JP2021099912A - Conductive paste - Google Patents

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香帆 西部
夕子 鈴木
Yuko Suzuki
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Abstract

To provide a conductive paste capable of forming a conductive film excellent in heat resistance and adhesiveness.SOLUTION: The conductive paste containing conductive particles, a resin component, and an organic solvent is provided. The resin component contains a polyimide resin and a silicone resin, and the ratio of the polyimide resin to the silicone resin is adjusted so as to be 95:5-50:50 on a mass basis. The silicone resin is preferably an addition-curable silicone resin. The silicone resin is also preferably a resin-based silicone resin.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、導電性ペーストに関する。より詳しくは、セラミック電子部品の未焼成電極を形成するのに好適な導電性ペーストに関する。 The present invention relates to a conductive paste. More specifically, it relates to a conductive paste suitable for forming an unfired electrode of a ceramic electronic component.

電子機器の小型化や高性能化に伴い、電子機器に実装されるセラミック電子部品にも小型化および高性能化が求められている。とりわけ、車載用の電子部品については、車両のコネクティッド化により、小型化に加えて高耐熱化と高い信頼性とを兼ね備えることが求められる。 As electronic devices become smaller and have higher performance, ceramic electronic components mounted on electronic devices are also required to be smaller and have higher performance. In particular, in-vehicle electronic components are required to have both high heat resistance and high reliability in addition to miniaturization by connecting vehicles.

セラミック電子部品は、一般に、部品本体と、部品本体の対向する一対の端面に形成される外部電極とを備え、外部電極を基板に半田付けすることによって基板に実装される。ここで、車載用電子機器等においては、セラミック電子部品を実装した基板が急激な温度変化によって撓み得ることが知られている。このとき、セラミック電子部品と基板とでは熱膨張係数が異なることから、基材に実装されているセラミック電子部品には熱衝撃が生じ、脆性なセラミック電子部品がクラック等により破損することが懸念される。そこで、セラミック電子部品の外部電極に、樹脂成分を含む導電性膜(樹脂電極層)を介在させ、この樹脂電極層でセラミック電子部品に加わる熱衝撃を緩和させることが行われている(例えば、特許文献1〜2参照)。また、半田に代えて樹脂成分を含む導電性ペーストによってセラミック電子部品を基板に実装する(ボンディングする)ことも提案されている(例えば、特許文献3参照)。 Ceramic electronic components generally include a component body and external electrodes formed on a pair of opposite end faces of the component body, and are mounted on the substrate by soldering the external electrodes to the substrate. Here, in in-vehicle electronic devices and the like, it is known that a substrate on which ceramic electronic components are mounted can be bent by a sudden temperature change. At this time, since the coefficient of thermal expansion differs between the ceramic electronic component and the substrate, there is a concern that the ceramic electronic component mounted on the base material may be subjected to thermal shock and the brittle ceramic electronic component may be damaged by cracks or the like. To. Therefore, a conductive film (resin electrode layer) containing a resin component is interposed in the external electrode of the ceramic electronic component, and the thermal shock applied to the ceramic electronic component is alleviated by this resin electrode layer (for example,). See Patent Documents 1 and 2). It has also been proposed to mount (bond) ceramic electronic components on a substrate using a conductive paste containing a resin component instead of solder (see, for example, Patent Document 3).

特開2018−104820号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2018-104820 特表2018−516755号公報Special Table 2018-516755 特開2006−073812号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-073812

ところで、従来の樹脂成分を含む導電性膜を形成するための導電性ペーストには、樹脂成分として、エポキシ樹脂やウレタン樹脂等の熱硬化性樹脂が使用されている。しかしながら、これらのエポキシ樹脂やウレタン樹脂は、高温で連続使用する場合の耐熱温度が150℃程度であり、これ以上の温度環境に晒されると樹脂成分が劣化するという課題がある。なお、高い耐熱性を有する樹脂として、ポリテトラフルオロエチレンやPEEK(ポリエーテルエーテルケトン)樹脂に代表されるスーパーエンプラ(スーパーエンジニアリングプラスチック)が知られている。しかしながら、耐熱性の高いスーパーエンプラは基材に対する接着性が十分でないといった課題がある。例えば車載用のセラミック電子部品等のように、高温環境に長時間晒される可能性のある電子部品に用いられる導電性膜については、180℃以上280℃以下程度の高い耐熱性と接着性とを兼ね備えることが望まれる。 By the way, a thermosetting resin such as an epoxy resin or a urethane resin is used as a resin component in the conventional conductive paste for forming a conductive film containing a resin component. However, these epoxy resins and urethane resins have a heat resistant temperature of about 150 ° C. when continuously used at a high temperature, and have a problem that the resin component deteriorates when exposed to a temperature environment higher than this. As a resin having high heat resistance, super engineering plastics represented by polytetrafluoroethylene and PEEK (polyetheretherketone) resins are known. However, super engineering plastics having high heat resistance have a problem that the adhesiveness to the base material is not sufficient. For example, a conductive film used for an electronic component that may be exposed to a high temperature environment for a long time, such as an in-vehicle ceramic electronic component, has high heat resistance and adhesiveness of about 180 ° C. or higher and 280 ° C. or lower. It is desirable to combine them.

本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その目的は、耐熱性と接着性とが両立された樹脂成分を含む導電性膜を形成することができる導電性ペーストを提供することにある。 The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a conductive paste capable of forming a conductive film containing a resin component having both heat resistance and adhesiveness. ..

本発明者らは、150℃以上の高温で長期間使用できるスーパーエンプラを樹脂成分として含む導電性ペーストから形成される導電性膜について、様々な角度から検討を行った。その結果、樹脂成分としてスーパーエンプラを単体で含む導電性膜では、膜特性が剛直すぎて所望の接着性が得られないことがわかった。そこで、本発明者らは、スーパーエンプラのなかでも非常に高い耐熱性を有するポリイミド樹脂に着目し、このポリイミド樹脂に異種の樹脂成分をブレンドすることで、形成される導電性膜に柔軟性を付与し、基材との接着性を改善することを目指して鋭意研究を重ねた。その結果、接着性に劣ると考えられていた一つの樹脂成分をポリイミド樹脂にブレンドすることで、導電性膜の接着性を改善し得ることを見出し、本発明を完成させるに至った。 The present inventors have investigated a conductive film formed from a conductive paste containing a super engineering plastic as a resin component, which can be used for a long period of time at a high temperature of 150 ° C. or higher, from various angles. As a result, it was found that the conductive film containing super engineering plastic as a resin component alone has too rigid film characteristics to obtain the desired adhesiveness. Therefore, the present inventors have focused on a polyimide resin having extremely high heat resistance among super engineering plastics, and by blending a different type of resin component with this polyimide resin, the conductive film formed has flexibility. We have conducted extensive research with the aim of improving the adhesiveness to the substrate. As a result, they have found that the adhesiveness of the conductive film can be improved by blending one resin component, which is considered to be inferior in adhesiveness, with the polyimide resin, and have completed the present invention.

すなわち、ここに開示される導電性ペーストは、導電性粒子と、樹脂成分と、有機溶剤と、を含む。そして樹脂成分は、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂とを含み、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂との割合は、質量基準で、95:5〜50:50となるよう調整されている。 That is, the conductive paste disclosed herein contains conductive particles, a resin component, and an organic solvent. The resin component contains a polyimide resin and a silicone resin, and the ratio of the polyimide resin to the silicone resin is adjusted to be 95: 5 to 50:50 on a mass basis.

上記構成によると、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂との相乗効果によって、これらの樹脂を単独で含む導電性膜において発現される接着性を超えた、優れた接着性を備える導電性膜を形成できる導電性ペーストが実現される。詳細は明らかではないが、ポリイミド樹脂はその化学構造に基づいて主骨格が剛直であり、ガラス転移点(Tg)が高いことに加え、温度条件により軟化しづらいために基材に濡れ広がり難い。これに対し、ポリイミド樹脂中にシリコーン樹脂を分散させることで、ポリイミドの分子構造が適度に乱され、シリコーン樹脂の軟化とともにポリイミド樹脂が基板に濡れ広がり易くなる効果が発現されると考えられる。その結果、この導電性ペーストを乾燥させて得られる導電性膜については、高い耐熱性(例えば、180℃以上280℃以下程度)と接着性(例えば、4N/mm以上)とが好適に高められる。これにより、高耐熱性を有しながらも基材への接着性が良好な導電性膜を形成できる、導電性ペーストが提供される。 According to the above configuration, the synergistic effect of the polyimide resin and the silicone resin makes it possible to form a conductive film having excellent adhesiveness, which exceeds the adhesiveness exhibited in the conductive film containing these resins alone. The paste is realized. Although the details are not clear, the polyimide resin has a rigid main skeleton based on its chemical structure, has a high glass transition point (Tg), and is difficult to soften due to temperature conditions, so that it is difficult to wet and spread on the substrate. On the other hand, it is considered that by dispersing the silicone resin in the polyimide resin, the molecular structure of the polyimide is appropriately disturbed, and the effect of softening the silicone resin and making the polyimide resin easily wet and spread on the substrate is exhibited. As a result, the conductive film obtained by drying this conductive paste preferably has high heat resistance (for example, 180 ° C. or higher and 280 ° C. or lower) and adhesiveness (for example, 4N / mm 2 or higher). Be done. This provides a conductive paste capable of forming a conductive film having high heat resistance and good adhesiveness to a base material.

ここで開示される導電性ペーストの好ましい一態様では、上記シリコーン樹脂は、付加硬化型のシリコーン樹脂である。これにより、この導電性ペーストから形成される導電性膜の接着強度を、例えば6N/mm以上と接着性に優れたものとして実現することができる。 In a preferred embodiment of the conductive paste disclosed herein, the silicone resin is an addition-curable silicone resin. Thereby, the adhesive strength of the conductive film formed from the conductive paste can be realized as, for example, 6 N / mm 2 or more, which is excellent in adhesiveness.

