JP2020136542A - Manufacturing method of print circuit board - Google Patents

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Abstract

To provide a manufacturing method of a print circuit board, capable of suppressing the generation of cracking along a pattern in an inner-layer substrate.SOLUTION: A manufacturing method of a print circuit board comprises: (A) a step of forming an insulation layer in which a resin component layer of a lamination body, having an inner layer substrate and the resin component layer including a resin component so as to be jointed to the inner layer substrate is thermally hardened at 130°C or more and 220°C or less, and which contains a hardening material of the resin component; (C) a step in which the insulation layer is anneal-treated under 60°C or more and 150°C or less; and (D) a step of performing a desmear process of the insulation layer with an oxidant solution in this order. In the manufacturing method of the print circuit board, a water absorption of the hardening material of the resin component is 0.6% or less.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、プリント配線板の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board.

多層プリント配線板の製造技術としては、内層基板上に絶縁層と導体層を交互に積み重ねるビルドアップ方式による製造方法が知られている。絶縁層は、一般に、樹脂組成物を硬化させることにより形成される。 As a manufacturing technique for a multilayer printed wiring board, a manufacturing method by a build-up method in which insulating layers and conductor layers are alternately stacked on an inner layer substrate is known. The insulating layer is generally formed by curing the resin composition.

例えば、特許文献1には、シアネートエステル樹脂、特定のエポキシ樹脂及び活性エステル硬化剤を含む樹脂組成物を用いて、プリント配線板における絶縁層を形成することが開示されており、絶縁層は、低粗度かつめっきにより形成される導体層の高いピール強度を両立し、さらに低熱膨張率を達成することが記載されている。 For example, Patent Document 1 discloses that a resin composition containing a cyanate ester resin, a specific epoxy resin, and an active ester curing agent is used to form an insulating layer in a printed wiring board. It is described that both low roughness and high peel strength of the conductor layer formed by plating are achieved, and a low thermal expansion rate is achieved.

特開2011−144361号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-144361

近年、電子機器や電子部品の小型化のニーズにより、基板の薄型化、大型化が求められている。このため、絶縁層を形成する樹脂組成物の量を少なくすることで薄型化に対応している。 In recent years, due to the needs for miniaturization of electronic devices and electronic components, there is a demand for thinner and larger substrates. Therefore, the thickness can be reduced by reducing the amount of the resin composition forming the insulating layer.

しかし、絶縁層を形成する樹脂組成物の量が少なくなると、粗化工程後に内層基板中の配線やパッドなどの下層銅形状に沿った割れ、つまり内層基板のパターンに沿った割れが発生することがわかってきた。 However, when the amount of the resin composition forming the insulating layer is small, cracks along the shape of the lower layer copper such as wiring and pads in the inner layer substrate, that is, cracks along the pattern of the inner layer substrate occur after the roughening step. I have come to understand.

本発明の課題は、内層基板のパターンに沿った割れの発生を抑制できるプリント配線板の製造方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a printed wiring board capable of suppressing the occurrence of cracks along a pattern of an inner layer substrate.

本発明者らは、粗化工程後の基板のパターンに沿った割れが発生する原因を以下のように考えた。内層基板のパターンにおける配線及びパッドなどの凸部上の部分では、一般に、絶縁層に対して応力の集中が生じやすい。ところが、凸部上の絶縁層は局所的に薄くなっていることから、応力が大きくなるにもかかわらず、基板全体に対する樹脂組成物の割合が減っている場合には、応力に対する絶縁層の耐久性は低くなってしまっている。よって、絶縁層が応力に耐えきれずに割れが発生してしまうと考えた。これを踏まえて本発明者らが検討した結果、一定条件下で加熱を行い、かつ樹脂組成物の硬化物の吸水率を所定値以下とすることにより、内層基板のパターンに沿った割れの発生を抑制できることを見出し、本発明を完成するに至った。 The present inventors considered the cause of cracking along the pattern of the substrate after the roughening step as follows. In the pattern of the inner layer substrate, stress concentration is generally likely to occur on the insulating layer in the portion on the convex portion such as the wiring and the pad. However, since the insulating layer on the convex portion is locally thinned, the durability of the insulating layer against stress is reduced when the ratio of the resin composition to the entire substrate is reduced even though the stress is increased. The sex has become low. Therefore, it was considered that the insulating layer could not withstand the stress and cracks would occur. As a result of studies by the present inventors based on this, by heating under certain conditions and setting the water absorption rate of the cured product of the resin composition to a predetermined value or less, cracks occur along the pattern of the inner layer substrate. We have found that it is possible to suppress the above, and have completed the present invention.

すなわち、本発明は以下の内容を含む。
[1] (A)内層基板と、該内層基板上に接合した、樹脂組成物を含む樹脂組成物層とを備える積層体の樹脂組成物層を、130℃以上220℃以下で熱硬化させ、樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層を形成する工程、
(C)絶縁層を60℃以上150℃以下でアニール処理する工程、及び
(D)絶縁層を酸化剤溶液でデスミア処理する工程、をこの順で含むプリント配線板の製造方法であって、
樹脂組成物の硬化物の吸水率が0.6%以下である、プリント配線板の製造方法。
[2] (A)工程が、
(A−1)支持体と、該支持体上に設けられた、樹脂組成物を含む樹脂組成物層とを含む樹脂シートを準備する工程、
(A−2)樹脂組成物層が内層基板と接合するように樹脂シートを積層し、積層体を得る工程、及び
(A−3)樹脂組成物層を、130℃以上220℃以下で熱硬化させ、樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層を形成する工程、を含む、[1]に記載のプリント配線板の製造方法。
[3] (A)工程後(C)工程前に、
(B)絶縁層を室温まで冷却する工程、を含む、[1]又は[2]に記載のプリント配線板の製造方法。
[4] (C)工程は、60℃以上150℃以下の温度に加熱された液体中に絶縁層を浸漬させて行う、[1]〜[3]のいずれかに記載のプリント配線板の製造方法。
[5] 液体のpHが6以上14以下である、[4]に記載のプリント配線板の製造方法。
[6] 液体のpHが6.5以上7.5以下である、[5]に記載のプリント配線板の製造方法。
[7] 液体が、水である、[4]〜[6]のいずれかに記載のプリント配線板の製造方法。
[8] 樹脂組成物は、活性エステル系硬化剤を含む、[1]〜[7]のいずれかに記載のプリント配線板の製造方法。
[9] 樹脂組成物は、無機充填材を含む、[1]〜[8]のいずれかに記載のプリント配線板の製造方法。
[10] 無機充填材の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、50質量%以上である、[9]に記載のプリント配線板の製造方法。
That is, the present invention includes the following contents.
[1] (A) The resin composition layer of the laminate including the inner layer substrate and the resin composition layer containing the resin composition bonded on the inner layer substrate is thermoset at 130 ° C. or higher and 220 ° C. or lower. A step of forming an insulating layer containing a cured product of a resin composition,
A method for manufacturing a printed wiring board, which includes (C) a step of annealing the insulating layer at 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower, and (D) a step of desmearing the insulating layer with an oxidizing agent solution in this order.
A method for manufacturing a printed wiring board, wherein the cured product of the resin composition has a water absorption rate of 0.6% or less.
[2] Step (A) is
(A-1) A step of preparing a resin sheet containing a support and a resin composition layer containing the resin composition provided on the support.
(A-2) A step of laminating resin sheets so that the resin composition layer is bonded to the inner layer substrate to obtain a laminate, and (A-3) thermosetting the resin composition layer at 130 ° C. or higher and 220 ° C. or lower. The method for producing a printed wiring board according to [1], which comprises a step of forming an insulating layer containing a cured product of the resin composition.
[3] (A) After the process (C) Before the process
(B) The method for manufacturing a printed wiring board according to [1] or [2], which comprises a step of cooling the insulating layer to room temperature.
[4] The production of the printed wiring board according to any one of [1] to [3], wherein the step (C) is carried out by immersing the insulating layer in a liquid heated to a temperature of 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower. Method.
[5] The method for manufacturing a printed wiring board according to [4], wherein the pH of the liquid is 6 or more and 14 or less.
[6] The method for manufacturing a printed wiring board according to [5], wherein the pH of the liquid is 6.5 or more and 7.5 or less.
[7] The method for manufacturing a printed wiring board according to any one of [4] to [6], wherein the liquid is water.
[8] The method for producing a printed wiring board according to any one of [1] to [7], wherein the resin composition contains an active ester-based curing agent.
[9] The method for producing a printed wiring board according to any one of [1] to [8], wherein the resin composition contains an inorganic filler.
[10] The method for producing a printed wiring board according to [9], wherein the content of the inorganic filler is 50% by mass or more when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass.

本発明によれば、内層基板のパターンに沿った割れの発生を抑制できるプリント配線板の製造方法を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a method for manufacturing a printed wiring board capable of suppressing the occurrence of cracks along the pattern of the inner layer substrate.

本発明のプリント配線板の製造方法について詳細に説明する前に、本発明のプリント配線板の製造方法において使用され得る樹脂シートについて説明する。 Before explaining in detail the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention, a resin sheet that can be used in the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention will be described.

[樹脂シート]
樹脂シートは、支持体と、該支持体上に設けられた樹脂組成物層とを含む。以下、樹脂シートが有する樹脂組成物層及び支持体について説明する。
[Resin sheet]
The resin sheet includes a support and a resin composition layer provided on the support. Hereinafter, the resin composition layer and the support of the resin sheet will be described.

(樹脂組成物層)
樹脂組成物層に用いられる樹脂組成物は、(A)工程に記載の条件で硬化させた硬化物の吸水率が0.6%以下となる樹脂組成物を用いることができる。吸水率が0.6%以下の樹脂組成物を用いて絶縁層を形成することにより、内層基板のパターンに沿った割れの発生を抑制することができる。
(Resin composition layer)
As the resin composition used for the resin composition layer, a resin composition having a water absorption rate of 0.6% or less of the cured product cured under the conditions described in the step (A) can be used. By forming the insulating layer using a resin composition having a water absorption rate of 0.6% or less, it is possible to suppress the occurrence of cracks along the pattern of the inner layer substrate.

樹脂組成物の硬化物の吸水率としては、0.6%以下であり、好ましくは0.55%以下、より好ましくは0.5%以下であり、好ましくは0.1%以上、より好ましくは0.15%以上、さらに好ましくは0.2%以上である。吸水率は、後述する実施例に記載の方法にて測定することができる。 The water absorption rate of the cured product of the resin composition is 0.6% or less, preferably 0.55% or less, more preferably 0.5% or less, preferably 0.1% or more, and more preferably. It is 0.15% or more, more preferably 0.2% or more. The water absorption rate can be measured by the method described in Examples described later.

樹脂組成物の硬化物の吸水率が0.6%以下とするには、例えば、活性エステル系硬化剤を樹脂組成物に含有させる方法、無機充填材を樹脂組成物に含有させる方法等が挙げられる。また、樹脂組成物としては、プリント配線板の絶縁層を形成する際に使用される硬化性樹脂を用いることができる。したがって、一実施形態において、樹脂組成物は、(A)活性エステル系硬化剤、(B)熱硬化性樹脂、及び(C)無機充填材を含む。樹脂組成物は、必要に応じて、さらに(D)熱可塑性樹脂、(E)硬化促進剤、及び(F)その他の添加剤を含んでいてもよい。以下、樹脂組成物に含まれる各成分について詳細に説明する。 In order to reduce the water absorption rate of the cured product of the resin composition to 0.6% or less, for example, a method of incorporating an active ester-based curing agent in the resin composition, a method of incorporating an inorganic filler in the resin composition, and the like can be mentioned. Be done. Further, as the resin composition, a curable resin used when forming an insulating layer of a printed wiring board can be used. Therefore, in one embodiment, the resin composition comprises (A) an active ester-based curing agent, (B) a thermosetting resin, and (C) an inorganic filler. The resin composition may further contain (D) a thermoplastic resin, (E) a curing accelerator, and (F) other additives, if necessary. Hereinafter, each component contained in the resin composition will be described in detail.

−(A)活性エステル系硬化剤−
一実施形態において、樹脂組成物は(A)成分として、活性エステル系硬化剤を含有し得る。(A)活性エステル系硬化剤を使用すると、通常、硬化物の吸水率を低くできる。さらに、(A)成分と後述する熱硬化性樹脂との結合は強固であるので、硬化物の機械的強度を向上させることができる。(A)成分は、1種類単独で用いてもよく、又は2種類以上を組み合わせて用いてもよい。
-(A) Active ester-based curing agent-
In one embodiment, the resin composition may contain an active ester-based curing agent as the component (A). When an active ester-based curing agent (A) is used, the water absorption rate of the cured product can usually be lowered. Further, since the bond between the component (A) and the thermosetting resin described later is strong, the mechanical strength of the cured product can be improved. The component (A) may be used alone or in combination of two or more.

(A)活性エステル系硬化剤としては、一般にフェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N−ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の、反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましく用いられる。当該活性エステル系硬化剤は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物とヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。特に耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物とヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル系硬化剤が好ましく、カルボン酸化合物とフェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル系硬化剤がより好ましい。カルボン酸化合物としては、例えば安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等が挙げられる。フェノール化合物又はナフトール化合物としては、例えば、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、フェノールフタリン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、カテコール、α−ナフトール、β−ナフトール、1,5−ジヒドロキシナフタレン、1,6−ジヒドロキシナフタレン、2,6−ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物、フェノールノボラック等が挙げられる。ここで、「ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物」とは、ジシクロペンタジエン1分子にフェノール2分子が縮合して得られるジフェノール化合物をいう。 (A) As the active ester-based curing agent, generally, 2 ester groups having high reactive activity such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds are contained in one molecule. Compounds having more than one are preferably used. The active ester-based curing agent is preferably obtained by a condensation reaction between a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and / or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester-based curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester-based curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, pyromellitic acid and the like. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m-. Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenol, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglusin, Examples thereof include benzenetriol, dicyclopentadiene-type diphenol compounds, and phenol novolac. Here, the "dicyclopentadiene-type diphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensing two phenol molecules with one dicyclopentadiene molecule.

具体的には、ジシクロペンタジエン型活性エステル系硬化剤、ナフタレン構造を含む活性エステル系硬化剤、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル系硬化剤、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル系硬化剤が好ましく、中でもナフタレン構造を含む活性エステル系硬化剤、ジシクロペンタジエン型活性エステル系硬化剤がより好ましく、ジシクロペンタジエン型活性エステル系硬化剤がさらに好ましい。ジシクロペンタジエン型活性エステル系硬化剤としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル系硬化剤が好ましい。「ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造」とは、フェニレン−ジシクロペンチレン−フェニレンからなる2価の構造単位を表す。 Specifically, a dicyclopentadiene-type active ester-based curing agent, an active ester-based curing agent containing a naphthalene structure, an active ester-based curing agent containing an acetylated product of phenol novolac, and an active ester-based curing agent containing a benzoyl compound of phenol novolac. Of these, an active ester-based curing agent containing a naphthalene structure and a dicyclopentadiene-type active ester-based curing agent are more preferable, and a dicyclopentadiene-type active ester-based curing agent is further preferable. As the dicyclopentadiene type active ester type curing agent, an active ester type curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure is preferable. The "dicyclopentadiene-type diphenol structure" represents a divalent structural unit composed of phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

(A)活性エステル系硬化剤の市販品としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル系硬化剤として、「EXB9451」(DIC社製、活性エステル基当量223)、「EXB9460」(DIC社製、活性エステル基当量223)、「EXB9460S」(DIC社製、活性エステル基当量223)、「HPC−8000−65T」(DIC社製、活性エステル基当量223)、「HPC−8000H−65TM」(DIC社製、活性エステル基当量224)、「HPC8000L−65TM」(DIC社製、活性エステル基当量220)、ナフタレン構造を含む活性エステル系硬化剤として「EXB−8100L−65T」(DIC社製、活性エステル基当量234)、「EXB8150−60T」(DIC社製、活性エステル基当量226)、「EXB9416−70BK」(DIC社製、活性エステル基当量274)、「PC1300−02」(エア・ウォーター社製、活性エステル基当量200)、りん含有活性エステル系硬化剤として「EXB9401」(DIC社製、活性エステル基当量307)、フェノールノボラックのアセチル化物である活性エステル系硬化剤として「DC808」(三菱ケミカル社製、活性エステル基当量149)、フェノールノボラックのベンゾイル化物である活性エステル系硬化剤として「YLH1026」(三菱ケミカル社製)、「YLH1030」(三菱ケミカル社製)、「YLH1048」(三菱ケミカル社製)等が挙げられる。 (A) Commercially available products of the active ester-based curing agent include "EXB9451" (manufactured by DIC, active ester group equivalent 223) and "EXB9460" (DIC) as active ester-based curing agents containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure. "EXB9460S" (manufactured by DIC, active ester group equivalent 223), "HPC-8000-65T" (manufactured by DIC, active ester group equivalent 223), "HPC-8000H-65TM" (DIC, active ester group equivalent 224), "HPC8000L-65TM" (DIC, active ester group equivalent 220), "EXB-8100L-65T" (DIC) as an active ester-based curing agent containing a naphthalene structure. , "EXB8150-60T" (manufactured by DIC, active ester group equivalent 226), "EXB9416-70BK" (manufactured by DIC, active ester group equivalent 274), "PC1300-02" (air) -Water Co., Ltd., active ester group equivalent 200), phosphorus-containing active ester-based curing agent "EXB9401" (DIC Co., Ltd., active ester group equivalent 307), phenol novolac acetylated active ester-based curing agent "DC808" (Made by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., active ester group equivalent 149), "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), "YLH1030" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), "YLH1048" as an active ester-based curing agent which is a benzoyl compound of phenol novolac (Manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) and the like.

