JP2021074120A5 - - Google Patents

Description

従来、中継基板を介して主制御基板を試験装置に接続可能な遊技機が特許文献１に提案されている（例えば、特許文献１参照）。

特開２００３−２１０７９６号公報

上述したような従来の遊技機のように、遊技機と試験装置とを接続する場合、中継基板を介して接続するのが一般的だが、遊技性等の遊技機の仕様に応じた中継基板を用意する必要がある。

本発明は、遊技機の仕様が変わったとしても、中継基板を変更することなく、また、最低限の変更により試験装置と接続することが可能な遊技機を提供することを目的とする。

本発明に係る遊技機は、
主制御部（主制御回路６１００）と、
前記主制御部に接続された払出制御部（払出・発射制御回路６３００）と、
前記主制御部又は前記払出制御部に接続された複数の入出力装置（各種スイッチ類、各種ソレノイド類等）と、を備え、
前記主制御部は、第１コネクタ（ＣＮ１００）を実装可能であり、且つ、前記払出制御部は、第２コネクタ（ＣＮ１２）を実装可能であり、
前記主制御部に前記第１コネクタが実装された場合及び前記払出制御部に前記第２コネクタが実装された場合において、前記主制御部及び前記払出制御部と接続し、且つ、試験装置に接続するための接続中継部（試験中継端子板７００１）は、前記第１コネクタとハーネスを介して接続するための第３コネクタ（ＣＮ１）と、前記第２コネクタとハーネスを介して接続するための第４コネクタ（ＣＮ５）とを有し、
前記接続中継部からの試験信号は、前記試験装置に備えられた、複数のバッファ部（バッファ基板７００４ａ〜７００４ｆ）に接続され、
前記主制御部を構成する主制御基板（６０３０）は、試験信号を前記接続中継部に出力するため主制御試験信号出力回路（主制御回路６１００のＢＵＦ７〜１０等）を実装可能であり、
前記払出制御部を構成する払出制御基板は、試験信号を前記接続中継部に出力するため払出制御試験信号出力回路（試験信号出力回路７０１２）を実装可能であり、
前記払出制御試験信号出力回路は、遊技球が賞球されるたびに出力される賞球信号（賞球信号１）を表す試験信号を出力可能であり、
前記主制御試験信号出力回路は、前記賞球信号を除く試験信号を出力可能であり、
前記主制御基板は、前記主制御基板の一辺側に破線で囲われた位置に前記主制御試験信号出力回路を配置する実装パターンを備え、
前記主制御基板に実装可能な前記主制御試験信号出力回路の前記実装パターンは、表面実装用の配線パターンである
構成を有している。

本発明は、遊技機の仕様が変わったとしても、中継基板を変更することなく、また、最低限の変更により試験装置と接続することが可能な遊技機を提供することができる。

Claims (1)

1. 主制御部と、
   前記主制御部に接続された払出制御部と、
   前記主制御部又は前記払出制御部に接続された複数の入出力装置と、を備え、
   前記主制御部は、第１コネクタを実装可能であり、且つ、前記払出制御部は、第２コネクタを実装可能であり、
   前記主制御部に前記第１コネクタが実装された場合及び前記払出制御部に前記第２コネクタが実装された場合において、前記主制御部及び前記払出制御部と接続し、且つ、試験装置に接続するための接続中継部は、前記第１コネクタとハーネスを介して接続するための第３コネクタと、前記第２コネクタとハーネスを介して接続するための第４コネクタとを有し、
   前記接続中継部からの試験信号は、前記試験装置に備えられた、複数のバッファ部に接続され、
   前記主制御部を構成する主制御基板は、試験信号を前記接続中継部に出力するため主制御試験信号出力回路を実装可能であり、
   前記払出制御部を構成する払出制御基板は、試験信号を前記接続中継部に出力するため払出制御試験信号出力回路を実装可能であり、
   前記払出制御試験信号出力回路は、遊技球が賞球されるたびに出力される賞球信号を表す試験信号を出力可能であり、
   前記主制御試験信号出力回路は、前記賞球信号を除く試験信号を出力可能であり、
   前記主制御基板は、前記主制御基板の一辺側に破線で囲われた位置に前記主制御試験信号出力回路を配置する実装パターンを備え、
   前記主制御基板に実装可能な前記主制御試験信号出力回路の前記実装パターンは、表面実装用の配線パターンである
   ことを特徴とする遊技機。