
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 6
- 239000013076 target substance Substances 0.000 claims abstract description 211
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 164
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 31
- 239000013077 target material Substances 0.000 claims description 28
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 8
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 81
- 230000008569 process Effects 0.000 description 38
- 230000009471 action Effects 0.000 description 34
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 25
- 230000008859 change Effects 0.000 description 15
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 11
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 4
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 2
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000012798 spherical particle Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N terbium atom Chemical compound [Tb] GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70008—Production of exposure light, i.e. light sources
- G03F7/70033—Production of exposure light, i.e. light sources by plasma extreme ultraviolet [EUV] sources
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G2/00—Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
- H05G2/001—X-ray radiation generated from plasma
- H05G2/003—X-ray radiation generated from plasma being produced from a liquid or gas
- H05G2/006—X-ray radiation generated from plasma being produced from a liquid or gas details of the ejection system, e.g. constructional details of the nozzle
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G2/00—Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
- H05G2/001—X-ray radiation generated from plasma
- H05G2/008—X-ray radiation generated from plasma involving a beam of energy, e.g. laser or electron beam in the process of exciting the plasma
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
- H01L21/0271—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers
- H01L21/0273—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34 comprising organic layers characterised by the treatment of photoresist layers
- H01L21/0274—Photolithographic processes
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Optics & Photonics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
Description
1.EUV光生成システムの全体説明
1.1 構成
1.2 動作
2.比較例
2.1 構成
2.1.1 リザーバタンクC1
2.1.2 ロードロック室C2
2.1.3 圧力タンクC3
2.2 動作
2.2.1 ロードロック室C2への供給
2.2.2 圧力タンクC3への供給
2.3 課題
3.ロードロック室に加圧ガスを供給するターゲット供給装置
3.1 構成
3.2 動作
3.3 作用
4.バイパス配管を備えたターゲット供給装置
4.1 構成
4.2 動作
4.3 作用
5.ターゲット物質の移動を抑制する調整機構を備えたターゲット供給装置
5.1 構成
5.2 動作
5.3 作用
6.圧力タンクC3の液面を計測してターゲット物質を補充するターゲット供給装置
6.1 構成
6.2 動作
6.3 作用
7.圧力タンクC3の重さを計測してターゲット物質を補充するターゲット供給装置
7.1 構成
7.2 動作
7.3 作用
8.出力されたターゲット物質の量を計測してターゲット物質を補充するターゲット供給装置
8.1 構成
8.2 動作
8.3 作用
9.圧力タンクC3の液面が第2液面以上になったらターゲット物質の補充を中止するターゲット供給装置
