JP2020161531A - Polishing dispersion liquid, polishing sheet, and manufacturing method thereof - Google Patents

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JP2020161531A JP2019056488A JP2019056488A JP2020161531A JP 2020161531 A JP2020161531 A JP 2020161531A JP 2019056488 A JP2019056488 A JP 2019056488A JP 2019056488 A JP2019056488 A JP 2019056488A JP 2020161531 A JP2020161531 A JP 2020161531A
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佐藤  誠
正明 田村
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Kyoichi Suguro
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Abstract

To provide a polishing dispersion liquid capable of maintaining a state for a long time in which diamond particles are dispersed in a state of primary particles.SOLUTION: A method for manufacturing a polishing dispersion liquid includes steps of: obtaining a mixture of diamond particles having a primary median diameter of 0.1 to 5.0 μm and a polymer having a basic functional group having an amine value of 1.0 to 50 mg KOH/g in an organic solvent; and irradiating the mixture with ultrasound. The dispersion liquid is obtained by the same.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、研磨用分散液及び研磨シート、並びにこれらの製造方法に関する。 The present invention relates to a dispersion liquid for polishing and a polishing sheet, and a method for producing these.

従来、金属、半導体、これらの酸化物等の材料表面に対して研磨シートを用いた精密研磨が行われている。例えば、半導体デバイスの構成要素として用いられるシリコンウェーハの表面は、ラッピング工程やポリシング工程を経て高品位の鏡面に仕上げられる。 Conventionally, precision polishing using a polishing sheet has been performed on the surface of materials such as metals, semiconductors, and oxides thereof. For example, the surface of a silicon wafer used as a component of a semiconductor device is finished into a high-quality mirror surface through a wrapping process and a polishing process.

研磨シートに用いる研磨剤としては、酸化クロム、酸化アルミ、炭化ケイ素等を使用したテープが知られている。このような研磨剤の硬度がモース硬度8.5〜9.5と硬いため、広く研磨シートに用いられてきた。 As an abrasive used for the polishing sheet, a tape using chromium oxide, aluminum oxide, silicon carbide or the like is known. Since the hardness of such an abrasive is as hard as the Mohs hardness of 8.5 to 9.5, it has been widely used for polishing sheets.

シリコンウェーハの表面の研磨においては、これらの研磨剤よりもモース硬度の高い研磨剤が必要とされているため、研磨剤としてダイヤモンド粒子を用いた研磨シートが用いられてきた。近年、半導体デバイスの高性能化及び高集積化に伴って、シリコンウェーハには品質の向上が求められている。 In polishing the surface of a silicon wafer, a polishing agent having a higher Mohs hardness than these polishing agents is required, and therefore, a polishing sheet using diamond particles has been used as the polishing agent. In recent years, with the improvement of high performance and high integration of semiconductor devices, improvement of quality of silicon wafers is required.

特許文献1には、研磨テープの製造方法として、結合剤とダイヤモンド粒子とを混合させた混合物に有機溶剤で希釈した後攪拌して研磨塗料を得ており、さらに超音波を利用して、研磨塗料中のダイヤモンド粒子の二次粒子を分解し、一次粒子の形態にして研磨塗料中に分散させる方法が開示されている。
しかしながら、当該方法では、十分に二次粒子を一次粒子に分解することはできず、かつ、一度一次粒子の状態にしても保存安定性が悪いために短期間のうちに再凝集してしまう問題がある。したがって、当該研磨塗料で作製した研磨テープは、ダイヤモンド粒子が再凝集した二次粒子を含有しているため、被研磨面に凹凸や傷が発生してしまい、十分な研磨性能が得られない欠点があった。
In Patent Document 1, as a method for producing a polishing tape, a polishing paint is obtained by diluting a mixture of a binder and diamond particles with an organic solvent and then stirring the mixture, and further polishing using ultrasonic waves. A method of decomposing secondary particles of diamond particles in a coating material into the form of primary particles and dispersing them in the polishing paint is disclosed.
However, with this method, the secondary particles cannot be sufficiently decomposed into primary particles, and even if they are once in the state of primary particles, they have poor storage stability and therefore reaggregate in a short period of time. There is. Therefore, since the polishing tape produced by the polishing paint contains secondary particles in which diamond particles are reaggregated, unevenness and scratches are generated on the surface to be polished, and sufficient polishing performance cannot be obtained. was there.

従って、ダイヤモンド粒子が一次粒子の状態で長期にわたり分散した状態を維持することの出来る研磨用分散液及び研磨性能に優れた研磨シートが求められてきた。 Therefore, there has been a demand for a polishing dispersion liquid capable of maintaining a state in which diamond particles are dispersed for a long period of time in the state of primary particles, and a polishing sheet having excellent polishing performance.

特開2006−142388号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-142388

本発明は、ダイヤモンド粒子が一次粒子の状態で長期にわたり分散した状態を維持することの出来る研磨用分散液を提供することを目的とする。さらに、研磨対象物の被研磨面に凹凸や傷を発生させずに研磨することができる研磨シートを提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a dispersion liquid for polishing capable of maintaining a state in which diamond particles are dispersed in the state of primary particles for a long period of time. Another object of the present invention is to provide a polishing sheet capable of polishing the surface to be polished of the object to be polished without causing unevenness or scratches.

第一の発明は、有機溶媒に、一次粒子のメディアン径が0.1〜5.0μmであるダイヤモンド粒子と、アミン価が1.0〜50mgKOH/gである塩基性官能基を有するポリマーと、を含有させて混合液を得る工程、前記混合液に超音波を照射させる工程、を含むことを特徴とする研磨用分散液の製造方法である。 The first invention comprises, in an organic solvent, diamond particles having a median diameter of 0.1 to 5.0 μm as primary particles, and a polymer having a basic functional group having an amine value of 1.0 to 50 mgKOH / g. This is a method for producing a dispersion liquid for polishing, which comprises a step of obtaining a mixed liquid by containing the mixture and a step of irradiating the mixed liquid with ultrasonic waves.

第二の発明は、前記塩基性官能基を有するポリマーの酸価が、1.0〜50mgKOH/gであることを特徴とする第一の発明に記載の研磨用分散液の製造方法である。 The second invention is the method for producing a dispersion for polishing according to the first invention, wherein the polymer having a basic functional group has an acid value of 1.0 to 50 mgKOH / g.

第三の発明は、有機溶媒と、一次粒子のメディアン径が0.1〜5.0μmであるダイヤモンド粒子と、アミン価が1.0〜50mgKOH/gである塩基性官能基を有するポリマーと、を少なくとも含有することを特徴とする研磨用分散液である。 The third invention comprises an organic solvent, diamond particles having a median diameter of 0.1 to 5.0 μm as primary particles, and a polymer having a basic functional group having an amine value of 1.0 to 50 mgKOH / g. It is a dispersion liquid for polishing characterized by containing at least.

第四の発明は、前記ダイヤモンド粒子のメディアン径の標準偏差が0.01〜5.0であることを特徴とする第三の発明に記載の研磨用分散液である。 The fourth invention is the dispersion liquid for polishing according to the third invention, wherein the standard deviation of the median diameter of the diamond particles is 0.01 to 5.0.

第五の発明は、前記塩基性官能基を有するポリマーの酸価が、1.0〜50mgKOH/gであることを特徴とする第三又は第四の発明に記載の研磨用分散液である。 The fifth invention is the polishing dispersion according to the third or fourth invention, wherein the polymer having a basic functional group has an acid value of 1.0 to 50 mgKOH / g.

第六の発明は、有機溶媒と、ダイヤモンド粒子と、アミン価が1.0〜50mgKOH/gである塩基性官能基を有するポリマーと、を少なくとも含有することを特徴とする研磨用分散液と、樹脂と、を混合させて研磨用樹脂組成物を得る工程と、可撓性基材上に研磨用樹脂組成物を塗布した後、研磨用樹脂組成物中の有機溶媒を除去して研磨層を形成させる工程と、を含むことを特徴とする研磨シートの製造方法である。 A sixth invention is a polishing dispersion containing at least an organic solvent, diamond particles, and a polymer having a basic functional group having an amine value of 1.0 to 50 mgKOH / g. A step of mixing a resin and a polishing resin composition to obtain a polishing resin composition, and after applying the polishing resin composition on a flexible base material, the organic solvent in the polishing resin composition is removed to form a polishing layer. A method for producing a polishing sheet, which comprises a step of forming the polishing sheet.

第七の発明は、前記ダイヤモンド粒子の一次粒子のメディアン径が、0.1〜5.0μmであることを特徴とする第六の発明に記載の研磨シートの製造方法である。 The seventh invention is the method for producing a polishing sheet according to the sixth invention, wherein the median diameter of the primary particles of the diamond particles is 0.1 to 5.0 μm.

第八の発明は、前記塩基性官能基を有するポリマーの酸価が、1.0〜50mgKOH/gであることを特徴とする第六又は第七の発明のいずれかに記載の研磨シートの製造方法である。 The eighth invention is the production of the polishing sheet according to any one of the sixth or seventh invention, wherein the polymer having a basic functional group has an acid value of 1.0 to 50 mgKOH / g. The method.

