JP2021039812A - 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 品質を向上することが可能な磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の制御方法を提供することである。【解決手段】 本実施形態に係る磁気ディスク装置は、第１トラックと、前記第１トラックに隣接する第２トラックと、を有するディスクと、前記ディスクの半径方向において、前記第１トラックと隣接する前記第２トラックに対してデータをライトするヘッドと、前記半径方向において、前記第２トラックのトラックセンタから前記第１トラック側にずれてライトできる回数の第１上限値を有するメモリと、前記第２トラックにライトしたライト回数が前記第１上限値に到達する前に前記第１トラックを書き直すコントローラと、を備える。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の制御方法に関する。

磁気ディスク装置では、データをライトした場合にヘッドからの漏れ磁束等の影響（Adjacent Track Interference : ATI）により、データが消去されるサイドイレーズが発生し得る。サイドイレーズを防止するために、磁気ディスク装置は、所定のトラックの周辺トラックにデータをライトした回数が規定回数に達した場合に、所定のトラックのデータを書き直す機能（リフレッシュ機能）を有している。また、近年、高密度記録を実行する技術を有する磁気ディスク装置が開発されている。そのため、磁気ディスク装置では、所定のトラックにデータをライトしている際に、この所定のトラックの周辺トラック側にずれてライトする可能性が高くなり得る。

米国特許第９４９５９８８号明細書 米国特許出願公開第２０１７／０２２９１４１号明細書 米国特許出願公開第２０１８／０２１０６６８号明細書 特許第５７８７８３９号公報

本発明の実施形態が解決しようとする課題は、品質を向上することが可能な磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の制御方法を提供することである。

本実施形態に係る磁気ディスク装置は、第１トラックと、前記第１トラックに隣接する第２トラックと、を有するディスクと、前記ディスクの半径方向において、前記第１トラックと隣接する前記第２トラックに対してデータをライトするヘッドと、前記半径方向において、前記第２トラックのトラックセンタから前記第１トラック側にずれてライトできる回数の第１上限値を有するメモリと、前記第２トラックにライトしたライト回数が前記第１上限値に到達する前に前記第１トラックを書き直すコントローラと、を備える。

図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図２は、第１実施形態に係るディスクに対するヘッドの配置の一例を示す模式図である。 図３は、所定のトラックでオフトラックライトをした場合にこのトラックの隣接トラックにライトされたデータに生じる影響の一例を示す図である。 図４は、内方向へのオフトラックライトの一例を示す図である。 図５は、外方向へのオフトラックライトの一例を示す図である。 図６は、目標ライト上限回数及び限界オフトラックライト上限回数の一例を示す図である。 図７は、ライト回数に対するエラーレートの変化の一例を示す図である。 図８は、ライト回数に対する隣接トラックにおける対象トラック側へのオフトラック量の変化の一例を示す図である。 図９は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の保証回数の設定方法の一例を示すフローチャートである。 図１０は、第１実施形態に係るリフレッシュ処理の制御方法の一例を示すフローチャートである。 図１１は、限界オフトラック閾値のテーブルの一例を示す図である。 図１２は、第２実施形態に係る磁気ディスク装置の限界オフトラック閾値の設定方法の一例を示すフローチャートである。 図１３は、所定のトラックにおけるライトヘッドのオフトラック量の正規分布の一例を示す図である。 図１４は、第３実施形態に係る保証回数の測定方法の一例を示す図である。 図１５は、第３実施形態に係る磁気ディスク装置の保証回数の設定方法の一例を示すフローチャートである。 図１６は、ＤＯＷの一例を示す図である。 図１７は、上限回数の閾値のテーブルの一例を示す図である。 図１８は、ＤＯＷ値のテーブルの一例を示す図である。 図１９は、補正回数のテーブルの一例を示す図である。 図２０は、第４実施形態に係る磁気ディスク装置の制御方法の一例を示すフローチャートである。

以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。
磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ）と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）３０と、揮発性メモリ７０と、バッファメモリ（バッファ）８０と、不揮発性メモリ９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（以下、単に、ホストと称する）１００と接続される。

ＨＤＡは、磁気ディスク（以下、ディスクと称する）１０と、スピンドルモータ（以下、ＳＰＭと称する）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（以下、ＶＣＭと称する）１４とを有する。ディスク１０は、スピンドルモータ１２に取り付けられ、スピンドルモータ１２の駆動により回転する。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。アクチュエータは、ＶＣＭ１４の駆動により、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０上の所定の位置まで移動制御する。ディスク１０およびヘッド１５は、２つ以上の数が設けられてもよい。

ディスク１０は、そのデータをライト可能な領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域１０ａと、システム管理に必要な情報をライトするシステムエリア１０ｂとが割り当てられている。以下、ディスク１０の円周に沿う方向を円周方向と称し、円周方向に交差する方向を半径方向と称する。ディスク１０の円周方向の所定の位置を円周位置と称し、ディスク１０の半径方向の所定の位置を半径位置と称する。また、半径位置及び円周位置をまとめて単に位置と称する場合もある。ディスク１０（のユーザデータ領域１０ａ）は、半径方向の所定の範囲毎に複数の領域（以下、ゾーンと称する場合もある）に区分されている。ゾーンは、複数のトラック（シリンダ）を含む。また、トラックは、複数のセクタを含む。“トラック”は、ディスク１０の半径方向に区分した複数の領域の内の１つの領域、ディスク１０の円周方向に延長するデータ、トラックにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。“セクタ”は、トラックを円周方向に区分した複数の領域の内の１つの領域、ディスク１０の所定の位置にライトされたデータ、セクタにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。

ヘッド１５は、スライダを本体として、当該スライダに実装されているライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒとを備える。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０上にデータをライトする。リードヘッド１５Ｒは、ディスク１０上のデータトラックに記録されているデータをリードする。以下、“ライトヘッド１５Ｗでデータ及びトラック等をライトする”ことを単に“データをライトする”と称し、“リードヘッド１５Ｒでデータ及びトラック等をリードする”ことを“データをリードする”と称する場合もある。

図２は、本実施形態に係るディスク１０に対するヘッド１５の配置の一例を示す模式図である。図２に示すように、ディスク１０の半径方向においてディスク１０の外周に向かう方向を外方向（外側）と称し、外方向と反対方向を内方向（内側）と称する。また、図２に示すように、円周方向において、ディスク１０の回転する方向を回転方向と称する。なお、図２に示した例では、回転方向は、反時計回りで示しているが、逆向き（時計回り）であってもよい。図２において、ユーザデータ領域１０ａは、内方向に位置する内周領域ＩＲと、外方向に位置する外周領域ＯＲと、内周領域ＩＲと外周領域ＯＲとの間に位置する中周領域ＭＲとに区分されている。図２には、半径位置ＲＰｅを示している。半径位置ＲＰｅは、中周領域ＭＲに含まれている。なお、半径位置ＲＰｅは、内周領域ＩＲに含まれていてもよいし、外周領域ＯＲに含まれていてもよい。図２には、トラックセンタＴＲＣｅを示している。トラックセンタＴＲＣｅは、円周方向の各円周位置において、所定のトラックの半径方向の幅（以下、単にトラック幅と称する場合もある）の中心を通る経路に相当する。トラックセンタＴＲＣｅは、例えば、ディスク１０と同心円状に位置している。例えば、トラックセンタＴＲＣｅは、真円状に位置している。なお、トラックセンタＴＲＣｅは、円状に位置していなくてもよく、半径方向に変動しながら円周方向に延出する波状に位置していてもよい。図２において、半径位置ＲＰｅは、トラックセンタＴＲＣｅに相当する。
図２に示した例では、ヘッド１５は、半径位置ＲＰｅに位置決めされ、トラックセンタＴＲＣｅに沿って所定のトラックにデータをライトする、又はトラックセンタＴＲＣｅに沿って所定のトラックにライトされたデータをリードする。

ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ１２およびＶＣＭ１４の駆動を制御する。
ヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０は、リードアンプ及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードされたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０）に出力する。ライトドライバは、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力される信号に応じたライト電流をヘッド１５に出力する。

揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。
バッファメモリ８０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ８０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ８０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。
不揮発性メモリ９０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ９０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。

システムコントローラ（コントローラ）１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１３０は、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０とを含む。システムコントローラ１３０は、ドライバＩＣ２０、ヘッドアンプＩＣ３０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０、及びホストシステム１００に電気的に接続されている。
Ｒ／Ｗチャネル４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ディスク１０からホスト１００に転送されるリードデータ及びホスト１００から転送されるライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル４０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル４０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ３０、ＨＤＣ５０、及びＭＰＵ６０等に電気的に接続されている。
ＨＤＣ５０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル４０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ５０は、例えば、Ｒ／Ｗチャネル４０、ＭＰＵ６０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に電気的に接続されている。

ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを行なうサーボ制御を実行する。ＭＰＵ６０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ライトデータの保存先を選択する。また、ＭＰＵ６０は、ディスク１０からのデータのリード動作を制御すると共に、リードデータの処理を制御する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、例えば、ドライバＩＣ２０、Ｒ／Ｗチャネル４０、及びＨＤＣ５０等に電気的に接続されている。

ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６１と、カウンタ６２と、リフレッシュ処理部６３と、測定部６４とを備えている。ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト制御部６１、カウンタ６２、リフレッシュ処理部６３、及び測定部６４等の処理をファームウェア上で実行する。なお、ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト制御部６１、カウンタ６２、リフレッシュ処理部６３、及び測定部６４等を回路として備えていてもよい。

リード／ライト制御部６１は、ホスト１００からのコマンド等に従って、データのリード処理及びライト処理を制御する。リード／ライト制御部６１は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５をディスク１０上の所定の位置に位置決めし、データをリード又はライトする。

リード／ライト制御部６１は、磁気ディスク装置１に対する外乱やヘッド１５及びディスク１０の特性等により、所定の領域の半径方向の中心から半径方向に所定の距離でずれてデータをライトし得る。言い換えると、リード／ライト制御部６１は、所定のトラックのトラックセンタから半径方向に所定のずれ量（以下、オフトラック量と称する場合もある）分ずれたヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）でデータをライトし得る。オフトラック量は、所定のトラックにおけるトラックセンタに対するヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）の半径方向のずれ量に相当する。所定のトラックにおいて所定のオフトラック量分ずれたヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）でデータをライトすることを“オフトラックライト”と称する場合もある。外乱やヘッド１５及びディスク１０の特性等により、所定の領域にデータをライトしている際にこの領域の半径方向に隣接する領域（以下、隣接領域と称する場合もある）側にずれてデータをライトした場合、この隣接領域のデータを消去する等の影響が生じる可能性がある。言い換えると、外乱やヘッド１５及びディスク１０の特性等により、所定のトラックにデータをライトしている際にこのトラックの半径方向に隣接するトラック（以下、隣接トラックと称する場合もある）側にずれてオフトラックライトした場合、このトラックの隣接トラックにライトされたデータを消去する等の影響が生じる可能性がある。ここで、“隣接”とは、物体、領域、及び空間等が接して並んでいることはもちろん、所定の間隔を置いて並んでいることも含む。 “隣接領域”は、“所定の領域の外方向に隣接する領域“、”所定の領域の内方向に隣接する領域“、及び”所定の領域の外方向及び内方向に隣接する複数の領域“を含む。また、“隣接トラック”は、“所定のトラックの外方向に隣接するトラック “、”所定のトラックの内方向に隣接するトラック “、及び”所定のトラックの外方向及び内方向に隣接する複数のトラック “を含む。例えば、リード／ライト制御部６１は、所定のトラックにおいて、オフトラック量分ずらした半径位置にヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）を位置決めしてデータをオフトラックライトすることもできる。

図３は、所定のトラックでオフトラックライトをした場合にこのトラックの隣接トラックにライトされたデータに生じる影響の一例を示す図である。図３において、トラックＴＲｋ−１、トラックＴＲｋ、及びトラックＴＲｋ＋１は、半径方向の内方向から外方向に向かって、これら記載の順に並んでいる。言い換えると、トラックＴＲｋは、トラックＴＲｋ−１の外方向に隣接し、トラックＴＲｋ＋１は、トラックＴＲｋの外方向に隣接している。図３において、トラックＴＲｋ−１、トラックＴＲｋ、及びトラックＴＲｋ＋１は、説明の便宜上、直線の帯状に延出しているが、実際には、円周方向に沿って湾曲している。また、トラックＴＲｋ−１、トラックＴＲｋ、及びトラックＴＲｋ＋１は、半径方向に変動しながら円周方向に延出する波状であってもよい。図３には、トラックＴＲｋ−１にライトされたデータＤＴｋ−１と、トラックＴＲｋにライトされたデータＤＴｋと、トラックＴＲｋ＋１にライトされたデータＤＴｋ＋１とを示している。データＤＴｋ−１は、トラックＴＲｋ−１の円周方向の所定の範囲にライトされたデータに相当する。データＤｋは、トラックＴＲｋの円周方向の所定の範囲にライトされたデータに相当する。データＤｋ＋１は、トラックＴＲｋ＋１の円周方向の所定の範囲にライトされたデータに相当する。また、図３には、円周位置ＣＰｋを示している。

図３に示した例では、始めに、リード／ライト制御部６１は、トラックＴＲｋにデータＤＴｋをライトする。次に、リード／ライト制御部６１は、トラックＴＲｋ−１にデータＤＴｋ−１をライトする、又はトラックＴＲｋ＋１にデータをライトする。リード／ライト制御部６１は、例えば、トラックＴＲｋ−１にデータＤＴｋ−１をライトしている際に、円周位置ＣＰｋにおいて、半径方向の外方向に所定のオフトラック量でオフトラックライトする。リード／ライト制御部６１は、例えば、トラックＴＲｋ＋１にデータＤＴｋ＋１をライトしている際に、円周位置ＣＰｋにおいて、半径方向の内方向に所定のオフトラック量でオフトラックライトする。円周位置ＣＰｋにおけるトラックＴＲｋのデータＤＴｋは、円周位置ＣＰｋにおいてトラックＴＲｋ−１のデータＤＴｋ−１をオフセットライトした際のヘッド１５の漏れ磁束等の影響（Adjacent Track Interference : ATI）、及び円周位置ＣＰｋにおいてトラックＴＲｋ＋１のデータＤＴｋ＋１をオフセットライトした際のＡＴＩ等の影響で劣化し得る。

カウンタ６２は、ディスク１０の所定の領域（以下、対象領域と称する場合もある）の隣接領域にデータをライトした回数（以下、カウント回数又はライト回数と称する）をカウントする。言い換えると、カウンタ６２は、例えば、所定のトラック（以下、対象トラックと称する場合もある）の隣接トラックにデータをライトしたライト回数をカウントする。カウンタ６２は、隣接トラックにデータを１回ライトする毎に所定の値（以下、カウント値と称する場合もある）をライト回数に加算する。例えば、カウント値は、１である。カウンタ６２は、ディスク１０の各トラックに対応するライト回数を所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、又は不揮発性メモリ９０等にテーブルとして記録していてもよい。なお、カウンタ６２は、隣接トラックにデータをライトされた場合にライト回数をカウントするとしたが、隣接トラックよりも半径方向に離れた所定のトラックにデータがライトされた場合にもライト回数をカウントしてもよい。

リフレッシュ処理部６３は、ディスク１０の所定の領域にライトされたデータを一旦リードして、リードしたデータをこのデータをリードした記録領域に書き直す処理（以下、リフレッシュ処理と称する場合もある）を実行する。

リフレッシュ処理部６３は、例えば、オフトラック量やライト回数に基づいてリフレッシュ処理を実行する。リフレッシュ処理部６３は、所定のトラックにデータをオフトラックライトした際のオフトラック量がこのトラックの隣接トラックにライトされたデータに影響を生じさせない上限値（以下、オフトラック閾値と称する）を超えていると判定した場合、この隣接トラックにリフレッシュ処理を実行する。リフレッシュ処理部６３は、所定のトラックにデータをオフトラックライトした際のオフトラック量がこの所定のトラックの隣接トラックにライトされたデータを消去しない上限値（以下、限界オフトラック閾値と称する）を超えていると判定した場合、この所定のトラックとこの所定のトラックの隣接トラックとにリフレッシュ処理を実行する。例えば、リフレッシュ処理部６３は、所定のトラックにおいてこのトラックのトラックセンタから外方向にずれてデータをオフトラックライトした際の外方向へのオフトラック量が外方向の限界オフトラック閾値を超えていると判定した場合、この所定のトラックとこの所定のトラックの外方向の隣接トラックとにリフレッシュ処理を実行する。また、例えば、リフレッシュ処理部６３は、所定のトラックにおいてこのトラックのトラックセンタから内方向にずれてデータをオフトラックライトした際の内方向へのオフトラック量が内方向の限界オフトラック閾値を超えていると判定した場合、この所定のトラックとこの所定のトラックの内方向の隣接トラックとにリフレッシュ処理を実行する。限界オフトラック閾値は、オフトラック閾値よりも大きい。オフトラック閾値及び限界オフトラック閾値は、ゾーン毎、トラック（シリンダ）毎、又は各ヘッド１５と各ゾーン、各トラック（シリンダ）、若しくは円周方向の所定の領域（セクタ）との組み合わせ（以下、単に、組み合わせと称する場合もある）毎に設定されていてもよい。オフトラック閾値及び限界オフトラック閾値は、外方向及び内方向で同じであってもよいし、異なっていてもよい。また、リフレッシュ処理部６３は、対象トラックの隣接トラックにデータをライトしたライト回数がＡＴＩ等によりデータをライトした隣接トラックに対応する対象トラックにライトされたデータを消去しないライト回数の上限値（以下、保証回数と称する場合もある）より小さい所定の値（以下、リフレッシュ閾値と称する場合もある）を超えている判定した場合、この対象トラックにリフレッシュ処理を実行する。言い換えると、リフレッシュ処理部６３は、対象トラックの隣接トラックにデータをライトしたライト回数が保証回数に到達する前に、この対象トラックにリフレッシュ処理を実行する。

