JP2020123389A - 低コストな非長方形のタッチセンサ・マトリクスの均一性補正方法 - Google Patents
低コストな非長方形のタッチセンサ・マトリクスの均一性補正方法 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】非長方形のタッチアレイから受信した信号を、汎用的に構成可能なファームウェアを用いて処理するタッチ・コントローラを提供する。【解決手段】センシング装置において、メモリ及びこのメモリに結合された処理要素を含む。メモリは、非長方形のタッチアレイの複数の単位セルのうち少なくとも１つの単位セルの測定した特性に対応するタッチセンス値の集合を記憶し、補正マトリクスを記憶する。補正マトリクスは、非長方形のタッチアレイの有効領域及び非有効領域を規定する。処理要素は、補正マトリクスの補正値によって規定される有効領域内に完全には入らない複数の単位セルの部分集合のタッチセンス値を修正する。【選択図】図６
Description
関連出願
本願は、米国特許出願第１５／７１０４８８号、２０１７年９月２０日出願の国際出願
であり、この米国特許出願は、米国特許仮出願第６２／４３４３０３号、２０１６年１２
月１４日出願による優先権を主張し、これらの特許出願のすべてを参照することによって
本明細書に含める。
本願は、米国特許出願第１５／７１０４８８号、２０１７年９月２０日出願の国際出願
であり、この米国特許出願は、米国特許仮出願第６２／４３４３０３号、２０１６年１２
月１４日出願による優先権を主張し、これらの特許出願のすべてを参照することによって
本明細書に含める。
技術分野
本発明はユーザインタフェース装置の分野に関するものであり、特にセンシング装置に
関するものである。
本発明はユーザインタフェース装置の分野に関するものであり、特にセンシング装置に
関するものである。
タッチアレイは、機械式ボタン、ノブ、及び他の同様な機械式ユーザインタフェース制
御を置き換えるために用いられ、厳しい条件下での信頼性のある動作を提供する。タッチ
パネル用のタッチアレイ（例えば、タッチセンサ面）は、現代の顧客用途において広く用
いられ、既存の製品における新たなユーザインタフェースを提供する。タッチ・コントロ
ーラはタッチアレイからの信号を受信することができる。これらの信号は、ある値（例え
ば、容量値、抵抗値、タッチ検出値、等）に対応することができる。例えば、物体がタッ
チパネルに接触または近接していない際には、タッチ・コントローラはタッチアレイのベ
ースライン（基線）値に対応する信号を受信することができる。指のような物体がタッチ
パネルに接触または近接すると、タッチ・コントローラは第２の値（例えば、容量値、抵
抗値、タッチ検出値、等）に対応する信号を受信することができ、第２の値はベースライ
ン値と異なる。タッチ・コントローラはこれらの信号をデジタル値に変換することができ
（例えば、タッチ・コントローラはこれらの信号を処理しデジタル化して測定値を発生す
ることができ）、これらのデジタル値は測定値として電子装置のメモリに記憶される。従
来のタッチ・コントローラは、標準的なファームウェア（例えば、汎用の構成可能なファ
ームウェア）を用いることによって、長方形のタッチアレイから受信した信号を処理する
ことができる。従来のタッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイから受信した信
号を、汎用的な構成可能なファームウェアを用いて処理することができない。
御を置き換えるために用いられ、厳しい条件下での信頼性のある動作を提供する。タッチ
パネル用のタッチアレイ（例えば、タッチセンサ面）は、現代の顧客用途において広く用
いられ、既存の製品における新たなユーザインタフェースを提供する。タッチ・コントロ
ーラはタッチアレイからの信号を受信することができる。これらの信号は、ある値（例え
ば、容量値、抵抗値、タッチ検出値、等）に対応することができる。例えば、物体がタッ
チパネルに接触または近接していない際には、タッチ・コントローラはタッチアレイのベ
ースライン（基線）値に対応する信号を受信することができる。指のような物体がタッチ
パネルに接触または近接すると、タッチ・コントローラは第２の値（例えば、容量値、抵
抗値、タッチ検出値、等）に対応する信号を受信することができ、第２の値はベースライ
ン値と異なる。タッチ・コントローラはこれらの信号をデジタル値に変換することができ
（例えば、タッチ・コントローラはこれらの信号を処理しデジタル化して測定値を発生す
ることができ）、これらのデジタル値は測定値として電子装置のメモリに記憶される。従
来のタッチ・コントローラは、標準的なファームウェア（例えば、汎用の構成可能なファ
ームウェア）を用いることによって、長方形のタッチアレイから受信した信号を処理する
ことができる。従来のタッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイから受信した信
号を、汎用的な構成可能なファームウェアを用いて処理することができない。
本発明を、限定ではなく例として、添付した図面中の各図に示す。
詳細な説明
本明細書中に説明する技術は、タッチアレイの単位セルに対応する値を修正することに
指向したものであり、このタッチアレイは台形、円形、自由形状、複雑形状、及び孔を含
むタッチアレイのような非長方形のタッチアレイである。タッチ・コントローラは、タッ
チパネルのタッチアレイ上の値を測定し、タッチ・コントローラは測定した値を電子機器
における使用向けに処理する。従来のタッチ・コントローラは、長方形のデータ編成を有
する標準的なファームウェア（例えば、汎用の構成可能なファームウェア）を用いて、長
方形のタッチアレイ（例えば、長方形のタッチパネルに対応するタッチアレイ）に対応す
る測定値を処理している。従来、タッチ・コントローラは標準的なファームウェアを用い
て非長方形のタッチアレイ（例えば、円形パネル、自由形状パネル、及び孔を含むタッチ
パネルのような非長方形のタッチパネルに対応するタッチアレイ）を処理することができ
なかった。従来のタッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイの有効領域を認識す
ることができず、非長方形のタッチアレイのエッジにおける測定値を補正することができ
ず、そして非長方形のタッチアレイの孔を考慮することができない。
本明細書中に説明する技術は、タッチアレイの単位セルに対応する値を修正することに
指向したものであり、このタッチアレイは台形、円形、自由形状、複雑形状、及び孔を含
むタッチアレイのような非長方形のタッチアレイである。タッチ・コントローラは、タッ
チパネルのタッチアレイ上の値を測定し、タッチ・コントローラは測定した値を電子機器
における使用向けに処理する。従来のタッチ・コントローラは、長方形のデータ編成を有
する標準的なファームウェア（例えば、汎用の構成可能なファームウェア）を用いて、長
方形のタッチアレイ（例えば、長方形のタッチパネルに対応するタッチアレイ）に対応す
る測定値を処理している。従来、タッチ・コントローラは標準的なファームウェアを用い
て非長方形のタッチアレイ（例えば、円形パネル、自由形状パネル、及び孔を含むタッチ
パネルのような非長方形のタッチパネルに対応するタッチアレイ）を処理することができ
なかった。従来のタッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイの有効領域を認識す
ることができず、非長方形のタッチアレイのエッジにおける測定値を補正することができ
ず、そして非長方形のタッチアレイの孔を考慮することができない。
本明細書中に記載する実施形態は、タッチアレイの有効領域を規定するための補正マト
リクスを用意することによって、そして、補正マトリクス内に規定された有効領域内に完
全には入らない単位セルに対応する値を修正することによって、上記及び他の欠点に応え
る。タッチ・コントローラはメモリ及び処理要素を有することができる。メモリは、タッ
チアレイの単位セルに対応する値を記憶することができ、そして有効領域及び非有効領域
を規定する補正マトリクスを記憶することができる。処理要素は、有効領域内に完全には
入らない単位セルの部分集合の値を修正することができる。補正マトリクスを用いること
によって、タッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイの有効領域を認識すること
ができ、タッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイのエッジにおける測定値を補
正することができ、そしてタッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイ内の孔（例
えば、タッチアレイの上面からタッチアレイの下面に至る１つ以上のキャビティ（空洞）
または開口部）を考慮することができる。補正マトリクスを用いて、有効領域内に完全に
は入らない単位セルに対応する値を修正することは、物体によるタッチパネルとの接触の
より正確な表現を提供することができる。補正マトリクスの実施形態はタッチアレイのエ
ッジ精度を向上させることができる。
リクスを用意することによって、そして、補正マトリクス内に規定された有効領域内に完
全には入らない単位セルに対応する値を修正することによって、上記及び他の欠点に応え
る。タッチ・コントローラはメモリ及び処理要素を有することができる。メモリは、タッ
チアレイの単位セルに対応する値を記憶することができ、そして有効領域及び非有効領域
を規定する補正マトリクスを記憶することができる。処理要素は、有効領域内に完全には
入らない単位セルの部分集合の値を修正することができる。補正マトリクスを用いること
によって、タッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイの有効領域を認識すること
ができ、タッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイのエッジにおける測定値を補
正することができ、そしてタッチ・コントローラは、非長方形のタッチアレイ内の孔（例
えば、タッチアレイの上面からタッチアレイの下面に至る１つ以上のキャビティ（空洞）
または開口部）を考慮することができる。補正マトリクスを用いて、有効領域内に完全に
は入らない単位セルに対応する値を修正することは、物体によるタッチパネルとの接触の
より正確な表現を提供することができる。補正マトリクスの実施形態はタッチアレイのエ
ッジ精度を向上させることができる。
以下の記載では、説明目的で、本発明の完全な理解をもたらすために多数の具体的詳細
を説明する。しかし、本発明はこれらの具体的詳細なしで実施することができることは、
当業者にとって明らかである。他の例では、こうした説明の理解を無用に曖昧にすること
を避けるために、周知の回路、構造、及び技術は詳細に示さず、むしろブロック図で示す
。
を説明する。しかし、本発明はこれらの具体的詳細なしで実施することができることは、
当業者にとって明らかである。他の例では、こうした説明の理解を無用に曖昧にすること
を避けるために、周知の回路、構造、及び技術は詳細に示さず、むしろブロック図で示す
。
説明中の「一実施形態」または「実施形態」の参照は、その実施形態に関連して記載す
る特定の特徴、構造、または特性が本発明の少なくとも１つの実施形態に含まれることを
意味する。こうした説明中の種々の箇所にある「一実施形態では」という句は、必ずしも
同じ実施形態を参照しない。
る特定の特徴、構造、または特性が本発明の少なくとも１つの実施形態に含まれることを
意味する。こうした説明中の種々の箇所にある「一実施形態では」という句は、必ずしも