第九の発明は、可撓性基材上に研磨層を有する研磨シートにおいて、研磨層が、一次粒子のメディアン径が0.1〜5.0μmであるダイヤモンド粒子と、アミン価が1.0〜50mgKOH/gである塩基性官能基を有するポリマーと、樹脂と、を少なくとも含有することを特徴とする研磨シートである。 According to the ninth invention, in a polishing sheet having a polishing layer on a flexible base material, the polishing layer is diamond particles having a median diameter of 0.1 to 5.0 μm as primary particles and an amine value of 1.0. It is a polishing sheet characterized by containing at least a polymer having a basic functional group of about 50 mgKOH / g and a resin.

第十の発明は、前記塩基性官能基を有するポリマーの酸価が、1.0〜50mgKOH/gであることを特徴とする第九の発明に記載の研磨シートである。 The tenth invention is the polishing sheet according to the ninth invention, wherein the polymer having a basic functional group has an acid value of 1.0 to 50 mgKOH / g.

第十一の発明は、前記研磨層の表面の算術平均粗さが0.05〜3.0μmであることを特徴とする第九又は第十の発明に記載の研磨シートである。 The eleventh invention is the polishing sheet according to the ninth or tenth invention, wherein the arithmetic mean roughness of the surface of the polishing layer is 0.05 to 3.0 μm.

本発明の研磨用分散液の製造方法により得られた研磨用分散液は、ダイヤモンド粒子を長期間にわたって一次粒子の状態で分散した状態を維持することができる。さらに。当該研磨用分散液を用いることにより、研磨対象物の研磨面に凹凸や傷を発生させずに研磨することができる研磨シートを製造することができる。 The polishing dispersion obtained by the method for producing a polishing dispersion of the present invention can maintain a state in which diamond particles are dispersed in the state of primary particles for a long period of time. further. By using the polishing dispersion, it is possible to manufacture a polishing sheet capable of polishing without causing unevenness or scratches on the polished surface of the object to be polished.

本発明の実施例1の分散液をクライオSEM法により1万倍の倍率で撮影したSEM写真を示す図である。It is a figure which shows the SEM photograph which took the dispersion liquid of Example 1 of this invention by the cryo-SEM method at a magnification of 10,000 times. 本発明の比較例1の分散液をクライオSEM法により1万倍の倍率で撮影したSEM写真を示す図である。It is a figure which shows the SEM photograph which took the dispersion liquid of the comparative example 1 of this invention by the cryo-SEM method at a magnification of 10,000 times. 本発明の実施例8の研磨シートにおける研磨層の表面を3万倍の倍率で撮影したSEM写真を示す図である。It is a figure which shows the SEM photograph which took the surface of the polishing layer in the polishing sheet of Example 8 of this invention at a magnification of 30,000 times. 本発明の比較例7の研磨シートにおける研磨層の表面を3万倍の倍率で撮影したSEM写真を示す図である。It is a figure which shows the SEM photograph which took the surface of the polishing layer in the polishing sheet of the comparative example 7 of this invention at a magnification of 30,000 times.

まず、本発明の研磨用分散液の製造方法について説明する。 First, the method for producing the polishing dispersion of the present invention will be described.

<研磨用分散液の製造方法>
本発明の研磨用分散液の製造方法は、有機溶媒に、一次粒子のメディアン径0.1μmから5.0μmであるダイヤモンド粒子と、アミン価が1.0〜50mgKOH/gである塩基性官能基を有するポリマーと、を含有させて混合液を得る工程と、前記混合液に超音波を照射させる工程と、を含むことを特徴とする研磨用分散液の製造方法である。
<Manufacturing method of dispersion for polishing>
In the method for producing a dispersion for polishing of the present invention, diamond particles having a median diameter of 0.1 μm to 5.0 μm of primary particles and a basic functional group having an amine value of 1.0 to 50 mgKOH / g are used in an organic solvent. A method for producing a dispersion liquid for polishing, which comprises a step of obtaining a mixed liquid by containing a polymer having the above, and a step of irradiating the mixed liquid with ultrasonic waves.

本発明の研磨用分散液の製造方法により得られた研磨用分散液は、ダイヤモンド粒子を一次粒子の状態で、長期間にわたり分散した状態を維持することができる研磨用分散液である。 The polishing dispersion obtained by the method for producing a polishing dispersion of the present invention is a polishing dispersion capable of maintaining a state in which diamond particles are dispersed for a long period of time in the state of primary particles.

<ダイヤモンド粒子>
本発明に用いるダイヤモンド粒子は、単結晶のダイヤモンド粒子でも、多結晶のダイヤモンド粒子でもよい。本発明に用いるダイヤモンド粒子は、研磨速度の向上の観点から、単結晶のダイヤモンド粒子を用いることが好ましく挙げられる。
本発明に用いるダイヤモンド粒子の一次粒子のメディアン径は、0.1〜5.0μmの範囲にある単結晶又は多結晶のダイヤモンド粒子である。
<Diamond particles>
The diamond particles used in the present invention may be single crystal diamond particles or polycrystalline diamond particles. As the diamond particles used in the present invention, it is preferable to use single crystal diamond particles from the viewpoint of improving the polishing rate.
The median diameter of the primary particles of the diamond particles used in the present invention is a single crystal or polycrystalline diamond particle in the range of 0.1 to 5.0 μm.

本発明において、ダイヤモンド粒子の一次粒子のメディアン径は、レーザー回折散乱式粒子径分布測定装置で検知される分散したダイヤモンド粒子の積算%の分布曲線における体積%となる径(D50)をいう。 In the present invention, the median diameter of the primary particles of the diamond particles refers to the diameter (D50) which is the volume% in the distribution curve of the integrated% of the dispersed diamond particles detected by the laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device.

本発明の製造方法によれば、ダイヤモンド粒子の一次粒子の標準偏差は、特定の範囲に入ることを特徴としている。 According to the production method of the present invention, the standard deviation of the primary particles of diamond particles is characterized by falling within a specific range.

粒子径の標準偏差(STD.DEV.;Standard Deviation
)は、下記式で算出されるものである。
STD.DEV.=(d84%−d16%)/2
上記式中のd84%は、粉体の集団の全体積を100%として累積カーブを求めたとき
、その累積カーブが84%となるときの粒子径を表し、d16%は累積カーブが16%と
なるときの粒子径を表す。
Standard deviation of particle size (STD. DEV .; Standard Deviation)
) Is calculated by the following formula.
STD. DEV. = (D84% -d16%) / 2
In the above formula, d84% represents the particle diameter when the cumulative curve is 84% when the cumulative curve is calculated with the total volume of the powder population as 100%, and d16% is the cumulative curve of 16%. Represents the particle size when it becomes.

ダイヤモンド粒子の粒径の標準偏差は0.01〜5.0であり、好ましくは、0.01〜2.0であり、特に好ましくは0.01〜0.5である。ダイヤモンド粒子の粒径の標準偏差が、当該範囲に入ることで、優れた研磨性能の研磨シートを製造することができる。 The standard deviation of the grain size of the diamond particles is 0.01 to 5.0, preferably 0.01 to 2.0, and particularly preferably 0.01 to 0.5. When the standard deviation of the particle size of the diamond particles falls within this range, a polishing sheet having excellent polishing performance can be manufactured.

研磨用分散液には、ダイヤモンド粒子以外に、研磨剤としてアルミナ粒子及び/又はシリカ粒子を含有させて用いても良い。 In addition to diamond particles, the polishing dispersion may contain alumina particles and / or silica particles as an abrasive.

研磨用分散液中のダイヤモンド粒子の含有量は、20質量%以上が好ましく、25質量%以上がより好ましく、30質量%以上が特に好ましく挙げられる。このような高濃度の研磨用分散液を用いることで、ダイヤモンド粒子の緻密性の高い研磨シートを製造することが可能となる。 The content of diamond particles in the dispersion for polishing is preferably 20% by mass or more, more preferably 25% by mass or more, and particularly preferably 30% by mass or more. By using such a high-concentration polishing dispersion, it is possible to manufacture a polishing sheet having high density of diamond particles.

具体的には、ダイヤモンド粒子を20質量%含有する研磨用分散液では、温度40℃で一週間放置しても、ダイヤモンド粒子の凝集物はほとんど見られない特徴を有している。 Specifically, the polishing dispersion containing 20% by mass of diamond particles has a feature that almost no agglomerates of diamond particles are observed even when left at a temperature of 40 ° C. for one week.

<塩基性官能基を有するポリマー>
本発明に用いる塩基性官能基を有するポリマーのアミン価は、1.0mg〜50mgKOH/gであることが好ましく、5mg〜40mgKOH/gであることがさらに好ましく挙げられる。このような塩基性官能基を有するポリマーを用いることで、研磨用分散液中のダイヤモンド粒子が一次粒子の状態で、長期にわたり分散させることのできる研磨用分散液を得ることができる。
<Polymer with basic functional groups>
The amine value of the polymer having a basic functional group used in the present invention is preferably 1.0 mg to 50 mgKOH / g, and more preferably 5 mg to 40 mgKOH / g. By using a polymer having such a basic functional group, it is possible to obtain a polishing dispersion in which the diamond particles in the polishing dispersion are in the state of primary particles and can be dispersed for a long period of time.

