JP2021150646A - 発光装置およびその作成方法 - Google Patents

発光装置およびその作成方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2021150646A
JP2021150646A JP2021037306A JP2021037306A JP2021150646A JP 2021150646 A JP2021150646 A JP 2021150646A JP 2021037306 A JP2021037306 A JP 2021037306A JP 2021037306 A JP2021037306 A JP 2021037306A JP 2021150646 A JP2021150646 A JP 2021150646A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
nanostructures
active layer
emitting device
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2021037306A
Other languages
English (en)
Inventor
シャンイン・クイ
Shanying Cui
ダニー・キム
Kim Danny
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Boeing Co
Original Assignee
Boeing Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Boeing Co filed Critical Boeing Co
Publication of JP2021150646A publication Critical patent/JP2021150646A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/04Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction
    • H01L33/06Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction within the light emitting region, e.g. quantum confinement structure or tunnel barrier
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61LMETHODS OR APPARATUS FOR STERILISING MATERIALS OR OBJECTS IN GENERAL; DISINFECTION, STERILISATION OR DEODORISATION OF AIR; CHEMICAL ASPECTS OF BANDAGES, DRESSINGS, ABSORBENT PADS OR SURGICAL ARTICLES; MATERIALS FOR BANDAGES, DRESSINGS, ABSORBENT PADS OR SURGICAL ARTICLES
    • A61L2/00Methods or apparatus for disinfecting or sterilising materials or objects other than foodstuffs or contact lenses; Accessories therefor
    • A61L2/02Methods or apparatus for disinfecting or sterilising materials or objects other than foodstuffs or contact lenses; Accessories therefor using physical phenomena
    • A61L2/08Radiation
    • A61L2/10Ultra-violet radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0062Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0062Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
    • H01L33/0066Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound
    • H01L33/007Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound comprising nitride compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0062Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
    • H01L33/0075Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds comprising nitride compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/24Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate of the light emitting region, e.g. non-planar junction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/30Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system
    • H01L33/32Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system containing nitrogen
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61LMETHODS OR APPARATUS FOR STERILISING MATERIALS OR OBJECTS IN GENERAL; DISINFECTION, STERILISATION OR DEODORISATION OF AIR; CHEMICAL ASPECTS OF BANDAGES, DRESSINGS, ABSORBENT PADS OR SURGICAL ARTICLES; MATERIALS FOR BANDAGES, DRESSINGS, ABSORBENT PADS OR SURGICAL ARTICLES
    • A61L2202/00Aspects relating to methods or apparatus for disinfecting or sterilising materials or objects
    • A61L2202/10Apparatus features
    • A61L2202/11Apparatus for generating biocidal substances, e.g. vaporisers, UV lamps
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/08Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a plurality of light emitting regions, e.g. laterally discontinuous light emitting layer or photoluminescent region integrated within the semiconductor body

Abstract

【課題】UVCスペクトルで放出することができるより効率的なLEDを提供することができるLED構造およびプロセスを提供すること。【解決手段】装置は、基板と、パターン化された層とを備える。パターン化された層は、基板上の複数のマスク領域を備える。基板の露出部分が、マスク領域の間に配置される。複数のナノ構造が、基板の露出部分上およびマスク領域の上に配置され、複数のナノ構造は、単結晶半導体であり、コア先端を備える。活性層が、複数のナノ構造の上に配置される。活性層は量子井戸構造であり、AlN、AlGaN、およびGaNから選択された少なくとも1つの材料を含む。pドープ層が、活性層の上に配置される。活性層およびpドープ層は両方とも、コア先端の上にエミッタ先端を形成するように複数のナノ構造に共形である。【選択図】図1

