JP2021134353A - ポリプロピレンフィルム、金属膜積層フィルムおよびフィルムコンデンサ - Google Patents
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Landscapes
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- Laminated Bodies (AREA)
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Abstract
Description
SpkA<SpkB
20nm≦SpkA≦100nm
80nm≦SpkB≦150nm
ここで、
SpkA:表面Aの突出山部高さ
SpkB:表面Bの突出山部高さ。
・溶融押出温度は、フィルター前、フィルター後、口金と多段式に低温化すること。
・ポリプロピレン樹脂Aのメソペンタッド分率が0.970以上であること。
・ポリプロピレン樹脂AのCXSが3.0質量%未満であること。
・縦延伸前に1.01倍以上1.10倍以下の予備延伸を行うこと。
・延伸の面積延伸倍率が65倍以上であること。
・幅方向の延伸倍率が11.0倍以上であること。
・幅方向の延伸前の予熱温度が幅方向の延伸温度+5〜+15℃であること。
・1段目の熱処理温度が、145℃以上165℃以下であり、かつ幅方向の延伸温度未満の温度であること。
・2段目の熱処理温度が、135℃以上1段目の熱処理温度未満であること。
・3段目の熱処理温度が、80℃以上2段目の熱処理温度未満であること。
・1段目の熱処理工程において、幅方向に2%以上20%以下の弛緩処理が施されていること。
本発明における特性値の測定方法、並びに効果の評価方法は次のとおりである。
ポリプロピレンフィルムの、無作為抽出した10箇所の厚みを、23℃65%RHの雰囲気下で接触式のアンリツ(株)製電子マイクロメータ(K−312A型)を用いて測定した。その10箇所の厚みの算術平均値をポリプロピレンフィルムのフィルム厚みとした。
ポリプロピレンフィルムを長さ4cm、幅1mmの短冊状に切断し、厚さが1mmになるように重ねて試料を作成した。この試料に対してX線が透過するように、X線源と検出器の間に試料を設置し、フィルム面に関して対称にX線源と検出器の角度(2θ/θ)を走査し、X線回折を測定した。主配向、及び、その直交方向それぞれの走査方向について2θ=約14°(α晶(110)面)における結晶ピークの半値幅βeから、下記式(1)、(2)を用いて、主配向に走査して得られる(Through−MDの)結晶子サイズ(nm)、及び、主配向方向の直交方向に走査して得られる(Through−TDの)結晶子サイズ(nm)をそれぞれ求め、その差の絶対値を、α晶(110)面の配向方向による結晶子サイズの差(nm)とした。
結晶子サイズ=Kλ/(βcosθ) …式(1)
β=(βe2+βo2)1/2 …式(2)
ここで、
λ:X線波長(0.15418nm)、
βe:回折ピークの半値幅、
βo:半値幅の補正値(0.6)、
K:Scherrer定数(1.0)
である。
・X線回折装置
理学電機(株)社製 4036A2型
X線源 :CuKα線(Niフィルタ使用)
出力 :40kV−30mA
・ゴニオメータ 理学電機(株)社製 2155D型
スリット:2mmφ−1°−1°
検出機 :シンチレーションカウンター
・計数記録装置 理学電機(株)社製 RAD−C型。
・Through−TDスキャン、Through−MDスキャン
スキャン方法 :ステップスキャン
測定範囲 :2θ=5〜60°
ステップ :0.05°
積算時間 :2秒。
ポリプロピレンフィルムを長さ4cm、幅1mmの短冊状に切断し、厚さが1mmになるように重ねて試料調製した。ポリプロピレンフィルムに対してX線が透過するように、X線源と検出器の間にフィルム試料を設置し、フィルム表面に対して垂直方向にX線を入射し、2θ=約14°(α晶(110)面)における結晶ピークを円周方向にスキャンして得られる配向ピークの半値幅H(°)から、下記式により計算した。
結晶配向度=(180°−H)/180°
測定装置および条件を以下に示す。
・上記(2)と同装置を使用した。
・円周方向スキャン(2θ=約14°)
スキャン方法 :ステップスキャン
測定範囲 :0〜360°
