JP2021135340A - Liquid crystal display device - Google Patents

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弘幸 矢吹
Hiroyuki Yabuki
弘幸 矢吹
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Panasonic Liquid Crystal Display Co Ltd
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Abstract

To suppress the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of an inspection pad.SOLUTION: A liquid crystal display device comprises a display region X1, a signal line 11, a scan line 12, a supply region X2, a plurality of specific regions X3 and an inspection unit. The supply region X2 is arranged so as to surround the display region X1. The plurality of specific regions X3 divide the supply region X2 into at least two regions. The supply region X3 includes a source region X21 and a gate region X22. The inspection unit comprises: a plurality of inspection pads 61; and a wiring part 62 including first inspection wiring 621 connected with the signal line 11 and second inspection wiring 622 connected with the scan line 12. The plurality of inspection pads 61 are connected with the wiring part 62 through at least one of the plurality of specific regions X3.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本開示は、一般に、液晶表示装置に関する。より詳細には、本開示は、薄膜トランジスタを用いて液晶を駆動する液晶表示装置に関する。 The present disclosure generally relates to a liquid crystal display device. More specifically, the present disclosure relates to a liquid crystal display device that drives a liquid crystal display using a thin film transistor.

特許文献1には、液晶表示装置が開示されている。この液晶表示装置は、マトリクス状に配置した画素電極、それぞれの画素電極に接続された薄膜トランジスタ、複数の走査線及び信号線を備えるTFT基板と、カラーフィルタを備えるCF基板とを対向して配置し、両基板間に液晶を封入している。また液晶表示装置は、信号線及び走査線に信号を供給するドライバを備える。 Patent Document 1 discloses a liquid crystal display device. In this liquid crystal display device, a pixel electrode arranged in a matrix, a thin film transistor connected to each pixel electrode, a TFT substrate having a plurality of scanning lines and signal lines, and a CF substrate having a color filter are arranged so as to face each other. , A liquid crystal display is enclosed between both substrates. The liquid crystal display device also includes a driver that supplies signals to signal lines and scanning lines.

ここでこの液晶表示装置には、TFT基板の端子部において、液晶表示パネルの検査のための検査パッドが設けられている。そして、特許文献1には、検査パッドにプローブ等を接触させることにより、信号線や走査線等の検査を行うことができる点が記載されている。 Here, the liquid crystal display device is provided with an inspection pad for inspecting the liquid crystal display panel at the terminal portion of the TFT substrate. Further, Patent Document 1 describes that an inspection of a signal line, a scanning line, or the like can be performed by bringing a probe or the like into contact with the inspection pad.

特開2014−85424号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-85524

ところで、検査パッドを用いた液晶表示装置の検査において、ドライバを含む(信号の)供給領域の配置、及び供給領域の配線を考慮して、検査時の信頼性の更なる向上が望まれる。 By the way, in the inspection of the liquid crystal display device using the inspection pad, it is desired to further improve the reliability at the time of inspection in consideration of the arrangement of the supply area (of the signal) including the driver and the wiring of the supply area.

本開示は上記事由に鑑みてなされ、検査パッドを設けることによる断線等の製品不良の発生を抑えることができる、液晶表示装置を提供することを目的とする。 The present disclosure has been made in view of the above reasons, and an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device capable of suppressing the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of an inspection pad.

本開示の一態様の液晶表示装置は、映像信号に応じた映像を表示させる液晶表示装置である。前記液晶表示装置は、表示領域と、信号線と、走査線と、供給領域と、複数の特定領域と、検査部と、を備える。前記表示領域は、画素電極、及び前記画素電極に前記映像信号を伝送するトランジスタを有する。前記信号線は、前記表示領域の第1方向に長さを有し、前記トランジスタに電気的に接続される。前記走査線は、前記表示領域の、前記第1方向と交差する第2方向に長さを有し、前記トランジスタに電気的に接続される。前記供給領域は、前記表示領域の周囲を囲むように配置される。前記複数の特定領域は、前記供給領域を少なくとも2つの領域に分断する。前記検査部は、前記表示領域に検査用の電気信号を入力するための部位である。前記供給領域は、前記信号線にソース信号を供給するためのソース領域と、前記走査線にゲート信号を供給するためのゲート領域と、を含む。前記検査部は、複数の検査パッドと、前記信号線に接続される第1検査配線及び前記走査線に接続される第2検査配線を含む配線部と、を有する。前記複数の検査パッドは、前記複数の特定領域の少なくとも1つを通して、前記配線部と接続されている。 The liquid crystal display device of one aspect of the present disclosure is a liquid crystal display device that displays an image corresponding to an image signal. The liquid crystal display device includes a display area, a signal line, a scanning line, a supply area, a plurality of specific areas, and an inspection unit. The display area includes a pixel electrode and a transistor for transmitting the video signal to the pixel electrode. The signal line has a length in the first direction of the display region and is electrically connected to the transistor. The scanning line has a length in the second direction of the display region that intersects the first direction and is electrically connected to the transistor. The supply area is arranged so as to surround the display area. The plurality of specific regions divide the supply region into at least two regions. The inspection unit is a portion for inputting an electric signal for inspection into the display area. The supply region includes a source region for supplying a source signal to the signal line and a gate region for supplying a gate signal to the scanning line. The inspection unit includes a plurality of inspection pads and a wiring unit including a first inspection wiring connected to the signal line and a second inspection wiring connected to the scanning line. The plurality of inspection pads are connected to the wiring portion through at least one of the plurality of specific regions.

本開示によれば、検査パッドを設けることによる断線等の製品不良の発生を抑えることができる、という利点がある。 According to the present disclosure, there is an advantage that the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad can be suppressed.

図1は、一実施形態に係る液晶表示装置における第1基板の模式的な平面図である。FIG. 1 is a schematic plan view of a first substrate in the liquid crystal display device according to the embodiment. 図2は、同上の第1基板における上側のソース領域の要部拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view of a main part of the upper source region on the first substrate of the same. 図3は、同上の第1基板における左側のゲート領域の要部拡大図である。FIG. 3 is an enlarged view of a main part of the gate region on the left side of the first substrate of the same. 図4は、同上の液晶表示装置の概略平面図である。FIG. 4 is a schematic plan view of the liquid crystal display device of the above. 図5は、同上の液晶表示装置における表示パネルの全体構成を説明するための概念図である。FIG. 5 is a conceptual diagram for explaining the overall configuration of the display panel in the liquid crystal display device of the above. 図6は、同上の第1基板における供給領域及び特定領域に着目した概念図である。FIG. 6 is a conceptual diagram focusing on a supply region and a specific region in the same first substrate. 図7は、同上の特定領域に関する変形例を示す概念図である。FIG. 7 is a conceptual diagram showing a modified example of the same specific region. 図8は、同上の特定領域に関する別の変形例を示す概念図である。FIG. 8 is a conceptual diagram showing another modification of the same specific region. 図9は、同上の液晶表示装置における検査部の変形例を示す図であり、上側のソース領域の要部拡大図である。FIG. 9 is a diagram showing a modified example of the inspection unit in the liquid crystal display device of the above, and is an enlarged view of a main part of the upper source region. 図10は、同上の液晶表示装置における検査部の変形例を示す図であり、左側のゲート領域の要部拡大図である。FIG. 10 is a diagram showing a modified example of the inspection unit in the liquid crystal display device of the above, and is an enlarged view of a main part of the gate region on the left side. 図11は、同上の液晶表示装置における検査部の別の変形例を示す図であり、左側のゲート領域の要部拡大図である。FIG. 11 is a diagram showing another modification of the inspection unit in the liquid crystal display device of the above, and is an enlarged view of a main part of the gate region on the left side.

(1)概要
以下、本実施形態の液晶表示装置100(図4参照)について図面を参照して説明する。ただし、下記の実施形態は、本開示の様々な実施形態の一部に過ぎない。下記の実施形態は、本開示の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。また、下記の実施形態において説明する各図は、模式的な図であり、図中の各構成要素の大きさ及び厚さそれぞれの比が必ずしも実際の寸法比を反映しているとは限らない。
(1) Outline Hereinafter, the liquid crystal display device 100 (see FIG. 4) of the present embodiment will be described with reference to the drawings. However, the following embodiments are only part of the various embodiments of the present disclosure. The following embodiments can be variously modified according to the design and the like as long as the object of the present disclosure can be achieved. Further, each figure described in the following embodiment is a schematic view, and the ratio of the size and the thickness of each component in the figure does not necessarily reflect the actual dimensional ratio. ..

また、以下の説明では、液晶表示装置100を床若しくは机等の什器に載せ置いた、又は壁に掛けた状態で、液晶表示装置100を正面から見た場合の上下方向(垂直方向)及び左右方向(水平方向)に基づいて「上」、「下」、「左」、「右」を規定する。また、以下の説明では、液晶表示装置100の表示面10(図4参照)と直交する方向を前後方向として、手前側を「前」、奥側を「後」と規定する。なお、図面中の方向を示す矢印は説明のために表記しているに過ぎず、実体を伴わない。また、これらの方向の規定は、液晶表示装置100の使用態様を限定する趣旨ではない。 Further, in the following description, when the liquid crystal display device 100 is placed on a fixture such as a floor or a desk or hung on a wall, the liquid crystal display device 100 is viewed from the front in the vertical direction (vertical direction) and left and right. Define "top", "bottom", "left", and "right" based on the direction (horizontal direction). Further, in the following description, the direction orthogonal to the display surface 10 (see FIG. 4) of the liquid crystal display device 100 is defined as the front-rear direction, the front side is defined as "front", and the back side is defined as "rear". It should be noted that the arrows indicating the directions in the drawings are shown only for the sake of explanation and are not accompanied by an entity. Further, the provision of these directions is not intended to limit the usage mode of the liquid crystal display device 100.

本実施形態の液晶表示装置100は、映像信号に応じた映像を表示させるように構成される。液晶表示装置100は、TFT(Thin-Film-Transistor:薄膜トランジスタ)を用いて、アクティブマトリクス方式により液晶を駆動する装置である。液晶表示装置100は、例えばIPS(In-Plane Switching)方式により液晶を駆動することで、映像信号に応じた映像を表示面10に表示させる。 The liquid crystal display device 100 of the present embodiment is configured to display an image corresponding to an image signal. The liquid crystal display device 100 is a device that drives a liquid crystal display by an active matrix method using a TFT (Thin-Film-Transistor). The liquid crystal display device 100 drives the liquid crystal display by, for example, an IPS (In-Plane Switching) method, so that an image corresponding to the image signal is displayed on the display surface 10.

液晶表示装置100は、図5に示すように、第1基板1と、第2基板2と、液晶層3と、一対の偏光板4,5と、を備えている。第1基板1は、例えばガラス基板1A(図1参照)等の透明基板を含み、複数のトランジスタTR1(図1参照)が形成された、いわゆる「TFT基板」である。図1では、複数のトランジスタTR1のうち、表示領域X1を部分的に拡大して1個のトランジスタTR1のみを図示している。液晶層3は、第1基板1と、第2基板2と、の間に封止されている。 As shown in FIG. 5, the liquid crystal display device 100 includes a first substrate 1, a second substrate 2, a liquid crystal layer 3, and a pair of polarizing plates 4 and 5. The first substrate 1 is a so-called "TFT substrate" including a transparent substrate such as a glass substrate 1A (see FIG. 1) and having a plurality of transistors TR1 (see FIG. 1) formed therein. In FIG. 1, among a plurality of transistors TR1, only one transistor TR1 is illustrated by partially enlarging the display area X1. The liquid crystal layer 3 is sealed between the first substrate 1 and the second substrate 2.

第2基板2は、カラーフィルタ層が形成されたカラーフィルタ基板(いわゆる「CF基板」)である。カラーフィルタ層は、格子状に形成されたブラックマトリクスを有している。ブラックマトリクスにより囲まれる複数の開口部には、それぞれカラーフィルタが形成されている。本実施形態では、カラーフィルタは、RGBカラーモデルにおける赤色のフィルタと、緑色のフィルタと、青色のフィルタと、を有している。 The second substrate 2 is a color filter substrate (so-called “CF substrate”) on which a color filter layer is formed. The color filter layer has a black matrix formed in a grid pattern. A color filter is formed in each of the plurality of openings surrounded by the black matrix. In the present embodiment, the color filter has a red filter, a green filter, and a blue filter in the RGB color model.

一対の偏光板4,5は、例えば樹脂材料により形成されるシート状の偏光フィルムである。一対の偏光板4,5は、第1基板1の厚さ方向(前後方向)において第1基板1と、液晶層3と、第2基板2と、を挟んでいる。一対の偏光板4,5は、偏光方向が互いに直交するように配置されている。一対の偏光板4,5のうち第1基板1に隣接する(図5では、第1基板1の後ろ側にある)偏光板5には、バックライトからの光が入射する。なお、図5中の3本の矢印は、バックライトから出射する光を表している。 The pair of polarizing plates 4 and 5 are sheet-shaped polarizing films formed of, for example, a resin material. The pair of polarizing plates 4 and 5 sandwich the first substrate 1, the liquid crystal layer 3, and the second substrate 2 in the thickness direction (front-back direction) of the first substrate 1. The pair of polarizing plates 4 and 5 are arranged so that the polarization directions are orthogonal to each other. Of the pair of polarizing plates 4 and 5, the light from the backlight is incident on the polarizing plate 5 adjacent to the first substrate 1 (in FIG. 5, behind the first substrate 1). The three arrows in FIG. 5 represent the light emitted from the backlight.

ここで本実施形態の液晶表示装置100は、図1に示すように、表示領域X1と、信号線11と、走査線12と、供給領域X2と、複数の特定領域X3と、検査部6(図2及び図3参照)と、を備えている。ここでは、信号線11及び走査線12は、いずれも複数本であって、第1基板1に形成されている。 Here, as shown in FIG. 1, the liquid crystal display device 100 of the present embodiment includes a display area X1, a signal line 11, a scanning line 12, a supply area X2, a plurality of specific areas X3, and an inspection unit 6 ( (See FIGS. 2 and 3). Here, the signal lines 11 and the scanning lines 12 are both a plurality of lines and are formed on the first substrate 1.

表示領域X1は、画素電極PE1、及び画素電極PE1に映像信号を伝送するトランジスタTR1を有する。表示領域X1は、TFT基板である第1基板1における有効表示領域に相当し、映像が表示される表示面10(図4参照)に概ね対応する領域である。つまり、第1基板1が表示領域X1を備えている。ここでは、画素電極PE1及びトランジスタTR1はいずれも複数ある。 The display area X1 includes a pixel electrode PE1 and a transistor TR1 that transmits a video signal to the pixel electrode PE1. The display area X1 corresponds to an effective display area on the first substrate 1 which is a TFT substrate, and is an area generally corresponding to a display surface 10 (see FIG. 4) on which an image is displayed. That is, the first substrate 1 includes the display area X1. Here, there are a plurality of pixel electrodes PE1 and transistors TR1.

