JP2020520451A - 放射線検出器で使用するための散乱補正技術 - Google Patents
放射線検出器で使用するための散乱補正技術 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020520451A JP2020520451A JP2019561318A JP2019561318A JP2020520451A JP 2020520451 A JP2020520451 A JP 2020520451A JP 2019561318 A JP2019561318 A JP 2019561318A JP 2019561318 A JP2019561318 A JP 2019561318A JP 2020520451 A JP2020520451 A JP 2020520451A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- detector
- scatter
- segments
- detector element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 23
- 238000012937 correction Methods 0.000 title abstract description 15
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 23
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 claims description 21
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 17
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims description 2
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 claims 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 12
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 10
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 8
- 238000013461 design Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N nobelium Chemical compound [No] ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 2
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- SKJCKYVIQGBWTN-UHFFFAOYSA-N (4-hydroxyphenyl) methanesulfonate Chemical compound CS(=O)(=O)OC1=CC=C(O)C=C1 SKJCKYVIQGBWTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 108010076504 Protein Sorting Signals Proteins 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 239000011149 active material Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 235000013405 beer Nutrition 0.000 description 1
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 201000010099 disease Diseases 0.000 description 1
- 208000037265 diseases, disorders, signs and symptoms Diseases 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 210000004872 soft tissue Anatomy 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
- A61B6/5282—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise due to scatter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/242—Stacked detectors, e.g. for depth information
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Surgery (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Public Health (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
12 X線源/放射線源/源
18 散乱防止グリッド/コリメータ/散乱防止コリメータ
20 X線ビーム/X線光子
22 患者前置コリメータ/フィルタアセンブリ/ビーム整形器
24 患者/被検体/物体
26 減衰されたX線光子/X線
28 画素化検出器/画素化検出器アレイ/検出器
30 システムコントローラ
32 直線位置決めサブシステム
34 回転サブシステム
36 モータコントローラ
38 X線コントローラ
40 データ取得システム(DAS)
42 コンピュータ
44 画像処理回路
46 非一時的メモリデバイス/メモリ
48 オペレータワークステーション
50 ディスプレイ
52 プリンタ
54 画像保管通信システム(PACS)
56 遠隔システム/クライアント
102 検出器画素/検出器素子/画素/マルチセグメント検出器素子
106 セグメント/最上部セグメント/検出器素子
106A 最下部セグメント/セグメント
160 散乱防止板/反射面/内部板/板/分離板
162 散乱防止隔壁/隔壁/板
180 線
182 線
184 線
190 ステップ
192 ステップ
194 ステップ
196 ステップ
198 ステップ
N 測定信号
P 一次信号
S 散乱信号
X 次元
Y 次元
Z 次元
Claims (21)
- X線源(12)と、画素化検出器(28)とを備えるコンピュータ断層撮影(CT)撮像システム(10)において散乱信号(S)を低減するための方法であって、
複数のセグメント(106)を備える検出器素子(102)の各それぞれのセグメント(106)に対して、それぞれの応答信号を取得することと、前記検出器素子(102)に対して、前記検出器素子(102)の前記セグメント(106)の1つまたは複数からの読み出し信号に基づいて散乱信号(S)を実質的に含まない一次信号(P)を推定することと、
前記推定された一次信号(P)に基づいて、前記検出器素子(102)の1つまたは複数のセグメント(106)で散乱信号(S)を推定し、前記1つまたは複数のセグメント(106)で前記推定された散乱信号(S)を補正して散乱補正された読み出し信号を生成することと
を含む、方法。 - 前記一次信号(P)が、前記X線源(12)から最も遠いそれぞれのセグメント(106)からのそれぞれの読み出し信号に基づいて推定される、請求項1に記載の方法。
