JP2021041426A - 溶接線検出装置及び溶接線検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】突き合わされた溶接対象物の溶接線をより確実に検出する。【解決手段】本発明の一態様の溶接線検出装置１０は、突き合わされた溶接対象物を加熱するように構成された加熱装置１６と、加熱された前記溶接対象物の熱分布を測定するように構成された熱分布測定装置１８と、測定された前記溶接対象物の熱分布に基づいて前記溶接対象物の溶接線を検出するように構成された検出部２０とを備える。加熱装置１６はペルチェ素子を備えるとよい。熱分布測定装置１８はサーモグラフィーを備えるとよい。【選択図】図１

Description

本発明は、突き合わされた溶接対象物の溶接線を検出するための溶接線検出装置及び溶接線検出方法に関する。

概して、自動溶接においては、溶接対象物の溶接線の検出精度により、その溶接対象物に対する溶接の品質が左右される。そのため、溶接線の検出精度を高めることが求められている。例えば、特許文献１は、所定の進行方向に進行しつつ溶接対象物を撮像する画像センサと、その画像センサに追従する溶接ヘッドと、画像センサが撮像した撮像データに基づいて溶接対象物の突き合わせ部分に影として表れる溶接対象となる溶接線を検出し、その溶接線に基づいて溶接ヘッドの溶接位置を制御する制御装置とを備えるシステムを提案する。

特許第６３４３７１１号公報

上記特許文献１に記載のシステムにおける、その溶接線の検出は、溶接対象物の突き合わせ部分の溶接線が影として表れることに着目して行われるものである。したがって、突き合わせ部分に影が認められにくい場合、その検出精度には限界がある。

そこで、本発明は、上記課題に鑑みて創案されたものであり、その目的は、突き合わされた溶接対象物の溶接線をより確実に検出することにある。

上記目的を達成するために、本発明の一態様は、
突き合わされた溶接対象物を加熱するように構成された加熱装置と、
加熱された前記溶接対象物の熱分布を測定するように構成された熱分布測定装置と、
測定された前記溶接対象物の熱分布に基づいて前記溶接対象物の溶接線を検出するように構成された検出部と
を備えた溶接線検出装置
を提供する。

前記検出部は、前記溶接対象物の被加熱領域における相対的低温度部を前記溶接線として検出するとよい。好ましくは、前記加熱装置は、前記溶接対象物を加熱するための加熱部と、該加熱部の作動を制御するように構成された加熱制御部とを備える。前記加熱制御部は、前記溶接線の溶接前、前記溶接対象物を加熱し、前記溶接線の溶接のとき、前記溶接対象物の加熱を停止するように前記加熱部の作動を制御し、前記熱分布測定装置は、前記溶接線の溶接前及び溶接のとき、前記溶接対象物の熱分布を測定するとよい。前記加熱装置はペルチェ素子を備えるとよい。前記熱分布測定装置はサーモグラフィーを備えるとよい。なお、本発明は、このような溶接線検出装置を備えた溶接システムにも存する。

本発明の別の態様は、
突き合わされた溶接対象物を加熱するステップと、
加熱された前記溶接対象物の熱分布を測定するステップと、
測定した前記溶接対象物の熱分布に基づいて前記溶接対象物の溶接線を検出するステップと
を含む溶接線検出方法
を提供する。

前記検出するステップでは、前記溶接対象物の被加熱領域における相対的低温度部を前記溶接線として検出するとよい。好ましくは、前記加熱するステップは、前記溶接線の溶接前に実行され、前記溶接線の溶接のとき非実行にされ、前記測定するステップは、前記溶接線の溶接前及び溶接のとき、前記溶接対象物の熱分布を測定する。前記加熱するステップでは、ペルチェ素子を備えた加熱装置で前記溶接対象物を加熱し、前記測定するステップでは、サーモグラフィーを備えた熱分布測定装置で前記溶接対象物の熱分布を測定するとよい。

本発明の上記態様によれば、上記構成を備えるので、突き合わされた溶接対象物の溶接線をより確実に検出することが可能になる。

本発明の一実施形態に係る溶接線検出装置を備えた溶接システムの概略構成を示すブロック図である。 図１の溶接システムにおける溶接線検出装置の概略構成図であり、またその使用例を表す図である。 図２の溶接線検出装置において取得した熱分布の一例である。 図１の溶接システムにおける溶接線の検出及び溶接を説明するための図である。 図１の溶接システムにおける溶接線の検出及び溶接の流れを示すフローチャートである。