ここで開示される導電性ペーストの好ましい一態様では、上記シリコーン樹脂は、レジン系のシリコーン樹脂である。このような構成によっても、この導電性ペーストから形成される導電性膜の接着強度を、例えば6N/mm以上と接着性に優れたものとして実現することができる。 In a preferred embodiment of the conductive paste disclosed herein, the silicone resin is a resin-based silicone resin. Even with such a configuration, the adhesive strength of the conductive film formed from the conductive paste can be realized as being excellent in adhesiveness , for example, 6 N / mm 2 or more.

ここで開示される導電性ペーストの好ましい一態様では、上記導電性粒子を100質量部としたとき、上記樹脂成分は10質量部以上30質量部以下の割合で含まれる。これにより、電気伝導性に優れた導電性膜を好適に形成することができる。 In a preferred embodiment of the conductive paste disclosed here, when the conductive particles are 100 parts by mass, the resin component is contained in a ratio of 10 parts by mass or more and 30 parts by mass or less. As a result, a conductive film having excellent electrical conductivity can be suitably formed.

ここで開示される導電性ペーストの好ましい一態様では、上記導電性粒子は、ニッケル、白金、パラジウム、金、銀および銅のうちの少なくとも1つを含む。このような構成によっても、電気伝導性に優れた導電性膜を好適に形成することができる。 In a preferred embodiment of the conductive paste disclosed herein, the conductive particles include at least one of nickel, platinum, palladium, gold, silver and copper. Even with such a configuration, a conductive film having excellent electrical conductivity can be suitably formed.

ここで開示される導電性ペーストは、上記のとおり、高い耐熱性と接着性とを両立する導電性膜を形成することができる。このような特性は、例えば、高温で振動が発生する環境で使用されるセラミック電子部品の外部電極に含まれる樹脂電極層や、ボンディング用導電性樹脂を形成するために用いることで、その利点を如何無く発揮させることができる。例えば、ここに開示される導電性ペーストの好ましい一態様では、セラミック電子部品の外部電極の樹脂電極層を形成するために用いられる。 As described above, the conductive paste disclosed here can form a conductive film having both high heat resistance and adhesiveness. Such characteristics can be used, for example, to form a resin electrode layer contained in an external electrode of a ceramic electronic component used in an environment where vibration is generated at a high temperature, or a conductive resin for bonding. It can be demonstrated without any problems. For example, in a preferred embodiment of the conductive paste disclosed herein, it is used to form a resin electrode layer for an external electrode of a ceramic electronic component.

他の観点から、ここに開示されるセラミック電子部品は、セラミック素地と前記セラミック素地内に配設された内部電極とを含む部品本体と、前記部品本体の表面に備えられる外部電極と、を備える。そして上記外部電極は、上記のいずれかに記載の導電性ペーストから形成される導電性膜(典型的には乾燥膜)を少なくとも一部に含む。これにより、高温環境においても、回部からの振動で剥離や破損が生じにくい高い信頼性を有するセラミック電子部品が実現される。 From another point of view, the ceramic electronic component disclosed herein includes a component body including a ceramic substrate and an internal electrode disposed within the ceramic substrate, and an external electrode provided on the surface of the component body. .. The external electrode includes at least a part of a conductive film (typically a dry film) formed from the conductive paste according to any one of the above. As a result, even in a high temperature environment, a highly reliable ceramic electronic component that is less likely to be peeled or damaged due to vibration from the rotating part is realized.

図1は、一実施形態に係る積層セラミックコンデンサを模式的に示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a multilayer ceramic capacitor according to an embodiment. 図2は、一実施形態に係る導電性ペーストにおけるシリコーン樹脂の配合と樹脂電極層の接着性との関係を示すグラフである。FIG. 2 is a graph showing the relationship between the composition of the silicone resin and the adhesiveness of the resin electrode layer in the conductive paste according to the embodiment.

以下、本発明の好適な実施形態を説明する。なお、本明細書において特に言及している事項(例えば、導電性ペーストの構成)以外の事柄であって本発明の実施に必要な事柄(例えば、導電性ペーストの調製方法やセラミック電子部品の構成等)は、当該分野における従来技術に基づく当業者の設計事項として把握され得る。本発明は、本明細書に開示されている内容と当該分野における技術常識とに基づいて実施することができる。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described. It should be noted that matters other than those specifically mentioned in the present specification (for example, the constitution of the conductive paste) and necessary for carrying out the present invention (for example, the method for preparing the conductive paste and the constitution of the ceramic electronic component). Etc.) can be grasped as design items of those skilled in the art based on the prior art in the field. The present invention can be carried out based on the contents disclosed in the present specification and common general technical knowledge in the art.

なお、以下の説明では、導電性ペーストを基材上に付与して、導電性ペーストに含まれる樹脂成分の熱分解温度以下の温度で(例えば300℃以下で)乾燥した未焼成の膜状体を、「導電性膜」という。本明細書において「導電性膜」は、「樹脂電極膜」や「ボンディング用導電性樹脂」等の意味を包含する。また、本明細書において数値範囲を示す「A〜B」の表記は、A以上B以下を意味する。 In the following description, an unfired film-like body obtained by applying a conductive paste onto a substrate and drying it at a temperature equal to or lower than the thermal decomposition temperature of the resin component contained in the conductive paste (for example, at 300 ° C. or lower). Is called a "conductive film". In the present specification, the "conductive film" includes the meanings of "resin electrode film", "conductive resin for bonding" and the like. Further, in the present specification, the notation of "A to B" indicating a numerical range means A or more and B or less.

≪導電性ペースト≫
ここで開示される導電性ペースト(以下、単に「ペースト」ということがある。)は、乾燥させることによって導電性膜を形成することができる。ここで開示される導電性ペーストは、導電性粒子(A)と、樹脂成分(B)と、有機溶剤(C)と、を含んでいる。また、この導電性ペーストから形成される導電性膜(典型的には、樹脂電極膜やボンディング用導電性樹脂)は、導電性粒子(A)と、樹脂成分(B)とを含んでいる。なお、本明細書において「ペースト」とは、組成物、インク、スラリー、サスペンション等を包含する用語である。以下、各成分について順に説明する。
≪Conductive paste≫
The conductive paste disclosed here (hereinafter, may be simply referred to as “paste”) can form a conductive film by drying. The conductive paste disclosed here contains conductive particles (A), a resin component (B), and an organic solvent (C). Further, the conductive film (typically, a resin electrode film or a conductive resin for bonding) formed from this conductive paste contains conductive particles (A) and a resin component (B). In addition, in this specification, "paste" is a term including composition, ink, slurry, suspension and the like. Hereinafter, each component will be described in order.

(A)導電性粒子
導電性粒子は、典型的には粉末の形態で用意される。導電性粒子は、乾燥後に得られる導電性膜に電気伝導性を付与する成分である。導電性粒子の種類等については特に限定されず、一般的に使用される各種の導電性粒子の中から用途等に応じて1種または2種以上を適宜用いることができる。導電性粒子としては、導電性金属粉末が好ましい例として挙げられる。具体的には、ニッケル(Ni)、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、金(Au)、銀(Ag)、銅(Cu)、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、イリジウム(Ir)、オスミウム(Os)、アルミニウム(Al)等の金属の単体、およびこれらの混合物や合金等が例示される。
(A) Conductive Particles Conductive particles are typically prepared in the form of powder. The conductive particles are components that impart electrical conductivity to the conductive film obtained after drying. The type of the conductive particles is not particularly limited, and one or more of the various commonly used conductive particles can be appropriately used depending on the intended use. As the conductive particles, conductive metal powder is a preferable example. Specifically, nickel (Ni), platinum (Pt), palladium (Pd), gold (Au), silver (Ag), copper (Cu), ruthenium (Ru), rhodium (Rh), iridium (Ir), Examples thereof include simple metals such as osmium (Os) and aluminum (Al), and mixtures and alloys thereof.

特に限定されるものではないが、例えば積層セラミック電子部品の樹脂電極膜やボンディング用導電性樹脂等を形成する用途では、焼成することなく高い電気電導性を有することが求められる。そのような高い導電性金属種の一例として、ニッケル、白金、パラジウム、銀、銅が挙げられる。なかでも、化学的に安定で耐熱性にも優れた銀や銀合金が好ましい。 Although not particularly limited, for example, in an application for forming a resin electrode film of a laminated ceramic electronic component, a conductive resin for bonding, or the like, it is required to have high electrical conductivity without firing. Examples of such highly conductive metal species include nickel, platinum, palladium, silver and copper. Of these, silver and silver alloys that are chemically stable and have excellent heat resistance are preferable.

導電性粒子を構成する粒子の性状、例えば粒子のサイズや形状等は、所望の導電性膜の断面における最小寸法(典型的には、導電性膜の厚みおよび/または幅)に収まる限りにおいて、特に限定されない。導電性粒子の平均粒子径(レーザ回折式の粒度分布測定装置により求められる体積基準の粒度分布において、小粒径側から累積50%に相当する粒径。以下同じ。)は、概ね数10nm〜数十μm程度、例えば1μm〜10μmであるとよい。 The properties of the particles constituting the conductive particles, such as the size and shape of the particles, are limited to the minimum dimensions (typically, the thickness and / or width of the conductive film) in the cross section of the desired conductive film. There is no particular limitation. The average particle size of the conductive particles (the particle size corresponding to a cumulative 50% from the small particle size side in the volume-based particle size distribution obtained by the laser diffraction type particle size distribution measuring device. The same applies hereinafter) is approximately several tens of nm to. It is preferably about several tens of μm, for example, 1 μm to 10 μm.