図４は、内方向へのオフトラックライトの一例を示す図である。図４には、図３に示したトラックＴＲｎ及びトラックＴＲｎ−１を示している。図４には、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎ及びトラックＴＲｎ−１のトラックセンタＴＲＣｎ−１を示している。図４には、ライトヘッド１５Ｗの中心部ＷＣを示している。“ライトヘッド１５Ｗの中心部ＷＣ”を単に“ライトヘッド１５Ｗ”と称する場合もある。図４には、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎに位置決めしてデータをライトするライトヘッド１５Ｗと、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎから内方向にオフトラック閾値ＩＯＴ１を超えてデータをライトするライトヘッド１５Ｗと、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎから内方向に限界オフトラック閾値ＩＯＴ２を超えてデータをライトするライトヘッド１５Ｗとを示している。

リフレッシュ処理部６３は、例えば、ライトヘッド１５ＷがトラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎから内方向にオフトラック閾値ＩＯＴ１を超えてライトしていると判定した場合、トラックＴＲｎ−１にリフレッシュ処理を実行する。
リフレッシュ処理部６３は、例えば、ライトヘッド１５ＷがトラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎから内方向に限界オフトラック閾値ＩＯＴ２を超えてライトしていると判定した場合、トラックＴＲｎ及びＴＲｎ−１にリフレッシュ処理を実行する。

図５は、外方向へのオフトラックライトの一例を示す図である。図５には、図３に示したトラックＴＲｎ及びトラックＴＲｎ＋１を示している。図５には、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎ及びトラックＴＲｎ＋１のトラックセンタＴＲＣｎ＋１を示している。図５には、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎに位置決めしてデータをライトするライトヘッド１５Ｗと、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎから外方向にオフトラック閾値ＯＯＴ１を超えてデータをライトするライトヘッド１５Ｗと、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎから外方向にオフトラック閾値ＯＯＴ２を超えてデータをライトするライトヘッド１５Ｗとを示している。

リフレッシュ処理部６３は、例えば、ライトヘッド１５ＷがトラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎから外方向にオフトラック閾値ＯＯＴ１を超えてライトしていると判定した場合、トラックＴＲｎ＋１にリフレッシュ処理を実行する。
リフレッシュ処理部６３は、例えば、ライトヘッド１５ＷがトラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎから外方向にオフトラック閾値ＯＯＴ２を超えてライトしていると判定した場合、トラックＴＲｎ及びＴＲｎ＋１にリフレッシュ処理を実行する。

測定部６４は、対象領域のライト回数と、このライト回数に対応する対象領域のエラーレートとを測定する。言い換えると、測定部６４は、対象トラックのライト回数と、このライト回数に対応する対象トラックのエラーレートとを測定する。測定部６４は、対象領域、例えば、対象トラックにライトされたデータをリードできる、つまり、対象トラックでリードエラーを生じないエラーレートの上限値（以下、エラーレート上限値又はエラーレート閾値と称する場合もある）に対応するライト回数（以下、上限回数と称する場合もある）を測定、算出、又は取得する。言い換えると、測定部６４は、対象トラックの上限回数を測定、算出、又は取得する。例えば、測定部６４は、出荷前の試験等で、対象トラックのライト回数と、このライト回数に対応する対象トラックのエラーレートを測定し、対象トラックの上限回数を測定、算出、又は取得する。なお、上限回数は、保証回数に相当する。

例えば、測定部６４は、隣接トラックのトラックセンタにヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）を位置決めしてライトしたライト回数（以下、目標ライト回数と称する場合もある）と、この目標ライト回数に対応する対象トラックのエラーレートとを測定する。測定部６４は、隣接トラックのトラックセンタにライトヘッド１５Ｗを位置決めしてデータをライトした場合の対象トラックの上限値に対応する目標ライト回数（以下、上限回数又は目標ライト上限回数と称する場合もある）を測定、算出、又は取得する。

例えば、測定部６４は、隣接トラックにおいて対象トラック側にオフトラック量分ずらした半径位置にヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）を位置決めしてライト（オフトラックライト）したライト回数（以下、オフトラックライト回数と称する場合もある）と、このオフトラックライト回数に対応する対象トラックのエラーレートとを測定する。測定部６４は、隣接トラックにおいて対象トラック側にオフトラック量分ずらした半径位置にライトヘッド１５Ｗを位置決めしてデータをライト（オフトラックライト）した場合の対象トラックのエラーレート上限値に対応するオフトラックライト回数（以下、上限回数又はオフトラック上限回数と称する場合もある）を測定、算出、又は取得する。

例えば、測定部６４は、隣接トラックにおいて対象トラック側に限界オフトラック閾値ずれた半径位置にヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）を位置決めしてライト（オフトラックライト）したライト回数（以下、限界オフトラックライト回数と称する場合もある）と、この限界オフトラックライト回数に対応する対象トラックのエラーレートとを測定する。測定部６４は、隣接トラックにおいてこの隣接トラックのトラックセンタから対象トラック側に限界オフトラック閾値分ずらした半径位置にライトヘッド１５Ｗを位置決めしてデータをライト（オフトラックライト）した場合の対象トラックのエラーレート上限値に対応する限界オフトラックライト回数（以下、上限回数又は限界オフトラックライト回数と称する場合もある）を測定、算出、又は取得する。限界オフトラックライト上限回数は、目標ライト上限回数よりも小さい。

例えば、測定部６４は、試験等により測定したゾーン毎、トラック（シリンダ）毎、又は組み合わせ毎のエラーレート上限値を有していてもよい。また、例えば、測定部６４は、隣接トラックに所定のライト回数（以下、前のライト回数と称する場合もある）のライト処理を実行した対象トラックがリードでき、且つ隣接トラックにこのライト回数にカウント値を加算したライト回数（以下、次のライト回数と称する場合もある）のライト処理を実行した対象トラックがリードできない場合、隣接トラックに前のライト回数のライト処理を実行した対象トラックのエラーレートを測定し、測定したエラーレートをこの対象トラックのエラーレート上限値に設定してもよい。

例えば、測定部６４は、エラーレート上限値とライト回数に対するエラーレートの変化示す近似式（以下、単に、近似式と称する場合もある）とに基づいて、エラーレート上限値に対応する保証回数を算出する。例えば、測定部６４は、複数のライト回数にそれぞれ対応する複数のエラーレートを測定し、測定した複数のライト回数とこれらライト回数にそれぞれ対応する複数のエラーレートとに基づいて、近似式を導出し、導出した近似式とエラーレート上限値とに基づいて、対象トラックの上限回数を算出する。一例では、測定部６４は、隣接トラックにおいて対象トラック側の一定のオフトラック量分ずらした半径位置にヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）を位置決めしてデータをライトしてこの隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定する処理を設定した試行回数（以下、設定回数と称する場合もある）繰り返し、測定した複数のライト回数とこれらライト回数にそれぞれ対応する複数のエラーレートに基づいて近似式を導出する。測定部６４は、試験等でゾーン毎、トラック（シリンダ）毎、又は組み合わせ毎に近似式を導出し、導出した近似式を所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、又は不揮発性メモリ９０等にテーブルとして記録してもよい。