Description

本開示は、光を放出するための装置に向けられ、詳細にはUVCスペクトルで光を放出するための装置に向けられている。
UVC帯域で放射線を放出するLED装置には、さまざまな潜在的な商業用途がある。しかしながら、そのようなUVC LED装置は、壁コンセント効率が低いため、一般に市販されていない。以前の実験的なUVC LED装置には、外部量子効率が低いという点に関しても欠点がある。これは、250nmより短い波長を放出するLEDに特に当てはまる。さらに、ほとんどのLED装置は、短波長UVC用途には長すぎる出力発光波長(例えば、通常300nmより長い)を有する。さらに、多くのLED装置はInGaNを活性材料として使用しており、これは、UVC波長範囲の光を放出せず、代わりに可視スペクトルの光を放出する。
UVC LED装置を形成するための既知の方法は、垂直に配向されたナノワイヤを成長させるために円形の開口を有するナノメータスケールの選択的領域エピタキシを使用することを含む。次に、光学活性AlGaN層が途中まで堆積され、その後、最終的に、ドーピングと表面パッシベーションのために追加の材料でふたがかぶせられる。X.Liuら、Optics Express 25、30494 2017。Liuらの中で、著者らは、非放射再結合を低減するコアシェル構造に一部起因して、良好な内部量子効率でc帯域全体にわたる放出を実証することが可能である。ここでの主な成果は、ナノワイヤを使用してひずみを緩和し、より短い波長に達するために大きなAl含有量の活性層を可能にすることである。ただし、ひずみの低減は、エミッタ層の面積分率の減少を犠牲にすることになる。また、これらの層は依然としてc平面に沿って名目上整列されるため、振動子強度の低下とTM偏光された放出の問題が依然として残っている。
X.LiuらのAppl.Phys.Lett.2017で説明されているように、UVC LED装置を作成するための他の方法では、エッチング技術を使用して成長領域を規定する。AlGaNはGaN垂直フィンの側壁上で成長し、そのアレイはドライエッチングによって形成される。ドライエッチングは表面の損傷を引き起こし、またウェットエッチングステップを必要とする。これらのフィンの成長は、TM偏光された出力の問題に対処し、この場合、著者は、フィンの垂直配向により、これらの構造からより多くのTM偏光された光を抽出することができると述べている。ただし、これらのフィンは約2umの間隔で離れて配置されているため、エミッタの面積の割合を大幅に減少させ、達成可能な最大輝度を制限する。さらに、フィン間のこの最小幅は、材料が基部に浸透することを必要とする。
したがって、当技術分野では、UVCスペクトルで放出することができるより効率的なLEDを提供することができるLED構造およびプロセスに対する要望がある。
X.Liuら、Optics Express 25、30494 2017 X.Liuら、Appl.Phys.Lett.2017
本開示は、UVC放射線を放出するための発光装置に向けられている。装置は、基板と、パターン化された層とを備える。パターン化された層は、基板上の複数のマスク領域を備える。基板の露出部分が、マスク領域の間に配置される。複数のナノ構造が、基板の露出部分上およびマスク領域の上に配置され、複数のナノ構造は、単結晶半導体であり、コア先端を備える。活性層が、複数のナノ構造の上に配置される。活性層は量子井戸構造であり、AlN、AlGaN、およびGaNから選択された少なくとも1つの材料を含む。pドープ層が、活性層の上に配置される。活性層およびpドープ層は両方とも、コア先端の上にエミッタ先端を形成するように複数のナノ構造に共形である。
本開示はまた、UVC発光装置を作成する方法にも向けられている。方法は、基板上の複数のマスク領域を含むパターン化された層を形成するステップであって、基板の露出部分は、マスク領域の間に配置されている、ステップを含む。複数のナノ構造は、基板の露出部分上およびマスク領域の上にエピタキシャル成長し、複数のナノ構造はコア先端を備える。活性層は、複数のナノ構造上にエピタキシャル成長し、活性層は量子井戸構造であり、AlN、AlGaN、およびGaNから選択される少なくとも1つの材料を含む。pドープ層が活性層の上に堆積され、活性層およびpドープ層は両方とも、コア先端の上にエミッタ先端を形成するように複数のナノ構造に共形である。
本開示はまた、表面を消毒する方法にも向けられている。方法は、表面を発光装置から放出されたUVC放射線と接触させるステップを含む。装置は、基板と、パターン化された層とを備える。パターン化された層は、基板上の複数のマスク領域を備える。基板の露出部分が、マスク領域の間に配置される。複数のナノ構造が、基板の露出部分上およびマスク領域の上に配置され、複数のナノ構造は、単結晶半導体であり、コア先端を備える。活性層が、複数のナノ構造の上に配置される。活性層は量子井戸構造であり、AlN、AlGaN、およびGaNから選択された少なくとも1つの材料を含む。pドープ層が、活性層の上に配置される。活性層およびpドープ層は両方とも、コア先端の上にエミッタ先端を形成するように複数のナノ構造に共形である。
前述の一般的な説明および以下の詳細な説明は両方とも、例示的かつ説明的なものにすぎず、請求されているように、本教示を限定するものではないことを理解されたい。
本明細書に組み込まれ、その一部を構成する添付の図面は、説明とともに本教示の態様を例示し、本教示の原理を説明するのに役立つ。
本開示の一例による、UVC放射線を放出するための発光装置の概略断面図である。 本開示の一例による、発光装置を製造するために使用することができる、六角形のピラミッドの形態の複数のナノ構造の斜視図である。 本開示の一例による、発光装置を製造するために使用することができる、波形のリッジの形態の複数のナノ構造の斜視図である。 本開示の一例による、UVC放射線を放出するために使用することができる波形のリッジを有する発光装置の概略図である。 本開示の一例による、2つの平行な波形リッジの上面図の走査型電子顕微鏡法によって撮影された画像を示す図である。 本開示の一例による、単一の波形リッジの角度を付けた上面図の走査型電子顕微鏡法によって撮影された画像を示す図である。 本開示の一例による、GaN六角柱の上面図の走査型電子顕微鏡法によって撮影された画像を示す図である。 本開示の一例による、六角形のグリッドアレイ(例えば、ハニカムパターン)に配置された六角形ピラミッドのレイアウトの概略的な上面図である。
図の一部の詳細は簡略化されており、厳密な構造の正確さ、詳細、および縮尺を維持するのではなく、理解を容易にするために描かれていることに留意されたい。
ここで、本教示を詳細に参照し、その例が添付の図面に示される。図面では、同一の要素を示すために、全体を通して同様の参照番号が使用されている。以下の説明では、その一部を形成する添付の図面を参照し、その中で、本教示を実施する特定の例が例示として示される。したがって、以下の説明は単なる例示である。