導電性粒子の形状は、例えば、球形あるいは非球形であってよい。非球形とは、例えば、板状、鱗片状、フレーク状、不定形状等であってよい。導電性粒子の充填密度を高め易いとの観点から、球形の導電性粒子としては、例えば、アスペクト比が1.2以下、好ましくは1.15以下、例えば1.1以下のものを好ましく用いることができる。また、導電性粒子の接触面積を増大させ易いとの観点からは、非球形の導電性粒子は、例えば、アスペクト比が1.2超過、好ましくは1.3以上、1.5以上、例えば1.7以上、さらに好ましくは2以上のものを用いるとよい。上記効果を相乗させる観点から、導電性粒子は、球形のものと非球形のものとが混合されていてもよい。これにより、ペーストから乾燥によって溶剤が除去されたときに、複数の導電性粒子が好適に接触し、導電性膜の電気伝導性を高めることができる。なお、アスペクト比は、電子顕微鏡観察に基づき、導電性粒子の最小外接長方形の(長辺÷短辺)により算出される値である。 The shape of the conductive particles may be, for example, spherical or non-spherical. The non-spherical shape may be, for example, a plate shape, a scale shape, a flake shape, an indefinite shape, or the like. From the viewpoint of easily increasing the packing density of the conductive particles, as the spherical conductive particles, for example, those having an aspect ratio of 1.2 or less, preferably 1.15 or less, for example 1.1 or less are preferably used. Can be done. Further, from the viewpoint that the contact area of the conductive particles can be easily increased, the non-spherical conductive particles have, for example, an aspect ratio of more than 1.2, preferably 1.3 or more, 1.5 or more, for example 1, 1. It is preferable to use 7. or more, more preferably 2 or more. From the viewpoint of synergizing the above effects, the conductive particles may be a mixture of spherical particles and non-spherical particles. As a result, when the solvent is removed from the paste by drying, the plurality of conductive particles are suitably in contact with each other, and the electrical conductivity of the conductive film can be enhanced. The aspect ratio is a value calculated by (long side ÷ short side) of the minimum circumscribing rectangle of the conductive particles based on electron microscope observation.

導電性粒子(A)の含有割合は特に限定されないが、導電性ペーストの全体を100質量%としたときに、概ね30質量%以上、典型的には40〜95質量%、例えば50〜85質量%であるとよい。上記範囲を満たすことで、電気伝導性や緻密性の高い導電性膜を好適に実現することができる。また、ペーストのハンドリング性や、成膜時の作業性を向上することができる。 The content ratio of the conductive particles (A) is not particularly limited, but when the total amount of the conductive paste is 100% by mass, it is approximately 30% by mass or more, typically 40 to 95% by mass, for example, 50 to 85% by mass. It should be%. By satisfying the above range, a conductive film having high electrical conductivity and high density can be preferably realized. In addition, the handleability of the paste and the workability at the time of film formation can be improved.

(B)樹脂成分
樹脂成分は、ポリイミド樹脂(B1)とシリコーン樹脂(B2)とを含む。
(B1)ポリイミド樹脂
ポリイミド樹脂は、繰返し単位にイミド結合を含む高分子である。高分子とは、分子量が大きい(例えば、重量平均分子量が1000以上の)分子で、分子量が小さい(例えば、重量平均分子量が500以下の)分子から実質的または概念的に得られる単位(繰返し単位と同意)の多数回(例えば5回以上)の繰り返しで構成した構造を有する。ポリイミド樹脂は、典型的には、以下の式(1)で表される繰り返し単位構造を含む。ここで、式中のR,R’は独立して、任意の有機官能基、または酸素原子である。
(B) Resin component The resin component includes a polyimide resin (B1) and a silicone resin (B2).
(B1) Polyimide resin The polyimide resin is a polymer containing an imide bond in a repeating unit. A polymer is a molecule having a large molecular weight (for example, a weight average molecular weight of 1000 or more) and a unit (repetition unit) substantially or conceptually obtained from a molecule having a small molecular weight (for example, a weight average molecular weight of 500 or less). It has a structure composed of a large number of repetitions (for example, 5 times or more). The polyimide resin typically contains a repeating unit structure represented by the following formula (1). Here, R and R'in the formula are independently arbitrary organic functional groups or oxygen atoms.

Figure 2021099912
Figure 2021099912

ポリイミド樹脂は、典型的にはイミド結合を含む繰り返し単位が主鎖を構成する結晶性または非結晶性の高分子である。より付着性の高い電極を形成するとの観点からは、結晶性の高分子であってよい。また、より高い耐熱性を備えるとの観点からは、非結晶性の高分子であってよい。さらに、ポリイミド樹脂は、ホモポリマーの状態で、耐熱温度が250℃以上であるとよく、例えばガラス転移点については200℃以上であってよく、好ましくは210℃以上、より好ましくは220℃以上であり得る。ポリイミド樹脂において、全繰返し単位のモル数に占める、イミド結合を含む繰り返し単位のモル数の割合は、通常は50%以上(例えば50%〜95%)であり、好ましくは65%以上、より好ましくは75%以上、例えば85%以上である。例えば、全繰返し単位が脂肪族又は環状脂肪族を含む単位から構成されていてもよい。 Polyimide resins are typically crystalline or amorphous polymers in which repeating units containing imide bonds make up the main chain. From the viewpoint of forming an electrode having higher adhesiveness, it may be a crystalline polymer. Further, from the viewpoint of having higher heat resistance, it may be an amorphous polymer. Further, the polyimide resin is preferably in a homopolymer state and has a heat resistant temperature of 250 ° C. or higher. For example, the glass transition point may be 200 ° C. or higher, preferably 210 ° C. or higher, more preferably 220 ° C. or higher. possible. In the polyimide resin, the ratio of the number of moles of the repeating unit containing the imide bond to the number of moles of the total repeating unit is usually 50% or more (for example, 50% to 95%), preferably 65% or more, more preferably. Is 75% or more, for example 85% or more. For example, all repeating units may be composed of units containing an aliphatic or cyclic aliphatic.

ポリイミド樹脂において、イミド結合の繰返し単位の種類は特に限定されない。イミド結合を含む単位としては、これに限定されるものではないが、例えば、s−ODPA、i−ODPA、a−ODPA、2,2’−BAPB、4,4’−BAPB、1,5−NBOA、2,3−NBOA、3,3’−ODA、4,4’−ODA、PMDA、BPDA、BPADA、BTDA、BAFL、2,2−TFMB、1,3,3−APB、1,3,4−APB、DDS等が例示される。これらはいずれか1種が単独であってもよいし、2種以上の任意の組み合わせであってもよい。 In the polyimide resin, the type of the repeating unit of the imide bond is not particularly limited. The unit containing an imide bond is not limited to this, and is, for example, s-ODPA, i-ODPA, a-ODPA, 2,2'-BABP, 4,4'-BABP, 1,5-. NBOA, 2,3-NBOA, 3,3'-ODA, 4,4'-ODA, PMDA, BPDA, BPADA, BTDA, BAFL, 2,2-TFMB, 1,3,3-APB, 1,3 4-APB, DDS and the like are exemplified. Any one of these may be used alone, or any combination of two or more thereof may be used.

このようなポリイミド樹脂は、例えば、JFEケミカル株式会社、京セラケミカル株式会社、サビック社製、PI技術研究所製のポリイミド材料のなかから、所望の用途に応じて上記特徴を満たすものを適宜選択して入手することができる。 As such a polyimide resin, for example, from among polyimide materials manufactured by JFE Chemical Co., Ltd., Kyocera Chemical Co., Ltd., Savik Co., Ltd., and PI Technology Research Institute, those satisfying the above characteristics are appropriately selected according to a desired application. Can be obtained.

(B2)シリコーン樹脂
シリコーン樹脂としては、ケイ素(Si)と酸素(O)とからなるシロキサン結合(Si−O−Si)による主骨格を有する高分子有機化合物のうち、分岐鎖を含む高分子有機化合物を用いることができる。すなわち、いわゆるシリコーンオイル、シリコーンラバー、シリコーンレジンと呼ばれるシロキサン化合物のうち、直鎖型のシリコーンオイルを除く、シリコーンラバーおよび/またはシリコーンレジンであってよい。シリコーンゴムは、分岐度(架橋度)が低く、室温(例えば25℃)でゴム弾性を有するエラストマーである。シリコーンレジンは、分岐度(架橋度)が高く、三次元ポリマー構造が発達している。シリコーンラバーとシリコーンレジンのうち、シリコーン樹脂としてはシリコーンレジンを用いることがより好ましい。シリコーン樹脂は、室温(例えば25℃)において、固体状であってもよいし、液体状であってもよい。
(B2) Silicone Resin The silicone resin is a polymer organic compound having a main skeleton composed of a siloxane bond (Si—O—Si) composed of silicon (Si) and oxygen (O), and contains a branched chain. Compounds can be used. That is, among the so-called silicone oils, silicone rubbers, and siloxane compounds called silicone resins, silicone rubbers and / or silicone resins may be used, excluding linear silicone oils. Silicone rubber is an elastomer having a low degree of branching (crosslinking degree) and rubber elasticity at room temperature (for example, 25 ° C.). Silicone resin has a high degree of branching (crosslinking) and a well-developed three-dimensional polymer structure. Of the silicone rubber and the silicone resin, it is more preferable to use the silicone resin as the silicone resin. The silicone resin may be in a solid state or a liquid state at room temperature (for example, 25 ° C.).