また、例えば、測定部６４は、所定のライト回数のライト処理を実行した隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定し、このライト回数にカウント値を加算したライト回数のライト処理を実行した隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定し、このように隣接トラックにデータをライトしてこの隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定する処理を対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値に到達するまで繰り返し、対象トラックの上限回数を測定してもよい。一例では、測定部６４は、隣接トラックにおいて対象トラック側に一定のオフトラック量分ずらした半径位置にヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）を位置決めしてデータをライトしてこの隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定する処理を対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値に到達するまで繰り返し、対象トラックの上限回数を測定してもよい。なお、測定部６４は、隣接トラックにデータをライトし、ライト回数が幾つかの特定のライト回数（以下、測定回数と称する場合もある）に到達した際にのみエラーレートを測定する処理を繰り返してもよい。

測定部６４は、エラーレート上限値と上限回数とをゾーン毎、トラック（シリンダ）毎、又は組み合わせ毎に所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、又は不揮発性メモリ９０等にテーブルとして記録してもよい。

測定部６４は、対象領域、例えば、対象トラックの保証回数を設定する。例えば、測定部６４は、測定、算出、又は取得した種々の上限回数（目標ライト上限回数、オフトラックライト上限回数、及び限界オフトラックライト上限回数）の内の限界オフトラックライト上限回数を対象トラックの保証回数として設定する。例えば、測定部６４は、限界オフトラックライト上限回数のみを測定、算出、又は取得し、限界オフトラックライト上限回数を対象トラックの保証回数として設定してもよい。測定部６４は、例えば、ゾーン毎、トラック（シリンダ）毎、又は組み合わせ毎に限界オフトラックライト上限回数を保証回数として設定し、ゾーン毎、トラック（シリンダ）毎、又は組み合わせ毎に設定した保証回数を所定の記録領域、例えば、システムエリア１０ｂ、又は不揮発性メモリ９０等にテーブルとして記録してもよい。

図６は、目標ライト上限回数Ａｔｈ及び限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈの一例を示す図である。
図６に示した例では、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈは、目標ライト上限回数ＡｔｈよりもオフトラックライトマージンＸａ分小さい。

図７は、ライト回数に対するエラーレートの変化の一例を示す図である。図７には、隣接トラックにおいて対象トラック側に異なるオフトラック量分ずらしてオフセットライトしたライト回数に対するエラーレートの変化（以下、単に、エラーレートの変化と称する場合もある）ＷＯＬ１、ＷＯＬ２、ＷＯＬ３、ＷＯＬ４、及びＷＯＬ５を示している。エラーレートの変化ＷＯＬ１は、隣接トラックのトラックセンタにライトヘッド１５Ｗを位置決めしてライトしたライト回数に対するエラーレートの変化に相当する。複数 おエラーレートの変化ＷＯＬ２乃至ＷＯＬ５は、それぞれ、隣接トラックにおいて異なる限界オフトラック閾値分ずらした複数の半径位置にライトヘッド１５Ｗをそれぞれ位置決めしてライトした複数のライト回数に対するエラーレートの変化に相当する。エラーレートの変化ＷＯＬ３に対応する限界オフトラック閾値（例えば、２７％）は、エラーレートの変化ＷＯＬ２に対応する限界オフトラック閾値（例えば、２５％）よりも大きい。エラーレートの変化ＷＯＬ４に対応する限界オフトラック閾値（例えば、２８％）は、エラーレートの変化ＷＯＬ３に対応する限界オフトラック閾値（例えば、２７％）よりも大きい。エラーレートの変化ＷＯＬ５に対応する限界オフトラック閾値（例えば、３０％）は、エラーレートの変化ＷＯＬ４に対応する限界オフトラック閾値（例えば、２８％）よりも大きい。図７において縦軸は、エラーレートを示している。図７の縦軸において、大の矢印の先端の方向に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端の方向に進むに従って小さくなる。図７の縦軸には、エラーレート上限値ＥＬＶを示している。図７において、横軸は、ライト回数を対数（ｌｏｇ１０（ライト回数））で示している。図７の横軸において、ｌｏｇ１０（ライト回数）は、大の矢印の先端の方向に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端の方向に進むに従って小さくなる。図７の横軸には、目標ライト上限回数Ａｔｈ、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ１、Ａｗｔｈ２、Ａｗｔｈ３、及びＡｗｔｈ４を示している。限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ１は、目標ライト上限回数Ａｔｈよりも小さく、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ２は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ１よりも小さく、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ３は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ２よりも小さく、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ４は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ３よりも小さい。図７において、エラーレート上限値ＥＬＶに対応するエラーレートの変化ＷＯＬ１のライト回数は、目標ライト上限回数Ａｔｈであり、エラーレート上限値ＥＬＶに対応するエラーレートの変化ＷＯＬ２のライト回数は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ１であり、エラーレート上限値ＥＬＶに対応するエラーレートの変化ＷＯＬ３のライト回数は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ２であり、エラーレート上限値ＥＬＶに対応するエラーレートの変化ＷＯＬ４のライト回数は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ３であり、エラーレート上限値ＥＬＶに対応するエラーレートの変化ＷＯＬ５のライト回数は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ４である。

図７に示した例では、測定部６４は、エラーレートの変化ＷＯＬ１及びエラーレート上限値ＥＬＶに基づいて、隣接トラックのトラックセンタにライトヘッド１５Ｗを位置決めしてライトした場合の対象トラックの上限値ＥＬＶに対応する目標ライト上限回数Ａｔｈを算出する。測定部６４は、エラーレートの変化ＷＯＬ２及びエラーレート上限値ＥＬＶに基づいて、隣接トラックにおいて対象トラック側にエラーレートの変化ＷＯＬ２に対応する限界オフトラック閾値分ずらした半径位置にライトヘッド１５Ｗを位置決めしてライトした場合の対象トラックのエラーレート上限値ＥＬＶに対応する限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ１を算出する。測定部６４は、エラーレートの変化ＷＯＬ３及びエラーレート上限値ＥＬＶに基づいて、隣接トラックにおいて対象トラック側にエラーレートの変化ＷＯＬ３に対応する限界オフトラック閾値分ずらした半径位置にライトヘッド１５Ｗを位置決めしてライトした場合の対象トラックのエラーレート上限値ＥＬＶに対応する限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ２を算出する。測定部６４は、エラーレートの変化ＷＯＬ４及びエラーレート上限値ＥＬＶに基づいて、隣接トラックにおいて対象トラック側にエラーレートの変化ＷＯＬ４に対応する限界オフトラック閾値分ずらした半径位置にライトヘッド１５Ｗを位置決めしてライトした場合の対象トラックのエラーレート上限値ＥＬＶに対応する限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ３を算出する。測定部６４は、エラーレートの変化ＷＯＬ５及びエラーレート上限値ＥＬＶに基づいて、隣接トラックにおいて対象トラック側にエラーレートの変化ＷＯＬ５に対応する限界オフトラック閾値分ずらした半径位置にライトヘッド１５Ｗを位置決めしてライトした場合の対象トラックのエラーレート上限値ＥＬＶに対応する限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ４を算出する。

図８は、ライト回数に対する隣接トラックにおける対象トラック側へのオフトラック量の変化ＯＷＬの一例を示す図である。図８には、ライト回数に対する隣接トラックにおける対象トラック側へのオフトラック量の変化（以下、単に、対象トラック側へのオフトラック量の変化と称する）ＯＷＬを示している。図８に示す対象トラック側へのオフトラック量の変化ＯＷＬには、目標ライト上限回数Ａｔｈに対応するオフトラック量（＝０）に対応する点Ｐ０と、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ１に対応するオフトラック量（限界オフトラック閾値）ＳＯＶ１に対応する点Ｐ１と、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ２に対応するオフトラック量（限界オフトラック閾値）ＳＯＶ２に対応する点Ｐ２と、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ３に対応するオフトラック量（限界オフトラック閾値）ＳＯＶ３に対応する点Ｐ３と、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ４に対応するオフトラック量（限界オフトラック閾値）ＳＯＶ４に対応する点Ｐ４とを示している。図８において、縦軸は、対象トラック側へのオフトラック量を示している。図８の縦軸において、対象トラック側へのオフトラック量は、大の矢印の先端の方向に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端の方向に進むに従って小さくなる。図８の縦軸には、対象トラック側へのオフトラック量（限界オフトラック閾値）ＳＯＶ１、ＳＯＶ２、ＳＯＶ３、及びＳＯＶ４を示している。オフトラック量ＳＯＶ２は、オフトラック量ＳＯＶ１よりも大きく、オフトラック量ＳＯＶ３は、オフトラック量ＳＯＶ２よりも大きく、オフトラック量ＳＯＶ４は、オフトラック量ＳＯＶ３よりも大きい。図８において、横軸は、ライト回数を示している。図８の横軸において、ライト回数は、大の矢印の先端の方向に進むに従って大きくなり、小の矢印の先端の方向に進むに従って小さくなる。図８の横軸には、ライト回数（目標ライト上限回数）Ａｔｈ、及び上限回数（限界オフトラックライト上限回数）Ａｗｔｈ１、Ａｗｔｈ２、Ａｗｔｈ３、Ａｗｔｈ４を示している。