以下、本発明に係る実施形態を添付図に基づいて説明する。同一の部品（又は構成）には同一の符号を付してあり、それらの名称及び機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰返さない。

図１に、本発明の一実施形態に係る溶接線検出装置１０を備えた溶接システム１２の概略構成を示すブロック図である。溶接システム１２は、溶接線検出装置１０と、溶接装置１４とを備える。

溶接線検出装置１０は、突き合わされた溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の溶接線Ｌを検出するための構成を備える。溶接線Ｌとは、図２に示すように、一方のワークつまり溶接対象物Ｗ１の端部と、他方のワークつまり溶接対象物Ｗ２の端部とが突き合わされてつまり当接して形成された線部のことである。なお、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の突き合わせ部分を開先ともいう。

溶接線検出装置１０は、加熱装置１６と、熱分布測定装置１８と、検出部２０とを備える。加熱装置１６は、加熱部２２と、加熱制御部２４とを備える。熱分布測定装置１８は、赤外線サーモグラフィー２６を備える。ただし、熱分布測定装置１８は、サーモグラフィー２６そのものであってもよい。

溶接装置１４は、溶接機３０と、溶接制御部３２とを備える。ここでは、溶接機３０はレーザー溶接機であるが、レーザー溶接以外の溶接機械又は装置であってもよい。

制御部３４は、所謂制御装置であり、演算処理装置（例えばＣＰＵ）や記憶部（例えばＲＯＭやＲＡＭ）等を備えるコンピュータである。記憶部には、種々のプログラムやデータが記憶されている。加熱装置１６の加熱制御部２４と、検出部２０と、溶接装置１４の溶接制御部３２とは、制御部３４の機能部として構成されている。換言すると、制御部３４は、機能モジュールとして、加熱制御部２４と、検出部２０と、溶接制御部３２とを有している。各機能モジュールは、制御部３４の記憶部に記憶されたプログラムを演算処理装置によって実行することで実現される。制御部３４には、加熱装置１６の加熱部２２、熱分布測定装置１８、及び、溶接装置１４の溶接機３０のそれぞれが電気的に接続されている。なお、制御部３４は、複数の独立した制御部から構成されてもよい。例えば、溶接線検出装置１０の制御部と、溶接装置１４の制御部とは独立して構成されていて、電気的に接続されてもよい。また、制御部３４は、機能モジュールとして熱分布測定装置１８の熱分布測定制御部を備えてもよい。この場合、熱分布測定制御部は、熱分布測定装置１８から送信された熱分布を取得する熱分布取得部を含み、その熱分布取得部は検出部２０に取得した熱分布を送信するとよい。

溶接線検出装置１０の概略構成を図２に示す。まず、既に説明したように、図２では、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２が突き合わされている。ここでは、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２は同じ鋼板であり、同厚の板材である。図２では、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の突き合わせ部分に存在する空気層を明瞭にするため、それらの間に隙間があるように溶接対象物Ｗ１、Ｗ２は描かれている。しかし、実際には溶接対象物Ｗ１、Ｗ２は隙間がないように突き合わされ得る。

溶接線検出装置１０の加熱装置１６は、２つの加熱部２２を有する。図２では、２つの加熱部２２が、突き合わされた溶接対象物Ｗ１、Ｗ２に対して、それらの突き合わせ部分の溶接線Ｌの両側に位置づけられて接触している。溶接対象物Ｗ１、Ｗ２には、各加熱部２２の加熱面２２ａが接している。各加熱部２２は、熱源として、ペルチェ素子を有する。加熱制御部２４は加熱部２２の作動を制御するように構成されている。加熱制御部２４の作動信号により、加熱部２２のペルチェ素子は溶接対象物Ｗ１、Ｗ２を加熱することができる。このように、加熱装置１６は、突き合わされた溶接対象物Ｗ１、Ｗ２を加熱するように構成されている。加熱制御部２４は、加熱部２２での加熱の他、加熱部２２の移動、例えば図２で上下方向の移動、左右方向の移動をも含めた加熱部２２の作動を制御する。なお、加熱部２２の上下方向の移動は、例えば溶接対象物への接触や非接触は、図２におけるアーム部１６ａの関節部の作動制御で行われる。

