JP2020106355A - Radiated emission measuring device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、放射妨害波測定装置に関する。 The present invention relates to a radiated emission measuring device.
電子機器は、周囲の電子機器や通信機器に影響を及ぼす電磁波である放射妨害波を放射することがある。このため、現在では、電子機器が市場へ出荷される前に、放射妨害波の電界強度が国際的に定められた規格の許容値以下であることを確認する放射妨害波試験を行う必要がある。 An electronic device may radiate a radiation interference wave that is an electromagnetic wave affecting surrounding electronic devices and communication devices. For this reason, it is now necessary to perform a radiated emission test to confirm that the electric field strength of the radiated emission is less than or equal to the allowable value of the internationally specified standard before the electronic device is shipped to the market. ..
放射妨害波試験では、放射妨害波の放射源を基準としたアンテナの高さ及び放射源を基準としたアンテナの方位を変化させながらアンテナにより電界強度を測定し、電界強度が最大となる位置を探索する。そして、電界強度が最大となる位置において、放射妨害波の電界強度が一定時間測定され、この電界強度の測定値が国際的に定められた規格の許容値以下であるか否かが確認される。 In the radiated emission test, the electric field strength is measured by the antenna while changing the height of the radiated emission source and the azimuth of the antenna with reference to the radiation source. Explore. Then, at the position where the electric field strength is maximum, the electric field strength of the radiated interference wave is measured for a certain period of time, and it is confirmed whether or not the measured value of the electric field strength is less than or equal to the allowable value of the internationally defined standard. ..
また、このような放射妨害波試験では、広い周波数帯域について最大電界強度位置を検出する必要があるため、広い周波数帯域のスペクトルを測定することができるスペクトルアナライザが使用される。このようなスペクトルアナライザとしては、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、FFT(Fast Fourier Transform)方式のスペクトルアナライザが挙げられる。 Further, in such a radiated emission test, since it is necessary to detect the maximum electric field strength position in a wide frequency band, a spectrum analyzer capable of measuring a spectrum in a wide frequency band is used. Examples of such a spectrum analyzer include a super-heterodyne type spectrum analyzer and an FFT (Fast Fourier Transform) type spectrum analyzer.
スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザは、掃引型のスペクトルアナライザの一種であり、サンプリング時間ごとに測定する放射妨害波の周波数を所定の分解能帯域幅で掃引しながら放射妨害波の周波数スペクトルを測定する。このため、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザが使用された場合、サンプリング周期がサンプリング時間よりも長くなる。 The super-heterodyne spectrum analyzer is a kind of swept spectrum analyzer, and measures the frequency spectrum of the radiated interference wave while sweeping the frequency of the radiated interference wave measured at each sampling time with a predetermined resolution bandwidth. Therefore, when a super-heterodyne spectrum analyzer is used, the sampling period becomes longer than the sampling time.
FFT方式のスペクトルアナライザは、サンプリング時間に測定した放射妨害波の波形にFFT処理を施すことにより放射妨害波の周波数スペクトルを取得する。FFT方式のスペクトルアナライザは、放射妨害波の波形にFFT処理を施している間、放射妨害波の電界強度の測定を実行しない。このため、FFT方式のスペクトルアナライザが使用された場合、サンプリング周期がサンプリング時間よりも長くなる。 The FFT type spectrum analyzer acquires the frequency spectrum of the radiated interference wave by performing FFT processing on the waveform of the radiated interference wave measured at the sampling time. The FFT type spectrum analyzer does not measure the electric field strength of the radiated interference wave while performing the FFT process on the waveform of the radiated interference wave. For this reason, when the FFT type spectrum analyzer is used, the sampling period becomes longer than the sampling time.
上述したスペクトルアナライザで放射妨害波測定が実行される場合、サンプリング周期が長くなることにより放射妨害波試験に要する時間が長くなってしまうことがある。したがって、放射妨害波試験に要する時間を短くするために、周波数ごとのサンプリング時間を短くし、上述した許容値付近の電界強度が測定された周波数において長いサンプリング時間で電界強度を測定し、この測定により最大の電界強度が測定された位置で電界強度を一定時間測定する。また、放射妨害波試験に要する時間を更に短くするために、スペクトルアナライザを連続的に動作させながら各周波数における電界強度が測定されることもある。さらに、放射妨害波試験では複数の放射妨害波の測定が同時に実行されるため、トリガーが使用されない。 When the radiated emission measurement is performed by the above-mentioned spectrum analyzer, the time required for the radiated emission test may increase due to the long sampling period. Therefore, in order to shorten the time required for the radiated emission test, shorten the sampling time for each frequency, measure the electric field strength at a long sampling time at the frequency where the electric field strength near the above-mentioned allowable value was measured, and perform this measurement. The electric field strength is measured for a certain time at the position where the maximum electric field strength is measured by. In addition, in order to further shorten the time required for the radiated emission test, the electric field strength at each frequency may be measured while continuously operating the spectrum analyzer. In addition, the radiated emissions test does not use triggers because multiple radiated emissions measurements are performed simultaneously.
