JP2020201722A - 構造体の熱解析方法および熱解析装置 - Google Patents
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- 238000002076 thermal analysis method Methods 0.000 title claims abstract description 116
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 92
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 71
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 43
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 21
- 238000009795 derivation Methods 0.000 claims description 21
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 17
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 11
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 7
- 238000004141 dimensional analysis Methods 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 101100328887 Caenorhabditis elegans col-34 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001931 thermography Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
Description
熱源を内部に備えた構造体の各表面の温度分布または放熱量分布の少なくとも一方を所定の方法で取得する基礎データ取得ステップと、基礎データ取得ステップによって取得された表面の温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、構造体の少なくとも1つの表面を、表面から外部への放熱量の差が所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割する分割ステップと、分割ステップによって分割された各表面および構造体の残りの各表面に表面ノードを設定すると共に、構造体の内部に内部ノードを設定するノード設定ステップと、ノード設定ステップによって設定された各表面ノード間並びに各表面ノードおよび内部ノード間の熱抵抗を算出する熱抵抗算出ステップと、各表面ノードと内部ノードと熱抵抗とで表現される構造体の1次元熱抵抗モデルを導出するモデル導出ステップと、モデル導出ステップによって導出された1次元熱抵抗モデルを使って構造体の1次元熱解析を行う熱解析ステップとがコンピュータの演算処理により実行される構造体の熱解析方法を構成した。
|W1−W2|<Δ …(1)
|ΣW1−ΣW2|<Δ …(2)
Σ|W1−W2|/N<Δ …(3)
|Wi−Wj|<Δ …(4)
|ΣWi−ΣWj|<Δ …(5)
Σ|Wi−Wj|/N<Δ …(6)
2…プロセッサ
2a…基礎データ取得部
2b…分割部
2c…ノード設定部
2d…熱抵抗算出部
2e…モデル導出部
2f…熱解析部
3…記憶部
3a…ROM
3b…RAM
4…構造体
4a,4b,4c,4d,4e,4f…構造体4の表面
4a1,4a2…1つの表面4aから分割された表面
5…境界線
6…熱抵抗モデル
6a,6b,6c,6d,6e,6h…表面ノード
6f…内部ノード
6g…熱抵抗
Claims (11)
- 熱源を内部に備えた構造体の各表面の温度分布または放熱量分布の少なくとも一方を所定の方法で取得する基礎データ取得ステップと、前記基礎データ取得ステップによって取得された前記表面の温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、前記構造体の少なくとも1つの前記表面を、表面から外部への放熱量の差が所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割する分割ステップと、前記分割ステップによって分割された各表面および前記構造体の残りの各前記表面に表面ノードを設定すると共に、前記構造体の内部に内部ノードを設定するノード設定ステップと、前記ノード設定ステップによって設定された各前記表面ノード間並びに各前記表面ノードおよび前記内部ノード間の熱抵抗を算出する熱抵抗算出ステップと、各前記表面ノードと前記内部ノードと前記熱抵抗とで表現される前記構造体の1次元熱抵抗モデルを導出するモデル導出ステップと、前記モデル導出ステップによって導出された前記1次元熱抵抗モデルを使って前記構造体の1次元熱解析を行う熱解析ステップとがコンピュータの演算処理により実行される構造体の熱解析方法。
- 前記基礎データ取得ステップで、複数の表面に分割する少なくとも1つの前記表面の温度分布または放熱量分布の少なくとも一方を前記所定の方法で前記構造体の複数の条件下で取得し、
前記分割ステップで、前記基礎データ取得ステップで少なくとも1つの前記表面について前記複数の条件下で取得されたそれぞれの温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、少なくとも1つの前記表面を、前記複数の条件下で、表面から外部への放熱量の差が所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割する
ことを特徴とする請求項1に記載の構造体の熱解析方法。 - 前記分割ステップで、前記基礎データ取得ステップで少なくとも1つの前記表面について前記複数の条件下で取得されたそれぞれの温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、少なくとも1つの前記表面を、前記複数の条件下で表面から外部へ放出される放熱量の積算値の差が所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割することを特徴とする請求項2に記載の構造体の熱解析方法。