UVC範囲、特に200nmから300nmの範囲の波長を有するLEDが放出する放射線に関する問題は、低電力(例えば、10マイクロワット以下であるが、低電力と見なされるものは、装置のサイズとともに広く変化する可能性がある)、または全体的な外部量子効率が低い(例えば、低量子効率は、10%以下の範囲になる場合がある)ことである。低効率出力の原因には、これらに限定されるものではないが、1)活性層成長における欠陥による非放射再結合中心、2)ビルトイン結晶電場による弱い双極子モーメント、および3)横方向−磁気モード偏光された放出であり(電場は上面に対して垂直に振動する)、これにより、光子の収集効率が低下することが含まれる。本開示は、n+ドープナノ構造上の活性層(例えば、AlGaN量子井戸)の選択的領域エピタキシャル成長を介して、これらの3つの主要な問題に対処する。
選択的領域エピタキシャル成長とは、事前にパターン化されたウェーハ上で成長することを指し、この場合、成長はマスクを介して事前に定義された領域内のみで発生することができる。本明細書でより詳細に議論されるように、選択的領域成長は欠陥の伝播の進路を変え、活性領域(例えば、AlGaN量子井戸)が成長できる非極性表面を提供し、したがって、井戸内のキャリアの波動関数を分離するビルトイン電場を低減する、ならびに横方向の磁気(TM)偏光された放出を角度付けして、三角形のリッジの頂点に向かって放出し、これにより、発光装置の発光効率を向上させる。
図1を参照すると、本開示は、UVC放射線を放出するための発光装置100に向けられている。発光装置100は、基板102を備える。複数のマスク領域104を備えるパターン化された層103が、基板102上に配置される。基板102の露出部分106が、マスク領域104間に配置される。複数のナノ構造108が、基板102の露出部分106上およびマスク領域104の上に配置される。複数のナノ構造108は、単結晶半導体を備え、任意選択でコア先端110を含む。コア先端110、およびその後に形成されるエミッタ先端は、鋭利であってもよく(例えば、先端にc軸材料がない)、または上部が切り取られていてもよい(例えば、図7に132で示されるように、先端に少量のc軸材料がある)。AlN、AlGaN、およびGaNから選択される少なくとも1つの材料を含む活性層112が、複数のナノ構造108の上に配置される。pドープ層114が、活性層112上に配置され、活性層およびpドープ層は両方とも、コア先端110の上にエミッタ先端118を形成するように複数のナノ構造に共形である。以下に詳細に説明するように、複数のナノ構造108の傾斜した側壁上で活性層112を成長させることには利点がある。
基板102は、絶縁体、半導体材料、およびそれらの組み合わせから選択される少なくとも1つの材料を含む。材料の例には、シリコン、炭化ケイ素(SiC)、サファイア(Al)、窒化ガリウム(GaN)、および窒化アルミニウム(AlN)が含まれる。シリコンは、放出されるUV光の反射器として機能し、それによって発光装置100の効率を潜在的に改善するという利点を提供する。複数のナノ構造108の成長に適した他の任意の基板材料を使用することもできる。一例として、基板は、SiC、Al、GaN、およびAlNについて(0001)の結晶配向、およびシリコンについて(111)の結晶配向を有する最上表面用の単結晶材料を含むことができる。一例では、基板はn型であり、当技術分野でよく知られているように、活性層への電子の適切な供給を実現する1つまたは複数のn型ドーパントを含み得る。あるいは、当技術分野でよく知られているように、基板は絶縁材料であってもよく、電子は平面注入によって供給することができる。任意選択で、基板を取り外して、可撓性基板、絶縁基板、または他の任意の所望のタイプの基板などの第2の基板と交換することができる。基板を取り外して交換するための技術は、当技術分野でよく知られている。
マスク領域104は、複数のナノ構造108の成長を可能にする絶縁体、金属、または他の材料から選択される少なくとも1つの材料を含む。例えば、ナノ構造のエピタキシャル成長に使用されるソース材料は、選択されたマスク材料に付着する傾向を持たない場合があり、代わりに、ナノ構造を成長させるために基板102の露出部分106に付着する。さらに、マスク材料は、その後の処理に使用される温度に耐えることができ、基板102上にパターン化される能力を有する必要がある。例として、マスク領域104は、酸化ケイ素(例えば、SiO)、SiN、Ti、およびTiWから選択される少なくとも1つの材料を含むことができる。他の適切なマスク材料が使用される場合もある。
マスク領域104は、マスク領域104が複数のナノ構造108によって完全に覆われることを可能にする寸法を有する。例えば、マスク領域は、約50nmから約1000nmの範囲の幅を有する。マスク領域104間の露出部分106は、複数のナノ構造108の所望の寸法を提供するのに適した寸法を有する。一例として、露出部分106は、約50nmから約1000nmの範囲の幅を有する。そのような寸法を有する露出部分106から成長した複数のナノ構造108は、はるかに幅の広い構造と比較して、光子がそこからより容易に逃げることができるように十分に幅が狭くなることができる。
複数のナノ構造108は、活性層112の成長に適した表面を提供し、エピタキシャル成長させることができる単結晶材料を含む。例には、AlN、GaN、およびAlGaNから選択された少なくとも1つの材料が含まれる。材料は、六角形の稠密結晶配向を有することができる。ナノ構造108は、活性層に電子を供給するようにnドープすることができる。
複数のナノ構造108は、例えば、プリズム、ナノワイヤ、フィン、およびメサ(例えば、図2に示されるような六角形のメサまたは他の形状のメサ124)から選択される三次元形状を有する。別の例では、図3に示されるように、複数のナノ構造108は、リッジ126であり、これは波形にされ、長さ対幅の比(L:W)は3:1より大きく、例えば、約5:1から約100,000:1以上である。図4は、波形にされたリッジ126を含む、図1の装置の一例の斜視図を示す。リッジ126は、図3に示される三角形の断面の場合のように、コア先端110を有することができる。複数のナノ構造108は、接触してもよい、または隔てられてもよい。図3は、接触している三角形のリッジの形態の複数のナノ構造108の例を示し、図2は、接触していない六角形のピラミッドを示している。また図5および図6も参照されたく、これらは、2つの平行な三角形のGaNリッジ(図5)、および1つの三角形のリッジ(図6)の上面図の走査型電子顕微鏡法を示す。GaNの代わりに、またはGaNに加えて、AlNやAlGaNなど他の材料が使用されてもよい。図5および図6のリッジは、マスクを通して成長し、接触していない。図7は、GaN六角柱の上面図の走査型電子顕微鏡法を示しているが、これは、AlNまたはAlGaNを含むことも可能である。図8は、図7のような六角形のピラミッドが、曲線因子を増大させるために六角形のグリッド配列(ハニカムパターン)にどのように配置され得るかについての概略レイアウトの上面図を示す。