しかし、上述した測定方法では、放射妨害波が発生するタイミングとサンプリング時間とがずれており、かつ、放射妨害波が発生する周期とサンプリング周期が等しい場合、放射妨害波が一度も測定されなくなってしまうことがある。このような事態を回避するために、例えば、非特許文献1には、掃引を開始する時間を変化させることが記載されているが、掃引を開始する時間を変化させる時間の長さや変化させるタイミングによっては放射妨害波が一度も測定されなくなってしまうことがある。また、非特許文献1には、掃引する時間を変化させることが記載されているが、サンプリング時間が変化してしまうことにより、特許文献1に記載された測定方法が使用できなくなってしまうことがある。 However, in the above-described measurement method, when the timing at which the radiated emission occurs and the sampling time are different, and the period at which the radiated emission occurs and the sampling period are equal, the radiated emission is not measured even once. It may end up. In order to avoid such a situation, for example, Non-Patent Document 1 describes changing the time to start the sweep, but the length of the time to change the time to start the sweep and the timing to change the time. In some cases, radiated disturbances may never be measured. Although Non-Patent Document 1 describes that the sweep time is changed, the measurement method described in Patent Document 1 may become unusable due to a change in the sampling time. is there.
なお、特許文献1に開示されている測定方法は、第1の測定器と、第2の測定器と、制御装置とを備える放射妨害波測定装置が開示されている。第1の測定器は、放射源を囲む面上に設定された複数の測定点において、アンテナで受信される電界強度の周波数スペクトルを第1の滞留時間で測定することで電界強度分布を測定する。第2の測定器は、第1の測定器により測定された電界強度分布のうち、所定の周波数における所定の電界強度が得られた測定点において、アンテナで受信される所定の周波数の電界強度を、第2の滞留時間ごとにリアルタイムで測定するものである。また、制御装置は、第2の測定器で測定された電界強度に基づいて、第1の測定器で測定された電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する。また、第2の滞留時間は、第1の滞留時間と同一の値に設定される。 The measuring method disclosed in Patent Document 1 discloses a radiated emission measuring device including a first measuring device, a second measuring device, and a control device. The first measuring device measures the electric field intensity distribution by measuring the frequency spectrum of the electric field intensity received by the antenna at the plurality of measuring points set on the surface surrounding the radiation source for the first residence time. .. The second measuring device measures the electric field intensity of the predetermined frequency received by the antenna at the measurement point where the predetermined electric field intensity at the predetermined frequency is obtained in the electric field intensity distribution measured by the first measuring device. , And is measured in real time for each second residence time. Further, the control device determines whether or not the electric field strength distribution measured by the first measuring instrument is correctly measured based on the electric field strength measured by the second measuring instrument. The second residence time is set to the same value as the first residence time.
そこで、本発明は、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる放射妨害波測定装置を提供することを課題とする。 Therefore, it is an object of the present invention to provide a radiated emission measuring device capable of suppressing the occurrence of a situation where noise is not measured.
本発明の一態様は、放射源が放射する放射妨害波を受信するアンテナの前記放射源を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する高さ変更部と、前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余がゼロ以外の値となり、かつ、前記剰余が前記サンプリング時間以下となるように前記サンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、を備える放射妨害波測定装置である。 One aspect of the present invention is a height changing unit that executes a height changing process of changing a height of an antenna that receives a radiation interference wave emitted from a radiation source with respect to the radiation source, and the radiation of the antenna. If the height with respect to the source is changed, it is set during the sampling period, and a judgment process is performed according to the measurement plan to determine whether to change the start time of the sampling time having a certain length. When it is determined to change the start time of the sampling time with the determination unit, the first time after the height changing process is executed from the time when the last sampling cycle before the height changing process is completed is completed. By adjusting the length of the adjustment time provided until the start of the sampling cycle of, the remainder obtained by dividing the change width of the start time of the sampling time by the sampling cycle becomes a value other than zero, and , A sampling time changing unit that executes a sampling time changing process that changes the starting time point of the sampling time so that the remainder is equal to or less than the sampling time period, and a sampling time period when the starting time point is changed by the sampling time changing unit. Meanwhile, a measurement process of measuring the electric field strength of a predetermined frequency band at a measurement point located on a surface surrounding the radiation source at a height with the radiation source of the antenna changed by the height changing unit as a reference, It is a radiated emission measuring device provided with the measuring part to perform.
また、本発明の一態様において、放射妨害波測定装置は、前記高さ変更処理を実行し、前記判定処理を実行し、前記サンプリング時間変更処理を実行し、前記測定処理を実行する処理を次の式(1)を満たす回数繰り返す繰返し部を更に備える。 Further, in one aspect of the present invention, the radiated emission measuring device performs the height changing process, the determining process, the sampling time changing process, and the measuring process. It further comprises a repeating unit that repeats the number of times that satisfies the expression (1).
TV:サンプリング時間の変更幅
T :サンプリング周期
TS:サンプリング時間
本発明の一態様は、放射源が放射する放射妨害波を受信するアンテナの前記放射源を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する高さ変更部と、前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余で前記サンプリング時間を除算した値がゼロ及び自然数以外の値となり、かつ、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅が前記サンプリング時間以上となるように前記サンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、を備える放射妨害波測定装置である。 One aspect of the present invention is a height changing unit that executes a height changing process of changing a height of an antenna that receives a radiation interference wave emitted from a radiation source with respect to the radiation source, and the radiation of the antenna. If the height with respect to the source is changed, it is set during the sampling period, and a judgment process is performed according to the measurement plan to determine whether to change the start time of the sampling time having a certain length. When it is determined to change the start time of the sampling time with the determination unit, the first time after the height changing process is executed from the time when the last sampling cycle before the height changing process is completed is completed. The value obtained by dividing the sampling time by the remainder obtained by dividing the change width at the start point of the sampling time by the sampling cycle by adjusting the length of the adjustment time provided until the sampling cycle starts. Is a value other than zero and a natural number, and a sampling time changing unit that executes a sampling time changing process that changes the starting time of the sampling time so that the change width of the starting time of the sampling time is equal to or greater than the sampling time. A position on a surface surrounding the radiation source at a height based on the radiation source of the antenna changed by the height changing unit during the sampling time when the start time is changed by the sampling time changing unit. A radiated emission measuring apparatus including: a measurement unit that executes a measurement process of measuring an electric field strength in a predetermined frequency band at a measurement point.
