JP2021009121A - 物理量計測装置 - Google Patents

Abstract

【課題】故障検出をより迅速かつ正確に行うことができる物理量計測装置を提供すること。【解決手段】物理量を計測する物理量計測装置であって、物理量に応じた信号を出力する物理量計測部と、物理量計測部からの信号を用いて物理量の計測結果を算出する計算処理部と、物理量計測部から計算処理部への信号の伝達経路上に設けられ、物理量計測部から出力される信号を計算処理部に伝達する状態と、物理量計測部から計算処理部への信号の伝達経路から物理量計測装置の外部への信号の出力又は伝達経路への信号の入力が可能な状態とを切り換えるスイッチング部とを備える。【選択図】 図１

Description

本発明は、物理量計測装置に関する。

例えば、物理量計測装置としては、エンジンへの吸入空気量を計測するエアフローセンサがあり、この計測結果はエンジンに適正な燃料を供給するために用いられている。また近年では、エアフローセンサに圧力センサ及び湿度センサを搭載し、空気流量だけでなく湿度計測及び圧力計測も行えるようにし、これらの計測結果を用いて燃費向上を図る技術も提案されている。一方で、物理量計測装置に複数のセンサを搭載する場合には故障頻度や故障による影響が大きくなることが考えられるため、故障検出を迅速かつ正確に行うことが求められる。

このような物理量計測装置の故障検出に係る技術として、例えば、特許文献１には、流体の物理量を計測する物理量計測装置であって、前記流体の湿度に応じた湿度信号を出力する少なくとも二つの湿度検出部と、二つの前記湿度検出部から取得した前記湿度信号の差が異常判定閾値を超えた場合に、前記湿度検出部に異常が生じていると判定する異常判定部と、を備える物理量計測装置が開示されている。

特開２０１８−０９１７２６号公報

上記従来技術においては、物理量検出装置として湿度センサの故障検出を行っている。しかしながら、湿度センサの故障を検出した場合に、故障箇所が湿度の検出部であるのか故障を検出する故障検出部であるのかを特定することがでないため、結果として他の方法を用いて故障箇所の切り分けを行う必要が生じ、故障検出の迅速性や正確性について改善の余地が残されている。

本発明は上記に鑑みてなされたものであり、故障検出をより迅速かつ正確に行うことができる物理量計測装置を提供することを目的とする。

本願は上記課題を解決する手段を複数含んでいるが、その一例を挙げるならば、物理量を計測する物理量計測装置であって、前記物理量に応じた信号を出力する物理量計測部と、前記物理量計測部からの信号を用いて前記物理量の計測結果を算出する計算処理部と、前記物理量計測部から前記計算処理部への信号の伝達経路上に設けられ、前記物理量計測部から出力される信号を前記計算処理部に伝達する状態と、前記物理量計測部から前記計算処理部への信号の伝達経路から前記物理量計測装置の外部への信号の出力又は伝達経路への信号の入力が可能な状態とを切り換えるスイッチング部とを備えたものとする。

本発明によれば、故障検出をより迅速かつ正確に行うことができる。

第１の実施の形態に係る物理量計測装置の全体構成を示す機能ブロック図である。 物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。 Ｉ／Ｆにおける制御信号と信号の入出力先との関係を示す図である。 第１の実施の形態の変形例に係る物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。 第２の実施の形態に係る物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。 Ｉ／Ｆを抜き出して駆動回路を詳細に示す図である。 Ｉ／Ｆにおける制御信号と信号の入出力先との関係を示す図である。 第２の実施の形態の変形例に係る物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。 第３の実施の形態に係る物理量計測センサと制御装置とを関連構成とともに抜き出して示す図である。 マルチプレクサにおける制御信号と出力される信号とのとの関係を示す図である。 第３の実施の形態の変形例に係る物理量計測センサと制御装置とを関連構成とともに抜き出して示す図である。 第４の実施の形態に係る物理量計測装置の全体構成を示す機能ブロック図である。 物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。 制御部に入力される信号と状態移行の様子とを示す図である。

