JP2020157275A - エチレンの分離方法 - Google Patents
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Abstract
Description
一般的なXRD装置(装置名:RINT UltimaIII、理学電機製)を使用し、試料のXRD測定を行った。測定条件は以下のとおりとした。
線源 : CuKα線(λ=1.54Å)
測定モード : ステップスキャン
スキャン条件: 毎分4°
発散スリット: 2/3deg
散乱スリット: 2/3deg
受光スリット: 0.3mm
ステップ幅 : 0.02°
測定範囲 : 2θ=5〜40°
ゼオライトの対イオン及びSi/Alモル比は、エネルギー分散型X線分光法(EDS)で測定・同定した。測定・同定には一般的なSEM−EDS装置(装置名:JSM−IT100 InTouchScope、日本電子(株)製)を用いた。
図1に示す分離性能評価装置を用いて、ゼオライト膜の分離性能を評価した。分離性能の評価では、第2気体として、エチレン/窒素のモル比が20/80の混合ガス、又はエチレン/水素/一酸化炭素/二酸化炭素のモル比が20/61/14/5の混合ガスを用いた。ゼオライト膜を透過した透過ガスは、スィープガス(He)により回収し、ガスクロマトグラフィーにより定量分析を実施した。測定には一般的なガスクロマトグラフ装置(装置名:Agilent 7890B、アジレント・テクノロジー(株)製、TCD検出器)を用いた。エチレン分離性能を示す分離係数は上記式(1)により算出した。
特許文献(特開2017−213488号公報)と同様の方法で、FAU型ゼオライトにより構成されるゼオライト膜を、多孔質支持体上に形成した。得られた多孔質支持体のゼオライト膜部分に対して、XRD測定を行った。XRD測定による構成相の同定により、その結晶相(ゼオライト)がFAU型であることを確認した。また、SEM−EDS測定により当該ゼオライト膜部分の対イオンがNaであり、Si/Alモル比が1.2であることを確認した。
参考例1でエチレン分離性能評価を実施したNaFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を、SUS製密閉容器内に設置し、そこでトリクロロメタン(CHCl3)蒸気に31日間暴露させた(CHCl3蒸気圧:21kPa、20℃)。その後、参考例1と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、CO透過度、及び分離係数を表1に示す。
特許文献(特開2005−289735号公報)を参考に、BEA型ゼオライトにより構成されるゼオライト膜を、多孔質支持体上に形成した。得られた多孔質支持体のゼオライト膜部分に対して、XRD測定によって構成相の同定を行い、その結晶相(ゼオライト)がBEA型であることを確認した。また、当該ゼオライト膜部分の対イオンがNaであることを確認した。
参考例2でエチレン分離性能評価を実施したNaBEA型ゼオライト膜付多孔質支持体を、実施例1と同様の方法でCHCl3蒸気に32日間暴露させた。その後、参考例1と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、CO透過度、及び分離係数を表1に示す。
特許文献(特開2016−174996号公報)を参考に、MFI型ゼオライトにより構成されるゼオライト膜を、多孔質支持体上に形成した。得られた多孔質支持体のゼオライト膜部分に対して、XRD測定によって構成相の同定を行い、その結晶相(ゼオライト)がMFI型であることを確認した。当該ゼオライト膜部分の対イオンがNaであり、Si/Alのモル比が20であることから、NaZSM−5型ゼオライトであることを確認した。
参考例3でエチレン分離性能評価を実施したNaZSM−5型ゼオライト膜付多孔質支持体を、実施例1と同様の方法でCHCl3蒸気に30日間暴露させた。その後、膜温度を40℃にした以外は参考例1と同様の条件で、エチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、CO透過度、及び分離係数を表1に示す。
特許文献(特許第6389625号公報)を参考にして、実施例1と同様の方法で作製したNaFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体からAgFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を得た。参考例1と同様の条件で、エチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、CO透過度、及び分離係数を表1に示す。
参考例1と同様の方法で作製したNaFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を0.01モル%のAgNO3水溶液に2h浸漬した後、蒸留水で複数回洗浄してAgFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を得た。当該ゼオライト膜部分の対イオンがAgであることを確認した。当該膜付多孔質支持体を、実施例1と同様の方法でCHCl3蒸気に31日間暴露させた。その後、参考例1と同様の条件で、エチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、CO透過度、及び分離係数を表1に示す。
参考例1と同様の方法で作製したNaFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を0.1モル%のLiCl水溶液に2h浸漬した後、蒸留水で複数回洗浄してLiFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を得た。当該膜付多孔質支持体を、図1に示す評価装置の恒温槽内へ取り付け、恒温槽の温度を80℃に保持した状態で、エチレン/窒素のモル比が20/80の混合ガスとなるようにゼオライト膜表面へ供給し、エチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、窒素透過度、及び分離係数を表2に示す。