(A)活性エステル系硬化剤の活性エステル基当量は、吸水率が低い硬化物を得る観点から、好ましくは50g/eq.〜500g/eq.、より好ましくは50g/eq.〜400g/eq.、さらに好ましくは100g/eq.〜300g/eq.である。活性エステル基当量は、1当量の活性エステル基を含む活性エステル系硬化剤の質量である。 The active ester group equivalent of the active ester-based curing agent (A) is preferably 50 g / eq. From the viewpoint of obtaining a cured product having a low water absorption rate. ~ 500 g / eq. , More preferably 50 g / eq. ~ 400 g / eq. , More preferably 100 g / eq. ~ 300 g / eq. Is. The active ester group equivalent is the mass of the active ester-based curing agent containing 1 equivalent of the active ester group.

(A)活性エステル系硬化剤の含有量は、吸水率が低い硬化物を得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは1質量%以上、より好ましくは3質量%以上、さらに好ましくは5質量%以上、10質量%以上、15質量%以上である。また、上限は好ましくは30質量%以下、より好ましくは28質量%以下、さらに好ましくは25質量%以下である。なお、本発明において、樹脂組成物中の各成分の含有量は、別途明示のない限り、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたときの値である。 The content of the active ester-based curing agent is preferably 1% by mass or more, more preferably 3 when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of obtaining a cured product having a low water absorption rate. It is by mass% or more, more preferably 5% by mass or more, 10% by mass or more, and 15% by mass or more. The upper limit is preferably 30% by mass or less, more preferably 28% by mass or less, and further preferably 25% by mass or less. In the present invention, the content of each component in the resin composition is a value when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, unless otherwise specified.

−(B)熱硬化性樹脂−
一実施形態において、樹脂組成物は、(B)成分として(B)熱硬化性樹脂を含有する。熱硬化性樹脂としては、絶縁層等の絶縁部材として使用可能な熱硬化性樹脂を用いることができる。このような熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール系樹脂、ナフトール系樹脂、ベンゾオキサジン系樹脂、シアネートエステル系樹脂、カルボジイミド系樹脂、アミン系樹脂、酸無水物系樹脂等が挙げられる。但し、(A)成分に該当するものは(B)成分から除かれる。以下、フェノール系樹脂、ナフトール系樹脂、ベンゾオキサジン系樹脂、シアネートエステル系樹脂、カルボジイミド系樹脂、アミン系樹脂、酸無水物系樹脂をまとめて「硬化剤」ということがある。熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂を含むことが好ましい。(B)成分は、1種類単独で用いてもよく、又は2種類以上を組み合わせて用いてもよい。
-(B) Thermosetting resin-
In one embodiment, the resin composition contains (B) a thermosetting resin as a component (B). As the thermosetting resin, a thermosetting resin that can be used as an insulating member such as an insulating layer can be used. Examples of such thermosetting resins include epoxy resins, phenolic resins, naphthol resins, benzoxazine resins, cyanate ester resins, carbodiimide resins, amine resins, acid anhydride resins and the like. .. However, those corresponding to the component (A) are excluded from the component (B). Hereinafter, phenolic resins, naphthol resins, benzoxazine resins, cyanate ester resins, carbodiimide resins, amine resins, and acid anhydride resins may be collectively referred to as "curing agents". The thermosetting resin preferably contains an epoxy resin. As the component (B), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.

(B)成分としてのエポキシ樹脂としては、例えば、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert−ブチル−カテコール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサン型エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂等が挙げられる。エポキシ樹脂は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the epoxy resin as the component (B) include bixilenol type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, and dicyclopentadiene type epoxy resin. Trisphenol type epoxy resin, naphthol novolac type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester Type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin having a butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexane type epoxy Examples thereof include resins, cyclohexanedimethanol type epoxy resins, naphthylene ether type epoxy resins, trimethylol type epoxy resins, and tetraphenylethane type epoxy resins. One type of epoxy resin may be used alone, or two or more types may be used in combination.

樹脂組成物は、(B)成分として、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、(B)成分としてのエポキシ樹脂の不揮発成分100質量%に対して、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂の割合は、好ましくは50質量%以上、より好ましくは60質量%以上、特に好ましくは70質量%以上である。 The resin composition preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule as the component (B). From the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention, the ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is preferable with respect to 100% by mass of the non-volatile component of the epoxy resin as the component (B). Is 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, and particularly preferably 70% by mass or more.

エポキシ樹脂には、温度20℃で液状のエポキシ樹脂(以下「液状エポキシ樹脂」ということがある。)と、温度20℃で固体状のエポキシ樹脂(以下「固体状エポキシ樹脂」ということがある。)とがある。樹脂組成物は、(B)成分として、液状エポキシ樹脂のみを含んでいてもよく、固体状エポキシ樹脂のみを含んでいてもよく、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて含んでいてもよい。(B)成分としては樹脂シートの形態で使用する場合に十分な可撓性が得られたり、樹脂組成物層の硬化物の破断強度を向上させたりできる観点から、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて用いることが好ましい。 The epoxy resin may be a liquid epoxy resin at a temperature of 20 ° C. (hereinafter sometimes referred to as "liquid epoxy resin") or a solid epoxy resin at a temperature of 20 ° C. (hereinafter referred to as "solid epoxy resin"). ). The resin composition may contain only the liquid epoxy resin as the component (B), may contain only the solid epoxy resin, or may contain a combination of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin. Good. As the component (B), a liquid epoxy resin and a solid epoxy can be obtained from the viewpoint of obtaining sufficient flexibility when used in the form of a resin sheet and improving the breaking strength of the cured product of the resin composition layer. It is preferable to use it in combination with a resin.

固体状エポキシ樹脂としては、1分子中に3個以上のエポキシ基を有する固体状エポキシ樹脂が好ましく、1分子中に3個以上のエポキシ基を有する芳香族系の固体状エポキシ樹脂がより好ましい。 As the solid epoxy resin, a solid epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule is preferable, and an aromatic solid epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule is more preferable.

固体状エポキシ樹脂としては、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂が好ましく、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂がより好ましい。 Examples of the solid epoxy resin include bixilenol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, and biphenyl. Type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin are preferable, and bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, A bixilenol type epoxy resin is more preferable.

固体状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC社製の「HP4032H」(ナフタレン型エポキシ樹脂);DIC社製の「HP−4700」、「HP−4710」(ナフタレン型4官能エポキシ樹脂);DIC社製の「N−690」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂);DIC社製の「N−695」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂);DIC社製の「HP−7200」、「HP−7200HH」、「HP−7200H」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂);DIC社製の「EXA−7311」、「EXA−7311−G3」、「EXA−7311−G4」、「EXA−7311−G4S」、「HP6000」(ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「EPPN−502H」(トリスフェノール型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「NC7000L」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「NC3000H」、「NC3000」、「NC3000L」、「NC3100」(ビフェニル型エポキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「ESN475V」(ナフトール型エポキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「ESN485」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX4000H」、「YX4000」、「YL6121」(ビフェニル型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX4000HK」(ビキシレノール型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX8800」(アントラセン型エポキシ樹脂);大阪ガスケミカル社製の「PG−100」、「CG−500」;三菱ケミカル社製の「YL7760」(ビスフェノールAF型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YL7800」(フルオレン型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER1010」(固体状ビスフェノールA型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER1031S」(テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂)等が挙げられる。これらは、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of the solid epoxy resin include "HP4032H" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC; "HP-4700" and "HP-4710" (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin) manufactured by DIC; DIC. "N-690" (cresol novolac type epoxy resin); DIC "N-695" (cresol novolac type epoxy resin); DIC "HP-7200", "HP-7200HH", "HP" -7200H "(dicyclopentadiene type epoxy resin);" EXA-7311 "," EXA-7311-G3 "," EXA-7311-G4 "," EXA-7311-G4S "," HP6000 "(made by DIC) Naphthylene ether type epoxy resin); "EPPN-502H" (trisphenol type epoxy resin) manufactured by Nippon Kayakusha; "NC7000L" (naphthol novolac type epoxy resin) manufactured by Nihon Kayakusha; "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3100" (biphenyl type epoxy resin); "ESN475V" (naphthol type epoxy resin) manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd .; "ESN485" manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. (Naftor novolac type epoxy resin); "YX4000H", "YX4000", "YL6121" (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd .; "YX4000HK" (bixilenol type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd .; "YX8800" (anthracene type epoxy resin) manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd .; "PG-100" and "CG-500" manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd .; "YL7760" (bisphenol AF type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "YL7800" (fluorene type epoxy resin); "jER1010" (solid bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd .; "jER1031S" (tetraphenylethane type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. .. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

液状エポキシ樹脂としては、1分子中に2個以上のエポキシ基を有する液状エポキシ樹脂が好ましい。 As the liquid epoxy resin, a liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is preferable.

液状エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂、シクロヘキサン型エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、及びブタジエン構造を有するエポキシ樹脂が好ましい。 Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, and ester skeleton. An alicyclic epoxy resin having an alicyclic epoxy resin, a cyclohexane type epoxy resin, a cyclohexanedimethanol type epoxy resin, a glycidylamine type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure are preferable.

液状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC社製の「HP4032」、「HP4032D」、「HP4032SS」(ナフタレン型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「828US」、「jER828EL」、「825」、「エピコート828EL」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER807」、「1750」(ビスフェノールF型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER152」(フェノールノボラック型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「630」、「630LSD」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「ZX1059」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品);ナガセケムテックス社製の「EX−721」(グリシジルエステル型エポキシ樹脂);ダイセル社製の「セロキサイド2021P」(エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂);ダイセル社製の「PB−3600」(ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「ZX1658」、「ZX1658GS」(液状1,4−グリシジルシクロヘキサン型エポキシ樹脂)等が挙げられる。これらは、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of the liquid epoxy resin include "HP4032", "HP4032D", and "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC; "828US", "jER828EL", "825", and "Epicoat" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. 828EL (bisphenol A type epoxy resin); Mitsubishi Chemical's "jER807", "1750" (bisphenol F type epoxy resin); Mitsubishi Chemical's "jER152" (phenol novolac type epoxy resin); Mitsubishi Chemical's "630", "630LSD" (glycidylamine type epoxy resin); "ZX1059" manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. (mixture of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin); manufactured by Nagase ChemteX. "EX-721" (glycidyl ester type epoxy resin); "Selokiside 2021P" manufactured by Daicel Co., Ltd. (alicyclic epoxy resin having an ester skeleton); "PB-3600" manufactured by Daicel Co., Ltd. (epoxy resin having a butadiene structure) Examples thereof include "ZX1658" and "ZX1658GS" (liquid 1,4-glycidylcyclohexane type epoxy resin) manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

(B)成分として液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて用いる場合、それらの量比(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂)は、質量比で、好ましくは10:1〜1:20、より好ましくは5:1〜1:15、特に好ましくは1:1〜1:10である。液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂との量比が斯かる範囲にあることにより、本発明の所望の効果を顕著に得ることができる。 When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as the component (B), their quantity ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is preferably 10: 1 to 1:20 in terms of mass ratio. It is more preferably 5: 1 to 1:15, and particularly preferably 1: 1 to 1:10. When the amount ratio of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin is within such a range, the desired effect of the present invention can be remarkably obtained.

(B)成分としてのエポキシ樹脂のエポキシ当量は、好ましくは50g/eq〜5000g/eq、より好ましくは50g/eq〜3000g/eq、さらに好ましくは80g/eq〜2000g/eq、さらにより好ましくは110g/eq〜1000g/eqである。この範囲となることで、樹脂組成物の硬化物の架橋密度が十分となり、表面粗さの小さい絶縁層をもたらすことができる。エポキシ当量は、1当量のエポキシ基を含む樹脂の質量である。このエポキシ当量は、JIS K7236に従って測定することができる。 The epoxy equivalent of the epoxy resin as the component (B) is preferably 50 g / eq to 5000 g / eq, more preferably 50 g / eq to 3000 g / eq, still more preferably 80 g / eq to 2000 g / eq, and even more preferably 110 g. / Eq to 1000 g / eq. Within this range, the crosslink density of the cured product of the resin composition becomes sufficient, and an insulating layer having a small surface roughness can be provided. Epoxy equivalent is the mass of a resin containing 1 equivalent of an epoxy group. This epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236.

(B)成分としてのエポキシ樹脂の重量平均分子量(Mw)は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは100〜5000、より好ましくは250〜3000、さらに好ましくは400〜1500である。
樹脂の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により、ポリスチレン換算の値として測定できる。
The weight average molecular weight (Mw) of the epoxy resin as the component (B) is preferably 100 to 5000, more preferably 250 to 3000, still more preferably 400 to 1500, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effect of the present invention. is there.
The weight average molecular weight of the resin can be measured as a polystyrene-equivalent value by a gel permeation chromatography (GPC) method.

(B)成分としてのエポキシ樹脂の含有量は、良好な機械強度、絶縁信頼性を示す絶縁層を得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは1質量%以上、より好ましくは3質量%以上、さらに好ましくは5質量%以上である。エポキシ樹脂の含有量の上限は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは35質量%以下、より好ましくは25質量%以下、特に好ましくは20質量%以下である。 The content of the epoxy resin as the component (B) is preferably 1% by mass when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of obtaining an insulating layer showing good mechanical strength and insulation reliability. As mentioned above, it is more preferably 3% by mass or more, still more preferably 5% by mass or more. The upper limit of the content of the epoxy resin is preferably 35% by mass or less, more preferably 25% by mass or less, and particularly preferably 20% by mass or less, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention.

フェノール系樹脂及びナフトール系樹脂としては、耐熱性及び耐水性の観点から、ノボラック構造を有するものが好ましい。また、導体層との密着性の観点から、含窒素フェノール系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノール系樹脂がより好ましい。 As the phenolic resin and the naphthol resin, those having a novolak structure are preferable from the viewpoint of heat resistance and water resistance. Further, from the viewpoint of adhesion to the conductor layer, a nitrogen-containing phenol-based curing agent is preferable, and a triazine skeleton-containing phenol-based resin is more preferable.

フェノール系樹脂及びナフトール系樹脂の具体例としては、例えば、明和化成社製の「MEH−7700」、「MEH−7810」、「MEH−7851」、日本化薬社製の「NHN」、「CBN」、「GPH」、日鉄ケミカル&マテリアル社製の「SN170」、「SN180」、「SN190」、「SN475」、「SN485」、「SN495」、「SN−495V」、「SN375」、「SN395」、DIC社製の「TD−2090」、「LA−7052」、「LA−7054」、「LA−1356」、「LA−3018−50P」、「EXB−9500」等が挙げられる。 Specific examples of the phenolic resin and the naphthol resin include "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., and "NHN" and "CBN" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. , "GPH", "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495", "SN-495V", "SN375", "SN395" manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd. , "TD-2090", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA-3018-50P", "EXB-9500", etc. manufactured by DIC Corporation.

