JP2021051128A - Method for driving electro-optical device, electro-optical device, and electronic apparatus - Google Patents

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Tetsuro Yamazaki
哲朗 山▲崎▼
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Abstract

To prevent a reduction in quality of gradation expression in temperature compensation in subfield drive.SOLUTION: A method for driving an electro-optical device includes: dividing a frame period into a plurality of subfields and taking two or more of the plurality of subfields for temperature compensation and the other two or more for gradation control; turning on or off an electro-optical element according to a gradation level in each of the subfields for gradation control; turning on or off the electro-optical element at a first temperature for every gradation level in each of the subfields for temperature compensation; when the temperature is changed to a second temperature different from the first temperature, determining whether the amount of change in gradation for every gradation level is equal to or more than a threshold associated with each of the subfields for temperature compensation; and changing turn-on or off in the subfield corresponding to the gradation level in which the amount of change in gradation is equal to or more than the threshold from turn-on or off at the first temperature.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、電気光学装置の駆動方法、電気光学装置および電子機器に関する。 The present invention relates to a method for driving an electro-optical device, an electro-optical device and an electronic device.

液晶素子や有機EL素子などの電気光学素子によって画像を表示する電気光学装置では、フレーム期間を分割した複数のサブフィールド毎に、画素に対応する電気光学素子をオンまたはオフのいずれかに駆動する技術が知られている。なお、ELとは、Electro Luminescenceの略語である。
サブフィールド駆動において、中間階調は、フレーム期間においてオンまたはオフで駆動する時間の占める割合を変化させることによって表現される。なお、フレーム期間とは、上位装置からの映像データで指定される映像の1コマを表示するのに要する期間をいう。
In an electro-optical device that displays an image by an electro-optical element such as a liquid crystal element or an organic EL element, the electro-optical element corresponding to a pixel is driven either on or off for each of a plurality of subfields in which a frame period is divided. The technology is known. In addition, EL is an abbreviation for Electro Luminescence.
In subfield drive, the midtones are represented by varying the percentage of time driven on or off during the frame period. The frame period refers to the period required to display one frame of the video specified by the video data from the host device.

電気光学素子の電気的な変化に対する光学的な応答特性は温度に依存して変化する。例えば電気光学素子が液晶素子であれば、温度に対して、液晶の粘性が変化するので、温度が異なれば、フレーム期間においてオンする時間の占める割合が同じでも、表現される階調が異なってしまう。
そこで、サブフィールド駆動において温度に起因して階調の変化を補償するために、階調制御用のサブフィールドとは別に、温度補償用のサブフィールドを設けて、当該温度補償用のサブフィールドにおける期間長を温度に応じて可変に制御する技術が提案されている(例えば特許文献1参照)。
The optical response characteristics of an electro-optical element to an electrical change change depending on the temperature. For example, if the electro-optical element is a liquid crystal element, the viscosity of the liquid crystal changes with respect to the temperature. Therefore, if the temperature is different, the gradation expressed will be different even if the ratio of the on time in the frame period is the same. It ends up.
Therefore, in order to compensate for the change in gradation due to the temperature in the subfield drive, a subfield for temperature compensation is provided separately from the subfield for gradation control, and the subfield for temperature compensation is provided. A technique for variably controlling the period length according to the temperature has been proposed (see, for example, Patent Document 1).

特開2010−177030号公報JP-A-2010-177030

しかしながら、上記技術では、温度を補償する場合に、電気光学素子を階調レベルに依らずに一律にオンさせるので、階調表現の品質が低下しやすい、という課題がある。 However, in the above technique, when the temperature is compensated, the electro-optical element is turned on uniformly regardless of the gradation level, so that there is a problem that the quality of gradation expression tends to deteriorate.

上記課題の一つを解決するために、本開示の一態様に係る電気光学装置の駆動方法は、走査線とデータ線とに対応して設けられ、前記走査線の選択時に、オンまたはオフに対応するデータ信号に応じて駆動される電気光学素子を、指定された階調レベルに応じた明るさとなるように制御する電気光学装置の駆動方法であって、フレーム期間を複数のサブフィールドに分割するとともに、当該複数のサブフィールドのうち、2つ以上を温度補償用とし、他の2つ以上を階調制御用とし、前記電気光学素子を、前記階調制御用のサブフィールドの各々にて前記階調レベルに応じてオンまたはオフさせ、第1温度において前記電気光学素子を、前記温度補償用のサブフィールドの各々にて前記階調レベル毎にオンまたはオフさせ、前記第1温度とは異なる第2温度に変化した場合に、前記階調レベル毎の階調変化量が、前記温度補償用のサブフィールドの各々に対応付けられたしきい値以上であるか否か判定し、前記しきい値以上である階調レベルに対応したサブフィールドにおけるオンまたはオフを前記第1温度のオンまたはオフから変更する。
また、本開示については、電気光学装置の駆動方法だけでなく、電気光学装置としても表現可能である。
In order to solve one of the above problems, the method for driving the electro-optic device according to one aspect of the present disclosure is provided corresponding to the scanning line and the data line, and is turned on or off when the scanning line is selected. It is a driving method of an electro-optical device that controls an electro-optical element driven according to a corresponding data signal so that the brightness corresponds to a specified gradation level, and divides a frame period into a plurality of subfields. At the same time, two or more of the plurality of subfields are used for temperature compensation, the other two or more are used for gradation control, and the electro-optical element is used in each of the gradation control subfields. The electro-optic element is turned on or off according to the gradation level, and the electro-optic element is turned on or off for each gradation level in each of the subfields for temperature compensation at the first temperature. When the temperature changes to a different second temperature, it is determined whether or not the amount of gradation change for each gradation level is equal to or greater than the threshold value associated with each of the temperature compensation subfields. The on or off in the subfield corresponding to the gradation level which is equal to or higher than the threshold value is changed from the on or off of the first temperature.
Further, the present disclosure can be expressed not only as a driving method of an electro-optical device but also as an electro-optical device.

電気光学装置における液晶パネルの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the liquid crystal panel in an electro-optic device. 液晶パネルを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the liquid crystal panel. 液晶パネルの構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the liquid crystal panel. 電気光学装置な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of an electro-optic device. 液晶パネルにおける画素の等価回路を示す図である。It is a figure which shows the equivalent circuit of the pixel in the liquid crystal panel. サブフィールドを示す図である。It is a figure which shows the subfield. 第1実施形態において階調レベルに対する液晶素子の透過率が温度によって変化する例を示す図である。It is a figure which shows the example which the transmittance of the liquid crystal element with respect to the gradation level changes with temperature in 1st Embodiment. 階調レベル毎の透過率変化量の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the transmittance change amount for every gradation level. 温度補償用のサブフィールドに対応付けられるしきい値の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the threshold value associated with the subfield for temperature compensation. 階調レベルの変化に対する補償用のサブフィールドのコードを示す図である。It is a figure which shows the code of the subfield for compensation with respect to the change of a gradation level. 電気光学装置の温度補償の動作を示す図である。It is a figure which shows the operation of the temperature compensation of an electro-optic device. 電気光学装置において選択される走査線の時間的推移を示す図である。It is a figure which shows the time transition of the scanning line selected in an electro-optic device. 第1実施形態において温度変化に対する改善の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the improvement with respect to the temperature change in 1st Embodiment. 第2実施形態において階調レベルの変化に対する温度補償用のサブフィールドのコードを示す図である。It is a figure which shows the code of the subfield for temperature compensation with respect to the change of a gradation level in 2nd Embodiment. 第3実施形態において階調レベルの変化に対する温度補償用のサブフィールドのコードを示す図である。It is a figure which shows the code of the subfield for temperature compensation with respect to the change of a gradation level in 3rd Embodiment. 第3実施形態の温度補償用のサブフィールドに対応付けられるしきい値の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the threshold value associated with the subfield for temperature compensation of the 3rd Embodiment. 電気光学装置を適用した液晶プロジェクターを示す図である。It is a figure which shows the liquid crystal projector which applied the electro-optic device.

以下、本発明を実施するための形態について図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、実施形態に係る電気光学装置の液晶パネル100の構成を示す図である。この液晶パネル100は、透過型であり、例えば液晶プロジェクターのライトバルブとして用いられる。液晶パネル100は、矩形状の表示領域で開口する枠状のケース72に収納される。液晶パネル100にはFPC基板74の一端が接続されている。なお、FPCとは、Flexible Printed Circuitsの略語である。FPC基板74の他端には、複数の端子76が設けられて、図1では省略された表示制御回路に接続される。FPC基板74には、当該表示制御回路から複数の端子76を介してデータ信号や制御信号が供給される。 FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a liquid crystal panel 100 of the electro-optical device according to the embodiment. The liquid crystal panel 100 is a transmissive type and is used, for example, as a light bulb of a liquid crystal projector. The liquid crystal panel 100 is housed in a frame-shaped case 72 that opens in a rectangular display area. One end of the FPC substrate 74 is connected to the liquid crystal panel 100. FPC is an abbreviation for Flexible Printed Circuits. A plurality of terminals 76 are provided at the other end of the FPC board 74, and are connected to a display control circuit omitted in FIG. Data signals and control signals are supplied to the FPC board 74 from the display control circuit via a plurality of terminals 76.

図2は、液晶パネル100を示す斜視図であり、図3は、図2におけるH−h線で破断した断面図である。
これらの図に示されるように、液晶パネル100は、画素電極118が設けられた素子基板100aと、コモン電極108が設けられた対向基板100bとが、図示省略のスペーサーを含むシール材90によって一定の間隙を保ちつつ、互いに電極形成面が対向するように貼り合わせられ、この間隙に液晶105が封入された構造である。
FIG. 2 is a perspective view showing the liquid crystal panel 100, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line Hh in FIG.
As shown in these figures, in the liquid crystal panel 100, the element substrate 100a provided with the pixel electrode 118 and the opposing substrate 100b provided with the common electrode 108 are fixed by a sealing material 90 including a spacer (not shown). The structure is such that the electrode forming surfaces are bonded to each other so as to face each other while maintaining the gap between the two, and the liquid crystal 105 is sealed in the gap.

素子基板100aおよび対向基板100bとしては、それぞれガラスや石英などの光透過性を有する基板が用いられる。図2に示されるように、素子基板100aにおける一辺は、対向基板100bから張り出している。この張り出した領域に、上記一辺に沿って複数の端子106が設けられている。複数の端子106には、FPC基板74の一端が接続される。FPC基板74の他端は、表示制御回路に接続されて、上述した各種の信号が供給される。 As the element substrate 100a and the facing substrate 100b, substrates having light transmittance such as glass and quartz are used, respectively. As shown in FIG. 2, one side of the element substrate 100a projects from the facing substrate 100b. A plurality of terminals 106 are provided along the one side of the overhanging region. One end of the FPC board 74 is connected to the plurality of terminals 106. The other end of the FPC board 74 is connected to a display control circuit to supply various signals described above.

素子基板100aにおいて対向基板100bに向かう面には、画素電極118が、例えばITOなどの透明性を有する導電層のパターニングによって形成される。なお、ITOは、Indium Tin Oxideの略語である。
なお、対向基板100bに設けられるコモン電極108は、銀ペースト等などの導通材(図示省略)によって、素子基板100aに形成された複数の端子106のいずれかに電気的に接続されて、時間的にほぼ一定の電圧Vcomが印加される。
また、素子基板100aの対向面および対向基板100bの対向面には、電極以外にも様々な要素が設けられるが、図では省略されている。
Pixel electrodes 118 are formed on the surface of the element substrate 100a toward the facing substrate 100b by patterning a transparent conductive layer such as ITO. ITO is an abbreviation for Indium Tin Oxide.
The common electrode 108 provided on the facing substrate 100b is electrically connected to any of the plurality of terminals 106 formed on the element substrate 100a by a conductive material (not shown) such as silver paste, and is temporally connected. A substantially constant voltage Vcom is applied to the.
Further, various elements other than the electrodes are provided on the facing surface of the element substrate 100a and the facing surface of the facing substrate 100b, but they are omitted in the drawing.