9.1 構成
9.2 動作
9.3 作用
10.圧力タンクC3の液面が第2液面以上になったらターゲット物質の補充を一定時間中止するターゲット供給装置
10.1 動作
10.2 作用
11.圧力タンクC3の液面が第2液面より低くなったら一定時間の計測を開始するターゲット供給装置
11.1 動作
11.2 作用
12.その他
1.1 構成
図1に、例示的なLPP式のEUV光生成システム11の構成を概略的に示す。EUV光生成装置1は、レーザ装置3と共に用いられる。本開示においては、EUV光生成装置1及びレーザ装置3を含むシステムを、EUV光生成システム11と称する。EUV光生成装置1は、チャンバ2及びターゲット供給装置26を含む。チャンバ2は、密閉可能な容器である。ターゲット供給装置26は、ターゲット物質をチャンバ2内部に供給する。ターゲット物質の材料は、スズ、テルビウム、ガドリニウム、リチウム、キセノン、又は、それらの内のいずれか2つ以上の組合せを含んでもよい。
図1を参照して、EUV光生成システム11の動作を説明する。レーザ装置3から出力されたパルスレーザ光31は、レーザ光伝送装置34を経て、パルスレーザ光32としてウインドウ21を透過してチャンバ2内に入射する。パルスレーザ光32は、チャンバ2内のレーザ光経路に沿って進み、レーザ光集光ミラー22で反射されて、パルスレーザ光33としてターゲット27に照射される。
2.1 構成
図2は、比較例に係るターゲット供給装置26の構成を概略的に示す。本開示の比較例とは、出願人のみによって知られていると出願人が認識している形態であって、出願人が自認している公知例ではない。図2に示されるように、比較例に係るターゲット供給装置26は、リザーバタンクC1と、ロードロック室C2と、圧力タンクC3と、ターゲット供給プロセッサ60と、を含む。ターゲット供給プロセッサ60は、制御プログラムが記憶されたメモリ601と、制御プログラムを実行するCPU602と、を含む処理装置である。ターゲット供給プロセッサ60は本開示におけるプロセッサに相当する。ターゲット供給プロセッサ60は本開示に含まれる各種処理を実行するために特別に構成又はプログラムされている。
リザーバタンクC1は、スズなどの固体のターゲット物質を収容する容器である。固体のターゲット物質は、例えば、互いにほぼ同じ大きさの球形の粒であってもよい。リザーバタンクC1は本開示における第1の容器に相当する。リザーバタンクC1の内部の温度はターゲット物質の融点より低い温度である。リザーバタンクC1は、配管L9を介してガスボンベG2に接続されている。ガスボンベG2は、アルゴンガス、ヘリウムガスなどの希ガスをパージガスとして収容している。ガスボンベG2に収容されたパージガスは、リザーバタンクC1の内部に供給される。リザーバタンクC1の内部の圧力は、大気圧と同程度の圧力である。
リザーバタンクC1は、供給管41を介してロードロック室C2に接続されている。供給管41には、バルブV1が配置されている。バルブV1は本開示における第1のバルブに相当する。
ロードロック室C2は、リザーバタンクC1から供給されるターゲット物質を収容する容器である。ロードロック室C2は本開示における第2の容器に相当する。ロードロック室C2の内部の温度はターゲット物質の融点より低い温度である。
ロードロック室C2は、供給管42を介して圧力タンクC3に接続されている。供給管42には、バルブV2が配置されている。バルブV2は本開示における第2のバルブに相当する。
圧力タンクC3は、ロードロック室C2から供給されるターゲット物質を収容する容器である。圧力タンクC3は本開示における第3の容器に相当する。圧力タンクC3は、加圧ガス配管L0を介してガスボンベG1に接続されている。ガスボンベG1は、アルゴンガス、ヘリウムガスなどの高圧の希ガスを加圧ガスとして収容している。加圧ガス配管L0には圧力調節器62が配置されている。図示しない圧力計の出力に基づいてターゲット供給プロセッサ60が圧力調節器62を制御することにより、圧力タンクC3の内部の圧力が大気圧より高い所定の圧力に調節される。
ヒーター71は、図示しない電源に接続されており、圧力タンクC3の内部をターゲット物質の融点より高い所定温度にまで加熱する。圧力タンクC3に配置された図示しない温度センサの出力に基づいて電源が制御されることにより、圧力タンクC3の内部の温度が制御される。
比較例においては、以下のようにして、リザーバタンクC1の内部のターゲット物質がロードロック室C2を介して圧力タンクC3に供給される。
リザーバタンクC1に収容された固体のターゲット物質の一部をロードロック室C2に供給するために、ターゲット供給プロセッサ60がバルブV1を開ける。このとき、圧力タンクC3の内部を高圧に維持するために、バルブV2は閉められている。ターゲット物質は、リザーバタンクC1からロードロック室C2に重力によって移動する。所望量のターゲット物質がリザーバタンクC1からロードロック室C2に移動したら、ターゲット供給プロセッサ60は、バルブV1を閉める。
次に、ロードロック室C2に収容された固体のターゲット物質を圧力タンクC3に供給するために、ターゲット供給プロセッサ60がバルブV2を開ける。ターゲット物質は、ロードロック室C2から圧力タンクC3に重力によって移動する。圧力タンクC3に供給されたターゲット物質は溶融し、すでに圧力タンクC3に収容され溶融していたターゲット物質と混ざり合う。ヒーター71によって、圧力タンクC3の内部の温度の低下が抑制される。
比較例によれば、ほぼ大気圧であるリザーバタンクC1の内部に収容されているターゲット物質を、高圧の圧力タンクC3の内部に供給できる。圧力タンクC3の内部のターゲット物質が消費されても、圧力タンクC3を交換せずにターゲット物質を補充できるので、EUV光生成装置1の停止時間を低減することができる。
3.1 構成
図3は、第1の実施形態に係るターゲット供給装置261の構成を概略的に示す。ターゲット供給装置261は、比較例の構成に加えて、配管L1、L2、L6、L7、L8、L10及びL11、バルブV3、V4、V6及びV7、計量器61、及び排気ポンプ63を含む。
配管L1は、ロードロック室C2に接続され、ロードロック室C2に加圧ガスを供給するように構成されている。配管L1は、本開示における第1の配管に相当する。配管L1には、バルブV3が配置されている。バルブV3は、本開示における第3のバルブに相当する。
例えば、図2に示される加圧ガス配管L0と同じように、配管L2が圧力タンクC3に直接接続される場合には、圧力タンクC3とバルブV2との間に図示しない断熱機構を設ける他に、圧力タンクC3とバルブV4との間にも図示しない断熱機構を設けてもよい。