主骨格部分を形成するシリコーン樹脂としては、例えば、一般式:HO[−Si(R)O−]H、Rは水素または任意の官能基;で示されるシロキサン単位を含むポリシロキサンや、Rが任意のアルキル基であるポリアルキルシロキサン、または、シロキサン単位とこれとは異なるケイ素含有モノマーとが重合されてなるポリマーであってよい。具体的には、シリコーン樹脂としては、ポリジメチルシロキサン,ポリジエチルシロキサン,ポリメチルエチルシロキサン等のポリジアルキルシロキサン、ポリアルキルアリールシロキサン、ポリ(ジメチルシロキサン−メチルシロキサン)等が挙げられる。特に好適な主骨格を構成する高分子は、例えば、ポリジメチルシロキサンであり得る。また、シリコーン樹脂としては、ポリエーテル基、エポキシ基、アミン基、カルボキシル基、アルキル基、水酸基等の他の置換基を主骨格の側鎖、末端、または両者に導入した直鎖変性シリコーンであってもよい。 Examples of the silicone resin forming the main skeleton portion include polysiloxane containing a siloxane unit represented by the general formula: HO [-Si (R) 2 O-] n H, R is hydrogen or an arbitrary functional group; It may be a polyalkylsiloxane in which R is an arbitrary alkyl group, or a polymer obtained by polymerizing a siloxane unit and a silicon-containing monomer different from the siloxane unit. Specific examples of the silicone resin include polydialkylsiloxane such as polydimethylsiloxane, polydiethylsiloxane, and polymethylethylsiloxane, polyalkylarylsiloxane, and poly (dimethylsiloxane-methylsiloxane). The polymer constituting a particularly suitable main skeleton can be, for example, polydimethylsiloxane. The silicone resin is a linear modified silicone in which other substituents such as a polyether group, an epoxy group, an amine group, a carboxyl group, an alkyl group and a hydroxyl group are introduced into the side chain, the terminal or both of the main skeleton. You may.

また、シリコーン樹脂には、付加硬化型のシリコーン樹脂と、脱水縮合硬化型のシリコーン樹脂とがあることが知られている。このうち、脱水縮合硬化型のシリコーン樹脂の場合、反応副生成物としての水が形成される電極膜に悪影響を与える虞がある。したがって、必ずしもこれに限定されるものではないが、シリコーン樹脂としては、付加硬化型のシリコーン樹脂であることがより好ましい。 Further, it is known that the silicone resin includes an addition curing type silicone resin and a dehydration condensation curing type silicone resin. Of these, in the case of a dehydration condensation curing type silicone resin, there is a risk of adversely affecting the electrode film on which water as a reaction by-product is formed. Therefore, although not necessarily limited to this, the silicone resin is more preferably an addition-curable silicone resin.

このようなシリコーン樹脂は、例えば、信越化学工業社、旭化成ワッカーシリコーン社製のシリコーンレジンまたはシリコーンゴムから、所望の用途に応じて上記特徴を満たすものを適宜選択して入手することができる。 Such a silicone resin can be obtained by appropriately selecting a silicone resin or silicone rubber manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. or Asahi Kasei Wacker Silicone Co., Ltd., which satisfies the above characteristics, according to a desired application.

ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂とは、ポリイミド樹脂にごく少量でもシリコーン樹脂がブレンドされることで、ポリイミド樹脂の接着性の向上効果を得ることができる。しかしながら、例えば、4N/mm以上の高い接着性を有する導電性膜を形成するために用いられる導電性ペーストにおいては、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂との合計を100質量%としたとき、シリコーン樹脂の割合が、2質量%を超過するとよく、3質量%以上であってよく、5質量%以上や、7質量%以上、例えば8質量%以上、さらには10質量%以上であるとより好ましい。しかしながら、過剰な割合でシリコーン樹脂をブレンドすると、ポリイミド樹脂の優れた特性が阻害されうる点において好ましくない。シリコーン樹脂の割合は、60質量%未満であるとよく、50質量%以下が好ましく、例えば40質量%以下、30質量%以下、さらには25質量%以下であると好ましい。 By blending the polyimide resin with the silicone resin even in a very small amount, the effect of improving the adhesiveness of the polyimide resin can be obtained. However, for example, in the conductive paste used for forming a conductive film having a high adhesiveness of 4 N / mm 2 or more, when the total of the polyimide resin and the silicone resin is 100% by mass, the silicone resin The ratio may exceed 2% by mass, may be 3% by mass or more, and more preferably 5% by mass or more, 7% by mass or more, for example, 8% by mass or more, and further preferably 10% by mass or more. However, blending the silicone resin in an excessive ratio is not preferable in that the excellent properties of the polyimide resin may be impaired. The proportion of the silicone resin is preferably less than 60% by mass, preferably 50% by mass or less, and preferably 40% by mass or less, 30% by mass or less, and further preferably 25% by mass or less.

また、(A)導電性粒子100質量部に対する(B)樹脂成分の割合が多いほど、この導電性膜に加えられる外部からの振動や熱衝撃を、より多く緩衝して低減できる点において好ましい。樹脂成分の割合は、例えば3質量%以上であるとよく、5質量%以上や、8質量%以上、例えば10質量%以上であるとより好ましい。しかしながら、樹脂成分の割合が過剰な場合は、導電性粒子間に存在する樹脂成分が抵抗となり得るために好ましくない。樹脂成分の割合は、例えば30質量%以下であるとよく、25質量%以下が好ましく、例えば20質量%以下であってよい。 Further, it is preferable that the ratio of the resin component (B) to 100 parts by mass of the conductive particles (A) is larger, the vibration and thermal shock from the outside applied to the conductive film can be buffered and reduced more. The ratio of the resin component is, for example, preferably 3% by mass or more, and more preferably 5% by mass or more, 8% by mass or more, for example, 10% by mass or more. However, when the ratio of the resin component is excessive, the resin component existing between the conductive particles can be a resistance, which is not preferable. The ratio of the resin component is, for example, preferably 30% by mass or less, preferably 25% by mass or less, and may be, for example, 20% by mass or less.

この導電性ペーストは、上記のとおり、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂との含有が欠かせない。その一方で、市場には、ポリイミド鎖にシリコーン構造を導入した、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂とのブロック共重合体が提供されてもいる。このシリコン変性ポリイミドブロック共重合体は、ポリイミドに密着性や可撓性を付与したものと理解することができる。しかしながら、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂とが共重合してしまうと、その重合部において耐熱性が損なわれるという大きなデメリットがある。そのため、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂とは、共重合体の形態ではなく、単体のブレンドとして、導電性ペーストに含まれることが好ましい。換言すると、ここに開示される導電性ペーストは、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂との共重合体は含まない構成であることが好ましい。 As described above, this conductive paste is indispensable to contain the polyimide resin and the silicone resin. On the other hand, the market also offers block copolymers of a polyimide resin and a silicone resin in which a silicone structure is introduced into a polyimide chain. It can be understood that this silicon-modified polyimide block copolymer imparts adhesion and flexibility to polyimide. However, if the polyimide resin and the silicone resin are copolymerized, there is a big demerit that the heat resistance is impaired in the polymerized portion. Therefore, it is preferable that the polyimide resin and the silicone resin are contained in the conductive paste as a single blend rather than in the form of a copolymer. In other words, the conductive paste disclosed herein preferably does not contain a copolymer of a polyimide resin and a silicone resin.

また、ここに開示される導電性ペーストは、上記特徴を損ねない範囲において、他の樹脂成分を含んでいてもよい。そのような樹脂成分としては、ゴム系樹脂、ポリエステル系樹脂、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂、ポリエーテル系樹脂、ポリアミド系樹脂、フッ素系樹脂等の公知の各種の樹脂成分の1種または2種以上であり得る。しかしながら、公知の樹脂成分のうち、アクリロニトリル・ブタジエンゴム(NBR)系樹脂やアクリル系樹脂については、上記のシリコーン樹脂のようにポリイミド樹脂の難接着性を改善する効果が見られないために含まなくてもよい。なお、従来の導電性樹脂ペーストとの差別化の観点から、例えば、エポキシ系樹脂やウレタン系樹脂は含まない構成であってもよい。導電性ペーストに、ポリイミド樹脂およびシリコーン樹脂以外の他の樹脂成分が含まれる場合、これら他の樹脂成分の割合は、合計で10質量%以下(好ましくは5%以下)の含有であることが好ましい。 Further, the conductive paste disclosed herein may contain other resin components as long as the above characteristics are not impaired. Such resin components include one or two kinds of known various resin components such as rubber-based resin, polyester-based resin, epoxy-based resin, urethane-based resin, polyether-based resin, polyamide-based resin, and fluorine-based resin. It can be more than that. However, among the known resin components, acrylonitrile-butadiene rubber (NBR) -based resin and acrylic-based resin are not included because they do not have the effect of improving the poor adhesion of the polyimide resin like the above-mentioned silicone resin. You may. From the viewpoint of differentiation from the conventional conductive resin paste, for example, an epoxy resin or a urethane resin may not be contained. When the conductive paste contains resin components other than the polyimide resin and the silicone resin, the ratio of these other resin components is preferably 10% by mass or less (preferably 5% or less) in total. ..