図２に示すように、２つの加熱部２２の間に位置するように、サーモグラフィー２６を備える熱分布測定装置１８は設けられている。サーモグラフィー２６は、非接触式の測定装置であるので、図２の測定状態で、熱分布測定装置１８は溶接対象物Ｗ１、Ｗ２から離れている。熱分布測定装置１８で測定されて取得された溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の熱分布は制御部３４に、特に検出部２０に送られる。このように、熱分布測定装置１８は、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の、特に加熱部２２などにより加熱された溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の熱分布を測定するように構成されている。なお、熱分布測定装置１８は電源スイッチをＯＮにされることで作動状態になり、そのときどきの熱分布を、ここではその可視化画像データを制御部３４の検出部２０に送信する。

制御部３４における検出部２０は、測定された溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の熱分布に基づいて溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の溶接線Ｌを検出するように構成されている。溶接線Ｌの検出について図３に基づいて説明する。図３は、図２の状態で溶接対象物Ｗ１、Ｗ２を加熱部２２で加熱したときに、溶接線検出装置１０の熱分布測定装置１８で、要するにサーモグラフィー２６で測定した溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の熱分布の可視化画像の一例である。なお、この熱分布の画像は、加熱後に加熱部２２を移動させて測定されたものである。加熱部２２が直接接していた箇所２２ａが最も高温であり、その周囲の溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の温度が周囲よりも高くなっていることが理解できる。溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の突き合わせ部分（図３において理解しやすいように円ＩＩＩで囲っている部分）における溶接線Ｌは、熱せられた溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の被加熱領域（例えば図３の全領域）Ｈの中では相対的に低温であり、相対的に低温度の点又は線の列（以下、点部分）として確認できる。これは、比熱の違いによるものである。金属と比較して空気の比熱は十分に大きいため、熱は金属部分である溶接対象物Ｗ１、Ｗ２に素早く伝わるのに対して、周囲の空気部分に伝わりにくい。それ故、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の周囲の温度はその上昇が非常に緩やかであるため、溶接線Ｌの部分の空気層が相対的な低温度部（以下、相対的低温度部）として認められるようになる。制御部３４の検出部２０は、この点部分を所定の画像処理により認識して所定の演算により近似することにより、溶接線Ｌを検出する。このための、演算式等のデータやプログラムが制御部３４に記憶されている。

ここで、制御部３４の検出部２０における溶接線Ｌの検出の演算処理の一例について説明する。本実施形態では、「ａｎｔｉ−ｋ_Ｔ アルゴリズム」と「カイ二乗検定」とを応用してサーモグラフィー２６の測定データを処理する。

まず、空気層つまり空洞の検出処理について説明する。この検出処理において、「ａｎｔｉ−ｋ_Ｔ アルゴリズム」が適用される。サーモグラフィー２６で測定した全てのセル（ここでは、サーモグラフィーで測定できるひとコマをセルと呼ぶ）に対して以下のアルゴリズムを適用する。全てのセルに対して、以下の式（１）で与えられる距離、温度で決定する値ｄ_ｉｊを計算する。式（１）では、セルｉにおける値ｄ_ｉｊが算出される。
ここで、Ｔ_ｉ、Ｔ_ｊは異なる任意のセルｉ、ｊの温度、ΔＲ_ｉｊはセルｉ、ｊ間の距離である。異なる任意のセルは、隣り合うセルを含む。セルの位置は中心点の位置とする。Ｒは周囲の温度（気温）と母材の材質（比熱）で決定する閾値距離とし、実験的に決定するものであり、都度定められる。

そして、式（１）に基づいて算出された値ｄ_ｉｊと以下の式（２）で求める値ｄ_ｉＢを比較する。

値ｄ_ｉｊの方が値ｄ_ｉＢよりも小さい場合は、１つのクラスタとして２つのセルを組み合わせる。そして、次のセルｉに関して値ｄ_ｉｊを算出して値ｄ_ｉＢと比較する。一方、値ｄ_ｉＢの方が値ｄ_ｉｊよりも小さい場合は、セルiに関するクラスタリングを終了し、セルｉを１つの空洞i（クラスタ）と定義する。値ｄ_ｉｊと値ｄ_ｉＢとの比較を全セルに対して繰り返し実行し、全セルをグループ分けする。