あるいは、図3に示されるように、配管L2は、圧力タンクC3とバルブV2との間の供給管42に、接続位置CPで接続されることによって、圧力タンクC3に接続されていてもよい。
排気ポンプ63は、ロードロック室C2の内部のガスを強制的に排気してロードロック室C2の内部の圧力を大気圧より低くできるように構成されている。
配管L9は、配管L10と配管L11とに分岐している。配管L10は、リザーバタンクC1に接続されている。配管L11は、計量器61とバルブV1との間の供給管41に接続されている。
図4は、第1の実施形態に係るターゲット供給装置261の動作手順を示す。図5A〜図5Dは、図4に示される動作手順の一部について、バルブV1〜V4の開閉と、各部の圧力の変化とを模式的に示す。第1の実施形態においては、以下のようにして、ターゲット供給装置261がターゲット27の供給を開始し、ターゲット物質が消費された後、リザーバタンクC1の内部のターゲット物質がロードロック室C2を介して圧力タンクC3に補充される。
S12において、ターゲット供給プロセッサ60は、バルブV4を開ける。これにより、ガスボンベG1に収容された加圧ガスが圧力タンクC3に供給される(図5A参照)。
S13において、ターゲット供給プロセッサ60は、圧力調節器62を制御することにより、圧力タンクC3の内部を大気圧より高い所定圧力に調整する。これにより、ターゲット供給装置261がターゲット27の供給を開始し、ターゲット物質の消費が開始される。
S14において、ターゲット供給プロセッサ60は、一定時間が経過してターゲット物質が消費されるまで待機し、一定時間が経過したら次に進む。
S22において、ターゲット供給プロセッサ60は、予め決められた量の固体のターゲット物質を計量器61が計量して通過させ、その後、ターゲット物質の通過を計量器61が止めるように、計量器61を制御する。これにより、ターゲット物質がロードロック室C2に供給される(図5B参照)。リザーバタンクC1の内部のパージガスの一部も、ロードロック室C2に流れ込む。
S23において、ターゲット供給プロセッサ60は、バルブV1を閉める。このように、バルブV1は、計量器61が固体のターゲット物質を通過させる前に開けられ、計量器61を通過した予め決められた量の固体のターゲット物質がバルブV1を通過したら閉められる。
S32において、ターゲット供給プロセッサ60は、バルブV6を閉め、その後、排気ポンプ63を停止させる。リザーバタンクC1からロードロック室C2に流れ込んだパージガスは、これにより外部に排気される。
S42において、ターゲット供給プロセッサ60は、バルブV3を閉め、その後、バルブV4を開ける。
S54において、ターゲット供給プロセッサ60は、バルブV2を閉める。
S62において、ターゲット供給プロセッサ60は、バルブV7を閉める。
S63において、ターゲット供給プロセッサ60は、S14の処理に戻る。
第1の実施形態によれば、ターゲット供給装置261は、リザーバタンクC1と、ロードロック室C2と、圧力タンクC3と、を備える。リザーバタンクC1とロードロック室C2との間にバルブV1が配置され、ロードロック室C2と圧力タンクC3との間にバルブV2が配置される。
ロードロック室C2に配管L1が接続されて加圧ガスを供給し、圧力タンクC3に配管L2が接続されて加圧ガスを供給するので、ロードロック室C2と圧力タンクC3とに個別に加圧ガスを供給することができる。ロードロック室C2と圧力タンクC3との両方に加圧ガスを供給しておけば、バルブV2を開けたときの圧力タンクC3の内部の圧力変動が小さくて済む。従って、ノズル72から出力されるターゲット27の速度の変化が小さくなる。これにより、パルスレーザ光33(図1参照)をターゲット27に正確に照射することが可能となり得る。また、パルスレーザ光33を照射するときのターゲット27の位置の変動が小さくなる。従って、EUV光の品質が安定する。
さらに、第1の実施形態においては、バルブV1が閉められ(S23)、バルブV3が開けられてロードロック室C2に加圧ガスが供給される(S41、図5C)。その後、バルブV2が開けられてロードロック室C2から圧力タンクC3にターゲット物質が供給される(S52、図5D)。ロードロック室C2に加圧ガスを供給した後でバルブV2が開けられるので、圧力タンクC3の内部の圧力の変動を小さくすることができる。
さらに、第1の実施形態によれば、ターゲット供給装置261は、ロードロック室C2と加圧ガス配管L0との間の配管L1に配置されたバルブV3と、圧力タンクC3と加圧ガス配管L0との間の配管L2に配置されたバルブV4と、を備える。第1の実施形態においては、バルブV2が閉められている状態で(S11、図5A)、バルブV1が開けられて(S21)、リザーバタンクC1からロードロック室C2にターゲット物質が供給される(S22、図5B)。さらに、第1の実施形態においては、バルブV1及びバルブV4が閉められ(S23、S41)、その後、バルブV3が開けられてロードロック室C2に加圧ガスが供給される(S41、図5C)。その後、バルブV2が開けられてロードロック室C2から圧力タンクC3にターゲット物質が供給される(S52、図5D)。配管L1と配管L2とが共通の加圧ガス配管L0に接続されている場合に、バルブV4を開けたままバルブV3を開けると、圧力タンクC3の内部のガスがバルブV4を通過し、さらにバルブV3を通過して、ロードロック室C2に流れ込むことにより、圧力タンクC3の内部の圧力が変動する可能性がある。バルブV4を閉めておくことにより、バルブV3を開けたときに圧力タンクC3の内部の圧力が変動することを抑制し得る。
第1の実施形態においては、ロードロック室C2に加圧ガスを供給する配管L1によって、ロードロック室C2の内部の圧力と圧力タンクC3の内部の圧力とをほぼ同程度としたうえでバルブV2を開けている。しかし、バルブV2を開けるときに、ロードロック室C2の内部の圧力と圧力タンクC3の内部の圧力とが完全には同一になっていない場合がある。例えば、ロードロック室C2の内部の温度が変化すると、ボイル・シャルルの法則により圧力が変化し、ロードロック室C2の内部の圧力と圧力タンクC3の内部の圧力との間にわずかな差が生じる場合がある。
以下に説明する第2の実施形態においては、ロードロック室C2の内部の圧力と圧力タンクC3の内部の圧力とをほぼ同一にできるように、バイパス配管L5を備えている。
図6は、第2の実施形態に係るターゲット供給装置262の構成を概略的に示す。
ターゲット供給装置262は、バイパス配管L5、バルブV5、及び絞り部65を含む。バルブV5は、本開示における第5のバルブに相当する。