図4は、電気光学装置1の電気的な構成を示すブロック図であり、図5は、液晶パネル100における画素回路Pの等価回路を示す図である。図4に示されるように、電気光学装置1は、表示制御回路3と温度検出部40と液晶パネル100とを含む。このうち、表示制御回路3は、処理回路30と走査制御回路35とを含む。
液晶パネル100は、X方向に延在して形成されたm行の走査線112と、Y方向に延在して形成されたn列のデータ線114と、m行の走査線112およびn列のデータ線114との各交差に対応して形成された画素回路Pと、走査線駆動回路130と、データ線駆動回路140と、を含む。なお、m、nはいずれも2以上の整数である。
温度検出部40は、液晶パネル100の温度を検出し、検出した温度の情報Tmpを処理回路30に出力する。
FIG. 4 is a block diagram showing the electrical configuration of the electro-optical device 1, and FIG. 5 is a diagram showing an equivalent circuit of the pixel circuit P in the liquid crystal panel 100. As shown in FIG. 4, the electro-optical device 1 includes a display control circuit 3, a temperature detection unit 40, and a liquid crystal panel 100. Of these, the display control circuit 3 includes a processing circuit 30 and a scanning control circuit 35.
The liquid crystal panel 100 has m rows of scanning lines 112 extending in the X direction, n columns of data lines 114 extending in the Y direction, and m rows of scanning lines 112 and n columns. A pixel circuit P formed corresponding to each intersection with the data line 114, a scanning line drive circuit 130, and a data line drive circuit 140 are included. Both m and n are integers of 2 or more.
The temperature detection unit 40 detects the temperature of the liquid crystal panel 100 and outputs the detected temperature information Tmp to the processing circuit 30.

表示制御回路3には、上位装置から映像データVid-inおよび同期信号Syncが供給される。映像データVid-inは、液晶パネル100で表示させる画像の階調レベルを画素毎に例えば10ビットで指定する。また、同期信号Syncには、画素の配列領域における走査開始を指示する垂直同期信号や、上記配列領域の水平走査の開始を指示する水平同期信号、および、映像データVid-inの1画素分のタイミングを示すドットクロック信号が含まれる。 Video data Vid-in and synchronization signal Sync are supplied to the display control circuit 3 from the host device. The video data Vid-in specifies the gradation level of the image to be displayed on the liquid crystal panel 100 for each pixel, for example, 10 bits. Further, the synchronization signal Sync includes a vertical synchronization signal instructing the start of scanning in the pixel arrangement area, a horizontal synchronization signal instructing the start of horizontal scanning in the arrangement area, and one pixel of video data Vid-in. A dot clock signal indicating timing is included.

表示制御回路3において、走査制御回路35は、同期信号Syncに基づいて、走査線駆動回路130、データ線駆動回路140および処理回路30を制御する。具体的には、走査制御回路35は、同期信号Syncに基づいて制御信号Xctr、Yctr、情報SfnおよびSlnを生成し、このうち、情報SfnおよびSlnを処理回路30に供給して、当該処理回路30を制御する。また、走査制御回路35は、制御信号Yctrおよび情報Slnによって走査線駆動回路130を制御し、制御信号Xctrによってデータ線駆動回路140を制御する。 In the display control circuit 3, the scan control circuit 35 controls the scan line drive circuit 130, the data line drive circuit 140, and the processing circuit 30 based on the synchronization signal Sync. Specifically, the scanning control circuit 35 generates control signals Xctr, Yctr, information Sfn and Sln based on the synchronization signal Sync, and supplies the information Sfn and Sln to the processing circuit 30 to supply the processing circuit. 30 is controlled. Further, the scanning control circuit 35 controls the scanning line driving circuit 130 by the control signal Yctr and the information Sln, and controls the data line driving circuit 140 by the control signal Xctr.

なお、情報SfnおよびSlnについては、詳述するが、情報Slnは、走査線駆動回路130に選択させる走査線112を示す情報である。情報Sfnは、情報Slnにしたがって走査線112が選択される場合に、どのサブフィールドに対応するコードを出力すべきかを示す情報である。ここで、サブフィールドに対応するコードとは、サブフィールド毎に、画素回路Pに含まれる液晶素子を「ON」または「OFF」のいずれかで駆動すべきことを示す2値的な情報である。 The information Sfn and Sln will be described in detail, but the information Sln is information indicating the scanning line 112 to be selected by the scanning line driving circuit 130. The information Sfn is information indicating which subfield the code corresponding to the code should be output when the scanning line 112 is selected according to the information Sln. Here, the code corresponding to the subfield is binary information indicating that the liquid crystal element included in the pixel circuit P should be driven by either "ON" or "OFF" for each subfield. ..

処理回路30は、テーブルT1、T2およびT3を含む。このうち、テーブルT1には、階調レベルの「0」から「1023」までに対応して階調制御用のサブフィールドにおけるコードが記憶される。テーブルT2には、階調レベルの「0」から「1023」までに対応して温度補償用のサブフィールドにおけるコードが記憶される。また、テーブルT3には、階調レベルの「0」から「1023」までに対応した透過率変化量が記憶されている。
処理回路30は映像データVid-inで指定される階調レベルを、テーブルT1を参照して階調制御用のサブフィールドコードに変換して、一旦記憶し、情報SfnよびSlnに基づいてコードを読み出し、当該コードをデータ信号Vsfに変換して、データ線駆動回路140に供給する。
The processing circuit 30 includes tables T1, T2 and T3. Of these, the table T1 stores the codes in the gradation control subfield corresponding to the gradation levels "0" to "1023". In the table T2, the codes in the subfields for temperature compensation are stored corresponding to the gradation levels “0” to “1023”. Further, the table T3 stores the amount of change in transmittance corresponding to the gradation level from "0" to "1023".
The processing circuit 30 converts the gradation level specified by the video data Vid-in into a subfield code for gradation control with reference to the table T1, temporarily stores the gradation level, and stores the code based on the information Sfn and Sln. It is read out, converted into a data signal Vsf, and supplied to the data line drive circuit 140.

なお、本実施形態において、サブフィールドには、階調制御用とは別に、温度補償用のサブフィールドが設けられる。本実施形態では、温度補償用のサブフィールドにも液晶素子を「ON」または「OFF」のいずれかで駆動すべきこと示すコードが割り当てられるが、温度の情報Tmpに応じて当該コードが変更される。この変更については後述する。 In the present embodiment, the subfield is provided with a subfield for temperature compensation in addition to the subfield for gradation control. In the present embodiment, a code indicating that the liquid crystal element should be driven by either "ON" or "OFF" is assigned to the subfield for temperature compensation, but the code is changed according to the temperature information Tmp. To. This change will be described later.

走査線駆動回路130は、走査制御回路35から供給される制御信号Yctrおよび情報Slnにしたがって走査線112を1行ずつ選択して、選択した走査線112にHレベルの走査信号を供給し、選択していない走査線112にLレベルの走査信号を供給する。なお、図4では、上から順に1行目、2行目、3行目、…、m行目の走査線112に供給される走査信号をY1、Y2、Y3、…、Ymと表記している。
データ線駆動回路140は、処理回路30から出力されたデータ信号Vsfを、走査制御回路35から供給される制御信号Xctrにしたがって1行分ラッチし、走査線駆動回路130による走査線112の選択に合わせてデータ線114に出力する。なお、図4では、左から順に1列目、2列目、3列目、…、n列目のデータ線114に供給されるデータ信号をX1、X2、X3、…、Xnと表記している。
The scanning line driving circuit 130 selects the scanning lines 112 line by line according to the control signal Yctr and the information Sln supplied from the scanning control circuit 35, supplies the H-level scanning signal to the selected scanning lines 112, and selects the scanning lines 112. An L-level scanning signal is supplied to the scanning line 112 that has not been used. In FIG. 4, the scanning signals supplied to the scanning lines 112 on the first line, the second line, the third line, ..., And the mth line are expressed as Y1, Y2, Y3, ..., Ym in this order from the top. There is.
The data line drive circuit 140 latches the data signal Vsf output from the processing circuit 30 for one line according to the control signal Xctr supplied from the scan control circuit 35, and selects the scan line 112 by the scan line drive circuit 130. Together, it is output to the data line 114. In FIG. 4, the data signals supplied to the data lines 114 in the first, second, third, ..., Nth columns in order from the left are expressed as X1, X2, X3, ..., Xn. There is.

画素回路Pは、走査線112とデータ線114との交差に対応して設けられ、トランジスター116と液晶素子5とを含む。トランジスター116は、例えばNチャネル型の薄膜トランジスターであり、ゲート電極が走査線112に接続され、ソース電極がデータ線114に接続され、ドレイン電極が画素電極118に接続される。
上述したように画素電極118は、電圧Vcomが印加されたコモン電極108と対向し、さらに、両電極間に液晶105が封入されるので、液晶素子5は、一端を画素電極118とし、他端をコモン電極108として液晶105を挟持した容量と等価になる。
The pixel circuit P is provided corresponding to the intersection of the scanning line 112 and the data line 114, and includes the transistor 116 and the liquid crystal element 5. The transistor 116 is, for example, an N-channel type thin film, in which the gate electrode is connected to the scanning line 112, the source electrode is connected to the data line 114, and the drain electrode is connected to the pixel electrode 118.
As described above, the pixel electrode 118 faces the common electrode 108 to which the voltage Vcom is applied, and the liquid crystal 105 is enclosed between the two electrodes. Therefore, the liquid crystal element 5 has one end as the pixel electrode 118 and the other end. Is equivalent to the capacity of sandwiching the liquid crystal 105 with the common electrode 108.

このような構成において、ある1行の走査線112と、ある1列のデータ線114との交差に対応する画素回路Pにおいて、当該走査線112に供給される走査信号がHレベルになると、当該画素回路Pでは、トランジスター116がオンする。このため、当該画素回路Pにおいて液晶素子5の画素電極118には、当該データ線114に供給されたデータ信号の電圧が印加される。
当該走査線112に供給される走査信号がLレベルになると、トランジスター116がオフするが、液晶素子5は、トランジスター116がオンのときに画素電極118に印加された電圧とコモン電極108に印加された電圧Vcomとの差電圧が、その容量性により保持される。
In such a configuration, in the pixel circuit P corresponding to the intersection of a certain row of scanning lines 112 and a certain row of data lines 114, when the scanning signal supplied to the scanning lines 112 reaches the H level, the said In the pixel circuit P, the transistor 116 is turned on. Therefore, in the pixel circuit P, the voltage of the data signal supplied to the data line 114 is applied to the pixel electrode 118 of the liquid crystal element 5.
When the scanning signal supplied to the scanning line 112 reaches the L level, the transistor 116 is turned off, but the liquid crystal element 5 is applied to the voltage applied to the pixel electrode 118 and the common electrode 108 when the transistor 116 is on. The voltage difference from the voltage Vcom is maintained by its capacitance.

素子基板100aおよび対向基板100bの各対向面には、それぞれ液晶105における分子方向が所定方向に配向させる配向膜が設けられる一方、その各背面側には、吸収軸が配向方向に応じた方向になるように、偏光子がそれぞれ設けられている。
本実施形態において、液晶素子5をノーマリーブラックモードとした場合、画素回路Pでは、液晶素子5の保持電圧がゼロであれば、透過率が最小となる一方、保持電圧が高くなるにつれて、透過率が徐々に増加する。配向膜や偏光子などについては、本件とは直接関係しないので、その図示について省略されている。
なお、ここでは液晶パネル100を透過型としているので、透過率としているが、反射型であれば、透過率を反射率として読み替えることができる。また、電気光学素子としてOLEDのような自発光型を用いるのであれば、明るさを示す比率に読み替えることができる。
An alignment film for aligning the molecular direction of the liquid crystal 105 in a predetermined direction is provided on each of the facing surfaces of the element substrate 100a and the opposing substrate 100b, while the absorption axis is oriented in a direction corresponding to the orientation direction on each back surface side thereof. Polarizers are provided so as to be.
In the present embodiment, when the liquid crystal element 5 is set to the normally black mode, in the pixel circuit P, if the holding voltage of the liquid crystal element 5 is zero, the transmittance becomes the minimum, while as the holding voltage increases, the transmittance becomes transparent. The rate gradually increases. Since the alignment film and the polarizer are not directly related to this case, their illustrations are omitted.
Since the liquid crystal panel 100 is a transmissive type here, it is set as the transmittance, but if it is a reflective type, the transmissivity can be read as the reflectance. Further, if a self-luminous type such as an OLED is used as the electro-optical element, it can be read as a ratio indicating brightness.