(C)有機溶剤
有機溶剤としては、上記のポリイミド樹脂とシリコーン樹脂とに相溶性を示す溶剤を特に制限なく用いることができる。有機溶剤は、成膜時の作業性や保存安定性等の観点からは、沸点が概ね200℃以上、例えば200〜300℃の高沸点有機溶剤を主成分(50体積%以上を占める成分。)とするとよい。有機溶剤の一好適例としては、ターピネオール、テキサノール、ジヒドロターピネオール、ベンジルアルコール等の、−OH基を有するアルコール系溶剤;エチレングリコール、ジエチレングリコール等の、グリコール系溶剤;ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ブチルカルビトール(ジエチレングリコールモノブチルエーテル)、トリエチレングリコールジメチルエーテル等の、グリコールエーテル系溶剤;イソボルニルアセテート、エチルジグリコールアセテート、ブチルグリコールアセテート、ブチルジグリコールアセテート、ブチルセロソルブアセテート、ブチルカルビトールアセテート(ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセタート)、γ−ブチロラクトン、安息香酸メチル等の、エステル結合基(R−C(=O)−O−R’)を有するエステル系溶剤;トルエン、キシレン等の炭化水素系溶剤;N−メチルピロリドン(NMP)等の非プロトン性極性溶媒、ミネラルスピリット等が挙げられる。なかでも、上記樹脂成分を好適に溶解するとの観点から、NMPやγ−ブチロラクトン等の有機溶剤を好ましく用いることができる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を適宜混合して用いることができる。
(C) Organic Solvent As the organic solvent, a solvent exhibiting compatibility with the above-mentioned polyimide resin and silicone resin can be used without particular limitation. The organic solvent is mainly composed of a high boiling point organic solvent having a boiling point of about 200 ° C. or higher, for example, 200 to 300 ° C. (a component occupying 50% by volume or more) from the viewpoint of workability during film formation and storage stability. It is good to say. As a preferred example of the organic solvent, alcohol-based solvents having a −OH group such as tarpineol, texanol, dihydroterpineol, and benzyl alcohol; glycol-based solvents such as ethylene glycol and diethylene glycol; diethylene glycol monoethyl ether and butyl carbitol ( Diethylene glycol monobutyl ether), glycol ether solvents such as triethylene glycol dimethyl ether; isobornyl acetate, ethyl diglycol acetate, butyl glycol acetate, butyl diglycol acetate, butyl cellosolve acetate, butyl carbitol acetate (diethylene glycol monobutyl ether acetate) , Γ-Butyrolactone, methyl benzoate, etc., ester-based solvent having an ester-binding group (RC (= O) -OR'); hydrocarbon solvent such as toluene, xylene, etc .; N-methylpyrrolidone (NMP) ) Etc., aprotonic polar solvents, mineral spirits and the like can be mentioned. Among them, an organic solvent such as NMP or γ-butyrolactone can be preferably used from the viewpoint of preferably dissolving the above resin component. One of these may be used alone, or two or more thereof may be appropriately mixed and used.

有機溶剤(C)の含有割合は特に限定されないが、導電性ペーストの全体を100質量%としたときに、概ね70質量%以下、典型的には5〜60質量%、例えば10〜50質量%程度であるとよい。上記範囲を満たすことで、ペーストに適度な流動性を付与することができ、成膜時の作業性を向上することができる。また、ペーストのセルフレベリング性を高めて、より滑らかな表面の導電性膜を実現することができる。 The content ratio of the organic solvent (C) is not particularly limited, but when the whole conductive paste is 100% by mass, it is approximately 70% by mass or less, typically 5 to 60% by mass, for example, 10 to 50% by mass. It should be about. By satisfying the above range, it is possible to impart appropriate fluidity to the paste, and it is possible to improve workability at the time of film formation. In addition, the self-leveling property of the paste can be enhanced to realize a conductive film having a smoother surface.

(D)その他の成分
ここで開示されるペーストは、上記(A)〜(C)の成分のみで構成されていてもよく、上記(A)〜(C)の成分に加えて、必要に応じて種々の添加成分を含んでいてもよい。添加成分としては、ここに開示される技術の効果を著しく損なわない限りにおいて、一般的な導電性ペーストに使用し得ることが知られているものを適宜用いることができる。
(D) Other components The paste disclosed here may be composed of only the components (A) to (C) above, and in addition to the components (A) to (C) above, if necessary. It may contain various additive components. As the additive component, those known to be usable in a general conductive paste can be appropriately used as long as the effects of the techniques disclosed herein are not significantly impaired.

添加成分は、無機添加剤(D1)と有機添加剤(D2)とに大別される。無機添加剤(D1)の一例としては、焼結助剤や無機フィラー、ガラスフリット等が挙げられる。無機添加剤(D1)は、平均粒子径が、概ね10nm〜10μm程度であり、導電性膜の算術平均粗さRaを小さく抑える観点からは、例えば0.3μm以下であることが好ましい。また、有機添加剤(D2)の一例としては、レベリング剤、消泡剤、増粘剤、可塑剤、pH調整剤、安定剤、酸化防止剤、防腐剤、着色剤(顔料、染料等)等が挙げられる。なお、有機添加剤(D2)は、酸価を有していても良く、酸価を有していなくても良い。添加成分の含有割合は特に限定されないが、導電性ペーストの全体を100質量%としたときに、概ね20質量%以下、典型的には10質量%以下、例えば5質量%以下であってもよい。 The additive components are roughly classified into an inorganic additive (D1) and an organic additive (D2). Examples of the inorganic additive (D1) include a sintering aid, an inorganic filler, and glass frit. The average particle size of the inorganic additive (D1) is about 10 nm to 10 μm, and is preferably 0.3 μm or less from the viewpoint of keeping the arithmetic average roughness Ra of the conductive film small. Further, as an example of the organic additive (D2), a leveling agent, a defoaming agent, a thickener, a plasticizer, a pH adjuster, a stabilizer, an antioxidant, a preservative, a coloring agent (pigment, dye, etc.) and the like. Can be mentioned. The organic additive (D2) may or may not have an acid value. The content ratio of the additive component is not particularly limited, but may be approximately 20% by mass or less, typically 10% by mass or less, for example, 5% by mass or less, assuming that the entire conductive paste is 100% by mass. ..

このようなペーストは、上述した材料を所定の含有割合(質量比)となるよう秤量し、均質に撹拌混合することで調製し得る。材料の撹拌混合は、従来公知の種々の攪拌混合装置、例えばロールミル、マグネチックスターラー、プラネタリーミキサー、ディスパー等を用いて行うことができる。また、基材へのペーストの付与は、例えば、チップインディップ法や、ディスペンサー供給法、スクリーン印刷、グラビア印刷、オフセット印刷およびインクジェット印刷等の印刷法、スプレー塗布法等を用いて行うことができる。積層セラミック電子部品の外部電極の樹脂電極層を形成する用途では、例えば、ディップ法が好適である。また、積層セラミック電子部品を基板に実装する際のボンディング用途では、例えば、ディスペンサー供給法が好適である。 Such a paste can be prepared by weighing the above-mentioned materials so as to have a predetermined content ratio (mass ratio) and uniformly stirring and mixing them. The stirring and mixing of the materials can be carried out using various conventionally known stirring and mixing devices such as a roll mill, a magnetic stirrer, a planetary mixer, and a disper. Further, the paste can be applied to the base material by using, for example, a chip indip method, a dispenser supply method, a screen printing, a gravure printing, a printing method such as offset printing and an inkjet printing, a spray coating method, or the like. .. For example, the dip method is suitable for forming a resin electrode layer of an external electrode of a laminated ceramic electronic component. Further, for bonding applications when mounting a laminated ceramic electronic component on a substrate, for example, a dispenser supply method is suitable.

<ペーストの用途>
ここに開示される導電性ペーストによれば、任意の基材上に耐熱性と接着性とに優れた導電性膜を形成することができる。この導電性膜は、乾燥によって硬化され、未焼成の状態で導電性膜を構成する。そのため、ここで開示されるペーストは、焼成などの温度変化に弱いセラミック電子部品の樹脂電極層等を形成するための導電性ペースト等として好ましく用いることができる。その他、セラミック電子部品を基板実装する際に、半田に代わる接着のためのボンディング用導電性樹脂を形成するために用いることもできる。
<Use of paste>
According to the conductive paste disclosed herein, a conductive film having excellent heat resistance and adhesiveness can be formed on an arbitrary base material. This conductive film is cured by drying and constitutes a conductive film in an unfired state. Therefore, the paste disclosed here can be preferably used as a conductive paste or the like for forming a resin electrode layer or the like of a ceramic electronic component that is vulnerable to temperature changes such as firing. In addition, when mounting a ceramic electronic component on a substrate, it can also be used to form a conductive resin for bonding instead of solder.

なお、本明細書において、「セラミック電子部品」とは、非晶質のセラミック基材(ガラスセラミック基材)あるいは結晶質(すなわち非ガラス)のセラミック基材を有する電子部品一般を指す用語である。例えば、セラミック製の基材を有するチップインダクタ、高周波フィルター、セラミックコンデンサ、低温焼成積層セラミック基材(Low Temperature Co-fired Ceramics Substrate:LTCC基材)、高温焼成積層セラミック基材(High Temperature Co-fired Ceramics Substrate:HTCC基材)等は、ここでいう「セラミック電子部品」に包含される典型例である。 In the present specification, the term "ceramic electronic component" is a term that generally refers to an electronic component having an amorphous ceramic base material (glass-ceramic base material) or a crystalline (that is, non-glass) ceramic base material. .. For example, chip inductors with ceramic substrates, high frequency filters, ceramic capacitors, low temperature co-fired ceramics substrate (LTCC substrates), high temperature co-fired multilayer ceramic substrates (LTCC substrates), high temperature co-fired Ceramics Substrate (HTCC substrate) and the like are typical examples included in the "ceramic electronic parts" referred to here.

図1は、セラミック電子部品1としての積層セラミックコンデンサ(MLCC)の構成を模式的に示す断面図である。セラミック電子部品1は、典型的には、部品本体10と、部品本体10の対向する一対の端面に形成されている外部電極30とを備えている。 FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a multilayer ceramic capacitor (MLCC) as a ceramic electronic component 1. The ceramic electronic component 1 typically includes a component body 10 and external electrodes 30 formed on a pair of opposite end faces of the component body 10.

部品本体10は、複数の内部電極20が誘電体層12を介して積層されている。各誘電体層12は、例えばセラミック誘電体を含むセラミックグリーンシートの積層焼結体から構成される。実際のMLCCにおいては、誘電体層12の間の接合境界が視認できない程度に一体化されている。ここで、内部電極20の一部は、部品本体10の端面(図1では左右の端部)に露出されている。 In the component body 10, a plurality of internal electrodes 20 are laminated via a dielectric layer 12. Each dielectric layer 12 is composed of, for example, a laminated sintered body of a ceramic green sheet containing a ceramic dielectric. In the actual MLCC, the bonding boundaries between the dielectric layers 12 are integrated to the extent that they cannot be visually recognized. Here, a part of the internal electrode 20 is exposed on the end faces (left and right ends in FIG. 1) of the component body 10.