図８に示した例では、測定部６４は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ１を対象トラックの保証回数として設定する。限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ１を対象トラックの保証回数として設定した場合、この対象トラックのオフトラックライトマージンＸａは、目標ライト上限回数Ａｔｈと限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ１との差分値Ｘａ１に相当する。

図８に示した例では、測定部６４は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ２を対象トラックの保証回数として設定する。限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ２を対象トラックの保証回数として設定した場合、この対象トラックのオフトラックライトマージンＸａは、目標ライト上限回数Ａｔｈと限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ２との差分値Ｘａ２に相当する。差分値Ｘａ２は、差分値Ｘａ１よりも大きい。

図８に示した例では、測定部６４は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ３を対象トラックの保証回数として設定する。限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ３を対象トラックの保証回数として設定した場合、この対象トラックのオフトラックライトマージンＸａは、目標ライト上限回数Ａｔｈと限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ３との差分値Ｘａ３に相当する。差分値Ｘａ３は、差分値Ｘａ２よりも大きい。

図８に示した例では、測定部６４は、限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ４を対象トラックの保証回数として設定する。限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ４を対象トラックの保証回数として設定した場合、この対象トラックのオフトラックライトマージンＸａは、目標ライト上限回数Ａｔｈと限界オフトラックライト上限回数Ａｗｔｈ４との差分値Ｘａ４に相当する。差分値Ｘａ４は、差分値Ｘａ３よりも大きい。

図９は、本実施形態に係る磁気ディスク装置１の保証回数の設定方法の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、対象領域、例えば、対象トラックにデータをライトし（Ｂ９０１）、対象トラックのライト回数（ｉ）＝０にする（Ｂ９０２）。ＭＰＵ６０は、隣接領域、例えば、隣接トラックにおいて対象トラック側にオフトラック量分ずらしてデータをライトし、ライト回数（ｉ）にカウント値、例えば、１を加算する（Ｂ９０３）。ＭＰＵ６０は、対象トラックのエラーレートを測定し（Ｂ９０４）、対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値を超えているかエラーレート上限値以下であるかを判定する（Ｂ９０５）。対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値を超えていると判定した場合（Ｂ９０５のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、Ｂ９０７の処理に進む。対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値以下であると判定した場合（Ｂ９０５のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、ｉ＝Ｎであるか、ｉ＝Ｎでないかを判定する（Ｂ９０６）。ここで、Ｎは、設定回数であり、例えば、正の整数である。ｉ＝Ｎでないと判定した場合（Ｂ９０６のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、Ｂ９０３の処理に進む。ｉ＝Ｎであると判定した場合（Ｂ９０６のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、対象トラックの上限回数を取得する（Ｂ９０７）。例えば、ＭＰＵ６０は、隣接トラックにおいて対象トラック側に一定のオフトラック量分ずらした半径位置にデータをライトしてこの隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定する処理を設定回数Ｎ繰り返し、測定した複数のライト回数とこれらライト回数にそれぞれ対応する複数のエラーレートとに基づいて近似式を導出し、導出した近似式及びエラーレート上限値に基づいて対象トラックの上限回数を取得する。また、例えば、ＭＰＵ６０は、隣接トラックにおいて対象トラック側に一定のオフトラック量分ずらした半径位置にデータをライトしてこの隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定する処理を繰り返し、対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値を超えたライト回数の１つ前のライト回数（エラーレート回数）を取得する。ＭＰＵ６０は、取得した上限回数を対象トラックの保証回数として設定し（Ｂ９０８）、処理を終了する。

図１０は、本実施形態に係るリフレッシュ処理の制御方法の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、対象領域、例えば、対象トラックの隣接領域、例えば、隣接トラックにデータをライトしている際のオフトラック量がオフトラック閾値を超えたかオフトラック閾値以下であるかを判定する（Ｂ１００１）。隣接トラックにデータをライトしている際のオフトラック量がオフトラック閾値以下であると判定した場合（Ｂ１００１のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、隣接トラックにライトしたライト回数がリフレッシュ閾値を超えたかリフレッシュ閾値以下であるかを判定する（Ｂ１００２）。ライト回数がリフレッシュ閾値以下であると判定した場合（Ｂ１００２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。ライト回数がリフレッシュ閾値を超えたと判定した場合（Ｂ１００２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、対象トラックにリフレッシュ処理を実行し（Ｂ１００３）、処理を終了する。

隣接トラックにデータをライトしている際のオフトラック量がオフトラック閾値を超えたと判定した場合（Ｂ１００１のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、隣接トラックにデータをライトしている際のオフトラック量が限界オフトラック閾値を超えたか限界オフトラック閾値以下であるかを判定する（Ｂ１００４）。隣接トラックにデータをライトしている際のオフトラック量が限界オフトラック閾値以下であると判定した場合（Ｂ１００４のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、Ｂ１００３の処理に進む。隣接トラックにデータをライトしている際のオフトラック量が限界オフトラック閾値を超えたと判定した場合（Ｂ１００５）、ＭＰＵ６０は、隣接トラック及びこの隣接トラックに対応する対象トラックにリフレッシュ処理を実行し（Ｂ１００５）、処理を終了する。例えば、対象トラックの外方向の隣接トラックにデータをライトしている際に内方向（対象トラック側）へのオフトラック量が隣接トラックの内方向の限界オフトラック閾値を超えたと判定した場合、ＭＰＵ６０は、この対象トラックの外方向の隣接トラックとこの対象トラックとにリフレッシュ処理を実行する。また、例えば、対象トラックの内方向の隣接トラックにデータをライトしている際に外方向（対象トラック側）へのオフトラック量が隣接トラックの外方向の限界オフトラック閾値を超えたと判定した場合、ＭＰＵ６０は、この対象トラックの内方向の隣接トラックとこの対象トラックとにリフレッシュ処理を実行する。

本実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、対象領域、例えば、対象トラックにデータをライトし、対象領域の隣接領域、例えば、対象トラックの隣接トラックにおいて、所定のオフトラック量で所定のライト回数のライト処理を実行する。磁気ディスク装置１は、所定のライト回数のライト処理を実行した対象トラックのエラーレートを測定する。例えば、磁気ディスク装置１は、隣接トラックにおいて対象トラック側に一定のオフトラック量分ずらした半径位置にデータをライトしてこの隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定する処理を所定の設定回数繰り返し、測定した複数のライト回数とこれらライト回数にそれぞれ対応する複数のエラーレートとに基づいて近似式を導出し、導出した近似式及びエラーレート上限値に基づいて対象トラックの上限回数（オフトラックライト上限回数、及び限界オフトラックライト上限回数）を取得する。また、例えば、磁気ディスク装置１は、隣接トラックにおいて、対象トラック側に一定のオフトラック量分ずらした半径位置にデータをライトしてこの隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定する処理を対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値に到達するまで繰り返し、対象トラックの上限回数（オフトラックライト上限回数、及び限界オフトラックライト上限回数）を取得する。磁気ディスク装置１は、取得した上限回数を対象トラックの保証回数として設定する。そのため、磁気ディスク装置１は、保証回数を効率的に設定できる。また、磁気ディスク装置１は、データの信頼性を向上することができる。従って、磁気ディスク装置１は、品質を向上することができる。