- 前記一次信号(P)および前記散乱信号(S)が、前記検出器素子(102)のすべてのセグメント(106)からの前記読み出し信号を使用して共同で推定され、前記X線源(12)から遠いセグメント(106)からの読み出し信号が、共同推定プロセスでより大きい重みを受容する、請求項1に記載の方法。
- 前記散乱信号(S)を前記推定する行為が、撮像される物体(24)の寸法または前記X線源(12)および検出器(28)の幾何学的形状の一方または両方に基づく、請求項1に記載の方法。
- 前記散乱信号(S)を前記推定する行為が、前記検出器素子(102)の各セグメント(106)に対して推定されたそれぞれのX線スペクトルに基づく、請求項1に記載の方法。
- 前記推定する行為が、最小二乗適合操作を適用することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記推定する行為が、物理学ベースの散乱モデルを用いて前記検出器素子(102)の他のセグメント(106)における前記散乱信号(S)を推定する、請求項1に記載の方法。
- 前記物理学ベースの散乱モデルが、前記検出器素子(102)の前記セグメント(106)の各々に対する受容角度のパラメータを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記推定された散乱信号(S)を平滑化することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記推定する行為が、隣接する検出器素子(102)の対応するセグメント(106)からの平均測定信号(N)に行われる、請求項1に記載の方法。
- コンピュータ断層撮影(CT)撮像システム(10)であって、
放射線を放出するように構成された放射線源(12)と、
前記放出された放射線に応じて信号を生成するように構成された画素化検出器(28)であって、前記画素化検出器(28)は、複数の検出器素子(102)を備え、各検出器素子(102)は、放射線伝播の方向にオフセットした複数のセグメント(106)を備え、前記検出器素子(102)の少なくとも一部は、少なくとも一次元で放射線遮断板(160)によって分離される、画素化検出器(28)と、
前記画素化検出器(28)から読み出された信号を受容するように構成された処理構成要素であって、信号は、各検出器素子(102)の各セグメント(106)に対して読み出され、各検出器素子(102)に対して、前記処理構成要素は、
前記検出器素子(102)の前記セグメント(106)の1つまたは複数からの読み出し信号に基づいて散乱信号(S)を実質的に含まない一次信号(P)を推定し、
前記推定された一次信号(P)に基づいて、前記検出器素子(102)の1つまたは複数のセグメント(106)で散乱信号(S)を推定し、
前記1つまたは複数のセグメント(106)で前記推定された散乱信号(S)を補正して前記検出器素子(102)に対する散乱補正された読み出し信号を生成し、
各検出器素子(102)からの組み合わされた散乱補正された読み出し信号に対して、前記散乱補正された読み出し信号を使用して画像を再構成する
処理構成要素と
を備える、CT撮像システム(10)。 - 前記一次信号(P)および前記散乱信号(S)が、前記検出器素子(102)のすべてのセグメント(106)からの前記読み出し信号を使用して共同で推定される、請求項11に記載のCT撮像システム(10)。
- 前記X線源(12)から遠いセグメント(106)からの前記読み出し信号が、1つのパラメータとして前記セグメント(106)の深さを使用してモデル化することができる散乱信号(S)が少ない、請求項12に記載のCT撮像システム(10)。
- 前記一次信号(P)が、前記X線源(12)から最も遠いそれぞれのセグメント(106)からのそれぞれの読み出し信号に基づいて推定される、請求項11に記載のCT撮像システム(10)。
- 前記検出器素子(102)が、画素ごと、2画素ごと、3画素ごと、4画素ごと、または5画素ごとの間隔で放射線遮断板(160)によって分離される、請求項11に記載のCT撮像システム(10)。
- 前記処理構成要素が、撮像される物体(24)の寸法または前記X線源(12)および検出器(28)の幾何学的形状の一方または両方に基づいて前記散乱信号(S)を推定するようにさらに構成される、請求項11に記載のCT撮像システム(10)。
- 前記処理構成要素が、前記検出器素子(102)の各セグメント(106)に対して推定されたそれぞれのX線スペクトルに基づいて前記散乱信号(S)を推定するようにさらに構成される、請求項11に記載のCT撮像システム(10)。
- 前記処理構成要素が、隣接する検出器素子(102)の対応するセグメント(106)からの平均測定信号(N)を使用して前記散乱信号(S)を推定するようにさらに構成される、請求項11に記載のCT撮像システム(10)。
- 1つまたは複数のプロセッサによって実行されると、前記1つまたは複数のプロセッサに、
複数のセグメント(106)を備える検出器素子(102)の各それぞれのセグメント(106)に対して、それぞれの応答信号を取得することと、
前記検出器素子(102)に対して、前記検出器素子(102)の前記セグメント(106)の1つまたは複数からの読み出し信号に基づいて散乱信号(S)を実質的に含まない一次信号(P)を推定することと、
前記推定された一次信号(P)に基づいて、前記検出器素子(102)の1つまたは複数のセグメント(106)で散乱信号(S)を推定し、前記1つまたは複数のセグメント(106)で前記推定された散乱信号(S)を補正して散乱補正された読み出し信号を生成することと
を含む行為を行わせるプロセッサ実行可能命令を記憶する、1つまたは複数の非一時的コンピュータ可読媒体。 - 前記散乱信号(S)を前記推定する行為が、撮像される物体(24)の寸法または前記X線源(12)および検出器(28)の幾何学的形状の一方または両方に基づく、請求項19に記載の1つまたは複数の非一時的コンピュータ可読媒体。
- 前記散乱信号(S)を前記推定する行為が、前記検出器素子(102)の各セグメント(106)に対して推定されたそれぞれのX線スペクトルに基づく、請求項19に記載の1つまたは複数の非一時的コンピュータ可読媒体。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/591,926 US10631815B2 (en) | 2017-05-10 | 2017-05-10 | Scatter correction technique for use with a radiation detector |
US15/591,926 | 2017-05-10 | ||
PCT/US2018/031310 WO2018208644A1 (en) | 2017-05-10 | 2018-05-07 | Scatter correction technique for use with a radiation detector |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020520451A true JP2020520451A (ja) | 2020-07-09 |
JP7175922B2 JP7175922B2 (ja) | 2022-11-21 |
Family
ID=62223307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019561318A Active JP7175922B2 (ja) | 2017-05-10 | 2018-05-07 | 放射線検出器で使用するための散乱補正技術 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10631815B2 (ja) |