また、前記塩基性官能基を有するポリマーは、酸性官能基を有していてもよい。 Moreover, the polymer having the basic functional group may have an acidic functional group.

塩基性官能基を有するポリマーとしては、塩基性官能基としては、第二級、第三級又は第四級のアミン等が挙げられる。また、酸性官能基としては、カルボン酸、サルフェート、ホスフェートが挙げられる。ポリマーとは、分子量が500を超え、一般的には1000を超えるものである。ポリマーとしては、炭化水素、ポリアクリル、ポリメタクリル、ポリウレタン、ポリエステル、ポリエーテル、ポリイミン、およびそれらのコポリマー等が挙げられる。 Examples of the polymer having a basic functional group include secondary, tertiary or quaternary amines as the basic functional group. Examples of the acidic functional group include carboxylic acid, sulfate and phosphate. A polymer has a molecular weight of more than 500, generally more than 1000. Examples of the polymer include hydrocarbons, polyacrylics, polymethacrylics, polyurethanes, polyesters, polyethers, polyimines, and copolymers thereof.

塩基性官能基を有するポリマー、塩基性官能基及び酸性官能基を有するポリマーの具体例としては、具体的には、「(メタ)アクリル酸エステル等の不飽和カルボン酸エステル」の(共)重合体類;「(メタ)アクリル酸等の不飽和カルボン酸の(共)重合体」の(部分)アミン塩、(部分)アンモニウム塩若しくはアルキルアミン塩類;「1級、2級若しくは3級アミノ基を有する(メタ)アクリル酸エステル等の不飽和カルボン酸エステル」の(共)重合体、当該(共)重合体のアミノ基の塩、当該(共)重合体のアミノ基の(部分)酸変性物;「水酸基含有(メタ)アクリル酸エステル等の水酸基含有不飽和カルボン酸エステル」の(共)重合体やそれらの変性物;ポリウレタン類;不飽和ポリアミド類;ポリシロキサン類;長鎖ポリアミノアミドリン酸塩類;ポリ(低級アルキレンイミン)と遊離カルボキシ基含有ポリエステルとの反応により得られるアミドやそれらの塩類;等を挙げることができる。 Specific examples of the polymer having a basic functional group, the polymer having a basic functional group and the acidic functional group include the (co) weight of "unsaturated carboxylic acid ester such as (meth) acrylic acid ester". Combined; (partial) amine salt, (partial) ammonium salt or alkylamine salt of "(co) polymer of unsaturated carboxylic acid such as (meth) acrylic acid"; "primary, secondary or tertiary amino group" (Co) polymer of "unsaturated carboxylic acid ester such as (meth) acrylic acid ester", salt of amino group of the (co) polymer, (partial) acid modification of the amino group of the (co) polymer (Co) polymers of "hydroxyl-containing unsaturated carboxylic acid esters such as hydroxyl group-containing (meth) acrylic acid esters" and their modified products; polyurethanes; unsaturated polyamides; polysiloxanes; long-chain polyaminoamide phosphorus Examples thereof include amides obtained by reacting poly (lower alkyleneimine) with a free carboxy group-containing polyester and salts thereof.

上記の塩基性官能基を有するポリマーの中でも、アクリル系ポリマーのアミン塩、ブロック共重合体のアミン塩、ポリエステル系ポリマーのアミン塩又はウレタン系ポリマーのアミン塩が好ましく用いられる。 Among the above-mentioned polymers having a basic functional group, an amine salt of an acrylic polymer, an amine salt of a block copolymer, an amine salt of a polyester polymer, or an amine salt of a urethane polymer is preferably used.

本願発明の製造方法では、酸性官能基及び塩基性官能基を有するポリマーを用いることが、ダイヤモンド粒子を長期にわたり分散させることができる点より、特に好ましく挙げられる。 In the production method of the present invention, it is particularly preferable to use a polymer having an acidic functional group and a basic functional group from the viewpoint that diamond particles can be dispersed for a long period of time.

塩基性官能基及び酸性官能基を有するポリマーの酸価は、1.0mgKOH/gから50mgKOH/gであることが好ましく、2.0mgKOH/gから30mgKOH/gであることがさらに好ましく挙げられる。
このような範囲であれば、ダイヤモンド粒子の分散安定性に特に優れる研磨用分散液を得ることができる。
The acid value of the polymer having a basic functional group and an acidic functional group is preferably 1.0 mgKOH / g to 50 mgKOH / g, and more preferably 2.0 mgKOH / g to 30 mgKOH / g.
Within such a range, a dispersion liquid for polishing having particularly excellent dispersion stability of diamond particles can be obtained.

研磨用分散液中における塩基性官能基を有するポリマーの含有量は、0.1〜10質量%であり、0.2〜8.0質量%が好ましく、0.5〜5.0質量%が特に好ましく挙げられる。このような範囲にすることで、ダイヤモンド粒子を一次粒子の状態で有機溶媒中に長期間に渡り分散させることが可能となる。 The content of the polymer having a basic functional group in the polishing dispersion is 0.1 to 10% by mass, preferably 0.2 to 8.0% by mass, and 0.5 to 5.0% by mass. Particularly preferred. Within such a range, diamond particles can be dispersed in an organic solvent in the state of primary particles for a long period of time.

塩基性官能基を有するポリマーを含有させることで、ダイヤモンド粒子の表面に吸着し、再凝集を抑制する作用がある。そのため、研磨用分散液中におけるダイヤモンド粒子は、再凝集によって二次粒子となり沈殿することのなく、一次粒子の状態で長期間に渡り分散状した態を維持することが可能となる。 By containing a polymer having a basic functional group, it has an action of adsorbing to the surface of diamond particles and suppressing reaggregation. Therefore, the diamond particles in the dispersion liquid for polishing become secondary particles due to reaggregation and do not precipitate, and can maintain a dispersed state for a long period of time in the state of primary particles.

<有機溶媒>
本発明に用いる有機溶媒は、研磨用分散液の分散媒としての役割を有する。
<Organic solvent>
The organic solvent used in the present invention has a role as a dispersion medium for the polishing dispersion.

有機溶媒としては、一価アルコール類(メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、ペンタノール、ヘキサノール、シクロブタノール、シクロペンタノール、シクロヘキサノール、ベンジルアルコール等)、多価アルコール類及びオキシアルコール化合物類(エチレングリコール、プロピレングリコール、グリセリン、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、メトキシプロピレングリコール、ジメトキシプロパノール等)、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン類、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、アミド系(N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−エチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−エチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド、ヘキサメチルホスホリックアミド等)、スルホラン系(スルホラン、3−メチルスルホラン、2,4−ジメチルスルホラン等)、鎖状スルホン系(ジメチルスルホン、エチルメチルスルホン、エチルイソプロピルスルホン)、環状アミド系(N−メチル−2−ピロリドン等)、カーボネイト類(エチレンカーボネイト、プロピレンカーボネイト、イソブチレンカーボネイト等)、ニトリル系(アセトニトリル等)、スルホキシド系(ジメチルスルホキシド等)、2−イミダゾリジノン系〔1,3−ジアルキル−2−イミダゾリジノン(1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、1,3−ジエチル−2−イミダゾリジノン、1,3−ジ(n−プロピル)−2−イミダゾリジノン等)、1,3,4−トリアルキル−2−イミダゾリジノン(1,3,4−トリメチル−2−イミダゾリジノン等)〕等が挙げられる。 Organic solvents include monovalent alcohols (methanol, ethanol, propanol, butanol, pentanol, hexanol, cyclobutanol, cyclopentanol, cyclohexanol, benzyl alcohol, etc.), polyhydric alcohols and oxyalcohol compounds (ethylene glycol). , Propyl glycol, glycerin, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, methoxypropylene glycol, dimethoxypropanol, etc.), acetone, ketones such as methyl ethyl ketone, γ-butyrolactone, γ-valerolactone, amide type (N-methylformamide, N, N- Dimethylformamide, N-ethylformamide, N, N-diethylformamide, N-methylacetamide, N, N-dimethylacetamide, N-ethylacetamide, N, N-diethylacetamide, hexamethylphosphoricamide, etc.), Sulforane-based ( Sulfone, 3-methylsulfone, 2,4-dimethylsulfone, etc.), chain sulfone (dimethylsulfone, ethylmethylsulfone, ethylisopropylsulfone), cyclic amide (N-methyl-2-pyrrolidone, etc.), carbonates (carbonates, etc.) Ethylene carbonate, propylene carbonate, isobutylene carbonate, etc.), nitrile type (acetamide, etc.), sulfoxide type (dimethyl sulfoxide, etc.), 2-imidazolidinone type [1,3-dialkyl-2-imidazolidinone (1,3-dimethyl, etc.) -2-Imidazolidinone, 1,3-diethyl-2-imidazolidinone, 1,3-di (n-propyl) -2-imidazolidinone, etc.), 1,3,4-trialkyl-2-imidazo) Ridinone (1,3,4-trimethyl-2-imidazolidinone, etc.)] and the like.