同じ実施形態を参照しない。
図１Ａは、一実施形態による好適なシステム１００を示すブロック図であり、システム
１００は、タッチパネル１４０のタッチアレイ１４２（例えば、非長方形のタッチアレイ
）の単位セル１４４の測定した特性に対応する測定値１２６（例えば、タッチセンス値）
を修正するための補正マトリクス１２４を有する。システム１００は電子機器１１０及び
タッチパネル１４０を含む。一実施形態では、電子装置１１０がタッチパネルの外部にあ
る。他の実施形態では、電子機器１１０がタッチパネル１４０の内部にある。電子機器１
１０は、タッチパネル１４０を含む、タッチパネル１４０に接続された、さもなれればタ
ッチパネル１４０と共に動作するあらゆる種類の装置とすることができる。電子機器１１
０は、パーソナル・コンピュータ、タブレット・コンピュータ、セルラ電話機のようなモ
バイル機器、媒体使用装置、ＧＰＳ装置、時計、コンピュータ、あるいは自動車コンピュ
ータ、自動車内のナビゲーションシステム、または自動車内のメディアシステムのような
特定目的のコンピュータとすることができる。タッチパネル１４０はタッチアレイ１４２
を含むことができる。タッチアレイ１４２は単位セル１４４を含むことができる。電子機
器１１０はセンシング装置１２０（例えば、タッチ・コントローラ）を含むことができる
。センシング装置１２０はメモリ１２２及び処理要素１２８を含むことができる。メモリ
１２２は補正マトリクス１２４及び測定値１２６を記憶することができる。電子機器１１
０は、自動車コンピュータ１３０のような追加的構成要素を含むことができる。センシン
グ装置１２０はタッチアレイ１４２に結合することができ、そして自動車コンピュータ１
３０のような追加的構成要素に結合することができる。一実施形態では、センシング装置
１２０と追加的構成要素とが互いの外部にある。他の実施形態では、センシング装置と、
追加的構成要素のうちの１つ以上（例えば、自動車コンピュータ１３０）とが互いに統合
されている。
１００は、タッチパネル１４０のタッチアレイ１４２（例えば、非長方形のタッチアレイ
）の単位セル１４４の測定した特性に対応する測定値１２６（例えば、タッチセンス値）
を修正するための補正マトリクス１２４を有する。システム１００は電子機器１１０及び
タッチパネル１４０を含む。一実施形態では、電子装置１１０がタッチパネルの外部にあ
る。他の実施形態では、電子機器１１０がタッチパネル１４０の内部にある。電子機器１
１０は、タッチパネル１４０を含む、タッチパネル１４０に接続された、さもなれればタ
ッチパネル１４０と共に動作するあらゆる種類の装置とすることができる。電子機器１１
０は、パーソナル・コンピュータ、タブレット・コンピュータ、セルラ電話機のようなモ
バイル機器、媒体使用装置、ＧＰＳ装置、時計、コンピュータ、あるいは自動車コンピュ
ータ、自動車内のナビゲーションシステム、または自動車内のメディアシステムのような
特定目的のコンピュータとすることができる。タッチパネル１４０はタッチアレイ１４２
を含むことができる。タッチアレイ１４２は単位セル１４４を含むことができる。電子機
器１１０はセンシング装置１２０（例えば、タッチ・コントローラ）を含むことができる
。センシング装置１２０はメモリ１２２及び処理要素１２８を含むことができる。メモリ
１２２は補正マトリクス１２４及び測定値１２６を記憶することができる。電子機器１１
０は、自動車コンピュータ１３０のような追加的構成要素を含むことができる。センシン
グ装置１２０はタッチアレイ１４２に結合することができ、そして自動車コンピュータ１
３０のような追加的構成要素に結合することができる。一実施形態では、センシング装置
１２０と追加的構成要素とが互いの外部にある。他の実施形態では、センシング装置と、
追加的構成要素のうちの１つ以上（例えば、自動車コンピュータ１３０）とが互いに統合
されている。
図１Ｂに、一実施形態による自動車１５０を示し、自動車１５０は、タッチパネル１４
０、及びタッチパネル１４０の単位セル１４４の測定した特性（例えば、容量、抵抗、イ
ンダクタンス、等）に対応する測定値１２６（例えば、タッチセンス値）を修正するため
の補正マトリクス１２４を含む。タッチパネル１４０は自動車１５０内に設置することが
できる。タッチパネル１４０は情報を表示することができ、そしてユーザ入力を受けるこ
とができる。タッチパネル１４０の形状は自動車１５０の設計に基づくことができる。タ
ッチパネル１４０は非長方形にすることができる。例えば、タッチパネル１４０は円形形
状、台形形状、自由形状を有することができ、あるいは孔を含むものとすることができる
。タッチアレイ１４２はタッチパネル１４０の形状に相当する形状を有することができる
（例えば、タッチアレイ１４２及びタッチパネル１４０がほぼ同一の非長方形の形状を有
することができる）。タッチアレイ１４２に対応するセンシング装置１２０は、長方形用
に構成されたタッチ・コントローラとすることができる（例えば、汎用の構成可能なファ
ームウェアを有することができる）。センシング装置１２０は補正マトリクスを用いて有
効領域を規定することができ、そして有効領域内に完全には入らない単位セルの部分集合
の値を修正することができる。
０、及びタッチパネル１４０の単位セル１４４の測定した特性（例えば、容量、抵抗、イ
ンダクタンス、等）に対応する測定値１２６（例えば、タッチセンス値）を修正するため
の補正マトリクス１２４を含む。タッチパネル１４０は自動車１５０内に設置することが
できる。タッチパネル１４０は情報を表示することができ、そしてユーザ入力を受けるこ
とができる。タッチパネル１４０の形状は自動車１５０の設計に基づくことができる。タ
ッチパネル１４０は非長方形にすることができる。例えば、タッチパネル１４０は円形形
状、台形形状、自由形状を有することができ、あるいは孔を含むものとすることができる
。タッチアレイ１４２はタッチパネル１４０の形状に相当する形状を有することができる
（例えば、タッチアレイ１４２及びタッチパネル１４０がほぼ同一の非長方形の形状を有
することができる）。タッチアレイ１４２に対応するセンシング装置１２０は、長方形用
に構成されたタッチ・コントローラとすることができる（例えば、汎用の構成可能なファ
ームウェアを有することができる）。センシング装置１２０は補正マトリクスを用いて有
効領域を規定することができ、そして有効領域内に完全には入らない単位セルの部分集合
の値を修正することができる。
図１Ａを参照すれば、処理要素１２８はタッチアレイ１４２から信号を受信することが
できる。処理要素１２８はこの信号をデジタル化して測定値１２６を生成することができ
る。測定値１２６は、非長方形のタッチアレイ１４２の単位セル１４４のうち少なくとも
１つの単位セルの測定した特性に対応するタッチセンス値を含むことができる。タッチセ
ンス値は、物体がタッチパネル１４０に近接しているか否か（例えば、タッチパネル１４
０に触れているか否か、タッチパネル１４０上に浮いているか否か、等）を示す測定した
特性に対応することができる。一実施形態では、タッチセンス値が、物体のタッチパネル
１４０への近接（例えば、物体がタッチパネル１４０に触れようとする近さ、物体とタッ
チパネル１４０との間の距離）を示す測定した特性に対応する。一実施形態では、タッチ
センス値が、物体がタッチパネル１４０に加える圧力を示す測定した特性に対応する。
できる。処理要素１２８はこの信号をデジタル化して測定値１２６を生成することができ
る。測定値１２６は、非長方形のタッチアレイ１４２の単位セル１４４のうち少なくとも
１つの単位セルの測定した特性に対応するタッチセンス値を含むことができる。タッチセ
ンス値は、物体がタッチパネル１４０に近接しているか否か（例えば、タッチパネル１４
０に触れているか否か、タッチパネル１４０上に浮いているか否か、等）を示す測定した
特性に対応することができる。一実施形態では、タッチセンス値が、物体のタッチパネル
１４０への近接（例えば、物体がタッチパネル１４０に触れようとする近さ、物体とタッ
チパネル１４０との間の距離）を示す測定した特性に対応する。一実施形態では、タッチ
センス値が、物体がタッチパネル１４０に加える圧力を示す測定した特性に対応する。
処理要素１２８はメモリ１２２に結合され、測定値１２６をメモリ１２２に記憶するこ
とができる。第１組の測定値（例えば、ベースライン値）は、何の物体もタッチパネル１
４０に接触していない状態に対応することができる。第２組の測定値は、物体がタッチパ
ネル１４０のそれぞれの部分に接触したことに応答してセンシング装置１２０がタッチア
レイ１４２から受信した信号に対応することができる。測定値１２６は、タッチアレイ１
４２における値（後えば、容量値、抵抗値、等）の変化に対応することができる。メモリ
１２２は、タッチアレイ４２の有効領域及び非有効領域を規定する補正マトリクス１２４
を記憶することもできる。処理装置１２８は、補正マトリクス１２４の補正値によって規
定される有効領域内に完全には入らない単位セル１４４に対応する測定値１２６を（例え
ば、補正マトリクス１２４を用いて）修正することができる。
とができる。第１組の測定値（例えば、ベースライン値）は、何の物体もタッチパネル１
４０に接触していない状態に対応することができる。第２組の測定値は、物体がタッチパ
ネル１４０のそれぞれの部分に接触したことに応答してセンシング装置１２０がタッチア
レイ１４２から受信した信号に対応することができる。測定値１２６は、タッチアレイ１
４２における値（後えば、容量値、抵抗値、等）の変化に対応することができる。メモリ
１２２は、タッチアレイ４２の有効領域及び非有効領域を規定する補正マトリクス１２４
を記憶することもできる。処理装置１２８は、補正マトリクス１２４の補正値によって規
定される有効領域内に完全には入らない単位セル１４４に対応する測定値１２６を（例え
ば、補正マトリクス１２４を用いて）修正することができる。
一実施形態では、センシング装置１２０が抵抗センシング装置であり、タッチアレイ１
４２は抵抗の変化を測定する。他の実施形態では、センシング装置１２０がインダクタン
ス・センシング装置であり、タッチアレイ１４２がインダクタンス・タッチアレイ（例え
ば、インダクタンス・センサアレイ）であり、タッチアレイ１４２はインダクタンスの変
化を測定する。他の実施形態では、センシング装置１２０が赤外線センシング装置であり
、タッチアレイ１４２が赤外線タッチアレイ（例えば、赤外線センサアレイ）であり、タ
ッチアレイ１４２は赤外光の変化を測定する。他の実施形態では、センシング装置１２０
が光センシング装置であり、タッチアレイ１４２が光タッチアレイ（例えば、光センサア
レイ）であり、タッチアレイ１４２は可視光（例えば、可視スペクトル内の波長、光ウィ
ンドウ内の波長）の変化を測定する。他の実施形態では、センシング装置１２０が音響セ
ンシング装置であり、タッチセンサ１４２が音響タッチアレイ（例えば、音響センサアレ
イ）であり、タッチアレイ１４２は超音波の変化を測定する。他の実施形態では、センシ
ング装置１２０が微小電気機械システム（ＭＥＭＳ：micro-electromechanical system）
センシング装置であり、タッチアレイ１４２がＭＥＭＳタッチアレイ（例えば、ＭＥＭＳ
センサアレイ）であり、タッチアレイ１４２は圧縮を測定する。他の実施形態では、セン
シング装置１２０が力検出装置であり、タッチアレイ１４２が力タッチアレイ（例えば力
センサアレイ）であり、タッチアレイ１４２は入力された力学的な力を電気出力信号に変
換する。他の実施形態では、センシング装置１２０が容量センシング装置であり、タッチ
アレイ１４２が容量タッチアレイ（例えば、容量センサアレイ）であり、タッチアレイ１
４２は容量の変化を測定する（図２Ａ〜Ｂ参照）。
