JP2020201054A - Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method and computer program - Google Patents
Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method and computer program Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020201054A JP2020201054A JP2019106395A JP2019106395A JP2020201054A JP 2020201054 A JP2020201054 A JP 2020201054A JP 2019106395 A JP2019106395 A JP 2019106395A JP 2019106395 A JP2019106395 A JP 2019106395A JP 2020201054 A JP2020201054 A JP 2020201054A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- deterioration
- insulating member
- reflection intensity
- information
- estimation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
Description
本発明の実施形態は、劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータプログラムに関する。 Embodiments of the present invention relate to a deterioration estimation device, a deterioration estimation system, a deterioration estimation method, and a computer program.
スイッチギヤ等の受変電機器では、絶縁部材として不飽和ポリエステル等の樹脂が用いられる。樹脂は絶縁部材自体の経年劣化、塵埃又は汚損等が原因で表面の絶縁抵抗が低下する。絶縁抵抗の低下は、設備停止等の障害の原因となる。このため、点検員は受変電機器に対して絶縁抵抗の測定を行うことが求められている。しかし、現地での絶縁抵抗の測定は、設備停止を伴うため困難であった。そこで、絶縁部材の表面の絶縁抵抗を推定する方法が用いられている。当該方法では、絶縁部材の光沢度又は色差等の絶縁部材から得られる特性値と、汚損度、温度又は湿度等の環境から得られる環境情報と、に基づいて、絶縁部材の表面の絶縁抵抗を推定する。しかし、絶縁抵抗の低下に沿うように絶縁部材から得られる光沢度又は色差等の特性値を評価することは困難であった。このため、絶縁抵抗の推定精度が低下する場合があった。 In power receiving and transforming equipment such as switch gears, resins such as unsaturated polyester are used as insulating members. The insulation resistance of the surface of the resin decreases due to aged deterioration of the insulating member itself, dust, stains, and the like. A decrease in insulation resistance causes a failure such as equipment stoppage. For this reason, inspectors are required to measure the insulation resistance of power receiving and transforming equipment. However, it was difficult to measure the insulation resistance on site because the equipment was stopped. Therefore, a method of estimating the insulation resistance of the surface of the insulating member is used. In this method, the insulation resistance of the surface of the insulating member is determined based on the characteristic values obtained from the insulating member such as the glossiness or color difference of the insulating member and the environmental information obtained from the environment such as the degree of fouling, temperature or humidity. presume. However, it has been difficult to evaluate characteristic values such as glossiness or color difference obtained from the insulating member so as to follow the decrease in insulation resistance. Therefore, the estimation accuracy of the insulation resistance may be lowered.
本発明が解決しようとする課題は、より高い精度で絶縁部材の劣化状態を推定することができる劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータプログラムを提供することである。 An object to be solved by the present invention is to provide a deterioration estimation device, a deterioration estimation system, a deterioration estimation method, and a computer program capable of estimating the deterioration state of the insulating member with higher accuracy.
実施形態の劣化推定装置は、劣化情報生成部と、推定部とを持つ。劣化情報生成部は、絶縁部材によって反射された反射光に含まれる複数の波長域と前記複数の波長域にそれぞれ対応付けされた前記反射光の反射強度とに基づいて、前記絶縁部材の劣化に関する劣化情報を生成する。推定部は、前記劣化情報に基づいて前記絶縁部材の劣化状態を推定する。前記劣化情報生成部は、前記波長域毎に反射強度を複数取得し、複数の反射強度の統計値に基づいて前記劣化情報を生成する。 The deterioration estimation device of the embodiment has a deterioration information generation unit and an estimation unit. The deterioration information generation unit relates to deterioration of the insulating member based on a plurality of wavelength ranges included in the reflected light reflected by the insulating member and the reflection intensity of the reflected light associated with the plurality of wavelength ranges. Generate deterioration information. The estimation unit estimates the deterioration state of the insulating member based on the deterioration information. The deterioration information generation unit acquires a plurality of reflection intensities for each of the wavelength regions and generates the deterioration information based on statistical values of the plurality of reflection intensities.
以下、実施形態の劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータプログラムを、図面を参照して説明する。 Hereinafter, the deterioration estimation device, the deterioration estimation system, the deterioration estimation method, and the computer program of the embodiment will be described with reference to the drawings.
図１は、実施形態の劣化推定システム１のシステム構成を表すシステム構成図である。
劣化推定システム１は、材料特性値測定センサ２０、環境情報測定センサ３０、マルチスペクトルセンサ４０及び劣化推定装置１００を備える。劣化推定装置１００、材料特性値測定センサ２０、環境情報測定センサ３０及びマルチスペクトルセンサ４０は通信可能に接続される。劣化推定装置１００は、接続されたマルチスペクトルセンサ４０を制御することで、電気機器１０が備える絶縁部材から任意の波長域のスペクトル情報を取得する。劣化推定装置１００は、取得されたスペクトル情報に基づいて電気機器１０の絶縁部材の劣化状態を推定する。絶縁部材の劣化状態は、例えば、絶縁抵抗値によって表されてもよい。
FIG. 1 is a system configuration diagram showing a system configuration of the deterioration estimation system 1 of the embodiment.
The deterioration estimation system 1 includes a material characteristic value measurement sensor 20, an environmental information measurement sensor 30, a multispectral sensor 40, and a deterioration estimation device 100. The deterioration estimation device 100, the material characteristic value measurement sensor 20, the environmental information measurement sensor 30, and the multispectral sensor 40 are communicably connected. The deterioration estimation device 100 acquires spectrum information in an arbitrary wavelength range from the insulating member included in the electrical device 10 by controlling the connected multispectral sensor 40. The deterioration estimation device 100 estimates the deterioration state of the insulating member of the electric device 10 based on the acquired spectral information. The deteriorated state of the insulating member may be represented by, for example, the insulation resistance value.
電気機器１０は、スイッチギヤ等の受変電機器によって構成される。電気機器１０は、絶縁部材によって囲まれる。電気機器１０は、外部から電源ケーブルを介して、高電圧及び大電流を通電する。電気機器１０は、異常時には通電を遮断する機能を有する。電気機器１０は、真空遮断器、電力用変圧器、ガス絶縁開閉器、発電機、電動機又はリアクトル等のように、部分放電を発生する可能性がある機器であればどのような機器であってもよい。絶縁部材は、例えば不飽和ポリエステル又はエポキシ樹脂等の樹脂であってもよい。 The electric device 10 is composed of a power receiving / transforming device such as a switch gear. The electrical device 10 is surrounded by an insulating member. The electric device 10 energizes a high voltage and a large current from the outside via a power cable. The electric device 10 has a function of shutting off the energization in the event of an abnormality. The electric device 10 is any device such as a vacuum breaker, a transformer for electric power, a gas-insulated switch, a generator, an electric machine, a reactor, or the like, as long as it is a device that may generate a partial discharge. May be good. The insulating member may be a resin such as unsaturated polyester or epoxy resin.
材料特性値測定センサ２０は、測色計、色差計又は色彩計等の色に関する材料特性値を取得するセンサである。材料特性値測定センサ２０は、電気機器１０等の検査対象機器が備える絶縁部材から、絶縁部材の光沢又は色差等の材料特性値を取得する。なお、材料特性値測定センサ２０で測定される材料特性値は、光沢又は色差に限定されない。材料特性値測定センサ２０は、絶縁部材の表面の色に関する情報ならばどのような情報を取得してもよい。材料特性値測定センサ２０は、取得される材料特性値に応じて、複数のセンサが用いられてもよい。 The material characteristic value measuring sensor 20 is a sensor that acquires a material characteristic value related to a color such as a colorimeter, a color difference meter, or a colorimeter. The material characteristic value measuring sensor 20 acquires material characteristic values such as gloss or color difference of the insulating member from the insulating member included in the inspection target device such as the electric device 10. The material characteristic value measured by the material characteristic value measuring sensor 20 is not limited to gloss or color difference. The material characteristic value measuring sensor 20 may acquire any information as long as it is information on the color of the surface of the insulating member. As the material characteristic value measuring sensor 20, a plurality of sensors may be used depending on the acquired material characteristic value.
環境情報測定センサ３０は、温度計又は湿度計等の自装置（環境情報測定センサ３０）の近傍の環境に関する環境情報を取得するセンサである。環境情報測定センサ３０は、例えば、電気機器１０の近傍に設けられることで、電気機器１０近傍の温度又は湿度等の環境情報を取得する。なお、環境情報測定センサ３０で測定される環境情報は、温度又は湿度に限定されない。環境情報測定センサ３０は、環境に関する情報ならばどのような情報（例えば、汚損度、付着イオン量、音量、風量又は明度等）を取得してもよい。環境情報測定センサ３０は、取得される環境情報に応じて、複数のセンサが用いられてもよい。 The environmental information measurement sensor 30 is a sensor that acquires environmental information regarding the environment in the vicinity of its own device (environmental information measurement sensor 30) such as a thermometer or a hygrometer. The environmental information measurement sensor 30 is provided, for example, in the vicinity of the electric device 10 to acquire environmental information such as temperature or humidity in the vicinity of the electric device 10. The environmental information measured by the environmental information measurement sensor 30 is not limited to temperature or humidity. The environmental information measurement sensor 30 may acquire any information (for example, degree of fouling, amount of adhered ions, volume, air volume, brightness, etc.) as long as it is information on the environment. As the environmental information measurement sensor 30, a plurality of sensors may be used depending on the acquired environmental information.