次に、他の実施形態に係る磁気ディスク装置について説明する。他の実施形態において、前述の実施形態と同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
（第２実施形態）
第２実施形態に係る磁気ディスク装置１は、限界オフトラック閾値の設定方法が第１実施形態の磁気ディスク装置１と異なる。
測定部６４は、対象トラックのライト回数と、このライト回数に対応する対象トラックのエラーレートと、隣接トラックにおけるオフトラック量とを測定する。測定部６４は、対象トラックにデータをライトし、保証回数のライト処理を対象トラックの隣接トラック、例えば、外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に実行する。測定部６４は、保証回数のライト処理を実行した隣接トラック、例えば、外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）おいて、複数の限界オフトラック閾値の内の最大の限界オフトラック閾値（以下、最大閾値と称する場合もある）に相当する距離から所定の距離（以下、調整量と称する場合もある）を引いたオフトラック量分を対象トラック側にずらした半径位置にヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）を位置決めしてデータをライトする。測定部６４は、最大閾値に相当する距離から調整量を引いたオフトラック量分を対象トラック側にずらしてデータをライトした外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に対応する対象トラックをリードする。この対象トラックでリードエラーが生じた場合、測定部６４は、この対象トラックにデータを書き直し、保証回数のライト処理をこの外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に再度実行する。測定部６４は、保証回数のライト処理を再度実行した外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）において、１つ前のオフトラック量から調整量をさらに引いたオフトラック量分を対象トラック側にずらした半径位置にライトヘッド１５Ｗを位置決めしてデータをライトする。測定部６４は、１つ前のオフトラック量から調整量をさらに引いたオフトラック量分を対象トラック側にずらしてデータをライトした外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に対応する対象トラックをリードする。測定部６４は、対象トラックにデータを書き直し、保証回数のライト処理をこの外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に再度実行し、保証回数のライト処理を再度実行した外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）において１つ前のオフトラック量から調整量を引いたオフトラック量分を対象トラック側にずらしてデータをライトし、この外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に対応する対象トラックをリードする処理をこの対象トラックでリードエラーが生じなくなるまで繰り返す。測定部６４は、この対象トラックでリードエラーが生じなくなった際のこの外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）のオフトラック量を測定する。測定部６４は、測定したオフトラック量をこの外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）の限界オフトラック閾値として設定する。測定部６４は、前述した処理により、ゾーン毎、トラック毎、又は組み合わせ毎に限界オフトラック閾値を設定し、ゾーン毎、トラック毎、又は組み合わせ毎に設定した限界オフトラック閾値を所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、又は不揮発性メモリ９０にテーブルとして記録する。

図１１は、限界オフトラック閾値のテーブルＴＢ１の一例を示す図である。図１１において、ディスク１０は、ゾーンＺｎ０、Ｚｎ１、Ｚｎ２、Ｚｎ３、及びＺｎ４…に区分されている。図１１において、テーブルＴＢ１の横方向にゾーンＺｎ０、Ｚｎ１、Ｚｎ２、Ｚｎ３、及びＺｎ４…を示している。図１１において、ヘッド１５は、Ｈｅａｄ０、Ｈｅａｄ１、Ｈｅａｄ２、Ｈｅａｄ３、及びＨｅａｄ４…を含む。図１１において、テーブルＴＢ１の縦方向に、Ｈｅａｄ０、Ｈｅａｄ１、Ｈｅａｄ２、Ｈｅａｄ３、及びＨｅａｄ４…を示している。図１１のテーブルＴＢ１には、図８に示した限界オフトラック閾値ＳＯＶ１、ＳＯＶ２、ＳＯＶ３、ＳＯＶ４を示している。

図１１に示した例では、測定部６４は、例えば、テーブルＴＢ１を揮発性メモリ７０又はバッファメモリ８０等に展開し、各ヘッド１５及び各ゾーンの組み合わせ毎に限界オフトラックを設定し、組み合わせ毎に設定した限界オフトラック閾値のテーブルＴＢ１を所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、又は不揮発性メモリ９０に記録する。

図１２は、第２実施形態に係る磁気ディスク装置１の限界オフトラック閾値の設定方法の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、試行回数（ｍ）＝０とし（Ｂ１２０１）、対象トラックにデータをライトする（Ｂ１２０２）。ＭＰＵ６０は、対象トラックの隣接トラックに保証回数のライト処理を実行する（Ｂ１２０３）。例えば、ＭＰＵ６０は、対象トラックの外方向の隣接トラック及び内方向の隣接トラックの内の一方に保証回数のライト処理を実行する。ＭＰＵ６０は、隣接トラック、例えば、外方向の隣接トラック及び内方向の隣接トラックの内の一方において、オフトラック量（Ｍｔｈ−ｍ×ｄｘ）でデータをライト（オフトラックライト）する（Ｂ１２０４）。ここで、Ｍｔｈは、最大閾値であり、ｄｘは、調整量である。ＭＰＵ６０は、対象トラックをリードし（Ｂ１２０５）、対象トラックでリードエラーが生じているかリードエラーが生じていないかを判定する（Ｂ１２０６）。対象トラックでリードエラーが生じていると判定した場合（Ｂ１２０６のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、試行回数ｍ＝ｍ＋１とし、Ｂ１２０２の処理へ進む。対象トラックでリードエラーが生じていないと判定した場合（Ｂ１２０６のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、隣接トラックにデータをライトした際のオフトラック量を測定し（Ｂ１２０８）、測定したオフトラック量をこの隣接トラックの限界オフトラック閾値に設定する（Ｂ１２０９）。例えば、対象トラックでリードエラーが生じていないと判定した場合、ＭＰＵ６０は、対象トラックの外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）にデータをライトした際のオフトラック量を測定し、測定したオフトラック量をこの外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）の限界オフトラック閾値に設定する。

第２実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、対象トラックにデータをライトし、対象トラックの隣接トラック、例えば、外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に保証回数のライト処理を実行する。磁気ディスク装置１は、隣接トラック、例えば、外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）において、調整量分を調整したオフトラック量でデータをライトし、外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に対応する対象トラックをリードする。磁気ディスク装置１は、対象トラックにライトし、対象トラックの外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に保証回数のライト処理を実行し、外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）において調整量分を調整したオフトラック量でデータをライトし、この外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）に対応する対象トラックをリードする処理をリードエラーが生じなくなるまで繰り返す。磁気ディスク装置１は、リードエラーが生じなくなった際の外方向隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）のオフトラック量を測定する。磁気ディスク装置１は、測定したオフトラック量をこの外方向の隣接トラック（又は内方向の隣接トラック）の限界オフトラックライト閾値として設定する。そのため、磁気ディスク装置１は、限界オフトラック閾値の精度を向上することができる。したがって、磁気ディスク装置１は、品質を向上することができる。

（第３実施形態）
第３実施形態に係る磁気ディスク装置１は、保証回数の測定方法が前述した第１及び第２実施形態の磁気ディスク装置１と異なる。
例えば、測定部６４は、隣接トラックにおいてオフトラック量を変動させながらヘッド１５（ライトヘッド１５Ｗ）によりデータをライトしたライト回数（以下、変動オフトラックライト回数と称する場合もある）と、この変動オフトラックライト回数に対応する対象トラックのエラーレートとを測定する。測定部６４は、隣接トラックにおいてオフトラック量を変動させながらライトヘッド１５Ｗでライトした場合の対象トラックのエラーレート上限値に対応する変動オフトラックライト回数（以下、上限回数又は変動オフトラックライト上限回数と称する場合もある）を測定、算出、又は取得する。一例では、測定部６４は、隣接トラックにおいて、正規分布に基づいてオフトラック量を変動させながらライトヘッド１５Ｗでデータをライトした場合の対象トラックのエラーレート上限値に対応する変動オフトラックライト上限回数を測定、算出、又は取得する。

図１３は、所定のトラックＴＲｇにおけるライトヘッド１５Ｗのオフトラック量の正規分布ＮＤの一例を示す図である。図１３には、所定のトラックＴＲｇを示している。図１３において、正規分布ＮＤは、トラックＴＲｇにおけるライトヘッド１５Ｗのオフトラック量の確率分布を示している。図１３において、横方向は、オフトラック量を示している。

図１３に示した例では、測定部６４は、所定のトラックＴＲｇにおいて、外方向及び内方向に正規分布ＮＤの１σの範囲でオフトラック量を変動させながらライトヘッド１５Ｗでデータをライトする。標準偏差σは、あらかじめ、装置毎、ヘッド毎、若しくはヘッド／ゾーン毎に測定しておき、その測定値を用いるものとする。

図１４は、第３実施形態に係る保証回数の測定方法の一例を示す図である。図１４において、トラックＴＲｊ−１、トラックＴＲｊ、及びトラックＴＲｊ＋１は、内側から外側に向かって、これらの順に並んでいる。言い換えると、トラックＴＲｊは、トラックＴＲｊ−１の外方向に隣接し、トラックＴＲｊ＋１は、トラックＴＲｊの外方向に隣接している。図１４において、トラックＴＲｊ−１、トラックＴＲｊ、及びトラックＴＲｊ＋１は、説明の便宜上、直線の帯状に延出しているが、実際には、円周方向に沿って湾曲している。また、トラックＴＲｊ−１、トラックＴＲｊ、及びトラックＴＲｊ＋１は、半径方向に変動しながら円周方向に延出する波状であってもよい。図１４において、トラックＴＲｊが対象トラックであり、トラックＴＲｊ−１及びＴＲｊ＋１が隣接トラックである。