４２は抵抗の変化を測定する。他の実施形態では、センシング装置１２０がインダクタン
ス・センシング装置であり、タッチアレイ１４２がインダクタンス・タッチアレイ（例え
ば、インダクタンス・センサアレイ）であり、タッチアレイ１４２はインダクタンスの変
化を測定する。他の実施形態では、センシング装置１２０が赤外線センシング装置であり
、タッチアレイ１４２が赤外線タッチアレイ（例えば、赤外線センサアレイ）であり、タ
ッチアレイ１４２は赤外光の変化を測定する。他の実施形態では、センシング装置１２０
が光センシング装置であり、タッチアレイ１４２が光タッチアレイ（例えば、光センサア
レイ）であり、タッチアレイ１４２は可視光（例えば、可視スペクトル内の波長、光ウィ
ンドウ内の波長）の変化を測定する。他の実施形態では、センシング装置１２０が音響セ
ンシング装置であり、タッチセンサ１４２が音響タッチアレイ（例えば、音響センサアレ
イ）であり、タッチアレイ１４２は超音波の変化を測定する。他の実施形態では、センシ
ング装置１２０が微小電気機械システム（ＭＥＭＳ：micro-electromechanical system）
センシング装置であり、タッチアレイ１４２がＭＥＭＳタッチアレイ（例えば、ＭＥＭＳ
センサアレイ）であり、タッチアレイ１４２は圧縮を測定する。他の実施形態では、セン
シング装置１２０が力検出装置であり、タッチアレイ１４２が力タッチアレイ（例えば力
センサアレイ）であり、タッチアレイ１４２は入力された力学的な力を電気出力信号に変
換する。他の実施形態では、センシング装置１２０が容量センシング装置であり、タッチ
アレイ１４２が容量タッチアレイ（例えば、容量センサアレイ）であり、タッチアレイ１
４２は容量の変化を測定する（図２Ａ〜Ｂ参照）。
図２Ａに一実施形態による容量測定システム２００を示し、容量測定システム２００は
、タッチアレイ１４２に対応する測定値１２６を修正するための補正マトリクス１２４を
有する。容量測定システム２００はタッチパネル１４０及び電子機器１１０を含む。タッ
チパネル１４０はタッチアレイ１４２を含み、電子機器１１０はセンシング装置１２０（
例えば、容量測定回路、タッチ・コントローラ）を含む。タッチアレイ１４２は複数の行
電極２１１及び複数の列電極２１５を含むことができる。図２Ａの実施形態では、８つの
行電極２１１及び８つの列電極２１５が存在するが、８つよりも多数または少数の電極を
各軸上に用いることができることは、通常の当業者の理解する所である。同様に、同数の
行電極２１１及び列電極２１５を示しているが、種々の実施形態では、行電極の数と列電
極の数とが異なることができる。種々の実施形態では、タッチアレイ１４２が非長方形で
ある。
、タッチアレイ１４２に対応する測定値１２６を修正するための補正マトリクス１２４を
有する。容量測定システム２００はタッチパネル１４０及び電子機器１１０を含む。タッ
チパネル１４０はタッチアレイ１４２を含み、電子機器１１０はセンシング装置１２０（
例えば、容量測定回路、タッチ・コントローラ）を含む。タッチアレイ１４２は複数の行
電極２１１及び複数の列電極２１５を含むことができる。図２Ａの実施形態では、８つの
行電極２１１及び８つの列電極２１５が存在するが、８つよりも多数または少数の電極を
各軸上に用いることができることは、通常の当業者の理解する所である。同様に、同数の
行電極２１１及び列電極２１５を示しているが、種々の実施形態では、行電極の数と列電
極の数とが異なることができる。種々の実施形態では、タッチアレイ１４２が非長方形で
ある。
一実施形態では、タッチアレイ１４２が互いに平行でない対辺を有することができる（
例えば、最も外側の行電極２１１どうしが平行でなく、最も外側の列電極２１５どうしが
平行でない）。非長方形のタッチアレイ１４２は、行センシング電極（例えば、行電極２
１１）及び列センシング電極（例えば、列電極）を含むことができる。行センシング電極
の各々は、第１軸に平行な対応する行軸の周囲に配置することができる。列センシング電
極の各々は、第２軸に平行な対応する列軸の周囲に配置することができる。単位セル１４
４の各々は、複数の行センシング素子のうちの対応する行センシング素子と、複数の列セ
ンシング素子のうちの対応する列センシング素子との交点によって規定することができる
。有効領域（例えば、図５中の有効領域５１０参照）は、複数の行センシング素子及び複
数の列センシング素子によって規定することができる。非長方形のタッチアレイ１４２の
１つ以上のエッジは、第１軸及び第２軸に平行でなくてもよい。一例では、タッチアレイ
は台形にすることができる（例えば、図４Ｂのタッチアレイ４００ｂ参照）。他の例では
、タッチアレイが曲線状の辺を有する（例えば、半円形である、図４Ｃのタッチアレイ４
００ｃ参照）。他の実施形態では、タッチアレイ４００ｄが、１つ以上の有効領域によっ
て包囲または部分的に包囲された１つ以上の非有効領域（例えば、タッチアレイ１４２の
上面からタッチアレイ１４２の下面に至る孔、キャビティ、１つ以上の開口部、オフ状態
にされた単位セル１４４、センシング素子の欠如、図４Ｄのタッチアレイ４００ｄ参照）
を有する。非有効領域は、有効領域によって完全に包囲する（例えば、孔）ことも部分的
に包囲する（例えば、有効領域の辺内のノッチ（刻み目、切り込み）または切り欠き）こ
ともできる。
例えば、最も外側の行電極２１１どうしが平行でなく、最も外側の列電極２１５どうしが
平行でない）。非長方形のタッチアレイ１４２は、行センシング電極（例えば、行電極２
１１）及び列センシング電極（例えば、列電極）を含むことができる。行センシング電極
の各々は、第１軸に平行な対応する行軸の周囲に配置することができる。列センシング電
極の各々は、第２軸に平行な対応する列軸の周囲に配置することができる。単位セル１４
４の各々は、複数の行センシング素子のうちの対応する行センシング素子と、複数の列セ
ンシング素子のうちの対応する列センシング素子との交点によって規定することができる
。有効領域（例えば、図５中の有効領域５１０参照）は、複数の行センシング素子及び複
数の列センシング素子によって規定することができる。非長方形のタッチアレイ１４２の
１つ以上のエッジは、第１軸及び第２軸に平行でなくてもよい。一例では、タッチアレイ
は台形にすることができる（例えば、図４Ｂのタッチアレイ４００ｂ参照）。他の例では
、タッチアレイが曲線状の辺を有する（例えば、半円形である、図４Ｃのタッチアレイ４
００ｃ参照）。他の実施形態では、タッチアレイ４００ｄが、１つ以上の有効領域によっ
て包囲または部分的に包囲された１つ以上の非有効領域（例えば、タッチアレイ１４２の
上面からタッチアレイ１４２の下面に至る孔、キャビティ、１つ以上の開口部、オフ状態
にされた単位セル１４４、センシング素子の欠如、図４Ｄのタッチアレイ４００ｄ参照）
を有する。非有効領域は、有効領域によって完全に包囲する（例えば、孔）ことも部分的
に包囲する（例えば、有効領域の辺内のノッチ（刻み目、切り込み）または切り欠き）こ
ともできる。
容量測定システム２００は、用途の要求に応じて相互容量も自己容量も測定することが
できる。相互容量ＣMは、異なる軸の電極どうしの交点に形成することができる。行電極
２１１と列電極２１５との間の相互容量ＣMを切り抜き２１３中に示す。相互容量ＣMは、
互いに隣接して配置された２つの電極によって形成することができるが、これらの電極は
必ずしも交差しない。単一電極の自己容量ＣSは、電極とそれを包囲する回路素子との間
に形成することができ、これらの回路素子は接地電極を含む。切り抜き２１７中には、自
己容量ＣS-column及びＣS-rowを、それぞれ行電極２１１及び列電極２１５について示す
。自己容量測定のために、複数の電極をいずれも互いに交差しないように配置することが
できる。本実施形態では、自己容量電極は、接地または他の回路電位に対する容量を有す
るパッドまたは個別電極として構成することができる。自己容量電極は、円形、楕円形、
正方形、長方形の形をとることができ、あるいはシステムの要求向けに最適化された他の
多様な形状のいずれを有することもできる。一実施形態では、容量測定システム２００は
、用途の要求に基づいて相互容量センシング（検出）モードと自己容量センシングモード
との間で切り換えるように構成することができる。さらに他の実施形態では、容量測定シ
ステム２００は、相互容量測定システムまたは自己容量測定システムのいずれかに固定す
ることができる。
できる。相互容量ＣMは、異なる軸の電極どうしの交点に形成することができる。行電極
２１１と列電極２１５との間の相互容量ＣMを切り抜き２１３中に示す。相互容量ＣMは、
互いに隣接して配置された２つの電極によって形成することができるが、これらの電極は
必ずしも交差しない。単一電極の自己容量ＣSは、電極とそれを包囲する回路素子との間
に形成することができ、これらの回路素子は接地電極を含む。切り抜き２１７中には、自
己容量ＣS-column及びＣS-rowを、それぞれ行電極２１１及び列電極２１５について示す
。自己容量測定のために、複数の電極をいずれも互いに交差しないように配置することが
できる。本実施形態では、自己容量電極は、接地または他の回路電位に対する容量を有す
るパッドまたは個別電極として構成することができる。自己容量電極は、円形、楕円形、
正方形、長方形の形をとることができ、あるいはシステムの要求向けに最適化された他の
多様な形状のいずれを有することもできる。一実施形態では、容量測定システム２００は
、用途の要求に基づいて相互容量センシング（検出）モードと自己容量センシングモード
との間で切り換えるように構成することができる。さらに他の実施形態では、容量測定シ
ステム２００は、相互容量測定システムまたは自己容量測定システムのいずれかに固定す
ることができる。
容量測定システム２００は、列電極２１５に結合されたセンシング装置１２０（例えば
、容量測定回路、タッチ・コントローラ）を含むことができる。列電極２１５の各々は、
入力マルチプレクサ２４５を通してＲＸ（受信）チャネル２５０に結合することができる
。図２Ａに示す実施形態は相互容量測定回路の実施形態である。一実施形態では、行電極
２１１と列電極２１５との間に形成される相互コンデンサの一方の電極のみがＲＸチャネ
ル２５０に結合されている。他の実施形態では、行電極２１１と列電極２１５との間に形
成される相互コンデンサの２つ以上の電極がＲＸチャネル２５０に結合されている。自己
容量測定回路では、行電極２１１も、入力マルチプレクサ２４５と同様のマルチプレクサ
を通してＲＸチャネル２５０に結合することができる。行電極２１１用の第２マルチプレ
クサは、説明を明確にするために図示しない。
、容量測定回路、タッチ・コントローラ）を含むことができる。列電極２１５の各々は、
入力マルチプレクサ２４５を通してＲＸ（受信）チャネル２５０に結合することができる
。図２Ａに示す実施形態は相互容量測定回路の実施形態である。一実施形態では、行電極
２１１と列電極２１５との間に形成される相互コンデンサの一方の電極のみがＲＸチャネ
ル２５０に結合されている。他の実施形態では、行電極２１１と列電極２１５との間に形
成される相互コンデンサの２つ以上の電極がＲＸチャネル２５０に結合されている。自己
容量測定回路では、行電極２１１も、入力マルチプレクサ２４５と同様のマルチプレクサ
を通してＲＸチャネル２５０に結合することができる。行電極２１１用の第２マルチプレ
クサは、説明を明確にするために図示しない。
容量測定システム２００が相互容量を測定するように構成されている際には、行電極は
、駆動信号ＴＸ（送信）を（切り抜き２１３中に詳細に示す）相互容量の一方の電極に供
給するための駆動バッファ２２０に結合することができる。駆動バッファ２２０は電子機
器１１０の一部とすることができる。図２Ａには８つの駆動バッファ２２０しか示してい
