JP2021009033A - 遮蔽性能評価方法、遮蔽性能評価装置、遮蔽構造の設計方法及び遮蔽構造設計装置 - Google Patents

遮蔽性能評価方法、遮蔽性能評価装置、遮蔽構造の設計方法及び遮蔽構造設計装置 Download PDF

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Abstract

【課題】線源に対する遮蔽性能を合理的に評価することができる遮蔽性能評価方法等を提供する。【解決手段】線源に対する遮蔽性能を評価する遮蔽性能評価方法であって、線源の解析モデルとなる線源モデルと、線源からの放射線を遮蔽する遮蔽材の解析モデルとなる遮蔽材モデルとを生成するステップＳ１と、線源モデル及び遮蔽材モデルの少なくとも一方に対して設定される入力パラメータの公差範囲を取得するステップＳ２と、入力パラメータの入力値をランダムサンプリングにより公差範囲において取得し、取得した入力パラメータの入力値に基づいて、線源モデル及び遮蔽材モデルを用いた遮蔽解析を実行して解析値を導出するステップＳ３〜Ｓ５と、解析値を導出するステップを複数回繰り返すことで得られる複数の解析値を集積して、解析結果として出力するステップＳ６と、を実行する。【選択図】図３

Description

本発明は、線源に対する遮蔽性能を評価する遮蔽性能評価方法、遮蔽性能評価装置、遮蔽構造の設計方法及び遮蔽構造設計装置に関するものである。
従来、遮蔽性能評価方法として、使用済燃料輸送容器の中性子線源評価法が知られている（例えば、特許文献１参照）。この評価法では、使用済燃料の燃焼度を考慮した実効増倍率を用いて、使用済燃料輸送容器の遮蔽解析を行っている。
特開平０８−５７８７号公報
ところで、線源に対する遮蔽材の遮蔽性能の評価には、様々な入力パラメータが用いられる。この入力パラメータは、線源及び遮蔽材に関する種々の製作公差に起因する不確かさを持っている。このため、遮蔽性能の評価には、入力パラメータの製作公差に起因する不確かさを考慮する必要がある。一般的に、遮蔽性能の評価では、入力パラメータの製作公差を保守側の結果となるように設定する保守的条件に基づいて行っている。つまり、保守的条件に基づいて評価される遮蔽性能は、厳しい結果（過度な遮蔽性能）となってしまう。しかしながら、このような遮蔽性能の評価では、入力パラメータの不確かさを個々に積み上げて評価する積み上げ式の評価方法であることから、不確かさを合理化する余地があった。
そこで、本発明は、線源に対する遮蔽性能を合理的に評価することができる遮蔽性能評価方法、遮蔽性能評価装置、遮蔽構造の設計方法及び遮蔽構造設計装置を提供することを課題とする。
本発明の遮蔽性能評価方法は、線源に対する遮蔽性能を評価する遮蔽性能評価装置によって実行される遮蔽性能評価方法であって、前記線源の解析モデルとなる線源モデルと、前記線源からの放射線を遮蔽する遮蔽材の解析モデルとなる遮蔽材モデルとを生成するステップと、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルの少なくとも一方に対して設定される入力パラメータの公差範囲を取得するステップと、前記入力パラメータの入力値をランダムサンプリングにより前記公差範囲において取得し、取得した前記入力パラメータの入力値に基づいて、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルを用いた遮蔽解析を実行して解析値を導出するステップと、前記解析値を導出するステップを複数回繰り返すことで得られる複数の前記解析値を集積して、解析結果として出力するステップと、を実行する。