マルチスペクトルセンサ４０は、マルチスペクトルカメラ又はハイパースペクトルカメラ等の任意波長域の反射強度を取得するセンサである。マルチスペクトルセンサ４０は、例えば、劣化推定装置１００によって指定された波長域の光を電気機器１０が備える絶縁部材に照射する。マルチスペクトルセンサ４０は、電気機器１０によって反射された光の反射光を自装置に設けられた受光素子によって受光する。マルチスペクトルセンサ４０は、受光素子によって受光された光の強弱に基づいて、光の反射強度を取得する。マルチスペクトルセンサ４０は、取得された反射強度を劣化推定装置１００に出力する。マルチスペクトルセンサ４０は、外からの光の影響を受けない構成で用いられる。マルチスペクトルセンサ４０は、例えば遮光カバー５０に格納された構成で用いられる。遮光カバー５０は、外部の光と、マルチスペクトルセンサ４０の光源によって発光された光と、反射光と、を透過させない素材であればどのような素材であってもよい。マルチスペクトルセンサ４０は、マルチスペクトルセンサ４０が備える受光素子と、電気機器１０が備える絶縁部材と、の距離が所定の距離に保たれてもよい。所定の距離は、例えば、５ｃｍである。マルチスペクトルセンサ４０は、発光センサの一態様である。発光センサは、絶縁部材に対して所定の波長域で光を照射する。発光センサは、光の反射光に基づいて反射強度を取得する。 The multispectral sensor 40 is a sensor that acquires the reflection intensity in an arbitrary wavelength region such as a multispectral camera or a hyperspectral camera. The multispectral sensor 40, for example, irradiates the insulating member included in the electric device 10 with light in the wavelength range specified by the deterioration estimation device 100. The multispectral sensor 40 receives the reflected light of the light reflected by the electric device 10 by a light receiving element provided in its own device. The multispectral sensor 40 acquires the reflection intensity of light based on the intensity of light received by the light receiving element. The multispectral sensor 40 outputs the acquired reflection intensity to the deterioration estimation device 100. The multispectral sensor 40 is used in a configuration that is not affected by light from the outside. The multispectral sensor 40 is used, for example, in a configuration housed in a light shielding cover 50. The light-shielding cover 50 may be made of any material as long as it does not transmit external light, light emitted by the light source of the multispectral sensor 40, and reflected light. In the multispectral sensor 40, the distance between the light receiving element included in the multispectral sensor 40 and the insulating member included in the electric device 10 may be maintained at a predetermined distance. The predetermined distance is, for example, 5 cm. The multispectral sensor 40 is an aspect of a light emitting sensor. The light emitting sensor irradiates the insulating member with light in a predetermined wavelength range. The light emitting sensor acquires the reflection intensity based on the reflected light of the light.
劣化推定装置１００は、パーソナルコンピュータ、スマートフォン又はタブレットコンピュータ等の情報処理装置である。劣化推定装置１００は、マルチスペクトルセンサ４０から受け付けた反射強度に基づいて、電気機器１０が備える絶縁部材の劣化状態を推定する。劣化推定装置１００は、劣化推定プログラムを実行することによって通信部１０１、入力部１０２、表示部１０３、特性情報記憶部１０４及び制御部１０５を備える装置として機能する。 The deterioration estimation device 100 is an information processing device such as a personal computer, a smartphone, or a tablet computer. The deterioration estimation device 100 estimates the deterioration state of the insulating member included in the electric device 10 based on the reflection intensity received from the multispectral sensor 40. The deterioration estimation device 100 functions as a device including a communication unit 101, an input unit 102, a display unit 103, a characteristic information storage unit 104, and a control unit 105 by executing a deterioration estimation program.
通信部１０１は、ネットワークインタフェースである。通信部１０１はネットワークを介して、外部の通信装置と通信する。通信部１０１は、例えば無線ＬＡＮ（Local Area Network）、有線ＬＡＮ、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）又はＬＴＥ（Long Term Evolution）（登録商標）等の通信方式で通信してもよい。外部の通信装置は、例えばパーソナルコンピュータ、サーバ等の情報処理装置であってもよいし、クラウドコンピューティングシステムであってもよい。 The communication unit 101 is a network interface. The communication unit 101 communicates with an external communication device via a network. The communication unit 101 may communicate by a communication method such as wireless LAN (Local Area Network), wired LAN, Bluetooth (registered trademark) or LTE (Long Term Evolution) (registered trademark). The external communication device may be an information processing device such as a personal computer or a server, or may be a cloud computing system.
入力部１０２は、タッチパネル、マウス及びキーボード等の入力装置を用いて構成される。入力部１０２は、入力装置を劣化推定装置１００に接続するためのインタフェースであってもよい。この場合、入力部１０２は、入力装置において入力された入力信号から入力データ（例えば、劣化推定装置１００に対する指示を示す指示情報）を生成し、劣化推定装置１００に入力する。 The input unit 102 is configured by using an input device such as a touch panel, a mouse, and a keyboard. The input unit 102 may be an interface for connecting the input device to the deterioration estimation device 100. In this case, the input unit 102 generates input data (for example, instruction information indicating an instruction to the deterioration estimation device 100) from the input signal input in the input device, and inputs the input data to the deterioration estimation device 100.
表示部１０３は、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイ等の出力装置である。表示部１０３は、出力装置を劣化推定装置１００に接続するためのインタフェースであってもよい。この場合、表示部１０３は、映像データから映像信号を生成し自身に接続されている映像出力装置に映像信号を出力する。 The display unit 103 is an output device such as a CRT (Cathode Ray Tube) display, a liquid crystal display, and an organic EL (Electro Luminescence) display. The display unit 103 may be an interface for connecting the output device to the deterioration estimation device 100. In this case, the display unit 103 generates a video signal from the video data and outputs the video signal to the video output device connected to itself.
特性情報記憶部１０４は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置等の記憶装置を用いて構成される。特性情報記憶部１０４は、特性情報を記憶する。特性情報は、絶縁部材の劣化状態を推定する推定手段に関する情報である。特性情報は、絶縁部材の種類に応じて複数記録されていてもよい。推定手段は、例えば、多変量の数式であってもよい。多変量の数式は、例えば、材料特性値、環境情報及び劣化指標値を変数として有していてもよい。絶縁部材の劣化状態は、材料特性値、環境情報又は劣化指標値の各値を数式に代入することで推定される。推定手段の数式は、これまでユーザが電気機器１０の絶縁部材を診断することによって、得られた診断結果に基づいて生成されてもよいし、予め定められていてもよい。推定手段は、推定された劣化状態に応じて、電気機器１０の余寿命年数を推定する手段を有してもよい。余寿命年数は、絶縁抵抗値と余寿命年数とを対応付けたテーブルで推定されてもよいし、絶縁抵抗値を変数とした数式によって推定されてもよい。ユーザとは、例えば、電気機器１０の絶縁部材の点検を行う点検員であってもよい。また、特性情報記憶部１０４は、劣化していない絶縁部材の反射強度を表す未劣化反射強度に基づいて生成されたスペクトル情報を記憶する。なお、特性情報記憶部１０４は、絶縁部材の劣化状態を推定するために必要となる情報であれば、どのような情報を記憶していてもよい。特性情報記憶部１０４は、記憶部の一態様である。記憶部は、劣化していない絶縁部材によって反射された反射光に含まれる複数の波長域と複数の波長域にそれぞれ対応付けされた反射光の未劣化反射強度とを記憶する。 The characteristic information storage unit 104 is configured by using a storage device such as a magnetic hard disk device or a semiconductor storage device. The characteristic information storage unit 104 stores characteristic information. The characteristic information is information regarding an estimation means for estimating the deterioration state of the insulating member. A plurality of characteristic information may be recorded depending on the type of the insulating member. The estimation means may be, for example, a multivariate mathematical formula. The multivariate formula may have, for example, material property values, environmental information and deterioration index values as variables. The deterioration state of the insulating member is estimated by substituting each value of the material property value, the environmental information or the deterioration index value into the mathematical formula. The mathematical formula of the estimation means may be generated based on the diagnosis result obtained by the user diagnosing the insulating member of the electric device 10, or may be predetermined. The estimation means may have a means for estimating the remaining life of the electric device 10 according to the estimated deterioration state. The remaining lifespan may be estimated by a table in which the insulation resistance value and the remaining lifespan are associated with each other, or may be estimated by a mathematical formula using the insulation resistance value as a variable. The user may be, for example, an inspector who inspects the insulating member of the electric device 10. Further, the characteristic information storage unit 104 stores spectral information generated based on the undegraded reflection intensity representing the reflection intensity of the non-deteriorated insulating member. The characteristic information storage unit 104 may store any information as long as it is necessary for estimating the deterioration state of the insulating member. The characteristic information storage unit 104 is an aspect of the storage unit. The storage unit stores a plurality of wavelength regions included in the reflected light reflected by the non-deteriorated insulating member and the undegraded reflection intensity of the reflected light associated with each of the plurality of wavelength regions.