ないが、駆動される電極毎に少なくとも１つの駆動バッファ２２０を用いることができる
ことは、通常の当業者の理解する所である。駆動電極に供給される信号はＴＸドライバ２
６０によって供給することができ、ＴＸドライバ２６０はクロック源をＲＸチャネル２５
０と共用して、センシング装置１２０（例えば、容量測定回路２４０）の駆動動作と受信
動作とが同期することを保証する。ＲＸチャネル２５０及びＴＸドラバ２６０は共に処理
要素１２８に結合することができ、処理要素１２８はＲＸチャネル上で受信した信号を、
タッチパネル１４０の容量（行電極２１１と列電極２１５との間の相互容量ＣM、及び行
電極と接地との間、及び列電極と接地との間の自己容量ＣS）を表すデジタル値に変換す
るように構成することができる。処理要素１２８を追加的な処理論理回路２８０に結合し
て、容量測定を完了して、導電性物体の存在／不在を判定すること、あるいは他の処理機
能を実行することができる。種々の実施形態では、追加的な処理論理回路は、センシング
装置１２０（例えば、容量測定回路、タッチ・コントローラ）と同じ集積回路上に実装す
ることができ、あるいは別個の集積回路上に実装することができる。それに加えて、セン
シング装置１２０（例えば、容量測定回路）の種々の回路素子は、異なる集積回路上に実
装することができるが、このことは図２Ａには示していない。
、駆動信号ＴＸ（送信）を（切り抜き２１３中に詳細に示す）相互容量の一方の電極に供
給するための駆動バッファ２２０に結合することができる。駆動バッファ２２０は電子機
器１１０の一部とすることができる。図２Ａには８つの駆動バッファ２２０しか示してい
ないが、駆動される電極毎に少なくとも１つの駆動バッファ２２０を用いることができる
ことは、通常の当業者の理解する所である。駆動電極に供給される信号はＴＸドライバ２
６０によって供給することができ、ＴＸドライバ２６０はクロック源をＲＸチャネル２５
０と共用して、センシング装置１２０（例えば、容量測定回路２４０）の駆動動作と受信
動作とが同期することを保証する。ＲＸチャネル２５０及びＴＸドラバ２６０は共に処理
要素１２８に結合することができ、処理要素１２８はＲＸチャネル上で受信した信号を、
タッチパネル１４０の容量（行電極２１１と列電極２１５との間の相互容量ＣM、及び行
電極と接地との間、及び列電極と接地との間の自己容量ＣS）を表すデジタル値に変換す
るように構成することができる。処理要素１２８を追加的な処理論理回路２８０に結合し
て、容量測定を完了して、導電性物体の存在／不在を判定すること、あるいは他の処理機
能を実行することができる。種々の実施形態では、追加的な処理論理回路は、センシング
装置１２０（例えば、容量測定回路、タッチ・コントローラ）と同じ集積回路上に実装す
ることができ、あるいは別個の集積回路上に実装することができる。それに加えて、セン
シング装置１２０（例えば、容量測定回路）の種々の回路素子は、異なる集積回路上に実
装することができるが、このことは図２Ａには示していない。
相互容量のセンシングでは、単一軸をＲＸチャネル２５０に結合することができる。図
２Ａは列電極２１５がＲＸチャネル２５０に結合され行電極２１１がＴＸドライバ２６０
に結合されていることを示すが、こうした関係は入れ替えることができることは通常の当
業者の理解する所である。一実施形態では、行電極２１１をＲＸチャネル２５０に結合し
、列電極２１５をＴＸドライバ２６０に結合することができる。それに加えて、行電極２
１１及び列電極と、容量測定回路２４０の種々の素子との関係は静的である必要はない。
一実施形態では、行電極２１１及び列電極２１５の接続を、システムの要求に応じて実行
時間中に切り換えることができる。
２Ａは列電極２１５がＲＸチャネル２５０に結合され行電極２１１がＴＸドライバ２６０
に結合されていることを示すが、こうした関係は入れ替えることができることは通常の当
業者の理解する所である。一実施形態では、行電極２１１をＲＸチャネル２５０に結合し
、列電極２１５をＴＸドライバ２６０に結合することができる。それに加えて、行電極２
１１及び列電極と、容量測定回路２４０の種々の素子との関係は静的である必要はない。
一実施形態では、行電極２１１及び列電極２１５の接続を、システムの要求に応じて実行
時間中に切り換えることができる。
処理要素１２８はメモリ１２２に結合することができる。メモリ１２２は、タッチアレ
イ１４２の単位セルに対応する測定値１２６を記憶することができる。例えば、センシン
グ装置１２０は、物体がタッチパネル１４０に接触したことに応答して、１つ以上の信号
をタッチアレイ１４２から受信することができ、この接触はタッチアレイ１４２内の容量
に変化を生じさせる。処理装置１２８は、この１つ以上の信号を測定値１２６に変換して
、測定値１２６をメモリ１２２に記憶することができる。メモリ１２２は、タッチアレイ
の有効領域及び非有効領域を規定する補正マトリクス１２４も記憶することができる。処
理要素１２８は、補正マトリクス１２４の補正値によって規定される有効領域内に完全に
は入らない単位セル１４４に対応する測定値１２６を（例えば、補正マトリクス１２４を
用いて）修正することができる。
イ１４２の単位セルに対応する測定値１２６を記憶することができる。例えば、センシン
グ装置１２０は、物体がタッチパネル１４０に接触したことに応答して、１つ以上の信号
をタッチアレイ１４２から受信することができ、この接触はタッチアレイ１４２内の容量
に変化を生じさせる。処理装置１２８は、この１つ以上の信号を測定値１２６に変換して
、測定値１２６をメモリ１２２に記憶することができる。メモリ１２２は、タッチアレイ
の有効領域及び非有効領域を規定する補正マトリクス１２４も記憶することができる。処
理要素１２８は、補正マトリクス１２４の補正値によって規定される有効領域内に完全に
は入らない単位セル１４４に対応する測定値１２６を（例えば、補正マトリクス１２４を
用いて）修正することができる。
一実施形態では、センシング装置１２０が自動車コンピュータ１３０に結合されている
。一実施形態では、追加的な処理論理回路２８０が自動車コンピュータ１３０を含む。
。一実施形態では、追加的な処理論理回路２８０が自動車コンピュータ１３０を含む。
図２Ｂに、他の実施形態による容量測定システム２００を示し、容量測定システム２０
０は、タッチアレイ１４２の単位セル１４４に対応する値１２６を修正するための補正マ
トリクス１２４を有する。タッチアレイ１４２は電極のアレイとすることができ、タッチ
パネル１４０の一部としてディスプレイ上に配置することができる（例えば、タッチスク
リーン／ディスプレイ）。第１数の電極２９０を第１軸に沿って基板（図示せず）上に配
置することができる。第２数の電極２４５を第２軸に沿って基板上に配置することができ
る。本実施形態では、電極２９０及び２９５は棒状にすることができる。他の実施形態で
は、電極２９０及び２９５が、棒状の主題に基づくより複雑な構造を有することができる
。拡大図２５５は、第１数の電極２９０と第２数の電極２９５との交点を例示する。相互
容量は、第１数の電極２９０のうちの１つの電極と、第２数の電極２９５のうちの１つの
電極との交点に形成することができ、こうした相互容量の領域は電極のアレイの単位セル
１４４として記述することができる。単位セルはすべての交点に存在することができ、単
位セルを用いて導電性物体の位置を検出することができる。
０は、タッチアレイ１４２の単位セル１４４に対応する値１２６を修正するための補正マ
トリクス１２４を有する。タッチアレイ１４２は電極のアレイとすることができ、タッチ
パネル１４０の一部としてディスプレイ上に配置することができる（例えば、タッチスク
リーン／ディスプレイ）。第１数の電極２９０を第１軸に沿って基板（図示せず）上に配
置することができる。第２数の電極２４５を第２軸に沿って基板上に配置することができ
る。本実施形態では、電極２９０及び２９５は棒状にすることができる。他の実施形態で
は、電極２９０及び２９５が、棒状の主題に基づくより複雑な構造を有することができる
。拡大図２５５は、第１数の電極２９０と第２数の電極２９５との交点を例示する。相互
容量は、第１数の電極２９０のうちの１つの電極と、第２数の電極２９５のうちの１つの
電極との交点に形成することができ、こうした相互容量の領域は電極のアレイの単位セル
１４４として記述することができる。単位セルはすべての交点に存在することができ、単
位セルを用いて導電性物体の位置を検出することができる。
単位セル１４４のような単位セル及び対応する測定容量値を用いて、（例えば、タッチ
パネル１４０の）表面上またはその付近にある、ユーザが触れている１つ以上の導電性物
体の位置を検出することができる。単位セルのアレイを用いて多様な種類の１つ以上の導
電性物体を検出することができ、これらの導電性物体は、むき出しの指、手袋をはめた指
、スタイラスペン（能動型でも受動型でも）、あるいは表面上に浮く物体を検出すること
ができる。単位セルを個別に、組み合わせて、あるいはその両方で用いて、物体及び相互
作用の種類を特定することができる。
パネル１４０の）表面上またはその付近にある、ユーザが触れている１つ以上の導電性物
体の位置を検出することができる。単位セルのアレイを用いて多様な種類の１つ以上の導
電性物体を検出することができ、これらの導電性物体は、むき出しの指、手袋をはめた指
、スタイラスペン（能動型でも受動型でも）、あるいは表面上に浮く物体を検出すること
ができる。単位セルを個別に、組み合わせて、あるいはその両方で用いて、物体及び相互
作用の種類を特定することができる。
単位セル１４４のような単位セルはモザイク加工の最小単位として幾何学的に概念化す
ることができる。即ち、アレイ上での測定における繰り返し可能な最小単位である。単位
セル１４４のような単位セルは、当該単位セル内のすべての点が、他のあらゆる単位セル
の中心よりも当該単位セルの中心に近いことを記述することによって概念化することもで
きる。単位セル１４４のような単位セルは、電極２９０及び２９５のような電極のアレイ
の固有の分解能として機能的に概念化することができる。即ち、各行及び列、及び各行及
び各列上に規定される１つの位置を識別することができる。１２列及び９行を有する長方
形アレイについては、１０８個の離散した位置が存在することができる。単位セル１４４
は（上から）７行目かつ（左から）６列目に存在し、かつ単位セル１４４は６行目と６列
目との交点に存在するので、電極２９０及び２９５のような電極のアレイの固有の分解能
に基づけば、これらの単位セルの位置は、それぞれ６，７及び６，６で与えることができ
る。単位セル１４４のような単位セルはアレイの画素として概念化することができ、各画
素には１つの位置、及びその位置に特有の測定可能な値を割り当てることができる。単位
セルは「ノード」と称することもでき、行電極と列電極との各交点がアレイのノードであ
る。単位セルは単に相互容量センシングアレイ内の交点と称することができる。「交点」
とは、行電極と列電極との交点としての構成の単なる省略表現である。
ることができる。即ち、アレイ上での測定における繰り返し可能な最小単位である。単位
セル１４４のような単位セルは、当該単位セル内のすべての点が、他のあらゆる単位セル
の中心よりも当該単位セルの中心に近いことを記述することによって概念化することもで
きる。単位セル１４４のような単位セルは、電極２９０及び２９５のような電極のアレイ
の固有の分解能として機能的に概念化することができる。即ち、各行及び列、及び各行及
び各列上に規定される１つの位置を識別することができる。１２列及び９行を有する長方
形アレイについては、１０８個の離散した位置が存在することができる。単位セル１４４
は（上から）７行目かつ（左から）６列目に存在し、かつ単位セル１４４は６行目と６列