ノーマリーブラックモードにおいて、最も暗い状態の透過率を0%とし、最も明るい状態の透過率を100%として正規化したとき、液晶素子への印加電圧のうち、相対透過率が10%となる電圧を光学的しきい値電圧といい、相対透過率が90%となる電圧を光学的飽和電圧という。
電圧変調方式において、画素回路Pを中間階調とさせる場合であれば、液晶素子5には、光学的しきい値以上であって光学的飽和電圧以下の電圧が印加されるように設計される。このように設計されると、画素回路Pの透過率は、液晶素子への印加電圧に反映した値となる。
In the normally black mode, the voltage at which the relative transmittance is 10% of the voltage applied to the liquid crystal element when the transmittance in the darkest state is set to 0% and the transmittance in the brightest state is set to 100%. Is called an optical threshold voltage, and a voltage at which the relative transmittance is 90% is called an optical saturation voltage.
In the voltage modulation method, when the pixel circuit P has an intermediate gradation, the liquid crystal element 5 is designed so that a voltage equal to or higher than the optical threshold value and lower than the optical saturation voltage is applied. .. With this design, the transmittance of the pixel circuit P becomes a value reflected in the voltage applied to the liquid crystal element.

電圧変調方式に対して、本実施形態ではサブフィールド駆動方式であるから、液晶素子5への印加電圧を飽和電圧以上とするオン、または、しきい値電圧以下のオフのいずれか一方で駆動する構成となっている。この構成において、画素回路Pにおいて中間階調を表現するために、フレーム期間を複数に分割したサブフィールドを単位として液晶素子5をオンまたはオフで駆動して、フレーム期間にわたったオンまたはオフで駆動する期間の配分を制御する構成となっている。 In contrast to the voltage modulation method, since the subfield drive method is used in this embodiment, the liquid crystal element 5 is driven either on, which is equal to or higher than the saturation voltage, or off, which is lower than the threshold voltage. It is composed. In this configuration, in order to express the intermediate gradation in the pixel circuit P, the liquid crystal element 5 is driven on or off in units of subfields in which the frame period is divided into a plurality of units, and the liquid crystal element 5 is driven on or off over the frame period. It is configured to control the distribution of the driving period.

図6は、本実施形態におけるサブフィールドの配列の一例を示す図である。この図に示されるように、フレーム期間1Fは、時間的な順序でみて、4個のグループG1〜G4に分割されるとともに、各グループではさらに5個のサブフィールドに分割される。したがって、フレーム期間1Fは、計20個のサブフィールドに分割される。
4個のグループのうち、時間的に第1番目のグループG1は、サブフィールドC_Sf1およびSf1〜Sf4を含み、第2番目のグループG2は、サブフィールドC_Sf2およびSf5〜Sf8を含み、第3番目のグループG3は、サブフィールドC_Sf3およびSf9〜Sf12を含み、第4番目のグループG4は、サブフィールドC_Sf4およびSf13〜Sf16を含む。
FIG. 6 is a diagram showing an example of the arrangement of subfields in this embodiment. As shown in this figure, the frame period 1F is divided into four groups G1 to G4 in chronological order, and each group is further divided into five subfields. Therefore, the frame period 1F is divided into a total of 20 subfields.
Of the four groups, the first group G1 in time contains the subfields C_Sf1 and Sf1 to Sf4, and the second group G2 contains the subfields C_Sf2 and Sf5 to Sf8, and the third group. Group G3 includes subfields C_Sf3 and Sf9 to Sf12, and fourth group G4 contains subfields C_Sf4 and Sf13 to Sf16.

なお、20個のサブフィールドの期間長は、次のように設定されている。具体的には、グループG1でいえば、サブフィールドC_Sf1の期間長が最も短く、以下、サブフィールドSf1、Sf2、Sf3およびSf4の期間が、この順で長く設定される。同様に、グループG2においても、サブフィールドC_Sf2、Sf5、Sf6、Sf7、Sf8の順で期間長が長く設定される。グループG3においても、サブフィールドC_Sf3、Sf9、Sf10、Sf11、Sf12の順で期間長が長く設定され、グループG4においても、サブフィールドC_Sf4、Sf13、Sf14、Sf15、Sf16の順で期間長が長く設定される。 The period lengths of the 20 subfields are set as follows. Specifically, in the group G1, the period length of the subfield C_Sf1 is the shortest, and the periods of the subfields Sf1, Sf2, Sf3 and Sf4 are set longer in this order. Similarly, in the group G2 as well, the period length is set longer in the order of the subfields C_Sf2, Sf5, Sf6, Sf7, and Sf8. In group G3, the period length is set longer in the order of subfields C_Sf3, Sf9, Sf10, Sf11, Sf12, and in group G4, the period length is set longer in the order of subfields C_Sf4, Sf13, Sf14, Sf15, Sf16. Will be done.

本実施形態では、映像データVidで指定される階調レベルに応じて液晶素子5をオンするか、または、オフするかを指定するコードについて、次のような特性となるように、16個のサブフィールドSf1〜Sf16に割り当てられる。 In the present embodiment, 16 codes are provided to specify whether the liquid crystal element 5 is turned on or off according to the gradation level specified by the video data Vid so as to have the following characteristics. It is assigned to the subfields Sf1 to Sf16.

図7は、階調レベルに対する液晶素子5の透過率の特性を示す図である。図において横軸は階調レベルである。本実施形態では、階調レベルが10ビットであるから、十進値に換算した場合には「0」から「1023」までの整数となる。また、図において縦軸は正規化された透過率である。
基準温度(例えば60℃)において階調レベルと透過率との関係は、太い実線で示されるように、リニアな特性ではなく、ヒトの被視感度を考慮して、ガンマ係数が「2.2」である弓なりの特性である。なお、この特性が目標とする特性である。
ある階調レベルにおいて液晶素子5を、サブフィールドSf1〜Sf16の各々でオンまたはオフとするかについては、図7に示される特性において当該階調レベルに対応する透過率に近づけるように設定される。このような設定が階調レベルの1024通りのすべてに対応して実行されて、階調レベルの「0」から「1023」までの各々についてサブフィールドSf1〜Sf16のコードが例えばテーブルT1(図4参照)として処理回路30に記憶される。なお、具体的なテーブルの内容については図示を省略する。
FIG. 7 is a diagram showing the characteristics of the transmittance of the liquid crystal element 5 with respect to the gradation level. In the figure, the horizontal axis is the gradation level. In the present embodiment, since the gradation level is 10 bits, it becomes an integer from "0" to "1023" when converted to a decimal value. In the figure, the vertical axis is the normalized transmittance.
As shown by the thick solid line, the relationship between the gradation level and the transmittance at the reference temperature (for example, 60 ° C.) has a gamma coefficient of "2.2" in consideration of human luminosity factor rather than linear characteristics. It is a characteristic of a bow. This characteristic is the target characteristic.
Whether the liquid crystal element 5 is turned on or off in each of the subfields Sf1 to Sf16 at a certain gradation level is set so as to approach the transmittance corresponding to the gradation level in the characteristics shown in FIG. .. Such a setting is executed corresponding to all 1024 gradation levels, and the codes of the subfields Sf1 to Sf16 for each of the gradation levels "0" to "1023" are, for example, table T1 (FIG. 4). (See) is stored in the processing circuit 30. The specific contents of the table will not be shown.

階調レベルに対する透過率は、基準温度では、ほぼ図7における太い実線であるが、液晶パネル100の温度が基準温度から上昇した場合に細い実線で示されるように変化し、逆に基準温度から低下した場合に破線で示されるように変化する。詳細には、液晶パネル100の温度が上昇した場合、階調レベルA未満の低階調側では透過率が上昇し、階調レベルA以上の高階調側では透過率が低下するのに対して、液晶パネル100の温度が低下した場合、低階調側では透過率が低下し、高階調側では透過率が上昇する。 The transmittance with respect to the gradation level is approximately the thick solid line in FIG. 7 at the reference temperature, but changes as shown by the thin solid line when the temperature of the liquid crystal panel 100 rises from the reference temperature, and conversely from the reference temperature. When it decreases, it changes as shown by the broken line. Specifically, when the temperature of the liquid crystal panel 100 rises, the transmittance increases on the low gradation side below the gradation level A, and decreases on the high gradation side above the gradation level A. When the temperature of the liquid crystal panel 100 decreases, the transmittance decreases on the low gradation side and increases on the high gradation side.

なお、階調レベルAは、液晶パネル100によって異なるが、この説明では例えば十進値で「768」としている。
また、基準温度を例えば60℃としている理由は、液晶パネル100を液晶プロジェクターに用いた場合に、当該液晶プロジェクターを使用する場合、環境温度に比べて照明光により加温されて比較的高温になりやすいからである。
The gradation level A differs depending on the liquid crystal panel 100, but in this description, for example, the decimal value is set to "768".
Further, the reason why the reference temperature is set to, for example, 60 ° C. is that when the liquid crystal panel 100 is used for the liquid crystal projector, when the liquid crystal projector is used, the temperature becomes relatively high because it is heated by the illumination light as compared with the environmental temperature. Because it is easy.

ここで、第1実施形態では説明を簡略化するため、液晶パネル100が基準温度から低下する場合のみ、透過率特性の変化を補償する構成とする。
階調レベルAは、サブフィールドSf1〜Sf16の各期間長が固定であれば、図7に示されるように温度変化に対して変動しない。このため、温度補償をするためには基準温度から低下した場合に、透過率を、階調レベルA未満の低階調側では上昇させ、階調レベルA以上の高階調側では低下させればよい。
そこで、第1実施形態では、第1に、階調レベルを制御するためのサブフィールドSf1〜Sf16とは別に、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4を設ける。第2に、温度が低下したときに、低階調側では透過率を上昇させるために、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4に対して基準温度では液晶素子5を「OFF」させるコードを割り当て、高階調側では透過率を低下させるために、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4に対して基準温度では液晶素子5を「ON」させるコードを割り当てる。
なお、厳密にいえば基準温度において、低階調側では、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4に「OFF」のコードが割り当てられ、高階調側では、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4に「ON」のコードが割り当てられるので、この割り当てを見越して、階調レベル毎にサブフィールドSf1〜Sf16のコードが、目標とする透過率となるように設定される。
Here, in the first embodiment, in order to simplify the description, the configuration is such that the change in the transmittance characteristic is compensated only when the liquid crystal panel 100 drops from the reference temperature.
If the period lengths of the subfields Sf1 to Sf16 are fixed, the gradation level A does not fluctuate with respect to a temperature change as shown in FIG. Therefore, in order to compensate for the temperature, when the temperature drops from the reference temperature, the transmittance should be increased on the low gradation side below the gradation level A and decreased on the high gradation side above the gradation level A. Good.
Therefore, in the first embodiment, first, the subfields C_Sf1 to C_Sf4 are provided in addition to the subfields Sf1 to Sf16 for controlling the gradation level. Secondly, in order to increase the transmittance on the low gradation side when the temperature drops, a code for turning the liquid crystal element 5 "OFF" at the reference temperature is assigned to the subfields C_Sf1 to C_Sf4 on the high gradation side. Then, in order to reduce the transmittance, a code for turning the liquid crystal element 5 “ON” at the reference temperature is assigned to the subfields C_Sf1 to C_Sf4.
Strictly speaking, at the reference temperature, the subfields C_Sf1 to C_Sf4 are assigned the "OFF" code on the low gradation side, and the subfields C_Sf1 to C_Sf4 are assigned the "ON" code on the high gradation side. Therefore, in anticipation of this allocation, the codes of the subfields Sf1 to Sf16 are set to have the target transmittance for each gradation level.

次に、温度が低下したときに、具体的に、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードをどのように変更するかについて説明する。 Next, how to change the code of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 specifically when the temperature drops will be described.