バイパス配管L5は、バルブV2をバイパスしてロードロック室C2と圧力タンクC3とを接続する。例えば、バイパス配管L5は、配管L1におけるロードロック室C2とバルブV3との間の位置と、配管L2における接続位置CPとバルブV4との間の位置と、の間に接続されている。
バイパス配管L5に、バルブV5及び絞り部65が配置されている。絞り部65は、例えば、開けた状態のバルブV5よりも圧力損失の大きいオリフィス又はベンチュリ管を含み、バイパス配管L5の流量を抑制する。絞り部65は、本開示における流量抑制部に相当する。
他の点については、第2の実施形態の構成は第1の実施形態の構成と同様である。
図7は、第2の実施形態に係るターゲット供給装置262の動作手順を示す。S11からS42までの処理は、第1の実施形態において対応する処理と同様である。但し、S11においてはバルブV5も閉められている。第2の実施形態に係るターゲット供給装置262は、S42において、バルブV3を閉め、バルブV4を開けた後、以下のように動作する。
S55aにおいて、ターゲット供給プロセッサ60は、バルブV5を閉める。
その後のS61からS63までの処理は、第1の実施形態において対応する処理と同様である。
第2の実施形態によれば、ターゲット供給装置262は、バルブV2をバイパスしてロードロック室C2と圧力タンクC3とを接続するバイパス配管L5をさらに備える。バイパス配管L5には、バルブV5と、バイパス配管L5の流量を抑制する絞り部65と、が配置されている。ロードロック室C2の内部と圧力タンクC3の内部との間に圧力差があるときに、S52でバルブV2を開けると圧力タンクC3の内部の圧力が急激に変化する可能性がある。第2の実施形態によれば、絞り部65を含むバイパス配管L5がバルブV2をバイパスしているので、ロードロック室C2の内部の圧力と圧力タンクC3の内部の圧力とをほぼ同一とすることができ、圧力タンクC3の内部の圧力が変化するとしても、その変化を緩やかにすることができる。これにより、ターゲット27の速度の変化が緩やかになるので、ターゲット27の速度の変化にパルスレーザ光33(図1参照)の照射タイミングの制御が追いつくようにすることができる。
他の点については、第2の実施形態の作用は第1の実施形態の作用と同様である。
以下に説明する第3の実施形態は、固体のターゲット物質によってバルブV2が損傷することを防止するために、調整機構66を備えている。
図8は、第3の実施形態に係るターゲット供給装置263の構成を概略的に示す。
ターゲット供給装置263は、ロードロック室C2に供給されたターゲット物質がバルブV2に到達することを抑制する調整機構66を含む。
調整機構66は、受け板66aと、アクチュエータ66bと、を含む。受け板66aは、ロードロック室C2の下端付近に位置する。アクチュエータ66bは、受け板66aを移動させることにより、図9Aに示される第1の状態と、図9Bに示される第2の状態とに、調整機構66を切り替えられるように構成されている。
第2の状態において、受け板66aは、ロードロック室C2から供給管42への接続部分から離れた位置に配置される。これにより、固体のターゲット物質がバルブV2に向けて移動することが許容される。第2の状態は、さらに、固体のターゲット物質が受け板66aからバルブV2に向かって移動するように、アクチュエータ66bが受け板66aを振動させたり、傾けたりしている状態を含んでもよい。
調整機構66は、通常は第1の状態とされ、固体のターゲット物質をバルブV2に向けて移動させるときに、一時的に第2の状態とされる。
あるいは、第3の実施形態において、第1の実施形態と同様に、バイパス配管L5を含まない構成が採用されてもよい。
図10は、第3の実施形態に係るターゲット供給装置263の動作手順を示す。S11からS52までの処理は、第2の実施形態において対応する処理と同様である。但し、S22においてターゲット物質をロードロック室C2に供給するとき、調整機構66は第1の状態となっており、固体のターゲット物質がバルブV2に到達することが抑制される(図9A参照)。
第3の実施形態に係るターゲット供給装置263は、S52において、バルブV2を開けた後、以下のように動作する。
S56bにおいて、ターゲット供給プロセッサ60は、調整機構66を第2の状態から第1の状態とする。
その後のS61からS63までの処理は、第2の実施形態において対応する処理と同様である。
第3の実施形態によれば、ターゲット供給装置263は、調整機構66をさらに備える。調整機構66は、第1の状態と第2の状態とに切り替えられる。図9Aに示される第1の状態は、ロードロック室C2に供給されたターゲット物質がバルブV2に到達することを抑制する状態である。図9Bに示される第2の状態は、ロードロック室C2に供給されたターゲット物質がバルブV2に到達することを許容する状態である。これによれば、ターゲット物質を受け止めてターゲット物質の通過を規制する機能を調整機構66が担うことができる。バルブV2はターゲット物質を受け止める必要がなくなるので、バルブV2は、ロードロック室C2と圧力タンクC3との間のガスの移動を規制する機能をよりよく発揮できる。
他の点については、第3の実施形態の作用は第2の実施形態の作用と同様である。
以下に説明する第4の実施形態は、圧力タンクC3内のターゲット物質の液面が第1液面より低くなったらターゲット物質を補充するように構成されている。
図11は、第4の実施形態に係るターゲット供給装置264の構成を概略的に示す。
ターゲット供給装置264は、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量を検出する液面センサ73を含む。液面センサ73は、例えば、ターゲット物質との接触の有無を検出するセンサでもよい。液面センサ73の先端がターゲット物質と接触していたら、ターゲット物質の液面が第1液面以上の高さであること、すなわち、ターゲット物質の量が第1の値以上であることが検出できる。液面センサ73の先端がターゲット物質と接触していなかったら、ターゲット物質の液面が第1液面より低いこと、すなわち、ターゲット物質の量が第1の値より少ないことが検出できる。
あるいは、第4の実施形態において、第1の実施形態と同様に、バイパス配管L5を含まない構成が採用されてもよい。
あるいは、第4の実施形態において、第2の実施形態と同様に、調整機構66を含まない構成が採用されてもよい。
図12は、第4の実施形態に係るターゲット供給装置264の動作手順を示す。S11からS13まで、及びS21からS63までの処理は、第3の実施形態において対応する処理と同様である。第4の実施形態においては、S14の代わりに、S14cの処理が行われる。
第4の実施形態によれば、ターゲット供給装置264は、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量を検出する液面センサ73をさらに備える。圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量が第1の値より少ないことを液面センサ73の出力が示す場合に、バルブV1が開けられ、リザーバタンクC1から圧力タンクC3にターゲット物質が補充される。これによれば、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量が第1の値以上である場合にはターゲット物質の補充が行われないようにして、圧力タンクC3からターゲット物質があふれることを防止できる。
他の点については、第4の実施形態の作用は第3の実施形態の作用と同様である。
以下に説明する第5の実施形態は、圧力タンクC3が第1の重さより軽くなったらターゲット物質を補充するように構成されている。
図13は、第5の実施形態に係るターゲット供給装置265の構成を概略的に示す。
ターゲット供給装置265は、圧力タンクC3の重さを計測することにより圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量を検出する重量センサ75を含む。重量センサ75は、圧力タンクC3の重力方向の下端に配置される。重量センサ75は、例えば、歪みゲージの出力によって圧力タンクC3の重さを計測するセンサでもよい。
あるいは、第5の実施形態において、第1の実施形態と同様に、バイパス配管L5を含まない構成が採用されてもよい。
あるいは、第5の実施形態において、第2の実施形態と同様に、調整機構66を含まない構成が採用されてもよい。
図14は、第5の実施形態に係るターゲット供給装置265の動作手順を示す。S11からS13まで、及びS21からS63までの処理は、第3の実施形態において対応する処理と同様である。第5の実施形態においては、S14の代わりに、S14dの処理が行われる。
第5の実施形態によれば、ターゲット供給装置265は、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量を検出する重量センサ75などのセンサをさらに備える。圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量が第1の値より少ないことをセンサの出力が示す場合、例えば、圧力タンクC3の重さが第1の重さより軽いことを重量センサ75の出力が示す場合に、バルブV1が開けられ、リザーバタンクC1から圧力タンクC3にターゲット物質が補充される。これによれば、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量が第1の値以上である場合にはターゲット物質の補充が行われないようにして、圧力タンクC3からターゲット物質があふれることを防止できる。
他の点については、第5の実施形態の作用は第3の実施形態の作用と同様である。
以下に説明する第6の実施形態は、ノズル72から出力されたターゲット物質の量が第1の量以上になったらターゲット物質を補充するように構成されている。
図15は、第6の実施形態に係るターゲット供給装置266の構成を概略的に示す。
ターゲット供給装置266は、ノズル72から出力されたターゲット27の数をカウントするためのターゲットセンサ77を含む。ターゲットセンサ77は、光源76とともに用いられる。
あるいは、第6の実施形態において、第1の実施形態と同様に、バイパス配管L5を含まない構成が採用されてもよい。
あるいは、第6の実施形態において、第2の実施形態と同様に、調整機構66を含まない構成が採用されてもよい。
図16は、第6の実施形態に係るターゲット供給装置266の動作手順を示す。S11からS13まで、及びS21からS63までの処理は、第3の実施形態において対応する処理と同様である。第6の実施形態においては、S14の代わりに、S14eの処理が行われる。
第6の実施形態によれば、ターゲット供給装置266は、ノズル72から出力されたターゲット物質の量を計測するターゲットセンサ77をさらに備える。ノズル72から出力されたターゲット物質の量が第1の量以上であることをターゲットセンサ77の出力が示す場合に、バルブV1が開けられ、リザーバタンクC1から圧力タンクC3にターゲット物質が補充される。これによれば、ノズル72から出力されたターゲット物質の量が第1の量未満である場合にはターゲット物質の補充が行われないようにして、圧力タンクC3からターゲット物質があふれることを防止できる。
他の点については、第6の実施形態の作用は第3の実施形態の作用と同様である。
以下に説明する第7の実施形態は、圧力タンクC3内のターゲット物質の液面が第2液面以上の高さになったらターゲット物質の補充を中止するように構成されている。
図17は、第7の実施形態に係るターゲット供給装置267の構成を概略的に示す。
ターゲット供給装置267は、液面センサ73の他に、液面センサ74を含む。液面センサ74は、ターゲット物質の液面の高さが第1液面よりも高い第2液面以上であるか否かを検出する点で、液面センサ73と異なる。他の点については、液面センサ74の構成は液面センサ73の構成と同様である。
あるいは、第7の実施形態において、第1の実施形態と同様に、バイパス配管L5を含まない構成が採用されてもよい。
あるいは、第7の実施形態において、第2の実施形態と同様に、調整機構66を含まない構成が採用されてもよい。
図18Aは、第7の実施形態に係るターゲット供給装置267がターゲット27の供給を開始した後の動作手順を示すフローチャートである。
なお、以下の説明において、第1液面を第1液面LLとし、第2液面を第2液面HLとする。
液面が第2液面HL以上になった場合(S70:YES)、ターゲット供給プロセッサ60は、処理をS10に戻して、液面が第1液面LLより低くなるまでターゲット物質の補充を行わずに待機する。
液面が第2液面HLより低い場合(S70:NO)、ターゲット供給プロセッサ60は、処理をS20に戻して、さらにターゲット物質を補充する。
第7の実施形態によれば、ターゲット供給装置267は、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量を検出する液面センサ74をさらに備える。第7の実施形態において、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の液面が第2液面HL以上の高さであることを液面センサ74の出力が示す場合には、バルブV1を閉めたまま、ターゲット物質を補充せずに待機する。これによれば、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の量が第2の値以上である場合にはターゲット物質の補充を行わないことにより、圧力タンクC3からターゲット物質があふれることを防止できる。
あるいは、第7の実施形態は、S10において、圧力タンクC3内の液面が第1液面LLより低くなったか否かを判定する代わりに、第5の実施形態と同様に、圧力タンクC3の重さが第1の重さより軽くなったか否かを判定するものでもよい。S70において、圧力タンクC3内の液面が第2液面HL以上の高さであることを検出する代わりに、圧力タンクC3の重さが第1の重さより重い第2の重さ以上になったか否かを判定してもよい。
あるいは、第7の実施形態は、S10において、圧力タンクC3内の液面が第1液面LLより低くなったか否かを判定する代わりに、第6の実施形態と同様に、ノズル72から出力されたターゲット物質の量が第1の量以上になったか否かを判定するものでもよい。
以下に説明する第8の実施形態は、圧力タンクC3内のターゲット物質の液面が第2液面HL以上の高さになったら、ターゲット物質の補充を一定時間中止するように構成されている。
第8の実施形態の構成は、第7の実施形態の構成と同様である。但し、第8の実施形態においては、第1液面LLを検出する液面センサ73が設けられなくてもよい。
図19Aは、第8の実施形態に係るターゲット供給装置267がターゲット27の供給を開始した後の動作手順を示すフローチャートである。
S10aにおいて、ターゲット供給プロセッサ60は、一定時間Tが経過したか否かを判定する。一定時間Tが経過した場合(S10a:YES)、ターゲット供給プロセッサ60は、処理をS20に進める。一定時間Tが経過していない場合(S10a:NO)、ターゲット供給プロセッサ60は、一定時間Tが経過するまでターゲット物質の補充を行わずに待機する。この処理は、図10のS14と同様である。
液面が第2液面HL以上の高さになった場合(S70:YES)、ターゲット供給プロセッサ60は、処理をS10aに戻して、一定時間Tが経過するまでターゲット物質の補充を中止する。
液面が第2液面HLより低い場合(S70:NO)、ターゲット供給プロセッサ60は、処理をS20に戻して、さらにターゲット物質を補充する。
他の点については、第8の実施形態の動作は第7の実施形態の動作と同様である。
第8の実施形態によれば、ターゲット供給装置267は、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の液面が第2液面HL以上の高さであることを液面センサ74の出力が示した後、一定時間Tが経過した場合に、バルブV1が開けられて、ターゲット物質が補充される。これによれば、第1液面LLを検出する液面センサ73を設けなくても、一定時間Tの経過ごとにターゲット物質の補充を行うことができる。
あるいは、第8の実施形態は、S70において、圧力タンクC3内の液面が第2液面HL以上の高さであることを検出する代わりに、圧力タンクC3の重さが第2の重さ以上になったか否かを判定してもよい。
以下に説明する第9の実施形態は、圧力タンクC3内のターゲット物質の液面が第2液面HL以上の高さになった後、第2液面HLより低くなったら一定時間Tの計測を開始するように構成されている。
第9の実施形態の構成は、第7の実施形態の構成と同様である。但し、第9の実施形態においては、第1液面LLを検出する液面センサ73が設けられなくてもよい。
図20Aは、第9の実施形態に係るターゲット供給装置267がターゲット27の供給を開始した後の動作手順を示すフローチャートである。
S10a〜S70の処理は、図19Aにおいて対応する処理と同様である。これにより、リザーバタンクC1から圧力タンクC3にターゲット物質が補充され、S70において、圧力タンクC3内の液面が第2液面HL以上の高さになったか否かが判定される。
液面が第2液面HL以上の高さになった後(S70:YES)、液面が第2液面HLより低くなった場合(S80a:YES)、ターゲット供給プロセッサ60は、処理をS10aに戻して、一定時間Tが経過するまでターゲット物質の補充を中止する。
液面が第2液面HL以上の高さである場合(S70:YES、S80a:NO)、液面が第2液面HLより低くなるまで一定時間Tの計測を開始せずに待機する。
他の点については、第9の実施形態の動作は第8の実施形態の動作と同様である。
第9の実施形態によれば、圧力タンクC3の内部のターゲット物質の液面が第2液面HL以上の高さとなり、その後、第2液面HLより低くなったことを液面センサ74の出力が示した後、一定時間Tが経過した場合に、バルブV1が開けられて、ターゲット物質が補充される。これによれば、補充終了時の液面の高さにばらつきがあっても、次回の補充開始時の液面の高さのばらつきを低減し得る。
あるいは、第9の実施形態は、S70において、圧力タンクC3内の液面が第2液面HL以上の高さであることを検出する代わりに、圧力タンクC3の重さが第2の重さ以上になったか否かを判定してもよい。また、S80aにおいて、圧力タンクC3内の液面が第2液面HLより低くなったことを検出する代わりに、圧力タンクC3の重さが第2の重さより軽くなったか否かを判定してもよい。
図21は、EUV光生成装置1に接続された露光装置6の構成を概略的に示す。
図21において、露光装置6は、マスク照射部68とワークピース照射部69とを含む。マスク照射部68は、EUV光生成装置1から入射したEUV光によって、反射光学系を介してマスクテーブルMTのマスクパターンを照明する。ワークピース照射部69は、マスクテーブルMTによって反射されたEUV光を、反射光学系を介してワークピーステーブルWT上に配置された図示しないワークピース上に結像させる。ワークピースはフォトレジストが塗布された半導体ウエハ等の感光基板である。露光装置6は、マスクテーブルMTとワークピーステーブルWTとを同期して平行移動させることにより、マスクパターンを反映したEUV光をワークピースに露光する。以上のような露光工程によって半導体ウエハにデバイスパターンを転写することで電子デバイスを製造することができる。
Claims (20)
- ターゲット物質を収容する第1の容器と、
前記第1の容器から供給されるターゲット物質を収容する第2の容器と、
前記第1の容器と前記第2の容器との間に配置された第1のバルブと、
前記第2の容器に接続され、前記第2の容器に加圧ガスを供給する第1の配管と、
前記第2の容器から供給されるターゲット物質を収容する第3の容器と、
前記第2の容器と前記第3の容器との間に配置された第2のバルブと、
前記第3の容器に接続され、前記第3の容器に加圧ガスを供給する第2の配管と、
前記第3の容器から供給されるターゲット物質を出力するノズルと、
を備える、ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第1の配管に配置された第3のバルブと、
プロセッサと、
をさらに備え、前記プロセッサは、
前記第2のバルブが閉められている状態で、前記第1のバルブが開けられて、前記第1の容器から前記第2の容器にターゲット物質が供給され、
前記第1のバルブが閉められ、前記第3のバルブが開けられて、前記第2の容器に加圧ガスが供給され、その後、前記第2のバルブが開けられて、前記第2の容器から前記第3の容器にターゲット物質が供給される
ように前記第1のバルブ、前記第2のバルブ、及び前記第3のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第1の配管と前記第2の配管とに加圧ガスを供給する共通の加圧ガス配管と、
前記第2の容器と前記加圧ガス配管との間の前記第1の配管に配置された第3のバルブと、
前記第3の容器と前記加圧ガス配管との間の前記第2の配管に配置された第4のバルブと、
プロセッサと、
をさらに備え、前記プロセッサは、
前記第2のバルブが閉められている状態で、前記第1のバルブが開けられて、前記第1の容器から前記第2の容器にターゲット物質が供給され、
前記第1のバルブ及び前記第4のバルブが閉められ、その後、前記第3のバルブが開けられて、前記第2の容器に加圧ガスが供給され、その後、前記第2のバルブが開けられて、前記第2の容器から前記第3の容器にターゲット物質が供給される
ように前記第1のバルブ、前記第2のバルブ、前記第3のバルブ、及び前記第4のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第1の配管に配置された第3のバルブと、
前記第2の容器の内部のガスを排気する排気ポンプと、
プロセッサと、
をさらに備え、前記プロセッサは、
前記第2のバルブが閉められている状態で、前記第1のバルブが開けられて、前記第1の容器から前記第2の容器にターゲット物質が供給され、
前記第1のバルブが閉められ、前記排気ポンプにより前記第2の容器の内部のガスが排気され、その後、前記第3のバルブが開けられて、前記第2の容器に加圧ガスが供給され、その後、前記第2のバルブが開けられて、前記第2の容器から前記第3の容器にターゲット物質が供給される
ように前記第1のバルブ、前記第2のバルブ、前記第3のバルブ、及び前記排気ポンプを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第1の容器と前記第1のバルブとの間に配置され、前記第1の容器から供給されるターゲット物質を計量する計量器と、
プロセッサと、
をさらに備え、前記プロセッサは、
予め決められた量のターゲット物質を通過させた後、ターゲット物質の通過を止めるように、前記計量器を制御し、
前記計量器がターゲット物質を通過させる前に前記第1のバルブが開けられ、前記計量器を通過した予め決められた量のターゲット物質が前記第1のバルブを通過した後で前記第1のバルブが閉められるように、前記第1のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第1の容器の内部の温度及び前記第2の容器の内部の温度は、ターゲット物質の融点より低く、
前記第3の容器の内部の温度は、ターゲット物質の融点より高い
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第2の容器と前記第3の容器との間に、前記第2のバルブが配置された供給管をさらに備え、
前記第2の配管は、前記第2のバルブと前記第3の容器との間の前記供給管に接続されることにより、前記第3の容器に接続された
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第2のバルブをバイパスして前記第2の容器と前記第3の容器とを接続するバイパス配管と、
前記バイパス配管に配置された第5のバルブと、
前記バイパス配管の流量を抑制する流量抑制部と、
をさらに備える、ターゲット供給装置。 - 請求項8に記載のターゲット供給装置であって、
前記第1の配管に配置された第3のバルブと、
プロセッサと、
をさらに備え、前記プロセッサは、
前記第2のバルブが閉められている状態で、前記第1のバルブが開けられて、前記第1の容器から前記第2の容器にターゲット物質が供給され、
前記第1のバルブが閉められ、前記第3のバルブが開けられて、前記第2の容器に加圧ガスが供給され、前記第5のバルブが開けられ、その後、前記第2のバルブが開けられて、前記第2の容器から前記第3の容器にターゲット物質が供給される
ように前記第1のバルブ、前記第2のバルブ、前記第3のバルブ、及び前記第5のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第2の容器に供給されたターゲット物質が前記第2のバルブに到達することを抑制する第1の状態と、
前記第2の容器に供給されたターゲット物質が前記第2のバルブに到達することを許容する第2の状態と、
の間で切り替えられる調整機構をさらに備えた
ターゲット供給装置。 - 請求項10に記載のターゲット供給装置であって、
プロセッサをさらに備え、
前記第2のバルブはボールバルブであり、
前記プロセッサは、
前記第2のバルブが閉められ、前記調整機構が前記第1の状態であるときに、前記第1のバルブが開けられ、
前記第1のバルブが閉められ、前記第2のバルブが開けられているときに、前記調整機構が前記第2の状態とされる
ように前記第1のバルブ、前記第2のバルブ、及び前記調整機構を制御する、
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第3の容器の内部のターゲット物質の量を検出するセンサと、
プロセッサと、
をさらに備え、前記プロセッサは、
前記第3の容器の内部のターゲット物質の量が第1の値より少ないことを前記センサの出力が示す場合に、前記第1のバルブが開けられるように前記第1のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項12に記載のターゲット供給装置であって、