ベンゾオキサジン系樹脂の具体例としては、JFEケミカル社製の「JBZ−OD100」(ベンゾオキサジン環当量218)、「JBZ−OP100D」(ベンゾオキサジン環当量218)、「ODA−BOZ」(ベンゾオキサジン環当量218);四国化成工業社製の「P−d」(ベンゾオキサジン環当量217)、「F−a」(ベンゾオキサジン環当量217);昭和高分子社製の「HFB2006M」(ベンゾオキサジン環当量432)等が挙げられる。 Specific examples of the benzoxazine-based resin include "JBZ-OD100" (benzoxazine ring equivalent 218), "JBZ-OP100D" (benzoxazine ring equivalent 218), and "ODA-BOZ" (benzoxazine ring) manufactured by JFE Chemical Co., Ltd. Equivalent 218); "Pd" (benzoxazine ring equivalent 217), "FA" (benzoxazine ring equivalent 217) manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd .; "HFB2006M" (benzoxazine ring equivalent) manufactured by Showa Polymer Co., Ltd. 432) and the like.

シアネートエステル系樹脂としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート、オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニル)チオエーテル、及びビス(4−シアネートフェニル)エーテル、等の2官能シアネート樹脂;フェノールノボラック及びクレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂;これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマー;などが挙げられる。シアネートエステル系樹脂の具体例としては、ロンザジャパン社製の「PT30」及び「PT60」(フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂)、「ULL−950S」(多官能シアネートエステル樹脂)、「BA230」、「BA230S75」(ビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー)等が挙げられる。 Examples of the cyanate ester-based resin include bisphenol A disicianate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'-methylenebis (2,6-dimethylphenylcyanate), and 4,4'. -Etilidendiphenyl disianate, hexafluorobisphenol A disyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanate phenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethylphenyl) ) Bifunctional cyanate resins such as methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, and bis (4-cyanatephenyl) ether; phenol Examples thereof include polyfunctional cyanate resins derived from novolak and cresol novolak; prepolymers in which these cyanate resins are partially triazined. Specific examples of the cyanate ester resin include "PT30" and "PT60" (phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resin), "ULL-950S" (polyfunctional cyanate ester resin), and "BA230" manufactured by Ronza Japan. Examples thereof include "BA230S75" (a prepolymer in which part or all of bisphenol A disyanate is triazined to form a trimer).

カルボジイミド系樹脂の具体例としては、日清紡ケミカル社製のカルボジライト(登録商標)V−03(カルボジイミド基当量:216、V−05(カルボジイミド基当量:262)、V−07(カルボジイミド基当量:200);V−09(カルボジイミド基当量:200);ラインケミー社製のスタバクゾール(登録商標)P(カルボジイミド基当量:302)が挙げられる。 Specific examples of the carbodiimide-based resin include carbodilite (registered trademark) V-03 (carbodiimide group equivalent: 216, V-05 (carbodiimide group equivalent: 262), V-07 (carbodiimide group equivalent: 200)) manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd. V-09 (carbodiimide group equivalent: 200); Stavaxol® P (carbodiimide group equivalent: 302) manufactured by Rheinchemy.

アミン系樹脂としては、1分子内中に1個以上のアミノ基を有する樹脂が挙げられ、例えば、脂肪族アミン類、ポリエーテルアミン類、脂環式アミン類、芳香族アミン類等が挙げられ、中でも、本発明の所望の効果を奏する観点から、芳香族アミン類が好ましい。アミン系樹脂は、第1級アミン又は第2級アミンが好ましく、第1級アミンがより好ましい。アミン系硬化剤の具体例としては、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルアニリン)、ジフェニルジアミノスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、m−フェニレンジアミン、m−キシリレンジアミン、ジエチルトルエンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノビフェニル、2,2’−ジメチル−4,4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジヒドロキシベンジジン、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、3,3−ジメチル−5,5−ジエチル−4,4−ジフェニルメタンジアミン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、等が挙げられる。アミン系樹脂は市販品を用いてもよく、例えば、日本化薬社製の「KAYABOND C−200S」、「KAYABOND C−100」、「カヤハードA−A」、「カヤハードA−B」、「カヤハードA−S」、三菱ケミカル社製の「エピキュアW」等が挙げられる。 Examples of the amine-based resin include resins having one or more amino groups in one molecule, and examples thereof include aliphatic amines, polyether amines, alicyclic amines, and aromatic amines. Of these, aromatic amines are preferable from the viewpoint of achieving the desired effects of the present invention. The amine-based resin is preferably a primary amine or a secondary amine, more preferably a primary amine. Specific examples of amine-based curing agents include 4,4'-methylenebis (2,6-dimethylaniline), diphenyldiaminosulfone, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'. -Diaminodiphenylsulfone, m-phenylenediamine, m-xylylenediamine, diethyltoluenediamine, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 2,2'-dimethyl- 4,4'-Diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) propane, 3,3-dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethane Diamine, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 2,2-bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) propane, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,3- Bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 4,4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) sulfone, Examples thereof include bis (4- (3-aminophenoxy) phenyl) sulfone. Commercially available products may be used as the amine resin, for example, "KAYABOND C-200S", "KAYABOND C-100", "Kayahard A-A", "Kayahard AB", "Kayahard" manufactured by Nippon Kayaku Corporation. Examples include "AS" and "Epicure W" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

酸無水物系樹脂としては、1分子内中に1個以上の酸無水物基を有する樹脂が挙げられる。酸無水物系樹脂の具体例としては、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルナジック酸無水物、水素化メチルナジック酸無水物、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ−3−フラニル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ベンソフェノンテトラカルボン酸二無水物、ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、オキシジフタル酸二無水物、3,3’−4,4’−ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、1,3,3a,4,5,9b−ヘキサヒドロ−5−(テトラヒドロ−2,5−ジオキソ−3−フラニル)−ナフト[1,2−C]フラン−1,3−ジオン、エチレングリコールビス(アンヒドロトリメリテート)、スチレンとマレイン酸とが共重合したスチレン・マレイン酸樹脂などのポリマー型の酸無水物などが挙げられる。 Examples of the acid anhydride-based resin include resins having one or more acid anhydride groups in one molecule. Specific examples of the acid anhydride-based resin include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic acid anhydride, and methylnadic hydride anhydride. Trialkyltetrahydrophthalic anhydride, succinic anhydride, 5- (2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl) -3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, trimerit anhydride Acid, pyromellitic anhydride, benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride, biphenyltetracarboxylic acid dianhydride, naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, oxydiphthalic acid dianhydride, 3,3'-4,4'-diphenyl Sulphontetracarboxylic dianhydride, 1,3,3a,4,5,9b-hexahydro-5- (tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl) -naphtho [1,2-C] furan-1, Examples thereof include 3-dione, ethylene glycol bis (anhydrotrimeritate), and polymer-type acid anhydrides such as styrene / maleic acid resin in which styrene and maleic acid are copolymerized.

(B)成分としてエポキシ樹脂及び硬化剤を含有する場合、エポキシ樹脂とすべての硬化剤との量比は、[エポキシ樹脂のエポキシ基の合計数]:[硬化剤の反応基の合計数]の比率で、1:0.01〜1:5の範囲が好ましく、1:0.5〜1:3がより好ましく、1:1〜1:2がさらに好ましい。ここで、「エポキシ樹脂のエポキシ基数」とは、樹脂組成物中に存在するエポキシ樹脂の不揮発成分の質量をエポキシ当量で除した値を全て合計した値である。また、「硬化剤の活性基数」とは、樹脂組成物中に存在する硬化剤の不揮発成分の質量を活性基当量で除した値を全て合計した値である。エポキシ樹脂と硬化剤との量比をかかる範囲内とすることにより、本発明の効果を顕著に得ることが可能となる。 When the component (B) contains an epoxy resin and a curing agent, the amount ratio of the epoxy resin to all the curing agents is [total number of epoxy groups in the epoxy resin]: [total number of reactive groups in the curing agent]. The ratio is preferably in the range of 1: 0.01 to 1: 5, more preferably 1: 0.5 to 1: 3, and even more preferably 1: 1 to 1: 2. Here, the "number of epoxy groups in the epoxy resin" is a total value obtained by dividing the mass of the non-volatile component of the epoxy resin present in the resin composition by the epoxy equivalent. The "number of active groups of the curing agent" is a total value obtained by dividing the mass of the non-volatile component of the curing agent present in the resin composition by the active group equivalent. By setting the amount ratio of the epoxy resin and the curing agent within such a range, the effect of the present invention can be remarkably obtained.

(B)成分としての硬化剤の含有量は、本発明の効果を顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分100質量%に対して、好ましくは3質量%以上、より好ましくは5質量%以上、さらに好ましくは10質量%以上であり、好ましくは30質量%以下、より好ましくは25質量%以下、さらに好ましくは20質量%以下である。 The content of the curing agent as the component (B) is preferably 3% by mass or more, more preferably 5% by mass, based on 100% by mass of the non-volatile component in the resin composition from the viewpoint of remarkably obtaining the effect of the present invention. % Or more, more preferably 10% by mass or more, preferably 30% by mass or less, more preferably 25% by mass or less, still more preferably 20% by mass or less.

−(C)無機充填材−
一実施形態において、樹脂組成物は(C)成分として、(C)無機充填材を含有する。(C)無機充填材を含有させることで、吸水率が低い硬化物を得ることができる。
-(C) Inorganic filler-
In one embodiment, the resin composition contains (C) an inorganic filler as a component (C). By containing the (C) inorganic filler, a cured product having a low water absorption rate can be obtained.

(C)無機充填材の材料としては、無機化合物を用いる。無機充填材の材料の例としては、シリカ、アルミナ、ガラス、コーディエライト、シリコン酸化物、硫酸バリウム、炭酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、酸化亜鉛、ハイドロタルサイト、ベーマイト、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化マンガン、ホウ酸アルミニウム、炭酸ストロンチウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、酸化ジルコニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸バリウム、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム、リン酸ジルコニウム、及びリン酸タングステン酸ジルコニウム等が挙げられる。これらの中でもシリカが特に好適である。シリカとしては、例えば、無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ等が挙げられる。また、シリカとしては、球状シリカが好ましい。(E)無機充填材は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 (C) An inorganic compound is used as the material of the inorganic filler. Examples of materials for inorganic fillers include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, aluminum hydroxide, Magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconate titanate , Barium titanate, barium zirconate titanate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconate titanate, zirconate tungsten phosphate and the like. Of these, silica is particularly suitable. Examples of silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica and the like. Further, as silica, spherical silica is preferable. (E) The inorganic filler may be used alone or in combination of two or more.

(C)無機充填材の市販品としては、例えば、デンカ社製の「UFP−30」;日鉄ケミカル&マテリアル社製の「SP60−05」、「SP507−05」;アドマテックス社製の「YC100C」、「YA050C」、「YA050C−MJE」、「YA010C」;トクヤマ社製の「シルフィルNSS−3N」、「シルフィルNSS−4N」、「シルフィルNSS−5N」;アドマテックス社製の「SC2500SQ」、「SO−C4」、「SO−C2」、「SO−C1」;などが挙げられる。 (C) Commercially available inorganic fillers include, for example, "UFP-30" manufactured by Denka Co., Ltd .; "SP60-05" and "SP507-05" manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd .; "Admatex Co., Ltd." "YC100C", "YA050C", "YA050C-MJE", "YA010C"; "Silfil NSS-3N", "Silfil NSS-4N", "Silfil NSS-5N" manufactured by Tokuyama; "SC2500SQ" manufactured by Admatex , "SO-C4", "SO-C2", "SO-C1"; and the like.

(C)無機充填材の平均粒径は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは0.01μm以上、より好ましくは0.05μm以上、特に好ましくは0.1μm以上であり、好ましくは10μm以下、より好ましくは5μm以下、さらに好ましくは2μm以下、1μm以下である。 The average particle size of the inorganic filler (C) is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.05 μm or more, and particularly preferably 0.1 μm or more, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. It is preferably 10 μm or less, more preferably 5 μm or less, still more preferably 2 μm or less, and 1 μm or less.

(C)無機充填材の平均粒径は、ミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的には、レーザー回折散乱式粒径分布測定装置により、無機充填材の粒径分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、無機充填材100mg、メチルエチルケトン10gをバイアル瓶に秤取り、超音波にて10分間分散させたものを使用することができる。測定サンプルを、レーザー回折式粒径分布測定装置を使用して、使用光源波長を青色及び赤色とし、フローセル方式で(C)無機充填材の体積基準の粒径分布を測定し、得られた粒径分布からメディアン径として平均粒径を算出できる。レーザー回折式粒径分布測定装置としては、例えば堀場製作所社製「LA−960」等が挙げられる。 (C) The average particle size of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can be measured by creating a particle size distribution of the inorganic filler on a volume basis with a laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device and using the median diameter as the average particle size. As the measurement sample, 100 mg of an inorganic filler and 10 g of methyl ethyl ketone can be weighed in a vial and dispersed by ultrasonic waves for 10 minutes. The measurement sample was measured using a laser diffraction type particle size distribution measuring device, the wavelengths of the light sources used were blue and red, and the volume-based particle size distribution of (C) the inorganic filler was measured by the flow cell method. The average particle size can be calculated as the median diameter from the diameter distribution. Examples of the laser diffraction type particle size distribution measuring device include "LA-960" manufactured by HORIBA, Ltd.

(C)無機充填材の比表面積は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは1m/g以上、より好ましくは2m/g以上、特に好ましくは3m/g以上である。上限に特段の制限は無いが、好ましくは60m/g以下、50m/g以下又は40m/g以下である。比表面積は、BET法に従って、比表面積測定装置(マウンテック社製Macsorb HM−1210)を使用して試料表面に窒素ガスを吸着させ、BET多点法を用いて比表面積を算出することで得られる。 The specific surface area of the inorganic filler (C) is preferably 1 m 2 / g or more, more preferably 2 m 2 / g or more, and particularly preferably 3 m 2 / g or more, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. is there. The upper limit is not particularly limited, but is preferably 60 m 2 / g or less, 50 m 2 / g or less, or 40 m 2 / g or less. The specific surface area is obtained by adsorbing nitrogen gas on the sample surface using a specific surface area measuring device (Macsorb HM-1210 manufactured by Mountech) according to the BET method, and calculating the specific surface area using the BET multipoint method. ..

(C)無機充填材は、耐湿性及び分散性を高める観点から、表面処理剤で処理されていることが好ましい。表面処理剤としては、例えば、フッ素含有シランカップリング剤、アミノシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤、シラン系カップリング剤、アルコキシシラン、オルガノシラザン化合物、チタネート系カップリング剤等が挙げられる。また、表面処理剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を任意に組み合わせて用いてもよい。 The inorganic filler (C) is preferably treated with a surface treatment agent from the viewpoint of enhancing moisture resistance and dispersibility. Examples of the surface treatment agent include fluorine-containing silane coupling agents, aminosilane-based coupling agents, epoxysilane-based coupling agents, mercaptosilane-based coupling agents, silane-based coupling agents, alkoxysilanes, organosilazane compounds, and titanates. Coupling agents and the like can be mentioned. In addition, one type of surface treatment agent may be used alone, or two or more types may be used in any combination.

表面処理剤の市販品としては、例えば、信越化学工業社製「KBM403」(3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM803」(3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBE903」(3−アミノプロピルトリエトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM573」(N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「SZ−31」(ヘキサメチルジシラザン)、信越化学工業社製「KBM103」(フェニルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM−4803」(長鎖エポキシ型シランカップリング剤)、信越化学工業社製「KBM−7103」(3,3,3−トリフルオロプロピルトリメトキシシラン)等が挙げられる。 Examples of commercially available surface treatment agents include "KBM403" (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM803" (3-mercaptopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM573" (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "SZ-31" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. ( Hexamethyldisilazane), "KBM103" (phenyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM-4803" (long-chain epoxy type silane coupling agent) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM-" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. 7103 ”(3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane) and the like.