複数のナノ構造108の角度の付いた面は、比較的大きな放出領域を提供することができ、基板102の表面に平行な表面(例えば、c軸表面)を有する成長した活性層よりも、その後に成長した活性層112からより容易に光子を逃がすことができる。適切な角度付きの面を有する三次元形状を有するナノ構造をエピタキシャル成長させるための技術は、当技術分野でよく知られている。先端または頂点を有する三次元形状は、表面での比較的大量のc軸材料を回避することができ、これは、c軸材料単独と比較して改善された光子の放出を可能にすることができる。一例では、三次元形状のc軸表面積に対する非c軸表面積の比は、少なくとも5であり、例えば約10から約1000などである。
再び図1を参照すると、本明細書に記載の複数のナノ構造108のいずれも、基板の上表面109(例えば、基板のc軸表面)に対して約40度から約90度の範囲の、例えば、約43度から約75度、または約55度から約65度、または約57度または約62度などの角度θを有する少なくとも1つの面を備えることができる。一例では、複数のナノ構造108の上部面130のすべては、例えば図9に示されるような任意のc軸面132を除いて、本明細書に記載の範囲内の角度θを有する。場合によっては、正確な角度は、エピタキシ中に使用される成長条件で使用される材料によって自然に形成される角度に依存することになる。
マスク領域104の寸法、およびガス流量および成長温度などのエピタキシャル成長条件は、複数のナノ構造108の幾何学形状を制御する。当業者は、マスク領域およびエピタキシャル成長条件の適切な寸法を決定することで、複数のナノ構造108に対して所望の三次元形状を提供することができるであろう。
複数のナノ構造108は、UVC放射装置に対して利点を提供する。アルミニウム原子または有機金属前駆体は誘電体マスクに付着する傾向があり、したがって露出部分106で選択的に成長しないため、AlGaNおよびその合金は、誘電体を基にした選択的領域マスクを使用して成長するのが難しい。ナノ構造108は、マスク領域104を覆うように成長し、その結果、AlGaN前駆体は、いかなるマスク領域104にも曝されない。マスク領域104の完全な被覆を達成するために、本明細書に記載されるように、マスク領域104は、幅が比較的小さくなるように選択され、その結果、横方向の成長速度は通常遅いため、誘電体は完全に覆われることになる。
活性層112は、AlN、AlGaN、またはGaNなどのUVC放射線を放出するための適切な材料を含む量子井戸構造である。AlN、AlGaN、およびGaNは、六角形の結晶配向(例えば、六角形の稠密配向)を有することができる。活性層112の量子井戸構造は、単一量子井戸または多重量子井戸構造であり得る。一例では、活性層112は、量子井戸を形成するためのAlN/AlGaN/AlNの3層スタックなど、少なくとも1つのAlN層および少なくとも1つのAlGaN層を備える。別の例として、AlGaN/AlNの複数のスタックを成長させて、多重量子井戸構造を形成することもできる。別の例では、活性層112は、少なくとも1つのAlN層および少なくとも1つのGaN層、例えば、AlN/GaN/AlNの3層スタックを備える。別の例として、GaN/AlNの複数のスタックを成長させて、多重量子井戸構造を形成することもできる。
活性層112の厚さ、およびその中のアルミニウム濃度が、発光波長を決定する。一例では、活性層は、約10nmから500nmなど、約1nmから約2000nmの範囲の厚さを有する。一例では、活性層は、少なくとも50モル%、例えば、約60モル%から約80モル%のアルミニウムを含む。したがって、活性層は、AlGa(1−x)N材料を含むことができ、ここで、xは、約0.6から約0.8または約0.65から約0.8など、0.5から約0.9の範囲である。一例では、活性層はインジウム(In)を含まない。
pドープ層114は、活性層112に正孔を供給するのに適した少なくとも1つのpドープ半導体材料を含む。一例として、pドープ層114は、AlN、AlGaN、および六方晶窒化ホウ素から選択される半導体材料のうちの少なくとも1つを含む。pドープ層は、例として、エピタキシャル成長または化学蒸着法を採用することなどによって、任意の適切な方法で堆積させることができる。
一例では、pドープ層114のp型ドーパントは、選別される、または分極ドーピングされている。選別および分極ドーピングは、正孔の濃度を高めるための既知の技術であり、これは、とりわけ、閾値ターンオン電圧を低下させる可能性がある。したがって、一例では、p型ドーパントを含むpドープ層を作成する方法は、分極ドーピング技術によってp型ドーパントを導入するステップを含む。一例では、pドープ層は、段階的なドーパント濃度を有する。
完成した発光装置100は、1つまたは複数の発光ダイオードを備える。1つまたは複数の発光ダイオードは、約200nmから約350nm、または約200nmから約300nm、または約200nmから250nm未満などのUVC範囲の波長を有する放射線を放出するように構成されている。
複数のナノ構造108上で活性層112を成長させることは、UVC放射装置にとっていくつかの利点を有する。第1に、マスク領域104上のナノ構造の成長は、活性層112の欠陥を減らすことができる。選択的領域成長は、欠陥の伝播を終結させ、したがって、活性層112のエピタキシャル成長のためのより高品質の表面をもたらすことが一般に知られている。選択的領域成長は、一般に材料の欠陥を増大させる、他のナノスケールのエッチングベースの設計とは対照的である。
複数のナノ構造108の傾斜した側壁上で活性層112を成長させることの利点は、そうすることにより、UVC発光装置の光子放出効率を改善できることである。これは、短波長(UVC)LEDが高Al含有量のAlGaN量子井戸を採用しているためである。x>65モル%でありc平面の法線軸を有するAlGa1−xN量子井戸の場合、発光は横方向の磁気(TM)偏光された放出によって左右される。TM偏光された光は、量子井戸の平面内を伝搬し、望ましくないことに、光が表面で抽出される前に材料またはクラッド層内に吸収される可能性がある。対照的に、横方向の電気(TE)偏光された光は、量子井戸に垂直に伝搬し、より高い抽出効率をもたらす。複数のナノ構造108の選択的領域成長リッジの角度のあるファセット上で量子井戸を成長させることにより、ファセット寸法が、吸収を低減または最小化するのに十分小さく保たれる場合、放出は、リッジの頂点で、例えば62度以上の角度で出てくることができる。放出角度は、とりわけ、活性層112の結果として生じる傾斜した側壁(例えば、活性層112のAlGaN/AlN量子井戸スタックリッジ)によって決定される。側部ファセットは、c平面に対して62度の(10−11)ファセットにすることができる。非平衡状態では、ファセットの角度が変化し、例えば58度(11−22)などで、他のファセットが発生する場合がある。