制御部１０５は、劣化推定装置１００の各部の動作を制御する。制御部１０５は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）等のプロセッサ及びＲＡＭ（Random Access Memory）を備えた装置により実行される。制御部１０５は、劣化推定プログラムを実行することによって、スペクトルセンサ制御部１０６、材料特性値取得部１０７、環境情報取得部１０８、劣化指標決定部１０９及び推定部１１０として機能する。 The control unit 105 controls the operation of each unit of the deterioration estimation device 100. The control unit 105 is executed by a device including a processor such as a CPU (Central Processing Unit) and a RAM (Random Access Memory), for example. By executing the deterioration estimation program, the control unit 105 functions as a spectrum sensor control unit 106, a material characteristic value acquisition unit 107, an environmental information acquisition unit 108, a deterioration index determination unit 109, and an estimation unit 110.
スペクトルセンサ制御部１０６は、マルチスペクトルセンサ４０から反射強度を取得する。まず、スペクトルセンサ制御部１０６は、マルチスペクトルセンサ４０に対して、発光制御指示を送信する。発光制御指示は、マルチスペクトルセンサ４０の光源から発光される波長域を指定する。また、発光制御指示は、マルチスペクトルセンサ４０の光源の露光時間を指定する。なお、スペクトルセンサ制御部１０６は、発光制御指示によって指定される波長域及び露光時間を入力部１０２から受け付けてもよい。スペクトルセンサ制御部１０６は、電気機器１０に設けられた絶縁部材の表面によって反射された光の反射強度を取得する。 The spectrum sensor control unit 106 acquires the reflection intensity from the multispectral sensor 40. First, the spectrum sensor control unit 106 transmits a light emission control instruction to the multispectral sensor 40. The emission control instruction specifies a wavelength range emitted from the light source of the multispectral sensor 40. Further, the light emission control instruction specifies the exposure time of the light source of the multispectral sensor 40. The spectrum sensor control unit 106 may receive the wavelength range and the exposure time specified by the light emission control instruction from the input unit 102. The spectrum sensor control unit 106 acquires the reflection intensity of the light reflected by the surface of the insulating member provided in the electric device 10.
スペクトルセンサ制御部１０６は、発光制御指示によって指定された波長域とマルチスペクトルセンサ４０から取得された反射強度とを対応付けたスペクトル情報を生成する。取得される反射強度は、反射波のピーク強度である。なお、スペクトルセンサ制御部１０６は、スペクトル情報を生成するにあたって、反射強度の平均化処理を行ってもよい。平均化処理とは、複数回取得された反射強度の平均値を算出する処理である。平均化処理を行われたスペクトル情報は、絶縁部材の反射強度の特徴を表した情報となりやすい。平均化処理は、例えば、以下の通り実行されてもよい。スペクトルセンサ制御部１０６は、マルチスペクトルセンサ４０から反射強度を複数回取得する。反射強度の取得回数は、入力部１０２を介して指定されてもよい。スペクトルセンサ制御部１０６は、取得された反射強度の合計値を、取得回数で割ることで、反射強度の平均値を算出する。スペクトルセンサ制御部１０６は、波長域毎に反射強度の平均値を算出する。スペクトルセンサ制御部１０６は、算出された平均値に基づいてスペクトル情報を生成する。なお、反射強度の取得回数に比例して、マルチスペクトルセンサ４０の露光時間は長くなる。例えば、マルチスペクトルセンサ４０は、反射強度を５０回取得して、１回の反射強度の取得に５０ｍｓ要する場合、少なくとも２５００ｍｓの露光時間が必要となる。スペクトルセンサ制御部１０６は、生成されたスペクトル情報を表示部１０３に表示させる。 The spectrum sensor control unit 106 generates spectrum information in which the wavelength range specified by the light emission control instruction and the reflection intensity acquired from the multispectral sensor 40 are associated with each other. The acquired reflection intensity is the peak intensity of the reflected wave. The spectrum sensor control unit 106 may perform an averaging process of the reflection intensity when generating the spectrum information. The averaging process is a process of calculating the average value of the reflection intensities acquired a plurality of times. The spectral information that has been averaged tends to be information that represents the characteristics of the reflection intensity of the insulating member. The averaging process may be executed, for example, as follows. The spectrum sensor control unit 106 acquires the reflection intensity from the multispectral sensor 40 a plurality of times. The number of times the reflection intensity is acquired may be specified via the input unit 102. The spectrum sensor control unit 106 calculates the average value of the reflection intensity by dividing the total value of the acquired reflection intensities by the number of acquisitions. The spectrum sensor control unit 106 calculates the average value of the reflection intensity for each wavelength range. The spectrum sensor control unit 106 generates spectrum information based on the calculated average value. The exposure time of the multispectral sensor 40 increases in proportion to the number of times the reflection intensity is acquired. For example, when the multispectral sensor 40 acquires the reflection intensity 50 times and it takes 50 ms to acquire the reflection intensity once, an exposure time of at least 2500 ms is required. The spectrum sensor control unit 106 causes the display unit 103 to display the generated spectrum information.
材料特性値取得部１０７は、材料特性値測定センサ２０から光沢度又は色差等の絶縁部材に関する材料特性値を取得する。材料特性値取得部１０７は、取得された材料特性値を表示部１０３に表示させてもよい。材料特性値取得部１０７は、劣化指標決定部１０９に材料特性値を出力する。 The material characteristic value acquisition unit 107 acquires the material characteristic value related to the insulating member such as glossiness or color difference from the material characteristic value measurement sensor 20. The material property value acquisition unit 107 may display the acquired material property value on the display unit 103. The material property value acquisition unit 107 outputs the material property value to the deterioration index determination unit 109.
環境情報取得部１０８は、環境情報測定センサ３０から温度又は湿度等の環境情報を取得する。環境情報取得部１０８は、取得された環境情報を表示部１０３に表示させてもよい。環境情報取得部１０８は、劣化指標決定部１０９に環境情報を出力する。環境情報取得部１０８は、取得部の一態様である。取得部は、絶縁部材周辺の環境に関する環境情報を取得する。 The environmental information acquisition unit 108 acquires environmental information such as temperature or humidity from the environmental information measurement sensor 30. The environmental information acquisition unit 108 may display the acquired environmental information on the display unit 103. The environmental information acquisition unit 108 outputs environmental information to the deterioration index determination unit 109. The environmental information acquisition unit 108 is one aspect of the acquisition unit. The acquisition unit acquires environmental information regarding the environment around the insulating member.
劣化指標決定部１０９は、スペクトル情報に含まれる複数の波長域の反射強度に対して所定の処理を行うことで、電気機器１０の絶縁部材の劣化指標値を決定する。劣化指標値は、絶縁部材の劣化状態を数値等で視覚的に表したパラメータである。劣化指標値は、絶縁部材の劣化状態の推定に用いられる。所定の処理は、例えば、反射強度に対する強調化処理であってもよい。劣化指標決定部１０９は、所定の処理を行うことで絶縁部材の劣化を視覚的にわかりやすく指標化することができる。 The deterioration index determination unit 109 determines the deterioration index value of the insulating member of the electric device 10 by performing a predetermined process on the reflection intensities in a plurality of wavelength regions included in the spectral information. The deterioration index value is a parameter that visually represents the deterioration state of the insulating member by a numerical value or the like. The deterioration index value is used to estimate the deterioration state of the insulating member. The predetermined treatment may be, for example, an enhancement treatment for the reflection intensity. The deterioration index determination unit 109 can visually and easily index the deterioration of the insulating member by performing a predetermined process.
劣化指標決定部１０９は、劣化していない絶縁部材から得られたスペクトル情報が持つ反射強度に変化が現れたタイミングを絶縁部材の劣化として判断する。具体的には、劣化指標決定部１０９は、劣化していない絶縁部材から得られたスペクトル情報と、診断対象となる絶縁部材から得られたスペクトル情報と、を比較することで反射強度に変化が現れたか否かを判断する。劣化指標決定部１０９は、例えば、それぞれのスペクトル情報との一致度を算出する。劣化指標決定部１０９は、一致度が予め定められた閾値を下回った場合に、反射強度に変化が表れたと判断してもよい。次に、劣化指標決定部１０９は、スペクトル情報に基づいて、複数の波長域から一部の波長域を選択する。劣化指標決定部１０９は、選択された一部の波長域に対応付けされた反射強度を取得する。劣化指標決定部１０９は、取得された反射強度に対して所定の処理を行うことで劣化指標値を決定する。 The deterioration index determination unit 109 determines the timing at which the reflection intensity of the spectral information obtained from the non-deteriorated insulating member changes appears as the deterioration of the insulating member. Specifically, the deterioration index determination unit 109 changes the reflection intensity by comparing the spectral information obtained from the insulating member that has not deteriorated with the spectral information obtained from the insulating member to be diagnosed. Determine if it has appeared. The deterioration index determination unit 109 calculates, for example, the degree of agreement with each spectrum information. The deterioration index determination unit 109 may determine that the reflection intensity has changed when the degree of agreement falls below a predetermined threshold value. Next, the deterioration index determination unit 109 selects a part of the wavelength regions from the plurality of wavelength regions based on the spectral information. The deterioration index determination unit 109 acquires the reflection intensity associated with a part of the selected wavelength regions. The deterioration index determination unit 109 determines the deterioration index value by performing a predetermined process on the acquired reflection intensity.