表面処理剤による表面処理の程度は、無機充填材の分散性向上の観点から、所定の範囲に収まることが好ましい。具体的には、無機充填材100質量部は、0.2質量部〜5質量部の表面処理剤で表面処理されていることが好ましく、0.2質量部〜3質量部で表面処理されていることが好ましく、0.3質量部〜2質量部で表面処理されていることが好ましい。 The degree of surface treatment with the surface treatment agent is preferably within a predetermined range from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. Specifically, 100 parts by mass of the inorganic filler is preferably surface-treated with 0.2 parts by mass to 5 parts by mass of a surface treatment agent, and 0.2 parts by mass to 3 parts by mass is surface-treated. It is preferable that the surface is treated with 0.3 parts by mass to 2 parts by mass.

表面処理剤による表面処理の程度は、無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量によって評価することができる。無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、無機充填材の分散性向上の観点から、0.02mg/m以上が好ましく、0.1mg/m以上がより好ましく、0.2mg/m以上が更に好ましい。一方、樹脂ワニスの溶融粘度及びシート形態での溶融粘度の上昇を抑制する観点から、1mg/m以下が好ましく、0.8mg/m以下がより好ましく、0.5mg/m以下が更に好ましい。 The degree of surface treatment with the surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. Carbon content per unit surface area of the inorganic filler, from the viewpoint of improving dispersibility of the inorganic filler is preferably 0.02 mg / m 2 or more, 0.1 mg / m 2 or more preferably, 0.2 mg / m 2 The above is more preferable. On the other hand, from the viewpoint of suppressing an increase in the melt viscosity of the resin varnish and the melt viscosity in the sheet form, 1 mg / m 2 or less is preferable, 0.8 mg / m 2 or less is more preferable, and 0.5 mg / m 2 or less is further preferable. preferable.

無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、表面処理後の無機充填材を溶剤(例えば、メチルエチルケトン(MEK))により洗浄処理した後に測定することができる。具体的には、溶剤として十分な量のMEKを表面処理剤で表面処理された無機充填材に加えて、25℃で5分間超音波洗浄する。上澄液を除去し、固形分を乾燥させた後、カーボン分析計を用いて無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量を測定することができる。カーボン分析計としては、堀場製作所社製「EMIA−320V」等を使用することができる。 The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent, and ultrasonic cleaning is performed at 25 ° C. for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid content, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As the carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by HORIBA, Ltd. or the like can be used.

(C)無機充填材の含有量は、吸水率が低い硬化物を得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは50質量%以上であり、より好ましくは55質量%以上、さらに好ましくは60質量%以上であり、好ましくは90質量%以下、より好ましくは80質量%以下、さらに好ましくは70質量%以下である。 The content of the inorganic filler (C) is preferably 50% by mass or more, more preferably 55, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of obtaining a cured product having a low water absorption rate. It is mass% or more, more preferably 60% by mass or more, preferably 90% by mass or less, more preferably 80% by mass or less, still more preferably 70% by mass or less.

−(D)熱可塑性樹脂−
一実施形態において、樹脂組成物は(D)成分として、(D)熱可塑性樹脂を含有し得る。(D)熱可塑性樹脂を含有させることで、硬化物の応力を緩和させることが可能となる。
-(D) Thermoplastic resin-
In one embodiment, the resin composition may contain (D) a thermoplastic resin as the component (D). (D) By containing the thermoplastic resin, the stress of the cured product can be relaxed.

(D)熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂等が挙げられる。中でも、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、ポリイミド樹脂、ポリカーボネート樹脂及びフェノキシ樹脂から選ばれる少なくとも1種が好ましい。また、(D)熱可塑性樹脂は、1種類単独で用いてもよく、又は2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polycarbonate resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, and polyether. Examples thereof include ether ketone resin and polyester resin. Among them, at least one selected from a polyimide resin, a polycarbonate resin and a phenoxy resin is preferable from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. Further, the (D) thermoplastic resin may be used alone by one type, or may be used in combination of two or more types.

ポリイミド樹脂としては、イミド構造を有する樹脂を用いることができる。このような樹脂としては、例えば、2官能性ヒドロキシル基末端ポリブタジエン、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を反応させて得られる線状ポリイミド(特開2006−37083号公報記載のポリイミド)、ポリシロキサン骨格含有ポリイミド(特開2002−12667号公報及び特開2000−319386号公報等に記載のポリイミド)等の変性ポリイミドが挙げられる。 As the polyimide resin, a resin having an imide structure can be used. Examples of such a resin include a linear polyimide (polyimide described in JP-A-2006-37083) obtained by reacting a bifunctional hydroxyl group-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound and a tetrabasic acid anhydride, and a polysiloxane skeleton. Examples thereof include modified polyimides such as contained polyimides (polyimides described in JP-A-2002-12667 and JP-A-2000-319386).

ポリイミド樹脂は市販品を用いることができる。市販品としては、新日本理化社製の「リカコートSN20」及び「リカコートPN20」が挙げられる。 A commercially available product can be used as the polyimide resin. Examples of commercially available products include "Rikacoat SN20" and "Rikacoat PN20" manufactured by New Japan Chemical Co., Ltd.

ポリカーボネート樹脂としては、カーボネート構造を有する樹脂を用いることができる。このような樹脂としては、ヒドロキシ基含有カーボネート樹脂、フェノール性水酸基含有カーボネート樹脂、カルボキシ基含有カーボネート樹脂、酸無水物基含有カーボネート樹脂、イソシアネート基含有カーボネート樹脂、ウレタン基含有カーボネート樹脂等が挙げられる。 As the polycarbonate resin, a resin having a carbonate structure can be used. Examples of such a resin include a hydroxy group-containing carbonate resin, a phenolic hydroxyl group-containing carbonate resin, a carboxy group-containing carbonate resin, an acid anhydride group-containing carbonate resin, an isocyanate group-containing carbonate resin, and a urethane group-containing carbonate resin.

カーボネート樹脂は市販品を用いることができる。市販品としては、三菱瓦斯化学社製の「FPC0220」、旭化成ケミカルズ社製の「T6002」、「T6001」(ポリカーボネートジオール)、クラレ社製の「C−1090」、「C−2090」、「C−3090」(ポリカーボネートジオール)等が挙げられる。 A commercially available product can be used as the carbonate resin. Commercially available products include "FPC0220" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, "T6002" and "T6001" (polycarbonate diol) manufactured by Asahi Kasei Chemicals, and "C-1090", "C-2090" and "C" manufactured by Kuraray. -3090 ”(polycarbonate diol) and the like.

フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA骨格、ビスフェノールF骨格、ビスフェノールS骨格、ビスフェノールアセトフェノン骨格、ノボラック骨格、ビフェニル骨格、フルオレン骨格、ジシクロペンタジエン骨格、ノルボルネン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、アダマンタン骨格、テルペン骨格、及びトリメチルシクロヘキサン骨格からなる群から選択される1種類以上の骨格を有するフェノキシ樹脂が挙げられる。フェノキシ樹脂の末端は、フェノール性水酸基、エポキシ基等のいずれの官能基でもよい。 Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenol acetphenone skeleton, novolak skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, adamantan skeleton, and terpen Examples thereof include phenoxy resins having one or more skeletons selected from the group consisting of skeletons and trimethylcyclohexane skeletons. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group.

フェノキシ樹脂の具体例としては、三菱ケミカル社製の「1256」及び「4250」(いずれもビスフェノールA骨格含有フェノキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX8100」(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX6954」(ビスフェノールアセトフェノン骨格含有フェノキシ樹脂);日鉄ケミカル&マテリアル社製の「FX280」及び「FX293」;三菱ケミカル社製の「YL7500BH30」、「YX6954BH30」、「YX7553」、「YX7553BH30」、「YL7769BH30」、「YL6794」、「YL7213」、「YL7290」、「YL7553BH30」、及び「YL7482」;等が挙げられる。 Specific examples of the phenoxy resin include "1256" and "4250" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (both are bisphenol A skeleton-containing phenoxy resins); "YX8100" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin); "YX6954" (bisphenol acetophenone skeleton-containing phenoxy resin); "FX280" and "FX293" manufactured by Nittetsu Chemical &Materials; "YL7500BH30", "YX6954BH30", "YX7553", "YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. , "YL7769BH30", "YL6794", "YL7213", "YL7290", "YL7553BH30", "YL7482"; and the like.

ポリビニルアセタール樹脂としては、例えば、ポリビニルホルマール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂が挙げられ、ポリビニルブチラール樹脂が好ましい。ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては積水化学工業社製のエスレックBHシリーズ、BXシリーズ(例えばBX−5Z)、KSシリーズ(例えばKS−1)、BLシリーズ、BMシリーズ;等が挙げられる。 Examples of the polyvinyl acetal resin include polyvinyl formal resin and polyvinyl butyral resin, and polyvinyl butyral resin is preferable. Specific examples of the polyvinyl acetal resin include Eslek BH series, BX series (for example, BX-5Z), KS series (for example, KS-1), BL series, and BM series manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.

ポリアミドイミド樹脂の具体例としては、東洋紡社製の「バイロマックスHR11NN」及び「バイロマックスHR16NN」が挙げられる。ポリアミドイミド樹脂の具体例としてはまた、日立化成社製の「KS9100」、「KS9300」(ポリシロキサン骨格含有ポリアミドイミド)等の変性ポリアミドイミドが挙げられる。 Specific examples of the polyamide-imide resin include "Vilomax HR11NN" and "Vilomax HR16NN" manufactured by Toyobo Co., Ltd. Specific examples of the polyamide-imide resin include modified polyamide-imides such as "KS9100" and "KS9300" (polysiloxane skeleton-containing polyamide-imide) manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.

ポリエーテルスルホン樹脂の具体例としては、住友化学社製の「PES5003P」等が挙げられる。 Specific examples of the polyether sulfone resin include "PES5003P" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.

ポリフェニレンエーテル樹脂の具体例としては、三菱ガス化学社製のオリゴフェニレンエーテル・スチレン樹脂「OPE−2St 1200」等が挙げられる。 Specific examples of the polyphenylene ether resin include oligophenylene ether / styrene resin “OPE-2St 1200” manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, Ltd.

ポリスルホン樹脂の具体例としては、ソルベイアドバンストポリマーズ社製のポリスルホン「P1700」、「P3500」等が挙げられる。 Specific examples of the polysulfone resin include polysulfones "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers Co., Ltd.

(D)熱可塑性樹脂の重量平均分子量(Mw)は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは8,000以上、より好ましくは10,000以上、特に好ましくは20,000以上であり、好ましくは70,000以下、より好ましくは60,000以下、特に好ましくは50,000以下である。 The weight average molecular weight (Mw) of the (D) thermoplastic resin is preferably 8,000 or more, more preferably 10,000 or more, and particularly preferably 20,000 or more, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. It is preferably 70,000 or less, more preferably 60,000 or less, and particularly preferably 50,000 or less.

(D)熱可塑性樹脂の含有量は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは0.1質量%以上、より好ましくは0.3質量%以上、さらに好ましくは0.5質量%以上であり、好ましくは5質量%以下、より好ましくは3質量%以下、さらに好ましくは1質量%以下である。 The content of the thermoplastic resin (D) is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.1% by mass or more, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. Is 0.3% by mass or more, more preferably 0.5% by mass or more, preferably 5% by mass or less, more preferably 3% by mass or less, still more preferably 1% by mass or less.

−(E)硬化促進剤−
一実施形態において、樹脂組成物は(E)成分として、(E)硬化促進剤を含有し得る。(E)硬化促進剤を含有させることで、樹脂組成物の熱硬化を促進させることができる。
-(E) Hardening accelerator-
In one embodiment, the resin composition may contain (E) a curing accelerator as the component (E). By containing the (E) curing accelerator, the thermosetting of the resin composition can be promoted.

(E)硬化促進剤としては、例えば、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、金属系硬化促進剤等が挙げられる。中でも、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、金属系硬化促進剤が好ましく、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、金属系硬化促進剤がより好ましい。(E)硬化促進剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the (E) curing accelerator include phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, and metal-based curing accelerators. Among them, phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, and metal-based curing accelerators are preferable, and amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, and metal-based curing accelerators are more preferable. The curing accelerator (E) may be used alone or in combination of two or more.

リン系硬化促進剤としては、例えば、トリフェニルホスフィン、ホスホニウムボレート化合物、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、n−ブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩、(4−メチルフェニル)トリフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、ブチルトリフェニルホスホニウムチオシアネート等が挙げられ、トリフェニルホスフィン、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩が好ましい。 Examples of the phosphorus-based curing accelerator include triphenylphosphine, phosphonium borate compound, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, and (4-methylphenyl) triphenylphosphonium thiocyanate. , Tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate and the like, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferable.

アミン系硬化促進剤としては、例えば、トリエチルアミン、トリブチルアミン等のトリアルキルアミン、4−ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6,−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)−ウンデセン等が挙げられ、4−ジメチルアミノピリジン、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)−ウンデセンが好ましい。 Examples of the amine-based curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6, -tris (dimethylaminomethyl) phenol, and 1,8-diazabicyclo. Examples thereof include (5,4,0) -undecene, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo (5,4,5) -undecene are preferable.

イミダゾール系硬化促進剤としては、例えば、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロライド、2−メチルイミダゾリン、2−フェニルイミダゾリン等のイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体が挙げられ、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾールが好ましい。 Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecyl imidazole, 2-heptadecyl imidazole, 1,2-dimethyl imidazole, 2-ethyl-4-methyl imidazole, 1,2-dimethyl imidazole, and the like. 2-Ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-Cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimerite, 1-cyanoethyl- 2-Phenylimidazolium trimerite, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecyl Imidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4- Diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2- Phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline , 2-Phenylimidazoline and other imidazole compounds and adducts of the imidazole compound and an epoxy resin are mentioned, with 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole being preferred.

イミダゾール系硬化促進剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、三菱ケミカル社製の「P200−H50」等が挙げられる。 As the imidazole-based curing accelerator, a commercially available product may be used, and examples thereof include "P200-H50" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

グアニジン系硬化促進剤としては、例えば、ジシアンジアミド、1−メチルグアニジン、1−エチルグアニジン、1−シクロヘキシルグアニジン、1−フェニルグアニジン、1−(o−トリル)グアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、7−メチル−1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、1−メチルビグアニド、1−エチルビグアニド、1−n−ブチルビグアニド、1−n−オクタデシルビグアニド、1,1−ジメチルビグアニド、1,1−ジエチルビグアニド、1−シクロヘキシルビグアニド、1−アリルビグアニド、1−フェニルビグアニド、1−(o−トリル)ビグアニド等が挙げられ、ジシアンジアミド、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エンが好ましい。 Examples of the guanidine-based curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, and trimethylguanidine. Tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadesylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1,1-diethylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1 Examples thereof include −allyl biguanide, 1-phenylbiguanide, 1- (o-tolyl) biganide, and dicyandiamide, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene is preferable.

金属系硬化促進剤としては、例えば、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体例としては、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体等が挙げられる。有機金属塩としては、例えば、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛等が挙げられる。 Examples of the metal-based curing accelerator include organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. Specific examples of the organic metal complex include an organic cobalt complex such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, an organic copper complex such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Examples thereof include organic zinc complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, zinc stearate and the like.

(E)硬化促進剤の含有量は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは0.01質量%以上、より好ましくは0.03質量%以上、さらに好ましくは0.05質量%以上であり、好ましくは0.3質量%以下、より好ましくは0.2質量%以下、さらに好ましくは0.1質量%以下である。 The content of the curing accelerator (E) is preferably 0.01% by mass or more, more preferably 0.01% by mass or more, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. Is 0.03% by mass or more, more preferably 0.05% by mass or more, preferably 0.3% by mass or less, more preferably 0.2% by mass or less, still more preferably 0.1% by mass or less. ..