目との交点に存在するので、電極２９０及び２９５のような電極のアレイの固有の分解能
に基づけば、これらの単位セルの位置は、それぞれ６，７及び６，６で与えることができ
る。単位セル１４４のような単位セルはアレイの画素として概念化することができ、各画
素には１つの位置、及びその位置に特有の測定可能な値を割り当てることができる。単位
セルは「ノード」と称することもでき、行電極と列電極との各交点がアレイのノードであ
る。単位セルは単に相互容量センシングアレイ内の交点と称することができる。「交点」
とは、行電極と列電極との交点としての構成の単なる省略表現である。
タッチパネル１４０は電子機器１１０に結合することができる。電子機器１１０は、セ
ンシング装置１２０、自動車コンピュータ１３０、及び追加的な処理論理回路２８０を含
むことができる。処理要素１２８はメモリ１２２に結合することができる。メモリ１２２
はタッチアレイ１４２の単位セル１４４に対応する測定値１２６を記憶することができる
。メモリ１２２は、タッチアレイ１４２の有効領域及び非有効領域を規定する補正マトリ
クス１２４を記憶することができる。処理要素１２８は、補正マトリクス１２４の補正値
によって規定される有効領域内に完全には入らない単位セル１４４に対応する測定値１２
６を修正することができる。
ンシング装置１２０、自動車コンピュータ１３０、及び追加的な処理論理回路２８０を含
むことができる。処理要素１２８はメモリ１２２に結合することができる。メモリ１２２
はタッチアレイ１４２の単位セル１４４に対応する測定値１２６を記憶することができる
。メモリ１２２は、タッチアレイ１４２の有効領域及び非有効領域を規定する補正マトリ
クス１２４を記憶することができる。処理要素１２８は、補正マトリクス１２４の補正値
によって規定される有効領域内に完全には入らない単位セル１４４に対応する測定値１２
６を修正することができる。
図２Ａ〜Ｂに関して説明したいくつかの実施形態は容量センシングに相当するが、図２
Ａ〜Ｂに関して説明した実施形態は他の種類のセンシングに適用可能である。例えば、タ
ッチアレイ１４２は、抵抗の変化、赤外光の変化、可視光の変化、超音波の変化、圧縮、
入力された力学的な力、等のうちの１つ以上を測定することができる。
Ａ〜Ｂに関して説明した実施形態は他の種類のセンシングに適用可能である。例えば、タ
ッチアレイ１４２は、抵抗の変化、赤外光の変化、可視光の変化、超音波の変化、圧縮、
入力された力学的な力、等のうちの１つ以上を測定することができる。
図３Ａ〜Ｂに、実施形態による好適なシステム３００及び３５０を示すブロック図を示
し、これらのシステムは、タッチアレイ１４２の単位セル１４４に対応する値１２６を修
正するための補正マトリクス１２４を有する。
し、これらのシステムは、タッチアレイ１４２の単位セル１４４に対応する値１２６を修
正するための補正マトリクス１２４を有する。
システム３００及び３５０はセンシング装置１２０（例えば、タッチ・コントローラ）
及びタッチアレイ１４２を含むことができる。一実施形態では、センシング装置１２０が
ＴＸ信号をタッチアレイ１４２に送信する（例えば、第１電極上に電荷を誘導する）こと
ができ、センシング装置１２０は（例えば、第２電極を介して受信した）結果的なＲＸ信
号を測定することができる。センシング装置１２０は、結果的なＲＸ信号を測定値１２６
に変換することができ、そして測定値１２６をメモリ１２２に記憶することができる。
及びタッチアレイ１４２を含むことができる。一実施形態では、センシング装置１２０が
ＴＸ信号をタッチアレイ１４２に送信する（例えば、第１電極上に電荷を誘導する）こと
ができ、センシング装置１２０は（例えば、第２電極を介して受信した）結果的なＲＸ信
号を測定することができる。センシング装置１２０は、結果的なＲＸ信号を測定値１２６
に変換することができ、そして測定値１２６をメモリ１２２に記憶することができる。
他の実施形態では、センシング装置１２０がＴＸ信号をタッチアレイ１４２に送信する
（例えば、電極上に電荷を誘導する）ことができ、センシング装置１２０はＲＸ信号をタ
ッチアレイ１４２から受信することによって電極を放電することができる。センシング装
置１２０は、充電及び放電の速度を測定して、充電及び放電の速度を乱す物体がタッチパ
ネル１４０上に存在することを判定することができる。ベースライン速度は、物体がタッ
チアレイ１４２上に存在しない際の速度（例えば、ユーザタッチなしの生のカウント値）
である。センシング装置１２０は、（例えば、充電及び放電の回数をカウントした）デジ
タルカウント値を用いて、ベースライン速度からの変化を測定することができる。物体が
タッチパネル上またはその近くに存在する際には、センシング装置１２０は、異なる速度
（例えば、物体がタッチパネル１４０上またはその近くに存在しない際よりも高速または
低速）での電極の充電及び放電を検出することができ、このためカウント値に変化がある
。一実施形態では、物体がタッチパネル１４０に近接している際には、自己容量は、物体
がタッチパネル１４０に近接していない際よりも大きいカウント値を有する。一実施形態
では、物体がタッチパネル１４０に近接している際には、相互容量は、物体がタッチパネ
ル１４０に近接していない際よりも小さいカウント値を有する。カウント値（例えば、物
体がタッチパネル１４０に近接している際の生のカウント値）、あるいはカウント値とベ
ースライン・カウント値（例えば、物体がタッチパネル１４０に近接していない際のカウ
ント値）との差が閾値を上回る場合、センシング装置１２０は、物体がタッチパネル１４
０に近接しているものと判定することができる。センシング装置１２０は、信号（例えば
、カウント値）を測定値１２６に変換することができ、そして測定値１２６をメモリ１２
２に記憶することができる。
（例えば、電極上に電荷を誘導する）ことができ、センシング装置１２０はＲＸ信号をタ
ッチアレイ１４２から受信することによって電極を放電することができる。センシング装
置１２０は、充電及び放電の速度を測定して、充電及び放電の速度を乱す物体がタッチパ
ネル１４０上に存在することを判定することができる。ベースライン速度は、物体がタッ
チアレイ１４２上に存在しない際の速度（例えば、ユーザタッチなしの生のカウント値）
である。センシング装置１２０は、（例えば、充電及び放電の回数をカウントした）デジ
タルカウント値を用いて、ベースライン速度からの変化を測定することができる。物体が
タッチパネル上またはその近くに存在する際には、センシング装置１２０は、異なる速度
（例えば、物体がタッチパネル１４０上またはその近くに存在しない際よりも高速または
低速）での電極の充電及び放電を検出することができ、このためカウント値に変化がある
。一実施形態では、物体がタッチパネル１４０に近接している際には、自己容量は、物体
がタッチパネル１４０に近接していない際よりも大きいカウント値を有する。一実施形態
では、物体がタッチパネル１４０に近接している際には、相互容量は、物体がタッチパネ
ル１４０に近接していない際よりも小さいカウント値を有する。カウント値（例えば、物
体がタッチパネル１４０に近接している際の生のカウント値）、あるいはカウント値とベ
ースライン・カウント値（例えば、物体がタッチパネル１４０に近接していない際のカウ
ント値）との差が閾値を上回る場合、センシング装置１２０は、物体がタッチパネル１４
０に近接しているものと判定することができる。センシング装置１２０は、信号（例えば
、カウント値）を測定値１２６に変換することができ、そして測定値１２６をメモリ１２
２に記憶することができる。
図３Ａに、補正マトリクス１２４を生成することを示し、図３Ｂに、補正マトリクス１
２４を使用することを示す。一実施形態では、タッチパネル１４０の製造の一部として補
正マトリクス１２４を生成する（例えば、新たな補正マトリクスを生成する、既存の補正
マトリクスを更新する）。他の実現では、タッチパネル１４０を検査することの一部とし
て補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、タッチパネル１４０を起動する（例
えば、スイッチオン、電源投入）時に補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、
補正マトリクス１２４を時間間隔をおいて生成する。他の実現では、電子機器１１０によ
りモードを切り換える際に（例えば、指タッチモード、スタイラスペン・モード、等の間
での切り換え時に）補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、電子機器１１０（
例えば、センシング装置１２０、自動車コンピュータ１３０）から命令を受信した際に補
正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、ホストコンピュータ装置から命令を受信
した際に補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、あるタッチパネル１４０用の
補正マトリクス１２４が一定である（例えば、検査及び製造中に、補正マトリクス１２４
を、その後の使用向けにタッチパネル１４０用の一定の値として生成する）。
２４を使用することを示す。一実施形態では、タッチパネル１４０の製造の一部として補
正マトリクス１２４を生成する（例えば、新たな補正マトリクスを生成する、既存の補正
マトリクスを更新する）。他の実現では、タッチパネル１４０を検査することの一部とし
て補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、タッチパネル１４０を起動する（例
えば、スイッチオン、電源投入）時に補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、
補正マトリクス１２４を時間間隔をおいて生成する。他の実現では、電子機器１１０によ
りモードを切り換える際に（例えば、指タッチモード、スタイラスペン・モード、等の間
での切り換え時に）補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、電子機器１１０（
例えば、センシング装置１２０、自動車コンピュータ１３０）から命令を受信した際に補
正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、ホストコンピュータ装置から命令を受信
した際に補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、あるタッチパネル１４０用の
補正マトリクス１２４が一定である（例えば、検査及び製造中に、補正マトリクス１２４
を、その後の使用向けにタッチパネル１４０用の一定の値として生成する）。
図３Ａを参照すれば、コンピュータ装置３１０（例えば、電子機器１１０、自動車コン
ピュータ１３０、センサ装置１２０の外部にある装置、等）が設定ツール３２０を実行す
ることができる。この設定ツールは、トゥルー・タッチ・ホスト・エミュレータ（ＴＴＨ
Ｅ：true touch host emulator、登録商標）のようなタッチ・コントローラ設定ソフトウ
ェアとすることができる。コンピュータ装置３１０は、設定ツール３２０を実行して、補
正マトリクス１２４用の補正値を規定する（そして、例えば、補正マトリクス１２４を生
成する）ことができる。コンピュータ装置３１０は、補正マトリクス１２４を、センシン
グ装置１２０のメモリ（例えば、メモリ１２２、読出し専用メモリ（ＲＯＭ：read-only
memory）、ワンタイム・プログラマブル（ＯＴＰ：one-time programmable）メモリアレ
イ、等）に記憶することができる。一実施形態では、コンピュータ装置３１０は、補正マ
