JP2021056150A - Insulation inspection method - Google Patents

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Abstract

To provide an insulation inspection method with which it is possible to prevent an overcurrent from flowing into a circuit that includes a power supply and a test object.SOLUTION: An insulation inspection method inspects the insulation of a test object using a power supply device for insulation inspection equipped with a power supply that can set a voltage rise time. This insulation inspection method sets a first voltage rise time and detects a current in a circuit that includes the power supply and the test object at a time when the first voltage rise time has elapsed. This insulation inspection method determines that abnormality has occurred to the circuit when the detected current is larger than a prescribed level, and sets a second voltage rise time and inspects the insulation of the test object when the detected current is lower than or equal to the prescribed level. The second voltage rise time is set to be shorter than the first voltage rise time.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、絶縁検査方法に関する。 The present invention relates to an insulation inspection method.

特許文献1には、絶縁検査用電源装置を用いて、被試験物の絶縁を検査する絶縁検査方法が記載されている。特許文献1に記載の絶縁検査方法では、電源の電圧の立ち上がり時間と所定以上の大きさの電圧を維持する時間とを個別に設定して、被試験物の絶縁を検査している。 Patent Document 1 describes an insulation inspection method for inspecting the insulation of a test object by using a power supply device for insulation inspection. In the insulation inspection method described in Patent Document 1, the insulation of the test object is inspected by individually setting the rise time of the voltage of the power supply and the time for maintaining the voltage having a predetermined magnitude or more.

特開2017−219352号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2017-219352

しかしながら、特許文献1に記載の絶縁検査方法では、電源となる直流電圧発生部と被試験物とを含む回路の負荷が短絡している場合、回路内に過電流が流れることにより、絶縁検査用電源装置に設けられた高圧スイッチ(高電圧スイッチ)が破損するおそれがある。なお、この高圧スイッチは、直流電圧発生部の正極端子に一端が接続され、他端が試験電圧の立ち上がり時間を変更するための可変インダクタに接続されるスイッチである。 However, in the insulation inspection method described in Patent Document 1, when the load of the circuit including the DC voltage generating portion serving as the power source and the test object is short-circuited, an overcurrent flows in the circuit, so that the insulation inspection is performed. The high-voltage switch (high-voltage switch) provided in the power supply may be damaged. This high-voltage switch is a switch in which one end is connected to the positive electrode terminal of the DC voltage generating portion and the other end is connected to a variable inductor for changing the rise time of the test voltage.

そこで、本発明の目的は、電源と被試験物とを含む回路内に過電流が流れないようにすることが可能な絶縁検査方法を提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to provide an insulation inspection method capable of preventing an overcurrent from flowing in a circuit including a power supply and a test object.

上記目的を達成するための本発明の一態様は、電圧の立ち上がり時間を設定できる電源を備えた絶縁検査用電源装置を用いて、被試験物の絶縁を検査する絶縁検査方法である。前記絶縁検査方法は、第1の電圧の立ち上がり時間を設定するステップと、前記第1の電圧の立ち上がり時間が経過した時点で、前記電源と前記被試験物とを含む回路における電流を検出するステップと、検出された前記電流が所定レベルより大きかった場合、前記回路に異常が生じたことを判定するステップと、検出された前記電流が前記所定レベル以下であった場合、第2の電圧の立ち上がり時間を設定して前記被試験物の絶縁を検査するステップと、を含む。前記絶縁検査方法では、前記第2の電圧の立ち上がり時間を、前記第1の電圧の立ち上がり時間よりも短く設定する。 One aspect of the present invention for achieving the above object is an insulation inspection method for inspecting the insulation of a test object by using an insulation inspection power supply device provided with a power source capable of setting a voltage rise time. The insulation inspection method includes a step of setting a rise time of a first voltage and a step of detecting a current in a circuit including the power supply and the test object when the rise time of the first voltage has elapsed. When the detected current is larger than the predetermined level, a step of determining that an abnormality has occurred in the circuit, and when the detected current is equal to or lower than the predetermined level, a second voltage rises. It includes a step of setting a time to inspect the insulation of the test object. In the insulation inspection method, the rise time of the second voltage is set shorter than the rise time of the first voltage.

この一態様に係る絶縁検査方法では、絶縁検査用電源装置の第1の電圧の立ち上がり時間を長くすることで、回路に電流が急激に流れるのを抑制する。この一態様に係る絶縁検査方法では、それとともに、電流が所定レベル以上に生じた場合は回路の異常を判定し、異常がないと判定されたときは、第1の電圧よりも立ち上がり時間が短い第2の電圧で被検査物の絶縁を検査する。よって、この一態様によれば、電源と被試験物とを含む回路内に過電流が流れないようにすることが可能になる。 In the insulation inspection method according to this aspect, by lengthening the rise time of the first voltage of the power supply device for insulation inspection, it is possible to suppress the sudden flow of current through the circuit. In the insulation inspection method according to this aspect, when the current is generated above a predetermined level, the circuit abnormality is determined, and when it is determined that there is no abnormality, the rise time is shorter than the first voltage. The insulation of the object to be inspected is inspected with a second voltage. Therefore, according to this aspect, it is possible to prevent an overcurrent from flowing in the circuit including the power supply and the test object.