- 前記分割ステップで、前記基礎データ取得ステップで少なくとも1つの前記表面について前記複数の条件下で取得されたそれぞれの温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、少なくとも1つの前記表面を、前記複数の条件のそれぞれの下で、表面から外部へ放出される放熱量の差の平均値が所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割することを特徴とする請求項2に記載の構造体の熱解析方法。
- 前記基礎データ取得ステップで、複数の表面に分割する1つの前記表面を含む前記構造体の複数の前記表面のそれぞれの温度分布または放熱量分布の少なくとも一方を前記所定の方法で取得し、
前記分割ステップで、前記基礎データ取得ステップで前記構造体の複数の前記表面について取得されたそれぞれの温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、複数の表面に分割する1つの前記表面を含む前記構造体の複数の前記表面を、表面から外部への放熱量の差が当該複数の前記表面について所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割する
ことを特徴とする請求項1に記載の構造体の熱解析方法。 - 前記基礎データ取得ステップで、複数の表面に分割する1つの前記表面を含む前記構造体の複数の表面のそれぞれの温度分布または放熱量分布の少なくとも一方を前記所定の方法で前記構造体の複数の条件下で取得し、
前記分割ステップで、複数の表面に分割する1つの前記表面を含む前記構造体の複数の前記表面について、前記基礎データ取得ステップで前記構造体の複数の条件下で取得されたそれぞれの温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、複数の表面に分割する1つの前記表面を含む前記構造体の複数の前記表面を、前記複数の条件下で、表面から外部への放熱量の差が所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割する
ことを特徴とする請求項1に記載の構造体の熱解析方法。 - 前記分割ステップで、複数の表面に分割する1つの前記表面を含む前記構造体の複数の前記表面について、前記基礎データ取得ステップで前記構造体の複数の条件下で取得されたそれぞれの温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、複数の表面に分割する1つの前記表面を含む前記構造体の複数の前記表面を、前記複数の条件下で表面から外部へ放出される放熱量の積算値の差が所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割することを特徴とする請求項6に記載の構造体の熱解析方法。
- 前記分割ステップで、複数の表面に分割する1つの前記表面を含む前記構造体の複数の前記表面について、前記基礎データ取得ステップで前記構造体の複数の条件下で取得されたそれぞれの温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、複数の表面に分割する1つの前記表面を含む前記構造体の複数の前記表面を、前記複数の条件のそれぞれの下で、表面から外部へ放出される放熱量の差の平均値が所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割することを特徴とする請求項6に記載の構造体の熱解析方法。
- 前記構造体は半導体装置であることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の構造体の熱解析方法。
- 前記所定の方法は、前記構造体を複数の有限個の要素に分割して数値解析を行う有限要素法、または、前記構造体の温度分布または放熱量分布をシミュレーションする方法、または、前記構造体の温度分布または放熱量分布をセンサによって実測する方法であることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の構造体の熱解析方法。
- 熱源を内部に備えた構造体の各表面の温度分布または放熱量分布の少なくとも一方を所定の方法で取得する基礎データ取得部と、前記基礎データ取得部によって取得された前記表面の温度分布または放熱量分布の少なくとも一方に基づいて、前記構造体の少なくとも1つの前記表面を、表面から外部への放熱量の差が所定のしきい値より小さくなる複数の表面に分割する分割部と、前記分割部によって分割された各表面および前記構造体の残りの各前記表面に表面ノードを設定すると共に、前記構造体の内部に内部ノードを設定するノード設定部と、前記ノード設定部によって設定された各前記表面ノード間並びに各前記表面ノードおよび前記内部ノード間の熱抵抗を算出する熱抵抗算出部と、各前記表面ノードと前記内部ノードと前記熱抵抗とで表現される前記構造体の1次元熱抵抗モデルを導出するモデル導出部と、前記モデル導出部によって導出された前記1次元熱抵抗モデルを使って前記構造体の1次元熱解析を行う熱解析部とを備える構造体の熱解析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019108290A JP7222313B2 (ja) | 2019-06-10 | 2019-06-10 | 構造体の熱解析方法および熱解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019108290A JP7222313B2 (ja) | 2019-06-10 | 2019-06-10 | 構造体の熱解析方法および熱解析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020201722A true JP2020201722A (ja) | 2020-12-17 |
JP7222313B2 JP7222313B2 (ja) | 2023-02-15 |
Family
ID=73743400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019108290A Active JP7222313B2 (ja) | 2019-06-10 | 2019-06-10 | 構造体の熱解析方法および熱解析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7222313B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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