本発明の遮蔽性能評価装置は、線源に対する遮蔽性能を評価する遮蔽性能評価装置であって、遮蔽性能を評価するために入力される入力パラメータを取得し、取得した前記入力パラメータに基づいて、遮蔽解析を実行する制御部を備え、前記制御部は、前記線源の解析モデルとなる線源モデルと、前記線源からの放射線を遮蔽する遮蔽材の解析モデルとなる遮蔽材モデルとを生成するステップと、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルの少なくとも一方に対して設定される入力パラメータの公差範囲を取得するステップと、前記入力パラメータの入力値をランダムサンプリングにより前記公差範囲において取得し、取得した前記入力パラメータの入力値に基づいて、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルを用いた遮蔽解析を実行して解析値を導出するステップと、前記解析値を導出するステップを複数回繰り返すことで得られる複数の前記解析値を集積して、解析結果として出力するステップと、を実行する。
本発明の遮蔽構造の設計方法は、上記の遮蔽性能評価方法または上記の遮蔽性能評価装置によって得られた解析結果に基づいて、前記遮蔽材による遮蔽構造を設計する遮蔽構造の設計方法であって、予め設定された前記遮蔽構造の遮蔽性能の基準となる遮蔽基準値と、前記遮蔽構造の遮蔽性能の設計目標となる設計目標値と、前記公差範囲における保守側の値を、前記入力パラメータの入力値として取得し、取得した前記入力パラメータの入力値に基づいて、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルを用いた解析を実行して導出した解析値となる保守的評価値と、前記解析結果に基づいて導出された不確かさに基づく評価値と、があり、前記不確かさに基づく評価値は、前記保守的評価値よりも低い値となっており、前記保守的評価値は、前記設計目標値よりも低い値となっており、前記設計目標値は、前記遮蔽基準値よりも低い値となっており、前記不確かさに基づく評価値に基づいて、前記遮蔽基準値に対する前記設計目標値を設定するステップと、設定した前記設計目標値に基づいて、前記遮蔽構造を設計するステップと、を備え、前記設計目標値を設定するステップでは、前記不確かさに基づく評価値を用いない場合に設定される前記設計目標値と比較して、前記設計目標値を前記遮蔽基準値に近づける。
本発明の遮蔽構造設計装置は、上記の遮蔽性能評価方法または上記の遮蔽性能評価装置によって得られた解析結果に基づいて、前記遮蔽材による遮蔽構造を設計する遮蔽構造設計装置であって、予め設定された前記遮蔽構造の遮蔽性能の基準となる遮蔽基準値と、前記遮蔽構造の遮蔽性能の設計目標となる設計目標値と、前記公差範囲における保守側の値を、前記入力パラメータの入力値として取得し、取得した前記入力パラメータの入力値に基づいて、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルを用いた解析を実行して導出した解析値となる保守的評価値と、前記解析結果に基づいて導出された不確かさに基づく評価値と、があり、前記不確かさに基づく評価値は、前記保守的評価値よりも低い値となっており、前記保守的評価値は、前記設計目標値よりも低い値となっており、前記設計目標値は、前記遮蔽基準値よりも低い値となっており、前記不確かさに基づく評価値に基づいて、前記遮蔽基準値に対する前記設計目標値を設定する制御部を備え、前記制御部は、前記不確かさに基づく評価値を用いない場合に設定される前記設計目標値と比較して、前記設計目標値を前記遮蔽基準値に近づける。
本発明によれば、線源に対する遮蔽性能を合理的（定量的）に評価することができる。
図１は、本実施形態に係る遮蔽性能評価方法において用いられる解析モデルに関する説明図である。 図２は、本実施形態に係る遮蔽性能評価装置を模式的に表した概略構成図である。 図３は、本実施形態に係る遮蔽性能評価方法に関するフローチャートである。 図４は、本実施形態に係る遮蔽性能に関するグラフである。 図５は、本実施形態に係る遮蔽構造設計装置を模式的に表した概略構成図である。 図６は、本実施形態に係る遮蔽構造の設計方法に関するフローチャートである。