トリクス１２４をファイル３３０（例えば、１６進数ファイル）中に記憶することができ
る。ファイル３３０は、タッチパネル１４０の生産の前にセンシング装置１２０をプログ
ラムするために使用されるタッチ・アプリケーションとすることができる。センシング装
置１２０をプログラムした後に、ファイル３３０をセンシング装置１２０のメモリ（例え
ば、メモリ１２２、読出し専用メモリ（ＲＯＭ）、ワンタイム・プログラマブル（ＯＴＰ
）メモリアレイ、等）に記憶することができる。コンピュータ装置３１０は、通信プロト
コル（例えば、集積回路プロトコル（Ｉ2Ｃ：Inter-Integrated Circuit）、シリアル−
パラレル・インタフェース（ＳＰＩ：Serial-Parallel Interface）、等）を用いること
によって、相互接続部３４０を通してセンシング装置１２０と通信することができる。
ピュータ１３０、センサ装置１２０の外部にある装置、等）が設定ツール３２０を実行す
ることができる。この設定ツールは、トゥルー・タッチ・ホスト・エミュレータ（ＴＴＨ
Ｅ：true touch host emulator、登録商標）のようなタッチ・コントローラ設定ソフトウ
ェアとすることができる。コンピュータ装置３１０は、設定ツール３２０を実行して、補
正マトリクス１２４用の補正値を規定する（そして、例えば、補正マトリクス１２４を生
成する）ことができる。コンピュータ装置３１０は、補正マトリクス１２４を、センシン
グ装置１２０のメモリ（例えば、メモリ１２２、読出し専用メモリ（ＲＯＭ：read-only
memory）、ワンタイム・プログラマブル（ＯＴＰ：one-time programmable）メモリアレ
イ、等）に記憶することができる。一実施形態では、コンピュータ装置３１０は、補正マ
トリクス１２４をファイル３３０（例えば、１６進数ファイル）中に記憶することができ
る。ファイル３３０は、タッチパネル１４０の生産の前にセンシング装置１２０をプログ
ラムするために使用されるタッチ・アプリケーションとすることができる。センシング装
置１２０をプログラムした後に、ファイル３３０をセンシング装置１２０のメモリ（例え
ば、メモリ１２２、読出し専用メモリ（ＲＯＭ）、ワンタイム・プログラマブル（ＯＴＰ
）メモリアレイ、等）に記憶することができる。コンピュータ装置３１０は、通信プロト
コル（例えば、集積回路プロトコル（Ｉ2Ｃ：Inter-Integrated Circuit）、シリアル−
パラレル・インタフェース（ＳＰＩ：Serial-Parallel Interface）、等）を用いること
によって、相互接続部３４０を通してセンシング装置１２０と通信することができる。
図３Ｂを参照すれば、システム３５０がセンシング装置１２０を含み、センシング装置
１２０は、設定ツール３２０（図３Ａ参照）によって生成された補正マトリクス１２４を
含む。図３Ｂのセンシング装置１２０は、図３Ａに関して説明したセンシング装置１２０
と同じにすることができ、あるいは異なるセンシング装置１２０にすることができる。図
３Ｂ中のセンシング装置は、補正マトリクス１２４をコンピュータ装置３１０またはファ
イル３３０から受信することができる。
１２０は、設定ツール３２０（図３Ａ参照）によって生成された補正マトリクス１２４を
含む。図３Ｂのセンシング装置１２０は、図３Ａに関して説明したセンシング装置１２０
と同じにすることができ、あるいは異なるセンシング装置１２０にすることができる。図
３Ｂ中のセンシング装置は、補正マトリクス１２４をコンピュータ装置３１０またはファ
イル３３０から受信することができる。
システム３５０はホスト・ソフトウェア３６０を含むことができる。ホスト・ソフトウ
ェア３６０はコンピュータ装置（例えば、電子機器１１０、自動車コンピュータ１３０、
センシング装置１２０の外部にある装置）上で実行することができ、このコンピュータ装
置は、通信プロトコル（例えば、集積回路プロトコル（Ｉ2Ｃ）、シリアル−パラレル・
インタフェース（ＳＰＩ）、等）を用いることによって、相互接続部２３４０を通してセ
ンシング装置１２０と通信する。センシング装置１２０は、タッチアレイ１４２から信号
を受信することができ、そしてこの信号を測定値１２６に変換することができる。センシ
ング装置１２０は、（例えば、メモリ１２２に記憶されている）補正マトリクス１２４に
アクセスすることができ、補正マトリクス１２４は、タッチアレイ１４２（例えば、非長
方形のタッチアレイ）の有効領域及び非有効領域を規定する。センシング装置１２０は、
補正マトリクス１２４の補正値によって規定される有効領域内に部分的に入る単位セル１
４４の部分集合に対応する測定値１２６（例えば、生のカウント値、測定してデジタル化
したセンサ容量、等）を修正する（例えば、生のカウント値にゲインの補正値を乗算する
）ことができる。
ェア３６０はコンピュータ装置（例えば、電子機器１１０、自動車コンピュータ１３０、
センシング装置１２０の外部にある装置）上で実行することができ、このコンピュータ装
置は、通信プロトコル（例えば、集積回路プロトコル（Ｉ2Ｃ）、シリアル−パラレル・
インタフェース（ＳＰＩ）、等）を用いることによって、相互接続部２３４０を通してセ
ンシング装置１２０と通信する。センシング装置１２０は、タッチアレイ１４２から信号
を受信することができ、そしてこの信号を測定値１２６に変換することができる。センシ
ング装置１２０は、（例えば、メモリ１２２に記憶されている）補正マトリクス１２４に
アクセスすることができ、補正マトリクス１２４は、タッチアレイ１４２（例えば、非長
方形のタッチアレイ）の有効領域及び非有効領域を規定する。センシング装置１２０は、
補正マトリクス１２４の補正値によって規定される有効領域内に部分的に入る単位セル１
４４の部分集合に対応する測定値１２６（例えば、生のカウント値、測定してデジタル化
したセンサ容量、等）を修正する（例えば、生のカウント値にゲインの補正値を乗算する
）ことができる。
図４Ａ〜４Ｄに、種々の実施形態による好適な非長方形のタッチアレイ４００を示す。
一実施形態では、タッチアレイ４００ａは円形タッチアレイである。他の実施形態では、
タッチアレイ４００ｂは互いに平行でない対辺を有する。例えば、タッチアレイ４００ｂ
は台形とすることができる。他の実施形態では、タッチアレイ４００ｃは曲線状の辺を有
する（例えば、半円形である）。他の実施形態では、タッチアレイ４００ｄは１つ以上の
孔を有する（例えば、有効領域が１つ以上の非有効領域を包囲する）。センシング装置１
２０（例えば、タッチ・コントローラ）は、対応する補正マトリクス１２４を用いること
によってタッチアレイ４００ａ〜ｄのいずれかから受信した信号を処理して、測定値１２
６を生成することができる。
一実施形態では、タッチアレイ４００ａは円形タッチアレイである。他の実施形態では、
タッチアレイ４００ｂは互いに平行でない対辺を有する。例えば、タッチアレイ４００ｂ
は台形とすることができる。他の実施形態では、タッチアレイ４００ｃは曲線状の辺を有
する（例えば、半円形である）。他の実施形態では、タッチアレイ４００ｄは１つ以上の
孔を有する（例えば、有効領域が１つ以上の非有効領域を包囲する）。センシング装置１
２０（例えば、タッチ・コントローラ）は、対応する補正マトリクス１２４を用いること
によってタッチアレイ４００ａ〜ｄのいずれかから受信した信号を処理して、測定値１２
６を生成することができる。
図５に、他の実施形態による、タッチパネル１４０のタッチアレイ１４２の単位セル１
４４に対応する値１２６を修正するための補正マトリクス１２４を示す。補正マトリクス
１２４は、有効領域５１０、非有効領域５２０、及びエッジ領域５３０を規定することが
できる。
４４に対応する値１２６を修正するための補正マトリクス１２４を示す。補正マトリクス
１２４は、有効領域５１０、非有効領域５２０、及びエッジ領域５３０を規定することが
できる。
補正マトリクス１２４はエッジ領域５３０を規定することができる。処理要素１２８は
、単一ゲインの補正値による有効領域５１０用の単一ゲイン機能、マスキング補正値によ
る非有効領域５２０用のマスキング機能、及び非単一ゲインの補正値によるエッジ領域５
３０用のゲイン機能を提供することができる。
、単一ゲインの補正値による有効領域５１０用の単一ゲイン機能、マスキング補正値によ
る非有効領域５２０用のマスキング機能、及び非単一ゲインの補正値によるエッジ領域５
３０用のゲイン機能を提供することができる。
補正マトリクス１２４の面積は、タッチアレイ１４２の有効領域５１０よりも大きい面
積に相当することができる。タッチアレイ１４２に対応するタッチパネル１４０は、自由
形状パネル（例えば、非長方形の孔を含むもの）とすることができる。センシング装置１
２０は長方形用に構成されたタッチ・コントローラとすることができ、補正マトリクス１
２４は、長方形用に構成されたタッチコントローラに対応する長方行列（矩形行列）とす
ることができる。
積に相当することができる。タッチアレイ１４２に対応するタッチパネル１４０は、自由
形状パネル（例えば、非長方形の孔を含むもの）とすることができる。センシング装置１
２０は長方形用に構成されたタッチ・コントローラとすることができ、補正マトリクス１
２４は、長方形用に構成されたタッチコントローラに対応する長方行列（矩形行列）とす
ることができる。
図５では、列ｒｘ０〜ｒｘ１５は受信電極（例えば、図２Ａの列電極２１５）を表すこ
とができ、行ｔｘ０〜ｔｘ１１は送信電極（例えば、図２Ａの行電極２１１）を表すこと
ができる。補正電極１２４はＲＸ×ＴＸの行列次元を有することができ、ここにＲＸはタ
ッチアレイ１４２（例えば、非長方形のタッチアレイ、孔を含むタッチアレイ、等）に接
続された受信電極の数であり、ＴＸはタッチアレイ１４２に接続された送信（例えば、励
起）電極の数である。１つの受信電極と１つの送信電極との交点（ＲＸ×ＴＸ交点）は、
補正マトリクス１２４内の対応する要素（例えば、補正値）を有する。有効領域内に完全
に入る単位セル１４４に対応する補正値は、１の値を有することができる（例えば、単一
ゲインの補正）。単位セル１４４に対応しない（例えば、タッチアレイ１４２内の孔に対
応する、タッチアレイ１４２の外側の領域に対応する、等）補正値は０の値を有すること
ができる（例えば、マスキング補正）。有効領域５１０内に部分的に入る単位セル１４４
に対応する補正値は、０でも１でもない値を有する（例えば、非単一ゲインの補正）。ゲ
イン補正器は、有効領域５１０のエッジ上の単位セル１４４の均一性を改善することがで
きる。例えば、１つの単位セル１４４の半分だけが有効領域５１０内に入る場合、ゲイン
補正器は２の値を有することができる。他の例では、１つの単位セルの５分の１だけが有
効領域５１０内に入る場合、ゲイン補正器は５の値を有する。
とができ、行ｔｘ０〜ｔｘ１１は送信電極（例えば、図２Ａの行電極２１１）を表すこと
ができる。補正電極１２４はＲＸ×ＴＸの行列次元を有することができ、ここにＲＸはタ
ッチアレイ１４２（例えば、非長方形のタッチアレイ、孔を含むタッチアレイ、等）に接
続された受信電極の数であり、ＴＸはタッチアレイ１４２に接続された送信（例えば、励
起）電極の数である。１つの受信電極と１つの送信電極との交点（ＲＸ×ＴＸ交点）は、
補正マトリクス１２４内の対応する要素（例えば、補正値）を有する。有効領域内に完全
に入る単位セル１４４に対応する補正値は、１の値を有することができる（例えば、単一
ゲインの補正）。単位セル１４４に対応しない（例えば、タッチアレイ１４２内の孔に対
応する、タッチアレイ１４２の外側の領域に対応する、等）補正値は０の値を有すること
ができる（例えば、マスキング補正）。有効領域５１０内に部分的に入る単位セル１４４