以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。

本実施の形態においては、物理量計測装置として空気流量、空気温度、湿度または圧力を計測する流量計測装置を例示して説明するが、計測する物理量はこれに限らず、複数のセンサを有する物理量計測装置であれば本発明を適用可能である。

＜第１の実施の形態＞
本発明の第１の実施の形態を図１〜図３を参照しつつ説明する。

図１は、本実施の形態に係る物理量計測装置の全体構成を示す機能ブロック図である。

図１において、物理量計測装置１は、空気流量検出エレメント２と、空気温度センサ３と、物理量計測センサ４と、制御装置５とで構成されている。

空気流量検出エレメント２は、定温度制御ブリッジ６と、温度差ブリッジ７とで構成されている。定温度制御ブリッジ６は、発熱抵抗体８、ブリッジ回路温度測定用の測温抵抗体９、吸気温度補償用の測温抵抗体１０、及び、固定抵抗体１１、１２により構成されている。

温度差ブリッジ７は、発熱抵抗体８から放出される熱量を検出するものであり、定温度制御ブリッジ６の発熱抵抗体８の周囲に配置される。温度差ブリッジ７は、測温抵抗体１３〜１６で構成されており、空気流量及び方向を検出することができる。

空気温度センサ３は、空気温度を測定するものであり、固定抵抗体１７と、温度により抵抗値が変化する感温抵抗体１８とで構成されている。

物理量計測センサ４は、湿度または圧力を計測するセンサであり、計測した物理量をセンサ信号（デジタル信号またはアナログ信号）として出力する。物理量計測センサ４から出力されるセンサ信号は、例えばＩ２Ｃ（Inter-Integrated Circuit）通信に従って送受信される信号である。なお、通信方式は、Ｉ２Ｃ通信に限定されるものではなく、ＳＰＩ（Serial Peripheral Interface）通信、ＬＩＮ（Local Interconnect Network）通信、ＳＥＮＴ（Single Edge Nibble Transmission）通信などの他の通信方式を用いたり、単純な電位等のアナログ信号を用いたりしてもよい。また、本実施の形態においては、１つの物理量計測センサ４を用いる場合を例示して説明するが、１個に限定されるものではない。

制御装置５は、ヒータ制御回路１９を有している。ヒータ制御回路１９は、ブリッジ回路温度測定用の測温抵抗体９と吸気温度補償用の測温抵抗体１０との温度差が一定となるように発熱抵抗体８へ流す電流を制御する。すなわち、制御装置５は、ヒータ制御回路１９及び演算機能が一体となった回路であり、定温度制御ブリッジ６を制御するヒータ制御回路１９、定温度制御ブリッジ６、温度差ブリッジ７、空気温度センサ３を駆動する電源である定電圧回路２１、回路の温度を検出する回路温度センサ２２、空気流量信号をアナログ・デジタル変換するＡ／Ｄ変換器２３、回路温度センサの出力信号をアナログ・デジタル変換するＡ／Ｄ変換器２４、空気温度センサ３の出力信号をアナログ・デジタル変換するＡ／Ｄ変換器２５、空気流量信号及び吸気温度センサ信号及び回路温度センサ信号、物理量計測センサ４で計測したセンサ信号の補正を実施する論理回路２０、論理回路２０で演算したデジタル出力値を使用する通信規格に変換するＩ／Ｆ２６、抵抗２７とＮＭＯＳトランジスタ２８で電圧変換する出力回路２９、及び、物理量計測センサ４と通信を行うＩ／Ｆ３０で構成されている。

なお、出力回路２９はＮＭＯＳトランジスタの代わりにバイポーラトランジスタで構成しても良い。また、Ｉ／Ｆ２６が使用する通信方式は、例えばＳＥＮＴ通信であるが、ＬＩＮ通信や、周波数変調方式などの他の通信方式、または、単純な電位等のアナログ信号の通信方式を用いても良い。

制御装置５には、さらに、ＰＡＤ３１〜３５が設置されている。ＰＡＤ３１はＶＣＣ電源が供給されるＰＡＤであり、ＰＡＤ３２は物理量計測装置の出力信号Ｓｉｇ＿ｏｕｔ用のＰＡＤであり、ＰＡＤ３３はグランド接地用のＰＡＤであり、ＰＡＤ３４，３５は物理量計測センサ４の信号観測用のＰＡＤである。

図２は、物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。

図２において、Ｉ／Ｆ３０はＣＭＯＳスイッチ１００，１０１、制御部３６、及び、駆動回路３７で構成されている。

物理量計測センサ４から出力されるセンサ信号Ｓｉｇ＿Ａの出力先は、論理回路２０から出力されるＳｉｇ＿ｃｏｎ信号により制御されるＣＭＯＳスイッチ１００とＣＭＯＳスイッチ１０１とにより、Ｉ／Ｆ３０内の物理量計測センサ用信号Ｓｉｇ＿Ａ＿ｉｆと、モニタ用信号Ｓｉｇ＿Ａ＿ｍｏｎの何れかに切り換えられる。

ＣＭＯＳスイッチ１００は、インバータ１０２とＮＭＯＳトランジスタ１０３とＰＭＯＳトランジスタ１０４とで構成されている。ＮＭＯＳトランジスタ１０３とＰＭＯＳトランジスタ１０４の各ドレインとソースは相互に接続されており、ＣＭＯＳスイッチ１００，１０１を制御する制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎ用配線がＮＭＯＳトランジスタ１０３のゲートと接続され、また、インバータ１０２を介してＰＭＯＳトランジスタ１０４のゲートと接続されている。

ＣＭＯＳスイッチ１０１は、インバータ１０５とＰＭＯＳトランジスタ１０６とＮＭＯＳトランジスタ１０７とで構成されている。ＰＭＯＳトランジスタ１０６とＮＭＯＳトランジスタ１０７の各ドレインとソースは相互に接続されており、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎ用配線がＰＭＯＳトランジスタ１０６のゲートと接続され、また、インバータ１０５を介してＮＭＯＳトランジスタ１０７のゲートと接続されている。

これらの構造によりＣＭＯＳスイッチ１００，１０１で構成される入出力先の切り換え機能を制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎにより制御することができ、物理量計測センサ４の入出力信号の入出力先をＰＡＤ３４、３５に切り換えることができる。

図３は、Ｉ／Ｆにおける制御信号と信号の入出力先との関係を示す図である。

図３においては、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎについて、予め定めた閾値以上の電圧レベルの場合をＨｉｇｈ、閾値以下の電圧レベルの場合をＬｏｗと定義し、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎがＨｉｇｈとＬｏｗとで切り換わった場合のＣＭＯＳスイッチ１００，１０１によるセンサ信号の入力元又は出力先を示している。

通常動作時における制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎをＨｉｇｈに固定することで、物理量計測センサ信号Ｓｉｇ＿ＡはＩ／Ｆ３０内の物理量計測センサ用信号Ｓｉｇ＿Ａ＿ｉｆに入力又は出力され、また、物理量計測センサ４信号Ｓｉｇ＿ＢはＩ／Ｆ３０内の物理量計測センサ用信号Ｓｉｇ＿Ｂ＿ｉｆに入力又は出力される。物理量計測装置１は、物理量計測センサ４から得られるデータと、空気流量検出エレメント２及び空気温度センサ３から得られるデータとを出力信号Ｓｉｇ＿ｏｕｔから出力する。

このように構成した本実施の形態において、出力信号Ｓｉｇ＿ｏｕｔが物理量計測センサ４の異常を示した場合には、物理量計測センサ４の故障と、制御装置５の故障とが考えられる。すなわち、物理量計測センサ４は正常であるにも関わらず、制御装置５の故障により結果的に物理量計測センサ４の異常が示される場合である。したがって、出力信号Ｓｉｇ＿ｏｕｔが物理量計測センサ４の異常を示した場合には、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎをＬｏｗに設定し、物理量計測センサ信号Ｓｉｇ＿Ａと信号Ｓｉｇ＿Ｂの入力又は出力先を観測信号Ｓｉｇ＿Ａ＿ｍｏｎと観測信号Ｓｉｇ＿Ｂ＿ｍｏｎとに切り換える事により、ＰＡＤ３４，３５で物理量計測センサ４を制御してこのセンサの状態を確認することができる。すなわち、物理量計測センサ４と制御装置５のどちらで故障が発生したかを解析することができ、故障検出をより迅速かつ正確に行うことができる。