以下に、本発明に係る実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施形態によりこの発明が限定されるものではない。また、下記実施形態における構成要素には、当業者が置換可能かつ容易なもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能であり、また、実施形態が複数ある場合には、各実施形態を組み合わせることも可能である。
［本実施形態］
本実施形態の遮蔽性能評価方法及び遮蔽性能評価装置１０は、線源から放射される放射線に対して、遮蔽材による遮蔽性能を評価する方法及び装置となっている。評価対象としては、例えば、キャスク等の放射性物質格納容器であり、放射性物質格納容器の内部に収容される使用済燃料から放射される放射線に対して、放射性物質格納容器による遮蔽性能を評価している。先ず、本実施形態の遮蔽性能評価方法及び遮蔽性能評価装置１０の説明に先立ち、遮蔽性能評価方法において用いられる解析モデルについて説明する。
（解析モデル）
図１は、本実施形態に係る遮蔽性能評価方法において用いられる解析モデルに関する説明図である。図１に示す解析モデルは、例えば、線源と遮蔽材とを含む解析モデルとなっている。遮蔽性能評価方法では、遮蔽材を挟んで線源の反対側における評価点Ｐにおける線量を評価している。
具体的に、解析モデル５は、線源の解析モデルとなる線源モデル６と、遮蔽材の解析モデルとなる遮蔽材モデル７とを含んでいる。この解析モデル５は、後述する遮蔽性能評価装置１０により生成される。そして、遮蔽性能評価方法では、この解析モデル５を用いて評価点Ｐにおける線量を導出する。
（遮蔽性能評価装置）
次に、図２を参照して、遮蔽性能評価装置１０について説明する。図２は、本実施形態に係る遮蔽性能評価装置を模式的に表した概略構成図である。遮蔽性能評価装置１０は、遮蔽解析処理を実行する制御部１１と、各種データを記憶する記憶部１２とを備えている。
制御部１１は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等の集積回路を含んでいる。記憶部１２は、作業領域となるメモリ及び記録媒体としての半導体記憶デバイスまたは磁気記憶デバイス等を含んでいる。
記憶部１２には、遮蔽材による遮蔽解析を行うための解析モデル５と、遮蔽解析を行うため（遮蔽性能を評価するため）に入力される入力パラメータ２１に関するデータと、入力パラメータ２１の公差範囲２２に関するデータとが記憶されている。入力パラメータ２１としては、線源の核データ、線源が使用済核燃料である場合には使用済核燃料の燃焼度、濃縮度、比出力、冷却期間、線源の質量、線源の線源強度、線源から放射される放射線のエネルギースペクトル、遮蔽材の密度、遮蔽材の同位体組成、遮蔽材の厚さ、線源から評価点Ｐまでの位置、遮蔽材に形成される欠損の大きさ、線源の放射線量を線量率に換算するための線量率換算係数等がある。公差範囲は、線源及び遮蔽材の製造公差であり、各入力パラメータに対応して設定されている。
制御部１１は、記憶部１２に記憶された各種データに基づいて、後述する遮蔽性能評価方法を実行することにより、遮蔽材の遮蔽性能を評価している。
（遮蔽性能評価方法）
図３を参照して、遮蔽性能評価方法について説明する。図３は、本実施形態に係る遮蔽性能評価方法に関するフローチャートである。遮蔽性能評価方法は、入力パラメータの入力値をランダムサンプリングにより取得することで、遮蔽材の遮蔽性能を定量的に評価する方法となっている。
図３に示すように、遮蔽性能評価装置１０の制御部１１は、先ず、線源の解析モデル５となる線源モデル６と、遮蔽材の解析モデル５となる遮蔽材モデル７とを生成する（ステップＳ１）。ステップＳ１では、例えば、解析モデル５として、図１に示す解析モデル５が生成される。制御部１１は、図１に示す解析モデル５を生成すると、記憶部１２に保存する。