以下、劣化指標値の決定について具体的に説明する。本実施形態では、劣化指標決定部１０９は、次の２つの反射強度に基づいて、劣化指標値を決定する。劣化指標決定部１０９は、例えば、絶縁部材から得られる未劣化反射強度とは異なる反射強度に対応付けされた波長域を選択する。また、劣化指標決定部１０９は、例えば、絶縁部材から得られる未劣化反射強度とは同程度の反射強度に対応付けされた波長域を選択する。劣化指標決定部１０９は、選択された２つの波長域に対応付けされた反射強度を取得する。本実施形態では、未劣化反射強度とは異なる反射強度に対応付けされた波長域の反射強度を反射強度（Ａ）とする。本実施形態では、未劣化反射強度とは同程度の反射強度に対応付けされた波長域の反射強度を反射強度（Ｂ）とする。 Hereinafter, the determination of the deterioration index value will be specifically described. In the present embodiment, the deterioration index determination unit 109 determines the deterioration index value based on the following two reflection intensities. The deterioration index determination unit 109 selects, for example, a wavelength range associated with a reflection intensity different from the undegraded reflection intensity obtained from the insulating member. Further, the deterioration index determination unit 109 selects, for example, a wavelength range associated with a reflection intensity comparable to that of the undegraded reflection intensity obtained from the insulating member. The deterioration index determination unit 109 acquires the reflection intensity associated with the two selected wavelength regions. In the present embodiment, the reflection intensity in the wavelength range associated with the reflection intensity different from the undegraded reflection intensity is defined as the reflection intensity (A). In the present embodiment, the reflection intensity in the wavelength range associated with the reflection intensity equivalent to the undegraded reflection intensity is defined as the reflection intensity (B).
劣化指標決定部１０９は、取得された反射強度（Ａ）及び反射強度（Ｂ）に対して所定の処理を行う。所定の処理は、例えば、取得された複数の波長帯のピーク強度を用いた計算であってもよい。例えば、所定の処理は、以下の数式（１）で表される強調化処理であってもよい。 ｎは、任意の係数である。 The deterioration index determination unit 109 performs a predetermined process on the acquired reflection intensity (A) and reflection intensity (B). The predetermined process may be, for example, a calculation using the acquired peak intensities of a plurality of wavelength bands. For example, the predetermined process may be an emphasis process represented by the following mathematical formula (1). n is an arbitrary coefficient.
劣化指標値＝（（反射強度（Ａ）−反射強度（Ｂ））／（反射強度（Ａ）＋反射強度（Ｂ））×ｎ） ・・・（１） Deterioration index value = ((reflection intensity (A) -reflection intensity (B)) / (reflection intensity (A) + reflection intensity (B)) x n) ... (1)
なお、上記の具体例では、劣化指標決定部１０９は、未劣化反射強度とは異なる反射強度を持つ波長域の反射強度（Ａ）と、未劣化反射強度と同程度の反射強度を持つ波長域の反射強度（Ｂ）と、を取得して劣化指標値を決定したが、これに限定されない。例えば、劣化指標決定部１０９は、スペクトル情報に含まれるすべての波長域に基づいて劣化指標値を算出してもよい。例えば、スペクトル情報にＮ種類の波長域が含まれる場合、劣化指標決定部１０９は、Ｎ×（Ｎ−１）／２パターンの波長域の組み合わせで劣化指標値を算出してもよい。この場合、劣化指標決定部１０９は、Ｎ×（Ｎ−１）／２の劣化指標値を算出する。劣化指標決定部１０９は、算出された劣化指標値と、他の光学指標との相関関係に基づいて、Ｎ×（Ｎ−１）／２種類の劣化指標値のうち、１つの劣化指標値を決定してもよい。他の光学指標とは、例えば、明度、輝度又は光沢度等の光に関する指標であればどのような指標であってもよい。劣化指標決定部１０９は、劣化情報生成部の一態様である。劣化情報生成部は、絶縁部材によって反射された反射光に含まれる複数の波長域と複数の波長域にそれぞれ対応付けされた反射光の反射強度とに基づいて、絶縁部材の劣化に関する劣化情報を生成する。劣化指標値は、劣化情報の一態様である。 In the above specific example, the deterioration index determination unit 109 has a reflection intensity (A) in a wavelength range having a reflection intensity different from the undegraded reflection intensity and a wavelength range having the same level of reflection intensity as the undegraded reflection intensity. The reflection intensity (B) of the above was obtained to determine the deterioration index value, but the present invention is not limited to this. For example, the deterioration index determination unit 109 may calculate the deterioration index value based on all the wavelength ranges included in the spectral information. For example, when the spectrum information includes N types of wavelength regions, the deterioration index determination unit 109 may calculate the deterioration index value by combining the wavelength regions of N × (N-1) / 2 patterns. In this case, the deterioration index determination unit 109 calculates the deterioration index value of N × (N-1) / 2. The deterioration index determination unit 109 determines one deterioration index value out of N × (N-1) / 2 types of deterioration index values based on the correlation between the calculated deterioration index value and another optical index. You may decide. The other optical index may be any index as long as it is an index related to light such as brightness, brightness or glossiness. The deterioration index determination unit 109 is an aspect of the deterioration information generation unit. The deterioration information generation unit generates deterioration information regarding deterioration of the insulating member based on a plurality of wavelength ranges included in the reflected light reflected by the insulating member and the reflection intensity of the reflected light associated with each of the plurality of wavelength ranges. Generate. The deterioration index value is an aspect of deterioration information.
推定部１１０は、電気機器１０の絶縁部材の劣化状態を推定する。具体的には、推定部１１０は、特性情報記憶部１０４から電気機器１０の絶縁部材に関する特性情報を取得する。推定部１１０は、特性情報から電気機器１０の絶縁部材の劣化状態を推定する推定手段を取得する。推定部１１０は、材料特性値取得部１０７によって取得された材料特性値を推定手段に入力する。推定部１１０は、推定手段に環境情報取得部１０８によって取得された環境情報を推定手段に入力する。推定部１１０は、劣化指標決定部１０９によって決定された劣化指標値を推定手段に入力する。推定部１１０は、推定手段を実行することで電気機器１０の絶縁部材の劣化状態を推定する。例えば、推定部１１０は、推定手段が多変量の数式である場合、取得された材料特性値、環境情報及び劣化指標値を数式に代入する。推定部１１０は、数式を解くことで劣化状態を推定する。推定される劣化状態は、例えば絶縁抵抗値で表されてもよい。 The estimation unit 110 estimates the deterioration state of the insulating member of the electric device 10. Specifically, the estimation unit 110 acquires characteristic information regarding the insulating member of the electric device 10 from the characteristic information storage unit 104. The estimation unit 110 acquires an estimation means for estimating the deterioration state of the insulating member of the electric device 10 from the characteristic information. The estimation unit 110 inputs the material property value acquired by the material property value acquisition unit 107 into the estimation means. The estimation unit 110 inputs the environmental information acquired by the environmental information acquisition unit 108 into the estimation means. The estimation unit 110 inputs the deterioration index value determined by the deterioration index determination unit 109 into the estimation means. The estimation unit 110 estimates the deterioration state of the insulating member of the electric device 10 by executing the estimation means. For example, when the estimation means is a multivariate mathematical expression, the estimation unit 110 substitutes the acquired material property value, environmental information, and deterioration index value into the mathematical expression. The estimation unit 110 estimates the deterioration state by solving a mathematical formula. The estimated deterioration state may be represented by, for example, an insulation resistance value.
推定部１１０は、劣化状態に基づいて電気機器１０の余寿命年数を推定する。例えば、推定部１１０は、余寿命年数が劣化状態と対応付けされたテーブルで表される場合、劣化状態に応じて余寿命年数をテーブルから取得することで余寿命年数を推定する。例えば、推定部１１０は、余寿命年数が劣化状態を変数とした数式によって表される場合、数式を解くことで余寿命年数を推定する。推定部１１０は、算出された劣化状態又は余寿命年数を表示部１０３に表示させる。ユーザが、算出された劣化状態又は余寿命年数に基づいて、電気機器１０の継続使用又は交換要否を判断する。なお、推定部１１０は、劣化状態又は余寿命年数に基づいて、電気機器１０の継続使用又は交換の要否を判断してもよい。この場合、劣化状態又は余寿命年数が電気機器１０の継続使用に関する閾値を下回っている場合、推定部１１０は、電気機器１０の交換が必要であると判断してもよい。劣化状態又は余寿命年数が電気機器１０の継続使用に関する閾値以上である場合、推定部１１０は、電気機器１０の交換が不要であると判断してもよい。推定部１１０は、電気機器１０の交換要否に関するを判断結果を表示部１０３に表示させる。 The estimation unit 110 estimates the remaining life of the electric device 10 based on the deterioration state. For example, when the remaining life is represented by a table associated with the deteriorated state, the estimation unit 110 estimates the remaining life by acquiring the remaining life from the table according to the deterioration state. For example, when the remaining life is expressed by a mathematical formula with the deterioration state as a variable, the estimation unit 110 estimates the remaining life by solving the mathematical formula. The estimation unit 110 causes the display unit 103 to display the calculated deterioration state or remaining life. The user determines whether or not the electric device 10 needs to be continuously used or replaced based on the calculated deterioration state or the remaining life. The estimation unit 110 may determine whether or not the electric device 10 needs to be continuously used or replaced based on the deteriorated state or the remaining life. In this case, if the deteriorated state or the remaining life is below the threshold value for continuous use of the electric device 10, the estimation unit 110 may determine that the electric device 10 needs to be replaced. When the deteriorated state or the remaining life is equal to or greater than the threshold value for continuous use of the electric device 10, the estimation unit 110 may determine that the electric device 10 does not need to be replaced. The estimation unit 110 causes the display unit 103 to display the determination result regarding the necessity of replacement of the electric device 10.