図8は、液晶パネル100の温度が基準温度から例えば5℃低下した場合に、階調レベルの「256」から「261」までにおいて、液晶素子5の透過率がどのように変化するのかを示す図である。なお、透過率変化量とは、階調レベルに換算されている。例えば、図において階調レベルの「256」における透過率変化量の「−10.33」とは、階調レベルが「256」から「10.33」だけ低下した階調レベルの「245.67」に相当する透過率であることを意味する。
また、図8では、階調レベルの「256」から「261」までにおける透過率変化量を示しているが、実際には、階調レベルの「0」から「1023」までのすべてについて、透過率変化量が予め測定されて、テーブルT3(図4参照)として記憶される。
なお、階調レベルの「256」から「261」までは、いずれも階調レベルA未満であるから、温度が低下したときに、透過率が低下する。このため、図8において、透過率変化量は負の値で示されている。階調レベルA以上の階調レベルについては、温度が低下したときに、透過率が概ね上昇するので、特に図示しないが透過率変化量が正の値となる。
FIG. 8 shows how the transmittance of the liquid crystal element 5 changes from the gradation level “256” to “261” when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops from the reference temperature by, for example, 5 ° C. It is a figure. The amount of change in transmittance is converted into a gradation level. For example, in the figure, the amount of change in transmittance "-10.33" at the gradation level "256" is the gradation level "245.67" in which the gradation level is lowered by "10.33" from "256". It means that the transmittance is equivalent to.
Further, in FIG. 8, the amount of change in transmittance at the gradation levels “256” to “261” is shown, but in reality, all of the gradation levels “0” to “1023” are transparent. The rate change amount is measured in advance and stored as a table T3 (see FIG. 4).
Since the gradation levels "256" to "261" are all lower than the gradation level A, the transmittance decreases when the temperature decreases. Therefore, in FIG. 8, the amount of change in transmittance is shown as a negative value. For the gradation level of the gradation level A or higher, the transmittance generally increases when the temperature decreases, so that the amount of change in the transmittance is a positive value, although not particularly shown.

図8に示される透過率変化量は、概ね図7における破線で示される特性に沿っているが、階調レベル毎に差がある。このように階調レベル毎に透過率変化量に差がある状態で一律に補償をすると、ある階調レベルについては過補償となったり、別の階調レベルについては補償不足となったりしてしまう。
そこで、第1実施形態では、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4毎に、透過率変化量のしきい値を対応付け、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下した場合に、ある階調レベルの透過率変化量がサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4に対応付けられたしきい値以上となったとき、当該階調レベルにおいて、当該サブフィールドのコードを変更する構成としている。
The amount of change in transmittance shown in FIG. 8 generally follows the characteristics shown by the broken line in FIG. 7, but there is a difference for each gradation level. In this way, if compensation is made uniformly when there is a difference in the amount of change in transmittance for each gradation level, compensation may be over-compensated for one gradation level or insufficient compensation for another gradation level. It ends up.
Therefore, in the first embodiment, a threshold value of the amount of change in transmittance is associated with each of the subfields C_Sf1 to C_Sf4, and when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C. from the reference temperature, a certain gradation level is transmitted. When the rate change amount becomes equal to or greater than the threshold value associated with the subfields C_Sf1 to C_Sf4, the code of the subfield is changed at the gradation level.

図9は、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4毎に対応付けられた透過率変化量のしきい値の一例を示す図である。
この図は、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下した場合に、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードのうち、階調レベルA未満の階調レベルにおける透過率変化量が絶対値で見てしきい値以上となったとき、当該階調レベルに対応するサブフィールドのコードを「OFF」から「ON」に変更されることを示している。
なお、図9の例では、透過率変化量が「3.5」ずつ低下するにつれて、サブフィールドC_Sf1、C_Sf3、C_Sf2、Sf4のコードが、この順で「ON」に変更されることを示している。
FIG. 9 is a diagram showing an example of the threshold value of the amount of change in transmittance associated with each of the subfields C_Sf1 to C_Sf4.
In this figure, when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C from the reference temperature, the amount of change in transmittance at the gradation level lower than the gradation level A among the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 is seen as an absolute value. It indicates that the code of the subfield corresponding to the gradation level is changed from "OFF" to "ON" when the threshold value is exceeded.
In the example of FIG. 9, it is shown that the codes of the subfields C_Sf1, C_Sf3, C_Sf2, and Sf4 are changed to "ON" in this order as the amount of change in transmittance decreases by "3.5". There is.

すなわち、第1実施形態では、ある階調レベルにおける透過率変化量が絶対値で見てサブフィールドC_Sf1に対応付けられたしきい値以上であれば、当該サブフィールドC_Sf1のコードが「ON」に変更される。
また、ある階調レベルにおける透過率変化量が絶対値で見てサブフィールドC_Sf3に対応付けられたしきい値以上であれば、サブフィールドC_Sf1およびC_Sf3のコードが「ON」に変更される。
同様に、ある階調レベルにおける透過率変化量が絶対値で見てサブフィールドC_Sf2に対応付けられたしきい値以上であれば、サブフィールドC_Sf1、C_Sf2およびC_Sf3のコードが「ON」に変更される。
そして、ある階調レベルにおける透過率変化量が絶対値で見てサブフィールドC_Sf4に対応付けられたしきい値以上であれば、サブフィールドC_Sf1、C_Sf2、C_Sf3およびC_Sf4のコードが「ON」に変更される。
That is, in the first embodiment, if the amount of change in transmittance at a certain gradation level is equal to or greater than the threshold value associated with the subfield C_Sf1 in terms of absolute value, the code of the subfield C_Sf1 is set to "ON". Be changed.
Further, if the amount of change in transmittance at a certain gradation level is equal to or greater than the threshold value associated with the subfield C_Sf3 in terms of absolute value, the codes of the subfields C_Sf1 and C_Sf3 are changed to "ON".
Similarly, if the amount of change in transmittance at a certain gradation level is equal to or greater than the threshold value associated with the subfield C_Sf2 in terms of absolute value, the codes of the subfields C_Sf1, C_Sf2 and C_Sf3 are changed to "ON". To.
Then, if the amount of change in transmittance at a certain gradation level is equal to or greater than the threshold value associated with the subfield C_Sf4 in terms of absolute value, the codes of the subfields C_Sf1, C_Sf2, C_Sf3 and C_Sf4 are changed to "ON". Will be done.

具体的には、処理回路30は、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃以上低下した場合に、階調レベルの「0」から「1023」までについて、温度補償用のサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードを変更して、テーブルT2を書き換える。 Specifically, the processing circuit 30 has subfields C_Sf1 to C_Sf4 for temperature compensation for the gradation levels "0" to "1023" when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C. or more from the reference temperature. Change the code of to rewrite the table T2.

図10は、階調レベルの「256」から「261」までにおけるサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードが、どのように変化するのかを示す図である。なお、階調レベルの「256」から「261」までは、いずれも階調レベルA未満である。このため、基準温度(補償前)におけるサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードは、いずれも「OFF」である。
液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下した場合に、階調レベルの「256」の透過率変化は図8または図10に示されるように「−10.33」である。透過率変化の「−10.33」は、絶対値でみて図9におけるサブフィールドC_Sf3のしきい値以上であり、サブフィールドC_Sf2のしきい値未満である。この場合、処理回路30は、サブフィールドC_Sf1、C_Sf3のコードを、図10に示されるように、「OFF」から「ON」に変更し、サブフィールドC_Sf2、C_Sf4のコードを「OFF」に維持する。
FIG. 10 is a diagram showing how the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 in the gradation levels “256” to “261” change. The gradation levels "256" to "261" are all less than the gradation level A. Therefore, the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 at the reference temperature (before compensation) are all "OFF".
When the temperature of the liquid crystal panel 100 is lowered by 5 ° C. from the reference temperature, the change in transmittance of the gradation level “256” is “-10.33” as shown in FIG. 8 or FIG. The “-10.33” change in transmittance is greater than or equal to the threshold value of subfield C_Sf3 in FIG. 9 and less than the threshold value of subfield C_Sf2 in terms of absolute value. In this case, the processing circuit 30 changes the codes of the subfields C_Sf1 and C_Sf3 from "OFF" to "ON" and keeps the codes of the subfields C_Sf2 and C_Sf4 "OFF" as shown in FIG. ..

また、階調レベルの「257」の透過率変化は「−14.71」である。透過率変化の「−14.71」は、絶対値でみて図9におけるサブフィールドSf4のしきい値以上である。この場合、処理回路30は、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードを、すべて「OFF」から「ON」に変更する。
液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下した場合に、図10における他の階調レベルの「258」から「261」までについても、同様にして、処理回路30は、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードのうち、透過率変化量がしきい値以上となるコードが変更される。なお、階調レベルA未満の他の階調レベルについても、特に図示しないが、同様にしてサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードが変更される。
The change in transmittance of the gradation level "257" is "-14.71". The change in transmittance "-14.71" is equal to or greater than the threshold value of the subfield Sf4 in FIG. 9 in terms of absolute value. In this case, the processing circuit 30 changes all the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 from "OFF" to "ON".
Similarly, when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C. from the reference temperature, the processing circuits 30 have subfields C_Sf1 to C_Sf4 for the other gradation levels "258" to "261" in FIG. Of the codes in, the code whose transmittance change amount is equal to or greater than the threshold value is changed. Although not shown in particular, the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 are also changed for other gradation levels lower than the gradation level A.

一方、階調レベルA以上については、基準温度(補償前)におけるサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードは、いずれも「ON」である。このため、階調レベルA以上の階調レベルについては、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下した場合、処理回路30は、透過率変化が絶対値でみてサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4の各しきい値以上であるか否かを判定し、しきい値以上であるサブフィールドのコードを「OFF」に変更する構成となる。 On the other hand, for the gradation level A or higher, the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 at the reference temperature (before compensation) are all "ON". Therefore, for gradation levels of gradation level A or higher, when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C from the reference temperature, the processing circuit 30 sees the change in transmittance as an absolute value in each of the subfields C_Sf1 to C_Sf4. It is configured to determine whether or not it is above the threshold value and change the code of the subfield that is above the threshold value to "OFF".

このような、温度に応じて温度補償用のサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4におけるコードを変更する動作については、次のようなフローチャートでまとめられる。 Such an operation of changing the code in the subfields C_Sf1 to C_Sf4 for temperature compensation according to the temperature is summarized in the following flowchart.

図11は、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4におけるコードの変更動作を示すフローチャートである。
まず、処理回路30は、温度検出部40から情報Tmpを取得して、液晶パネル100の温度を把握する(ステップS10)。
次に、処理回路30は、液晶パネル100の温度が所定範囲外であるか否かを判定する(ステップS11)。第1実施形態において所定範囲外とは、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃以上低下した場合をいう。
したがって、処理回路30は、液晶パネル100の温度が所定範囲外でなければ(ステップS11の判定結果が「No」であれば)、すなわち、液晶パネル100の温度が5℃以上低下していなければ、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4におけるコードとして基準温度のコードを用いる(ステップS12)。
FIG. 11 is a flowchart showing the code change operation in the subfields C_Sf1 to C_Sf4.
First, the processing circuit 30 acquires the information Tmp from the temperature detection unit 40 and grasps the temperature of the liquid crystal panel 100 (step S10).
Next, the processing circuit 30 determines whether or not the temperature of the liquid crystal panel 100 is out of the predetermined range (step S11). In the first embodiment, the term “outside the predetermined range” means a case where the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C. or more from the reference temperature.
Therefore, in the processing circuit 30, the temperature of the liquid crystal panel 100 is not out of the predetermined range (if the determination result in step S11 is “No”), that is, the temperature of the liquid crystal panel 100 is not lowered by 5 ° C. or more. , The reference temperature code is used as the code in the subfields C_Sf1 to C_Sf4 (step S12).

なお、第1実施形態では、基準温度においてサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードは、階調レベルA未満であれば、いずれも「OFF」であり、階調レベルA以上であれば、いずれも「ON」である。
この後、液晶パネル100の温度変化に備えて、処理手順がステップS10に戻る。
In the first embodiment, the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 at the reference temperature are all "OFF" if they are below the gradation level A, and "ON" if they are above the gradation level A. ".
After that, the processing procedure returns to step S10 in preparation for the temperature change of the liquid crystal panel 100.

一方、処理回路30は、液晶パネル100の温度が所定範囲外であれば(ステップS11の判定結果が「Yes」であれば)、すなわち、液晶パネル100の温度が5℃以上低下したならば、テーブルT3から、階調レベルの「0」から「1023」までに対応した透過率変化量を読み出す(ステップS13)。
次に、処理回路30は、読み出した透過率変化量と、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4に対応付けられたしきい値とを比較する(ステップS14)。
処理回路30は、ある階調レベルの透過率変化量が絶対値でみてサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4に対応付けられたしきい値以上であれば、しきい値以上であるサブフィールドのコードを基準温度のコードから変更する(ステップS15)。
On the other hand, in the processing circuit 30, if the temperature of the liquid crystal panel 100 is out of the predetermined range (if the determination result in step S11 is “Yes”), that is, if the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C. or more, From the table T3, the amount of change in transmittance corresponding to the gradation levels “0” to “1023” is read out (step S13).
Next, the processing circuit 30 compares the read transmittance change amount with the threshold value associated with the subfields C_Sf1 to C_Sf4 (step S14).
If the amount of change in transmittance at a certain gradation level is equal to or greater than the threshold value associated with the subfields C_Sf1 to C_Sf4 in absolute value, the processing circuit 30 uses the code of the subfield that is equal to or greater than the threshold value as the reference temperature. Change from the code of (step S15).