本発明の一態様は、放射源が放射する放射妨害波を受信するアンテナの前記放射源を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する高さ変更部と、前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを無作為に変更することにより、前記サンプリング時間の開始時点を無作為に変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、を備える放射妨害波測定装置である。 One aspect of the present invention is a height changing unit that executes a height changing process of changing a height of an antenna that receives a radiation interference wave emitted from a radiation source with respect to the radiation source, and the radiation of the antenna. If the height with respect to the source is changed, it is set during the sampling period, and a judgment process is performed according to the measurement plan to determine whether to change the start time of the sampling time having a certain length. When it is determined to change the start time of the sampling time with the determination unit, the first time after the height changing process is executed from the time when the last sampling cycle before the height changing process is completed is completed. By randomly changing the length of the adjustment time provided up to the start of the sampling period of, the sampling time is changed to randomly change the sampling time. A surface surrounding the radiation source at a height based on the radiation source of the antenna changed by the height changing unit during the sampling time in which the start time is changed by the changing unit and the sampling time changing unit. It is a radiated interference wave measuring device, comprising: a measurement unit that executes a measurement process of measuring an electric field strength of a predetermined frequency band at a measurement point located above.
また、本発明の一態様において、前記サンプリング時間変更部は、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅を前記サンプリング時間よりも長くする条件の下で前記サンプリング時間の開始時点を無作為に変更する。 Further, in one aspect of the present invention, the sampling time changing unit randomly changes the starting time of the sampling time under the condition that the changing width of the starting time of the sampling time is longer than the sampling time.
本発明によれば、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。 According to the present invention, it is possible to suppress the occurrence of a situation in which noise is not measured.
[実施形態]
図1から図4を参照しながら、実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成について説明する。図1は、実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の一例を示す図である。
[Embodiment]
The configuration of the radiated emission measuring device according to the embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 4. FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a radiated emission measuring device according to an embodiment.
図1に示した放射妨害波測定装置1は、例えば、EMC規格に従って、供試体である放射源100から放射される放射妨害波を測定する放射妨害波試験に利用される装置である。この放射妨害波試験は、試験条件及び試験方法が国際的に定められている。放射妨害波測定装置1は、グランドプレーンを形成している金属床面を備える電波暗室内に配置される。電波暗室の内壁のうち金属床面を除いた壁面には、電波吸収体が貼り付けられている。また、放射源100は、例えば、放射妨害波を放射する電子機器である。
The radiated emission measuring device 1 shown in FIG. 1 is a device used in a radiated emission test for measuring a radiated emission emitted from a
図1に示すように、放射妨害波測定装置1は、アンテナ11と、アンテナマスト12と、ターンテーブル13と、駆動制御部14と、制御部20と、測定部30とを備える。
As shown in FIG. 1, the radiated emission measuring device 1 includes an
アンテナ11は、放射源100を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の放射妨害波を受信する。図2は、実施形態に係る放射源を囲む面上に位置する測定点の一例を示す図である。この面は、例えば、中心軸がグランドプレーンに垂直であり、内部に放射源100及び台200を含む円筒の側面である。図2に白丸で示されているように、各測定点は、当該円筒の底面の円の円周方向に沿っている第一軸及び当該円筒の中心軸に平行な軸である第二軸により規定される二次元直交座標上に配置されている。第一軸は、放射源100を基準とした各測定点の高さを示している。第二軸は、放射源100を基準とした各測定点の方位角を示している。また、図2に示した測定点は、第一軸に平行な方向及び第二軸に平行な方向において等間隔に配置されている。ただし、図2に示した測定点は、第一軸に平行な方向及び第二軸に平行な方向の少なくとも一方において任意の間隔で配置されていてもよい。
The
アンテナマスト12は、アンテナ11を昇降可能な形態で支持しており、放射源100から所定の間隔をおいて配置される。ターンテーブル13は、グランドプレーンに設けられた円盤状の回転台であり、グランドプレーンに垂直な軸を中心として回転することができる。放射源100は、ターンテーブル13に載置された台200の上に載置される。
The
駆動制御部14は、高さ変更部141と、方位変更部142とを備える。高さ変更部141は、放射源100が放射する放射妨害波を受信するアンテナ11の放射源100を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する。具体的には、高さ変更部141は、アンテナマスト12を駆動してアンテナ11を昇降させ、アンテナ11を所定の高さに固定する。方位変更部142は、放射源100を基準としたアンテナ11の方位を変更する方位変更処理を実行する。具体的には、方位変更部142は、高さ変更部141によりアンテナ11が所定の高さに固定された後、ターンテーブル13を駆動して放射源100及び台200を360度回転させる。
The
制御部20は、判定部201と、サンプリング時間変更部202と、繰返し部203とを備える。
The
判定部201は、アンテナ11の放射源100を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する。
When the height of the
サンプリングとは、放射妨害波測定装置1が放射妨害波の電界強度を測定する処理である。サンプリング周期は、一回のサンプリングが開始される時点から次のサンプリングが開始される時点までの時間である。また、サンプリング周期は、一定の長さを有する。サンプリング時間は、各サンプリング周期において所定の周波数帯域でサンプリング実行される時間であり、一定の長さを有する。 Sampling is a process in which the radiated emission measuring device 1 measures the electric field strength of the radiated emission. The sampling period is the time from the start of one sampling to the start of the next sampling. Moreover, the sampling period has a fixed length. The sampling time is a time period in which sampling is performed in a predetermined frequency band in each sampling cycle, and has a fixed length.
待機時間は、二つの時間から構成されている。一つ目の時間は、当該サンプリングが完了した測定点にアンテナ11の位置が合っている状態から次のサンプリングが実行される測定点にアンテナ11の位置が合っている状態までアンテナマスト12又はターンテーブル13を駆動させる時間である。二つ目の時間は、アンテナマスト12又はターンテーブル13の駆動が完了した後、アンテナ11の振動が収まるまでの待ち時間及び放射妨害波測定装置1が備えるハードウエア及びソフトウエアの動作に必要な時間である。
The waiting time is composed of two times. The first time is from the state where the
調整時間は、高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から当該高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている時間である。調整時間は、サンプリング時間変更部202により実行されるサンプリング時間変更処理においてサンプリング時間の開始時点の変更幅を決定するためにサンプリング時間変更部202により長さが調整される時間であり、サンプリング時間変更処理が実行されない場合、ゼロになる。
The adjustment time is provided from the time when the last sampling cycle before the height changing process is completed to the time when the first sampling period after the height changing process is started. It's time. The adjustment time is the time whose length is adjusted by the sampling
測定計画は、高さ変更部141により複数回実行される高さ変更処理のうち当該高さ変更処理の後にサンプリング時間変更部202により実行されるサンプリング時間変更処理を伴う高さ変更処理を規定している。例えば、図2に示した全ての測定点について所定の周波数帯域で電界強度の測定が実行される場合、高さ変更部141は、高さ変更処理を九回実行する。測定計画は、この九回の高さ変更処理のうち何回目の高さ変更処理の後にサンプリング時間変更処理を実行するかについて規定しており、例えば、三回目、五回目及び八回目の高さ変更処理の後にサンプリング時間変更処理を実行することを規定している。この場合、判定部201は、三回目、五回目及び八回目の高さ変更処理の後にサンプリング時間変更処理を実行すると判定する。
The measurement plan defines a height changing process involving a sampling time changing process executed by the sampling
なお、測定計画は、電界強度の測定が開始される前又は電界強度の測定が実行されている途中でユーザにより入力されてもよいし、放射妨害波測定装置1により自動的に生成されてもよい。 The measurement plan may be input by the user before the electric field strength measurement is started or while the electric field strength measurement is being executed, or may be automatically generated by the radiated emission measuring apparatus 1. Good.
また、判定部201は、電界強度の測定が実行されていない測定点があるか否かを判定する。具体的には、判定部201は、アンテナ11の高さを変更して電界強度の測定を実行すべき測定点があるか否かを判定する。
Further, the
サンプリング時間変更部202は、サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から当該高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余がゼロ以外の値となり、かつ、剰余がサンプリング時間以下となるようにサンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行する。このサンプリング時間変更処理は、サンプリング周期T、サンプリング時間TS、サンプリング時間の開始時点の変更幅TVを含む次の式(2)を満たす条件の下で実行される。
When it is determined that the start time of the sampling time is changed, the sampling
図3は、実施形態に係るサンプリング時間パターンの一例を説明するための図である。具体的には、図3(a)は、サンプリング時間TSの開始時点がサンプリング周期Tの開始時点と一致している場合の一例を示す図である。図3(b)は、サンプリング時間TSの開始時点がサンプリング周期Tの開始時点からサンプリング時間TSに等しい時間が経過した時点と一致している場合の一例を示す図である。図3(c)は、サンプリング時間TSの開始時点がサンプリング周期Tの開始時点からサンプリング時間TSの二倍の時間が経過した時点と一致している場合の一例を示す図である。図3(d)は、サンプリング時間TSの開始時点がサンプリング周期Tの開始時点からサンプリング時間TSの三倍の時間が経過した時点と一致している場合の一例を示す図である。図3に示した例では、サンプリング周期Tと測定されるべきノイズが発生するノイズ発生周期TNとが等しい場合が想定されている。ただし、サンプリング周期Tとノイズ発生周期TNとが異なっている場合であってもよい。 FIG. 3 is a diagram for explaining an example of the sampling time pattern according to the embodiment. Specifically, FIG. 3A is a diagram showing an example of a case where the start time of the sampling time T S coincides with the start time of the sampling period T. 3 (b) is a diagram showing an example of a case where the start point of the sampling time T S is equal to the time of the lapse of time equal from the starting point to the sampling time T S of the sampling period T. 3 (c) is a diagram showing an example of a case where the start point of the sampling time T S is equal to the time of twice the time has elapsed sampling time T S from the start of the sampling period T. Figure 3 (d) is a diagram showing an example of a case where the start point of the sampling time T S is equal to the time of three times the time has elapsed sampling time T S from the start of the sampling period T. In the example shown in FIG. 3, it is assumed that the sampling cycle T is equal to the noise generation cycle T N in which noise to be measured is generated. However, the sampling period T and the noise generation period T N may be different.