図２は、実施形態の電気機器１０の一具体例を示す図である。図２に示される電気機器１０は、真空遮断器（ＶＣＢ:Vacuum Circuit Breaker）である。電気機器１０は、絶縁部材１１と真空遮断器本体１２とを備える。真空遮断器本体１２は、絶縁部材１１によって仕切られる。真空遮断器本体１２は、絶縁部材１１によって絶縁される。マルチスペクトルセンサ４０は、絶縁部材１１に対して光を照射することで、反射強度を生成する。 FIG. 2 is a diagram showing a specific example of the electric device 10 of the embodiment. The electric device 10 shown in FIG. 2 is a vacuum circuit breaker (VCB: Vacuum Circuit Breaker). The electric device 10 includes an insulating member 11 and a vacuum circuit breaker main body 12. The vacuum circuit breaker main body 12 is partitioned by an insulating member 11. The vacuum circuit breaker main body 12 is insulated by the insulating member 11. The multispectral sensor 40 generates reflection intensity by irradiating the insulating member 11 with light.
図３は、実施形態の遮光部材５１を用いた反射強度の測定の第一の具体例を示す図である。マルチスペクトルセンサ４０は、遮光カバー５０に格納された構成で用いられる。マルチスペクトルセンサ４０は、光源４１を備える。光源４１は、例えばＬＥＤ（Light Emitting Diode）等である。光源４１は、発光制御指示によって指定された波長域の光を照射する。光源４１は、発光制御指示によって指定された波長域の光を照射することができるものであればどのようなものであってもよい。 FIG. 3 is a diagram showing a first specific example of measuring the reflection intensity using the light-shielding member 51 of the embodiment. The multispectral sensor 40 is used in a configuration housed in the light shielding cover 50. The multispectral sensor 40 includes a light source 41. The light source 41 is, for example, an LED (Light Emitting Diode) or the like. The light source 41 irradiates light in the wavelength range specified by the emission control instruction. The light source 41 may be any light source that can irradiate light in the wavelength range specified by the emission control instruction.
図３では、電気機器１０の表面は塗料１３によって塗装されている。なお、塗料１３は、銀ペースト等の金属であってもよいし、インクやペンキ等の塗料であってもよい。塗装された電気機器１０では、マルチスペクトルセンサ４０によって照射された光は、塗料１３の影響を受ける場合がある。このような場合、マルチスペクトルセンサ４０は、反射光の反射強度を正確に測定することができない。このため、図３では、遮光部材５１が遮光カバー５０に設けられる。遮光部材５１は、遮光カバー５０と同じ素材であってもよい。遮光部材５１は、外部の光と、光源４１によって発光された光と、反射光と、を透過させない素材であればどのような素材であってもよい。 In FIG. 3, the surface of the electric device 10 is painted with the paint 13. The paint 13 may be a metal such as silver paste, or may be a paint such as ink or paint. In the painted electrical device 10, the light emitted by the multispectral sensor 40 may be affected by the paint 13. In such a case, the multispectral sensor 40 cannot accurately measure the reflection intensity of the reflected light. Therefore, in FIG. 3, the light-shielding member 51 is provided on the light-shielding cover 50. The light-shielding member 51 may be made of the same material as the light-shielding cover 50. The light-shielding member 51 may be any material as long as it does not transmit external light, light emitted by the light source 41, and reflected light.
光源４１によって塗料１３の方向に照射された光は遮光部材５１によって遮光される。遮光部材５１によって、光源４１によって照射される光の照射範囲を絞ることが可能になる。光の照射範囲が絞られることによって、光源４１によって照射された光は塗料１３に当たらない。このため、マルチスペクトルセンサ４０は、塗料１３によって反射された反射光の影響を受けることなく反射強度を測定することができる。したがって、マルチスペクトルセンサ４０は、精度を下げることなく反射強度を測定することが可能になる。なお、塗料１３は、電気機器１０によって塗装される場所が異なる。このため、マルチスペクトルセンサ４０は、必要に応じて計測範囲を狭くできることが望ましい。例えば、遮光部材５１は、マルチスペクトルセンサ４０によって照射された光の照射範囲を任意に絞れるように、計測対象となる電気機器１０に応じて大きさ又は形状を変更されてもよい。このように遮光部材５１が構成されることで、計測範囲が狭い場合でも、高い精度で反射強度を測定できる。 The light emitted in the direction of the paint 13 by the light source 41 is blocked by the light-shielding member 51. The light-shielding member 51 makes it possible to narrow down the irradiation range of the light emitted by the light source 41. By narrowing the irradiation range of the light, the light emitted by the light source 41 does not hit the paint 13. Therefore, the multispectral sensor 40 can measure the reflection intensity without being affected by the reflected light reflected by the paint 13. Therefore, the multispectral sensor 40 can measure the reflection intensity without lowering the accuracy. The place where the paint 13 is painted differs depending on the electric device 10. Therefore, it is desirable that the multispectral sensor 40 can narrow the measurement range as needed. For example, the size or shape of the light-shielding member 51 may be changed according to the electrical device 10 to be measured so that the irradiation range of the light emitted by the multispectral sensor 40 can be arbitrarily narrowed down. By configuring the light-shielding member 51 in this way, the reflection intensity can be measured with high accuracy even when the measurement range is narrow.
図４は、実施形態の遮光部材５１を用いた反射強度の測定の第二の具体例を示す図である。図４では、電気機器１０はマルチスペクトルセンサ４０の光照射範囲内に凹凸面１４を含む。光照射範囲内に凹凸面１４を含む電気機器１０では、マルチスペクトルセンサ４０によって照射された光は凹凸面１４の影響を受ける場合がある。具体的には、凹凸面１４は、反射角度のばらつきによって反射光の反射強度の測定条件を変化させる。このような場合、マルチスペクトルセンサ４０は、反射光の反射強度を正確に測定することができない。そこで、図４においても、図３と同様に遮光部材５１が遮光カバー５０に設けられる。 FIG. 4 is a diagram showing a second specific example of the measurement of the reflection intensity using the light-shielding member 51 of the embodiment. In FIG. 4, the electrical device 10 includes the uneven surface 14 within the light irradiation range of the multispectral sensor 40. In the electric device 10 that includes the uneven surface 14 within the light irradiation range, the light emitted by the multispectral sensor 40 may be affected by the uneven surface 14. Specifically, the uneven surface 14 changes the measurement conditions for the reflection intensity of the reflected light depending on the variation in the reflection angle. In such a case, the multispectral sensor 40 cannot accurately measure the reflection intensity of the reflected light. Therefore, also in FIG. 4, a light-shielding member 51 is provided on the light-shielding cover 50 as in FIG.
光源４１によって凹凸面１４の方向に照射された光は遮光部材５１によって遮光される。遮光部材５１によって、光源４１によって照射される光の照射範囲を絞ることが可能になる。光の照射範囲が絞られることによって、光源４１によって照射された光は凹凸面１４に当たらない。このため、マルチスペクトルセンサ４０は、凹凸面１４によって反射された反射光の影響を受けることなく反射強度を測定することができる。したがって、マルチスペクトルセンサ４０は、精度を下げることなく反射強度を測定することが可能になる。なお、凹凸面１４は、電気機器１０によって場所が異なる。このため、マルチスペクトルセンサ４０は、必要に応じて計測範囲を狭くできることが望ましい。例えば、遮光部材５１は、マルチスペクトルセンサ４０によって照射された光の照射範囲を任意に絞れるように、計測対象となる電気機器１０に応じて大きさ又は形状を変更されてもよい。このように遮光部材５１が構成されることで、計測範囲が狭い場合でも、高い精度で反射強度を測定できる。 The light emitted in the direction of the uneven surface 14 by the light source 41 is blocked by the light shielding member 51. The light-shielding member 51 makes it possible to narrow down the irradiation range of the light emitted by the light source 41. By narrowing the irradiation range of the light, the light emitted by the light source 41 does not hit the uneven surface 14. Therefore, the multispectral sensor 40 can measure the reflection intensity without being affected by the reflected light reflected by the uneven surface 14. Therefore, the multispectral sensor 40 can measure the reflection intensity without lowering the accuracy. The location of the uneven surface 14 differs depending on the electrical device 10. Therefore, it is desirable that the multispectral sensor 40 can narrow the measurement range as needed. For example, the size or shape of the light-shielding member 51 may be changed according to the electrical device 10 to be measured so that the irradiation range of the light emitted by the multispectral sensor 40 can be arbitrarily narrowed down. By configuring the light-shielding member 51 in this way, the reflection intensity can be measured with high accuracy even when the measurement range is narrow.
図５は、実施形態の推定対象の絶縁部材の一具体例を示す図である。図５は、不飽和ポリエステルである。図５（ａ）は、劣化していない状態の不飽和ポリエステルである。図５（ｂ）は、劣化した状態の不飽和ポリエステルである。図５（ｂ）の不飽和ポリエステルは、試験槽等で加速的に劣化されたものである。図５によると、不飽和ポリエステルは、劣化状態に応じて色が変わる。したがって、取得されるスペクトル情報によって、絶縁部材の劣化状態を推定することが可能になる。 FIG. 5 is a diagram showing a specific example of the insulating member to be estimated according to the embodiment. FIG. 5 is an unsaturated polyester. FIG. 5A is an unsaturated polyester in a non-deteriorated state. FIG. 5B is an unsaturated polyester in a deteriorated state. The unsaturated polyester of FIG. 5B is acceleratedly deteriorated in a test tank or the like. According to FIG. 5, the unsaturated polyester changes color depending on the deteriorated state. Therefore, it is possible to estimate the deterioration state of the insulating member from the acquired spectral information.