処理回路30は、透過率変化量とサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4に対応付けられたしきい値との比較、および、コードの変更を、階調レベルの「0」から「1023」までのすべてについて実行する。
また、以降において、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4については、変更したコードにしたがって液晶素子5がオンまたはオフに駆動される。
この後、液晶パネル100の温度変化に備えて、処理手順がステップS10に戻る。処理回路30は、ステップS10〜S15の処理を所定期間(例えば30秒)毎に繰り返し実行することで、液晶パネル100が基準温度から低下したときでも、階調レベルに対する透過率特性を、目標特性に近くなるように補償することができる。
The processing circuit 30 compares the amount of change in transmittance with the threshold value associated with the subfields C_Sf1 to C_Sf4, and changes the code for all gradation levels from "0" to "1023". To do.
Further, in the subsequent subfields C_Sf1 to C_Sf4, the liquid crystal element 5 is driven on or off according to the changed code.
After that, the processing procedure returns to step S10 in preparation for the temperature change of the liquid crystal panel 100. The processing circuit 30 repeatedly executes the processing of steps S10 to S15 every predetermined period (for example, 30 seconds), so that even when the liquid crystal panel 100 drops from the reference temperature, the transmittance characteristic with respect to the gradation level is set as the target characteristic. It can be compensated to be close to.

なお、階調レベルに応じた階調制御用のサブフィールドSf1〜Sf16のコードは、温度によって変更されない。 The codes of the subfields Sf1 to Sf16 for gradation control according to the gradation level are not changed by the temperature.

本実施形態において、液晶パネル100の温度に応じたサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4およびSf1〜Sf4のコードは、次のようにして画素回路Pの液晶素子5にデータ信号として書き込まれる。 In the present embodiment, the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 and Sf1 to Sf4 according to the temperature of the liquid crystal panel 100 are written as data signals in the liquid crystal element 5 of the pixel circuit P as follows.

図12は、走査線112の行数である1行目からm行目までを縦軸にとり、経過時間を横軸とったときに、走査信号Y1〜Ymによって選択される走査線の時間的推移を示す図である。
走査線112の選択を仮に走査線毎の黒点で示したとき、走査線112は1行ずつ排他的に選択されるので、選択される走査線は、時間経過とともに順次1行目からm行目に移行する。このため、選択される走査線を示す黒点が、時間経過とともに、右下がりの連続点で示されることになり、図では、簡略的に表記するために右下がりの実線で示されている。
FIG. 12 shows the temporal transition of the scanning lines selected by the scanning signals Y1 to Ym when the vertical axis is the first line to the mth line, which is the number of lines of the scanning line 112, and the elapsed time is the horizontal axis. It is a figure which shows.
When the selection of the scanning line 112 is indicated by a black dot for each scanning line, the scanning line 112 is exclusively selected line by line, so that the selected scanning lines are sequentially from the first line to the mth line with the lapse of time. Move to. Therefore, the black dots indicating the selected scanning lines are indicated by continuous points that decrease to the right with the passage of time, and are indicated by solid lines that decrease to the right for the sake of brevity in the figure.

あるサブフィールドにおいて、i行目の走査線112が選択されたとき、j列目のデータ線114には、当該サブフィールドにおいて、i行j列の液晶素子5の「ON」または「OFF」を指定するコードに対応したデータ信号が供給される。このため、当該サブフィールドにおいて、i行j列の液晶素子5は、指定されたオンまたはオフで駆動される。 When the scanning line 112 in the i-th row is selected in a certain subfield, the data line 114 in the j-th column is set to "ON" or "OFF" of the liquid crystal element 5 in the i-th row and j-column in the subfield. The data signal corresponding to the specified code is supplied. Therefore, in the subfield, the i-row and j-column liquid crystal elements 5 are driven on or off as specified.

図13は、第1実施形態における階調レベルに対する透過率特性の改善を示す図である。詳細には、図13において、実線の細線は、ガンマ係数が「2.2」の目標とすべき特性である。液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下した場合、破線が補償なしの場合の特性であり、図7における破線と同一であるのに対し、本実施形態では、実線の太線に示されるように、目標の特性に近づけることができる。 FIG. 13 is a diagram showing the improvement of the transmittance characteristic with respect to the gradation level in the first embodiment. Specifically, in FIG. 13, the solid thin line is a characteristic to be targeted for a gamma coefficient of “2.2”. When the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C. from the reference temperature, the broken line is the characteristic without compensation, which is the same as the broken line in FIG. 7, whereas in the present embodiment, it is shown by the thick solid line. In addition, it is possible to approach the characteristics of the target.

サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4を設けずに、サブフィールドSf1〜Sf16のコードを、温度変化に応じて変更する構成においても、階調レベルに対する透過率特性を目標特性に維持することは可能である。しかしながら、このような構成では、基準温度とは別に、想定される変化温度に対応したサブフィールドSf1〜Sf16のコードを定める必要がある。すなわち、透過率を測定する手間や、測定した透過率に対してどのようなコードをサブフィールドSf1〜Sf16に割り当てるべきかを定める必要があり、非常に煩雑である。
これに対して、本実施形態では、温度補償用のサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4を設けて、温度変化に対してサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードだけを変更し、サブフィールドSf1〜Sf16のコードについては変更しないので、上記手間に伴う煩雑さを回避するこができる。
Even in a configuration in which the codes of the subfields Sf1 to Sf16 are changed according to the temperature change without providing the subfields C_Sf1 to C_Sf4, it is possible to maintain the transmittance characteristic with respect to the gradation level at the target characteristic. However, in such a configuration, it is necessary to define the codes of the subfields Sf1 to Sf16 corresponding to the assumed change temperature separately from the reference temperature. That is, it is very complicated because it is necessary to determine the time and effort for measuring the transmittance and what kind of code should be assigned to the subfields Sf1 to Sf16 with respect to the measured transmittance.
On the other hand, in the present embodiment, the subfields C_Sf1 to C_Sf4 for temperature compensation are provided, only the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 are changed with respect to the temperature change, and the codes of the subfields Sf1 to Sf16 are changed. Therefore, it is possible to avoid the above-mentioned troublesome complexity.

また、各サブフィールドの期間長やフレーム周波数等を温度変化に応じて変更して、階調レベルに対する透過率特性を目標特性に維持することは可能である。しかしながら、この構成では、温度に応じてクロック等を変更する必要があり、構成の複雑化が避けられない。これに対して、本実施形態では、各サブフィールドの期間長やフレーム周波数等を温度変化に応じて変更しないので、上記構成と比較して、構成の複雑化を回避するこができる。 Further, it is possible to maintain the transmittance characteristic for the gradation level at the target characteristic by changing the period length of each subfield, the frame frequency, and the like according to the temperature change. However, in this configuration, it is necessary to change the clock or the like according to the temperature, which inevitably complicates the configuration. On the other hand, in the present embodiment, since the period length of each subfield, the frame frequency, and the like are not changed according to the temperature change, it is possible to avoid the complexity of the configuration as compared with the above configuration.

上述した第1実施形態では、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃以上低下した場合を問題としたが、例えば半分の2.5℃低下した場合について検討する。2.5℃低下する場合においても、各階調レベルの透過率変化量を予め測定して、例えばテーブル化し、実際に液晶パネル100の温度が2.5℃低下した場合には、5℃低下した場合と同様に、しきい値と比較して、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードを変更する構成でも対応可能である。
ただし、液晶パネル100の使用が想定される温度にわたって、各階調レベルの透過率変化量を予め求めて測定して、温度毎にテーブル化しておくのは、透過率の測定に手間がかかるだけでなく、構成も複雑化するので、現実的ではない。
一方、透過率変化量と温度とは、ほぼリニアな関係にある。
In the above-described first embodiment, the case where the temperature of the liquid crystal panel 100 is lowered by 5 ° C. or more from the reference temperature is a problem, but for example, the case where the temperature is lowered by half, 2.5 ° C., will be examined. Even when the temperature drops by 2.5 ° C, the amount of change in transmittance at each gradation level is measured in advance and tabulated, for example, and when the temperature of the liquid crystal panel 100 actually drops by 2.5 ° C, the temperature drops by 5 ° C. Similar to the case, it is also possible to change the code of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 as compared with the threshold value.
However, measuring the amount of change in transmittance at each gradation level in advance over the temperature at which the liquid crystal panel 100 is expected to be used and tabulating it for each temperature only takes time and effort to measure the transmittance. It is not realistic because the configuration is complicated.
On the other hand, the amount of change in transmittance and the temperature have a substantially linear relationship.

すなわち、液晶パネル100の温度が2.5℃低下した場合における透過率変化量は、5℃低下した場合における透過率変化量の半分であると推定されるので、このことを利用した第2実施形態について説明する。 That is, the amount of change in transmittance when the temperature of the liquid crystal panel 100 is lowered by 2.5 ° C. is estimated to be half of the amount of change in transmittance when the temperature is lowered by 5 ° C. The form will be described.

図14は、液晶パネル100の温度が基準温度から2.5℃低下した場合に、階調レベルの「256」から「261」までにおけるサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードが、どのように変化するのかを示す図である。図14に示されるように、液晶パネル100の温度が基準温度から2.5℃低下した場合の透過率変化量は、図10に示される透過率変化量、すなわち5℃低下した場合における透過率変化量の1/2としている。
液晶パネル100の温度が基準温度から2.5℃低下した場合に、階調レベルの「256」の透過率変化は図14に示されるように「−5.17」である。透過率変化の「−5.17」は、絶対値でみて図9におけるサブフィールドC_Sf1のしきい値以上であって、サブフィールドC_Sf2〜C_Sf4のしきい値未満である。このため、処理回路30は、液晶パネル100の温度が基準温度から2.5℃低下した場合(補償後)に、サブフィールドC_Sf1のコードのみを、図10に示されるように、「OFF」から「ON」に変更する。
FIG. 14 shows how the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 in the gradation levels “256” to “261” change when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 2.5 ° C. from the reference temperature. It is a figure which shows. As shown in FIG. 14, the amount of change in transmittance when the temperature of the liquid crystal panel 100 is lowered by 2.5 ° C from the reference temperature is the amount of change in transmittance shown in FIG. 10, that is, the amount of change in transmittance when lowered by 5 ° C. It is halved of the amount of change.
When the temperature of the liquid crystal panel 100 is lowered by 2.5 ° C. from the reference temperature, the change in transmittance of the gradation level “256” is “-5.17” as shown in FIG. The “−5.17” change in transmittance is equal to or greater than the threshold value of the subfield C_Sf1 in FIG. 9 and less than the threshold value of the subfields C_Sf2 to C_Sf4 in terms of absolute value. Therefore, when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 2.5 ° C. from the reference temperature (after compensation), the processing circuit 30 displays only the code of the subfield C_Sf1 from "OFF" as shown in FIG. Change to "ON".

なお、他の階調レベルについても、同様にして、液晶パネル100の温度が基準温度から2.5℃低下した場合に、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードのうち、透過率変化量がしきい値以上となるコードが変更される。 Similarly, for other gradation levels, when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 2.5 ° C. from the reference temperature, the amount of change in transmittance among the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 is the threshold value. The above code will be changed.

第2実施形態によれば、液晶パネル100の使用が想定される温度毎に、かつ、階調レベル毎に透過率変化量を測定する必要がない。 According to the second embodiment, it is not necessary to measure the amount of change in transmittance for each temperature at which the liquid crystal panel 100 is expected to be used and for each gradation level.