に対応する補正値は、０でも１でもない値を有する（例えば、非単一ゲインの補正）。ゲ
イン補正器は、有効領域５１０のエッジ上の単位セル１４４の均一性を改善することがで
きる。例えば、１つの単位セル１４４の半分だけが有効領域５１０内に入る場合、ゲイン
補正器は２の値を有することができる。他の例では、１つの単位セルの５分の１だけが有
効領域５１０内に入る場合、ゲイン補正器は５の値を有する。
補正マトリクス１２４の補正値は、次式により用いることができる：Ｓnewi＝Ｓmi×Ｍ
i、ここにｉは単位セル１４４を識別する番号であり、Ｓnewiは補正した測定値であり、
Ｓmiは測定値１２６であり、Ｍiは補正値の値である。他の実施形態では、補正マトリク
ス１２４の補正値を、他の調整値に加えて用いることができる。他の調整値は、タッチア
レイ１４２の接続部（例えば、タッチアレイ１４２をセンシング装置１２０に結合する接
続部）から単位セル１４４までの距離に基づく調整値を含むことができる。
i、ここにｉは単位セル１４４を識別する番号であり、Ｓnewiは補正した測定値であり、
Ｓmiは測定値１２６であり、Ｍiは補正値の値である。他の実施形態では、補正マトリク
ス１２４の補正値を、他の調整値に加えて用いることができる。他の調整値は、タッチア
レイ１４２の接続部（例えば、タッチアレイ１４２をセンシング装置１２０に結合する接
続部）から単位セル１４４までの距離に基づく調整値を含むことができる。
図６は、一実施形態による、タッチアレイ１４２の単位セル１４４に対応する値１２６
を修正する方法６００の例を示す。
を修正する方法６００の例を示す。
方法６００は処理論理回路によって実行することができ、この処理論理回路は、ハード
ウェア（例えば、回路、専用論理回路、等）、（汎用コンピュータシステムまたは専用マ
シン上で実行される）ソフトウェア、あるいは両者の組合せを含むことができる。方法６
００、及びその個別の機能、ルーチン、サブルーチン、または動作の各々は、本明細書中
に記載する１つ以上の処理要素によって実行することができる。特定の実施形態では、方
法６００は単一の処理スレッドによって実行することができる。その代わりに、方法６０
０は２つ以上の処理スレッドによって実行することができ、各スレッドは、この方法の１
つ以上の個別の機能、ルーチン、サブルーチン、または動作を実行する。
ウェア（例えば、回路、専用論理回路、等）、（汎用コンピュータシステムまたは専用マ
シン上で実行される）ソフトウェア、あるいは両者の組合せを含むことができる。方法６
００、及びその個別の機能、ルーチン、サブルーチン、または動作の各々は、本明細書中
に記載する１つ以上の処理要素によって実行することができる。特定の実施形態では、方
法６００は単一の処理スレッドによって実行することができる。その代わりに、方法６０
０は２つ以上の処理スレッドによって実行することができ、各スレッドは、この方法の１
つ以上の個別の機能、ルーチン、サブルーチン、または動作を実行する。
説明を簡単にするために、本発明の方法は一連の動作として図示して説明する。しかし
、本発明による動作は、種々の順序及び／または同時性で発生することができ、本明細書
中に提示して説明しない動作を伴う。
、本発明による動作は、種々の順序及び／または同時性で発生することができ、本明細書
中に提示して説明しない動作を伴う。
さらに、開示する主題による方法を実現するために、図示する動作の必ずしも全部を必
要としないことがある。それに加えて、これらの方法は、代わりに、状態図またはイベン
トにより一連の相互に関連する状態として表現することができることは、当業者が理解し
認める所である。それに加えて、本明細書中に開示する方法を製品上に記憶して、こうし
た方法をコンピュータ装置へ移送または転送することを促進することができることは明ら
かである。本明細書中に用いる「製品」とは、あらゆるコンピュータ可読の装置または記
憶媒体からアクセス可能なコンピュータプログラムを包含することを意図している。例え
ば、非一時的なマシン可読の記憶媒体が命令を記憶することができ、これらの命令は、実
行されると、（例えば、センシング装置１２０、等の）処理装置に、本明細書中に開示す
る方法を含む動作を実行させる。
要としないことがある。それに加えて、これらの方法は、代わりに、状態図またはイベン
トにより一連の相互に関連する状態として表現することができることは、当業者が理解し
認める所である。それに加えて、本明細書中に開示する方法を製品上に記憶して、こうし
た方法をコンピュータ装置へ移送または転送することを促進することができることは明ら
かである。本明細書中に用いる「製品」とは、あらゆるコンピュータ可読の装置または記
憶媒体からアクセス可能なコンピュータプログラムを包含することを意図している。例え
ば、非一時的なマシン可読の記憶媒体が命令を記憶することができ、これらの命令は、実
行されると、（例えば、センシング装置１２０、等の）処理装置に、本明細書中に開示す
る方法を含む動作を実行させる。
図６を参照すれば、方法６００を電子機器１１０の１つ以上の処理装置の処理論理回路
（例えば、センシング装置１２０、処理要素１２８、等）によって実行して、タッチアレ
イ１４２の単位セル１４４に対応する値１２６を修正することができる。テスト値を生成
することは、タッチアレイ１４２が、物体がタッチパネル１４０（例えば、タッチパネル
１４０の各単位セル１４４）に接触または近接したことに応答した値（例えば、容量、抵
抗、等）の変化を測定することを含むことができる。センシング装置１２０はタッチアレ
イ１４２からの値の変化を検出することができる。一実施形態では、テスト値を検出する
ことが、処理論理回路がテスト値を発生することを含む。他の実施形態では、テスト値を
検出することが、テスト値を発生した外部装置からテスト値を受信することを含む。
（例えば、センシング装置１２０、処理要素１２８、等）によって実行して、タッチアレ
イ１４２の単位セル１４４に対応する値１２６を修正することができる。テスト値を生成
することは、タッチアレイ１４２が、物体がタッチパネル１４０（例えば、タッチパネル
１４０の各単位セル１４４）に接触または近接したことに応答した値（例えば、容量、抵
抗、等）の変化を測定することを含むことができる。センシング装置１２０はタッチアレ
イ１４２からの値の変化を検出することができる。一実施形態では、テスト値を検出する
ことが、処理論理回路がテスト値を発生することを含む。他の実施形態では、テスト値を
検出することが、テスト値を発生した外部装置からテスト値を受信することを含む。
ブロック６０４では、処理論理回路が、テスト値に基づいて、タッチアレイ１４２の有
効領域５１０内に完全に入る単位セル１４４の第１部分集合、及び有効領域５１０内に部
分的に入る単位セル１４４（例えば、エッジ領域５３０内の単位セル）の第２部分集合を
決定することができる。
効領域５１０内に完全に入る単位セル１４４の第１部分集合、及び有効領域５１０内に部
分的に入る単位セル１４４（例えば、エッジ領域５３０内の単位セル）の第２部分集合を
決定することができる。
ブロック６０６では、処理論理回路が、テスト値、単位セル１４４の第１部分集合、及
び単位セル１４４の第２部分集合に基づいて、補正マトリクス１２４（例えば、タッチス
クリーン・センサのマトリクスアレイ）を生成することができる。処理論理回路は、有効
領域５１０内に完全に入る要素の第１部分集合に単一ゲインの補正器を割り当て、非有効
領域５２０内に完全に入る要素の第２部分集合にマスキングの補正器を割り当て、そして
エッジ領域５３０内に入る要素の第３部分集合にゲイン補正器を割り当てることによって
、補正マトリクス１２４を生成することができる。第３部分集合の各単位セルは、部分的
に有効領域５１０内に入り、部分的に非有効領域５２０内に入ることができる。１つの実
現では、処理論理回路が、タッチパネル１４０（及び、例えば電子機器１１０）を製造す
ることの一部として補正マトリクス１２４を生成する（例えば、新たな補正マトリクスを
生成する、既存の補正マトリクスを更新する）。他の実現では、処理論理回路が、タッチ
パネル１４０（及び、例えば電子機器１１０）を検査することの一部として補正マトリク
ス１２４を生成する。他の実現では、処理論理回路が、タッチパネル１４０（及び、例え
ば電子機器１１０）を起動（例えば、スイッチオン、電源投入）した際に補正マトリクス
１２４を生成する。他の実現では、処理論理回路が（例えば、電子機器１１０及びタッチ
パネル１４０の使用中に）時間間隔をおいて補正マトリクス１２４を生成する。他の実現
では、処理論理回路が、電子機器１１０による切り換えモード（例えば、指タッチモード
、スタイラスペンモード、等）時に補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、処
理論理回路が、電子機器１１０から（例えば、センシング装置１２０、自動車コンピュー
タ１３０を通して）命令を受信した際に補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では
、ホストコンピュータ装置から命令を受信した際に補正マトリクス１２４を生成する。他
の実現では、補正マトリクス１２４がタッチパネル１４０に対して一定である（例えば、
検査及び製造中に、補正マトリクス１２４を、その後の使用のために、タッチパネル１４
０及び電子機器１１０用の一定値として生成する）。
び単位セル１４４の第２部分集合に基づいて、補正マトリクス１２４（例えば、タッチス
クリーン・センサのマトリクスアレイ）を生成することができる。処理論理回路は、有効
領域５１０内に完全に入る要素の第１部分集合に単一ゲインの補正器を割り当て、非有効
領域５２０内に完全に入る要素の第２部分集合にマスキングの補正器を割り当て、そして
エッジ領域５３０内に入る要素の第３部分集合にゲイン補正器を割り当てることによって
、補正マトリクス１２４を生成することができる。第３部分集合の各単位セルは、部分的
に有効領域５１０内に入り、部分的に非有効領域５２０内に入ることができる。１つの実
現では、処理論理回路が、タッチパネル１４０（及び、例えば電子機器１１０）を製造す
ることの一部として補正マトリクス１２４を生成する（例えば、新たな補正マトリクスを
生成する、既存の補正マトリクスを更新する）。他の実現では、処理論理回路が、タッチ
パネル１４０（及び、例えば電子機器１１０）を検査することの一部として補正マトリク
ス１２４を生成する。他の実現では、処理論理回路が、タッチパネル１４０（及び、例え
ば電子機器１１０）を起動（例えば、スイッチオン、電源投入）した際に補正マトリクス
１２４を生成する。他の実現では、処理論理回路が（例えば、電子機器１１０及びタッチ
パネル１４０の使用中に）時間間隔をおいて補正マトリクス１２４を生成する。他の実現
では、処理論理回路が、電子機器１１０による切り換えモード（例えば、指タッチモード
、スタイラスペンモード、等）時に補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では、処
理論理回路が、電子機器１１０から（例えば、センシング装置１２０、自動車コンピュー
タ１３０を通して）命令を受信した際に補正マトリクス１２４を生成する。他の実現では
、ホストコンピュータ装置から命令を受信した際に補正マトリクス１２４を生成する。他
の実現では、補正マトリクス１２４がタッチパネル１４０に対して一定である（例えば、
検査及び製造中に、補正マトリクス１２４を、その後の使用のために、タッチパネル１４
０及び電子機器１１０用の一定値として生成する）。
ブロック６０８では、処理論理回路が、非長方形のタッチアレイ１４２の単位セル１４
４に対応する測定値１２６の集合を記憶することができる。例えば、処理論理回路は、タ