図６は、実施形態の対象試料におけるスペクトル情報の一具体例を示す図である。図６で用いられる対象試料（絶縁部材）は、不飽和ポリエステルである。図６では、スペクトル情報は、それぞれ劣化状態の異なる５種類の対象試料を用いて生成されている。対象試料は、試験槽等で加速的に劣化された試料である。図６の対象試料は、３０年劣化させた試料（３０年）、６０年劣化させた試料（６０年）、９０年劣化させた試料（９０年）、強制的に長期間劣化させた試料（強制）及び未劣化の初期試料（初期）の５種類である。 FIG. 6 is a diagram showing a specific example of spectral information in the target sample of the embodiment. The target sample (insulating member) used in FIG. 6 is unsaturated polyester. In FIG. 6, the spectral information is generated using five types of target samples, each having a different deterioration state. The target sample is a sample that has been acceleratedly deteriorated in a test tank or the like. The target samples in FIG. 6 are a sample deteriorated for 30 years (30 years), a sample deteriorated for 60 years (60 years), a sample deteriorated for 90 years (90 years), and a sample forcibly deteriorated for a long period of time ( There are five types: forced) and undegraded initial sample (initial).
図６は、図６（ａ）と図６（ｂ）とを含む。図６（ａ）に示されるスペクトル情報は、平均化処理を行っていない場合のスペクトル情報である。図６（ｂ）に示されるスペクトル情報は、平均化処理を行った場合のスペクトル情報である。図６（ａ）及び図６（ｂ）の縦軸は、相対反射率（％）である。相対反射率（％）は、白板に光を照射して得られた反射強度を絶縁部材に光を照射して得られた反射強度で除算した値を百分率で表した値である。相対反射率（％）を算出するにあたって、マルチスペクトルセンサ４０は、白板に光を照射することで反射強度を取得する。マルチスペクトルセンサ４０は取得した反射強度に基づいてスペクトル情報を生成する。白板に光を照射することで生成されたスペクトル情報は、予め特性情報記憶部１０４に記憶されていてもよいし、劣化指標決定部１０９によって保持されていてもよい。白板は、例えば、ホワイトボード、白い木板等の塗装されていない白い板であればよい。図６の横軸は、波長（ｎｍ）である。 FIG. 6 includes FIGS. 6 (a) and 6 (b). The spectrum information shown in FIG. 6A is the spectrum information when the averaging process is not performed. The spectrum information shown in FIG. 6B is the spectrum information when the averaging process is performed. The vertical axis of FIGS. 6 (a) and 6 (b) is the relative reflectance (%). The relative reflectance (%) is a value expressed as a percentage by dividing the reflection intensity obtained by irradiating the white plate with light by the reflection intensity obtained by irradiating the insulating member with light. In calculating the relative reflectance (%), the multispectral sensor 40 acquires the reflection intensity by irradiating the white plate with light. The multispectral sensor 40 generates spectral information based on the acquired reflection intensity. The spectral information generated by irradiating the white plate with light may be stored in the characteristic information storage unit 104 in advance, or may be held by the deterioration index determination unit 109. The white board may be, for example, an unpainted white board such as a white board or a white wooden board. The horizontal axis of FIG. 6 is the wavelength (nm).
図６（ｂ）によると、絶縁部材の劣化に応じて９５０ｎｍ近傍の波長域の反射強度が増加していることを確認できる。絶縁部材の表面近傍の不飽和ポリエステルは、熱劣化によって減少する。不飽和ポリエステルの減少によって、絶縁部材に添加された充填剤が相対的に増加する。充填剤は、例えば、炭酸カルシウム、水酸化アルミニウム等の無機物である。絶縁部材は、充填剤として添加されているため、近赤外域（９５０ｎｍ近傍）の反射強度が増加したと推定される。 According to FIG. 6B, it can be confirmed that the reflection intensity in the wavelength region near 950 nm increases as the insulating member deteriorates. Unsaturated polyester near the surface of the insulating member is reduced by thermal deterioration. Due to the decrease in unsaturated polyester, the amount of filler added to the insulating member increases relatively. The filler is, for example, an inorganic substance such as calcium carbonate or aluminum hydroxide. Since the insulating member is added as a filler, it is estimated that the reflection intensity in the near infrared region (near 950 nm) has increased.
一方、図６において、例えば９００ｎｍ近傍の反射強度は、劣化していない絶縁部材と劣化させた絶縁部材とで大きな差異はない。このような特徴は、図６（ｂ）のように平均化処理によって顕著に抽出できる。このため、劣化指標決定部１０９は、特徴的な２波長帯（例えば、９５０ｎｍ及び９００ｎｍ）を選択する。劣化指標決定部１０９は、選択した２波長帯の２つの反射強度に基づいて、劣化指標値を決定してもよい。劣化指標決定部１０９は、数式（１）に基づいて劣化指標値を決定する。劣化指標決定部１０９は、このような強調化処理を行うことで、絶縁部材の劣化を視覚的に分かりやすく指標化することができる。 On the other hand, in FIG. 6, for example, the reflection intensity near 900 nm is not significantly different between the non-deteriorated insulating member and the deteriorated insulating member. Such features can be remarkably extracted by the averaging process as shown in FIG. 6B. Therefore, the deterioration index determination unit 109 selects characteristic two wavelength bands (for example, 950 nm and 900 nm). The deterioration index determination unit 109 may determine the deterioration index value based on the two reflection intensities of the selected two wavelength bands. The deterioration index determination unit 109 determines the deterioration index value based on the mathematical formula (1). By performing such an emphasis process, the deterioration index determination unit 109 can index the deterioration of the insulating member in a visually easy-to-understand manner.
劣化指標値＝（（９５０ｎｍの反射強度−９００ｎｍの反射強度）／（９５０ｎｍの反射強度＋９００ｎｍの反射強度）×ｎ） Deterioration index value = ((reflection intensity at 950 nm-reflection intensity at 900 nm) / (reflection intensity at 950 nm + reflection intensity at 900 nm) × n)
図７は、実施形態の劣化状態の推定の処理の流れを示すフローチャートである。劣化状態の推定は、例えば、マルチスペクトルセンサ４０が、絶縁部材に対して光を照射することで実行される。スペクトルセンサ制御部１０６は、発光制御指示によって発光されたマルチスペクトルセンサ４０から反射強度を取得する（ステップＳ１０１）。マルチスペクトルセンサ４０は、発光制御指示に応じた、波長域及び露光時間で発光する。反射強度は、反射波のピーク強度である。スペクトルセンサ制御部１０６は、発光制御指示によって指定された波長域とマルチスペクトルセンサ４０から取得された反射強度とを対応付けたスペクトル情報を生成する（ステップＳ１０２）。スペクトルセンサ制御部１０６は、反射強度に対して平均化処理を行うことでスペクトル情報を生成してもよい。 FIG. 7 is a flowchart showing a flow of processing for estimating the deterioration state of the embodiment. The deterioration state is estimated, for example, by irradiating the insulating member with light by the multispectral sensor 40. The spectrum sensor control unit 106 acquires the reflection intensity from the multispectral sensor 40 emitted by the light emission control instruction (step S101). The multispectral sensor 40 emits light in a wavelength range and an exposure time according to a light emission control instruction. The reflected intensity is the peak intensity of the reflected wave. The spectrum sensor control unit 106 generates spectrum information in which the wavelength range specified by the emission control instruction and the reflection intensity acquired from the multispectral sensor 40 are associated with each other (step S102). The spectrum sensor control unit 106 may generate spectrum information by performing an averaging process on the reflection intensity.
劣化指標決定部１０９は、生成されたスペクトル情報に基づいて２つの波長域を選択する（ステップＳ１０３）。劣化指標決定部１０９は、例えば、劣化していない絶縁部材の反射強度とは異なる反射強度を持つ波長域と、劣化していない絶縁部材の反射強度と同程度の反射強度を持つ波長域とを選択する。劣化指標決定部１０９は、選択された波長域の反射強度をスペクトル情報に基づいて取得する。劣化指標決定部１０９は、取得された反射強度に対して、所定の強調化処理を行うことで、絶縁部材の劣化指標値を決定する（ステップＳ１０４）。材料特性値取得部１０７は、材料特性値測定センサ２０から光沢度又は色差等の材料特性値を取得する（ステップＳ１０５）。環境情報取得部１０８は、環境情報測定センサ３０から温度又は湿度等の環境情報を取得する（ステップＳ１０６）。 The deterioration index determination unit 109 selects two wavelength regions based on the generated spectral information (step S103). The deterioration index determination unit 109 determines, for example, a wavelength range having a reflection intensity different from the reflection intensity of the non-deteriorated insulating member and a wavelength range having the same reflection intensity as the reflection intensity of the non-deteriorated insulating member. select. The deterioration index determination unit 109 acquires the reflection intensity in the selected wavelength region based on the spectral information. The deterioration index determination unit 109 determines the deterioration index value of the insulating member by performing a predetermined enhancement process on the acquired reflection intensity (step S104). The material characteristic value acquisition unit 107 acquires material characteristic values such as glossiness and color difference from the material characteristic value measurement sensor 20 (step S105). The environmental information acquisition unit 108 acquires environmental information such as temperature or humidity from the environmental information measurement sensor 30 (step S106).