<(F)その他の添加剤>
樹脂組成物は、上述した成分以外に、任意の成分として、更にその他の添加剤を含んでいてもよい。このような添加剤としては、例えば、難燃剤;有機充填材;増粘剤、消泡剤、レベリング剤、密着性付与剤等の樹脂添加剤;などが挙げられる。これらの添加剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。
<(F) Other additives>
In addition to the above-mentioned components, the resin composition may further contain other additives as arbitrary components. Examples of such additives include flame retardants; organic fillers; resin additives such as thickeners, antifoaming agents, leveling agents, and adhesion-imparting agents; These additives may be used alone or in combination of two or more.

樹脂組成物層の厚さは、プリント配線板の薄型化の観点から、好ましくは100μm以下、より好ましくは80μm以下、さらに好ましくは60μm以下、さらにより好ましくは40μm以下、30μm以下又は25μm以下である。樹脂組成物層の厚さの下限は、特に限定されないが、通常、1μm以上、5μm以上、10μm以上等とし得る。 The thickness of the resin composition layer is preferably 100 μm or less, more preferably 80 μm or less, still more preferably 60 μm or less, still more preferably 40 μm or less, 30 μm or less, or 25 μm or less from the viewpoint of thinning the printed wiring board. .. The lower limit of the thickness of the resin composition layer is not particularly limited, but may be usually 1 μm or more, 5 μm or more, 10 μm or more, or the like.

(支持体)
樹脂シートに用いる支持体としては、例えば、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔、離型紙が挙げられ、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔が好ましい。
(Support)
Examples of the support used for the resin sheet include a film made of a plastic material, a metal foil, and a paper pattern, and a film made of a plastic material and a metal foil are preferable.

支持体としてプラスチック材料からなるフィルムを使用する場合、プラスチック材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート(以下「PEN」と略称することがある。)等のポリエステル、ポリカーボネート(以下「PC」と略称することがある。)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)等のアクリル、環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン、ポリイミド等が挙げられる。中でも、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、安価なポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。 When a film made of a plastic material is used as the support, the plastic material may be, for example, polyethylene terephthalate (hereinafter abbreviated as "PET") or polyethylene naphthalate (hereinafter abbreviated as "PEN"). ) Etc., polyester, polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as "PC"), acrylic such as polymethylmethacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetylcellulose (TAC), polyethersulfide (PES), polyether. Examples thereof include ketones and polyimides. Of these, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

支持体として金属箔を使用する場合、金属箔としては、例えば、銅箔、アルミニウム箔等が挙げられ、銅箔が好ましい。銅箔としては、銅の単金属からなる箔を用いてもよく、銅と他の金属(例えば、スズ、クロム、銀、マグネシウム、ニッケル、ジルコニウム、ケイ素、チタン等)との合金からなる箔を用いてもよい。 When a metal foil is used as the support, examples of the metal foil include copper foil and aluminum foil, and copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, and a foil made of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. You may use it.

支持体は、樹脂組成物層と接合する面にマット処理、コロナ処理、帯電防止処理を施してあってもよい。 The surface of the support to be joined to the resin composition layer may be matted, corona-treated, or antistatic-treated.

また、支持体としては、樹脂組成物層と接合する面に離型層を有する離型層付き支持体を使用してもよい。離型層付き支持体の離型層に使用する離型剤としては、例えば、アルキド樹脂、ポリオレフィン樹脂、ウレタン樹脂、及びシリコーン樹脂からなる群から選択される1種以上の離型剤が挙げられる。離型層付き支持体は、市販品を用いてもよく、例えば、アルキド樹脂系離型剤を主成分とする離型層を有するPETフィルムである、リンテック社製の「SK−1」、「AL−5」、「AL−7」、東レ社製の「ルミラーT60」、帝人社製の「ピューレックス」、ユニチカ社製の「ユニピール」等が挙げられる。 Further, as the support, a support with a release layer having a release layer on the surface to be joined with the resin composition layer may be used. Examples of the release agent used for the release layer of the support with the release layer include one or more release agents selected from the group consisting of alkyd resin, polyolefin resin, urethane resin, and silicone resin. .. As the support with a release layer, a commercially available product may be used. For example, "SK-1" and "SK-1" manufactured by Lintec Corporation, which are PET films having a release layer containing an alkyd resin-based release agent as a main component. Examples thereof include "AL-5" and "AL-7", "Lumirror T60" manufactured by Toray Industries, Inc., "Purex" manufactured by Teijin Corporation, and "Unipee" manufactured by Unitika.

支持体の厚みとしては、特に限定されないが、5μm〜75μmの範囲が好ましく、10μm〜60μmの範囲がより好ましい。なお、離型層付き支持体を使用する場合、離型層付き支持体全体の厚さが上記範囲であることが好ましい。 The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 μm to 75 μm, and more preferably in the range of 10 μm to 60 μm. When a support with a release layer is used, the thickness of the entire support with a release layer is preferably in the above range.

[プリント配線板の製造方法]
本発明のプリント配線板の製造方法は、
(A)内層基板と、該内層基板上に接合した、樹脂組成物を含む樹脂組成物層とを備える積層体の樹脂組成物層を、130℃以上220℃以下で熱硬化させ、樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層を形成する工程、
(C)絶縁層を60℃以上150℃以下でアニール処理する工程、及び
(D)絶縁層を酸化剤溶液でデスミア処理する工程、をこの順で含み、樹脂組成物の硬化物の吸水率が0.6%以下である。
[Manufacturing method of printed wiring board]
The method for manufacturing a printed wiring board of the present invention
(A) The resin composition layer of the laminate including the inner layer substrate and the resin composition layer containing the resin composition bonded on the inner layer substrate is thermoset at 130 ° C. or higher and 220 ° C. or lower to heat-cure the resin composition. The process of forming an insulating layer containing the cured product of
The steps of (C) annealing the insulating layer at 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower, and (D) desmearing the insulating layer with an oxidizing agent solution are included in this order, and the water absorption rate of the cured product of the resin composition is high. It is 0.6% or less.

先述したように、内層基板のパターン形状に沿って、デスミア処理(粗化処理)後にクラックなど割れが発生しやすくなるという課題が本発明者らにより見出された。これに対し、樹脂組成物の硬化物の吸水率が0.6%以下である樹脂組成物を用いることにより、デスミア処理、特に酸化剤溶液による絶縁層の膨潤を抑制できるので、デスミア時の絶縁層の機械的強度を高く維持できる。さらに、熱硬化して絶縁層を形成後にアニール処理する工程を行うことで、樹脂組成物の熱硬化により生じた絶縁層中の応力が緩和される。そして、これらの作用により割れの抑制をすることができる。 As described above, the present inventors have found a problem that cracks such as cracks are likely to occur after the desmear treatment (roughening treatment) along the pattern shape of the inner layer substrate. On the other hand, by using a resin composition in which the water absorption rate of the cured product of the resin composition is 0.6% or less, the desmear treatment, particularly the swelling of the insulating layer due to the oxidizing agent solution can be suppressed, so that the insulation during desmearing can be suppressed. The mechanical strength of the layer can be maintained high. Further, by performing a step of thermosetting to form an insulating layer and then annealing, the stress in the insulating layer generated by the thermosetting of the resin composition is relaxed. Then, cracking can be suppressed by these actions.

また、本発明のプリント配線板の製造方法は、必要に応じて、(A)工程後(C)工程前に(B)絶縁層を室温まで冷却する工程を含んでいてもよい。 Further, the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention may include, if necessary, a step of cooling the insulating layer to room temperature after the step (A) and before the step (C).

以下、本発明のプリント配線板の製造方法における各工程について説明する。 Hereinafter, each step in the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention will be described.

<(A)工程>
この(A)工程では、内層基板と、該内層基板上に接合した、樹脂組成物を含む樹脂組成物層とを備える積層体の樹脂組成物層を、130℃以上220℃以下で熱硬化させ、樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層を形成する。
<(A) step>
In this step (A), the resin composition layer of the laminate including the inner layer substrate and the resin composition layer containing the resin composition bonded on the inner layer substrate is thermoset at 130 ° C. or higher and 220 ° C. or lower. , Form an insulating layer containing a cured product of the resin composition.

(A)工程は、以下の(A−1)〜(A−3)工程をこの順で含むことが好ましい。
(A−1)支持体と、該支持体上に設けられた、樹脂組成物を含む樹脂組成物層とを含む樹脂シートを準備する工程、
(A−2)樹脂組成物層が内層基板と接合するように樹脂シートを積層し、積層体を得る工程、及び
(A−3)樹脂組成物層を、130℃以上220℃以下で熱硬化させ、樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層を形成する工程
The step (A) preferably includes the following steps (A-1) to (A-3) in this order.
(A-1) A step of preparing a resin sheet containing a support and a resin composition layer containing the resin composition provided on the support.
(A-2) A step of laminating resin sheets so that the resin composition layer is bonded to the inner layer substrate to obtain a laminate, and (A-3) Thermosetting the resin composition layer at 130 ° C. or higher and 220 ° C. or lower. To form an insulating layer containing a cured product of the resin composition.

(A−1)工程では、支持体と、該支持体上に設けられた樹脂組成物で形成された樹脂組成物層とを含む樹脂シートを準備する。支持体及び樹脂組成物は、上記[樹脂シート]において説明したとおりである。 In the step (A-1), a resin sheet containing a support and a resin composition layer formed of the resin composition provided on the support is prepared. The support and the resin composition are as described in the above [resin sheet].

樹脂シートは、例えば、樹脂組成物を有機溶剤に溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーター等の塗布装置を用いて支持体上に塗布し、更に乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。 For the resin sheet, for example, a resin varnish in which the resin composition is dissolved in an organic solvent is prepared, the resin varnish is applied onto the support using a coating device such as a die coater, and the resin composition layer is further dried. Can be produced by forming.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン(MEK)及びシクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート及びカルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ及びブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン及びキシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド(DMAc)及びN−メチルピロリドン等のアミド系溶剤等を挙げることができる。有機溶剤は1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。 Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK) and cyclohexanone, acetic acid esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, cellosolve and butyl carbitol and the like. Examples thereof include carbitols, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, and amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc) and N-methylpyrrolidone. The organic solvent may be used alone or in combination of two or more.

乾燥は、加熱、熱風吹きつけ等の公知の方法により実施してよい。乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層中の有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。樹脂ワニス中の有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30質量%〜60質量%の有機溶剤を含む樹脂ワニスを用いる場合、50℃〜150℃で3分間〜10分間乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。 Drying may be carried out by a known method such as heating or blowing hot air. The drying conditions are not particularly limited, but the resin composition layer is dried so that the content of the organic solvent is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Although it depends on the boiling point of the organic solvent in the resin varnish, for example, when a resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of an organic solvent is used, the resin composition is obtained by drying at 50 ° C. to 150 ° C. for 3 to 10 minutes. A material layer can be formed.

樹脂シートにおいて、樹脂組成物層の支持体と接合していない面(即ち、支持体とは反対側の面)には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚さは、特に限定されるものではないが、例えば、1μm〜40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。樹脂シートは、ロール状に巻きとって保存することが可能である。樹脂シートが保護フィルムを有する場合、保護フィルムを剥がすことによって使用可能となる。 In the resin sheet, a protective film similar to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer that is not bonded to the support (that is, the surface opposite to the support). The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 μm to 40 μm. By laminating the protective film, it is possible to prevent dust and the like from adhering to the surface of the resin composition layer and scratches. The resin sheet can be rolled up and stored. When the resin sheet has a protective film, it can be used by peeling off the protective film.

(A−2)工程では、樹脂組成物層が内層基板と接合するように樹脂シートを積層し、積層体を得る。 In the step (A-2), the resin sheets are laminated so that the resin composition layer is bonded to the inner layer substrate to obtain a laminated body.

内層基板とは、プリント配線板の基板となる部材であって、例えば、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等が挙げられる。また、該基板は、その片面又は両面に導体層を有していてもよく、この導体層はパターン加工されていてもよい。基板の片面または両面に導体層(回路)が形成された内層基板は「内層回路基板」ということがある。またプリント配線板を製造する際に、さらに絶縁層及び/又は導体層が形成されるべき中間製造物も本発明でいう「内層基板」に含まれる。プリント配線板が部品内蔵回路板である場合、部品を内蔵した内層基板を使用し得る。 The inner layer substrate is a member that serves as a substrate for a printed wiring board, and examples thereof include a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, and a thermosetting polyphenylene ether substrate. Further, the substrate may have a conductor layer on one side or both sides thereof, and the conductor layer may be patterned. An inner layer substrate in which a conductor layer (circuit) is formed on one side or both sides of the substrate is sometimes referred to as an "inner layer circuit board". Further, an intermediate product in which an insulating layer and / or a conductor layer should be formed when the printed wiring board is manufactured is also included in the "inner layer substrate" in the present invention. When the printed wiring board is a circuit board with built-in components, an inner layer board with built-in components can be used.

樹脂組成物層が、内層基板と接合するように、内層基板に樹脂シートを積層し、積層体を得る。一実施形態において、内層基板と樹脂シートの積層は、例えば、支持体側から樹脂シートを内層基板に加熱圧着することにより行うことができる。樹脂シートを内層基板に加熱圧着する部材(以下、「加熱圧着部材」ともいう。)としては、例えば、加熱された金属板(SUS鏡板等)又は金属ロール(SUSロール)等が挙げられる。なお、加熱圧着部材を樹脂シートに直接プレスするのではなく、内層基板の表面凹凸に樹脂シートが十分に追随するよう、耐熱ゴム等の弾性材を介してプレスするのが好ましい。 A resin sheet is laminated on the inner layer substrate so that the resin composition layer is bonded to the inner layer substrate to obtain a laminated body. In one embodiment, the inner layer substrate and the resin sheet can be laminated, for example, by heat-pressing the resin sheet to the inner layer substrate from the support side. Examples of the member for heat-pressing the resin sheet to the inner layer substrate (hereinafter, also referred to as “heat-bonding member”) include a heated metal plate (SUS end plate or the like) or a metal roll (SUS roll). It is preferable to press the heat-bonded member not directly on the resin sheet but through an elastic material such as heat-resistant rubber so that the resin sheet sufficiently follows the surface irregularities of the inner layer substrate.

内層基板と樹脂シートの積層は、真空ラミネート法により実施してよい。真空ラミネート法において、加熱圧着温度は、好ましくは60℃〜160℃、より好ましくは80℃〜140℃の範囲であり、加熱圧着圧力は、好ましくは0.098MPa〜1.77MPa、より好ましくは0.29MPa〜1.47MPaの範囲であり、加熱圧着時間は、好ましくは20秒間〜400秒間、より好ましくは30秒間〜300秒間の範囲である。積層は、好ましくは圧力26.7hPa以下の減圧条件下で実施する。 The inner layer substrate and the resin sheet may be laminated by a vacuum laminating method. In the vacuum laminating method, the heat crimping temperature is preferably in the range of 60 ° C. to 160 ° C., more preferably 80 ° C. to 140 ° C., and the heat crimping pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably 0. It is in the range of .29 MPa to 1.47 MPa, and the heat crimping time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably 30 seconds to 300 seconds. Lamination is preferably carried out under reduced pressure conditions at a pressure of 26.7 hPa or less.

積層は、市販の真空ラミネーターによって行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、名機製作所社製の真空加圧式ラミネーター、ニッコー・マテリアルズ社製のバキュームアップリケーター、バッチ式真空加圧ラミネーター等が挙げられる。 Lamination can be performed by a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include a vacuum pressurizing laminator manufactured by Meiki Co., Ltd., a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials, and a batch type vacuum pressurizing laminator.

積層の後に、常圧下(大気圧下)、例えば、加熱圧着部材を支持体側からプレスすることにより、積層された樹脂シートの平滑化処理を行ってもよい。平滑化処理のプレス条件は、上記積層の加熱圧着条件と同様の条件とすることができる。平滑化処理は、市販のラミネーターによって行うことができる。なお、積層と平滑化処理は、上記の市販の真空ラミネーターを用いて連続的に行ってもよい。 After laminating, the laminated resin sheet may be smoothed by pressing the heat-bonded member from the support side under normal pressure (under atmospheric pressure), for example. The press conditions for the smoothing treatment can be the same as the heat-bonding conditions for the above-mentioned lamination. The smoothing process can be performed by a commercially available laminator. The lamination and smoothing treatment may be continuously performed using the above-mentioned commercially available vacuum laminator.