図１４に示した例では、測定部６４は、隣接トラックＴＲｊ−１及びＴＲｊ＋１において、図１３に示すように外方向及び内方向に正規分布ＮＤの１σの範囲でオフトラック量を変動させながらライトヘッド１５Ｗでデータをライトした場合の対象トラックＴＲｊのエラーレート上限値に対応する変動オフトラックライト上限回数を測定し、測定した変動オフトラックライト上限回数を対象トラックＴＲｊの保証回数として設定する。

図１５は、第３実施形態に係る磁気ディスク装置１の保証回数の設定方法の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、対象領域、例えば、対象トラックにデータをライトし（Ｂ９０１）、対象トラックのライト回数（ｉ）＝０にする（Ｂ９０２）。ＭＰＵ６０は、隣接トラックにおいてオフトラック量を変動させながらデータをライトし、ライト回数（ｉ）にカウント値、例えば、１を加算する（Ｂ１５０１）。ＭＰＵ６０は、ライト回数が測定回数であるか測定回数でないかを判定する（Ｂ１５０２）。ライト回数が測定回数でないと判定した場合（Ｂ１５０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、Ｂ１５０１の処理に進む。ライト回数が測定回数であると判定した場合（Ｂ１５０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、対象トラックのエラーレートを測定し（Ｂ９０４）、対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値を超えているかエラーレート上限値以下であるかを判定する（Ｂ９０５）。対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値を超えていると判定した場合（Ｂ９０５のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、Ｂ９０７の処理に進む。対象トラックのエラーレートがエラーレート上限値以下であると判定した場合（Ｂ９０５のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、ｉ＝Ｎであるか、ｉ＝Ｎでないかを判定する（Ｂ９０６）。ｉ＝Ｎでないと判定した場合（Ｂ９０６のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、Ｂ１５０１の処理に進む。ｉ＝Ｎであると判定した場合（Ｂ９０６のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、対象トラックの上限回数を取得する（Ｂ９０７）。例えば、ＭＰＵ６０は、隣接トラックにおいてオフトラック量を変動させながらデータをライトしてこの隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定する処理を設定回数Ｎ繰り返し、測定した複数のライト回数とこれらライト回数にそれぞれ対応する複数のエラーレートとに基づいて近似式を導出し、導出した近似式及びエラーレート上限値に基づいて対象トラックの上限回数を取得する。ＭＰＵ６０は、取得した上限回数を対象トラックの保証回数として設定し（Ｂ９０８）、処理を終了する。

第３実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、隣接トラックにおいて、正規分布に基づいてオフトラック量を変動させながらデータをライトしてこの隣接トラックに対応する対象トラックのエラーレートを測定する処理を繰り返し、測定した複数のライト回数とこれらライト回数にそれぞれ対応する複数のエラーレートとに基づいて近似式を導出し、導出した近似式及びエラーレート上限値に基づいて対象トラックの上限回数を取得する。磁気ディスク装置１は、取得した上限回数を対象トラックの保証回数として設定する。そのため、磁気ディスク装置１は、保証回数を効率的に取得することができる。従って、磁気ディスク装置１は、品質を向上することができる。

（第４実施形態）
第４実施形態に係る磁気ディスク装置１は、保証回数の設定方法が前述した第１乃至第３実施形態の磁気ディスク装置１と異なる。
測定部６４は、組み合わせ毎に上限回数を測定する。測定部６４は、ＤＯＷ（Drift of Write）によりライト処理でオフトラックライトが生じた回数（以下、ＤＯＷ値と称する場合もある）を組み合わせ毎に重み（以下、カウント重みと称する場合もある）を付けてカウントする。カウント重みは、例えば、０よりも大きく２以下である。測定部６４は、組み合わせ毎に、ＤＯＷ値に基づいて上限回数を補正し、補正した上限回数（以下、補正回数と称する場合もある）を保証回数として設定する。例えば、測定部６４は、組み合わせ毎に、上限回数からＤＯＷ値を引いて補正回数を算出し、算出した補正回数を保証回数として設定する。

図１６は、ＤＯＷの一例を示す図である。図１６には、トラックＴＲｈ−４、ＴＲｈ−３、ＴＲｈ−２、ＴＲｈ−１、ＴＲｈ、ＴＲｈ＋１、ＴＲｈ＋２、ＴＲｈ＋３、及びＴＲｈ＋４が、半径方向の内方向から外方向に、これらの記載の順に並んでいる。言い換えると、トラックＴＲｈ−３は、トラックＴＲｈ−４の外方向に隣接し、トラックＴＲｈ−２は、トラックＴＲｈ−３の外方向に隣接し、トラックＴＲｈ−１は、トラックＴＲｈ−２の外方向に隣接し、トラックＴＲｈは、トラックＴＲｈ−１の外方向に隣接し、トラックＴＲｈ＋１は、トラックＴＲｈの外方向に隣接し、トラックＴＲｈ＋２は、トラックＴＲｈ＋１の外方向に隣接し、トラックＴＲｈ＋３は、トラックＴＲｈ＋２の外方向に隣接し、トラックＴＲｈ＋４は、トラックＴＲｈ＋３の外方向に隣接している。図１６において、円周方向にＤＯＷをカウントする領域（以下、カウント領域と称する）ＣＲ１、ＣＲ２、及びＣＲ３を示している。カウント領域ＣＲ１、ＣＲ２、及びＣＲ３は、例えば、円周方向において同じ長さの領域である。図１６には、テーブルＴＢ２を示している。テーブルＴＢ２は、トラック、各トラックのカウント重み、カウント領域ＣＲ１のＤＯＷ値、カウント領域ＣＲ３のＤＯＷ値、及びカウント領域ＣＲ３のＤＯＷ値等を含んでいる。図１６のテーブルＴＢ２において、トラックＴＲｈ−４は、カウント重みＷｈ−４であり、トラックＴＲｈ−３は、カウント重みＷｈ−３であり、トラックＴＲｈ−２は、カウント重みＷｈ−２であり、トラックＴＲｈ−１は、カウント重みＷｈ−１であり、トラックＴＲｈは、カウント重みＷｈであり、トラックＴＲｈ＋１は、カウント重みＷｈ＋１であり、トラックＴＲｈ＋２は、カウント重みＷｈ＋２であり、トラックＴＲｈ＋３は、カウント重みＷｈ＋３であり、トラックＴＲｈ＋４は、カウント重みＷｈ＋４である。カウント重みＷｈ−４乃至Ｗｈ＋４は、それぞれ、異なっていてもよいし、幾つかが同じであってもよい。なお、図１６のテーブルＴＢ２において、各トラックのトラックセンタにおいて外方向と内方向でＤＯＷ値を別々にカウントしてもよい。

図１６に示した例では、測定部６４は、トラックＴＲｈ−３をライトしている際にカウント領域ＣＲ３で外方向にオフトラックライトした場合、トラックＴＲｈ−２のカウント領域ＣＲ３においてカウント重みＷｈ−２を付けてＤＯＷ値Ｃ１をカウントにする。測定部６４は、トラックＴＲｈ−３をライトしている際にカウント領域ＣＲ２で内方向にオフトラックライトした場合、トラックＴＲｈ−４のカウント領域ＣＲ２においてカウント重みＷｈ−４を付けてＤＯＷ値Ｃ１をカウントにする。測定部６４は、トラックＴＲｈ＋１をライトしている際にカウント領域ＣＲ２で外方向にオフトラックライトした場合、トラックＴＲｈ＋２のカウント領域ＣＲ２においてカウント重みＷｈ＋２を付けてＤＯＷ値Ｃ３をカウントにする。測定部６４は、トラックＴＲｈ＋３をライトしている際にカウント領域ＣＲ１で内方向にオフトラックライトした場合、トラックＴＲｈ＋２のカウント領域ＣＲ１においてカウント重みＷｈ＋３を付けてＤＯＷ値Ｃ２をカウントにする。

図１７は、上限回数の閾値のテーブルＴＢ３の一例を示す図である。図１７において、ディスク１０は、ゾーンＺｎ０、Ｚｎ１、及びＺｎ２…に区分されている。図１７において、テーブルＴＢ３の横方向にゾーンＺｎ０、Ｚｎ１、及びＺｎ２…を示している。図１７において、ヘッド１５は、Ｈｅａｄ０、Ｈｅａｄ１、及びＨｅａｄ２…を含む。図１７において、テーブルＴＢ３の縦方向に、Ｈｅａｄ０、Ｈｅａｄ１、及びＨｅａｄ２…を示している。

図１７に示した例では、測定部６４は、例えば、テーブルＴＢ３を揮発性メモリ７０又はバッファメモリ８０等に展開し、各ヘッド１５及びゾーンの組み合わせ毎に上限回数を測定し、組み合わせ毎に測定した上限回数のテーブルＴＢ３を所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、又は不揮発性メモリ９０に記録する。