上述した式(2)を満たすサンプリング時間変更処理の一例として、図3(a)に示した場合、図3(b)に示した場合、図3(c)に示した場合、図3(d)に示した場合の順にサンプリング時間TSの開始時点、すなわちサンプリング時間パターンを変更していく処理が挙げられる。図3(a)に示した場合及び図3(b)に示した場合では、サンプリング時間TSとノイズNが発生するタイミングとが重複していない。また、図3(c)に示した場合では、サンプリング時間TSとノイズNが発生するタイミングとが僅かに重複しているに過ぎない。一方、図3(d)に示した場合では、サンプリング時間TSとノイズNが発生するタイミングとが重複している。 As an example of the sampling time changing process that satisfies the above equation (2), the case shown in FIG. 3A, the case shown in FIG. 3B, the case shown in FIG. In the order shown in (), there is a process of changing the sampling time T S start time, that is, the sampling time pattern. In the case shown in FIG. 3A and the case shown in FIG. 3B, the sampling time T S and the timing at which the noise N occurs do not overlap. Further, in the case shown in FIG. 3C, the sampling time T S and the timing at which the noise N occurs are only slightly overlapped. On the other hand, in the case shown in FIG. 3D, the sampling time T S and the timing at which the noise N occurs overlap.
図3(a)に示したサンプリング時間パターンから図3(b)に示したサンプリング時間パターンに変更される場合、調整時間は、サンプリング時間TSにサンプリング周期Tの整数倍を加えた時間に等しくなる。これは、図3(b)に示したサンプリング時間パターンから図3(c)に示したサンプリング時間パターンに変更される場合についても同様である。また、例えば、図3(a)に示したサンプリング時間パターンから図3(c)に示したサンプリング時間パターンに変更される場合、調整時間は、サンプリング時間TSの二倍にサンプリング周期Tの整数倍を加えた時間に等しくなる。これは、図3(b)に示したサンプリング時間パターンから図3(d)に示したサンプリング時間パターンに変更される場合についても同様である。 When the sampling time pattern shown in FIG. 3A is changed to the sampling time pattern shown in FIG. 3B, the adjustment time is equal to the sampling time T S plus an integral multiple of the sampling period T. Become. This also applies to the case where the sampling time pattern shown in FIG. 3B is changed to the sampling time pattern shown in FIG. Further, for example, when the sampling time pattern shown in FIG. 3A is changed to the sampling time pattern shown in FIG. 3C, the adjustment time is twice the sampling time T S and is an integer of the sampling cycle T. It will be equal to the doubled time. This also applies to the case where the sampling time pattern shown in FIG. 3B is changed to the sampling time pattern shown in FIG. 3D.
繰返し部203は、高さ変更処理を実行し、判定処理を実行し、サンプリング時間変更処理を実行し、後述する測定処理を実行する処理を次の式(3)を満たす回数n回繰り返すよう放射妨害波測定装置1を制御する。
The repeating
測定部30は、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、FFT方式のスペクトルアナライザである。測定部30は、サンプリング時間変更部202により開始時点が変更されたサンプリング時間の間、高さ変更部141により変更されたアンテナ11の放射源100を基準とした高さで放射源100を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する。そして、測定部30は、最大の電界強度が測定された測定点において電界強度を一定時間測定する。当該測定点における電界強度が国際的に定められた規格の許容値以下であるか否かが確認される。ただし、測定部30は、測定点との位置関係に関わらずサンプリングを実行し、アンテナ11の高さ及び方位が測定点と一致した時に電界強度の測定値を示すデータを記憶媒体に格納してもよい。
The
図4は、実施形態に係る制御部のハードウエア構成の一例を示す図である。図4に示すように、制御部20は、主制御部210と、入力装置220と、出力装置230と、記憶装置240と、バス250とを備える。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of the hardware configuration of the control unit according to the embodiment. As shown in FIG. 4, the
主制御部210は、CPU(Central Processing Unit)及びRAM(Random Access Memory)を備えており、入力装置220、出力装置230及び記憶装置240の間でのデータの送受信を制御し、出力装置230及び記憶装置240の動作を制御する。
The
入力装置220は、放射妨害波測定装置1の操作に必要なデータを入力するために使用される装置、例えば、キーボード、マウス、タッチパネルである。
The
出力装置230は、放射妨害波測定装置1の動作に関連する情報を出力するために使用される装置、例えば、ディスプレイである。
The
記憶装置240は、データを記憶させるために使用される装置、例えば、ハードディスク装置、光ディスク装置である。また、記憶装置240は、記憶媒体245を備えており、記憶媒体245にデータを格納し、記憶媒体245からデータを読み出す。記憶媒体245は、データを記憶させるために使用される記憶媒体、例えば、ハードディスク、光ディスクである。また、記憶媒体245は、判定部201、サンプリング時間変更部202及び繰返し部203それぞれを実現するプログラムを記憶していてもよい。この場合、主制御部210は、これらのプログラムを読み出して実行することにより、判定部201、サンプリング時間変更部202及び繰返し部203それぞれの機能を実現させる。
The
バス250は、主制御部210、入力装置220、出力装置230及び記憶装置240を相互に通信可能に接続している。
The
次に、図5を参照しながら実施形態に係る放射妨害波測定装置の動作の一例を説明する。図5は、実施形態に係る放射妨害波測定装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。 Next, an example of the operation of the radiated emission measuring device according to the embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a flowchart showing an example of processing executed by the radiated emission measuring apparatus according to the embodiment.