(A−3)工程では、樹脂組成物層を130℃以上220℃以下で熱硬化させ、樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層を形成する。 In the step (A-3), the resin composition layer is thermally cured at 130 ° C. or higher and 220 ° C. or lower to form an insulating layer containing the cured product of the resin composition.

樹脂組成物層の熱硬化条件は、樹脂組成物の種類等によっても異なるが、硬化温度は130℃以上であり、好ましくは150℃、より好ましくは170℃である。上限は220℃以下であり、好ましくは210℃、より好ましくは200℃である。 The thermosetting conditions of the resin composition layer differ depending on the type of the resin composition and the like, but the curing temperature is 130 ° C. or higher, preferably 150 ° C., and more preferably 170 ° C. The upper limit is 220 ° C. or lower, preferably 210 ° C., more preferably 200 ° C.

硬化時間は、好ましくは5分間以上、より好ましくは10分間以上、さらに好ましくは15分間以上であり、好ましくは120分間以下、より好ましくは100分間以下、さらに好ましくは90分間以下である。 The curing time is preferably 5 minutes or longer, more preferably 10 minutes or longer, still more preferably 15 minutes or longer, preferably 120 minutes or shorter, more preferably 100 minutes or shorter, still more preferably 90 minutes or shorter.

樹脂組成物層を熱硬化させる前に、樹脂組成物層を硬化温度よりも低い温度にて予備加熱してもよい。予備加熱温度としては、好ましくは50℃以上、より好ましくは60℃以上、さらに好ましくは70℃以上であり、好ましくは120℃未満、より好ましくは110℃以下、さらに好ましくは100℃以下である。また、予備加熱時間としては、好ましくは5分間以上、より好ましくは10分間以上、さらに好ましくは15分間以上であり、好ましくは150分間以下、より好ましくは130分以下、さらに好ましくは120分間以下である。 Before the resin composition layer is thermoset, the resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. The preheating temperature is preferably 50 ° C. or higher, more preferably 60 ° C. or higher, further preferably 70 ° C. or higher, preferably less than 120 ° C., more preferably 110 ° C. or lower, still more preferably 100 ° C. or lower. The preheating time is preferably 5 minutes or longer, more preferably 10 minutes or longer, further preferably 15 minutes or longer, preferably 150 minutes or shorter, more preferably 130 minutes or shorter, still more preferably 120 minutes or shorter. is there.

絶縁層の厚みとしては、プリント配線板の薄型化の観点から、好ましくは100μm以下、より好ましくは80μm以下、さらに好ましくは60μm以下、さらにより好ましくは50μm以下又は40μm以下である。絶縁層の厚さの下限は、特に限定されないが、通常、1μm以上、5μm以上、10μm以上等とし得る。 The thickness of the insulating layer is preferably 100 μm or less, more preferably 80 μm or less, still more preferably 60 μm or less, still more preferably 50 μm or less or 40 μm or less, from the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board. The lower limit of the thickness of the insulating layer is not particularly limited, but may be usually 1 μm or more, 5 μm or more, 10 μm or more, or the like.

<(B)工程>
一実施形態において、本発明のプリント配線板の製造方法は、(B)絶縁層を室温まで冷却する工程を含み得る。(B)工程は、(A)工程と(C)工程との間に行うことが好ましい。(B)工程を行うことで、樹脂組成物の熱硬化で生じる応力が過剰となることを抑制できる。よって、(C)工程にて絶縁層での応力の残留をより抑制でき、内層基板のパターンに沿った割れの発生を効果的に抑制することができる。ここで室温とは、通常10〜30℃を表し、25℃が好ましい。
<(B) process>
In one embodiment, the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention may include (B) a step of cooling the insulating layer to room temperature. The step (B) is preferably performed between the steps (A) and (C). By performing the step (B), it is possible to prevent the stress generated by the thermosetting of the resin composition from becoming excessive. Therefore, the residual stress in the insulating layer can be further suppressed in the step (C), and the occurrence of cracks along the pattern of the inner layer substrate can be effectively suppressed. Here, room temperature usually represents 10 to 30 ° C, preferably 25 ° C.

冷却する方法は、特に限定されず、絶縁層を放冷してもよく、強制的に絶縁層を冷却してもよい。強制的に絶縁層を冷却する場合、公知の種々の方法で冷却すればよく、例えば、絶縁層を放置して冷却する方法、絶縁層に冷風を吹きあてる方法、絶縁層を冷却したロールに押し当てる方法などが挙げられる。 The method of cooling is not particularly limited, and the insulating layer may be allowed to cool, or the insulating layer may be forcibly cooled. When the insulating layer is forcibly cooled, it may be cooled by various known methods, for example, a method of leaving the insulating layer to cool, a method of blowing cold air on the insulating layer, or pushing the insulating layer onto a cooled roll. There is a method of hitting.

<(C)工程>
(C)工程は、絶縁層を60℃以上150℃以下でアニール処理する。(A)工程での熱硬化温度よりも低い温度でアニール処理を行うことで、内層基板のパターン形状に依存した応力を緩和させることができ、その結果(D)工程後に発生する内層基板のパターンに沿った割れの発生を抑制することができる。
<Step (C)>
In the step (C), the insulating layer is annealed at 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower. By performing the annealing treatment at a temperature lower than the thermosetting temperature in the step (A), the stress depending on the pattern shape of the inner layer substrate can be relaxed, and as a result, the pattern of the inner layer substrate generated after the step (D) It is possible to suppress the occurrence of cracks along the line.

アニール処理の温度としては、内層基板のパターンに沿った割れの発生を抑制する観点から、60℃以上であり、好ましくは65℃以上、より好ましくは70℃以上である。上限は、150℃以下であり、好ましくは140℃以下、より好ましくは130℃以下、100℃以下である。 The temperature of the annealing treatment is 60 ° C. or higher, preferably 65 ° C. or higher, and more preferably 70 ° C. or higher, from the viewpoint of suppressing the occurrence of cracks along the pattern of the inner layer substrate. The upper limit is 150 ° C. or lower, preferably 140 ° C. or lower, more preferably 130 ° C. or lower, and 100 ° C. or lower.

アニール処理は、内層基板のパターンに沿った割れの発生を抑制する観点から、60℃以上150℃以下の温度を所定時間保持することが好ましい。保持時間としては、好ましくは1分以上、より好ましくは3分以上、さらに好ましくは10分以上であり、好ましくは90分以下、より好ましくは60分以下、さらに好ましくは40分以下である。 The annealing treatment preferably maintains a temperature of 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower for a predetermined time from the viewpoint of suppressing the occurrence of cracks along the pattern of the inner layer substrate. The holding time is preferably 1 minute or more, more preferably 3 minutes or more, further preferably 10 minutes or more, preferably 90 minutes or less, more preferably 60 minutes or less, still more preferably 40 minutes or less.

アニール処理は、大気中で絶縁層を加熱することによって行ってもよく、液体中に絶縁層を浸漬させて行ってもよい。絶縁層中の応力をより緩和させる観点から、液体中に絶縁層を浸漬させて行うことが好ましい。なお、液体の沸点が150℃以下である場合、液体の沸点がアニール処理の上限温度となり得る。 The annealing treatment may be performed by heating the insulating layer in the atmosphere, or may be performed by immersing the insulating layer in a liquid. From the viewpoint of further relaxing the stress in the insulating layer, it is preferable to immerse the insulating layer in the liquid. When the boiling point of the liquid is 150 ° C. or lower, the boiling point of the liquid can be the upper limit temperature of the annealing treatment.

液体としては、沸点が60℃以上のものを用いることができる。このような液体としては、例えば、水;水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液等の膨潤液等が挙げられ、中でも、絶縁層中の応力をより緩和させる観点から、水、膨潤液が好ましく、水であることがより好ましい。膨潤液は市販品を用いることができる。市販品としては、例えば、アトテックジャパン社製「スウェリング・ディップ・セキュリガンスP」、「スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU」等が挙げられる。 As the liquid, a liquid having a boiling point of 60 ° C. or higher can be used. Examples of such a liquid include water; a swelling liquid such as a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution, and among them, water and a swelling liquid are preferable from the viewpoint of further relaxing the stress in the insulating layer. More preferably, it is water. A commercially available product can be used as the swelling liquid. Examples of commercially available products include "Swelling Dip Securigans P" and "Swelling Dip Securigans SBU" manufactured by Atotech Japan.

液体のpHとしては、内層基板のパターン形状に依存した応力をより効果的に緩和させる観点から、好ましくは6以上、より好ましくは6.5以上、さらに好ましくは7以上であり、好ましくは14以下、さらに好ましくは13.5以下、12以下、12.5以下、11以下、10以下、8以下、7.5以下であり、pHは7が特に好ましい。 The pH of the liquid is preferably 6 or more, more preferably 6.5 or more, still more preferably 7 or more, and preferably 14 or less, from the viewpoint of more effectively relaxing the stress depending on the pattern shape of the inner layer substrate. More preferably, it is 13.5 or less, 12 or less, 12.5 or less, 11 or less, 10 or less, 8 or less, 7.5 or less, and the pH is particularly preferably 7.

アニール処理は1回のみ行ってもよく、2回行ってもよい。一実施形態として、アニール処理は、60℃以上150℃以下で1回目のアニール処理を行った後、さらに60℃以上150℃以下の温度に加熱された膨潤液中に絶縁層を浸漬させる2回目のアニール処理を行う。好適な一実施形態は、60℃以上150℃以下の温度に加熱された水中に絶縁層を浸漬させる1回目のアニール処理を行った後、さらに60℃以上150℃以下の温度に加熱された膨潤液中に絶縁層を浸漬させる2回目のアニール処理を行う。アニール処理を2回行うことで、(D)工程において、絶縁層表面を効果的にデスミア処理することができる。 The annealing treatment may be performed only once or twice. In one embodiment, the annealing treatment is performed by performing the first annealing treatment at 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower, and then immersing the insulating layer in a swelling liquid heated to a temperature of 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower. Annealing process. A preferred embodiment is swelling that is further heated to a temperature of 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower after performing the first annealing treatment in which the insulating layer is immersed in water heated to a temperature of 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower. A second annealing treatment is performed in which the insulating layer is immersed in the liquid. By performing the annealing treatment twice, the surface of the insulating layer can be effectively desmeared in the step (D).

プリント配線板を製造するに際しては、(C)工程と(D)工程との間に絶縁層に穴あけする工程をさらに実施してもよい。絶縁層に穴あけする工程は、プリント配線板の製造に用いられる、当業者に公知の各種方法に従って実施してよい。なお、(C)工程におけるアニール処理を2回行う場合、絶縁層に穴あけする工程は、1回目のアニール処理と2回目のアニール処理との間に実施してもよい。 When manufacturing the printed wiring board, a step of drilling a hole in the insulating layer between the step (C) and the step (D) may be further carried out. The step of drilling holes in the insulating layer may be carried out according to various methods known to those skilled in the art used in the manufacture of printed wiring boards. When the annealing treatment in the step (C) is performed twice, the step of drilling holes in the insulating layer may be performed between the first annealing treatment and the second annealing treatment.

絶縁層に穴あけする工程により、絶縁層にビアホール、スルーホールを形成することができる。穴あけする工程は、例えば、ドリル、レーザー(炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等)、プラズマ等を使用して実施することができる。 Via holes and through holes can be formed in the insulating layer by the step of drilling holes in the insulating layer. The step of drilling can be carried out using, for example, a drill, a laser (carbon dioxide laser, YAG laser, etc.), plasma, or the like.

<(D)工程>
(D)工程は、絶縁層を酸化剤溶液でデスミア処理する工程、即ち絶縁層表面をデスミア処理する。かかるデスミア処理の手順、条件は特に限定されず、プリント配線板の絶縁層を形成するに際して通常使用される公知の手順、条件を採用することができる。
<Step (D)>
In the step (D), the insulating layer is desmeared with an oxidizing agent solution, that is, the surface of the insulating layer is desmeared. The procedure and conditions for the desmear treatment are not particularly limited, and known procedures and conditions usually used for forming the insulating layer of the printed wiring board can be adopted.

酸化剤溶液としては、通常のデスミア処理にて用いる酸化剤溶液を用いることができる。このような酸化剤溶液としては、例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。また、酸化剤溶液の酸化剤濃度としては、好ましくは3質量%以上、より好ましくは5質量%以上、さらに好ましくは7質量%以上であり、好ましくは20質量%以下、より好ましくは15質量%以下、さらに好ましくは10質量%以下である。 As the oxidant solution, an oxidant solution used in a normal desmear treatment can be used. Examples of such an oxidizing agent solution include an alkaline permanganate solution in which potassium permanganate or sodium permanganate is dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide. The oxidant concentration of the oxidant solution is preferably 3% by mass or more, more preferably 5% by mass or more, still more preferably 7% by mass or more, preferably 20% by mass or less, and more preferably 15% by mass. Hereinafter, it is more preferably 10% by mass or less.

酸化剤溶液は、市販品を用いてもよい。酸化剤溶液の市販品としては、例えば、アトテックジャパン社製「コンセントレート・コンパクトCP」、「ドージングソリューション・セキュリガンスP」等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。 A commercially available product may be used as the oxidizing agent solution. Examples of commercially available oxidant solutions include alkaline permanganic acid solutions such as "Concentrate Compact CP" and "Dosing Solution Security P" manufactured by Atotech Japan.

酸化剤溶液は、効率的にデスミア処理を行う観点から、加熱することが好ましい。酸化剤溶液の加熱温度としては、好ましくは60℃以上、より好ましくは65℃以上、さらに好ましくは70℃以上であり、好ましくは90℃以下、より好ましくは85℃以下、さらに好ましくは80℃以下である。 The oxidizing agent solution is preferably heated from the viewpoint of efficiently performing desmear treatment. The heating temperature of the oxidant solution is preferably 60 ° C. or higher, more preferably 65 ° C. or higher, further preferably 70 ° C. or higher, preferably 90 ° C. or lower, more preferably 85 ° C. or lower, still more preferably 80 ° C. or lower. Is.

また、絶縁層を酸化剤溶液に浸漬させる時間としては、好ましくは5分、より好ましくは10分、さらに好ましくは15分であり、好ましくは40分、より好ましくは30分、さらに好ましくは25分である。 The time for immersing the insulating layer in the oxidizing agent solution is preferably 5 minutes, more preferably 10 minutes, still more preferably 15 minutes, preferably 40 minutes, more preferably 30 minutes, still more preferably 25 minutes. Is.

(D)工程は、絶縁層を酸化剤溶液でデスミア処理した後、酸化剤の塩の残渣物等を除去する観点から、中和液にて中和処理を行ってもよい。 In the step (D), after the insulating layer is desmeared with the oxidizing agent solution, the neutralizing treatment may be performed with a neutralizing solution from the viewpoint of removing the residue of the salt of the oxidizing agent and the like.

中和液としては、酸性の水溶液を用いることが好ましい。中和液は市販品を用いてもよく、中和液の市販品としては、例えば、アトテックジャパン社製の「リダクションソリューション・セキュリガントP」等が挙げられる。 As the neutralizing solution, it is preferable to use an acidic aqueous solution. A commercially available neutralizing solution may be used, and examples of the commercially available neutralizing solution include "Reduction Solution Security P" manufactured by Atotech Japan.

中和処理は、(D)工程においてデスミア処理がなされた絶縁層の表面を加熱した中和液に浸漬させることにより行うことができる。 The neutralization treatment can be performed by immersing the surface of the insulating layer that has been desmeared in the step (D) in a heated neutralizing solution.

中和液の加熱温度としては、酸化剤の塩の残渣物等を除去する観点から、好ましくは、20℃以上、より好ましくは25℃以上、さらに好ましくは30℃以上であり、好ましくは80℃以下、より好ましくは75℃以下、さらに好ましくは70℃以下である。 The heating temperature of the neutralizing solution is preferably 20 ° C. or higher, more preferably 25 ° C. or higher, further preferably 30 ° C. or higher, and preferably 80 ° C. from the viewpoint of removing the residue of the salt of the oxidizing agent. Below, it is more preferably 75 ° C. or lower, still more preferably 70 ° C. or lower.

浸漬時間としては、酸化剤の塩の残渣物等を除去する観点から、好ましくは1分間以上、より好ましくは3分間以上、さらに好ましくは5分間以上であり、好ましくは30分間以下、より好ましくは25分以下、さらに好ましくは20分以下である。 The immersion time is preferably 1 minute or longer, more preferably 3 minutes or longer, still more preferably 5 minutes or longer, preferably 30 minutes or shorter, more preferably 30 minutes or longer, from the viewpoint of removing the residue of the salt of the oxidizing agent. It is 25 minutes or less, more preferably 20 minutes or less.

プリント配線板を製造するに際しては、(D)工程の後に(E)絶縁層の表面に導体層を形成する工程をさらに実施してもよい。 When manufacturing a printed wiring board, a step (E) of forming a conductor layer on the surface of the insulating layer may be further carried out after the step (D).

(E)工程における導体層に使用される導体材料は特に限定されない。好適な実施形態では、導体層は、金、白金、パラジウム、銀、銅、アルミニウム、コバルト、クロム、亜鉛、ニッケル、チタン、タングステン、鉄、スズ及びインジウムからなる群から選択される1種以上の金属を含む。導体層は、単金属層であっても合金層であってもよく、合金層としては、例えば、上記の群から選択される2種以上の金属の合金(例えば、ニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金及び銅・チタン合金)から形成された層が挙げられる。中でも、導体層の形成の容易性、コスト、パターン加工の容易性等の観点から、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金、銅・チタン合金の合金層が好ましく、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層がより好ましく、銅の単金属層が更に好ましい。 The conductor material used for the conductor layer in the step (E) is not particularly limited. In a preferred embodiment, the conductor layer is one or more selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. Contains metal. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer may be, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (for example, nickel-chromium alloy, copper, etc.). A layer formed from a nickel alloy and a copper / titanium alloy) can be mentioned. Among them, from the viewpoint of ease of forming a conductor layer, cost, ease of pattern processing, etc., a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, Copper-nickel alloys, copper-titanium alloy alloy layers are preferred, chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper single metal layers, or nickel-chromium alloy alloy layers are more preferred, copper. The single metal layer of is more preferable.

導体層は、単層構造であっても、異なる種類の金属若しくは合金からなる単金属層又は合金層が2層以上積層した複層構造であってもよい。導体層が複層構造である場合、絶縁層と接する層は、クロム、亜鉛若しくはチタンの単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層であることが好ましい。 The conductor layer may have a single layer structure, a single metal layer made of different types of metals or alloys, or a multi-layer structure in which two or more alloy layers are laminated. When the conductor layer has a multi-layer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of nickel-chromium alloy.

導体層の厚さは、所望のプリント配線板のデザインによるが、一般に3μm〜35μm、好ましくは5μm〜30μmである。 The thickness of the conductor layer is generally 3 μm to 35 μm, preferably 5 μm to 30 μm, depending on the desired printed wiring board design.

一実施形態において、導体層は、めっきにより形成してよい。例えば、セミアディティブ法、フルアディティブ法等の従来公知の技術により絶縁層の表面にめっきして、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができ、製造の簡便性の観点から、セミアディティブ法により形成することが好ましい。以下、導体層をセミアディティブ法により形成する例を示す。 In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, the surface of the insulating layer can be plated by a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full-additive method to form a conductor layer having a desired wiring pattern, and the semi-additive can be manufactured from the viewpoint of ease of manufacture. It is preferably formed by the method. Hereinafter, an example of forming the conductor layer by the semi-additive method will be shown.

まず、絶縁層の表面に、無電解めっきによりめっきシード層を形成する。次いで、形成されためっきシード層上に、所望の配線パターンに対応してめっきシード層の一部を露出させるマスクパターンを形成する。露出しためっきシード層上に、電解めっきにより金属層を形成した後、マスクパターンを除去する。その後、不要なめっきシード層をエッチング等により除去して、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができる。 First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Next, a mask pattern is formed on the formed plating seed layer to expose a part of the plating seed layer corresponding to a desired wiring pattern. After forming a metal layer by electrolytic plating on the exposed plating seed layer, the mask pattern is removed. After that, the unnecessary plating seed layer can be removed by etching or the like to form a conductor layer having a desired wiring pattern.

支持体は、(A−2)工程と(A−3)工程と工程の間、(A−3)工程と(B)工程との間、(B)工程と(C)工程との間、又は(C)工程の後に除去してもよい。また、各工程終了後、必要に応じて水洗処理を行ってもよい。 The support is provided between steps (A-2) and (A-3) and steps, between steps (A-3) and (B), and between steps (B) and (C). Alternatively, it may be removed after the step (C). Further, after the completion of each step, a washing treatment may be performed as needed.

本発明の製造方法により得られたプリント配線板は、内層基板のパターンに沿った割れの発生を抑制することができるという優れた効果を奏する。よって、内層基板のパターンに沿った割れの発生を抑制することができる絶縁層をもたらす。例えば、本発明のプリント配線板の製造方法で製造されたプリント配線板のデスミア処理後の絶縁層表面のうち、内層基板のL/Sパターンの形状に沿って表面に割れが発生しているか確認し、割れの発生していない割合を歩留まりとして算出する。この歩留まりとしては、好ましくは40%以上、より好ましくは60%以上、さらに好ましくは80%以上であり、好ましくは100%以下、より好ましくは95%以下、さらに好ましくは90%以下である。割れの評価の詳細は、後述する実施例に記載の方法に従って測定することができる。 The printed wiring board obtained by the manufacturing method of the present invention has an excellent effect of being able to suppress the occurrence of cracks along the pattern of the inner layer substrate. Therefore, an insulating layer capable of suppressing the occurrence of cracks along the pattern of the inner layer substrate is provided. For example, among the surface of the insulating layer after the desmear treatment of the printed wiring board manufactured by the method for manufacturing the printed wiring board of the present invention, it is confirmed whether or not the surface is cracked along the shape of the L / S pattern of the inner layer substrate. However, the ratio of no cracks is calculated as the yield. The yield is preferably 40% or more, more preferably 60% or more, further preferably 80% or more, preferably 100% or less, more preferably 95% or less, still more preferably 90% or less. The details of the crack evaluation can be measured according to the method described in Examples described later.

[半導体装置]
本発明の製造方法により得られたプリント配線板を用いて、かかるプリント配線板を含む半導体装置を製造することができる。
[Semiconductor device]
Using the printed wiring board obtained by the manufacturing method of the present invention, a semiconductor device including such a printed wiring board can be manufactured.

半導体装置としては、電気製品(例えば、コンピューター、携帯電話、デジタルカメラ及びテレビ等)及び乗物(例えば、自動二輪車、自動車、電車、船舶及び航空機等)等に供される各種半導体装置が挙げられる。 Examples of semiconductor devices include various semiconductor devices used in electric products (for example, computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (for example, motorcycles, automobiles, trains, ships, aircraft, etc.).

半導体装置は、プリント配線板の導通箇所に、部品(半導体チップ)を実装することにより製造することができる。「導通箇所」とは、「プリント配線板における電気信号を伝える箇所」であって、その場所は表面であっても、埋め込まれた箇所であってもいずれでも構わない。また、半導体チップは半導体を材料とする電気回路素子であれば特に限定されない。 A semiconductor device can be manufactured by mounting a component (semiconductor chip) on a conductive portion of a printed wiring board. The "conduction point" is a "place for transmitting an electric signal in the printed wiring board", and the place may be a surface or an embedded place. Further, the semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

本発明の半導体装置を製造する際の半導体チップの実装方法は、半導体チップが有効に機能しさえすれば、特に限定されないが、具体的には、ワイヤボンディング実装方法、フリップチップ実装方法、バンプなしビルドアップ層(BBUL)による実装方法、異方性導電フィルム(ACF)による実装方法、非導電性フィルム(NCF)による実装方法、等が挙げられる。ここで、「バンプなしビルドアップ層(BBUL)による実装方法」とは、「半導体チップをプリント配線板の凹部に直接埋め込み、半導体チップとプリント配線板上の配線とを接続させる実装方法」のことである。 The method for mounting the semiconductor chip in manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, and no bumps. Examples thereof include a mounting method using a build-up layer (BBUL), a mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), and a mounting method using a non-conductive film (NCF). Here, the "mounting method using the bumpless build-up layer (BBUL)" means "a mounting method in which the semiconductor chip is directly embedded in the recess of the printed wiring board and the semiconductor chip is connected to the wiring on the printed wiring board". Is.

以下、本発明を実施例により具体的に説明する。本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下において、「部」及び「%」は、別途明示のない限り、それぞれ「質量部」及び「質量%」を意味する。 Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples. The present invention is not limited to these examples. In the following, "parts" and "%" mean "parts by mass" and "% by mass", respectively, unless otherwise specified.

<調製例1:樹脂シートAの作製>
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製「828US」、エポキシ当量約180g/eq.)10部、ビフェニル型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製の「YX4000H」、エポキシ当量約190g/eq.)10部、ナフトール型エポキシ樹脂(日鉄ケミカル&マテリアル社製「ESN475V」、エポキシ当量332g/eq.)5部、活性エステル系硬化剤(DIC社製「HPC−8000−65T」、活性基当量約223g/eq.、固形分65質量%のトルエン溶液)50部、トリアジン骨格及びノボラック構造を有するフェノール系硬化剤(DIC社製「LA−3018−50P」、活性基当量約151、固形分50%の2−メトキシプロパノール溶液)15部、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YL7553BH30」、固形分30質量%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)5部、4−ジメチルアミノピリジン(固形分5質量%のMEK溶液)3部、MEK30部、及びアミン系アルコキシシラン化合物(信越化学工業社製「KBM573」)で表面処理された球形シリカ(平均粒径0.5μm、アドマテックス社製「SO−C2」)120部を、ミキサーを用いて均一に分散して、樹脂ワニスを得た。
<Preparation Example 1: Preparation of Resin Sheet A>
10 parts of bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical "828US", epoxy equivalent about 180 g / eq.), 10 parts of biphenyl type epoxy resin (Mitsubishi Chemical "YX4000H", epoxy equivalent about 190 g / eq.), Naphthol type epoxy resin (“ESN475V” manufactured by Nittetsu Chemical & Materials Co., Ltd., epoxy equivalent 332 g / eq.), 5 parts, active ester-based curing agent (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC Co., Ltd., active group equivalent of about 223 g / eq.) 50 parts of a toluene solution having a solid content of 65% by mass, a phenolic curing agent having a triazine skeleton and a novolak structure (“LA-3018-50P” manufactured by DIC, active group equivalent of about 151, solid content of 50% 2- 15 parts of methoxypropanol solution, 5 parts of phenoxy resin (Mitsubishi Chemical Corporation "YL7553BH30", 1: 1 solution of MEK with a solid content of 30% by mass and cyclohexanone), 4-dimethylaminopyridine (MEK solution with a solid content of 5% by mass) ) 3 parts, MEK 30 parts, and 120 parts of spherical silica (average particle size 0.5 μm, Admatex “SO-C2”) surface-treated with an amine-based epoxysilane compound (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Corporation). Was uniformly dispersed using a mixer to obtain a resin varnish.

作製した樹脂ワニスを、PETフィルム(リンテック社製「AL5」、厚さ38μm)上に、乾燥後の厚さが25μmになるよう、ダイコーターにて均一に塗布し、80〜120℃(平均100℃)で5分間乾燥させて樹脂シートAを得た。 The prepared resin varnish was uniformly applied on a PET film (Lintec's "AL5", thickness 38 μm) with a die coater so that the thickness after drying was 25 μm, and the temperature was 80 to 120 ° C. (average 100). The resin sheet A was obtained by drying at (° C.) for 5 minutes.

<調製例2〜7:樹脂シートB〜Gの調製>
下記表に示す配合割合で各成分を配合した以外は調製例1と同様にして、ミキサーを用いて均一に分散して、樹脂ワニス及び樹脂シートB〜Gを得た。
<Preparation Examples 2-7: Preparation of Resin Sheets B to G>
Resin varnishes and resin sheets B to G were obtained by uniformly dispersing using a mixer in the same manner as in Preparation Example 1 except that each component was blended in the blending ratio shown in the table below.

<吸水率の測定>
樹脂シートを、熱風循環炉を用いて、190℃、90分の熱硬化条件で樹脂シートの樹脂組成物層を熱硬化させた。熱硬化後PETフィルムを剥離することで評価用硬化物を得た。
<Measurement of water absorption rate>
The resin composition layer of the resin sheet was heat-cured using a hot air circulation furnace under the conditions of thermosetting at 190 ° C. for 90 minutes. After thermosetting, the PET film was peeled off to obtain a cured product for evaluation.

評価用硬化物を40mm角の試験片に切断し、該試験片を130℃で30分乾燥した後に秤量した(この秤量した質量をA(g)とする)。煮沸させたイオン交換水中に試験片を1時間浸漬させた。その後、室温(25℃)のイオン交換水中に試験片を1分間浸漬させ、試験片をクリーンワイパー(クラレクラフレックス社製)にて試験片表面の水滴をふき取り、秤量した(この秤量した質量をB(g)とする)。5つの試験片の吸水率を下記式からそれぞれ求め、その平均値を下記表に示した。
吸水率(%)=((B−A)/A)×100
The cured product for evaluation was cut into 40 mm square test pieces, and the test pieces were dried at 130 ° C. for 30 minutes and then weighed (the weighed mass is defined as A (g)). The test piece was immersed in boiled ion-exchanged water for 1 hour. Then, the test piece was immersed in ion-exchanged water at room temperature (25 ° C.) for 1 minute, and the test piece was weighed by wiping off water droplets on the surface of the test piece with a clean wiper (manufactured by Kuraray Laflex Co., Ltd.). B (g)). The water absorption rates of the five test pieces were calculated from the following formulas, and the average values are shown in the table below.
Water absorption rate (%) = ((BA) / A) x 100

下記表中の略語等は以下のとおりである。
HPC8000−65T:活性エステル系硬化剤(DIC社製「HPC−8000−65T」、活性基当量約223g/eq.、固形分65質量%のトルエン溶液)
SO−C2:アミン系アルコキシシラン化合物(信越化学工業社製「KBM573」)で表面処理された球形シリカ(平均粒径0.5μm、アドマテックス社製「SO−C2」)
828US:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製の「828US」、エポキシ当量約180g/eq.)
YX4000H:ビフェニル型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製の「YX4000H」、エポキシ当量約190g/eq.)
ESN475V:ナフトール型エポキシ樹脂(日鉄ケミカル&マテリアル社製、エポキシ当量332g/eq.)
SN485−60M:ナフトール系硬化剤(日鉄ケミカル&マテリアル社製「SN−485」、活性基当量約215g/eq.、固形分60%のMEK溶液)
SN395−60M:ナフトール系硬化剤(日鉄ケミカル&マテリアル社製「SN395」、水酸基当量107g/eq.、固形分60%のMEK溶液)
LA−3018−50P:トリアジン骨格及びノボラック構造を有するフェノール系硬化剤(DIC社製「LA−3018−50P」、活性基当量約151、固形分50%の2−メトキシプロパノール溶液)
V−03:カルボジイミド系硬化剤(日清紡ケミカル社製「V−03」、活性基当量約216g/eq.、不揮発分50質量%のトルエン溶液)
LA−7054:トリアジン含有フェノールノボラック樹脂(DIC社製「LA−7054」、水酸基当量125g/eq.、窒素含有量約12重量%、固形分60重量%のMEK溶液)
YL7553BH30:フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製、固形分30質量%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)
DMAP−5M:4−ジメチルアミノピリジン、固形分5質量%のMEK溶液
MEK:メチルエチルケトン
The abbreviations in the table below are as follows.
HPC8000-65T: Active ester-based curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC, active group equivalent of about 223 g / eq., Toluene solution having a solid content of 65% by mass)
SO-C2: Spherical silica surface-treated with an amine-based alkoxysilane compound (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) (average particle size 0.5 μm, “SO-C2” manufactured by Admatex)
828US: Bisphenol A type epoxy resin ("828US" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent about 180 g / eq.)
YX4000H: Biphenyl type epoxy resin ("YX4000H" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent about 190 g / eq.)
ESN475V: Naftor type epoxy resin (manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd., epoxy equivalent 332 g / eq.)
SN485-60M: Naftol-based hardener (“SN-485” manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd., MEK solution with active group equivalent of about 215 g / eq., Solid content 60%)
SN395-60M: Naftol-based hardener (“SN395” manufactured by Nippon Steel Chemical & Materials Co., Ltd., hydroxyl group equivalent 107 g / eq., MEK solution with 60% solid content)
LA-3018-50P: Phenolic curing agent having a triazine skeleton and a novolak structure ("LA-3018-50P" manufactured by DIC, active group equivalent of about 151, 2-methoxypropanol solution having a solid content of 50%)
V-03: Carbodiimide-based curing agent (“V-03” manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., active group equivalent of about 216 g / eq., Toluene solution having a non-volatile content of 50% by mass)
LA-7054: Triazine-containing phenol novolac resin (MEK solution "LA-7054 manufactured by DIC, hydroxyl group equivalent 125 g / eq., Nitrogen content about 12% by weight, solid content 60% by weight)"
YL7553BH30: Phenoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, 1: 1 solution of MEK and cyclohexanone with a solid content of 30% by mass)
DMAP-5M: 4-dimethylaminopyridine, MEK solution with a solid content of 5% by mass MEK: Methyl ethyl ketone