前記有機溶媒は、単独で用いても2種類以上混合して用いてもよい。ダイヤモンド粒子の分散性を向上させる目的や、用いる樹脂と研磨用分散液との混合のし易さより、2種類以上を混合させて用いることが好ましく挙げられる。 The organic solvent may be used alone or in combination of two or more. For the purpose of improving the dispersibility of the diamond particles and the ease of mixing the resin to be used and the dispersion liquid for polishing, it is preferable to use two or more kinds in a mixed manner.

<添加剤>
本発明の研磨用分散液には、ダイヤモンド粒子及び塩基性官能基を有するポリマー以外に、添加剤を含有させてもよい。添加剤としては、ポリエチレングリコール、ポリビニルアルコール、ジブチルリン酸又は亜リン酸のリン酸化合物、ホウ酸、マンニット、ホウ酸とマンニット、ソルビット等の錯化合物やホウ酸とエチレングリコール、グリセリン等の多価アルコールとの錯化合物等のホウ素化合物、o−ニトロ安息香酸、m−ニトロ安息香酸、p−ニトロ安息香酸、o−ニトロフェノール、m−ニトロフェノール、p−ニトロフェノール等のニトロ化合物が挙げられる。
<Additives>
The polishing dispersion of the present invention may contain additives in addition to diamond particles and a polymer having a basic functional group. Additives include polyethylene glycol, polyvinyl alcohol, phosphoric acid compounds of dibutyl phosphate or phobic acid, complex compounds such as boric acid, mannit, boric acid and mannit, sorbit, and boric acid and ethylene glycol, glycerin and the like. Examples thereof include boron compounds such as complex compounds with hydrating alcohols, and nitro compounds such as o-nitrobenzoic acid, m-nitrobenzoic acid, p-nitrobenzoic acid, o-nitrophenol, m-nitrophenol and p-nitrophenol. ..

研磨用分散液中における前記添加剤の含有量は、0.1〜5.0質量%が好ましく、0.1〜2.0質量%がより好ましい。0.1質量%未満では十分な分散安定性が得られない場合があり、5質量%を超えると凝集する可能性がある。 The content of the additive in the dispersion for polishing is preferably 0.1 to 5.0% by mass, more preferably 0.1 to 2.0% by mass. If it is less than 0.1% by mass, sufficient dispersion stability may not be obtained, and if it exceeds 5% by mass, it may aggregate.

<混合液に超音波を照射させる工程>
本発明の製造方法は、前記混合液に超音波を照射させる工程を含むことを特徴としている。前記混合液に超音波を照射させることで、ダイヤモンド粒子の一次粒子のメディアン径が0.1μmから5.0μmであるダイヤモンド粒子と、アミン価が0.1〜50mgKOH/gである塩基性官能基を有するポリマーと、を含有させて混合液に超音波を照射させることで、ダイヤモンド粒子の凝集体のファンデルワールス力を解除させるだけではなく、ダイヤモンド粒子同士を研磨させることで、ダイヤモンド粒子の形状が球形に近づき、大きさが均一なダイヤモンド粒子を得ることができる。
<Step of irradiating the mixed solution with ultrasonic waves>
The production method of the present invention is characterized by including a step of irradiating the mixed solution with ultrasonic waves. By irradiating the mixed solution with ultrasonic waves, diamond particles having a median diameter of 0.1 μm to 5.0 μm of the primary particles of the diamond particles and a basic functional group having an amine value of 0.1 to 50 mgKOH / g By irradiating the mixed solution with ultrasonic waves containing a polymer having a diamond particle, not only the van der Waals force of the aggregate of diamond particles is released, but also the diamond particles are polished to form the shape of the diamond particles. Is closer to a sphere, and diamond particles of uniform size can be obtained.

超音波を照射させる方法としては、超音波発振機やガラス器具洗浄用超音波浴等を用いて前記混合液に超音波を照射する方法が挙げられる。 Examples of the method of irradiating ultrasonic waves include a method of irradiating the mixed solution with ultrasonic waves using an ultrasonic oscillator, an ultrasonic bath for cleaning glassware, and the like.

超音波を混合液に照射させる時間は5分から10時間であることが好ましく、10分から5時間であることがより好ましく、15分から2時間であることが特に好ましく挙げられる。
5分未満では、ダイヤモンド粒子の凝集体のファンデルワールス力を十分に解除することができない可能性があり、10時間超では、ダイヤモンド粒子自体の研磨が進み、所望する粒径が得られない可能性がある。
The time for irradiating the mixed solution with ultrasonic waves is preferably 5 minutes to 10 hours, more preferably 10 minutes to 5 hours, and particularly preferably 15 minutes to 2 hours.
In less than 5 minutes, the van der Waals force of the agglomerates of diamond particles may not be sufficiently released, and in more than 10 hours, the diamond particles themselves may be polished and the desired particle size may not be obtained. There is sex.

本発明の製造方法により得られる研磨用分散液は、研磨用分散液自体を研磨用途として使用してもよく、研磨用分散液を用いて研磨シートを作製してもよい。
研磨用分散液自体を研磨用途として使用する方法としては、例えば、一般的な研磨装置に研磨対象物をセットし、研磨装置の研磨パッドを通じて研磨対象物の表面に研磨用分散液を供給する。研磨用分散液を連続的に供給しつつ、研磨対象物の表面に研磨パッドを押し付けて両者を相対的に回転移動させることで研磨対象物の研磨を行うことができる。
As the polishing dispersion obtained by the production method of the present invention, the polishing dispersion itself may be used for polishing, or a polishing sheet may be prepared using the polishing dispersion.
As a method of using the polishing dispersion itself for polishing, for example, a polishing object is set in a general polishing device, and the polishing dispersion is supplied to the surface of the polishing object through the polishing pad of the polishing device. The polishing object can be polished by continuously supplying the polishing dispersion liquid and pressing the polishing pad against the surface of the object to be polished and rotating both of them relatively.

<研磨シートの製造方法>
上述した研磨用分散液と、樹脂と、を混合させて研磨用樹脂組成物を得る工程と、可撓性基材上に研磨用樹脂組成物を塗布した後、研磨用樹脂組成物中の溶媒を除去して研磨層を形成させる工程と、を含むことを特徴とする研磨シートの製造方法である。
<Manufacturing method of polishing sheet>
The step of mixing the above-mentioned polishing dispersion and the resin to obtain a polishing resin composition, and after applying the polishing resin composition on a flexible substrate, the solvent in the polishing resin composition Is a method for producing a polishing sheet, which comprises a step of removing the above-mentioned material to form a polishing layer.

<樹脂>
本発明に用いる樹脂は、熱可塑性樹脂又は熱硬化性樹脂を用いることができる。
<Resin>
As the resin used in the present invention, a thermoplastic resin or a thermosetting resin can be used.

熱可塑性樹脂としては、通常成形材料として用いられる熱可塑性樹脂の中から任意に選ぶことができる。このようなこのとしては、特に限定されるわけではないが、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタレート、ポリカプロラクトン、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン樹脂、ポリスチレン、メタクリル樹脂、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリブチレンテレフタレート、ポリフェニレンサルファイド、ポリアセタール、変性ポリフェニレンエ−テル、ポリスルホン、液晶ポリマー、アクリロニトリル・スチレン樹脂及び各種の熱可塑性エラストマー等が挙げられる。
また、さらに好ましくは、化石資源使用量削減の観点から、植物由来の熱可塑性樹脂であることが好ましく挙げられる。具体的には、ポリ乳酸、エステル化澱粉、ポリヒドロキシアルカン酸、ポリトリメチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、コハク酸、イタコン酸や1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオールなどをモノマーとして合成されるポリエステル樹脂等が使用でき、1種を単独で用いても2種以上を併用してもよい。
The thermoplastic resin can be arbitrarily selected from the thermoplastic resins usually used as molding materials. Such, but not particularly limited, polyethylene, polypropylene, polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate, polycaprolactone, acrylonitrile-butadiene-styrene resin, polystyrene, methacrylic resin, polyamide, polycarbonate, polybutylene terephthalate, Examples thereof include polyphenylene sulfide, polyacetal, modified polyphenylene ether, polysulfone, liquid crystal polymer, acrylonitrile / styrene resin, and various thermoplastic elastomers.
Further, more preferably, a plant-derived thermoplastic resin is preferably mentioned from the viewpoint of reducing the amount of fossil resources used. Specifically, polylactic acid, esterified starch, polyhydroxyalkanoic acid, polytrimethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, succinic acid, itaconic acid, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol and the like are synthesized as monomers. The polyester resin or the like can be used, and one type may be used alone or two or more types may be used in combination.

熱硬化性樹脂とは、通常の成形材料として用いられる熱硬化性樹脂の中から任意に選ぶことができる。このようなものとしては、特に限定されるわけではないが、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、フラン樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、珪素樹脂などが挙げられる。 The thermosetting resin can be arbitrarily selected from the thermosetting resins used as ordinary molding materials. Examples of such a resin include, but are not limited to, epoxy resin, phenol resin, furan resin, urea resin, melamine resin, unsaturated polyester resin, and silicon resin.