参考例1と同様の方法で作製したNaFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体について、参考例5と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、窒素透過度、及び分離係数を表2に示す。
参考例1と同様の方法で作製したNaFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を0.1モル%のKCl水溶液に2h浸漬した後、蒸留水で複数回洗浄してKFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を得た。当該膜付多孔質支持体について、参考例5と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、窒素透過度、及び分離係数を表2に示す。
参考例1と同様の方法で作製したNaFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を0.1モル%のRbCl水溶液に2h浸漬した後、蒸留水で複数回洗浄してRbFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を得た。当該膜付多孔質支持体について、参考例5と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、窒素透過度、及び分離係数を表2に示す。
参考例1と同様の方法で作製したNaFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を0.1モル%のCsCl水溶液に2h浸漬した後、蒸留水で複数回洗浄してCsFAU型ゼオライト膜付多孔質支持体を得た。当該膜付多孔質支持体について、参考例5と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、窒素透過度、及び分離係数を表2に示す。
参考例2と同様の方法で作製したNaBEA型ゼオライト膜付多孔質支持体について、恒温槽の温度を60℃にした以外は参考例5と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、窒素透過度、及び分離係数を表2に示す。
参考例3と同様の方法で作製したNaZSM−5型ゼオライト膜付多孔質支持体を、0.1モル%のLiCl水溶液に2h浸漬した後、蒸留水で複数回洗浄してLiZSM−5型ゼオライト膜付多孔質支持体を得た。当該膜付多孔質支持体について、恒温槽の温度を60℃にした以外は参考例1と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、CO透過度、及び分離係数を表3に示す。
参考例3と同様の方法で作製したNaZSM−5型ゼオライト膜付多孔質支持体について、参考例11と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、CO透過度、及び分離係数を表3に示す。
参考例3と同様の方法で作製したNaZSM−5型ゼオライト膜付多孔質支持体を、0.1モル%のKCl水溶液に2h浸漬した後、蒸留水で複数回洗浄してKZSM−5型ゼオライト膜付多孔質支持体を得た。当該膜付多孔質支持体について、参考例11と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、CO透過度、及び分離係数を表3に示す。
参考例3と同様の方法で作製したNaZSM−5型ゼオライト膜付多孔質支持体を、0.1モル%のRbCl水溶液に2h浸漬した後、蒸留水で複数回洗浄してRbZSM−5型ゼオライト膜付多孔質支持体を得た。当該膜付多孔質支持体について、参考例11と同様の条件でエチレン分離性能評価を実施した。エチレン透過度、CO透過度、及び分離係数を表3に示す。
2 窒素ガス又は水素/一酸化炭素/二酸化炭素の混合ガス
3 ヘリウム
4 マスフローコントローラー
5 マスフローコントローラー
6 マスフローコントローラー
7 恒温槽
8 モジュール
9 ゼオライト膜付多孔質支持体(塗潰し部)
10 排気
11 ガスクロマトグラフ
12 排気
Claims (6)
- 有機塩素化合物を含む第1気体に暴露されたゼオライト膜を用いるエチレンの分離であって、
エチレンを含む複数の成分からなる第2気体を、前記第1気体に暴露された前記ゼオライト膜に接触させる工程を有し、
前記ゼオライト膜が、対イオンがアルカリ金属イオンであるゼオライトにより構成されていることを特徴とするエチレンの分離方法。 - 前記ゼオライト膜がアルミナにより構成されるアルミナ多孔質支持体上に形成されていることを特徴とする請求項1に記載のエチレンの分離方法。
- 前記アルカリ金属イオンがナトリウムイオンであることを特徴とする、請求項1または2に記載のエチレンの分離方法。
- 前記ゼオライトが、MFI型ゼオライト、BEA型ゼオライト、FAU型ゼオライトからなる群から少なくとも1種選択されるゼオライトであることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれか一項に記載のエチレンの分離方法。
- 前記ゼオライト膜のSi/Alモル比が1〜1000であることを特徴とする、請求項1乃至4のいずれか一項に記載のエチレンの分離方法。
- 前記有機塩素化合物がクロロメタン、ジクロロメタン、トリクロロメタン、テトラクロロメタン、クロロエタン、ジクロロエタン、トリクロロエタン、テトラクロロエタン、ペンタクロロエタン、ヘキサクロロエタン、クロロエチレン、ジクロロエチレン、トリクロロエチレン、テトラクロロエチレンからなる群から少なくとも1種選択される化合物であることを特徴とする、請求項1乃至5のいずれか一項に記載のエチレンの分離方法。
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