信号線11は、表示領域X1の第1方向D1に長さを有し、トランジスタTR1に電気的に接続される。第1方向D1は、表示領域X1及び表示面10に沿った方向であり、ここでは垂直方向(上下方向)に相当する。また複数の信号線11は、それぞれ複数のトランジスタTR1のうちの対応するトランジスタTR1のソースに電気的に接続されている。つまり、「信号線」は、「ソース線」ともいう。 The signal line 11 has a length in the first direction D1 of the display area X1 and is electrically connected to the transistor TR1. The first direction D1 is a direction along the display area X1 and the display surface 10, and corresponds to a vertical direction (vertical direction) here. Further, the plurality of signal lines 11 are electrically connected to the source of the corresponding transistor TR1 among the plurality of transistors TR1. That is, the "signal line" is also referred to as a "source line".

走査線12は、表示領域X1の、第1方向D1と交差する第2方向D2に長さを有し、トランジスタTR1に電気的に接続される。第2方向D2は、表示領域X1及び表示面10に沿った方向であり、ここでは水平方向(左右方向)に相当する。また複数の走査線12は、それぞれ複数のトランジスタTR1のうちの対応するトランジスタTR1のゲートに電気的に接続されている。つまり、「走査線」は、「ゲート線」ともいう。本実施形態では、図1に示すように、信号線11と走査線12(言い換えれば、第1方向D1と第2方向D2)とは互いに直交しているが、少なくとも互いに交差していればよい。 The scanning line 12 has a length in the second direction D2 intersecting the first direction D1 in the display area X1 and is electrically connected to the transistor TR1. The second direction D2 is a direction along the display area X1 and the display surface 10, and corresponds to a horizontal direction (horizontal direction) here. Further, the plurality of scanning lines 12 are electrically connected to the gate of the corresponding transistor TR1 of the plurality of transistors TR1. That is, the "scanning line" is also referred to as a "gate line". In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the signal line 11 and the scanning line 12 (in other words, the first direction D1 and the second direction D2) are orthogonal to each other, but at least they may intersect with each other. ..

供給領域X2は、図6に示すように、表示領域X1の周囲を囲むように配置される。供給領域X2は、信号線11にソース信号を供給するためのソース領域X21と、走査線12にゲート信号を供給するためのゲート領域X22と、を含む。ここでは一例として、供給領域X2は、COF(Chip On Film)の技術によって形成される領域である。供給領域X2は、液晶ドライバIC等を統合、集積化したフィルム状の基板(FPC:フレキシブルプリント配線板)が1又は複数で、第1基板1の本体(ガラス基板1A)上に取り付けられてなる。つまり、第1基板1が供給領域X2を備えている。 As shown in FIG. 6, the supply area X2 is arranged so as to surround the display area X1. The supply area X2 includes a source area X21 for supplying a source signal to the signal line 11 and a gate area X22 for supplying a gate signal to the scanning line 12. Here, as an example, the supply region X2 is a region formed by the technology of COF (Chip On Film). The supply area X2 includes one or more film-shaped substrates (FPC: flexible printed wiring boards) in which a liquid crystal driver IC or the like is integrated and integrated, and is mounted on the main body (glass substrate 1A) of the first substrate 1. .. That is, the first substrate 1 includes the supply region X2.

供給領域X2は、1又は複数のFPC基板200によって形成される領域に限定されず、供給領域X2の少なくとも一部が、第1基板1の本体に直接形成されてもよい。例えば液晶ドライバICが、COG(Chip On Glass)の技術によって第1基板1の本体に直接形成されてもよい。また、ドライバICの機能を有するシフトレジスタ等の回路が、GIP(Gate In Panel)の技術によって第1基板1の本体に直接実装されていてもよい。FPC基板200の形状、寸法及び数は、図1に図示される例に限定されない。図1では、ソースドライバ(ソース駆動部71)又はゲートドライバ(ゲート駆動部72)が設置される設置領域B1を模式的に矩形領域で示す。 The supply region X2 is not limited to the region formed by one or more FPC substrates 200, and at least a part of the supply region X2 may be formed directly on the main body of the first substrate 1. For example, the liquid crystal driver IC may be directly formed on the main body of the first substrate 1 by the technique of COG (Chip On Glass). Further, a circuit such as a shift register having a function of a driver IC may be directly mounted on the main body of the first substrate 1 by the technology of GIP (Gate In Panel). The shape, dimensions, and number of the FPC substrate 200 are not limited to the examples shown in FIG. In FIG. 1, the installation area B1 in which the source driver (source drive unit 71) or the gate driver (gate drive unit 72) is installed is schematically shown as a rectangular area.

複数の特定領域X3は、供給領域X2を少なくとも2つの領域に分断する。ここでは一例として、図6に示すように、4つの特定領域X3が設けられていて、供給領域X2を4つの区画領域に分断する。ここでは、第1基板1が4つの特定領域X3を備えている。 The plurality of specific regions X3 divide the supply region X2 into at least two regions. Here, as an example, as shown in FIG. 6, four specific regions X3 are provided, and the supply region X2 is divided into four compartment regions. Here, the first substrate 1 includes four specific regions X3.

検査部6は、表示領域X1に検査用の電気信号を入力するための部位である。ここでいう「検査」とは、例えば、ソース駆動部71又はゲート駆動部72等が、第1基板1の周縁部に取り付けられていない状態で、表示パネル102の点灯確認を行う検査を想定する。つまり、複数の信号線11及び走査線12のどこかに断線又は短絡等が発生していたり、複数のトランジスタTR1のどこかに故障が発生していたりすれば、表示面10が正常に点灯しないことになる。そこで、液晶表示装置100の製造工程において、例えば少なくとも液晶層3が第1基板1と第2基板2との間に封止された後の段階で、かつ比較的高価なドライバが実装される前の段階で、検査部6を用いて検査用の電気信号を入力する。そして、表示パネル102が正常に点灯するか否かを確認する。 The inspection unit 6 is a portion for inputting an electric signal for inspection into the display area X1. The term "inspection" as used herein assumes, for example, an inspection in which the lighting of the display panel 102 is confirmed when the source drive unit 71, the gate drive unit 72, or the like is not attached to the peripheral edge of the first substrate 1. .. That is, if a disconnection or short circuit occurs somewhere in the plurality of signal lines 11 and the scanning line 12, or a failure occurs somewhere in the plurality of transistors TR1, the display surface 10 does not light normally. It will be. Therefore, in the manufacturing process of the liquid crystal display device 100, for example, at least after the liquid crystal layer 3 is sealed between the first substrate 1 and the second substrate 2, and before the relatively expensive driver is mounted. At the stage of, the inspection unit 6 is used to input an electric signal for inspection. Then, it is confirmed whether or not the display panel 102 lights up normally.

ここで検査部6は、複数の検査パッド61と、信号線11に接続される第1検査配線621及び走査線12に接続される第2検査配線622を含む配線部62と、を有している。そして、複数の検査パッド61は、複数の特定領域X3の少なくとも1つを通して、配線部62と接続されている。 Here, the inspection unit 6 has a plurality of inspection pads 61, and a wiring unit 62 including a first inspection wiring 621 connected to the signal line 11 and a second inspection wiring 622 connected to the scanning line 12. There is. The plurality of inspection pads 61 are connected to the wiring portion 62 through at least one of the plurality of specific regions X3.

この構成によれば、配線部62が、供給領域X2内の他の配線と交差する箇所の数を減らすことができる。例えば、配線部62の引出線623(図2及び図3参照)が、ドライバ間を接続している配線(例えば電源線9)と交差する可能性を低減できる。ここでいう「交差」とは、例えば、表示領域X1の正面から見た場合に、配線部62の少なくとも一部が、供給領域X2内の他の配線と接触して重なり合っていることである。もし「交差」の発生箇所が増えると、短絡や断線等の製品不良が発生する原因となり得る。本実施形態では、複数の検査パッド61が、複数の特定領域X3の少なくとも1つを通して配線部62と接続されているため、結果的に、検査パッド61を設けることによる断線等の製品不良の発生を抑えることができる。さらに配線部62に断線が生じれば、正しく検査できない可能性があり、その点においても、検査時の信頼性の向上を図ることができる。 According to this configuration, the number of locations where the wiring portion 62 intersects with other wiring in the supply area X2 can be reduced. For example, it is possible to reduce the possibility that the leader line 623 (see FIGS. 2 and 3) of the wiring unit 62 intersects with the wiring (for example, the power supply line 9) connecting the drivers. The term "intersection" as used herein means that, for example, when viewed from the front of the display area X1, at least a part of the wiring portion 62 is in contact with and overlaps with other wiring in the supply area X2. If the number of places where "crossing" occurs increases, it may cause product defects such as short circuits and disconnections. In the present embodiment, since the plurality of inspection pads 61 are connected to the wiring portion 62 through at least one of the plurality of specific areas X3, as a result, product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pads 61 occur. Can be suppressed. Further, if the wiring portion 62 is broken, there is a possibility that the inspection cannot be performed correctly, and in that respect as well, the reliability at the time of inspection can be improved.

(2)詳細
以下、本実施形態の液晶表示装置100について、図1〜図8を参照しながら詳しく説明する。
(2) Details Hereinafter, the liquid crystal display device 100 of the present embodiment will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 8.

まず、液晶表示装置100の全体構成について説明する。液晶表示装置100は、図4に示すように、筐体101と、表示パネル102と、を備えている。表示パネル102は、「(1)概要」で述べた第1基板1と、第2基板2と、液晶層3と、一対の偏光板4,5と、を有しており(図5参照)、その一面(前面)が表示面10となっている。 First, the overall configuration of the liquid crystal display device 100 will be described. As shown in FIG. 4, the liquid crystal display device 100 includes a housing 101 and a display panel 102. The display panel 102 includes a first substrate 1, a second substrate 2, a liquid crystal layer 3, and a pair of polarizing plates 4 and 5 described in "(1) Overview" (see FIG. 5). One surface (front surface) thereof is the display surface 10.

筐体101は、正面から見て矩形枠状であって、表示パネル102を支持する。筐体101には、液晶表示装置100に外部から入力された映像信号に応じた映像を表示面10に表示させるための種々の回路が収容されている。筐体101は、表示パネル102の上方にある上枠部111と、表示パネル102の下方にある下枠部112と、表示パネル102の左方にある左枠部113と、表示パネル102の右方にある右枠部114と、で一体に構成されている。これら上枠部111、下枠部112、左枠部113、及び右枠部114で囲まれた開口部分に表示パネル102が配置されている。 The housing 101 has a rectangular frame shape when viewed from the front, and supports the display panel 102. The housing 101 includes various circuits for displaying on the display surface 10 an image corresponding to an image signal input from the outside to the liquid crystal display device 100. The housing 101 includes an upper frame portion 111 above the display panel 102, a lower frame portion 112 below the display panel 102, a left frame portion 113 on the left side of the display panel 102, and the right side of the display panel 102. It is integrally composed of the right frame portion 114 on the side. The display panel 102 is arranged in the opening portion surrounded by the upper frame portion 111, the lower frame portion 112, the left frame portion 113, and the right frame portion 114.

表示パネル102のうち第1基板1は、図1、図2及び図3に示すように、表示領域X1と、複数の信号線11と、複数の走査線12と、供給領域X2と、複数の特定領域X3と、検査部6と、を有している。図1は、第1基板1の模式的な平面図である。図1では、複数の信号線11及び複数の走査線12について、それぞれ簡易的に一部のみ(左隅、上隅及び下隅の数本のみ)を模式的に図示している。実際には多数の信号線11が第2方向D2において略等間隔に配置され、同様に多数の走査線12が第1方向D1において略等間隔に配置される。 As shown in FIGS. 1, 2 and 3, the first substrate 1 of the display panel 102 includes a display area X1, a plurality of signal lines 11, a plurality of scanning lines 12, a supply area X2, and a plurality of display areas X1. It has a specific area X3 and an inspection unit 6. FIG. 1 is a schematic plan view of the first substrate 1. In FIG. 1, only a part (only a few lines in the left corner, the upper corner, and the lower corner) of each of the plurality of signal lines 11 and the plurality of scanning lines 12 is schematically shown. In reality, a large number of signal lines 11 are arranged at substantially equal intervals in the second direction D2, and similarly, a large number of scanning lines 12 are arranged at substantially equal intervals in the first direction D1.

第1基板1は、液晶層3を間に介して、第2基板2と対向している。第1基板1の平面視における寸法は、第2基板2の平面視における寸法より大きい。第2基板2は、例えば、第1基板1の表示領域X1より大きく第1基板1の本体よりも小さい寸法で、形状については第1基板1の表示領域X1及び本体と概ね同じ形状である。 The first substrate 1 faces the second substrate 2 with the liquid crystal layer 3 in between. The dimensions of the first substrate 1 in a plan view are larger than the dimensions of the second substrate 2 in a plan view. The second substrate 2 has, for example, a size larger than the display area X1 of the first substrate 1 and smaller than the main body of the first substrate 1, and has substantially the same shape as the display area X1 of the first substrate 1 and the main body.

表示領域X1は、複数の画素電極PE1、及び複数の画素電極PE1にそれぞれ映像信号を伝送する複数のトランジスタTR1を有している。表示領域X1は、図6に示すように、第1方向D1に長さを有し互いに対向する一対の第1辺S1と、第2方向D2に長さを有し互いに対向する一対の第2辺S2とを含む四辺からなる、矩形領域である。ここでは表示領域X1は、全体として第2方向D2に長尺の矩形領域である。 The display area X1 has a plurality of pixel electrodes PE1 and a plurality of transistors TR1 for transmitting video signals to each of the plurality of pixel electrodes PE1. As shown in FIG. 6, the display area X1 has a pair of first sides S1 having a length in the first direction D1 and facing each other, and a pair of second sides having a length in the second direction D2 and facing each other. It is a rectangular area composed of four sides including the side S2. Here, the display area X1 is a rectangular area long in the second direction D2 as a whole.