さらに、複数のナノ構造108上で活性層112を成長させることにより、振動子強度を高めることができる。GaNやAlGaNなどのほとんどの窒化物ベースの光学活性材料は、(0001)c軸に沿って大きなビルトイン電場を有し、典型的には、主にこの方向に成長する。したがって、材料に生じる双極子は、この電場によって引き起こされる電子/正孔の波動関数の分離のために弱い振動子強度を有することになる(例えば、電子と正孔は強い双極子力によって引き離され、これにより再結合し光を放出する能力が低下する)。傾斜したリッジのファセット上で活性層112を成長させることは、c軸の双極子と比較して電場が低減されているか、または電場がまったくないファセットを利用することによってこの問題に対処する。リッジのファセットは、(0001 c軸)極性平面の代わりに、半極性(10−11)または非極性(11−20)にすることができ、電子と正孔の間の波動関数の重なりを改善し、再結合率を高めることができる。その結果、内部効率が向上する。
本開示はまた、UVC放射線を放出するための発光装置100を作成する方法にも向けられている。方法は、基板102上の複数のマスク領域104を含むパターン化された層103を形成することを含む。基板102の露出部分106が、マスク領域104間に形成される。基板上に選択的領域マスクを作成するために、本明細書に開示されるような誘電体層または金属層が基板102の表面上に堆積される。次に、マスクは、例えば、標準的な光学リソグラフィ技術によってパターン化される。
複数のナノ構造が、基板102の露出部分106上およびマスク領域104の上にエピタキシャル成長する。複数のナノ構造108は、コア先端110を備える。このプロセスは、例えば、マスク領域104でパターン化された基板102を、MOCVDまたはMBEチャンバなどの成長チャンバに装填することを含むことができる。適切な成長条件下で、複数のナノ構造108は、複数のマスク領域104間の露出部分106上で選択的に成長することになる。成長は、例えば、傾斜した(例えば、三角形またはピラミッド型の)リッジの形状、またはナノ構造について本明細書に記載されている他の任意の形状であり得る。c平面は最も急速に成長している平面である。傾斜したリッジの成長によってc平面が消滅すると、傾斜した側壁は、マスク領域104の上で横方向に成長することになる。2つの隣接する傾斜したリッジがマスク領域104上で合体すると、成長プロセスは終了する。
活性層112は、複数のナノ構造108の傾斜したリッジ上にエピタキシャル成長する。活性層112は、複数のナノ構造上に配置されたAlGaN、AlN、およびGaNから選択される少なくとも1つの材料を含む。pドープ層114は、エピタキシャル成長または化学蒸着などの任意の適切な堆積方法によって活性層112の上に堆積される。活性層112およびpドープ層114は両方とも、コア先端110の上にエミッタ先端118を形成するように複数のナノ構造に共形である。
本開示はまた、表面を消毒する方法にも向けられている。方法は、表面を本明細書に開示される発光装置のいずれかから放出されたUVC放射線と接触させるステップを含む。一例として、発光装置100は、基板102を備える。パターン化された層103は、基板上の複数のマスク領域104を備える。基板102の露出部分106が、マスク領域104間に配置される。複数のナノ構造108が、基板102の露出部分106上およびマスク領域104の上に配置される。複数のナノ構造108は単結晶半導体であり、コア先端110を備える。活性層112は、複数のナノ構造108の上に配置されたAlGaN、AlN、およびGaNから選択される少なくとも1つの材料を含む。pドープ層114が、活性層の上に配置される。活性層112およびpドープ層114は両方とも、コア先端110の上にエミッタ先端118を形成するように複数のナノ構造108に共形である。
200〜350nm、200〜300nm、または200〜250nm未満の範囲の効率的なUVCエミッタは、一般にUVベースの衛生設備の利益となる。これらの範囲内の特定の波長をターゲットにすることは、コンパクトでエネルギー効率の高い衛生方法が可能になるだけでなく、人体への暴露に関しても目や皮膚が安全になる可能性がある。非常に効率的なUV光源を製造することに大きな商業的関心がある。本開示のUVC LED装置は、所望の効率を提供し、また消毒/滅菌に加えて幅広い多くの商業的用途を有することになり、例えば1)トラップされたイオンを冷却するためのレーザ、例えば、コンパクトな原子時計またはよりコンパクトな量子メモリ用に、Mgイオンは279nmレーザを使用し、Hg+イオンは281nmレーザを使用する、2)マイクロラマン光源、ラマン強度は波長に比例するため、およびこれにより短波長光源は長波長光源よりも桁違いに多くの信号を取得できる、3)リン光材料用のコンパクトで効率的な励起源などの照明およびディスプレイ用途などである。さらに他の用途が、当業者によって認識され得る。
本教示は、1つまたは複数の実装形態に関して例示されてきたが、添付の特許請求の範囲の精神および範囲から逸脱することなく、例示された例に変更および/または修正を加えることができる。さらに、本教示の特定の特徴は、いくつかの実装形態のうちの1つに関してのみ開示され得るが、そのような特徴は、任意の所与のまたは特定の機能に関して望まれ、有利であり得るように、他の実装形態の1つまたは複数の他の特徴と組み合わされてもよい。
さらに、本開示は、以下の条項による例を含む。
条項1.UVC放射線を放出するための発光装置であって、基板と、
基板上の複数のマスク領域を備えるパターン化された層であって、基板の露出部分がマスク領域間に配置されている、パターン化された層と、基板の露出部分上およびマスク領域の上に配置される複数のナノ構造であって、複数のナノ構造が単結晶半導体であり、コア先端を備える、複数のナノ構造と、複数のナノ構造の上に配置された活性層であって、活性層が量子井戸構造であり、AlN、AlGaN、およびGaNから選択された少なくとも1つの材料を含む、活性層と、活性層の上に配置されたpドープ層であって、活性層およびpドープ層は両方とも、コア先端の上にエミッタ先端を形成するように複数のナノ構造に共形である、pドープ層と
を備える、発光装置。
条項2.基板は、シリコン、サファイア(Al2O3)、炭化ケイ素(SiC)、窒化ガリウム(GaN)、および窒化アルミニウム(AlN)から選択される少なくとも1つの半導体を含む、条項1に記載の発光装置。
条項3.マスク領域は、絶縁体と金属から選択された少なくとも1つの材料を含む、条項1または2に記載の発光装置。
条項4.マスク領域は、約50nmから約1000nmの範囲の幅を有する、条項1から3のいずれか一項に記載の発光装置。
条項5.マスク領域間の露出部分は、約50nmから約1000nmの範囲の幅を有する、条項1から4のいずれか一項に記載の発光装置。
条項6.複数のナノ構造は、AlN、GaN、およびAlGaNから選択された少なくとも1つの材料を含み、複数のナノ構造の材料は、活性層の材料と異なる、条項1から5のいずれか一項に記載の発光装置。
条項7.ナノ構造は、プリズム、ナノワイヤ、およびメサから選択された三次元形状を有する、条項1から6のいずれか一項に記載の発光装置。
条項8.ナノ構造は、波形にされたリッジである、条項1から7のいずれか一項に記載の発光装置。
条項9.ナノ構造は、六角形のメサである、条項1から8のいずれか一項に記載の発光装置。
条項10.ナノ構造は、それらが形成される基板の上表面に対して約40度から約90度の範囲の角度を有する少なくとも1つの面を備える、条項1から9のいずれか一項に記載の発光装置。
条項11.活性層は、少なくとも1つのAlN層と、少なくとも1つのAlGaN層とを備える多重量子井戸構造である、条項1から10のいずれか一項に記載の発光装置。
条項12.活性層はAlxGa(1−x)Nを含み、xは0.5から約0.9の範囲である、条項1から11のいずれか一項に記載の発光装置。
条項13.活性層は、約1nmから約2000nmの範囲の厚さを有する、条項1から12のいずれか一項に記載の発光装置。
条項14.発光装置は、1つまたは複数の発光ダイオードを備え、1つまたは複数の発光ダイオードは、約200nmから約350nmの範囲の波長の放射線を放出するように構成されている、条項1から13のいずれか一項に記載の発光装置。
条項15.pドープ層は、AlN、AlGaN、および六方晶窒化ホウ素から選択される少なくとも1つの半導体材料を備え、pドープ層の材料は活性層の材料と異なる、条項1から14のいずれか一項に記載の発光装置。
条項16.pドープ層は、段階的なドーパント濃度を有する、条項1から15のいずれか一項に記載の発光装置。
条項17.基板はフレキシブル基板である、条項1から16のいずれか一項に記載の発光装置。
条項18.UVC発光装置を作成する方法であって、方法は、基板上の複数のマスク領域を備えるパターン化された層を形成するステップであって、基板の露出部分はマスク領域間に配置されている、ステップと、
基板の露出部分上およびマスク領域の上に複数のナノ構造をエピタキシャル成長させるステップであって、複数のナノ構造はコア先端を備える、ステップと、複数のナノ構造上に活性層をエピタキシャル成長させるステップであって、活性層は量子井戸構造であり、AlN、AlGaN、およびGaNから選択される少なくとも1つの材料を含む、ステップと、活性層の上にpドープ層を堆積させるステップであって、活性層およびpドープ層の両方とも、コア先端上にエミッタ先端を形成するように複数のナノ構造に共形である、ステップと
を含む、方法。
条項19.基板は、シリコン、炭化ケイ素(SiC)、サファイア(Al2O3)、窒化ガリウム(GaN)、および窒化アルミニウム(AlN)から選択される少なくとも1つの半導体を含む、条項18に記載の方法。
条項20.マスク領域は、絶縁体および金属から選択された少なくとも1つの材料を含む、条項18または19に記載の方法。
条項21.複数のナノ構造は、AlN、GaN、およびAlGaNから選択された少なくとも1つの材料を含み、複数のナノ構造の材料は活性層の材料と異なる、条項18から20のいずれか一項に記載の方法。
条項22.ナノ構造は、プリズム、ナノワイヤ、およびメサから選択された三次元形状を有する、条項18から21のいずれか一項に記載の方法。
条項23.ナノ構造は、波形にされたリッジである、条項18から22のいずれか一項に記載の方法。
条項24.ナノ構造は、それらが形成される基板の上表面に対して約40度から約90度の範囲の角度を有する少なくとも1つの面を備える、条項18から23のいずれか一項に記載の方法。
条項25.活性層はAlxGa(1−x)Nを含み、xは0.5から約0.9の範囲である、条項18から24のいずれか一項に記載の方法。
条項26.活性層は、約1nmから約2000nmの範囲の厚さを有する、条項18から25のいずれか一項に記載の方法。
条項27.pドープ層はp型ドーパントを含み、方法は、分極ドーピング技術によってp型ドーパントを導入するステップをさらに含む、条項18から26のいずれか一項に記載の方法。
条項28.基板を取り外し、それを第2の基板と交換するステップをさらに含む、条項18から27のいずれか一項に記載の方法。
条項29.表面を消毒する方法であって、方法は、表面を発光装置から放出されるUVC放射線と接触させるステップであって、発光装置は、基板と、基板上の複数のマスク領域を備えるパターン化された層であって、基板の露出部分がマスク領域間に配置されている、パターン化された層と、基板の露出部分上およびマスク領域の上に配置された複数のナノ構造であって、複数のナノ構造が単結晶半導体であり、コア先端を備える、複数のナノ構造と、複数のナノ構造の上に配置された活性層であって、活性層が量子井戸構造であり、AlN、AlGaN、およびGaNから選択された少なくとも1つの材料を含む、活性層と、活性層の上に配置されたpドープ層であって、活性層およびpドープ層は両方とも、コア先端の上にエミッタ先端を形成するように複数のナノ構造に共形である、pドープ層とを備える、ステップを含む、方法。
条項30.UVC放射線は、約200nmから約300nmの範囲の波長を有する、条項29に記載の方法。
条項31.UVC放射線は、約200nmから250nm未満の範囲の波長を有する、条項29に記載の方法。
さらに、用語「含んでいる(including)」、「含む(includes)」、「有する(having)」、「有する(has)」、「備えている(with)」、またはそれらの変形が、詳細な説明および特許請求の範囲のいずれかで使用される限り、そのような用語は、「備える(comprising)」という用語と同様の方法で包括的であることが意図されている。さらに、本明細書の考察および特許請求の範囲において、「約」という用語は、その変更が本明細書に記載された意図される目的に対するプロセスまたは構造の不適合をもたらさない限り、記載された値のプラスマイナス10%以内を意味するように定義される。さらに、本明細書に開示されるすべての範囲は、そこに含まれるありとあらゆる下位の範囲を包含すると理解されるべきである。
上記に開示された特徴および他の特徴ならびに機能の変形形態、あるいはそれらの代替形態は、他の多くの異なるシステムまたは用途に組み合わせることができることが理解されよう。その中のさまざまな現在では予想外の、または予期されない代替形態、修正形態、変形形態、または改良品が、当業者によってその後に行われる場合もあり、これらも同様に以下の特許請求の範囲によって包含されること意図されている。
100 発光装置
102 基板
103 パターン化された層
104 マスク領域
106 露出部分
108 ナノ構造
109 基板の上表面
110 コア先端
112 活性層
114 pドープ層
118 エミッタ先端
124 メサ
126 リッジ
130 ナノ構造の上部面
132 c軸面

