JP2020186966A5 - 光学測定装置、光源装置 - Google Patents

Description

本発明の光学測定装置は、少なくとも以下の構成を具備するものである。
複数の波長において測定対象物の吸光度を測定する光学測定装置であって、
光源装置と、
前記光源装置から前記測定対象物に光を照射し、当該測定対象物からの光に基づいて前記測定対象物の光学測定を行う光学測定部とを備え、
前記光源装置は、第１の光源と、第２の光源と、前記第１の光源及び前記第２の光源を駆動する光源制御部とを有し、
前記第１の光源は、ハロゲンランプ又は白熱電球であり、かつ、照射範囲の一部が前記光学測定に利用される有効利用範囲となるものであり、
前記第２の光源は、前記第１の光源のフィラメントに短波長帯の光を照射可能な半導体光源であり、
前記光源制御部は、前記第１の光源を発熱発光駆動するとともに、前記光学測定に必要な強度となるように前記第２の光源から前記短波長帯の光を出射するように、かつ、前記第２の光源の時間変動低減手段を有して前記第２の光源を駆動し、
前記光源装置は、前記第１の光源からの光と、前記第２の光源からの光を前記フィラメントに照射することによって当該フィラメントの表面で拡散反射した光との合波光を前記測定対象物へ照射する
ことを特徴とする。

また、本発明の光源装置は、上記本発明に係る光学測定装置用の光源装置である。

本発明によれば、精度を要求されない簡単な構造で、第１の光源からの光と、第２の光源からの狭帯域の光との合波光が、あたかも第１の光源からの単一の光のように取り扱える光学測定装置を提供することができる。
また、本発明によれば、精度を要求されない簡単な構造で、第１の光源からの光と、第２の光源からの狭帯域の光との合波光が、あたかも第１の光源からの単一の光のように取り扱える光学測定装置に適した光源装置を提供することができる。

Claims (8)

1. 複数の波長において測定対象物の吸光度を測定する光学測定装置であって、
   光源装置と、
   前記光源装置から前記測定対象物に光を照射し、当該測定対象物からの光に基づいて前記測定対象物の光学測定を行う光学測定部とを備え、
   前記光源装置は、第１の光源と、第２の光源と、前記第１の光源及び前記第２の光源を駆動する光源制御部とを有し、
   前記第１の光源は、ハロゲンランプ又は白熱電球であり、かつ、照射範囲の一部が前記光学測定に利用される有効利用範囲となるものであり、
   前記第２の光源は、前記第１の光源のフィラメントに短波長帯の光を照射可能な半導体光源であり、
   前記光源制御部は、前記第１の光源を発熱発光駆動するとともに、前記光学測定に必要な強度となるように前記第２の光源から前記短波長帯の光を出射するように、かつ、前記第２の光源の時間変動低減手段を有して前記第２の光源を駆動し、
   前記光源装置は、前記第１の光源からの光と、前記第２の光源からの光を前記フィラメントに照射することによって当該フィラメントの表面で拡散反射した光との合波光を前記測定対象物へ照射する
   ことを特徴とする光学測定装置。
2. 前記第１の光源は、さらに、透光部を有するバルブを有し、
   前記フィラメントは、前記バルブ内に収容され、
   前記光源装置は、さらに、前記第１の光源の前記フィラメントと前記第２の光源との間に配置され、前記第２の光源からの光を集光し、前記第１の光源の前記バルブの前記透光部を透過して、前記第１の光源の前記フィラメントの全部又は一部分に照射する集光光学系を有し、
   前記第１の光源は、発熱発光状態の前記フィラメントからの光と、前記第２の光源から前記集光光学系を透過した光を前記フィラメントに照射することによって当該フィラメントの表面で拡散反射した光との合波光を、前記バルブの前記透光部を透過して前記測定対象物へ照射する
   ことを特徴とする請求項１に記載の光学測定装置。
3. 前記光源制御部は、前記第１の光源の前記フィラメントに第１の電流値の電流を印加する一方で前記第２の光源を非駆動状態とする第１のモードと、前記第１の光源の前記フィラメントに前記第１の電流値よりも小さい第２の電流値の電流を印加するとともに前記第２の光源を駆動状態とすることによって前記第２の光源から出射した光を前記フィラメントに照射する第２のモードと、を切り替える制御を行う
   ことを特徴とする請求項１または２に記載の光学測定装置。
4. 前記時間変動低減手段は、前記第２の光源からの光を検出する受光部による検出結果に基づいて、前記第２の光源の発光強度が設定値となるように前記第２の光源への駆動電流を制御する
   ことを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の光学測定装置。
5. 前記光源装置は、さらに、前記第１の光源からの光、及び前記第２の光源からの光を検出する受光部を有し、
   前記光源制御部は、前記受光部による検出結果に基づいて、前記光学測定部により前記測定対象物の吸光度の測定に用いられる波長における光強度が、光学測定に必要な強度となるように、前記第２の光源への駆動電流を制御する
   ことを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の光学測定装置。
6. 前記集光光学系は、前記第２の光源から前記集光光学系及び前記バルブの透光部を透過して光照射される、前記第１の光源の前記フィラメントにおける照射領域が、前記光学測定部により測定に利用される、前記フィラメントにおける有効利用範囲よりも大きくなるように構成されている
   ことを特徴とする請求項２に記載の光学測定装置。
7. 前記第２の光源は、ピーク波長又は中心波長が異なる光を出射可能な複数の半導体光源から成ることを特徴とする請求項１から６のいずれか一項に記載の光学測定装置。
8. 光源装置から測定対象物に光を照射し、当該測定対象物からの光に基づいて前記測定対象物の吸光度を複数の波長において測定する光学測定装置用の光源装置であって、
   第１の光源と、第２の光源と、前記第１の光源及び前記第２の光源を駆動する光源制御部とを有し、
   前記第１の光源は、ハロゲンランプ又は白熱電球であり、かつ、照射範囲の一部が前記光学測定に利用される有効利用範囲となるものであり、
   前記第２の光源は、前記第１の光源のフィラメントに短波長帯の光を照射可能な半導体光源であり、
   前記光源制御部は、前記第１の光源を発熱発光駆動するとともに、前記光学測定装置が行う測定に必要な強度となるように前記第２の光源から前記短波長帯の光を出射するように、かつ、前記第２の光源の時間変動低減手段を有して前記第２の光源を駆動し、
   前記光源装置は、前記第１の光源からの光と、前記第２の光源からの光を前記フィラメントに照射することによって当該フィラメントの表面で拡散反射した光との合波光を前記測定対象物へ照射する
   ことを特徴とする光学測定装置用の光源装置。