図１８は、ＤＯＷ値のテーブルＴＢ４の一例を示す図である。図１８において、テーブルＴＢ４は、図１７のテーブルＴＢ３と同様に、ディスク１０は、ゾーンＺｎ０、Ｚｎ１、及びＺｎ２…に区分されている。図１８において、テーブルＴＢ４の横方向にゾーンＺｎ０、Ｚｎ１、及びＺｎ２…を示している。図１８において、図１７のテーブルＴＢ３と同様に、ヘッド１５は、Ｈｅａｄ０、Ｈｅａｄ１、及びＨｅａｄ２…を含む。図１８において、テーブルＴＢ４の縦方向に、Ｈｅａｄ０、Ｈｅａｄ１、及びＨｅａｄ２…を示している。

図１８に示した例では、測定部６４は、例えば、テーブルＴＢ４を揮発性メモリ７０又はバッファメモリ８０等に展開し、各ヘッド１５及び各カウント領域の組み合わせ毎にＤＯＷ値を測定し、各ヘッド１５及び各ゾーンの組み合わせ毎の複数のＤＯＷ値の内の最大のＤＯＷ値（以下、最大ＤＯＷ値と称する場合もある）を取得し、各ヘッド１５及び各ゾーンの組み合わせ毎に取得したＤＯＷ値のテーブルＴＢ４を所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、又は不揮発性メモリ９０に記録する。

図１９は、補正回数のテーブルＴＢ５の一例を示す図である。図１９において、テーブルＴＢ５は、図１７のテーブルＴＢ３と図１８のテーブルＴＢ４と同様に、ディスク１０は、ゾーンＺｎ０、Ｚｎ１、及びＺｎ２…に区分されている。図１９において、テーブルＴＢ５の横方向にゾーンＺｎ０、Ｚｎ１、及びＺｎ２…を示している。図１９において、図１７のテーブルＴＢ３と図１８のテーブルＴＢ４と同様に、ヘッド１５は、Ｈｅａｄ０、Ｈｅａｄ１、及びＨｅａｄ２…を含む。図１９において、テーブルＴＢ５の縦方向に、Ｈｅａｄ０、Ｈｅａｄ１、及びＨｅａｄ２…を示している。

図１９に示した例では、測定部６４は、例えば、テーブルＴＢ５を揮発性メモリ７０又はバッファメモリ８０等に展開し、各ヘッド１５及び各ゾーンの組み合わせ毎に図１８に示したテーブルＴＢ４のＤＯＷ値に基づいて図１７に示したテーブルＴＢ３の上限回数を補正する。例えば、測定部６４は、各ヘッド１５及び各ゾーンの組み合わせ毎に図１７に示したテーブルＴＢ３の上限回数から図１８に示したテーブルＴＢ４のＤＯＷ値を引いて補正回数を算出し、各ヘッド１５及び各ゾーンの組み合わせ毎に算出した補正回数のテーブルＴＢ５を所定の記録領域、例えば、ディスク１０のシステムエリア１０ｂ、又は不揮発性メモリ９０に記録する。測定部６４は、例えば、図１９に示すテーブルＴＢ５に基づいて、各ヘッド１５及び各ゾーンの組み合わせ毎に補正回数を保証回数として設定する。

図２０は、第４実施形態に係る磁気ディスク装置１の制御方法の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、組み合わせ毎に、上限回数を測定し（Ｂ２００１）、ＤＯＷ値を測定する（Ｂ２００２）。ＭＰＵ６０は、組み合わせ毎に、ＤＯＷ値に基づいて上限回数を補正回数に補正し、補正した補正回数を保証回数として設定し（Ｂ２００３）、処理を終了する。例えば、ＭＰＵ６０は、組み合わせ毎に、測定した上限回数からＤＯＷ値を引いて補正回数を算出し、算出した補正回数を保証回数として設定する。

第４実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、組み合わせ毎に、上限回数を測定し、ＤＯＷ値を測定する。ＭＰＵ６０は、組み合わせ毎に、測定した上限回数からＤＯＷ値を引いて補正回数を算出し、算出した補正回数を保証回数として設定する。そのため、磁気ディスク装置１は、データの信頼性を向上することができる。従って、磁気ディスク装置１は、品質を向上することができる。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１…磁気ディスク装置、１０…磁気ディスク、１０ａ…ユーザデータ領域、１０ｂ…システムエリア、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、５０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、６０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、７０…揮発性メモリ、８０…バッファメモリ、９０…不揮発性メモリ、１００…ホストシステム（ホスト）、１３０…システムコントローラ。

Claims (9)

1. 第１トラックと、前記第１トラックに隣接する第２トラックと、を有するディスクと、
   前記ディスクの半径方向において、前記第１トラックと隣接する前記第２トラックに対してデータをライトするヘッドと、
   前記半径方向において、前記第２トラックのトラックセンタから前記第１トラック側にずれてライトできる回数の第１上限値を有するメモリと、
   前記第２トラックにライトしたライト回数が前記第１上限値に到達する前に前記第１トラックを書き直すコントローラと、を備える磁気ディスク装置。
2. 前記コントローラは、前記ライト回数が前記第１上限値の内の前記トラックセンタから前記第１トラック側に前記第１トラックを消去しない最大ずれ量でずれてライトできる回数の第２上限値に到達する前に、前記第１トラックを書き直す、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
3. 前記ヘッドは、前記第１トラックまたは前記第２トラックからデータをリードすることが可能であり、
   前記コントローラは、前記トラックセンタから前記第１トラック側に第１距離で離れた第１半径位置にライトした後にリードした前記第１トラックでリードエラーが生じた場合、前記トラックセンタから前記第１トラック側に前記第１距離よりも短い第２距離で離れた第２半径位置にライトし、前記第２半径位置にライトした後にリードした前記第１トラックでリードエラーが生じない場合、前記第２距離を前記第２トラックの最大ずれ量に設定する、請求項２に記載の磁気ディスク装置。
4. 前記ヘッドは、前記第１トラックまたは前記第２トラックからデータをリードすることが可能であり、
   前記コントローラは、前記トラックセンタから前記第１トラック側に第１距離で離れた第１半径位置に前記ライト回数が第１値になるまで繰り返しライトした際に前記第１トラックの第１エラーレートが前記第１トラックでリードエラーを生じないエラーレートの第３上限値に到達した場合に、前記第１値を前記第１上限値に設定する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
5. 前記ヘッドは、前記第１トラックまたは前記第２トラックからデータをリードすることが可能であり、
   前記コントローラは、前記トラックセンタから前記第１トラック側に第１距離で離れた第１半径位置に前記ライト回数が第１値になるまでライトした際の前記第１トラックの第１エラーレートと、前記第１値と、前記トラックセンタから前記第１トラック側に第２距離で離れた第２半径位置に前記ライト回数が第２値になるまでライトした際の前記第１トラックの第２エラーレートと、前記第２値と、前記第１トラックでリードエラーを生じないエラーレートの第３上限値とに基づいて、前記第１上限値を算出する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
6. 前記ヘッドは、前記第１トラックまたは前記第２トラックからデータをリードすることが可能であり、
   前記コントローラは、前記第２トラックにおいて前記半径方向に変動させながら前記ライト回数が第１値になるまでライトした際の前記第１トラックの第１エラーレートと、前記第１値と、前記第２トラックにおいて前記半径方向に変動させながら前記ライト回数が第２値になるまでライトした際の前記第１トラックの第２エラーレートと、前記第２値と、前記第１トラックでリードエラーが生じないエラーレートの第３上限値とに基づいて、前記第１上限値を算出する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
7. 前記コントローラは、前記第２トラックにおいて正規分布に基づいて前記半径方向に変動させながらライトする、請求項６に記載の磁気ディスク装置。
8. 前記コントローラは、前記第２トラックにおいて前記半径方向にずれた回数に重みを付けたオフトラック回数をカウントし、前記オフトラック回数に基づいて前記第１上限値を補正する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
9. ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトし、前記ディスクからデータをリードするヘッドと、前記ディスクの第１トラックの前記ディスクの半径方向に隣接する第２トラックのトラックセンタから前記第１トラック側にずれてライトできる回数の第１上限値を有するメモリと、を備える磁気ディスク装置に適用される磁気ディスク装置の制御方法であって、
   前記第２トラックにライトしたライト回数が前記第１上限値に到達する前に前記第１トラックを書き直す、磁気ディスク装置の制御方法。

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