＜第１の実施の形態の変形例＞
本発明の第１の実施の形態の変形例を図４を参照しつつ説明する。

図４は、本変形例に係る物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。図中、第１の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。

図４においては、制御装置５にＰＡＤ３８を設け、ＰＡＤ３８から制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎを制御してＣＭＯＳスイッチ１００，１０１を制御する場合を示している。物理量計測装置１の外部からＣＭＯＳスイッチ１００，１０１を制御することにより、論理回路２０から制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎでＣＭＯＳスイッチ１００，１０１を制御する必要がなくなり、論理回路２０の設定時に誤って異常動作を初期化することを防止可能となる。このため、物理量計測装置１の異常状態を維持したまま、物理量計測センサ４と制御装置５のどちらで故障が発生したかを解析することができる。

＜第２の実施の形態＞
本発明の第２の実施の形態を図５〜図７を参照しつつ説明する。

図５は、本実施の形態に係る物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。図中、第１の実施の形態および変形例と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。

図５においては、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎを論理回路２０から駆動回路３７に出力し、解析時には制御信号Ｓｉｇ＿conを制御して、物理量計測センサ４を制御する信号をＰＡＤ３５からＳｉｇ＿Ｂとして入力を可能とすることにより、物理量計測センサ４を制御することが可能となる。

図６は、Ｉ／Ｆを抜き出して駆動回路を詳細に示す図である。

図６において、駆動回路３７のＳｉｇ＿Ｂを制御する回路は、出力トランジスタ２０１、ＡＮＤゲート２０３、及び、バッファ２０４で構成されている。また、出力トランジスタ２０１は、抵抗２００とＮＭＯＳトランジスタ２０２とで構成されている。

図７は、Ｉ／Ｆにおける制御信号と信号の入出力先との関係を示す図である。

図７に示すように、通常動作時には制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎがＨｉｇｈに固定しているため、物理量計測センサ４信号生成信号Ｓｉｇ＿Ｂ＿ｓｅｌがＩ／Ｆ３０内の物理量計測センサ用信号Ｓｉｇ＿Ｂ＿ｉｆから出力され、さらにその反転信号が物理量計測センサ信号Ｓｉｇ＿Ｂとなる。また、解析時では、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎをＬｏｗとすることで、ＡＮＤゲート２０３により物理量計測センサ４の信号生成信号Ｓｉｇ＿Ｂ＿ｓｅｌがＬｏｗとなり、物理量計測センサ信号Ｓｉｇ＿Ｂが抵抗２００を介して電源にプルアップされるためＨｉｇｈとなる。このため、物理量計測装置１の外部からＰＡＤ３５を介してＬｏｗを入力することで物理量計測センサ４を制御して解析することができる。

その他の構成は第１の実施の形態と同様である。

以上のように構成した本実施の形態においても第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

また、通常動作時の物理量計測センサ４の状態と制御装置５に制御されない物理量計測センサ４の状態を解析することが可能となる。

＜第２の実施の形態の変形例＞
本発明の第２の実施の形態の変形例を図８を参照しつつ説明する。

図８は、本変形例に係る物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。図中、第２の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。

図８においては、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎをＰＡＤ３８から入力する場合を示している。Ｓｉｇ＿ｃｏｎ用配線は、プルアップ抵抗１０８により通常動作時Ｈｉｇｈに固定される。解析時にはＰＡＤ３８からＬｏｗにすることで、第２の実施の形態と同様に、物理量計測センサの状態を解析することができる。すなわち、外部から解析をする設定に切り替えることが可能となり、制御装置５の状態を維持したまま物理量計測センサ４の状態を解析することが可能となる。

＜第３の実施の形態＞
本発明の第３の実施の形態を図９及び図１０を参照しつつ説明する。

図９は、本実施の形態に係る物理量計測センサと制御装置とを関連構成とともに抜き出して示す図である。図中、第１の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。

図９に示すように、制御装置５には、マルチプレクサ３００が備えられている。マルチプレクサ３００の入力Ｌｏｗ側には、物理量計測センサ４からの出力信号Ｓｉｇ＿Ｂが入力され、また、入力Ｈｉｇｈ側にはＩ／Ｆ２６からの出力信号Ｓｉｇ＿ｉｆ＿ｏｕｔが入力されている。また、マルチプレクサ３００には、出力信号Ｓｉｇ＿ｓｅｌとして信号Ｓｉｇ＿Ｂと信号Ｓｉｇ＿ｉｆ＿ｏｕｔの何れを出力するかを切り換える制御信号として、論理回路からの制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎが入力されている。

図１０は、マルチプレクサにおける制御信号と出力される信号とのとの関係を示す図である。

図１０においては、通常動作時において制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎをＨｉｇｈに固定しているため、Ｉ／Ｆ２６の信号Ｓｉｇ＿ｉｆ＿ｏｕｔが選択され、出力生成信号Ｓｉｇ＿ｓｅｌからこれに対応した信号が出力される。そして、出力回路２９により出力信号Ｓｉｇ＿ｏｕｔからＳｉｇ＿ｉｆ＿ｏｕｔの反転信号が出力される。一方、解析時には制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎをＬｏｗに設定することで、出力生成信号Ｓｉｇ＿ｓｅｌから物理量計測センサ信号Ｓｉｇ＿Ｂに対応した信号が出力される。そして、出力回路２９によりＳｉｇ＿Ｂの反転信号が出力信号Ｓｉｇ＿ｏｕｔとして出力される。この信号Ｓｉｇ＿Ｂの反転信号を観測することで物理量計測センサ４の状態を解析することが可能となる。

その他の構成は第１の実施の形態と同様である。

以上のように構成した本実施の形態においても第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

また、検査用ＰＡＤの個数を増やすことなく解析が可能となり、機能の追加によるコスト増加を低減することができる。

＜第３の実施の形態の変形例＞
本発明の第３の実施の形態の変形例を図１１を参照しつつ説明する。

図１１は、本変形例に係る物理量計測センサと制御装置とを関連構成とともに抜き出して示す図である。図中、第３の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。

図１１においては、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎをＰＡＤ３８から入力する場合を示している。Ｓｉｇ＿ｃｏｎ用配線はプルアップ抵抗１０８により通常動作時Ｈｉｇｈに固定される。解析時には物理量計測装置１の外部からＰＡＤ３８をＬｏｗにすることで、物理量計測センサの状態を解析可能となる。このように、外部から制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎを制御することで解析状態に移行が可能となり、制御装置５の状態を維持したまま試験が可能となる。

＜第４の実施の形態＞
本発明の第４の実施の形態を図１２〜図１４を参照しつつ説明する。

図１２は、本実施の形態に係る物理量計測装置の全体構成を示す機能ブロック図であり、図１３は物理量計測センサとＩ／Ｆとを関連構成とともに抜き出して示す図である。また、図１４は、制御部に入力される信号と状態移行の様子とを示す図である。図中、第１の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。

図１２においては、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎをＩ／Ｆ３０内で配線し、信号Ｓｉｇ＿Ａを通常動作時に物理量計測センサ用信号Ｓｉｇ＿Ａ＿ｉｆに入力又は出力されるように構成している。このように構成することにより、ＰＡＤ３５からＩ／Ｆ３０内のＣＯＭＳスイッチを制御することが可能となる。

図１３においては、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎと信号Ｓｉｇ＿Ｂ＿ｍｏｎを制御部３６に配線している。制御装置５は電源起動後に通常動作するものとする。このとき、図１４に示すように、信号Ｓｉｇ＿Ｂ＿ｍｏｎを解析状態移行閾値時間以上ＬＯＷにすることで、制御部３６が解析状態への移行が指示されたと判定して、制御信号Ｓｉｇ＿ｃｏｎをＬＯＷ状態とする。これにより、信号Ｓｉｇ＿Ａ＿ｍｏｎと信号Ｓｉｇ＿Ｂ＿ｍｏｎが信号Ｓｉｇ＿Ａと信号Ｓｉｇ＿Ｂとして接続される。

その他の構成は第１の実施の形態と同様である。

以上のように構成した本実施の形態においても第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

また、ＰＡＤの増加を抑制することができるともに、簡易な方法でスイッチ制御を行うことができる。

＜付記＞
なお、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内の様々な変形例や組み合わせが含まれる。また、本発明は、上記の実施の形態で説明した全ての構成を備えるものに限定されず、その構成の一部を削除したものも含まれる。また、上記の各構成、機能等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等により実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。

１…物理量計測装置、２…空気流量検出エレメント、３…空気温度センサ、４…物理量計測センサ、５…制御装置、６…定温度制御ブリッジ、７…温度差ブリッジ、８…発熱抵抗体、９…測温抵抗体、１０…測温抵抗体、１１…固定抵抗体、１２…固定抵抗体、１３…測温抵抗体、１４…測温抵抗体、１５…測温抵抗体、１６…測温抵抗体、１７…固定抵抗体、１８…感温抵抗体、１９…ヒータ制御回路、２０…論理回路、２１…定電圧回路、２２…回路温度センサ、２３…Ａ／Ｄ変換器、２４…Ａ／Ｄ変換器、２５…Ａ／Ｄ変換器、２６…Ｉ／Ｆ、２７…抵抗、２８…ＮＭＯＳトランジスタ、２９…出力回路、３０…Ｉ／Ｆ、３６…制御部、３７…駆動回路、１００…ＣＭＯＳスイッチ、１０１…ＣＭＯＳスイッチ、１０２…インバータ、１０３…ＮＭＯＳトランジスタ、１０４…ＰＭＯＳトランジスタ、１０５…インバータ、１０６…ＰＭＯＳトランジスタ、１０７…ＮＭＯＳトランジスタ、１０８…プルアップ抵抗、２００…抵抗、２０１…出力トランジスタ、２０２…ＮＭＯＳトランジスタ、２０３…ＡＮＤゲート、２０４…バッファ、３００…マルチプレクサ

Claims (5)

1. 物理量を計測する物理量計測装置であって、
   前記物理量に応じた信号を出力する物理量計測部と、
   前記物理量計測部からの信号を用いて前記物理量の計測結果を算出する計算処理部と、
   前記物理量計測部から前記計算処理部への信号の伝達経路上に設けられ、前記物理量計測部から出力される信号を前記計算処理部に伝達する状態と、前記物理量計測部から前記計算処理部への信号の伝達経路から前記物理量計測装置の外部への信号の出力又は伝達経路への信号の入力が可能な状態とを切り換えるスイッチング部と
   を備えたことを特徴とする物理量計測装置。
2. 請求項１記載の物理量計測装置において、
   前記スイッチング部は、入力に基づいて、前記伝達経路の接続先を検査用ＰＡＤに切り換えることを特徴とする物理量計測装置。
3. 請求項１記載の物理量計測装置において、
   前記スイッチング部は、入力に基づいて、出力信号の出力方式を切り換えることを特徴とする物理量計測装置。
4. 請求項１記載の物理量計測装置において、
   前記物理量計測部は、通信規格で定められた通信方式によりデジタル信号を入出力、又は、電圧値や電流値等のアナログ信号を入出力することを特徴とする物理量計測装置。
5. 請求項４記載の物理量計測装置において、
   前記通信規格は、Ｉ２ＣまたはＳＰＩであることを特徴とする物理量計測装置。

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