供給領域X2は、図6に示すように、表示領域X1の周囲を囲むように配置される。図6は、図1の第1基板1の平面図を、3種類の領域(X1〜X3)に着目して模式化した図面である。供給領域X2は、ソース信号及びゲート信号をそれぞれ生成する複数の駆動部7(液晶ドライバ)を備えている。具体的には、供給領域X2は、ソース信号を生成する複数(図示例では12個)のソース駆動部71(ソースドライバ)と、ゲート信号を生成する複数(図示例では8個)のゲート駆動部72(ゲートドライバ)と、を備えている。複数の駆動部7は、複数のFPC基板200をそれぞれ介して、第1基板1の本体(ガラス基板1A)上に配置される。図1では、各FPC基板200の一部の図示を省略している。各FPC基板200の一端部は、第1基板1の本体上に接合され、不図示の他端部は、外部基板であるPWB(Printed Wiring Board)等に接合される。ここでは、各FPC基板200の一端部は、第1基板1の本体上に圧着されて、(後述する)第1配線81又は第2配線82の複数の接続部700(図2及び図3参照)と電気的に接続される。 As shown in FIG. 6, the supply area X2 is arranged so as to surround the display area X1. FIG. 6 is a schematic drawing of the plan view of the first substrate 1 of FIG. 1 focusing on three types of regions (X1 to X3). The supply region X2 includes a plurality of drive units 7 (liquid crystal drivers) that generate source signals and gate signals, respectively. Specifically, the supply region X2 includes a plurality of source drive units 71 (source drivers) that generate source signals (12 in the illustrated example) and a plurality of gate drives (8 in the illustrated example) that generate gate signals. A unit 72 (gate driver) is provided. The plurality of drive units 7 are arranged on the main body (glass substrate 1A) of the first substrate 1 via the plurality of FPC substrates 200, respectively. In FIG. 1, a part of each FPC board 200 is not shown. One end of each FPC board 200 is joined to the main body of the first board 1, and the other end (not shown) is joined to an external board such as a PWB (Printed Wiring Board). Here, one end of each FPC board 200 is crimped onto the main body of the first board 1, and a plurality of connection portions 700 (see FIGS. 2 and 3) of the first wiring 81 or the second wiring 82 (described later). ) And electrically connected.

ここでは供給領域X2は、図1及び図6に示すように、複数の信号線11にソース信号を供給するためのソース領域X21を上下一対と、複数の走査線12にゲート信号を供給するためのゲート領域X22を左右一対と、を含む。各ソース領域X21には、6個のソース駆動部71が配置される。また各ゲート領域X22には、4個のゲート駆動部72が配置される。なお、駆動部7の数は、特に限定されない。 Here, as shown in FIGS. 1 and 6, the supply region X2 is for supplying a pair of source regions X21 for supplying source signals to a plurality of signal lines 11 and a gate signal to a plurality of scanning lines 12. Gate region X22 includes a pair of left and right gate regions. Six source drive units 71 are arranged in each source region X21. Further, four gate driving units 72 are arranged in each gate area X22. The number of drive units 7 is not particularly limited.

各ソース領域X21は、ソース駆動部71と、ソース駆動部71と信号線11とを繋ぐ第1配線81と、を含む。ここでは各ソース領域X21に、ソース駆動部71及び第1配線81が、それぞれ複数ずつ(ここでは6個ずつ)設けられている。以下では、各ソース領域X21に配置される6個のソース駆動部71を、左から順に、それぞれソース駆動部711〜716と呼ぶことがある(図1参照)。ソース駆動部711〜716は、第2方向D2に沿って略等間隔で並んで配置される。 Each source region X21 includes a source driving unit 71 and a first wiring 81 connecting the source driving unit 71 and the signal line 11. Here, each of the source regions X21 is provided with a plurality of source drive units 71 and a plurality of first wirings 81 (6 in this case). In the following, the six source drive units 71 arranged in each source region X21 may be referred to as source drive units 711 to 716 in order from the left (see FIG. 1). The source drive units 711 to 716 are arranged side by side at substantially equal intervals along the second direction D2.

各第1配線81は、第1基板1のガラス基板1A上にパターニングにより形成された複数の導体部810を含む(図2参照)。なお、図2は、上側のソース領域X21におけるソース駆動部713及び714間の領域の拡大図である。複数の導体部810は、対応する複数の信号線11と一対一で電気的に接続されるように、表示領域X1に向かって傾斜して延びている(斜め配線)。 Each first wiring 81 includes a plurality of conductor portions 810 formed by patterning on the glass substrate 1A of the first substrate 1 (see FIG. 2). Note that FIG. 2 is an enlarged view of the region between the source drive units 713 and 714 in the upper source region X21. The plurality of conductor portions 810 are inclined and extended toward the display area X1 so as to be electrically connected to the corresponding plurality of signal lines 11 on a one-to-one basis (oblique wiring).

各ゲート領域X22は、ゲート駆動部72と、ゲート駆動部72と走査線12とを繋ぐ第2配線82と、を含む。ここでは各ゲート領域X22に、ゲート駆動部72及び第2配線82が、それぞれ複数ずつ(ここでは4個ずつ)設けられている。以下では、各ゲート領域X22に配置される4個のゲート駆動部72を、上から順に、それぞれゲート駆動部721〜724と呼ぶことがある(図1参照)。ゲート駆動部721〜724は、第1方向D1に沿って略等間隔で並んで配置される。 Each gate region X22 includes a gate drive unit 72 and a second wiring 82 that connects the gate drive unit 72 and the scanning line 12. Here, a plurality of gate drive units 72 and a plurality of second wirings 82 (here, four) are provided in each gate region X22. In the following, the four gate drive units 72 arranged in each gate area X22 may be referred to as gate drive units 721 to 724, respectively, in order from the top (see FIG. 1). The gate drive units 721 to 724 are arranged side by side at substantially equal intervals along the first direction D1.

各第2配線82は、第1基板1のガラス基板1A上にパターニングにより形成された複数の導体部820を含む(図3参照)。なお、図3は、左側のゲート領域X22におけるゲート駆動部722及び723間の領域の拡大図である。複数の導体部820は、対応する複数の走査線12と一対一で電気的に接続されるように、表示領域X1に向かって傾斜して延びている(斜め配線)。 Each second wiring 82 includes a plurality of conductor portions 820 formed by patterning on the glass substrate 1A of the first substrate 1 (see FIG. 3). Note that FIG. 3 is an enlarged view of the area between the gate drive units 722 and 723 in the gate area X22 on the left side. The plurality of conductor portions 820 are inclined and extended toward the display area X1 so as to be electrically connected to the corresponding plurality of scanning lines 12 on a one-to-one basis (oblique wiring).

ここでは、複数の信号線11は、表示領域X1のうち、上半分の領域に配置される複数の信号線11Aと、下半分の領域に配置される複数の信号線11Bとに分かれている(図1参照)。一対のソース領域X21のうち、上側のソース領域X21は、複数の信号線11Aにソース信号を供給し、下側のソース領域X21は、複数の信号線11Bにソース信号を供給する。言い換えると、ソース信号を生成する複数のソース駆動部71は、上下に分かれて配置される。 Here, the plurality of signal lines 11 are divided into a plurality of signal lines 11A arranged in the upper half area and a plurality of signal lines 11B arranged in the lower half area of the display area X1 (). (See FIG. 1). Of the pair of source regions X21, the upper source region X21 supplies the source signal to the plurality of signal lines 11A, and the lower source region X21 supplies the source signal to the plurality of signal lines 11B. In other words, the plurality of source drive units 71 that generate source signals are arranged separately in the upper and lower parts.

各信号線11は、図1に示すように、表示領域X1の第1方向D1(垂直方向)に長さを有している。複数の信号線11は、第2方向D2(水平方向)に略等間隔に並ぶように配置されている。各信号線11は、対応するトランジスタTR1のソースに電気的に接続されている。 As shown in FIG. 1, each signal line 11 has a length in the first direction D1 (vertical direction) of the display area X1. The plurality of signal lines 11 are arranged so as to be arranged at substantially equal intervals in the second direction D2 (horizontal direction). Each signal line 11 is electrically connected to the source of the corresponding transistor TR1.

ソース駆動部71は、IC(Integrated Circuit)チップである。12個のソース駆動部71は、例えば、筐体101の上枠部111及び下枠部112に、6個ずつに分かれて収容されている。ソース駆動部71は、各信号線11に例えば8ビット又は10ビットのビット幅を有する信号であるソース信号(映像信号)を出力する。 The source drive unit 71 is an IC (Integrated Circuit) chip. The twelve source drive units 71 are housed in, for example, the upper frame portion 111 and the lower frame portion 112 of the housing 101, each of which is divided into six parts. The source drive unit 71 outputs a source signal (video signal) which is a signal having a bit width of, for example, 8 bits or 10 bits to each signal line 11.

各走査線12は、図1に示すように、表示領域X1の第2方向D2(水平方向)に長さを有している。複数の走査線12は、第1方向D1(垂直方向)に略等間隔に並ぶように配置されている。各走査線12は、対応するトランジスタTR1のゲートに電気的に接続されている。 As shown in FIG. 1, each scanning line 12 has a length in the second direction D2 (horizontal direction) of the display area X1. The plurality of scanning lines 12 are arranged so as to be arranged at substantially equal intervals in the first direction D1 (vertical direction). Each scan line 12 is electrically connected to the gate of the corresponding transistor TR1.

ゲート駆動部72は、IC(Integrated Circuit)チップである。8個のゲート駆動部72は、例えば、筐体101の左枠部113及び右枠部114に、4個ずつに分かれて収容されている。ゲート駆動部72は、各走査線12に2値信号であるゲート信号(走査信号)を出力する。複数の走査線12は、左右のゲート駆動部72から交互にゲート信号が入力されるように、配線されている。 The gate drive unit 72 is an IC (Integrated Circuit) chip. The eight gate drive units 72 are housed in, for example, the left frame portion 113 and the right frame portion 114 of the housing 101, each of which is divided into four parts. The gate drive unit 72 outputs a gate signal (scanning signal) which is a binary signal to each scanning line 12. The plurality of scanning lines 12 are wired so that gate signals are alternately input from the left and right gate driving units 72.

各トランジスタTR1は、図1に示すように、対応する画素電極PE1に電気的に接続されているスイッチング素子である。各画素電極PE1は、液晶を介してコモン電極COM1(対向電極)と対向する。各トランジスタTR1は、対応する走査線12にハイレベルの走査信号が入力されている場合にオンし、ローレベルの走査信号が入力されている場合にオフする。対応するトランジスタTR1がオンである場合に、対応する信号線11に入力される映像信号が画素電極PE1に供給される。そして、画素領域では、供給される映像信号に応じて、副画素(サブピクセル:RGBの単色の各点)を透過する光の量が制御される。 As shown in FIG. 1, each transistor TR1 is a switching element electrically connected to the corresponding pixel electrode PE1. Each pixel electrode PE1 faces the common electrode COM1 (opposite electrode) via a liquid crystal display. Each transistor TR1 is turned on when a high-level scanning signal is input to the corresponding scanning line 12, and is turned off when a low-level scanning signal is input. When the corresponding transistor TR1 is on, the video signal input to the corresponding signal line 11 is supplied to the pixel electrode PE1. Then, in the pixel region, the amount of light transmitted through the sub-pixels (sub-pixels: each point of a single color of RGB) is controlled according to the supplied video signal.

具体的には、画素電極PE1は、対応するトランジスタTR1がオンである場合に、映像信号が入力される(つまり、電圧が印加される)と、入力された映像信号(所定の電位)が画素電極PE1に書き込まれ、液晶層3における画素電極PE1と対向する液晶を駆動する。すると、この液晶に対応する領域は、光が通過することを許容された状態となる。そして、バックライトからの光は、第1基板1及びこの液晶を通過し、この画素電極PE1と対応する第2基板2のカラーフィルタを通過して表示面10から出射する。これにより、表示面10における上記画素電極PE1と対応する副画素は、このカラーフィルタに応じた色の光が出射する。 Specifically, in the pixel electrode PE1, when the video signal is input (that is, a voltage is applied) when the corresponding transistor TR1 is on, the input video signal (predetermined potential) is pixelated. It is written on the electrode PE1 and drives the liquid crystal facing the pixel electrode PE1 in the liquid crystal layer 3. Then, the region corresponding to the liquid crystal display is in a state where light is allowed to pass through. Then, the light from the backlight passes through the first substrate 1 and the liquid crystal display, passes through the color filter of the second substrate 2 corresponding to the pixel electrode PE1, and is emitted from the display surface 10. As a result, the sub-pixels corresponding to the pixel electrode PE1 on the display surface 10 emit light of the color corresponding to the color filter.

その後、トランジスタTR1がオフされるが、画素電極PE1の電位は、書き込まれた映像信号に応じた電位で殆ど維持される。したがって、画素電極PE1と対応する副画素からは、次の映像信号が入力されるまで、現在の映像信号に応じた透過光を出射する。 After that, the transistor TR1 is turned off, but the potential of the pixel electrode PE1 is almost maintained at the potential corresponding to the written video signal. Therefore, from the sub-pixel corresponding to the pixel electrode PE1, transmitted light corresponding to the current video signal is emitted until the next video signal is input.

ところで、供給領域X2は、複数の駆動部7間において電源を供給するための電源線9(図1参照)を更に含む。電源線9は複数設けられている。なお、電源線9以外に、各種の制御信号を送信するための複数の配線も、電源線9と並走するように配置されている。以下では、電源線9と上記配線とを区別しない場合には「転送線L1」と呼ぶことがある(図1参照)。ここでいう「電源」とは、例えば、ソース駆動部71及びゲート駆動部72の制御電源を含む。制御電源を生成する電源部、及び上記制御信号を生成する制御部は、ソース領域X21のFPC基板200が接合されている外部基板(PWB等)に配置されている。ゲート領域X22の電力は、電源線9を介して、ソース領域X21から伝送されてくる。 By the way, the supply area X2 further includes a power supply line 9 (see FIG. 1) for supplying power between the plurality of drive units 7. A plurality of power supply lines 9 are provided. In addition to the power supply line 9, a plurality of wirings for transmitting various control signals are also arranged so as to run in parallel with the power supply line 9. Hereinafter, when the power supply line 9 and the above wiring are not distinguished, they may be referred to as “transfer line L1” (see FIG. 1). The “power supply” here includes, for example, a control power supply for the source drive unit 71 and the gate drive unit 72. The power supply unit that generates the control power supply and the control unit that generates the control signal are arranged on an external board (PWB or the like) to which the FPC board 200 of the source region X21 is joined. The power of the gate region X22 is transmitted from the source region X21 via the power supply line 9.

複数の転送線L1は、例えば、第1基板1の本体(ガラス基板1A)に直接パターン形成されている。 The plurality of transfer lines L1 are directly patterned on the main body (glass substrate 1A) of the first substrate 1, for example.

上下一対のソース領域X21における左端の2つのソース駆動部711は、複数の転送線L1を介して、左側のゲート領域X22における上端及び下端に位置する2つのゲート駆動部721及び724と電気的に接続されている。左側のゲート領域X22においても、転送線L1を介して、隣り合うゲート駆動部721とゲート駆動部722とが電気的に接続され、隣り合うゲート駆動部723とゲート駆動部724とが電気的に接続されている。ここで本実施形態では、左側のゲート領域X22において、ゲート駆動部722と、ゲート駆動部723とを電気的に接続する転送線L1が設けられていない。そのため、ゲート駆動部721、722は、上側のソース領域X21から電源供給を受け、ゲート駆動部723、724は、下側のソース領域X21から電源供給を受けるように構成される。 The two leftmost source drive units 711 in the pair of upper and lower source regions X21 are electrically connected to the two gate drive units 721 and 724 located at the upper and lower ends of the left gate region X22 via the plurality of transfer lines L1. It is connected. Also in the gate area X22 on the left side, the adjacent gate drive unit 721 and the gate drive unit 722 are electrically connected via the transfer line L1, and the adjacent gate drive unit 723 and the gate drive unit 724 are electrically connected. It is connected. Here, in the present embodiment, the transfer line L1 that electrically connects the gate drive unit 722 and the gate drive unit 723 is not provided in the gate region X22 on the left side. Therefore, the gate drive units 721 and 722 are configured to receive power supply from the upper source region X21, and the gate drive units 723 and 724 are configured to receive power supply from the lower source region X21.

同様に、上下一対のソース領域X21における右端の2つのソース駆動部716は、複数の転送線L1を介して、右側のゲート領域X22における上端及び下端に位置する2つのゲート駆動部721及び724と電気的に接続されている。右側のゲート領域X22においても、転送線L1を介して、隣り合うゲート駆動部721とゲート駆動部722とが電気的に接続され、隣り合うゲート駆動部723とゲート駆動部724とが電気的に接続されている。ここでも、右側のゲート領域X22において、ゲート駆動部722と、ゲート駆動部723とを電気的に接続する転送線L1が設けられていない。そのため、ゲート駆動部721、722は、上側のソース領域X21から電源供給を受け、ゲート駆動部723、724は、下側のソース領域X21から電源供給を受けるように構成される。 Similarly, the two source drive units 716 at the right end of the pair of upper and lower source regions X21 and the two gate drive units 721 and 724 located at the upper end and the lower end of the right gate region X22 via the plurality of transfer lines L1. It is electrically connected. Also in the gate area X22 on the right side, the adjacent gate drive unit 721 and the gate drive unit 722 are electrically connected via the transfer line L1, and the adjacent gate drive unit 723 and the gate drive unit 724 are electrically connected. It is connected. Again, in the gate area X22 on the right side, the transfer line L1 that electrically connects the gate drive unit 722 and the gate drive unit 723 is not provided. Therefore, the gate drive units 721 and 722 are configured to receive power supply from the upper source region X21, and the gate drive units 723 and 724 are configured to receive power supply from the lower source region X21.

なお、各ソース駆動部71は、自身が実装されるFPC基板200が接合されている外部基板(PWB等)から電源供給を受ける。したがって、隣り合う2つのソース駆動部71間には、転送線L1が設けられていない。ただし、2つのソース駆動部713及び714間を除く、2つのソース駆動部71間には、転送線L1が設けられてもよい。 Each source drive unit 71 receives power from an external board (PWB or the like) to which the FPC board 200 on which it is mounted is bonded. Therefore, the transfer line L1 is not provided between the two adjacent source drive units 71. However, a transfer line L1 may be provided between the two source drive units 71 except between the two source drive units 713 and 714.

複数の特定領域X3は、供給領域X2を少なくとも2つの領域に分断するように規定された領域である。本実施形態では、第1基板1は、図1及び図6に示すように、4つの特定領域X3を備えている。したがって、供給領域X2は、4つの領域に分断される形態となっている。複数の特定領域X3は、駆動部7(ソース駆動部71及びゲート駆動部72)、第1配線81、及び第2配線82のいずれもが配置されていない領域である。また本複数の特定領域X3は、電源線9も配置されていない領域である。ここでは複数の特定領域X3は、電源線9及び制御信号用の配線も配置されていない領域である。なお、特定領域X3の数は特に限定されない。供給領域X2及び4つの特定領域X3はいずれも、第1基板1と対向する第2基板2(CF基板)から、概ね露出した形態となる。 The plurality of specific regions X3 are regions defined so as to divide the supply region X2 into at least two regions. In the present embodiment, the first substrate 1 includes four specific regions X3 as shown in FIGS. 1 and 6. Therefore, the supply region X2 is divided into four regions. The plurality of specific areas X3 are areas in which none of the drive unit 7 (source drive unit 71 and gate drive unit 72), the first wiring 81, and the second wiring 82 is arranged. Further, the plurality of specific areas X3 are areas in which the power supply line 9 is not arranged. Here, the plurality of specific areas X3 are areas in which the power supply line 9 and the wiring for the control signal are not arranged. The number of specific regions X3 is not particularly limited. Both the supply region X2 and the four specific regions X3 are substantially exposed from the second substrate 2 (CF substrate) facing the first substrate 1.

4つの特定領域X3は、表示領域X1の四辺に、それぞれ対応するように配置される。具体的には、複数(4つ)の特定領域X3は、図6に示すように、供給領域X2を第1方向D1に分断するように一対の第1辺S1の側(外側)にそれぞれ配置された一対の領域(第1領域X31)を含む。 The four specific areas X3 are arranged so as to correspond to the four sides of the display area X1. Specifically, as shown in FIG. 6, the plurality (4) specific regions X3 are arranged on the side (outside) of the pair of first side S1 so as to divide the supply region X2 into the first direction D1. The pair of regions (first region X31) is included.

さらに複数(4つ)の特定領域X3は、図6に示すように、供給領域X2を第2方向D2に分断するように一対の第2辺S2の側(外側)にそれぞれ配置された一対の領域(第2領域X32)を含む。 Further, as shown in FIG. 6, the plurality (four) specific regions X3 are each arranged on the side (outside) of the pair of second sides S2 so as to divide the supply region X2 into the second direction D2. The region (second region X32) is included.

特に本実施形態では、各特定領域X3は、四辺のうち対応する辺の側(外側)における、その長さ方向の中央部C1に配置される。つまり、各第1領域X31は、一対の第1辺S1のうち対応する辺の外側におけるゲート領域X22を、その中央部C1で上下に分断するように規定される。同様に、各第2領域X32は、一対の第2辺S2のうち対応する辺の外側におけるソース領域X21を、その中央部C1で左右に分断するように規定される。 In particular, in the present embodiment, each specific region X3 is arranged at the central portion C1 in the length direction on the side (outside) of the corresponding side of the four sides. That is, each first region X31 is defined so that the gate region X22 outside the corresponding side of the pair of first sides S1 is vertically divided by the central portion C1 thereof. Similarly, each second region X32 is defined so that the source region X21 outside the corresponding side of the pair of second sides S2 is divided into left and right by the central portion C1 thereof.

ここでは各特定領域X3は、表示領域X1の正面視において、第1基板1の本体(ガラス基板1A)の外周縁よりも内側で、かつ第2基板2(カラーフィルタ基板)よりも外側にある領域である。 Here, each specific region X3 is inside the outer peripheral edge of the main body (glass substrate 1A) of the first substrate 1 and outside the second substrate 2 (color filter substrate) in the front view of the display region X1. The area.

各第1領域X31は、対応するゲート領域X22における(転送線L1が存在しない)ゲート駆動部722とゲート駆動部723との間に配置される。ここでは、図3に示すように、ゲート駆動部722に対応する第2配線82とゲート駆動部723に対応する第2配線82とが、第1方向D1において互いに所定の間隔を空けて配置されることで、第1領域X31を確保する。 Each first region X31 is arranged between the gate drive unit 722 (where the transfer line L1 does not exist) and the gate drive unit 723 in the corresponding gate region X22. Here, as shown in FIG. 3, the second wiring 82 corresponding to the gate drive unit 722 and the second wiring 82 corresponding to the gate drive unit 723 are arranged at predetermined intervals in the first direction D1. By doing so, the first region X31 is secured.

各第2領域X32は、対応するソース領域X21における(転送線L1が存在しない)ソース駆動部713とソース駆動部714との間に配置される。ここでは、図2に示すように、ソース駆動部713に対応する第1配線81とソース駆動部714に対応する第1配線81とが、第2方向D2において互いに所定の間隔を空けて配置されることで、第2領域X32を確保する。 Each second region X32 is arranged between the source drive unit 713 (where the transfer line L1 does not exist) and the source drive unit 714 in the corresponding source region X21. Here, as shown in FIG. 2, the first wiring 81 corresponding to the source drive unit 713 and the first wiring 81 corresponding to the source drive unit 714 are arranged at predetermined intervals in the second direction D2. By doing so, the second region X32 is secured.

検査部6は、表示領域X1の複数のトランジスタTR1に検査用の電気信号を入力して、点灯確認検査を行うための部位である。検査部6は、図2及び図3に示すように、複数の検査パッド61と、配線部62と、複数のスイッチング素子(例えばTFT:以下、「トランジスタTR2」と呼ぶ)とを有している。検査部6は、第1基板1の本体(ガラス基板1A)に形成されている。 The inspection unit 6 is a portion for inputting an electric signal for inspection to a plurality of transistors TR1 in the display area X1 and performing a lighting confirmation inspection. As shown in FIGS. 2 and 3, the inspection unit 6 has a plurality of inspection pads 61, a wiring unit 62, and a plurality of switching elements (for example, TFT: hereinafter referred to as “transistor TR2”). .. The inspection unit 6 is formed on the main body (glass substrate 1A) of the first substrate 1.

配線部62は、複数の入力線620からなる。複数の入力線620は、信号線11に接続される第1検査配線621、及び走査線12に接続される第2検査配線622を含む。第1検査配線621及び第2検査配線622はそれぞれ複数設けられている。第1検査配線621は、図1に示すように、表示領域X1の上縁及び下縁(一対の第2辺S2)の各々の外側近傍において、当該縁に沿うように、つまり、第2方向D2に沿うように、パターン形成されている。第2検査配線622は、図1に示すように、表示領域X1の左縁及び右縁(一対の第1辺S1)の各々の外側近傍において、当該縁に沿うように、つまり、第1方向D1に沿うように、パターン形成されている。 The wiring unit 62 includes a plurality of input lines 620. The plurality of input lines 620 include a first inspection wiring 621 connected to the signal line 11 and a second inspection wiring 622 connected to the scanning line 12. A plurality of the first inspection wiring 621 and the second inspection wiring 622 are provided. As shown in FIG. 1, the first inspection wiring 621 is provided along the outer edges of the upper edge and the lower edge (pair of second sides S2) of the display area X1 so as to be along the edges, that is, in the second direction. A pattern is formed along D2. As shown in FIG. 1, the second inspection wiring 622 is provided along the outer edges of the left edge and the right edge (pair of first side S1) of the display area X1 so as to be along the edge, that is, in the first direction. A pattern is formed along D1.

また複数の入力線620は、複数の引出線623(図2及び図3参照)を更に含む。各引出線623は、対応する検査パッド61(の入力端624)と第1検査配線621又は第2検査配線622とを電気的に接続する。ここで配線部62は、図2及び図3に示すように、複数のトランジスタTR2を介して、複数の信号線11又は走査線12と接続されている。検査を行う時にはトランジスタTR2をオンさせることで配線部62と信号線11又は走査線12とを導通させて、検査を行わない時にはトランジスタTR2をオフさせることで配線部62と信号線11及び走査線12とを非導通させる。各引出線623は、表示領域X1から離れる方向に延出するように、パターン形成されている。 The plurality of input lines 620 further includes a plurality of leader lines 623 (see FIGS. 2 and 3). Each leader line 623 electrically connects the corresponding inspection pad 61 (input end 624) to the first inspection wiring 621 or the second inspection wiring 622. Here, as shown in FIGS. 2 and 3, the wiring unit 62 is connected to a plurality of signal lines 11 or scanning lines 12 via a plurality of transistors TR2. When the inspection is performed, the transistor TR2 is turned on to make the wiring unit 62 and the signal line 11 or the scanning line 12 conductive, and when the inspection is not performed, the transistor TR2 is turned off to make the wiring unit 62, the signal line 11 and the scanning line conductive. 12 is made non-conducting. Each leader line 623 is patterned so as to extend in a direction away from the display area X1.

本実施形態では、4つの検査パッド61が第1基板1に設けられている。特に4つの検査パッド61は、上述した4つの特定領域X3にそれぞれ配置されている。 In this embodiment, four inspection pads 61 are provided on the first substrate 1. In particular, the four inspection pads 61 are arranged in the four specific regions X3 described above, respectively.

また各第1領域X31に配置される検査パッド61は、例えば7個の入力端624を有している。ただし、7個の入力端624のうち中央にある1個(コモン端624P)は、検査時のコモン電位入力用であり、2個(入力端624B、624E)は、トランジスタTR2のゲートに接続されるゲート配線用である。そして、それ以外の4個の入力端624が、複数の引出線623及びトランジスタTR2を介して、複数の走査線12と電気的に接続されている。なお、コモン端624Pは、例えば表示領域X1の周囲の領域(額縁部)にあるコモン配線(図3では不図示)と電気的に接続されている。 Further, the inspection pad 61 arranged in each first region X31 has, for example, seven input terminals 624. However, one of the seven input ends 624 in the center (common end 624P) is for common potential input at the time of inspection, and two (input ends 624B, 624E) are connected to the gate of the transistor TR2. For gate wiring. The other four input terminals 624 are electrically connected to the plurality of scanning lines 12 via the plurality of leader lines 623 and the transistor TR2. The common end 624P is electrically connected to, for example, a common wiring (not shown in FIG. 3) in a region (frame portion) around the display region X1.

各第2領域X32に配置される検査パッド61は、例えば14個の入力端624を有している。14個の入力端624のうち2個(入力端624M)は、トランジスタTR2のゲートに接続されるゲート配線用である。そして、それ以外の12個は、複数の引出線623及びトランジスタTR2を介して、複数の信号線11と電気的に接続されている。 The inspection pad 61 arranged in each second region X32 has, for example, 14 input terminals 624. Two of the 14 input terminals 624 (input terminal 624M) are for gate wiring connected to the gate of the transistor TR2. The other 12 are electrically connected to the plurality of signal lines 11 via the plurality of leader lines 623 and the transistor TR2.

本実施形態では、上述の通り、コモン端624Pが第1領域X31の検査パッド61に設けられている。しかし、コモン端624Pは、第1領域X31及び第2領域X32のうち少なくとも一方の検査パッド61に設けられていればよく、例えば第1領域X31及び第2領域X32の両方の検査パッド61に設けられてもよい。 In the present embodiment, as described above, the common end 624P is provided on the inspection pad 61 of the first region X31. However, the common end 624P may be provided on at least one inspection pad 61 of the first region X31 and the second region X32, for example, provided on both inspection pads 61 of the first region X31 and the second region X32. May be done.

ここで各第1領域X31に配置される検査パッド61の7つの入力端624(図3参照)のうち、上3つの入力端624(624A、624B、624C)は、図6に示す表示領域X1の上下方向における中央線(破線F1)より上側にある複数の走査線12に対応する。なお、破線F1は、仮想的な線であり、実体を伴う線ではない。本実施形態では、各第1領域X31の検査パッド61は、図3に示すように、上下対称をなすように配置されている。 Here, of the seven input ends 624 (see FIG. 3) of the inspection pad 61 arranged in each first area X31, the upper three input ends 624 (624A, 624B, 624C) are the display areas X1 shown in FIG. Corresponds to a plurality of scanning lines 12 above the center line (broken line F1) in the vertical direction of. The broken line F1 is a virtual line, not a line with an entity. In the present embodiment, the inspection pads 61 of each first region X31 are arranged so as to be vertically symmetrical as shown in FIG.

具体的には上3つの入力端624において、入力端624Aは、図3に示すように、上側の複数の走査線12のうち、例えば上から偶数番目(2番目、4番目・・・)の走査線12と、第2検査配線622(622A)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。入力端624Aは、偶数番目の走査線12に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、偶数番目の走査線12のうち対応する走査線12と電気的に接続されている。 Specifically, in the upper three input terminals 624, the input terminal 624A is, for example, an even number (second, fourth, ...) From the top among the plurality of upper scanning lines 12 as shown in FIG. It is electrically connected to the scanning line 12 via the second inspection wiring 622 (622A) and the transistor TR2. The input end 624A is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the even-numbered scanning lines 12, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the corresponding scanning lines of the even-numbered scanning lines 12. It is electrically connected to 12.

入力端624Bは、図3に示すように、上側の走査線12に対応する複数のトランジスタTR2のゲートと、第2検査配線622(622B)を介して、電気的に接続されている。要するに、検査時には入力端624Bを介して上側の走査線12に対応するトランジスタTR2をオンに切り替える。 As shown in FIG. 3, the input terminal 624B is electrically connected to the gates of a plurality of transistors TR2 corresponding to the upper scanning line 12 via the second inspection wiring 622 (622B). In short, at the time of inspection, the transistor TR2 corresponding to the upper scanning line 12 is switched on via the input terminal 624B.

また入力端624Cは、図3に示すように、上側の複数の走査線12のうち、例えば上から奇数番目(1番目、3番目・・・)の走査線と、第2検査配線622(622C)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。入力端624Cは、奇数番目の走査線12に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、奇数番目の走査線12のうち対応する走査線12と電気的に接続されている。 Further, as shown in FIG. 3, the input terminal 624C has, for example, an odd-numbered (first, third, ...) scanning line from the top among the plurality of scanning lines 12 on the upper side, and a second inspection wiring 622 (622C). ) And the transistor TR2 are electrically connected. The input end 624C is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the odd-numbered scanning lines 12, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the corresponding scanning lines of the odd-numbered scanning lines 12. It is electrically connected to 12.

一方、各第1領域X31に配置される検査パッド61の7つの入力端624のうち、下3つの入力端624(624D、624E、624F)は、図6に示す破線F1より下側にある複数の走査線12に対応する。 On the other hand, of the seven input ends 624 of the inspection pad 61 arranged in each first region X31, the lower three input ends 624 (624D, 624E, 624F) are located below the broken line F1 shown in FIG. Corresponds to the scanning line 12 of.

具体的には下3つの入力端624において、入力端624Dは、図3に示すように、下側の複数の走査線12のうち、例えば上から偶数番目(2番目、4番目・・・)の走査線12と、第2検査配線622(622D)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。入力端624Dは、偶数番目の走査線12に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、偶数番目の走査線12のうち対応する走査線12と電気的に接続されている。 Specifically, at the lower three input terminals 624, the input terminal 624D is, for example, an even number (second, fourth, etc.) from the top among the plurality of lower scanning lines 12 as shown in FIG. Is electrically connected to the scanning line 12 of the above via the second inspection wiring 622 (622D) and the transistor TR2. The input end 624D is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the even-numbered scanning lines 12, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the corresponding scanning lines of the even-numbered scanning lines 12. It is electrically connected to 12.

入力端624Eは、図3に示すように、下側の走査線12に対応する複数のトランジスタTR2のゲートと、第2検査配線622(622E)を介して、電気的に接続されている。要するに、検査時には入力端624Eを介して下側の走査線12に対応するトランジスタTR2をオンに切り替える。 As shown in FIG. 3, the input terminal 624E is electrically connected to the gates of a plurality of transistors TR2 corresponding to the lower scanning line 12 via the second inspection wiring 622 (622E). In short, at the time of inspection, the transistor TR2 corresponding to the lower scanning line 12 is switched on via the input terminal 624E.

また入力端624Fは、下側の複数の走査線12のうち、例えば上から奇数番目(1番目、3番目・・・)の走査線12と、第2検査配線622(622F)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。入力端624Fは、奇数番目の走査線12に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、奇数番目の走査線12のうち対応する走査線12と電気的に接続されている。 Further, the input terminal 624F has, for example, an odd-numbered (first, third, ...) scanning line 12 from the top, a second inspection wiring 622 (622F), and a transistor TR2 among the plurality of lower scanning lines 12. It is electrically connected via. The input end 624F is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the odd-numbered scanning lines 12, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the corresponding scanning lines of the odd-numbered scanning lines 12. It is electrically connected to 12.

また各第2領域X32に配置される検査パッド61の14個の入力端624(図2参照)のうち、左7個の入力端624(624G〜624M)は、図6に示す表示領域X1の左右方向における中央線(破線F2)より左側にある複数の信号線11に対応する。なお、破線F2は、仮想的な線であり、実体を伴う線ではない。本実施形態では、各第2領域X32の検査パッド61は、図2に示すように、左右対称をなすように配置されている。以下では、左7個の入力端624(624G〜624M)についてのみ詳細に説明し、右7個の入力端624(624G〜624M)については適宜に説明を省略する。 Of the 14 input ends 624 (see FIG. 2) of the inspection pad 61 arranged in each second area X32, the left 7 input ends 624 (624G to 624M) are the display areas X1 shown in FIG. It corresponds to a plurality of signal lines 11 on the left side of the center line (broken line F2) in the left-right direction. The broken line F2 is a virtual line, not a line with an entity. In the present embodiment, the inspection pads 61 of each second region X32 are arranged symmetrically as shown in FIG. In the following, only the left seven input ends 624 (624G to 624M) will be described in detail, and the right seven input ends 624 (624G to 624M) will be appropriately omitted.

具体的には入力端624Gは、図2に示すように、例えば、RGBの画素列のうち偶数番目(2番目、4番目・・・)のB(Blue)の画素列に対応する複数の信号線11(11A)と、第1検査配線621(621G)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。図2では、偶数番目のBの画素列に対応する複数の信号線11Aのうち1本のみを図示する。入力端624Gは、偶数番目のBの画素列に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、偶数番目のBの画素列の信号線11Aのうち対応する信号線11Aと電気的に接続されている。 Specifically, as shown in FIG. 2, the input terminal 624G has, for example, a plurality of signals corresponding to the even-numbered (second, fourth, ...) B (Blue) pixel sequence of the RGB pixel sequences. It is electrically connected to the wire 11 (11A) via the first inspection wiring 621 (621G) and the transistor TR2. In FIG. 2, only one of the plurality of signal lines 11A corresponding to the even-numbered B pixel sequence is shown. The input terminal 624G is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the even-numbered B pixel strings, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the signal lines 11A of the even-numbered B pixel strings. Of these, it is electrically connected to the corresponding signal line 11A.

入力端624Hは、図2に示すように、例えば、RGBの画素列のうち偶数番目(2番目、4番目・・・)のR(Red)の画素列に対応する複数の信号線11(11C)と、第1検査配線621(621H)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。図2では、偶数番目のRの画素列に対応する複数の信号線11Cのうち1本のみを図示する。入力端624Hは、偶数番目のRの画素列に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、偶数番目のRの画素列の信号線11Cのうち対応する信号線11Cと電気的に接続されている。 As shown in FIG. 2, the input terminal 624H has, for example, a plurality of signal lines 11 (11C) corresponding to even-numbered (second, fourth, ...) R (Red) pixel strings in the RGB pixel strings. ), And is electrically connected via the first inspection wiring 621 (621H) and the transistor TR2. In FIG. 2, only one of the plurality of signal lines 11C corresponding to the even-numbered R pixel sequence is shown. The input terminal 624H is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the even-numbered R pixel trains, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the signal lines 11C of the even-numbered R pixel trains. Of these, it is electrically connected to the corresponding signal line 11C.

入力端624Iは、図2に示すように、例えば、RGBの画素列のうち奇数番目(1番目、3番目・・・)のG(Green)の画素列に対応する複数の信号線11(11E)と、第1検査配線621(621I)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。図2では、奇数番目のGの画素列に対応する複数の信号線11Eのうち1本のみを図示する。入力端624Iは、奇数番目のGの画素列に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、奇数番目のGの画素列の信号線11Eのうち対応する信号線11Eと電気的に接続されている。 As shown in FIG. 2, the input terminal 624I has, for example, a plurality of signal lines 11 (11E) corresponding to the odd-numbered (first, third, ...) G (Green) pixel strings of the RGB pixel strings. ), And is electrically connected via the first inspection wiring 621 (621I) and the transistor TR2. In FIG. 2, only one of the plurality of signal lines 11E corresponding to the odd-numbered G pixel sequence is shown. The input terminal 624I is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the odd-numbered G pixel trains, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the signal lines 11E of the odd-numbered G pixel trains. Of these, it is electrically connected to the corresponding signal line 11E.

入力端624Jは、図2に示すように、例えば、RGBの画素列のうち偶数番目(2番目、4番目・・・)のG(Green)の画素列に対応する複数の信号線11(11B)と、第1検査配線621(621J)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。図2では、偶数番目のGの画素列に対応する複数の信号線11Bのうち1本のみを図示する。入力端624Jは、偶数番目のGの画素列に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、偶数番目のGの画素列の信号線11Bのうち対応する信号線11Bと電気的に接続されている。 As shown in FIG. 2, the input terminal 624J has, for example, a plurality of signal lines 11 (11B) corresponding to even-numbered (second, fourth, ...) G (Green) pixel strings in the RGB pixel strings. ), And is electrically connected via the first inspection wiring 621 (621J) and the transistor TR2. In FIG. 2, only one of the plurality of signal lines 11B corresponding to the even-numbered G pixel sequence is shown. The input terminal 624J is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the even-numbered G pixel strings, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the signal lines 11B of the even-numbered G pixel strings. Of these, it is electrically connected to the corresponding signal line 11B.

入力端624Kは、図2に示すように、例えば、RGBの画素列のうち奇数番目(1番目、3番目・・・)のB(Blue)の画素列に対応する複数の信号線11(11D)と、第1検査配線621(621K)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。図2では、奇数番目のBの画素列に対応する複数の信号線11Dのうち1本のみを図示する。入力端624Kは、奇数番目のBの画素列に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、奇数番目のBの画素列の信号線11Dのうち対応する信号線11Dと電気的に接続されている。 As shown in FIG. 2, the input terminal 624K has, for example, a plurality of signal lines 11 (11D) corresponding to the odd-numbered (first, third, ...) B (Blue) pixel strings of the RGB pixel strings. ), And is electrically connected via the first inspection wiring 621 (621K) and the transistor TR2. In FIG. 2, only one of the plurality of signal lines 11D corresponding to the odd-numbered B pixel sequence is shown. The input terminal 624K is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the odd-numbered B pixel trains, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the signal lines 11D of the odd-numbered B pixel trains. Of these, it is electrically connected to the corresponding signal line 11D.

入力端624Lは、図2に示すように、例えば、RGBの画素列のうち奇数番目(1番目、3番目・・・)のR(Red)の画素列に対応する複数の信号線11(11F)と、第1検査配線621(621L)及びトランジスタTR2を介して、電気的に接続される。図2では、奇数番目のRの画素列に対応する複数の信号線11Fのうち1本のみを図示する。入力端624Lは、奇数番目のRの画素列に対応する複数のトランジスタTR2のソースと電気的に接続され、当該複数のトランジスタTR2の各々のドレインは、奇数番目のRの画素列の信号線11Fのうち対応する信号線11Fと電気的に接続されている。 As shown in FIG. 2, the input terminal 624L has, for example, a plurality of signal lines 11 (11F) corresponding to the odd-numbered (first, third, ...) R (Red) pixel strings of the RGB pixel strings. ), And is electrically connected via the first inspection wiring 621 (621L) and the transistor TR2. In FIG. 2, only one of the plurality of signal lines 11F corresponding to the odd-numbered R pixel sequence is shown. The input terminal 624L is electrically connected to the sources of the plurality of transistors TR2 corresponding to the odd-numbered R pixel trains, and the drains of the plurality of transistors TR2 are the signal lines 11F of the odd-numbered R pixel trains. Of these, it is electrically connected to the corresponding signal line 11F.

図2では、説明の便宜上、合計12個の入力端624G〜624Lのうち奇数用の入力端624I,624K,624L(合計6個)をドットハッチングで図示する。なお、右6個の入力端624G〜624Lに関しては、入力端624G,624Kが、R(Red)の画素列に対応し、入力端624H,624Lが、B(Blue)の画素列に対応し、入力端624I,624Jが、G(Green)の画素列に対応する。 In FIG. 2, for convenience of explanation, out of a total of 12 input terminals 624G to 624L, odd-numbered input terminals 624I, 624K, and 624L (total of 6) are illustrated by dot hatching. Regarding the six input ends 624G to 624L on the right, the input ends 624G and 624K correspond to the pixel strings of R (Red), and the input ends 624H and 624L correspond to the pixel strings of B (Blue). The input terminals 624I and 624J correspond to the G (Green) pixel sequence.

左側の入力端624Mは、図2に示すように、左側の信号線11に対応する複数のトランジスタTR2のゲートと、第1検査配線621(621M)を介して、電気的に接続されている。要するに、検査時には入力端624Mを介して左側の信号線11に対応するトランジスタTR2をオンに切り替える。同様に、右側の入力端624Mは、右側の信号線11に対応するトランジスタTR2をオンに切り替える。 As shown in FIG. 2, the input terminal 624M on the left side is electrically connected to the gates of a plurality of transistors TR2 corresponding to the signal line 11 on the left side via the first inspection wiring 621 (621M). In short, at the time of inspection, the transistor TR2 corresponding to the signal line 11 on the left side is switched on via the input terminal 624M. Similarly, the input end 624M on the right side switches on the transistor TR2 corresponding to the signal line 11 on the right side.

なお、第1配線81は、第1検査配線621と接触しないように立体交差する構造(例えば無機膜等を間に介する構造等)で、信号線11と電気的に接続される。同様に、第2配線82は、第2検査配線622と接触しないように立体交差する構造で、走査線12と電気的に接続される。 The first wiring 81 has a structure that crosses over the first inspection wiring 621 so as not to come into contact with the first inspection wiring 621 (for example, a structure in which an inorganic film or the like is interposed), and is electrically connected to the signal line 11. Similarly, the second wiring 82 has a structure that crosses over the second inspection wiring 622 so as not to come into contact with the second inspection wiring 622, and is electrically connected to the scanning line 12.

このように本実施形態では、4つの検査パッド61は、4つの特定領域X3を通して、配線部62と接続されている。したがって、配線部62が、例えば転送線L1と交差する箇所の数を減らすことができる。結果的に、検査パッド61を設けることによる断線等の製品不良の発生を抑えることができる。また各特定領域X3が、表示領域X1の四辺のうち対応する辺の側(外側)における、その長さ方向の中央部C1に配置されていることで、例えば、検査用の配線に関する配線抵抗のバランス調整を行いやすくなる。 As described above, in the present embodiment, the four inspection pads 61 are connected to the wiring portion 62 through the four specific regions X3. Therefore, it is possible to reduce the number of locations where the wiring unit 62 intersects, for example, the transfer line L1. As a result, it is possible to suppress the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad 61. Further, since each specific area X3 is arranged at the central portion C1 in the length direction on the side (outside) of the corresponding side of the four sides of the display area X1, for example, the wiring resistance related to the wiring for inspection It becomes easier to adjust the balance.

特に本実施形態のように、ソース信号及びゲート信号をそれぞれ供給する複数の駆動部7が表示領域X1の四辺を囲むように上下左右それぞれに配置される場合、ゲート駆動部72への電源供給を行うための電源線9が表示領域X1の周囲に配置される可能性が高い。本実施形態の第1基板1は、電源線9に関して、各ゲート領域X22の複数のゲート駆動部72への電源供給を、上側のソース領域X21と下側のソース領域X21とで分担するように配線することで、第1領域X31を容易に確保できる構成となっている。同様に、ゲート駆動部72への制御信号の送信についても、上側のソース領域X21と下側のソース領域X21とで分担することで、第1領域X31を容易に確保できる構成となっている。結果的に、検査部6の配線部62が電源線9を含む転送線L1と交差しにくいように設けることができる。 In particular, as in the present embodiment, when a plurality of drive units 7 for supplying source signals and gate signals are arranged vertically and horizontally so as to surround the four sides of the display area X1, power is supplied to the gate drive unit 72. There is a high possibility that the power supply line 9 for performing the operation is arranged around the display area X1. In the first substrate 1 of the present embodiment, with respect to the power supply line 9, the power supply to the plurality of gate drive units 72 of each gate region X22 is shared by the upper source region X21 and the lower source region X21. By wiring, the first region X31 can be easily secured. Similarly, the transmission of the control signal to the gate drive unit 72 is also shared by the upper source region X21 and the lower source region X21, so that the first region X31 can be easily secured. As a result, the wiring unit 62 of the inspection unit 6 can be provided so as not to easily intersect the transfer line L1 including the power supply line 9.

ところで、ゲート駆動部72が実装されるFPC基板200を外部基板に接続して、そこから直接各ゲート駆動部72への電源供給及び制御信号の送信を行う構成も考えられる。しかし、その場合には、液晶表示装置100全体としての薄型化及び狭額縁化を図りにくくなったり、配線の煩雑化を招いたりする可能性がある。しかし、本実施形態では、転送線L1が第1基板1に配置されているため、本実施形態の構成により検査パッド61を設けることによる断線等の製品不良の発生を抑えることができる利点に加えて、薄型化及び狭額縁化等についても改善し得る。 By the way, a configuration is also conceivable in which the FPC board 200 on which the gate drive unit 72 is mounted is connected to an external board, and power is supplied and control signals are directly transmitted from the FPC board 200 to each gate drive unit 72. However, in that case, it may be difficult to reduce the thickness and the frame of the liquid crystal display device 100 as a whole, or the wiring may be complicated. However, in the present embodiment, since the transfer line L1 is arranged on the first substrate 1, in addition to the advantage that the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad 61 can be suppressed by the configuration of the present embodiment. Therefore, it is possible to improve the thinning and narrowing of the frame.

また本実施形態では、検査部6は、表示領域X1を4分割した領域について点灯確認できるように構成される。特に、各第2検査配線622は、奇数番目の複数の走査線12同士、又は偶数番目の複数の走査線12同士を束ねて接続され、各第1検査配線621は、奇数番目の複数の信号線11同士、又は偶数番目の複数の信号線11同士を束ねて接続されている。したがって、検査部6全体としての配線の数の増加を抑えつつも、検査可能なパターンの種類の低下を抑えることができ、検査精度の向上を図ることができる。 Further, in the present embodiment, the inspection unit 6 is configured so that the lighting of the display area X1 divided into four can be confirmed. In particular, each second inspection wiring 622 is connected by bundling a plurality of odd-numbered scanning lines 12 or even-numbered plurality of scanning lines 12, and each first inspection wiring 621 is connected to a plurality of odd-numbered signals. The lines 11 are connected to each other, or a plurality of even-numbered signal lines 11 are bundled and connected to each other. Therefore, while suppressing an increase in the number of wirings of the inspection unit 6 as a whole, it is possible to suppress a decrease in the types of patterns that can be inspected, and it is possible to improve the inspection accuracy.

また本実施形態では、複数の入力線620の各々は、表示領域X1の正面から見て、複数の入力線620における他の入力線620と交差をしないように配線されている。具体的には、各第2検査配線622は、表示領域X1の正面から見て、他の第2検査配線622、第1検査配線621及び引出線623と交差しないように、対応する引出線623と配線されている(図3参照)。また各第1検査配線621は、表示領域X1の正面から見て、他の第1検査配線621、第2検査配線622及び引出線623と交差しないように、対応する引出線623と接続されている(図2参照)。各引出線623は、他の引出線623、他の第1検査配線621、及び他の第2検査配線622と交差しないように、対応する第1検査配線621又は第2検査配線622と接続されている(図2及び図3参照)。したがって、検査パッド61を設けることによる断線等の製品不良の発生を更に抑えることができる。 Further, in the present embodiment, each of the plurality of input lines 620 is wired so as not to intersect with other input lines 620 in the plurality of input lines 620 when viewed from the front of the display area X1. Specifically, each second inspection wiring 622 corresponds to a leader line 623 so as not to intersect the other second inspection wiring 622, the first inspection wiring 621, and the leader line 623 when viewed from the front of the display area X1. (See Fig. 3). Further, each first inspection wiring 621 is connected to the corresponding leader wire 623 so as not to intersect with the other first inspection wiring 621, the second inspection wiring 622, and the leader wire 623 when viewed from the front of the display area X1. (See Fig. 2). Each leader 623 is connected to the corresponding first inspection wiring 621 or second inspection wiring 622 so as not to intersect the other leader 623, the other first inspection wiring 621, and the other second inspection wiring 622. (See FIGS. 2 and 3). Therefore, it is possible to further suppress the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad 61.

ところで、本実施形態の複数の特定領域X3は、それぞれ実装部間領域X4を含む(図2及び図3参照)。実装部間領域X4は、複数の駆動部7のうち、特定の隣り合う2つの駆動部7がそれぞれ実装される2つの実装部(ここではFPC基板200に相当)の間に配置される領域である。ここでは「特定の隣り合う2つの駆動部7」は、各ゲート領域X22のゲート駆動部722とゲート駆動部723とであり、また各ソース領域X21のソース駆動部713とソース駆動部714とである。なお、図2及び図3では、説明の便宜上、実装部間領域X4を一点鎖線で示しているが、実装部間領域X4の範囲を厳密に限定する趣旨で示すものではない。ここでは実装部間領域X4は、特定領域X3のうち、複数の接続部700寄りの領域である。 By the way, each of the plurality of specific regions X3 of the present embodiment includes an intermounting region X4 (see FIGS. 2 and 3). The intermounting unit area X4 is an area arranged between two mounting units (corresponding to the FPC board 200 in this case) on which two specific adjacent drive units 7 are mounted among a plurality of drive units 7. be. Here, the "specific two adjacent drive units 7" are the gate drive unit 722 and the gate drive unit 723 of each gate area X22, and the source drive unit 713 and the source drive unit 714 of each source area X21. be. In FIGS. 2 and 3, for convenience of explanation, the intermounting area X4 is indicated by a chain line, but it is not intended to strictly limit the range of the intermounting area X4. Here, the intermounting area X4 is an area of the specific area X3 near the plurality of connection units 700.

そして、複数の検査パッド61は、図2及び図3に示すように、実装部間領域X4を通して、配線部62と接続されている。したがって、駆動部7が実装部(FPC基板200)に実装される場合に、検査パッド61を設けることによる断線等の製品不良の発生を抑えることができる。 Then, as shown in FIGS. 2 and 3, the plurality of inspection pads 61 are connected to the wiring portion 62 through the intermounting portion area X4. Therefore, when the drive unit 7 is mounted on the mounting unit (FPC board 200), it is possible to suppress the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad 61.

検査は、例えば、液晶表示装置100の製造工程において、液晶層3が第1基板1と第2基板2との間に封止された後の段階で、かつ、比較的高価な駆動部7が実装されたFPC基板200が、第1基板1に接合される前の段階で行われる。要するに製造工程の途中段階の製品(中間製品)の検査を行う。検査者は、例えばプローブ等の先端を検査パッド61の電極部に当てて、検査用の電気信号を信号線11及び走査線12に入力し、中間製品を試験的に点灯させる。 The inspection is performed, for example, in the manufacturing process of the liquid crystal display device 100, at a stage after the liquid crystal layer 3 is sealed between the first substrate 1 and the second substrate 2, and the relatively expensive drive unit 7 is used. This is done before the mounted FPC board 200 is joined to the first board 1. In short, the product (intermediate product) in the middle of the manufacturing process is inspected. For example, the inspector puts the tip of a probe or the like on the electrode portion of the inspection pad 61, inputs an electric signal for inspection to the signal line 11 and the scanning line 12, and lights the intermediate product on a trial basis.

ここでは検査パッド61は、中間製品において、第2基板2(CF基板)の正面から見て、第2基板2よりも外側にあり、露出していることから、容易にプローブ等の先端を当てることができる。なお、検査部6の配線部62の少なくとも一部は、第2基板2の正面から見て、第2基板2よりも内側にあってもよい。 Here, in the intermediate product, the inspection pad 61 is outside the second substrate 2 when viewed from the front of the second substrate 2 (CF substrate) and is exposed, so that the tip of a probe or the like can be easily applied. be able to. At least a part of the wiring portion 62 of the inspection unit 6 may be inside the second substrate 2 when viewed from the front of the second substrate 2.

そして、もし点灯不良が発見された場合には、中間製品に対して次工程であるFPC基板200の接合工程を行わずに、その中間製品を例えば破棄する。 If a lighting defect is found, the intermediate product is discarded, for example, without performing the next step of joining the FPC substrate 200 to the intermediate product.

なお、検査後において、検査部6の少なくとも一部を樹脂等の絶縁層で覆う工程が適用されてもよい。つまり、最終製品では、検査部6の少なくとも一部が絶縁層で覆われていてもよい。 After the inspection, a step of covering at least a part of the inspection unit 6 with an insulating layer such as resin may be applied. That is, in the final product, at least a part of the inspection unit 6 may be covered with an insulating layer.

(3)変形例
上記実施形態は、本開示の様々な実施形態の一つに過ぎない。上記実施形態は、本開示の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。以下、上記実施形態の変形例を列挙する。以下では、上記実施形態を「基本例」と呼ぶこともある。以下に説明する各変形例は、基本例又は他の変形例と適宜組み合わせて適用可能である。
(3) Modified Example The above embodiment is only one of various embodiments of the present disclosure. The above-described embodiment can be changed in various ways depending on the design and the like as long as the object of the present disclosure can be achieved. Hereinafter, modifications of the above embodiment will be listed. Hereinafter, the above embodiment may be referred to as a “basic example”. Each modification described below can be applied in combination with a basic example or another modification as appropriate.

基本例では、各特定領域X3は、表示領域X1の四辺のうち対応する辺の外側における中央部C1に配置されている。しかし、特定領域X3は、中央部C1に配置されることに限定されない。特定領域X3は、中央部C1からずれて配置されてもよい。例えば、図7に示すように、複数の特定領域X3のうちの少なくとも1つ(図7の例では全部)は、中央部C1寄りの領域R1に配置されてもよい。 In the basic example, each specific area X3 is arranged in the central portion C1 outside the corresponding side of the four sides of the display area X1. However, the specific region X3 is not limited to being arranged in the central portion C1. The specific region X3 may be arranged so as to deviate from the central portion C1. For example, as shown in FIG. 7, at least one of the plurality of specific regions X3 (all in the example of FIG. 7) may be arranged in the region R1 near the central portion C1.

特に基本例では、各ソース領域X21におけるソース駆動部71の数、並びに各ゲート領域X22におけるゲート駆動部72の数が、それぞれ偶数個であったため、中央部C1に特定領域X3を確保しやすい構成であった。しかし、各ソース領域X21におけるソース駆動部71の数、及び各ゲート領域X22におけるゲート駆動部72の数が、それぞれ奇数個であれば、中央部C1に駆動部7が配置される可能性が高い。その場合に、特定領域X3は、図7に示すように、中央部C1からずれて配置されてもよい。 In particular, in the basic example, since the number of source drive units 71 in each source area X21 and the number of gate drive units 72 in each gate area X22 are even numbers, it is easy to secure a specific area X3 in the central portion C1. Met. However, if the number of source drive units 71 in each source area X21 and the number of gate drive units 72 in each gate area X22 are odd, there is a high possibility that the drive unit 7 is arranged in the central portion C1. .. In that case, the specific region X3 may be arranged so as to deviate from the central portion C1 as shown in FIG.

或いは、図8に示すように、複数の特定領域X3のうちの少なくとも1つは、表示領域X1の四辺の角部C2に配置されてもよい。言い換えると、複数の特定領域X3は、四辺における4つの角部C2のうちのいずれか2つにそれぞれ配置された一対の領域X33を含んでもよい。検査部6の2つの検査パッド61が、一対の領域X33にそれぞれ形成されることで、検査用の配線に関する配線抵抗のバランス調整を行いやすくなる。図8の例では、特定領域X3の数が2つであり、その2つともが対角する角部C2に配置されている。そして、一対の領域X33が配置される角部C2には、転送線が配置されないことが望ましい。 Alternatively, as shown in FIG. 8, at least one of the plurality of specific areas X3 may be arranged at the corners C2 of the four sides of the display area X1. In other words, the plurality of specific regions X3 may include a pair of regions X33 arranged on any two of the four corners C2 on the four sides. By forming the two inspection pads 61 of the inspection unit 6 in each of the pair of regions X33, it becomes easy to adjust the balance of the wiring resistance related to the wiring for inspection. In the example of FIG. 8, the number of the specific regions X3 is two, and both of them are arranged at the diagonal corners C2. Then, it is desirable that the transfer line is not arranged at the corner portion C2 where the pair of regions X33 are arranged.

基本例の複数の入力端624(例えば2つの入力端624M:図2参照)は、図9に示すように、1つの入力端624Xに置き換えられてもよい。同様に、複数の入力端624(例えば624C及び624D:図3参照)は、図10に示すように、1つの入力端624Yに置き換えられてもよい。この場合、配線部62における引出線623の数を抑えることができる。結果的に、検査部6のための領域、例えば、検査パッド61を配置するための領域を確保しやすくなる。 The plurality of input ends 624 (for example, two input ends 624M: see FIG. 2) in the basic example may be replaced with one input end 624X as shown in FIG. Similarly, the plurality of input ends 624 (eg, 624C and 624D: see FIG. 3) may be replaced by one input end 624Y, as shown in FIG. In this case, the number of leader lines 623 in the wiring portion 62 can be suppressed. As a result, it becomes easy to secure an area for the inspection unit 6, for example, an area for arranging the inspection pad 61.

基本例では、駆動部7がFPC基板200に実装されていて、各検査パッド61は、図2及び図3に示すように、実装部間領域X4を通して、配線部62と接続されている。しかし、駆動部7は、FPC基板200を介さずに、第1基板1の本体に直接形成されてもよく、この場合、複数の検査パッド61は、端子間領域X5(図11参照)を通して、配線部62と接続されてもよい。端子間領域X5は、複数の駆動部7のうち、特定の隣り合う2つの駆動部7(図示例ではゲート駆動部722及び723)の接続端子701間に配置される領域であり、複数の特定領域X3は、端子間領域X5を含む。図11では、説明の便宜上、端子間領域X5を一点鎖線で示しているが、端子間領域X5の範囲を厳密に限定する趣旨で示すものではない。 In the basic example, the drive unit 7 is mounted on the FPC board 200, and each inspection pad 61 is connected to the wiring unit 62 through the intermounting area X4 as shown in FIGS. 2 and 3. However, the drive unit 7 may be formed directly on the main body of the first substrate 1 without passing through the FPC substrate 200. In this case, the plurality of inspection pads 61 pass through the inter-terminal region X5 (see FIG. 11). It may be connected to the wiring unit 62. The inter-terminal area X5 is an area arranged between the connection terminals 701 of two specific adjacent drive units 7 (gate drive units 722 and 723 in the illustrated example) among the plurality of drive units 7, and is a plurality of specific regions. The region X3 includes the inter-terminal region X5. In FIG. 11, for convenience of explanation, the inter-terminal region X5 is shown by a alternate long and short dash line, but it is not intended to strictly limit the range of the inter-terminal region X5.

図11は、左側のゲート領域X22におけるゲート駆動部722及び723間の領域を模式的に示す拡大図である。各駆動部7の複数の接続端子701(図11では2個のみ)は、第2配線82(又は第1配線81)と電気的に接続される。つまり、各検査パッド61は、端子間領域X5よりも外側に位置し、引出線623が端子間領域X5を跨ぐように配置される。したがって、検査パッド61が端子間領域X5よりも外側に配置される場合においても、検査パッド61を設けることによる断線等の製品不良の発生を更に抑えることができる。 FIG. 11 is an enlarged view schematically showing a region between the gate drive units 722 and 723 in the gate region X22 on the left side. The plurality of connection terminals 701 (only two in FIG. 11) of each drive unit 7 are electrically connected to the second wiring 82 (or the first wiring 81). That is, each inspection pad 61 is located outside the inter-terminal region X5, and the leader line 623 is arranged so as to straddle the inter-terminal region X5. Therefore, even when the inspection pad 61 is arranged outside the inter-terminal region X5, it is possible to further suppress the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad 61.

基本例では、各第2検査配線622は、奇数番目の複数の走査線12同士、又は偶数番目の複数の走査線12同士を束ねて接続され、各第1検査配線621は、RGBの色ごとでそれぞれ、奇数番目の複数の信号線11同士、又は偶数番目の複数の信号線11同士を束ねて接続されている。しかし、走査線12及び信号線11が奇数番目又は偶数番目という分け方で束ねられることに限定されない。例えば、信号線11は、RGBの色ごとだけで第1検査配線621で束ねられてもよい。そして、その分け方に応じて、第1検査配線621及び第2検査配線622の数も適宜に変更されてよい。 In the basic example, each second inspection wiring 622 is connected by bundling a plurality of odd-numbered scanning lines 12 or even-numbered plurality of scanning lines 12, and each first inspection wiring 621 is connected for each RGB color. The odd-numbered plurality of signal lines 11 are connected to each other, or the even-numbered plurality of signal lines 11 are bundled and connected to each other. However, the scanning line 12 and the signal line 11 are not limited to being bundled in an odd-numbered or even-numbered manner. For example, the signal lines 11 may be bundled by the first inspection wiring 621 only for each color of RGB. Then, the number of the first inspection wiring 621 and the second inspection wiring 622 may be appropriately changed according to the division method.

(4)まとめ
以上説明したように、第1の態様に係る液晶表示装置(100)は、映像信号に応じた映像を表示させる液晶表示装置である。液晶表示装置(100)は、表示領域(X1)と、信号線(11)と、走査線(12)と、供給領域(X2)と、複数の特定領域(X3)と、検査部(6)と、を備える。表示領域(X1)は、画素電極(PE1)、及び画素電極(PE1)に映像信号を伝送するトランジスタ(TR1)を有する。信号線(11)は、表示領域(X1)の第1方向(D1)に長さを有し、トランジスタ(TR1)に電気的に接続される。走査線(12)は、表示領域(X1)の、第1方向(D1)と交差する第2方向(D2)に長さを有し、トランジスタ(TR1)に電気的に接続される。供給領域(X2)は、表示領域(X1)の周囲を囲むように配置される。複数の特定領域(X3)は、供給領域(X2)を少なくとも2つの領域に分断する。検査部(6)は、表示領域(X1)に検査用の電気信号を入力するための部位である。供給領域(X2)は、信号線(11)にソース信号を供給するためのソース領域(X21)と、走査線(12)にゲート信号を供給するためのゲート領域(X22)と、を含む。検査部(6)は、複数の検査パッド(61)と、信号線(11)に接続される第1検査配線(621)及び走査線(12)に接続される第2検査配線(622)を含む配線部(62)と、を有する。複数の検査パッド(61)は、複数の特定領域(X3)の少なくとも1つを通して、配線部(62)と接続されている。第1の態様によれば、検査パッド(61)を設けることによる断線等の製品不良の発生を抑えることができる。
(4) Summary As described above, the liquid crystal display device (100) according to the first aspect is a liquid crystal display device that displays an image corresponding to an image signal. The liquid crystal display device (100) includes a display area (X1), a signal line (11), a scanning line (12), a supply area (X2), a plurality of specific areas (X3), and an inspection unit (6). And. The display area (X1) has a pixel electrode (PE1) and a transistor (TR1) for transmitting a video signal to the pixel electrode (PE1). The signal line (11) has a length in the first direction (D1) of the display region (X1) and is electrically connected to the transistor (TR1). The scanning line (12) has a length in the second direction (D2) of the display region (X1) and intersects the first direction (D1), and is electrically connected to the transistor (TR1). The supply area (X2) is arranged so as to surround the display area (X1). The plurality of specific regions (X3) divide the supply region (X2) into at least two regions. The inspection unit (6) is a portion for inputting an electric signal for inspection into the display area (X1). The supply region (X2) includes a source region (X21) for supplying a source signal to the signal line (11) and a gate region (X22) for supplying a gate signal to the scanning line (12). The inspection unit (6) has a plurality of inspection pads (61), a first inspection wiring (621) connected to the signal line (11), and a second inspection wiring (622) connected to the scanning line (12). It has a wiring portion (62) including the wiring portion (62). The plurality of inspection pads (61) are connected to the wiring portion (62) through at least one of the plurality of specific areas (X3). According to the first aspect, it is possible to suppress the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad (61).

第2の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第1の態様において、ソース領域(X21)は、ソース信号を生成するソース駆動部(71)と、ソース駆動部(71)と信号線(11)とを繋ぐ第1配線(81)と、を含む。ゲート領域(X22)は、ゲート信号を生成するゲート駆動部(72)と、ゲート駆動部(72)と走査線(12)とを繋ぐ第2配線(82)と、を含む。複数の特定領域(X3)は、ソース駆動部(71)、ゲート駆動部(72)、第1配線(81)、及び第2配線(82)のいずれもが配置されていない領域である。第2の態様によれば、配線部(62)が、第1配線(81)及び第2配線(82)と交差してしまう可能性が低減され、検査パッド(61)を設けることによる断線等の製品不良の発生を更に抑えることができる。 Regarding the liquid crystal display device (100) according to the second aspect, in the first aspect, the source region (X21) includes a source drive unit (71) for generating a source signal, a source drive unit (71), and a signal line ( The first wiring (81) connecting the 11) and the first wiring (81) are included. The gate region (X22) includes a gate drive unit (72) that generates a gate signal, and a second wiring (82) that connects the gate drive unit (72) and the scanning line (12). The plurality of specific regions (X3) are regions in which none of the source drive unit (71), the gate drive unit (72), the first wiring (81), and the second wiring (82) are arranged. According to the second aspect, the possibility that the wiring portion (62) intersects with the first wiring (81) and the second wiring (82) is reduced, and the disconnection due to the provision of the inspection pad (61) or the like is reduced. It is possible to further suppress the occurrence of product defects.

第3の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第1又は第2の態様において、供給領域(X2)は、各々がソース信号又はゲート信号のいずれかを生成する複数の駆動部(7)と、複数の駆動部(7)間において電源を供給するための電源線(9)と、を含む。複数の特定領域(X3)は、複数の駆動部(7)、及び電源線(9)のいずれもが配置されていない領域である。第3の態様によれば、配線部(62)が、電源線(9)と交差してしまう可能性が低減され、検査パッド(61)を設けることによる断線等の製品不良の発生を更に抑えることができる。 Regarding the liquid crystal display device (100) according to the third aspect, in the first or second aspect, the supply region (X2) is a plurality of drive units (7), each of which generates either a source signal or a gate signal. And a power supply line (9) for supplying power between the plurality of drive units (7). The plurality of specific areas (X3) are areas in which none of the plurality of drive units (7) and the power supply line (9) are arranged. According to the third aspect, the possibility that the wiring portion (62) intersects with the power supply line (9) is reduced, and the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad (61) is further suppressed. be able to.

第4の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第1の態様〜第3の態様のいずれか1つにおいて、表示領域(X1)は、矩形領域である。表示領域(X1)は、第1方向(D1)に長さを有し互いに対向する一対の第1辺(S1)と、第2方向(D2)に長さを有し互いに対向する一対の第2辺(S2)とを含む四辺からなる。複数の特定領域(X3)は、供給領域(X2)を第1方向(D1)に分断するように一対の第1辺(S1)の側にそれぞれ配置された一対の領域(X31)を含む。第4の態様によれば、例えば、一対の領域(X31)を通して、検査パッド(61)が、走査線(12)に接続される第2検査配線(622)と接続されることで、検査用の配線に関する配線抵抗の調整を行いやすくなる。 Regarding the liquid crystal display device (100) according to the fourth aspect, in any one of the first to third aspects, the display area (X1) is a rectangular area. The display area (X1) has a pair of first sides (S1) having lengths in the first direction (D1) and facing each other, and a pair of first sides (S1) having lengths in the second direction (D2) facing each other. It consists of four sides including two sides (S2). The plurality of specific regions (X3) include a pair of regions (X31) arranged on the side of the pair of first sides (S1) so as to divide the supply region (X2) into the first direction (D1). According to the fourth aspect, for example, the inspection pad (61) is connected to the second inspection wiring (622) connected to the scanning line (12) through the pair of regions (X31) for inspection. It becomes easier to adjust the wiring resistance related to the wiring.

第5の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第1〜第4の態様のいずれか1つにおいて、表示領域(X1)は、矩形領域である。表示領域(X1)は、第1方向(D1)に長さを有し互いに対向する一対の第1辺(S1)と、第2方向(D2)に長さを有し互いに対向する一対の第2辺(S2)とを含む四辺からなる。複数の特定領域(X3)は、供給領域(X2)を第2方向(D2)に分断するように一対の第2辺(S2)の側にそれぞれ配置された一対の領域(X32)を含む。第5の態様によれば、例えば、一対の領域(X32)を通して、検査パッド(61)が、信号線(11)に接続される第1検査配線(621)と接続されることで、検査用の配線に関する配線抵抗のバランス調整等を行いやすくなる。 Regarding the liquid crystal display device (100) according to the fifth aspect, in any one of the first to fourth aspects, the display area (X1) is a rectangular area. The display area (X1) has a pair of first sides (S1) having lengths in the first direction (D1) and facing each other, and a pair of first sides (S1) having lengths in the second direction (D2) facing each other. It consists of four sides including two sides (S2). The plurality of specific regions (X3) include a pair of regions (X32) arranged on the side of the pair of second sides (S2) so as to divide the supply region (X2) in the second direction (D2). According to the fifth aspect, for example, the inspection pad (61) is connected to the first inspection wiring (621) connected to the signal line (11) through the pair of regions (X32) for inspection. It becomes easier to adjust the balance of wiring resistance related to the wiring of.

第6の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第4又は第5の態様において、各特定領域(X3)は、四辺のうち対応する辺(S1、S2)の側における、その長さ方向の中央部(C1)又は中央部(C1)寄りの領域(R1)に配置される。第6の態様によれば、より検査用の配線に関する配線抵抗のバランス調整等を行いやすくなる。 Regarding the liquid crystal display device (100) according to the sixth aspect, in the fourth or fifth aspect, each specific region (X3) is in the length direction on the side of the corresponding side (S1, S2) of the four sides. It is arranged in the central portion (C1) or the region (R1) near the central portion (C1). According to the sixth aspect, it becomes easier to adjust the balance of the wiring resistance related to the wiring for inspection.

第7の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第6の態様において、各特定領域(X3)は、四辺のうち対応する辺(S1、S2)の側における、中央部(C1)に配置される。第7の態様によれば、更に検査用の配線に関する配線抵抗のバランス調整等を行いやすくなる。 Regarding the liquid crystal display device (100) according to the seventh aspect, in the sixth aspect, each specific area (X3) is arranged in the central portion (C1) on the side of the corresponding side (S1, S2) among the four sides. Will be done. According to the seventh aspect, it becomes easier to adjust the balance of the wiring resistance related to the wiring for inspection.

第8の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第1〜第7の態様のいずれか1つにおいて、表示領域(X1)は、矩形領域である。表示領域(X1)は、第1方向(D1)に長さを有し互いに対向する一対の第1辺(S1)と、第2方向(D2)に長さを有し互いに対向する一対の第2辺(S2)とを含む四辺からなる。複数の特定領域(X3)は、四辺における4つの角部(C2)のうちのいずれか2つにそれぞれ配置された一対の領域(X33)を含む。第8の態様によれば、検査部(6)のための領域、例えば、検査パッド(61)を配置するための領域を確保しやすくなる。 Regarding the liquid crystal display device (100) according to the eighth aspect, in any one of the first to seventh aspects, the display area (X1) is a rectangular area. The display area (X1) has a pair of first sides (S1) having lengths in the first direction (D1) and facing each other, and a pair of first sides (S1) having lengths in the second direction (D2) facing each other. It consists of four sides including two sides (S2). The plurality of specific regions (X3) include a pair of regions (X33) arranged at any two of the four corner portions (C2) on the four sides. According to the eighth aspect, it becomes easy to secure an area for the inspection unit (6), for example, an area for arranging the inspection pad (61).

第9の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第1〜第8の態様のいずれか1つにおいて、配線部(62)は、第1検査配線(621)及び第2検査配線(622)を含む複数の入力線(620)からなる。複数の入力線(620)の各々は、表示領域(X1)の正面から見て、複数の入力線(620)における他の入力線(620)と交差をしないように配線されている。第9の態様によれば、検査パッド(61)を設けることによる断線等の製品不良の発生を更に抑えることができる。 Regarding the liquid crystal display device (100) according to the ninth aspect, in any one of the first to eighth aspects, the wiring unit (62) is the first inspection wiring (621) and the second inspection wiring (622). Consists of a plurality of input lines (620) including. Each of the plurality of input lines (620) is wired so as not to intersect the other input lines (620) in the plurality of input lines (620) when viewed from the front of the display area (X1). According to the ninth aspect, it is possible to further suppress the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad (61).

第10の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第1〜第9の態様のいずれか1つにおいて、供給領域(X2)は、各々がソース信号又はゲート信号のいずれかを生成する複数の駆動部(7)を含む。複数の特定領域(X3)は、複数の駆動部(7)のうち、特定の隣り合う2つの駆動部(7)がそれぞれ実装される2つの実装部(FPC基板200)の間に配置される実装部間領域(X4)を含む。複数の検査パッド(61)は、実装部間領域(X4)を通して、配線部(62)と接続されている。第10の態様によれば、駆動部(7)が実装部(FPC基板200)に実装される場合に、検査パッド(61)を設けることによる断線等の製品不良の発生を更に抑えることができる。 With respect to the liquid crystal display device (100) according to the tenth aspect, in any one of the first to ninth aspects, the supply region (X2) is a plurality of each generating either a source signal or a gate signal. The drive unit (7) is included. The plurality of specific regions (X3) are arranged between two mounting units (FPC board 200) on which two specific adjacent drive units (7) are mounted among the plurality of drive units (7). Includes the intermounting area (X4). The plurality of inspection pads (61) are connected to the wiring unit (62) through the intermounting area (X4). According to the tenth aspect, when the drive unit (7) is mounted on the mounting unit (FPC board 200), it is possible to further suppress the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad (61). ..

第11の態様に係る液晶表示装置(100)に関して、第1〜第9の態様のいずれか1つにおいて、供給領域(X2)は、各々がソース信号又はゲート信号のいずれかを生成する複数の駆動部(7)を含む。複数の特定領域(X3)は、複数の駆動部(7)のうち、特定の隣り合う2つの駆動部(7)の接続端子(701)間に配置される端子間領域(X5)を含む。複数の検査パッド(61)は、端子間領域(X5)を通して、配線部(62)と接続されている。第11の態様によれば、検査パッド(61)が端子間領域(X5)よりも外側に配置される場合においても、検査パッド(61)を設けることによる断線等の製品不良の発生を更に抑えることができる。 With respect to the liquid crystal display device (100) according to the eleventh aspect, in any one of the first to ninth aspects, the supply region (X2) is a plurality of each generating either a source signal or a gate signal. The drive unit (7) is included. The plurality of specific regions (X3) include an inter-terminal region (X5) arranged between the connection terminals (701) of two specific adjacent drive units (7) among the plurality of drive units (7). The plurality of inspection pads (61) are connected to the wiring portion (62) through the inter-terminal region (X5). According to the eleventh aspect, even when the inspection pad (61) is arranged outside the inter-terminal region (X5), the occurrence of product defects such as disconnection due to the provision of the inspection pad (61) is further suppressed. be able to.

第2〜第11の態様に係る構成については、液晶表示装置(100)に必須の構成ではなく、適宜省略可能である。 The configuration according to the second to eleventh aspects is not an essential configuration for the liquid crystal display device (100) and can be omitted as appropriate.

100 液晶表示装置
11 信号線
12 走査線
6 検査部
61 検査パッド
62 配線部
620 入力線
621 第1検査配線
622 第2検査配線
7 駆動部
71 ソース駆動部
72 ゲート駆動部
701 接続端子
81 第1配線
82 第2配線
9 電源線
200 FPC基板(実装部)
C1 中央部
C2 角部
D1 第1方向
D2 第2方向
R1 (中央部寄りの)領域
S1 第1辺
S2 第2辺
X1 表示領域
X2 供給領域
X21 ソース領域
X22 ゲート領域
X3(X31、X32、X33) 特定領域
X4 実装部間領域
X5 端子間領域
PE1 画素電極
TR1 トランジスタ
100 Liquid crystal display 11 Signal line 12 Scan line 6 Inspection unit 61 Inspection pad 62 Wiring unit 620 Input line 621 1st inspection wiring 622 2nd inspection wiring 7 Drive unit 71 Source drive unit 72 Gate drive unit 701 Connection terminal 81 1st wiring 82 2nd wiring 9 Power line 200 FPC board (mounting part)
C1 Central part C2 Corner part D1 1st direction D2 2nd direction R1 (closer to the central part) area S1 1st side S2 2nd side X1 Display area X2 Supply area X21 Source area X22 Gate area X3 (X31, X32, X33) Specific area X4 Intermounting area X5 Terminal area PE1 Pixel electrode TR1 Transistor

Claims (11)

映像信号に応じた映像を表示させる液晶表示装置であって、
画素電極、及び前記画素電極に前記映像信号を伝送するトランジスタを有する表示領域と、
前記表示領域の第1方向に長さを有し、前記トランジスタに電気的に接続される信号線と、
前記表示領域の、前記第1方向と交差する第2方向に長さを有し、前記トランジスタに電気的に接続される走査線と、
前記表示領域の周囲を囲むように配置される供給領域と、
前記供給領域を少なくとも2つの領域に分断する複数の特定領域と、
前記表示領域に検査用の電気信号を入力するための検査部と、
を備え、
前記供給領域は、前記信号線にソース信号を供給するためのソース領域と、前記走査線にゲート信号を供給するためのゲート領域と、を含み、
前記検査部は、複数の検査パッドと、前記信号線に接続される第1検査配線及び前記走査線に接続される第2検査配線を含む配線部と、を有し、
前記複数の検査パッドは、前記複数の特定領域の少なくとも1つを通して、前記配線部と接続されている、
液晶表示装置。
A liquid crystal display device that displays images according to video signals.
A display region having a pixel electrode and a transistor for transmitting the video signal to the pixel electrode,
A signal line having a length in the first direction of the display region and electrically connected to the transistor,
A scanning line having a length in the second direction intersecting the first direction of the display region and electrically connected to the transistor.
A supply area arranged so as to surround the display area and
A plurality of specific regions that divide the supply region into at least two regions,
An inspection unit for inputting an electrical signal for inspection into the display area,
With
The supply region includes a source region for supplying a source signal to the signal line and a gate region for supplying a gate signal to the scanning line.
The inspection unit includes a plurality of inspection pads and a wiring unit including a first inspection wiring connected to the signal line and a second inspection wiring connected to the scanning line.
The plurality of inspection pads are connected to the wiring portion through at least one of the plurality of specific areas.
Liquid crystal display device.
前記ソース領域は、前記ソース信号を生成するソース駆動部と、前記ソース駆動部と前記信号線とを繋ぐ第1配線と、を含み、
前記ゲート領域は、前記ゲート信号を生成するゲート駆動部と、前記ゲート駆動部と前記走査線とを繋ぐ第2配線と、を含み、
前記複数の特定領域は、前記ソース駆動部、前記ゲート駆動部、前記第1配線、及び前記第2配線のいずれもが配置されていない領域である、
請求項1に記載の液晶表示装置。
The source region includes a source drive unit that generates the source signal, and a first wiring that connects the source drive unit and the signal line.
The gate region includes a gate drive unit that generates the gate signal and a second wiring that connects the gate drive unit and the scanning line.
The plurality of specific regions are regions in which none of the source drive unit, the gate drive unit, the first wiring, and the second wiring is arranged.
The liquid crystal display device according to claim 1.
前記供給領域は、各々が前記ソース信号又は前記ゲート信号のいずれかを生成する複数の駆動部と、前記複数の駆動部間において電源を供給するための電源線と、を含み、
前記複数の特定領域は、前記複数の駆動部、及び前記電源線のいずれもが配置されていない領域である、
請求項1又は請求項2に記載の液晶表示装置。
The supply region includes a plurality of drive units, each of which generates either the source signal or the gate signal, and a power supply line for supplying power between the plurality of drive units.
The plurality of specific regions are regions in which none of the plurality of drive units and the power supply line is arranged.
The liquid crystal display device according to claim 1 or 2.
前記表示領域は、前記第1方向に長さを有し互いに対向する一対の第1辺と、前記第2方向に長さを有し互いに対向する一対の第2辺とを含む四辺からなる、矩形領域であり、
前記複数の特定領域は、前記供給領域を前記第1方向に分断するように前記一対の第1辺の側にそれぞれ配置された一対の領域を含む、
請求項1〜3のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
The display area is composed of four sides including a pair of first sides having lengths in the first direction and facing each other and a pair of second sides having lengths in the second direction and facing each other. It is a rectangular area
The plurality of specific regions include a pair of regions arranged on the side of the pair of first sides so as to divide the supply region in the first direction.
The liquid crystal display device according to any one of claims 1 to 3.
前記表示領域は、前記第1方向に長さを有し互いに対向する一対の第1辺と、前記第2方向に長さを有し互いに対向する一対の第2辺とを含む四辺からなる、矩形領域であり、
前記複数の特定領域は、前記供給領域を前記第2方向に分断するように前記一対の第2辺の側にそれぞれ配置された一対の領域を含む、
請求項1〜4のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
The display area is composed of four sides including a pair of first sides having lengths in the first direction and facing each other and a pair of second sides having lengths in the second direction and facing each other. It is a rectangular area
The plurality of specific regions include a pair of regions arranged on the side of the pair of second sides so as to divide the supply region in the second direction.
The liquid crystal display device according to any one of claims 1 to 4.
各特定領域は、前記四辺のうち対応する辺の側における、その長さ方向の中央部又は前記中央部寄りの領域に配置される、
請求項4又は5に記載の液晶表示装置。
Each specific area is arranged in the central portion in the length direction or the region near the central portion on the side of the corresponding side of the four sides.
The liquid crystal display device according to claim 4 or 5.
各特定領域は、前記四辺のうち対応する辺の側における、前記中央部に配置される、
請求項6に記載の液晶表示装置。
Each specific area is arranged in the central portion on the side of the corresponding side of the four sides.
The liquid crystal display device according to claim 6.
前記表示領域は、前記第1方向に長さを有し互いに対向する一対の第1辺と、前記第2方向に長さを有し互いに対向する一対の第2辺とを含む四辺からなる、矩形領域であり、
前記複数の特定領域は、前記四辺における4つの角部のうちのいずれか2つにそれぞれ配置された一対の領域を含む、
請求項1〜7のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
The display area is composed of four sides including a pair of first sides having lengths in the first direction and facing each other and a pair of second sides having lengths in the second direction and facing each other. It is a rectangular area
The plurality of specific regions include a pair of regions arranged at any two of the four corners on the four sides.
The liquid crystal display device according to any one of claims 1 to 7.
前記配線部は、前記第1検査配線及び前記第2検査配線を含む複数の入力線からなり、
前記複数の入力線の各々は、前記表示領域の正面から見て、前記複数の入力線における他の入力線と交差をしないように配線されている、
請求項1〜8のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
The wiring unit includes a plurality of input lines including the first inspection wiring and the second inspection wiring.
Each of the plurality of input lines is wired so as not to intersect with other input lines in the plurality of input lines when viewed from the front of the display area.
The liquid crystal display device according to any one of claims 1 to 8.
前記供給領域は、各々が前記ソース信号又は前記ゲート信号のいずれかを生成する複数の駆動部を含み、
前記複数の特定領域は、前記複数の駆動部のうち、特定の隣り合う2つの駆動部がそれぞれ実装される2つの実装部の間に配置される実装部間領域を含み、
前記複数の検査パッドは、前記実装部間領域を通して、前記配線部と接続されている、
請求項1〜9のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
The supply region includes a plurality of drives, each of which produces either the source signal or the gate signal.
The plurality of specific regions include an inter-mounting unit region arranged between two mounting units on which two specific adjacent drive units are mounted among the plurality of drive units.
The plurality of inspection pads are connected to the wiring portion through the intermounting portion region.
The liquid crystal display device according to any one of claims 1 to 9.
前記供給領域は、各々が前記ソース信号又は前記ゲート信号のいずれかを生成する複数の駆動部を含み、
前記複数の特定領域は、前記複数の駆動部のうち、特定の隣り合う2つの駆動部の接続端子間に配置される端子間領域を含み、
前記複数の検査パッドは、前記端子間領域を通して、前記配線部と接続されている、
請求項1〜9のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
The supply region includes a plurality of drives, each of which produces either the source signal or the gate signal.
The plurality of specific regions include an inter-terminal region arranged between the connection terminals of two specific adjacent drive units among the plurality of drive units.
The plurality of inspection pads are connected to the wiring portion through the inter-terminal region.
The liquid crystal display device according to any one of claims 1 to 9.
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