ステップS10において、放射妨害波測定装置1は、測定条件の入力を受け付ける。ここで言う測定条件は、例えば、電界強度を測定する周波数帯域、グランドプレーンを基準とする高さ方向の測定範囲、高さ方向における測定点の間隔、方位角方向の測定範囲、方位角方向における測定点の間隔、サンプリング時間、測定部30の検波方式、周波数分解能帯域幅及び上述した測定計画である。
In step S10, the radiated emission measuring device 1 receives an input of measurement conditions. The measurement conditions here include, for example, a frequency band for measuring electric field strength, a measurement range in the height direction with respect to the ground plane, an interval between measurement points in the height direction, a measurement range in the azimuth direction, and an azimuth direction. The measurement point interval, the sampling time, the detection method of the
ステップS20において、駆動制御部14は、最も低い高さに配置されている測定点の電界強度を測定可能な高さにアンテナ11の高さを変更し、最も方位角が小さな位置に配置されている測定点の電界強度を測定可能な角度までターンテーブル13を回転させる。
In step S20, the
ステップS30において、放射妨害波測定装置1は、アンテナ11の放射源100を基準とした高さを維持した状態でターンテーブル13を回転させながら各測定点において所定の周波数帯域で電界強度の測定を実行する。
In step S30, the radiated emission measuring device 1 measures the electric field strength in a predetermined frequency band at each measurement point while rotating the
ステップS40において、駆動制御部14は、アンテナ11の放射源100を基準とした高さを変更する。
In step S40, the
ステップS50において、判定部201は、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを判定する。判定部201は、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更すると判定した場合(ステップS50:YES)、処理をステップS60に進め、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更しないと判定した場合(ステップS50:NO)、処理をステップS70に進める。
In step S50, the
ステップS60において、サンプリング時間変更部202は、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行する。
In step S60, the sampling
ステップS70において、放射妨害波測定装置1は、アンテナ11の放射源100を基準とした高さを維持した状態でターンテーブル13を回転させながら各測定点において所定の周波数帯域で電界強度の測定を実行する。
In step S70, the radiated emission measuring apparatus 1 measures the electric field strength in a predetermined frequency band at each measurement point while rotating the
ステップS80において、判定部201は、電界強度の測定が実行されていない測定点があるか否かを判定する。判定部201は、電界強度の測定が実行されていない測定点があると判定した場合(ステップS80:YES)、処理をステップS40に戻し、電界強度の測定が実行されていない測定点がないと判定した場合(ステップS80:NO)、処理を終了させる。
In step S80, the
なお、ステップS40は、ステップS60と同時に実行されてもよい。また、ステップS40は、ステップS60とステップS70の間に実行されてもよい。この場合、判定部201は、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更しないと判定した場合(ステップS50:NO)、処理をステップS40又はステップS70に進める。
Note that step S40 may be executed simultaneously with step S60. Moreover, step S40 may be performed between step S60 and step S70. In this case, when the
以上、実施形態に係る放射妨害波測定装置1について説明した。放射妨害波測定装置1は、測定計画に従ってサンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、高さ変更処理が開始されてから終了するまでの間に、サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余がゼロ以外の値となり、かつ、剰余がサンプリング時間以下となるようにサンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行する。 The radiated emission measuring device 1 according to the embodiment has been described above. When it is determined that the start time of the sampling time is changed according to the measurement plan, the radiated emission measuring device 1 samples the change width at the start time of the sampling time between the start and the end of the height change process. A sampling time changing process is executed to change the starting point of the sampling time so that the remainder divided by the cycle becomes a value other than zero and the remainder becomes equal to or less than the sampling time.
このため、放射妨害波測定装置1は、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとが重複する確率を向上させることができる。すなわち、放射妨害波測定装置1は、一度もサンプリング時間の開始時点を変更せずに図3に示した全ての測定点で電界強度の測定を実行した場合にサンプリング時間とノイズが発生するタイミングとが重複する確率に、サンプリング時間の開始時点を変更した回数に「1」を加えた数を掛けた確率でサンプリング時間とノイズが発生するタイミングとを重複させ得る。例えば、サンプリング時間の開始時点を三回変更した場合に両者が重複する確率は、図3(a)から図3(d)に示したうちのいずれか一つのサンプリング時間パターンで図3に示した全ての測定点で電界強度の測定を実行した場合に両者が重複する確率の四倍となる。 Therefore, the radiated interference wave measuring device 1 can improve the probability that the sampling time and the timing at which noise to be measured occurs overlap. That is, the radiated emission measuring apparatus 1 determines the sampling time and the timing at which noise occurs when the electric field strength is measured at all the measurement points shown in FIG. 3 without changing the start time of the sampling time. The sampling time and the timing at which noise is generated can be overlapped with the probability that the number of times when the starting point of the sampling time is changed is multiplied by the number of times when the start time of the sampling time is changed. For example, when the start time of the sampling time is changed three times, the probability that the two overlap will be shown in FIG. 3 with one of the sampling time patterns shown in FIGS. 3A to 3D. When the measurement of the electric field strength is performed at all the measurement points, the probability that the two overlap will be four times.
したがって、放射妨害波測定装置1は、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。また、放射妨害波測定装置1は、サンプリング時間変更処理において、サンプリング時間の長さを一定に保つため、ノイズのサンプリング時間が長くなる事態の発生を抑制することができる。さらに、放射妨害波測定装置1は、高さ変更処理が開始されてから終了するまでの間にサンプリング時間変更処理を実行するため、アンテナ11の放射源100を基準とした高さが異なる測定点における電界強度の測定を効率良く実行することができる。
Therefore, the radiated emission measuring device 1 can suppress the occurrence of a situation in which noise is not measured. Further, since the radiated emission measuring device 1 keeps the length of the sampling time constant in the sampling time changing process, it is possible to suppress the occurrence of a situation in which the noise sampling time becomes long. Further, since the radiated emission measuring device 1 executes the sampling time changing process from the start to the end of the height changing process, the height of the
放射妨害波測定装置1は、高さ変更処理を実行し、判定処理を実行し、サンプリング時間変更処理を実行し、測定処理を実行する処理を上述した式(3)を満たす回数n回繰り返すことにより、サンプリング時間全体をサンプリング時間と少なくとも一回重複させる。このため、放射妨害波測定装置1は、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとを確実に重複させ、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。 The radiated emission measuring apparatus 1 executes the height changing process, the determining process, the sampling time changing process, and the measuring process by repeating n times the number of times satisfying the above-described formula (3). Causes the entire sampling time to overlap the sampling time at least once. Therefore, the radiated interference wave measuring device 1 can surely overlap the sampling time and the timing at which noise to be measured occurs, and suppress the occurrence of a situation in which noise is not measured.