第2実施形態では、液晶パネル100の温度が2.5℃低下した場合を想定したが、例えば7.5℃、10℃、12.5℃低下した場合を想定してもよい。液晶パネル100の温度が7.5℃、10℃、12.5℃低下した場合における透過率変化量は、5℃低下した場合における透過率変化量のそれぞれ1.5倍、2倍、2.5倍とする。
具体的には、処理回路30は、基準温度と、透過率変化量を測定した温度(基準温度から5℃低下させた温度)との差に対する、情報Tmpで示される温度と基準温度との差に対する比率を、透過率変化量に乗じて補正し、当該補正した透過率変化量と、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4に対応づけられたしきい値との大小関係を判定し、当該判定結果に応じてサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードを変更すればよい。
In the second embodiment, it is assumed that the temperature of the liquid crystal panel 100 is lowered by 2.5 ° C., but it may be assumed that the temperature of the liquid crystal panel 100 is lowered by, for example, 7.5 ° C., 10 ° C., or 12.5 ° C. When the temperature of the liquid crystal panel 100 is lowered by 7.5 ° C., 10 ° C., 12.5 ° C., the amount of change in transmittance is 1.5 times, 2 times, and the amount of change in transmittance when the temperature is lowered by 5 ° C., respectively. 5 times.
Specifically, in the processing circuit 30, the difference between the temperature indicated by the information Tmp and the reference temperature with respect to the difference between the reference temperature and the temperature at which the amount of change in transmittance is measured (the temperature lowered by 5 ° C from the reference temperature). Is corrected by multiplying the amount of change in transmittance with respect to, and the magnitude relationship between the corrected amount of change in transmittance and the threshold value associated with the subfields C_Sf1 to C_Sf4 is determined, and according to the determination result. The codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 may be changed.

上述した第1実施形態および第2実施形態では、第1および第2の実施の形態では、液晶パネル100の温度が基準温度よりも低下した場合についてのみ補償する構成とした。
この場合に限られず、液晶パネル100の温度が基準温度よりも上昇した場合についても補償が可能である。
具体的には、液晶パネル100の温度が基準温度よりも上昇した場合、透過率特性は、図7において細い実線で示される特性になる。このため、単純には、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードを、低階調側では透過率変化量に応じて「OFF」に、高階調側では透過率変化量に応じて「ON」に、変更する構成であればよい。
ただし、このような構成では、液晶パネル100が基準温度である場合に温度上昇に備えて、低階調側ではサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードの一部または全部を「ON」に設定し、実際に温度上昇したときに、当該「ON」のコードを「OFF」に変更する必要がある。このような設定では、階調レベルが最低の「0」であっても、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードが「ON」となっているものがあるので、液晶素子5の透過率が上昇し、いわゆる黒浮きが発生する結果、コントラストの低下を招く。
そこで、コントラストの低下を抑えつつ、液晶パネル100の温度が上昇した場合についても補償が可能な第3実施形態について説明する。
In the first and second embodiments described above, in the first and second embodiments, compensation is provided only when the temperature of the liquid crystal panel 100 is lower than the reference temperature.
Not limited to this case, compensation is possible even when the temperature of the liquid crystal panel 100 rises above the reference temperature.
Specifically, when the temperature of the liquid crystal panel 100 rises above the reference temperature, the transmittance characteristic becomes the characteristic shown by a thin solid line in FIG. 7. Therefore, the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 are simply changed to "OFF" according to the amount of change in transmittance on the low gradation side and to "ON" according to the amount of change in transmittance on the high gradation side. Any configuration may be used.
However, in such a configuration, in preparation for a temperature rise when the liquid crystal panel 100 is at the reference temperature, a part or all of the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 are set to "ON" on the low gradation side, and the actual It is necessary to change the code of the "ON" to "OFF" when the temperature rises to. In such a setting, even if the gradation level is the lowest "0", the code of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 is "ON" in some cases, so that the transmittance of the liquid crystal element 5 increases. As a result of so-called black floating, the contrast is lowered.
Therefore, a third embodiment that can compensate even when the temperature of the liquid crystal panel 100 rises while suppressing the decrease in contrast will be described.

第3実施形態では、第1に、階調レベルAよりも低階調側に階調レベルBを設け、基準温度において、当該階調レベルBよりも低階調側の階調レベルについてはサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードをすべて「OFF」に設定する。なお、階調レベルBは、例えば十進値で「64」である。
第2に、基準温度において、階調レベルB以上であって階調レベルA未満の階調レベルについてはサブフィールドC_Sf1およびC_Sf3のコードを「OFF」に、サブフィールドC_Sf2およびC_Sf4のコードを「ON」に、それぞれ設定する。
第3に、基準温度において、階調レベルA以上の階調レベルについてはサブフィールドC_Sf1およびC_Sf3のコードを「ON」に、サブフィールドC_Sf2およびC_Sf4のコードを「OFF」に、それぞれ設定する。
第4に、サブフィールドC_Sf1〜C_Sf4毎に対応付けられた透過率変化量のしきい値を例えば図15に示される内容とする。
なお、第3実施形態では、液晶パネル100の温度が基準温度から低下のみならず、上昇する場合にも対処するので、しきい値については、低温用のしきい値と高温用のしきい値とが用意される。詳細には、原則的に、液晶パネル100の温度が基準温度から低下した場合には、サブフィールドC_Sf1およびC_Sf3のコードを反転することで対処し、基準温度から上昇した場合には、サブフィールドC_Sf2およびC_Sf4のコードを反転することで対処する。
In the third embodiment, first, the gradation level B is provided on the lower gradation side than the gradation level A, and at the reference temperature, the gradation level on the lower gradation side than the gradation level B is sub. Set all the codes of fields C_Sf1 to C_Sf4 to "OFF". The gradation level B is, for example, a decimal value of "64".
Second, at the reference temperature, for the gradation level above the gradation level B and below the gradation level A, the codes of the subfields C_Sf1 and C_Sf3 are set to "OFF", and the codes of the subfields C_Sf2 and C_Sf4 are set to "ON". , And set each.
Third, at the reference temperature, the codes of the subfields C_Sf1 and C_Sf3 are set to "ON" and the codes of the subfields C_Sf2 and C_Sf4 are set to "OFF" for the gradation level of the gradation level A or higher.
Fourth, the threshold value of the amount of change in transmittance associated with each of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 is set as shown in FIG. 15, for example.
In the third embodiment, since the case where the temperature of the liquid crystal panel 100 not only decreases from the reference temperature but also increases is dealt with, the threshold value is a low temperature threshold value and a high temperature threshold value. And are prepared. Specifically, in principle, when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops from the reference temperature, it is dealt with by inverting the codes of the subfields C_Sf1 and C_Sf3, and when it rises from the reference temperature, the subfield C_Sf2 And C_Sf4 code is reversed to deal with it.

なお、第3施形態では、指定された階調レベルが階調レベルB以上であって階調レベルA未満である場合に、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下したとき、当該階調レベルにおける透過率変化量が絶対値で見てサブフィールドC_Sf1に対応付けられたしきい値以上であれば、サブフィールドC_Sf1のコードが「ON」に変更され、サブフィールドC_Sf3に対応付けられたしきい値以上であれば、サブフィールドC_Sf1およびC_Sf3のコードが「ON」に変更される。
また、この場合に、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃上昇したとき、当該階調レベルにおける透過率変化量が絶対値で見てサブフィールドC_Sf2に対応付けられたしきい値以上であれば、サブフィールドC_Sf2のコードが「OFF」に変更され、サブフィールドC_Sf4に対応付けられたしきい値以上であれば、サブフィールドC_Sf2およびC_Sf4のコードが「OFF」に変更される。
In the third embodiment, when the designated gradation level is equal to or higher than the gradation level B and lower than the gradation level A, and the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C. from the reference temperature, the floor concerned. If the amount of change in transmittance at the key level is equal to or greater than the threshold value associated with subfield C_Sf1 in terms of absolute value, the code of subfield C_Sf1 is changed to "ON" and associated with subfield C_Sf3. If it is equal to or higher than the threshold value, the codes of the subfields C_Sf1 and C_Sf3 are changed to "ON".
Further, in this case, when the temperature of the liquid crystal panel 100 rises by 5 ° C. from the reference temperature, the amount of change in transmittance at the gradation level is equal to or greater than the threshold value associated with the subfield C_Sf2 in terms of absolute value. For example, the code of the subfield C_Sf2 is changed to "OFF", and if it is equal to or higher than the threshold value associated with the subfield C_Sf4, the codes of the subfields C_Sf2 and C_Sf4 are changed to "OFF".

図15は、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下した場合と、5℃上昇した場合とにおけるサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードが、どのように変化するのかを示す図である。
なお、図15では、階調レベルB未満として階調レベルの「61」から「63」までを例示し、階調レベルB以上であって階調レベルA未満として階調レベルの「256」から「261」までを例示している。
FIG. 15 is a diagram showing how the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 change when the temperature of the liquid crystal panel 100 is lowered by 5 ° C. from the reference temperature and when the temperature is raised by 5 ° C.
In FIG. 15, the gradation levels "61" to "63" are illustrated as less than the gradation level B, and the gradation level "256" is defined as being equal to or higher than the gradation level B and less than the gradation level A. Up to "261" is illustrated.

第3実施形態では、基準温度(補償前)において、当該階調レベルBよりも低階調側の階調レベルについてはサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードがすべて「OFF」であるので、温度が上昇した場合に透過率を低下させる方向の補償をすることができない。
具体的には、図15において、階調レベルの「61」では高温側の透過率変化量は「2.53」であり、この値は、絶対値でみて図16におけるサブフィールドC_Sf2の高温側しきい値の「+2.5」以上である。階調レベルの「61」において基準温度(補償前)のサブフィールドC_Sf2のコードは「OFF」であるので、原則に従えば、階調レベルの「61」におけるサブフィールドC_Sf2のコードを「OFF」から「ON」に変更すべきである。
ただし、階調レベルの「61」におけるサブフィールドC_Sf2のコードを「OFF」から「ON」に変更すると、透過率を上昇させる方向の補償になり、目的と合致しない。
このため、第3実施形態では、階調レベルBよりも低階調側では、温度が上昇した場合に例外的に透過率の補償をしない構成としている。
In the third embodiment, at the reference temperature (before compensation), the subfields C_Sf1 to C_Sf4 are all "OFF" for the gradation level on the gradation level lower than the gradation level B, so that the temperature rises. In that case, it is not possible to compensate in the direction of lowering the transmittance.
Specifically, in FIG. 15, at the gradation level “61”, the amount of change in transmittance on the high temperature side is “2.53”, and this value is the high temperature side of the subfield C_Sf2 in FIG. 16 in terms of absolute value. It is equal to or higher than the threshold value of "+2.5". Since the code of the subfield C_Sf2 of the reference temperature (before compensation) is "OFF" at the gradation level "61", according to the principle, the code of the subfield C_Sf2 at the gradation level "61" is "OFF". Should be changed to "ON".
However, if the code of the subfield C_Sf2 at the gradation level "61" is changed from "OFF" to "ON", the compensation is in the direction of increasing the transmittance, which does not match the purpose.
Therefore, in the third embodiment, the transmittance is exceptionally not compensated when the temperature rises on the gradation side lower than the gradation level B.

なお、図15において、階調レベルの「62」では低温側の透過率変化量が「−7.333」であり、この値は、絶対値でみて図16におけるサブフィールドC_Sf1の低温側しきい値の「−7.0」以上である。このため、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下した場合、階調レベルの「62」におけるサブフィールドC_Sf1のコードが「OFF」から「ON」に変更される。 In FIG. 15, at the gradation level “62”, the amount of change in transmittance on the low temperature side is “-7.333”, and this value is the threshold value on the low temperature side of the subfield C_Sf1 in FIG. 16 in terms of absolute value. The value is "-7.0" or more. Therefore, when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C. from the reference temperature, the code of the subfield C_Sf1 at the gradation level "62" is changed from "OFF" to "ON".

また、階調レベルB以上であって階調レベルA未満の範囲における階調レベルでは、液晶パネル100の温度が基準温度から変化した場合、上述したようにサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードが変更される。 Further, in the gradation level in the range of the gradation level B or higher and lower than the gradation level A, when the temperature of the liquid crystal panel 100 changes from the reference temperature, the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 are changed as described above. To.

例えば、当該範囲の階調レベルの「256」では、透過率変化量が低温側では「−10.33」であり、絶対値でみてサブフィールドC_Sf1における低温側しきい値の「−7.0」以上であって、サブフィールドC_Sf3における低温側しきい値の「−14.0」未満である。このため、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃低下した場合、サブフィールドC_Sf1のコードが「ON」に変更され、サブフィールドC_Sf3のコードは「OFF」に維持される。なお、この場合、サブフィールドC_Sf2およびC_Sf4のコードは変更の対象でないので、「ON」に維持される。 For example, at the gradation level "256" in the range, the amount of change in transmittance is "-10.33" on the low temperature side, and the absolute value is "-7.0", which is the low temperature side threshold value in the subfield C_Sf1. It is less than "-14.0" of the low temperature side threshold value in the subfield C_Sf3. Therefore, when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C. from the reference temperature, the code of the subfield C_Sf1 is changed to "ON", and the code of the subfield C_Sf3 is maintained at "OFF". In this case, the codes of the subfields C_Sf2 and C_Sf4 are not subject to change, and are therefore maintained at "ON".

また、階調レベルの「256」では、透過率変化量が高温側では「+4.68」であり、絶対値でみてサブフィールドC_Sf2における低温側しきい値の「+2.5」以上であって、サブフィールドC_Sf4における高温側しきい値の「+5.0」未満である。このため、液晶パネル100の温度が基準温度から5℃上昇した場合、サブフィールドC_Sf2のコードが「OFF」に変更され、サブフィールドC_Sf4のコードは「ON」に維持される。なお、この場合、サブフィールドC_Sf1およびC_Sf3のコードは変更の対象でないので、「OFF」に維持される。 Further, at the gradation level "256", the amount of change in transmittance is "+4.68" on the high temperature side, which is equal to or higher than the low temperature side threshold value "+2.5" in the subfield C_Sf2 in terms of absolute value. , It is less than "+5.0" of the high temperature side threshold value in the subfield C_Sf4. Therefore, when the temperature of the liquid crystal panel 100 rises by 5 ° C. from the reference temperature, the code of the subfield C_Sf2 is changed to "OFF", and the code of the subfield C_Sf4 is maintained at "ON". In this case, the codes of the subfields C_Sf1 and C_Sf3 are not subject to change, and are therefore maintained at "OFF".

なお、階調レベルA以上の階調レベルについては液晶パネル100の温度が低下した場合には透過率を低下させ、上昇した場合には透過率を上昇させる必要がある。
このため、当該階調レベルについては、特に図示しないが、液晶パネル100の温度が5℃低下した場合には、透過率変化量に応じてサブフィールドC_Sf1または/およびC_Sf3のコードが「OFF」に変更され、温度が5℃上昇した場合には、透過率変化量に応じてサブフィールドC_Sf2または/およびC_Sf4のコードが「ON」に変更される。
Regarding the gradation level of the gradation level A or higher, it is necessary to decrease the transmittance when the temperature of the liquid crystal panel 100 decreases and increase the transmittance when the temperature of the liquid crystal panel 100 increases.
Therefore, although the gradation level is not particularly shown, when the temperature of the liquid crystal panel 100 drops by 5 ° C., the code of the subfields C_Sf1 and / and C_Sf3 is set to "OFF" according to the amount of change in transmittance. When the temperature is changed and the temperature rises by 5 ° C., the code of the subfields C_Sf2 and / and C_Sf4 is changed to "ON" according to the amount of change in transmittance.

また、第3実施形態では、第2実施形態のように透過率変化量に検出された温度の比率を乗じて、透過率変化量に補正する構成としてもよい。 Further, in the third embodiment, as in the second embodiment, the amount of change in transmittance may be corrected by multiplying the amount of change in transmittance by the ratio of the detected temperature.

このように第3実施形態によれば、コントラストの低下を抑えつつ、液晶パネル100の温度が低下する場合のみならず、上昇する場合についても補償が可能となる。 As described above, according to the third embodiment, it is possible to compensate not only when the temperature of the liquid crystal panel 100 decreases but also when the temperature increases while suppressing the decrease in contrast.

なお、上述した各実施形態では、液晶素子5をノーマリーブラックモードとして説明したが、液晶素子5の保持電圧がゼロであれば、透過率が最大となる一方、保持電圧が高くなるにつれて、透過率が徐々に低下するノーマリーホワイトモードにも適用可能である。
各実施形態では、液晶パネル100の温度が変化した場合に、処理回路30においてテーブルT2を書き換えて、温度補償用のサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードを変更する構成としたが、温度別に温度補償用のサブフィールドC_Sf1〜C_Sf4のコードを記憶するテーブルを複数用意して、温度の情報Tmpに応じたテーブルを1つ選択する構成としてもよい。
In each of the above-described embodiments, the liquid crystal element 5 has been described as the normally black mode. However, if the holding voltage of the liquid crystal element 5 is zero, the transmittance becomes maximum, while as the holding voltage increases, the transmittance becomes transparent. It can also be applied to the normally white mode in which the rate gradually decreases.
In each embodiment, when the temperature of the liquid crystal panel 100 changes, the table T2 is rewritten in the processing circuit 30 to change the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 for temperature compensation. A plurality of tables for storing the codes of the subfields C_Sf1 to C_Sf4 of the above may be prepared, and one table corresponding to the temperature information Tmp may be selected.

また、温度補償用のサブフィールドおよび階調制御用のサブフィールドについての期間長、順番および個数については、図6に示される以外のものであってもよい。
例えば、温度補償用のサブフィールドの個数は「4」に限られず、「2」以上であればよい。また、温度補償用のサブフィールドの期間長は、同一である必要はなく、互いに異なっていてもよい。温度補償用のサブフィールドの期間長として、短および長の2種類をそれぞれ複数個設けてもよい。
走査線112の選択順序は、図12に示される順番に限られず、複数行を飛び越して選択し、各行の液晶素子5において異なるサブフィールドの期間を表現する構成としてもよい。
また、本開示については、電気光学装置のみならず、電気光学装置の駆動方法としても表現可能である。
The period length, order, and number of the temperature compensation subfield and the gradation control subfield may be other than those shown in FIG.
For example, the number of subfields for temperature compensation is not limited to "4", and may be "2" or more. Further, the period lengths of the temperature compensation subfields do not have to be the same and may be different from each other. As the period length of the subfield for temperature compensation, a plurality of two types, short and long, may be provided.
The selection order of the scanning lines 112 is not limited to the order shown in FIG. 12, and a plurality of lines may be skipped and selected to express different subfield periods in the liquid crystal element 5 of each line.
Further, the present disclosure can be expressed not only as an electro-optical device but also as a driving method of the electro-optic device.

上述した各実施形態において、液晶素子5が電気光学素子の一例である。基準温度が第1温度の一例であり、当該基準温度から5℃低いまたは高い温度が第2温度の一例であり、透過率変化量が階調変化量の一例である。第1実施形態において階調レベルAが所定のレベルの一例であり、第3実施形態において階調レベルBが第1レベルの一例であり、階調レベルAが第2レベルの一例である。
また、各実施形態においてサブフィールドC_Sf1が第1補償サブフィールドの一例であり、サブフィールドC_Sf2が第2補償サブフィールドの一例であり、サブフィールドC_Sf3が第3補償サブフィールドの一例であり、サブフィールドC_Sf4が第4補償サブフィールドの一例である。
In each of the above-described embodiments, the liquid crystal element 5 is an example of an electro-optical element. The reference temperature is an example of the first temperature, a temperature 5 ° C. lower or higher than the reference temperature is an example of the second temperature, and the amount of change in transmittance is an example of the amount of gradation change. In the first embodiment, the gradation level A is an example of a predetermined level, in the third embodiment, the gradation level B is an example of the first level, and the gradation level A is an example of the second level.
Further, in each embodiment, the subfield C_Sf1 is an example of the first compensation subfield, the subfield C_Sf2 is an example of the second compensation subfield, the subfield C_Sf3 is an example of the third compensation subfield, and the subfield. C_Sf4 is an example of the fourth compensation subfield.

次に、上述した電気光学装置1を用いた電子機器の一例について説明する。
図17は、電気光学装置1の液晶パネル100をライトバルブとして用いた3板式の液晶プロジェクターの構成を示す図である。図17に示されるように、液晶プロジェクター2100は、液晶パネル100R、100Gおよび100Bを備える。液晶パネル100R、100Gおよび100Bは、実施形態等における液晶パネル100と同様であり、上位装置(図示省略)から供給されるR、G、Bの各色に対応する映像データに基づいた透過像をそれぞれ生成する。
Next, an example of an electronic device using the above-mentioned electro-optical device 1 will be described.
FIG. 17 is a diagram showing a configuration of a three-panel liquid crystal projector using the liquid crystal panel 100 of the electro-optical device 1 as a light bulb. As shown in FIG. 17, the liquid crystal projector 2100 includes liquid crystal panels 100R, 100G and 100B. The liquid crystal panels 100R, 100G, and 100B are the same as the liquid crystal panel 100 in the embodiment and the like, and transmit transmission images based on the video data corresponding to each color of R, G, and B supplied from the host device (not shown), respectively. Generate.

液晶プロジェクター2100の内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット2102が設けられている。このランプユニット2102から射出された投射光は、内部に配置された3枚のミラー2106および2枚のダイクロイックミラー2108によって、赤、緑および青の3原色に分離される。このうち、赤の光は液晶パネル100Rに、緑の光は液晶パネル100Gに、青の光は液晶パネル100Bに、それぞれ入射する。
なお、青の光路は、他の赤や緑と比較して長い。このため、青の光は、光路での損失を防ぐために、入射レンズ2122、リレーレンズ2123および出射レンズ2124からなるリレーレンズ系2121を介して液晶パネル100Bに導かれる。
Inside the liquid crystal projector 2100, a lamp unit 2102 made of a white light source such as a halogen lamp is provided. The projected light emitted from the lamp unit 2102 is separated into three primary colors of red, green, and blue by three mirrors 2106 and two dichroic mirrors 2108 arranged inside. Of these, red light is incident on the liquid crystal panel 100R, green light is incident on the liquid crystal panel 100G, and blue light is incident on the liquid crystal panel 100B.
The blue optical path is longer than other red and green. Therefore, the blue light is guided to the liquid crystal panel 100B via the relay lens system 2121 including the incident lens 2122, the relay lens 2123, and the outgoing lens 2124 in order to prevent loss in the optical path.

液晶パネル100Rでは、赤色成分のデータ信号が、走査線駆動回路130およびデータ線駆動回路140によって画素回路P毎に書き込まれる。液晶パネル100Rにおいて、画素回路Pにデータ信号が書き込まれると、当該データ信号に応じた透過率となる。このため、液晶パネル100Rでは、入射した赤の光の透過率が画素毎に制御されるので、表示すべき画像のうち、赤の成分の透過像が生成されることになる。
同様に、液晶パネル100Gおよび100Bでは、緑色成分のデータ信号および青色成分のデータ信号が、駆動回路によって画素毎に書き込まれて、それぞれ表示すべき画像のうち、緑および青の成分の透過像が生成される。
In the liquid crystal panel 100R, the data signal of the red component is written for each pixel circuit P by the scanning line driving circuit 130 and the data line driving circuit 140. When a data signal is written to the pixel circuit P in the liquid crystal panel 100R, the transmittance is set according to the data signal. Therefore, in the liquid crystal panel 100R, the transmittance of the incident red light is controlled for each pixel, so that a transmitted image of the red component in the image to be displayed is generated.
Similarly, in the liquid crystal panels 100G and 100B, the data signal of the green component and the data signal of the blue component are written for each pixel by the drive circuit, and among the images to be displayed, the transmitted images of the green and blue components are displayed. Will be generated.

液晶パネル100R、100Gおよび100Bによってそれぞれ生成された各色の透過像は、ダイクロイックプリズム2112に3方向から入射する。そして、このダイクロイックプリズム2112において、RおよびBの光は90度に屈折する一方、Gの光は直進する。したがって、各色の画像が合成された後、スクリーン2120には、投射レンズ2114によってカラー画像が投射される。
なお、液晶パネル100R、100Bによる各透過像は、ダイクロイックプリズム2112により反射した後に投射されるのに対し、液晶パネル100Gの透過像は直進して投射される。このため、液晶パネル100R、100Bによる各透過像は、液晶パネル100Gの透過像に対して左右反転した関係となっている。
The transmitted images of each color generated by the liquid crystal panels 100R, 100G, and 100B are incident on the dichroic prism 2112 from three directions. Then, in this dichroic prism 2112, the light of R and B is refracted at 90 degrees, while the light of G travels straight. Therefore, after the images of each color are combined, the color image is projected on the screen 2120 by the projection lens 2114.
The transmitted images of the liquid crystal panels 100R and 100B are projected after being reflected by the dichroic prism 2112, whereas the transmitted images of the liquid crystal panel 100G are projected in a straight line. Therefore, the transmitted images of the liquid crystal panels 100R and 100B are horizontally inverted with respect to the transmitted images of the liquid crystal panel 100G.

1…電気光学装置、3…表示制御回路、5…液晶、30…処理回路、35…走査制御回路、100…液晶パネル、100a…素子基板、100b…対向基板、108…コモン電極、118…画素電極、130…走査線駆動回路、140…データ線駆動回路。 1 ... Electro-optical device, 3 ... Display control circuit, 5 ... Liquid crystal, 30 ... Processing circuit, 35 ... Scan control circuit, 100 ... Liquid crystal panel, 100a ... Element substrate, 100b ... Opposite substrate, 108 ... Common electrode, 118 ... Pixel Electrodes, 130 ... scanning line drive circuit, 140 ... data line drive circuit.

Claims (11)

走査線とデータ線とに対応して設けられ、前記走査線の選択時に、オンまたはオフに対応するデータ信号に応じて駆動される電気光学素子を、指定された階調レベルに応じた明るさとなるように制御する電気光学装置の駆動方法であって、
フレーム期間を複数のサブフィールドに分割するとともに、当該複数のサブフィールドのうち、2つ以上を温度補償用とし、他の2つ以上を階調制御用とし、
前記電気光学素子を、前記階調制御用のサブフィールドの各々にて前記階調レベルに応じてオンまたはオフさせ、
第1温度において前記電気光学素子を、前記温度補償用のサブフィールドの各々にて前記階調レベル毎にオンまたはオフさせ、
前記第1温度とは異なる第2温度に変化した場合に、前記階調レベル毎の階調変化量が、前記温度補償用のサブフィールドの各々に対応付けられたしきい値以上であるか否か判定し、前記しきい値以上である階調レベルに対応したサブフィールドにおけるオンまたはオフを前記第1温度のオンまたはオフから変更する
電気光学装置の駆動方法。
An electro-optical element provided corresponding to a scanning line and a data line and driven according to a data signal corresponding to on or off when the scanning line is selected has a brightness corresponding to a specified gradation level. It is a driving method of an electro-optic device that is controlled so as to be
The frame period is divided into a plurality of subfields, two or more of the plurality of subfields are used for temperature compensation, and the other two or more are used for gradation control.
The electro-optical element is turned on or off according to the gradation level in each of the gradation control subfields.
At the first temperature, the electro-optic element is turned on or off for each gradation level in each of the temperature compensation subfields.
Whether or not the gradation change amount for each gradation level is equal to or greater than the threshold value associated with each of the temperature compensation subfields when the temperature changes to a second temperature different from the first temperature. A method for driving an electro-optic device, which determines whether or not the temperature is on or off in a subfield corresponding to a gradation level equal to or higher than the threshold value from on or off of the first temperature.
前記第1温度において階調レベルが所定のレベル未満である場合に、前記電気光学素子を、前記温度補償用のサブフィールドのすべてでオフさせる、
請求項1に記載の電気光学装置の駆動方法。
When the gradation level is less than a predetermined level at the first temperature, the electro-optic element is turned off in all of the temperature compensation subfields.
The method for driving an electro-optical device according to claim 1.
検出された温度と前記第1温度との差に基づいて、前記階調レベル毎に測定された階調変化量を補正して、当該補正した階調変化量を前記しきい値と比較する、
請求項1または2に記載の電気光学装置の駆動方法。
Based on the difference between the detected temperature and the first temperature, the gradation change amount measured for each gradation level is corrected, and the corrected gradation change amount is compared with the threshold value.
The method for driving an electro-optic device according to claim 1 or 2.
前記第1温度と前記第2温度との差に対する、前記検出された温度と前記第1温度との差の比率を、前記階調変化量に乗じて補正して、当該補正した階調変化量を前記しきい値と比較する、
請求項3に記載の電気光学装置の駆動方法。
The ratio of the difference between the detected temperature and the first temperature to the difference between the first temperature and the second temperature is corrected by multiplying the gradation change amount, and the corrected gradation change amount is corrected. Compare with the threshold,
The method for driving an electro-optical device according to claim 3.
前記温度補償用のサブフィールドは、
前記第1補償サブフィールド、前記第2補償サブフィールド、前記第3補償サブフィールドおよび前記第4補償サブフィールドを含み、
前記第1補償サブフィールドには第1しきい値が対応付けられ、
前記第2補償サブフィールドには第2しきい値が対応付けられ、
前記第3補償サブフィールドには第3しきい値が対応付けられ、
前記第4補償サブフィールドには第4しきい値が対応付けられる、
請求項1乃至4のいずれかに記載の電気光学装置の駆動方法。
The subfield for temperature compensation is
Includes the first compensation subfield, the second compensation subfield, the third compensation subfield and the fourth compensation subfield.
A first threshold value is associated with the first compensation subfield, and the first threshold value is associated with the first compensation subfield.
A second threshold is associated with the second compensation subfield.
A third threshold value is associated with the third compensation subfield, and the third threshold value is associated with the third compensation subfield.
A fourth threshold is associated with the fourth compensation subfield.
The method for driving an electro-optical device according to any one of claims 1 to 4.
前記第1しきい値、前記第3しきい値、前記第2しきい値および前記第4しきい値は、
絶対値でみて、
前記第1しきい値<前記第3しきい値<前記第2しきい値<前記第4しきい値
の関係にあり、
前記第1温度から低下した場合に、
指定された階調レベルにおける階調変化量が、絶対値でみて前記第1しきい値以上であれば、前記電気光学素子を前記第1補償サブフィールドにてオンさせ、
当該階調変化量が、絶対値でみて前記第3しきい値以上であれば、前記電気光学素子を前記第1補償サブフィールドおよび前記第3補償サブフィールドにてオンさせ、
当該階調変化量が、絶対値でみて前記第2しきい値以上であれば、前記電気光学素子を前記第1補償サブフィールド、前記第2補償サブフィールドおよび前記第3補償サブフィールドにてオンさせ、
当該階調変化量が、絶対値でみて前記第4しきい値以上であれば、前記電気光学素子を前記第1補償サブフィールド、前記第2補償サブフィールド、第3補償サブフィールドおよび前記第4補償サブフィールドにてオンさせる、
請求項5に記載の電気光学装置の駆動方法。
The first threshold value, the third threshold value, the second threshold value, and the fourth threshold value are
Looking at the absolute value,
The relationship is such that the first threshold value <the third threshold value <the second threshold value <the fourth threshold value.
When the temperature drops from the first temperature,
If the amount of gradation change at the specified gradation level is equal to or greater than the first threshold value in terms of absolute value, the electro-optical element is turned on in the first compensation subfield.
If the amount of gradation change is equal to or greater than the third threshold value in terms of absolute value, the electro-optical element is turned on in the first compensation subfield and the third compensation subfield.
If the amount of gradation change is equal to or greater than the second threshold value in terms of absolute value, the electro-optic element is turned on in the first compensation subfield, the second compensation subfield, and the third compensation subfield. Let me
If the amount of gradation change is equal to or greater than the fourth threshold value in terms of absolute value, the electro-optic element is referred to as the first compensation subfield, the second compensation subfield, the third compensation subfield, and the fourth compensation subfield. Turn on in the compensation subfield,
The method for driving an electro-optical device according to claim 5.
前記第1しきい値、前記第3しきい値、前記第2しきい値および前記第4しきい値は、
絶対値でみて、
前記第1しきい値<前記第3しきい値、
であって、
前記第2しきい値<前記第4しきい値
の関係にあり、
指定された階調レベルが第1レベル以上であって第2レベル未満である場合、
前記第1温度から低下したときに、
当該階調レベルにおける階調変化量が、絶対値でみて前記第1しきい値以上であれば、前記電気光学素子を前記第1補償サブフィールドにてオンさせ、
当該階調変化量が、絶対値でみて前記第3しきい値以上であれば、前記電気光学素子を前記第1補償サブフィールドおよび前記第3補償サブフィールドにてオンさせ、
前記第1温度から上昇したときに、
当該階調変化量が、絶対値でみて前記第2しきい値以上であれば、前記電気光学素子を前記第2補償サブフィールドにてオフさせ、
当該階調変化量が、絶対値でみて前記第4しきい値以上であれば、前記電気光学素子を前記第2補償サブフィールドおよび前記第4補償サブフィールドにてオフさせる、
請求項1に記載の電気光学装置の駆動方法。
The first threshold value, the third threshold value, the second threshold value, and the fourth threshold value are
Looking at the absolute value,
The first threshold <the third threshold,
And
The relationship is such that the second threshold value <the fourth threshold value.
When the specified gradation level is equal to or higher than the first level and lower than the second level,
When the temperature drops from the first temperature,
If the amount of gradation change at the gradation level is equal to or greater than the first threshold value in terms of absolute value, the electro-optical element is turned on in the first compensation subfield.
If the amount of gradation change is equal to or greater than the third threshold value in terms of absolute value, the electro-optical element is turned on in the first compensation subfield and the third compensation subfield.
When the temperature rises from the first temperature,
If the amount of gradation change is equal to or greater than the second threshold value in terms of absolute value, the electro-optical element is turned off in the second compensation subfield.
If the amount of gradation change is equal to or greater than the fourth threshold value in terms of absolute value, the electro-optical element is turned off in the second compensation subfield and the fourth compensation subfield.
The method for driving an electro-optical device according to claim 1.
前記第1温度において階調レベルが第1レベル未満である場合に、前記電気光学素子を、前記温度補償用のサブフィールドのすべてでオフさせる、
請求項7に記載の電気光学装置の駆動方法。
When the gradation level is less than the first level at the first temperature, the electro-optic element is turned off in all of the temperature compensation subfields.
The method for driving an electro-optical device according to claim 7.
前記複数のサブフィールドの期間長は、温度変化に対して一定である、
請求項1乃至8のいずれかに記載の電気光学装置の駆動方法。
The duration of the plurality of subfields is constant with respect to temperature changes.
The method for driving an electro-optical device according to any one of claims 1 to 8.
走査線とデータ線とに対応して設けられ、前記走査線の選択時に、オンまたはオフに対応するデータ信号に応じて駆動される電気光学素子を、指定された階調レベルに応じた明るさとなるように制御する電気光学装置であって、
温度を検出する温度検出部と、
フレーム期間を複数のサブフィールドに分割するとともに、当該複数のサブフィールドのうち、2つ以上を温度補償用とし、他の2つ以上を階調制御用とし、
前記電気光学素子を、前記階調制御用のサブフィールドの各々にて前記階調レベルに応じてオンまたはオフさせ、
前記温度検出部によって検出された温度が第1温度である場合に、前記電気光学素子を、前記温度補償用のサブフィールドの各々にて前記階調レベル毎にオンまたはオフさせる表示制御回路と、
を含み、
前記表示制御回路は、
前記温度検出部によって検出された温度が前記第1温度とは異なる第2温度に変化した場合に、
前記階調レベル毎の階調変化量が、前記温度補償用のサブフィールドの各々に対応付けられたしきい値以上であるか否か判定し、前記しきい値以上である階調レベルに対応したサブフィールドにおけるオンまたはオフを前記第1温度のオンまたはオフから変更する
電気光学装置。
An electro-optical element provided corresponding to a scanning line and a data line and driven according to a data signal corresponding to on or off when the scanning line is selected has a brightness corresponding to a specified gradation level. It is an electro-optical device that controls so that
A temperature detector that detects the temperature and
The frame period is divided into a plurality of subfields, two or more of the plurality of subfields are used for temperature compensation, and the other two or more are used for gradation control.
The electro-optical element is turned on or off according to the gradation level in each of the gradation control subfields.
A display control circuit that turns on or off the electro-optical element for each gradation level in each of the subfields for temperature compensation when the temperature detected by the temperature detection unit is the first temperature.
Including
The display control circuit
When the temperature detected by the temperature detection unit changes to a second temperature different from the first temperature,
It is determined whether or not the gradation change amount for each gradation level is equal to or more than the threshold value associated with each of the temperature compensation subfields, and the gradation level corresponding to the threshold value or more is supported. An electro-optic device that changes on or off in a subfield that has been turned on or off from the on or off of the first temperature.
請求項10の電気光学装置を有する電子機器。 An electronic device having the electro-optical device of claim 10.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113467739A (en) * 2021-07-05 2021-10-01 京东方科技集团股份有限公司 Image processing method and device, electronic equipment and storage medium
CN113467739B (en) * 2021-07-05 2024-02-13 京东方科技集团股份有限公司 Image processing method and device, electronic equipment and storage medium

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