外部電極30は、部品本体10の外表面上に配設されている。外部電極30は、部品本体10の対向する一対の端面(図1では左右の端部)のそれぞれに形成されている。外部電極30は、第1の金属電極層32と、導電性膜(樹脂電極層)34と、第2の金属電極層36と、第3の金属電極層38とを有している。 The external electrode 30 is arranged on the outer surface of the component body 10. The external electrodes 30 are formed on each of a pair of opposite end faces (left and right ends in FIG. 1) of the component body 10. The external electrode 30 has a first metal electrode layer 32, a conductive film (resin electrode layer) 34, a second metal electrode layer 36, and a third metal electrode layer 38.

第1の金属電極層32は、卑金属である銅(Cu)を主成分として含有しており、内部電極20と物理的且つ電気的に接続されている。第1の金属電極層32は、部品本体10の左右の一対の端面と、そこに連なる4つの側面の外表面に連続して形成されている。第1の金属電極層32は、Cu粉末を含有する導電性ペーストを、部品本体10の一対の端面およびそこに連なる4つの側面の外表面に、塗布して焼き付けることによって形成されている。第1の金属電極層32の厚みは、例えば、10〜30μmである。 The first metal electrode layer 32 contains copper (Cu), which is a base metal, as a main component, and is physically and electrically connected to the internal electrode 20. The first metal electrode layer 32 is continuously formed on the pair of left and right end faces of the component body 10 and the outer surfaces of the four side surfaces connected thereto. The first metal electrode layer 32 is formed by applying a conductive paste containing Cu powder to a pair of end faces of the component body 10 and the outer surfaces of four side surfaces connected thereto and baking them. The thickness of the first metal electrode layer 32 is, for example, 10 to 30 μm.

導電性膜34は、金属(Ag)粉末を導電性粒子として含有しており、ここに開示される導電性ペーストを乾燥により硬化させてなる層である。導電性膜34は、第1の金属電極層32の周縁を残して、部品本体10の一対の端面およびそこに連なる4つの側面の外表面に、ここに開示される導電性ペーストを塗布して乾燥させることによって形成されている。ここで、乾燥の温度は、使用するイミド樹脂およびシリコーン樹脂によって変わり得るものの、おおよそ180℃以上300℃以下である。導電性膜34の厚みは、例えば、20〜100μmである。これによりここに開示される導電性ペーストを硬化させて、外部電極30の一部としての導電性膜34を形成することができる。 The conductive film 34 contains metal (Ag) powder as conductive particles, and is a layer formed by curing the conductive paste disclosed herein by drying. The conductive film 34 is coated with the conductive paste disclosed herein on the pair of end faces of the component body 10 and the outer surfaces of the four side surfaces connected thereto, leaving the peripheral edge of the first metal electrode layer 32. It is formed by drying. Here, the drying temperature is approximately 180 ° C. or higher and 300 ° C. or lower, although it may vary depending on the imide resin and the silicone resin used. The thickness of the conductive film 34 is, for example, 20 to 100 μm. Thereby, the conductive paste disclosed herein can be cured to form the conductive film 34 as a part of the external electrode 30.

第2の金属電極層36は、NiあるいはNi合金を主成分として含む。導電性膜34は、例えば第1の金属電極層32および導電性膜34の表面をNiめっきすることによって形成されている。第2の金属電極層36の厚みは、例えば、1〜5μmである。
第3の金属電極層38は、SnあるいはSn合金を主成分として含む。第3の金属電極層38は、第2の金属電極層36の表面をSnまたはSn合金でめっき処理することによって形成されている。第3の金属電極層38の厚みは、例えば、1〜5μmである。
The second metal electrode layer 36 contains Ni or a Ni alloy as a main component. The conductive film 34 is formed, for example, by Ni-plating the surfaces of the first metal electrode layer 32 and the conductive film 34. The thickness of the second metal electrode layer 36 is, for example, 1 to 5 μm.
The third metal electrode layer 38 contains Sn or a Sn alloy as a main component. The third metal electrode layer 38 is formed by plating the surface of the second metal electrode layer 36 with Sn or a Sn alloy. The thickness of the third metal electrode layer 38 is, for example, 1 to 5 μm.

以上のようにして、セラミック電子部品1を製造することができる。ここで、外部電極30は、部品本体10の両方の端面に露出された内部電極20に電気的に接続されている。これにより、外部から、一方の外部電極30を通じて内部電極20に送られた電流を、そのまま他方の外部電極33に送ることなく、MLCC内に蓄えて絶縁することができる。また、外部負荷に電流を流すときは、MLCC内に蓄えられた電荷が、順次、外部電極30を通じて外部回路に送られる。このとき、MLCCがあることによって、電源電圧が不安定な場合であっても、安定して外部回路に電荷を供給することができる。このようなMLCCは、外部電極30に高耐熱性と接着性とに優れた導電性膜34を含む。このことにより、MLCCが搭載された電子機器が、連続走行する車両等の高温環境に晒されて、MLCCが実装された基板が撓んだ場合であっても、導電性膜34が第1の金属電極層32と第2の金属電極層36とに密着性よく接着し、例えばかかる撓みを緩衝し、部品本体10との電気的接続を安定して維持することができる。これにより、高温環境においても高い信頼性を有するセラミック電子部品1が提供される。なお、具体的には示さないが、かかる導電性ペーストは、セラミック電子部品1を基板に実装する場合のボンディングペーストとしても利用できる。 As described above, the ceramic electronic component 1 can be manufactured. Here, the external electrode 30 is electrically connected to the internal electrode 20 exposed on both end faces of the component body 10. As a result, the current sent from the outside to the internal electrode 20 through one external electrode 30 can be stored in the MLCC and insulated without being sent to the other external electrode 33 as it is. Further, when a current is passed through the external load, the electric charges stored in the MLCC are sequentially sent to the external circuit through the external electrode 30. At this time, due to the presence of the MLCC, even when the power supply voltage is unstable, the electric charge can be stably supplied to the external circuit. Such a MLCC includes a conductive film 34 having excellent heat resistance and adhesiveness in the external electrode 30. As a result, even when the electronic device on which the MLCC is mounted is exposed to a high temperature environment such as a continuously traveling vehicle and the substrate on which the MLCC is mounted is bent, the conductive film 34 is the first. The metal electrode layer 32 and the second metal electrode layer 36 can be adhered to each other with good adhesion, for example, to buffer such bending, and to stably maintain an electrical connection with the component body 10. As a result, the ceramic electronic component 1 having high reliability even in a high temperature environment is provided. Although not specifically shown, the conductive paste can also be used as a bonding paste when the ceramic electronic component 1 is mounted on a substrate.

以下、本発明に関するいくつかの実施例を説明するが、本発明を係る実施例に示すものに限定することを意図したものではない。 Hereinafter, some examples of the present invention will be described, but the present invention is not intended to be limited to those shown in the examples.

[導電性ペースト]
表1に示す配合で、導電性粒子と、樹脂成分と、溶剤とを混合することで、例1〜19の導電性ペーストを調製した。
導電性粒子としては、平均粒子径が4.7μmのフレーク状のAg粉末(タップ密度3.1g/cm)を全例で共通して用いた。溶剤としては、γ−ブチロラクトンを共通して用いた。ただし、具体的には示さないが、導電性粒子および溶剤の種類を変更しても、後述する電極特性の傾向に大幅な違いは見られないことを確認している。
[Conductive paste]
The conductive pastes of Examples 1 to 19 were prepared by mixing the conductive particles, the resin component, and the solvent with the formulations shown in Table 1.
As the conductive particles, flaky Ag powder (tap density 3.1 g / cm 3 ) having an average particle diameter of 4.7 μm was commonly used in all the examples. As the solvent, γ-butyrolactone was commonly used. However, although not specifically shown, it has been confirmed that even if the types of the conductive particles and the solvent are changed, there is no significant difference in the tendency of the electrode characteristics described later.

樹脂成分としては、表1に示す10通りの樹脂を、単独で、または、組み合わせて用いた。なお、表1に示した樹脂は、以下のものを示す。また、下記のTD1,TD2,TD5は、それぞれ1%,2%,5%重量減少温度を、Tgはガラス転移温度を、意味する。 As the resin component, 10 kinds of resins shown in Table 1 were used alone or in combination. The resins shown in Table 1 are as follows. Further, the following TD1, TD2, and TD5 mean 1%, 2%, and 5% weight loss temperatures, respectively, and Tg means the glass transition temperature.