上述した実施形態では、高さ変更部141がアンテナマスト12を駆動することにより放射源100の高さを基準としたアンテナ11の高さを変更する場合を例に挙げたが、これに限定されない。例えば、高さ変更部141は、ターンテーブル13を昇降させることにより放射源100の高さを基準としたアンテナ11の高さを変更してもよい。或いは、高さ変更部141は、アンテナマスト12の昇降及びターンテーブル13の昇降の両方を実行することにより放射源100の高さを基準としたアンテナ11の高さを変更してもよい。
In the above-described embodiment, the
上述した実施形態では、サンプリング時間変更部202が上述した式(2)を満たすようにサンプリング時間の開始時点を変更する場合を例に挙げたが、これに限定されない。
In the above-described embodiment, the case where the sampling
サンプリング時間変更部202は、サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、上述した調整時間の長さを調整することにより、サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余でサンプリング時間を除算した値がゼロ及び自然数以外の値となり、かつ、サンプリング時間の開始時点の変更幅がサンプリング時間以上となるようにサンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行してもよい。このサンプリング時間変更処理は、サンプリング周期T、サンプリング時間TS、サンプリング時間の開始時点の変更幅TVを含む次の式(2)を満たす条件の下で実行される。
When the sampling
これにより、放射妨害波測定装置1は、サンプリング周期中におけるサンプリング時間の開始時点が同じになってしまうことを回避し、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとが重複する確率を向上させ、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。また、この場合でも、放射妨害波測定装置1は、サンプリング時間変更処理において、サンプリング時間の長さを一定に保つため、ノイズのサンプリング時間が長くなる事態の発生を抑制することができる。 As a result, the radiated emission measuring device 1 avoids the start time of the sampling time in the sampling cycle from being the same, and improves the probability that the sampling time and the timing at which noise to be measured occurs overlap. It is possible to suppress the occurrence of a situation where noise is not measured. Also in this case, since the radiated emission measuring device 1 keeps the sampling time length constant in the sampling time changing process, it is possible to suppress the occurrence of a long noise sampling time.
或いは、サンプリング時間変更部202は、サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、上述した調整時間の長さを無作為に変更することにより、サンプリング時間の開始時点を無作為に変更するサンプリング時間変更処理を実行してもよい。これにより、放射妨害波測定装置1は、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとが重複する確率を向上させ、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。
Alternatively, when the sampling
また、この場合、サンプリング時間変更部202は、サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング時間よりも長くする条件の下でサンプリング時間の開始時点を無作為に変更することが好ましい。すなわち、サンプリング時間変更部202は、サンプリング周期のうち過去に電界強度を測定した時間と重複しない時間にサンプリング時間を設定することが好ましい。これにより、放射妨害波測定装置1は、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとが重複する確率を更に向上させ、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。
Further, in this case, it is preferable that the sampling
また、上述した実施形態に係る駆動制御部14、制御部20及び測定部30の各機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録させ、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませて実行することにより、処理を行ってもよい。
Further, a program for realizing each function of the
ここで言うコンピュータシステムとは、オペレーティング・システム(Operating System:OS)又は周辺機器等のハードウエアを含むものであってもよい。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、例えば、フロッピーディスク、光磁気ディスク、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ等の書き込み可能な不揮発性メモリ、DVD(Digital Versatile Disc)等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置、ネットワーク又は通信回線を介してプログラムが送信される場合におけるサーバ又はクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように一定時間プログラムを保持しているものも含む。 The computer system referred to here may include an operating system (OS) or hardware such as peripheral devices. The computer-readable recording medium is, for example, a writable nonvolatile memory such as a floppy disk, a magneto-optical disk, a ROM (Read Only Memory), a flash memory, a portable medium such as a DVD (Digital Versatile Disc), and the like. A storage device such as a hard disk built in a computer system, or a volatile memory inside a computer system that functions as a server or a client when the program is transmitted via a network or a communication line, and holds the program for a certain period of time. Also includes.
また、上述したプログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、又は、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する伝送媒体とは、インターネット等のネットワーク又は電話回線等の通信回線のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。 Further, the above-described program may be transmitted from a computer system that stores the program in a storage device or the like to another computer system via a transmission medium or by a transmission wave in the transmission medium. Here, the transmission medium for transmitting the program refers to a medium having a function of transmitting information, such as a network such as the Internet or a communication line such as a telephone line.
また、上述したプログラムは、上述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、上述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分プログラムであってもよい。上述したプログラムは、例えば、コンピュータが備えるCPU(Central Processing Unit)等のプロセッサにより読み出されて実行される。 Further, the above-mentioned program may be a program for realizing a part of the above-mentioned functions, or a program that can realize the above-mentioned functions in combination with a program already recorded in the computer system, that is, a so-called difference program. It may be. The above-described program is read and executed by a processor such as a CPU (Central Processing Unit) included in the computer, for example.
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変形、置換又は設計変更を加えることができる。また、上述した実施形態に記載の構成を組み合わせてもよい。 As described above, the embodiment of the present invention has been described in detail with reference to the drawings, but the specific configuration is not limited to this embodiment, and various modifications, replacements or designs are possible without departing from the gist of the present invention. You can make changes. Further, the configurations described in the above-described embodiments may be combined.