ただし、サーモグラフィーのノイズにより偽者の空洞（クラスタ）が定義されてしまう場合がある。よって、サーモグラフィーのノイズの影響を取り除く処理を実行する。ノイズの場合、ノイズセルは非常に低い温度となるが、ノイズセルと隣り合うセルは比較的高い温度となる。よって、クラスタ内で最も温度の低いセルの温度Ｔ_ｓｅｅｄと隣り合うセルここでは隣り合う４つのセルの温度の平均＜Ｔ_{ｃｒｏｓｓ}＞を用いて、Ｆ_{ｃｒｏｓｓ}を以下の式（３）のように定義する。ノイズの場合は、Ｆ_{ｃｒｏｓｓ}は１に近い大きな値を持つ。実験的に求めた閾値Ｆ_ｃｔｈを用いて、この閾値Ｆ_ｃｔｈよりもＦ_{ｃｒｏｓｓ}が大きいとき（Ｆ_{ｃｒｏｓｓ}＞Ｆ_ｃｔｈ）、そのクラスタはノイズによる誤りと考えて取り除かれる。

次に、検出した空洞に基づく溶接線Ｌの検出処理について説明する。この検出処理に、「カイ二乗検定」を適用する。溶接線を直線と仮定して、ｆ（ｘ）＝ａｘ＋ｂのパラメータａ、ｂを決定する。クラスタの平均温度Ｔ_ａｖｅが、クラスタの平均温度分布から十分に小さいものを相対的低温度部として識別する。低温のクラスタを識別する基準（例えばクラスタの平均温度分布）は周囲の温度と母材の材質によって決定するので、上記式（１）のＲ同様に実験的に決定するとよい。

高温クラスタがｍ個見つかったとき、l番目の高温クラスタの温度をＴ_ｈ，ｌとして、その平均値をＴ_{ａｖｅ，ｈｉｇｈ}とする。つまり、以下の式（４）の関係がある。このとき、高温クラスタは例えば鋼板である溶接対象物そのものの部分に対応すると仮定し、低温クラスタを識別する基準として、その平均値Ｔ_{ａｖｅ，ｈｉｇｈ}を用いる。

そして識別された低温クラスタがn個のとき、k番目の低温クラスタの温度をＴ_ｃ,kとする。そのクラスタの位置ｘ_k、ｙ_kに対して、低温クラスタ以外のクラスタの平均温度Ｔ_{ａｖｅ，ｈｉｇｈ}との温度差の二乗を用いたχ^２を式（５）に基づいて計算し、χ^２が最小になる直線ｆ（ｘ_ｋ）のパラメータａ、ｂを決定する。この決定した直線を、溶接線Ｌとして検出する。

このようにして溶接線Ｌを検出できる。しかし、本発明においては、溶接線の検出処理は上記方法に限定されない。例えば、クラスタリングの手法としてｘ−ｍｅａｎｓ法を用いることも可能である。また、後の説明で用いる図４のＡ１方向をいくつかに等分割し、その中で温度の低い部分のみを取り出して温度逆二乗の重み付きで、図４のＡ２方向の空洞の位置を計算する。そして、温度差の二乗を誤差の逆二乗としたχ^２を用いて、溶接（直）線を求めてもよい。この場合、クラスタリングせずとも温度分布から溶接線Ｌを検出することができる。

そして、検出部２０が検出した溶接線Ｌに基づいて溶接機３０の溶接ヘッド３０ａの位置を制御して溶接を行うように、溶接制御部３２は溶接機３０を制御する。溶接ヘッド３０ａは、ここでは、レーザー光を照射するレーザー照射部であり、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の溶接線Ｌに対向するように配置される。溶接ヘッド３０ａは、前進しながら溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の溶接線Ｌを溶接目標として溶接していく。溶接ヘッド３０ａは、溶接線Ｌと溶接位置とのずれに対応するために、制御装置３４の溶接制御部３２の制御に応じて溶接対象物Ｗ１、Ｗ２に対して移動可能に構成されている。

ここで、図４及び図５に基づいて、溶接システム１２における溶接線Ｌの検出及び溶接を更に説明する。既に述べたように溶接対象物Ｗ１、Ｗ２は同じ鋼板であり、かつ、同厚である。したがって、図２及び図４のそれらの突き合わせ状態で、例えば光を当てても溶接線に影ができにくく、その突き合わせ部分の溶接線を目視で見分けたり撮像画像の画像処理で識別したりするのは容易でない。そこで、溶接線検出装置１０は、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の溶接線Ｌを検出するべく、加熱部２２を移動させつつ、その加熱部２２で溶接対象物Ｗ１、Ｗ２を加熱するとともに、熱分布測定装置１８でその熱分布を測定する。このときの一例としての加熱部２２及び熱分布測定装置１８を図４において模式的に破線で示す。