本発明によれば、電源と被試験物とを含む回路内に過電流が流れないようにすることが可能な絶縁検査方法を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an insulation inspection method capable of preventing an overcurrent from flowing in a circuit including a power supply and a test object.

実施の形態に係る絶縁検査方法の一例を説明するためのフロー図である。It is a flow diagram for demonstrating an example of the insulation inspection method which concerns on embodiment. 図1の絶縁検査方法で使用される短絡チェック電圧の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the short circuit check voltage used in the insulation inspection method of FIG. 図2の短絡チェック電圧で短絡チェックを実施した場合の電流値の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the current value when the short circuit check is performed by the short circuit check voltage of FIG. 図1の絶縁検査方法で使用される検査電圧の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the inspection voltage used in the insulation inspection method of FIG. 図4の検査電圧で絶縁状態を検査した場合の電流値の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the current value at the time of inspecting the insulation state by the inspection voltage of FIG. 図1の絶縁検査方法で用いられる絶縁検査用電源装置の一構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows one configuration example of the power supply device for insulation inspection used in the insulation inspection method of FIG. 図1の絶縁検査方法で用いられる絶縁検査用電源装置の他の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the other structural example of the power-source device for insulation inspection used in the insulation inspection method of FIG. 図1の絶縁検査方法で用いられる絶縁検査用電源装置の他の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the other structural example of the power-source device for insulation inspection used in the insulation inspection method of FIG.

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、特許請求の範囲に係る発明を以下の実施の形態に限定するものではない。また、実施の形態で説明する構成の全てが課題を解決するための手段として必須であるとは限らない。以下、図面を参照しながら実施の形態について説明する。各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複する説明は省略されている。 Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention, but the invention according to the claims is not limited to the following embodiments. Moreover, not all of the configurations described in the embodiments are indispensable as means for solving the problem. Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. In each drawing, the same elements are designated by the same reference numerals, and duplicate description is omitted as necessary.

(実施の形態)
本実施の形態に係る絶縁検査方法では、電圧の立ち上がり時間を設定できる電源を備えた絶縁検査用電源装置を用いて、被試験物の絶縁を検査する方法である。この絶縁検査方法は、後述するような第1設定ステップ、検出ステップ、判定ステップ、及び検査ステップを備える。
(Embodiment)
The insulation inspection method according to the present embodiment is a method of inspecting the insulation of a test object by using an insulation inspection power supply device provided with a power source capable of setting a voltage rise time. This insulation inspection method includes a first setting step, a detection step, a determination step, and an inspection step as described later.

以下、図1〜図5を参照しながら、この絶縁検査方法の例について説明する。図1は、本実施の形態に係る絶縁検査方法の一例を説明するためのフロー図である。また、図2は短絡チェック電圧の一例を示す図で、図3はその短絡チェック電圧で短絡チェックを実施した場合の電流値の例を示す図である。図4は、図1の絶縁検査方法で使用される検査電圧の一例を示す図で、図5はその検査電圧で絶縁状態を検査した場合の電流値の例を示す図である。なお、絶縁検査用電源装置の例については、図6以降を参照しながら後述する。 Hereinafter, an example of this insulation inspection method will be described with reference to FIGS. 1 to 5. FIG. 1 is a flow chart for explaining an example of the insulation inspection method according to the present embodiment. Further, FIG. 2 is a diagram showing an example of a short-circuit check voltage, and FIG. 3 is a diagram showing an example of a current value when a short-circuit check is performed at the short-circuit check voltage. FIG. 4 is a diagram showing an example of an inspection voltage used in the insulation inspection method of FIG. 1, and FIG. 5 is a diagram showing an example of a current value when an insulation state is inspected with the inspection voltage. An example of the power supply device for insulation inspection will be described later with reference to FIGS. 6 and 6 and thereafter.

本実施の形態に係る絶縁検査方法は、まず絶縁検査用電源装置において内部の電源に負荷を接続し(ステップS1)、短絡チェック電圧としての第1の電圧を印加する(ステップS2)。また、上記の負荷は、絶縁検査用電源装置に接続した被試験物による負荷と、絶縁検査用電源装置の内部負荷とで構成されることができる。そして、ステップS2における第1の電圧の印加に先立ち、上記第1設定ステップとして、第1の電圧についての立ち上がり時間(第1の立ち上がり時間)を設定しておく。なお、第1の立ち上がり時間は検査開始前に設定しておいてもよい。第1の電圧は、図2で例示するように時間の経過とともに緩やかに電圧値が増加するように設定しておくことができる。 In the insulation inspection method according to the present embodiment, first, in the insulation inspection power supply device, a load is connected to the internal power supply (step S1), and a first voltage as a short-circuit check voltage is applied (step S2). Further, the above load can be composed of a load due to a test object connected to the power supply device for insulation inspection and an internal load of the power supply device for insulation inspection. Then, prior to the application of the first voltage in step S2, the rise time (first rise time) for the first voltage is set as the first setting step. The first rise time may be set before the start of the inspection. The first voltage can be set so that the voltage value gradually increases with the passage of time as illustrated in FIG.