推定部１１０は、特性情報記憶部１０４から電気機器１０の絶縁部材に関する特性情報を取得する。推定部１１０は、特性情報から推定手段を取得する（ステップＳ１０７）。推定部１１０は、劣化指標値、材料特性値及び環境情報を特性情報を推定手段に入力する。推定部１１０は、推定手段を実行することで電気機器１０の絶縁部材の劣化状態を推定する（ステップＳ１０８）。推定部１１０は、劣化状態に基づいて電気機器１０の余寿命年数を推定する（ステップＳ１０９）。推定部１１０は、算出された劣化状態又は余寿命年数に基づいて、電気機器１０の継続使用又は交換要否について判断する（ステップＳ１１０）。例えば、劣化状態又は余寿命年数が電気機器１０の継続使用に関する閾値を下回っている場合、推定部１１０は、電気機器１０の交換が必要であると判断してもよい。劣化状態又は余寿命年数が電気機器１０の継続使用に関する閾値以上である場合、推定部１１０は、電気機器１０の交換が不要であると判断してもよい。推定部１１０は、電気機器１０の交換要否に関するを判断結果を表示部１０３に表示させる。 The estimation unit 110 acquires characteristic information regarding the insulating member of the electric device 10 from the characteristic information storage unit 104. The estimation unit 110 acquires the estimation means from the characteristic information (step S107). The estimation unit 110 inputs the deterioration index value, the material characteristic value, and the environmental information into the estimation means. The estimation unit 110 estimates the deteriorated state of the insulating member of the electric device 10 by executing the estimation means (step S108). The estimation unit 110 estimates the remaining life of the electric device 10 based on the deterioration state (step S109). The estimation unit 110 determines whether or not the electric device 10 needs to be continuously used or replaced based on the calculated deterioration state or the remaining life (step S110). For example, when the deteriorated state or the remaining life is less than the threshold value for the continuous use of the electric device 10, the estimation unit 110 may determine that the electric device 10 needs to be replaced. When the deteriorated state or the remaining life is equal to or greater than the threshold value for continuous use of the electric device 10, the estimation unit 110 may determine that the electric device 10 does not need to be replaced. The estimation unit 110 causes the display unit 103 to display the determination result regarding the necessity of replacement of the electric device 10.
このように構成された劣化推定装置１００では、スペクトルセンサ制御部１０６が絶縁部材から取得された光の反射強度に基づいてスペクトル情報を生成する。絶縁部材は、劣化の進行に応じて反射強度が変わる。従って、スペクトルセンサ制御部１０６は、絶縁部材の劣化の状態に応じて反射強度の異なるスペクトル情報を生成する。劣化指標決定部１０９が、生成されたスペクトル情報に基づいて絶縁部材の劣化状態の推定に用いられる劣化指標値を決定する。推定部１１０が、材料特性値及び環境情報等の従来から用いられているパラメータと、決定された劣化指標値と、を用いて絶縁部材の劣化状態を推定する。したがって、絶縁部材の劣化状態をより高い精度で推定することが可能になる。 In the deterioration estimation device 100 configured in this way, the spectrum sensor control unit 106 generates spectrum information based on the reflection intensity of light acquired from the insulating member. The reflection intensity of the insulating member changes as the deterioration progresses. Therefore, the spectrum sensor control unit 106 generates spectral information having different reflection intensities depending on the state of deterioration of the insulating member. The deterioration index determination unit 109 determines the deterioration index value used for estimating the deterioration state of the insulating member based on the generated spectral information. The estimation unit 110 estimates the deterioration state of the insulating member by using the conventionally used parameters such as the material property value and the environmental information and the determined deterioration index value. Therefore, it becomes possible to estimate the deteriorated state of the insulating member with higher accuracy.
劣化推定装置１００は、カメラ等の撮像部を備えた装置（例えば、スマートフォン）であってもよい。この場合、劣化推定装置１００は、取得された情報（例えば、スペクトル情報、材料特性値又は環境方法）を、外部のクラウドサーバ等へ送信してもよい。この場合、電気機器１０の絶縁部材の劣化状態は、クラウドサーバ上のアプリケーションによって推定されてもよい。 The deterioration estimation device 100 may be a device (for example, a smartphone) including an imaging unit such as a camera. In this case, the deterioration estimation device 100 may transmit the acquired information (for example, spectrum information, material property value or environmental method) to an external cloud server or the like. In this case, the deterioration state of the insulating member of the electric device 10 may be estimated by the application on the cloud server.
劣化推定装置１００は、電気機器１０の絶縁部材の推定結果を、ユーザが所持するスマートフォンに表示させてもよいし、外部のクラウドサーバに送信してもよい。外部のクラウドサーバに送信された場合、クラウドサーバは、推定結果をユーザが所持するの端末装置に表示させる。 The deterioration estimation device 100 may display the estimation result of the insulating member of the electric device 10 on a smartphone owned by the user, or may transmit it to an external cloud server. When transmitted to an external cloud server, the cloud server displays the estimation result on the terminal device owned by the user.
推定部１１０は、劣化状態と、日時と、サンプルＩＤと、サンプル種類とを対応付けて記憶装置に記録してもよい。日時とは、劣化状態が推定された日時を表す。サンプルＩＤとは、樹脂材料の識別子である。サンプル種類とは、不飽和ポリエステル等の樹脂材料の種類を表す。このように構成されることで、劣化推定装置１００は、過去の推定結果を用いて、絶縁部材の劣化の進行具合を判断したり、今後の劣化の進み方について予測したりすることができる。 The estimation unit 110 may record the deterioration state, the date and time, the sample ID, and the sample type in the storage device in association with each other. The date and time represents the date and time when the deterioration state is estimated. The sample ID is an identifier of the resin material. The sample type represents the type of resin material such as unsaturated polyester. With this configuration, the deterioration estimation device 100 can determine the progress of deterioration of the insulating member and predict the progress of deterioration in the future by using the past estimation results.
スペクトルセンサ制御部１０６は、電気機器１０の絶縁部材の複数の箇所のスペクトル情報を収集するように構成されてもよい。このように構成されることで、絶縁部材の局所的な変色を捉えることができる。したがって、ユーザは、絶縁部材に不均一な劣化が生じていた場合、不均一な劣化を把握することができる。 The spectrum sensor control unit 106 may be configured to collect spectrum information of a plurality of locations of the insulating member of the electrical device 10. With this configuration, it is possible to capture the local discoloration of the insulating member. Therefore, the user can grasp the non-uniform deterioration when the insulating member has non-uniform deterioration.
劣化推定装置１００は、ネットワークを介して通信可能に接続された複数台の情報処理装置を用いて実装されてもよい。この場合、劣化推定装置１００が備える各機能部は、複数の情報処理装置に分散して実装されてもよい。例えば、劣化指標決定部１０９と推定部１１０とはそれぞれ異なる情報処理装置に実装されてもよい。 The deterioration estimation device 100 may be implemented by using a plurality of information processing devices that are communicably connected via a network. In this case, each functional unit included in the deterioration estimation device 100 may be distributed and mounted in a plurality of information processing devices. For example, the deterioration index determination unit 109 and the estimation unit 110 may be mounted on different information processing devices.
上記各実施形態では、スペクトルセンサ制御部１０６、劣化指標決定部１０９及び推定部１１０はソフトウェア機能部であるものとしたが、ＬＳＩ等のハードウェア機能部であってもよい。 In each of the above embodiments, the spectrum sensor control unit 106, the deterioration index determination unit 109, and the estimation unit 110 are assumed to be software function units, but may be hardware function units such as LSI.
以上説明した少なくともひとつの実施形態によれば、劣化推定装置１００は、スペクトルセンサ制御部１０６、劣化指標決定部１０９及び推定部１１０を持つことにより、より高い精度で絶縁部材の劣化状態を推定することができる。 According to at least one embodiment described above, the deterioration estimation device 100 estimates the deterioration state of the insulating member with higher accuracy by having the spectrum sensor control unit 106, the deterioration index determination unit 109, and the estimation unit 110. be able to.
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, as well as in the scope of the invention described in the claims and the equivalent scope thereof.
１…劣化推定システム、１０…電気機器、２０…材料特性値測定センサ、３０…環境情報測定センサ、４０…マルチスペクトルセンサ、５０…遮光カバー、５１…遮光部材、１００…劣化推定装置、１０１…通信部、１０２…入力部、１０３…表示部、１０４…特性情報記憶部、１０５…制御部、１０６…スペクトルセンサ制御部、１０７…材料特性値取得部、１０８…環境情報取得部、１０９…劣化指標決定部、１１０…推定部 1 ... Deterioration estimation system, 10 ... Electrical equipment, 20 ... Material characteristic value measurement sensor, 30 ... Environmental information measurement sensor, 40 ... Multispectral sensor, 50 ... Light-shielding cover, 51 ... Light-shielding member, 100 ... Deterioration estimation device, 101 ... Communication unit, 102 ... Input unit, 103 ... Display unit, 104 ... Characteristic information storage unit, 105 ... Control unit, 106 ... Spectrum sensor control unit, 107 ... Material characteristic value acquisition unit, 108 ... Environmental information acquisition unit, 109 ... Deterioration Indicator determination unit, 110 ... estimation unit
Claims (9)
前記劣化情報に基づいて前記絶縁部材の劣化状態を推定する推定部と、を備え、
前記劣化情報生成部は、前記波長域毎に反射強度を複数取得し、複数の反射強度の統計値に基づいて前記劣化情報を生成する、
劣化推定装置。 Deterioration that generates deterioration information regarding deterioration of the insulating member based on a plurality of wavelength ranges included in the reflected light reflected by the insulating member and the reflection intensity of the reflected light associated with each of the plurality of wavelength ranges. Information generator and
An estimation unit that estimates the deterioration state of the insulating member based on the deterioration information is provided.