ステップ :0.5°
積算時間 :2秒。
ポリプロピレンフィルムを、フィルムの測定方向(長手方向)を長辺として幅4mm、長さ50mmの長方形の試料に切り出し、試長20mmとなるよう金属製チャックにフィルムを挟み込んだ。前記チャックに挟んだサンプルを下記装置にセットし、下記温度プログラムにて試長を一定保持したフィルムにおける長手方向の応力曲線を求めた。得られた応力曲線から、135℃における収縮応力の値(SF135MD)を読み取り、n=3の測定を行った平均値を135℃での長手方向の収縮応力(単位:MPa)とした。
装置 :熱機械分析装置 TMA/SS6000(セイコーインスツルメント(株)製)
試験モード :L制御モード
試長 :20mm
温度範囲 :23〜200℃
昇温速度 :10℃/分
スタート変位 :0μm
SSプログラム:0.1μm/分
測定雰囲気 :窒素中
測定厚み :上記(1)により測定したフィルム厚みを用いた。
スキューネス(Ssk)はISO25178の定義による。測定は(株)日立ハイテクサイエンスの走査型白色干渉顕微鏡VS1540を使用して行い、付属の解析ソフトにより撮影画面を多項式4次近似面補正にてうねり成分を除去し、次いでメジアン(3×3)フィルターにて処理後、次いで補間処理、すなわち、高さデータの取得ができなかった画素に対し周囲の画素より算出した高さデータで補う処理を行った。一方の面内の無作為抽出した5箇所で測定を行った平均値を算出した。測定はフィルムの両面について行った。
測定条件は下記のとおり。
製造元:株式会社菱化システム
販売元:株式会社日立ハイテクサイエンス
装置名:走査型白色干渉顕微鏡VS1540
測定条件:対物レンズ 10×
鏡筒 1×
ズームレンズ 1×
波長フィルタ 530nm white
測定モード:Wave
測定ソフトウェア:VS-Measure Version10.0.4.0
解析ソフトフェア:VS−Viewer Version10.0.3.0
測定面積:0.561mm×0.561mm。
原料の場合はポリプロピレン樹脂、フィルムの場合はフィルム試料について凍結粉砕してパウダー状にし、60℃のn−ヘプタンで2時間抽出し、ポリプロピレン中の不純物・添加物を除去した後、130℃で2時間以上減圧乾燥したものをサンプルとした。該サンプルを溶媒に溶解し、13C−NMRを用いて、以下の条件にてメソペンタッド分率(mmmm)を求めた。
・装置:Bruker製DRX−500
・測定核:13C核(共鳴周波数:125.8MHz)
・測定濃度:10質量%
・溶媒:ベンゼン:重オルトジクロロベンゼン=1:3混合溶液(体積比)
・測定温度:130℃
・スピン回転数:12Hz
・NMR試料管:5mm管
・パルス幅:45°(4.5μs)
・パルス繰り返し時間:10秒
・データポイント:64K
・積算回数:10,000回
・測定モード:complete decoupling。
(1)mrrm
(2),(3)rrrm(2つのピークとして分割)
(4)rrrr
(5)mrmr
(6)mrmm+rmrr
(7)mmrr
(8)rmmr
(9)mmmr
(10)mmmm
同じサンプルについて同様の測定を5回行い、得られたメソペンタッド分率の平均値を当該サンプルのメソペンタッド分率とした。
示差走査熱量計(セイコーインスツル製EXSTAR DSC6220)を用いて、窒素雰囲気中で3mgのポリプロピレンフィルムを30℃から260℃まで20℃/分の条件で昇温し、次いで、260℃で5分間保持した後、20℃/分の条件で30℃まで降温する。昇温過程で得られる吸熱ピーク温度をポリプロピレンフィルムの融解ピーク温度とし、降温過程で得られる発熱ピーク温度をポリプロピレンフィルムの結晶化ピーク温度とした。本明細書中ではn=3の測定を行った平均値からTm、Tcを算出した。ピーク温度が前記温度範囲の中で2つ以上観測される場合や、ショルダーと言われる多段型のDSCチャートに観測できるピーク温度(2つ以上のピークが重なり合ったチャートの場合に観測される)がでる場合があるが、本発明においてはDSCチャートの縦軸熱流(単位:mW)の絶対値が最も大きいピークの温度をそれぞれTm、Tcとする。なお、ポリプロピレン樹脂の(Tm)、(Tc)についても同様に測定した。
算術平均高さ(Sa)はISO25178の定義による。測定は、(株)日立ハイテクサイエンスの走査型白色干渉顕微鏡VS1540を使用して行い、付属の解析ソフトにより撮影画面を多項式4次近似面補正にてうねり成分を除去し、次いでメジアン(3×3)フィルターにて処理後、補間処理、すなわち、高さデータの取得ができなかった画素に対し周囲の画素より算出した高さデータで補う処理を行った。Saはポリプロピレンフィルム表面の両面で測定を行い、小さな値が得られたポリプロピレンフィルム表面の値を表に記した。測定条件は上記(5)表面突起の偏り度と同様とした。
突出山部高さ(Spk)はISO25178の定義による。測定は(株)日立ハイテクサイエンスの走査型白色干渉顕微鏡VS1540を使用して行い、付属の解析ソフトにより撮影画面を多項式4次近似面補正にてうねり成分を除去し、次いでメジアン(3×3)フィルターにて処理後、次いで補間処理(高さデータの取得ができなかった画素に対し周囲の画素より算出した高さデータで補う処理)を行った。一方の面内の任意の5箇所で測定を行った平均値を算出した。フィルムの両面を測定し、値が低い面の値をSpkA、反対側の面をSpkBとした。測定条件は上記(5)表面突起の偏り度と同様とした。
130℃に保温されたオーブン内でフィルムを1分間加熱後、その雰囲気中で、JIS C2330(2014)6.2およびそこで引用するJIS C2151(2019)の17.2 B法(平板電極法)に準じて測定した。ただし、下部電極については、JIS C2151(2019)17.2.2 図3−C記載のアルミはくの上に、同一寸法の導電ゴム(株式会社十川ゴム製E−100<65>)を載せたものを電極として使用した。絶縁破壊電圧試験を30回行い、得られた値をフィルムの厚み(上記(1)で測定)で除してV/μmの単位に換算し、計30点の測定値(算出値)のうち最大値から大きい順に5点と最小値から小さい順に5点を除いた20点の平均値を、130℃でのフィルム絶縁破壊電圧とした。
原料の場合はポリプロピレン樹脂、フィルムの場合はフィルム試料について、0.5gを135℃のキシレン100mlに溶解して放冷後、20℃の恒温水槽で1時間静置して再結晶させた後にろ過液に溶解しているポリプロピレン系成分を液体クロマトグラフ法にて定量した。ろ過液に溶解しているポリプロピレン系成分の量をX(g)、試料0.5gの精量値をX0(g)として下記式
CXS(質量%)=(X/X0)×100
から算出した。
フィルムを125℃で60分熱処理する方法は、厚み2mm、外寸300mm×300mm、内寸280mm×280mmに中抜きされた幅20mmの四角い金属製フレームを用い、フレーム面の四辺には両面テープ(ニチバン製“ナイスタック”(登録商標)NW−H15接着力02)を貼り、金属製フレームの全面にフィルムが被さるように、フィルムを貼り付け、更に同寸法の金属製フレームでフィルムを挟み込む。この時、フィルムにシワが入らないように貼り付ける。次いで、金属フレーム/両面テープ/フィルム/金属フレームの状態で、フレームの4辺をクリップで挟み固定したサンプルを作成し、125℃に加熱されたオーブンへ60分放置した。その後、サンプルを取り出し、常温で5分放置した後、金属フレームの内枠にそってフィルムを切り出し、125℃で熱処理後のフィルムとした。125℃で熱処理後のフィルムを長さ4cm、幅1mmの短冊状に切断し、厚さが1mmになるように重ねて試料調製した。ポリプロピレンフィルムに対してX線が透過するように、X線源と検出器の間にフィルム試料を設置し、フィルム表面に対して垂直方向にX線を入射し、2θ=約14°(α晶(110)面)における結晶ピークを円周方向にスキャンして得られる配向ピークの半値幅H(°)から、下記式により計算した。
結晶配向度=(180°−H)/180°
測定装置および条件を以下に示す。
・X線回折装置 理学電機(株)社製 4036A2型
X線源 :CuKα線(Niフィルタ使用)
出力 :40kV−30mA
・ゴニオメータ 理学電機(株)社製 2155D型
スリット:2mmφ−1°−1°
検出機 :シンチレーションカウンター
・計数記録装置 理学電機(株)社製 RAD−C型
(測定条件)
・円周方向スキャン(2θ=約14°)
スキャン方法 :ステップスキャン
測定範囲 :0〜360°
ステップ :0.5°
積算時間 :2秒。
フィルムを150℃で10分熱処理する方法は、厚み2mm、外寸300mm×300mm、内寸280mm×280mmに中抜きされた幅20mmの四角い金属製フレームを用い、フレーム面の四辺には両面テープ(ニチバン製“ナイスタック”(登録商標)NW−H15接着力02)を張り、金属製フレームの全面にフィルムが被さるように、フィルムを貼り付け、更に同寸法の金属製フレームでフィルムを挟み込む。この時、フィルムにシワが入らないように貼り付ける。次いで、金属フレーム/両面テープ/フィルム/金属フレームの状態で、フレームの4辺をクリップで挟み固定したサンプルを作成し、150℃に加熱されたオーブン内に10分放置した。その後、サンプルを取り出し、常温で5分放置した後、金属フレームの内枠にそってフィルムを切り出し、150℃で熱処理後のフィルムとした。150℃で熱処理後のフィルムを試験方向長さ50mm×幅10mmの矩形に切り出しサンプルとした。次に、矩形のサンプル用の引張試験機(オリエンテック製テンシロンUCT−100)に、初期チャック間距離20mmでセットし、23℃雰囲気下で引張速度を300mm/分としてフィルムの引張試験を行った。サンプルの伸び5%時にフィルムにかかっていた荷重を読み取り、試験前の試料の断面積(フィルム厚み×幅(10mm))で除した値を伸度5%時の応力(F5値、単位:MPa)として算出し、測定は長手方向および幅方向で各サンプル5回ずつ行い、その平均値を算出し、F5MD、F5TDをそれぞれ算出した。なお、F5値算出の為に用いるフィルム厚みは上記(1)で測定した値を用いた。
測定は(株)日立ハイテクサイエンスの走査型白色干渉顕微鏡VS1540を使用して行い、付属の解析ソフトにより撮影画面を多項式4次近似面補正にてうねり成分を除去し、次いでメジアン(3×3)フィルターにて処理後、次いで補間処理、すなわち、高さデータの取得ができなかった画素に対し周囲の画素より算出した高さデータで補う処理を行った。次いで解析ソフトの解析ツールであるベアリング機能を用いて解析した。深さ20nm以上の谷側空隙を指定するため、高さ領域指定において、谷側高さ閾値を−20nmに設定した。次いで当該閾値を満たし解析された谷の容積の値を読み取った。一方の面内の無作為抽出した5箇所の0.561×0.561mm2の領域で測定を行い、領域内の総容積の平均値をフィルム表面における深さ20nm以上の谷の総容積とした。
フィルムの幅方向が長辺となるように、長さ200mm、幅10mmの試料を5本切り出し、両端から25mmの位置に標線として印を付けて、万能投影機で標線間の距離を測定し試長(L1)とする。次に、試験片の長さ方向の一方の端(下端となる)に3gの荷重をかけ、125℃に保温されたオーブン内で15分間、吊した状態で加熱し、試験片を取り出して室温で冷却後、先で付した標線間の寸法(L2)を万能投影機で測定して下記式にて各試料の熱収縮率HS125TDを求め、5本の算術平均値をその測定方向における熱収縮率HS125TDとして算出した。
HS125TD={(L1−L2)/L1}×100
ここに、
HS125TD:125℃で15分間熱処理後の幅方向の熱収縮率(%)
L1:熱処理前の標線間の距離(150mm)
L2:熱処理後の標線間の距離。
東洋精機(株)製スリップテスターを用いて、JIS K 7125(1999)に準じて、25℃、65%RHにて測定した。なお、測定はフィルム長手方向同士で、かつ、異なる面同士を重ねて行った。同じ測定をサンプル毎に5回行い、得られた値の平均値を算出し、当該サンプルの静摩擦係数(μs)とした。
GPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)を用いて、以下の装置および測定条件で評価し、算出した。以下の測定条件にて試料前処理として試料を秤量し、溶媒(0.1%のBHTを添加した1,2,4−TCB)を加えて140℃で1時間振とう溶解させた。次いで、孔径0.5μmの焼結フィルターで加熱濾過を行い、分子サイズによる分画を行った。
・装置 :HLC−8321GPC/HT(検出器:RT)
・カラム :
TSKgel guardcolumnHHR(30)HT(7.5mmI.D.×7.5mm)×1本
+TSKgel GMHHR−H(20)HT(7.8mmI.D.×30cm)(東ソー社製)×3本
・溶離液 :1,2,4−トリクロロベンゼン(富士フイルム和光純薬社製GPC用)+BHT(0.05%)
・流量 :1.0mL/min.
・検出条件:polarity=(−)
・注入量 :0.3mL
・カラム温度:140℃
・システム温度:40℃
・試料濃度:1mg/mL
標準ポリスチレン(東ソー株式会社製)を用いて検量線を作製し、測定された分子量の値をポリスチレンの値に換算して、Z+1平均分子量(Mz+1)、重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)を得た。そしてMz+1とMwの値を用いた分子量分布(Mz+1/Mw)を算出した。
フィルムの一方の面に、真空蒸着機((株)アルバック製)でアルミニウムを蒸着させ、マスキングオイルにより膜抵抗が10Ω/sqで長手方向に垂直な方向にマージン部を設けた、いわゆるT型マージン(長手方向ピッチ(周期)が17mm、ヒューズ幅が0.5mm)を有する蒸着パターンを形成した。なお、濡れ張力が表裏両面で異なる場合は、濡れ張力が高い方の面に蒸着を施した。
ステップアップ試験においてこの際の静電容量の変化を測定しグラフ上にプロットして、当該容量が初期値の80%になった時点における電圧をフィルムの厚み(上記(1))で割り返して耐電圧とし、以下の通り評価した。
S:耐電圧が400V/μm以上である。
A:耐電圧が390V/μm以上400V/μm未満である。
B:耐電圧が380V/μm以上390V/μm未満である。
C:耐電圧が380V/μm未満である。
S、A、Bは使用可能である。Cでは実用上の性能に劣る。
静電容量が初期値に対して15%以下に減少するまで電圧を上昇させた後に、コンデンサ素子を解体し破壊の状態を調べて、信頼性を以下の通り評価した。
S:素子形状の変化は無く、貫通状の破壊は観察されない。
A:素子形状の変化は無く、フィルム1層以上5層以内の貫通状の破壊が観察される。
B:素子形状の変化は無く、フィルム6層以上10層以内の貫通状の破壊が観察される。
C:素子形状に変化が認められる、若しくは10層を超える貫通状の破壊が観察される、あるいは素子形状が大きく変化し破壊する
Sは問題なく使用でき、A、Bでは条件次第で使用可能である。Cでは実用上の性能に劣る。
下記基準で判断した。上記と同様にしてコンデンサ素子を作成し、目視により素子の形状を確認した。
S:コンデンサ素子の端面フィルムのズレ、シワ、変形がなく、後の工程に全く支障がないレベル
A:コンデンサ素子の変形はなく、シワがわずかにあるが問題なく使用が可能なレベル
B:コンデンサ素子の変形、シワが僅かにあるが使用可能なレベル
C:コンデンサ素子の変形、シワの程度がひどく、後の工程に支障を来すレベル
S、Aは問題なく使用可能であり、Bは条件次第で使用可能、Cでは実用が困難である。
実施例、比較例のポリプロピレンフィルムの製造に、下記の表1に示す原料を使用した。ポリプロピレン原料Aとして4種類(A1、A2、A3、A4)、ポリプロピレン原料Bとして3種類(B1、B2、B3)、ポリプロピレン原料Cとして2種類(C1:チーグラー・ナッタ触媒系、C2:メタロセン触媒系)の原料を使用した。
本実施例に使用した原料および製膜の条件は表1、2に示したとおりである。まずポリプロピレン原料A1を92質量部、ポリプロピレン原料B1を5質量部、ポリプロピレン原料C1を3質量部ドライブレンドした。ブレンドした原料を温度260℃の単軸押出機に供給し、溶融させ、濾過フィルターを通過後の温度を255℃に設定した配管を通過させ、250℃に設定したT型スリットダイよりシート状に溶融押出した。このシート状物を98℃に保温されたキャスティングドラム上で、エアーナイフにより密着させ冷却固化して未延伸ポリプロピレンフィルムを得た。当該未延伸ポリプロピレンフィルムを複数のロール群にて段階的に143℃まで予熱し、そのまま周速差を設けたロール間に通し、130℃にて1.08倍の予備延伸を行った後、143℃にて長手方向に6.1倍で延伸した。引き続き当該フィルムをテンターに導き、フィルム幅手の両端部をクリップで把持したまま169℃の温度(TD延伸温度+7℃)で予熱し、次いで162℃の温度で幅方向に12.3倍で延伸した。さらに1段目の熱処理として幅方向に15%の弛緩を与えながら159℃で熱処理を行ない、さらに2段目の熱処理としてフィルム幅手の両端部をクリップで幅方向把持したまま150℃で熱処理を行った。3段目の熱処理として110℃の熱処理を経てテンターの外側へ導き、フィルム端部のクリップ解放し、次いでフィルム表面(キャスティングドラム接触面側)に25W・分/m2の処理強度で大気中でコロナ放電処理を行い、フィルム厚み2.3μmのポリプロピレンフィルムをフィルムロールとして巻き取った。各項目の評価結果を表4に示す。
原料組成及び製膜条件を表2,3のとおりとした以外は実施例1と同様にして、表2,3に示す厚みのポリプロピレンフィルムを得た。なお、厚みの調整は単軸押出機の回転数を増減することにより行った。以下、他の実施例、比較例においても同様である。各項目の評価結果を表4〜6に示す。
Claims (16)
- 広角X線回折で測定される、α晶(110)面の主配向方向に走査して得られる結晶子サイズと主配向方向と直交する方向に走査して得られる結晶子サイズとの差の絶対値が3.0nm以下であり、熱機械分析(TMA)における昇温速度10℃/minでの昇温過程において135℃での長手方向の収縮応力(SF135MD)が2.0MPa以下であるポリプロピレンフィルム。
- 広角X線回折で測定される、α晶(110)面の主配向方向と直交する方向に走査して得られる結晶子サイズが10.0nm以下である請求項1に記載のポリプロピレンフィルム。
- 広角X線回折で測定される、α晶(110)面の主配向方向に走査して得られる結晶子サイズが10.0nm以下である請求項1または2に記載のポリプロピレンフィルム。
- 広角X線回折で測定されるα晶(110)面の結晶配向度が0.77以上である請求項1〜3のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
- フィルムを示差走査熱量計DSCで30℃から260℃まで20℃/minで昇温して得られるフィルムの融解ピーク温度(Tm)が170℃以上である請求項1〜4のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
- フィルムを示差走査熱量計DSCで30℃から260℃まで20℃/minで昇温して得られるフィルムの融解ピーク温度(Tm)と、昇温後260℃から30℃まで20℃/minで降温した際に得られる結晶化ピーク温度(Tc)が以下の関係を満たす請求項1〜5のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
Tm−Tc≦65(℃) - フィルムの少なくとも一方の表面におけるISO25178で定義されるスキューネス(Ssk)が−30を超えて5未満である請求項1〜6のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
- 一方の側の面の表面Aおよびもう一方の側の面の表面Bのそれぞれの、ISO25178で定義される突出山部高さSpkAおよびSpkBが以下の関係を満たす請求項1〜7のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
SpkA<SpkB
20nm≦SpkA≦100nm
80nm≦SpkB≦150nm
ここで、
SpkA:表面Aの突出山部高さ
SpkB:表面Bの突出山部高さ - フィルムの少なくとも一方の表面における、ISO25178で定義される算術平均高さ(Sa)が35nm以上100nm以下である請求項1〜8のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
- 125℃で60分加熱後のポリプロピレンフィルムを広角X線回折で測定したとき、α晶(110)面の結晶配向度が0.73以上である請求項1〜9のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
- 150℃で10分加熱後のフィルムを室温で引っ張り試験したときのフィルム長手方向の伸度5%時の応力(F5MD)と、150℃、10分加熱後のフィルムを室温で引っ張り試験したときのフィルム幅方向の伸度5%時の応力(F5TD)との和が150MPa以上である請求項1〜10のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
- キシレンでポリプロピレンフィルムを完全に溶解せしめた後、室温で析出させたときに、キシレン中に溶解しているポリプロピレン成分(CXS)が3.0質量%以下である請求項1〜11のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
- 少なくとも一方の表面において、走査型白色干渉顕微鏡により測定される、0.561mm×0.561mmの領域における深さ20nm以上の谷の容積を合計した総容積が50μm3以上5,000μm3以下である、請求項1〜12のいずれかに記載のポリプロピレンフィルム。
- 125℃で15分加熱後の幅方向の熱収縮率(HS125TD)が1.0%以下である、請求項1〜13に記載のポリプロピレンフィルム。
- 請求項1〜14のいずれかに記載のポリプロピレンフィルムの少なくとも片面に金属膜を有する金属膜積層フィルム。
- 請求項15に記載の金属膜積層フィルムを用いてなるフィルムコンデンサ。
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