次いで、上記検出ステップとして、第1の立ち上がり時間が経過した時点で、電源と被試験物とを含む回路における電流を検出する(ステップS3)。ここで、電源と被試験物とを含む回路とは、その電源を含む絶縁検査用電源装置と被試験物とを接続した回路とすることができる。また、被試験物は問わないが、例えばモータ等の絶縁部分を必要とする機器などが挙げられる。 Next, as the detection step, when the first rise time has elapsed, the current in the circuit including the power supply and the test object is detected (step S3). Here, the circuit including the power supply and the test object can be a circuit in which the power supply device for insulation inspection including the power supply and the test object are connected. Further, the object to be tested is not limited, and examples thereof include equipment that requires an insulating portion such as a motor.

次いで、ステップS3で検出した電流が所定レベルの電流以下であるか否かを判定する(ステップS4)。この判定は、例えば、検出した電流値が所定値以下であるか否かを検出することにより実施することができる。 Next, it is determined whether or not the current detected in step S3 is equal to or less than a predetermined level of current (step S4). This determination can be performed, for example, by detecting whether or not the detected current value is equal to or less than a predetermined value.

また、所定レベルの電流は、上記回路が破損する電流(破損電流)より小さく設定しておけばよい。例えば、ステップS4では、破損電流以下であるか否かを判定する。なお、第1の立ち上がり時間が経過する前から電流の検出を行っておくこともできるが、ステップS4での判定は基本的に経過した時点での判定とする。 Further, the current of a predetermined level may be set to be smaller than the current at which the circuit is damaged (damaged current). For example, in step S4, it is determined whether or not the current is less than or equal to the breaking current. Although it is possible to detect the current before the first rise time elapses, the determination in step S4 is basically determined when the elapsed time.

上記判定ステップとして、ステップS4でNOの場合、つまり検出された電流が所定レベルより大きかった場合、短絡していたことを意味するため、上記回路に異常が生じたことを判定し、処理を終了する(ステップS5)。ステップS5は、短絡によって検査が異常に終了したことを意味する。 As the determination step, if NO in step S4, that is, if the detected current is larger than a predetermined level, it means that the circuit has been short-circuited. Therefore, it is determined that an abnormality has occurred in the circuit, and the process is terminated. (Step S5). Step S5 means that the inspection was abnormally completed due to the short circuit.

図3において、グラフ31は短絡時の電流値の変化を示すグラフで、グラフ32は非短絡時(負荷正常時)の電流値の変化を示すグラフである。所定レベルは、第1の立ち上がり時間が経過した時点でのグラフ31,32の値が区別できるように決めておけばよい。 In FIG. 3, graph 31 is a graph showing a change in the current value at the time of a short circuit, and graph 32 is a graph showing a change in the current value at the time of non-short circuit (when the load is normal). The predetermined level may be determined so that the values of graphs 31 and 32 at the time when the first rise time has elapsed can be distinguished.

上記検査ステップとして、ステップS4でYESの場合(グラフ32で例示した場合のように検出された電流が上記所定レベル以下であった場合)、検査電圧としての第2の電圧を印加し(ステップS6)、絶縁破壊による放電を検出したか否かを判定する(ステップS7)。なお、ステップS7の判定の閾値は絶縁破壊による放電を検出できる程度に設定しておけばよい。上記検出ステップでは、このような放電検出判定により被試験物の絶縁を検査する。但し、絶縁の検査(絶縁状態の検査)の方法はこれに限らない。 As the inspection step, if YES in step S4 (when the detected current is equal to or less than the predetermined level as illustrated in Graph 32), a second voltage as the inspection voltage is applied (step S6). ), It is determined whether or not a discharge due to dielectric breakdown is detected (step S7). The threshold value for the determination in step S7 may be set to such that the discharge due to dielectric breakdown can be detected. In the above detection step, the insulation of the test object is inspected by such a discharge detection determination. However, the method of inspection of insulation (inspection of insulation state) is not limited to this.

上記検査ステップでは、ステップS6における印加に先立ち、第2の電圧についての立ち上がり時間(第2の立ち上がり時間)を設定しておくが、第2の立ち上がり時間は、第1の立ち上がり時間よりも短く設定しておく。換言すれば、上記第1設定ステップでは、第1の立ち上がり時間を、第2の立ち上がり時間よりも長く設定しておく。第2の電圧は、図2で例示した長い立ち上がり時間をもつ第1の電圧と比べ、図4で例示するように急峻に電圧値が増加するように設定される。 In the above inspection step, the rise time (second rise time) for the second voltage is set prior to the application in step S6, but the second rise time is set shorter than the first rise time. I will do it. In other words, in the first setting step, the first rise time is set longer than the second rise time. The second voltage is set so that the voltage value increases sharply as illustrated in FIG. 4 as compared with the first voltage having a long rise time illustrated in FIG.

図4のような検査電圧を使用した場合において、仮に短絡が生じていた場合には、グラフ51に示すような電流値となってその頂点付近において絶縁検査用電源装置の内部のスイッチ(後述する高圧スイッチ)が破損してしまう。しかしながら、本実施の形態では、既にステップS4の判定でYESの場合のみ、立ち上がり時間を短くしているため、非短絡時(負荷正常時)についての電流値を例示したグラフ52のようにこの高圧スイッチの破損を回避することができる。 When the inspection voltage as shown in FIG. 4 is used, if a short circuit occurs, the current value becomes as shown in Graph 51 and the switch inside the power supply device for insulation inspection (described later) is located near the apex. The high voltage switch) will be damaged. However, in the present embodiment, since the rise time is already shortened only when the determination in step S4 is YES, this high voltage is shown as shown in Graph 52 which illustrates the current value at the time of non-short circuit (normal load). It is possible to avoid damage to the switch.