EP (1) | EP3635440B1 (ja) |
JP (1) | JP7175922B2 (ja) |
CN (1) | CN110914716A (ja) |
WO (1) | WO2018208644A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201703291D0 (en) * | 2017-03-01 | 2017-04-12 | Ibex Innovations Ltd | Apparatus and method for the correction of scatter in a radiographic system |
US10722196B2 (en) * | 2017-10-02 | 2020-07-28 | Canon Medical Systems Corporation | Radiographic diagnosis apparatus, radiation detector and collimator |
EP3691557B1 (en) * | 2017-10-02 | 2023-06-28 | Intuitive Surgical Operations, Inc. | Radiation finder tool |
GB2576772B (en) | 2018-08-31 | 2023-01-25 | Ibex Innovations Ltd | X-ray Imaging system |
US10898159B2 (en) * | 2019-01-11 | 2021-01-26 | General Electric Company | X-ray imaging system use and calibration |
US11258516B2 (en) * | 2019-09-26 | 2022-02-22 | Raytheon Company | Methods and apparatus for transmission of low photon density optical signals |
US11058369B2 (en) * | 2019-11-15 | 2021-07-13 | GE Precision Healthcare LLC | Systems and methods for coherent scatter imaging using a segmented photon-counting detector for computed tomography |
US11389124B2 (en) | 2020-02-12 | 2022-07-19 | General Electric Company | X-ray phase contrast detector |
US11779296B2 (en) * | 2020-03-20 | 2023-10-10 | Canon Medical Systems Corporation | Photon counting detector based edge reference detector design and calibration method for small pixelated photon counting CT apparatus |
CN114784026A (zh) * | 2021-01-22 | 2022-07-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | X射线探测基板及x射线探测器 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008504520A (ja) * | 2004-06-25 | 2008-02-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 散乱放射線のための補正を有するx線検出器 |
JP2012509492A (ja) * | 2008-11-18 | 2012-04-19 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | スペクトルイメージング検出器 |
US20140355734A1 (en) * | 2013-06-03 | 2014-12-04 | Zhengrong Ying | Anti-scatter collimators for detector systems of multi-slice x-ray computed tomography systems |
WO2016209138A1 (en) * | 2015-06-26 | 2016-12-29 | Prismatic Sensors Ab | Scatter estimation and/or correction in x-ray imaging |
US20170090039A1 (en) * | 2015-09-30 | 2017-03-30 | General Electric Company | Layered radiation detector |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20040021083A1 (en) * | 2000-06-07 | 2004-02-05 | Nelson Robert Sigurd | Device and system for improved Compton scatter imaging in nuclear medicine {and mammography} |
DE10047720A1 (de) | 2000-09-27 | 2002-04-11 | Philips Corp Intellectual Pty | Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines Röntgen-Computertomogramms mit einer Streustrahlungskorrektur |
US6618466B1 (en) | 2002-02-21 | 2003-09-09 | University Of Rochester | Apparatus and method for x-ray scatter reduction and correction for fan beam CT and cone beam volume CT |
GB0409572D0 (en) * | 2004-04-29 | 2004-06-02 | Univ Sheffield | High resolution imaging |
US7696481B2 (en) * | 2005-11-22 | 2010-04-13 | General Electric Company | Multi-layered detector system for high resolution computed tomography |
US7463712B2 (en) | 2006-05-18 | 2008-12-09 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Scatter correction for x-ray imaging using modulation of primary x-ray spatial spectrum |
US8238521B2 (en) | 2008-03-06 | 2012-08-07 | United Technologies Corp. | X-ray collimators, and related systems and methods involving such collimators |