続いて、制御部１１は、線源モデル６及び遮蔽材モデル７のそれぞれに設定される入力パラメータの公差範囲を取得する（ステップＳ２）。ステップＳ２では、ランダムサンプリングを行うとして選定された入力パラメータの公差範囲を取得する。ここで、選定される入力パラメータは、出力される解析結果である線量率及び遮蔽性能に対する影響が大きいパラメータとなっている。入力パラメータとして、例えば、線源（使用済燃料の場合）の燃焼度である場合、線源の燃焼度は、高い値になるほど厳しいものとなり、保守側の評価となる。また、線源に含まれる放射性物質の濃縮度は、低い値になるほど厳しいものとなり、保守側の評価となる。線源から得られる比出力は、ケースバイケース、すなわち、高い値のときに厳しくなる場合もあれば、低い値のときに厳しくなる場合もあるため、ケースに応じて適宜設定される。線源の冷却期間は、短いほど厳しいものとなり、保守側の評価となる。また、選定される入力パラメータは、線源から放射される放射線の種類によっても異なるものとなっている。例えば、入力パラメータとしての遮蔽材の同位体組成は、線源から放射される放射線がガンマ線である場合、ランダムサンプリングされる入力パラメータの対象から外される。一方で、入力パラメータとしての遮蔽材の同位体組成は、線源から放射される放射線が中性子である場合、ランダムサンプリングされる入力パラメータの対象となる。また、線源から放射される放射線が中性子である場合、入力パラメータとして、中性子の実効増倍率を適用してもよい。
続いて、制御部１１は、ステップＳ２の実行後、入力パラメータの入力値をランダムサンプリングにより公差範囲において取得し、取得した入力パラメータの入力値に基づいて、線源モデル６及び遮蔽材モデル７を用いた遮蔽解析を実行して解析値を導出するステップＳ３〜Ｓ５を実行する。つまり、制御部１１は、ステップＳ２の実行後、ランダムサンプリングにより入力パラメータの入力値を公差範囲内において取得し、取得した入力パラメータの入力値を設定する（ステップＳ３）。この後、制御部１１は、線源モデル６及び遮蔽材モデル７に対して、設定された入力パラメータの入力値を与えて遮蔽解析を実行する（ステップＳ４）。そして、制御部１１は、遮蔽解析の解析値として、例えば、線量率を導出する。
制御部１１は、ステップＳ４の実行後、遮蔽解析が終了したか否かを判定する（ステップＳ５）。ステップＳ５では、例えば、予め設定された所定の回数の遮蔽解析を実行したか否かを判定している。つまり、制御部１１は、ステップＳ３及びステップＳ４を繰り返し実行することで、複数の解析値を取得する。
制御部１１は、ステップＳ５において、遮蔽解析が終了していないと判定する（ステップＳ５：Ｎｏ）と、再びステップＳ３及びステップＳ４を実行する。一方で、制御部１１は、ステップＳ５において、遮蔽解析が終了したと判定する（ステップＳ５：Ｙｅｓ）と、複数の解析値を集積して、解析結果として出力する（ステップＳ６）。
制御部１１は、解析結果として、例えば、図４に示すグラフを出力する。図４は、本実施形態に係る遮蔽性能に関するグラフである。図４は、その縦軸が頻度となっており、その横軸が線量率となっている。図４に示すように、複数の解析値である線量率は、所定の分布となっており、一例として、正規分布となっている。
制御部１１は、ステップＳ６の実行後、解析結果に基づいて、不確かさに基づく評価値を導出する（ステップＳ７）。ステップＳ７では、解析結果に含まれる複数の線量率の平均値μから、所定の標準偏差σ分だけ離れた線量率を、不確かさに基づく評価値として導出している。具体的に、ステップＳ７では、＋３σの分だけ離れた線量率を、不確かさに基づく評価値としている。
このように、遮蔽性能評価装置１０及び遮蔽性能評価方法では、ランダムサンプリングにより入力パラメータの入力値を取得して遮蔽解析することで、入力パラメータの不確かさを考慮した評価値を、定量的に導出することができる。