「ポリイミド樹脂1」:溶剤可溶型フッ素含有ポリイミド樹脂(Tg:360℃、TD1:500℃、TD5:540℃)
「ポリイミド樹脂2」:溶剤可溶型ポリエーテルイミド樹脂(Tg:260℃、TD1:400℃、TD5:450℃)
「シリコーン樹脂1」:付加硬化型シリコーンレジン(二液型)
「シリコーン樹脂2」:付加硬化型シリコーンレジン(一液型)
「シリコーン樹脂3」:付加硬化型シリコーンレジン(フェニルシリコーン)
「シリコーン樹脂4」:縮合型シリコーンレジン(フレーク状)
「シリコーン樹脂5」:縮合型シリコーンレジン(フレーク状、シリコーン樹脂4とは他メーカ品)
「シリコーン樹脂6」:付加硬化型シリコーンゴム(室温硬化型)
「アクリル樹脂」:重量平均分子量:30万、Tg:56℃
「NBR樹脂」:ニトリルブタジエンゴム、結合AN量:28.0、ムーニー粘度:50
"Polyimide resin 1": Solvent-soluble fluorine-containing polyimide resin (Tg: 360 ° C, TD 1: 500 ° C, TD 5: 540 ° C)
"Polyimide resin 2": Solvent-soluble polyetherimide resin (Tg: 260 ° C., TD1: 400 ° C., TD5: 450 ° C.)
"Silicone resin 1": Additive curing type silicone resin (two-component type)
"Silicone resin 2": Additive curing type silicone resin (one-component type)
"Silicone resin 3": Additive-curable silicone resin (phenyl silicone)
"Silicone resin 4": Condensation type silicone resin (flakes)
"Silicone resin 5": Condensation type silicone resin (flake-shaped, silicone resin 4 is a product of another manufacturer)
"Silicone resin 6": Additive curing type silicone rubber (room temperature curing type)
"Acrylic resin": Weight average molecular weight: 300,000, Tg: 56 ° C
"NBR resin": Nitrile butadiene rubber, bonded AN amount: 28.0, Mooney viscosity: 50

[導電性膜とその評価]
(基板接着性)
用意した各例の導電性ペーストを、2枚の銅板(2cm×5cm、表面加工なし)の先端に、面積:2cm×1cm、厚み:約50μmで塗布した。そして、導電性ペーストを塗布した銅板を、先ずは180℃で15分間、次いで280℃で45分間乾燥させることで、導電性ペーストを硬化させた。これにより、銅板上に所定の寸法の導電性膜を形成した。次いで、導電性膜を形成した2枚の銅板の導電性膜の部分にエポキシ接着剤を塗布し、銅板部分が互いに反対側に配置されるように向きを整えて、導電性膜同士を重ね合わせて接着した。これにより、各例の導電性膜の基板接着性の評価用試験片を用意した。
[Conductive film and its evaluation]
(Board adhesiveness)
The conductive paste of each of the prepared examples was applied to the tips of two copper plates (2 cm × 5 cm, no surface processing) with an area of 2 cm × 1 cm and a thickness of about 50 μm. Then, the copper plate coated with the conductive paste was first dried at 180 ° C. for 15 minutes and then dried at 280 ° C. for 45 minutes to cure the conductive paste. As a result, a conductive film having a predetermined size was formed on the copper plate. Next, an epoxy adhesive is applied to the conductive film portions of the two copper plates on which the conductive films are formed, the orientations are adjusted so that the copper plate portions are arranged on opposite sides of each other, and the conductive films are overlapped with each other. And glued. As a result, a test piece for evaluating the substrate adhesiveness of the conductive film of each example was prepared.

評価用試験片の両端の銅板部分を、引張試験機((株)島津製作所製、万能試験機オートグラフ)の上下のチャックにそれぞれ固定し、JIS K6850:1999(剛性被着材の引張せん断接着強さ試験方法)に準じて引張せん断試験を実施した。引張せん断試験においては、評価用試験片の接着面に垂直な引張り荷重(せん断力)を所定の荷重速度で負荷し、評価用試験片が破断したときの引張せん断荷重(破断力)から、接着強度(せん断強さ)を測定した。その結果を、接着強度が6N/mm以上の場合を「A」、5N/mm以上6N/mm未満の場合を「B」、4N/mm以上5N/mm未満の場合を「C」、4N/mm未満を「D」として、表1の「接着性」の欄に示した。また、例1〜10について、シリコーン樹脂の配合量と接着性(接着強度)との関係を図2に示した。
なおここで、評価用試験片の作製に用いたエポキシ接着剤の単体での引張せん断試験による接着強度は15N/mm以上であり、導電性膜よりも先にエポキシ接着剤部分が剥離または破断することはない。
The copper plates at both ends of the evaluation test piece are fixed to the upper and lower chucks of a tensile tester (manufactured by Shimadzu Corporation, universal testing machine Autograph), and JIS K6850: 1999 (tensile shear bonding of rigid adherends). A tensile shear test was carried out according to the strength test method). In the tensile shear test, a tensile load (shearing force) perpendicular to the adhesive surface of the evaluation test piece is applied at a predetermined load rate, and the tensile shear load (breaking force) when the evaluation test piece breaks is used for adhesion. The strength (shear strength) was measured. The results, the case where the adhesive strength is 6N / mm 2 or more "A", "B" of less than 5N / mm 2 or more 6N / mm 2, a case of less than 4N / mm 2 or more 5N / mm 2 ""C" and less than 4N / mm 2 are designated as "D" and are shown in the "Adhesion" column of Table 1. Further, in Examples 1 to 10, the relationship between the blending amount of the silicone resin and the adhesiveness (adhesive strength) is shown in FIG.
Here, the adhesive strength of the epoxy adhesive used for producing the evaluation test piece by the direct shear test is 15 N / mm 2 or more, and the epoxy adhesive portion is peeled or broken before the conductive film. There is nothing to do.

(耐熱性)
用意した各例の導電性ペーストを、先ずは180℃で15分間、次いで280℃で45分間乾燥させたのち、280℃で2時間保持した時の重量減少率を測定した。その結果、重量減少率が3%以下の場合を「OK」とし、3%超過の場合を「NG」として、表1の「耐熱性」の欄に示した。
(Heat-resistant)
The conductive pastes of each of the prepared examples were first dried at 180 ° C. for 15 minutes, then dried at 280 ° C. for 45 minutes, and then held at 280 ° C. for 2 hours to measure the weight loss rate. As a result, the case where the weight loss rate was 3% or less was regarded as "OK", and the case where the weight loss rate exceeded 3% was regarded as "NG", and was shown in the "heat resistance" column of Table 1.

Figure 2021099912
Figure 2021099912

[評価]
例1〜11は、ポリイミド樹脂とブレンドするシリコーン樹脂の量を0〜100質量%の範囲で変化させて導電性ペーストを調製した例である。例1〜11の導電性ペーストにより得られる導電性膜は、例えば280℃まで加熱保持したときの重量減少率がいずれも3%未満と少なく、280℃に於ける耐熱性を備えていることが確認できた。
[Evaluation]
Examples 1 to 11 are examples in which a conductive paste was prepared by changing the amount of the silicone resin blended with the polyimide resin in the range of 0 to 100% by mass. The conductive films obtained from the conductive pastes of Examples 1 to 11 have a small weight loss rate of less than 3% when heated and held up to, for example, 280 ° C., and have heat resistance at 280 ° C. It could be confirmed.

なお、例11に示すように、ポリイミド樹脂をブレンドせずシリコーン樹脂のみを用いて導電性ペーストを調製した場合、形成される導電性膜の接着強度は概ね0N/mmであり、このような導電性膜は基材に対する接着性を殆ど備えていない。したがって、このような導電性ペーストでセラミック電子部品の外部電極中の導電性膜(すなわち樹脂導電層による緩衝層)を形成したとしても、当該樹脂導電層と他の外部電極とが熱衝撃などによって容易に剥離し、断線に繋がり得る。
一方で、シリコーン樹脂をブレンドせずにポリイミド樹脂のみを用いて導電性ペーストを調製した例1では、形成される導電性膜はポリイミド樹脂が有する特性により2N/mm程度の接着力を発現する。しながらこのような接着力は4N/mm未満であり、外部電極の各層の接着を熱衝撃が加わる環境で維持し続けるには十分とは言えない。
As shown in Example 11, when the conductive paste is prepared using only the silicone resin without blending the polyimide resin, the adhesive strength of the formed conductive film is approximately 0 N / mm 2. The conductive film has almost no adhesiveness to the substrate. Therefore, even if a conductive film (that is, a buffer layer made of a resin conductive layer) in the external electrode of the ceramic electronic component is formed by such a conductive paste, the resin conductive layer and the other external electrode are subjected to a thermal impact or the like. It can be easily peeled off and lead to disconnection.
On the other hand, in Example 1 in which the conductive paste was prepared using only the polyimide resin without blending the silicone resin, the formed conductive film exhibits an adhesive force of about 2 N / mm 2 due to the characteristics of the polyimide resin. .. However, such an adhesive force is less than 4 N / mm 2 , which is not sufficient to maintain the adhesion of each layer of the external electrode in an environment where a thermal shock is applied.

これに対し、例2〜10に示すように、ポリイミド樹脂にシリコーン樹脂をブレンドすることで、そのブレンド割合に応じて形成される導電性膜の接着性が変化することがわかった。すなわち、図2に示すように、ポリイミド樹脂にシリコーン樹脂をわずかでもブレンドすることで、ポリイミド樹脂自体が有する接着力が向上されることがわかった。
また、例2〜6に示すように、シリコーン樹脂のブレンド量が増えるにつれて、接着力の向上効果が急激に高められることがわかった。これは、樹脂成分としてポリイミドの単体を含む導電性膜は比較的剛性が高く、例えば熱衝撃や外部応力等によって基材(例えば、外部電極の最下層である銅層等)が伸縮したり移動した場合にその変化に追随できないのに対し、シリコーン樹脂がポリイミド樹脂の分子間に好適に入り込むことで、ポリイミド樹脂に適度な柔軟性と基材への密着性と追随性とを付与するものと考えられる。
On the other hand, as shown in Examples 2 to 10, it was found that by blending the silicone resin with the polyimide resin, the adhesiveness of the conductive film formed changes according to the blending ratio. That is, as shown in FIG. 2, it was found that the adhesive strength of the polyimide resin itself is improved by blending the polyimide resin with the silicone resin even in a small amount.
Further, as shown in Examples 2 to 6, it was found that the effect of improving the adhesive strength was sharply increased as the blending amount of the silicone resin increased. This is because the conductive film containing a single polyimide as a resin component has relatively high rigidity, and the base material (for example, the copper layer which is the lowest layer of the external electrode) expands and contracts or moves due to, for example, thermal impact or external stress. In contrast to the fact that the change cannot be followed, the silicone resin is suitably inserted between the molecules of the polyimide resin to impart appropriate flexibility, adhesion to the substrate, and followability to the polyimide resin. Conceivable.