1…放射妨害波測定装置、11…アンテナ、12…アンテナマスト、13…ターンテーブル、14…駆動制御部、141…高さ変更部、142…方位変更部、20…制御部、201…判定部、202…サンプリング時間変更部、203…繰返し部、210…主制御部、220…入力装置、230…出力装置、240…記憶装置、245…記憶媒体、250…バス、30…測定部、100…放射源、200…台 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Radiated emission measuring device, 11... Antenna, 12... Antenna mast, 13... Turntable, 14... Drive control part, 141... Height change part, 142... Direction change part, 20... Control part, 201... Judgment part , 202... Sampling time changing unit, 203... Repeating unit, 210... Main control unit, 220... Input device, 230... Output device, 240... Storage device, 245... Storage medium, 250... Bus, 30... Measuring unit, 100... Radiant source, 200...stand
Claims (5)
前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、
前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余がゼロ以外の値となり、かつ、前記剰余が前記サンプリング時間以下となるように前記サンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、
前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、
を備える放射妨害波測定装置。 A height changing unit that executes a height changing process that changes the height of the antenna that receives the radiated interference wave radiated by the radiation source, with reference to the radiation source,
If the height of the antenna with respect to the radiation source is changed, it is set during the sampling period, and it is determined according to the measurement plan whether to change the start time of the sampling time having a fixed length. A determination unit that executes determination processing,
If it is determined to change the start time of the sampling time, the first sampling period after the height changing process is executed from the time when the last sampling period before the height changing process is completed is completed. By adjusting the length of the adjustment time provided up to the start time, the remainder obtained by dividing the change width at the start time of the sampling time by the sampling cycle becomes a value other than zero, and the remainder is A sampling time changing unit that executes a sampling time changing process that changes the starting time point of the sampling time so as to be equal to or less than the sampling time,
The antenna is positioned on the surface surrounding the radiation source at a height based on the radiation source of the antenna, which is changed by the height changing unit, during the sampling time when the start time is changed by the sampling time changing unit. A measurement unit that executes a measurement process to measure the electric field strength of a predetermined frequency band at the measurement point,
Radiated emission measuring device comprising.
請求項1に記載の放射妨害波測定装置。
TV:サンプリング時間の変更幅
T :サンプリング周期
TS:サンプリング時間 The height changing process is executed, the determining process is executed, the sampling time changing process is executed, and the process of executing the measuring process is further repeated a number of times satisfying the following formula (1).
The radiated emission measuring device according to claim 1.
前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、
前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余で前記サンプリング時間を除算した値がゼロ及び自然数以外の値となり、かつ、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅が前記サンプリング時間以上となるように前記サンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、
前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、
を備える放射妨害波測定装置。 A height changing unit that executes a height changing process that changes the height of the antenna that receives the radiated interference wave radiated by the radiation source, with reference to the radiation source,
If the height of the antenna with respect to the radiation source is changed, it is set during the sampling period, and it is determined according to the measurement plan whether to change the start time of the sampling time having a fixed length. A determination unit that executes determination processing,
If it is determined to change the start time of the sampling time, the first sampling period after the height changing process is executed from the time when the last sampling period before the height changing process is completed is completed. By adjusting the length of the adjustment time provided up to the start time, the value obtained by dividing the sampling time by the remainder obtained by dividing the change width at the start point of the sampling time by the sampling cycle is zero or a natural number. And a sampling time changing unit that executes a sampling time changing process for changing the starting time of the sampling time so that the change width of the starting time of the sampling time is equal to or more than the sampling time.
The antenna is positioned on the surface surrounding the radiation source at a height based on the radiation source of the antenna, which is changed by the height changing unit, during the sampling time when the start time is changed by the sampling time changing unit. A measurement unit that executes a measurement process to measure the electric field strength of a predetermined frequency band at the measurement point,
Radiated emission measuring device comprising.
前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、
前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを無作為に変更することにより、前記サンプリング時間の開始時点を無作為に変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、
前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、
を備える放射妨害波測定装置。 A height changing unit that executes a height changing process that changes the height of the antenna that receives the radiated interference wave radiated by the radiation source, with reference to the radiation source,
If the height of the antenna with respect to the radiation source is changed, it is set during the sampling period, and it is determined according to the measurement plan whether to change the start time of the sampling time having a fixed length. A determination unit that executes determination processing,
If it is determined to change the start time of the sampling time, the first sampling period after the height changing process is performed from the time when the last sampling period before the height changing process is completed is By randomly changing the length of the adjustment time provided up to the start time, a sampling time changing unit that executes a sampling time changing process that randomly changes the starting time of the sampling time,
The antenna is positioned on the surface surrounding the radiation source at a height based on the radiation source of the antenna, which is changed by the height changing unit, during the sampling time when the start time is changed by the sampling time changing unit. A measurement unit that executes a measurement process to measure the electric field strength of a predetermined frequency band at the measurement point,
Radiated emission measuring device comprising.
請求項4に記載の放射妨害波測定装置。 The sampling time changing unit randomly changes the starting time of the sampling time under the condition that the changing width of the starting time of the sampling time is longer than the sampling time.
The radiated emission measuring device according to claim 4.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018244178A JP7115301B2 (en) | 2018-12-27 | 2018-12-27 | Radiated Emission Measurement Equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020106355A true JP2020106355A (en) | 2020-07-09 |
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ID=71448800
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018244178A Active JP7115301B2 (en) | 2018-12-27 | 2018-12-27 | Radiated Emission Measurement Equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7115301B2 (en) |
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JP7115301B2 (en) | 2022-08-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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