ステップS7でNOの場合、被試験物の絶縁状態に問題がない(OKである)と判定し、処理を終了する(ステップS8)。一方で、ステップS7でYESの場合、被試験物の絶縁状態に問題がある(NGである)と判定し、処理を終了する(ステップS9)。なお、ステップS8,S9は、短絡なしの状態で検査が正常に終了できたことを意味する。 If NO in step S7, it is determined that there is no problem in the insulation state of the test object (OK), and the process ends (step S8). On the other hand, if YES in step S7, it is determined that there is a problem in the insulation state of the test object (NG), and the process is terminated (step S9). Note that steps S8 and S9 mean that the inspection could be completed normally without a short circuit.

また、ステップS5,S8,S9の結果は、上記絶縁検査用電源装置に設けた又は接続した表示装置(単なる表示ランプであってもよい)により、検査者に通知するようにしておけばよい。 Further, the results of steps S5, S8, and S9 may be notified to the inspector by a display device (which may be a simple display lamp) provided or connected to the power supply device for insulation inspection.

次に、図6を参照しながら、図1の絶縁検査方法で用いられる上記絶縁検査用電源装置の構成例について説明する。図6は上記絶縁検査用電源装置の一構成例を示すブロック図である。 Next, a configuration example of the power supply device for insulation inspection used in the insulation inspection method of FIG. 1 will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a block diagram showing a configuration example of the power supply device for insulation inspection.

図6に示すように、絶縁検査用電源装置10は、直流電圧発生部(以下、直流高電圧発生部11で例示)、スイッチ(以下、高圧スイッチ12で例示)、パルス発生器(パルス発振器)12、可変インダクタ14、及び放電検出器15を備えることができる。 As shown in FIG. 6, the insulation inspection power supply device 10 includes a DC voltage generator (hereinafter, exemplified by the DC high voltage generator 11), a switch (hereinafter, exemplified by the high voltage switch 12), and a pulse generator (pulse oscillator). 12, the variable inductor 14, and the discharge detector 15 can be provided.

さらに、絶縁検査用電源装置10は、第1の接続端子TT1、第2の接続端子TT2、スイッチSW1〜SW4、抵抗素子(以下、終端抵抗Rsで例示)、及び過電流保護回路16を備えることができる。スイッチSW1〜SW4は、第1の接続端子TT1及び第2の接続端子TT2の極性の切り替えに用いられるスイッチである。 Further, the power supply device 10 for insulation inspection includes a first connection terminal TT1, a second connection terminal TT2, switches SW1 to SW4, a resistance element (hereinafter, exemplified by a terminating resistor Rs), and an overcurrent protection circuit 16. Can be done. The switches SW1 to SW4 are switches used for switching the polarities of the first connection terminal TT1 and the second connection terminal TT2.

なお、図6では、被試験物20の例としてモータを想定し、モータの端子のうち絶縁検査用電源装置10に接続される2つの被試験端子のみを示した。第1の接続端子TT1は、被試験端子の一方(第1の被試験端子TM1)に接続され、第2の接続端子TT2は、被試験端子の他方(第2の被試験端子TM2)に接続される。 In FIG. 6, a motor is assumed as an example of the object 20 to be tested, and only two terminals to be tested that are connected to the power supply device 10 for insulation inspection are shown among the terminals of the motor. The first connection terminal TT1 is connected to one of the terminals under test (first terminal under test TM1), and the second connection terminal TT2 is connected to the other of the terminals under test (second terminal under test TM2). Will be done.

直流高電圧発生部11は、直流電圧(例えば、直流高電圧)を出力する。さらに、直流高電圧発生部11は、電圧の立ち上がり時間を外部からの指示により可変できる機能を有する。 The DC high voltage generator 11 outputs a DC voltage (for example, a DC high voltage). Further, the DC high voltage generation unit 11 has a function of changing the rise time of the voltage by an instruction from the outside.

高圧スイッチ12は、直流高電圧発生部11の正極端子に一端が接続され、他端が過電流保護回路16を介して可変インダクタ14に接続される。また、高圧スイッチ12は、パルス発生器13が出力するパルス信号がハイレベルの期間にオン状態とされ、パルス信号がロウレベルの期間にオフ状態とされる。パルス発生器13は、高圧スイッチ12の開閉状態を切り替えるパルス信号を出力する。また、パルス発生器13は、パルス信号のパルス幅を設定により変更可能であり、これによりピーク維持時間を変更することが可能になる。 One end of the high voltage switch 12 is connected to the positive electrode terminal of the DC high voltage generating unit 11, and the other end is connected to the variable inductor 14 via the overcurrent protection circuit 16. Further, the high voltage switch 12 is turned on during the period when the pulse signal output by the pulse generator 13 is at a high level, and turned off during the period when the pulse signal is at a low level. The pulse generator 13 outputs a pulse signal for switching the open / closed state of the high-voltage switch 12. Further, the pulse generator 13 can change the pulse width of the pulse signal by setting, which makes it possible to change the peak maintenance time.

可変インダクタ14は、一端が過電流保護回路16を介して高圧スイッチ12の他端に接続され、他端が第1の接続端子TT1に接続される。図6に示す例では、高圧スイッチ12の他端は、スイッチSW3がオン状態、かつ、スイッチSW1がオフ状態のときは第1の接続端子TT1に接続される。一方、高圧スイッチ12の他端は、スイッチSW3がオフ状態、かつ、スイッチSW1がオン状態のときは第2の接続端子TT2に接続される。また、高圧スイッチ12は、設定値に応じてインダクタンス値を変更する。 One end of the variable inductor 14 is connected to the other end of the high voltage switch 12 via the overcurrent protection circuit 16, and the other end is connected to the first connection terminal TT1. In the example shown in FIG. 6, the other end of the high-voltage switch 12 is connected to the first connection terminal TT1 when the switch SW3 is in the on state and the switch SW1 is in the off state. On the other hand, the other end of the high-voltage switch 12 is connected to the second connection terminal TT2 when the switch SW3 is in the off state and the switch SW1 is in the on state. Further, the high voltage switch 12 changes the inductance value according to the set value.

可変インダクタ14は、図示したように、インダクタンス値を可変可能な1つの部品として搭載されていればよいが、例えば複数のインダクタのうち有効に機能させるインダクタの個数を切り替えることでインダクタンス値を切り替えるよう構成することもできる。 As shown in the figure, the variable inductor 14 may be mounted as one component whose inductance value can be changed. For example, the inductance value can be switched by switching the number of inductors that effectively function among a plurality of inductors. It can also be configured.

絶縁検査用電源装置10では、第2の接続端子TT2と直流高電圧発生部11の負極端子との間を接続する負極配線を有する。放電検出器15は、この負極配線上に設けられる。放電検出器15は、第1の接続端子TT1から出力され被試験物20を介して戻ってくる電流を検出する。コンデンサCは、直流高電圧発生部11の正極端子と負極端子との間に接続される。終端抵抗Rsは、第1の接続端子TT1と第2の接続端子TT2との間に接続される。 The insulation inspection power supply device 10 has a negative electrode wiring that connects the second connection terminal TT2 and the negative electrode terminal of the DC high voltage generating unit 11. The discharge detector 15 is provided on the negative electrode wiring. The discharge detector 15 detects the current output from the first connection terminal TT1 and returned via the test object 20. The capacitor C is connected between the positive electrode terminal and the negative electrode terminal of the DC high voltage generation unit 11. The terminating resistors Rs are connected between the first connection terminal TT1 and the second connection terminal TT2.

過電流保護回路16は、高圧スイッチ12と同じ経路上にあり、電流センサと、その出力と高圧スイッチが破損する電流値と比較する比較器と、比較器の比較結果に応じて開閉するスイッチと、を有することができる。高圧スイッチ12が破損するような電流が流れると上記電流センサの出力が大きくなり、上記比較器の出力によりスイッチを開き、回路を遮断する。過電流保護回路16は、回路を監視する機能を有し、このような遮断時にはその機能が異常状態を検知して絶縁検査用電源装置10の外部に異常状態を通知する。 The overcurrent protection circuit 16 is on the same path as the high-voltage switch 12, and includes a current sensor, a comparator that compares its output with the current value at which the high-voltage switch is damaged, and a switch that opens and closes according to the comparison result of the comparator. , Can have. When a current that damages the high-voltage switch 12 flows, the output of the current sensor increases, and the switch is opened by the output of the comparator to cut off the circuit. The overcurrent protection circuit 16 has a function of monitoring the circuit, and at the time of such interruption, the function detects an abnormal state and notifies the outside of the insulation inspection power supply device 10 of the abnormal state.

上述のような構成の絶縁検査用電源装置10において、ステップS1では被試験物20が接続され、かつ、スイッチSW1〜SW4の制御により、内部の電源に相当する直流高電圧発生部11に負荷が接続されることになる。ステップS2,S6でそれぞれ印加される第1の電圧、第2の電圧は、外部等から直流高電圧発生部11を制御することで、それらの立ち上がり時間とともに設定されることができる。そして、絶縁検査用電源装置10において、ステップS3では、過電流保護回路16内の電流センサを利用して電流が検出され、ステップS4での判定もそこで行うことができる。また、絶縁検査用電源装置10において、ステップS7では、放電検出器15を利用して放電が検出される。 In the insulation inspection power supply device 10 having the above configuration, the test object 20 is connected in step S1, and the DC high voltage generator 11 corresponding to the internal power supply is loaded by the control of the switches SW1 to SW4. Will be connected. The first voltage and the second voltage applied in steps S2 and S6, respectively, can be set together with their rise time by controlling the DC high voltage generating unit 11 from the outside or the like. Then, in the insulation inspection power supply device 10, in step S3, the current is detected by using the current sensor in the overcurrent protection circuit 16, and the determination in step S4 can also be performed there. Further, in the insulation inspection power supply device 10, in step S7, the discharge is detected by using the discharge detector 15.

そして、ステップS5,S8,S9の結果は、絶縁検査用電源装置10に設けた又は接続した表示装置により、検査者に通知されることができる。 Then, the results of steps S5, S8, and S9 can be notified to the inspector by the display device provided or connected to the insulation inspection power supply device 10.

以上に説明したように、本実施の形態に係る絶縁検査方法では、絶縁検査用電源装置10の第1の電圧の立ち上がり時間を長くすることで、回路に電流が急激に流れるのを抑制する。この絶縁検査方法では、それとともに、電流が所定レベル以上に生じた場合は回路の異常を判定し、異常がないと判定されたときは、第1の電圧よりも立ち上がり時間が短い第2の電圧で被検査物の絶縁を検査する。よって、本実施の形態に係る絶縁検査方法によれば、電源と被試験物とを含む回路内に過電流が流れないようにすることが可能になり、高圧スイッチ12の破損を防止できる。 As described above, in the insulation inspection method according to the present embodiment, the rise time of the first voltage of the insulation inspection power supply device 10 is lengthened to suppress the sudden flow of current through the circuit. In this insulation inspection method, at the same time, when the current is generated above a predetermined level, the circuit abnormality is determined, and when it is determined that there is no abnormality, the second voltage has a shorter rise time than the first voltage. Inspect the insulation of the object to be inspected with. Therefore, according to the insulation inspection method according to the present embodiment, it is possible to prevent an overcurrent from flowing in the circuit including the power supply and the test object, and it is possible to prevent the high voltage switch 12 from being damaged.

ここで、被試験物20を、ハイブリッド自動車や電気自動車等の車両に搭載されるモータとした場合の効果について説明する。モータに含まれるステータの製造ラインで絶縁検査に使用される電源の電圧波形は、そのモータを搭載する車両での使用時に近付けるため電圧の立ち上がり時間が既存の電源と比較して短くなっている。 Here, the effect when the test object 20 is used as a motor mounted on a vehicle such as a hybrid vehicle or an electric vehicle will be described. The voltage waveform of the power supply used for insulation inspection in the manufacturing line of the stator included in the motor is closer to that when it is used in the vehicle equipped with the motor, so the voltage rise time is shorter than that of the existing power supply.

そのため、本実施の形態のように電圧の立ち上がり時間を制御しない場合には、次のような事象が発生する。即ち、負荷が短絡していてインピーダンスが極端に低い場合は、回路内に過電流保護回路16で例示したようにヒューズなどの過電流保護機能を設けていたとしても、過電流により回路を遮断する前に高圧スイッチ12が破損することがある。これは、絶縁検査に用いる電圧波形の立ち上がり時間は例えば40kV/μsec程度と短時間で高電圧に達するためである。そして、高圧スイッチ12が破損すると、絶縁検査用電源装置10は復帰できず、修理に時間と金額が掛かり、絶縁検査用電源装置10が使用できない期間が発生してしまう。 Therefore, when the voltage rise time is not controlled as in the present embodiment, the following events occur. That is, when the load is short-circuited and the impedance is extremely low, the circuit is interrupted by the overcurrent even if an overcurrent protection function such as a fuse is provided in the circuit as illustrated in the overcurrent protection circuit 16. The high pressure switch 12 may be damaged before. This is because the rise time of the voltage waveform used for the insulation inspection reaches a high voltage in a short time of, for example, about 40 kV / μsec. If the high-voltage switch 12 is damaged, the power supply device 10 for insulation inspection cannot be restored, it takes time and money to repair, and the power supply device 10 for insulation inspection cannot be used for a period of time.

しかしながら、本実施の形態に係る絶縁検査用電源装置10では、電圧の立ち上がり時間を可変できる電源の機能を利用して、まず、立ち上がり時間を大きく設定して負荷が短絡していないかを確認する。仮に負荷が短絡していたとしても電圧の立ち上がり時間を大きくしていれば、電流が立ち上がる時間も大きくなり、過電流保護機能が働く時間が確保できるため、高圧スイッチ12が破損する前に回路を遮断することができる。 However, in the insulation inspection power supply device 10 according to the present embodiment, first, by using the function of the power supply capable of varying the voltage rise time, a large rise time is set and it is confirmed whether or not the load is short-circuited. .. Even if the load is short-circuited, if the voltage rise time is increased, the current rise time is also increased, and the overcurrent protection function can be secured for a certain period of time. Therefore, the circuit is connected before the high voltage switch 12 is damaged. It can be blocked.

そして、過電流保護機能が働かずに、負荷が短絡していないことが確認できた後は、立ち上がり時間を小さくしても高圧スイッチ12が破損することなく絶縁検査を行うことができる。 Then, after it is confirmed that the overcurrent protection function does not work and the load is not short-circuited, the insulation inspection can be performed without damaging the high-voltage switch 12 even if the rise time is reduced.

(代替例)
上述した実施の形態では、絶縁検査方法で使用する絶縁検査用電源装置として、絶縁検査用電源装置10を例に挙げて説明したが、他の構成の絶縁検査用電源装置を採用することもできる。例えば、絶縁検査用電源装置10は、電源波形を立ち上がり時間、電圧維持時間(ピーク維持時間)の2つの値について各々別個に変化させることができる電源を有する例を挙げたが、電圧維持時間が固定されるような絶縁検査用電源装置を使用することもできる。
(Alternative example)
In the above-described embodiment, the insulation inspection power supply device 10 has been described as an example of the insulation inspection power supply device used in the insulation inspection method, but an insulation inspection power supply device having another configuration can also be adopted. .. For example, the power supply device 10 for insulation inspection has an example in which the power supply waveform has a power supply capable of changing the two values of the rise time and the voltage maintenance time (peak maintenance time) separately. It is also possible to use a power supply device for insulation inspection that is fixed.

また、絶縁検査用電源装置は、図7又は図8で例示するような構成例を採用することもできる。図7及び図8は、図1の絶縁検査方法で用いられる絶縁検査用電源装置の他の構成例を示すブロック図で、図7と図8は互いに異なる構成例である。 Further, the power supply device for insulation inspection may adopt a configuration example as illustrated in FIG. 7 or FIG. 7 and 8 are block diagrams showing another configuration example of the power supply device for insulation inspection used in the insulation inspection method of FIG. 1, and FIGS. 7 and 8 are configuration examples different from each other.

図6に示した絶縁検査用電源装置10で使用している電源は、直流高電圧発生部11で例示したように電圧の立ち上がり時間を変更する機能を有している。よって、立ち上がり時間を大きく設定して負荷の短絡状態を確認する際に、過電流保護回路16を使用せずに、放電検出器15の電流出力を使用して、電流出力が大きくなった場合にパルス発生器13の出力を落とし、高圧スイッチ12を開いて回路を遮断可能である。 The power supply used in the insulation inspection power supply device 10 shown in FIG. 6 has a function of changing the voltage rise time as illustrated by the DC high voltage generation unit 11. Therefore, when the rise time is set to a large value and the short-circuit state of the load is confirmed, the current output of the discharge detector 15 is used without using the overcurrent protection circuit 16, and the current output becomes large. The output of the pulse generator 13 can be reduced and the high voltage switch 12 can be opened to interrupt the circuit.

そのような構成の例が、図7に示す絶縁検査用電源装置10aである。絶縁検査用電源装置10aは、図6に示す絶縁検査用電源装置10において過電流保護回路16を取り除いたものである。当然ながら過電流保護回路16を使用するよりも、過電流が生じてから回路を遮断するまでの時間はかかるようになるが、その時間を見越した電圧の立ち上がり時間に設定しておけば高圧スイッチ12が破損することなく回路を遮断することができる。このような構成を採用することで、過電流保護回路16を搭載せずとも同様の機能を実現することができる。 An example of such a configuration is the insulation inspection power supply device 10a shown in FIG. 7. The insulation inspection power supply device 10a is the insulation inspection power supply device 10 shown in FIG. 6 from which the overcurrent protection circuit 16 has been removed. Naturally, it takes more time to cut off the circuit after the overcurrent occurs than when the overcurrent protection circuit 16 is used, but if the voltage rise time is set in anticipation of that time, the high voltage switch The circuit can be interrupted without damaging the twelve. By adopting such a configuration, the same function can be realized without mounting the overcurrent protection circuit 16.

図8に示す絶縁検査用電源装置10bは、図7に示す絶縁検査用電源装置10aにおいて、終端抵抗Rsの一端と被試験物20の一端との間に電流センサ17を設けたものである。つまり、絶縁検査用電源装置10bは、絶縁検査用電源装置10,10aにおいて、電流を検出する電流センサ17を被試験物20の近傍に設置したものである。 The insulation inspection power supply device 10b shown in FIG. 8 is the insulation inspection power supply device 10a shown in FIG. 7 in which a current sensor 17 is provided between one end of the terminating resistor Rs and one end of the test object 20. That is, in the insulation inspection power supply device 10b, the current sensor 17 for detecting the current is installed in the vicinity of the test object 20 in the insulation inspection power supply devices 10 and 10a.

絶縁検査用電源装置10bでは、電圧の立ち上がり時間を可変できる機能を用いて、立ち上がり時間を大きく設定して負荷の短絡状態を確認する際に、過電流保護回路16や放電検出器15を使用せずに、電流センサ17を使用する。そして、絶縁検査用電源装置10bは、電流センサ17からの電流出力が大きくなった場合にパルス発生器13の出力を落とし、高圧スイッチ12を開いて回路を遮断する動作を行う。 In the insulation inspection power supply device 10b, use the overcurrent protection circuit 16 and the discharge detector 15 when checking the short-circuit state of the load by setting a large rise time by using the function that can change the rise time of the voltage. Instead, the current sensor 17 is used. Then, when the current output from the current sensor 17 becomes large, the insulation inspection power supply device 10b reduces the output of the pulse generator 13 and opens the high voltage switch 12 to cut off the circuit.

このような構成を採用することで、負荷が解放状態の場合に電流センサ17を通過する電流が生じないため、負荷の解放を検出することもできる。負荷が解放された場合、過電流が生じて絶縁検査用電源装置10bの他の内部回路や被試験物20が破損することはないが、検査を実施しても無意味であるため、検査前に試験物異常などの信号を出力することができ、無駄な試験時間を短縮することができる。 By adopting such a configuration, when the load is in the released state, no current is generated to pass through the current sensor 17, so that it is possible to detect the release of the load. When the load is released, an overcurrent will not occur and damage the other internal circuits of the power supply device 10b for insulation inspection and the object 20 to be tested, but it is meaningless to carry out the inspection, so before the inspection. It is possible to output a signal such as a test object abnormality, and it is possible to reduce unnecessary test time.

以上に、本実施の形態について説明したが、上記実施の形態は、以下の特徴を有する。
即ち、上記実施の形態に係る絶縁検査方法は、電圧の立ち上がり時間を設定できる電源を備えた絶縁検査用電源装置を用いて、被試験物の絶縁を検査する。この絶縁検査方法は、第1設定ステップ、検出ステップ、判定ステップ、及び検査ステップを備える。上記第1設定ステップは、第1の電圧の立ち上がり時間を設定する。上記検出ステップは、第1の電圧の立ち上がり時間が経過した時点で、電源と被試験物とを含む回路における電流を検出する。上記判定ステップは、検出された電流が所定レベルより大きかった場合、上記回路に異常が生じたことを判定する。上記検査ステップは、検出された電流が所定レベル以下であった場合、第2の電圧の立ち上がり時間を設定して被試験物の絶縁を検査する。ここで、第2の電圧の立ち上がり時間は、第1の電圧の立ち上がり時間よりも短く設定される。
Although the present embodiment has been described above, the above-described embodiment has the following features.
That is, in the insulation inspection method according to the above embodiment, the insulation of the test object is inspected by using a power supply device for insulation inspection provided with a power source capable of setting a voltage rise time. This insulation inspection method includes a first setting step, a detection step, a determination step, and an inspection step. The first setting step sets the rise time of the first voltage. The detection step detects the current in the circuit including the power supply and the test object when the rise time of the first voltage has elapsed. The determination step determines that an abnormality has occurred in the circuit when the detected current is larger than a predetermined level. In the above inspection step, when the detected current is equal to or less than a predetermined level, the rise time of the second voltage is set to inspect the insulation of the test object. Here, the rise time of the second voltage is set shorter than the rise time of the first voltage.

以上の絶縁検査方法では、絶縁検査用電源装置の第1の電圧の立ち上がり時間を長くすることで、回路に電流が急激に流れるのを抑制するとともに、電流が所定レベル以上に生じた場合は回路の異常を判定する。そして、この絶縁検査方法では、異常がないと判定されたときは、第1の電圧よりも立ち上がり時間が短い第2の電圧で被検査物の絶縁を検査する。よって、以上の絶縁検査方法によれば、電源と被試験物とを含む回路内に過電流が流れないようにすることが可能になる。 In the above insulation inspection method, the rise time of the first voltage of the power supply device for insulation inspection is lengthened to suppress the sudden flow of current through the circuit, and when the current is generated above a predetermined level, the circuit is used. Judge the abnormality of. Then, in this insulation inspection method, when it is determined that there is no abnormality, the insulation of the object to be inspected is inspected with a second voltage having a shorter rise time than the first voltage. Therefore, according to the above insulation inspection method, it is possible to prevent an overcurrent from flowing in the circuit including the power supply and the test object.

10、10a、10b 絶縁検査用電源装置
11 直流高電圧発生部
12 高圧スイッチ
13 パルス発生器
14 可変インダクタ
15 放電検出器
16 過電流保護回路
17 電流センサ
20 被試験物
Rs 終端抵抗
SW1、SW2、SW3、SW4 スイッチ
TM1 第1の被試験端子
TM2 第2の被試験端子
TT1 第1の接続端子
TT2 第2の接続端子
10, 10a, 10b Power supply for insulation inspection 11 DC high voltage generator 12 High voltage switch 13 Pulse generator 14 Variable inductor 15 Discharge detector 16 Overcurrent protection circuit 17 Current sensor 20 Test object Rs Termination resistance SW1, SW2, SW3 , SW4 switch TM1 1st test terminal TM2 2nd test terminal TT1 1st connection terminal TT2 2nd connection terminal

Claims (1)

電圧の立ち上がり時間を設定できる電源を備えた絶縁検査用電源装置を用いて、被試験物の絶縁を検査する絶縁検査方法であって、
第1の電圧の立ち上がり時間を設定するステップと、
前記第1の電圧の立ち上がり時間が経過した時点で、前記電源と前記被試験物とを含む回路における電流を検出するステップと、
検出された前記電流が所定レベルより大きかった場合、前記回路に異常が生じたことを判定するステップと、
検出された前記電流が前記所定レベル以下であった場合、第2の電圧の立ち上がり時間を設定して前記被試験物の絶縁を検査するステップと、
を含み、
前記第2の電圧の立ち上がり時間を、前記第1の電圧の立ち上がり時間よりも短く設定する、
絶縁検査方法。
This is an insulation inspection method that inspects the insulation of a test object using a power supply device for insulation inspection equipped with a power supply that can set the voltage rise time.
The step of setting the rise time of the first voltage and
A step of detecting a current in a circuit including the power supply and the test object when the rise time of the first voltage has elapsed, and a step of detecting the current.
When the detected current is larger than a predetermined level, a step of determining that an abnormality has occurred in the circuit and a step of determining that an abnormality has occurred.
When the detected current is equal to or lower than the predetermined level, a step of setting a rise time of the second voltage and inspecting the insulation of the test object, and
Including
The rise time of the second voltage is set shorter than the rise time of the first voltage.
Insulation inspection method.
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