前記エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールAグリシジルエーテル型エポキシ、ビスフェノールFグリシジルエーテル型エポキシ、ビスフェノールSグリシジルエーテル型エポキシ、ビスフェノールADグリシジルエーテル型エポキシ、フェノールノボラック型エポキシ、ビフェニル型エポキシ、クレゾールノボラック型エポキシが挙げられる。また、さらに天然由来物質から得られたエポキシ樹脂であることが環境負荷低減化の観点で好ましい。具体的には、エポキシ化大豆油、エポキシ化脂肪酸エステル類、エポキシ化アマニ油、ダイマー酸変性エポキシ樹脂等が挙げられる。 Examples of the epoxy resin include bisphenol A glycidyl ether type epoxy, bisphenol F glycidyl ether type epoxy, bisphenol S glycidyl ether type epoxy, bisphenol AD glycidyl ether type epoxy, phenol novolac type epoxy, biphenyl type epoxy, and cresol novolac type epoxy. Can be mentioned. Further, it is preferable that the epoxy resin is obtained from a naturally derived substance from the viewpoint of reducing the environmental load. Specific examples thereof include epoxidized soybean oil, epoxidized fatty acid esters, epoxidized linseed oil, and dimer acid-modified epoxy resin.

前記フェノール樹脂としては、例えば、フェノール、クレゾール等のフェノール類とホルムアルデヒド等を反応させノボラック型フェノール樹脂等を合成し、これにヘキサメチレンテトラミン等を配合し、硬化させるもの等が挙げられる。例えば、フェノール、クレゾール、レゾルシン、カテコール、ビスフェノールA、ビスフェノールF、フェニルフェノール、アミノフェノール等のフェノール類及び/又はα−ナフトール、β−ナフトール、ジヒドロキシナフタレン等のナフトール類とホルムアルデヒド、ベンズアルデヒド、サリチルアルデヒド等のアルデヒド基を有する化合物とを酸性触媒下で縮合又は共縮合させて得られるノボラック型フェノール樹脂、フェノール類及び/又はナフトール類とジメトキシパラキシレン又はビス(メトキシメチル)ビフェニルから合成されるフェノールアラルキル樹脂、ビフェニレン型フェノールアラルキル樹脂、ナフトールアラルキル樹脂等のアラルキル型フェノール樹脂、フェノール類及び/又はナフトール類とジシクロペンタジエンから共重合により合成される、ジシクロペンタジエン型フェノールノボラック樹脂、ジシクロペンタジエン型ナフトールノボラック樹脂等のジシクロペンタジエン型フェノール樹脂、トリフェニルメタン型フェノール樹脂、テルペン変性フェノール樹脂、パラキシリレン及び/又はメタキシリレン変性フェノール樹脂、メラミン変性フェノール樹脂、シクロペンタジエン変性フェノール樹脂、これら2種以上を共重合して得たフェノール樹脂等が挙げられる。これらを単独で用いても2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the phenolic resin include those obtained by reacting phenols such as phenol and cresol with formaldehyde and the like to synthesize a novolak type phenolic resin and the like, blending hexamethylenetetramine and the like with the compound, and curing the resin. For example, phenols such as phenol, cresol, resorcin, catechol, bisphenol A, bisphenol F, phenylphenol, aminophenol and / or naphthols such as α-naphthol, β-naphthol, dihydroxynaphthalene, formaldehyde, benzaldehyde, salicylaldehyde and the like. Phenolic aralkyl resin synthesized from dimethoxyparaxylene or bis (methoxymethyl) biphenyl with novolak-type phenolic resin, phenols and / or naphthols obtained by condensing or co-condensing with a compound having an aldehyde group of , Biphenylene-type phenol aralkyl resin, naphthol aralkyl resin and other aralkyl-type phenolic resins, phenols and / or naphthols and dicyclopentadiene synthesized by copolymerization, dicyclopentadiene-type phenol novolac resin, dicyclopentadiene-type naphthol novolac. Dicyclopentadiene-type phenolic resin such as resin, triphenylmethane-type phenolic resin, terpene-modified phenolic resin, paraxylylene and / or metaxylylene-modified phenolic resin, melamine-modified phenolic resin, cyclopentadien-modified phenolic resin, two or more of these are copolymerized. Examples thereof include the phenolic resin obtained. These may be used alone or in combination of two or more.

前記フラン樹脂としては、例えば、フルフラール樹脂、フルフラールフェノール樹脂、フルフラールケトン樹脂、フルフリルアルコール樹脂、フルフリルアルコールフェノール樹脂が挙げられる。前記ユリア樹脂としては、例えば尿素等とホルムアルデヒド等の重合反応物(脱水縮合反応物)が挙げられる。前記メラミン樹脂としては、例えばメラミン等とホルムアルデヒド等の重合反応物が挙げられる。 Examples of the furan resin include furfural resin, furfural phenol resin, furfural ketone resin, furfuryl alcohol resin, and furfuryl alcohol phenol resin. Examples of the urea resin include a polymerization reaction product (dehydration condensation reaction product) such as urea and formaldehyde. Examples of the melamine resin include polymerization reactants such as melamine and formaldehyde.

前記不飽和ポリエステル樹脂としては、不飽和多塩基酸等と多価アルコール等より得られる不飽和ポリエステルを、これと重合する単量体に溶解し硬化する樹脂等が挙げられる。例えば、不飽和多塩基酸としては、フタル酸、イソフタル酸、テトラヒドロフタル酸、へキサヒドロフタル酸、マレイン酸、コハク酸、イタコン酸、シトラコン酸等が挙げられ、多価アルコールとしては、ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、ポリエチレン・ポリプロピレングリコール、トリメチロールプロパン、ジエチレングリコール、1,4−ブタンジオール、1,6−ヘキサングリコール等が挙げられる。 Examples of the unsaturated polyester resin include a resin obtained by dissolving an unsaturated polyester obtained from an unsaturated polybasic acid or the like and a polyhydric alcohol or the like in a monomer polymerizing the unsaturated polyester resin and curing the unsaturated polyester resin. For example, unsaturated polybasic acids include phthalic acid, isophthalic acid, tetrahydrophthalic acid, hexahydrophthalic acid, maleic acid, succinic acid, itaconic acid, citraconic acid and the like, and polyhydric alcohols include polyethylene glycol. , Polypropylene glycol, polyethylene / polypropylene glycol, trimethylolpropane, diethylene glycol, 1,4-butanediol, 1,6-hexaneglycol and the like.

前記珪素樹脂としては、オルガノポリシロキサン類を主骨格とするものが挙げられる。 Examples of the silicon resin include those having an organopolysiloxane as a main skeleton.

これらの樹脂は、ダイヤモンド粒子100質量部に対する使用する量は、10〜200質量部が好ましく挙げられ、20〜100質量部がより好ましく挙げられる。 The amount of these resins to be used with respect to 100 parts by mass of diamond particles is preferably 10 to 200 parts by mass, and more preferably 20 to 100 parts by mass.

<研磨用分散液と樹脂とを混合させて研磨用樹脂組成物を得る方法>
研磨用分散液と樹脂とを混合させて研磨用樹脂組成物を得る方法としては、研磨用分散液と樹脂とを直接混合させて研磨用樹脂組成物を作製してもよく、あらかじめ樹脂と有機溶媒を混合させた後に、研磨用分散液と混合させて研磨用樹脂組成物を作製してもよい。
<Method of mixing a polishing dispersion and a resin to obtain a polishing resin composition>
As a method of obtaining a polishing resin composition by mixing the polishing dispersion liquid and the resin, the polishing dispersion liquid and the resin may be directly mixed to prepare the polishing resin composition, and the resin and the organic may be prepared in advance. After mixing the solvent, it may be mixed with the polishing dispersion to prepare a polishing resin composition.

製造する研磨用樹脂組成物の粘度は、室温において0.1cp〜500cpが好ましく、0.5cp〜200cpがより好ましく、1.0cpから100cpが特に好ましく挙げられる。このような範囲の粘度を有する研磨用樹脂組成物を用いることで、所望の厚さの研磨層を有する研磨シートを作製することができる。 The viscosity of the polishing resin composition to be produced is preferably 0.1 cp to 500 cp, more preferably 0.5 cp to 200 cp, and particularly preferably 1.0 cp to 100 cp at room temperature. By using a polishing resin composition having a viscosity in such a range, a polishing sheet having a polishing layer having a desired thickness can be produced.

<可撓性基材>
研磨シートを研磨対象物の研磨対象面へ押し付けて使用する際の研磨対象面への追従性及び適度な引っ張り強度といった性能が求められている。研磨シートの形状としては、テープ状やディスク状が好ましく挙げられる。
<Flexible base material>
When the polishing sheet is pressed against the surface to be polished and used, performance such as followability to the surface to be polished and appropriate tensile strength is required. As the shape of the polishing sheet, a tape shape or a disc shape is preferable.

このような性能を満たすためには、可撓性基材の厚さを厚さ5μmから100μmにすることが好ましく挙げられ、10μmから90μmにすることがさらに好ましく挙げられ、20μmから80μmにすることが特に好ましく挙げられる。引っ張り強度に耐えることができ、追従性に優れるという観点から、可撓性基材の厚さを当該範囲とすることが好ましい。 In order to satisfy such performance, the thickness of the flexible base material is preferably 5 μm to 100 μm, more preferably 10 μm to 90 μm, and 20 μm to 80 μm. Is particularly preferable. From the viewpoint of being able to withstand tensile strength and being excellent in followability, it is preferable that the thickness of the flexible base material is within this range.

可撓性基材としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル樹脂、トリアセチルセルロース、メチルメタクリレート系共重合物等のアクリル樹脂、スチレン樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリカーボネート樹脂、塩化ビニル樹脂やポリメタクリルイミド樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂等が挙げられる。 Examples of the flexible base material include polyester resins such as polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate, acrylic resins such as triacetyl cellulose and methyl methacrylate-based copolymers, styrene resins, polysulfone resins, polyether sulfone resins, and polycarbonate resins. Examples thereof include vinyl chloride resin, polymethacrylicimide resin, polyphenylene sulfide resin, polyamide resin, polyimide resin, polyether ether ketone resin and the like.

可撓性基材上に研磨層を形成させる方法としては、エアードクターコート、ブレードコート、エアーナイフコート、スクイズコート、含浸コート、リバースロールコート、トランスファーロールコート、グラビアコート、キスコート、スプレーコート、バーコート、スピンコート等により、可撓性基材上に研磨用樹脂組成物をコートした後に、研磨用樹脂組成物中の有機溶媒を除去して乾燥させることで、可撓性基材上に研磨層を形成させることができる。
これらの中でも特に簡単に均一な厚さの層を形成させることが出来る点より、バーコート法が好ましく挙げられる。
As a method of forming a polishing layer on a flexible substrate, an air doctor coat, a blade coat, an air knife coat, a squeeze coat, an impregnation coat, a reverse roll coat, a transfer roll coat, a gravure coat, a kiss coat, a spray coat, and a bar. After coating the polishing resin composition on the flexible base material with a coat, spin coat, etc., the organic solvent in the polishing resin composition is removed and dried to polish the flexible base material. Layers can be formed.
Among these, the bar coating method is preferable because it is possible to easily form a layer having a uniform thickness.

可撓性基材には、研磨層との密着性を向上させるため、可撓性基体と研磨層との間にプライマー層を設けてもよい。プライマー層に用いる樹脂としては、COOM、SOM、OSOM、P=O(OM)、O−P=O(OM)(Mは水素原子、アルカリ金属塩基又はアミン塩)等の官能基を1つ又は2つ以上有するポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂又はポリ(メタ)アクリル樹脂等が好ましく挙げられる。 The flexible substrate may be provided with a primer layer between the flexible substrate and the polishing layer in order to improve the adhesion to the polishing layer. Examples of the resin used for the primer layer include COOM, SO 3 M, OSO 3 M, P = O (OM) 3 , OP = O (OM) 2 (M is a hydrogen atom, an alkali metal base or an amine salt). Polyurethane resin, polyester resin, poly (meth) acrylic resin and the like having one or more functional groups are preferably mentioned.

<研磨シート>
本発明の研磨シートは、可撓性基材の表面にダイヤモンド粒子を含有する研磨層から構成されている。
本発明の研磨シートは、ダイヤモンド粒子が一次粒子の状態で均一に分散している特長を有している。そのため、本発明の研磨シートを用いて研磨対象物を研磨することで、研磨対象物に凹凸や傷を生じさせなくすることが可能となる。従って、本発明の研磨シートは磁気ディスク、精密機器、精密部品及びプリント基板の仕上げ加工等に用いる研磨テープとして好適に用いることができ、特にシリコンウェーハの端面仕上げ工程の研磨用として好適に用いることができる。
<Polishing sheet>
The polishing sheet of the present invention is composed of a polishing layer containing diamond particles on the surface of a flexible base material.
The polishing sheet of the present invention has a feature that diamond particles are uniformly dispersed in the state of primary particles. Therefore, by polishing the object to be polished using the polishing sheet of the present invention, it is possible to prevent the object to be polished from having irregularities or scratches. Therefore, the polishing sheet of the present invention can be suitably used as a polishing tape used for finishing of magnetic disks, precision instruments, precision parts, printed circuit boards, etc., and particularly preferably used for polishing the end face finishing process of a silicon wafer. Can be done.

本発明の研磨シートは、研磨シートの表面の算術平均粗さが0.05〜3.0μmであることが好ましく、0.05〜1.0μmであることがさらに好ましく挙げられる。
このような範囲にすることで、短時間で対象物を平滑に研磨することができる。
In the polishing sheet of the present invention, the arithmetic mean roughness of the surface of the polishing sheet is preferably 0.05 to 3.0 μm, and more preferably 0.05 to 1.0 μm.
By setting the range to such a range, the object can be smoothly polished in a short time.

研磨シートの表面の算術平均粗さはレーザー式、触針式などの一般的な表面粗さ計により測定する。 The arithmetic mean roughness of the surface of the polishing sheet is measured by a general surface roughness meter such as a laser type or a stylus type.

以下、本発明を実施例に基づき説明する。なお、本発明は、実施例等により、なんら限定されるものではない。実施例中の「部」は「質量部」、「%」は「質量%」を表す。 Hereinafter, the present invention will be described based on examples. The present invention is not limited to the examples and the like. In the examples, "part" represents "part by mass" and "%" represents "% by mass".

(実施例1)
メチルエチルケトン300部に分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)15部を加え、25℃にて10分間攪拌混合し、分散剤を均一に溶解させた溶液を得た。得られた溶液に、ダイヤモンド粒子(1/4、テクノライズ株式会社製、一次粒子メディアン径0.22〜0.28μm)135部を加え、超音波洗浄器SU−2TH(柴田科学株式会社製)を用いて超音波を30分間照射し、ダイヤモンド粒子を分散させた分散液450部を得た。得られた分散液を0.5μmのメンブレンフィルターを通して、不純物や異物、残存凝集粒子を除去し、研磨用分散液1を得た。なお、研磨用分散液1中におけるダイヤモンド粒子の含有量は30質量%である。
(Example 1)
Add 15 parts of a dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g) to 300 parts of methyl ethyl ketone, and stir and mix at 25 ° C. for 10 minutes to make the dispersant uniform. A solution dissolved in was obtained. To the obtained solution, 135 parts of diamond particles (1/4, manufactured by Technorise Co., Ltd., primary particle median diameter 0.22 to 0.28 μm) were added, and an ultrasonic cleaner SU-2TH (manufactured by Shibata Scientific Technology Co., Ltd.) was added. Was irradiated with ultrasonic waves for 30 minutes to obtain 450 parts of a dispersion liquid in which diamond particles were dispersed. Impurities, foreign substances, and residual agglomerated particles were removed from the obtained dispersion through a 0.5 μm membrane filter to obtain a polishing dispersion 1. The content of diamond particles in the polishing dispersion 1 is 30% by mass.

[研磨用分散液中のダイヤモンド粒子のメディアン径及び標準偏差の測定]
研磨用分散液1中ダイヤモンド粒子のメディアン径は、Microtrac Nanotrac150(日機装株式会社製、粒度分布測定器)を用いて下記条件により測定した。ダイヤモンド粒子のメディアン径と標準偏差を表1に示す。
[Measurement of median diameter and standard deviation of diamond particles in polishing dispersion]
The median diameter of the diamond particles in the dispersion liquid 1 for polishing was measured using a Microtrac Nanotrac 150 (manufactured by Nikkiso Co., Ltd., particle size distribution measuring instrument) under the following conditions. Table 1 shows the median diameter and standard deviation of diamond particles.

<測定条件>
測定時間:180秒
溶媒:メチルエチルケトン(屈折率(20℃)1.378)
粒子屈折率:ダイヤモンド(屈折率 2.42)
粒子密度:3.5 g/cc
透過性:透過
形状:非球状
<Measurement conditions>
Measurement time: 180 seconds Solvent: Methyl ethyl ketone (refractive index (20 ° C.) 1.378)
Particle refractive index: diamond (refractive index 2.42)
Particle density: 3.5 g / cc
Transparency: Transmissive shape: Non-spherical

[研磨用分散液の分散安定性の評価]
製造した研磨用分散液1を50部、40℃の温度環境下で1週間保存した後、メディアン径を測定した後、1.0μmのメンブレンフィルターを用いて凝集物を得た。この凝集物の質量を測定し、分散安定性を評価した。分散安定性の評価結果を表1に示す。
[Evaluation of dispersion stability of polishing dispersion]
50 parts of the produced dispersion for polishing 1 was stored in a temperature environment of 40 ° C. for 1 week, the median diameter was measured, and then agglomerates were obtained using a 1.0 μm membrane filter. The mass of this agglomerate was measured and the dispersion stability was evaluated. Table 1 shows the evaluation results of dispersion stability.

(実施例2)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(DISPERBYK−2012、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価7mgKOH/g、酸価7mgKOH/g」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液2を作製し、研磨用分散液2の分散安定性を評価した。
(Example 2)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was referred to as "dispersant (DISPERBYK-2012, BIC Chemie Japan Co., Ltd.)". A polishing dispersion 2 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amine value was 7 mgKOH / g and the acid value was 7 mgKOH / g, and the dispersion stability of the polishing dispersion 2 was evaluated.

(実施例3)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(DISPERBYK−2001、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価29mgKOH/g、酸価19mgKOH/g」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液3を作製し、研磨用分散液3の分散安定性を評価した。
(Example 3)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was replaced with "dispersant (DISPERBYK-2001, BIC Chemie Japan Co., Ltd.). A polishing dispersion 3 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amine value was 29 mgKOH / g and the acid value was 19 mgKOH / g, and the dispersion stability of the polishing dispersion 3 was evaluated.

(実施例4)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(DISPERBYK−2025、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価37mgKOH/g、酸価38mgKOH/g」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液4を作製し、研磨用分散液4の分散安定性を評価した。
(Example 4)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was replaced with "dispersant (DISPERBYK-2025, BIC Chemie Japan Co., Ltd.). A polishing dispersion 4 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amine value was 37 mgKOH / g and the acid value was 38 mgKOH / g, and the dispersion stability of the polishing dispersion 4 was evaluated.

(実施例5)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(DISPERBYK−142、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価43mgKOH/g、酸価46mgKOH/g」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液5を作製し、研磨用分散液5の分散安定性を評価した。
(Example 5)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was referred to as "dispersant (DISPERBYK-142, Big Chemie Japan Co., Ltd.). A polishing dispersion 5 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amine value was 43 mgKOH / g and the acid value was 46 mgKOH / g, and the dispersion stability of the polishing dispersion 5 was evaluated.

(実施例6)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(DISPERBYK−162、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価13mgKOH/g)」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液6を作製し、研磨用分散液6の分散安定性を評価した。
(Example 6)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was replaced with "dispersant (DISPERBYK-162, BIC Chemie Japan Co., Ltd.). The polishing dispersion 6 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amine value was 13 mgKOH / g), and the dispersion stability of the polishing dispersion 6 was evaluated.

(実施例7)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(BYK−9077、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価48mgKOH/g)」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液7を作製し、研磨用分散液7の分散安定性を評価した。
(Example 7)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was referred to as "dispersant (BYK-9077, BIC Chemie Japan Co., Ltd.)". , Amine value 48 mgKOH / g) ”was prepared in the same manner as in Example 1, and the dispersion stability of the polishing dispersion 7 was evaluated.

(比較例1)
実施例1において、超音波洗浄器SU−2TH(柴田科学株式会社製)を用いて超音波を30分間照射しなかった以外は、実施例1と同様にして研磨用分散液8を作製し、研磨用分散液8の分散安定性を評価した。
(Comparative Example 1)
In Example 1, a dispersion liquid 8 for polishing was prepared in the same manner as in Example 1 except that ultrasonic cleaner SU-2TH (manufactured by Shibata Scientific Technology Co., Ltd.) was not used to irradiate ultrasonic waves for 30 minutes. The dispersion stability of the polishing dispersion 8 was evaluated.

(比較例2)
実施例1において、超音波洗浄器SU−2TH(柴田科学株式会社製)を用いて超音波を30分間照射せず、ビーズミルによりダイヤモンド粒子を30分間分散させた以外は、実施例1と同様にして研磨用分散液9を作製し、研磨用分散液9の分散安定性を評価した。
(Comparative Example 2)
In Example 1, the same as in Example 1 except that the ultrasonic cleaner SU-2TH (manufactured by Sibata Scientific Technology Co., Ltd.) was not irradiated with ultrasonic waves for 30 minutes and the diamond particles were dispersed for 30 minutes by a bead mill. A polishing dispersion 9 was prepared, and the dispersion stability of the polishing dispersion 9 was evaluated.

(比較例3)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(DISPERBYK−174、ビック・ケミージャパン株式会社製、酸価22mgKOH/g)」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液10を作製し、研磨用分散液10の分散安定性を評価した。
(Comparative Example 3)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was replaced with "dispersant (DISPERBYK-174, BIC Chemie Japan Co., Ltd.). The polishing dispersion 10 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the acid value was 22 mgKOH / g), and the dispersion stability of the polishing dispersion 10 was evaluated.

(比較例4)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(DISPERBYK−108、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価71mgKOH/g」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液11を作製し、研磨用分散液11の分散安定性を評価した。
(Comparative Example 4)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was referred to as "dispersant (DISPERBYK-108, BIC Chemie Japan Co., Ltd.)". The polishing dispersion 11 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amine value was 71 mgKOH / g, and the dispersion stability of the polishing dispersion 11 was evaluated.

(比較例5)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(DISPERBYK−140、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価76mgKOH/g、酸価73mgKOH/g」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液12を作製し、研磨用分散液12の分散安定性を評価した。
(Comparative Example 5)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was referred to as "dispersant (DISPERBYK-140, BIC Chemie Japan Co., Ltd.). A polishing dispersion 12 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amine value was 76 mgKOH / g and the acid value was 73 mgKOH / g, and the dispersion stability of the polishing dispersion 12 was evaluated.

(比較例6)
実施例1において、「分散剤(DISPERBYK−2013、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価18mgKOH/g、酸価8mgKOH/g)」を、「分散剤(DISPERBYK−2150、ビック・ケミージャパン株式会社製、アミン価57mgKOH/g」に代えた以外は実施例1と同様にして研磨用分散液13を作製し、研磨用分散液13の分散安定性を評価した。
(Comparative Example 6)
In Example 1, "dispersant (DISPERBYK-2013, manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., amine value 18 mgKOH / g, acid value 8 mgKOH / g)" was replaced with "dispersant (DISPERBYK-2150, BIC Chemie Japan Co., Ltd.). A polishing dispersion 13 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the amine value was 57 mgKOH / g, and the dispersion stability of the polishing dispersion 13 was evaluated.

Figure 2020161531
Figure 2020161531

表1中、超音波を照射した研磨用分散液には○、超音波を照射していない研磨用分散液は×とした。 In Table 1, the polishing dispersion liquid irradiated with ultrasonic waves was marked with ◯, and the polishing dispersion liquid not irradiated with ultrasonic waves was marked with x.

表1をみてわかるように、実施例1〜7において塩基性官能基を有するポリマーのアミン価が50mgKOH/g以下の場合は研磨用分散液製造後、ダイヤモンド粒子の一次粒子径と同等のメディアン径が得られる。さらに塩基性官能基を有するポリマーの酸価が50mgKOH/g以下の場合は研磨用分散液製造後、メディアン径がより小さく得られる。
また、40℃の温度環境下で1週間保存した研磨用分散液中には、ダイヤモンド粒子の凝集体は少ないため、保存安定性に優れていることがわかる。
比較例1〜6において超音波を照射せずに分散液を製造した場合、ダイヤモンド粒子の分散が十分に進行せず、製造時の濾過で多くの粒子が濾別され、ダイヤモンド粒子の一次粒子径と比較してメディアン径も大きく、保存安定性も劣ることが確認できた。また、酸価のみを有するポリマーや塩基性官能基を有するポリマーのアミン価及び酸価が50mgKOH/g以上で含む場合も同様にメディアン径が大きく、保存安定性が悪いことが確認された。
これより、実施例1〜7の研磨分散液は、良好な粒度分布と保存安定性を有していることが確認された。
As can be seen from Table 1, when the amine value of the polymer having a basic functional group is 50 mgKOH / g or less in Examples 1 to 7, the median diameter is equivalent to the primary particle diameter of the diamond particles after the polishing dispersion is produced. Is obtained. Further, when the acid value of the polymer having a basic functional group is 50 mgKOH / g or less, a smaller median diameter can be obtained after the dispersion liquid for polishing is produced.
Further, it can be seen that the polishing dispersion, which has been stored in a temperature environment of 40 ° C. for one week, has excellent storage stability because there are few aggregates of diamond particles.
When the dispersion was produced without irradiating ultrasonic waves in Comparative Examples 1 to 6, the dispersion of diamond particles did not proceed sufficiently, and many particles were filtered by filtration during production, and the primary particle diameter of the diamond particles. It was confirmed that the median diameter was larger and the storage stability was inferior. Further, it was also confirmed that when the amine value and the acid value of the polymer having only an acid value or the polymer having a basic functional group were contained at 50 mgKOH / g or more, the median diameter was also large and the storage stability was poor.
From this, it was confirmed that the polishing dispersions of Examples 1 to 7 had a good particle size distribution and storage stability.

[SEMによる分散液の表面観察]
実施例1〜7、比較例1〜6の分散液のSEM写真(倍率:1万倍)を日本電子株式会社製のMP−Z08181Tを用いてクライオSEM法により撮影した。実施例1〜7の分散液では単一粒子が非常に多く観察され合格であった。一方、比較例1〜6の分散液では粒子が会合している様子であり不合格であった。
[Surface observation of dispersion by SEM]
SEM photographs (magnification: 10,000 times) of the dispersions of Examples 1 to 7 and Comparative Examples 1 to 6 were taken by the cryo-SEM method using MP-Z08181T manufactured by JEOL Ltd. In the dispersions of Examples 1 to 7, a large number of single particles were observed and passed. On the other hand, in the dispersions of Comparative Examples 1 to 6, the particles seemed to be associated and were rejected.

ここで、実施例1及び比較例1の分散液については、撮影したSEM写真を図1及び図2に示した。 Here, with respect to the dispersions of Example 1 and Comparative Example 1, the SEM photographs taken are shown in FIGS. 1 and 2.

(実施例8)
シクロヘキサノン100部にポリエステル樹脂(エリーテルUE−9200、ユニチカ株式会社製)43部を加え、25℃にて1時間以上攪拌混合し、樹脂を均一に溶解させた溶液を得た。得た溶液143部に製造した研磨用分散液1を415部混合し、ポリエステルフィルム(厚さ50μm)にバーコーターを用いて均一に塗布し、送風乾燥機に入れ、温度100℃で1分間乾燥させ、乾燥後、研磨層の膜厚が3μmの研磨シートを得た。
(Example 8)
Forty-three parts of a polyester resin (Elitel UE-9200, manufactured by Unitika Ltd.) was added to 100 parts of cyclohexanone, and the mixture was stirred and mixed at 25 ° C. for 1 hour or more to obtain a solution in which the resin was uniformly dissolved. 415 parts of the produced polishing dispersion 1 is mixed with 143 parts of the obtained solution, uniformly applied to a polyester film (thickness 50 μm) using a bar coater, placed in a blower dryer, and dried at a temperature of 100 ° C. for 1 minute. After drying, a polishing sheet having a polishing layer thickness of 3 μm was obtained.

<研磨シートの評価方法>
作製した研磨シートを用いて、予め粗研磨を施してある半導体デバイス用の4インチシリコン基板の表面を回転させながら研磨し、平均表面粗さ(Ra)の測定と外観の観察を実施した。
シリコン基板の平均表面粗さ(Ra)は、触針式表面形状測定器(Dektak6M、アルバック株式会社製)を用いて下記条件により測定した。
<Evaluation method of polishing sheet>
Using the prepared polishing sheet, the surface of a 4-inch silicon substrate for a semiconductor device that had been roughly polished in advance was polished while rotating, and the average surface roughness (Ra) was measured and the appearance was observed.
The average surface roughness (Ra) of the silicon substrate was measured using a stylus type surface shape measuring instrument (Dektake 6M, manufactured by ULVAC, Inc.) under the following conditions.

<測定条件>
触針半径:12.5μm
測定距離:1000μm
測定時間:20秒
触針圧 :5mg
測定範囲:6.5μm
<Measurement conditions>
Touch radius: 12.5 μm
Measurement distance: 1000 μm
Measurement time: 20 seconds Stylus pressure: 5 mg
Measuring range: 6.5 μm

<研磨条件>
研磨前のシリコン基板の平均表面粗さ(Ra):31.6nm
シリコン基板回転数:500回転
テープ押付圧力:1kg/cm
<Polishing conditions>
Average Surface Roughness (Ra) of Silicon Substrate Before Polishing: 31.6 nm
Silicon substrate rotation speed: 500 rotations Tape pressing pressure: 1 kg / cm 2

<変化率>
変化率は以下の式により計算した。
変化率=[(研磨後の平均表面粗さ)−(研磨前の平均表面粗さ)]/(研磨前の平均表面粗さ)
<Rate of change>
The rate of change was calculated by the following formula.
Rate of change = [(Average surface roughness after polishing)-(Average surface roughness before polishing)] / (Average surface roughness before polishing)

(実施例9から実施例14及び比較例7から比較例12)
実施例9から実施例14及び比較例7から比較例12はそれぞれ実施例1中の研磨用分散液1の代わりに研磨用分散液2から研磨用分散液13を用いた以外は、実施例1と同様に研磨シートを作製して評価した。評価結果を表2に示す。
(Examples 9 to 14 and Comparative Examples 7 to 12)
Example 1 to Example 1 to Example 14 and Comparative Example 7 to 12 respectively, except that the polishing dispersion 2 to the polishing dispersion 13 were used instead of the polishing dispersion 1 in Example 1, respectively. A polishing sheet was prepared and evaluated in the same manner as in the above. The evaluation results are shown in Table 2.

Figure 2020161531
Figure 2020161531

表2をみてわかるように、実施例8〜14の研磨シートはダイヤモンド粒子のメディアン径が小さく、凝集しにくいため、研磨試験後、研磨前のシリコン基板の表面粗さが低下(良好化)していることが確認された。
一方で、比較例7〜12の研磨シートはダイヤモンド粒子のメディアン径が大きく、凝集し易いため、研磨試験後、研磨前のシリコン基板の表面粗さが増加(悪化)しており、精密研磨が進んでいないことが確認された。
本発明に係わる実施例8〜14の研磨シートは、良好な研磨性能を有し、凝集粒子による凹凸や不良傷の発生がないことが確認された。
As can be seen from Table 2, since the polishing sheets of Examples 8 to 14 have a small median diameter of diamond particles and are difficult to aggregate, the surface roughness of the silicon substrate after the polishing test and before polishing is reduced (improved). It was confirmed that
On the other hand, since the polishing sheets of Comparative Examples 7 to 12 have a large median diameter of diamond particles and are easily aggregated, the surface roughness of the silicon substrate before polishing after the polishing test increases (deteriorates), and precision polishing can be performed. It was confirmed that it was not progressing.
It was confirmed that the polishing sheets of Examples 8 to 14 according to the present invention had good polishing performance and did not cause unevenness or defective scratches due to agglomerated particles.

<SEMによる研磨シートの表面観察>
実施例8〜14、比較例7〜12の研磨シートにおける研磨層表面のSEM写真(倍率:3万倍)をFE−SEM(電界放射型走査電子顕微鏡、Carl Zeiss製 ULTRA55)により撮影した。実施例8〜14の研磨シートでは粒子が密に分布しており合格であった。一方、比較例7〜12の研磨シートでは粒子が疎に分布しており不合格であった。
<Surface observation of polishing sheet by SEM>
SEM photographs (magnification: 30,000 times) of the surface of the polishing layer in the polishing sheets of Examples 8 to 14 and Comparative Examples 7 to 12 were taken by FE-SEM (field emission scanning electron microscope, ULTRA55 manufactured by Carl Zeiss). In the polishing sheets of Examples 8 to 14, the particles were densely distributed and passed. On the other hand, in the polishing sheets of Comparative Examples 7 to 12, the particles were sparsely distributed and failed.

ここで、実施例8及び比較例7の研磨シートについては、撮影した研磨層表面のSEM写真を図3及び図4に示した。 Here, with respect to the polishing sheets of Example 8 and Comparative Example 7, SEM photographs of the surface of the polishing layer taken are shown in FIGS. 3 and 4.

本発明により得られる研磨用分散液及び研磨シートは、磁気ディスク、精密機器、精密部品及びプリント基板の仕上げ加工等に好適に用いることができる。 The polishing dispersion and polishing sheet obtained by the present invention can be suitably used for finishing of magnetic disks, precision instruments, precision parts, printed circuit boards, and the like.

Claims (5)

有機溶媒に、一次粒子のメディアン径が0.1〜5.0μmであるダイヤモンド粒子と、アミン価が1.0〜50mgKOH/gである塩基性官能基を有するポリマーと、を含有させて混合液を得る工程、
前記混合液に超音波を照射させる工程、
を含むことを特徴とする研磨用分散液の製造方法。
A mixed solution containing diamond particles having a median diameter of 0.1 to 5.0 μm as primary particles and a polymer having a basic functional group having an amine value of 1.0 to 50 mgKOH / g in an organic solvent. The process of getting
The step of irradiating the mixed solution with ultrasonic waves,
A method for producing a dispersion liquid for polishing, which comprises.
前記塩基性官能基を有するポリマーの酸価が、1.0〜50mgKOH/gであることを特徴とする請求項1に記載の研磨用分散液の製造方法。 The method for producing a dispersion for polishing according to claim 1, wherein the acid value of the polymer having a basic functional group is 1.0 to 50 mgKOH / g. 有機溶媒と、一次粒子のメディアン径が0.1〜5.0μmであるダイヤモンド粒子と、アミン価が1.0〜50mgKOH/gである塩基性官能基を有するポリマーと、を少なくとも含有することを特徴とする研磨用分散液。 It should contain at least an organic solvent, diamond particles having a median diameter of 0.1 to 5.0 μm as primary particles, and a polymer having a basic functional group having an amine value of 1.0 to 50 mgKOH / g. A characteristic dispersion for polishing. 前記ダイヤモンド粒子のメディアン径の標準偏差が0.01〜5.0であることを特徴とする請求項3に記載の研磨用分散液。 The polishing dispersion according to claim 3, wherein the standard deviation of the median diameter of the diamond particles is 0.01 to 5.0. 前記塩基性官能基を有するポリマーの酸価が、1.0〜50mgKOH/gであることを特徴とする請求項3又は4に記載の研磨用分散液。 The polishing dispersion according to claim 3 or 4, wherein the polymer having a basic functional group has an acid value of 1.0 to 50 mgKOH / g.
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