溶接線Ｌの検出が開始されると、加熱部２２による溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の加熱が開始され（ステップＳ５０１）、熱分布測定装置１８によるその熱分布測定が開始され（ステップＳ５０３）、それらは継続して行われる。そして、上記演算処理により溶接線Ｌが検出されるまで（ステップＳ５０５で否定判定）、加熱部２２は、例えば図４の矢印Ａ１、Ａ２に示す向き（走査方向）に所定のルールで移動される（ステップＳ５０７）。なお、図２及び図４に示すように２つの加熱部２２に対して熱分布測定装置１８の位置は定められているので、加熱部２２の移動に伴い熱分布測定装置１８も移動する。

ここで溶接線検出のための加熱部２２及び熱分布測定装置１８の移動の一例について説明する。まず、溶接線Ｌの検出は、加熱部２２が「溶接線を跨ぐ位置」を開始位置として開始されるとよい。この「溶接線を跨ぐ位置」は、大まかな溶接線Ｌの位置は既知であるので、作業者等により都度、定められるとよい。図４において破線で示す加熱部２２及び熱分布測定装置１８は、溶接線検出開始時点でのそれらに相当し得る。そして、加熱部２２が「溶接線を跨ぐ位置」に配置されて溶接線の検出が開始されると、矢印Ａ１方向に走査しながら、温度分布に従って矢印Ａ２方向に位置を調節するように、加熱部２２及び熱分布測定装置１８を移動する。なお、矢印Ａ１方向は、溶接線Ｌに沿った方向であり、矢印Ａ２方向は溶接線に交差する方向である。ここでは、矢印Ａ１方向は、矢印Ａ２方向と直角をなす。

上で説明したようにして溶接線Ｌが検出されると（ステップＳ５０５で肯定判定）、加熱部２２での加熱は停止される（ステップＳ５０９）。これにより、加熱部２２は非加熱状態になり、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２から離れた位置に退避される。そして、溶接ヘッド３０ａの位置が検出した溶接線Ｌに基づいて制御されて溶接機３０での溶接が実行される（ステップＳ５１１）。こうして溶接機３０での溶接が始まると、加熱部２２での加熱は非実行の状態に維持され、溶接による熱を利用した熱分布の測定及び溶接線Ｌの検出が行われる（ステップＳ５１１）。なお、溶接線Ｌの検出が溶接に先立って行われるように、加熱部２２及び熱分布測定装置１８は、図４の溶接方向Ａ３において、溶接機３０の溶接ヘッド３０ａの前方に位置付けられている。つまり、溶接ヘッド３０ａは、加熱部２２及び熱分布測定装置１８に追従する。なお、図４の符号「Ｂ」は溶接ビードを表す。

溶接中の熱分布の測定及び溶接線Ｌの検出は溶接が終了するまで連続的に行われる（ステップＳ５１３で否定判定、ステップＳ５１１）。これにより、溶接システム１２での連続溶接が可能になる。そして、溶接線Ｌの端部等に至り溶接の終了と判定されると、溶接の全ての作業が終了する（ステップＳ５１３で肯定判定）。なお、溶接の終了は、溶接線Ｌの端部の検出又は溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の寸法などに基づいて判定され得る。

なお、ステップＳ５０１は、溶接線検出方法における、突き合わされた溶接対象物を加熱するステップに対応する。ステップＳ５０３及びステップＳ５１１は、溶接線検出方法における、加熱された溶接対象物の熱分布を測定するステップに対応する。ステップＳ５０５及びステップＳ５１１は、溶接線検出方法における、測定した溶接対象物の熱分布に基づいて溶接対象物の溶接線を検出するステップに対応する。

以上述べたように、本発明の一実施形態に係る溶接線検出装置１０は、突き合わされた溶接対象物Ｗ１、Ｗ２を加熱するように構成された加熱装置１６と、その熱分布を測定するように構成された熱分布測定装置１８と、測定された熱分布に基づいて溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の溶接線Ｌを検出するように構成された検出部２０とを備える。したがって、目視や撮像画像処理では溶接線Ｌを検出し難い場合であっても、溶接線Ｌをより確実に検出することが可能になる。よって、溶接線検出装置１０を備えた溶接システム１２では、溶接品質を高めることができる。

また、加熱装置１６は、溶接対象物を加熱するための加熱部２２と、該加熱部の作動を制御するように構成された加熱制御部２４とを備える。そして、加熱制御部２４は、溶接線Ｌの溶接前、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２を加熱し、溶接線Ｌの溶接のとき、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の加熱を停止するように加熱部２２の作動を制御する（ステップＳ５０１、Ｓ５０９）。一方、熱分布測定装置１８は、溶接線Ｌの溶接前及び溶接のとき、溶接対象物Ｗ１、Ｗ２の熱分布を測定する（ステップＳ５０３、Ｓ５１１）。したがって、溶接前の溶接線Ｌの検出時は、加熱部２２による加熱を必要とするが、溶接中は加熱部２２による加熱を必要としないので、溶接線検出装置１０は、エネルギー消費の点でも優れる。

また、溶接線検出装置１０によれば、溶接中に、連続的に溶接線Ｌを検出できる。したがって、溶接線検出装置１０を備えた溶接システム１２では、連続的に精度よく溶接を行うことができる。

なお、加熱装置１６は、加熱部２２を２つ有することに限定されず、１つの加熱部２２又は３つ以上の加熱部２２を備えてもよい。たった１つの加熱部２２を有するときも、溶接線Ｌでの熱伝播が不連続であるため、上記の如く溶接線Ｌを検出することができる。また、加熱装置１６の加熱部２２は、ペルチェ素子を有することに限定されない。電熱線等の電気加熱の構成、ガスバーナー等のバーナー、電磁加熱の構成、摩擦加熱の構成、レーザー加熱の構成、光加熱の構成など種々の加熱の構成を、加熱装置１６は備えることができる。また、熱分布測定装置１８は赤外線サーモグラフィーを備えることが好ましいが、複数の温度検出センサを備えた構成などとすることができる。この場合、溶接対象物の温度分布をそれの熱分布とみなすことができる。

以上、本発明の代表的な実施形態及び変形例について説明したが、本発明はそれらに限定されない。本願の特許請求の範囲によって定義される本発明の精神及び範囲から逸脱しない限り、種々の置換、変更が可能である。

１０ 溶接線検出装置
１２ 溶接システム
１４ 溶接装置
１６ 加熱装置
１８ 熱分布測定装置
２０ 検出部
２２ 加熱部
２４ 加熱制御部
２６ サーモグラフィー
３０ 溶接機
３０ａ 溶接ヘッド
３２ 溶接制御部
３４ 制御部
Ｌ 溶接線
Ｗ１、Ｗ２ 溶接対象物

Claims (8)

1. 突き合わされた溶接対象物を加熱するように構成された加熱装置と、
   加熱された前記溶接対象物の熱分布を測定するように構成された熱分布測定装置と、
   測定された前記溶接対象物の熱分布に基づいて前記溶接対象物の溶接線を検出するように構成された検出部と
   を備えた溶接線検出装置。
2. 前記検出部は、前記溶接対象物の被加熱領域における相対的低温度部を前記溶接線として検出する、
   請求項１に記載の溶接線検出装置。
3. 前記加熱装置は、前記溶接対象物を加熱するための加熱部と、該加熱部の作動を制御するように構成された加熱制御部とを備え、
   前記加熱制御部は、
   前記溶接線の溶接前、前記溶接対象物を加熱し、
   前記溶接線の溶接のとき、前記溶接対象物の加熱を停止する
   ように前記加熱部の作動を制御し、
   前記熱分布測定装置は、前記溶接線の溶接前及び溶接のとき、前記溶接対象物の熱分布を測定する、
   請求項１又は２に記載の溶接線検出装置。
4. 前記加熱装置はペルチェ素子を備え、
   前記熱分布測定装置はサーモグラフィーを備える、
   請求項１から３のいずれか一項に記載の溶接線検出装置。
5. 突き合わされた溶接対象物を加熱するステップと、
   加熱された前記溶接対象物の熱分布を測定するステップと、
   測定した前記溶接対象物の熱分布に基づいて前記溶接対象物の溶接線を検出するステップと
   を含む溶接線検出方法。
6. 前記検出するステップでは、前記溶接対象物の被加熱領域における相対的低温度部を前記溶接線として検出する、
   請求項５に記載の溶接線検出方法。
7. 前記加熱するステップは、前記溶接線の溶接前に実行され、前記溶接線の溶接のとき非実行にされ、
   前記測定するステップは、前記溶接線の溶接前及び溶接のとき、前記溶接対象物の熱分布を測定する、
   請求項５又は６に記載の溶接線検出方法。
8. 前記加熱するステップでは、ペルチェ素子を備えた加熱装置で前記溶接対象物を加熱し、
   前記測定するステップでは、サーモグラフィーを備えた熱分布測定装置で前記溶接対象物の熱分布を測定する、
   請求項５から７のいずれか一項に記載の溶接線検出方法。