次に、図５及び図６を参照して、不確かさに基づく評価値を用いた場合の遮蔽構造の設計について説明する。図５は、本実施形態に係る遮蔽構造設計装置を模式的に表した概略構成図である。図６は、本実施形態に係る遮蔽構造の設計方法に関するフローチャートである。
図４に示すように、遮蔽材を用いた遮蔽構造を設計する場合、線量基準値（遮蔽基準値）Ｔ１と、設計目標値Ｔ２と、保守的評価値Ｔ３とが用いられる。線量基準値Ｔ１は、予め規制により定められた基準の値であり、この値を満足する（線量基準値Ｔ１以下となる）ように遮蔽構造が設計される。設計目標値Ｔ２は、線量基準値Ｔ１よりも低い値となっており、遮蔽構造の設計の際に目標とする値となっている。保守的評価値Ｔ３は、入力パラメータの入力値を、公差範囲における保守側の値とし、保守側となる入力パラメータの入力値に基づいて遮蔽解析を実行することで得られた線量率（解析値）である。保守的評価値Ｔ３は、設計目標値Ｔ２よりも低い値となっている。
ここで、従来は、不確かさに基づく定量的な遮蔽性能の評価が行われておらず、遮蔽構造の遮蔽性能について合理的な評価ができなかったことから、従来の設計目標値は、線量基準値に対して大きくかい離する値となっており、保守性を過度に考慮している可能性があった。また、従来の保守的評価値は、従来の設計目標値を超えることのない、設計目標値よりも小さな値となっている。
（遮蔽構造設計装置）
図５に示すように、遮蔽構造設計装置３０は、設計処理を実行する制御部３１と、各種データを記憶する記憶部３２とを備えている。制御部３１は、制御部１１と同様に、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等の集積回路を含んでいる。また、記憶部３２は、記憶部１２と同様に、作業領域となるメモリ及び記録媒体としての半導体記憶デバイスまたは磁気記憶デバイス等を含んでいる。
記憶部３２には、線量基準値Ｔ１と、設計目標値Ｔ２と、保守的評価値Ｔ３と、不確かさに基づく評価値Ｔ４と、が記憶されている。制御部３１は、記憶部３２に記憶された線量基準値Ｔ１及び不確かさに基づく評価値Ｔ４に基づいて、設計目標値Ｔ２及び保守的評価値Ｔ３を設定している。
（遮蔽構造の設計方法）
図６を参照して、遮蔽構造の設計方法について説明する。遮蔽構造の設計方法では、不確かさに基づく評価値Ｔ４に基づいて、線量基準値Ｔ１に対する設計目標値Ｔ２を設定し、設定した設計目標値Ｔ２に基づいて、遮蔽構造を設計している。
図６に示すように、遮蔽構造設計装置３０の制御部３１は、先ず、遮蔽性能評価装置１０において導出された不確かさに基づく評価値Ｔ４を取得する（ステップＳ１１）。続いて、制御部３１は、不確かさに基づく評価値Ｔ４に基づいて、線量基準値Ｔ１に対する設計目標値Ｔ２を設定する（ステップＳ１２）。ステップＳ１２では、不確かさに基づく評価値Ｔ４により、遮蔽構造の遮蔽性能について合理的な評価が可能であることから、線量基準値Ｔ１に対する設計目標値Ｔ２を、従来に比して近づけて設定している。なお、設計目標値Ｔ２に対する保守的評価値Ｔ３は、従来と同様に、設計目標値Ｔ２を超えることのない、設計目標値Ｔ２よりも小さな値となっている。
そして、設計者は、保守的評価値Ｔ３及び設計目標値Ｔ２を満たすように、遮蔽構造設計装置３０を操作して、遮蔽構造の設計を実行する（ステップＳ１３）。ステップＳ１３では、線量基準値Ｔ１に対する設計目標値Ｔ２を、従来に比して近づけることができるため、遮蔽材を用いた遮蔽構造は、例えば、従来に比して遮蔽材の厚みを薄くしたり、従来に比して遮蔽性能の低い遮蔽材を用いたりすることが可能となる。
以上のように、本実施形態によれば、入力パラメータの入力値をランダムサンプリングにより取得し、図４に示すグラフを解析結果として導出することができるため、線源に対する遮蔽材の遮蔽性能を合理的（定量的）に評価することが可能となる。