Figure 2020136542
Figure 2020136542

[実施例1]
<樹脂シートのラミネート>
予め作製した樹脂シートAを準備した。L/S=8μm/8μmの配線パターンにて形成された回路導体(銅)を両面に有する内層基板(日立化成社製「MCL−E700G」、導体層の厚さ35μm、計0.4mm厚、残銅率40%)の両面に、樹脂組成物層が内層基板と接するように樹脂シートをラミネートした。かかるラミネートは、名機製作所社製の真空加圧式ラミネーターMVLP−500を用い、温度120℃にて30秒間真空吸引後、温度120℃、圧力7.0kg/cmの条件で、PETフィルム上から、耐熱ゴムを介して30秒間プレスすることによりラミネートした。次に、大気圧下で、SUS鏡板を用いて、温度120℃、圧力5.5kg/cmの条件で60秒間プレスを行った。
[Example 1]
<Lamination of resin sheet>
A resin sheet A prepared in advance was prepared. Inner layer substrate having circuit conductors (copper) formed on both sides with a wiring pattern of L / S = 8 μm / 8 μm (“MCL-E700G” manufactured by Hitachi Kasei Co., Ltd., conductor layer thickness 35 μm, total thickness 0.4 mm, A resin sheet was laminated on both sides of the residual copper ratio (40%) so that the resin composition layer was in contact with the inner layer substrate. For such a laminate, a vacuum pressurizing laminator MVLP-500 manufactured by Meiki Co., Ltd. was used, and after vacuum suction at a temperature of 120 ° C. for 30 seconds, the temperature was 120 ° C. and the pressure was 7.0 kg / cm 2 from the PET film. , Laminated by pressing through heat resistant rubber for 30 seconds. Next, the press was performed under atmospheric pressure using a SUS end plate for 60 seconds under the conditions of a temperature of 120 ° C. and a pressure of 5.5 kg / cm 2 .

<樹脂組成物層の熱硬化>
ラミネートされた樹脂シートから、PETフィルムを剥離し、熱風循環炉を用いて、170℃、30分の熱硬化条件で樹脂シートの樹脂組成物層を熱硬化させて絶縁層を形成した。次に、絶縁層を形成した基板を放置し、室温(25℃)まで冷却させた。
<Thermosetting of the resin composition layer>
The PET film was peeled off from the laminated resin sheet, and the resin composition layer of the resin sheet was thermoset to form an insulating layer using a hot air circulation furnace under thermosetting conditions of 170 ° C. for 30 minutes. Next, the substrate on which the insulating layer was formed was left to cool to room temperature (25 ° C.).

<樹脂組成物層のアニール処理>
絶縁層を形成した基板を、熱風循環路を用いて80℃で大気環境下30分加熱を行った。その後、絶縁層表面のPETフィルムを剥離し、膨潤液であるアトテックジャパン社製のスウェリング・ディップ・セキュリガンスP(Swelling Dip Securiganth P、pHは11)に60℃で10分間浸漬した。
<Annealing treatment of resin composition layer>
The substrate on which the insulating layer was formed was heated at 80 ° C. for 30 minutes in an atmospheric environment using a hot air circulation path. Then, the PET film on the surface of the insulating layer was peeled off, and the swelling liquid was immersed in Swelling Dip Security P (pH 11) manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. at 60 ° C. for 10 minutes.

<デスミア処理>
酸化剤としてアトテックジャパン社製のコンセントレート・コンパクト CPに80℃で20分間浸漬した。最後に中和液として、アトテックジャパン社製のリダクションソリューシン・セキュリガントPに40℃で5分間浸漬した。その後80℃で30分間乾燥した。
<Desmia processing>
As an oxidizing agent, it was immersed in Concentrate Compact CP manufactured by Atotech Japan at 80 ° C. for 20 minutes. Finally, as a neutralizing solution, it was immersed in Reduction Solusin Securigant P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. at 40 ° C. for 5 minutes. Then it was dried at 80 ° C. for 30 minutes.

[実施例2]
実施例1において、大気環境下でのアニール処理の温度を80℃から130℃に変えた。以上の事項以外は実施例1と同様にして行った。
[Example 2]
In Example 1, the temperature of the annealing treatment in the air environment was changed from 80 ° C. to 130 ° C. Except for the above items, the same procedure as in Example 1 was performed.

[実施例3]
実施例1において、アニール処理を以下のように行った。以上の事項以外は実施例1と同様にして行った。
[Example 3]
In Example 1, the annealing treatment was performed as follows. Except for the above items, the same procedure as in Example 1 was performed.

<実施例3における樹脂組成物層のアニール処理>
絶縁層を形成した基板を、60℃の水浴(pHは7)に浸漬させ、30分加熱を行った。その後、絶縁層表面のPETフィルムを剥離し、膨潤液であるアトテックジャパン社製のスウェリング・ディップ・セキュリガンスP(Swelling Dip Securiganth P)に60℃で10分間浸漬した。
<Annealing treatment of the resin composition layer in Example 3>
The substrate on which the insulating layer was formed was immersed in a water bath (pH 7) at 60 ° C. and heated for 30 minutes. Then, the PET film on the surface of the insulating layer was peeled off, and the swelling liquid was immersed in Swelling Dip Security P (Swelling Dip Security P) manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. at 60 ° C. for 10 minutes.

[実施例4]
実施例3において、水浴の温度を60℃から80℃に変えた。以上の事項以外は実施例3と同様にして行った。
[Example 4]
In Example 3, the temperature of the water bath was changed from 60 ° C to 80 ° C. Except for the above items, the same procedure as in Example 3 was performed.

[実施例5]
実施例3において、樹脂シートAを樹脂シートBに変えた。以上の事項以外は実施例3と同様にして行った。
[Example 5]
In Example 3, the resin sheet A was changed to the resin sheet B. Except for the above items, the same procedure as in Example 3 was performed.

[実施例6]
実施例3において、樹脂シートAを樹脂シートCに変えた。以上の事項以外は実施例3と同様にして行った。
[Example 6]
In Example 3, the resin sheet A was changed to the resin sheet C. Except for the above items, the same procedure as in Example 3 was performed.

[実施例7]
実施例3において、樹脂シートAを樹脂シートDに変えた。以上の事項以外は実施例3と同様にして行った。
[Example 7]
In Example 3, the resin sheet A was changed to the resin sheet D. Except for the above items, the same procedure as in Example 3 was performed.

[実施例8]
実施例1において、アニール処理を以下のように行った。以上の事項以外は実施例1と同様にして行った。
[Example 8]
In Example 1, the annealing treatment was performed as follows. Except for the above items, the same procedure as in Example 1 was performed.

<実施例8における樹脂組成物層のアニール処理>
絶縁層表面のPETフィルムを剥離し、膨潤液であるアトテックジャパン社製のスウェリング・ディップ・セキュリガンスP(Swelling Dip Securiganth P)に60℃で10分間浸漬した。
<Annealing treatment of the resin composition layer in Example 8>
The PET film on the surface of the insulating layer was peeled off and immersed in a swelling liquid, Swelling Dip Security P (Swelling Dip Security P) manufactured by Atotech Japan, at 60 ° C. for 10 minutes.

[比較例1]
実施例1において、アニール処理(即ち、大気中での加熱及び膨潤液への浸漬)を行わなかった。以上の事項以外は実施例1と同様にして行った。
[Comparative Example 1]
In Example 1, no annealing treatment (that is, heating in the air and immersion in a swollen liquid) was performed. Except for the above items, the same procedure as in Example 1 was performed.

[比較例2]
実施例1において、大気環境下での加熱温度を80℃から40℃に変え、膨潤液への浸漬温度を60℃から40℃に変えた。以上の事項以外は実施例1と同様にして行った。
[Comparative Example 2]
In Example 1, the heating temperature in the air environment was changed from 80 ° C. to 40 ° C., and the immersion temperature in the swelling liquid was changed from 60 ° C. to 40 ° C. Except for the above items, the same procedure as in Example 1 was performed.

[比較例3]
実施例3において、水浴の温度を60℃から40℃に変え、膨潤液への浸漬温度を60℃から40℃に変えた。以上の事項以外は実施例3と同様にして行った。
[Comparative Example 3]
In Example 3, the temperature of the water bath was changed from 60 ° C. to 40 ° C., and the immersion temperature in the swelling liquid was changed from 60 ° C. to 40 ° C. Except for the above items, the same procedure as in Example 3 was performed.

[比較例4]
実施例1において、樹脂シートAを樹脂シートEに変え、さらにアニール処理(即ち、大気中での加熱及び膨潤液への浸漬)を行わなかった。以上の事項以外は実施例1と同様にして行った。
[Comparative Example 4]
In Example 1, the resin sheet A was changed to the resin sheet E, and further annealing treatment (that is, heating in the air and immersion in the swelling liquid) was not performed. Except for the above items, the same procedure as in Example 1 was performed.

[比較例5]
実施例3において、樹脂シートAを樹脂シートEに変え、水浴の温度を60℃から40℃に変え、膨潤液への浸漬温度を60℃から40℃に変えた。以上の事項以外は実施例3と同様にして行った。
[Comparative Example 5]
In Example 3, the resin sheet A was changed to the resin sheet E, the temperature of the water bath was changed from 60 ° C. to 40 ° C., and the immersion temperature in the swelling liquid was changed from 60 ° C. to 40 ° C. Except for the above items, the same procedure as in Example 3 was performed.

[比較例6]
実施例3において、樹脂シートAを樹脂シートFに変え、さらに水浴の温度を60℃から70℃に変えた。以上の事項以外は実施例3と同様にして行った。
[Comparative Example 6]
In Example 3, the resin sheet A was changed to the resin sheet F, and the temperature of the water bath was further changed from 60 ° C. to 70 ° C. Except for the above items, the same procedure as in Example 3 was performed.

[比較例7]
実施例3において、樹脂シートAを樹脂シートGに変え、さらに水浴の温度を60℃から40℃に変えた。以上の事項以外は実施例3と同様にして行った。
[Comparative Example 7]
In Example 3, the resin sheet A was changed to the resin sheet G, and the temperature of the water bath was further changed from 60 ° C. to 40 ° C. Except for the above items, the same procedure as in Example 3 was performed.

<割れの評価方法>
デスミア処理後の絶縁層表面のうち、内層基板のL/Sパターン上を観察した。100個の内層基板のパターン形状に沿って表面に割れが発生しているか確認し、割れの発生していないパターン上の割合を数えた。この割合を「歩留まり」として算出した。また、算出した歩留まりを以下の基準で点数をつけた。
1点:0%以上20%未満
2点:20%以上40%未満
3点:40%以上60%未満
4点:60%以上80%未満
5点:80%以上
また、3点以上を「○」とし、2点以下を「×」として評価した。
<Evaluation method for cracks>
Of the surface of the insulating layer after the desmear treatment, the L / S pattern of the inner layer substrate was observed. It was confirmed whether or not cracks were generated on the surface along the pattern shape of the 100 inner layer substrates, and the ratio on the pattern without cracks was counted. This ratio was calculated as "yield". In addition, the calculated yield was scored according to the following criteria.
1 point: 0% or more and less than 20% 2 points: 20% or more and less than 40% 3 points: 40% or more and less than 60% 4 points: 60% or more and less than 80% 5 points: 80% or more In addition, 3 points or more are "○" , And 2 points or less were evaluated as "x".

Figure 2020136542
Figure 2020136542

Figure 2020136542
Figure 2020136542

Claims (10)

(A)内層基板と、該内層基板上に接合した、樹脂組成物を含む樹脂組成物層とを備える積層体の樹脂組成物層を、130℃以上220℃以下で熱硬化させ、樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層を形成する工程、
(C)絶縁層を60℃以上150℃以下でアニール処理する工程、及び
(D)絶縁層を酸化剤溶液でデスミア処理する工程、をこの順で含むプリント配線板の製造方法であって、
樹脂組成物の硬化物の吸水率が0.6%以下である、プリント配線板の製造方法。
(A) The resin composition layer of the laminate including the inner layer substrate and the resin composition layer containing the resin composition bonded on the inner layer substrate is thermoset at 130 ° C. or higher and 220 ° C. or lower to heat-cure the resin composition. The process of forming an insulating layer containing the cured product of
A method for manufacturing a printed wiring board, which includes (C) a step of annealing the insulating layer at 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower, and (D) a step of desmearing the insulating layer with an oxidizing agent solution in this order.
A method for manufacturing a printed wiring board, wherein the cured product of the resin composition has a water absorption rate of 0.6% or less.
(A)工程が、
(A−1)支持体と、該支持体上に設けられた、樹脂組成物を含む樹脂組成物層とを含む樹脂シートを準備する工程、
(A−2)樹脂組成物層が内層基板と接合するように樹脂シートを積層し、積層体を得る工程、及び
(A−3)樹脂組成物層を、130℃以上220℃以下で熱硬化させ、樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層を形成する工程、を含む、請求項1に記載のプリント配線板の製造方法。
(A) The process is
(A-1) A step of preparing a resin sheet containing a support and a resin composition layer containing the resin composition provided on the support.
(A-2) A step of laminating resin sheets so that the resin composition layer is bonded to the inner layer substrate to obtain a laminate, and (A-3) Thermosetting the resin composition layer at 130 ° C. or higher and 220 ° C. or lower. The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1, further comprising a step of forming an insulating layer containing a cured product of the resin composition.
(A)工程後(C)工程前に、
(B)絶縁層を室温まで冷却する工程、を含む、請求項1又は2に記載のプリント配線板の製造方法。
(A) After the process (C) Before the process
(B) The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1 or 2, which comprises a step of cooling the insulating layer to room temperature.
(C)工程は、60℃以上150℃以下の温度に加熱された液体中に絶縁層を浸漬させて行う、請求項1〜3のいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法。 The method for manufacturing a printed wiring board according to any one of claims 1 to 3, wherein the step (C) is carried out by immersing the insulating layer in a liquid heated to a temperature of 60 ° C. or higher and 150 ° C. or lower. 液体のpHが6以上14以下である、請求項4に記載のプリント配線板の製造方法。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 4, wherein the pH of the liquid is 6 or more and 14 or less. 液体のpHが6.5以上7.5以下である、請求項5に記載のプリント配線板の製造方法。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 5, wherein the pH of the liquid is 6.5 or more and 7.5 or less. 液体が、水である、請求項4〜6のいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法。 The method for manufacturing a printed wiring board according to any one of claims 4 to 6, wherein the liquid is water. 樹脂組成物は、活性エステル系硬化剤を含む、請求項1〜7のいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法。 The method for producing a printed wiring board according to any one of claims 1 to 7, wherein the resin composition contains an active ester-based curing agent. 樹脂組成物は、無機充填材を含む、請求項1〜8のいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法。 The method for producing a printed wiring board according to any one of claims 1 to 8, wherein the resin composition contains an inorganic filler. 無機充填材の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、50質量%以上である、請求項9に記載のプリント配線板の製造方法。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 9, wherein the content of the inorganic filler is 50% by mass or more when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass.
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