Claims (31)

  1. UVC放射線を放出するための発光装置(100)であって、
    基板(102)と、
    前記基板(102)上の複数のマスク領域(104)を備えるパターン化された層であって、前記基板(102)の露出部分(106)が前記マスク領域(104)間に配置されている、パターン化された層と、
    前記基板(102)の前記露出部分(106)上および前記マスク領域(104)の上に配置された複数のナノ構造(108)であって、前記複数のナノ構造(108)が単結晶半導体であり、コア先端(110)を備える、複数のナノ構造(108)と、
    前記複数のナノ構造(108)の上に配置された活性層(112)であって、前記活性層(112)が量子井戸構造であり、AlN、AlGaN、およびGaNから選択された少なくとも1つの材料を含む、活性層(112)と、
    前記活性層(112)の上に配置されたpドープ層であって、前記活性層(112)および前記pドープ層は両方とも、前記コア先端(110)の上にエミッタ先端(118)を形成するように前記複数のナノ構造(108)に共形である、pドープ層と
    を備える、発光装置(100)。
  2. 前記基板(102)は、シリコン、サファイア(Al)、炭化ケイ素(SiC)、窒化ガリウム(GaN)および窒化アルミニウム(AlN)から選択される少なくとも1つの半導体を含む、請求項1に記載の発光装置(100)。
  3. 前記マスク領域(104)は、絶縁体および金属から選択される少なくとも1つの材料を含む、請求項1に記載の発光装置(100)。
  4. 前記マスク領域(104)は、約50nmから約1000nmの範囲の幅を有する、請求項1に記載の発光装置(100)。
  5. 前記マスク領域(104)間の前記露出部分(106)は、約50nmから約1000nmの範囲の幅を有する、請求項1に記載の発光装置(100)。
  6. 前記複数のナノ構造(108)は、AlN、GaNおよびAlGaNから選択される少なくとも1つの材料を含み、前記複数のナノ構造(108)の前記材料は、前記活性層(112)の前記材料と異なる、請求項1に記載の発光装置(100)。
  7. 前記ナノ構造(108)は、プリズム、ナノワイヤ、およびメサから選択される三次元形状を有する、請求項1に記載の発光装置(100)。
  8. 前記ナノ構造(108)は、波形にされたリッジ(126)である、請求項1に記載の発光装置(100)。
  9. 前記ナノ構造(108)は六角形のメサである、請求項1に記載の発光装置(100)。
  10. 前記ナノ構造(108)は、それらが形成される前記基板(102)の上表面に対して約40度から約90度の範囲の角度を有する少なくとも1つの面を備える、請求項1に記載の発光装置(100)。
  11. 前記活性層(112)は、少なくとも1つのAlN層と、少なくとも1つのAlGaN層とを備える多重量子井戸構造である、請求項1に記載の発光装置(100)。
  12. 前記活性層(112)はAlGa(1−x)Nを含み、xは0.5から約0.9の範囲である、請求項1に記載の発光装置(100)。
  13. 前記活性層(112)は、約1nmから約2000nmの範囲の厚さを有する、請求項1に記載の発光装置(100)。
  14. 前記発光装置(100)は、1つまたは複数の発光ダイオードを備え、前記1つまたは複数の発光ダイオードは、約200nmから約350nmの範囲の波長を有する放射線を放出するように構成されている、請求項1に記載の発光装置(100)。
  15. 前記pドープ層は、AlN、AlGaNおよび六方晶窒化ホウ素から選択される少なくとも1つの半導体材料を含み、前記pドープ層の前記材料は前記活性層(112)の前記材料と異なる、請求項1に記載の発光装置(100)。
  16. 前記pドープ層は、段階的なドーパント濃度を有する、請求項1に記載の発光装置(100)。
  17. 前記基板(102)はフレキシブル基板である、請求項1に記載の発光装置(100)。
  18. UVC発光装置(100)を作成する方法であって、前記方法は、
    基板(102)上に複数のマスク領域(104)を備えるパターン化された層を形成するステップであって、前記基板(102)の露出部分(106)は前記マスク領域(104)間に配置されている、ステップと、
    前記基板(102)の前記露出部分(106)上および前記マスク領域(104)の上に複数のナノ構造(108)をエピタキシャル成長させるステップであって、前記複数のナノ構造(108)はコア先端(110)を備える、ステップと、
    前記複数のナノ構造(108)の上に活性層(112)をエピタキシャル成長させるステップであって、前記活性層(112)は量子井戸構造であり、AlN、AlGaNおよびGaNから選択される少なくとも1つの材料を含む、ステップと、
    前記活性層(112)の上にpドープ層を堆積させるステップであって、前記活性層(112)および前記pドープ層は両方とも、前記コア先端(110)の上にエミッタ先端(118)を形成するように前記複数のナノ構造(108)に共形である、ステップと
    を含む、方法。
  19. 前記基板(102)は、シリコン、炭化ケイ素(SiC)、サファイア(Al)、窒化ガリウム(GaN)および窒化アルミニウム(AlN)から選択される少なくとも1つの半導体を含む、請求項18に記載の方法。
  20. 前記マスク領域(104)は、絶縁体および金属から選択される少なくとも1つの材料を含む、請求項18に記載の方法。
  21. 前記複数のナノ構造(108)は、AlN、GaNおよびAlGaNから選択される少なくとも1つの材料を含み、前記複数のナノ構造(108)の前記材料は、前記活性層(112)の前記材料と異なる、請求項18に記載の方法。
  22. 前記ナノ構造(108)は、プリズム、ナノワイヤ、およびメサから選択される三次元形状を有する、請求項18に記載の方法。
  23. 前記ナノ構造(108)は波形にされたリッジ(126)である、請求項18に記載の方法。
  24. 前記ナノ構造(108)は、それらが形成される前記基板(102)の上表面に対して約40度から約90度の範囲の角度を有する少なくとも1つの面を備える、請求項18に記載の方法。
  25. 前記活性層(112)はAlGa(1−x)Nを含み、xは0.5から約0.9の範囲である、請求項18に記載の方法。
  26. 前記活性層(112)は、約1nmから約2000nmの範囲の厚さを有する、請求項18に記載の方法。
  27. 前記pドープ層はp型ドーパントを含み、前記方法は、分極ドーピング技術によって前記p型ドーパントを導入するステップをさらに含む、請求項18に記載の方法。
  28. 前記基板(102)を除去し、それを第2の基板と交換するステップをさらに含む、請求項18に記載の方法。
  29. 表面を消毒する方法であって、前記方法は、
    前記表面を発光装置(100)から放出されるUVC放射線と接触させるステップであって、前記発光装置(100)は、
    基板(102)と、
    前記基板(102)上の複数のマスク領域(104)を備えるパターン化された層であって、前記基板(102)の露出部分(106)が前記マスク領域(104)間に配置されている、パターン化された層と、
    前記基板(102)の前記露出部分(106)上および前記マスク領域(104)の上に配置された複数のナノ構造(108)であって、前記複数のナノ構造(108)が単結晶半導体であり、コア先端(110)を備える、複数のナノ構造(108)と、
    前記複数のナノ構造(108)の上に配置された活性層(112)であって、前記活性層(112)が量子井戸構造であり、AlN、AlGaN、およびGaNから選択された少なくとも1つの材料を含む、活性層(112)と、
    前記活性層(112)の上に配置されたpドープ層であって、前記活性層(112)および前記pドープ層は両方とも、前記コア先端(110)の上にエミッタ先端(118)を形成するように前記複数のナノ構造(108)に共形である、pドープ層と
    を備える、ステップを含む、方法。
  30. 前記UVC放射線は、約200nmから約300nmの範囲の波長を有する、請求項29に記載の方法。
  31. 前記UVC放射線は、約200nmから250nm未満の範囲の波長を有する、請求項29に記載の方法。
JP2021037306A 2020-03-18 2021-03-09 発光装置およびその作成方法 Pending JP2021150646A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/822,512 2020-03-18
US16/822,512 US11271138B2 (en) 2020-03-18 2020-03-18 Light emitting device and method of making the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021150646A true JP2021150646A (ja) 2021-09-27

Family

ID=74858324

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021037306A Pending JP2021150646A (ja) 2020-03-18 2021-03-09 発光装置およびその作成方法

Country Status (4)

Country Link
US (2) US11271138B2 (ja)
EP (1) EP3882989B1 (ja)
JP (1) JP2021150646A (ja)
CN (1) CN113497166A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117153968B (zh) * 2023-10-30 2024-01-19 江西兆驰半导体有限公司 深紫外发光二极管外延片及其制备方法、深紫外led

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005031881A2 (en) 2003-09-30 2005-04-07 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Disinfecting lamp using ultra-violet light emitting diode
US8686396B2 (en) * 2007-05-08 2014-04-01 Nitek, Inc. Non-polar ultraviolet light emitting device and method for fabricating same
KR101964890B1 (ko) * 2011-07-12 2019-04-03 삼성전자주식회사 나노구조의 발광소자
US9705030B2 (en) * 2012-04-18 2017-07-11 Technische Universität Berlin UV LED with tunnel-injection layer
US20130313514A1 (en) * 2012-05-23 2013-11-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor light emitting device
US10079331B2 (en) 2013-03-15 2018-09-18 Glo Ab High index dielectric film to increase extraction efficiency of nanowire LEDs
KR102227771B1 (ko) 2014-08-25 2021-03-16 삼성전자주식회사 나노구조 반도체 발광소자
ES2901111T3 (es) 2015-07-13 2022-03-21 Crayonano As Diodos emisores de luz y fotodetectores en forma de nanohilos/nanopirámides

Also Published As

Publication number Publication date
US20210296531A1 (en) 2021-09-23
EP3882989B1 (en) 2024-01-31
EP3882989A1 (en) 2021-09-22
US11271138B2 (en) 2022-03-08
US20220158032A1 (en) 2022-05-19
US11769858B2 (en) 2023-09-26
CN113497166A (zh) 2021-10-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11594657B2 (en) Nanowires/nanopyramids shaped light emitting diodes and photodetectors
KR102461045B1 (ko) 그래핀 유형 기재 상에 성장된 나노와이어를 기반으로 하는 레이저 또는 led
US10461220B2 (en) Method of manufacturing a semiconductor device and a semiconductor device
TWI378569B (en) Photonic crystal light emitting device
US9070794B2 (en) Method for making light emitting diode
KR101154494B1 (ko) 질소면의 표면상의 구조물 제조를 통한 고효율 3족 질화물계 발광다이오드
US8981414B2 (en) Light emitting diode
Huang et al. Enhanced light output of an InGaN/GaN light emitting diode with a nano-roughened p-GaN surface
RU2569638C2 (ru) Светоизлучающий диод с наноструктурированным слоем и способы изготовления и применения
JP2008515180A (ja) テクスチャード発光ダイオード
CN102064471B (zh) 一种氮化镓基半导体激光器及其制作方法
JP2021150646A (ja) 発光装置およびその作成方法
US20070034858A1 (en) Light-emitting diodes with quantum dots
Kim et al. Enhanced light output power of GaN-based light emitting diodes with overcut sideholes formed by wet etching
Rishinaramangalam et al. Selective-area growth of III-nitride core-shell nanowalls for light-emitting and laser diodes
Jakhar Enhancing Light Extraction Efficiency Of GaN/InGaN Light Emitting Diode By Using Nano Structures…
KR20110096990A (ko) 반도체 소자의 패턴 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20240219