また、本実施形態によれば、複数の解析値の平均値μから、所定の標準偏差σ分だけ離れた解析値を、不確かさに基づく評価値Ｔ４として導出することができる。このため、不確かさに基づく定量的な評価値を導出することができる。
また、本実施形態によれば、入力パラメータとして、線量率及び遮蔽性能に対する影響が大きい各種入力パラメータを採用することができるため、遮蔽性能を評価するにあたって、より合理的な評価を行うことができる。
また、本実施形態によれば、線源から放射される放射線がガンマ線であるか中性子であるかによって、ランダムサンプリングされる入力パラメータを選定することができるため、遮蔽性能を評価するにあたって、より合理的な評価を行うことができる。
また、本実施形態によれば、不確かさに基づく評価値Ｔ４を用いない場合に比して、設計目標値Ｔ２を線量基準値Ｔ１に近づけることができるため、遮蔽材の厚みを薄くすることで、遮蔽構造の軽量化を図ったり、遮蔽性能の低い遮蔽材を用いることで、遮蔽構造の低コスト化を図ったりすることが可能となる。
なお、本実施形態では、遮蔽性能評価装置１０及び遮蔽構造設計装置３０をそれぞれ独立した装置として記載したが、一体の装置としてもよく特に限定されない。
５ 解析モデル
６ 線源モデル
７ 遮蔽材モデル
１０ 遮蔽性能評価装置
１１ 制御部
１２ 記憶部
２１ 入力パラメータ
２２ 公差範囲
３０ 遮蔽構造設計装置
３１ 制御部
３２ 記憶部
Ｐ 評価点

Claims (7)

  1. 線源に対する遮蔽性能を評価する遮蔽性能評価装置によって実行される遮蔽性能評価方法であって、
    前記線源の解析モデルとなる線源モデルと、前記線源からの放射線を遮蔽する遮蔽材の解析モデルとなる遮蔽材モデルとを生成するステップと、
    前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルの少なくとも一方に対して設定される入力パラメータの公差範囲を取得するステップと、
    前記入力パラメータの入力値をランダムサンプリングにより前記公差範囲において取得し、取得した前記入力パラメータの入力値に基づいて、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルを用いた遮蔽解析を実行して解析値を導出するステップと、
    前記解析値を導出するステップを複数回繰り返すことで得られる複数の前記解析値を集積して、解析結果として出力するステップと、を実行する遮蔽性能評価方法。
  2. 前記解析結果に基づいて、不確かさに基づく評価値を導出するステップを、さらに実行しており、
    前記評価値を導出するステップでは、前記解析結果に含まれる複数の解析値の平均値μから、所定の標準偏差σ分だけ離れた解析値を、不確かさに基づく評価値として導出する請求項１に記載の遮蔽性能評価方法。
  3. 前記公差範囲を有する前記入力パラメータは、前記線源が使用済核燃料である場合には使用済核燃料の燃焼度、濃縮度、比出力、冷却期間、前記線源の質量、前記線源の線源強度、前記線源から放射される放射線のエネルギースペクトル、前記遮蔽材の密度、前記遮蔽材の組成、前記遮蔽材の厚さ、前記線源から評価点までの位置、前記遮蔽材に形成される欠損の大きさ、前記線源の放射線量を線量率に換算するための線量率換算係数のうち、少なくともいずれか１つを含む請求項１または２に記載の遮蔽性能評価方法。
  4. 前記遮蔽材の同位体組成は、
    前記線源から放射される放射線がガンマ線である場合、ランダムサンプリングされる前記入力パラメータの対象から外れる一方で、
    前記線源から放射される放射線が中性子である場合、ランダムサンプリングされる前記入力パラメータの対象となる請求項３に記載の遮蔽性能評価方法。
  5. 線源に対する遮蔽性能を評価する遮蔽性能評価装置であって、
    遮蔽性能を評価するために入力される入力パラメータを取得し、取得した前記入力パラメータに基づいて、遮蔽解析を実行する制御部を備え、