前記センサは、液面センサ及び重量センサのうちの1つである、
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記ノズルから出力されたターゲット物質の量を計測するターゲットセンサと、
プロセッサと、
をさらに備え、前記プロセッサは、
前記ノズルから出力されたターゲット物質の量が第1の量以上であることを前記ターゲットセンサの出力が示す場合に、前記第1のバルブが開けられるように前記第1のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項1に記載のターゲット供給装置であって、
前記第3の容器の内部のターゲット物質の量を検出するセンサと、
プロセッサと、
をさらに備え、前記プロセッサは、
前記第3の容器の内部のターゲット物質の量が第2の値以上であることを前記センサの出力が示す場合に、前記第1のバルブが閉められたまま待機するように前記第1のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項15に記載のターゲット供給装置であって、
前記プロセッサは、
前記第3の容器の内部のターゲット物質の量が前記第2の値以上であることを前記センサの出力が示した後、前記第3の容器の内部のターゲット物質の量が前記第2の値より小さい第1の値より少ないことを前記センサの出力が示した場合に、前記第1のバルブが開けられるように前記第1のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項15に記載のターゲット供給装置であって、
前記プロセッサは、
前記第3の容器の内部のターゲット物質の量が前記第2の値以上であることを前記センサの出力が示した後、一定時間が経過した場合に、前記第1のバルブが開けられるように前記第1のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 請求項15に記載のターゲット供給装置であって、
前記プロセッサは、
前記第3の容器の内部のターゲット物質の量が前記第2の値以上となり、その後、前記第2の値より少なくなったことを前記センサの出力が示した後、一定時間が経過した場合に、前記第1のバルブが開けられるように前記第1のバルブを制御する
ターゲット供給装置。 - 極端紫外光生成装置におけるターゲット供給方法であって、
ターゲット物質を収容する第1の容器と、
前記第1の容器から供給されるターゲット物質を収容する第2の容器と、
前記第1の容器と前記第2の容器との間に配置された第1のバルブと、
前記第2の容器に接続され、前記第2の容器に加圧ガスを供給する第1の配管と、
前記第2の容器から供給されるターゲット物質を収容する第3の容器と、
前記第2の容器と前記第3の容器との間に配置された第2のバルブと、
前記第3の容器に接続され、前記第3の容器に加圧ガスを供給する第2の配管と、
前記第3の容器から供給されるターゲット物質を出力するノズルと、
を備えるターゲット供給装置を用いて、
前記第2のバルブが閉められている状態で、前記第1のバルブを開けて、前記第1の容器から前記第2の容器にターゲット物質を供給し、
前記第1のバルブを閉め、前記第2の容器に加圧ガスを供給し、その後、前記第2のバルブを開けて、前記第2の容器から前記第3の容器にターゲット物質を供給する
ことを含む、ターゲット供給方法。 - 電子デバイスの製造方法であって、
ターゲット物質を収容する第1の容器と、
前記第1の容器から供給されるターゲット物質を収容する第2の容器と、
前記第1の容器と前記第2の容器との間に配置された第1のバルブと、
前記第2の容器に接続され、前記第2の容器に加圧ガスを供給する第1の配管と、
前記第2の容器から供給されるターゲット物質を収容する第3の容器と、
前記第2の容器と前記第3の容器との間に配置された第2のバルブと、
前記第3の容器に接続され、前記第3の容器に加圧ガスを供給する第2の配管と、
前記第3の容器から供給されるターゲット物質を出力するノズルと、
を備えるターゲット供給装置と、
前記ターゲット供給装置から所定領域に出力されたターゲット物質にパルスレーザ光を集光するレーザ光集光ミラーと、
を備える極端紫外光生成装置において、ターゲット物質にパルスレーザ光を照射して極端紫外光を生成し、
前記極端紫外光を露光装置に出力し、
電子デバイスを製造するために、前記露光装置内で感光基板上に前記極端紫外光を露光する
ことを含む、電子デバイスの製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020088560A JP7491737B2 (ja) | 2020-05-21 | ターゲット供給装置、ターゲット供給方法、及び電子デバイスの製造方法 | |
NL2027804A NL2027804B1 (en) | 2020-05-21 | 2021-03-23 | Target supply device, target supply method, and electronic device manufacturing method |
US17/228,000 US11320740B2 (en) | 2020-05-21 | 2021-04-12 | Target supply device, target supply method, and electronic device manufacturing method |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021183996A true JP2021183996A (ja) | 2021-12-02 |
JP7491737B2 JP7491737B2 (ja) | 2024-05-28 |
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ID=
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Publication number | Publication date |
---|---|
US11320740B2 (en) | 2022-05-03 |
NL2027804B1 (en) | 2022-06-15 |
US20210364927A1 (en) | 2021-11-25 |
NL2027804A (en) | 2021-12-01 |
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