ッチアレイ１４２から信号を受信することができ、処理論理回路は、これらの信号を、物
体がタッチパネル１４０に接触または近接したことに応答した値（例えば、容量、抵抗、
等）の変化を含む測定値１２６の集合に変換することができる。
４に対応する測定値１２６の集合を記憶することができる。例えば、処理論理回路は、タ
ッチアレイ１４２から信号を受信することができ、処理論理回路は、これらの信号を、物
体がタッチパネル１４０に接触または近接したことに応答した値（例えば、容量、抵抗、
等）の変化を含む測定値１２６の集合に変換することができる。
ブロック６１０では、処理論理回路が、タッチアレイ１４２の有効領域５１０及び非有
効領域５２０を規定する補正マトリクス１２４にアクセスすることができる。処理要素１
２８は、ブロック６０６に応答して補正マトリクス１２４をメモリ１２２に記憶している
。
効領域５２０を規定する補正マトリクス１２４にアクセスすることができる。処理要素１
２８は、ブロック６０６に応答して補正マトリクス１２４をメモリ１２２に記憶している
。
ブロック６１２では、処理論理回路が、補正マトリクス１２４の補正値によって規定さ
れる有効領域５１０内に部分的に入る単位セル１４４の部分集合に対応する値１２６を修
正することができる。例えば、処理論理回路は、測定値１２６の各々に、補正マトリクス
１２４の対応する値を乗算することができる。
れる有効領域５１０内に部分的に入る単位セル１４４の部分集合に対応する値１２６を修
正することができる。例えば、処理論理回路は、測定値１２６の各々に、補正マトリクス
１２４の対応する値を乗算することができる。
図７は、他の実施形態による好適なシステム・アーキテクチャ７００を示すブロック図
であり、システム・アーキテクチャ７００は、タッチパネル１４０のタッチアレイ１４２
の単位セル１４４に対応する値を修正するための補正マトリクス１２４を含む。センシン
グ装置１２０（例えば、タッチ・コントローラ、処理要素１２８）はタッチ・コントロー
ラ・アーキテクチャ７０２を有することができる。タッチ・コントローラ・アーキテクチ
ャ７０２はファームウェア７０４及びハードウェア７０６を含むことができる。ファーム
ウェア７０４は、データ処理論理回路７０８、走査論理回路７１０、状態マシン７１２、
及びホスト・インタフェース７１４を含むことができる。データ処理論理回路７０８は補
正マトリクス１２４を含むことができる。
であり、システム・アーキテクチャ７００は、タッチパネル１４０のタッチアレイ１４２
の単位セル１４４に対応する値を修正するための補正マトリクス１２４を含む。センシン
グ装置１２０（例えば、タッチ・コントローラ、処理要素１２８）はタッチ・コントロー
ラ・アーキテクチャ７０２を有することができる。タッチ・コントローラ・アーキテクチ
ャ７０２はファームウェア７０４及びハードウェア７０６を含むことができる。ファーム
ウェア７０４は、データ処理論理回路７０８、走査論理回路７１０、状態マシン７１２、
及びホスト・インタフェース７１４を含むことができる。データ処理論理回路７０８は補
正マトリクス１２４を含むことができる。
本発明の１つ以上の実施形態では、本明細書中に記載した特定の特徴、構造、または特
性を適宜組み合わせることができる。それに加えて、本発明はいくつかの実施形態に関し
て説明してきたが、本発明は説明した実施形態に限定されないことは当業者の認める所で
ある。本発明の実施形態は、添付した特許請求の範囲内で修正及び変更を加えて実施する
ことができる。従って、明細書及び図面は、本発明に対する限定である代わりに例示的な
ものとして考えるべきである。
性を適宜組み合わせることができる。それに加えて、本発明はいくつかの実施形態に関し
て説明してきたが、本発明は説明した実施形態に限定されないことは当業者の認める所で
ある。本発明の実施形態は、添付した特許請求の範囲内で修正及び変更を加えて実施する
ことができる。従って、明細書及び図面は、本発明に対する限定である代わりに例示的な
ものとして考えるべきである。
Claims (20)
- メモリと
前記メモリに結合された処理要素とを具えたセンシング装置であって、
前記メモリは、
非長方形のタッチアレイの複数の単位セルのうち少なくとも１つの単位セルの測定し
た特性に対応するタッチセンス値の集合と、
前記非長方形のタッチアレイの有効領域及び非有効領域を規定する補正マトリクスと
を記憶し、
前記処理要素は、前記補正マトリクスの補正値によって規定される前記有効領域内に完
全には入らない前記複数の単位セルの部分集合の前記タッチセンス値を修正する、センシ
ング装置。 - 前記非長方形のタッチアレイが複数の行センシング素子及び複数の列センシング素子を
具え、
前記複数の行センシング素子の各々は、第１軸に平行な対応する行軸の周囲に配置され
、
前記複数の列センシング素子の各々は、第２軸に平行な対応する列軸の周囲に配置され
、
前記複数の単位セルの各々が、前記複数の行センシング素子のうちの対応する行センシ
ング素子と、前記複数の列センシング素子のうちの対応する列センシング素子との交点に
よって規定され、
前記有効領域が、前記複数の行センシング素子及び前記複数の列センシング素子によっ
て規定され、
前記非長方形のタッチアレイの前記有効領域の１つ以上のエッジが、前記第１軸及び前
記第２軸に平行でない、
請求項１に記載のセンシング装置。 - 前記センシング装置が容量センシング装置であり、前記非長方形のタッチアレイが容量
センサアレイである、請求項１に記載のセンシング装置。 - 前記センシング装置が抵抗センシング装置であり、前記非長方形のタッチアレイが抵抗
センサアレイである、請求項１に記載のセンシング装置。 - 前記センシング装置が赤外線センシング装置であり、前記非長方形のタッチアレイが赤
外線センサアレイである、請求項１に記載のセンシング装置。 - 前記センシング装置が光センシング装置であり、前記非長方形のタッチアレイが光セン
サアレイである、請求項１に記載のセンシング装置。 - 前記センシング装置が音響センシング装置であり、前記非長方形のタッチアレイが音響
センサアレイである、請求項１に記載のセンシング装置。 - 前記非長方形のタッチアレイが、当該非長方形のタッチアレイの上面から当該非長方形
のタッチアレイの下面に至る１つ以上の開口部を具えている、請求項１に記載のセンシン
グ装置。 - 前記補正値が、単一ゲインの補正値、マスキング補正値、または非単一ゲインの補正値
のうちの少なくとも１つを含む、請求項１に記載のセンシング装置。 - 前記補正マトリクスがエッジ領域を規定し、前記処理要素が、前記単一ゲインの補正値
により前記有効領域に単一ゲイン機能を提供すること、前記マスキング補正値により前記
非有効領域にマスキング機能を提供すること、または前記非単一ゲインの補正値により前
記エッジ領域にゲイン機能を提供すること、のうちの少なくとも１つを実行する、請求項
９に記載のセンシング装置。 - 非長方形のタッチアレイの複数の単位セルのうち少なくとも１つの単位セルに対応する
タッチセンス値の集合を記憶するステップと、
前記非長方形のタッチアレイの有効領域及び非有効領域を規定する補正マトリクスにア
クセスするステップと、
前記補正マトリクスの補正値によって規定される前記有効領域内に部分的に入る前記複
数の単位セルの第１部分集合の前記タッチセンス値を修正するステップと
を含む方法。 - 前記非長方形のタッチアレイの前記複数の単位セルに対応するテスト値を検出するステ
ップと、
前記テスト値に基づいて、前記有効領域内に部分的に入る前記複数の単位セルの第１部
分集合、及び前記有効領域内に完全に入る前記複数の単位セルの第２部分集合を決定する
ステップと、
前記テスト値、前記複数の単位セルの前記第１部分集合、及び前記複数の単位セルの前
記第２部分集合に基づいて、前記補正マトリクスを生成するステップと
をさらに含む、請求項１１に記載の方法。 - 前記補正マトリクスが複数の要素を含み、前記補正マトリクスを生成するステップが、
前記有効領域内に完全に入る前記要素の第２部分集合に単一ゲインの補正器を割り当て
るステップ、
前記非有効領域内に完全に入る前記要素の第３部分集合にマスキング補正器を割り当て
るステップ、または
前記有効領域内に部分的に入り、かつ前記非有効領域内に部分的に入る前記要素の第１
部分集合にゲイン補正器を割り当てるステップ
のうちの少なくとも１つを含む、請求項１２に記載の方法。 - 複数の単位セルを具えたタッチアレイと、
前記タッチアレイに結合され、メモリを具えたタッチ・コントローラと、
前記メモリに結合された処理要素とを具えたシステムであって、
前記複数の単位セルの第１部分集合が有効領域に対応し、非有効領域が前記有効領域に
よって包囲され、
前記メモリは、
前記複数の単位セルのうち少なくとも１つの単位セルの測定した特性に対応するタッ
チセンス値の集合と、
前記タッチアレイの前記有効領域及び前記非有効領域を規定する補正マトリクスとを
記憶し、
前記処理要素は、前記補正マトリクスの補正値によって規定される前記有効領域内に部
分的に入る前記複数の単位セルの第２部分集合の前記タッチセンス値を修正する、システ
ム。 - 前記タッチアレイが容量センサアレイであり、
前記タッチアレイが複数の行センシング素子及び複数の列センシング素子を具え、
前記複数の行センシング素子の各々は、第１軸に平行な対応する行軸の周囲に配置され
、前記複数の列センシング素子の各々は、第２軸に平行な対応する列軸の周囲に配置され
、
前記複数の単位セルの各々は、前記複数の行センシング素子のうちの対応する行センシ
ング素子と、前記複数の列センシング素子のうちの対応する列センシング素子との交点に
よって規定され、
前記有効領域は、前記複数の行センシング素子及び前記複数の列センシング素子によっ
て規定され、
前記タッチアレイの前記有効領域の１つ以上のエッジが、前記第１軸及び前記第２軸に
平行でない、請求項１４に記載のシステム。 - 前記補正値が、単一ゲインの補正値、マスキング補正値、または非単一ゲインの補正値
のうちの少なくとも１つを含む、請求項１４に記載のシステム。 - 前記補正マトリクスがエッジ領域を規定し、前記処理要素が、前記非単一ゲインの補正
値により前記エッジ領域にゲイン機能を提供する、請求項１６に記載のシステム。 - 前記処理要素が、前記単一ゲインの補正値により前記有効領域に単一ゲイン機能を提供
すること、または前記マスキング補正値により前記非有効領域にマスキング機能を提供す
ること、のうちの少なくとも一方を実行する、請求項１６に記載のシステム。 - 前記タッチアレイが自由形状のタッチパネルであり、前記タッチ・コントローラが長方
形用に構成されたタッチ・コントローラであり、前記補正マトリクスが、前記長方形用に
構成されたタッチ・コントローラに対応する長方行列である、請求項１４に記載のシステ
ム。 - 前記補正マトリクスが、前記複数の単位セルに対応する第２面積よりも大きい第１面積
に対応する、請求項１４に記載のシステム。
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| US15/710,488 | 2017-09-20 |
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Family Applications (2)
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-
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- 2020-04-24 JP JP2020077251A patent/JP6746026B2/ja active Active
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