    前記制御部は、
    前記線源の解析モデルとなる線源モデルと、前記線源からの放射線を遮蔽する遮蔽材の解析モデルとなる遮蔽材モデルとを生成するステップと、
    前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルの少なくとも一方に対して設定される入力パラメータの公差範囲を取得するステップと、
    前記入力パラメータの入力値をランダムサンプリングにより前記公差範囲において取得し、取得した前記入力パラメータの入力値に基づいて、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルを用いた遮蔽解析を実行して解析値を導出するステップと、
    前記解析値を導出するステップを複数回繰り返すことで得られる複数の前記解析値を集積して、解析結果として出力するステップと、を実行する遮蔽性能評価装置。
  6. 請求項１から４のいずれか１項に記載の遮蔽性能評価方法または請求項５に記載の遮蔽性能評価装置によって得られた解析結果に基づいて、前記遮蔽材による遮蔽構造を設計する遮蔽構造の設計方法であって、
    予め設定された前記遮蔽構造の遮蔽性能の基準となる遮蔽基準値と、
    前記遮蔽構造の遮蔽性能の設計目標となる設計目標値と、
    前記公差範囲における保守側の値を、前記入力パラメータの入力値として取得し、取得した前記入力パラメータの入力値に基づいて、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルを用いた解析を実行して導出した解析値となる保守的評価値と、
    前記解析結果に基づいて導出された不確かさに基づく評価値と、があり、
    前記不確かさに基づく評価値は、前記保守的評価値よりも低い値となっており、
    前記保守的評価値は、前記設計目標値よりも低い値となっており、
    前記設計目標値は、前記遮蔽基準値よりも低い値となっており、
    前記不確かさに基づく評価値に基づいて、前記遮蔽基準値に対する前記設計目標値を設定するステップと、
    設定した前記設計目標値に基づいて、前記遮蔽構造を設計するステップと、を備え、
    前記設計目標値を設定するステップでは、前記不確かさに基づく評価値を用いない場合に設定される前記設計目標値と比較して、前記設計目標値を前記遮蔽基準値に近づける遮蔽構造の設計方法。
  7. 請求項１から４のいずれか１項に記載の遮蔽性能評価方法または請求項５に記載の遮蔽性能評価装置によって得られた解析結果に基づいて、前記遮蔽材による遮蔽構造を設計する遮蔽構造設計装置であって、
    予め設定された前記遮蔽構造の遮蔽性能の基準となる遮蔽基準値と、
    前記遮蔽構造の遮蔽性能の設計目標となる設計目標値と、
    前記公差範囲における保守側の値を、前記入力パラメータの入力値として取得し、取得した前記入力パラメータの入力値に基づいて、前記線源モデル及び前記遮蔽材モデルを用いた解析を実行して導出した解析値となる保守的評価値と、
    前記解析結果に基づいて導出された不確かさに基づく評価値と、があり、
    前記不確かさに基づく評価値は、前記保守的評価値よりも低い値となっており、
    前記保守的評価値は、前記設計目標値よりも低い値となっており、
    前記設計目標値は、前記遮蔽基準値よりも低い値となっており、
    前記不確かさに基づく評価値に基づいて、前記遮蔽基準値に対する前記設計目標値を設定する制御部を備え、
    前記制御部は、
    前記不確かさに基づく評価値を用いない場合に設定される前記設計目標値と比較して、前記設計目標値を前記遮蔽基準値に近づける遮蔽構造設計装置。
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