The deterioration information generation unit acquires a plurality of reflection intensities for each of the wavelength regions and generates the deterioration information based on statistical values of the plurality of reflection intensities.
Deterioration estimation device.
請求項１に記載の劣化推定装置。 The deterioration information generation unit generates the deterioration information when the reflection intensity and the reflection intensity of the reflected light reflected by the non-deteriorated insulating member satisfy a predetermined condition.
The deterioration estimation device according to claim 1.
請求項１又は２に記載の劣化推定装置。 The deterioration information generation unit selects a part of the wavelength range from the plurality of wavelength ranges, and the deterioration information is based on the selected part of the wavelength range and the reflection intensity associated with the selected wavelength range. To generate,
The deterioration estimation device according to claim 1 or 2.
前記劣化情報生成部は、前記未劣化反射強度から同程度の前記反射強度に対応付けされた波長域と、前記未劣化反射強度とは異なる前記反射強度に対応付けされた波長域と、を前記一部の波長域として選択し、選択された波長域に対応付けされた反射強度に基づいて、前記劣化情報を生成する、
請求項３に記載の劣化推定装置。 Further, a storage unit for storing a plurality of wavelength regions included in the reflected light reflected by the non-deteriorated insulating member and the undegraded reflection intensity of the reflected light associated with the plurality of wavelength regions is further provided.
The deterioration information generation unit has the wavelength range associated with the reflection intensity of the same degree from the undegraded reflection intensity and the wavelength range associated with the reflection intensity different from the undegraded reflection intensity. Select as a partial wavelength range and generate the degradation information based on the reflection intensity associated with the selected wavelength range.
The deterioration estimation device according to claim 3.
請求項３又は４に記載の劣化推定装置。 The deterioration information generation unit divides the difference in the reflection intensity associated with the selected wavelength range by the sum of the reflection intensities associated with the wavelength range, and calculates a predetermined count for the result of the division. The deterioration information is generated by multiplying.
The deterioration estimation device according to claim 3 or 4.
前記絶縁部材と前記発光センサとの間に設けられ、前記発光センサによって照射される光の一部を遮光する遮光部材と、
をさらに備える、請求項１から５のいずれか一項に記載の劣化推定装置。 A light emitting sensor that irradiates the insulating member with light in a predetermined wavelength range and acquires the reflection intensity based on the reflected light of the light.
A light-shielding member provided between the insulating member and the light-emitting sensor to block a part of the light emitted by the light-emitting sensor.
The deterioration estimation device according to any one of claims 1 to 5, further comprising.
前記劣化情報に基づいて前記絶縁部材の劣化状態を推定する推定部と、
を備え、
前記劣化情報生成部は、前記波長域毎に反射強度を複数取得し、複数の反射強度の統計値に基づいて前記劣化情報を生成する、
劣化推定システム。 Deterioration that generates deterioration information regarding deterioration of the insulating member based on a plurality of wavelength ranges included in the reflected light reflected by the insulating member and the reflection intensity of the reflected light associated with each of the plurality of wavelength ranges. Information generator and
An estimation unit that estimates the deterioration state of the insulating member based on the deterioration information,
With
The deterioration information generation unit acquires a plurality of reflection intensities for each of the wavelength regions and generates the deterioration information based on statistical values of the plurality of reflection intensities.
Deterioration estimation system.
劣化推定装置が、前記劣化情報に基づいて前記絶縁部材の劣化状態を推定する推定ステップと、を有し、
前記劣化情報生成ステップにおいて、前記波長域毎に反射強度を複数取得し、複数の反射強度の統計値に基づいて前記劣化情報を生成する、
を有する、劣化推定方法。
劣化推定方法。 The deterioration estimation device deteriorates the insulating member based on the plurality of wavelength regions included in the reflected light reflected by the insulating member and the reflection intensity of the reflected light associated with the plurality of wavelength regions. Degradation information generation step to generate information and
The deterioration estimation device has an estimation step of estimating the deterioration state of the insulating member based on the deterioration information.
In the deterioration information generation step, a plurality of reflection intensities are acquired for each wavelength region, and the deterioration information is generated based on the statistical values of the plurality of reflection intensities.
Deterioration estimation method having.
Deterioration estimation method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019106395A JP7263129B2 (en) | 2019-06-06 | 2019-06-06 | Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019106395A JP7263129B2 (en) | 2019-06-06 | 2019-06-06 | Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2020201054A true JP2020201054A (en) | 2020-12-17 |
| JP7263129B2 JP7263129B2 (en) | 2023-04-24 |
Family
ID=73742221
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019106395A Active JP7263129B2 (en) | 2019-06-06 | 2019-06-06 | Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7263129B2 (en) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347326A (en) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Hitachi Ltd | Nondestructive diagnostic device |
| JP2007139451A (en) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Omron Corp | Inspection device of solder material, inspection method of solder material, control program of inspection device of solder material and recording medium having control program recorded thereon of inspection device of solder material |
| JP2011007662A (en) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Hitachi Ltd | Method and apparatus for diagnosing remaining life and program |
| JP2015036669A (en) * | 2013-08-15 | 2015-02-23 | 株式会社リコー | Spectroscopic characteristic acquisition device, image evaluation device, and image forming apparatus |
| JP2016183914A (en) * | 2015-03-26 | 2016-10-20 | 日新電機株式会社 | Wire coating deterioration detection device and wire coating deterioration detection method |
| JP2018179778A (en) * | 2017-04-14 | 2018-11-15 | キヤノン株式会社 | Measuring device, method thereof, and image processor |
-
2019
- 2019-06-06 JP JP2019106395A patent/JP7263129B2/en active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347326A (en) * | 2003-05-20 | 2004-12-09 | Hitachi Ltd | Nondestructive diagnostic device |
| JP2007139451A (en) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Omron Corp | Inspection device of solder material, inspection method of solder material, control program of inspection device of solder material and recording medium having control program recorded thereon of inspection device of solder material |
| JP2011007662A (en) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Hitachi Ltd | Method and apparatus for diagnosing remaining life and program |
| JP2015036669A (en) * | 2013-08-15 | 2015-02-23 | 株式会社リコー | Spectroscopic characteristic acquisition device, image evaluation device, and image forming apparatus |
| JP2016183914A (en) * | 2015-03-26 | 2016-10-20 | 日新電機株式会社 | Wire coating deterioration detection device and wire coating deterioration detection method |
| JP2018179778A (en) * | 2017-04-14 | 2018-11-15 | キヤノン株式会社 | Measuring device, method thereof, and image processor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP7263129B2 (en) | 2023-04-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US11519852B2 (en) | Gas detection-use image processing device, and gas detection-use image processing method | |
| US20180336534A1 (en) | System and method for predictive maintenance of facility | |
| KR102045241B1 (en) | Plasma processing apparatus and plasma processing system | |
| US10962932B2 (en) | Time measurement device, time measurement method, light-emission-lifetime measurement device, and light-emission-lifetime measurement method | |
| EP4057016A1 (en) | Method for predicting a remaining lifetime of an electrical component of an electrical circuit | |
| CN110646446A (en) | X-ray inspection apparatus and method for determining target consumption of X-ray tube | |
| TWI546638B (en) | Plasma processing device, plasma processing method and analysis method | |
| TWI529802B (en) | Analysis method and plasma etching device | |
| JP5374445B2 (en) | Remaining life diagnosis method, remaining life diagnosis device and program | |
| JP7263129B2 (en) | Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program | |
| US10466283B2 (en) | Training data generation device, electrical device monitoring system, training data generation method, and non-transitory storage medium | |
| JP7237516B2 (en) | Deterioration estimation device, deterioration estimation system, deterioration estimation method, and computer program | |
| JP6191643B2 (en) | Electric wire covering deterioration detection apparatus and electric wire covering deterioration detection method | |
| US20200328067A1 (en) | Plasma processing apparatus and analysis method for analyzing plasma processing data | |
| US9885668B2 (en) | Surface inspection device, surface inspection method, and program | |
| JP2014085193A (en) | Life expectancy estimation method for grease and optical diagnostic device | |
| JP2011007662A (en) | Method and apparatus for diagnosing remaining life and program | |
| KR102100210B1 (en) | Plasma processing apparatus | |
| US20190204156A1 (en) | Measurement Data Management System, Measurement Data Management Method, And Optical Characteristic Measurement Device | |
| KR101420331B1 (en) | Brightness ununiformity measuring method for display panel | |
| JP2018017704A (en) | Maintenance support device and maintenance support program | |
| JP2018063183A (en) | Device and method for managing radiation exposure | |
| JP2019215230A (en) | Electric wire coating deterioration detector and electric wire coating deterioration detection method | |
| KR20210051886A (en) | Method for auto configuration of distribution equipment health index table | |
| JP5360082B2 (en) | Deterioration diagnosis device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220318 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20221130 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221206 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230206 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230314 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230412 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7263129 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |