JP2020159795A - Three-dimensional coordinate measurement device - Google Patents

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涼太 市塚
Ryota Ichizuka
涼太 市塚
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Abstract

To provide a three-dimensional coordinate measurement device capable of measuring even a long measurement object without deterioration in measurement accuracy.SOLUTION: A three-dimensional coordinate measurement device 1 comprises: a surface plate 10 which includes an upper surface 10T; an X-axis which moves a measurement probe in an X-axis direction orthogonal to a normal direction of the upper surface 10T; a Y-axis which moves the measurement probe in a Y-axis direction orthogonal to the normal direction of the upper surface 10T and to the X-axis direction; a Z-axis which moves the measurement probe in the normal direction of the upper surface 10T; and a fourth axis which is set separately from the X-, Y-, and Z-axes, and moves a measurement object in a direction orthogonal to the normal direction of the upper surface 10T.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は三次元座標測定装置に係り、特に互いに直交するX軸、Y軸及びZ軸に沿って測定プローブを移動させて被測定物の三次元形状を測定する三次元座標測定装置に関する。 The present invention relates to a three-dimensional coordinate measuring device, and more particularly to a three-dimensional coordinate measuring device that measures a three-dimensional shape of an object to be measured by moving a measuring probe along the X-axis, Y-axis, and Z-axis orthogonal to each other.

一般的な三次元座標測定装置は、被測定物が載置される定盤を有し、定盤の上部にはYキャリッジが前後方向(Y軸方向)に移動可能に支持される。Yキャリッジは、左右方向(X軸方向)に沿って架け渡されたXガイドを有し、XガイドにはXキャリッジがX軸方向に移動可能に支持される。また、Xキャリッジには、Zキャリッジが上下方向(Z軸方向)に移動可能に支持され、Zキャリッジの下端に測定プローブが取り付けられている。これにより、測定プローブの測定子(スタイラス)がX軸、Y軸及びZ軸の方向に移動されて、定盤に載置された被測定物の三次元形状を測定する(特許文献1参照)。 A general three-dimensional coordinate measuring device has a surface plate on which an object to be measured is placed, and a Y carriage is movably supported on the upper portion of the surface plate in the front-rear direction (Y-axis direction). The Y carriage has an X guide that is bridged along the left-right direction (X-axis direction), and the X-carriage is supported by the X guide so as to be movable in the X-axis direction. Further, the Z carriage is movably supported in the vertical direction (Z axis direction) of the X carriage, and a measurement probe is attached to the lower end of the Z carriage. As a result, the stylus of the measuring probe is moved in the X-axis, Y-axis, and Z-axis directions to measure the three-dimensional shape of the object to be measured placed on the surface plate (see Patent Document 1). ..

特開2016−145823号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-145823

三次元座標測定装置によって、例えば、長尺状の被測定物を測定しようとした場合、例えばYキャリッジの移動ストロークを広げなければならないので、定盤を大型化する必要がある。しかし、定盤を大型化すると、定盤の撓みの変化量が大きくなって測定精度が低下する問題があった。 When, for example, an attempt is made to measure a long object to be measured by a three-dimensional coordinate measuring device, for example, the moving stroke of the Y carriage must be widened, so that the surface plate needs to be enlarged. However, when the surface plate is enlarged, there is a problem that the amount of change in the deflection of the surface plate becomes large and the measurement accuracy deteriorates.

そのため、従来の三次元座標測定装置では、測定精度を低下させることなく長尺状の被測定物を測定することが困難であった。 Therefore, it is difficult for the conventional three-dimensional coordinate measuring device to measure a long object to be measured without deteriorating the measurement accuracy.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、長尺状の被測定物であっても測定精度を低下させることなく測定することができる三次元座標測定装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a three-dimensional coordinate measuring device capable of measuring even a long object to be measured without deteriorating the measurement accuracy. And.

本発明の目的を達成するための三次元座標測定装置は、測定プローブを用いて被測定物の三次元座標を測定する三次元座標測定装置であって、上面を有する定盤と、測定プローブを上面の法線方向に直交する第1方向に移動させる第1軸と、測定プローブを上面の法線方向に直交する第2方向であって第1方向に直交する第2方向に移動させる第2軸と、測定プローブを上面の法線方向に移動させる第3軸と、第1軸、第2軸及び第3軸とは別に構成され、被測定物を上面の法線方向に直交する方向に移動させる第4軸と、を備える。 The three-dimensional coordinate measuring device for achieving the object of the present invention is a three-dimensional coordinate measuring device that measures the three-dimensional coordinates of an object to be measured by using a measuring probe, and includes a platen having an upper surface and a measuring probe. A first axis that moves the measurement probe in the first direction that is orthogonal to the normal direction of the upper surface, and a second direction that moves the measurement probe in the second direction that is orthogonal to the normal direction of the upper surface and is orthogonal to the first direction. The axis, the third axis that moves the measurement probe in the normal direction of the upper surface, and the first axis, the second axis, and the third axis are configured separately, and the object to be measured is oriented in a direction orthogonal to the normal direction of the upper surface. It includes a fourth axis to be moved.

本発明の一形態は、第4軸は、第2軸と平行であることが好ましい。 In one embodiment of the present invention, the fourth axis is preferably parallel to the second axis.

本発明の一形態は、第4軸に沿って移動可能なテーブルを備え、テーブルは、被測定物が載置される載置面を有することが好ましい。 One embodiment of the present invention preferably comprises a table that is movable along a fourth axis, and the table has a mounting surface on which the object to be measured is placed.

本発明の一形態は、テーブルは、定盤の上面に搭載され、定盤の上面とテーブルの下面との間には、テーブルを第4軸に沿って移動可能に支持するガイド部材が設けられることが好ましい。 In one embodiment of the present invention, the table is mounted on the upper surface of the surface plate, and a guide member for movably supporting the table along the fourth axis is provided between the upper surface of the surface plate and the lower surface of the table. Is preferable.

本発明の一形態は、上面の法線方向に延在して立設される第1柱部材及び第2柱部材と、第1柱部材及び第2柱部材の上端部に架け渡されて第1軸に沿って延在するガイド部材とを有し、第2軸に沿って移動可能な第1移動体と、第1移動体のガイド部材に設けられ、第1軸に沿って移動可能な第2移動体と、第2移動体に設けられるとともに測定プローブが取り付けられ、第2移動体に対し第3軸に沿って移動可能な第3移動体と、を有することが好ましい。 In one embodiment of the present invention, the first pillar member and the second pillar member erected extending in the normal direction of the upper surface and the upper ends of the first pillar member and the second pillar member are bridged to each other. A first moving body that has a guide member extending along one axis and can move along the second axis, and a guide member of the first moving body that is provided and can move along the first axis. It is preferable to have a second moving body, and a third moving body provided on the second moving body and to which a measurement probe is attached and movable along a third axis with respect to the second moving body.

本発明によれば、長尺状の被測定物であっても測定精度を低下させることなく測定することができる。 According to the present invention, even a long object to be measured can be measured without deteriorating the measurement accuracy.

本発明が適用される三次元座標測定装置の外観を示した斜視図Perspective view showing the appearance of the three-dimensional coordinate measuring device to which the present invention is applied. 図1に示した三次元座標測定装置の外観を示した正面図Front view showing the appearance of the three-dimensional coordinate measuring device shown in FIG. 定盤の右側部を拡大して示した正面図Front view showing the right side of the surface plate enlarged 定盤に搭載されたテーブル移動装置の全体斜視図Overall perspective view of the table moving device mounted on the surface plate 図4に示したテーブル移動装置の上面図Top view of the table moving device shown in FIG. 被測定物の左側部分を三次元座標測定装置で測定する説明図Explanatory drawing for measuring the left side part of the object to be measured with a three-dimensional coordinate measuring device 被測定物の右側部分を三次元座標測定装置で測定する説明図Explanatory drawing for measuring the right part of the object to be measured with a three-dimensional coordinate measuring device

以下、添付図面に従って本発明に係る三次元座標測定装置について説明する。 Hereinafter, the three-dimensional coordinate measuring device according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

図1及び図2は、本発明が適用される三次元座標測定装置1の外観を示した斜視図及び正面図である。 1 and 2 are a perspective view and a front view showing the appearance of the three-dimensional coordinate measuring device 1 to which the present invention is applied.

これらの図に示す三次元座標測定装置1は、設置面(床面)に架台12を介して支持された定盤10を有する。定盤10は、御影石や大理石等の石材により平面視で矩形状に構成されて平坦な上面10Tを有する。 The three-dimensional coordinate measuring device 1 shown in these figures has a surface plate 10 supported on an installation surface (floor surface) via a gantry 12. The surface plate 10 is formed of a stone material such as granite or marble in a rectangular shape in a plan view, and has a flat upper surface 10T.

本明細書では、X軸、Y軸及びZ軸の三次元直交座標系を用いて説明する。 In the present specification, a three-dimensional Cartesian coordinate system of the X-axis, the Y-axis, and the Z-axis will be described.

図1及び図2に示すX軸は、後述する測定プローブ26を上面10Tの法線方向に直交するX軸方向に移動させる軸であり、本発明の第1軸に相当し、X軸方向は本発明の第1方向に相当する。Y軸は、測定プローブ26を上面10Tの法線方向に直交するY軸方向であってX軸方向に直交するY軸方向に移動させる軸であり、本発明の第2軸に相当し、Y軸方向は本発明の第2方向に相当する。Z軸は、測定プローブ26を上面10Tの法線方向に移動させる軸であり、本発明の第3軸に相当する。 The X-axis shown in FIGS. 1 and 2 is an axis for moving the measurement probe 26 described later in the X-axis direction orthogonal to the normal direction of the upper surface 10T, and corresponds to the first axis of the present invention, and the X-axis direction is Corresponds to the first direction of the present invention. The Y-axis is an axis that moves the measurement probe 26 in the Y-axis direction orthogonal to the normal direction of the upper surface 10T and in the Y-axis direction orthogonal to the X-axis direction, and corresponds to the second axis of the present invention. The axial direction corresponds to the second direction of the present invention. The Z-axis is an axis for moving the measurement probe 26 in the normal direction of the upper surface 10T, and corresponds to the third axis of the present invention.

定盤10の上面10Tには、後述のテーブル70が搭載されており、テーブル70の上面70Tは、被測定物を載置する載置面として構成されている。このテーブル70は本発明のテーブルに相当する。 A table 70, which will be described later, is mounted on the upper surface 10T of the surface plate 10, and the upper surface 70T of the table 70 is configured as a mounting surface on which an object to be measured is placed. This table 70 corresponds to the table of the present invention.

定盤10の上面10T側には、門型のYキャリッジ14が設置される。Yキャリッジ14は、定盤10を正面側(図2参照)から見たときの定盤10の右側及び左側の各々にZ軸方向に延在して立設される右Yキャリッジ16及び左Yキャリッジ18と、右Yキャリッジ16及び左Yキャリッジ18の上端部に架け渡されてX軸方向に延在する柱状のXガイド20とを有する。ここで、Yキャリッジ15は、本発明の第1移動体に相当する。また、右Yキャリッジ16、左Yキャリッジ18及びXガイド20は、本発明の第1柱部材、第2柱部材及びガイド部材に相当する。 A gate-shaped Y carriage 14 is installed on the upper surface 10T side of the surface plate 10. The Y carriage 14 has a right Y carriage 16 and a left Y that extend in the Z-axis direction on each of the right side and the left side of the surface plate 10 when the surface plate 10 is viewed from the front side (see FIG. 2). It has a carriage 18, and a columnar X guide 20 that spans the upper ends of the right Y carriage 16 and the left Y carriage 18 and extends in the X-axis direction. Here, the Y carriage 15 corresponds to the first moving body of the present invention. Further, the right Y carriage 16, the left Y carriage 18, and the X guide 20 correspond to the first pillar member, the second pillar member, and the guide member of the present invention.

右Yキャリッジ16の下端部は、定盤10に構成されるY軸に沿った後述のYガイド42に移動可能に支持される。また、右Yキャリッジ16の下端部には、Yガイド42に当接する駆動部(不図示)が設けられており、右Yキャリッジ16はその駆動部の駆動力によってYガイド42に沿って移動する。左Yキャリッジ18の下端部は、定盤10の上面10Tに摺動自在に支持される。 The lower end of the right Y carriage 16 is movably supported by a Y guide 42 described later along the Y axis formed on the surface plate 10. Further, a drive unit (not shown) that abuts on the Y guide 42 is provided at the lower end of the right Y carriage 16, and the right Y carriage 16 moves along the Y guide 42 by the driving force of the drive unit. .. The lower end of the left Y carriage 18 is slidably supported by the upper surface 10T of the surface plate 10.

上記の構成により、Yキャリッジ14は、定盤10に対してY軸方向に移動可能に支持され、また、右Yキャリッジ16の下端部の駆動部により、右Yキャリッジ16を駆動側とし、左Yキャリッジ18を従動側としてY軸方向に往復移動する。 With the above configuration, the Y carriage 14 is movably supported with respect to the platen 10 in the Y-axis direction, and the right Y carriage 16 is set as the drive side by the drive unit at the lower end of the right Y carriage 16, and the left It reciprocates in the Y-axis direction with the Y carriage 18 as the driven side.

Xガイド20には、Zコラム22がXガイド20に沿って移動可能に支持される。Zコラム22は、Xガイド20に当接する駆動部(不図示)を内蔵しており、その駆動部の駆動力によってXガイド20に沿って移動する。ここで、Zコラム22は、本発明の第2移動体に相当する。 A Z column 22 is movably supported by the X guide 20 along the X guide 20. The Z column 22 has a built-in drive unit (not shown) that abuts on the X guide 20, and moves along the X guide 20 by the driving force of the drive unit. Here, the Z column 22 corresponds to the second moving body of the present invention.

また、Zコラム22の内部には、Z軸方向に延在する柱状のZキャリッジ24がZ軸方向に移動可能に支持されており(図2参照)、そのZキャリッジ24の下端部側がZコラム22の下端部側から突出されている。Zコラム22は、Zキャリッジ24に当接する駆動部(不図示)を内蔵しており、その駆動部の駆動力によってZキャリッジ24がZコラム22に対してZ軸方向に移動する。 Further, inside the Z column 22, a columnar Z carriage 24 extending in the Z axis direction is supported so as to be movable in the Z axis direction (see FIG. 2), and the lower end side of the Z carriage 24 is the Z column. It protrudes from the lower end side of 22. The Z column 22 has a built-in drive unit (not shown) that abuts on the Z carriage 24, and the drive force of the drive unit causes the Z carriage 24 to move in the Z axis direction with respect to the Z column 22.

Zキャリッジ24の下端部には、タッチプローブ等の測定プローブ26が取り付けられる。測定プローブ26は、例えば、先端球を有する棒状のスタイラス28を有し、測定プローブ26は、スタイラス28の先端(先端球)の被測定物への接触の有無やスタイラス28の先端の被測定物への接触により生じるスタイラス28の変位量を検出する。ここで、Zキャリッジ24は、本発明の第3移動体に相当する。 A measurement probe 26 such as a touch probe is attached to the lower end of the Z carriage 24. The measuring probe 26 has, for example, a rod-shaped stylus 28 having a tip sphere, and the measuring probe 26 includes the presence or absence of contact of the tip (tip sphere) of the stylus 28 with the object to be measured and the object to be measured at the tip of the stylus 28. The amount of displacement of the stylus 28 caused by contact with the stylus 28 is detected. Here, the Z carriage 24 corresponds to the third moving body of the present invention.

以上のごとく構成された三次元座標測定装置1は、Yキャリッジ14のY軸方向への移動、Zコラム22のX軸方向への移動、及び、Zキャリッジ24のZ軸方向への移動によって測定プローブ26のスタイラス28をX、Y、Z軸方向に移動させ、テーブル70に載置された被測定物の表面に沿わせてスタイラス28の先端(先端球)を移動させる。そして、そのときのYキャリッジ14のY軸方向の位置(移動量)、Zコラム22のX軸方向の位置(移動量)、Zキャリッジ24のZ軸方向の位置(移動量)、及びスタイラス28の位置(変位量)を計測することにより、被測定物の表面の各位置の三次元座標を測定する。なお、三次元座標の測定に関する処理については周知であるので詳細な説明は省略する。 The three-dimensional coordinate measuring device 1 configured as described above measures by moving the Y carriage 14 in the Y-axis direction, moving the Z column 22 in the X-axis direction, and moving the Z carriage 24 in the Z-axis direction. The stylus 28 of the probe 26 is moved in the X, Y, and Z axis directions, and the tip (tip sphere) of the stylus 28 is moved along the surface of the object to be measured placed on the table 70. Then, the position of the Y carriage 14 in the Y-axis direction (movement amount), the position of the Z column 22 in the X-axis direction (movement amount), the position of the Z carriage 24 in the Z-axis direction (movement amount), and the stylus 28 at that time. By measuring the position (displacement amount) of, the three-dimensional coordinates of each position on the surface of the object to be measured are measured. Since the processing related to the measurement of the three-dimensional coordinates is well known, detailed description thereof will be omitted.

次に、Yキャリッジ14をY軸方向に移動可能に支持するYガイド42の一例について説明する。 Next, an example of the Y guide 42 that movably supports the Y carriage 14 in the Y-axis direction will be described.

図3は、定盤10の右側部を拡大して示した正面図である。 FIG. 3 is an enlarged front view showing the right side portion of the surface plate 10.

図3に示すように、定盤10は、Z軸に垂直な上面10T及び下面10Bと、X軸に垂直な右側面10Rを有する。また、定盤10の右側面10Rの近くであって定盤10の上面10T側には、Y軸方向に沿った溝40が備えられる。 As shown in FIG. 3, the surface plate 10 has an upper surface 10T and a lower surface 10B perpendicular to the Z axis, and a right side surface 10R perpendicular to the X axis. Further, a groove 40 along the Y-axis direction is provided on the upper surface 10T side of the surface plate 10 near the right side surface 10R of the surface plate 10.

なお、図1及び図2では、溝40の上部開口に蛇腹カバー等の伸縮自在の被覆部材が設置され、定盤10の前側及び後側の側面に金属カバー等の板状の被覆部材が取り付けられた状態を示しているが、図3ではそれらの被覆部材を取り外した状態が示されている。 In addition, in FIGS. 1 and 2, a stretchable covering member such as a bellows cover is installed in the upper opening of the groove 40, and a plate-shaped covering member such as a metal cover is attached to the front side and the rear side of the surface plate 10. Although the state is shown, FIG. 3 shows a state in which those covering members are removed.

溝40は、互いに対向するX軸に垂直な右側面40R及び左側面40Lと、Z軸に垂直な底面40Bとを有する。 The groove 40 has a right side surface 40R and a left side surface 40L perpendicular to the X axis and a bottom surface 40B perpendicular to the Z axis.

これにより、溝40の右側面40Rと、定盤10の右側面10Rと、それらの間の定盤10の上面10Tと、定盤10の下面10Bとで、Y軸方向に延在するYガイド42が構成される。なお、以下の説明では、右側面40RをYガイド42の左側面42Lとも言い、右側面10RをYガイド42の右側面42Rとも言い、下面10BをYガイド42の下面42Bとも言う。 As a result, the right side surface 40R of the groove 40, the right side surface 10R of the surface plate 10, the upper surface 10T of the surface plate 10 between them, and the lower surface 10B of the surface plate 10 extend in the Y-axis direction. 42 is configured. In the following description, the right side surface 40R is also referred to as the left side surface 42L of the Y guide 42, the right side surface 10R is also referred to as the right side surface 42R of the Y guide 42, and the lower surface 10B is also referred to as the lower surface 42B of the Y guide 42.

右Yキャリッジ16の下端部には、Y軸方向に幅広の支持部50が設けられる。支持部50は、図3に示すように、Yガイド42の上面42Tに対向し、Z軸に直交する方向(水平方向)に沿って配置される基端部52と、基端部52からZ軸方向に延設されてYガイド42の右側面42Rに対向する側に配置される右側部54と、基端部52からZ軸方向に延設されてYガイド42の左側面42Lに対向する側に配置される左側部56とを有する。 A wide support portion 50 is provided in the Y-axis direction at the lower end portion of the right Y carriage 16. As shown in FIG. 3, the support portion 50 faces the upper surface 42T of the Y guide 42 and is arranged along the direction (horizontal direction) orthogonal to the Z axis, and the base end portions 52 to Z. The right side portion 54 extending in the axial direction and arranged on the side facing the right side surface 42R of the Y guide 42, and the right side portion 54 extending in the Z-axis direction from the base end portion 52 facing the left side surface 42L of the Y guide 42. It has a left side portion 56 arranged on the side.

また、右側部54の下端部にはYガイド42の下面42Bに対向する位置までX軸方向に延設された支持板58が設けられている。 Further, a support plate 58 extending in the X-axis direction to a position facing the lower surface 42B of the Y guide 42 is provided at the lower end of the right side portion 54.

支持部50のこれらの基端部52、右側部54、左側部56、及び支持板58の各々には、空気を噴出することでYガイド42に対して摺動可能となる複数の円板状のエアパッド60、60…が設けられる。また、図4に示した左Yキャリッジ18の下端部にも空気を噴出することで定盤10の上面10Tに対して摺動可能となる円板状のエアパッド(不図示)が設けられる。 Each of the base end portion 52, the right side portion 54, the left side portion 56, and the support plate 58 of the support portion 50 has a plurality of disc shapes that are slidable with respect to the Y guide 42 by ejecting air. Air pads 60, 60 ... Are provided. Further, a disk-shaped air pad (not shown) that can slide with respect to the upper surface 10T of the surface plate 10 by ejecting air to the lower end of the left Y carriage 18 shown in FIG. 4 is also provided.

Yキャリッジ14は、Yガイド42に当接する駆動部(不図示)と、上記のYガイド42及び複数のエアパッド60、60…等によってY軸方向に移動可能に支持される。 The Y carriage 14 is movably supported in the Y-axis direction by a drive unit (not shown) that abuts on the Y guide 42, the Y guide 42, a plurality of air pads 60, 60, and the like.

なお、Yキャリッジ14をY軸方向に移動させるための構成、Zコラム22をX軸方向に移動させるための構成、及びZキャリッジ24をZ軸方向に移動させるための構成については、例えば、特開2016−145823号公報に開示されたものを適用すればよいので、ここでは詳細な説明は省略する。 Regarding the configuration for moving the Y carriage 14 in the Y axis direction, the configuration for moving the Z column 22 in the X axis direction, and the configuration for moving the Z carriage 24 in the Z axis direction, for example, special features are provided. Since those disclosed in Japanese Patent Publication No. 2016-145823 may be applied, detailed description thereof will be omitted here.

次に、図1及び図2に示したテーブル70について説明する。 Next, the table 70 shown in FIGS. 1 and 2 will be described.

図4及び図5は、定盤10の上面10Tに搭載されたテーブル70及びテーブル移動装置72の斜視図及び上面図である。なお、図4及び図5では、テーブル移動装置72の構成を分かり易く示すために、テーブル70については二点鎖線で図示し、テーブル移動装置72については実線で示している。 4 and 5 are perspective views and top views of the table 70 and the table moving device 72 mounted on the upper surface 10T of the surface plate 10. In FIGS. 4 and 5, in order to show the configuration of the table moving device 72 in an easy-to-understand manner, the table 70 is shown by a two-dot chain line, and the table moving device 72 is shown by a solid line.

ここで、一般的な三次元座標測定装置は、定盤の上面に被測定物を載置して測定するものであるが、実施形態の三次元座標測定装置1は、前述したように、テーブル70の上面70Tに被測定物を載置して測定するものである。 Here, the general three-dimensional coordinate measuring device is for measuring by placing the object to be measured on the upper surface of the surface plate, but the three-dimensional coordinate measuring device 1 of the embodiment is a table as described above. The object to be measured is placed on the upper surface 70T of 70 for measurement.

このため、実施形態の三次元座標測定装置1は、図4及び図5に示すように、定盤10の上面10Tにテーブル70を搭載し、そして、このテーブル70をテーブル移動装置72によって、例えばY軸方向に移動可能に構成することにより、長尺状の被測定物に対応させる場合でも、定盤10を大型化する必要がないので測定精度を低下させることなく測定することが可能となっている。ここで、テーブル70の移動軸であるY軸は、本発明の第4軸に相当する。すなわち、実施形態の三次元座標測定装置1は、X軸と、Y軸、Z軸とは別に構成され、被測定物を上面10Tの法線方向に直交するY軸方向に移動させるY軸(第4軸)を備えている。 Therefore, in the three-dimensional coordinate measuring device 1 of the embodiment, as shown in FIGS. 4 and 5, a table 70 is mounted on the upper surface 10T of the surface plate 10, and the table 70 is mounted by the table moving device 72, for example. By making the structure movable in the Y-axis direction, it is not necessary to increase the size of the surface plate 10 even when it corresponds to a long object to be measured, so that it is possible to measure without deteriorating the measurement accuracy. ing. Here, the Y-axis, which is the moving axis of the table 70, corresponds to the fourth axis of the present invention. That is, the three-dimensional coordinate measuring device 1 of the embodiment is configured separately from the X-axis, the Y-axis, and the Z-axis, and moves the object to be measured in the Y-axis direction orthogonal to the normal direction of the upper surface 10T (Y-axis). 4th axis) is provided.

テーブル70は、平面視で矩形状に構成されており、一例として長辺部70A、70A(図1参照)がY軸に沿って、短辺部70B、70BがX軸に沿って配置されている。また、テーブル70は、撓み難い剛性の高い材料、例えば御影石や大理石等の石材又は金属によって構成されている。 The table 70 is formed in a rectangular shape in a plan view, and as an example, the long side portions 70A and 70A (see FIG. 1) are arranged along the Y axis, and the short side portions 70B and 70B are arranged along the X axis. There is. Further, the table 70 is made of a highly rigid material that is hard to bend, for example, a stone material such as granite or marble, or a metal.

テーブル移動装置72は、定盤10に対してテーブル70をY軸に沿って移動させる装置であり、定盤10の上面10Tとテーブル70の下面との間に配置されている。 The table moving device 72 is a device that moves the table 70 with respect to the surface plate 10 along the Y axis, and is arranged between the upper surface 10T of the surface plate 10 and the lower surface of the table 70.

テーブル移動装置72は、一対の直動ガイド74、74とボールネジ装置76とを有している。ここで、直動ガイド74は、本発明のガイド部材に相当する。 The table moving device 72 has a pair of linear motion guides 74 and 74 and a ball screw device 76. Here, the linear motion guide 74 corresponds to the guide member of the present invention.

直動ガイド74は、Yレール78と、Yレール78に係合された複数個のブロック80、80(図5では2個)と、を備えている。このYレール78は、ベース板82の上面82TにY軸に沿って固定されており、ベース板82は定盤10の上面10Tに着脱自在に固定されている。このようなベース板82を備えることにより、テーブル70及びテーブル移動装置72は、ベース板82を介して定盤10に着脱自在に取り付けられる。なお、Yレール78は、定盤10の上面10Tに直接固定されていてもよい。 The linear motion guide 74 includes a Y rail 78 and a plurality of blocks 80, 80 (two in FIG. 5) engaged with the Y rail 78. The Y rail 78 is fixed to the upper surface 82T of the base plate 82 along the Y axis, and the base plate 82 is detachably fixed to the upper surface 10T of the surface plate 10. By providing such a base plate 82, the table 70 and the table moving device 72 are detachably attached to the surface plate 10 via the base plate 82. The Y rail 78 may be directly fixed to the upper surface 10T of the surface plate 10.

ブロック80は、Yレール78に移動可能に支持されており、このブロック80の上面にテーブル70の下面が固定されている。これにより、テーブル70は、Yレール78、78に移動可能に支持される。 The block 80 is movably supported by the Y rail 78, and the lower surface of the table 70 is fixed to the upper surface of the block 80. As a result, the table 70 is movably supported by the Y rails 78 and 78.

一方、ボールネジ装置76は、ネジ軸84と、ナット86と、モータ88とを有している。ネジ軸84は、Yレール78とYレール78との間のスペースにY軸に沿って配設されるとともに、ネジ軸84の両端に設けられた軸受90、90を介してベース板82の上面82Tに取り付けられている。ナット86は、不図示のボールを介してネジ軸84に螺合されており、このナット86の上面にテーブル70の下面が固定されている。モータ88は、その回転軸(不図示)がネジ軸84の一端にカプラ92を介して連結されている。 On the other hand, the ball screw device 76 has a screw shaft 84, a nut 86, and a motor 88. The screw shaft 84 is arranged along the Y-axis in the space between the Y rail 78 and the Y rail 78, and the upper surface of the base plate 82 is provided via bearings 90, 90 provided at both ends of the screw shaft 84. It is attached to 82T. The nut 86 is screwed onto the screw shaft 84 via a ball (not shown), and the lower surface of the table 70 is fixed to the upper surface of the nut 86. A rotation shaft (not shown) of the motor 88 is connected to one end of a screw shaft 84 via a coupler 92.

このように構成されたボールネジ装置76によれば、モータ88を駆動してネジ軸84を回転させると、テーブル70によって回転規制されているナット86がネジ軸84に沿って移動する。これにより、テーブル70がモータ88の駆動力によりY軸に沿って移動する。なお、テーブル70を移動させる駆動手段はボールネジ装置76に限定されるものではなく、ベルト駆動装置等の他の駆動手段を適用してもよい。また、駆動手段を備えることなく、テーブル70を手動で移動させてもよい。 According to the ball screw device 76 configured in this way, when the motor 88 is driven to rotate the screw shaft 84, the nut 86 whose rotation is restricted by the table 70 moves along the screw shaft 84. As a result, the table 70 moves along the Y axis by the driving force of the motor 88. The driving means for moving the table 70 is not limited to the ball screw device 76, and other driving means such as a belt driving device may be applied. Further, the table 70 may be manually moved without providing the driving means.

また、実施形態のテーブル移動装置72は、リニアスケール94と読み取りヘッド96とを備えている。リニアスケール94は、ベース板82の上面82Tに固定されるとともに、図5に示すように、左側のYレール78とネジ軸84との間のスペースにY軸に沿って配設されている。 Further, the table moving device 72 of the embodiment includes a linear scale 94 and a reading head 96. The linear scale 94 is fixed to the upper surface 82T of the base plate 82, and is arranged along the Y axis in the space between the Y rail 78 on the left side and the screw shaft 84 as shown in FIG.

読み取りヘッド96は、テーブル70の下面にリニアスケール94に対向して設けられる。この読み取りヘッド96は、テーブル70のY軸方向の移動によりリニアスケール94に沿って移動する。この移動中に読み取りヘッド96は、リニアスケール94の値を読み取り、例えば、1mm毎に1パルスのパルス信号を三次元座標測定装置1の制御装置(不図示)に送信する。そして、制御装置は、入力したパルス信号をカウントすることにより、テーブル70のY軸方向の位置を検出する。なお、リニアスケールと読み取りヘッドとからなる位置検出装置は既知の構成なので、その詳細な説明は省略する。 The reading head 96 is provided on the lower surface of the table 70 so as to face the linear scale 94. The reading head 96 moves along the linear scale 94 by moving the table 70 in the Y-axis direction. During this movement, the reading head 96 reads the value of the linear scale 94 and transmits, for example, a pulse signal of one pulse every 1 mm to a control device (not shown) of the three-dimensional coordinate measuring device 1. Then, the control device detects the position of the table 70 in the Y-axis direction by counting the input pulse signal. Since the position detection device including the linear scale and the reading head has a known configuration, detailed description thereof will be omitted.

次に、上記の如く構成された三次元座標測定装置1による測定方法の一例を説明する。 Next, an example of the measurement method by the three-dimensional coordinate measuring device 1 configured as described above will be described.

まず、被測定物の測定に先立ち、三次元座標測定装置1の各軸の運動誤差を取得する。各軸の運動誤差は、定盤10を基準にして取得するものであり、その取得手順は以下の通りである。ここで、テーブル70の移動軸はY軸であるが、Yキャリッジ14の移動軸であるY軸と区別するため、便宜上「α軸」と称して説明する。 First, prior to the measurement of the object to be measured, the motion error of each axis of the three-dimensional coordinate measuring device 1 is acquired. The motion error of each axis is acquired with reference to the surface plate 10, and the acquisition procedure is as follows. Here, the moving axis of the table 70 is the Y-axis, but in order to distinguish it from the Y-axis which is the moving axis of the Y carriage 14, it will be referred to as “α-axis” for convenience.

a)まず、定盤10にレーザ測長器を設置し、スタイラス28の先端に設置したミラーでレーザ光を反射させ、数mmピッチでミラーを移動させてレーザの変位を取得する。 a) First, a laser length measuring device is installed on the surface plate 10, the laser beam is reflected by the mirror installed at the tip of the stylus 28, and the mirror is moved at a pitch of several mm to acquire the displacement of the laser.

b)レーザの変位に基づいて、X軸、Y軸及びZ軸の各々の指示誤差、真直度誤差、回転誤差(ピッチング、ヨーイング、ローリング)を求める。なお、ピッチ間は割合計算で直線化する。 b) Based on the displacement of the laser, the indication error, straightness error, and rotation error (pitching, yawing, rolling) of each of the X-axis, Y-axis, and Z-axis are obtained. In addition, the pitch is linearized by the ratio calculation.

c)上記のb)で求めた誤差をRbとする。 c) Let Rb be the error obtained in b) above.

d)三次元座標測定装置1(α軸を除く)の直角度誤差をEwとする。 d) Let Ew be the squareness error of the three-dimensional coordinate measuring device 1 (excluding the α axis).

e)次に、定盤10にレーザ測長器を設置し、α軸上のテーブル70に固定したミラーでレーザ光を反射させ、ミラーを数mmピッチで移動させてレーザの変位を取得する。 e) Next, a laser length measuring device is installed on the surface plate 10, the laser beam is reflected by a mirror fixed to the table 70 on the α-axis, and the mirror is moved at a pitch of several mm to acquire the displacement of the laser.

f)レーザの変位に基づいて、α軸の指示誤差、真直度誤差、回転誤差(ピッチング、ヨーイング、ローリング) を求める。なお、ピッチ間は、割合計算で直線化する。 f) Obtain the α-axis indication error, straightness error, and rotation error (pitching, yawing, rolling) based on the displacement of the laser. The pitches are straightened by ratio calculation.

g)上記のe)で求めた誤差をReとする。 g) Let Re be the error obtained in e) above.

h)定盤10とα軸との直角度誤差をEwαとする。 h) Let Ewα be the squareness error between the surface plate 10 and the α axis.

以上の作業によって三次元座標測定装置1の各軸(X、Y、Z、α軸)の運動誤差を取得することができる。そして、被測定物の測定時においては、測定プローブ26で測定された接触座標値を、上記の運動誤差を用いて補完(空間補正)して真の座標値を取得する。すなわち、測定プローブ26による接触座標値を(X、Y、Z)とし、真の座標値を(Xa、Ya、Za)とした場合、下記の式1により真の座標値を取得する。 By the above work, the motion error of each axis (X, Y, Z, α axis) of the three-dimensional coordinate measuring device 1 can be acquired. Then, at the time of measurement of the object to be measured, the contact coordinate value measured by the measurement probe 26 is complemented (spatial correction) by using the above motion error to obtain the true coordinate value. That is, when the contact coordinate value by the measurement probe 26 is (X, Y, Z) and the true coordinate value is (Xa, Ya, Za), the true coordinate value is acquired by the following equation 1.

<式1>
(Xa、Ya、Za、1)= (X、Y、Z、1) ・Rb・Ew・Re・Ewα
次に、実施形態の三次元座標測定装置1を用いて被測定物の三次元形状を測定する。
<Equation 1>
(Xa, Ya, Za, 1) = (X, Y, Z, 1) ・ Rb ・ Ew ・ Re ・ Ewα
Next, the three-dimensional shape of the object to be measured is measured using the three-dimensional coordinate measuring device 1 of the embodiment.

図6及び図7は、テーブル70の上面70Tに被測定物Wを載置して被測定物Wの三次元形状を測定する場合の一例が示されている。図6及び図7にて例示する被測定物Wは、三次元座標測定装置1自体(テーブル70を除く)が有する測定範囲(Yキャリッジ14のY軸方向の移動ストローク)Pよりも大きなサイズのものである。 6 and 7 show an example in which the object W to be measured is placed on the upper surface 70T of the table 70 and the three-dimensional shape of the object W to be measured is measured. The object W to be measured illustrated in FIGS. 6 and 7 has a size larger than the measurement range (moving stroke of the Y carriage 14 in the Y-axis direction) P of the three-dimensional coordinate measuring device 1 itself (excluding the table 70). It is a thing.

上記のような被測定物Wを測定する場合には、まず、図7に示すように、テーブル70をY軸方向の一端側(図6の右端側)に位置させて、そのテーブル70の上面70Tに被測定物Wを載置する。このとき、測定範囲P内にある被測定物Wの左側部分W1は測定可能であるが、測定範囲P外の被測定物Wの右側部分W2は測定不能である。このような状態において、まず、Yキャリッジ14を測定範囲P内でY軸方向に移動させながら左側部分W1の測定を行う。 When measuring the object W to be measured as described above, first, as shown in FIG. 7, the table 70 is positioned on one end side (right end side in FIG. 6) in the Y-axis direction, and the upper surface of the table 70 is measured. The object W to be measured is placed on the 70T. At this time, the left side portion W1 of the object to be measured W within the measurement range P can be measured, but the right portion W2 of the object to be measured outside the measurement range P cannot be measured. In such a state, first, the left side portion W1 is measured while moving the Y carriage 14 in the measurement range P in the Y-axis direction.

次に、図7に示すように、テーブル70をY軸方向の他端側(図7の左端側)に移動させる。これにより、図6の測定時には測定不能であった右側部分W2が測定範囲P内に位置するので、Yキャリッジ14を測定範囲P内でY軸方向に移動させながら右側部分W2の測定を行う。 Next, as shown in FIG. 7, the table 70 is moved to the other end side (left end side in FIG. 7) in the Y-axis direction. As a result, the right side portion W2, which could not be measured at the time of the measurement in FIG. 6, is located within the measurement range P. Therefore, the right side portion W2 is measured while moving the Y carriage 14 in the measurement range P in the Y-axis direction.

図6及び図7に示したように被測定物Wの左側部分W1と右側部分W2との測定が終了すると、三次元座標測定装置1の制御装置(不図示)は、測定プローブ26による接触座標値をテーブル70の移動量に応じて補正し、この補正座標値に基づいて真の座標値を算出する。 As shown in FIGS. 6 and 7, when the measurement of the left side portion W1 and the right side portion W2 of the object to be measured is completed, the control device (not shown) of the three-dimensional coordinate measuring device 1 is subjected to the contact coordinates by the measuring probe 26. The value is corrected according to the movement amount of the table 70, and the true coordinate value is calculated based on the corrected coordinate value.

このようにY軸方向に移動するテーブル70を定盤10に搭載することにより、測定範囲Pよりも大きなサイズの被測定物Wを、Y軸方向に長い定盤を用いることなく測定することができる。換言すれば、Y軸方向の長さが短い定盤10を用いても、長尺状の被測定物Wの測定が可能となる。 By mounting the table 70 that moves in the Y-axis direction on the surface plate 10 in this way, it is possible to measure an object W having a size larger than the measurement range P without using a surface plate that is long in the Y-axis direction. it can. In other words, even if the surface plate 10 having a short length in the Y-axis direction is used, it is possible to measure the long object W to be measured.

したがって、実施形態の三次元座標測定装置1によれば、測定プローブ26を移動させるX軸、Y軸及びZ軸と、X軸、Y軸及びZ軸とは別に構成され、被測定物WをY軸方向に移動させるY軸(第4軸)と、を備えているので、長尺状の被測定物であっても測定精度を低下させることなく測定することができる。 Therefore, according to the three-dimensional coordinate measuring device 1 of the embodiment, the X-axis, the Y-axis and the Z-axis for moving the measuring probe 26 and the X-axis, the Y-axis and the Z-axis are separately configured to provide the object W to be measured. Since it is provided with a Y-axis (fourth axis) that moves in the Y-axis direction, even a long object to be measured can be measured without deteriorating the measurement accuracy.

なお、図6から図7に至る被測定物Wの測定は、測定の座標系ごとY軸方向に移動させて被測定物Wを測定する手法となるので、図6に示した左側部分W1の測定点と図7に示した右側部分W2の測定点で評価が可能である。 Since the measurement of the object to be measured W from FIG. 6 to FIG. 7 is a method of measuring the object to be measured W by moving the measurement coordinate system together with the measurement coordinate system in the Y-axis direction, the left side portion W1 shown in FIG. Evaluation is possible at the measurement points and the measurement points on the right side portion W2 shown in FIG.

ここで、例えば、被測定物の大きさに基づき、Y軸方向の移動ストロークが1000mm必要な場合、従来の三次元座標測定装置(比較例)は、Yキャリッジのみでその移動ストローク(1000mm)をカバーしなければならないため、定盤のY軸方向の長さが長くなる。これにより、定盤の撓みの変化量が大きくなるので、測定精度が低下してしまう。 Here, for example, when a moving stroke in the Y-axis direction of 1000 mm is required based on the size of the object to be measured, the conventional three-dimensional coordinate measuring device (comparative example) uses only the Y carriage to make the moving stroke (1000 mm). Since it must be covered, the length of the surface plate in the Y-axis direction becomes long. As a result, the amount of change in the deflection of the surface plate becomes large, and the measurement accuracy deteriorates.

これに対し、実施形態の三次元座標測定装置1では、例えば、Yキャリッジ14のY軸方向の移動ストロークが500mmであったとしても、テーブル70のY軸方向の移動量を500mmに設定することで、測定に必要なY軸方向の移動ストローク(1000mm)を得ることができる。これにより、定盤10のY軸方向の長さを上記の比較例よりも大幅に短縮することができるので、測定精度が向上する。 On the other hand, in the three-dimensional coordinate measuring device 1 of the embodiment, for example, even if the moving stroke of the Y carriage 14 in the Y-axis direction is 500 mm, the moving amount of the table 70 in the Y-axis direction is set to 500 mm. Therefore, the movement stroke (1000 mm) in the Y-axis direction required for the measurement can be obtained. As a result, the length of the surface plate 10 in the Y-axis direction can be significantly shortened as compared with the above comparative example, so that the measurement accuracy is improved.

なお、図6及び図7では、被測定物として、測定範囲Sよりも大きなサイズの被測定物Wを例示したが、被測定物は、測定範囲Sよりも小さいサイズであってもよい。この場合でも、測定に必要なY軸方向の移動ストロークをテーブル70側に分担させることができるので、Yキャリッジ14のY軸方向の移動ストロークを短くすることができる。これにより、定盤10のY軸方向の長さを短縮することができるので、測定精度が向上する。 In addition, although FIG. 6 and FIG. 7 exemplify the object to be measured W having a size larger than the measurement range S as the object to be measured, the object to be measured may have a size smaller than the measurement range S. Even in this case, since the moving stroke in the Y-axis direction required for the measurement can be shared by the table 70 side, the moving stroke in the Y-axis direction of the Y carriage 14 can be shortened. As a result, the length of the surface plate 10 in the Y-axis direction can be shortened, so that the measurement accuracy is improved.

また、実施形態では、テーブル70の移動軸である第4軸がY軸と平行である態様について説明したが、これに限定されるものではなく、第4軸は、上面10Tの法線方向に直交する方向であればよい。例えば、第4軸はX軸と平行でもよい。この場合、X軸方向に長い被測定物であっても定盤のX軸方向の長さを長くすることなく測定することができる。また、第4軸はY軸とX軸とに非平行な斜めの軸と平行であってもよい。この場合、Y軸方向及びX軸方向に長い被測定物であっても定盤のY軸方向及びX軸方向の長さを長くすることなく測定することができる。いずれの場合においても、測定プローブ26による接触座標値を第4軸の方向の移動量に基づいて補正することにより、測定精度を低下させることなく測定することができる。 Further, in the embodiment, the embodiment in which the fourth axis, which is the moving axis of the table 70, is parallel to the Y axis has been described, but the present invention is not limited to this, and the fourth axis is in the normal direction of the upper surface 10T. The directions may be orthogonal to each other. For example, the fourth axis may be parallel to the X axis. In this case, even an object to be measured that is long in the X-axis direction can be measured without increasing the length of the surface plate in the X-axis direction. Further, the fourth axis may be parallel to an oblique axis that is not parallel to the Y axis and the X axis. In this case, even an object to be measured that is long in the Y-axis direction and the X-axis direction can be measured without increasing the length of the surface plate in the Y-axis direction and the X-axis direction. In any case, by correcting the contact coordinate value by the measuring probe 26 based on the amount of movement in the direction of the fourth axis, the measurement can be performed without deteriorating the measurement accuracy.

また、実施形態では、好ましい形態として、テーブル70を用いて被測定物Wを第4軸(Y軸)に沿って移動させたが、これに限定されるものではなく、テーブル70以外の手段を用いて被測定物Wを第4軸に沿って移動させてもよい。 Further, in the embodiment, as a preferred embodiment, the object W to be measured is moved along the fourth axis (Y axis) using the table 70, but the present invention is not limited to this, and means other than the table 70 can be used. You may use it to move the object W to be measured along the fourth axis.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は、以上の例には限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変形を行ってもよいのはもちろんである。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above examples, and it goes without saying that various improvements and modifications may be made without departing from the gist of the present invention. ..

1…三次元座標測定装置、10…定盤、10T…上面、12…架台、14…Yキャリッジ、16…右Yキャリッジ、18…左Yキャリッジ、20…Xガイド、22…Zコラム、24…Zキャリッジ、26…測定プローブ、28…スタイラス、40…溝、42…Yガイド、50…支持部、52…基端部、54…右側部、56…左側部、58…支持板、60…エアパッド、70…テーブル、72…テーブル移動装置、74…直動ガイド、76…ボールネジ装置、78…Yレール、80…ブロック、82…ベース板、84…ネジ軸、86…ナット、88…モータ、90…軸受、92…カプラ、94…リニアスケール、96…読み取りヘッド 1 ... 3D coordinate measuring device, 10 ... Plate, 10T ... Top surface, 12 ... Stand, 14 ... Y carriage, 16 ... Right Y carriage, 18 ... Left Y carriage, 20 ... X guide, 22 ... Z column, 24 ... Z carriage, 26 ... measurement probe, 28 ... stylus, 40 ... groove, 42 ... Y guide, 50 ... support, 52 ... base end, 54 ... right side, 56 ... left side, 58 ... support plate, 60 ... air pad , 70 ... table, 72 ... table moving device, 74 ... linear motion guide, 76 ... ball screw device, 78 ... Y rail, 80 ... block, 82 ... base plate, 84 ... screw shaft, 86 ... nut, 88 ... motor, 90 ... bearing, 92 ... coupler, 94 ... linear scale, 96 ... reading head

Claims (5)

測定プローブを用いて被測定物の三次元座標を測定する三次元座標測定装置であって、
上面を有する定盤と、
前記測定プローブを前記上面の法線方向に直交する第1方向に移動させる第1軸と、
前記測定プローブを前記上面の前記法線方向に直交する第2方向であって前記第1方向に直交する第2方向に移動させる第2軸と、
前記測定プローブを前記上面の前記法線方向に移動させる第3軸と、
前記第1軸、前記第2軸及び前記第3軸とは別に構成され、前記被測定物を前記上面の前記法線方向に直交する方向に移動させる第4軸と、
を備える、三次元座標測定装置。
A three-dimensional coordinate measuring device that measures the three-dimensional coordinates of an object to be measured using a measuring probe.
A surface plate with an upper surface and
A first axis that moves the measurement probe in the first direction orthogonal to the normal direction of the upper surface, and
A second axis that moves the measurement probe in a second direction orthogonal to the normal direction of the upper surface and orthogonal to the first direction, and
A third axis that moves the measurement probe in the normal direction of the upper surface, and
A fourth axis, which is configured separately from the first axis, the second axis, and the third axis, and moves the object to be measured in a direction orthogonal to the normal direction of the upper surface.
A three-dimensional coordinate measuring device.
前記第4軸は、前記第2軸と平行である、
請求項1に記載の三次元座標測定装置。
The fourth axis is parallel to the second axis.
The three-dimensional coordinate measuring device according to claim 1.
前記第4軸に沿って移動可能なテーブルを備え、
前記テーブルは、前記被測定物が載置される載置面を有する、
請求項1又は2に記載の三次元座標測定装置。
A table that can be moved along the fourth axis is provided.
The table has a mounting surface on which the object to be measured is placed.
The three-dimensional coordinate measuring device according to claim 1 or 2.
前記テーブルは、前記定盤の前記上面に搭載され、
前記定盤の前記上面と前記テーブルの下面との間には、前記テーブルを前記第4軸に沿って移動可能に支持するガイド部材が設けられる、
請求項3に記載の三次元座標測定装置。
The table is mounted on the upper surface of the surface plate.
A guide member for movably supporting the table along the fourth axis is provided between the upper surface of the surface plate and the lower surface of the table.
The three-dimensional coordinate measuring device according to claim 3.
前記上面の前記法線方向に延在して立設される第1柱部材及び第2柱部材と、前記第1柱部材及び前記第2柱部材の上端部に架け渡されて前記第1軸に沿って延在するガイド部材とを有し、前記第2軸に沿って移動可能な第1移動体と、
前記ガイド部材に設けられ、前記第1軸に沿って移動可能な第2移動体と、
前記第2移動体に設けられるとともに前記測定プローブが取り付けられ、前記第2移動体に対し前記第3軸に沿って移動可能な第3移動体と、
を有する、請求項1から4のいずれか1項に記載の三次元座標測定装置。
The first pillar member and the second pillar member erected extending in the normal direction of the upper surface, and the first pillar member and the upper end portion of the second pillar member. A first moving body that has a guide member extending along the second axis and can move along the second axis.
A second moving body provided on the guide member and movable along the first axis,
A third moving body provided on the second moving body and to which the measuring probe is attached and movable along the third axis with respect to the second moving body.
The three-dimensional coordinate measuring device according to any one of claims 1 to 4.
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