しかしながら、例6〜10に示すように、シリコーン樹脂によるこのようなポリイミド樹脂導電性膜の接着力の改善効果は、シリコーン樹脂の割合が過剰になると逆に低減する傾向にあることがわかった。すなわち、過剰なシリコーン樹脂の存在によって、ポリイミド樹脂が本来有する接着性が損なわれるものと考えられる。
以上の結果から、ポリイミド樹脂にブレンドするシリコーン樹脂の割合は、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂とを100質量部としたときに、凡そ2質量部を超過させるとよく、3質量部以上が適切であり、5質量部以上が好ましく、10質量部以上がより好ましいことがわかった。また、ポリイミド樹脂にブレンドするシリコーン樹脂の割合は、凡そ50質量部以下とするのが適切であり、40質量部以下が好ましく、30質量部以下がより好ましいことがわかった。
However, as shown in Examples 6 to 10, it was found that the effect of the silicone resin on improving the adhesive force of the polyimide resin conductive film tends to decrease when the proportion of the silicone resin becomes excessive. That is, it is considered that the presence of the excess silicone resin impairs the adhesiveness inherent in the polyimide resin.
From the above results, the proportion of the silicone resin blended with the polyimide resin should be approximately 2 parts by mass or more when the polyimide resin and the silicone resin are 100 parts by mass, and 3 parts by mass or more is appropriate. It was found that 5 parts by mass or more is preferable, and 10 parts by mass or more is more preferable. Further, it was found that the ratio of the silicone resin blended with the polyimide resin is appropriately about 50 parts by mass or less, preferably 40 parts by mass or less, and more preferably 30 parts by mass or less.

例5、12〜18は、表1に示すように、ポリイミド樹脂1と組み合わせて用いる樹脂成分を、シリコーン樹脂1〜6、アクリル樹脂、NBR樹脂と様々に変化させた例である。例5、12〜18の導電性ペーストから形成される導電性膜の耐熱性に関しては、全ての例において重量減少率が3%未満であり、十分な耐熱性を有することが確認された。 As shown in Table 1, Examples 5 and 12 to 18 are examples in which the resin components used in combination with the polyimide resin 1 are variously changed to silicone resins 1 to 6, acrylic resins, and NBR resins. Regarding the heat resistance of the conductive film formed from the conductive pastes of Examples 5 and 12 to 18, the weight reduction rate was less than 3% in all the examples, and it was confirmed that the conductive film had sufficient heat resistance.

そして、例5、12〜16に示すように、ポリイミド樹脂1とシリコーン樹脂とを組み合わせた場合、シリコーン樹脂のタイプに依らずに、接着強度が4N/mm以上の接着性に優れた導電性膜を形成できることがわかった。なかでも、ポリイミド樹脂に組み合わせるシリコーン樹脂として、付加硬化型のシリコーンレジンを用いた場合(例5,12〜13)は接着強度が6N/mm以上と、縮合型シリコーンレジン(例14,15)や、レジンではないシリコーンゴム(例16)を用いた場合の接着強度4N/mm以上5N/mm以下よりも、大幅に接着性に優れた導電性膜を形成できることがわかった。詳細は明らかではないが、付加硬化型のシリコーンレジンは、縮合型シリコーンレジンやシリコーンゴムよりも、ポリイミド樹脂のポリマー構造中に架橋しやすく、ポリイミド樹脂に柔軟性を付与しやすいためであると予想される。 Then, as shown in Examples 5, 12 to 16, when the polyimide resin 1 and the silicone resin are combined, the adhesive strength is 4 N / mm 2 or more and the adhesiveness is excellent regardless of the type of the silicone resin. It was found that a film could be formed. Among them, when an addition-curable silicone resin is used as the silicone resin to be combined with the polyimide resin (Examples 5, 12 to 13), the adhesive strength is 6 N / mm 2 or more, and the condensed silicone resin (Examples 14 and 15). It was also found that a conductive film having significantly better adhesiveness than the adhesive strength of 4 N / mm 2 or more and 5 N / mm 2 or less when a non-resin silicone rubber (Example 16) was used could be formed. Although the details are not clear, it is expected that the addition-curable silicone resin is easier to crosslink in the polymer structure of the polyimide resin than the condensed silicone resin or silicone rubber, and it is easier to impart flexibility to the polyimide resin. Will be done.

しかしながら、ポリイミド樹脂に組み合わせる樹脂成分として、アクリル樹脂やNBR樹脂を用いた例17および例18では、導電性膜の接着強度は4N/mmに満たず、十分な接着性を有する導電性膜を形成することができないことがわかった。
以上のことから、導電性ペーストに耐熱性の高いポリイミド樹脂を用いる場合、シリコーン樹脂を組み合わせて用いることでポリイミド樹脂の剛性が緩和されて、柔らかく基材への密着性が高く接着性に優れた導電性膜を形成できることがわかった。これにより、耐熱性と接着性とが両立された導電性膜を形成できる導電性ペーストが実現される。なお、シリコーン樹脂によるポリイミド樹脂の剛性の緩和効果は、アクリル樹脂やNBR樹脂においては発揮されず、シリコーン樹脂に特有の効果であることがわかった。また、このような効果は、シリコーン樹脂のうちでも、レジン系のシリコーン樹脂や、さらには付加硬化型のシリコーン樹脂において顕著に発揮されることがわかった。
However, in Examples 17 and 18 in which acrylic resin or NBR resin was used as the resin component to be combined with the polyimide resin, the adhesive strength of the conductive film was less than 4 N / mm 2 , and the conductive film having sufficient adhesiveness was obtained. It turned out that it could not be formed.
From the above, when a polyimide resin with high heat resistance is used for the conductive paste, the rigidity of the polyimide resin is relaxed by using it in combination with the silicone resin, and it is soft and has high adhesion to the substrate and excellent adhesiveness. It was found that a conductive film can be formed. As a result, a conductive paste capable of forming a conductive film having both heat resistance and adhesiveness is realized. It was found that the effect of relaxing the rigidity of the polyimide resin by the silicone resin was not exhibited by the acrylic resin and the NBR resin, and was an effect peculiar to the silicone resin. Further, it was found that such an effect is remarkably exhibited in the resin-based silicone resin and the addition-curable silicone resin among the silicone resins.

例19は、例12の導電性ペーストにおけるポリイミド樹脂1を、ポリイミド樹脂2に変更した例である。例12と例19との比較から、ポリイミド樹脂の種類を変えた場合であっても、上記と同様の効果が得られることがわかった。 Example 19 is an example in which the polyimide resin 1 in the conductive paste of Example 12 is changed to the polyimide resin 2. From the comparison between Example 12 and Example 19, it was found that the same effect as described above can be obtained even when the type of the polyimide resin is changed.

以上、本発明を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、本発明はその主旨を逸脱しない範囲で種々変更を加え得るものである。 The present invention has been described in detail above, but these are merely examples, and the present invention can be modified in various ways without departing from the spirit of the present invention.

1 セラミック電子部品
10 部品本体
20 内部電極
30 外部電極
32 第1の金属電極層
34 導電性膜
36 第2の金属電極層
38 第3の金属電極層
1 Ceramic electronic component 10 Part body 20 Internal electrode 30 External electrode 32 First metal electrode layer 34 Conductive film 36 Second metal electrode layer 38 Third metal electrode layer

Claims (7)

導電性粒子と、
樹脂成分と、
有機溶剤と、
を含み、
前記樹脂成分は、ポリイミド樹脂とシリコーン樹脂とを含み、
前記ポリイミド樹脂と前記シリコーン樹脂との割合は、質量基準で、95:5〜50:50となるよう調整されている、導電性ペースト。
With conductive particles
With resin components
With organic solvent
Including
The resin component contains a polyimide resin and a silicone resin.
A conductive paste in which the ratio of the polyimide resin to the silicone resin is adjusted to be 95: 5 to 50:50 on a mass basis.
前記シリコーン樹脂は、付加硬化型のシリコーン樹脂である、請求項1に記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to claim 1, wherein the silicone resin is an addition-curable silicone resin. 前記シリコーン樹脂は、レジン系のシリコーン樹脂である、請求項1または2に記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to claim 1 or 2, wherein the silicone resin is a resin-based silicone resin. 前記導電性粒子を100質量部としたとき、前記樹脂成分は10質量部以上30質量部以下の割合で含まれる、請求項1〜3のいずれか一項に記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to any one of claims 1 to 3, wherein the resin component is contained in a proportion of 10 parts by mass or more and 30 parts by mass or less when the conductive particles are 100 parts by mass. 前記導電性粒子は、ニッケル、白金、パラジウム、金、銀および銅のうちの少なくとも1つを含む、請求項1〜4のいずれか一項に記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to any one of claims 1 to 4, wherein the conductive particles contain at least one of nickel, platinum, palladium, gold, silver and copper. セラミック電子部品の外部電極を形成するために用いられる、請求項1〜5のいずれか一項に記載の導電性ペースト。 The conductive paste according to any one of claims 1 to 5, which is used for forming an external electrode of a ceramic electronic component. セラミック素地と前記セラミック素地内に配設された内部電極とを含む部品本体と、
前記部品本体の表面に備えられる外部電極と、
を備え、
前記外部電極は、請求項1〜6のいずれか一項に記載の導電性ペーストの乾燥膜を少なくとも一部に含む、セラミック電子部品。
A component body including a ceramic substrate and an internal electrode disposed in the ceramic substrate, and
An external electrode provided on the surface of the component body and
With
The external electrode is a ceramic electronic component containing at least a part of the dry film of the conductive paste according to any one of claims 1 to 6.
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