US8873703B2 (en) * | 2008-05-08 | 2014-10-28 | Arineta Ltd. | X ray imaging system with scatter radiation correction and method of using same |
US9575189B2 (en) * | 2010-10-28 | 2017-02-21 | Schlumberger Technology Corporation | Segmented radiation detector and apparatus and method for using same |
US8705827B2 (en) | 2011-04-15 | 2014-04-22 | Georgia Tech Research Corporation | Scatter correction methods |
US8831180B2 (en) | 2011-08-04 | 2014-09-09 | General Electric Company | Apparatus for scatter reduction for CT imaging and method of fabricating same |
-
2017
- 2017-05-10 US US15/591,926 patent/US10631815B2/en active Active
-
2018
- 2018-05-07 CN CN201880026554.5A patent/CN110914716A/zh active Pending
- 2018-05-07 JP JP2019561318A patent/JP7175922B2/ja active Active
- 2018-05-07 EP EP18726677.0A patent/EP3635440B1/en active Active
- 2018-05-07 WO PCT/US2018/031310 patent/WO2018208644A1/en unknown
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008504520A (ja) * | 2004-06-25 | 2008-02-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 散乱放射線のための補正を有するx線検出器 |
JP2012509492A (ja) * | 2008-11-18 | 2012-04-19 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | スペクトルイメージング検出器 |
US20140355734A1 (en) * | 2013-06-03 | 2014-12-04 | Zhengrong Ying | Anti-scatter collimators for detector systems of multi-slice x-ray computed tomography systems |
WO2016209138A1 (en) * | 2015-06-26 | 2016-12-29 | Prismatic Sensors Ab | Scatter estimation and/or correction in x-ray imaging |
US20170090039A1 (en) * | 2015-09-30 | 2017-03-30 | General Electric Company | Layered radiation detector |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2018208644A1 (en) | 2018-11-15 |
EP3635440A1 (en) | 2020-04-15 |
EP3635440B1 (en) | 2024-06-26 |
US20180328863A1 (en) | 2018-11-15 |
CN110914716A (zh) | 2020-03-24 |
JP7175922B2 (ja) | 2022-11-21 |
US10631815B2 (en) | 2020-04-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7175922B2 (ja) | 放射線検出器で使用するための散乱補正技術 | |
JP7053650B2 (ja) | 放射線検出器における使用のための画素設計 | |
US9269168B2 (en) | Volume image reconstruction using data from multiple energy spectra | |
JP7146811B2 (ja) | 散乱防止コリメータと組み合わせた基準検出器素子 | |
JP7217020B2 (ja) | X線装置、x線検査方法、及びデータ処理装置 | |
EP3680650A2 (en) | X-ray imaging system use and calibration | |
CN110072459B (zh) | 用于自校准的自校准ct检测器、系统和方法 | |
US20160095560A1 (en) | X-ray ct apparatus and medical image diagnostic apparatus | |
JP6517376B2 (ja) | 低減されたパイルアップを有するx線デバイス | |
JP2016052349A (ja) | X線ct装置、画像処理装置及び画像処理プログラム | |
EP3835830B1 (en) | Systems and methods for estimating a focal spot motion and calculating a corresponding correction | |
JP6985004B2 (ja) | 光子計数型x線ct装置及び画像処理装置 | |
JP2020030097A (ja) | 感度補正方法及び光子計数型検出器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201218 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20210520 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20210524 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20211020 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211116 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220406 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220704 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20221012 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221109 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7175922 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |